KR101388415B1 - Device and method for testing measuring sensor - Google Patents

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KR101388415B1
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Abstract

본 발명의 일 실시예에 따른 계측 센서 테스트 장치는 계측 센서와 전기실 사이에 연결된 전류 라인의 일단에 설치되고, 마스터로 동작하여 상기 전류 라인의 선로 특성을 테스트하기 위한 커맨드 신호를 전송하는 제1 테스트 장치; 및 상기 전류 라인의 타단에 설치되고, 슬레이브로 동작하여 상기 커맨드 신호에 기초한 선로 특성 테스트를 수행하는 제2 테스트 장치를 포함한다.The measurement sensor test apparatus according to an embodiment of the present invention is installed at one end of a current line connected between the measurement sensor and the electrical chamber, and operates as a master to transmit a command signal for testing a line characteristic of the current line. Device; And a second test device installed at the other end of the current line and operating as a slave to perform a line characteristic test based on the command signal.

Figure R1020120108416
Figure R1020120108416

Description

계측 센서 테스트 장치 및 방법{DEVICE AND METHOD FOR TESTING MEASURING SENSOR}DEVICE AND METHOD FOR TESTING MEASURING SENSOR}

본 발명의 실시예들은 계측 센서 테스트 장치 및 방법에 관한 것이다.
Embodiments of the present invention relate to instrumentation sensor test apparatus and methods.

제철 공장과 같은 산업 현장에는 다양한 종류의 계측 센서가 다량으로 사용되고 있다. 상기 계측 센서로부터 계측된 정량적 데이터는 대부분 전압이 아닌 전류 신호로 전기실에 전송된다.In industrial sites such as steel mills, various types of measuring sensors are used in large quantities. The quantitative data measured by the measurement sensor is transmitted to the electrical room mostly as a current signal rather than a voltage.

한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 계측 센서 테스트 장치 및 방법은 공개특허공보 제10-2006-0044031호(발명의 명칭: 전자 부품의 계측 장비, 공개일자: 2006년 5월 16일)가 있다.
On the other hand, the measurement sensor test apparatus and method according to an embodiment of the present invention is disclosed in Korean Patent Laid-Open Publication No. 10-2006-0044031 (name of the invention: measuring equipment of electronic components, published date: May 16, 2006) .

본 발명의 일 실시예는 이와 같이, 본 발명의 일 실시예에서는 계측 센서와 전기실 사이의 전류 라인의 양단에 제1 및 제2 테스트 장치를 병렬로 연결 설치함으로써 간단하게 선로의 특성을 테스트할 수 있는 계측 센서 테스트 장치 및 방법을 제공한다.
Thus, in one embodiment of the present invention, in the embodiment of the present invention, by connecting the first and second test devices in parallel at both ends of the current line between the measurement sensor and the electrical chamber, it is possible to simply test the characteristics of the line. It provides a measurement sensor test apparatus and method.

본 발명이 해결하고자 하는 과제는 이상에서 언급한 과제(들)로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제(들)은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
The problems to be solved by the present invention are not limited to the above-mentioned problem (s), and another problem (s) not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

본 발명의 일 실시예에 따른 계측 센서 테스트 장치는 계측 센서와 전기실 사이에 연결된 전류 라인의 일단에 설치되고, 마스터로 동작하여 상기 전류 라인의 선로 특성을 테스트하기 위한 커맨드 신호를 전송하는 제1 테스트 장치; 및 상기 전류 라인의 타단에 설치되고, 슬레이브로 동작하여 상기 커맨드 신호에 기초한 선로 특성 테스트를 수행하는 제2 테스트 장치를 포함한다.The measurement sensor test apparatus according to an embodiment of the present invention is installed at one end of a current line connected between the measurement sensor and the electrical chamber, and operates as a master to transmit a command signal for testing a line characteristic of the current line. Device; And a second test device installed at the other end of the current line and operating as a slave to perform a line characteristic test based on the command signal.

상기 제2 테스트 장치는 상기 커맨드 신호에 대한 응답 패킷을 상기 제1 테스트 장치에 전송하고, 상기 제1 테스트 장치는 상기 응답 패킷에 기초하여 상기 선로 특성 테스트를 수행할 수 있다.The second test apparatus may transmit a response packet to the command signal to the first test apparatus, and the first test apparatus may perform the line characteristic test based on the response packet.

상기 제1 테스트 장치는 센서 신호 및 커맨드 데이터를 발생하는 제1 마이크로프로세서; 상기 센서 신호를 디지털 신호에서 아날로그 신호로 변환하는 제1 디지털-아날로그 컨버터; 상기 커맨드 데이터를 변조하는 제1 모듈레이터; 및 상기 센서 신호 및 상기 커맨드 데이터를 합성하여 상기 제2 테스트 장치에 상기 커맨드 신호를 전송하는 제1 트랜스미터를 포함하고, 상기 제2 테스트 장치는 상기 제1 디지털-아날로그 컨버터의 출력 신호를 수신하여 디지털 신호로 변환하는 제2 아날로그-디지털 컨버터; 상기 제1 모듈레이터의 출력 신호를 수신하여 복조하는 제2 디모듈레이터; 및 상기 제2 아날로그-디지털 컨버터 및 상기 제2 디모듈레이터 각각의 출력 신호에 기초하여 상기 선로 특성 테스트를 수행하는 제2 마이크로프로세서를 포함할 수 있다.The first test apparatus includes a first microprocessor for generating sensor signals and command data; A first digital-analog converter for converting the sensor signal from a digital signal to an analog signal; A first modulator for modulating the command data; And a first transmitter configured to synthesize the sensor signal and the command data and transmit the command signal to the second test device, wherein the second test device receives an output signal of the first digital-to-analog converter to receive a digital signal. A second analog-to-digital converter for converting the signal into a signal; A second demodulator for receiving and demodulating the output signal of the first modulator; And a second microprocessor configured to perform the line characteristic test based on an output signal of each of the second analog-to-digital converter and the second demodulator.

상기 제2 테스트 장치는 상기 제2 마이크로프로세서에 의해 발생된 센서 신호를 디지털 신호에서 아날로그 신호로 변환하는 제2 디지털-아날로그 컨버터; 상기 제2 마이크로프로세서에 의해 발생된 커맨드 데이터를 변조하는 제2 모듈레이터; 및 상기 제2 디지털-아날로그 컨버터 및 상기 제2 모듈레이터 각각의 출력 신호를 합성하여 상기 제1 테스트 장치에 상기 응답 패킷을 전송하는 제2 트랜스미터를 더 포함하고, 상기 제1 테스트 장치는 상기 응답 패킷에 포함된, 상기 제2 디지털-아날로그 컨버터의 출력 신호를 디지털 신호로 변환하는 제1 아날로그-디지털 컨버터; 및 상기 응답 패킷에 포함된, 상기 제2 모듈레이터의 출력 신호를 복조하는 제1 디모듈레이터를 더 포함하며, 상기 제1 마이크로프로세서는 상기 제1 아날로그-디지털 컨버터 및 상기 제1 디모듈레이터 각각의 출력 신호에 기초하여 상기 선로 특성 테스트를 수행할 수 있다.The second test apparatus includes a second digital-analog converter for converting a sensor signal generated by the second microprocessor from a digital signal to an analog signal; A second modulator for modulating command data generated by the second microprocessor; And a second transmitter for synthesizing output signals of each of the second digital-to-analog converter and the second modulator to transmit the response packet to the first test apparatus. A first analog-to-digital converter to convert the output signal of the second digital-to-analog converter into a digital signal; And a first demodulator for demodulating the output signal of the second modulator, included in the response packet, wherein the first microprocessor is based on an output signal of each of the first analog-to-digital converter and the first demodulator. The line characteristic test can be performed.

상기 제1 및 제2 테스트 장치는 상기 커맨드 신호 및 상기 응답 패킷의 전송 및 수신 기능을 스위칭하기 위한 스위치를 더 포함할 수 있다.The first and second test apparatuses may further include a switch for switching transmission and reception functions of the command signal and the response packet.

본 발명의 일 실시예에 따른 계측 센서 테스트 방법은 계측 센서와 전기실 사이에 연결된 전류 라인의 일단에 설치된 제1 테스트 장치에서, 상기 전류 라인의 선로 특성을 테스트하기 위한 커맨드 신호를 전송하는 단계; 및 상기 전류 라인의 타단에 설치된 제2 테스트 장치에서, 상기 커맨드 신호에 기초한 선로 특성 테스트를 수행하는 단계를 포함한다.According to one or more exemplary embodiments, a method of testing a measurement sensor includes: transmitting, by a first test device installed at one end of a current line connected between a measurement sensor and an electrical room, a command signal for testing a line characteristic of the current line; And performing a line characteristic test based on the command signal in a second test apparatus installed at the other end of the current line.

본 발명의 일 실시예에 따른 계측 센서 테스트 방법은 상기 제2 테스트 장치에서, 상기 커맨드 신호에 대한 응답 패킷을 상기 제1 테스트 장치에 전송하는 단계; 및 상기 제1 테스트 장치에서, 상기 응답 패킷에 기초하여 상기 선로 특성 테스트를 수행하는 단계를 더 포함할 수 있다.According to one or more exemplary embodiments, a method of testing a measurement sensor includes: transmitting, at the second test apparatus, a response packet to the command signal to the first test apparatus; And performing, at the first test apparatus, the line characteristic test based on the response packet.

상기 커맨드 신호를 전송하는 단계는 상기 제1 테스트 장치의 제1 마이크로프로세서에서, 센서 신호 및 커맨드 데이터를 발생하는 단계; 상기 제1 테스트 장치의 제1 디지털-아날로그 컨버터에서, 상기 센서 신호를 디지털 신호에서 아날로그 신호로 변환하는 단계; 상기 제1 테스트 장치의 제1 모듈레이터에서, 상기 커맨드 데이터를 변조하는 단계; 및 상기 제1 테스트 장치의 제1 트랜스미터에서, 상기 센서 신호 및 상기 커맨드 데이터를 합성하여 상기 제2 테스트 장치에 상기 커맨드 신호를 전송하는 단계를 포함하고, 상기 선로 특성 테스트를 수행하는 단계는 상기 제2 테스트 장치의 제2 아날로그-디지털 컨버터에서, 상기 제1 디지털-아날로그 컨버터의 출력 신호를 수신하여 디지털 신호로 변환하는 단계; 상기 제2 테스트 장치의 제2 디모듈레이터에서, 상기 제1 모듈레이터의 출력 신호를 수신하여 복조하는 단계; 및 상기 제2 테스트 장치의 제2 마이크로프로세서에서, 상기 제2 아날로그-디지털 컨버터 및 상기 제2 디모듈레이터 각각의 출력 신호에 기초하여 상기 선로 특성 테스트를 수행하는 단계를 포함할 수 있다.
The transmitting of the command signal may include generating a sensor signal and command data at a first microprocessor of the first test apparatus; In the first digital-to-analog converter of the first test device, converting the sensor signal from a digital signal to an analog signal; Modulating the command data at a first modulator of the first test device; And in the first transmitter of the first test device, synthesizing the sensor signal and the command data and transmitting the command signal to the second test device, wherein performing the line characteristic test comprises: In a second analog-to-digital converter of a test device, receiving and converting an output signal of the first digital-to-analog converter into a digital signal; Receiving and demodulating an output signal of the first modulator in a second demodulator of the second test device; And performing, at the second microprocessor of the second test apparatus, the line characteristic test based on an output signal of each of the second analog-digital converter and the second demodulator.

기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 첨부 도면들에 포함되어 있다.The details of other embodiments are included in the detailed description and the accompanying drawings.

본 발명의 이점 및/또는 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성요소를 지칭한다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The advantages and / or features of the present invention, and how to accomplish them, will become apparent with reference to the embodiments described in detail below with reference to the accompanying drawings. It should be understood, however, that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but is capable of many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, To fully disclose the scope of the invention to those skilled in the art, and the invention is only defined by the scope of the claims. Like reference numerals refer to like elements throughout the specification.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 계측 센서와 전기실 사이의 전류 라인의 양단에 제1 및 제2 테스트 장치를 병렬로 연결 설치함으로써 간단하게 선로의 특성을 테스트할 수 있다.According to one embodiment of the present invention, the characteristics of the line can be simply tested by connecting the first and second test devices in parallel at both ends of the current line between the measurement sensor and the electrical chamber.

또한, 특성 진단을 위하여 전류값을 수시로 변화시킬 수 있으며, 설정된 펄스에 설정 시간 동안의 전류 출력 등도 가능하다.In addition, the current value can be changed from time to time for the characteristic diagnosis, and the current output during the set time to the set pulse is also possible.

또한, 제어 시스템에 영향 없이 온라인 상에서 선로 특성 진단이 가능하며, 현장에서의 테스트가 아닌 제어 시스템을 통한 원격 선로 특성 테스트가 가능하다.In addition, the line characteristics can be diagnosed online without affecting the control system, and the remote line characteristics test through the control system can be performed instead of the field test.

이로써, 정비 시간을 단축할 수 있으며, 선로 특성의 상시 모니터링이 가능하다.
As a result, it is possible to shorten the maintenance time and to constantly monitor the line characteristics.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 계측 센서 테스트 장치를 설명하기 위해 도시한 도면이다.
도 2는 도 1의 제1 테스트 장치의 상세 구성을 도시한 블록도이다.
도 3은 도 1의 제2 테스트 장치의 상세 구성을 도시한 블록도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 계측 센서 테스트 방법을 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 계측 센서 테스트 방법을 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.1 is a view illustrating a measurement sensor test apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a block diagram illustrating a detailed configuration of the first test apparatus of FIG. 1.
3 is a block diagram illustrating a detailed configuration of a second test apparatus of FIG. 1.
4 is a flowchart illustrating a measurement sensor test method according to an embodiment of the present invention.
5 is a flowchart illustrating a measurement sensor test method according to another embodiment of the present invention.

제철 공장과 같은 산업 현장에는 다양한 종류의 계측 센서가 다량으로 사용되고 있다. 상기 계측 센서로부터 계측된 정량적 데이터는 대부분 전압이 아닌 전류 신호로 전기실에 전송된다.In industrial sites such as steel mills, various types of measuring sensors are used in large quantities. The quantitative data measured by the measurement sensor is transmitted to the electrical room mostly as a current signal rather than a voltage.

전압의 경우 선로가 긴 경우 선로 저항에 의해 전압 손실이 발생하기 때문에, 수신측 전압은 상기 계측 센서에서 송신한 전압보다 작게 된다.In the case of voltage, since the voltage loss occurs due to the line resistance when the line is long, the receiving side voltage becomes smaller than the voltage transmitted from the measurement sensor.

전류는 선로의 저항과 상관없이 직렬로 루프(loop)가 형성됨으로써 상기 계측 센서의 전류 출력과 종단 지점의 측정 전류값은 같다.The current is looped in series irrespective of the resistance of the line so that the current output of the measurement sensor and the measured current value at the termination point are the same.

전류를 신호원으로 사용함에도 불구하고 여러 가지 요인에 의해 상기 계측 센서의 계측값이 안정되지 못하고 흔들리거나 변화하게 된다.Despite the use of the current as a signal source, the measured value of the measuring sensor may not be stable and may be shaken or changed due to various factors.

정확하지 못한 계측 데이터는 조업에 큰 영향을 주어 제품의 질을 저하시키거나 오작에 의해 심하게는 설비가 망실될 수도 있다.Inaccurate measurement data can have a major impact on operations, resulting in poor product quality or even equipment loss due to malfunction.

예로 고로에 원료를 공급하는 여러 개의 호퍼가 각 원료의 배합량을 제대로 계측하지 못하면 제선 품질이 저하될 수 있으며, 특히나 위험 설비에서의 잘못된 센서 계측은 큰 피해를 입힐 수 있다.For example, if several hoppers supplying raw materials to the blast furnace do not properly measure the blending amount of each raw material, the quality of the steel making can be deteriorated. In particular, incorrect sensor measurement in a hazardous installation can cause great damage.

이에, 본 발명의 일 실시예에서는 온라인(On-Line) 상에서 기존 전류 루프(loop)에 영향 없이 수시로 선로 특성을 테스트할 수 있는 계측 센서 테스트 장치를 제공한다.Accordingly, an embodiment of the present invention provides a measurement sensor test apparatus capable of testing a line characteristic at any time without affecting an existing current loop on-line.

이를 위해, 본 발명의 일 실시예에서는 전류 라인의 양 종단에 상기 계측 센서 테스트 장치를 연결하여 선로의 특성을 진단하며, 기존의 전류 시그널을 변조(modulation)하여 코드화하여 서로 통신한다.To this end, in an embodiment of the present invention, the measurement sensor test apparatus is connected to both ends of the current line to diagnose the characteristics of the line, and the existing current signals are modulated and coded to communicate with each other.

이때, 상기 변조 방법은 FSK(Frequency Shift Keying)나 PSK(Pulse Shift Keying) 등 다양한 변조 방법을 포함할 수 있다.In this case, the modulation method may include various modulation methods such as frequency shift keying (FSK) or pulse shift keying (PSK).

양 종단의 테스트 장치는 각각 마스터(master)와 슬레이브(slave)로 동작하며, 상기 마스터가 특성 테스트를 위한 커맨드(command)를 전송하면 상기 슬레이브는 응답 패킷(response packet)으로 응답하는 폴링 방식으로 통신한다.The test device at both ends operates as a master and a slave, respectively, and when the master transmits a command for the characteristic test, the slave communicates in a polling manner in which it responds with a response packet. do.

아날로그 신호(Analog Signal)의 데이터 부분은 애버리징(averaging) 으로 선형화하여 아날로그 데이터로 사용할 수 있다.
The data portion of the analog signal can be linearized by averaging and used as analog data.

이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 계측 센서 테스트 장치를 설명하기 위해 도시한 도면이다.1 is a view illustrating a measurement sensor test apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 계측 센서 테스트 장치(100)는 제1 테스트 장치(110) 및 제2 테스트 장치(120)를 포함한다.Referring to FIG. 1, the measurement sensor test apparatus 100 according to an exemplary embodiment of the present invention includes a first test apparatus 110 and a second test apparatus 120.

상기 제1 테스트 장치(110)는 계측 센서(101)와 전기실(102) 사이에 연결된 전류 라인의 일단에 설치된다.The first test device 110 is installed at one end of a current line connected between the measurement sensor 101 and the electrical chamber 102.

상기 제1 테스트 장치(110)는 마스터로 동작하여 상기 전류 라인의 선로 특성을 테스트하기 위한 커맨드 신호를 전송한다.The first test device 110 operates as a master and transmits a command signal for testing a line characteristic of the current line.

상기 제2 테스트 장치(120)는 상기 계측 센서(101)와 상기 전기실(102) 사이에 연결된 전류 라인의 타단에 설치된다.The second test device 120 is installed at the other end of the current line connected between the measurement sensor 101 and the electrical chamber 102.

상기 제2 테스트 장치(120)는 상기 커맨트 신호를 수신하고, 슬레이브로 동작하여 상기 커맨드 신호에 기초한 선로 특성 테스트를 수행한다.The second test device 120 receives the command signal and operates as a slave to perform a line characteristic test based on the command signal.

상기 제2 테스트 장치(120)는 상기 커맨드 신호에 대한 응답 패킷을 상기 제1 테스트 장치에 전송할 수도 있다.The second test device 120 may transmit a response packet to the command signal to the first test device.

이에 따라, 상기 제1 테스트 장치는 상기 제2 테스트 장치(120)로부터 상기 응답 패킷을 수신하고, 상기 수신된 응답 패킷에 기초하여 상기 선로 특성 테스트를 수행할 수 있다.
Accordingly, the first test apparatus may receive the response packet from the second test apparatus 120 and perform the line characteristic test based on the received response packet.

도 2는 도 1의 제1 테스트 장치(110)의 상세 구성을 도시한 블록도이다.FIG. 2 is a block diagram illustrating a detailed configuration of the first test apparatus 110 of FIG. 1.

도 2를 참조하면, 상기 제1 테스트 장치(110)는 제1 마이크로프로세서(210), 제1 디지털-아날로그(D/A) 컨버터(220), 제1 모듈레이터(230), 제1 트랜스미터(240), 제1 스위치(250), 제1 아날로그-디지털(A/D) 컨버터(260), 및 제1 디모듈레이터(270)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 2, the first test apparatus 110 includes a first microprocessor 210, a first digital-to-analog (D / A) converter 220, a first modulator 230, and a first transmitter 240. ), A first switch 250, a first analog-to-digital (A / D) converter 260, and a first demodulator 270.

상기 제1 마이크로프로세서(210)는 센서 신호 및 커맨드 데이터를 발생한다.The first microprocessor 210 generates sensor signals and command data.

여기서, 상기 센서 신호는 상기 계측 센서에 의해 계측된 계측값으로서, 4 ~ 20mA의 전류 신호를 가리킨다. 또한, 상기 커맨드 데이터는 상기 센서 신호에 관한 정보를 포함하는 데이터를 가리킨다.Here, the sensor signal is a measured value measured by the measuring sensor and indicates a current signal of 4 to 20 mA. In addition, the command data indicates data including information about the sensor signal.

상기 제1 D/A 컨버터(220)는 상기 센서 신호를 디지털 신호에서 아날로그 신호로 변환한다.The first D / A converter 220 converts the sensor signal from a digital signal to an analog signal.

상기 제1 모듈레이터(230)는 상기 커맨드 데이터를 변조한다. 이때, 상기 제1 모듈레이션(230)은 FSK, PSK 등의 다양한 변조 방식으로 상기 커맨드 데이터를 변조할 수 있다.The first modulator 230 modulates the command data. In this case, the first modulation 230 may modulate the command data by various modulation schemes, such as FSK and PSK.

상기 제1 트랜스미터(240)는 상기 센서 신호 및 상기 커맨드 데이터를 합성하여 상기 제2 테스트 장치(도 1의 "120" 참조)에 상기 커맨드 신호를 전송한다.The first transmitter 240 synthesizes the sensor signal and the command data and transmits the command signal to the second test device (see “120” in FIG. 1).

상기 제1 스위치(250)는 상기 커맨드 신호의 전송 및 상기 응답 패킷의 수신 기능을 스위칭하는 역할을 한다.The first switch 250 serves to switch the transmission of the command signal and the reception function of the response packet.

상기 제1 A/D 컨버터(260)는 상기 응답 패킷에 포함된, 상기 제2 테스트 장치의 제2 디지털-아날로그 컨버터(도 3의 "320" 참조)의 출력 신호를 디지털 신호로 변환한다.The first A / D converter 260 converts the output signal of the second digital-to-analog converter (see “320” in FIG. 3) of the second test apparatus into a digital signal included in the response packet.

상기 제1 디모듈레이터(270)는 상기 응답 패킷에 포함된, 상기 제2 테스트 장치의 제2 모듈레이터(도 3의 "330" 참조)의 출력 신호를 복조한다.The first demodulator 270 demodulates an output signal of a second modulator (see “330” in FIG. 3) of the second test apparatus included in the response packet.

이에 따라, 상기 제1 마이크로프로세서(210)는 상기 제1 A/D 컨버터(260) 및 상기 제1 디모듈레이터(270) 각각의 출력 신호에 기초하여 상기 선로 특성 테스트를 수행할 수 있다.
Accordingly, the first microprocessor 210 may perform the line characteristic test based on output signals of each of the first A / D converter 260 and the first demodulator 270.

도 3은 도 1의 제2 테스트 장치(120)의 상세 구성을 도시한 블록도이다.3 is a block diagram illustrating a detailed configuration of the second test apparatus 120 of FIG. 1.

도 3을 참조하면, 상기 제2 테스트 장치(120)는 제2 마이크로프로세서(310), 제2 D/A 컨버터(320), 제2 모듈레이터(330), 제2 트랜스미터(340), 제2 스위치(350), 제2 A/D 컨버터(360), 및 제2 디모듈레이터(370)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 3, the second test apparatus 120 includes a second microprocessor 310, a second D / A converter 320, a second modulator 330, a second transmitter 340, and a second switch. 350, a second A / D converter 360, and a second demodulator 370.

상기 제2 마이크로프로세서(310)는 센서 신호 및 커맨드 데이터를 발생한다.The second microprocessor 310 generates sensor signals and command data.

상기 제2 D/A 컨버터(320)는 상기 센서 신호를 디지털 신호에서 아날로그 신호로 변환한다.The second D / A converter 320 converts the sensor signal from a digital signal to an analog signal.

상기 제2 모듈레이터(330)는 상기 커맨드 데이터를 변조한다.The second modulator 330 modulates the command data.

상기 제2 트랜스미터(340)는 상기 제2 D/A 컨버터(320) 및 상기 제2 모듈레이터(330) 각각의 출력 신호를 합성하여 상기 제1 테스트 장치(도 1의 "110" 참조)에 상기 응답 패킷을 전송한다.The second transmitter 340 synthesizes an output signal of each of the second D / A converter 320 and the second modulator 330 to respond to the first test device (see “110” in FIG. 1). Send the packet.

상기 제2 스위치(350)는 상기 응답 패킷의 전송 및 상기 커맨드 신호의 수신 기능을 스위칭하는 역할을 한다.The second switch 350 serves to switch the transmission of the response packet and the reception of the command signal.

상기 제2 A/D 컨버터(360)는 상기 제1 테스트 장치의 제1 D/A 컨버터(도 2의 "220" 참조)의 출력 신호를 수신하여 디지털 신호로 변환한다.The second A / D converter 360 receives an output signal of the first D / A converter (see “220” of FIG. 2) of the first test apparatus and converts the signal into a digital signal.

상기 제2 디모듈레이터(370)는 상기 제1 테스트 장치의 제1 모듈레이터(도 2의 "230" 참조)의 출력 신호를 수신하여 복조한다.The second demodulator 370 receives and demodulates an output signal of the first modulator (see “230” of FIG. 2) of the first test device.

이에 따라, 상기 제2 마이크로프로세서(310)는 상기 제2 A/D 컨버터(360) 및 상기 제2 디모듈레이터(370) 각각의 출력 신호에 기초하여 상기 선로 특성 테스트를 수행할 수 있다.
Accordingly, the second microprocessor 310 may perform the line characteristic test based on output signals of each of the second A / D converter 360 and the second demodulator 370.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 계측 센서 테스트 방법을 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.4 is a flowchart illustrating a measurement sensor test method according to an embodiment of the present invention.

도 1 및 도 4를 참조하면, 단계(410)에서 상기 제1 테스트 장치(110)는 상기 계측 센서(101)와 상기 전기실(120) 사이에 연결된 전류 라인의 선로 특성을 테스트하기 위한 커맨드 신호를 전송한다.1 and 4, in step 410, the first test apparatus 110 receives a command signal for testing a line characteristic of a current line connected between the measurement sensor 101 and the electrical chamber 120. send.

이를 위해, 상기 제1 테스트 장치(110)는 상기 계측 센서(101)로부터 센서 신호를 수신한다. 상기 제1 테스트 장치(110)는 상기 수신된 센서 신호에 관한 정보를 포함하는 커맨드 데이터와 합성하여 상기 커맨드 신호를 생성한다. 상기 제1 테스트 장치(110)는 상기 생성된 커맨드 신호를 상기 제2 테스트 장치(120)에 전송할 수 있다.To this end, the first test device 110 receives a sensor signal from the measurement sensor 101. The first test apparatus 110 generates the command signal by synthesizing with the command data including the information on the received sensor signal. The first test device 110 may transmit the generated command signal to the second test device 120.

다음으로, 단계(420)에서 상기 제2 테스트 장치(120)는 상기 커맨드 신호에 기초한 선로 특성 테스트를 수행한다.Next, in operation 420, the second test apparatus 120 performs a line characteristic test based on the command signal.

이를 위해, 상기 제2 테스트 장치(120)는 상기 제1 테스트 장치(110)로부터 상기 커맨드 신호를 수신하고, 이를 컨버팅 및 디모듈레이션 하여 상기 전류 라인에 대한 선로 특성 테스트를 수행한다.
To this end, the second test apparatus 120 receives the command signal from the first test apparatus 110, converts and demodulates it, and performs a line characteristic test on the current line.

도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 계측 센서 테스트 방법을 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.5 is a flowchart illustrating a measurement sensor test method according to another embodiment of the present invention.

도 1 및 도 5를 참조하면, 단계(510)에서 상기 제1 테스트 장치(110)는 상기 계측 센서(101)와 상기 전기실(120) 사이에 연결된 전류 라인의 선로 특성을 테스트하기 위한 커맨드 신호를 전송한다.1 and 5, in step 510, the first test apparatus 110 receives a command signal for testing a line characteristic of a current line connected between the measurement sensor 101 and the electrical chamber 120. send.

이를 위해, 상기 제1 테스트 장치(110)는 상기 계측 센서(101)로부터 센서 신호를 수신한다. 상기 제1 테스트 장치(110)는 상기 수신된 센서 신호에 관한 정보를 포함하는 커맨드 데이터와 합성하여 상기 커맨드 신호를 생성한다. 상기 제1 테스트 장치(110)는 상기 생성된 커맨드 신호를 상기 제2 테스트 장치(120)에 전송할 수 있다.To this end, the first test device 110 receives a sensor signal from the measurement sensor 101. The first test apparatus 110 generates the command signal by synthesizing with the command data including the information on the received sensor signal. The first test device 110 may transmit the generated command signal to the second test device 120.

다음으로, 단계(520)에서 상기 제2 테스트 장치(120)는 상기 커맨드 신호에 대한 응답 패킷을 상기 제1 테스트 장치(110)에 전송한다.Next, in operation 520, the second test apparatus 120 transmits a response packet to the command signal to the first test apparatus 110.

다음으로, 단계(530)에서 상기 제1 테스트 장치(110)는 상기 응답 패킷에 기초하여 상기 선로 특성 테스트를 수행한다.
Next, in operation 530, the first test apparatus 110 performs the line characteristic test based on the response packet.

이와 같이, 본 발명의 일 실시예에서는 계측 센서와 전기실 사이의 전류 라인의 양단에 제1 및 제2 테스트 장치를 병렬로 연결 설치함으로써 간단하게 선로의 특성을 테스트할 수 있다.As described above, in one embodiment of the present invention, the first and second test apparatuses are connected in parallel to both ends of the current line between the measurement sensor and the electrical chamber, thereby easily testing the characteristics of the line.

또한, 특성 진단을 위하여 전류값을 수시로 변화시킬 수 있으며, 설정된 펄스에 설정 시간 동안의 전류 출력 등도 가능하다.In addition, the current value can be changed from time to time for the characteristic diagnosis, and the current output during the set time to the set pulse is also possible.

또한, 제어 시스템에 영향 없이 온라인 상에서 선로 특성 진단이 가능하며, 현장에서의 테스트가 아닌 제어 시스템을 통한 원격 선로 특성 테스트가 가능하다.In addition, the line characteristics can be diagnosed online without affecting the control system, and the remote line characteristics test through the control system can be performed instead of the field test.

이로써, 정비 시간을 단축할 수 있으며, 선로 특성의 상시 모니터링이 가능하다.As a result, it is possible to shorten the maintenance time and to constantly monitor the line characteristics.

지금까지 본 발명에 따른 구체적인 실시예에 관하여 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서는 여러 가지 변형이 가능함은 물론이다. 그러므로, 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안 되며, 후술하는 특허 청구의 범위뿐 아니라 이 특허 청구의 범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be practical exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments. Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the described embodiments, but should be determined by the scope of the appended claims and equivalents thereof.

이상과 같이 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 상기의 실시예에 한정되는 것은 아니며, 이는 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 따라서, 본 발명 사상은 아래에 기재된 특허청구범위에 의해서만 파악되어야 하고, 이의 균등 또는 등가적 변형 모두는 본 발명 사상의 범주에 속한다고 할 것이다.
While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, but, on the contrary, Modification is possible. Accordingly, the spirit of the present invention should be understood only in accordance with the following claims, and all equivalents or equivalent variations thereof are included in the scope of the present invention.

101: 계측 센서
102: 전기실
110: 제1 테스트 장치
120: 제2 테스트 장치
210: 제1 마이크로프로세서
220: 제1 D/A 컨버터
230: 제1 모듈레이터
240: 제1 트랜스미터
250: 제1 스위치
260: 제1 A/D 컨버터
270: 제1 디모듈레이터
310: 제2 마이크로프로세서
320: 제2 D/A 컨버터
330: 제2 모듈레이터
340: 제2 트랜스미터
350: 제2 스위치
360: 제2 A/D 컨버터
370: 제2 디모듈레이터101: measurement sensor
102: electric room
110: first test device
120: second test device
210: first microprocessor
220: first D / A converter
230: first modulator
240: first transmitter
250: first switch
260: first A / D converter
270: first demodulator
310: second microprocessor
320: second D / A converter
330: second modulator
340: second transmitter
350: second switch
360: second A / D converter
370: second demodulator

Claims (8)

계측 센서와 전기실 사이에 연결된 전류 라인의 일단에 설치되고, 마스터로 동작하여 상기 전류 라인의 선로 특성을 테스트하기 위한 커맨드 신호를 전송하는 제1 테스트 장치; 및
상기 전류 라인의 타단에 설치되고, 슬레이브로 동작하여 상기 커맨드 신호에 기초한 선로 특성 테스트를 수행하는 제2 테스트 장치를 포함하고,
상기 제2 테스트 장치는 상기 커맨드 신호에 대한 응답 패킷을 상기 제1 테스트 장치에 전송하고,
상기 제1 테스트 장치는 상기 응답 패킷에 기초하여 상기 선로 특성 테스트를 수행하고,
상기 제1 테스트 장치는 센서 신호 및 커맨드 데이터를 발생하는 제1 마이크로프로세서; 상기 센서 신호를 디지털 신호에서 아날로그 신호로 변환하는 제1 디지털-아날로그 컨버터; 상기 커맨드 데이터를 변조하는 제1 모듈레이터; 및 상기 센서 신호 및 상기 커맨드 데이터를 합성하여 상기 제2 테스트 장치에 상기 커맨드 신호를 전송하는 제1 트랜스미터를 포함하고,
상기 제2 테스트 장치는 상기 제1 디지털-아날로그 컨버터의 출력 신호를 수신하여 디지털 신호로 변환하는 제2 아날로그-디지털 컨버터; 상기 제1 모듈레이터의 출력 신호를 수신하여 복조하는 제2 디모듈레이터; 및 상기 제2 아날로그-디지털 컨버터 및 상기 제2 디모듈레이터 각각의 출력 신호에 기초하여 상기 선로 특성 테스트를 수행하는 제2 마이크로프로세서를 포함하는 것을 특징으로 하는 계측 센서 테스트 장치.
A first test device installed at one end of a current line connected between the measurement sensor and the electrical chamber, the first test device operating as a master to transmit a command signal for testing a line characteristic of the current line; And
A second test device installed at the other end of the current line and operating as a slave to perform a line characteristic test based on the command signal,
The second test apparatus transmits a response packet to the command signal to the first test apparatus,
The first test apparatus performs the line characteristic test based on the response packet,
The first test apparatus includes a first microprocessor for generating sensor signals and command data; A first digital-analog converter for converting the sensor signal from a digital signal to an analog signal; A first modulator for modulating the command data; And a first transmitter configured to synthesize the sensor signal and the command data and transmit the command signal to the second test device.
The second test apparatus may include a second analog-to-digital converter that receives an output signal of the first digital-to-analog converter and converts it into a digital signal; A second demodulator for receiving and demodulating the output signal of the first modulator; And a second microprocessor for performing the line characteristic test based on an output signal of each of the second analog-to-digital converter and the second demodulator.
삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 제2 테스트 장치는
상기 제2 마이크로프로세서에 의해 발생된 센서 신호를 디지털 신호에서 아날로그 신호로 변환하는 제2 디지털-아날로그 컨버터;
상기 제2 마이크로프로세서에 의해 발생된 커맨드 데이터를 변조하는 제2 모듈레이터; 및
상기 제2 디지털-아날로그 컨버터 및 상기 제2 모듈레이터 각각의 출력 신호를 합성하여 상기 제1 테스트 장치에 상기 응답 패킷을 전송하는 제2 트랜스미터
를 더 포함하고,
상기 제1 테스트 장치는
상기 응답 패킷에 포함된, 상기 제2 디지털-아날로그 컨버터의 출력 신호를 디지털 신호로 변환하는 제1 아날로그-디지털 컨버터; 및
상기 응답 패킷에 포함된, 상기 제2 모듈레이터의 출력 신호를 복조하는 제1 디모듈레이터
를 더 포함하며,
상기 제1 마이크로프로세서는
상기 제1 아날로그-디지털 컨버터 및 상기 제1 디모듈레이터 각각의 출력 신호에 기초하여 상기 선로 특성 테스트를 수행하는 것을 특징으로 하는 계측 센서 테스트 장치.
The method of claim 1,
The second test device
A second digital-analog converter for converting a sensor signal generated by the second microprocessor from a digital signal to an analog signal;
A second modulator for modulating command data generated by the second microprocessor; And
A second transmitter for synthesizing output signals of each of the second digital-to-analog converter and the second modulator to transmit the response packet to the first test apparatus
Further comprising:
The first test device
A first analog-to-digital converter converting an output signal of the second digital-to-analog converter into a digital signal included in the response packet; And
A first demodulator for demodulating the output signal of the second modulator, included in the response packet
Further comprising:
The first microprocessor
And performing the line characteristic test based on an output signal of each of the first analog-to-digital converter and the first demodulator.
제4항에 있어서,
상기 제1 및 제2 테스트 장치는
상기 커맨드 신호 및 상기 응답 패킷의 전송 및 수신 기능을 스위칭하기 위한 스위치
를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 계측 센서 테스트 장치.
5. The method of claim 4,
The first and second test device
A switch for switching transmission and reception functions of the command signal and the response packet
Measurement sensor test apparatus further comprises a.
계측 센서와 전기실 사이에 연결된 전류 라인의 일단에 설치된 제1 테스트 장치에서, 상기 전류 라인의 선로 특성을 테스트하기 위한 커맨드 신호를 전송하는 단계; 및
상기 전류 라인의 타단에 설치된 제2 테스트 장치에서, 상기 커맨드 신호에 기초한 선로 특성 테스트를 수행하는 단계를 포함하고,
상기 제2 테스트 장치에서, 상기 커맨드 신호에 대한 응답 패킷을 상기 제1 테스트 장치에 전송하는 단계; 및 상기 제1 테스트 장치에서, 상기 응답 패킷에 기초하여 상기 선로 특성 테스트를 수행하는 단계를 더 포함하고,
상기 커맨드 신호를 전송하는 단계는 상기 제1 테스트 장치의 제1 마이크로프로세서에서, 센서 신호 및 커맨드 데이터를 발생하는 단계; 상기 제1 테스트 장치의 제1 디지털-아날로그 컨버터에서, 상기 센서 신호를 디지털 신호에서 아날로그 신호로 변환하는 단계; 상기 제1 테스트 장치의 제1 모듈레이터에서, 상기 커맨드 데이터를 변조하는 단계; 및 상기 제1 테스트 장치의 제1 트랜스미터에서, 상기 센서 신호 및 상기 커맨드 데이터를 합성하여 상기 제2 테스트 장치에 상기 커맨드 신호를 전송하는 단계를 포함하고,
상기 선로 특성 테스트를 수행하는 단계는 상기 제2 테스트 장치의 제2 아날로그-디지털 컨버터에서, 상기 제1 디지털-아날로그 컨버터의 출력 신호를 수신하여 디지털 신호로 변환하는 단계; 상기 제2 테스트 장치의 제2 디모듈레이터에서, 상기 제1 모듈레이터의 출력 신호를 수신하여 복조하는 단계; 및 상기 제2 테스트 장치의 제2 마이크로프로세서에서, 상기 제2 아날로그-디지털 컨버터 및 상기 제2 디모듈레이터 각각의 출력 신호에 기초하여 상기 선로 특성 테스트를 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 계측 센서 테스트 방법.Transmitting a command signal for testing a line characteristic of the current line in a first test device installed at one end of a current line connected between a measurement sensor and an electrical chamber; And
In a second test apparatus provided at the other end of the current line, performing a line characteristic test based on the command signal,
Sending, at the second test apparatus, a response packet to the command signal to the first test apparatus; And performing, at the first test apparatus, the line characteristic test based on the response packet.
The transmitting of the command signal may include generating a sensor signal and command data at a first microprocessor of the first test apparatus; In the first digital-to-analog converter of the first test device, converting the sensor signal from a digital signal to an analog signal; Modulating the command data at a first modulator of the first test device; And synthesizing the sensor signal and the command data at the first transmitter of the first test device and transmitting the command signal to the second test device.
The performing of the line characteristic test may include receiving an output signal of the first digital-analog converter and converting the digital signal into a digital signal at a second analog-to-digital converter of the second test apparatus; Receiving and demodulating an output signal of the first modulator in a second demodulator of the second test device; And performing, at the second microprocessor of the second test device, the line characteristic test based on an output signal of each of the second analog-to-digital converter and the second demodulator. Way. 삭제delete 삭제delete
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