KR101343954B1 - Optical fiber and, sensor system and sensing method using the same - Google Patents
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- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 title claims abstract description 119
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 19
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 36
- 238000005253 cladding Methods 0.000 claims abstract description 25
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 10
- 238000012885 constant function Methods 0.000 claims description 5
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 5
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 6
- 238000005728 strengthening Methods 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000001839 endoscopy Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 2
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 206010052428 Wound Diseases 0.000 description 1
- 208000027418 Wounds and injury Diseases 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009545 invasion Effects 0.000 description 1
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/16—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/268—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light using optical fibres
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- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/353—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells influencing the transmission properties of an optical fibre
- G01D5/35306—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells influencing the transmission properties of an optical fibre using an interferometer arrangement
- G01D5/35309—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells influencing the transmission properties of an optical fibre using an interferometer arrangement using multiple waves interferometer
- G01D5/35316—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells influencing the transmission properties of an optical fibre using an interferometer arrangement using multiple waves interferometer using a Bragg gratings
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/207—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
- G01N23/2076—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions for spectrometry, i.e. using an analysing crystal, e.g. for measuring X-ray fluorescence spectrum of a sample with wavelength-dispersion, i.e. WDXFS
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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Abstract
소정 길이로 연장되는 클래딩과, 상기 클래딩의 내부에서 상기 클래딩의 길이방향을 따라 연장되는 코어를 포함하고, 상기 코어 내부에는 상기 코어와 굴절률이 상이하고, 상기 코어를 통과하는 빛의 경로를 간섭하도록 상기 코어의 길이방향을 따라 배치되는 복수의 격자가 형성되며, 상기 복수의 격자는 각각 서로 다른 간격으로 배치되고, 광 입구로 빛이 조사되면, 상기 코어를 통과하는 상기 빛의 일부가 상기 복수의 격자에 의해 반사되어 상기 광 입구를 통해 출력되며, 상기 광 입구를 통해 출력되는 반사광은 서로 다른 방향으로 편광된 제1반사광 및 제2반사광을 포함하고, 상기 제1반사광과 상기 제2반사광은 서로 다른 대역의 파장 스펙트럼을 형성하는 광 파이버가 제공된다. A cladding extending to a predetermined length, and a core extending along the longitudinal direction of the cladding in the cladding, wherein the core has a refractive index different from the core and interferes with a path of light passing through the core. A plurality of gratings are formed along the longitudinal direction of the core, and the plurality of gratings are arranged at different intervals, and when light is irradiated to a light inlet, a portion of the light passing through the core is transferred to the plurality of gratings. The reflected light is reflected by a grating and output through the light inlet, and the reflected light output through the light inlet includes first and second reflected light polarized in different directions, and the first and second reflected light An optical fiber is provided that forms the wavelength spectrum of another band.
Description
본 발명은 광 파이버와 이를 이용한 센서 시스템 및 센싱 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 하나의 광 파이버를 이용해 광 파이버가 굴절된 위치, 방향 및 곡률 등을 검출할 수 있는 센서 시스템 및 센싱 방법에 관한 것이다. The present invention relates to an optical fiber, a sensor system and a sensing method using the same, and more particularly, to a sensor system and a sensing method capable of detecting a position, a direction, and a curvature in which an optical fiber is refracted by using one optical fiber. will be.
내시경 수술 등에 쓰이는 각종 내시경 장비는 침습에 의한 상처를 최소화할 수 있어 각광받고 있다. 하지만, 내시경 장비를 이용한 의료 행위는 인체 내에서 수시로 굴절되는 내시경 장비의 굴절 상태를 사용자가 육안으로 확인하기가 어렵기 때문에, 안전한 시술을 위해서 내시경 장비의 굴절 상태를 탐지해 사용자에게 알려줄 수 있는 방법이 강구될 필요가 있다. Various endoscope equipments used for endoscopy and the like are attracting attention because they can minimize wounds caused by invasion. However, in medical practice using endoscopy equipment, it is difficult for the user to visually check the state of refraction of the endoscope equipment that is frequently refracted in the human body. This needs to be taken.
이를 위해, 인체 내에서 다양한 방향으로 굴절되는 내시경 장비의 움직임에 대응하여 굴절 가능한 광 파이버를 센서로 이용하는 방법이 제안되고 있다. To this end, a method of using an optical fiber that can be refracted in response to the movement of the endoscope equipment refracted in various directions in the human body has been proposed.
도 1은 종래 기술에 따른 일 형태의 광 파이버 구조를 개략적으로 도시한 것이다. Fig. 1 schematically shows an optical fiber structure according to the prior art.
광 파이버(1)는 유리 재질로 형성되어 자유롭게 굴절될 수 있는 클래딩(cladding)(2)과, 상기 클래딩(2)의 중심에서 클래딩(2)의 길이방향을 따라 형성된 코어(core)(3)를 포함한다. 클래딩(2)의 굴절율은 n1이고, 코어(3)의 굴절율은 n0로 서로 상이하다. 광 파이버(1)의 양 단부에는 광원(미도시)로부터 빛이 입사하는 광 입구(5)와, 코어(3)를 통과하여 빛이 출력되는 광 출구(6)가 형성된다. The
광 파이버(1)가 굴절되었는지 여부를 검출하기 위하여, 코어(3)에는 코어(3)의 길이방향을 따라 동일한 간격(Λ)으로 배치되는 복수의 격자(grating)(4)들이 형성된다. 격자(4)는 광 파이버(1)의 제작 과정에서 적외선 빛을 통해 코어(3) 일부분의 물성을 변화시킨 부분으로, (n0+△n)의 굴절율을 가진다. A plurality of
격자(4)는 코어(3)를 통과하는 입사광(3)을 간섭하게 되고, 입사광(3)의 일부는 복수의 격자(4)에 의해 반사되어 광 입구(5)를 통해 반사광(8)으로 출력된다. The grating 4 interferes with the
도 2(a)는 광 입구(5)를 통해 입사되는 입사광의 파장 대 크기에 대한 파장 스펙트럼을 도시한 것이고, 도 2(b)는 광 입구(5)를 통해 출력되는 반사광의 파장 스펙트럼을 도시한 것이다. FIG. 2 (a) shows the wavelength spectrum of the wavelength versus magnitude of the incident light incident through the
넓은 대역의 파장을 가지는 입사광이 코어(3)로 입사되더라도, 코어(3) 중간에 위치하는 복수의 격자(4)에 의한 간섭으로 광 입구(5)를 통해 특정 파장(λB)의 반사광만이 출력된다. 구체적으로, 광 입구(5)를 통해 입사된 입사광의 일부는 제일 처음 위치한 제1격자에 부딪히며 반사되고, 나머지 일부는 제1격자를 통과해 전진한다. 제1격자를 통과한 빛의 일부는 제2격자에 부딪히며 반사되고, 반사된 광은 제1격자와 다시 만나서 일부는 그대로 통과해 제일 처음으로 제1격자에 의해 반사된 빛과 합쳐지고, 나머지 일부는 제1격자에 의해 다시 반사되어 제2격자로 향한다. 이와 같은 현상은 제2격자 다음에 위치한 격자들에서도 동일하게 반복적으로 일어나고, 광 파이버(1)로 입사된 입사광은 복수의 격자(4)에 의해 반사와 통과를 거듭하면서 서로 간섭을 일으키게 된다. 결국, 도 2(a)에 도시된 형태의 파장 스펙트럼을 가지는 입사광이 입사되더라도, 도 2(b)에 도시된 바와 같이 파장(λB) 외의 파장의 반사광들은 서로에 의한 간섭으로 거의 모두 소실되고, 파장(λB)을 가지는 반사광(8)만이 광 입구(5)를 통해 출력된다. Even though incident light having a broad band wavelength is incident on the
이때, 반사광의 파장(λB)은 하기 [수학식 1]과 같이 표현할 수 있다.
In this case, the wavelength λ B of the reflected light may be expressed as shown in
[수학식 1][Equation 1]
λB = 2·neff·Λλ B = 2 n eff
여기서, neff는 코어의 유효 굴절율을 나타내는 지표이다.
Here, n eff is an index which shows the effective refractive index of a core.
위와 같은 구성을 가지는 광 파이버(1)의 특정 부분에 굴절이 발생하면, 굴절된 부분의 격자 간격이 변화하면서 파장 스펙트럼에 변화가 일어난다. 이러한 파장 스펙트럼의 변화를 감지하여 광 파이버(1)의 굴절 여부를 확인할 수 있게 되는 것이다. When a refraction occurs in a specific portion of the
하지만, 위와 같은 구성의 광 파이버(1)는 반사광을 분석해 광 파이버(1)의 굴절 여부는 확인할 수 있으나, 굴절의 위치 및 방향 등은 확인할 수 없다는 문제점이 있다. However, the
도 3은 종래 기술의 다른 형태에 따른 광 파이버(10)를 도시한 것이다. 3 shows an
광 파이버(10)는 앞서 설명한 구성과 마찬가지로 클래딩(20)과 코어(30)를 포함한다. 클래딩(20)과 코어(30)의 굴절율은 서로 상이하다. The
코어(30)에는 각각 세 개의 격자가 한 집합을 이루는 제1격자부 내지 제5격자부(41 내지 45)가 형성된다. 각각의 격자부를 형성하는 세 개의 격자들은 서로 동일 간격으로 배치되어 있다. 제1격자부 내지 제5격자부(41 내지 45)를 이루는 세 개의 격자들의 간격(Λ1, Λ2, Λ3, Λ4, Λ5)은 Λ1<Λ2<Λ3<Λ4<Λ5의 관계를 가진다. 제1격자부 내지 제5격자부(41 내지 45) 사이의 간격(51, 52, 53, 54)은 격자들의 간격(Λ1, Λ2, Λ3, Λ4, Λ5)에 비하여 현저히 크다. The
위와 같은 구성에 따르면, 광 파이버(10)의 광 입구(50)로 입사된 빛에 대하여 격자부들에 의한 간섭이 발생하고, 광 입구(50)로 출력되는 반사광은 도 4에 도시된 바와 같은 파장 스펙트럼을 가진다. According to the above configuration, interference caused by the grating parts occurs with respect to the light incident to the
도 4의 파장 스펙트럼에 나타나는 파장들(λ1, λ2, λ3, λ4, λ5)은 각 격자부의 격자들의 간격(Λ1, Λ2, Λ3, Λ4, Λ5)을 상기 [수학식 1]에 대입하여 구한 값에 해당한다. 다시 말해서, 파장들(λ1, λ2, λ3, λ4, λ5)은 각각 제1격자부 내지 제5격자부(41 내지 45)에 의해 반사되어 출력되는 반사광의 파장을 나타내는 것이다. The wavelengths λ 1 , λ 2 , λ 3 , λ 4 , λ 5 appearing in the wavelength spectrum of FIG. 4 correspond to the intervals Λ 1 , Λ 2 , Λ 3 , Λ 4 , Λ 5 of the gratings of the respective grating portions. Corresponds to the value obtained by substituting
광 파이버(10)가 제2격자부(42)가 위치한 부분에서 굴절되는 경우, 제2격자부(42)를 구성하는 격자들의 간격(Λ2)이 변화하게 될 것이고, 이에 따라 상기 [수학식 1]의 관계에 의해 도 4의 파장 곡선들 중 파장(λ2)에 대한 곡선이 좌우로 이동하는(shift) 것을 관찰할 수 있게 된다. 파장(λ2)에 대한 곡선이 좌우로 이동하는 것이 관찰되면 광 파이버(10)가 제2격자부(42) 위치에서 굴절되었다는 것을 알 수 있다. When the
한편, 광 파이버(10) 적어도 세 가닥을 한 다발로 묶어 사용하면 굴절 방향과 그 각도를 계산할 수 있다. 예를 들어, 제2격자부(42)가 위치한 부분이 구부러지게 되면, 구부러진 방향 쪽에 위치한 광 파이버(10)의 제2격자부(42)는 압축되어 반사광의 파장이 짧아지므로 파장 곡선이 왼쪽으로 이동하고, 반대쪽에 위치한 광 파이버(10)의 제2격자부(42)는 신장되어 반사광의 파장이 길어지므로 파장 곡선이 오른쪽으로 이동하는 현상이 발생한다. 따라서, 한데 묶인 세 가닥 이상의 광 파이버(10) 각각의 파장 스펙트럼의 변화를 분석하면 굴절의 방향 및 그 각도를 계산할 수 있게 되는 것이다. On the other hand, by using at least three strands of the
하지만, 위와 같은 광 파이버(10)는 격자부들 사이(51, 52, 53, 54)에서 굴절이 생기는 경우, 격자부들의 격자 간격이 변화하지 않아 굴절 위치를 찾을 수 없게 된다. 따라서, 격자부들 사이 간격(51, 52, 53, 54)은 굴절 위치를 확인할 수 없는 소위 "데드 존(dead zone)"을 형성하게 된다. 매우 큰 간격으로 "데드 존"의 존재로 인해 굴절 위치를 정밀하게 센싱할 수 없다는 문제점이 있다. However, in the
또한, 하나의 격자부가 동일 간격으로 배치된 복수의 격자들로 구성되는 이유로 굴절 위치 계산을 정확히 계산하기 위한 해상도(Resolution)가 낮아진다. In addition, the resolution for accurately calculating the refraction position calculation is low because one grating portion is composed of a plurality of gratings arranged at equal intervals.
예를 들어 제2격자부(42)의 첫번째 격자 부근에서 굴절이 발생한 경우와, 마지막 격자 부근에서 굴절이 발생한 경우 모두 파장(λ2)에 대한 곡선이 동일한 양상을 이동하게 되므로, 파장 곡선의 변화를 통해 위 두 가지 경우를 구별할 수 없어 정확한 굴절 위치를 파악하기가 어렵다는 문제점이 있다. 첫 번째 격자와 마지막 격자 사이의 간격은 일반적으로 5-10mm 정도이다. For example, when the refraction occurs in the vicinity of the first grating of the
나아가, 광 파이버(10)를 이용해 굴절 방향을 검측하기 위해서는 광 파이버(10) 여러 가닥을 묶어 사용하여야만 하므로, 광 파이버(10)를 센서로 이용하는 장비의 전체 크기가 같이 증가한다는 문제점이 있다. Furthermore, in order to detect the refraction direction using the
본 발명은 위와 같은 종래기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 하나의 광 파이버를 이용해 광 파이버가 굴절되었을 때 굴절된 위치, 방향과 그 각도 및 곡률을 모두 검출할 수 있어 내시경 장비 등의 굴절 상태를 파악하는 센서로 이용되기 적합한 광 파이버 및 이를 이용한 센서 시스템과 센싱 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. The present invention is to solve the problems of the prior art as described above, when the optical fiber is refracted by using one optical fiber can detect both the refracted position, the direction and the angle and curvature, the refractive state of the endoscope equipment, etc. An object of the present invention is to provide an optical fiber suitable for use as a sensor to grasp, a sensor system and a sensing method using the same.
상술한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 일 측면에 따르면, 소정 길이로 연장되는 클래딩과, 상기 클래딩의 내부에서 상기 클래딩의 길이방향을 따라 연장되는 코어를 포함하고, 상기 코어 내부에는 상기 코어와 굴절률이 상이하고, 상기 코어를 통과하는 빛의 경로를 간섭하도록 상기 코어의 길이방향을 따라 배치되는 복수의 격자가 형성되며, 상기 복수의 격자는 각각 서로 다른 간격으로 배치되고, 상기 코어의 광 입구로 빛이 조사되면, 상기 코어를 통과하는 상기 빛의 일부가 상기 복수의 격자에 의해 반사되어 상기 광 입구를 통해 출력되며, 상기 광 입구를 통해 출력되는 반사광은 서로 다른 방향으로 편광된 제1반사광 및 제2반사광을 포함하고, 상기 제1반사광과 상기 제2반사광은 서로 다른 대역의 파장 스펙트럼을 형성하는 광 파이버가 제공된다. According to an aspect of the present invention for achieving the above object, it comprises a cladding extending to a predetermined length, the core extending in the longitudinal direction of the cladding inside the cladding, the core and the refractive index inside the core A plurality of different gratings are formed along the longitudinal direction of the core so as to interfere with a path of light passing through the core, and the plurality of gratings are arranged at different intervals, respectively, to light inlets of the core. When light is irradiated, a part of the light passing through the core is reflected by the plurality of gratings and is output through the light inlet, and the reflected light output through the light inlet is polarized in the first reflection light polarized in different directions and An optical fiber comprising a second reflected light, wherein the first reflected light and the second reflected light form a wavelength spectrum of a different band; It is.
상기 복수의 격자의 간격은 상기 광 입구로부터 광 출구로 갈수록 일정한 함수로 증가 또는 감소할 수도 있다. The spacing of the plurality of gratings may increase or decrease in a constant function from the light inlet to the light outlet.
또한, 상기 코어는 상기 수평축 방향 밀도와 상기 수직축 방향 밀도가 서로 상이하여, 상기 제1반사광과 상기 제2반사광의 파장차가 발생하도록 할 수도 있다. In addition, the core may have a density different from the horizontal axis direction density and the vertical axis direction density so that a wavelength difference between the first reflected light and the second reflected light may occur.
본 발명의 다른 측면에 따르면, 상기 광 파이버와, 상기 광 파이버의 광 입구에 빛을 조사하는 광원과, 상기 광 파이버의 광 입구로부터 출력되는 반사광의 파장을 분석하는 광 분석기를 포함하고, 상기 코어의 중심은 상기 광 파이버가 이용된 센서 전체의 굴절 중심과 이격되어 배치되고, 상기 센서가 굴절하는 경우, 상기 광 분석기는 상기 제1반사광과 상기 제2반사광의 파장 스펙트럼의 변화를 검출하여 굴절된 위치 및 방향을 검출하는 센서 시스템이 제공된다. According to another aspect of the invention, the optical fiber, a light source for irradiating light to the light inlet of the optical fiber, and an optical analyzer for analyzing the wavelength of the reflected light output from the light inlet of the optical fiber, the core The center of the optical fiber is disposed spaced apart from the center of refraction of the entire sensor used, the optical analyzer is refracted by detecting a change in the wavelength spectrum of the first reflected light and the second reflected light when the sensor is refracted A sensor system is provided for detecting position and orientation.
상기 광 분석기는 상기 제1반사광과 상기 제2반사광의 파장 스펙트럼의 변화를 검출하여 굴절된 방향의 각도를 더 검출할 수도 있다. The optical analyzer may further detect an angle in a refracted direction by detecting a change in a wavelength spectrum of the first reflected light and the second reflected light.
또한, 상기 광 분석기는 상기 제1반사광과 상기 제2반사광의 파장 스펙트럼의 변화를 검출하여 굴절된 곡률을 더 검출할 수도 있다. The optical analyzer may further detect the curvature of refraction by detecting a change in the wavelength spectrum of the first reflected light and the second reflected light.
본 발명의 또 다른 측면에 다르면, 상기 센서 시스템를 이용해 상기 광 파이버의 굴절 상태를 검출하는 방법으로서, 상기 광 파이버의 광 입구에 빛을 조사하는 단계와, 상기 광 입구로부터 출력되는 제1반사광 및 제2반사광을 수집하는 단계와, 상기 제1반사광 및 제2반사광의 파장 스펙트럼의 변화를 분석하는 단계와, 상기 제1반사광과 상기 제2반사광의 파장 스펙트럼의 변화가 있는 경우 변화량을 계산하여 상기 광 파이버가 굴절된 위치 및 방향을 검출 단계를 포함하는 센싱 방법이 제공된다. According to still another aspect of the present invention, there is provided a method of detecting a refractive state of an optical fiber by using the sensor system, the method comprising: irradiating light to a light inlet of the optical fiber, first reflected light and a first light output from the light inlet; Collecting the reflected light, analyzing a change in the wavelength spectrum of the first reflected light and the second reflected light, and calculating a change amount when there is a change in the wavelength spectrum of the first reflected light and the second reflected light. A sensing method is provided that includes detecting a position and a direction in which a fiber is refracted.
상기 방법은 상기 제1반사광과 상기 제2반사광의 파장 스펙트럼의 변화가 있는 경우 변화량을 계산하여 상기 광 파이버가 굴절된 방향의 각도 및 곡률을 검출하는 단계를 더 포함할 수도 있다. The method may further include detecting an angle and a curvature in a direction in which the optical fiber is refracted by calculating a change amount when there is a change in the wavelength spectrum of the first reflected light and the second reflected light.
도 1은 종래 기술의 일 형태에 따른 광 파이버를 도시한 것이다.
도 2는 도 1의 광 파이버의 광 입구를 통한 입사광과 반사광의 파장 스펙트럼을 도시한 것이다.
도 3은 종래 기술의 다른 형태에 따른 광 파이버를 도시한 것이다.
도 4는 도 3의 광 파이버의 광 입구를 통해 출력되는 반사광의 파장 스펙트럼을 도시한 것이다.
도 5 및 도 6은 각각 본 발명의 일 실시예에 따른 광 파이버의 측면도 및 정면도이다.
도 7은 도 5의 광 파이버의 일 사용상태를 도시한 것이다.
도 8은 도 5의 광 파이버의 광 입구를 통해 출력되는 반사광의 파장 스펙트럼을 도시한 것이다.
도 9 및 도 10은 도 5의 광 파이버의 굴절 위치를 검측하는 원리를 도시하기 위한 도면이다.
도 11 및 도 12는 도 5의 광 파이버의 굴절 정도를 검측하는 원리를 도시하기 위한 도면이다.
도 13은 도 5 및 도 7과 함께 도 5의 광 파이버의 굴절 방향 및 그 각도를 검측하는 원리를 도시하기 위한 도면이다.
도 14는 본 발명의 일 실시예에 따른 센서 시스템을 도시한 것이다. Figure 1 shows an optical fiber according to an aspect of the prior art.
Fig. 2 shows the wavelength spectrum of incident light and reflected light through the light entrance of the optical fiber of Fig. 1. Fig.
3 shows an optical fiber according to another form of the prior art.
4 illustrates a wavelength spectrum of reflected light output through a light inlet of the optical fiber of FIG. 3.
5 and 6 are side and front views, respectively, of an optical fiber according to an embodiment of the present invention.
FIG. 7 illustrates a state of use of the optical fiber of FIG. 5.
FIG. 8 illustrates a wavelength spectrum of reflected light output through a light inlet of the optical fiber of FIG. 5.
9 and 10 are diagrams for illustrating the principle of detecting the refraction position of the optical fiber of FIG.
11 and 12 are diagrams for illustrating the principle of detecting the degree of refraction of the optical fiber of FIG.
FIG. 13 is a diagram for illustrating a principle of detecting a refractive direction and an angle of the optical fiber of FIG. 5 together with FIGS. 5 and 7.
14 illustrates a sensor system according to one embodiment of the invention.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 설명한다. 본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 하나의 실시예로서 설명되는 것이며, 이것에 의해 본 발명의 기술적 사상과 그 핵심 구성 및 작용은 제한되지 않는다. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. Although the present invention has been described with reference to the embodiments shown in the drawings, this is described as one embodiment, whereby the technical spirit of the present invention and its core configuration and operation are not limited.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 광 파이버(100)의 측면도이고, 도 6은 도 5의 광 파이버(100)의 정면도이다. FIG. 5 is a side view of the
도 5 및 도 6을 참조하면, 광 파이버(100)는 소정 길이로 연장되는 클래딩(110)과, 클래딩(110)의 내부에서 클래딩(110)의 길이방향을 따라 연장되는 코어(120)를 포함한다. 클래딩(110)의 외주에는 클래딩(110)을 감싸는 버퍼(buffer)와 상기 버퍼를 감싸는 재킷(jacket)이 더 형성될 수 있으나, 본 실시예에서는 도시 생략하였다. 5 and 6, the
광 파이버(100)는 주로 실리카(silica, SiO2) 등의 유리 재질로 이루어진다. 클래딩(110)은 순수한 실리카, 코어(120)는 저마늄이 첨가된 실리카(Ge doped SiO2)로 이루어져 굴절률이 서로 다르게 된다. 광 파이버(100)의 양 단부에는 광원(미도시)으로부터 빛이 입사하는 광 입구(130)와, 코어(120)를 통과하여 빛이 출력되는 광 출구(140)가 형성된다. The
도 5에 도시된 바와 같이, 코어(120)에는 코어(120)의 길이방향을 따라 복수의 격자(g1, g2,... ga,... gn)가 형성된다. 복수의 격자(g1, g2,... ga,... gn)의 코어(120)의 굴절률과 상이하다. 한편, 복수의 격자(g1, g2,... ga,... gn) 각각의 굴절률을 서로 동일하다. As shown in FIG. 5, a plurality of gratings g 1 , g 2 ,... G a ,... G n are formed in the
복수의 격자(g1, g2,... ga,... gn)들은 서로 다른 간격(Λ1, Λ2,.. Λa,... Λn-1)으로 이격되어 배치된다. 본 실시예에 따르면 광 입구(130)에서 광 출구(140)로 갈수록 격자들 간의 간격(Λ1, Λ2,.. Λa,... Λn-1)이 일정한 함수로 증가한다. 본 실시예에 따르면 격자들 간의 간격(Λ1, Λ2,.. Λa,... Λn-1)은 일정한 비율로 점진적으로 증가한다. 본 실시예에 따르면, 격자들 간의 간격(Λ1, Λ2,.. Λa,... Λn-1)이 일정한 함수로 증가하지만, 필요에 따라서 격자들 간의 간격(Λ1, Λ2,.. Λa,... Λn-1)이 일정한 함수로 감소하도록 할 수도 있다는 것이 이해될 것이다. The plurality of gratings g 1 , g 2 , ... g a , ..., g n are spaced apart by different distances Λ 1 , Λ 2 , Λ a , ... Λ n-1 do. According to this embodiment, the spacing (Λ 1 , Λ 2 , ..., Λ a , ... Λ n-1 ) between the gratings increases from the
한편, 광 파이버(100)의 코어(120)는 수평축(x) 방향의 밀도가 수직축(y) 방향의 밀도보다 크다. 이러한 코어(120)의 수평축과 수직축 방향의 밀도 차이는 스트레스 강화부(160)에 의해 이루어진다. On the other hand, the
스트레스 강화부(160)는 클래딩(110)과 열팽창계수가 다른 물질을 클래딩(110)에 삽입하여 형성된 부분이다. 도 6에 도시된 바와 같이, 본 실시예에 따르면 두 개의 스트레스 강화부(160)가 코어(120)를 중심으로 광 파이버(100)의 수평축 상에 대칭으로 형성된다. The
광 파이버(100)에 스트레스 강화부(160)를 형성하는 과정을 설명한다. 먼저, 광 파이버(100)를 형성하기 위한 원통형의 모재에 스트레스 강화부(160)가 형성될 위치에 드릴링 가공을 하고 스트레스 강화부(160)의 재료를 삽입한다. 높은 온도에서 광섬유의 모재 제조 공정이 완료되고, 모재를 드로잉(drawing)하여 냉각시키면 광 파이버(100)가 형성된다. 이때, 클래딩(110)과 스트레스 강화부(160)의 열팽창계수의 차이로 인해 수평방향의 수축과 수직방향의 수축 정도에 차이가 일어나 코어(120)에서 한쪽 방향으로만 인장응력이 발생하게 된다. A process of forming the
본 실시예에 따르면, 두 개의 스트레스 강화부(160)가 코어(120)를 중심으로 광 파이버(100)의 수평축 상에 대칭으로 형성되고, 스트레스 강화부(160)로는 열 팽창계수가 클래딩(110)의 열팽창계수보다 작은 물질이 쓰인다. 이경우 수축시 스트레스 강화부(160)가 클래딩(110) 보다 덜 수축되며, 스트레스 강화부(160)는 코어(120)를 광 파이버(100)의 수평축 방향으로 압축한다. 이러한 구성에 의해, 광 파이버(100)의 코어(120)는 수평축(x) 방향의 밀도가 수직축(y) 방향의 밀도보다 커지게 된다. According to the present embodiment, the two stress-strengthening
광 파이버(100)의 코어(120)는 수평축(x) 방향의 밀도가 수직축(y) 방향의 밀도보다 커지게 되면서, 수평축(x) 방향의 굴절율이 수직축(y) 방향의 굴절율보다 커지게 된다. 또한, 코어(120)의 물성을 변화시켜 형성한 복수의 격자들의 수평축(x) 방향의 굴절율이 수직축(y) 방향의 굴절율보다 크다. In the
따라서, 코어(120)의 광 입구를 통해 입사되어 복수의 격자에 의한 간섭을 겪은 빛이 광 입구를 통해 다시 빠져나올 때 수평축(x) 방향으로 편광된 반사광과 수직축(y) 방향으로 편광된 반사광은 서로 파장차(△λ)를 가지게 된다. Therefore, when light incident through the light entrance of the
이하에서는, 도 7을 참조하여 본 실시예에 따른 광 파이버(100)의 반사광 특성을 더 구체적으로 설명한다. Hereinafter, the reflected light characteristic of the
광 파이버(100)의 광 입구(130)를 통해 빛이 입사하면 복수의 격자(g1, g2,... ga,... gn)에 의해 반사된 반사광이 광 입구(130)로 출력된다. A plurality of grid when light enters through the
앞서 설명한 바와 같이, 복수의 격자(g1, g2,... ga,... gn) 간의 간격은 일정한 비율로 증가하므로, 반사광의 파장 스펙트럼은 도 8에 도시된 바와 같이 넓은 대역대의 파장을 가지는 곡선(Cx, Cy)으로 표현된다. As described above, since the spacing between the plurality of gratings g 1 , g 2 ,... G a ,... G n increases at a constant rate, the wavelength spectrum of the reflected light has a wide band as shown in FIG. 8. It is represented by the curve (C x , C y ) having the wavelength of the band.
상기 [수학식 1]의 관계에 의해, 곡선(Cx, Cy)의 피크들은 각각 복수의 격자(g1, g2,... ga,... gn) 각각에 의한 반사광의 파장(λ1, λ2,... λa,...λn)을 나타낸다. The peaks of the curves C x and C y correspond to the peaks of the reflected light of each of the plurality of gratings g 1 , g 2 , ... g a , ..., g n , respectively, (? 1 ,? 2 , ...? A , ...? N ).
상술한 바와 같이, 코어(120)의 광 입구를 통해 출력되는 수평축(x) 방향으로 편광된 반사광과 수직축(y) 방향으로 편광된 반사광은 서로 파장차(△λ)가 발생한다. 따라서, 도 7에 도시된 바와 같이, 수평축(x) 방향으로 편광된 반사광과 수직축(y) 방향으로 편광된 반사광은 각각 서로 대역이 상이한 두 개의 곡선(Cx, Cy)으로 표시된다. 두 곡선(Cx, Cy)은 각각 독립적으로 복수의 격자(g1, g2,... ga,... gn) 각각에 의한 반사광의 파장을 나타낸다. 예를 들어, 곡선(Cx, Cy)에서 파장(λx1)과 파장(λy1)은 모두 격자(g1)에 의해 반사되는 반사광의 파장을 나타낸다. 파장(λx1)과 파장(λy1)은 △λ의 파장차를 가진다. As described above, the wavelength difference Δλ occurs between the reflected light polarized in the horizontal axis x direction and the reflected light polarized in the vertical axis y direction output through the light inlet of the
본 실시예에 따른 광 파이버(100)는 종래기술과 유사하게 복수의 격자(g1, g2,... ga,... gn) 사이의 간격이 증가 또는 감소함에 따라서 감지되는 파장 변화를 통해 굴절 상태를 검측한다. 광 파이버(100)의 중심이 광 파이버(100) 전체의 굴절 중심과 동일한 경우, 광 파이버(100) 중심을 기준으로 한 격자 간격은 그 변화 정도가 평균이 0이 되므로(광 파이버 중심을 기준으로 일 부분에서는 인접한 두 격자의 간격이 늘어나는 반면, 그 반대쪽 부분에서는 두 격자의 간격이 줄어들기 때문에 평균 간격의 변화는 실질적으로 0이 된다), 정확한 굴절 상태를 계산할 수 없다. The
따라서, 도 8에 도시된 바와 같이, 본 실시예에 따르면 코어(120)의 중심이 광 파이버(100) 전체의 굴절 중심과 이격되도록 한다. 광 파이버(100)의 중심이 실제 굴절 중심과 이격되도록 하는 방법으로는, 도 8에 도시된 바와 같이 광 파이버(100)의 중심이 광 파이버(100)가 적용되는 내시경 장비(150)의 중심(즉, 굴절 중심)과 다른 부분에 위치하도록 하는 방법이 있다. 또한, 광 파이버(100)의 바깥쪽에 가늘지만 강도가 좋은 지지심(미도시)을 부착하여, 상기 지지심이 광 파이버(100)의 굴절 중심이 되도록 함으로써 광 파이버(100)의 중심에 위치한 코어(110)의 중심이 굴절 중심과 이격되도록 할 수도 있을 것이다. Therefore, as shown in FIG. 8, according to the present embodiment, the center of the
광 파이버(100)의 중심이 실제 굴절 중심과 이격된 상태에서, 예를 들어 내시경 장비(150)가 방향 1(도 8)로 구부러지는 경우, 구부러진 부분에서 광 파이버(100)의 격자들은 실질적으로 모두 압축되어 격자 간의 간격이 감소하게 된다. With the center of the
이하에서는, 도 9 및 도 10을 참조하여 광 파이버(100)가 굴절된 위치를 검측하는 과정을 설명한다. Hereinafter, a process of detecting the position where the
상술한 바와 같이 본 실시예에 따른 광 파이버(100)는 굴절 상태를 파악하기 위하여 수평축(x) 방향으로 편광된 반사광과 수직축(y) 방향으로 편광된 반사광을 모두 이용하지만, 도 10에서는 설명의 편의를 위해 수평축(x) 방향으로 편광된 반사광의 파장 스펙터럼만을 도시하였다. 또한, 도 10에는 굴절이 발생하기 전 상태를 나타내는 곡선(Cbefore)과 굴절이 발생한 후를 나타내는 곡선(Cafter)을 동시에 도시하였다. As described above, the
광 파이버(100)가 굴절부분 1(도 9)에서 굴절되었다고 가정하면, 굴절부분 1에 위치하는 격자와 그와 인접한 격자 사이의 간격이 변화하게 된다(도 10은 굴절에 의해 굴절부분 1에서 격자 간격이 증가하는 방향으로 굴절된 경우이다). 이에 따라서, 굴절부분 1에 위치한 격자에 의한 반사광의 파장도 변화하게 된다. 결과적으로, 도 10에 도시된 바와 같이, 파장(λ1)에서의 빛의 크기(R)는 감소하고, 굴절부분 1에 위치한 격자에 의한 반사광의 파장 변화로 인해 파장(λ1) 인근 파장(변화된 반사광의 파장)의 빛의 세기가 증가하면서 피크(P1)가 발생하게 된다. Assuming that the
광 파이버(100)가 굴절부분 2에서 더 한번 굴절되는 경우, 도 10에 도시된 바와 같이, 굴절부분 2에 위치한 격자에 의한 반사광의 파장(λ2)이 옆쪽으로 이동하며 피크(P2)가 발생하게 된다. When the
본 실시예에 따르면 광 파이버(100)가 굴절되지 않은 상태에서의 복수의 격자 각각에 의한 반사광의 파장을 알고 있으므로, 상기한 원리를 역으로 이용하여 반사광의 파장 스펙트럼 중에서 반사광의 크기가 감소하는 파장을 검출하여 해당 파장의 반사광에 대응하는 격자의 위치를 검출할 수 있게 된다. 즉, 광 파이버(100)가 굴절하는 경우 파장 스펙트럼 변화를 통해 어느 격자가 위치한 부분에서 굴절이 발생하였는지 검출할 수 있는 것이다. According to the present embodiment, since the wavelength of the reflected light by each of the plurality of gratings in the state where the
이하에서는, 도 11 및 도 12를 참조하여 광 파이버(100)가 굴절된 정도를 검측하는 원리를 설명한다. Hereinafter, the principle of detecting the degree of refraction of the
도 12에는 설명의 편의를 위해 수평축(x) 방향으로 편광된 반사광의 파장 스펙터럼만을 도시하였다. 또한, 도 12에는 도 11(a)의 경우에 해당하는 파장 스펙트럼 곡선(R1)과, 도 11(b)의 경우에 해당하는 파장 스펙트럼 곡선(R2)를 동시에 도시하였다. 12 illustrates only a wavelength spectrum of reflected light polarized in the horizontal axis (x) direction for convenience of description. In addition, FIG. 12 simultaneously shows the wavelength spectral curve R1 corresponding to the case of FIG. 11A and the wavelength spectral curve R2 corresponding to the case of FIG. 11B.
도 11(a) 및 도 11(b)는 광 파이버(100)가 동일한 지점에서 굴절되었으나, 굴절 정도가 상이한 경우를 도시한 것이다. 도 11(a)가 도 11(b)에 비해 더 많이 굴절된 상태를 도시한다(즉, r1 < r2). 두 경우에, 도 12에 도시된 바와 같이, 곡선(R1)와 곡선(R2)은 거의 동일한 파장에서 피크가 발생하지만, 피크의 크기(R)가 서로 상이하게 형성되는 것을 확인할 수 있다. 따라서, 굴절에 의해 발생하는 피크의 크기를 분석하여 광 파이버(100)가 굴절된 정도를 검출할 수 있다. 11 (a) and 11 (b) show a case in which the
이하에서는, 도 5, 도 8 및 도 13을 참조하여 광 파이버(100)가 굴절된 방향 및 그 각도를 검출하는 원리를 설명한다. Hereinafter, the principle of detecting the direction and the angle at which the
광 파이버(100)가 도 5의 격자(ga) 위치에서, 도 8의 방향 3으로 굴절되는 경우, 격자(ga)와 그와 인접한 격자의 x축 방향 간격(Λx) 및 y축 방향 간격(Λy)이 모두 증가하게 된다. The
격자의 x축 방향 간격(Λx)이 증가함에 따라서 격자(ga)에 의한 반사광의 파장(λax)도 증가한다. 따라서, 도 13(a)에 도시된 바와 같이, 파장 스펙트럼 곡선에서 파장(λax)을 가지는 빛의 크기가 감소하여 파장(λax)에서 R값이 감소하고, 파장(λax) 보다 우측에 위치한 파장(λax+△λx)에서 피크(P1x)가 발생한다. The increase in wavelength (λ ax) of the reflected light by the grating (g a) As the x-direction spacing of the lattice (Λ x) is increased. Therefore, even on the right side than the 13 (a), the reduction in size of the light having a wavelength (λ ax) at a wavelength spectrum curve to the R value is decreased at a wavelength (λ ax) and wavelength (λ ax) as shown in The peak P 1x occurs at the located wavelength λ ax + Δλ x .
한편, 격자의 y축 방향 간격(Λy)이 증가함에 따라서 격자(ga)에 의한 반사광의 파장(λay)도 증가한다. 따라서, 도 13(b)에 도시된 바와 같이, 파장 스펙트럼 곡선에서 파장(λay)을 가지는 빛의 크기가 감소하여 파장(λay)에서 R값이 감소하고, 파장(λay) 보다 우측에 위치한 파장(λay+△λy)에서 피크(P1y)가 발생한다. On the other hand, increases the wavelength (λ ay) of the reflected light by the grating (g a) As the y-axis direction interval between gratings (Λ y) is increased. Accordingly, on the right side than Fig. 13 (b), the reduction in size of the light having a wavelength (λ ay) at a wavelength spectrum curve to the R value is decreased at a wavelength (λ ay), and the wavelength (λ ay) as shown in The peak P 1y occurs at the located wavelength λ ay + Δλ y .
이와 다르게, 광 파이버(100)가 도 7의 방향 2로 굴절되는 경우, 격자(ga)와 그와 인접한 격자의 x축 방향 간격(Λx)은 증가하고, y축 방향 간격(Λy)은 감소하게 된다. Alternatively, if the
이 경우, x축 방향 간격(Λx)의 증가에 의해 곡선(Cx)에서 피크(P1x)는 파장(λax) 보다 우측에서 발생하고, y축 방향 간격(Λy)의 감소에 의해 곡선(Cy)에서는 피크(P1y)는 파장(λay) 보다 좌측에서 발생하게 될 것이다. With this case, the decrease in the curve (C x) peak (P 1x) occurs on the right side than the wavelength (λ ax) and, y-axis direction interval (Λ y) on the by the increase of the x-axis direction interval (Λ x) In the curve (C y ), the peak (P 1y ) will be generated on the left side of the wavelength (λ ay ).
도 8을 참조하여 광 파이버(100)가 굴절하는 경우에 따라 발생하는 현상을 정리하면 아래 표와 같다.
Referring to FIG. 8, the phenomenon occurring when the
-> 피크(P1x)가 기준 파장보다 좌측에 발생Decrease the x-axis direction spacing (Λ x )
-> peak (P 1x ) occurs to the left of the reference wavelength
-> 피크(P1y)가 기준 파장보다 좌측에 발생Reduce the y-axis direction spacing (Λ y )
-> peak (P 1y ) occurs to the left of the
-> 피크(P1x)가 기준 파장보다 우측에 발생Increase in x-axis direction (Λ x )
-> peak (P 1x ) occurs to the right of the reference wavelength
-> 피크(P1y)가 기준 파장보다 좌측에 발생Reduce the y-axis direction spacing (Λ y )
-> peak (P 1y ) occurs to the left of the
-> 피크(P1x)가 기준 파장보다 우측에 발생Increase in x-axis direction (Λ x )
-> peak (P 1x ) occurs to the right of the reference wavelength
-> 피크(P1y)가 기준 파장보다 우측에 발생Increase in y-direction spacing (Λ y )
-> peak (P 1y ) occurs to the right of the
-> 피크(P1x)가 기준 파장보다 좌측에 발생Decrease the x-axis direction spacing (Λ x )
-> peak (P 1x ) occurs to the left of the reference wavelength
-> 피크(P1y)가 기준 파장보다 우측에 발생Increase in y-direction spacing (Λ y )
-> peak (P 1y ) occurs to the right of the reference wavelength
파장 스펙트럼 곡선(Cx, Cy)이 어떠한 형태로 변화하는지를 분석하여 광 파이버(100)가 굴절된 방향을 알 수 있게 된다. It is possible to determine the direction in which the
나아가, 광 파이버(100)가 굴절된 각도도 계산할 수 있다.Furthermore, the angle at which the
다시 도 13을 참조하면, 곡선(Cx)에서 △λx를 상기 [수학식 1]에 대입하면 광 파이버(100)가 굴절되기 전 상태에서의 격자(ga)의 원위치에서 격자(ga)가 x 축 방향으로 얼만큼 이동하였는지를 계산할 수 있다. 동일하게, 곡선(Cy)에서 △λy를 상기 [수학식 1]에 대입하면 격자(ga)가 원위치에서 y 축 방향으로 얼만큼 이동하였는지도 계산할 수 있다. 격자(ga)의 x축 및 y축에 대한 변위를 알 수 있으므로, 격자(ga)가 회전한 각도를 계산해 낼 수 있다. Referring to FIG. 13 again, substituting Δλ x in [Equation 1] in the curve C x at the original position of the grating g a in a state before the
상술한 원리에 의해 본 실시예에 따른 광 파이버(100)는 하나의 파이버를 이용해 굴절된 위치뿐만 아니라, 굴절된 방향 및 그 각도를 모두 측정할 수 있다. 따라서, 굴절된 방향 및 그 각도를 측정하기 위해서 적어도 세 가닥을 묶어 사용해야 하는 종래기술에 따른 광 파이버(도 3 참조)에 비해 매우 우수한 공간 특성을 가진다.The
또한, 본 실시예에 따른 광 파이버(100)는 복수의 격자들이 비교적 촘촘히 배치되므로 종래기술에 따른 광 파이버에 형성되는 "데드 존"이 거의 존재하지 않는다. In addition, in the
또한, 본 실시예에 따른 광 파이버(100)에 의하면 검출되는 굴절 위치의 해상도(Resolution)가 종래 기술에 따른 광 파이버에 비해 대폭 향상 가능하다는 것을 확인하였다. In addition, according to the
위와 같은 우수한 효과로 인해, 본 실시예에 따른 광 파이버(100)는 내시경 장비(150)와 같이 좁은 공간에서 이용되는 장비의 굴절 상태를 센싱하는 센서로 유용하게 이용될 수 있다. 도 14는 본 발명의 일 실시예에 따른 센서 시스템을 도시한 것이다. Due to the excellent effect as described above, the
본 실시예에 따르면, 센서 시스템은 광 파이버(100), 광 파이버(100)에 빛을 조사하는 광원(200) 및 광 파이버(100)로부터 출력되는 반사광을 분석하는 광 분석기(210)를 포함한다. According to the present embodiment, the sensor system includes an
광 파이버(100)로부터 출력되는 반사광 중에서 수평축 방향으로 편광된 반사광과 수직축으로 편광된 반사광을 추출하는 것도 가능하지만, 본 센서 시스템에서는 동작의 간소화를 위해 광원(200)으로부터 출력되는 빛을 편광 제어기(240)로 통과시켜 수평축 방향으로 편광된 입사광과 수직축으로 편광된 입사광만을 추출한다.Although it is possible to extract the reflected light polarized in the horizontal axis direction and the reflected light polarized in the vertical axis from the reflected light output from the
따라서, 광 파이버(100)에는 수평축 방향으로 편광된 입사광과 수직축으로 편광된 입사광이 입사되며, 편광된 입사광들은 각각 수평축 방향으로 편광된 반사광과 수직축으로 편광된 반사광으로 출력된다. 출력된 반사광은 분배기(230)를 거쳐 광 분석기(210)로 보내진다. 광 분석기(210)는 수집된 수평축 방향으로 편광된 반사광과 수직축으로 편광된 반사광의 파장 스펙트럼을 실시간으로 분석하여 광 파이버(100)의 굴절 상태를 분석한다. Accordingly, incident light polarized in the horizontal axis direction and incident light polarized in the vertical axis are incident on the
Claims (8)
상기 클래딩의 내부에서 상기 클래딩의 길이방향을 따라 연장되는 코어를 포함하고,
상기 코어 내부에는 상기 코어와 굴절률이 상이하고, 상기 코어를 통과하는 빛의 경로를 간섭하도록 상기 코어의 길이방향을 따라 배치되는 복수의 격자가 형성되며,
상기 복수의 격자는 각각 서로 다른 간격으로 배치되고,
상기 코어의 광 입구로 빛이 조사되면, 상기 코어를 통과하는 상기 빛의 일부가 상기 복수의 격자에 의해 반사되어 상기 광 입구를 통해 출력되며,
상기 광 입구를 통해 출력되는 반사광은 서로 다른 방향으로 편광된 제1반사광 및 제2반사광을 포함하고, 상기 제1반사광과 상기 제2반사광은 서로 다른 대역의 파장 스펙트럼을 형성하는 것을 특징으로 하는 광 파이버. A cladding extending to a predetermined length,
A core extending along the longitudinal direction of the cladding within the cladding,
In the core, a plurality of gratings are formed that are different in refractive index from the core and are disposed along the longitudinal direction of the core to interfere with a path of light passing through the core.
Wherein the plurality of gratings are disposed at mutually different intervals,
When light is irradiated to the light inlet of the core, a portion of the light passing through the core is reflected by the plurality of gratings and output through the light inlet,
The reflected light output through the light inlet includes first and second reflected light polarized in different directions, and the first and second reflected light form a wavelength spectrum of different bands. Fiber.
상기 복수의 격자의 간격은 상기 광 입구로부터 광 출구로 갈수록 일정한 함수로 증가 또는 감소하는 것을 특징으로 하는 광 파이버.The method of claim 1,
And the spacing of the plurality of gratings increases or decreases in a constant function from the light inlet to the light outlet.
상기 제1반사광은 상기 코어의 수평축 방향으로 편광된 반사광이고,
상기 제2반사광은 상기 코어의 수직축 방향으로 편광된 반사광이며,
상기 코어는 상기 수평축 방향의 밀도와 상기 수직축 방향의 밀도가 서로 상이하여, 상기 제1반사광과 상기 제2반사광의 파장차가 발생하는 것을 특징으로 하는 광 파이버.The method of claim 1,
The first reflected light is reflected light polarized in the horizontal axis direction of the core,
The second reflected light is reflected light polarized in the vertical axis direction of the core,
The core has a density in the horizontal axis direction and a density in the vertical axis direction different from each other, so that a wavelength difference between the first reflected light and the second reflected light occurs.
상기 광 파이버의 광 입구에 빛을 조사하는 광원;
상기 광 파이버의 광 입구로부터 출력되는 반사광의 파장을 분석하는 광 분석기를 포함하고,
상기 코어의 중심은 상기 광 파이버가 이용된 센서 전체의 굴절 중심과 이격되어 배치되고,
상기 센서가 굴절하는 경우, 상기 광 분석기는 상기 제1반사광과 상기 제2반사광의 파장 스펙트럼의 변화를 검출하여 굴절된 위치 및 방향을 검출하는 것을 특징으로 센서 시스템.Claims 1 to 3 of the optical fiber of any one of;
A light source for irradiating light to the light inlet of the optical fiber;
An optical analyzer for analyzing a wavelength of reflected light output from the light inlet of the optical fiber,
The center of the core is disposed spaced apart from the center of refraction of the entire sensor using the optical fiber,
And when the sensor is refracted, the optical analyzer detects a refraction position and direction by detecting a change in a wavelength spectrum of the first and second reflected light.
상기 광 분석기는 상기 제1반사광과 상기 제2반사광의 파장 스펙트럼의 변화를 검출하여 굴절된 방향의 각도를 더 검출하는 것을 특징으로 하는 센서 시스템.5. The method of claim 4,
And the optical analyzer further detects a change in the wavelength spectrum of the first reflected light and the second reflected light to further detect an angle in the refracted direction.
상기 광 분석기는 상기 제1반사광과 상기 제2반사광의 파장 스펙트럼의 변화를 검출하여 굴절된 곡률을 더 검출하는 것을 특징으로 하는 센서 시스템.The method of claim 5,
And the optical analyzer further detects a curvature of refraction by detecting a change in a wavelength spectrum of the first reflected light and the second reflected light.
상기 광 파이버의 광 입구에 빛을 조사하는 단계;
상기 광 입구로부터 출력되는 제1반사광 및 제2반사광을 수집하는 단계;
상기 제1반사광 및 제2반사광의 파장 스펙트럼을 계산하는 단계;
상기 제1반사광 및 제2반사광의 파장 스펙트럼의 변화를 분석하는 단계;
상기 제1반사광과 상기 제2반사광의 파장 스펙트럼의 변화가 있는 경우 변화량을 계산하여 상기 광 파이버가 굴절된 위치 및 방향을 검출 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법. A method of detecting the refractive state of the optical fiber using the sensor system of claim 4,
Irradiating light onto a light inlet of the optical fiber;
Collecting the first reflected light and the second reflected light output from the light inlet;
Calculating a wavelength spectrum of the first reflected light and the second reflected light;
Analyzing a change in the wavelength spectrum of the first and second reflected light;
And detecting a position and a direction in which the optical fiber is refracted by calculating a change amount when there is a change in the wavelength spectrum of the first reflected light and the second reflected light.
상기 제1반사광과 상기 제2반사광의 파장 스펙트럼의 변화가 있는 경우 변화량을 계산하여 상기 광 파이버가 굴절된 방향의 각도 및 곡률을 검출하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법. The method of claim 7, wherein
And calculating an amount of change when there is a change in the wavelength spectrum of the first reflected light and the second reflected light to detect an angle and curvature in the direction in which the optical fiber is refracted.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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---|---|
KR20130120206A KR20130120206A (en) | 2013-11-04 |
KR101343954B1 true KR101343954B1 (en) | 2013-12-24 |
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---|---|---|---|
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Country Status (1)
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102186972B1 (en) * | 2019-08-26 | 2020-12-04 | 한국전력공사 | Sensor for simultaneous measurement of temperature and strain comprising long period fiber grating inscribed on polarization maintaining photonic crystal fiber and method for simultaneously measuring temperature and strain using the same |
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---|---|---|---|---|
KR101862131B1 (en) | 2016-06-08 | 2018-05-30 | 한국과학기술연구원 | Motion capture system using a FBG sensor |
CN114322806A (en) * | 2020-10-09 | 2022-04-12 | 飞巽传感技术(上海)有限公司 | Bending sensor, method and system for manufacturing the same, and bending detection method |
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JP2006172339A (en) | 2004-12-20 | 2006-06-29 | Comsec:Kk | Intrusion detection sensor and intrusion detection system |
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KR20130120206A (en) | 2013-11-04 |
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