KR101431620B1 - Method for reverse-gamma compensation of plasma display panel - Google Patents

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Abstract

본 발명은 각 APL에 따른 역감마값을 산출하고 이에 근거한 서브필드 매핑 테이블을 적용함으로써 APL 단계마다 역감마 곡선이 왜곡되는 현상을 방지하고 특히, 저계조 영역에서의 화질을 개선할 수 있는 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법은 기준 APL과 특정 APL의 총 서스테인 펄스 개수의 비율을 산출하는 단계와, 상기 산출된 비율을 상기 특정 APL의 각 서브필드별 서스테인 펄스 개수에 곱하여 조정된 각 서브필드별 서스테인 펄스 개수값을 산출하는 단계와, 상기 특정 입력계조의 역감마값을 비교값으로 하여 상기 조정된 각 서브필드별 서스테인 펄스 개수값에 대하여 서브필드 매핑을 진행하는 단계 및 상기 서브필드 매핑을 통해 산출된 서브필드 매핑값과 일치하는 서브필드 매핑값을 서브필드 매핑 테이블 상에서 추적하고, 일치하는 서브필드 매핑값의 실계조를 보정된 역감마값의 정수부로 확정하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다. In the present invention, an inverse gamma value for each APL is calculated and a sub-field mapping table based on the inverse gamma value is applied to prevent the inverse gamma curve from being distorted for each APL step. In particular, A method of inverse gamma correction of a plasma display panel according to the present invention includes calculating a ratio of the number of sustain pulses of a reference APL to a total number of sustain pulses of a specific APL, A step of calculating the number of sustain pulses for each subfield adjusted by multiplying the number of sustain pulses for each subfield by a number of sustain pulses per subfield, Field mapping and a sub-field mapping value calculated through the sub-field mapping, And tracking the matching subfield mapping value on the subfield mapping table and determining the actual gradation of the matching subfield mapping value as an integer part of the corrected inverse gamma value.

역감마, APL, 서스테인펄스 Reverse gamma, APL, sustain pulse

Description

플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법{Method for reverse-gamma compensation of plasma display panel}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a plasma display panel,

본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 각 APL에 따른 역감마값을 산출하고 이에 근거한 서브필드 매핑 테이블을 적용함으로써 저계조 영역에서의 화질을 개선할 수 있는 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법에 관한 것이다. The present invention relates to a method of inverse gamma correction of a plasma display panel, and more particularly, to a plasma display apparatus capable of improving image quality in a low gradation region by calculating an inverse gamma value according to each APL and applying a sub- Gamma correction method of the panel.

플라즈마 디스플레이 패널(PDP : Plasma Display Panel)은 가스 방전에 의해 발생되는 자외선이 형광체를 여기시킬 때 형광체로부터 발생하는 가시광선을 이용하여 화상을 표시하는 장치이다. 이러한 PDP는 통상, 상부기판과 하부기판이 봉합된 구조를 가지며 상부기판에는 도 1에 도시한 바와 같이 스캔 전극(Y1∼Yn) 및 서스테인 전극(Z)이 구비되고 하부기판에는 어드레스 전극(X1∼Xm)이 구비된다. 또한, 스캔 전극과 서스테인 전극이 교차되는 부위에는 방전셀(1)들이 구비된다. A plasma display panel (PDP) is an apparatus for displaying an image using visible light generated from a phosphor when ultraviolet rays generated by gas discharge excite the phosphor. 1, the PDP includes a scan electrode Y1 to Yn and a sustain electrode Z on the upper substrate and an address electrode X1 to Xn on the lower substrate. Xm. In addition, the discharge cells 1 are provided at the intersection of the scan electrode and the sustain electrode.

이와 같은 PDP는 화상의 계조(gray scale)를 구현하기 위해 하나의 프레임을 발광횟수가 다른 여러 개의 서브필드(subfield)로 나누어 시분할 구동하는 방식을 택하고 있다. 각 서브필드는 방전을 균일하게 일으키기 위한 리셋 기간, 방전셀을 선택하기 위한 어드레스 기간 및 방전횟수에 따라 계조를 구현하는 서스테인 기간으로 나뉘어진다. 예를 들어, 256계조로 화상을 표시하고자 하는 경우에 1/60초에 해당하는 프레임 기간(16.67ms)은 8개의 서브필드로 나뉘어지게 된다. 아울러, 8개의 서브필드(SF1, SF2, .., SF8) 각각은 도 2에 도시한 바와 같이 리셋 기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기간으로 다시 나뉘어진다. 여기서, 각 서브필드의 리셋 기간 및 어드레스 기간은 각 서브필드마다 동일한 반면, 서스테인 기간 및 그 방전횟수는 서스테인 펄스의 수에 비례하여 각 서브필드에서 2n(n=0,1,2,3,4,5,6,7)의 비율로 증가된다. 이와 같이, 각 서브필드에서 서스테인 기간이 달라지게 되므로 화상의 계조를 구현할 수 있게 된다. In order to realize a gray scale of an image, such a PDP employs a method of dividing one frame into several subfields having different emission counts for time division driving. Each subfield is divided into a reset period for uniformly generating a discharge, an address period for selecting a discharge cell, and a sustain period for implementing gradation according to the number of discharges. For example, in the case of displaying an image at 256 gradations, a frame period (16.67 ms) corresponding to 1/60 second is divided into 8 subfields. Each of the eight subfields SF1, SF2, ..., SF8 is again divided into a reset period, an address period, and a sustain period as shown in Fig. Here, the reset period and the address period of each subfield are the same for each subfield, while the sustain period and the number of discharges thereof are 2 n (n = 0, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7). As described above, since the sustain period is different in each subfield, the gray level of the image can be realized.

한편, 소비전력을 줄이기 위해 일반적으로 도 3과 같은 평균화상레벨(Average Picture Level, 이하 'APL'이라 칭함) 곡선을 사용하고 있다. APL 곡선에 있어서, 서스테인 펄스의 개수는 APL이 감소할수록 증가한다. 즉, 전력이 최대(휘도 최고, APL 최저, 표시면적 최소)로 갈수록 서스테인 펄스의 개수는 증가한다. 이와는 반대로, APL이 증가할수록 즉, 전력이 최저(휘도 최저, APL 최대, 표시면적 최대)로 갈수록 서스테인 펄스의 개수는 감소한다. 이와 같은 방법으로, PDP의 상대적으로 많은 부분에 화상이 표시되는 경우 하나의 방전셀에 인가되는 서스테인 펄스의 개수를 감소시키고, 상대적으로 작은 부분에 화상이 표시되는 경우에 는 하나의 방전셀에 인가되는 서스테인 펄스의 개수를 증가시킴으로써 화면상에 표시되는 화상의 절대 휘도의 감소를 방지함과 함께 전력소모를 줄일 수 있게 된다. On the other hand, an average picture level (APL) curve as shown in Fig. 3 is generally used to reduce power consumption. In the APL curve, the number of sustain pulses increases as the APL decreases. That is, the number of sustain pulses increases as the power reaches the maximum (maximum luminance, minimum APL, minimum display area). On the contrary, the number of sustain pulses decreases as the APL increases, that is, as the power decreases to the lowest (luminance minimum, APL maximum, maximum display area). In this manner, when an image is displayed on a relatively large portion of the PDP, the number of sustain pulses applied to one discharge cell is reduced, and when an image is displayed on a relatively small portion, It is possible to prevent the decrease of the absolute luminance of the image displayed on the screen and reduce the power consumption by increasing the number of the sustain pulses.

또한, APL이 변함에 따라 전체 서스테인 펄스의 개수가 변하게 되며 이에, 각 서브필드별 서스테인 펄스의 개수 역시 변하게 된다. 이 때, 각 서스테인 펄스의 개수는 정수의 값만 가질 수 있음에 따라, APL이 감소하여 전체 서스테인 펄스의 개수가 증가하더라도 각 서브필드별 서스테인 펄스의 개수는 연속적으로 증가되는 것이 아니라 특정 APL 레벨이 될 때 증가한다. 이러한 APL의 방법을 이용하여 화상을 구현하는 PDP에서는 APL 단계에 대하여 동일한 감마(Gamma)값을 사용함으로써 APL 단계마다 감마 곡선이 왜곡되는 현상이 발생한다. Also, as the APL varies, the total number of sustain pulses changes, and thus the number of sustain pulses for each subfield also changes. At this time, since the number of sustain pulses can only have a constant value, even if the APL decreases and the total number of sustain pulses increases, the number of sustain pulses for each subfield does not increase continuously but becomes a specific APL level Increase. In the PDP that implements an image using the APL method, a gamma curve is distorted in each APL step by using the same gamma value for the APL step.

예를 들면, <표 1>을 참고하여 APL 103 단계와 APL 102 단계를 비교하면, 전체 서스테인 펄스의 개수는 10개의 차이가 있지만 제 1 서브필드(SF1)의 서스테인 펄스의 개수는 같고 제 2 서브필드(SF2)의 서스테인 펄스의 개수는 다르다. 이에 따라, APL 103 단계를 사용하는 화면과 APL 102 단계를 사용하는 화면에 있어서 0계조에서부터 SF1만으로 밝기를 표현하는 계조까지는 밝기가 동일하나 SF2를 사용하는 계조에서는 밝기에 차이가 나게 된다. 휘도 곡선을 보면 0계조에서 20계조까지는 APL 103 단계와 APL 102 단계의 휘도가 동일하나 21계조에서는 APL 102 단계의 휘도가 103 단계의 휘도보다 밝게 나타난다. 이러한 이유로, APL 변화에 따라서 부드럽게 증감하지 않고 특정 APL 단계를 지날 때 계조가 증감하는 것을 확인할 수 있다. 즉, 저계조 영역에서는 밝기가 변하지 않는 계조 구간이 발생하고, 특정 APL 단계에서 밝기가 밝아지는 현상이 생겨 시청시 피로감을 유발하게 된다. 만약, SF1의 서스테인 펄스의 개수가 1에서 2로 변한다면 그 APL 단계에서는 SF1만으로 방전하는 계조는 밝기가 2배로 밝아지게 된다. 이에 따라, APL 단계마다 감마 테이블(gamma table)을 다르게 하여 적용할 수는 있지만, APL 단계마다 감마 테이블을 다르게 적용한다면 방대한 크기의 메모리를 요구하게 되는 문제점이 있다. For example, when comparing APL 103 and APL 102 with reference to Table 1, the number of sustain pulses in the first subfield SF1 is equal to the number of sustain pulses in the second subfield SF1, The number of sustain pulses in the field SF2 is different. Accordingly, in the screen using the APL 103 step and the screen using the APL 102 step, the brightness is the same from the 0th gradation to the gradation expressing brightness only in SF1, but the brightness is different in the gradation using SF2. In the luminance curve, the brightnesses of the APL 103 and APL 102 stages are the same from the 0th gradation to the 20th gradation but the brightness of the APL 102 stage is brighter than that of the 103th stage in the 21st gradation. For this reason, it can be confirmed that the gradation increases or decreases when passing the specific APL step without increasing or decreasing smoothly according to the APL change. That is, in the low gradation region, a gradation period in which the brightness does not change occurs, and a phenomenon in which the brightness becomes bright at a certain APL level occurs, which causes fatigue during viewing. If the number of sustain pulses in SF1 changes from 1 to 2, the brightness of the discharge in SF1 only becomes twice as bright as that in the APL stage. Accordingly, although gamma tables can be applied to different APL steps, if a gamma table is applied to each APL step, a large memory size is required.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 각 APL에 따른 역감마값을 산출하고 이에 근거한 서브필드 매핑 테이블을 적용함으로써 모든 계조영역에서의 화질을 개선할 수 있는 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법을 제공하는데 그 목적이 있다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above problems, and it is an object of the present invention to provide a plasma display panel capable of improving the image quality in all gradation areas by calculating inverse gamma values according to APLs, It is an object of the present invention to provide a correction method.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법은 기준 APL과 특정 APL의 총 서스테인 펄스 개수의 비율을 산출하는 단계와, 상기 산출된 비율을 상기 특정 APL의 각 서브필드별 서스테인 펄스 개수에 곱하여 조정된 각 서브필드별 서스테인 펄스 개수값을 산출하는 단계와, 서브필드 매핑 비교값을 비교값으로 하여 상기 조정된 각 서브필드별 서스테인 펄스 개수값에 대하여 서브필드 매핑을 진행하는 단계 및 상기 서브필드 매핑을 통해 산출된 서브필드 매핑값과 일치하는 서브필드 매핑값을 서브필드 매핑 테이블 상에서 추적하고, 일치하는 서브필드 매핑값의 실계조를 보정된 역감마값의 정수부로 확정하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다. According to another aspect of the present invention, there is provided a method of correcting an inverse gamma of a plasma display panel, the method comprising: calculating a ratio of a reference APL and a total number of sustain pulses of a specific APL; Calculating a number of sustain pulses for each subfield, which is adjusted by multiplying the number of sustain pulses by the number of sustain pulses per subfield, using the subfield mapping comparison value as a comparison value; And a subfield mapping value matching the subfield mapping value calculated through the subfield mapping is tracked on the subfield mapping table and the actual gray level of the matched subfield mapping value is determined as the integer part of the corrected inverse gamma value The method comprising the steps of:

상기 서브필드 매핑을 진행하는 단계는, 상기 서브필드 매핑 비교값 중 최초의 서브필드 매핑 비교값은 입력계조의 역감마 값이 되고, 상기 서브필드 매핑 비교값과 상기 조정된 각 서브필드별 서스테인 펄스 개수값을 최상위 서브필드(조정 된 서스테인 펄스 개수값이 가장 큰 서브필드)부터 하위 서브필드들로 순차적으로 비교하여, 특정 서브필드에서 해당 서브필드 매핑 비교값이 해당 서브필드의 상기 조정된 서스테인 펄스 개수값보다 작은 경우, 해당 서브필드의 매핑값은 0이 되며, 다음 서브필드에서도 동일한 매핑 비교값을 비교값으로 하고, 특정 서브필드에서 해당 서브필드 매핑 비교값이 해당 서브필드의 상기 조정된 서스테인 펄스 개수값보다 큰 경우, 해당 서브필드의 매핑값은 1이 되며, 해당 서브필드 매핑 비교값에서 해당 서브필드의 조정된 서스테인 펄스 개수값을 뺀 수치가 다음 서브필드에서 해당 서브필드의 상기 조정된 서스테인 펄스 개수값과 비교되는 서브필드 매핑 비교값이 될 수 있다. The first subfield mapping comparison value among the subfield mapping comparison values is an inverse gamma value of the input gray level, and the subfield mapping comparison value and the adjusted sustain pulse for each subfield The count value is sequentially compared with the highest subfield (the subfield having the largest number of adjusted sustain pulses) from the lowest subfield to the lower subfield, and the corresponding subfield mapping comparison value in the specific subfield is compared with the adjusted sustain pulse Field, the mapping value of the corresponding sub-field is 0, and the same mapping comparison value is also used as a comparison value in the next sub-field, and the comparison value of the sub-field mapping in the specific sub- Field is greater than the number of pulses, the mapping value of the corresponding sub-field becomes 1. When the sub-field mapping comparison value of the corresponding sub- And a value obtained by subtracting the adjusted number of sustain pulses from the adjusted number of sustain pulses in the corresponding subfield may be a subfield mapping comparison value.

또한, 최하위 서브필드(제 1 서브필드)에서 상기 서브필드 매핑 비교값이 조정된 서스테인 펄스 개수값보다 큰 경우, 상기 서브필드 매핑 비교값에서 상기 조정된 서스테인 펄스 개수값을 뺀 값이 상기 보정된 역감마값의 소수부를 구성할 수 있다. If the subfield mapping comparison value in the lowest subfield (first subfield) is greater than the adjusted number of sustain pulses, a value obtained by subtracting the adjusted number of sustain pulses from the subfield mapping comparison value is used as the corrected The decimal part of the inverse gamma value can be constructed.

본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법은 다음과 같은 효과가 있다. The inverse gamma correction method of the plasma display panel according to the present invention has the following effects.

APL의 증감에 따른 총 서스테인 펄스 개수의 증감분이 각 서브필드에 고르게 배분되며, 이를 통해 모든 계조가 비교적 균일하게 밝아지거나 어두워지도록 할 수 있다. The increase / decrease of the total number of sustain pulses according to the increase / decrease of the APL is uniformly distributed in each subfield, so that all gradations can be relatively uniformly brightened or darkened.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법을 상세히 설명하기로 한다. 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법을 구현하기 위한 구동회로의 블록 구성도이고, 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법을 설명하기 위한 순서도이다. Hereinafter, a method of inverse gamma correction of a plasma display panel according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 4 is a block diagram of a driving circuit for implementing an inverse gamma correction method of a plasma display panel according to an exemplary embodiment of the present invention, FIG. 5 is a flowchart illustrating a method of inverse gamma correction of a plasma display panel according to an exemplary embodiment of the present invention Fig.

먼저, 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법을 구현하기 위한 구동회로를 설명하면 다음과 같다. 도 4에 도시한 바와 같이, 본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널의 구동회로는 신호수신부(101), 프레임 버퍼부(102), 역감마 계산부(103), APL 계산부(104), 역감마 보정부(105) 및 하프토닝(half-toning)부(106)를 포함하여 이루어진다. First, a driving circuit for implementing the inverse gamma correction method of the plasma display panel according to an embodiment of the present invention will be described. 4, the driving circuit of the plasma display panel of the present invention includes a signal receiving unit 101, a frame buffer unit 102, an inverse gamma calculating unit 103, an APL calculating unit 104, (105) and a half-toning unit (106).

상기 신호수신부(101)는 PDP의 비디오 보드(video board)를 통해 입력되는 디지털 영상 데이터 즉, R, G, B 데이터를 수신하는 역할을 하며, 상기 역감마 계산부(103)는 상기 신호수신부(101)를 통해 입력되는 R, G, B 데이터에 대한 역감마값을 아래의 <수학식 1>을 이용하여 계산하는 역할을 한다. The signal receiving unit 101 receives digital image data input through a video board of the PDP, that is, R, G, and B data. The inverse gamma calculator 103 receives the digital image data, G, and B data input through the input unit 101, using the following Equation (1).

상기 프레임 버퍼부(102)는 상기 신호수신부(101)로부터 입력되는 디지털 영상 데이터를 임시로 저장하는 역할을 수행하는데, 이는 입력 영상의 APL값을 미리 알기 위한 것으로, 처음 입력되는 영상은 상기 프레임 버퍼부(102)로의 저장 과정을 거치면서 한 프레임이 지연(delay)되고, 이와 동시에 해당 입력 영상의 APL값이 후술하는 상기 APL계산부(104)에 의해 계산된다. 그 후 상기 프레임 버퍼부(102)에 입력된 영상 데이터를 다음 프레임에서 읽어 들여 미리 계산된 APL값에 따라 역감마값을 보정할 수 있게 된다. 또한, 상기 APL 계산부(104)는 아래의 <수학식 2> 및 <수학식 3>을 이용하여 APL을 계산하는 역할을 한다. The frame buffer unit 102 temporarily stores the digital image data input from the signal receiving unit 101. This is to recognize the APL value of the input image in advance, A frame is delayed while being stored in the APL unit 102. At the same time, the APL value of the corresponding input image is calculated by the APL calculation unit 104 described later. Then, the image data input to the frame buffer unit 102 is read in the next frame, and the inverse gamma value can be corrected according to the previously calculated APL value. Also, the APL calculation unit 104 calculates the APL using Equation (2) and Equation (3) below.

<수학식 1>&Quot; (1) &quot;

Figure 112008087915710-pat00001
Figure 112008087915710-pat00001

(여기서, Input은 각각의 R, G, B 데이터, SFM Level은 서브필드 매핑 레벨, 2.2는 gamma value)(Where Input is the R, G, B data, SFM Level is the subfield mapping level, and 2.2 is the gamma value)

<수학식 2>&Quot; (2) &quot;

Figure 112008087915710-pat00002
Figure 112008087915710-pat00002

(여기서, Gamma value는 2.2)(Where Gamma value is 2.2)

<수학식 3>&Quot; (3) &quot;

Figure 112008087915710-pat00003
Figure 112008087915710-pat00003

한편, 상기 역감마 보정부(105)는 특정 APL에 대한 역감마값을 보정하는 역할을 하는 것으로서, 구체적으로 특정 APL의 총 서스테인 펄스의 개수(Tsus)와 기준 APL의 총 서스테인 펄스의 개수(Ref.-Tsus) 사이의 비율(ratio)을 산출하고 해당 비 율을 상기 특정 APL의 각 서브필드별 서스테인 펄스의 개수에 곱한 다음, 산출된 각 서브필드별 서스테인 펄스의 개수를 상기 역감마 계산부(103)에 의해 계산된 역감마값과 비교하여 서브필드 매핑값을 계산하며, 이 때 산출된 서브필드 매핑값을 서브필드 매핑 테이블 상에서 추적하여 보정된 역감마값을 산출하는 역할을 한다. 상기 역감마 보정부(105)의 역할은 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법에 상응하는 것으로서 이에 대한 상세한 설명은 후술하기로 한다. On the other hand, the inverse gamma correction unit 105 as serving to compensate for the inverse gamma values for a given APL, specifically, the number (Ref of the total number of sustain pulses of the total sustain number (T sus) to the reference APL of the pulse for a specific APL -S sus ), multiplies the ratio by the number of sustain pulses for each subfield of the specific APL, and then outputs the calculated number of sustain pulses for each subfield to the inverse gamma calculator Field mapping value by comparing the calculated inverse gamma value with the inverse gamma value calculated by the inverse gamma correction unit 103, and calculates the corrected inverse gamma value by tracking the calculated sub-field mapping value on the sub-field mapping table. The function of the inverse gamma correction unit 105 corresponds to the inverse gamma correction method of the plasma display panel according to the present invention, and a detailed description thereof will be described later.

마지막으로, 상기 하프토닝부(106)는 상기 역감마 보정부(105)에 의해 산출된 보정된 역감마값 중 소수 부분을 오차 확산 또는 디더링(dithering) 중 어느 하나의 방법으로 하프토닝하는 역할을 한다. Lastly, the half-toning unit 106 performs half-toning of the decimal part of the corrected inverse gamma value calculated by the inverse gamma correction unit 105 by either error diffusion or dithering .

이상, 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법을 구현하기 위한 구동회로를 살펴보았다. 이하에서는, 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법을 본격적으로 살펴보기로 한다. The driving circuit for implementing the inverse gamma correction method of the plasma display panel according to an embodiment of the present invention has been described above. Hereinafter, an inverse gamma correction method of a plasma display panel according to an exemplary embodiment of the present invention will be described in detail.

전술한 바와 같이 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법은 특정 APL에 대한 역감마값을 보정하는 것을 핵심 특징으로 하며, 세부적으로 각각의 APL에 대한 역감마값을 보정하고 이를 바탕으로 해당 APL의 각 서브필드별 서스테인 펄스의 개수를 보정함으로써 실제 밝기에 근접한 화상을 구현하는 것을 특징으로 한다. As described above, the inverse gamma correction method of the plasma display panel according to the present invention is characterized in that the inverse gamma value for a specific APL is corrected, and the inverse gamma value for each APL is corrected in detail, And corrects the number of sustain pulses for each subfield to realize an image close to the actual brightness.

기준 APL과 특정 APL의 총 서스테인 펄스 개수의 비율 산출Calculating the ratio of the number of sustain pulses of a reference APL to a specific APL

이를 구현하기 위해, 먼저 도 5에 도시한 바와 같이 기준 APL을 설정하고(S501), 상기 기준 APL과 보정하고자 하는 특정 APL 사이의 총 서스테인 펄스 개수의 비율을 산출한다(S502). 상기 기준 APL은 복수의 APL 중 어느 하나가 될 수 있으며 일 예로, 최대 APL을 기준 APL로 설정할 수 있다. APL에 따른 총 서스테인 펄스 개수 및 각 서브필드별(SF1, SF2, SF3, SF4, SF5, SF6, SF7, SF8) 서스테인 펄스 개수는 아래의 <표 1>과 같이 나타낼 수 있으며, 아래의 <표 1>은 128단계(단계 0∼단계 127)의 APL을 갖는 APL 테이블이다. 아래의 <표 1>에서, 최대 APL은 단계 127이며, 이 때의 총 서스테인 펄스 개수(Ref.-Tsus)는 255개이다. 5, a reference APL is set (S501), and a ratio of the total number of sustain pulses between the reference APL and a specific APL to be corrected is calculated (S502). The reference APL may be any one of a plurality of APLs. For example, the reference APL may be set as a reference APL. The total number of sustain pulses according to the APL and the number of sustain pulses for each of the subfields SF1, SF2, SF3, SF4, SF5, SF6, SF7, and SF8 can be expressed as shown in Table 1 below. &Gt; is an APL table having an APL of 128 steps (steps 0 to 127). In Table 1 below, the maximum APL is step 127, and the total number of sustain pulses (Ref.-T sus ) is 255 in this case.

<표 1> APL 테이블<Table 1> APL table

Figure 112008087915710-pat00004
Figure 112008087915710-pat00004

한편, 보정하고자 하는 특정 APL이 단계 115라면 이 때의 총 서스테인 펄스 개수(Tsus)는 311개이며, 상기 기준 APL과 특정 APL의 총 서스테인 펄스 개수의 비율(ratio)은 0.82(Ref.-Tsus/Tsus = 255/311)가 된다(아래의 수학식 4 참조). On the other hand, if the specific APL to be corrected is step 115, then the total number of sustain pulses T sus is 311, and the ratio of the number of total sustain pulses of the reference APL to the specific APL is 0.82 sus / T sus = 255/311) (see Equation 4 below).

<수학식 4>&Quot; (4) &quot;

Ratio = Ref.-Tsus/Tsus Ratio = Ref.-T sus / T sus

(여기서, Ref.-Tsus는 기준 APL의 총 서스테인 펄스 개수, Tsus는 특정 APL의 총 서스테인 펄스 개수)(Where Ref.-T sus is the total number of sustain pulses of the reference APL, T sus is the total number of sustain pulses of the particular APL)

각 서브필드별 서스테인 개수값 조정Adjusting the number of sustain pulses for each subfield

이와 같이, 기준 APL과 특정 APL 사이의 총 서스테인 펄스 개수의 비율이 산출된 상태에서, 상기 산출된 비율(Ref.-Tsus/Tsus)을 상기 특정 APL의 각 서브필드별 서스테인 펄스 개수에 곱하여 특정 APL의 조정된 각 서브필드별 서스테인 개수를 산출한다(S503). 아래의 <표 2>는 특정 APL(단계 115)의 각 서브필드별 서스테인 펄스 개수 및 이에 상기 비율을 곱한 값을 나타낸 것이다. In this manner, in the state that the ratio of the total number of sustain pulses between the reference APL and the specific APL is calculated, the calculated ratio (Ref.-T sus / T sus ) is multiplied by the number of sustain pulses for each subfield of the specific APL The adjusted number of sustain pulses for each subfield of a specific APL is calculated (S503). Table 2 below shows the number of sustain pulses for each subfield of a specific APL (step 115) and the value multiplied by the ratio.

<표 2> <Table 2>

APLAPL SF1SF1 SF2SF2 SF3SF3 SF4SF4 SF5SF5 SF6SF6 SF7SF7 SF8SF8 Tsus T sus 단계 115Step 115 1One 22 44 99 1919 3939 7979 158158 311311 (단계 115)
x 0.82
(Step 115)
x 0.82
0.820.82 1.641.64 3.283.28 7.387.38 15.5815.58 31.9831.98 64.7764.77 129.55129.55 255255

서브필드 매핑 및 역감마값 보정Subfield mapping and inverse gamma correction

그런 다음, 산출된 특정 APL의 조정된 각 서브필드별 서스테인 개수를 특정 입력계조에 상응하는 역감마값과 비교하여 각 서브필드에 대한 가중치 부여 작업 즉, 서브필드 매핑 작업을 진행한다(S504). 예를 들어, 입력계조가 40인 경우 그에 대한 역감마값은 4.332가 되며(표 3 참조), 이 때의 역감마값과 상기 산출된 특정 APL의 조정된 각 서브필드별 서스테인 개수가 비교되며 이를 통해 각 서브필드에 대한 가중치 부여 작업이 진행된다. Then, in step S504, the weighting operation for each subfield, that is, the subfield mapping operation, is performed by comparing the adjusted number of sustain pulses for each subfield calculated for the specific APL with the inverse gamma value corresponding to the specific input gradation. For example, when the input gradation is 40, the inverse gamma value is 4.332 (see Table 3). The inverse gamma value at this time is compared with the adjusted number of sustain pulses for each subfield of the calculated specific APL, The weighting operation for the subfields proceeds.

<표 3> 입력계조별 역감마값<Table 3> Inverse gamma value

입력계조Input gradation 역감마값Inverse gamma value 00 00 1One 0.0010.001 22 0.0060.006 33 0.0150.015 44 0.0270.027 55 0.0450.045 66 0.0670.067 77 0.0940.094 ·
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4040 4.3324.332 4141 4.5744.574 ·
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250250 244.129244.129 251251 246.283246.283 252252 248.447248.447 253253 250.621250.621 254254 252.805252.805 255255 255255

구체적으로, 서브필드 매핑 작업은 서브필드 매핑 비교값이 상기 조정된 각 서브필드별 서스테인 펄스 개수값보다 크면 매핑값이 1이고 작으면 0이 된다. 이 때, 최초의 서브필드 매핑 비교값은 입력계조의 역감마 값이 되고, 상기 서브필드 매핑 비교값과 상기 조정된 각 서브필드별 서스테인 펄스 개수값을 최상위 서브필드(조정된 서스테인 펄스 개수값이 가장 큰 서브필드)부터 하위 서브필드들로 순차적으로 비교하여 특정 서브필드에서 해당 서브필드 매핑 비교값이 조정된 서스테인 펄스 개수값보다 작은 경우, 해당 서브필드의 매핑값은 0이며, 다음 서브필드에서도 동일한 서브필드 매핑 비교값으로 하고, 특정 서브필드에서 해당 서브필드 매핑 비교값이 조정된 서스테인 펄스 개수값보다 큰 경우, 해당 서브필드의 매핑값은 1이며, 해당 서브필드 매핑 비교값에서 조정된 서스테인 펄스 개수값을 뺀 수치가 다음 서브필드에서 조정된 서스테인 펄스 개수값과 비교되는 서브필드 매핑 비교값이 된다. Specifically, if the subfield mapping comparison value is greater than the adjusted number of sustain pulses per subfield, the mapping value is 1, and the mapping value is 0 when the subfield mapping comparison value is 1. At this time, the first subfield mapping comparison value becomes the inverse gamma value of the input gray level, and the value of the subfield mapping comparison value and the adjusted number of sustain pulses per each subfield are stored in the highest-order subfield (the adjusted number of sustain pulses Field subfields) to the lower subfields, and if the corresponding subfield mapping comparison value in a specific subfield is smaller than the adjusted number of sustain pulses, the mapping value of the corresponding subfield is 0, and in the next subfield Field mapping comparison value, and when the corresponding subfield mapping comparison value in a specific subfield is greater than the adjusted number of sustain pulses, the mapping value of the corresponding subfield is 1, and the sustain value The value obtained by subtracting the pulse number value is a subfield mapping comparison value in which the value is compared with the adjusted number of sustain pulses in the next subfield .

아래의 <표 4>를 참고하면, 최상위 서브필드인 SF8부터 매핑작업을 진행하는데, SF8의 조정된 서스테인 펄스 개수값(129.55)이 최초의 서브필드 매핑 비교값인 입력계조의 역감마값(4.33)보다 크기 때문에 SF8의 매핑값은 0이 된다. 다음 서프필드인 SF7에서는 이전 서브필드인 SF8의 서브필드 매핑 비교값인 4.33이 다시 비교값이 되고, SF7의 조정된 서스테인 펄스 개수값(64.77)이 상기 비교값보다 크므로 매핑값이 0이 된다. 이러한 방법으로 매핑 작업을 순차적으로 진행하면, SF8에서 SF4까지 각 서브필드의 조정된 서스테인 펄스 개수값(129.55=SF8, 64.77=SF7, 31.98=SF6, 15.58=SF5, 7.38=SF4)이 서브필드 매핑 비교값인 입력계조의 역감마값(4.33)보다 크기 때문에 SF8∼SF4의 매핑값은 0이 된다. 이어, SF3에서 입력계조의 역감마값(4.33)인 서브필드 매핑 비교값이 조정된 서스테인 펄스 개수값(3.28)보다 크므로 SF3의 매핑값은 1이 되며, 이 때 서브필드 매핑 비교값(4.33)에서 조정된 서스테인 펄스 개수값(3.28)을 뺀 수치(1.05=4.33-3.28)가 다음 서브필드 즉, SF2에서의 서브필드 매핑 비교값이 된다. SF2에서, 서브필드 매핑 비교값(1.05)이 조정된 서스테인 펄스 개수값(1.64)보다 작으므로 매핑값은 0이 되며, 비교값 1.05는 다음의 SF1에서의 서브필드 매핑 비교값으로 작용한다. Referring to Table 4, the mapping operation is performed from the highest sub-field SF8. The adjusted number of sustain pulses (129.55) of SF8 is the inverse gamma value (4.33) of the input gradation which is the first sub- The mapping value of SF8 is zero. In the next surge field SF7, the subfield mapping comparison value 4.33 of the previous subfield SF8 is again a comparison value, and the adjusted sustain pulse number value 64.77 of SF7 is larger than the comparison value, so that the mapping value becomes 0 . If the mapping operation is sequentially performed in this manner, the adjusted number of sustain pulses (129.55 = SF8, 64.77 = SF7, 31.98 = SF6, 15.58 = SF5, 7.38 = SF4) of each subfield from SF8 to SF4 is sub- Is larger than the inverse gamma value (4.33) of the input gradation which is a comparative value, the mapping value of SF8 to SF4 becomes zero. Since the sub field mapping comparison value, which is the inverse gamma value (4.33) of the input gray level in SF3, is larger than the adjusted sustain pulse number value (3.28), the mapping value of SF3 becomes 1, and the sub field mapping comparison value (1.05 = 4.33-3.28) obtained by subtracting the adjusted sustain pulse number value (3.28) from the adjusted sustain pulse number value (1.05 = 4.33-3.28) becomes the subfield mapping comparison value in the next subfield SF2. In SF2, since the subfield mapping comparison value (1.05) is smaller than the adjusted number of sustain pulses (1.64), the mapping value becomes 0, and the comparison value 1.05 serves as a subfield mapping comparison value in the following SF1.

마지막으로, SF1에서, 서브필드 매핑 비교값인(1.05)이 조정된 서스테인 펄 스 개수값(0.82)보다 크므로 SF1의 매핑값은 1이 되며, 서브필드 매핑 비교값(1.05)에서 조정된 서스테인 펄스 개수값(0.82)을 뺀 수치(0.23=1.05-0.82)는 보정된 역감마값의 소수를 의미하게 되는데 이에 대한 설명은 후술하기로 한다. Finally, in SF1, since the subfield mapping comparison value (1.05) is larger than the adjusted sustain pulse number value (0.82), the mapping value of SF1 becomes 1, and the sustain value adjusted by the subfield mapping comparison value The value obtained by subtracting the pulse number value (0.82) (0.23 = 1.05-0.82) means the prime number of the corrected inverse gamma value, which will be described later.

<표 4> 서브필드 매핑 작업<Table 4> Sub-field mapping operation

SF1SF1 SF2SF2 SF3SF3 SF4SF4 SF5SF5 SF6SF6 SF7SF7 SF8SF8 조정된 서스테인 펄스 개수값The adjusted number of sustain pulses 0.820.82 1.641.64 3.283.28 7.387.38 15.5815.58 31.9831.98 64.7764.77 129.55129.55 서브필드 매핑 비교값Subfield mapping comparison value 1.051.05 1.051.05 4.334.33 4.334.33 4.334.33 4.334.33 4.334.33 4.334.33 서브필드 매핑값Subfield mapping value 1One 00 1One 00 00 00 00 00

한편, 상술한 각 서브필드별 매핑값 추출 작업 즉, 서브필드 매핑 작업을 통해 상기 특정 APL의 조정된 서스테인 펄스 개수값에 대한 서브필드 전체의 매핑값(1 0 1 0 0 0 0 0)이 상기 <표 4>에 나타낸 바와 같이 도출되었는데, 상기 도출된 서브필드 매핑값을 서브필드 매핑 테이블(아래의 <표 5> 참조)에서 추적하면(S505), 해당 도출된 서브필드 매핑값이 실계조 단계 5의 각 서브필드별 가중치(1 0 1 0 0 0 0 0)임을 알 수 있다(S506). On the other hand, a mapping value (1 0 1 0 0 0 0 0) of all the subfields to the adjusted number of sustain pulses of the specific APL through the mapping value extraction operation for each subfield, that is, the subfield mapping operation, Field mapping value is derived from the subfield mapping table (see Table 5 below) (S505), and the derived derived subfield mapping value is obtained as shown in the actual gradation step 5 is weighted by each subfield (1 0 1 0 0 0 0 0) (S506).

<표 5> 서브필드 매핑 테이블Table 5 Subfield mapping table

SF1SF1 SF2SF2 SF3SF3 SF4SF4 SF5SF5 SF6SF6 SF7SF7 SF8SF8 실계조\가중치Actual Gradation \ Weight 1One 22 44 88 1616 3232 6464 128128 00 00 00 00 00 00 00 00 00 1One 1One 00 00 00 00 00 00 00 22 00 1One 00 00 00 00 00 00 33 1One 1One 00 00 00 00 00 00 44 00 00 1One 00 00 00 00 00 55 1One 00 1One 00 00 00 00 00 66 00 1One 1One 00 00 00 00 00 77 1One 1One 1One 00 00 00 00 00 88 00 00 00 1One 00 00 00 00 99 1One 00 00 1One 00 00 00 00 1010 00 1One 00 1One 00 00 00 00 ·
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4040 00 00 00 1One 00 1One 00 00 4141 1One 00 00 1One 00 1One 00 00 ·
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252252 00 00 1One 1One 1One 1One 1One 1One 253253 1One 00 1One 1One 1One 1One 1One 1One 254254 00 1One 1One 1One 1One 1One 1One 1One 255255 1One 1One 1One 1One 1One 1One 1One 1One

상기 도출된 서브필드 매핑값과 동일한 가중치를 갖는 실계조 단계 5는 특정 APL(단계 115)에서의 입력계조 40의 역감마값 즉, 보정된 역감마값의 정수부(5)가 되며, 상기 서브필드 매핑 작업을 통해 얻어진 소수부(0.23)는 보정된 역감마값의 소수부가 된다(S507). 즉, APL 단계 115에서 입력계조 40의 역감마값은 4.33에서 5.23으로 보정된다. 여기서, 상기 서브필드 매핑 작업을 통해 얻어진 소수부는 상기 하프토닝부(105)를 통해 오차 확산 또는 디더링(dithering) 중 어느 하나의 방법으로 하프토닝된다. The actual gradation level step 5 having the same weight as the derived subfield mapping value becomes the inverse gamma value of the input gradation 40 in the specific APL (step 115), that is, the integer part 5 of the corrected inverse gamma value, The fractional part 0.23 obtained through the correction is added as a prime number of the corrected inverse gamma value (S507). That is, in the APL step 115, the inverse gamma value of the input gradation 40 is corrected from 4.33 to 5.23. Here, the fractional part obtained through the subfield mapping operation is half-toned by either error diffusion or dithering through the half-toning unit 105.

이상의 방법을 통해 산출된 보정된 역감마값은 실제 밝기에 근접함을 다음을 통해 확인할 수 있다. 구체적으로, APL 단계 115에서 입력계조 40의 역감마값(4.33)은 기준 APL과 특정 APL(단계 115)의 총 서스테인 펄스 비율인 1.22(311/255)배만큼 밝아져야 하는데(5.28=4.33 * 1.22), 상기의 방법을 통해 산출된 보정된 역감마값은 5.23임에 따라, 이론적 실제 밝기에 근접함을 확인할 수 있다. The calibrated inverse gamma value calculated through the above method is found to be close to the actual brightness through the following. Specifically, in the APL step 115, the inverse gamma value (4.33) of the input gradation 40 should be increased by 1.22 (311/255) (5.28 = 4.33 * 1.22), which is the total sustain pulse ratio of the reference APL and the specific APL (step 115) , And the corrected inverse gamma value calculated through the above method is 5.23, it can be confirmed that it approaches the theoretical actual brightness.

또한, 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법에 따르면, APL 증감에 따른 총 서스테인 펄스 개수의 증감분이 모든 계조에 걸쳐 고르게 분배됨에 따라 APL이 변하더라도 전계조에 걸쳐 일정 비율로 휘도가 변하게 되어 화질의 신뢰성을 향상시킬 수 있게 된다. 도 6과 도 7은 각각 종래 기술에 따른 휘도 곡선과 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법을 적용한 휘도 곡선을 나타낸 것인데, 종래 기술의 경우 APL이 단계 127, 103, 102로 변하게 될 때 특정 계조에서 휘도값이 급격하게 변화됨을 알 수 있는데, 본 발명의 경우 도 7에 도시한 바와 같이 APL이 변하더라도 모든 계조에 걸쳐 휘도값이 고르게 증감됨을 확인할 수 있다. Also, according to the inverse gamma correction method of the plasma display panel according to the present invention, as the increase / decrease of the total number of sustain pulses due to the increase / decrease of the APL is uniformly distributed over all the gradations, the brightness varies at a constant rate The reliability of image quality can be improved. 6 and 7 show brightness curves according to the conventional technique and the inverse gamma correction method of the plasma display panel according to the present invention, respectively. In the conventional technique, when the APL changes to steps 127, 103, and 102 It can be seen that the luminance value is abruptly changed at a specific gradation. In the present invention, as shown in FIG. 7, it can be seen that the luminance value is evenly increased or decreased over all the gradations even if the APL varies.

이와 함께, 종래기술의 경우 APL이 변하게 되면 실제 패널에 표시되는 휘도 감마 곡선이 조금씩 달라지는데도(도 8 참조), 본 발명의 경우 도 9에서 도시한 바와 같이 APL이 변하더라도 거의 동일한 휘도 감마 곡선을 나타낸다. 여기서, 상기 휘도 감마 곡선이라 함은, 특정 APL 단계에서 각 계조별 휘도 값을 그 APL 단계에서의 최대 계조의 휘도 값으로 나누고 255를 곱한 곡선, 즉 특정 APL 단계에서의 실제 밝기로 표현 되는 감마 곡선을 일컫는다. In addition, even if the APL changes, the brightness gamma curve displayed on the actual panel changes slightly (see FIG. 8). However, as shown in FIG. 9, . Here, the luminance gamma curve is a curve obtained by dividing the luminance value of each gradation in the APL step by the luminance value of the maximum gradation in the APL step and multiplying by 255, that is, the gamma curve expressed by the actual brightness in the specific APL step .

도 1은 일반적인 플라즈마 디스플레이 패널의 구성도.1 is a configuration diagram of a general plasma display panel.

도 2는 플라즈마 디스플레이 패널의 화상을 구현하는 원리를 나타낸 참고도.2 is a reference view showing a principle of realizing an image of a plasma display panel.

도 3은 APL 곡선을 나타낸 도면. 3 shows an APL curve;

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법을 구현하기 위한 구동회로의 블록 구성도.4 is a block diagram of a driving circuit for implementing an inverse gamma correction method of a plasma display panel according to an embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법을 설명하기 위한 순서도. FIG. 5 is a flowchart illustrating an inverse gamma correction method of a plasma display panel according to an exemplary embodiment of the present invention. Referring to FIG.

도 6은 종래 기술에 따른 휘도 곡선을 나타낸 참고도. 6 is a reference diagram showing a luminance curve according to the prior art.

도 7은 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법을 적용한 휘도 곡선을 나타낸 참고도. 7 is a reference view showing a luminance curve to which the inverse gamma correction method of the plasma display panel according to the present invention is applied.

도 8은 종래 기술에 따른 휘도 감마 곡선을 나타낸 참고도. 8 is a reference diagram showing a luminance gamma curve according to the prior art;

도 9는 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법을 적용한 휘도 감마 곡선을 나타낸 참고도. 9 is a reference view showing a luminance gamma curve to which the inverse gamma correction method of the plasma display panel according to the present invention is applied.

Claims (6)

복수의 APL 각각에 대해 서브필드별 서스테인 펄스 개수가 할당된 APL 테이블을 이용하고, 복수의 APL 중 어느 하나를 기준 APL로 설정하고, <보정하고자 하는 특정 APL의 총 서스테인 펄스 개수> 대비 <상기 기준 APL의 총 서스테인 펄스 개수>의 비율을 산출하는 단계;The APL table in which the number of sustain pulses per subfield is allocated to each of the plurality of APLs is used and one of the plurality of APLs is set as the reference APL and the number of the sustain pulses of the specific APL to be corrected & The total number of sustain pulses of the APL > 상기 산출된 비율을 상기 특정 APL의 각 서브필드별 서스테인 펄스 개수에 곱하여 조정된 각 서브필드별 서스테인 펄스 개수값을 산출하는 단계;Calculating the adjusted number of sustain pulses for each subfield by multiplying the calculated ratio by the number of sustain pulses for each subfield of the specific APL; 서브필드 매핑 비교값을 비교값으로 하여 상기 조정된 각 서브필드별 서스테인 펄스 개수값에 대하여 서브필드 매핑을 진행하는 단계; 및 Performing a subfield mapping on the adjusted number of sustain pulses for each of the subfields using a comparison value of a subfield mapping as a comparison value; And 상기 서브필드 매핑을 통해 산출된 서브필드 매핑값과 일치하는 서브필드 매핑값을 서브필드 매핑 테이블 상에서 추적하고, 일치하는 서브필드 매핑값의 실계조를 보정된 역감마값의 정수부로 확정하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법. A step of tracking the subfield mapping value matching the subfield mapping value calculated through the subfield mapping on the subfield mapping table and determining the actual gray level of the matched subfield mapping value as the integral part of the corrected inverse gamma value Wherein the inverse gamma correction of the plasma display panel comprises: 제 1 항에 있어서, 상기 서브필드 매핑을 진행하는 단계는, 2. The method of claim 1, wherein the sub- 상기 서브필드 매핑 비교값 중 최초의 서브필드 매핑 비교값은 입력계조의 역감마 값이 되고, 상기 서브필드 매핑 비교값과 상기 조정된 각 서브필드별 서스테인 펄스 개수값을 최상위 서브필드(조정된 서스테인 펄스 개수값이 가장 큰 서브필드)부터 하위 서브필드들로 순차적으로 비교하여, 특정 서브필드에서 해당 서브필드 매핑 비교값이 해당 서브필드의 상기 조정된 서스테인 펄스 개수값보다 작은 경우, 해당 서브필드의 매핑값은 0이 되며, 다음 서브필드에서도 동일한 매핑 비교 값을 비교값으로 하고, 특정 서브필드에서 해당 서브필드 매핑 비교값이 해당 서브필드의 상기 조정된 서스테인 펄스 개수값보다 큰 경우, 해당 서브필드의 매핑값은 1이 되며, 해당 서브필드 매핑 비교값에서 해당 서브필드의 조정된 서스테인 펄스 개수값을 뺀 수치가 다음 서브필드에서 해당 서브필드의 상기 조정된 서스테인 펄스 개수값과 비교되는 서브필드 매핑 비교값이 되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법.The first subfield mapping comparison value among the subfield mapping comparison values is an inverse gamma value of the input gray level. The comparison value of the subfield mapping value and the adjusted number of sustain pulses of each subfield are stored in the highest level subfield Field of the corresponding subfield to the lower subfields, and if the corresponding subfield mapping comparison value in a specific subfield is smaller than the adjusted number of sustain pulses of the corresponding subfield, If the comparison value of the corresponding subfields in the specific subfield is greater than the adjusted number of sustain pulses in the corresponding subfield, Is 1, and the value obtained by subtracting the adjusted number of sustain pulses of the corresponding subfield from the corresponding subfield mapping comparison value Field comparison value to be compared with the adjusted number of sustain pulses of the corresponding sub-field in the next sub-field. 제 2 항에 있어서, 최하위 서브필드(제 1 서브필드)에서 상기 서브필드 매핑 비교값이 조정된 서스테인 펄스 개수값보다 큰 경우, 상기 서브필드 매핑 비교값에서 상기 조정된 서스테인 펄스 개수값을 뺀 값이 상기 보정된 역감마값의 소수부를 구성하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법. 3. The method of claim 2, wherein when the subfield mapping comparison value in the lowest subfield (first subfield) is greater than the adjusted number of sustain pulses, a value obtained by subtracting the adjusted number of sustain pulses from the subfield mapping comparison value Gamma value of the corrected gamma value is a fractional part of the corrected inverse gamma value. 제 3 항에 있어서, 상기 소수부를 하프토닝하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법. The method of claim 3, further comprising halftoning the decimal part. 제 1 항에 있어서, 상기 기준 APL은 복수의 APL 단계 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법. The method of claim 1, wherein the reference APL is one of a plurality of APL steps. 제 5 항에 있어서, 상기 기준 APL은 복수의 APL 단계 중 최고 단계의 APL인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 역감마 보정방법. 6. The method of claim 5, wherein the reference APL is APL of a highest level among a plurality of APL stages.
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