KR101369341B1 - System for constructing integrated management database of electronic circuit board - Google Patents

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KR101369341B1 KR1020120046772A KR20120046772A KR101369341B1 KR 101369341 B1 KR101369341 B1 KR 101369341B1 KR 1020120046772 A KR1020120046772 A KR 1020120046772A KR 20120046772 A KR20120046772 A KR 20120046772A KR 101369341 B1 KR101369341 B1 KR 101369341B1
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Abstract

본 발명은 전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 시스템 및 그 방법, 그리고 이를 이용한 전자회로기판의 관리 시스템에 관한 것으로서, 원자력 발전설비의 안전관련 전자회로기판에 대한 수명분석을 통하여 기종별 교체기준, 정비기준 및 교체 유의부품을 도출함에 목적이 있다.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 원자력 발전설비의 분석대상계통을 선정하고, 계통별 전자회로기판의 목록을 작성하는 목록 작성부; 선정된 전자회로기판의 부품 정보를 작성하는 부품정보 작성부; 선정된 전자회로기판의 현장 고장이력을 조사하고 분석하는 조사 및 분석부; 선정된 전자회로기판의 고장률 및 설계수명을 산출하는 산출부; 및 상기 전자회로기판의 설계수명에 따른 정비정책 정보를 추정하는 정비정책 정보 추정부; 를 포함한다.
The present invention relates to a system and method for establishing an integrated management database of an electronic circuit board, and a management system for an electronic circuit board using the same. The purpose is to derive the standard and replacement parts.
The present invention for achieving this object, the list generation unit for selecting the analysis target system of the nuclear power plant, and for creating a list of electronic circuit boards for each system; A part information creating unit to create part information of the selected electronic circuit board; An investigation and analysis unit for investigating and analyzing field failure history of the selected electronic circuit board; A calculation unit for calculating a failure rate and design life of the selected electronic circuit board; And a maintenance policy information estimating unit estimating maintenance policy information according to the design life of the electronic circuit board. .

Description

전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 시스템{SYSTEM FOR CONSTRUCTING INTEGRATED MANAGEMENT DATABASE OF ELECTRONIC CIRCUIT BOARD}SYSTEM FOR CONSTRUCTING INTEGRATED MANAGEMENT DATABASE OF ELECTRONIC CIRCUIT BOARD}

본 발명은 전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 시스템에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 원자력 발전설비의 분석대상 전자회로기판을 선정하여, 해당 전자회로기판의 현장 고장이력을 조사하고, 고장률 및 설계수명을 산출하여 설계수명 단계별 정비정책을 수립하는 데이터베이스 구축 시스템에 관한 것이다. The present invention relates to a system for establishing an integrated management database of an electronic circuit board, and more particularly, to select an analysis target electronic circuit board of a nuclear power plant, investigate field failure history of the electronic circuit board, and determine a failure rate and design life. The present invention relates to a database construction system that calculates and establishes a maintenance policy for each design life.

원자력 발전소와 같이 시스템이 한번 운전을 시작하면 1년 반 내지 2년 정도 쉬지 아니하고 계속 운전되어야 하는 플랜트에서는 기기 고장이나 컨트롤 계통의 고장으로 인하여 한 번 운전이 정지되면 이를 복구하여 다시 운전을 개시하는데 까지 많은 시간이 소요된다. 이로 인하여 많은 손해를 보게 되고, 전력 수요가 많은 냉난방 피크 시점에서 고장이 나면 일부 지역에 정전을 시켜야 하는 등, 전력 계통 전반에 심각한 피해를 줄 수 있게 된다. 그래서, 원자력 발전소를 계획정비 하는 기간에 각종 컨트롤을 위한 전자회로기판을 주기적으로 성능검사를 수행하여 불량이거나 불량으로 될 확률이 높다든지 하면 이를 수리하여 미리 정상적인 기판으로 교체하여 주는 사전 예측정비기술이 필요하다. 즉, 불시의 운전정지가 없게 하여 운전 효율을 높이고 전력 계통의 안전 운영을 기할 수 있게 된다. In a plant that needs to operate continuously for a year and a half or two years after the system starts to operate once, such as in a nuclear power plant, once the operation is stopped due to a device failure or a breakdown of the control system, it is restored to start operation again. It takes a lot of time. This causes a lot of damage, and if a failure occurs at the peak of the heating and cooling peaks with a high demand for electricity, it may cause serious damage to the entire power system, such as having to cut out power in some areas. Therefore, when the maintenance of the nuclear power plant is performed, the preliminary predictive maintenance technology that periodically performs performance checks on the electronic circuit boards for various controls and repairs them or replaces them with normal boards in advance is necessary. need. In other words, it is possible to increase the driving efficiency and ensure safe operation of the power system by avoiding accidental shutdown.

따라서, 원자력 발전소는 최점단 전자시스템으로 이루어져 있는 수 많은 기기와 전자카드 및 시스템의 운영체계가 정상적으로 동작되기 위해서는 각 구성부품이 고유의 기능을 유지할 수 있도록 충분한 내구성을 갖도록 설계, 제작, 설치 및 검증되어야 한다.Therefore, nuclear power plants are designed, manufactured, installed, and verified to have sufficient durability to maintain their unique functions in order for the operation system of many devices, electronic cards, and systems consisting of cutting-edge electronic systems to operate normally. Should be.

특히, 전자카드는 수명기간 동안 설비의 고유기능이 유지될 수 있도록 정기적인 기능 검사를 통하여 고장을 일으킬 요소를 미리 예측하여 제거할 필요가 있는데 아직까지는 국내/외 원자력발전소에서 전자회로기판의 수명관리 체계가 정립되지 않아 현 상태 점검 및 정비에 그치고 있어 원자력발전소의 안전운전과 더불어 향후 계속운전을 위해서도 수명 예측방법을 도입하여 적용함으로써 전자회로기판의 신뢰도 보증이 불가피하게 되었다. In particular, the electronic card needs to be predicted and eliminated in advance by causing periodical functional checks to maintain the unique functions of the equipment throughout its lifetime. As the system is not established, the current state is only checked and maintained. As a result, the life prediction method is introduced and applied to safe operation of nuclear power plants as well as to continue operation.

한편, 원자력 발전설비 전자회로기판의 점검 및 정비에 관한 기술과 관련해서는 한국공개특허 10-2007-0035142호(이하, '선행문헌') 외에 다수 출원 및 공개되어 있다. On the other hand, with respect to the technology for the inspection and maintenance of the nuclear power plant electronic circuit board, a number of applications and publications other than Korea Patent Publication No. 10-2007-0035142 (hereinafter referred to as "prior literature") is disclosed.

선행문헌에 따른 방법은 도 1 에 도시된 바와 같이, 검사할 전자회로기판을 세척하고 납땜 부분의 절연코팅을 제거하는 검사준비 단계; 전자부품과 전자회로기판과의 부착상태를 검사하는 외관 구조 검사단계; 중요 부품의 성능을 개별적으로 검사하는 부품 검사단계; 전자회로기판에 동작 전압과 입력신호를 가하여 출력신호가 정상적으로 출력되는지를 검사하는 기능 검사단계; 부품 검사단계에서의 검사결과와 기판설계 데이터와 부품의 내구성을 추정하여 합격 또는 불합격 여부를 판정 하는 단계; 합격된 전자회로기판 또는 불합격된 후 보수과정을 거친 전자회로기판의 납땜부분을 다시 절연 코팅하는 단계; 및 최종적으로 기능검사를 하는 단계; 를 포함하고 있다. The method according to the prior art, as shown in Figure 1, the test preparation step of cleaning the electronic circuit board to be inspected and removing the insulating coating of the soldered portion; Appearance structure inspection step of inspecting the attachment state between the electronic component and the electronic circuit board; A component inspection step of individually inspecting the performance of critical components; A function checking step of checking whether an output signal is normally output by applying an operating voltage and an input signal to the electronic circuit board; Estimating whether the result is passed or failed by estimating the inspection result and the board design data and the durability of the component in the component inspection step; Insulating coating the soldered portion of the passed electronic circuit board or the failed electronic circuit board after the repair process; And finally performing a functional check; .

즉, 상기한 선행문헌은, 전자회로기판을 정밀 점검한 결과가 열화로 판명되었을 때 수리하는 사후적인 방법으로서, 전자회로기판의 고장으로 인한 원자력 발전설비의 갑작스런 운전정지를 예방할 수 있는 선결적이고도 근본적인 해결책이 되지 못한다는 문제가 있었다.In other words, the above-mentioned prior document is a post-mortem method of repairing when the result of the detailed inspection of the electronic circuit board is found to be deterioration, and is a preliminary and fundamental factor that can prevent the sudden stop of the nuclear power plant due to the failure of the electronic circuit board. There was a problem that could not be solved.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 감안하여 안출된 것으로, 본 발명의 제 1 목적은, 원자력 발전설비의 안전관련 전자회로기판에 대한 수명분석을 통하여 기종별 교체기준, 정비기준 및 교체 유의부품을 도출하는 데 있다.The present invention has been made in view of the above problems, and a first object of the present invention is to derive replacement standards, maintenance standards, and replacement parts by model through life analysis of safety-related electronic circuit boards of nuclear power plants. There is.

또한 본 발명의 제 2 목적은, 원자력 발전설비의 안전관련 전자회로기판에 대한 현장고장이력과 정비경험을 적절히 반영하여 최적의 정비기준을 설정하기 위한 데이터베이스를 구축하는 데 있다.In addition, a second object of the present invention is to build a database for setting the optimal maintenance standards by properly reflecting the site failure history and maintenance experience for safety-related electronic circuit boards of nuclear power plants.

그리고, 본 발명의 제 3 목적은, 원자력 발전설비의 안전관련 전자회로기판에 대한 현장자료조사를 통하여 고장률 및 설계수명을 산출하고, 특이기종에 대한 보강분석을 수행하여 통합적 관리 데이터베이스의 구축과 동시에 정비 주기 및 정비정책에 대한 권고사항을 도출하는 데 있다.In addition, the third object of the present invention is to calculate the failure rate and design life through the field data survey on the safety-related electronic circuit board of the nuclear power plant, and to carry out the reinforcement analysis of the specific model to build an integrated management database To make recommendations on maintenance cycles and maintenance policies.

이러한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명은 전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 시스템에 관한 것으로서, 원자력 발전설비의 분석대상계통을 선정하고, 계통별 전자회로기판의 목록을 작성하는 목록 작성부; 선정된 전자회로기판의 부품 정보를 작성하는 부품정보 작성부; 선정된 전자회로기판의 현장 고장이력을 조사하고 분석하는 조사 및 분석부; 선정된 전자회로기판의 고장률 및 설계수명을 산출하는 산출부; 및 상기 전자회로기판의 설계수명에 따른 정비정책 정보를 추정하는 정비정책 정보 추정부; 를 포함한다. The present invention for achieving the technical problem relates to a system for establishing an integrated management database of the electronic circuit board, a list preparation unit for selecting the analysis target system of the nuclear power generation equipment, and creating a list of electronic circuit boards for each system; A part information creating unit to create part information of the selected electronic circuit board; An investigation and analysis unit for investigating and analyzing field failure history of the selected electronic circuit board; A calculation unit for calculating a failure rate and design life of the selected electronic circuit board; And a maintenance policy information estimating unit estimating maintenance policy information according to the design life of the electronic circuit board. .

한편, 본 발명은 전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 방법에 관한 것으로서, (a) 목록 작성부가 원자력 발전설비의 분석대상계통을 선정하고, 계통별 전자회로기판의 목록을 작성하는 단계; (b) 부품정보 작성부가 선정된 전자회로기판의 부품 정보를 작성하는 단계; (c) 조사 및 분석부가 선정된 전자회로기판의 현장 고장이력을 조사하고 분석하는 단계; (d) 산출부가 선정된 전자회로기판의 고장률 및 설계수명을 산출하는 단계; 및 (e) 정책정보 추정부가 상기 전자회로기판의 설계수명에 따른 정비정책 정보를 추정하는 단계; 를 포함한다.On the other hand, the present invention relates to a method for establishing an integrated management database of electronic circuit boards, comprising: (a) a list preparation unit selecting an analysis target system of a nuclear power plant and preparing a list of electronic circuit boards for each system; (b) creating component information of the electronic circuit board selected by the component information preparing unit; (c) investigating and analyzing a field failure history of the electronic circuit board selected by the research and analysis unit; (d) calculating a failure rate and design life of the selected electronic circuit board; And (e) a policy information estimating unit estimating maintenance policy information according to the design life of the electronic circuit board; .

그리고 본 발명은 전자회로기판 관리 시스템에 관한 것으로서, 전자회로기판의 정보를 저장하고 있는 데이터베이스부; 상기 데이터베이스부에 저장된 정보를 관리하고 분석하여, 전자회로기판 및 부품의 정비이력을 바탕으로 고장률 및 설계수명을 산출하는 고장률 및 설계수명 산출부; 정비이력정보 및 설계수명을 바탕으로 표준화된 고장코드의 구축 및 정비정책을 규칙화하는 정비정책 규칙화부; 및 규칙화된 정비정책에 따라 전자회로기판에 대한 정비지시 또는 요청정보를 외부로 전송하는 정비 요청부; 를 포함한다. The present invention relates to an electronic circuit board management system, comprising: a database unit for storing information of an electronic circuit board; A failure rate and design life calculation unit for managing and analyzing the information stored in the database unit to calculate a failure rate and design life based on the maintenance history of the electronic circuit board and the components; Maintenance policy ruler for regularizing the construction and maintenance policy of the standardized fault code based on maintenance history information and design life; And a maintenance request unit for transmitting the maintenance instruction or request information for the electronic circuit board to the outside according to a regular maintenance policy. .

상기와 같은 본 발명에 따르면, 원자력 발전설비의 안전관련 전자회로기판에 대한 수명분석을 통하여 기종별 교체기준, 정비기준 및 교체 유의부품을 도출할 수 있는 효과가 있다.According to the present invention as described above, through the life analysis of the safety-related electronic circuit board of the nuclear power plant has the effect of deriving the replacement standards, maintenance standards and replacement significant parts for each model.

또한 본 발명에 따르면, 원자력 발전설비의 안전관련 전자회로기판에 대한 현장 고장이력과 정비상황을 적절히 반영하여 최적의 정비기준을 설정하기 위한 통합적관리 데이터베이스를 구축할 수 있는 효과도 있다.In addition, according to the present invention, there is an effect that it is possible to build an integrated management database for setting the optimal maintenance standards by properly reflecting the site failure history and maintenance status for the safety-related electronic circuit board of the nuclear power plant.

그리고 본 발명에 따르면, 원자력 발전설비의 안전관련 전자회로기판에 대한 현장자료조사를 통하여 설계수명 및 고장률 산출 및 특이 기종에 대한 통합적 관리 데이터베이스의 구축과 동시에 교체주기 및 정비주기에 대한 권고사항을 도출하는 효과도 있다. And according to the present invention, through the field data survey on the safety-related electronic circuit board of the nuclear power plant, the design life and failure rate calculation and the establishment of an integrated management database for the specific model, and at the same time draw a recommendation for replacement cycle and maintenance cycle There is also an effect.

도 1 은 종래 원자력 발전설비 전자회로기판 정밀 점검 및 정비 방법에 관한 전체 흐름도.
도 2 는 본 발명에 따른 전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 시스템을 개념적으로 도시한 전체 구성도.
도 3 은 본 발명에 따른 분석대상계통의 선정과정을 나타낸 순서도.
도 4 는 본 발명에 따른 전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 방법에 관한 전체 흐름도.
도 5 는 본 발명에 따른 전자회로기판 관리 시스템을 개념적으로 도시한 전체 구성도.
도 6 은 본 발명에 따른 전자회로기판 관리 시스템의 기본화면을 보이는 일예시도.
도 7 은 본 발명에 따른 기판별 정비기준 관리화면을 보이는 일예시도.
1 is a whole flow chart of the conventional nuclear power plant electronic circuit board precision inspection and maintenance method.
Figure 2 is a schematic diagram showing a conceptual diagram showing a system for building an integrated management database of the electronic circuit board according to the present invention.
Figure 3 is a flow chart showing the selection process of the analysis target system according to the present invention.
4 is an overall flowchart of a method for establishing an integrated management database of an electronic circuit board according to the present invention;
5 is an overall configuration diagram conceptually showing the electronic circuit board management system according to the present invention.
Figure 6 is an exemplary view showing a basic screen of the electronic circuit board management system according to the present invention.
Figure 7 is an exemplary view showing a maintenance standard management screen for each substrate according to the present invention.

본 발명의 구체적 특징 및 이점들은 첨부도면에 의거한 다음의 상세한 설명으로 더욱 명백해질 것이다. 이에 앞서 본 발명에 관련된 공지 기능 및 그 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는, 그 구체적인 설명을 생략하였음에 유의해야 할 것이다.Specific features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description based on the accompanying drawings. It is to be noted that the detailed description of known functions and constructions related to the present invention is omitted when it is determined that the gist of the present invention may be unnecessarily blurred.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 상세하게 설명한다. DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will now be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명에 따른 전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 시스템 및 그 방법, 그리고 이를 통해 생성된 전자회로기판 관리 시스템에 관하여 도 2 내지 도 7 을 참조하여 설명하면 다음과 같다. A system and method for constructing an integrated management database for an electronic circuit board according to the present invention and an electronic circuit board management system generated through the same will be described below with reference to FIGS. 2 to 7.

도 2 는 본 발명에 따른 전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 시스템(100)을 개념적으로 도시한 전체 구성도로서, 도시된 바와 같이 목록 작성부(110), 부품정보 작성부(120), 조사 및 분석부(130), 산출부(140) 및 정비정책 정보 추정부(150)를 포함하여 이루어진다. 2 is an overall configuration diagram conceptually showing an integrated management database construction system 100 of an electronic circuit board according to the present invention, and as shown, a list creation unit 110, a part information creation unit 120, a survey and The analysis unit 130, the calculation unit 140 and the maintenance policy information estimation unit 150 is made.

구체적으로, 목록 작성부(110)는 원자력 발전설비의 분석대상계통을 선정하고, 계통별 전자회로기판의 목록을 작성한다. In detail, the list preparing unit 110 selects an analysis target system of the nuclear power plant and prepares a list of electronic circuit boards for each system.

여기서, 목록 작성부(110)는 분석대상계통을 주기적 안전성 평가(PSR) 대상 여부, 발전정지관련 여부, 전자회로기판 정밀점검 서비스(PIMS) 계획/경상예방 정비 수행여부 및 설비개선 수행 여부를 기준으로 1차로 선정하고, 전자회로기판의 종별 부품 정보, 현장고장이력 정보 및 시험 정보의 수집가능여부를 기준으로 2차로 선정한다. Here, the list preparation unit 110 is based on whether the analysis target system is subject to periodic safety assessment (PSR), whether or not to stop the power generation, whether to perform the electronic circuit board precision inspection service (PIMS) plan / current prevention maintenance and facility improvement The first selection is made based on the type of electronic circuit board, and the second selection is made based on whether or not the type information, field failure history, and test information of the electronic circuit board can be collected.

도 3 은 본 발명에 따른 분석대상계통의 선정과정을 나타낸 순서도로서, 도시된 바와 같이 분석대상계통의 선정은 크게 중요도에 따른 검토, 관리 필요성에 따른 검토, 및 분석가능여부에 따른 검토로 나누어 볼 수 있다. 3 is a flowchart illustrating a process of selecting an analysis target system according to the present invention. As shown in FIG. 3, the selection of an analysis target system is divided into a review based on importance, a review based on management necessity, and a review based on analysis possibility. Can be.

중요도에 따른 검토는, 주기적 안전성 평가(Periodic Safety Review: PSR)의 분석결과를 참조하여, 주기적 안전성 평가(PSR)에 포함된 대상계통을 본 발명의 분석대상 계통으로 결정하는 것을 말한다. The review according to importance refers to determining the target system included in the periodic safety assessment (PSR) as the analytical subject of the present invention with reference to the analysis result of the periodic safety review (PSR).

관리 필요성에 따른 검토는, 설비개선이 예정되어 계통의 기기변경이 발생할지에 대한 검토 및 전자회로기판의 정밀점검의 수행여부를 검토하여 부품단위 수명관리의 필요성을 검토하는 것을 말한다. According to the management necessity, it is to examine the necessity of component unit life management by examining whether the equipment improvement of the system will occur due to the improvement of the facility and whether the detailed inspection of the electronic circuit board is performed.

분석가능여부에 따른 검토는, 전자회로기판의 종별 부품 정보, 현장고장이력 정보 및 시험 정보의 수집 가능여부를 판단하여 불가능하다고 판단된 경우, 현장검토를 통해 계통 및 전자회로기판의 종류에서 제외하는 것을 말한다. If it is determined that it is impossible to collect the type part information, field failure history information, and test information of the electronic circuit board, it is excluded from the type of system and electronic circuit board through the site review. Say that.

[표 1] 은 본 발명의 일실시예에 따라 1차로 선정된 분석대상계통을 나타낸 것으로서, 나타낸 바와 같이 1차로 선정된 원자력 발전설비의 전자회로기판의 분석 대상계통은 RCS(제어봉 제어), 7300 PROCESS(공정제어), NIS(핵계측), DRMS(방사선 감시), SSPS(원자로 보호), SSILS(반도체식 논리 회로함), GOVERNOR(조속기 제어), FC(주급수 펌프터빈), SEISMIC(지진 감시), RCP VIBRATION(원자로 냉각재 펌프진동 감시)의 10개 계통을 우선 구현하였다. 1차로 선정된 결과는 추후 분석가능여부에 따른 2차 선정 과정을 통해 계통 및 전자회로기판의 종류가 변경될 수 있다.[Table 1] shows the analysis target system selected as the primary according to an embodiment of the present invention, as shown in the analysis target system of the electronic circuit board of the nuclear power plant selected as the primary RCS (control rod control), 7300 PROCESS (Process Control), NIS (Nuclear Measurement), DRMS (Radiation Monitoring), SSPS (Atomic Protection), SSILS (Semiconductor Logic Circuit Box), GOVERNOR (Governor Control), FC (Main Water Pump Turbine), SEISMIC (Earthquake) 10 systems of RCP VIBRATION (reactor coolant pump vibration monitoring) were implemented first. The result of the first selection can be changed through the second selection process depending on whether it can be analyzed later.

검토 대상 계통System to be reviewed PSR
대상계통
PSR
Target system
발전정지
관련
Stop power generation
relation
정밀점검
수행계통
Precision inspection
Performance system
설비개선
여부
Equipment improvement
Whether
계통system
선정selection
기판종수
(예상)
Board type
(prediction)
RCSRCS 제어봉 제어Control rod control DRPIDRPI 디지털 제어봉
위치지시
Digital control rod
Location
DMIMSDMIMS 노내금속파편
검출
Furnace Metal Fragment
detection
ALMSALMS 음향누설감지Acoustic leakage detection 7300
SERIES
7300
SERIES
공정 제어Process control
BOP, FISHERBOP, FISHER NISNIS 핵 계측Nuclear instrumentation DRMSDRMS 방사선 감시(960**-200)Radiation Monitoring (960 **-200) GFFDGFFD 핵연료 파손검출Nuclear Fuel Damage Detection SSPSSSPS 원자로 보호Reactor protection SSILSSSILS 반도체식 논리회로Semiconductor logic circuit GOVERNORGOVERNOR 조속기제어Governor control FCFC 주급수펌프터빈Main water pump turbine CQCQ 터빈감시Turbine Monitoring ANNUNCIATORANNUNCIATOR 경보Warning 터빈발전기 공정제어Turbine Generator Process Control AIR COMPRESSORAIR COMPRESSOR 공기압축기Air compressor SEISMICSEISMIC 지진감시Earthquake monitoring RCP VIBRATIONRCP VIBRATION 원자로 냉각재
펌프진동감시
Reactor coolant
Pump vibration monitoring
BCMSBCMS 보론농도측정
계통
Boron concentration measurement
system
DFMSDFMS 노내 중성자분포 측정Measurement of neutron distribution in furnace 주급수펌프 및
터빈 진동감시
Main water pump and
Turbine Vibration Monitoring
EOSPEOSP 전기식터빈
과속도보호
Electric Turbine
Overspeed protection
고정자냉각수Stator cooling water 발전기수소온도감시Generator hydrogen temperature monitoring 저압터빈배기온도감시Low pressure turbine exhaust temperature monitoring MSR배수탱크수위MSR Drainage Tank Water Level

각 계통별 전자회로기판의 종류를 파악하여 목록을 작성하는 것은 분석대상을 확정짓는 최종단계이며, 부품목록을 확보하는 기준이 된다. Creating a list by identifying the types of electronic circuit boards in each system is a final step in determining the analysis target and is a standard for securing a parts list.

분석대상 기판 종류 파악은 현장의 전자회로기판 현황(사용품, 예비품 목록)자료와 설비 매뉴얼, 전자회로기판 정밀점검 서비스(PIMS) 수행기록 등을 통해 결정될 수 있다. The identification of the types of substrates to be analyzed can be determined through data on the status of electronic circuit boards (list of supplies and spare parts), facility manuals, and performance records of electronic circuit board precision inspection services (PIMS).

[표 2] 는 본 발명의 일실시예에 따라 분석대상계통별 전자회로기판의 종류를 예시한 것이다. [표 2] 의 전자회로기판의 종류는 1차적으로 조사된 결과이다. Table 2 illustrates the types of electronic circuit boards for analysis systems according to one embodiment of the present invention. The type of electronic circuit board shown in [Table 2] is the result of primary investigation.

여기서, 전자회로기판의 기능적인 측면에서 중요도가 떨어지거나 현장에서 거의 사용하고 있지 않은 기판, 부품목록이 존재하지 않는 기판 및 설계수명이 매우 길고 고장빈도가 적은 기판으로 판단될 경우에는 추후에 제외될 수 있다.Here, the boards which are less important in the functional aspect of the electronic circuit board or are rarely used in the field, the boards having no parts list, and the boards having a long design life and a low frequency of failure are excluded. Can be.

또한, 7300 프로세스 계통에서 사용 중인 해당 전자회로기판이 개선된 경우 또는 동일한 기능을 수행하지만 신호의 수가 다른 경우 등 구분되어야 할 필요성이 있는 경우에는 같은 종류의 전자회로기판이라도 그룹으로 나뉠 수 있다.In addition, when the electronic circuit board being used in the 7300 process system is improved or when there is a need to be distinguished, such as performing the same function but having a different number of signals, the same type of electronic circuit board may be divided into groups.

순번turn 분석대상계통Analytical System 계통설명System description 분석 기판 종류Analysis board type 제작사producer 1One 73007300 공정제어Process control 22 SSILSSSILS 반도체식 논리보호Semiconductor logic protection 33 SSPSSSPS 원자로 보호Reactor protection 44 RCSRCS 제어봉 제어Control rod control 55 DRMSDRMS 방사선 감시Radiation monitoring 66 NISNIS 노외 핵계측Off-site nuclear measurement system

한편, 전자회로기판의 목록은 호기, 계통, 모델번호, 제작사, 관리번호, 태그넘버, 고유번호, 설치날짜, 전자회로기판 수량, 전자회로기판의 등급 및 단가 정보가 포함될 수 있다.
On the other hand, the list of electronic circuit boards may include the number of breath, system, model number, manufacturer, management number, tag number, unique number, installation date, the number of electronic circuit boards, electronic circuit board grade and unit price.

부품정보 작성부(120)는 선정된 전자회로기판의 부품 정보를 작성한다.The component information preparing unit 120 creates component information of the selected electronic circuit board.

여기서, 부품정보 작성부(120)는 대상계통 매뉴얼 자료 및 전자회로기판 정밀점검 서비스(PIMS)에서 사용된 부품목록을 수집하여 전자회로기판의 종별 구성부품의 부품명 및 수량을 정리하여 작성할 수 있다.
Here, the component information preparing unit 120 may collect the parts list used in the target system manual data and the electronic circuit board precision inspection service (PIMS) and organize the parts names and quantities of components of each type of electronic circuit board. .

조사 및 분석부(130)는 선정된 전자회로기판의 종별 현장 고장이력을 조사하고 분석한다.The investigation and analysis unit 130 investigates and analyzes the on-site failure history of the selected electronic circuit board.

이때, 현장 고장이력은 고장률, 설계수명, 고장형태, 고장내역, 조치형태, 조치내역, 고장일자, 정비이력, 정비일자, 정비수행자 및 주요 노화 유의부품 표시 등의 정보를 포함한다. At this time, the site failure history includes information such as failure rate, design life, failure type, failure history, action type, action history, failure date, maintenance history, maintenance date, maintenance performer and major aging parts.

또한, 상기 정비이력는 호기, 계통명, 기판명, 시리얼 넘버, 부품위치, 부품명, 부품넘버, 시험방법, 교체사유 및 교체날짜 등의 정보를 포함한다. In addition, the maintenance history includes information such as breath number, system name, board name, serial number, part location, part name, part number, test method, replacement reason and replacement date.

[표 3] 은 본 발명의 일실시예에 따라 전자회로기판 정밀점검 서비스(PIMS) 정비이력을 분석한 결과를 나타낸 것으로서, 분석된 결과의 해당계통은 5개 계통을우선으로 7300 프로세스, NIS, RCS, SSILS, SSPS이 포함되어 있다. [Table 3] shows the results of analyzing the maintenance history of the electronic circuit board precision inspection service (PIMS) according to an embodiment of the present invention, the system of the analysis results of the first 5300, 7300 process, NIS, RCS, SSILS and SSPS are included.

계통명System name 교체사유Reason for replacement 합계Sum 7300 프로세스7300 processes NISNIS RCSRCS SSILSSSILS SSPSSSPS

산출부(140)는 선정된 전자회로기판의 종별 고장률 및 설계수명을 산출한다. The calculation unit 140 calculates the type failure rate and design life of the selected electronic circuit board.

이때, 산출부(140)는 MIL-HDBK-217F 및 텔코디아(Telcordia)-SR-332의 적용규격을 사용하여, 전자회로기판의 고장률 및 설계수명을 산출할 수 있다.In this case, the calculation unit 140 may calculate the failure rate and the design life of the electronic circuit board by using the applicable standard of MIL-HDBK-217F and Telcordia-SR-332.

일반적으로 고장률(Failure Rate)은 백만시간(106) 또는 십억시간(109) 단위로 표기되며, 평균수명(MTBF : Mean TimeBetween Failure)의 역수로 표현할 수 있다. 예를 들어, 고장률이 2.0 (106단위 기준)인 경우 백만 시간당 평균적으로 2회의 고장이 발생한다는 의미이며, 이 경우에 평균수명은 500,000시간이 된다. In general, the failure rate is expressed in units of one million hours (10 6 ) or one billion hours (10 9 ), and can be expressed as the inverse of the mean life time failure (MTBF). For example, a failure rate of 2.0 (10 6 units) means that two failures occur on average per million hours, with an average lifespan of 500,000 hours.

1년이 8,760시간이므로 500,000시간이면 약 57년이 그 부품의 평균수명이라 할 수 있는 것이다. 이를 바탕으로 전자회로기판의 고장률 및 설계수명을 산출하는데 적용하였다. Since one year is 8,760 hours, about 500,000 hours is about 57 years, which is the average life of the part. Based on this, it was applied to calculate failure rate and design life of electronic circuit board.

상기의 MIL-HDBK-217F는 1965년 미국 DoD(Department of Defense)에서 제정하였고, 전기전자부품과 어셈블리의 고장률(또는 신뢰도 평가척도)과 방정식을 제공한다. The MIL-HDBK-217F was established by the United States Department of Defense (DoD) in 1965 and provides the failure rate (or reliability rating scale) and equations for electrical and electronic components and assemblies.

[표 4] 는 PSA와 PCM 방식을 요약 정리하여 나타낸 것이다. PSA는 시스템설계 완성단계에서 주로 적용하는 방식이며, 시스템과 부품의 설계에 따른 고유스펙과 다양한 파라메타 설정이 필요하다. 일반적으로, PCM은 시스템설계 초기단계에서 적용하는 개략적 예측방식이며, 몇 가지의 팩터만을 이용하여 고장률을 예측하는 방식이다. Table 4 summarizes the PSA and PCM schemes. PSA is mainly applied at the completion of system design, and it requires specific specifications and various parameter settings according to system and component design. In general, PCM is a rough prediction method applied at the early stage of system design and predicts failure rate using only a few factors.

PSAPSA PCMPCM 적용단계Application Step 상세 설계 단계Detailed design phase 설계 초기 단계Design early stage 필요정보Information 많은 정보(설계 자료)A lot of information (design material) 적은 정보(품질, 환경, 수량)Less information (quality, environment, quantity) 고장률Failure rate 부품 스트레스 모델에
상세 설계정보 적용
Parts stress model
Apply detailed design information
부품 스트레스 모델에 기본 값 적용Apply default values to component stress models

그리고, PSA는 아래의 [수식 1] 에 의하여 산출될 수 있다. And, PSA can be calculated by the following [Formula 1].

[수식 1][Equation 1]

Figure 112012035344590-pat00001
Figure 112012035344590-pat00001

여기서, λb는 기본 고장률, πQ는 품질인자, πE는 환경인자, πA는 적용인자, πT는 온도인자, πn는 반복인자를 나타낸다.Here, λ b is the basic failure rate, π Q is the quality factor, π E is the environmental factor, π A is the application factor, π T is the temperature factor, π n is a repeating factor.

그리고, PCM은 아래의 [수식 2] 에 의하여 산출될 수 있다. And, PCM can be calculated by the following [Equation 2].

[수식 2][Equation 2]

Figure 112012035344590-pat00002
Figure 112012035344590-pat00002

여기서, λEQUIP는 전자회로기판의 총 고장률(고장/108 시간), λg는 i번째 부품의 고유 고장률(고장/108 시간), πQ는 i번째 고유 부품의 품질인자, Ni는 i번째 고유 부품의 숫자, n은 전자회로기판 내에 있는 고유 부품 카테고리의 수를 나타낸다.Where λ EQUIP is the total failure rate of the electronic circuit board (failure / 10 8 hours), λ g is the intrinsic failure rate of the i th component (failure / 10 8 hours), π Q is the quality factor of the i th unique part, and N i is The number of i-th unique components, n, represents the number of unique component categories in the electronic circuit board.

그리고, MIL-HDBK-217F에 의한 전자회로기판의 각 부품의 고장률 및 설계수명은 릴렉스 프로그램을 사용하여 각 부품의 정보를 입력하여 [수식 3] 에 의해 산출될 수 있다. In addition, the failure rate and design life of each component of the electronic circuit board according to MIL-HDBK-217F can be calculated by [Equation 3] by inputting the information of each component using a relaxation program.

[수식 3][Equation 3]

Figure 112012035344590-pat00003
Figure 112012035344590-pat00003

여기서, λb는 기본 고장률, πT는 온도인자, πS는 적용인자 πQ는 품질인자, πE는 환경인자를 나타낸다.
Here, λ b is the basic failure rate, π T is the temperature factor, π S is the application factor π Q is the quality factor, π E is the environmental factor.

한편, 텔코디아-SR-332는 전자장비에 대한 신뢰도 예측절차와 방법을 기술한규격서로 전자회로기판의 고장률 및 설계수명은 아래 [수식 4] 에 의하여 산출된다.On the other hand, Telcordia-SR-332 is a standard document describing the reliability prediction procedure and method for electronic equipment. The failure rate and design life of the electronic circuit board are calculated by Equation 4 below.

[수식 4][Equation 4]

Figure 112012035344590-pat00004
Figure 112012035344590-pat00004

여기서, λss는 현장이력이 적용된 고장률, t는 부품 및 시스템의 총 운전시간, f는 시간 t동안 총 고장 카운트, V는 조절값을 나타낸다.
Where λ ss is the failure rate to which the field history is applied, t is the total operating time of components and systems, f is the total failure count during time t, and V is the adjustment value.

정비정책 정보 추정부(150)는 상기 전자회로기판의 종별 설계수명에 따른 정비정책 정보를 추정한다. The maintenance policy information estimator 150 estimates the maintenance policy information according to the type design life of the electronic circuit board.

여기서, 정비정책 정보는 전자회로기판의 정비주기, 교체주기, 신뢰구간 추정, 비용 대비 주기산출, 현장고장이력 기반 통계값, 예측모델에 의한 잔여 수명, 부품 교체에 의한 잔여 수명, 고장 횟수 및 계획예방정비 횟수 등의 정보를 포함하며, 전자회로기판의 종별 고장원인 및 정비권고 내용이 포함될 수도 있다.Here, maintenance policy information includes maintenance cycle, replacement cycle, confidence interval estimation, cost-period calculation, field failure history-based statistics, remaining life by predictive model, remaining life by parts replacement, frequency and failure plan of electronic circuit board. It includes information on the number of preventive maintenance, etc., and may also include the type of cause of failure and maintenance advice of the electronic circuit board.

구체적으로, 정비정책 정보 추정부(150)는 고장수를 [수식 5] 와 같이 추정한다. Specifically, the maintenance policy information estimating unit 150 estimates the number of failures as shown in [Equation 5].

[수식 5][Equation 5]

고장수 = 정비이력카드 고장수 + 과거수리이력 고장수 + TR발행이력수 + 고장수(ERP) + PIMS(성능저하) 수
Failures = Maintenance History Card Failures + Past Repair History Failures + TR Issuance History + Failures (ERP) + PIMS (Performance Degradation)

또한,

Figure 112012035344590-pat00005
를 k(=degrees_freedom)개의 독립적이고 표준정규분포를 따르는 확률변수라고 할 때,
Figure 112012035344590-pat00006
로 정의하는 확률변수 Q의 분포를 자유도가 k인 카이제곱 분포로 정의한다. 이에 대한 표기는
Figure 112012035344590-pat00007
로 나타낸다.Also,
Figure 112012035344590-pat00005
Is a random variable that follows k (= degrees_freedom) independent, standard normal distributions,
Figure 112012035344590-pat00006
The distribution of the random variable Q defined by is defined as the chi-square distribution with k degrees of freedom. The notation for this is
Figure 112012035344590-pat00007
Respectively.

또한, 카이제곱 분포의 확률밀도함수는 다음의 [수식 6] 과 같다.In addition, the probability density function of the chi-square distribution is given by Equation 6 below.

[수식 6][Equation 6]

Figure 112012035344590-pat00008
Figure 112012035344590-pat00008

여기서, Γ(k / 2)는 감마 함수이다.Where Γ (k / 2) is the gamma function.

누적분포함수는 다음의 [수식 7] 과 같다. The cumulative distribution function is shown in Equation 7 below.

[수식 7][Equation 7]

Figure 112012035344590-pat00009
Figure 112012035344590-pat00009

이러한, 카이제곱 분포의 역함수를 XINV라고 할때, When the inverse of the chi-square distribution is called XINV,

95%신뢰도 =

Figure 112012035344590-pat00010
95% Reliability =
Figure 112012035344590-pat00010

50%신뢰도 =

Figure 112012035344590-pat00011
이며, 50% Reliability =
Figure 112012035344590-pat00011
Lt;

신뢰추정구간 EF = (95% 신뢰도)/(50% 신뢰도)Confidence estimation section EF = (95% confidence) / (50% confidence)

MEAN =

Figure 112012035344590-pat00012
MEAN =
Figure 112012035344590-pat00012

: e는 2.71828182845904e is 2.71828182845904

신뢰추정구간 MTBF(년) =

Figure 112012035344590-pat00013
이다. Confidence Estimation Section MTBF (Years) =
Figure 112012035344590-pat00013
to be.

상기한 바와 같이, 추정된 정보를 바탕으로 정비정책 정보 추정부(150)는 정비주기와 교체주기를 [수식 8] 을 통해 추정한다. As described above, the maintenance policy information estimating unit 150 estimates the maintenance cycle and the replacement cycle based on Equation 8 based on the estimated information.

[수식 8][Equation 8]

정비주기 =

Figure 112012035344590-pat00014
Maintenance cycle =
Figure 112012035344590-pat00014

교체주기 =

Figure 112012035344590-pat00015
Replacement cycle =
Figure 112012035344590-pat00015

여기서, 일실시예로 960시간(공사기간40일), 730시간(적용시간/월), 18개월(연료교체주기)을 나타낸다.
Here, as an example, 960 hours (construction period 40 days), 730 hours (application time / month), 18 months (fuel replacement cycle) is shown.

[표 5] 는 본 발명의 일실시예에 따라 전자회로기판의 교체 및 고장을 예방하고자 권고되는 주기적인 전자회로기판의 정비정책 기준을 나타낸 것이다. Table 5 shows the maintenance policy standards for periodic electronic circuit boards recommended to prevent replacement and failure of electronic circuit boards according to an embodiment of the present invention.

발전소 운전에 필수적으로 필요하다고 확인된 전자회로기판은 예방정비 대상에 포함시키고, 안전관련 전자회로기판 뿐만 아니라 발전소 운전에 영향을 주는 전자회로기판도 예방정비 대상에 포함시킨다. 전자회로기판에 대한 대부분의 예방 정비정책은 사용자 결정의 운전기간 이후 전자회로기판에 대한 재정비가 필요하다. Electronic circuit boards identified as essential for the operation of a power plant are included in the preventive maintenance target, and safety circuit-related electronic circuit boards are included in the preventive maintenance target. Most preventive maintenance policies for electronic circuit boards require refurbishment of the electronic circuit board after the operating period of user decision.

이러한 사용자 결정의 운전기간은 발전소 안전성, 운전환경, 현장의 고장이력, 운전경험과 전자회로기판의 중요도에 대한 기준을 기초로 사용자에 의해 선택될 수 있다. 일반적으로 예상 교체 비용의 절반 이상이 수리비용으로 쓰인다면 그 기판은 교체하는 방향으로 정비정책을 수립하는 것이 바람직하다. The operation period of this user decision can be selected by the user based on criteria for plant safety, operating environment, field failure history, operation experience and importance of electronic circuit board. In general, if more than half of the expected replacement costs are used for repairs, it is advisable to establish a maintenance policy towards replacing the boards.

Figure 112012035344590-pat00016
Figure 112012035344590-pat00016

이상의 방법으로 구축된 데이터베이스는 원자력 발전설비의 안전관련 전자회로기판에 대한 수명분석을 통하여 기종별 교체기준, 정비기준 및 교체 유의부품을 도출하는데 효과적으로 이용될 수 있다. 즉, 전자회로기판에 대한 현장 고장이력과 정비상황을 적절히 반영하여 최적의 정비기준을 설정할 수 있게 된다.
The database constructed by the above method can be effectively used to derive replacement standards, maintenance standards, and replacement parts by model through life analysis of safety-related electronic circuit boards of nuclear power plants. That is, the optimum maintenance standards can be set by properly reflecting the on-site failure history and maintenance status of the electronic circuit board.

본 발명에 따른 전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 방법에 관하여 도 4 를 참조하여 설명하면 다음과 같다.The integrated management database construction method for an electronic circuit board according to the present invention will be described with reference to FIG. 4 as follows.

도 4 는 본 발명에 따른 전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 방법에 관한 전체 흐름도로서, 도시된 바와 같이 목록 작성부(110)는 원자력 발전설비의 분석대상계통을 선정하고, 계통별 전자회로기판의 목록을 작성하며(S110), 부품정보 작성부(120)는 선정된 전자회로기판의 부품 정보를 작성한다(S120). 4 is a flowchart illustrating a method for constructing an integrated management database of an electronic circuit board according to the present invention. As shown in the drawing, the list generator 110 selects an analysis target system of a nuclear power plant, While creating a list (S110), the component information creation unit 120 creates the component information of the selected electronic circuit board (S120).

또한, 조사 및 분석부(130)는 선정된 전자회로기판의 종별 현장 고장이력을 조사하고 분석하며(S130), 산출부(140)는 선정된 전자회로기판의 종별 고장률 및 설계수명을 산출한다(S140).In addition, the survey and analysis unit 130 investigates and analyzes the on-site failure history of the type of the selected electronic circuit board (S130), and the calculating unit 140 calculates the type of failure rate and the design life of the selected electronic circuit board ( S140).

그리고, 정비정책 정보 추정부(150)는 상기 전자회로기판의 종별 설계수명에 따른 정비정책 정보를 추정한다(S150).
The maintenance policy information estimator 150 estimates maintenance policy information according to the type design life of the electronic circuit board (S150).

이하에서는, 상술한 시스템 및 그 방법을 통해 생성된 전자회로기판 관리 시스템에 관하여 도 5 를 참조하여 설명하도록 한다.Hereinafter, the above-described system and the electronic circuit board management system generated through the method will be described with reference to FIG. 5.

도 5 는 본 발명에 따른 전자회로기판 관리 시스템(200)을 개념적으로 도시한 전체 구성도로서, 도시된 바와 같이 데이터베이스부(210), 고장률 및 설계수명 산출부(220), 정비정책 규칙화부(230) 및 정비 요청부(240)를 포함하여 이루어진다. FIG. 5 is a schematic diagram illustrating an electronic circuit board management system 200 according to the present invention. As shown in FIG. 5, the database unit 210, the failure rate and design life calculation unit 220, and the maintenance policy regularization unit ( 230 and the maintenance request unit 240 is made.

데이터베이스부(210)는 상술한 전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 시스템(100)을 통해 생성된 정보들이 저장되어 있다. 구체적으로는, 전자회로기판의 종별 부품 정보, 현장 고장이력에 관한 조사 분석정보, 고장률 및 설계수명 산출 정보 및 설계수명에 따라 추정된 정비정책 정보 등을 포함한다.
The database unit 210 stores information generated through the integrated management database construction system 100 of the electronic circuit board described above. Specifically, it includes the type component information of the electronic circuit board, the survey analysis information on the field failure history, the failure rate and design life calculation information, and the maintenance policy information estimated according to the design life.

고장률 및 설계수명 산출부(220)는 상기 데이터베이스부(210)에 저장된 정보를 관리하고 분석하여, 전자회로기판 및 부품의 정비이력을 바탕으로 고장률 및 설계수명을 산출한다. The failure rate and design life calculation unit 220 manages and analyzes the information stored in the database unit 210 to calculate the failure rate and design life based on the maintenance history of the electronic circuit board and the parts.

여기서, 상기 고장률 및 설계수명 산출부(220)는 앞선 전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 시스템에서 사용한 MIL-HDBK-217F 및 텔코디아-SR-332 모듈이 사용될 수 있다. Here, the failure rate and design life calculation unit 220 may use the MIL-HDBK-217F and Telcordia-SR-332 modules used in the integrated management database construction system of the electronic circuit board.

또한, 고장률 및 설계수명 산출부(220)는 전자회로기판 및 부품의 예상 수명 및 교체주기를 산출하고, 산출된 정보를 상기 데이터베이스부(210)에 저장한다. In addition, the failure rate and design life calculation unit 220 calculates an expected life and replacement cycle of the electronic circuit board and components, and stores the calculated information in the database unit 210.

이와 같이 산출된 자료는, 예방정비 모델에 미리 정의된 데이터 분석 작업을 거쳐서 예상 수명이나 각종 신뢰도 지표를 산출하는 근거가 되고, 이러한 예상 수명 및 신뢰도 지표 등은 일반 유지보수 업무를 신뢰성에 기반한 유지보수가 되도록 도와주며 통계에 의해 계산된 정비 주기에 의하여 인력의 과투입 또는 부족투입을 방지할 수 있는 근거가 된다.
The data calculated in this way is the basis for calculating the expected life expectancy and various reliability indicators through the data analysis work defined in the preventive maintenance model, and these expected life and reliability indicators are based on the reliability-based maintenance of general maintenance tasks. The maintenance intervals calculated by the statistics provide the basis for preventing over- or under-employment of manpower.

정비정책 규칙화부(230)는 정비이력정보 및 설계수명을 바탕으로 표준화된 고장코드의 구축 및 정비정책을 규칙화한다. The maintenance policy regularizing unit 230 regulates the construction and maintenance policy of the standardized fault code based on the maintenance history information and the design life.

여기서, 정비정책은 [표 5] 에 기술된 내용과 설계수명을 바탕으로 적절한 정비정책을 규칙화할 수 있다. 이때, 전자회로기판의 설계수명 이후에 고장이 난다면 전자회로기판의 부품교체 보다는 전자회로기판 자체를 교체하는 것으로 규칙화할 수 있다.
Here, the maintenance policy can regulate the appropriate maintenance policy based on the contents and design life described in [Table 5]. In this case, if a failure occurs after the design life of the electronic circuit board, it may be regularized to replace the electronic circuit board itself rather than replace the parts of the electronic circuit board.

정비 요청부(240)는 규칙화된 정비정책에 따라 전자회로기판에 대한 정비지시 또는 요청정보를 사용자 단말기(10)로 전송한다. The maintenance requester 240 transmits maintenance instructions or request information for the electronic circuit board to the user terminal 10 according to a regular maintenance policy.

또한, 정비 요청부(240)는 상기 정비지시 또는 요청정보에 따른 정비이력을 사용자 단말기(10)로부터 수신하여, 상기 데이터베이스부(210)에 갱신하여 저장시킬 수 있다.
In addition, the maintenance request unit 240 may receive the maintenance history according to the maintenance instruction or request information from the user terminal 10, update and store in the database unit 210.

도 6 은 본 발명에 따른 전자회로기판의 관리 시스템의 기본화면, 구체적으로는 경년열화 관리 시스템의 기본화면을 보이는 일예시도로서, 도시된 바와 같이, 전자회로기판별 정비기준 관리, 현장 설치정보 관리, 기판 기본정보 관리, ICT 수행정보 관리, 고장 및 정비이력 관리, 예방 정비이력 관리, 입출고 정보 관리 등을 보이고 있다. 도 7 은 기판별 정비기준 관리화면을 보이는 일예시도이다.
Figure 6 is an exemplary view showing a basic screen of the management system of the electronic circuit board according to the present invention, specifically, the base screen of the aged deterioration management system, as shown, maintenance criteria management for each electronic circuit board, field installation information Management, board basic information management, ICT performance information management, failure and maintenance history management, preventive maintenance history management, and warehouse information management. 7 is an exemplary view showing a maintenance standard management screen for each board.

본 발명은 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드로서 구현하는 것이 가능하다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 컴퓨터 시스템에 의하여 읽혀질 수 있는 데이터가 저장되는 모든 종류의 기록장치를 포함한다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체의 예로는 ROM, RAM, CD-ROM, 자기 테이프, 플라피디스크, 하드 디스크, 광데이터 저장장치 등이 있으며, 또한 인터넷을 통한 전송과 같이 캐리어 웨이브의 형태로 구현되는 것도 포함한다. 또한 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템에 분산되어, 분산방식으로 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드가 저장되고 실행될 수 있다.
The present invention can be embodied as computer readable codes on a computer readable recording medium. A computer-readable recording medium includes all kinds of recording apparatuses in which data that can be read by a computer system is stored. Examples of computer-readable recording media include ROM, RAM, CD-ROM, magnetic tape, floppy disk, hard disk, optical data storage, and the like, which are implemented in the form of a carrier wave such as transmission over the Internet. It also includes. The computer readable recording medium may also be distributed over a networked computer system so that computer readable code can be stored and executed in a distributed manner.

이상으로 본 발명의 기술적 사상을 예시하기 위한 바람직한 실시예와 관련하여 설명하고 도시하였지만, 본 발명은 이와 같이 도시되고 설명된 그대로의 구성 및 작용에만 국한되는 것이 아니며, 기술적 사상의 범주를 일탈함이 없이 본 발명에 대해 다수의 변경 및 수정이 가능함을 당업자들은 잘 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 그러한 모든 적절한 변경 및 수정과 균등물들도 본 발명의 범위에 속하는 것으로 간주되어야 할 것이다. While the present invention has been particularly shown and described with reference to preferred embodiments thereof, it will be understood by those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. It will be appreciated by those skilled in the art that numerous changes and modifications may be made without departing from the invention. Accordingly, all such appropriate modifications and changes, and equivalents thereof, should be regarded as within the scope of the present invention.

100: 전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 시스템
110: 목록 작성부 120: 부품정보 작성부
130: 조사 및 분석부 140: 산출부
150: 정비정책 정보 추정부
200: 전자회로기판 관리 시스템
210: 데이터베이스부 220: 고장률 및 설계수명 산출부
230: 정비정책 규칙화부 240: 정비 요청부
10: 사용자 단말기
100: integrated management database construction system of electronic circuit board
110: list creation unit 120: parts information creation unit
130: investigation and analysis unit 140: calculation unit
150: maintenance policy information estimation unit
200: electronic circuit board management system
210: database unit 220: failure rate and design life calculation unit
230: maintenance policy regularization unit 240: maintenance request unit
10: User terminal

Claims (13)

전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 시스템에 있어서,
원자력 발전설비의 분석대상계통을 선정하고, 계통별 전자회로기판의 목록을 작성하는 목록 작성부(110);
상기 목록 작성부(110)를 통해 선정된 전자회로기판의 부품 정보를 작성하는 부품정보 작성부(120);
상기 목록 작성부(110)를 통해 선정된 전자회로기판의 현장 고장이력을 조사하고 분석하는 조사 및 분석부(130);
상기 목록 작성부(110)를 통해 선정된 전자회로기판의 고장률 및 설계수명을 산출하는 산출부(140); 및
상기 산출부(140)를 통해 산출된 상기 전자회로기판의 설계수명에 따른 정비정책 정보를 추정하는 정비정책 정보 추정부(150); 를 포함하되,
상기 산출부(140)는,
하기의 [수식 4] 를 통해 전자회로기판의 고장률을 산출하고, 고장률의 표기 단위인 십억시간에서, 산출된 고장률을 나눔으로써 설계수명을 산출하는 것을 특징으로 하는 전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 시스템.
[수식 4]
Figure 112013097487306-pat00026

여기서, λss는 현장이력이 적용된 고장률, t는 부품 및 시스템의 총 운전시간, f는 시간 t동안 총 고장 카운트, V는 조절값.
In the integrated management database construction system of the electronic circuit board,
A list preparation unit 110 for selecting an analysis target system of the nuclear power generation facility and creating a list of electronic circuit boards for each system;
A part information creation unit 120 for creating part information of the electronic circuit board selected through the list creation unit 110;
An investigation and analysis unit 130 for investigating and analyzing a field failure history of the electronic circuit board selected through the list creation unit 110;
A calculation unit 140 for calculating a failure rate and a design life of the electronic circuit board selected through the list creation unit 110; And
A maintenance policy information estimator 150 for estimating maintenance policy information according to the design life of the electronic circuit board calculated through the calculator 140; , ≪ / RTI &
The calculator 140,
Equation 4 below to calculate the failure rate of the electronic circuit board, the integrated management database construction system of the electronic circuit board, characterized in that the design life is calculated by dividing the calculated failure rate in billion hours, the unit of the failure rate .
[Equation 4]
Figure 112013097487306-pat00026

Where λ ss is the failure rate with field history, t is the total operating time of the part and system, f is the total failure count during time t, and V is the adjustment value.
제 1 항에 있어서,
상기 목록 작성부(110)는,
분석대상계통을 주기적 안전성 평가(PSR) 대상 여부, 발전정지관련 여부, 전자회로기판 정밀점검 서비스(PIMS) 계획/경상예방 정비 수행여부 및 설비개선 수행 여부를 기준으로 1차로 선정하고, 전자회로기판의 종별 부품 정보, 현장고장이력 정보 및 시험 정보의 수집가능여부를 기준으로 2차로 선정하는 것을 특징으로 하는 전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 시스템.
The method of claim 1,
The list creation unit 110,
The system to be analyzed is first selected based on the periodic safety assessment (PSR) status, power generation stop status, electronic circuit board precision inspection service (PIMS) plan / current preventive maintenance, and facility improvement. The integrated management database construction system of the electronic circuit board, characterized in that the secondary selection on the basis of the type of parts information, field failure history information and test information can be collected.
제 1 항에 있어서,
상기 전자회로기판의 목록은,
호기, 계통, 모델번호, 제작사, 관리번호, 태그넘버, 고유번호, 설치날짜, 전자회로기판 수량, 전자회로기판의 등급 및 단가 중, 적어도 하나 이상의 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 시스템.
The method of claim 1,
The list of the electronic circuit board,
Of the electronic circuit board, comprising at least one of information, such as a unit, a system, a model number, a manufacturer, a control number, a tag number, a unique number, an installation date, an electronic circuit board quantity, and an electronic circuit board rating and unit price. Integrated management database building system.
제 1 항에 있어서,
상기 부품정보 작성부(120)는,
대상계통 매뉴얼 자료 및 전자회로기판 정밀점검 서비스(PIMS)에서 사용된 부품목록을 수집하여 전자회로기판의 종별 구성부품의 부품명 및 수량을 바탕으로 부품정보를 작성하는 것을 특징으로 하는 전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 시스템.
The method of claim 1,
The part information creating unit 120,
The parts information used in the manual system of the target system and the electronic circuit board precision inspection service (PIMS) is collected, and the parts information is prepared based on the part names and quantities of the component parts of the electronic circuit board. Integrated management database building system.
제 1 항에 있어서,
상기 현장 고장이력은,
고장형태, 고장내역, 조치형태, 조치내역, 고장일자, 정비이력, 정비일자, 정비수행자 및 주요 노화 유의부품 표시 중, 적어도 하나 이상의 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 시스템.
The method of claim 1,
The field failure history is
Establishing integrated management database of electronic circuit board, characterized in that it includes at least one information among fault type, fault history, action type, action history, fault date, maintenance history, maintenance date, maintenance performer and major aging parts system.
제 5 항에 있어서,
상기 정비이력은,
호기, 계통명, 기판명, 시리얼 넘버, 부품위치, 부품명, 부품넘버, 시험방법, 교체사유 및 교체날짜 중, 적어도 하나 이상의 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 시스템.
The method of claim 5, wherein
The maintenance history is,
Integrated management database construction system of the electronic circuit board, characterized in that it contains at least one of information, such as breath number, system name, board name, serial number, part location, part name, part number, test method, reason for replacement and replacement date .
삭제delete 삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 정비정책 정보는,
전자회로기판의 고장원인 및 정비권고 내용, 정비주기, 교체주기, 신뢰구간 추정, 비용 대비 주기산출, 현장고장이력 기반 통계값, 예측모델에 의한 잔여 수명, 부품 교체에 의한 잔여 수명, 고장 횟수 및 계획예방정비 횟수 정보 중, 적어도 하나 이상의 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 시스템.
The method of claim 1,
The maintenance policy information,
Cause of failure and maintenance recommendation of electronic circuit board, maintenance cycle, replacement cycle, confidence interval estimation, calculation of cost / period, statistics based on field failure history, remaining life by predictive model, remaining life by parts replacement, frequency of failure and An integrated management database construction system for an electronic circuit board, characterized in that it includes at least one or more information of the number of planned preventive maintenance.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102127120B1 (en) * 2018-11-30 2020-06-26 한국수력원자력 주식회사 Method for monitoring of nuclear power plant in transient state using signal classification
KR102233035B1 (en) * 2021-02-18 2021-03-26 한전케이피에스 주식회사 Device for Plant Control System electronic card automatic diagnosis and function test

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050060251A (en) * 2003-12-16 2005-06-22 한국철도기술연구원 Prevention system and the method for maintenance of railway car using rams analysis
KR20070035142A (en) * 2005-09-27 2007-03-30 삼창기업 주식회사 Method for inspecting and repairing a PCB of atomic power plant facilities
KR20110043277A (en) * 2009-10-21 2011-04-27 한국전력공사 A method of failure prediction at power plant using bayesian statics

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050060251A (en) * 2003-12-16 2005-06-22 한국철도기술연구원 Prevention system and the method for maintenance of railway car using rams analysis
KR20070035142A (en) * 2005-09-27 2007-03-30 삼창기업 주식회사 Method for inspecting and repairing a PCB of atomic power plant facilities
KR20110043277A (en) * 2009-10-21 2011-04-27 한국전력공사 A method of failure prediction at power plant using bayesian statics

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
강태광, "전자회로기판 이력관리 시스템 운용에 평가", 2006년 6월, 울산대학교 학위논문 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102151439B1 (en) 2020-06-04 2020-09-03 주식회사 오르비스 Electronic Card of Integrated Solid State Interposing Logic System

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