KR101335678B1 - Level Shifter using oxide TFTs and Scan Driving Circuit having the Level Shifter - Google Patents

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Abstract

본 발명에 따른 레벨 시프터와 스캔 구동회로는 단일형의 산화물 박막 트랜지스터들로만 구성되어 디스플레이 패널에 내장이 가능하므로 디스플레이 구동 장치의 소형화 및 제조 비용의 감소를 도모할 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 레벨 시프터와 스캔 구동회로는 풀업 트랜지스터들이 래치 구조로 연결되어 풀스윙이 가능하므로 단일형 구조의 한계를 극복할 수 있으며, 대기 상태에서 산화물 박막 트랜지스터가 확실히 턴오프되므로 불필요한 전력 소모를 줄일 수 있다.Since the level shifter and the scan driving circuit according to the present invention are composed of only a single oxide thin film transistor and can be embedded in a display panel, the display driving apparatus can be miniaturized and manufacturing costs can be reduced. In addition, the level shifter and the scan driving circuit according to the present invention can overcome the limitation of the unitary structure because the pull-up transistors are connected in a latch structure and can be pulled, and the oxide thin film transistor is turned off in the standby state, thereby consuming unnecessary power. Can be reduced.

Description

산화물 박막 트랜지스터를 이용한 레벨 시프터 및 이를 포함하는 스캔 구동회로{Level Shifter using oxide TFTs and Scan Driving Circuit having the Level Shifter}Level shifter using oxide TFTs and Scan Driving Circuit having the Level Shifter}

본 발명은 산화물 박막 트랜지스터를 이용한 레벨 시프터 및 이를 포함하는 스캔 구동회로에 관한 것으로, 더 자세하게는 산화물 박막 트랜지스터를 이용하여 디스플레이 패널에 내장이 가능하면서 전력 소모가 적고 풀스윙이 가능하도록 구성된 레벨 시프터 및 이를 포함하는 스캔 구동회로에 관한 것이다.The present invention relates to a level shifter using an oxide thin film transistor and a scan driving circuit including the same, and more particularly, a level shifter configured to be embedded in a display panel using an oxide thin film transistor, and to have low power consumption and full swing. The present invention relates to a scan driving circuit including the same.

본 발명은 지식경제부의 IT원천기술개발사업의 일환으로 수행한 연구로부터 도출된 것이다[과제관리번호: 2006-S-079-04, 과제명: 투명전자 소자를 이용한 스마트 창].The present invention is derived from a study conducted as part of the IT source technology development project of the Ministry of Knowledge Economy [Task Management Number: 2006-S-079-04, Task name: Smart window using a transparent electronic device].

레벨 시프터(Level shifter)는 소정의 전압레벨을 갖는 입력신호를 입력신호와 다른 전압레벨을 갖는 출력신호로 변환하는 회로로, 신호 전압의 크기가 서로 다른 회로 사이에 위치하여 회로 간에 전달되는 신호 전압의 크기를 변환하는데 주로 이용된다.A level shifter is a circuit for converting an input signal having a predetermined voltage level into an output signal having a voltage level different from that of the input signal. A level shifter is located between circuits having different magnitudes of signal voltage, and thus is transmitted between circuits. It is mainly used to convert the size of.

특히, 디스플레이 구동 장치 내부의 디지털 회로에는 5V 정도의 저전압이 필요하지만, 디스플레이 패널을 구동하는 스캔 구동회로에는 디스플레이 패널의 특성에 따라서 10~30V 정도의 고전압이 필요하기 때문에, 디스플레이 구동 장치에는 레벨 시프터가 필수적으로 포함된다. In particular, a low voltage of about 5V is required for the digital circuit inside the display driving apparatus, but a high voltage of about 10 to 30V is required for the scan driving circuit for driving the display panel according to the characteristics of the display panel. Essentially included.

도 1a는 종래의 레벨 시프터를 나타내는 도면이고, 도 1b는 도 1a에 도시된 레벨 시프터의 동작 파형을 나타내는 도면이다. FIG. 1A is a diagram illustrating a conventional level shifter, and FIG. 1B is a diagram illustrating an operation waveform of the level shifter illustrated in FIG. 1A.

도 1a를 참조하면, 종래의 레벨 시프터(100)는 제1, 2 N형 트랜지스터(N1, N2)와 제1, 2 P형 트랜지스터(P1, P2)로 구성된다.Referring to FIG. 1A, a conventional level shifter 100 includes first and second N-type transistors N1 and N2 and first and second P-type transistors P1 and P2.

비반전 입력신호(VIN)가 하이 레벨이 되면, 제1 N형 트랜지스터(N1)가 턴온되어 반전 출력신호(VOUTB)가 접지전압(VSS)으로 방전되며, 이에 따라 제2 P형 트랜지스터(P2)가 턴온된다. 이 때, 제2 N형 트랜지스터(N2)는 로우 레벨의 반전 입력신호(VINB)에 의해 턴오프된 상태이므로, 비반전 출력신호(VOUT)의 전압이 전원전압(VDDH)까지 상승되어 제1 P형 트랜지스터(P1)가 턴오프된다. 반대로, 반전 입력신호(VINB)가 하이 레벨이 되면, 제2 N형 트랜지스터(N2)와 제1 P형 트랜지스터(P1)는 턴온되고, 제1 N형 트랜지스터(N1)와 제2 P형 트랜지스터(P2)는 턴오프된다.When the non-inverting input signal V IN becomes a high level, the first N-type transistor N1 is turned on so that the inverted output signal V OUTB is discharged to the ground voltage VSS. Accordingly, the second P-type transistor ( P2) is turned on. At this time, since the second N-type transistor N2 is turned off by the low level inverting input signal V INB , the voltage of the non-inverting output signal V OUT is raised to the power supply voltage VDDH to thereby generate the second N-type transistor N2. 1 P-type transistor P1 is turned off. On the contrary, when the inverting input signal V INB becomes high, the second N-type transistor N2 and the first P-type transistor P1 are turned on, and the first N-type transistor N1 and the second P-type transistor are turned on. P2 is turned off.

도 1a에 도시된 레벨 시프터(100)는 이상적으로 동작할 경우 제1, 2 P형 트랜지스터(P1, P2)가 각각 턴온될 때 제1, 2 N형 트랜지스터(N1, N2)가 각각 턴오프되어 큰 전력소모 없이 빠르고 안정적으로 전압 레벨을 변화시킬 수 있다.In an ideal operation of the level shifter 100 illustrated in FIG. 1A, when the first and second P-type transistors P1 and P2 are turned on, the first and second N-type transistors N1 and N2 are turned off, respectively. Voltage levels can be changed quickly and reliably without significant power consumption.

하지만, 제1, 2 N형 트랜지스터(N1, N2)와 제1, 2 P형 트랜지스터(P1, P2)의 전류 구동 능력이 비슷할 경우, 제1 N형 트랜지스터(N1)가 턴오프 상태에서 턴온 상태로 바뀔 때 제2 P형 트랜지스터(P2)가 약하게 턴온되거나, 제2 N형 트랜지스터(N2)가 턴오프 상태에서 턴온 상태로 바뀔 때 제1 P형 트랜지스터(P1)가 약하게 턴온될 수 있으며, 이로 인해 전원전압(VDDH)에서 접지전압(VSS) 사이에 단락 회로 전류(short circuit current)가 발생되는 시간이 길어져 전력 소모가 증가되는 문제점이 있다.However, when the current driving capabilities of the first and second N-type transistors N1 and N2 and the first and second P-type transistors P1 and P2 are similar, the first N-type transistor N1 is turned on from the turned off state. When the second P-type transistor P2 is weakly turned on when it is changed to or when the second N-type transistor N2 is turned on by being turned off, the first P-type transistor P1 may be weakly turned on by this. As a result, a short circuit current is generated between the power supply voltage VDDH and the ground voltage VSS, thereby increasing power consumption.

이러한 문제점을 해결하기 위하여, 제1, 2 N형 트랜지스터(N1, N2)의 크기를 증가시켜 출력단의 방전속도를 증가시키는 방법이 있으나, 이러한 방법은 트랜지스터의 크기 증가에 따라 회로 면적이 증가하는 문제점이 있다.In order to solve this problem, there is a method of increasing the discharge rate of the output terminal by increasing the size of the first, second N-type transistors (N1, N2), but this method increases the circuit area as the size of the transistor increases. There is this.

한편, 최근 들어 디스플레이 구동 장치의 소형화를 위해 디스플레이 패널에 내장이 가능한 레벨 시프터의 개발이 요구되고 있다. On the other hand, in recent years, in order to miniaturize a display driving apparatus, development of a level shifter which can be incorporated in a display panel is required.

하지만, 레벨 시프터를 디스플레이 패널에 내장하기 위해서는 레벨 시프터에 사용되는 소자들이 디스플레이 패널의 백플레인(Backplane)에 사용되는 소자와 동일하거나 호환성이 있는 물질로 이루어져야 한다.However, in order to embed the level shifter in the display panel, the elements used in the level shifter must be made of the same or compatible material as the elements used in the backplane of the display panel.

현재 디스플레이 패널의 백플레인에는 비정질 실리콘(a-Si:H) 박막 트랜지스터와 저온 폴리 실리콘(Low Temperature Poly-Silicon) 박막 트랜지스터가 주로 사용되고 있다. 비정질 실리콘 박막 트랜지스터의 경우 P형 소자가 이동도가 작아 구동회로를 만들기에 부적합하여 N형 소자를 이용하고, 저온 폴리 실리콘 박막 트랜지스터의 경우에는 전류 구동능력은 N형 소자가 뛰어나지만 노이즈에 둔감하고 제조 공정이 간단한 P형 소자를 이용하고 있다.Currently, amorphous silicon (a-Si: H) thin film transistors and low temperature poly-silicon thin film transistors are mainly used for the backplane of display panels. In the case of amorphous silicon thin film transistor, the P-type device is not suitable for making a driving circuit due to its low mobility, and the N-type device is used. In the case of low-temperature polysilicon thin film transistor, the current driving capability is excellent in the N-type device, but it is insensitive to noise. The P-type element of a simple manufacturing process is used.

그리고, 이들 박막 트랜지스터를 대체할 소자로 기대되고 있는 산화물 박막 트랜지스터(Oxide Thin Flim Transistor)의 경우에는 전류 구동능력이 우수한 N형 박막 트랜지스터를 이용한 개발이 주류를 이루고 있다.In the case of an oxide thin film transistor (Oxide Thin Flim Transistor), which is expected to replace these thin film transistors, development using an N-type thin film transistor having excellent current driving capability is becoming mainstream.

이러한 흐름에 따라 디스플레이 구동 장치에 사용되는 레벨 시프터를 N형 산화물 박막 트랜지스터만을 이용하여 단일형 구조로 구현하려는 연구가 진행되고 있다.With this trend, research is being conducted to implement a level shifter used in a display driving device as a single structure using only an N-type oxide thin film transistor.

하지만, N형 트랜지스터를 이용한 단일형 구조의 레벨 시프터의 경우 출력신호를 접지전압(VSS)으로 풀다운시키는 것은 용이하지만 출력신호를 전원전압(VDDH)으로 풀업시키는 것이 어렵다는 문제점이 있다. 또한, P 형 트랜지스터를 이용한 단일형 구조는 반대로 전원전압(VDDH)으로 풀업시키는 것은 용이하지만 출력신호를 접지전압(VSS)으로 풀다운시키는 것은 어렵다는 문제점이 있다.However, in the case of the single-level level shifter using the N-type transistor, it is easy to pull down the output signal to the ground voltage VSS, but it is difficult to pull up the output signal to the power supply voltage VDDH. In addition, the single-type structure using the P-type transistor is easy to pull up to the power supply voltage (VDDH), but there is a problem that it is difficult to pull down the output signal to the ground voltage (VSS).

이러한 문제점을 해결하기 위하여 부트스트래핑(bootstrapping)을 이용한 레벨 시프터가 제시되었다.In order to solve this problem, a level shifter using bootstrapping has been proposed.

도 2a는 부트스트래핑을 이용한 종래의 레벨 시프터를 나타내는 도면이며, 도 2b는 도 2a에 도시된 레벨 시프터의 동작 파형을 나타내는 도면이다.FIG. 2A illustrates a conventional level shifter using bootstrapping, and FIG. 2B illustrates an operation waveform of the level shifter illustrated in FIG. 2A.

도 2a 및 도 2b를 참조하면, 부트스트래핑을 이용한 종래의 레벨 시프터(200)에서는 입력신호(VIN)의 전압이 로우 레벨에서 하이 레벨로 변하는 경우 입력신호(VIN)에 의해 제1 산화물 박막 트랜지스터(N1)가 턴온되어 출력신호(VOUT)가 접지전압(VSS)으로 풀다운된다. 이 때, 제3 산화물 박막 트랜지스터(N3)가 턴온되어 제1 노드(A)에 연결된 캐패시터(C1)에 VDDH-VTH3의 전압이 충전된다.If Figures 2a and FIG 2b, the boot in the conventional level shifter 200 using the strapping when the voltage of the input signal (V IN) changes from the low level to the high level input signal (V IN), the first oxide film by The transistor N1 is turned on so that the output signal V OUT is pulled down to the ground voltage VSS. At this time, the third oxide thin film transistor N3 is turned on to charge the voltage of VDDH-V TH3 to the capacitor C1 connected to the first node A.

반대로 입력신호(VIN)의 전압이 하이 레벨에서 로우 레벨로 변하는 경우, 입력신호(VIN)에 의해 제1 산화물 박막 트랜지스터(N1)가 턴오프되면서 제1 노드(A)의 전압이 약 2VDDH-VTH3까지 증가하게 된다. 이 때, 캐패시터(C1)의 커플링에 의해 부트스트래핑 효과가 나타나고, 그 결과 출력신호(VOUT)가 전원전압(VDDH)으로 풀업된다.Conversely input signal (V IN) voltage in this case changes from the high level to the low level, the voltage of the first oxide thin film transistor a first node (A) As the (N1) is turned off by the input signal (V IN) about 2VDDH of Increased to -V TH3 . At this time, the bootstrapping effect is caused by the coupling of the capacitor C1, and as a result, the output signal V OUT is pulled up to the power supply voltage VDDH.

이와 같은 부트스트래핑을 이용한 레벨 시프터(200)에서 산화물 박막 트랜지스터는 이상적인 경우 게이트-소스 전압(VGS)이 0V인 대기 상태에서 전류를 흘리지 않아야 한다.In the level shifter 200 using such bootstrapping, the oxide thin film transistor should not flow current in the standby state in which the gate-source voltage V GS is 0V in an ideal case.

그러나, 음의 문턱전압값을 갖는 산화물 박막 트랜지스터는 인핸스드 모드(Enhanced mode) 소자로 동작하지 않고 공핍 모드(depletion mode) 소자로 동작하기 때문에, 이로 인해 게이트-소스 전압(VGS)이 0V인 대기 상태에서도 전력을 소모하는 문제점이 있다.However, since the oxide thin film transistor having a negative threshold voltage does not operate as an enhanced mode device but as a depletion mode device, the gate-source voltage V GS is 0V. There is a problem of consuming power even in the standby state.

본 발명의 목적은 산화물 박막 트랜지스터를 이용하여 디스플레이 패널에 내장이 가능하면서 전력 소모가 적고 풀스윙이 가능한 레벨 시프터 및 이를 포함하는 스캔 구동회로를 구현하는 것이다.An object of the present invention is to implement a level shifter that can be embedded in a display panel using an oxide thin film transistor and has a low power consumption and a full swing, and a scan driving circuit including the same.

상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 레벨 시프터는, 비반전 입력신호에 따라 출력신호를 접지전압으로 풀다운시키는 다수의 N형 산화물 박막 트랜지스터로 구성된 풀다운부; 및 반전 입력신호에 따라 출력신호를 전원전압으로 풀업시키는 다수의 N형 산화물 박막 트랜지스터로 구성된 풀업부를 포함하며, 상기 풀업부를 구성하는 다수의 N형 산화물 박막 트랜지스터는 래치 구조로 연결되어 상기 출력신호를 전원전압으로 풀업시키는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a level shifter according to the present invention includes: a pull-down part including a plurality of N-type oxide thin film transistors for pulling down an output signal to a ground voltage according to a non-inverting input signal; And a pull-up part including a plurality of N-type oxide thin film transistors configured to pull up an output signal to a power supply voltage according to an inverted input signal, wherein the plurality of N-type oxide thin film transistors constituting the pull-up part are connected in a latch structure to receive the output signal. Characterized in that the pull-up to the power supply voltage.

상기 풀다운부는 게이트에 입력되는 제1, 2 비반전 입력신호에 따라 제1, 2 노드의 전압을 접지전압으로 풀다운시키는 제1, 2 산화물 박막 트랜지스터를 포함하며, 게이트에 입력되는 상기 제1, 2 비반전 입력신호에 따라 제3, 4 노드의 전압을 접지전압으로 풀다운시키는 제3, 4 산화물 박막 트랜지스터를 더 포함할 수 있다.The pull-down part includes first and second oxide thin film transistors that pull down voltages of the first and second nodes to ground voltages according to the first and second non-inverting input signals input to the gates, and the first and second inputs to the gates. The semiconductor device may further include third and fourth oxide thin film transistors which pull down voltages of the third and fourth nodes to ground voltages according to the non-inverting input signal.

상기 풀업부는, 게이트에 반전 입력신호가 입력되는 제5 산화물 박막 트랜지스터와, 상기 제5 산화물 박막 트랜지스터의 소스에 게이트가 연결되어 상기 반전 입력신호에 따라 상기 제2 노드의 전압을 전원전압으로 풀업시키는 제6 산화물 박막 트랜지스터와, 상기 제6 산화물 박막 트랜지스터와 래치 구조로 연결되어 상기 제2 노드의 전압에 따라 상기 제1 노드의 전압을 전원전압으로 풀업시키는 제7 산화물 박막 트랜지스터를 포함한다. 그리고, 상기 풀업부는, 상기 제6 산화물 박막 트랜지스터의 소스에 게이트가 연결되어 상기 제6 산화물 박막 트랜지스터의 전류 구동 능력을 증가시키는 제8 산화물 박막 트랜지스터와, 상기 제7 산화물 박막 트랜지스터의 소스에 게이트가 연결되어 상기 제7 산화물 박막 트랜지스터의 전류 구동 능력을 증가시키는 제9 산화물 박막 트랜지스터를 더 포함할 수 있다.The pull-up unit may include a fifth oxide thin film transistor having an inverted input signal input to a gate, and a gate connected to a source of the fifth oxide thin film transistor to pull up a voltage of the second node to a power supply voltage according to the inverted input signal. And a seventh oxide thin film transistor connected to the sixth oxide thin film transistor in a latch structure to pull up the voltage of the first node to a power supply voltage according to the voltage of the second node. The pull-up unit may include: an eighth oxide thin film transistor configured to have a gate connected to the source of the sixth oxide thin film transistor to increase a current driving capability of the sixth oxide thin film transistor, and a gate of the seventh oxide thin film transistor. And a ninth oxide thin film transistor connected to increase a current driving capability of the seventh oxide thin film transistor.

상기 제1, 2 비반전 입력신호가 하이 레벨이고 상기 반전 입력신호가 로우 레벨인 경우, 상기 제1, 2 비반전 입력신호에 의해 상기 풀다운부에 포함된 상기 제1 내지 제4 산화물 박막 트랜지스터가 모두 턴온되어 상기 출력신호가 접지전압으로 풀다운되고, 상기 반전 입력신호에 의해 상기 풀업부에 포함된 상기 제5 내지 제9 산화물 박막 트랜지스터가 모두 턴오프되어 전원전압으로부터 상기 제1 내지 제4 노드쪽으로 전류가 흐르지 않게 된다. 이와 반대로, 상기 제1, 2 비반전 입력신호가 로우 레벨이고 상기 반전 입력신호가 하이 레벨인 경우, 상기 제1, 2 비반전 입력신호에 의해 상기 풀다운부에 포함된 상기 제1 내지 제4 산화물 박막 트랜지스터가 모두 턴오프되어 상기 제1 내지 제4 노드로부터 접지전압쪽으로 전류가 흐르지 않고, 상기 반전 입력신호에 의해 상기 풀업부에 포함된 상기 제5 내지 제9 산화물 박막 트랜지스터가 모두 턴온되어 상기 출력신호가 전원전압으로 풀업된다. When the first and second non-inverting input signals are high level and the inverting input signal is low level, the first to fourth oxide thin film transistors included in the pull-down part by the first and second non-inverting input signals All of them are turned on so that the output signal is pulled down to the ground voltage, and the fifth to ninth oxide thin film transistors included in the pull-up part are all turned off by the inverting input signal to the first to fourth nodes. No current flows. On the contrary, when the first and second non-inverting input signals are low level and the inverting input signal is high level, the first to fourth oxides included in the pull-down part by the first and second non-inverting input signals. All of the thin film transistors are turned off so that no current flows from the first to fourth nodes toward the ground voltage, and the fifth to ninth oxide thin film transistors included in the pull-up part are all turned on by the inverting input signal. The signal is pulled up to the supply voltage.

상기 제1, 2 비반전 입력신호와 상기 반전 입력신호의 로우 레벨(VSSL)은 상기 출력신호의 로우 레벨(VSS) 보다 더 낮은 것이 바람직하다. The low level VSSL of the first and second non-inverting input signals and the inverting input signal may be lower than the low level VSS of the output signal.

상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 스캔 구동회로는, 전단의 출력신호에 따라 하이 레벨 또는 로우 레벨의 비반전 입력신호와 반전 입력신호를 레벨 시프터로 출력하는 입력부; 상기 비반전 입력신호와 상기 반전 입력 신호에 따라 로우 레벨 또는 하이 레벨의 출력신호를 출력하는 레벨 시프터; 및 상기 레벨 시프터로부터 출력되는 출력신호를 안정화시켜 출력하는 버퍼부를 포함하며, 상기 입력부, 상기 레벨 시프터 및 상기 버퍼부는 다수의 N형 산화물 박막 트랜지스터로 구성되는 것을 특징으로 한다. In order to achieve the above object, a scan driving circuit according to the present invention includes an input unit for outputting a high level or low level non-inverting input signal and an inverting input signal to a level shifter according to an output signal of a front end; A level shifter for outputting a low level or high level output signal according to the non-inverting input signal and the inverting input signal; And a buffer unit for stabilizing and outputting an output signal output from the level shifter, wherein the input unit, the level shifter, and the buffer unit are configured of a plurality of N-type oxide thin film transistors.

상기 입력부는, 게이트에 각각 입력되는 제1 클럭신호와 상기 전단의 출력신호에 따라 로우 레벨 및 하이 레벨의 전압을 제1 노드로 각각 전달하는 제1, 2 산화물 박막 트랜지스터와, 게이트에 각각 입력되는 상기 제1 노드의 전압과 상기 제1 클럭신호에 따라 로우 레벨 및 하이 레벨의 전압을 제2 노드로 각각 전달하는 제3, 4 산화물 박막 트랜지스터와, 제2 클럭신호에 따라 상기 제1, 2 노드의 전압을 상기 반전 입력신호와 상기 비반전 입력신호로 각각 출력하는 제5, 6 산화물 박막 트랜지스터를 포함한다. The input unit may include first and second oxide thin film transistors respectively transmitting low and high level voltages to a first node according to a first clock signal input to a gate and an output signal of the previous stage, and respectively input to a gate. Third and fourth oxide thin film transistors that transfer low and high level voltages to the second node according to the voltage of the first node and the first clock signal, and the first and second nodes according to the second clock signal. And fifth and sixth oxide thin film transistors configured to output voltages of the inverted input signal and the non-inverted input signal, respectively.

상기 레벨 시프터는, 상기 제5, 6 산화물 박막 트랜지스터에 각각 연결된 제1, 2 캐패시터와, 게이트에 상기 비반전 입력신호와 상기 반전 입력신호가 각각 입력되는 제7, 8 산화물 박막 트랜지스터와, 게이트에 입력되는 제3 클럭신호에 따라 드레인에 연결된 제5 노드의 전압을 로우 레벨로 하강시키는 제9 산화물 박막 트랜지스터와, 상기 제8 산화물 박막 트랜지스터의 소스에 게이트가 연결되어 상기 반전 입력신호에 따라 상기 제5 노드의 전압을 하이 레벨로 상승시키는 제10 산화물 박막 트랜지스터와, 게이트에 입력되는 제4 클럭신호에 따라 드레인에 연결된 제6 노드의 전압을 로우 레벨로 하강시키는 제11 산화물 박막 트랜지스터와, 상기 제10 산화물 박막 트랜지스터와 래치 구조로 연결되어 상기 제5 노드의 전압에 따라 상기 제6 노드의 전압을 하이 레벨로 상승시키는 제12 산화물 박막 트랜지스터를 포함한다.The level shifter may include first and second capacitors connected to the fifth and sixth oxide thin film transistors, a seventh and eighth oxide thin film transistors to which the non-inverting input signal and the inverting input signal are respectively input to a gate, and a gate to the gate. A ninth oxide thin film transistor configured to drop a voltage of a fifth node connected to a drain to a low level according to an input third clock signal, and a gate connected to a source of the eighth oxide thin film transistor so that the fifth oxide thin film transistor is connected to the source of the eighth oxide thin film transistor; A tenth oxide thin film transistor for raising a voltage of a five node to a high level, an eleventh oxide thin film transistor for lowering a voltage of a sixth node connected to a drain to a low level according to a fourth clock signal input to a gate, 10 is connected to the oxide thin film transistor in a latch structure to lower the voltage of the sixth node according to the voltage of the fifth node. And a twelfth oxide thin film transistor to rise to a level.

상기 버퍼부는, 게이트에 각각 입력되는 제3 클럭신호와 상기 제5 노드의 전압에 따라 로우 레벨 및 하이 레벨의 전압을 제7 노드로 각각 전달하는 제13, 14 산화물 박막 트랜지스터와, 게이트에 각각 입력되는 상기 제3 클럭신호와 상기 제7 노드의 전압에 따라 로우 레벨 및 하이 레벨의 전압을 제8 노드로 각각 전달하는 제15, 16 산화물 박막 트랜지스터를 포함한다. The buffer unit may include a thirteenth and fourteenth oxide thin film transistors configured to transfer low-level and high-level voltages to a seventh node, respectively, in response to a third clock signal input to a gate and a voltage of the fifth node. And a fifteenth and sixteenth oxide thin film transistors configured to transfer low-level and high-level voltages to an eighth node according to the third clock signal and the voltage of the seventh node.

여기에서, 상기 제1 클럭신호는 상기 전단의 출력신호와 반대의 위상을 가지면서 주기적으로 하이 레벨과 로우 레벨이 되는 신호이고, 상기 제2 클럭신호는 상기 반전 입력신호 및 상기 비반전 입력신호를 상기 레벨 시프터로 전달하거나 상기 입력부와 상기 레벨 시프터와의 연결을 차단하기 위한 신호이고, 상기 제 3 클럭신호는 상기 전단의 출력신호가 하이 레벨에서 로우 레벨로 변화된 이후에 상기 레벨 시프터의 출력신호가 하이 레벨로 상승되도록 하는 신호이며, 상기 제4 클럭신호는 상기 레벨 시프터의 출력신호가 하이 레벨로 상승될 때 포지티브 피드백을 발생시키기 위한 신호이다.Here, the first clock signal is a signal having a phase opposite to the output signal of the previous stage, and periodically becomes a high level and a low level, and the second clock signal is the inverted input signal and the non-inverted input signal A signal for transferring to the level shifter or cutting off the connection between the input unit and the level shifter. The third clock signal is an output signal of the level shifter after the output signal of the front end is changed from a high level to a low level. The fourth clock signal is a signal for generating positive feedback when the output signal of the level shifter is raised to a high level.

상기 전단의 출력신호가 하이 레벨에서 로우 레벨로 변화될 때까지 상기 레벨 시프터는 하이 레벨의 상기 제3 클럭신호에 따라 로우 레벨의 출력신호를 상기 버퍼부로 출력하며, 상기 전단의 출력신호가 하이 레벨에서 로우 레벨로 변화된 이후, 상기 레벨 시프터는 로우 레벨의 상기 제3 클럭신호에 따라 하이 레벨의 출력신호를 상기 버퍼부로 출력한다.The level shifter outputs a low level output signal to the buffer unit according to the third clock signal of a high level until the output signal of the front end is changed from a high level to a low level, and the output signal of the front end is a high level. After the change from the low level to the low level shifter, the level shifter outputs a high level output signal to the buffer unit according to the third clock signal having a low level.

본 발명에 따른 레벨 시프터와 스캔 구동회로는 단일형의 산화물 박막 트랜지스터들로만 구성되어 디스플레이 패널에 내장이 가능하므로 디스플레이 구동 장치의 소형화 및 제조 비용의 감소를 도모할 수 있다. Since the level shifter and the scan driving circuit according to the present invention are composed of only a single oxide thin film transistor and can be embedded in a display panel, the display driving apparatus can be miniaturized and manufacturing costs can be reduced.

또한, 본 발명에 따른 레벨 시프터와 스캔 구동회로는 풀업 트랜지스터들이 래치 구조로 연결되어 풀스윙이 가능하므로 단일형 구조의 한계를 극복할 수 있다.In addition, the level shifter and the scan driving circuit according to the present invention can overcome the limitation of the unitary structure because the pull-up transistors are connected in a latch structure to allow full swing.

게다가, 본 발명에 따른 레벨 시프터와 스캔 구동회로에 포함된 산화물 박막 트랜지스터는 대기 상태에서 확실히 턴오프되므로 불필요한 전력 소모를 줄일 수 있다.In addition, since the oxide thin film transistor included in the level shifter and the scan driving circuit according to the present invention is surely turned off in the standby state, unnecessary power consumption can be reduced.

도 1a는 종래의 레벨 시프터를 나타내는 도면이고, 도 1b는 도 1a에 도시된 레벨 시프터의 동작 파형을 나타내는 도면이다.
도 2a는 부트스트래핑을 이용한 종래의 레벨 시프터를 나타내는 도면이며, 도 2b는 도 2a에 도시된 레벨 시프터의 동작 파형을 나타내는 도면이다.
도 3a는 본 발명의 제1 실시예에 따른 레벨 시프터를 나타내는 도면이고, 도 3b는 도 3a에 도시된 레벨 시프터의 동작 파형을 나타내는 도면이다.
도 4a 내지 도 4f는 본 발명의 제2 실시예에 따른 레벨 시프터를 나타내는 도면이다.
도 5a는 일반적인 스캔 구동회로를 나타내는 도면이며, 도 5b는 도 5a에 도시된 스캔 구동회로의 동작 파형을 나타내는 도면이다.
도 6a는 본 발명에 따른 레벨 시프터를 포함하는 스캔 구동회로를 나타내는 도면이며, 도 6b는 도 6a에 도시된 스캔 구동회로의 동작 파형을 나타내는 도면이다.
도 7은 도 6a에 도시된 스캔 구동회로가 디스플레이 패널의 각 라인에 연결되는 것을 나타낸 도면이다.
FIG. 1A is a diagram illustrating a conventional level shifter, and FIG. 1B is a diagram illustrating an operation waveform of the level shifter illustrated in FIG. 1A.
FIG. 2A illustrates a conventional level shifter using bootstrapping, and FIG. 2B illustrates an operation waveform of the level shifter illustrated in FIG. 2A.
3A is a diagram illustrating a level shifter according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 3B is a diagram illustrating an operation waveform of the level shifter illustrated in FIG. 3A.
4A to 4F are diagrams illustrating a level shifter according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 5A is a diagram illustrating a general scan driving circuit, and FIG. 5B is a diagram showing an operation waveform of the scan driving circuit shown in FIG. 5A.
6A is a diagram illustrating a scan driving circuit including a level shifter according to the present invention, and FIG. 6B is a diagram illustrating an operation waveform of the scan driving circuit illustrated in FIG. 6A.
FIG. 7 illustrates that the scan driving circuit illustrated in FIG. 6A is connected to each line of the display panel.

본 발명을 설명하기에 앞서 본 발명의 기본 개념에 대하여 간략하게 설명하면 다음과 같다.Before describing the present invention, the basic concept of the present invention will be briefly described as follows.

먼저, 본 발명에서는 디스플레이 패널에 내장이 가능한 레벨 시프터를 구현하기 위해 산화물 박막 트랜지스터만을 이용하여 단일형 구조의 레벨 시프터를 구현하였다.First, in order to implement a level shifter that can be embedded in a display panel, a level shifter having a single structure is implemented using only an oxide thin film transistor.

다음으로, 본 발명에서는 단일형 구조의 한계를 극복하기 위하여 풀업 트랜지스터들을 래치 구조로 연결하여 풀스윙이 가능한 레벨 시프터를 구현하였다.Next, in order to overcome the limitation of the single structure, the present invention implements a level shifter capable of full swing by connecting pull-up transistors in a latch structure.

마지막으로, 본 발명에서는 출력이 로우 레벨인 대기 상태(풀다운 상태)에서 산화물 박막 트랜지스터가 확실히 턴오프되도록 하여 불필요한 전력 소모를 줄일 수 있는 레벨 시프터를 구현하였다.Finally, the present invention implements a level shifter that can reduce unnecessary power consumption by ensuring that the oxide thin film transistor is turned off in a standby state (pull down state) in which the output is low.

상기와 같은 구조적 특징은 이하의 실시예들을 통해 더욱 분명하게 이해될 수 있을 것이다.
Such structural features will be more clearly understood through the following examples.

(제1 실시예)(Embodiment 1)

도 3a는 본 발명의 제1 실시예에 따른 레벨 시프터를 나타내는 도면이고, 도 3b는 도 3a에 도시된 레벨 시프터의 동작 파형을 나타내는 도면이다. 3A is a diagram illustrating a level shifter according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 3B is a diagram illustrating an operation waveform of the level shifter illustrated in FIG. 3A.

도 3a를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 레벨 시프터(300)는, 제1 비반전 입력신호(VIN)와 제2 비반전 입력신호(VINS)에 따라 출력신호(VOUT)를 접지전압(VSS)으로 풀다운(pull-down)시키는 풀다운부(300A)와, 반전 입력신호(VINB)에 따라 출력신호(VOUT)를 전원전압(VDDH)으로 풀업(pull-up)시키는 풀업부(300B)를 포함한다.Referring to FIG. 3A, the level shifter 300 according to an embodiment of the present invention may output an output signal V OUT according to a first non-inverting input signal V IN and a second non-inverting input signal V INS . A pull-down unit 300A that pulls down to the ground voltage VSS, and pulls up the output signal V OUT to the power supply voltage VDDH according to the inverting input signal V INB . And a pull-up part 300B.

도 3b를 참조하면, 상기 제1, 2 비반전 입력신호(VIN, VINS)와 상기 반전 입력신호(VINB)는 하이 레벨일 때 VDD의 전압값을 가지며 로우 레벨일 때 VSSL의 전압값을 갖는다. 그리고, 상기 출력신호(VOUT)는 하이 레벨일 때 VDD 보다 높은 VDDH의 전압값을 가지며, 로우 레벨일 때 VSSL 보다 높은 VSS의 전압값을 갖는다. Referring to FIG. 3B, the first and second non-inverting input signals V IN and V INS and the inverting input signal V INB have a voltage value of VDD at a high level and a voltage value of VSSL at a low level. Has The output signal V OUT has a voltage value of VDDH higher than VDD at a high level, and has a voltage value of VSS higher than VSSL at a low level.

상기 제1 비반전 입력신호(VIN)는 상기 반전 입력신호(VINB)와 반대의 위상을 가지며, 상기 반전 입력신호(VINB)가 로우 레벨에서 하이 레벨로 변화된 이후에 상기 제2 비반전 입력신호(VINS)가 하이 레벨에서 로우 레벨로 변화된다. 여기에서, 상기 제2 비반전 입력신호(VINS)는 풀업 동작시 상기 출력신호(VOUT)를 전원전압(VDDH)으로 풀업시키는 역할을 하며, 이에 대하여는 이하에서 더 자세히 설명하기로 한다.The first non-inverting input signal (V IN) is the second non-inverted after having a phase opposite to the inverted input signal (V INB), the inverting input signal (V INB) is changed from the low level to the high level The input signal V INS is changed from high level to low level. Here, the second non-inverting input signal V INS serves to pull up the output signal V OUT to the power supply voltage VDDH during a pull-up operation, which will be described in detail below.

상기 풀다운부(300A)는 소스가 접지전압(VSS)에 연결되어 풀다운 동작을 수행하는 제1 내지 제4 산화물 박막 트랜지스터(N1~N4)로 구성되며, 상기 풀업부(300B)는 드레인이 전원전압(VDDH)에 연결되어 풀업 동작을 수행하는 제5 내지 제9 산화물 박막 트랜지스터(N5~N9)로 구성된다. The pull-down unit 300A includes first to fourth oxide thin film transistors N1 to N4 having a source connected to the ground voltage VSS to perform a pull-down operation, and the pull-up unit 300B has a drain supply voltage. And fifth to ninth oxide thin film transistors N5 to N9 connected to the VDDH to perform a pull-up operation.

상기 제1 내지 제9 산화물 박막 트랜지스터(N1~N9)는 N형 산화물 박막 트랜지스터인 것이 바람직하다.It is preferable that the first to ninth oxide thin film transistors N1 to N9 are N-type oxide thin film transistors.

상기 제1, 2 산화물 박막 트랜지스터(N1, N2)는 게이트에 입력되는 제1, 2 비반전 입력신호(VIN, VINS)에 따라 제1, 2 노드(A, B)의 전압을 접지전압(VSS)으로 풀다운시키고, 상기 제3, 4 산화물 박막 트랜지스터(N3, N4) 역시 게이트에 입력되는 제1, 2 비반전 입력신호(VIN, VINS)에 따라 제3, 4 노드(C, D)의 전압을 접지전압(VSS)으로 풀다운시킨다. The first and second oxide thin film transistors N1 and N2 may ground voltages of the first and second nodes A and B according to the first and second non-inverting input signals V IN and V INS input to the gate. The third and fourth oxide thin film transistors N3 and N4 are also pulled down to VSS, and the third and fourth nodes C, according to the first and second non-inverting input signals V IN and V INS , which are also input to the gate. Pull down the voltage of D) to ground voltage (VSS).

상기 제1 내지 제4 노드(A~D)를 통해 상기 풀다운부(300A)와 상기 풀업부(300B)가 연결되며, 상기 제1 노드(A)로부터 출력신호(VOUT)가 출력된다. The pull-down unit 300A and the pull-up unit 300B are connected to each other through the first to fourth nodes A to D, and an output signal V OUT is output from the first node A.

상기 제5 산화물 박막 트랜지스터(N5)는 게이트에 입력되는 반전 입력신호(VINB)를 상기 제6 산화물 박막 트랜지스터(N6)의 게이트로 출력한다. The fifth oxide thin film transistor N5 outputs the inverted input signal V INB input to the gate to the gate of the sixth oxide thin film transistor N6.

상기 제6 산화물 박막 트랜지스터(N6)는 게이트에 입력되는 상기 반전 입력신호(VINB)에 따라 소스에 연결된 상기 제2 노드(B)의 전압을 전원전압(VDDH)으로 풀업시키며, 상기 제2 노드(B)의 전압은 상기 제8 산화물 박막 트랜지스터(N8)의 게이트로 입력된다. 상기 제8 산화물 박막 트랜지스터(N8)는 게이트에 입력되는 상기 제2 노드(B)의 전압에 따라 소스에 연결된 상기 제4 노드(D)의 전압을 전원전압(VDDH)으로 풀업시킨다. The sixth oxide thin film transistor N6 pulls up a voltage of the second node B connected to a source to a power supply voltage VDDH according to the inverted input signal V INB input to a gate, and the second node. The voltage of (B) is input to the gate of the eighth oxide thin film transistor N8. The eighth oxide thin film transistor N8 pulls up the voltage of the fourth node D connected to the source to the power supply voltage VDDH according to the voltage of the second node B input to the gate.

전원전압(VDDH)으로 풀업된 상기 제4 노드(D)의 전압은 상기 제7 산화물 박막 트랜지스터(N7)의 게이트로 입력되며, 상기 제7 산화물 박막 트랜지스터(N7)는 게이트에 입력되는 상기 제4 노드(D)의 전압에 따라 소스에 연결된 상기 제1 노드(A)의 전압을 전원전압(VDDH)으로 풀업시킨다. The voltage of the fourth node D pulled up to the power supply voltage VDDH is input to the gate of the seventh oxide thin film transistor N7, and the seventh oxide thin film transistor N7 is input to the gate. According to the voltage of the node (D) pulls up the voltage of the first node (A) connected to the source to the power supply voltage (VDDH).

상기 제1 노드(A)의 전압은 상기 제9 산화물 박막 트랜지스터(N9)의 게이트로 입력되며, 상기 제9 산화물 박막 트랜지스터(N9)는 게이트에 입력되는 상기 제1 노드(A)의 전압에 따라 소스에 연결된 상기 제3 노드(C)의 전압을 전원전압(VDDH)으로 풀업시킨다.The voltage of the first node A is input to the gate of the ninth oxide thin film transistor N9, and the ninth oxide thin film transistor N9 is input according to the voltage of the first node A input to the gate. The voltage of the third node C connected to the source is pulled up to the power supply voltage VDDH.

즉, 상기 제6 산화물 박막 트랜지스터(N6)와 상기 제7 산화물 박막 트랜지스터(N7)가 래치 구조로 연결되고, 상기 제6, 7 산화물 박막 트랜지스터(N6, N7)의 전류 구동 능력을 각각 증가시키기 위해 상기 제6 산화물 박막 트랜지스터(N6)에 상기 제8 산화물 박막 트랜지스터(N8)가 연결되고 상기 제7 산화물 박막 트랜지스터(N7)에 상기 제9 산화물 박막 트랜지스터(N9)가 연결된 것으로 볼 수 있다.That is, the sixth oxide thin film transistor N6 and the seventh oxide thin film transistor N7 are connected in a latch structure, and to increase the current driving capability of the sixth and seventh oxide thin film transistors N6 and N7, respectively. The eighth oxide thin film transistor N8 is connected to the sixth oxide thin film transistor N6, and the ninth oxide thin film transistor N9 is connected to the seventh oxide thin film transistor N7.

이러한 래치 구조에 의해 풀업 동작시 출력신호(VOUT)가 전원전압(VDDH)으로 원활하게 풀업되어 풀스윙이 가능하게 되며, 이에 대하여는 나중에 더 자세히 설명하기로 한다.By the latch structure, the output signal V OUT is smoothly pulled up to the power supply voltage VDDH during the pull-up operation, thereby allowing the pull swing to be described later.

이와 같은 구조를 갖는 레벨 시프터(300)의 동작을 구체적으로 살펴보면 다음과 같다.Looking at the operation of the level shifter 300 having such a structure in detail as follows.

먼저, 출력신호(VOUT)가 접지전압(VSS)으로 풀다운되는 과정에 대하여 설명한다. First, a process of pulling down the output signal V OUT to the ground voltage VSS will be described.

상기 제1 비반전 입력신호(VIN)와 상기 제2 비반전 입력신호(VINS)가 로우 레벨에서 하이 레벨이 되면, 상기 제1 내지 제4 산화물 박막 트랜지스터(N1~N4)가 모두 턴온되어 상기 제1 내지 제4 노드(A~D)의 전압이 모두 접지전압(VSS)이 되며, 이에 따라 출력신호(VOUT)는 접지전압(VSS)으로 풀다운된다.When the first non-inverting input signal V IN and the second non-inverting input signal V INS become low level to high level, all of the first to fourth oxide thin film transistors N1 to N4 are turned on. The voltages of the first to fourth nodes A to D become the ground voltage VSS, and accordingly, the output signal V OUT is pulled down to the ground voltage VSS.

이 때, 상기 제5 내지 제9 산화물 박막 트랜지스터(N5~N9)가 모두 턴오프되므로, 전원전압(VDDH)으로부터 상기 제1 내지 제4 노드(A~D)쪽으로 전류가 흐르지 않게 되어 불필요한 전력 소모를 줄일 수 있다.At this time, since all of the fifth to ninth oxide thin film transistors N5 to N9 are turned off, no current flows from the power supply voltage VDDH toward the first to fourth nodes A to D, thereby consuming unnecessary power. Can be reduced.

다음으로, 출력신호(VOUT)가 전원전압(VDDH)으로 풀업되는 과정에 대하여 설명한다.Next, a process of pulling up the output signal V OUT to the power supply voltage VDDH will be described.

상기 반전 입력신호(VINB)가 로우 레벨에서 하이 레벨이 되면, 상기 제5 산화물 박막 트랜지스터(N5)가 턴온되며, 이에 따라 전원전압(VDDH)에서 상기 제5 산화물 박막 트랜지스터(N5)의 문턱전압(VTH)을 뺀 전압(VDDH-VTH)이 상기 제6 산화물 박막 트랜지스터(N6)의 게이트에 걸리게 되어 상기 제6 산화물 박막 트랜지스터(N6)도 턴온된다. When the inverting input signal V INB goes from a low level to a high level, the fifth oxide thin film transistor N5 is turned on, and accordingly, a threshold voltage of the fifth oxide thin film transistor N5 is applied at a power supply voltage VDDH. (V TH) voltage (VDDH-V TH) obtained by subtracting the said sixth is caught in the gate of the oxide thin film transistor (N6) of claim 6 wherein the oxide thin film transistor (N6) is also turned on.

상기 제6 산화물 박막 트랜지스터(N6)가 턴온되면, 상기 제8 산화물 박막 트랜지스터(N8)도 턴온된다.When the sixth oxide thin film transistor N6 is turned on, the eighth oxide thin film transistor N8 is also turned on.

이 때, 상기 제2 비반전 입력신호(VINS)가 하이 레벨에서 로우 레벨로 변화되며, 이에 따라 상기 제2, 4 산화물 박막 트랜지스터(N2, N4)가 턴오프된다.In this case, the second non-inverting input signal V INS is changed from a high level to a low level, thereby turning off the second and fourth oxide thin film transistors N2 and N4.

상기 제2, 4 산화물 박막 트랜지스터(N2, N4)가 턴오프되면, 상기 턴오프된 제2, 4 산화물 박막 트랜지스터(N2, N4)가 상기 제 2, 4 노드(B, D)로부터 흘러나오는 전류를 막는 역할을 하며, 이에 따라 상기 제 2, 4 노드(B, D)의 전압은 전원전압(VDDH)으로 상승된다.When the second and fourth oxide thin film transistors N2 and N4 are turned off, the turned-off second and fourth oxide thin film transistors N2 and N4 flow out of the second and fourth nodes B and D. The voltage of the second and fourth nodes B and D is increased to the power supply voltage VDDH.

전원전압(VDDH)으로 상승된 상기 제4 노드(D)의 전압에 의해 상기 제7 산화물 박막 트랜지스터(N7)가 턴온되며, 이에 따라 상기 출력신호(VOUT)가 전원전압(VDDH)으로 풀업되면서 상기 제9 산화물 박막 트랜지스터(N9)가 턴온된다.The seventh oxide thin film transistor N7 is turned on by the voltage of the fourth node D raised to the power supply voltage VDDH, so that the output signal V OUT is pulled up to the power supply voltage VDDH. The ninth oxide thin film transistor N9 is turned on.

이 때, 출력신호(VOUT)가 전원전압(VDDH)으로 완전히 풀업될 때까지 래치 구조에 의해 상기 제6, 8 산화물 박막 트랜지스터(N6, N8)가 계속 턴온 상태를 유지하므로 풀스윙이 가능하게 된다. At this time, the sixth and eighth oxide thin film transistors N6 and N8 are continuously turned on by the latch structure until the output signal V OUT is fully pulled up to the power supply voltage VDDH, thereby enabling full swing. do.

또한, 로우 레벨(VSSL)을 갖는 상기 제1, 2 비반전 입력신호(VIN, VINB)에 의해 상기 제1 내지 제4 산화물 박막 트랜지스터(N1~N4)가 확실하게 턴오프되므로, 상기 제1 내지 제4 노드(A~D)로부터 접지전압(VSS)쪽으로 전류가 흐르지 않게 되어 불필요한 전력 소모를 줄일 수 있다. In addition, since the first to fourth oxide thin film transistors N1 to N4 are reliably turned off by the first and second non-inverting input signals V IN and V INB having a low level VSSL. Since no current flows from the first to fourth nodes A to D toward the ground voltage VSS, unnecessary power consumption may be reduced.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 레벨 시프터(300)는 산화물 박막 트랜지스터들(N1~N9)로만 구성되어 디스플레이 패널에 내장이 가능하므로 디스플레이 구동 장치의 소형화 및 제조 비용의 감소를 도모할 수 있다. As described above, the level shifter 300 according to the present invention is composed of only the oxide thin film transistors N1 to N9 so that the level shifter 300 may be embedded in the display panel, thereby miniaturizing the display driving apparatus and reducing the manufacturing cost.

그리고, 종래의 단일형 구조의 레벨 시프터는 풀업 동작이 원활하지 않아 풀스윙이 어렵다는 문제점이 있지만, 본 발명에 따른 레벨 시프터(300)는 풀업 트랜지스터들의 래치 구조에 의해 출력신호의 범위가 VDDH~VSS가 되므로 풀스윙이 가능하다는 잇점이 있다.In addition, the conventional single-level level shifter has a problem in that pull-swing is difficult due to a poor pull-up operation. The advantage is that full swings are possible.

또한, 종래의 단일형 구조의 레벨 시프터는 대기 상태에서 불필요한 전력 소모가 발생되는 문제점이 있지만, 본 발명에 따른 레벨 시프터(300)에 포함된 산화물 박막 트랜지스터들은 대기 상태에서 확실히 턴오프되므로, 이에 따라 대기 상태에서 불필요한 전력 소모를 줄일 수 있다.
In addition, the conventional single-level level shifter has a problem in that unnecessary power consumption occurs in the standby state, but the oxide thin film transistors included in the level shifter 300 according to the present invention are certainly turned off in the standby state, and thus standby In this state, unnecessary power consumption can be reduced.

(제2 실시예)(Second Embodiment)

도 4a 내지 도 4f는 본 발명의 제2 실시예에 따른 레벨 시프터를 나타내는 도면이다.4A to 4F are diagrams illustrating a level shifter according to a second embodiment of the present invention.

먼저, 도 4a에 도시된 바와 같이 레벨 시프터의 출력단에는 출력신호의 안정화를 위해 제10, 11 산화물 박막 트랜지스터(N10, N11)로 구성된 버퍼부(300C)가 연결될 수 있다. 그리고, 도 4b에 도시된 바와 같이 도 4a에 도시된 레벨 시프터를 하나의 비반전 입력신호(VIN)에 대하여 풀업/풀다운 동작을 수행하는 구조로 구성할 수도 있다.First, as illustrated in FIG. 4A, a buffer unit 300C including tenth and eleventh oxide thin film transistors N10 and N11 may be connected to an output terminal of a level shifter to stabilize an output signal. As shown in FIG. 4B, the level shifter shown in FIG. 4A may be configured to perform a pull up / pull down operation on one non-inverting input signal V IN .

다음으로, 도 4c에 도시된 바와 같이 도 4a에 도시된 레벨 시프터에서 제4, 8 산화물 박막 트랜지스터(N4, N8)를 생략하여 래치 구조를 간단화할 수 있다. 이 경우에서도 마찬가지로 도 4d에 도시된 바와 같이 도 4c에 도시된 레벨 시프터를 하나의 비반전 입력신호(VIN)에 대하여 풀업/풀다운 동작을 수행하는 구조로 구성할 수 있다.Next, as illustrated in FIG. 4C, the latch structure may be simplified by omitting the fourth and eighth oxide thin film transistors N4 and N8 from the level shifter shown in FIG. 4A. In this case, as shown in FIG. 4D, the level shifter illustrated in FIG. 4C may be configured to perform a pull up / pull down operation on one non-inverting input signal V IN .

다음으로, 도 4e에 도시된 바와 같이 도 4c에 도시된 레벨 시프터에서 제3, 9 산화물 박막 트랜지스터(N3, N9)를 생략하여 래치 구조를 간단화할 수 있다. 이 경우에서도 마찬가지로 도 4f에 도시된 바와 같이 도 4e에 도시된 레벨 시프터를 하나의 비반전 입력신호(VIN)에 대하여 풀업/풀다운 동작을 수행하는 구조로 구성할 수 있다.Next, as shown in FIG. 4E, the latch structure may be simplified by omitting the third and ninth oxide thin film transistors N3 and N9 from the level shifter shown in FIG. 4C. In this case, as shown in FIG. 4F, the level shifter illustrated in FIG. 4E may be configured to perform a pull-up / pull-down operation on one non-inverting input signal V IN .

상기 도 4b, 도 4d 및 도 4f에 도시된 레벨 시프터는 입력신호(VIN)와 반대 위상의 출력신호(VOUT)를 출력하므로, 입력신호를 반전시켜 출력하는 인버터로 사용될 수 있다.The level shifter illustrated in FIGS. 4B, 4D, and 4F outputs an output signal V OUT having a phase opposite to that of the input signal V IN , and thus may be used as an inverter for inverting and outputting the input signal.

다만, 도 4c 내지 도 4f의 경우 구조가 간단화되는 장점은 있지만, 도 4a에 도시된 레벨 시프터에 비하여 전류 구동 능력이 다소 낮아질 수 있다.
However, in the case of FIGS. 4C to 4F, the structure is simplified, but the current driving capability may be slightly lower than that of the level shifter illustrated in FIG. 4A.

(제3 실시예)(Third Embodiment)

본 발명에 따른 레벨 시프터는 스캔 구동회로에 적용될 수 있으며, 본 발명의 이해를 돕기 위해 스캔 구동회로에 대하여 간략하게 설명하면 다음과 같다.The level shifter according to the present invention may be applied to a scan driving circuit, and the scan driving circuit will be briefly described as follows to help understanding of the present invention.

도 5a는 일반적인 스캔 구동회로를 나타내는 도면이며, 도 5b는 도 5a에 도시된 스캔 구동회로의 동작 파형을 나타내는 도면이다.FIG. 5A is a diagram illustrating a general scan driving circuit, and FIG. 5B is a diagram showing an operation waveform of the scan driving circuit shown in FIG. 5A.

도 5a 및 도 5b를 참조하면, 스캔 구동회로(SC1~SCN)는 멀티플렉서(511)와 D-플립플롭(513)으로 구성된 시프트 레지스터(510), 마스크(530), 레벨 시프터(550) 및 버퍼(570)를 각각 포함하며, 디스플레이 패널의 각 라인에 스캔 신호를 순차적으로 인가한다.5A and 5B, the scan driving circuits SC 1 to SC N may include a shift register 510, a mask 530, and a level shifter 550 including a multiplexer 511 and a D-flip-flop 513. And a buffer 570, respectively, and sequentially apply a scan signal to each line of the display panel.

상기 스캔 구동회로(SC1~SCN)로부터 출력되는 스캔 신호가 각 라인에 인가되면, 각 라인에 연결된 화소에서는 데이터 구동회로에서 입력받은 데이터 신호에 따라 영상을 디스플레이한다. When a scan signal output from the scan driving circuits SC 1 to SC N is applied to each line, an image is displayed according to the data signal input from the data driving circuit in the pixels connected to each line.

하지만, 이러한 구조의 스캔 구동회로(SC1~SCN)는 상기 레벨 시프터(550)에 N형 트랜지스터와 P형 트랜지스터가 모두 사용되기 때문에(도 1a 참조), 디스플레이 패널에 집적하는 것이 어렵다는 문제점이 있다.However, the scan drive circuits SC 1 to SC N having such a structure have a problem that it is difficult to integrate them into the display panel because both the N-type transistor and the P-type transistor are used in the level shifter 550 (see FIG. 1A). have.

이를 위해 본 발명에서는 산화물 박막 트랜지스터만으로 구성된 레벨 시프터를 이용하여 스캔 구동회로를 구현하였으며, 이에 대하여 더 자세히 설명하면 다음과 같다.To this end, in the present invention, a scan driving circuit is implemented by using a level shifter composed of only an oxide thin film transistor, which will be described in more detail as follows.

도 6a는 본 발명에 따른 레벨 시프터를 포함하는 스캔 구동회로를 나타내는 도면이며, 도 6b는 도 6a에 도시된 스캔 구동회로의 동작 파형을 나타내는 도면이다.6A is a diagram illustrating a scan driving circuit including a level shifter according to the present invention, and FIG. 6B is a diagram illustrating an operation waveform of the scan driving circuit illustrated in FIG. 6A.

도 6a를 참조하면, 본 발명에 따른 스캔 구동회로(600)는, 전단의 출력신호(OUTN -1)에 따라 레벨 시프터(600B)에 비반전 입력신호와 반전 입력 신호를 출력하는 입력부(600A)와, 상기 입력부(600A)로부터 출력되는 상기 비반전 입력신호와 상기 반전 입력 신호에 따라 로우 레벨 또는 하이 레벨의 출력신호를 출력하는 레벨 시프터(600B)와, 상기 레벨 시프터(600B)로부터 출력되는 출력신호를 안정화시켜 출력하는 버퍼부(600C)를 포함한다.Referring to FIG. 6A, the scan driving circuit 600 according to the present invention includes an input unit 600A for outputting a non-inverting input signal and an inverting input signal to the level shifter 600B according to the output signal OUT N -1 at the front end. ), A level shifter 600B for outputting a low level or high level output signal according to the non-inverting input signal and the inverting input signal output from the input unit 600A, and a level shifter 600B output from the level shifter 600B. And a buffer unit 600C for stabilizing and outputting the output signal.

상기 입력부(600A)는 제1 내지 제6 산화물 박막 트랜지스터(N1~N6)로 구성되고, 상기 레벨 시프터(600B)는 제1, 2 캐패시터(C1, C2) 및 제7 내지 제12 산화물 박막 트랜지스터(N7~N12)로 구성되며, 상기 버퍼부(600C)는 제13 내지 제16 산화물 박막 트랜지스터(N13~N16)로 구성된다. The input unit 600A includes first to sixth oxide thin film transistors N1 to N6, and the level shifter 600B includes first and second capacitors C1 and C2 and seventh to twelfth oxide thin film transistors ( N7 to N12, and the buffer unit 600C includes thirteenth to sixteenth oxide thin film transistors N13 to N16.

여기에서, 상기 제1 내지 제16 산화물 박막 트랜지스터(N1~N16)는 N형 산화물 박막 트랜지스터인 것이 바람직하다.The first to sixteenth oxide thin film transistors N1 to N16 may be N-type oxide thin film transistors.

상기 제1, 2 산화물 박막 트랜지스터(N1, N2)는 게이트에 각각 입력되는 제1 클럭신호(IN1)와 상기 전단의 출력신호(OUTN -1)에 따라 로우 레벨(VSS) 및 하이 레벨(VDDH)의 전압을 제1 노드(A)에 각각 전달한다.The first and second oxide thin film transistors N1 and N2 have a low level VSS and a high level VDDH according to a first clock signal IN1 input to a gate and an output signal OUT N -1 of the previous stage, respectively. ) Is transferred to the first node A, respectively.

이와 유사하게, 상기 제3, 4 산화물 박막 트랜지스터(N3, N4)는 게이트에 입력되는 상기 제1 노드(A)의 전압과 상기 제1 클럭신호(IN1)에 따라 로우 레벨(VSS) 및 하이 레벨(VDDH)의 전압을 제2 노드(B)에 각각 전달한다.Similarly, the third and fourth oxide thin film transistors N3 and N4 have a low level VSS and a high level according to the voltage of the first node A and the first clock signal IN1 input to the gate. The voltage of VDDH is transferred to the second node B, respectively.

그리고, 제5, 6 산화물 박막 트랜지스터(N5, N6)는 제2 클럭신호(IN2)에 따라 상기 제1, 2 노드(A, B)의 전압을 제3, 4 노드(C, D)로 각각 출력한다. The fifth and sixth oxide thin film transistors N5 and N6 respectively convert the voltages of the first and second nodes A and B to the third and fourth nodes C and D according to the second clock signal IN2. Output

여기에서, 상기 제3 노드(C)의 전압은 상기 레벨 시프터(600B)에 반전 입력신호로 출력되며, 상기 제4 노드(D)의 전압은 상기 레벨 시프터(600B)에 비반전 입력신호로 출력된다.Here, the voltage of the third node C is output as an inverting input signal to the level shifter 600B, and the voltage of the fourth node D is output as a non-inverting input signal to the level shifter 600B. do.

이와 같은 구조는 도 3a에 도시된 레벨 시프터(300)에 풀업 동작을 위한 반전 입력신호와 풀다운 동작을 위한 비반전 입력신호가 입력되는 구조와 동일하다. 따라서, 이하의 설명에서 출력신호가 하이 레벨(VDDH)로 상승 및 로우 레벨(VSS)로 하강되는 것은 출력신호가 전원전압(VDDH)으로 풀업 및 접지전압(VSS)으로 풀다운되는 것과 동일한 의미로 해석될 수 있다.This structure is the same as the structure in which the inverted input signal for the pull-up operation and the non-inverted input signal for the pull-down operation are input to the level shifter 300 shown in FIG. 3A. Therefore, in the following description, the output signal rises to the high level VDDH and falls to the low level VSS is interpreted in the same sense as the output signal pulled up to the power supply voltage VDDH and pulled down to the ground voltage VSS. Can be.

상기 제1, 2 캐패시터(C1, C2)는 상기 제5, 6 산화물 박막 트랜지스터(N5, N6)에 각각 연결되며, 상기 제7, 8 산화물 박막 트랜지스터(N7, N8)의 게이트에는 상기 제4 노드(D)의 전압과 상기 제3 노드(C)의 전압이 각각 입력된다. The first and second capacitors C1 and C2 are connected to the fifth and sixth oxide thin film transistors N5 and N6, respectively, and the fourth node is provided at a gate of the seventh and eighth oxide thin film transistors N7 and N8. The voltage of (D) and the voltage of the third node C are respectively input.

상기 제9 산화물 박막 트랜지스터(N9)는 게이트에 입력되는 제3 클럭신호(IN3)에 따라 드레인에 연결된 상기 제5 노드(E)의 전압을 로우 레벨(VSS)로 하강시키며, 상기 제10 산화물 박막 트랜지스터(N10)는 상기 제8 산화물 박막 트랜지스터(N8)의 소스에 게이트가 연결되어 상기 제3 노드(C)의 전압에 따라 상기 제5 노드(E)의 전압을 하이 레벨(VDDH)로 상승시킨다. The ninth oxide thin film transistor N9 lowers the voltage of the fifth node E connected to the drain to a low level VSS according to the third clock signal IN3 input to the gate, and the tenth oxide thin film The transistor N10 has a gate connected to the source of the eighth oxide thin film transistor N8 to raise the voltage of the fifth node E to a high level VDDH according to the voltage of the third node C. .

상기 제11 산화물 박막 트랜지스터(N11)는 게이트에 입력되는 제4 클럭신호(IN4)에 따라 드레인에 연결된 제6 노드(F)의 전압을 로우 레벨(VSS)로 하강시키며, 상기 제12 산화물 박막 트랜지스터(N12)는 상기 제10 산화물 박막 트랜지스터(N10)와 래치 구조로 연결되어 상기 제5 노드(E)의 전압에 따라 상기 제6 노드(F)의 전압을 하이 레벨(VDDH)로 상승시킨다. 여기에서, 상기 제5 노드(E)의 전압이 상기 버퍼부(600C)로 출력된다.The eleventh oxide thin film transistor N11 drops the voltage of the sixth node F connected to the drain to a low level VSS according to the fourth clock signal IN4 input to the gate. N12 is connected to the tenth oxide thin film transistor N10 in a latch structure to increase the voltage of the sixth node F to a high level VDDH according to the voltage of the fifth node E. FIG. Here, the voltage of the fifth node E is output to the buffer unit 600C.

상기 제13, 14 산화물 박막 트랜지스터(N13, N14)는 게이트에 각각 입력되는 상기 제3 클럭신호(IN3)와 상기 제5 노드(E)의 전압에 따라 로우 레벨(VSS) 및 하이 레벨(VDDH)의 전압을 제7 노드(G)에 각각 전달한다. The thirteenth and fourteenth oxide thin film transistors N13 and N14 have a low level VSS and a high level VDDH according to voltages of the third clock signal IN3 and the fifth node E, which are respectively input to a gate. Voltage is transferred to the seventh node G, respectively.

이와 유사하게, 상기 제15, 16 산화물 박막 트랜지스터(N15, N16)는 게이트에 각각 입력되는 상기 제3 클럭신호(IN3)와 상기 제7 노드(G)의 전압에 따라 로우 레벨(VSS) 및 하이 레벨(VDDH)의 전압을 제8 노드(H)에 각각 전달한다. 여기에서, 상기 제8 노드(H)의 전압이 상기 버퍼부(600C)로부터 출력된다.Similarly, the fifteenth and sixteenth oxide thin film transistors N15 and N16 have a low level VSS and a high voltage according to the voltages of the third clock signal IN3 and the seventh node G respectively input to a gate. The voltage of the level VDDH is transferred to the eighth node H, respectively. Here, the voltage of the eighth node H is output from the buffer unit 600C.

이와 같은 구조를 갖는 스캔 구동회로(600)의 동작에 대하여 도 6b를 참조하여 더 자세히 설명하면 다음과 같다.The operation of the scan driving circuit 600 having such a structure will be described in more detail with reference to FIG. 6B as follows.

설명의 편의를 위해 도 6b에 도시된 신호의 파형에 대하여 간략하게 설명하면 다음과 같다.For convenience of explanation, the waveform of the signal illustrated in FIG. 6B will be briefly described as follows.

상기 제1 내지 제4 클럭신호(IN1~IN4)는 하이 레벨일 때 VDD의 전압값을 가지며 로우 레벨일 때 VSSL의 전압값을 갖는다. 그리고, 상기 전단의 출력신호(OUTN -1)와 출력신호(VOUT)는 하이 레벨일 때 VDD 보다 높은 VDDH의 전압값을 가지며, 로우 레벨일 때 VSSL 보다 높은 VSS의 전압값을 갖는다. The first to fourth clock signals IN1 to IN4 have a voltage value of VDD at a high level and a voltage value of VSSL at a low level. The output signal OUT N -1 and the output signal V OUT of the previous stage have a voltage value of VDDH higher than VDD at a high level, and a voltage value of VSS higher than VSSL at a low level.

상기 제1 클럭신호(IN1)는 상기 전단의 출력신호(OUTN -1)와 서로 반대의 위상을 가지며, 상기 전단의 출력신호(OUTN -1)가 로우 레벨을 유지하는 경우 상기 제1 클럭신호(IN1)는 주기적으로 하이 레벨과 로우 레벨이 된다. The first clock signal (IN1) is said first clock if having the opposite phase to each other and the output signal (OUT N -1) of the front end, is held at the low level output signal (OUT N -1) of the front end The signal IN1 periodically goes to a high level and a low level.

상기 제2 클럭신호(IN2)는 상기 전단의 출력신호(OUTN -1)와 동일한 시점에서 하이 레벨에서 로우 레벨이 되는 신호로, 상기 제2 클럭신호(IN2)가 하이 레벨인 경우에는 상기 반전 입력신호 및 상기 비반전 입력신호가 상기 레벨 시프터(600B)로 전달되며, 상기 제2 클럭신호(IN2)가 로우 레벨인 경우에는 상기 입력부(600A)와 상기 레벨 시프터(600B)의 연결이 차단된다. The second clock signal IN2 is a signal that goes from a high level to a low level at the same time as the output signal OUT N -1 of the previous stage. When the second clock signal IN2 is at a high level, the inversion is performed. An input signal and the non-inverting input signal are transmitted to the level shifter 600B, and the connection between the input unit 600A and the level shifter 600B is cut off when the second clock signal IN2 is at a low level. .

상기 제3 클럭신호(IN3)는 상기 전단의 출력신호(OUTN -1)가 로우 레벨로 변화된 이후에 하이 레벨에서 로우 레벨이 되는 신호로, 상기 제3 클럭신호(IN3)에 의해 상기 전단의 출력신호(OUTN -1)가 완전히 로우 레벨로 변화된 이후에 상기 레벨 시프터(600B)의 출력신호가 하이 레벨로 상승되어 상기 버퍼부(600C)를 거쳐 안정적인 하이 레벨의 출력신호(OUTN)가 출력된다. The third clock signal IN3 is a signal from the high level to the low level after the output signal OUT N -1 of the front end is changed to the low level. The third clock signal IN3 is connected to the front end of the front end by the third clock signal IN3. After the output signal OUT N -1 is completely changed to the low level, the output signal of the level shifter 600B is raised to the high level so that the stable high level output signal OUT N is passed through the buffer unit 600C. Is output.

상기 제4 클럭신호(IN4)는 상기 전단의 출력신호(OUTN -1)가 로우 레벨로 변화되기 이전에 하이 레벨에서 로우 레벨이 되는 신호로, 상기 제4 클럭신호(IN4)에 의해 상기 레벨 시프터(600B)의 출력신호가 하이 레벨로 상승될 때 포지티브 피드백(Positive feedback)이 발생된다. 좀 더 자세히 설명하면, 상기 제4 클럭신호(IN4)에 의해 상기 제11 산화물 박막 트랜지스터(N11)가 턴오프되어 상기 제 6 노드(F)의 전압이 하이 레벨로 상승되면, 상기 제10 산화물 박막 트랜지스터(N10)가 턴온된다. 이 때, 상기 제10 산화물 박막 트랜지스터(N10)에 흐르는 전류는 나중에 상기 제 3클럭신호(IN3)가 로우 레벨이 될 때 포지티브 피드백을 발생시키며, 이러한 포지티브 피드백에 의해 상기 레벨 시프터(600B)의 출력신호가 하이 레벨로 상승된다.The fourth clock signal IN4 is a signal from the high level to the low level before the output signal OUT N -1 of the previous stage is changed to the low level. The fourth clock signal IN4 corresponds to the level by the fourth clock signal IN4. Positive feedback is generated when the output signal of the shifter 600B rises to a high level. In more detail, when the eleventh oxide thin film transistor N11 is turned off by the fourth clock signal IN4 and the voltage of the sixth node F rises to a high level, the tenth oxide thin film Transistor N10 is turned on. At this time, the current flowing through the tenth oxide thin film transistor N10 generates positive feedback when the third clock signal IN3 becomes low level, and the output of the level shifter 600B is generated by the positive feedback. The signal rises to high level.

첫번째로, 상기 전단의 출력신호(OUTN -1)가 하이 레벨인 제1 구간(S1)에서의 동작에 대하여 설명한다.First, the operation in the first section S1 at which the output signal OUT N -1 at the front end is at a high level will be described.

하이 레벨을 갖는 전단의 출력신호(OUTN -1)가 상기 제2 산화물 박막 트랜지스터(N2)의 게이트에 입력되면, 상기 제2 산화물 박막 트랜지스터(N2)가 턴온되어 제1 노드(A)의 전압이 VDDH가 된다. 이 때, 로우 레벨(VSSL)을 갖는 제1 클럭신호(IN1)에 의해 상기 제1, 4 산화물 박막 트랜지스터(N1, N4)가 확실하게 턴오프된다.When the output signal OUT N -1 of the previous stage having the high level is input to the gate of the second oxide thin film transistor N2, the second oxide thin film transistor N2 is turned on and the voltage of the first node A is turned on. This becomes VDDH. At this time, the first and fourth oxide thin film transistors N1 and N4 are reliably turned off by the first clock signal IN1 having the low level VSSL.

상기 제1 노드(A)의 전압이 VDDH가 되면, 상기 제3 산화물 박막 트랜지스터(N3)가 턴온되어 상기 제2 노드(B)의 전압은 VSS가 된다. When the voltage of the first node A becomes VDDH, the third oxide thin film transistor N3 is turned on so that the voltage of the second node B becomes VSS.

이 상태에서, 상기 제2 클럭신호(IN2)에 의해 상기 제5, 6 산화물 박막 트랜지스터(N5, N6)가 턴온되면, 상기 제3 노드(C)의 전압은 VDDH가 되고 상기 제4 노드(D)의 전압은 VSS가 되어, 상기 제7 산화물 박막 트랜지스터(N7)는 턴오프되고, 상기 제8 산화물 박막 트랜지스터(N8)는 턴온된다.In this state, when the fifth and sixth oxide thin film transistors N5 and N6 are turned on by the second clock signal IN2, the voltage of the third node C becomes VDDH and the fourth node D. ) Is set to VSS so that the seventh oxide thin film transistor N7 is turned off and the eighth oxide thin film transistor N8 is turned on.

상기 제8 산화물 박막 트랜지스터(N8)가 전류를 흘려 상기 제10 산화물 박막 트랜지스터(N10)가 턴온되면, 상기 제5 노드(E)의 전압은 VDDH가 되며, 이에 따라 상기 제12 산화물 박막 트랜지스터(N12)도 턴온된다.When the eighth oxide thin film transistor N8 flows through the current and the tenth oxide thin film transistor N10 is turned on, the voltage of the fifth node E becomes VDDH, and thus the twelfth oxide thin film transistor N12. ) Is also turned on.

이 때, 하이 레벨의 상기 제3 클럭신호(IN3)에 의해 상기 제9 산화물 박막 트랜지스터(N9)가 턴온되며, 이에 따라 상기 제10 산화물 박막 트랜지스터(N10)에서 상기 제9 산화물 박막 트랜지스터(N9)로 전류가 흐르게 되어 상기 제5 노드(E)의 전압은 VDDH에서 VSS로 낮아진다. 이와 유사하게 하이 레벨의 제4 클럭신호(IN4)에 의해 상기 제11 산화물 박막 트랜지스터(N11)도 턴온되어 상기 제12 산화물 박막 트랜지스터(N12)에서 상기 제11 산화물 박막 트랜지스터(N11)로 전류가 흐르게 되며, 이에 따라 상기 제6 노드(F)의 전압도 VDDH에서 VSS로 낮아진다.In this case, the ninth oxide thin film transistor N9 is turned on by the third clock signal IN3 having a high level. Accordingly, the ninth oxide thin film transistor N9 is turned on from the tenth oxide thin film transistor N10. As a current flows through the furnace, the voltage of the fifth node E is lowered from VDDH to VSS. Similarly, the eleventh oxide thin film transistor N11 is also turned on by the fourth clock signal IN4 having a high level so that a current flows from the twelfth oxide thin film transistor N12 to the eleventh oxide thin film transistor N11. Accordingly, the voltage of the sixth node F is also lowered from VDDH to VSS.

상기 제5 노드(E)의 전압이 VSS가 되면, 상기 제14 산화물 박막 트랜지스터(N14)가 턴오프되어 상기 제7 노드(G)의 전압이 VSS로 낮아지며, 이에 따라 상기 제16 산화물 박막 트랜지스터(N16)도 턴오프되어 출력신호(OUTN)는 VSS가 된다.When the voltage of the fifth node E becomes VSS, the fourteenth oxide thin film transistor N14 is turned off to lower the voltage of the seventh node G to VSS. N16 is also turned off so that the output signal OUT N becomes VSS.

두번째로, 상기 전단의 출력신호(OUTN -1)가 하이 레벨에서 로우 레벨이 될 때의 제2 구간(S2)에서의 동작에 대하여 설명한다.Secondly, the operation in the second section S2 when the output signal OUT N -1 at the front end goes from the high level to the low level will be described.

먼저, 로우 레벨의 상기 제4 클럭신호(IN4)에 의해 상기 제11 산화물 박막 트랜지스터(N11)가 턴오프되어 상기 제6 노드(F)의 전압이 VDDH로 상승된다.First, the eleventh oxide thin film transistor N11 is turned off by the fourth clock signal IN4 having a low level, and the voltage of the sixth node F is increased to VDDH.

이 때, 상기 제9 산화물 박막 트랜지스터(N9)는 턴온된 상태이므로 상기 제5 노드(E)의 전압은 VSS를 유지하며, 이에 따라 상기 제14, 16 산화물 박막 트랜지스터(N14, N16)가 턴오프되어 출력신호(OUTN)는 그대로 VSS를 유지하게 된다.In this case, since the ninth oxide thin film transistor N9 is turned on, the voltage of the fifth node E maintains VSS. Accordingly, the 14th and 16th oxide thin film transistors N14 and N16 are turned off. Thus, the output signal OUT N maintains VSS as it is.

다음으로, 로우 레벨의 상기 제2 클럭신호(IN2)에 의해 상기 제5, 6 산화물 박막 트랜지스터(N5, N6)가 턴오프되며, 이에 따라 상기 입력부(600A)와 상기 레벨 시프터(600B)의 연결이 차단된다. Next, the fifth and sixth oxide thin film transistors N5 and N6 are turned off by the second clock signal IN2 having a low level, thereby connecting the input unit 600A and the level shifter 600B. Is blocked.

세번째로, 상기 전단의 출력신호(OUTN -1)가 하이 레벨에서 로우 레벨로 변화된 이후의 제3 구간(S3)에서의 동작에 대하여 설명한다.Thirdly, the operation in the third section S3 after the output signal OUT N -1 of the previous stage is changed from the high level to the low level will be described.

먼저, 로우 레벨의 상기 제3 클럭신호(IN3)에 의해 상기 제9 산화물 박막 트랜지스터(N9)가 턴오프되어 상기 제5 노드(E)의 전압이 VDDH가 된다.First, the ninth oxide thin film transistor N9 is turned off by the third clock signal IN3 having a low level, so that the voltage of the fifth node E becomes VDDH.

상기 제5 노드(E)의 전압이 VDDH가 되면, 상기 제14 산화물 박막 트랜지스터(N14)가 턴온되어 상기 제7 노드(G)의 전압이 VDDH로 상승되며, 이에 따라 상기 제16 산화물 박막 트랜지스터(N16)도 턴온되어 출력신호(OUTN)는 VDDH가 된다. When the voltage of the fifth node E becomes VDDH, the fourteenth oxide thin film transistor N14 is turned on to raise the voltage of the seventh node G to VDDH. N16) is also turned on so that the output signal OUT N becomes VDDH.

이 때, 접지전압(VSS)에 연결된 상기 제13, 15 산화물 박막 트랜지스터(N13, N15)가 로우 레벨(VSSL)을 갖는 상기 제3 클럭신호(IN3)에 의해 확실하게 턴오프되므로 접지전압(VSS)쪽으로 전류가 흐르지 않게 되어 VDDH의 출력신호가 안정적으로 출력된다. 그리고, 상기 제2, 3, 4 클럭신호(IN2, IN3, IN4)가 모두 하이 레벨이 될 때까지 출력신호(OUTN)는 VDDH를 유지한다.At this time, since the thirteenth and fifteenth oxide thin film transistors N13 and N15 connected to the ground voltage VSS are reliably turned off by the third clock signal IN3 having a low level VSSL, the ground voltage VSS. No current flows to the) side, so the output signal of VDDH is stably output. The output signal OUT N maintains VDDH until all of the second, third, and fourth clock signals IN2, IN3, and IN4 become high levels.

요약하여 설명하면, 상기 전단의 출력신호(OUTN -1)가 하이 레벨에서 로우 레벨로 변화될 때까지 상기 레벨 시프터(600B)는 하이 레벨의 상기 제3 클럭신호(IN3)에 따라 로우 레벨(VSS)의 출력신호를 상기 버퍼부(600C)로 출력하며, 이에 따라 상기 버퍼부(600C)로부터 로우 레벨(VSS)의 출력신호(OUTN)가 출력된다.In summary, until the output signal OUT N -1 of the previous stage is changed from the high level to the low level, the level shifter 600B may have a low level according to the third clock signal IN3 having a high level. The output signal of VSS is output to the buffer unit 600C, and accordingly, the output signal OUT N of the low level VSS is output from the buffer unit 600C.

그리고, 상기 전단의 출력신호(OUTN -1)가 로우 레벨로 변화된 이후, 상기 레벨 시프터(600B)는 로우 레벨의 상기 제3 클럭신호(IN3)에 따라 하이 레벨(VDDH)의 출력신호를 상기 버퍼부(600C)로 출력하며, 이에 따라 상기 버퍼부(600C)로부터 하이 레벨(VDDH)의 출력신호(OUTN)가 출력된다.After the output signal OUT N -1 of the previous stage is changed to the low level, the level shifter 600B receives the output signal of the high level VDDH according to the third clock signal IN3 of the low level. The output signal OUT N of the high level VDDH is output from the buffer unit 600C.

즉, 본 발명에 따른 스캔 구동회로(600)는 상기와 같은 동작을 통해 각 라인의 화소에 순차적으로 스캔 신호를 인가할 수 있다.That is, the scan driving circuit 600 according to the present invention may sequentially apply the scan signal to the pixels of each line through the above operation.

그리고, 종래의 단일형 구조의 스캔 구동회로는 대기 상태에서 불필요한 전력 소모가 발생되는 문제점이 있지만, 본 발명에 따른 스캔 구동회로(600)는 전단의 출력신호(OUTN -1)가 로우 레벨인 경우 상기 제2 클럭신호(IN2)에 의해 상기 입력부(600A)와 상기 레벨 시프터(600B)와의 연결이 차단되어 대기 상태에서의 전력 소모를 줄일 수 있는 잇점이 있다.In addition, although the conventional scan driver circuit has a problem in that unnecessary power consumption occurs in a standby state, the scan driver circuit 600 according to the present invention has a low level when the output signal OUT N -1 of the previous stage is at a low level. The connection between the input unit 600A and the level shifter 600B is interrupted by the second clock signal IN2, thereby reducing power consumption in the standby state.

또한, 본 발명에 따른 스캔 구동회로(600)는 산화물 박막 트랜지스터들(N1~N16)로만 구성되어 디스플레이 패널에 내장이 가능하므로 디스플레이 구동 장치의 소형화 및 제조 비용의 감소를 도모할 수 있으며, 출력단에 연결된 상기 버퍼부(600C)에 의해 출력신호를 안정적으로 유지할 수 있는 잇점이 있다.In addition, the scan driving circuit 600 according to the present invention is composed of only the oxide thin film transistors (N1 ~ N16) and can be embedded in the display panel, thereby miniaturizing the display driving device and reducing the manufacturing cost, The connected buffer unit 600C has an advantage of keeping the output signal stable.

도 7은 도 6a에 도시된 스캔 구동회로가 디스플레이 패널의 각 라인에 연결되는 것을 나타낸 도면이다.FIG. 7 illustrates that the scan driving circuit illustrated in FIG. 6A is connected to each line of the display panel.

도 7을 참조하면, 각 스캔 구동회로(600)는 전단의 출력신호를 입력받아 4개의 클럭신호(IN1~IN4)에 의해 각 라인의 화소에 순차적으로 스캔 신호를 인가하며, 종래의 스캔 구동회로(도 5a 참조)에 비하여 간단한 배선 구조를 갖는 것을 알 수 있다.Referring to FIG. 7, each scan driving circuit 600 receives an output signal of a previous stage and sequentially applies a scan signal to the pixels of each line by four clock signals IN1 to IN4. It can be seen that it has a simple wiring structure as compared with (see FIG. 5A).

이제까지 본 발명에 대하여 그 바람직한 실시예들을 중심으로 설명하였다. 그러나, 본 발명의 실시예는 당업계에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위하여 제공되어지는 것으로, 본 발명의 범위가 상기의 실시예에 한정되는 것은 아니며, 여러 가지 다른 형태로 변형이 가능함은 물론이다.
The preferred embodiments of the present invention have been described above. It is to be understood, however, that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and alternative arrangements included within the spirit and scope of the appended claims. Of course.

Claims (10)

비반전 입력신호에 따라 출력신호를 접지전압으로 풀다운시키는 다수의 N형 산화물 박막 트랜지스터로 구성된 풀다운부; 및
반전 입력신호에 따라 상기 출력신호를 전원전압으로 풀업시키는 다수의 N형 산화물 박막 트랜지스터로 구성된 풀업부를 포함하며,
상기 풀업부를 구성하는 다수의 N형 산화물 박막 트랜지스터는 래치 구조로 연결되어 상기 출력신호를 상기 전원전압으로 풀업시키는 것을 특징으로 하는 레벨 시프터.
A pull-down part including a plurality of N-type oxide thin film transistors which pull down an output signal to a ground voltage according to a non-inverting input signal; And
A pull-up part including a plurality of N-type oxide thin film transistors configured to pull up the output signal to a power supply voltage according to an inverting input signal,
And a plurality of N-type oxide thin film transistors constituting the pull-up unit are connected in a latch structure to pull up the output signal to the power supply voltage.
제 1항에 있어서, 상기 풀다운부는,
게이트에 입력되는 제1, 2 비반전 입력신호에 따라 제1, 2 노드의 전압을 접지전압으로 풀다운시키는 제1, 2 산화물 박막 트랜지스터를 포함하며,
상기 제1 노드로부터 접지전압으로 풀다운된 출력신호가 출력되는 것을 특징으로 하는 레벨 시프터.
The method of claim 1, wherein the pull-down unit,
A first and second oxide thin film transistors configured to pull down voltages of the first and second nodes to ground voltages according to the first and second non-inverting input signals input to the gate;
And an output signal pulled down to the ground voltage from the first node is output.
제 2항에 있어서, 상기 풀다운부는,
게이트에 입력되는 상기 제1, 2 비반전 입력신호에 따라 제3, 4 노드의 전압을 접지전압으로 풀다운시키는 제3, 4 산화물 박막 트랜지스터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 레벨 시프터.
The method of claim 2, wherein the pull-down portion,
And a third and fourth oxide thin film transistor configured to pull down the voltages of the third and fourth nodes to the ground voltage according to the first and second non-inverting input signals input to the gate.
제 3항에 있어서,
상기 제1 비반전 입력신호는 상기 반전 입력신호와 반대의 위상을 가지며,
상기 반전 입력신호가 로우 레벨에서 하이 레벨로 변화된 이후에 상기 제2 비반전 입력신호가 하이 레벨에서 로우 레벨로 변화되는 것을 특징으로 하는 레벨 시프터.
The method of claim 3,
The first non-inverting input signal has a phase opposite to that of the inverting input signal,
And the second non-inverting input signal is changed from a high level to a low level after the inverting input signal is changed from a low level to a high level.
제 3항에 있어서, 상기 풀업부는,
게이트에 반전 입력신호가 입력되는 제5 산화물 박막 트랜지스터와,
상기 제5 산화물 박막 트랜지스터의 소스에 게이트가 연결되어 상기 반전 입력신호에 따라 상기 제2 노드의 전압을 전원전압으로 풀업시키는 제6 산화물 박막 트랜지스터와,
상기 제6 산화물 박막 트랜지스터와 래치 구조로 연결되어 상기 제2 노드의 전압에 따라 상기 제1 노드의 전압을 전원전압으로 풀업시키는 제7 산화물 박막 트랜지스터를 포함하며,
상기 제1 노드로부터 전원전압으로 풀업된 출력신호가 출력되는 것을 특징으로 하는 레벨 시프터.
The method of claim 3, wherein the pull-up unit,
A fifth oxide thin film transistor having an inverting input signal input to the gate;
A sixth oxide thin film transistor connected to a source of the fifth oxide thin film transistor to pull up a voltage of the second node to a power supply voltage according to the inversion input signal;
A seventh oxide thin film transistor connected to the sixth oxide thin film transistor in a latch structure to pull up the voltage of the first node to a power supply voltage according to the voltage of the second node;
And an output signal pulled up from the first node to a power supply voltage is output.
제 5항에 있어서, 상기 풀업부는,
상기 제6 산화물 박막 트랜지스터의 소스에 게이트가 연결되어 상기 제6 산화물 박막 트랜지스터의 전류 구동 능력을 증가시키는 제8 산화물 박막 트랜지스터와,
상기 제7 산화물 박막 트랜지스터의 소스에 게이트가 연결되어 상기 제7 산화물 박막 트랜지스터의 전류 구동 능력을 증가시키는 제9 산화물 박막 트랜지스터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 레벨 시프터.
The method of claim 5, wherein the pull-up unit,
An eighth oxide thin film transistor having a gate connected to a source of the sixth oxide thin film transistor to increase a current driving capability of the sixth oxide thin film transistor;
And a ninth oxide thin film transistor having a gate connected to a source of the seventh oxide thin film transistor to increase a current driving capability of the seventh oxide thin film transistor.
제 6항에 있어서,
상기 제8 산화물 박막 트랜지스터의 소스는 상기 제7 산화물 박막 트랜지스터의 게이트에 연결되고, 상기 제9 산화물 박막 트랜지스터의 소스는 상기 제6 산화물 박막 트랜지스터의 게이트에 연결되는 것을 특징으로 하는 레벨 시프터.
The method according to claim 6,
And a source of the eighth oxide thin film transistor is connected to a gate of the seventh oxide thin film transistor, and a source of the ninth oxide thin film transistor is connected to a gate of the sixth oxide thin film transistor.
제 7항에 있어서,
상기 제1, 2 비반전 입력신호가 하이 레벨이고 상기 반전 입력신호가 로우 레벨인 경우,
상기 제1, 2 비반전 입력신호에 의해 상기 풀다운부에 포함된 상기 제1 내지 제4 산화물 박막 트랜지스터가 모두 턴온되어 상기 출력신호가 접지전압으로 풀다운되고, 상기 반전 입력신호에 의해 상기 풀업부에 포함된 상기 제5 내지 제9 산화물 박막 트랜지스터가 모두 턴오프되어 전원전압으로부터 상기 제1 내지 제4 노드쪽으로 전류가 흐르지 않는 것을 특징으로 하는 레벨 시프터.
8. The method of claim 7,
When the first and second non-inverting input signals are high level and the inverting input signal is low level,
The first to fourth oxide thin film transistors included in the pull-down part are turned on by the first and second non-inverting input signals, and the output signal is pulled down to the ground voltage, and the pull-up part is turned on by the inverting input signal. And the fifth to ninth oxide thin film transistors are all turned off so that no current flows from the power supply voltage toward the first to fourth nodes.
제 8항에 있어서,
상기 제1, 2 비반전 입력신호가 로우 레벨이고 상기 반전 입력신호가 하이 레벨인 경우,
상기 제1, 2 비반전 입력신호에 의해 상기 풀다운부에 포함된 상기 제1 내지 제4 산화물 박막 트랜지스터가 모두 턴오프되어 상기 제1 내지 제4 노드로부터 접지전압쪽으로 전류가 흐르지 않고, 상기 반전 입력신호에 의해 상기 풀업부에 포함된 상기 제5 내지 제9 산화물 박막 트랜지스터가 모두 턴온되어 상기 출력신호가 전원전압으로 풀업되는 것을 특징으로 하는 레벨 시프터.
The method of claim 8,
When the first and second non-inverting input signals are at a low level and the inverting input signals are at a high level,
All of the first to fourth oxide thin film transistors included in the pull-down part are turned off by the first and second non-inverting input signals so that no current flows from the first to fourth nodes toward the ground voltage, and the inverting input is performed. And the fifth to ninth oxide thin film transistors included in the pull-up part are turned on by the signal, so that the output signal is pulled up to a power supply voltage.
제 9항에 있어서,
상기 제1, 2 비반전 입력신호와 상기 반전 입력신호의 로우 레벨(VSSL)은 상기 출력신호의 로우 레벨(VSS) 보다 더 낮은 것을 특징으로 하는 레벨 시프터.
The method of claim 9,
And the low level (VSSL) of the first and second non-inverting input signals and the inverting input signal is lower than the low level (VSS) of the output signal.
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