KR101417043B1 - Apparatus for detecting a flaw of billet - Google Patents

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Abstract

본 발명은 빌레트 흠 검출 장치에 관한 것으로, 냉각 전류에 응답하여 전자 냉각 방식으로 적정 온도를 유지하면서, 빌레트의 흠에 상응하는 온도차를 가지며 입사되는 적외선을 수신하고 전기신호로 변환하는 적외선 광학 소자; 및 상기 적외선 광학 소자의 온도를 감지한 후, 상기 적외선 광학 소자의 온도를 보상하기 위한 상기 냉각 전류를 발생하는 온도 제어부를 포함하여 구성되며, 이에 의하여 적외선 광학 소자를 냉각시키기 위한 별도의 외부 냉각 장치를 필요로 하지 않아 적외선 빌레트 흠 검출 장치의 활용 범위를 증대시켜 줄 수 있다. An infrared optical element that receives an incident infrared ray and converts the incident infrared ray into an electrical signal while maintaining an appropriate temperature in response to a cooling current in an electronically cooled manner, the infrared ray optical element having a temperature difference corresponding to a blemish defect, And a temperature controller for generating the cooling current for compensating for the temperature of the infrared optical element after sensing the temperature of the infrared optical element. Accordingly, a separate external cooling apparatus for cooling the infrared optical element, It is possible to increase the application range of the infrared blemish scratch detection device.

레트, 빌레트 흠, 적외선 광학 소자, 전자 냉각 방식 Rett, Billet flaw, Infrared optical element, Electronic cooling system

Description

빌레트 흠 검출 장치{Apparatus for detecting a flaw of billet}[0001] Apparatus for detecting a flaw of billet [

본 발명은 빌레트 흠 검출 장치에 관한 것으로, 특히 전자 냉각 방식의 적외선 광학 소자를 사용하여 외부의 냉각장치 없이 간단히 빌레트(billet)의 표면에 발생한 흠을 검출할 수 있도록 하는 적외선 빌레트 흠 검출 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a blanket scratch detection apparatus, and more particularly, to an infrared brooms scratch detection apparatus capable of detecting a scratch on the surface of a billet without using an external cooling apparatus by using an infrared optical element of an electronic cooling system will be.

일반적으로, 철강 산업에서는 빌레트의 표면에 발생한 흠을 사전에 검출하여, 이로 인하여 후 공정에서 발생할 수 있는 불량을 제거하여 준다. Generally, in the steel industry, defects on the surface of a billet are detected in advance, thereby eliminating defects that may occur in a subsequent process.

상기와 같이 빌레트의 표면에 발생한 흠을 검출하기 위해서, 종래에는 빌레트를 고주파 유도 가열한 후, 표면에 발생한 미소한 온도 변화차를 검출하고 이로부터 흠 정보를 검출하도록 하였다. In order to detect a blemish on the surface of the billet as described above, conventionally, after a high frequency induction heating of the billet, a minute temperature change difference occurring on the surface is detected and the blemish information is detected therefrom.

그러나 종래의 빌레트 흠 검출 장치는 상기에서와 같이 빌레트의 온도 변화를 검출하기 위해서는 질소 등을 이용하는 외부 냉각을 이용하는 적외선 광학 소자를 사용하였으나, 이를 위해서는 외부 냉각을 위한 부가적인 장치를 필요로 하는 문제가 있었다.However, in the conventional blanket scratch detection apparatus, as described above, an infrared optical element using external cooling using nitrogen or the like is used to detect the temperature change of the billet, but a problem that requires an additional apparatus for external cooling there was.

상기에서 살펴본 바와 같이 종래의 빌레트 흠 검출 장치는 적외선 광학 소자의 적정온도로 유지시키기 위해서는 외부 냉각을 위한 장치를 부가적으로 구비해야 하는 문제가 있었다. As described above, the conventional blemish-blemish-detecting apparatus has a problem that an apparatus for external cooling must be additionally provided in order to maintain the infrared optical element at a proper temperature.

이에 본 발명에서는 전자 냉각 방식으로 적외선 광학 소자를 냉각시킴으로서 별도의 외부 냉각 장치를 필요로 하지 않는 빌레트 흠 검출 장치를 제공하고자 한다. Accordingly, an object of the present invention is to provide a blanket scratch detection apparatus which does not require a separate external cooling device by cooling an infrared optical element by an electronic cooling system.

본 발명의 일 측면에 따르면 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 수단으로써, 냉각 전류에 응답하여 전자 냉각 방식으로 적정 온도를 유지하면서, 빌레트의 흠에 상응하는 온도차를 가지며 입사되는 적외선을 수신하고 전기신호로 변환하는 적외선 광학 소자; 및 상기 적외선 광학 소자의 온도를 감지한 후, 상기 적외선 광학 소자의 온도를 보상하기 위한 상기 냉각 전류를 발생하는 온도 제어부를 구비하는 빌레트 흠 검출 장치를 제안한다. According to an aspect of the present invention, there is provided a method of solving the above-mentioned problems, comprising: receiving an infrared ray incident on the infrared ray sensor with a temperature difference corresponding to a nick of a billet while maintaining an appropriate temperature in response to a cooling current, An infrared optical element for converting the light into an infrared light; And a temperature control unit for generating the cooling current for compensating the temperature of the infrared optical element after sensing the temperature of the infrared optical element.

상기 온도 제어부는 상기 적외선 광학 소자의 온도에 따라 가변되는 전압을 기준 전압과 비교하는 비교부; 및 상기 비교부의 출력 전압에 상응하는 냉각 전류를 발생하여 상기 적외선 광학 소자에 제공하는 냉각 전류 발생부를 포함하며, 이때의 상기 비교부는 상기 적외선 광학 소자에 설치된 써미스터에 의해 가변되는 값을 가지는 전압을 기준 전압에 비교하여 출력을 발생하는 비교기를 포함하고, 상기 냉각 전류 발생부는 상기 비교부의 출력 전압에 따라 도통되는 전류량을 가변하는 트랜지스터를 포함한다. Wherein the temperature controller includes: a comparator that compares a voltage variable according to a temperature of the infrared optical element with a reference voltage; And a cooling current generator for generating a cooling current corresponding to an output voltage of the comparator and providing the same to the infrared optical element, wherein the comparator compares a voltage having a variable value by a thermistor provided in the infrared optical element, And a comparator for generating an output in comparison with a voltage, wherein the cooling current generator includes a transistor for varying an amount of current that is conducted according to an output voltage of the comparator.

또한, 본 발명의 빌레트 흠 검출 장치는 상기 적외선 광학 소자로부터 출력되는 전기 신호의 신호 피크치를 증폭 및 확대하여 출력하는 빌레트 흠 검출부; 및 상기 적외선을 상기 적외선 광학 소자로 입사시키는 회전 다면경의 현재 위치를 검출하여 출력하는 회전 다면경 위치 검출부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다. The billet scratch detection apparatus of the present invention further includes a billet scratch detection unit for amplifying and magnifying and outputting a signal peak value of an electric signal output from the infrared optical element; And a rotary polygonal mirror position detector for detecting and outputting a current position of a rotary polygon mirror for making the infrared ray enter the infrared optical element.

이와 같이 본 발명의 적외선 빌레트 흠 검출 장치는 전자 냉각 방식으로 적외선 광학 소자를 냉각시킴으로써, 별도의 외부 냉각 장치를 필요로 하지 않아 적외선 빌레트 흠 검출 장치를 보다 용이하게 활용할 수 있도록 해준다. As described above, according to the infrared blanket scratch detection apparatus of the present invention, the infrared optical element is cooled by the electronic cooling system, so that the external blanket scratch detection apparatus can be more easily utilized without requiring an external cooling apparatus.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있는 바람직한 실시 예를 상세히 설명한다. 다만, 본 발명의 바람직한 실시 예에 대한 동작 원리를 상세하게 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다. DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention.

또한, 도면 전체에 걸쳐 유사한 기능 및 작용을 하는 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 사용한다.The same reference numerals are used for portions having similar functions and functions throughout the drawings.

도1은 본 발명의 일실시예 따른 빌레트 흠 검출 장치의 블록도를 도시한 도면이다. BRIEF DESCRIPTION OF DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram of a billet scratch detection apparatus according to an embodiment of the present invention; FIG.

도1을 참조하면, 빌레트 흠 검출 장치는 회전 다면경(11), 모터(12), 적외선 광학 소자(20), 온도 제어부(30), 빌레트 흠 검출부(40), 회전 다면경 위치 검출부(50) 및 모터 구동부(60)를 구비한다. 1, the Billet blemish detection apparatus includes a rotary polygonal mirror 11, a motor 12, an infrared optical element 20, a temperature controller 30, a Billet blemish detector 40, a rotary polygonal mirror position detector 50 And a motor driving unit 60. [

회전 다면경(11)은 모터(12)의 제어하에 빌레트를 폭 방향으로 정속회전하면서 빌레트를 스캔한다. The rotary polygonal mirror 11 scans the billet while constantly rotating the billet in the width direction under the control of the motor 12.

적외선 광학 소자(20)는 온도 제어부(30)의 제어하에 전자 냉각 방식으로 적정 온도를 유지하면서, 회전 다면경(11)의 스캔 결과에 의해 회전 다면경(11)로부터 반사되어 자신에 입사되는 적외선(infared)을 수신하고, 이를 전기신호로 변환한다. 이때, 적외선(infared)은 빌레트의 표면에 형성된 흠에 상응하는 값을 가진다. The infrared optical element 20 is reflected from the rotary polygonal mirror 11 by the scan result of the rotary polygonal mirror 11 while maintaining an appropriate temperature in the electronic cooling system under the control of the temperature controller 30, (infared) and converts it to an electrical signal. At this time, the infrared ray has a value corresponding to the defect formed on the surface of the billet.

이때, 바람직하게는 본 발명의 적외선 광학 소자(20)는 적외선(infared)이 적외선 광학 소자(20)에 초점을 맺기 위한 렌즈(미도시)와 원하는 적외선(infared)만을 수신하도록 하는 적외선 광학 파장 대역 필터(미도시)를 더 구비하여, 이들을 통해 보다 정확한 적외선(infared)을 수신하도록 한다. Preferably, the infrared optical element 20 of the present invention includes a lens (not shown) for focusing an infrared optical element 20 and an infrared optical wavelength band (not shown) for receiving only a desired infrared Filter (not shown) to receive a more accurate infra-red through them.

온도 제어부(30)는 펠티어 효과(Peltier effect)에 따라 적외선 광학 소자(20)의 온도를 실시간으로 감지한 후, 적외선 광학 소자(20)의 온도를 보상하는 전류를 발생하여 적외선 광학 소자(20)에 제공하여, 적외선 광학 소자(20)가 적정온도를 유지하면서 안정적인 동작을 수행할 수 있도록 한다. The temperature control unit 30 senses the temperature of the infrared optical element 20 in real time according to the Peltier effect and generates a current for compensating the temperature of the infrared optical element 20 to control the temperature of the infrared optical element 20, So that the infrared optical element 20 can perform a stable operation while maintaining an appropriate temperature.

빌레트 흠 검출부(40)는 적외선 광학 소자(20)로부터 출력되는 전기신호를 증폭시킨 후, 빌레트의 흠에 상응하는 신호 피크치(peak)를 증폭 및 확대하여 외부 로 출력한다. The billet blemish detection unit 40 amplifies an electric signal output from the infrared optical element 20, amplifies and amplifies a signal peak corresponding to a blemish defect, and outputs the signal to the outside.

회전 다면경 위치 검출부(50)는 회전 다면경(11)에 광을 조사한 후 반사되어 재입사되는 광을 수신하고, 이로부터 현재 회전 다면경(11)의 위치를 통보하기 위한 위치 신호를 발생하여 외부로 출력한다. The rotary polygon mirror position detection unit 50 generates a position signal for notifying the position of the current rotary polygonal mirror 11 from the light reflected by the rotary polygonal mirror 11 after receiving the light reflected and re-incident thereon And outputs it to the outside.

모터 구동부(60)는 모터(12)를 실질적으로 구동시키기 위한 모터 제어 신호를 발생하여 모터(12)로 제공한다. The motor drive unit 60 generates a motor control signal for substantially driving the motor 12 and provides it to the motor 12. [

이하에서는 도1의 빌레트 흠 검출 장치의 동작 방법을 설명하기로 한다. Hereinafter, an operation method of the blanket scratch detection apparatus of FIG. 1 will be described.

회전 다면경(11)은 빌레트 스캔 동작을 수행하여 자신으로 입사되는 적외선(infared)을 반사하고, 적외선 광학 소자(20)는 온도 제어부(30)의 제어하에 자신의 온도를 적정 온도로 유지하면서 회전 다면경(11)에 의해 반사되어 자신에게 입사되는 적외선(infared)을 수신하고 전기 신호로 변환한다. The rotary polygonal mirror 11 reflects infrared rays incident on the rotary polygonal mirror 11 by itself and performs infrared ray scanning on the infrared ray optical element 20 under the control of the temperature control unit 30 while maintaining its temperature at a proper temperature And receives infrared rays that are reflected by the polygonal mirror 11 and are incident on the mirror itself, and converts the infrared signal into an electric signal.

빌레트 흠 검출부(40)는 적외선 광학 소자(20)에 의해 변환된 전기 신호로부터 빌레트의 표면에 형성된 흠에 따라 발생되는 신호 피크치를 증폭 및 확대시킨 후 외부로 출력하고, 회전 다면경 위치 검출부(50)는 현재 회전 다면경(11)의 위치를 파악하여 위치 신호를 발생하여 외부로 출력한다. The billet blemish detection unit 40 amplifies and amplifies a signal peak value generated in accordance with a blemish formed on the surface of the billet from the electrical signal converted by the infrared optical element 20 and then outputs the amplified signal peak to the outside, Finds the position of the current rotary polygonal mirror 11 and generates a position signal and outputs it to the outside.

이에 외부의 장치 또는 검출자는 빌레트 흠 검출부(40) 및 회전 다면경 위치 검출부(50)의 출력 신호를 분석하여, 빌레트에 형성된 흠과 이때의 회전 다면경(11)(즉, 빌레트의 위치)을 위치를 파악할 수 있게 된다. The external device or detector analyzes the output signals of the billet scratch detection unit 40 and the rotary polygonal mirror position detection unit 50 to detect the flaw formed in the billet and the rotational polygonal mirror 11 (i.e., the position of the billet) at this time The position can be grasped.

도2는 본 발명의 일실시예 따른 온도 제어부(30) 및 빌레트 흠 검출부(40)의 상세 구성을 도시한 도면이다. FIG. 2 is a diagram showing a detailed configuration of a temperature control unit 30 and a billet blemish detection unit 40 according to an embodiment of the present invention.

도2를 참조하면, 온도 제어부(30)는 비교부(31) 및 냉각 전류 발생부(32)를 구비하고, 비교부(31)는 적외선 광학 소자(20)의 내부에 설치되어 적외선 광학 소자(20)의 내부 온도를 측정하는 써미스터(Thermistor, TH)에 의해 발생된 전압을 기준 전압과 비교하는 비교기(com1), 상기 기준 전압을 발생하는 저항들(R31,R32)을 구비하고, 냉각 전류 발생부(32)는 비교기(com1)의 출력 전압에 따라 적외선 광학 소자(20)의 내부에 설치된 냉각기(Cooler)에 인가되는 냉각 전류(icool)의 전류값을 가변하는 트랜지스터(Tr)를 구비한다. 2, the temperature control unit 30 includes a comparison unit 31 and a cooling current generation unit 32. The comparison unit 31 includes an infrared optical element A comparator com1 for comparing a voltage generated by a thermistor TH measuring an internal temperature of the temperature sensor 20 with a reference voltage and resistors R31 and R32 for generating the reference voltage, Unit 32 includes a transistor Tr for varying a current value of a cooling current icool applied to a cooler provided inside the infrared optical element 20 according to the output voltage of the comparator com1.

이에 온도 제어부(30)는 적외선 광학 소자(20)의 온도에 따라 냉각 전류(iCooler)의 값을 가변함으로써, 냉각기(Cooler)가 전자 냉각 방식으로 적외선 광학 소자(20)의 온도를 일정하게 유지하도록 해준다. The temperature controller 30 varies the value of the cooling current iCooler according to the temperature of the infrared optical element 20 so that the cooler maintains the temperature of the infrared optical element 20 constant by the electronic cooling system It does.

예를 들어, 적외선 광학 소자(20)의 온도가 적정온도에 비해 많이 높으면 냉각 전류(icool)의 값을 증대시켜 냉각기(Cooler)의 냉각량을 증대시키고, 반면 조금 높으면 냉각 전류(icool)의 값을 감소시켜 냉각기(Cooler)의 냉각량을 감소시킴으로써, 냉각기(Cooler)의 냉각량을 조절해준다. For example, if the temperature of the infrared optical element 20 is much higher than the proper temperature, the value of the cooling current icool is increased to increase the cooling amount of the cooler, while if it is a little higher, To reduce the amount of cooling of the cooler, thereby controlling the amount of cooling of the cooler.

빌레트 흠 검출부(40)는 적외선 광학 소자(20)로부터 출력되는 전기 신호를 수백배로 증폭하여 출력하는 RFA(Radio Frequency Amplifier)(41), RFA(41)의 출력 신호를 로우 패스 필터링하는 1차 LPF(low pass filter)(42), 빌레트의 흠으로 인한 온도 변화로 인해 발생되는 신호 피크치를 확인하기 위해, 1차 LPF(42)를 거쳐 전송되는 신호의 펄스를 증대시키는 PE(pluse enhancer)(43), PE(43)의 출력 신호를 다시 로우 패스 필터링하는 2차 LPF(44), 2차 LPF(44)의 출력 신호를 하이 패스 필터링하여 신호 성분과 구분되는 수 MHz 이상의 잡음 성분은 제거하는 HPF(high pass filter)(45) 및 약 수 ㎲ 폭의 온도 변화에 대해 높은 전압을 출력하고 외부에서 아날로그-디지털 변환할 수 있도록 HPF(45)의 신호를 적절한 값을 레벨 쉬프트하여 출력하는 LS(level shifter)(46)를 구비한다. The Billet blemish detection unit 40 includes an RFA (Radio Frequency Amplifier) 41 for amplifying and outputting an electric signal output from the infrared optical element 20 several hundreds of times, a primary LPF 41 for low pass filtering the output signal of the RFA 41, a low pass filter 42, a PE (pluse enhancer) 43 for increasing a pulse of a signal transmitted through the primary LPF 42 to identify a signal peak value caused by a temperature change due to a blemish in the billet, A secondary LPF 44 for low-pass filtering the output signal of the PE 43 again, and an HPF (High Pass Filter) 44 for removing high-pass filtered output signals of the secondary LPF 44, (high-pass filter) 45 for outputting a high-level voltage for a temperature change of about several microseconds and LS (level (not shown).

이에 빌레트 흠 검출부(40)는 적외선 광학 소자(20)로부터 빌레트의 흠에 발생 여부에 따라 가변되는 값을 가지는 전기신호를 수신하고, 신호 피크치를 증폭 및 확대시킴과 동시에 잡음을 모두 제거한다. The blemish blemish detection unit 40 receives an electrical signal having a variable value according to whether the blemish occurs in the blemish from the infrared optical element 20, amplifies and amplifies the signal peak value, and removes all the noise.

즉, 빌레트 흠 검출부(40)로부터 출력되는 신호는 도3과 같이 빌레트의 표면에 홈이 형성되어 있음을 알려주는 신호 피크가 증폭 및 확대되어, 외부의 장치 또는 검출자가 빌레트의 표면에 형성된 흠을 보다 용이하게 검출될 수 있도록 지원한다. 3, the signal peak indicating that a groove is formed on the surface of the bilater is amplified and enlarged so that the external device or the detector detects a defect formed on the surface of the bilater So that it can be detected more easily.

도4는 본 발명의 일실시예 따른 회전 다면경 위치 검출부(50)의 상세 구성을 도시한 도면이다. FIG. 4 is a diagram showing a detailed configuration of a rotary polygon mirror position detection unit 50 according to an embodiment of the present invention.

도4를 참조하면, 회전 다면경 위치 검출부(50)는 위치 센서(52)의 구동 전원을 발생하는 위치 센서 전원(51), 광을 발생하여 회전 다면경(11)에 조사하는 발광소자(GL)와 회전 다면경(11)에 반사되어 재입사되는 상기 발광소자(GL)의 수신하는 수광소자(RL)를 구비하는 위치 센서(52), 수광소자(RL)를 통해 수신된 광량에 상응하는 전압을 발생하는 신호 발생기(53), 신호 발생기(53)로부터 출력되는 전압을 저항들(R51,R52)에 의해 발생된 기준 전??과 비교하는 비교기(54) 및 비교기(54)의 출력 신호를 회전 다면경(11)의 위치 신호로서 외부로 출력하는 라인 드라이버(55) 를 구비한다. 4, the rotary polygon mirror position detecting unit 50 includes a position sensor power supply 51 for generating driving power of the position sensor 52, a light emitting element GL for generating light and irradiating the rotary polygonal mirror 11 A position sensor 52 including a light receiving element RL for receiving the light emitting element GL which is reflected by the rotary polygonal mirror 11 and re-incident thereon, a light receiving element RL corresponding to the amount of light received through the light receiving element RL A comparator 54 for comparing the voltage output from the signal generator 53 with a reference voltage generated by the resistors R51 and R52 and a comparator 54 for comparing the output signal of the comparator 54 with a reference voltage generated by the resistors R51 and R52, And a line driver 55 for outputting the position signal to the outside as a position signal of the rotary polygonal mirror 11.

이에 회전 다면경 위치 검출부(50)는 회전 다면경(11)에 광을 조사한 후, 회전 다면경(11)에 반사되어 재입사되는 광을 수신하고, 이로부터 현재 회전 다면경(11)의 위치를 통보하기 위한 펄스 신호를 발생하여 외부로 출력한다. The rotary polygon mirror position detector 50 irradiates light to the rotary polygonal mirror 11 and then receives the light that is reflected by the rotary polygonal mirror 11 and then enters again, And outputs the pulse signal to the outside.

상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시 예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경할 수 있다는 것은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 당업자에게 있어 명백할 것이다. It will be understood by those skilled in the art that various changes and modifications may be made without departing from the spirit and scope of the invention as defined in the appended claims. Will be apparent to those skilled in the art.

도1은 본 발명의 일실시예 따른 빌레트 흠 검출 장치의 블록도를 도시한 도면, 1 is a block diagram of a billet scratch detection apparatus according to an embodiment of the present invention,

도2는 본 발명의 일실시예 따른 온도 제어부 및 빌레트 흠 검출부의 상세 구성을 도시한 도면, FIG. 2 is a view showing a detailed configuration of a temperature control unit and a blanket defect detecting unit according to an embodiment of the present invention;

도3은 본 발명의 일실시예 따른 빌레트 흠 검출부의 출력 신호를 도시한 도면, 그리고3 is a diagram showing an output signal of the map detector according to an embodiment of the present invention, and

도4는 본 발명의 일실시예 따른 회전 다면경 위치 검출부의 상세 구성을 도시한 도면이다. 4 is a view showing a detailed configuration of a rotary polygon mirror position detecting unit according to an embodiment of the present invention.

Claims (5)

냉각 전류에 응답하여 전자 냉각 방식으로 적정 온도를 유지하면서, 빌레트의 흠에 상응하는 온도차를 가지며 입사되는 적외선을 수신하고 전기신호로 변환하는 적외선 광학 소자;An infrared optical element for receiving an incident infrared ray and converting the infrared ray into an electric signal while maintaining an appropriate temperature in response to a cooling current in an electronically cooled manner and having a temperature difference corresponding to a blemish defect; 상기 적외선 광학 소자의 온도를 감지한 후, 상기 적외선 광학 소자의 온도를 보상하기 위한 상기 냉각 전류를 발생하는 온도 제어부;A temperature controller for generating the cooling current for compensating the temperature of the infrared optical element after sensing the temperature of the infrared optical element; 상기 적외선 광학 소자로부터 출력되는 전기 신호의 신호 피크치를 증폭 및 확대하여 출력하는 빌레트 흠 검출부; 및A billet scratch detection unit for amplifying and magnifying and outputting a signal peak value of an electric signal output from the infrared optical element; And 상기 적외선을 상기 적외선 광학 소자로 입사시키는 회전 다면경의 현재 위치를 검출하여 출력하는 회전 다면경 위치 검출부를 구비하는 빌레트 흠 검출 장치.And a rotating polygonal mirror position detecting unit for detecting and outputting a current position of a rotating polygonal mirror for making the infrared ray enter the infrared optical element. 제1항에 있어서, 상기 온도 제어부는 The apparatus of claim 1, wherein the temperature control unit 상기 적외선 광학 소자의 온도에 따라 가변되는 전압을 기준 전압과 비교하는 비교부; 및A comparator for comparing a voltage variable according to a temperature of the infrared optical element with a reference voltage; And 상기 비교부의 출력 전압에 상응하는 냉각 전류를 발생하여 상기 적외선 광학 소자에 제공하는 냉각 전류 발생부를 포함하는 것을 특징으로 하는 빌레트 흠 검출 장치.And a cooling current generator for generating a cooling current corresponding to an output voltage of the comparator and providing the cooling current to the infrared optical element. 제2항에 있어서, 상기 비교부는 3. The apparatus of claim 2, wherein the comparing unit 상기 적외선 광학 소자에 설치된 써미스터에 의해 가변되는 값을 가지는 전 압을 기준 전압에 비교하여 출력을 발생하는 비교기를 포함하는 것을 특징으로 하는 빌레트 흠 검출 장치.And a comparator for comparing the voltage having a variable value by a thermistor provided in the infrared optical element with a reference voltage to generate an output. 제2항에 있어서, 상기 냉각 전류 발생부는 3. The apparatus according to claim 2, wherein the cooling current generator 상기 비교부의 출력 전압에 따라 도통되는 전류량을 가변하는 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 빌레트 흠 검출 장치.And a transistor for varying the amount of current conducted in accordance with an output voltage of the comparator. 삭제delete
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JPH05216545A (en) * 1992-02-03 1993-08-27 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Temperature control circuit

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63150359U (en) * 1987-03-24 1988-10-04
JPH05216545A (en) * 1992-02-03 1993-08-27 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Temperature control circuit

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