KR101338490B1 - 펨토셀을 이용한 매크로셀의 품질 측정 시스템 및 방법 - Google Patents

펨토셀을 이용한 매크로셀의 품질 측정 시스템 및 방법 Download PDF

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Abstract

품질 측정 시스템이 펨토셀 게이트웨이, 펨토셀 기지국 및 품질 측정 서버를 포함하고, 펨토셀 게이트웨이가 펨토셀 기지국 및 품질 측정 서버와 연동할 때 품질 측정 시스템이 펨토셀 기지국이 포함된 매크로셀의 품질을 측정하기 위하여, 품질 측정 서버가 항목에 따른 임계값, 매크로셀 식별 정보 및 보고 주기 정보를 포함하는 이벤트 정보를 생성하여 펨토셀 게이트웨이로 전송한다. 펨토셀 게이트웨이가 매크로셀 식별 정보를 토대로 펨토셀 기지국에 이벤트 정보를 전송하면, 펨토셀 기지국이 이벤트 식별 정보를 토대로 임계값 범위 및 보고 주기를 설정한다.
그리고 펨토셀 기지국이 매크로셀 품질 정보를 수집하면, 수집한 매크로셀 품질 정보가 미리 설정한 임계값 범위를 초과하는지 판단하고, 매크로셀 품질 정보가 임계값 범위를 초과하면, 설정한 보고 주기를 토대로 수집한 매크로셀 품질 정보를 펨토셀 게이트웨이를 통해 품질 측정 서버로 전송한다.

Description

펨토셀을 이용한 매크로셀의 품질 측정 시스템 및 방법{System and method for measuring of macro cell quality using femto cell}
본 발명은 펨토셀을 이용한 매크로셀의 품질 측정 시스템 및 방법에 관한 것이다.
최근 휴대 전화의 보급에 의한 옥내에서의 음성 통신이나 데이터 통신의 증대에 따라, 옥내에 설치되는 가정용 기지국 개발이 추구되었다. 가정용 기지국에 의해 커버되는 범위는 옥외에 설치되는 기지국에 비해 상당히 작기 때문에, 펨토셀(femto cell)이라 불리고, 옥외 설치된 기지국에 의해 커버되는 범위를 매크로셀(macro cell)이라 부른다.
이렇게 매크로셀과 펨토셀이 혼합되어 있는 통신 환경에서, 매크로셀의 품질은 매크로셀의 품질 및 장애를 관리하는 품질 측정 장치가 수행하고, 펨토셀에 대한 품질은 펨토셀의 품질 및 장애를 관리하는 품질 측정 장치가 수행한다. 이와 같은 경우, 각각의 셀에 대한 품질을 측정하기 위한 품질 측정 장치가 별도로 마련되어야 하고, 그에 따른 비용도 증가하는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명은 펨토셀을 활용하여 매크로셀의 품질 및 장애를 관리하는 품질 측정 시스템 및 방법을 제공한다.
상기 본 발명의 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 하나의 특징인 펨토셀을 이용하여 매크로셀의 품질을 측정하는 시스템은,
매크로셀 영역에 위치하며 상기 매크로셀의 식별 정보 및 품질 정보를 측정하는 펨토셀 기지국; 및 상기 펨토셀 기지국 및 상기 매크로셀의 품질 정보를 확인하는 품질 측정 서버와 연동하며, 상기 펨토셀 기지국이 측정한 상기 매크로셀의 품질 정보를 상기 품질 측정 서버로 전달하고, 상기 품질 측정 서버가 설정한 이벤트 정보를 상기 펨토셀 기지국으로 전달하는 펨토셀 게이트웨이를 포함한다.
상기 본 발명의 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 또 다른 특징인 펨토셀 기지국과 상기 펨토셀 기지국이 연동한 펨토셀 게이트웨이를 통해 매크로셀의 품질을 측정하는 시스템은,
상기 펨토셀 기지국이 매크로셀에 대해 측정하는 품질 측정 항목별로 임계값을 설정하고, 임의의 매크로셀에 대한 품질 측정이 요구되면 상기 매크로셀의 식별자 정보를 확인하는 임계값 설정부; 상기 측정한 품질 측정 항목이 상기 임계값 범위를 초과하면, 상기 펨토셀 기지국이 매크로셀의 품질 정보를 전송할 보고 주기를 설정하는 주기 설정부; 상기 임계값 설정부가 설정한 임계값과 확인한 상기 매크로셀의 식별자 정보 및 상기 주기 설정부가 설정한 보고 주기를 포함하는 이벤트 정보를 생성하여 상기 펨토셀 게이트웨이로 전송하는 상기 이벤트 정보 전송부; 및 상기 펨토셀 게이트웨이로부터 전송되는 매크로셀에 대한 품질 정보를 수신하여 확인하는 품질 정보 확인부를 포함한다.
상기 본 발명의 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 또 다른 특징인 품질 측정 시스템이 펨토셀 기지국이 포함된 매크로셀의 품질을 측정하는 방법은,
상기 품질 측정 시스템은 펨토셀 게이트웨이, 펨토셀 기지국 및 품질 측정 서버를 포함하고, 상기 펨토셀 게이트웨이가 펨토셀 기지국 및 상기 품질 측정 서버와 연동하며, 품질 측정 서버가 항목에 따른 임계값, 매크로셀 식별 정보 및 보고 주기 정보를 포함하는 이벤트 정보를 생성하여 상기 펨토셀 게이트웨이로 전송하는 단계; 상기 펨토셀 게이트웨이가 상기 매크로셀 식별 정보를 토대로 상기 펨토셀 기지국에 상기 이벤트 정보를 전송하는 단계; 상기 펨토셀 기지국이 상기 이벤트 식별 정보를 토대로 임계값 범위 및 보고 주기를 설정하는 단계; 상기 펨토셀 기지국이 매크로셀 품질 정보를 수집하면, 상기 수집한 매크로셀 품질 정보가 미리 설정한 임계값 범위를 초과하는지 판단하는 단계; 및 상기 매크로셀 품질 정보가 상기 임계값 범위를 초과하면, 상기 설정한 보고 주기를 토대로 상기 수집한 매크로셀 품질 정보를 상기 펨토셀 게이트웨이를 통해 상기 품질 측정 서버로 전송하는 단계를 포함한다.
본 발명의 실시예에 따르면, 펨토셀을 활용하여 매크로셀의 품질 및 장애를 관리하기 때문에, 장애 관리를 위한 별도의 비용이 요구되지 않아 비용을 절감할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 통신 환경을 나타낸 예시도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 펨토셀 기지국의 구조도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 펨토셀 게이트웨이의 구조도이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 품질 측정 서버의 구조도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 펨토셀을 이용하여 매크로셀의 품질을 관리하는 방법을 나타낸 흐름도이다.
아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
본 명세서에서 단말(terminal)은, 이동국(Mobile Station, MS), 이동 단말(Mobile Terminal, MT), 가입자국(Subscriber Station, SS), 휴대 가입자국(Portable Subscriber Station, PSS), 사용자 장치(User Equipment, UE), 접근 단말(Access Terminal, AT) 등을 지칭할 수도 있고, 이동 단말, 가입자국, 휴대 가입자 국, 사용자 장치 등의 전부 또는 일부의 기능을 포함할 수도 있다.
본 명세서에서 기지국(Base Station, BS)은 접근점(Access Point, AP), 무선 접근국(Radio Access Station, RAS), 노드B(Node B), 송수신 기지국(Base Transceiver Station, BTS), MMR(Mobile Multihop Relay)-BS 등을 지칭할 수도 있고, 접근점, 무선 접근국, 노드B, 송수신 기지국, MMR-BS 등의 전부 또는 일부의 기능을 포함할 수도 있다.
이하 도면을 참조로 하여 본 발명의 실시예에 따른 펨토셀을 이용하여 매크로셀의 품질을 측정하는 장치 및 방법에 대하여 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 통신 환경을 나타낸 예시도이다.
도 1에 도시한 바와 같이, 매크로셀 기지국(100)의 영역 내에 하나 이상의 펨토셀 기지국(200, 200')이 위치하여 펨토셀 영역이 생성된다. 그리고, 하나 이상의 펨토셀 기지국(200, 200')은 게이트웨이와 연결되어 있으며 이렇게 연결되어 있는 게이트웨이를 펨토셀 게이트웨이(300)라 지칭한다. 펨토셀 게이트웨이(300)는 품질 측정 서버(400)와 연동하며, 품질 측정 서버(400)는 펨토셀의 품질 및 장애뿐만 아니라 펨토셀이 위치한 매크로셀의 품질 및 장애도 펨토셀을 이용하여 측정한다.
이러한 통신 환경에서의 펨토셀 기지국(200), 펨토셀 게이트웨이(300) 및 품질 측정 서버(400)의 구조에 대하여 도 2 내지 도 4를 참조로 설명하기로 한다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 펨토셀 기지국의 구조도이고, 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 펨토셀 게이트웨이의 구조도이다. 또한, 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 품질 측정 서버의 구조도이다.
먼저 펨토셀 기지국(200)의 구조에 대해 설명하면, 도 2에 도시된 바와 같이 본 발명의 실시예에 따른 펨토셀 기지국(200)은 매크로셀 정보 수집부(210), 매크로셀 품질 측정부(220), 정보 전송부(230), 이벤트 정보 수신부(240), 이벤트 정보 설정부(250) 및 주기 설정부(260)를 포함한다. 이 외에도 펨토셀 기지국(200)은 기지국의 기본적인 기능을 수행하기 위한 구성 요소를 포함하며, 이러한 구성 요소는 이미 알려진 사항으로 본 발명의 실시예에서는 이에 대한 설명을 생략하기로 한다.
매크로셀 정보 수집부(210)는 펨토셀 기지국(200)이 위치한 곳에서 인접한 매크로셀로부터 매크로셀 식별을 수집한다. 수집한 매크로셀 식별 정보에 펨토셀 식별 정보를 포함하여 매크로셀 품질 측정부(220) 및 정보 전송부(230)로 전달한다.
매크로셀 품질 측정부(220)는 매크로셀 정보 수집부(210)가 수집한 매크로셀 식별에 대응하는 매크로셀의 품질을 측정하고, 측정한 품질이 미리 설정한 임계값을 벗어나는지 확인한다. 이때, 이벤트 정보 설정부(250)에 특정 매크로셀 식별 정보에 대응되는 매크로셀의 품질을 측정하도록 설정되어 있다면, 매크로셀 정보 수집부(210)가 수집한 매크로셀 식별과 이벤트 정보 설정부(250)에 설정되어 있는 매크로셀 식별 정보가 동일한지 확인한다.
그리고, 매크로셀 품질 측정부(220)는 두 식별 정보가 동일할 경우 해당 매크로셀에 대한 품질을 측정한다. 그러나, 이벤트 정보 설정부(250)에 특정 매크로셀 식별 정보가 설정되어 있지 않다면, 펨토셀 기지국(200)이 위치한 곳에서 인접한 모든 매크로셀에 대한 품질을 측정한다. 이때, 매크로셀의 품질을 측정하는 방법은 일반적인 셀의 품질을 측정하는 방법으로부터 충분히 예측 가능하므로, 본 발명의 실시예에서는 매크로셀의 품질을 측정하는 절차에 대해서는 생략하기로 한다.
정보 전송부(230)는 매크로셀 품질 측정부(220)가 측정한 매크로셀의 품질 정보가 미리 설정된 임계값 범위를 벗어난 경우, 해당 품질 정보를 펨토셀 게이트웨이(300)로 전송한다. 즉, 임계값은 하한값과 상한값으로 구분되며, 측정한 매크로셀의 품질이 하한값보다 낮거나 상한값보다 높을 경우, 품질 정보를 펨토셀 게이트웨이(300)로 전송한다. 정보 전송부(230)가 정보를 전송할 때, 주기 설정부(260)에서 설정한 주기에 따라 전송한다. 또한 정보 전송부(230)는 매크로셀 정보 수집부(210)가 수집한 매크로셀 식별 정보를 펨토셀 게이트웨이(300)의 셀 정보 저장부(340)로 전송한다.
이벤트 정보 수신부(240)는 펨토셀 게이트웨이(300)로부터 전송되는 이벤트 정보를 수신한다. 이벤트 정보에는 이벤트별 임계값 및 품질 정보를 전송하는 주기 정보가 포함되어 있다. 또한, 특정 매크로셀에 대한 품질 정보만 수집하도록 설정되어 있을 경우, 해당 매크로셀의 식별 정보가 포함될 수도 있다.
이벤트 정보 설정부(250)는 이벤트 정보 내에 포함되어 매크로셀의 식별 정보와 측정 항목에 따른 임계값 정보를 설정한다. 그리고 주기 설정부(260)는 이벤트 정보 내에 포함되어 있는 주기에 따라 타이머를 동작시킨다. 이때 타이머는 주기 설정부(260)에 포함될 수도 있고, 주기 설정부(260) 외부에 별도로 설치될 수도 있다. 그리고 측정 항목은 매크로셀의 수신 신호 세기(RSRP: Rsference Signal Received Power) 및 신호 대 간섭 및 잡음비(SINR: Signal-to-Interface plus Noise Ratio)를 예로 하여 설명하나, 반드시 이와 같이 한정되는 것은 아니다.
한편, 펨토셀 기지국(200)과 연동하여 펨토셀 기지국(200)으로 이벤트 정보를 전송하고, 펨토셀 기지국(200)이 측정한 매크로셀의 품질 정보를 수신하는 펨토셀 게이트웨이(300)는 도 3에 도시한 바와 같이 이벤트 정보 수신부(310), 셀 식별 확인부(320), 이벤트 정보 송신부(330), 셀 정보 저장부(340) 및 정보 송수신부(350)를 포함한다.
이벤트 정보 수신부(310)는 품질 측정 서버(400)로부터 전송되는 이벤트 정보를 수신한다.
셀 식별 확인부(320)는 이벤트 정보 수신부(310)가 수신한 이벤트 정보 내에 매크로셀에 대한 식별 정보가 특화되어 저장되어 있는지 확인한다. 만약 임의의 매크로셀 식별 정보가 포함되어 있다면, 셀 식별 확인부(320)는 해당 셀 식별에 대한 매크로셀 품질을 측정할 수 있는 펨토셀 기지국이 있는지 여부를 확인한다.
이는 셀 정보 저장부(340)에 저장되어 있는 매크로셀 식별 정보와 펨토셀 식별 정보를 포함하는 토대로 확인할 수 있다. 즉, 셀 정보 저장부(340)는 펨토셀 기지국(200)으로부터 미리 설정된 시간 주기로 펨토셀 기지국(200)이 통신할 수 있는 인접한 매크로셀 식별 정보를 수집하고 매크로셀 식별 정보와 펨토셀 식별 정보가 대응되도록 생성된 통신 가능 셀 정보를 정보 전송부(230)로부터 수신하면, 이를 저장한다.
그리고 셀 식별 확인부(320)가 매크로셀 품질을 측정할 수 있는 펨토셀 기지국이 있는지 여부를 확인할 때, 셀 정보 저장부(340)에 저장되어 있는 통신 가능 셀 정보를 토대로 이벤트 정보에 포함되어 있는 매크로셀의 품질을 측정할 수 있는 펨토셀 기지국의 식별 정보가 포함되어 있는지 여부를 확인하게 된다.
이벤트 정보 송신부(330)는 이벤트 정보 수신부(310)가 수신한 이벤트 정보를 펨토셀 기지국(200)으로 전송한다. 만약 이벤트 정보에 특정 매크로셀 식별 정보가 포함되어 있고, 해당 매크로셀의 품질을 측정할 수 있는 펨토셀 기지국이 펨토셀 게이트웨이(300)에 연결되어 있는 것으로 확인하면, 이벤트 정보 송신부(330)는 해당 펨토셀 기지국으로 이벤트 정보를 전송한다.
그러나, 이벤트 정보에 특정 매크로셀 식별 정보가 포함되어 있지 않을 경우, 또는 특정 매크로셀 식별 정보가 포함되어 있으나 해당 매크로셀의 품질을 측정할 수 있는 펨토셀 기지국이 연결되어 있지 않은 것으로 확인하면, 이벤트 정보 송신부(330)는 펨토셀 게이트웨이(300)에 연결되어 있는 모든 펨토셀 기지국으로 이벤트 정보를 전송한다.
정보 송수신부(350)는 펨토셀 기지국(200)의 정보 전송부(230)로부터 주기적으로 전송되는 매크로셀의 품질 정보를 수신한다. 그리고 수신한 품질 정보를 품질 측정 서버(400)로 전달한다.
한편 펨토셀 게이트웨이(300)와 연동하여 매크로셀의 품질을 측정하는 품질 측정 서버(400)는 도 4에 도시한 바와 같이 품질 정보 확인부와 이벤트 정보 생성부를 포함하며, 품질 정보 확인부는 정보 수신부(410) 및 매크로셀 품질 확인부(420)를 포함하고, 이벤트 정보 생성부는 임계값 설정부(430), 주기 설정부(440) 및 이벤트 정보 전송부(450)를 포함한다.
정보 수신부(410)는 펨토셀 게이트웨이(300)의 정보 송수신부(350)로부터 전달받은 매크로셀의 품질 정보를 수신한다.
매크로셀 품질 확인부(420)는 정보 수신부(410)가 수신한 매크로셀의 품질 정보를 확인하고, 품질 정보를 토대로 해당 매크로셀에 장애가 발생하였거나 기타의 이유로 망의 관리가 필요하다고 판단하면, 망 관리자와 같은 관리 시스템으로 해당 사항을 알린다. 이때, 품질 정보를 토대로 해당 망의 관리 여부를 판단하거나 이를 관리 시스템으로 알리는 방법은 이미 알려진 사항으로, 본 발명의 실시예에서는 상세한 설명을 생략하기로 한다.
임계값 설정부(430)는 측정 항목별로 임계값을 설정하여 임계값 정보를 생성한다. 이때 임계값은 상한값과 하한값으로 구분짓는다. 그리고 본 발명의 실시예에서는 항목의 종류로 매크로셀의 수신 신호 세기(RSRP: Rsference Signal Received Power) 및 신호 대 간섭 및 잡음비(SINR: Signal-to-Interface plus Noise Ratio)를 예로 하여 설명하나, 반드시 이와 같이 한정되는 것은 아니다. 이때 수신 신호 세기는 펨토셀 기지국이 매크로셀 기지국으로부터 수신한 신호 세기를 의미하며, 신호 대 간섭 및 잡음비는 매크로셀이 펨토셀로부터 받은 간섭 및 잡음의 정도를 의미한다.
주기 설정부(440)는 펨토셀 기지국(200)의 매크로셀 품질 측정부(220)가 측정한 매크로셀의 품질이 임계값 설정부(430)에서 설정한 임계값의 범위를 벗어날 경우, 정보 전송부(230)가 품질 정보를 펨토셀 게이트웨이(300)를 통해 품질 측정 서버(400)로 보고할 보고 주기를 설정하여 주기 정보를 생성한다. 이때 보고 주기는 항목별로 달리 설정할 수도 있고 동일한 주기로 보고되도록 설정할 수도 있다.
이벤트 정보 전송부(450)는 임계값 설정부(430)에서 생성한 이벤트별 임계값 정보와 주기 설정부(440)에서 생성한 주기 정보를 포함하는 이벤트 정보를 생성하여 펨토셀 게이트웨이(300)의 이벤트 정보 수신부(310)로 전송한다.
이상에서 설명한 통신 환경에서, 펨토셀을 이용하여 매크로셀의 품질을 관리하는 방법에 대하여 도 5를 참조로 설명하기로 한다. 도 5에서는 설명의 편의를 위하여 특정 매크로셀에 대한 품질을 측정하고, 해당 매크로셀에 인접해 있는 펨토셀 기지국이 존재한다고 가정하여 설명한다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 펨토셀을 이용하여 매크로셀의 품질을 관리하는 방법을 나타낸 흐름도이다.
도 5에 도시된 바와 같이, 펨토셀 기지국(200)의 매크로셀 정보 수집부(210)는 펨토셀 기지국에 인접해 있는 매크로셀 기지국의 매크로셀 식별 정보를 수집한다(S10). 그리고 수집한 매크로셀 식별 정보에 펨토셀 식별 정보를 포함하여 정보 전송부(230)는 매크로셀 식별 정보를 펨토셀 게이트웨이(300)로 전송한다(S11).
매크로셀 식별 정보를 수신한 펨토셀 게이트웨이(300)의 셀 정보 저장부(340)는 셀 정보를 저장한다(S12). S10 내지 S12 단계는 미리 설정한 주기로 수행되며, 이는 펨토셀 기지국에 어떤 매크로셀 기지국들이 인접해 있는지 파악하기 위함이다.
S10 내지 S12 단계와 순차적으로 또는 동시에 품질 측정 서버(400)의 임계값 설정부(430)는 측정 항목별로 임계값을 설정한다(S100). 이때, 특정 매크로셀의 품질을 측정하길 원하는 경우, 해당 매크로셀의 식별 정보를 포함한다. 본 발명의 실시예에서는 특정 매크로셀의 품질을 측정하는 것을 예로 하여 설명한다고 가정하였기 때문에, S100 단계에서 임계값을 설정할 때 매크로셀 식별 정보를 함께 포함한다.
그리고 주기 설정부(440)는 펨토셀 기지국(200)이 추후 측정한 매크로셀의 품질 정보가 S100 단계에서 설정한 임계값을 초과할 경우 얼마만큼의 주기로 해당 품질 정보를 품질 측정 서버(400)로 전송할지 보고 주기를 설정한다(S110). 여기서, 보고 주기는 측정 항목별로 달리 설정할 수도 있고 달리 설정할 수도 있다. 그리고 S100 단계 및 S110 단계에서 설정하는 항목별 임계값과 보고 주기는 시스템 설계에 따라 다양한 값으로 변경될 수 있다.
이벤트 정보 전송부(450)는 S100 및 S110 단계에서 각각 설정된 임계값 및 보고 주기를 포함하는 이벤트 정보를 펨토셀 게이트웨이(300)로 전송한다(S120). 그리고 펨토셀 게이트웨이(300)의 이벤트 정보 수신부(310)가 품질 측정 서버(400)의 이벤트 정보 전송부(450)로부터 이벤트 정보를 수신하면, 셀 식별 확인부(320)는 이벤트 정보에 특정 매크로셀의 식별 정보가 포함되어 있는지 여부를 확인한다(S130).
S100 단계에서 이미 특정 매크로셀의 식별 정보가 포함되어 함께 전송되었기 때문에, 셀 식별 확인부(320)는 해당 매크로셀의 식별 정보에 대응하는 매크로셀의 품질을 측정할 수 있는 펨토셀 기지국이 존재하는지 여부를 확인한다(S140). 이는 S10 내지 S12 단계를 통해 이미 펨토셀의 식별 정보와 매크로셀의 식별 정보가 셀 정보 저장부(340)에 저장되어 있기 때문에, 셀 식별 확인부(320)는 셀 정보 저장부(340)에 저장되 정보를 참조하여 펨토셀 기지국의 존재 여부를 확인한다.
만약, 특정 매크로셀 식별 정보가 포함되어 있고, 해당 매크로셀에 인접한 펨토셀 기지국이 존재한다고 하면, 이벤트 정보 송신부(330)는 이벤트 정보 수신부(310)가 수신한 이벤트 정보를 펨토셀 기지국의 식별 정보를 참조하여 해당 펨토셀 기지국으로 전송한다(S150). 그러나 특정 매크로셀 식별 정보가 포함되어 있지 않고, 해당 매크로셀에 인접한 펨토셀 기지국이 존재하지 않는다고 가정하면, 펨토셀 게이트웨이(300)에 연결되어 있는 모든 펨토셀 기지국으로 이벤트 정보를 전송한다(S155).
펨토셀 기지국(200)의 이벤트 정보 수신부(240)가 이벤트 정보 송신부(330)로부터 이벤트 정보를 수신하면, 이벤트 정보 설정부(250)는 이벤트 정보 내에 포함된 정보를 토대로 임계값과 보고 주기를 설정한다(S160, S170). 이렇게 설정된 이후에, 펨토셀 기지국(200)의 매크로셀 정보 수집부(210)가 해당 매크로셀에 대한 정보를 수집하고 매크로셀 품질 측정부(220)가 매크로셀에 대한 품질을 측정하면, 매크로셀 품질 측정부(220)는 측정한 품질이 S160 단계에서 설정한 임계값 범위를 초과하는지 여부를 판단한다(S190).
만약 임계값 범위를 초과한다면, S170 단계에서 설정한 보고 주기를 토대로 품질 측정 정보를 펨토셀 게이트웨이(300)로 전송한다(S200). 그리고 품질 측정 정보를 수신한 정보 송수신부(350)는 해당 정보를 품질 측정 서버(400)로 전달하여(s210), 매크로셀 품질 확인부(420)가 해당 품질 정보를 토대로 추후 절차를 수행할 수 있도록 한다.
이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.

Claims (13)

  1. 펨토셀을 이용하여 매크로셀의 품질을 측정하는 시스템에 있어서,
    매크로셀 영역에 위치하며 상기 매크로셀의 식별 정보 및 품질 정보를 측정하는 펨토셀 기지국; 및
    상기 펨토셀 기지국 및 상기 매크로셀의 품질 정보를 확인하는 품질 측정 서버와 연동하며, 상기 펨토셀 기지국이 측정한 상기 매크로셀의 품질 정보를 상기 품질 측정 서버로 전달하고, 상기 품질 측정 서버가 설정한 이벤트 정보를 상기 펨토셀 기지국으로 전달하는 펨토셀 게이트웨이
    를 포함하는 펨토셀을 이용한 매크로셀 품질 측정 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 펨토셀 기지국은,
    인접한 상기 매크로셀로부터 매크로셀 식별을 수집하는 매크로셀 정보 수집부;
    상기 매크로셀 정보 수집부가 수집한 매크로셀 식별에 대응하는 매크로셀의 품질을 측정하고, 상기 측정한 매크로셀의 품질이 미리 설정한 임계값 범위를 초과하는지 판단하는 매크로셀 품질 측정부; 및
    상기 매크로셀 정보 수집부가 수집한 매크로셀 식별에 펨토셀 식별 정보를 포함하여 상기 펨토셀 게이트웨이로 전송하며, 상기 미리 설정한 임계값 범위를 초과하는 매크로셀의 품질 정보를 미리 설정한 보고 주기에 따라 상기 펨토셀 게이트웨이를 통해 상기 품질 측정 서버로 전달되도록 전송하는 정보 전송부
    를 포함하는 펨토셀을 이용한 매크로셀 품질 측정 시스템.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 품질 측정 서버가 생성한 임계값 정보 및 보고 주기 정보를 포함하는 이벤트 정보를 상기 펨토셀 게이트웨이로부터 수신하는 이벤트 정보 수신부;
    상기 이벤트 정보에 포함되어 있는 임계값 정보를 토대로 임계값을 설정하는 이벤트 정보 설정부; 및
    상기 이벤트 정보에 포함되어 있는 보고 주기 정보를 토대로 상기 임계값 범위를 초과하는 품질 측정 정보를 전송할 보고 주기를 설정하는 주기 설정부
    를 포함하는 펨토셀을 이용한 매크로셀 품질 측정 시스템.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 펨토셀 게이트웨이는,
    상기 품질 측정 서버로부터 상기 이벤트 정보를 수신하는 이벤트 정보 수신부;
    상기 정보 전송부가 전송한 펨토셀 식별 정보를 포함하는 매크로셀 식별 정보를 저장하는 셀 정보 저장부;
    수신한 상기 이벤트 정보 내에 매크로셀 식별 정보가 포함되어 있는지 확인하고, 매크로셀 식별 정보가 포함되어 있다면 상기 셀 정보 저장부에 상기 매크로셀 식별 정보에 해당하는 매크로셀에 인접한 펨토셀 기지국이 존재하는지 확인하는 셀 식별 확인부; 및
    상기 이벤트 정보 내에 매크로셀 식별 정보가 포함되어 있으며 상기 인접한 펨토셀 기지국이 존재하면, 상기 품질 측정 서버로부터 수신한 상기 이벤트 정보를 상기 인접한 펨토셀 기지국으로 전송하는 이벤트 정보 송신부
    를 포함하는 펨토셀을 이용한 매크로셀 품질 측정 시스템.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 이벤트 정보 송신부는,
    상기 셀 식별 확인부가 상기 이벤트 정보 내에 매크로셀 식별 정보가 포함되어 있지 않다고 확인하면, 상기 이벤트 정보를 상기 펨토셀 게이트웨이에 연결되어 있는 복수의 펨토셀 기지국으로 전송하는 펨토셀을 이용한 매크로셀 품질 측정 시스템.
  6. 제4항에 있어서
    상기 펨토셀 기지국으로부터 상기 미리 설정한 보고 주기별로 매크로셀의 품질 정보를 수신하고, 상기 수신한 매크로셀의 품질 정보를 상기 품질 측정 서버로 전송하는 정보 송수신부
    를 더 포함하는 펨토셀을 이용한 매크로셀 품질 측정 시스템.
  7. 펨토셀 기지국과 상기 펨토셀 기지국이 연동한 펨토셀 게이트웨이를 통해 매크로셀의 품질을 측정하는 시스템에 있어서,
    상기 펨토셀 기지국이 매크로셀에 대해 측정하는 품질 측정 항목별로 임계값을 설정하고, 임의의 매크로셀에 대한 품질 측정이 요구되면 상기 매크로셀의 식별 정보를 확인하는 임계값 설정부;
    상기 측정한 품질 측정 항목이 상기 임계값 범위를 초과하면, 상기 펨토셀 기지국이 매크로셀의 품질 정보를 전송할 보고 주기를 설정하는 주기 설정부;
    상기 임계값 설정부가 설정한 임계값과 확인한 상기 매크로셀의 식별 정보 및 상기 주기 설정부가 설정한 보고 주기를 포함하는 이벤트 정보를 생성하여 상기 펨토셀 게이트웨이로 전송하는 이벤트 정보 전송부; 및
    상기 펨토셀 게이트웨이로부터 전송되는 매크로셀에 대한 품질 정보를 수신하여 확인하는 품질 정보 확인부
    을 포함하는 펨토셀을 이용한 매크로셀 품질 측정 시스템.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 품질 정보 확인부는,
    상기 펨토셀 기지국이 측정한 매크로셀의 품질 정보를 상기 펨토셀 게이트웨이로부터 전달받는 정보 수신부; 및
    상기 정보 수신부가 수신한 품질 정보를 토대로 상기 매크로셀의 품질을 확인하는 매크로셀 품질 확인부
    를 포함하는 펨토셀을 이용한 매크로셀 품질 측정 시스템.
  9. 품질 측정 시스템이 펨토셀 기지국이 포함된 매크로셀의 품질을 측정하는 방법에 있어서,
    상기 품질 측정 시스템은 펨토셀 게이트웨이, 펨토셀 기지국 및 품질 측정 서버를 포함하고, 상기 펨토셀 게이트웨이가 펨토셀 기지국 및 상기 품질 측정 서버와 연동하며,
    상기 품질 측정 서버가 항목에 따른 임계값, 매크로셀 식별 정보 및 보고 주기 정보를 포함하는 이벤트 정보를 생성하여 상기 펨토셀 게이트웨이로 전송하는 단계;
    상기 펨토셀 게이트웨이가 상기 매크로셀 식별 정보를 토대로 상기 펨토셀 기지국에 상기 이벤트 정보를 전송하는 단계;
    상기 펨토셀 기지국이 상기 이벤트 정보를 토대로 임계값 범위 및 보고 주기를 설정하는 단계;
    상기 펨토셀 기지국이 매크로셀 품질 정보를 수집하면, 상기 수집한 매크로셀 품질 정보가 미리 설정한 임계값 범위를 초과하는지 판단하는 단계; 및
    상기 매크로셀 품질 정보가 상기 임계값 범위를 초과하면, 상기 설정한 보고 주기를 토대로 상기 수집한 매크로셀 품질 정보를 상기 펨토셀 게이트웨이를 통해 상기 품질 측정 서버로 전송하는 단계
    를 포함하는 펨토셀을 이용한 매크로셀 품질 측정 방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 펨토셀 게이트웨이로 전송하는 단계 이전에,
    상기 펨토셀 기지국이 인접한 매크로셀 기지국으로부터 매크로셀 식별 정보를 수집하는 단계;
    상기 수집한 매크로셀 식별 정보에 상기 펨토셀 기지국의 펨토셀 식별 정보를 포함하여 상기 펨토셀 게이트웨이로 전송하는 단계; 및
    상기 펨토셀 게이트웨이는 상기 매크로셀 식별 정보와 상기 펨토셀 식별 정보를 셀 정보로 저장하는 단계
    를 포함하는 펨토셀을 이용한 매크로셀 품질 측정 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 이벤트 정보를 전송하는 단계는,
    상기 펨토셀 게이트웨이가 상기 이벤트 정보에 매크로셀 식별 정보가 포함되어 있는지 확인하는 단계;
    매크로셀 식별 정보가 포함되어 있다면, 상기 저장한 셀 정보에 상기 매크로셀 식별 정보가 포함되어 있는지 확인하여 상기 매크로셀의 품질을 수집하는 펨토셀 기지국이 존재하는지 확인하는 단계; 및
    상기 매크로셀의 품질을 수집하는 펨토셀 기지국이 존재하면, 상기 펨토셀 기지국의 식별 정보를 이용하여 상기 이벤트 정보를 상기 펨토셀 기지국으로 전송하는 단계
    를 포함하는 펨토셀을 이용한 매크로셀 품질 측정 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 이벤트 정보에 매크로셀 식별 정보가 포함되어 있지 않다면,
    상기 펨토셀 게이트웨이에 연결되어 있는 복수의 펨토셀 기지국으로 상기 이벤트 정보를 전송하는 단계
    를 더 포함하는 펨토셀을 이용한 매크로셀 품질 측정 방법.
  13. 제9항에 있어서,
    상기 항목은 매크로셀의 수신 신호 세기 및 신호대 간섭 및 잡음비를 포함하는 펨토셀을 이용한 매크로셀 품질 측정 방법.
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