KR101307757B1 - Cooking device - Google Patents

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KR101307757B1
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이정호
심규인
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엘지전자 주식회사
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Abstract

본 발명은 조리실의 청소가 용이한 조리기기에 관한 것이다. 이를 위해, 본 발명은 조리기기 본체, 상기 조리기기 본체의 내부에서 음식물을 조리하기 위한 공간을 형성하며 상기 음식물에 노출된 내벽이 플라즈마 표면처리된 조리실, 상기 조리기기 본체와 결합하며 상기 조리실을 개폐하기 위한 도어, 그리고 상기 음식물의 조리를 위하여 상기 조리기기 본체를 제어하는 제어장치를 포함하는 조리기기를 제공한다. The present invention relates to a cooking appliance that is easy to clean the cooking chamber. To this end, the present invention forms a space for cooking food in the cooker main body, the inside of the cooker main body, the inner wall exposed to the food is combined with the cooking chamber, the surface of the cooking surface, the cooker main body and opening and closing the cooking chamber To provide a cooking device including a door for controlling the control unit for cooking the main body of the cooker for cooking the food.

본 발명에 의하면, 저온에서도 조리실 내부를 용이하게 청소할 수 있고, 이로 인하여 조리실 내부를 청소하는데 소요되는 시간과 소비전력을 줄일 수 있는 효과가 있다.According to the present invention, it is possible to easily clean the inside of the cooking chamber even at a low temperature, thereby reducing the time and power consumption required to clean the inside of the cooking chamber.

조리기기, 플라즈마, 표면처리, 대기압 Cooker, Plasma, Surface Treatment, Atmospheric Pressure

Description

조리기기{Cooking device}Cooking device

도 1은 본 발명에 따른 조리기기에 관한 일 실시예를 나타낸 사시도.1 is a perspective view showing an embodiment of a cooking appliance according to the present invention.

도 2는 본 발명에 따른 조리기기의 제작에 사용되는 플라즈마 처리장치에 관한 일 실시예를 개략적으로 나타낸 도면.2 is a view schematically showing an embodiment of a plasma processing apparatus used for manufacturing a cooking appliance according to the present invention.

도 3은 본 발명에 따른 조리기기의 제작에 사용되는 플라즈마 처리장치에 구비된 전극부의 다른 실시예를 나타낸 도면.Figure 3 is a view showing another embodiment of the electrode unit provided in the plasma processing apparatus used for manufacturing the cooking apparatus according to the present invention.

도 4는 본 발명에 따른 조리기기의 제작에 사용되는 플라즈마 처리장치에 구비된 전극부의 또 다른 실시예를 나타낸 도면.Figure 4 is a view showing another embodiment of the electrode unit provided in the plasma processing apparatus used for manufacturing the cooking apparatus according to the present invention.

도 5a 내지 5c는 플라즈마 표면처리된 기판의 젖음성을 나타내는 도면.5a to 5c are drawings showing the wettability of the plasma-treated substrate.

도 6은 본 발명에 따른 조리기기의 청소 성능을 나타내는 그래프.Figure 6 is a graph showing the cleaning performance of the cooking appliance according to the invention.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>Description of the Related Art

10: 조리기기 본체 20: 도어10: cooking appliance body 20: door

30: 제2 가열장치 40: 랙 서포터30: second heating device 40: rack supporter

50: 조리실 51: 내벽50: cooking chamber 51: inner wall

60: 랙 70: 제3 가열장치60: rack 70: third heating apparatus

80: 트레이 100: 기판80: tray 100: substrate

140: 제1 전극 160: 제2 전극140: first electrode 160: second electrode

본 발명은 조리기기에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 청소성을 향상시킨 조리기기 및 그 제어방법에 관한 것이다.The present invention relates to a cooking appliance, and more particularly, to a cooking appliance having improved cleaning properties and a control method thereof.

일반적으로 조리기기에는 오븐, 전자레인지 등 다양한 제품들이 있다. 전자레인지는 마그네트론 만을 구비하거나 마그네트론 및 히터를 이용하여 음식물을 조리하는 기기이다. 또한, 오븐은 조리재료를 밀폐한 후 가열하여 건열(乾熱)로 음식을 익히게 설계된 조리기구이다. 상기 음식물에 열을 공급하는 열원으로는 전기나 가스연료 등이 사용된다.In general, there are a variety of products, such as oven, microwave oven. A microwave oven is a device that includes only a magnetron or cooks food using a magnetron and a heater. In addition, the oven is a cooking utensil designed to cook food by drying and sealing the cooking material after heating. As a heat source for supplying heat to the food, electricity or gas fuel is used.

상기 조리기기들은 외형을 형성하는 조리기기 본체와, 음식물이 수용되는 공간을 형성하는 조리실과, 상기 조리실를 개폐하는 도어와, 상기 음식물을 요리하기 위한 가열장치를 포함한다. The cooking apparatuses include a cooking appliance body forming an appearance, a cooking chamber forming a space in which food is accommodated, a door for opening and closing the cooking chamber, and a heating device for cooking the food.

상기 조리실은 상기 오븐 본체의 내부에 형성되는 조리공간이며, 상기 도어는 상기 조리기기 본체의 전면에 힌지 결합되어 좌우 또는 상하로 개폐된다. 또한, 상기 가열장치는 조리실 내부의 일측에 구비되어, 음식물을 조리하기 위한 열에너지를 공급한다. 상기 가열장치에서 발생하는 열에너지는 대류 열전달이나 복사 열전달의 형식으로 음식물로 전달된다.The cooking chamber is a cooking space formed inside the oven body, and the door is hinged to the front surface of the cooking appliance body to open and close left and right or up and down. In addition, the heating device is provided on one side inside the cooking chamber, and supplies heat energy for cooking food. The heat energy generated by the heating device is transferred to the food in the form of convective heat transfer or radiant heat transfer.

그러나, 상술한 종래의 조리기기는 다음과 같은 문제점이 있다. However, the above-described conventional cooking appliance has the following problems.

첫째, 종래의 조리기기는 음식물의 조리시 발생하는 기름 등의 오염물이 조 리실의 내벽에 고착화 된 경우에 이를 제거하기 위하여 가열장치를 고온으로, 예를 들어 450℃이상으로 2시간 이상 작동시킴으로써 상기 오염물을 태운다. 이처럼 조리실 내부를 고온으로 장시간 유지하게 되면, 가열장치로 인하여 소모되는 소비전력이 상당한 양에 이르게 되고 사용자가 조리기기를 사용하는데 시간적인 제약을 받게 되는 문제점이 있다. First, the conventional cooking appliance operates the heating apparatus at a high temperature, for example, at least 450 ° C. for 2 hours or more to remove the contaminants such as oil generated when cooking foods on the inner wall of the cooking chamber. Burn contaminants As such, if the inside of the cooking chamber is maintained at a high temperature for a long time, power consumption consumed by the heating apparatus reaches a considerable amount, and there is a problem in that the user is restricted in time to use the cooking apparatus.

둘째, 종래의 조리기기에서 사용되는 고온의 청소기능으로 인하여 상기 조리실의 내부가 고온으로 유지되면, 상기 조리실의 전면부에 위치하게 되는 도어 글래스의 온도도 증가하게 된다. 상기 도어 글래스는 사용자에게 직접적으로 노출되어 있기 때문에 사용자는 고온의 도어 글래스로 인하여 화상을 입게 되는 위험이 있다.Second, when the inside of the cooking chamber is maintained at a high temperature due to the high temperature cleaning function used in the conventional cooking appliance, the temperature of the door glass located in the front part of the cooking chamber is also increased. Since the door glass is directly exposed to the user, the user may be burned due to the high temperature door glass.

셋째, 종래의 조리기기에서와 같이, 상기 조리실의 내부의 온도가 높으면 높을수록 외부로 누설되는 열에너지를 차단하기 위한 단열재의 두께가 두꺼워 지게 된다. 상기 단열재의 두께가 두꺼워지게 되면 제품의 제조비용이 증가할 뿐만 아니라 조리실의 공간이 상대적으로 작아지는 문제가 있다.Third, as in the conventional cooking appliance, the higher the temperature inside the cooking chamber, the thicker the heat insulating material for blocking thermal energy leaking to the outside. When the thickness of the insulation is thick, not only the manufacturing cost of the product increases but also the space of the cooking chamber is relatively small.

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 저온의 환경에서 조리실의 내부를 용이하게 청소할 수 있는 조리기기를 제공하는 것이다.The present invention has been made to solve the above problems, an object of the present invention is to provide a cooking apparatus that can easily clean the inside of the cooking chamber in a low temperature environment.

본 발명의 다른 목적은 소비전력과 조리실 내부의 청소시간을 줄일 수 있는 조리기기를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a cooking apparatus capable of reducing power consumption and cleaning time inside the cooking chamber.

본 발명의 또 다른 목적은 음식물이 조리되는 조리실의 공간을 넓힐 수 있는 조리기기를 제공하는 것이다. Still another object of the present invention is to provide a cooking apparatus capable of increasing a space of a cooking chamber in which food is cooked.

상술한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 조리기기 본체, 상기 조리기기 본체의 내부에서 음식물을 조리하기 위한 공간을 형성하며 상기 음식물에 노출된 내벽이 플라즈마 표면처리된 조리실, 상기 조리기기 본체와 결합하며 상기 조리실을 개폐하기 위한 도어, 그리고 상기 음식물의 조리를 위하여 상기 조리기기 본체를 제어하는 제어장치를 포함하는 조리기기를 제공한다. In order to achieve the above object, the present invention forms a cooking appliance main body, a space for cooking food in the interior of the cooking appliance main body, the inner wall exposed to the food is plasma cooking surface, combined with the cooking appliance main body And a door for opening and closing the cooking compartment, and a control device for controlling the cooker main body for cooking the food.

상기 조리기기는 상기 조리실의 내부에 설치되며, 음식물이 놓이는 부분을 포함하는 표면이 플라즈마 표면처리된 트레이를 더 포함할 수 있다.The cooking apparatus may further include a tray installed inside the cooking chamber, the surface of which includes a portion on which food is placed, on which a plasma surface is treated.

상기 내벽은 대기압 하에서 플라즈마 표면처리되는 것이 바람직하다.The inner wall is preferably plasma surface treated under atmospheric pressure.

상기 내벽은 법랑 재질의 표면에 플라즈마 표면처리될 수 있다.The inner wall may be plasma surface treated on the surface of the enamel material.

상기 내벽의 물성은 상기 플라즈마 표면처리시 공급되는 분위기 가스를 포함하는 표면처리조건에 따라 결정되는 것이 바람직하다. The physical property of the inner wall is preferably determined according to the surface treatment conditions including the atmosphere gas supplied during the plasma surface treatment.

상기 조리기기는 음식물의 조리 후 상기 조리실의 내부를 청소하기 위하여 상기 조리실에 증기 또는 물을 공급하기 위한 수분공급장치를 더 포함할 수 있다. The cooking apparatus may further include a water supply device for supplying steam or water to the cooking chamber to clean the interior of the cooking chamber after cooking food.

이하, 본 발명에 따른 조리기기의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a preferred embodiment of a cooking appliance according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1을 참조하여, 본 발명에 따른 조리기기에 관한 일 실시예를 구체적으로 설명한다.1, an embodiment of a cooking appliance according to the present invention will be described in detail.

상기 조리기기는 조리기기 본체(10), 음식물을 조리하기 위한 공간을 형성하는 조리실(50), 상기 조리실(50)을 개폐하기 위한 도어(20), 상기 조리기기 본체(10)를 제어하기 위한 제어장치(미도시), 상기 음식물을 조리하기 위한 가열장치를 포함한다. The cooking appliance includes a cooking appliance body 10, a cooking chamber 50 forming a space for cooking food, a door 20 for opening and closing the cooking chamber 50, and a control unit for controlling the cooking appliance main body 10. A control device (not shown), and a heating device for cooking the food.

상기 조리기기 본체(10)의 전면 상부에는 상기 조리기기를 제어하기 위한 제어패널(2)이 설치된다. 상기 제어패널(2)은 조리기기 본체의 내부에 구비되는 상기 제어장치와 연결되어 있다. 물론, 상기 제어패널(2)은 조리기기 본체와 별개로 구비되어 상기 제어장치를 원거리에서 조정할 수도 있을 것이다.The control panel 2 for controlling the cooker is installed at the upper front of the cooker main body 10. The control panel 2 is connected to the control device provided inside the cooker main body. Of course, the control panel 2 may be provided separately from the cooker main body to adjust the control device at a long distance.

또한, 상기 조리기기 본체의 내부에는 음식물의 종류에 따라 전력을 공급하기 위한 변압기(미도시)가 설치된다. 상기 변압기는 제어장치와 연결되어 사용자에 의하여 조정가능하게 된다. 예를 들면, 사용자가 상기 제어패널(2)에서 음식물을 조리하고자 하는 방식을 선택하게 되면 상기 제어패널과 연결된 제어장치는 상기 변압기를 조정함으로써 가열장치에 공급되는 전력을 제어하게 된다.In addition, a transformer (not shown) is installed inside the main body of the cooker to supply electric power according to the type of food. The transformer is connected to the control device and made adjustable by the user. For example, when the user selects a method for cooking food on the control panel 2, the control device connected to the control panel controls the power supplied to the heating device by adjusting the transformer.

상기 가열장치는 상기 조리실(50)에 노출될 수도 있고, 상기 조리기기 본체 내부에 구비될 수도 있다. 상기 가열장치에서 발생하는 열에너지는 대류현상이나 복사현상에 의하여 음식물에 전달된다.The heating device may be exposed to the cooking chamber 50 or may be provided inside the cooking appliance body. Heat energy generated by the heating device is transferred to the food by convection or radiation.

상기 가열장치는 조리실의 상부에 설치되는 제1 가열장치(미도시)와, 상기 조리실의 후방에 설치되는 제2 가열장치(30)와, 상기 조리실의 하부에 설치되는 제3 가열장치(70)를 포함한다.The heating device includes a first heating device (not shown) installed above the cooking chamber, a second heating device 30 installed behind the cooking chamber, and a third heating device 70 installed below the cooking chamber. It includes.

상기 제1 가열장치는 적외선을 방출하여 상기 음식물을 가열하기 위한 것으 로서 주로 음식물을 구울 때 사용된다. 상기 제1 가열장치로는 마그네트론 또는 히터 등이 사용된다. 상기 제1 가열장치는 상기 조리실의 상부에 고정적으로 설치되는 것이 바람직하다. 물론, 상기 제1 가열장치는 상기 조리실의 상부에서 이동가능하게 설치될 수도 있다.The first heating device is for heating the food by emitting infrared rays and is mainly used for baking food. As the first heating device, a magnetron or a heater is used. The first heating device is preferably fixed to the upper portion of the cooking chamber. Of course, the first heating device may be installed to be movable in the upper portion of the cooking chamber.

상기 제2 가열장치(30)는 상기 도어(20)와 대향되는 조리실의 측내벽에 위치하게 되며, 상기 조리실 내부에 놓여진 음식물에 열에너지를 보조적으로 공급한다. 상기 제2 가열장치(30)의 주변에는 상기 제2 가열장치에서 발생되는 열을 조리실 내부로 유동시키기 위한 송풍팬(미도시)이 설치된다. 상기 송풍팬은 상기 제2 가열장치에 의하여 가열된 공기가 상기 조리실 내부에 골고루 분포되도록 하는 역할을 한다.The second heating device 30 is located on the side inner wall of the cooking compartment facing the door 20, and auxiliary heat supply to the food placed in the cooking chamber. A blowing fan (not shown) is installed around the second heating device 30 to allow the heat generated by the second heating device to flow into the cooking chamber. The blowing fan serves to distribute the air heated by the second heating device evenly in the cooking chamber.

상기 제3 가열장치(70)는 열을 발생시키는 발열부재(71)와 상기 발열부재(71)를 지지하기 위한 지지부재(73)를 포함한다. 상기 제3 가열장치(70)는 랙(60)의 하부에 위치하며, 빵이나 케이크 등을 굽기 위한 열원으로서 사용될 수 있다.The third heating device 70 includes a heat generating member 71 for generating heat and a support member 73 for supporting the heat generating member 71. The third heating device 70 is located under the rack 60 and may be used as a heat source for baking bread or cakes.

상기 제3 가열장치(70)에 의하여 가열되는 공간은 조리기기 본체 내부의 전체 공간이 아니라 빵이나 케이크 등을 굽기 위한 공간에 한정될 수도 있다. 예를 들면, 상기 조리실은 별도의 분리막(미도시)에 의하여 공간이 구분되고, 상기 제3 가열장치는 상기 분리막에 의하여 구분되는 공간만을 가열할 수도 있다. 결과적으로, 상기 가열장치들은 음식물의 조리방식에 따라 선택적으로 온/오프 되면서 음식물에 열에너지를 전달하게 된다.The space heated by the third heating device 70 may be limited to a space for baking bread or cake, not the entire space inside the main body of the cooking appliance. For example, the cooking chamber may be divided into spaces by a separate separator (not shown), and the third heating apparatus may heat only the space separated by the separator. As a result, the heating devices are selectively turned on / off according to the food cooking method to transfer the heat energy to the food.

또한, 상기 조리실(50)의 내부에는 음식물이 올려지는 트레이(80)가 설치될 수도 있다. 상기 트레이(80)는 상기 트레이(80)를 가이드 하는 랙(60)에 착탈가능하게 설치된다. 물론, 상기 트레이(80)는 조리실 내부에 고정되어 있을 수도 있다. 또한, 상기 트레이(80)는 음식물이 놓이는 부분을 포함하는 표면이 플라즈마 표면처리될 수 있다. 상기 플라즈마 표면처리와 관련된 내용은 후술하기로 한다.In addition, a tray 80 on which food is placed may be installed in the cooking chamber 50. The tray 80 is detachably installed in the rack 60 that guides the tray 80. Of course, the tray 80 may be fixed inside the cooking chamber. In addition, the tray 80 may be a plasma surface treatment of the surface including the portion on which food is placed. Details related to the plasma surface treatment will be described later.

한편, 상기 조리실(50)에는 상기 트레이가 놓여지는 랙(60)이 설치된다. 물론, 상기 랙(60)의 상면에는 음식물이 직접 놓여질 수도 있다. 상기 랙(60)은 사용자의 의도에 따라 설치될 수 있다. 즉, 랙의 위치는 조리기기 본체의 내부에서 위치조정이 가능하도록 설치된다.Meanwhile, the rack 60 in which the tray is placed is installed in the cooking chamber 50. Of course, food may be placed directly on the upper surface of the rack (60). The rack 60 may be installed according to the intention of the user. That is, the position of the rack is installed to enable the position adjustment in the interior of the cooker body.

상기 랙(60)의 양쪽 끝단에는 상기 랙(60)을 지지하기 위한 랙 서포터(40)가 설치된다. 상기 랙 서포터(40)는 상기 랙(60)이 지지될 수 있는 복수 개의 랙 가이드(43)와 상기 랙 가이드(43)를 지지하는 가이드 지지부재(41)로 구성된다. 상기 가이드 지지부재(41)는 상기 조리기기 본체의 내측면에 고정적으로 설치되며, 상기 랙 가이드(43)는 상기 가이드 지지부재(41)에 다단으로 설치된다.Rack supporters 40 for supporting the rack 60 are installed at both ends of the rack 60. The rack supporter 40 includes a plurality of rack guides 43 on which the rack 60 can be supported, and a guide support member 41 for supporting the rack guide 43. The guide support member 41 is fixedly installed on the inner surface of the cooker main body, and the rack guide 43 is installed in multiple stages on the guide support member 41.

또한, 상기 조리기기 본체(10)의 전면에는 상기 조리기기 본체을 개폐하는 도어(20)가 힌지 결합되어 있다. 상기 도어(20)는 상기 조리기기 본체의 전면에서 슬라이딩 되도록 설치될 수도 있다.In addition, the door 20 for opening and closing the cooker main body is hinged to the front surface of the cooker main body 10. The door 20 may be installed to slide in the front of the cooker main body.

상기 도어(20)는 도어의 테두리를 형성하는 도어 프레임(21)과 상기 도어 프레임의 내부에 설치되는 도어 글래스(22)를 포함한다. 상기 도어 프레임(21)의 하부는 상기 조리기기 본체와 힌지 결합되어 있으며, 상기 도어 프레임의 내측 테두 리에는 상기 조리기기 본체의 내부와 외부를 차단하기 위한 실링부재(미도시)가 설치될 수 있다. 상기 도어 글래스(22)는 사용자가 상기 조리기기 본체의 내부를 확인할 수 있도록 투명하고, 열에 강한 내열성의 재질로 제작되는 것이 바람직하다.The door 20 includes a door frame 21 forming an edge of the door and a door glass 22 installed inside the door frame. A lower portion of the door frame 21 is hinged to the cooker main body, and a sealing member (not shown) may be installed on an inner edge of the door frame to block the inside and the outside of the cooker main body. . The door glass 22 is preferably made of a heat-resistant material that is transparent and resistant to heat so that a user can check the inside of the cooker main body.

한편, 상기 조리실(50)은 조리기기 본체(10)의 내부에 형성되고, 상기 조리실의 내벽(51)은 음식물을 조리하기 위한 소정의 공간을 형성하며, 음식물의 조리시 음식물에 노출되어 있다. On the other hand, the cooking chamber 50 is formed inside the main body of the cooking appliance 10, the inner wall 51 of the cooking chamber forms a predetermined space for cooking food, and is exposed to the food when cooking food.

상기 조리실의 내벽(51)은 법랑 재질의 모재(母材), 즉 기판에 플라즈마 표면처리되어 있다. 상기 조리실의 내벽은 플라즈마 표면처리를 통하여 표면이 개질됨으로써 다양한 물성을 가지게 된다.The inner wall 51 of the cooking chamber is subjected to plasma surface treatment on an enamel base material, that is, a substrate. The inner wall of the cooking chamber has various physical properties by surface modification through plasma surface treatment.

상기 조리실의 내벽(51)은 상압, 즉 대기압에서 플라즈마 표면처리되며, 마이크로 단위영역에서 표면개질을 하게 된다. 그리고, 상기 내벽(51)의 물성은 플라즈마 표면처리시 공급되는 분위기 가스, 가해지는 전압, 압력 등을 포함하는 표면처리조건에 따라 결정된다.The inner wall 51 of the cooking chamber is subjected to plasma surface treatment at atmospheric pressure, that is, atmospheric pressure, and surface modification is performed in the micro-unit area. In addition, the physical properties of the inner wall 51 are determined according to the surface treatment conditions including the atmosphere gas, voltage applied, pressure, etc. supplied during the plasma surface treatment.

또한, 상기 조리기기 본체에는 음식물의 조리가 완료된 후 상기 조리실(50)의 내부를 청소하기 위하여 물 또는 증기를 공급하는 수분공급장치(미도시)를 더 포함할 수 있다. In addition, the cooking appliance main body may further include a water supply device (not shown) for supplying water or steam to clean the inside of the cooking chamber 50 after the cooking of food is completed.

상기 수분공급장치는 물이 저장되는 물탱크, 상기 물탱크의 물을 상기 조리실 내부로 이동시키기 위한 펌프, 그리고 상기 조리실의 내벽에 물을 분사하기 위한 물 분사노즐을 포함한다. 물론, 상기 수분공급장치는 물이 저장되는 물탱크, 물을 가열하여 증기로 변환시키기 위한 히터, 그리고 증기를 조리실 내부로 분사하기 위한 증기 분사노즐을 포함하여 구성될 수도 있다.The water supply device includes a water tank in which water is stored, a pump for moving the water in the water tank into the cooking chamber, and a water spray nozzle for spraying water on the inner wall of the cooking chamber. Of course, the water supply device may include a water tank in which water is stored, a heater for heating the water to convert it into steam, and a steam injection nozzle for injecting steam into the cooking chamber.

상기 수분공급장치는 플라즈마 표면처리를 통하여 (초)친수성 혹은 (초)발수성의 성질을 가지는 조리실의 내벽(51)에 물 또는 증기를 분사시킴으로써 상기 조리실 내벽에 고착화 되어 있는 오염물을 제거하게 된다. The water supply device removes the contaminants fixed on the inner wall of the cooking chamber by spraying water or steam on the inner wall 51 of the cooking chamber having the property of (ultra) hydrophilicity or (ultra) water repellency through plasma surface treatment.

구체적으로, 상기 조리실의 내벽(51)이 친수성을 가지는 경우에는 물은 상기 내벽(51)과 오염물 사이에 침투하게 된다. 그러면, 사용자는 별도의 장치를 사용하여 상기 오염물을 상기 내벽으로부터 쉽게 분리시킬 수 있게 된다. In detail, when the inner wall 51 of the cooking chamber has hydrophilicity, water penetrates between the inner wall 51 and the contaminants. The user can then easily separate the contaminants from the inner wall using a separate device.

한편, 상기 조리실의 내벽(51)이 발수성을 가지는 경우에는 오염물 자체가 상기 내벽에 고착화되기가 쉽지 않고, 상기 물이 상기 내벽에 분사됨으로써 상기 오염물은 상기 내벽으로부터 쉽게 분리되게 된다.On the other hand, when the inner wall 51 of the cooking chamber has water repellency, contaminants themselves are not easily fixed to the inner wall, and the water is sprayed onto the inner wall to easily separate the contaminants from the inner wall.

상기 내벽(51)을 플라즈마 표면처리 하기 위하여 플라즈마 처리장치를 사용하게 되는데, 상기 플라즈마 처리장치는 상압에서 플라즈마를 발생시키고, 상기 플라즈마를 사용하여 기판의 표면을 개질시키게 된다. 물론, 상기 내벽은 진공상태에서 플라즈마 처리될 수도 있다. A plasma processing apparatus is used to plasma-treat the inner wall 51. The plasma processing apparatus generates a plasma at atmospheric pressure and modifies the surface of the substrate using the plasma. Of course, the inner wall may be plasma treated in a vacuum state.

도 2를 참조하여, 본 발명에 따른 조리기기의 제작에 사용되는 플라즈마 처리장치를 간단하게 설명한다.With reference to FIG. 2, the plasma processing apparatus used for manufacturing the cooking appliance according to the present invention will be briefly described.

플라즈마는 양전하의 이온과 음전하의 전자들이 다수 모여 군집활동을 하고, 이온들의 수와 전자들의 수가 거의 같아 전체적으로는 전기적 중성 상태를 의미한다. Plasma is a group of positively charged ions and negatively charged electrons, which are clustered together.

상기 플라즈마가 생성되는 원리를 간단하게 설명하면 다음과 같다. 기체 입 자, 즉 기체 분자나 원자에 에너지를 가하면 최외각 전자가 궤도를 이탈하게 되는데, 이때 기체 입자는 양전하의 이온과 음전하인 전자로 분리되어 전하를 띤 하전 입자로 변하게 된다. 이러한 양전하의 이온과 음전하의 전자들은 모여 군집활동을 하게 된다. 일반적으로 공간 내에 발생하는 인위적인 플라즈마 현상은 전기적인 에너지에 의해 발생한 전자나 공간 내의 자유전자들이 전기장에 의해 가속되고 공간 내의 기체 입자와 충돌하여 이온화 반응에 의해서 플라즈마가 형성된다. The principle of generating the plasma is briefly described as follows. When energy is applied to gas particles, that is, gas molecules or atoms, the outermost electrons move out of the orbit, and the gas particles are separated into positively charged ions and negatively charged electrons. These positively charged ions and negatively charged electrons gather to form a grouping activity. In general, an artificial plasma phenomenon occurring in a space is generated by an ionization reaction by electrons generated by electrical energy or free electrons in a space accelerated by an electric field and colliding with gas particles in the space.

구체적으로, 대기압하에서 두 전극 사이에 분위기 가스를 공급한 다음에 고주파, 즉 라디오파(Radio Frequency)를 공급을 하게 되면 기체가 발광을 하게 된다. 즉, 고주파의 공명현상을 이용하여 방전을 하게 되면 글로우(Glow) 방전이 일어나며, 상기 글로우 방전은 온도를 다른 방법의 대기압방전보다 현저히 낮출 수 있다.Specifically, the gas emits light when the atmosphere gas is supplied between the two electrodes under atmospheric pressure, and then a high frequency, that is, a radio frequency is supplied. That is, glow discharge occurs when a high frequency resonance phenomenon is used, and the glow discharge can significantly lower the temperature than atmospheric pressure discharge of other methods.

표면처리에 사용되는 플라즈마 생성 기술로는 상기 글로우 방전 이외에도 코로나 방전, 유전체 배리어 방전(DBD: Dielectric Barrier Discharge), RF 방전, 마이크로파 방전, 아크 방전 등이 있다. Plasma generation techniques used for surface treatment include corona discharge, dielectric barrier discharge (DBD), RF discharge, microwave discharge, arc discharge, etc. in addition to the glow discharge.

그리고, 상기 플라즈마를 발생시키기 위한 전극으로서는 글라이딩 아크(gliding arc)형, 펜 제트(pen jet)형 등이 있다. 상기 글라이딩 아크 형 전극은 가스류 중에 배치한 두 전극 간에 직류, 교류 또는 펄스전압을 인가하여 플라즈마를 발생시키는 것이고, 펜 제트형 전극은 가스류 중에 배치한 봉상 전극과 링상 혹은 원통상 전극과의 사이에 직류, 교류, 또는 펄스전압을 인가하고 링상 혹은 원통상 전극의 구멍부분으로부터 플라즈마를 방출하는 것이다. In addition, the electrodes for generating the plasma include a gliding arc type, a pen jet type, and the like. The gliding arc type electrode generates a plasma by applying a direct current, an alternating current, or a pulse voltage between two electrodes arranged in the gas stream, and the pen jet type electrode is formed between the rod-shaped electrode disposed in the gas stream and the ring or cylindrical electrode. The direct current, alternating current, or pulse voltage is applied to the plasma and the plasma is emitted from the hole of the ring or cylindrical electrode.

플라즈마를 이용한 플라즈마 표면처리는 표면 클리닝, 표면 개질, 표면 에칭, 표면 증착으로 나눌 수 있다. 상기 표면 클리닝은 플라즈마로 인해 이온화된 가스 입자들은 재료의 표면을 물리, 화학적인 방법으로 표면에 충격을 가하여 이물질들을 증발시키거나 뜯어내는 표면처리를 의미한다. 표면개질은 표면에 가스 성분의 관능기 형성 등의 물리, 화학적인 변화를 유도함으로써 표면의 성질을 바꾸는 것을 의미한다. 플라즈마 에칭은 특정의 분위기 가스, 예를 들면 산소(O2), 사불화탄소(CF4) 등을 사용하여 특정 재료의 성분, 예를 들면 실리콘을 제거 또는 뜯어내는 표면처리를 의미한다. 표면 증착은 두 가지 이상의 기체를 주입하여 플라즈마를 형성하고 상기 플라즈마 중의 이온화된 가스는 재료의 표면전체에 증착된다.Plasma surface treatment using plasma can be divided into surface cleaning, surface modification, surface etching, and surface deposition. The surface cleaning refers to a surface treatment in which gas particles ionized by plasma impinge upon the surface of a material by physical and chemical methods to evaporate or tear off foreign substances. Surface modification means changing the properties of the surface by inducing physical and chemical changes such as the formation of functional groups of gas components on the surface. Plasma etching means surface treatment using a specific atmosphere gas, such as oxygen (O 2 ), carbon tetrafluoride (CF 4 ), or the like, to remove or tear off components, such as silicon, of a specific material. Surface deposition injects two or more gases to form a plasma where ionized gases are deposited throughout the surface of the material.

플라즈마에 의하여 생성된 입자를 피처리물 표면에 충돌 또는 결합시키는 것에 의해, 상기 피처리물 표면의 불필요물질 또는 불필요 부분을 제거할 수 있다. 즉, 플라즈마 표면처리는 친수화 처리나 소수(발수)화 처리에 의한 피처리물의 젖는 성질을 개선하는 것뿐만 아니라 피처리물의 에칭, 소독/살균/멸균처리, 얇은 막 가공(예를 들면, 다이아몬드 얇은 막의 미세가공, 다이아 몬드와 유사한 카본막의 미세가공) 등을 할 수 있다.By impinging or bonding the particles generated by the plasma on the surface of the workpiece, unnecessary materials or unnecessary portions of the surface of the workpiece can be removed. That is, the plasma surface treatment not only improves the wettability of the workpiece by the hydrophilization treatment or hydrophobic treatment, but also the etching, disinfection / sterilization / sterilization, and thin film processing of the workpiece (eg diamond). Fine processing of thin films, fine processing of carbon films similar to diamonds), and the like.

도 2에 도시된, 플라즈마 처리장치는 상압에서 플라즈마를 발생키키는 장치로서 이하에서는 상압 플라즈마 처리장치라 한다. 상기 상압 플라즈마 처리 장치는 가스 유입구(180)와 가스 유출구(190)를 구비한 챔버(170)와, 상기 챔버(170) 내에 배치되어 기판(100)이 장착되는 스테이지(101)와, 상기 스테이지(101) 표면 및 상 기 스테이지(101)로부터 일정간격 이격되어 서로 대향되도록 형성되는 제 1, 제 2 전극(140, 160)을 포함한다.The plasma processing apparatus shown in FIG. 2 is a device for generating plasma at atmospheric pressure, hereinafter referred to as an atmospheric pressure plasma processing apparatus. The atmospheric pressure plasma processing apparatus includes a chamber 170 including a gas inlet 180 and a gas outlet 190, a stage 101 disposed in the chamber 170, on which a substrate 100 is mounted, and the stage ( 101) The first and second electrodes 140 and 160 are formed to face each other at a predetermined distance from the surface and the stage 101.

상기 챔버(170)의 외부에는 상기 제1 전극(140)에 고주파를 인가시키기 위한 RF(Radio Frequency) 전원공급장치(130)와 상기 가스 유입구(180)를 통하여 분위기 가스를 공급하는 가스 공급장치(110)가 설치된다. 상기 가스 유입구(180)와 전원공급장치(130) 사이에는 상기 분위기 가스를 필터링하는 필터(120)가 설치된다.A gas supply device for supplying an atmosphere gas to the outside of the chamber 170 through a radio frequency (RF) power supply device 130 for applying a high frequency to the first electrode 140 and the gas inlet 180 ( 110 is installed. A filter 120 for filtering the atmosphere gas is installed between the gas inlet 180 and the power supply device 130.

여기서, 상기 제2 전극(160)는 접지되고, 상기 제 1, 제 2 전극(140, 160)의 표면은 절연체(미도시)에 의해 보호되어 있다. 상기 가스 유출구(190)는 상기 기판(100) 상의 플라즈마 표면 처리 이후 남은 가스들이 배출되는 통로가 된다. Here, the second electrode 160 is grounded, and surfaces of the first and second electrodes 140 and 160 are protected by an insulator (not shown). The gas outlet 190 serves as a passage through which gases remaining after the plasma surface treatment on the substrate 100 are discharged.

이때 상기 전원공급장치(130)는 두 전극 사이에 걸리는 전압이 100V~90000V가 되도록 하고 주파수는 10 내지 109 Hz가 되도록 한다. 상기 가스 유입구(180)를 통하여 유입되는 분위기 가스는 다양한 형태의 전극 사이에서 활성화되어 이온과 전자, 라디칼, 중성입자들로 구성된 플라즈마를 형성한다. 물론, 상기 분위기 가스가 챔버 내부로 유입될 때 일정온도로 미리 가열된 후에 공급될 수도 있다.At this time, the power supply device 130 is such that the voltage applied between the two electrodes is 100V ~ 90000V and the frequency is 10 to 10 9 Hz. Atmospheric gas flowing through the gas inlet 180 is activated between various types of electrodes to form a plasma composed of ions, electrons, radicals and neutral particles. Of course, when the atmosphere gas is introduced into the chamber may be supplied after being heated to a predetermined temperature in advance.

여기에 사용되는 가스는 불활성가스, 산화성 가스, 환원성 가스 중에서 선택된 어느 하나 혹은 이들의 혼합으로 이루어진다. 구체적으로, 상기 가스는 공기, 질소(N2), 산소(O2), 아르곤(Ar), 물(H2O), 헬륨(He), 이산화탄소(CO2), 산화질소, 사불화탄소, 암모니아, 에틸렌, 염화에틸렌 등을 다양하게 혼합하여 사용하거나 개별적으로 사용한다. The gas used here consists of any one selected from an inert gas, an oxidizing gas, a reducing gas, or a mixture thereof. Specifically, the gas is air, nitrogen (N2), oxygen (O2), argon (Ar), water (H2O), helium (He), carbon dioxide (CO2), nitrogen oxides, carbon tetrafluoride, ammonia, ethylene, ethylene chloride Use a variety of mixtures, such as or individually.

여기서, 넓은 면적에서의 방전을 유지하기 위하여 상기 분위기 가스는 전체에 걸쳐서 고르게 공급되는 것이 바람직하다. 상기 가스 유입구(180)로 분위기 가스를 고르게 유입시키기 위하여 상기 챔버(170)의 내부에는 메쉬가 설치될 수도 있다. Here, in order to maintain the discharge in a large area, the atmosphere gas is preferably supplied evenly throughout. A mesh may be installed inside the chamber 170 to evenly introduce the atmosphere gas into the gas inlet 180.

또한, 상기 전극들(140, 1160)은 내식성이 강하고 전도성을 가지는 알루미늄, 타이타늄, 니켈, 크롬, 구리, 텅스텐, 백금 등을 사용한다. 물론, 상기 전극들의 하부에는 유전체가 구비될 수도 있다. 방전이 어렵거나 강한 방전이 요구되는 경우에는 상기 유전체의 크기를 조절함으로써 원하는 방전을 일으켜서 플라즈마를 생성시킬 수 있다. In addition, the electrodes 140 and 1160 use aluminum, titanium, nickel, chromium, copper, tungsten, platinum, or the like having strong corrosion resistance and conductivity. Of course, a dielectric may be provided under the electrodes. When the discharge is difficult or when a strong discharge is required, the plasma may be generated by generating a desired discharge by adjusting the size of the dielectric.

상기 상압 플라즈마 처리 장치의 동작을 설명하면 다음과 같다. The operation of the atmospheric pressure plasma processing apparatus will be described below.

상기 제2 전극(160) 위에 기판(100)을 위치시키고, 상기 가스 공급장치(110)로부터 필터(120)를 통해 상기 챔버(170)에 가스를 공급함과 동시에 상기 제1 전극(140)에 고주파를 인가하면, 상기 제 1, 제 2 전극(140, 160) 사이의 분위기 가스는 플라즈마 상태가 된다. The substrate 100 is positioned on the second electrode 160, the gas is supplied from the gas supply device 110 to the chamber 170 through the filter 120, and at the same time, a high frequency is applied to the first electrode 140. When is applied, the atmosphere gas between the first and second electrodes 140 and 160 is in a plasma state.

챔버(170) 내부에 존재하는 분위기 가스의 분자에 전기적 에너지가 가해지면 가속된 전자의 충돌로 인하여 분자, 원자의 최 외각 전자가 궤도를 이탈함으로 이온 또는 반응성이 높은 라디칼이 생성된다. 이렇게 생성된 이온, 라디칼은 계속적인 충돌과 전기적 인력에 의해 가속되어 재료 표면에 충돌, 수 ㎛이내의 영역에서 분자 결합을 파괴하여 기판 표면 내부의 일정 두께를 깎아 내거나, 미세한 표면요철 생성, 가스 성분의 관능기 형성 등의 물리, 화학적인 변화를 유도하게 된다. When electrical energy is applied to the molecules of the atmosphere gas present in the chamber 170, the ions or the radicals having high reactivity are generated as the outermost electrons of the molecule and the atoms are out of orbit due to the collision of the accelerated electrons. The ions and radicals thus generated are accelerated by continuous collisions and electrical attractive forces, impacting the surface of the material, breaking molecular bonds in the region of several micrometers, and cutting down a certain thickness inside the substrate surface, generating minute surface irregularities, and gas components. Physical and chemical changes such as the formation of functional groups will be induced.

이때, 상기 가스 공급장치(110)로부터 공급되는 분위기 가스의 성분과 상기 제1 전극(140)에 인가되는 고주파의 세기 및 파형에 따라 상기 기판(100) 상에 형성된 물질이 애칭되거나 표면 처리된다.At this time, the material formed on the substrate 100 is etched or surface treated according to the components of the atmosphere gas supplied from the gas supply device 110 and the intensity and waveform of the high frequency applied to the first electrode 140.

도 3을 참조하여, 본 발명에 따른 조리기기를 제작하기 위한 플라즈마 처리장치에 구비된 전극부의 다른 실시 예를 설명한다.Referring to FIG. 3, another embodiment of the electrode unit provided in the plasma processing apparatus for manufacturing the cooking apparatus according to the present invention will be described.

상기 플라즈마 처리장치는 상압에서 플라즈마를 생성하는 장치로서 상기 플라즈마 장치에 구비된 전극부(240, 260)는 서로 대향된 일(一)자형의 제1 전극(240)과 제2 전극(260)을 포함한다. 여기서, 상기 제1 전극(240)에는 고주파가 인가되며, 상기 제 2 전극(260)은 접지된다.The plasma processing apparatus is a device for generating a plasma at atmospheric pressure. The electrode units 240 and 260 included in the plasma apparatus are formed of a first electrode 240 and a second electrode 260 having opposite shapes to each other. Include. Here, a high frequency is applied to the first electrode 240, and the second electrode 260 is grounded.

상기 제1 전극(240)에 고주파가 인가되면 상기 제1 전극(240)과 제2 전극(260) 사이에는 플라즈마가 형성된다. 상기 플라즈마는 기판(200)의 특정부위와 접촉함으로써 상기 기판(200)을 표면처리하게 된다. 즉, 본 실시예에 따른 플라즈마 처리장치는 기판의 특정부분을 플라즈마 표면처리 할 수 있다. When high frequency is applied to the first electrode 240, a plasma is formed between the first electrode 240 and the second electrode 260. The plasma contacts the specific portion of the substrate 200 to surface-treat the substrate 200. That is, the plasma processing apparatus according to the present embodiment may perform plasma surface treatment on a specific portion of the substrate.

보다 풍부한 플라즈마를 발생시키기 위해서 상기 전극부(240, 260)의 전극들을 일자형의 전극 쌍을 복수 개 구비될 수 있다. In order to generate more abundant plasma, a plurality of linear electrode pairs of electrodes of the electrode units 240 and 260 may be provided.

도 4를 참조하여, 본 발명에 따른 조리기기를 제작하기 위한 플라즈마 처리장치에 구비된 전극부의 또 다른 실시 예를 설명한다.Referring to Figure 4, another embodiment of the electrode unit provided in the plasma processing apparatus for manufacturing a cooking apparatus according to the present invention will be described.

상기 플라즈마 처리장치에 구비된 제1 전극(340) 및 제2 전극(360)을 포함하는 전극부는 기판의 테두리 부분을 플라즈마 표면처리 하기 위한 것으로서, 'L' 자형상을 가진다. 상기 제1 전극(340)은 접지되며, 상기 제2 전극(360)에는 고주파 신호가 인가된다. 경우에 따라 상기 전극의 위치를 바꾸어 제1 전극(340)에 고주파가 인가되고, 상기 제2 전극(360)이 접지되기도 한다.The electrode part including the first electrode 340 and the second electrode 360 provided in the plasma processing apparatus is for plasma surface treatment of the edge portion of the substrate, and has an 'L' shape. The first electrode 340 is grounded, and a high frequency signal is applied to the second electrode 360. In some cases, a high frequency is applied to the first electrode 340 by changing the position of the electrode, and the second electrode 360 may be grounded.

또한, 보다 풍부한 플라즈마를 발생시키기 위해서 상기 전극부의 전극들을 'L'자형의 전극 쌍을 복수개 구비하여 형성할 수도 있다. 상기 전극부의 형상은 이에 한정되지는 않고, 상기 기판의 형상 또는 플라즈마 표면처리하고자 하는 부분의 형상에 따라 다르게 구성될 수도 있다. 예를 들면, 각각의 전극이 원호(圓弧)형을 가지면서 두 전극이 서로 일정한 간격을 가지면서 설치될 수도 있다. 그러면, 두 개의 전극을 원호형으로 형성하게 되면 일자형의 전극 쌍에 비해 보다 플라즈마 발생 영역이 넓어져, 플라즈마 표면처리를 하는데 시간을 감소시킬 수 있다.In addition, in order to generate more abundant plasma, the electrodes of the electrode unit may be formed by providing a plurality of L-shaped electrode pairs. The shape of the electrode unit is not limited thereto, and may be configured differently according to the shape of the substrate or the shape of the portion to be subjected to the plasma surface treatment. For example, each electrode may be provided with an arc shape, and the two electrodes may be provided at regular intervals from each other. As a result, when the two electrodes are formed in an arc shape, the plasma generation region is wider than the straight electrode pairs, thereby reducing the time for plasma surface treatment.

도 5a 내지 도 5c를 참조하여, 본 발명에 따른 조리기기의 제작에 사용된 상압 플라즈마 처리장치에 의하여 플라즈마 표면처리된 기판의 젖음성을 설명한다. 5A to 5C, the wettability of the substrate subjected to the plasma surface treatment by the atmospheric pressure plasma processing apparatus used to manufacture the cooking apparatus according to the present invention will be described.

플라즈마 표면처리를 거친 기판(100)은 물방울(W)과 접촉하는 접촉각(α)에 따라서 다른 성질을 가진다. 도 5a에 도시된 바와 같이, 상기 접촉각이 10°이하인 경우는 물과 친한 초친수성을 가지고, 도 5b에 도시된 바와 같이, 상기 접촉각이 90°~150°인 경우는 발수성을 가지며, 도 5c에 도시된 바와 같이, 상기 접촉각이 150°이상인 경우는 초발수성을 가진다. 물론, 상기 접촉각의 최대각은 180°이다.The substrate 100 subjected to the plasma surface treatment has different properties depending on the contact angle α in contact with the water droplets W. As shown in FIG. 5A, when the contact angle is 10 ° or less, it has superhydrophilicity with water. As shown in FIG. 5B, when the contact angle is 90 ° to 150 °, it has water repellency. As shown, when the contact angle is 150 ° or more, it has super water repellency. Of course, the maximum angle of the contact angle is 180 degrees.

화학적 표면개질은 화학적으로 결합에너지가 낮은 소재에 높은 결합에너지를 가진 이온이나 전자가 충돌하여 라디칼이나 이온이 생성되고, 이들 주위의 오존, 산소, 질소 등이 표면의 탄소, 수소 등과 결합하여 카르보닐기, 카르복실기, 시안기, 하이드록실기 등 극성이 높은 관능기가 생성되어 화학적으로 표면이 친수성으로 개질된다.In chemical surface modification, ions or electrons having high binding energy collide with chemically low binding energy to generate radicals or ions, and the surrounding ozone, oxygen, nitrogen and the like combine with carbon and hydrogen on the surface to form carbonyl groups, Functional groups with high polarity, such as carboxyl groups, cyan groups, hydroxyl groups, etc. are produced, and the surface is chemically modified to be hydrophilic.

일예로, 친수 특성을 가지는 기판은 모노머와 중합 불가능한 가스의 혼합기체로부터 발생한 플라즈마에 의하여 표면처리된다. 구체적으로, 모노머 기체로서 아세틸렌(C2H2), 중합 불가능한 기체로서 질소(N2)를 사용하고, 혼합기체의 비(아세틸렌:질소)를 1:9로 조성하는 경우 기판의 표면은 친수성을 가진다. In one example, a substrate having hydrophilic properties is surface treated by a plasma generated from a mixed gas of a monomer and a nonpolymerizable gas. Specifically, when acetylene (C 2 H 2 ) is used as the monomer gas and nitrogen (N 2 ) is used as the polymerizable gas, and the ratio of the mixed gas (acetylene: nitrogen) is 1: 9, the surface of the substrate is hydrophilic. Have

또한, 친수성의 표면개질을 위한 열처리 조건으로서 초기압력은 1000 mmHg, 작동압력은 0.3 mmHg, 전류는 800mmA, 처리시간은 90초의 조건을 가진다. 여기에 기술된 표면처리조건들은 친수처리와 관련된 어러가지 조건 중에서 일부를 사용한 것으로서 혼합기체의 종류와 혼합조성비 및 기타 처리조건이 다른 경우에도 본 발명이 적용된다.In addition, as a heat treatment condition for hydrophilic surface modification, the initial pressure is 1000 mmHg, the operating pressure is 0.3 mmHg, the current is 800mmA, the treatment time is 90 seconds. The surface treatment conditions described herein use some of the various conditions related to hydrophilic treatment, and the present invention is applied even when the type of mixed gas, the mixing composition ratio and other treatment conditions are different.

이와 같은 기판의 표면이 가지는 친수특성은 고분자 표면의 화학적 특성에 직접적으로 연관되는 것으로서 상기 혼합기체의 플라즈마 하에서 합성된 고분자 표면은 물을 잘 퍼지도록 하는 높은 표면에너지를 가짐을 알 수 있다. 친수 특성을 유발하는 높은 표면에너지는 표면층의 친수성 작용기로부터 기인한다. 상기 친수성의 작용기로는 C-O, CO, (C=O), C-N, N-H 등이 있는데, 이러한 작용기들의 존재는 XPS(x ray photoelectron spectroscopy) 및 FT IR (Flouier Transformation Infrared Spectroscopy)분석으로부터 확인되었다.The hydrophilic property of the surface of the substrate is directly related to the chemical properties of the surface of the polymer, and the polymer surface synthesized under the plasma of the mixed gas has a high surface energy to spread water well. The high surface energy that leads to the hydrophilic properties results from the hydrophilic functional groups of the surface layer. The hydrophilic functional groups include C-O, CO, (C = O), C-N, N-H, and the like. The presence of these functional groups was confirmed by x ray photoelectron spectroscopy (XPS) and Flouier Transformation Infrared Spectroscopy (FT IR) analysis.

친수성을 가지지 위한 기판에 대한 표면 개질은 상기와 같은 아세틸렌과 질소의 혼합기체를 사용하는 경우에 국한되지 않으며 , 예컨대 모노머로서 아세틸렌 이외의 하이드로 카본을 중합불가능한 가스로서 질소, 산소 등의 기체를 이용하는 등 다양한 실시예를 가질 수 있다. Surface modification of the substrate to have hydrophilicity is not limited to the case of using a mixture of acetylene and nitrogen as described above, for example, using a gas such as nitrogen or oxygen as a non-polymerizable gas of hydrocarbon other than acetylene as a monomer. It may have various embodiments.

도 6은 동일한 조건하에서 일반 법랑표면(A)에 고착화된 오염물을 제거할 때 필요한 힘과 플라스마 표면처리된 법랑표면(B)에 고착화된 오염물을 제거할 때 필요한 힘을 비교한 것이다. 여기서, X 축은 오염물을 고착화시키는 과정과 상기 오염물을 제거하는 과정을 반복적으로 수행한 횟수를 나타내고, Y축은 상기 오염물을 제거할 때 드는 힘을 나타낸 것이다.FIG. 6 compares the force required to remove contaminants fixed on the general enamel surface A with the force required to remove contaminants fixed on the plasma surface-treated enamel surface B under the same conditions. Here, the X axis represents the number of times the process of solidifying the contaminants and the process of removing the contaminants is repeated, and the Y axis represents the force required to remove the contaminants.

도 6을 참조하면, 일반 법랑표면에 오염물을 고착화시키고, 상기 법랑표면에 고착화된 오염물을 처음으로 제거할 때 드는 힘(a1)은 플라즈마 표면처리된 법랑 표면에 고착화된 오염물을 처음으로 제거하는데 소요되는 힘(b1)보다 1.25 배 정도 많은 힘을 요구하게 된다. Referring to Figure 6, the contaminants fixed on the normal enamel surface, the force (a1) is required to remove the contaminants fixed on the enamel surface for the first time to remove the contaminants fixed on the enamel surface for the first time It requires about 1.25 times more force than the force (b1).

이후에, 상기 오염물이 제거된 표면과 동일한 표면에 다시 오염물을 고착화시키고 이를 제거한 경우에도 일반법랑 표면인 경우는 플라즈마 표면처리된 법랑표면보다 1. 25배의 힘이 소모되었다.Subsequently, even when the contaminants were fixed and removed again on the same surface as the surface from which the contaminants were removed, the general enamel surface consumed 1.25 times as much force as the enamel surface treated with plasma.

한편, 두 번에 걸쳐 표면의 청소 성능을 테스트한 후에 다시 동일한 표면에 오염물을 고착화시키고 이를 제거하는 경우에 일반 법랑표면에 고착화된 오염물을 제거하는데 소요되는 힘(a2)는 플라즈마 표면처리한 법랑표면에 고착화된 오염물을 제거하는데 소요되는 힘(b1)보다 1.75배 정도의 많은 힘을 요구하게 되는 것을 알 수 있다.On the other hand, in the case of testing the cleaning performance of the surface twice and then fixing the contaminants on the same surface and removing them again, the force (a2) required to remove the contaminants fixed on the normal enamel surface is the surface of the enamel surface treated with plasma. It can be seen that it requires about 1.75 times more force than the force (b1) required to remove the contaminants fixed on the surface.

이를 바탕으로 보면, 오염물을 제거하는 과정이 반복적으로 수행될수록 상기 플라즈마 표면처리된 법랑 표면은 상기 일반 법랑 표면보다 청소성이 훨씬 더 좋아진다는 것을 알 수 있다. Based on this, it can be seen that as the process of removing contaminants is repeatedly performed, the plasma surface-treated enamel surface is much better in cleaning than the general enamel surface.

뿐만 아니라, 일반 법랑 표면의 비커스 경도는 400~500 Hv 이지만, 플라즈마 표면처리된 법랑표면의 비커스 경도는 500~600 Hv가 된다. 또한, 플라즈마 표면처리된 법랑 표면은 일반 법랑 표면이 가지는 내열성을 그대로 가지며, 상대적으로 부드러운 표면을 가지게 된다. 결과적으로, 플라즈마 표면처리된 법랑 표면은 일반 법랑 표면에 비하여 상기 내벽의 경도, 내열성, 청소성능 등이 향상됨을 알 수 있다. In addition, the Vickers hardness of the general enamel surface is 400 ~ 500 Hv, the Vickers hardness of the plasma surface treated enamel surface is 500 ~ 600 Hv. In addition, the plasma surface-treated enamel surface has the heat resistance of the normal enamel surface and has a relatively soft surface. As a result, it can be seen that the enamel surface treated with the plasma surface is improved in hardness, heat resistance, cleaning performance, etc. of the inner wall as compared with the general enamel surface.

본 발명은 상술한 실시 예에 한정되지 않으며, 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 정신을 벗어나지 않고 변형이 가능하고 이러한 변형은 본 발명의 범위에 속한다.It will be understood by those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims.

본 발명에 따른 조리기기는 다음과 같은 효과가 있다.The cooking appliance according to the present invention has the following effects.

첫째, 본 발명에 의하면, 조리실의 내벽을 플라즈마 표면처리 함으로써 조리실 내부를 청소하기가 용이한 이점이 있다. 즉, 조리실 내부에 고착화된 오염물을 태우기 위하여 조리실 내부를 고온으로 가열할 필요 없는 이점이 있다.First, according to the present invention, it is easy to clean the inside of the cooking chamber by plasma-processing the inner wall of the cooking chamber. That is, in order to burn the contaminants fixed in the cooking chamber, there is an advantage of not having to heat the inside of the cooking chamber to a high temperature.

둘째, 조리실의 청소를 위하여 조리실 내부를 고온으로 가열할 필요가 없기 때문에 상기 조리실의 단열을 위한 단열재의 두께가 얇아지게 되고, 조리실의 공간이 넓어지는 이점이 있다.Second, since the inside of the cooking chamber does not need to be heated to a high temperature for cleaning the cooking chamber, the thickness of the heat insulating material for insulating the cooking chamber becomes thin, and the space of the cooking chamber is widened.

셋째, 조리실 내부에 고착화된 오염물을 태우기 위하여 조리실 내부를 고온 으로 유지할 필요가 없기 때문에 화상의 위험을 줄일 수 있고 소비전력을 감소시킬 수 있는 이점이 있다. 또한, 상기 오염물을 태우기 위하여 조리실 내부를 고온으로 장시간 유지할 필요가 없기 때문에 조리실의 청소에 소요되는 시간이 줄어드는 이점이 있다.Third, there is no need to maintain the inside of the cooking chamber at a high temperature in order to burn the contaminants fixed inside the cooking chamber, thereby reducing the risk of burns and reducing power consumption. In addition, since it is not necessary to maintain the inside of the cooking chamber at a high temperature for a long time to burn the contaminants, there is an advantage that the time required for cleaning the cooking chamber is reduced.

Claims (6)

조리기기 본체;Cooker main body; 상기 조리기기 본체의 내부에서 음식물을 조리하기 위한 공간을 형성하며, 상기 음식물에 노출된 내벽은 법랑 재질의 표면에 플라즈마 표면처리되어 친수성 표면으로 된 조리실;A space for cooking food in the inside of the main body of the cooker, wherein the inner wall exposed to the food has a hydrophilic surface by plasma surface treatment on a surface of an enamel material; 상기 조리기기 본체와 결합하며 상기 조리실을 개폐하기 위한 도어; 그리고,A door coupled to the cooking appliance main body to open and close the cooking compartment; And, 상기 음식물의 조리를 위하여 상기 조리기기 본체를 제어하는 제어장치를 포함하는 조리기기.And a control device for controlling the cooker main body for cooking the food. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 조리실의 내부에 설치되며, 음식물이 놓이는 부분을 포함하는 표면이 플라즈마 표면처리된 트레이를 더 포함하는 조리기기.And a tray disposed inside the cooking chamber, the tray including a portion on which food is placed, the plasma surface-treated tray. 제1항 또는 제2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 내벽은 대기압 하에서 플라즈마 표면처리되는 것을 특징으로 하는 조리기기.The inner wall is a cooking apparatus, characterized in that the plasma surface treatment under atmospheric pressure. 삭제delete 제3항에 있어서,The method of claim 3, 상기 내벽의 물성은 상기 플라즈마 표면처리시 공급되는 분위기 가스를 포함하는 표면처리조건에 따라 결정되고,Physical properties of the inner wall is determined according to the surface treatment conditions including the atmosphere gas supplied during the plasma surface treatment, 상기 조리실 내벽의 친수성 표면은 법랑 재질의 기판을 아세틸렌:질소=1:9의 분위기 가스에서 플라즈마 표면처리하여 형성되는 것을 특징으로 하는 조리기기.And a hydrophilic surface of the inner wall of the cooking chamber is formed by subjecting the enamel substrate to plasma surface treatment with an acetylene: nitrogen = 1: 9 atmosphere gas. 제1항 또는 제2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 음식물의 조리 후 상기 조리실 내부를 청소하기 위하여 상기 조리실에 증기 또는 물을 공급하는 수분공급장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 조리기기.And a water supply device for supplying steam or water to the cooking chamber to clean the inside of the cooking chamber after cooking food.
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