KR101286057B1 - 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템 및 방법 - Google Patents

전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템 및 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계 레벨 측정에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 산업설비 전반에서 사용하고 있는 전기전자기기에 대한 뇌 서지 손상한계레벨을 측정할 수 있는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템 및 방법에 관한 것이다. 본 발명 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템은 일시적 과전압 시험시 필요한 전원을 가변적으로 발생시키는 가변전원발생기(110)와, 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지를 발생시키는 서지발생기(120)와, 뇌 서지 손상한계레벨이 측정되는 시료(전기전자기기)(130)로 구성되는 뇌 서지 시험 장치(100); 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 레벨을 감지하는 서지레벨감지부(210)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 측정된 서지의 레벨을 분석하는 측정값 분석부(220)와, 상기 측정값 분석부(220)에서 측정한 측정값을 표시하는 측정값표시부(230)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 지속시간을 조절하는 지속시간조절부(240)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 높낮이를 조절하는 서지레벨조절부(250)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 측정 기능을 선택하는 기능선택부(260)와, 상기 시료(130)별 측정된 데이터를 저장하는 저장부(270)와, 상기 가변전원발생기(110), 상기 서지 발생기(120), 상기 시료(130)와 통신하는 통신부(인터페이스)와, 상기 서지레벨감지부(210), 측정값 분석부(220), 상기 측정값 표시부(230), 상기 지속시간조절부(240), 상기 서지레벨조절부(250), 상기 기능선택부(260), 저장부(270) 및 통신부(280)를 제어하는 제어부(290); 및 상기 가변전원발생기(110), 상기 서지 발생기(120), 상기 시료(130)에 전원을 공급하는 전원공급부(300);를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.

Description

전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템 및 방법{Method and system for measuring lightning surges damage limit level of electronic and electric device}
본 발명은 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계 레벨 측정에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 산업설비 전반에서 사용하고 있는 서지보호장치를 포함하는 전기전자기기에 대한 뇌 서지 손상한계레벨을 측정할 수 있는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템 및 방법에 관한 것이다.
일반적으로 서지 손상한계량 측정시스템이라 함은 KSC IEC 61643-11, 12의 서지 보호장치 등의 규격에서 적용하고 있는 전압보호레벨(Up, Voltage protection level)[미국 UL-1449에서는 VPR(Voltage protection rating)이라함]를 발생시켜 전기전자기기에 낮은 전위부터 순차적으로 유입시켜 전기전자기기 이상 동작유무의 한계치를 찾아내는 측정 및 분석프로그램으로 구성되는 컴퓨터제어기술의 조합으로 구성된다.
즉, 서지 유입으로부터 전기전자기기의 안정된 동작을 보장하기 위하여 서지 보호장치를 사용함에 있어서 KSC IEC 61643-1, 12 등의 서지 보호장치 시리즈 규격에서는 서지 보호장치 성능구분을 전압보호레벨의 용어를 사용하여 각각 0.08, 0.09, 0.10, 0.12, 0.15, 0.22, 0.33, 0.4, 0.5, 0.6, 0.7, 0.8, 0.9, 1.0, 1.2, 1.5, 1.8, 2.0, 2.5, 3.0, 4.0, 5.0, 6.0, 8.0 및 10[KV] 등급 분류를 하여 서지 보호장치가 활용되고 있다.
한편, 미국 UL(ANSI) 규격 UL-1449의 서지 보호장치 규격에서는 330, 400, 500, 600, 700, 800, 900, 1000, 1200, 1500, 1800, 2000, 2500, 3000, 4000, 5000 및 6000[v]등의 등급 분류를 하여 서지 한계량(내력)으로부터 전자기기를 보호하기 위한 전압보호레벨에 맞는 서지 보호장치를 활용하도록 되어 있다.
국내에서는 전기전자기기의 보호를 위하여 서지 보호장치 구입 및 설치의 과정에서 서지손상한계레벨의 측정에 대한 규정들이 의무화된지 얼마 되지 않은 관계로 서지 보호장치 판매자에게 의존하고 있는 실정이다.
국내에서 시판되는 서지 보호장치를 사용하는 전기전자기기의 사용자들의 입장에서 필요한 것 중 하나는 전기전자기기의 서지손상한계레벨의 값과 서지 보호장치의 전압보호레벨 값이다.
이 두 가지의 값을 비교하여 상호 관련성 있는 규격의 제품을 구입하여 사용하면 보다 안정된 서지환경에서도 전체 시스템을 가동할 수 있다.
한편, 2010년 1월 8일 지식경제부 공고 제2010-1호의 내용 제9조 ⑦항의 내용에 따르면 '낙뢰 등에 의한 과전압으로부터 전기설비 등을 보호하기 위해 KSC IEC 60364-5-53-534에 따라 서지 보호장치를 설치하여야 한다.' 라고 규정되어 있다. 그리고 KSC IEC 61643-12, 22의 서지 보호장치 적용지침 등을 준수하여, 이와 관련된 각종 첨단 제어설비, 전력설비, 통신설비, 철도신호설비(전원라인, 제어라인 등), 군통제전자설비, 군통신설비 등의 보호대상설비에서는 필요 부분(뇌 서지 유입 경로)에 서지 보호장치 설치를 하도록 의무화하고 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 종래 일반적인 전압측정장치를 설명하기로 한다.
도 1 내지 도 3은 종래 기술에 따른 일반적인 전압측정장치를 설명하기 위한 도면도이다.
종래 기술에 따른 일반적인 전압측정장치는 도 1 내지 도 3에 나타낸 바와 같이, 멀티메타, 오실로스코프 및 전원품질분석기 등이 있는데, 도 1 및 도 2에 도시된 멀티메타는 직류전압의 평균값만 측정이 가능하고, 전원품질분석기 또는 도 3에 도시된 오실로스코프는 직류전압 및 교류전압의 순시값 측정이 가능하다.
그러나, 이러한 멀티메타, 오실로스코프 및 전원품질분석기는 장치내 설정된 전압범위내 전압만이 측정 가능하여, 단발적으로 발생되는 서지전압과 같이 크기가 큰 전압을 정확하게 감지할 수 없다는 문제가 있었다.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 제반 단점과 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명은 산업설비 전반에서 사용하고 있는 전기전자기기에 대한 뇌 서지 손상한계레벨을 측정할 수 있는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템 및 방법을 제공하는 것에 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 산업설비 전반에서 사용하고 있는 전기전자기기가 서지 유입으로부터 적정하게 보호할 있는 서지 손상한계레벨을 제공함으로써 적정한 전압보호레벨의 성능을 가진 서지 보호장치를 공급할 수 있고, 일시적 과전압시험환경을 제공하여 서지 보호장치가 규격에서 지정한 과전압 상태에서도 동작할 수 있는지의 성능을 확인할 수 있는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템 및 방법을 제공하는 것에 그 목적이 있다.
본 발명의 다른 목적은 전원용 서지 보호장치, 통신용 서지 보호장치, 신호용 서지 보호장치 등 다양한 종류의 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템 및 방법을 제공하는 것에 그 목적이 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템은. 일시적 과전압 시험시 필요한 전원을 가변적으로 발생시키는 가변전원발생기(110)와, 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지를 발생시키는 서지발생기(120)와, 뇌 서지 손상한계레벨이 측정되는 시료(전기전자기기)(130)로 구성되는 뇌 서지 시험 장치(100); 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 레벨을 감지하는 서지레벨감지부(210)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 측정된 서지의 레벨을 분석하는 측정값 분석부(220)와, 상기 측정값 분석부(220)에서 측정한 측정값을 표시하는 측정값표시부(230)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 지속시간을 조절하는 지속시간조절부(240)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 높낮이를 조절하는 서지레벨조절부(250)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 측정 기능을 선택하는 기능선택부(260)와, 상기 시료(130)별 측정된 데이터를 저장하는 저장부(270)와, 상기 가변전원발생기(110), 상기 서지 발생기(120), 상기 시료(130)와 통신하는 통신부(인터페이스)와, 상기 서지레벨감지부(210), 측정값 분석부(220), 상기 측정값 표시부(230), 상기 지속시간조절부(240), 상기 서지레벨조절부(250), 상기 기능선택부(260), 저장부(270) 및 통신부(280)를 제어하는 제어부(290)로 구성되는 손상한계레벨 측정장치(200); 및 상기 가변전원발생기(110), 상기 서지 발생기(120), 상기 시료(130)에 전원을 공급하는 전원공급부(300);를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.
여기서, 서지발생기(120)와 상기 시료(130) 사이에는 제1스위치(140)가 구성되고, 상기 가변전원발생기(110)와 상기 시료(130) 사이에는 제2스위치(150)가 구성됨이 바람직하다.
또한, 제1스위치(140)와 제2스위치(150)는 토글 스위치로 구성됨이 바람직하다.
한편, 제1스위치(140)와 제2스위치(150)는 동시에 온되지 않도록 프로그램된 것이 바람직하다.
그리고, 통신부(280)는 키보드(410), 마우스(420) 및 프린터(430)와 더 연결된 것이 바람직하다.
또한, 상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법은 뇌 서지 손상한계레벨을 측정하고자 하는 전기전자기기 시료 정보를 입력하는 단계(S100); 상기 시료에 대한 뇌서지 유입순서 및 신호변화 모니터링 순서를 입력하고, (S120), 상기 시료와 측정 시스템을 연결하는 단계(S140); 전원공급부에서 상기 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템에 전원을 공급하는 단계(S160); 상기 시료정보에 따라 서지보호장치 시험규격을 선택하는 단계(S200); 상기 시료의 전압보호레벨 크기와 지속시간을 선택하는 단계(S220); 서지 발생기 전원을 온하는 단계(S240); 서지 발생기에서 상기 시료로 서지가 발생되고(S280), 상기 서지 발생기로부터의 서지에 따른 결과(이벤트)가 상기 시료에서 발생되면 해당 결과를 저장하는 단계(S300); 시험을 설정된 횟수만큼 반복하는 단계(S320); 반복된 횟수에서의 시험결과를 데이터별로 저장 및 출력하는 단계(S340); 시험 결과를 분석하고(S360), 상기 분석된 데이터를 저장 및 출력하는 단계(S380)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 시료의 정보로는 상기 시료의 입출력라인 번호 기입을 포함하는 것이 바람직하다.
그리고, 서지보호장치 시험규격은 KSC IEC의 Up 또는 UL-1449의 VPR 중 하나 이상을 포함하는 것이 바람직하다.
한편, 서지 발생기에서 상기 시료로 서지가 발생되면(S280) 경광등을 추가하여 상기 서지 발생기의 전원 온을 알려 안정환경을 확보하는 것이 바람직하다.
또한, 서지 발생기에서 상기 시료로 서지가 발생되면(S280), 전압보호레벨 스위치를 추가하여 전압보호레벨에서 동작되도록 하는 것이 바람직하다.
상기와 같이 이루어진 본 발명은 다음과 같은 효과가 있다.
첫째, 전기전자기기를 사용하는 사용자가 안정된 서지 보호장치를 선택할 수 있다.
둘째, 서지 보호장치 제조 및 판매기업은 자신의 서지 보호장치 제품들에 관하여 기술, 성능을 신뢰할 수 있다.
셋째, 궁극적으로 산업전반에 서지 재해로부터 안정된 전기전자기기 동작 환경을 제공함으로써 국가 산업 발전과 기업의 생산성 증가를 취할 수 있도록 할 수 있다.
넷째, 뇌서지 손상한계레벨 측정시스템의 발생부가 동시에 작동하지 못하도록 안정된 회로로 설계하여 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 장치에 대한 불필요한 전기 공급을 방지하여 측정 시 위험을 방지할 수 있다.
도 1 내지 도 3은 종래 기술에 따른 일반적인 전압측정장치를 설명하기 위한 도면,
도 4는 본 발명에 따른 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템을 설명하기 위한 블록 구성도,
도 5는 본 발명에 따른 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템의 손상한계레벨규정치그래프,
도 6은 본 발명에 따른 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부된 도면에 의하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
아울러, 본 발명에서 사용되는 용어는 가능한 한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어를 선택하였으나, 특정한 경우는 출원인이 임의로 선정한 용어도 있으며 이 경우는 해당되는 발명의 설명부분에서 상세히 그 의미를 기재하였으므로, 단순한 용어의 명칭이 아닌 용어가 가지는 의미로서 본 발명을 파악하여야 함을 밝혀두고자 한다. 또한 실시예를 설명함에 있어서 본 발명이 속하는 기술 분야에 익히 알려져 있고, 본 발명과 직접적으로 관련이 없는 기술 내용에 대해서는 설명을 생략한다. 이는 불필요한 설명을 생략함으로써 본 발명의 요지를 흐리지 않고 더욱 명확히 전달하기 위함이다.
도 4는 본 발명에 따른 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템을 설명하기 위한 블록 구성도이다.
본 발명에 따른 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템은 도 4에 나타낸 바와 같이, 뇌 서지 시험 장치(100)와, 손상한계레벨 측정장치(200) 및 전원공급부(300)로 구성된다.
여기서, 뇌 서지 시험 장치(100)는 일시적 과전압 시험시 필요한 전원을 가변적으로 발생시키는 가변전원발생기(110)와, 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지를 발생시키는 서지발생기(120)와, 뇌 서지 손상한계레벨이 측정되는 시료(전기전자기기)(130)와, 서지발생기(120)와 시료(130) 사이에 구성되는 제1스위치(140)와, 가변전원발생기(110)와 시료(130) 사이에 구성되는 제2스위치(150)로 구성된다. 여기서, 제1스위치(140)와, 제2스위치(150)는 토글 스위치로 구성할 수 있다.
그리고, 손상한계레벨 측정장치(200)는, 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 레벨을 감지하는 서지레벨감지부(210)와, 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 측정된 서지의 레벨을 분석하는 측정값 분석부(220)와, 측정값의 표시하는 측정값표시부(230)와, 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 지속시간을 조절하는 지속시간조절부(240)와, 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 높낮이를 조절하는 서지레벨조절부(250)와, 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 측정 기능을 선택하는 기능선택부(260)와, 시료(130)별 측정된 데이터를 저장하는 저장부(270)와, 가변전원발생기(110), 서지 발생기(120), 시료(130), 제1스위치(140) 및 제2스위치(150)와 통신하는 통신부(인터페이스), 가변전원 발생기(110), 서지 발생기(120) 및 시료(130)와 통신하는 통신부(280) 및 손상한계레벨 측정장치(200)를 제어하는 제어부(290)를 포함하여 구성된다.
여기서, 제어부(290)는 제1스위치(140)와 제2스위치(150)가 동시에 온되지 않도록 프로그램되고, 서지의 크기(전압레벨)과 서지의 지속시간이 프로그램되어 있다.
한편, 통신부(280)는 키보드(410), 마우스(420) 및 프린터(430)와 연결될 수 있다.
도 5는 본 발명에 따른 뇌 서지 손상한계레벨 측정시스템의 손상한계레벨 규정치 그래프이다.
본 발명에 따른 뇌 서지 손상한계레벨 측정시스템의 손상한계레벨규정치는 도 5에 나타낸 바와 같이, X축을 시료에 대한 뇌 서지 손상한계레벨 지속시간이라 하고, Y축을 서지레벨이라 하는 경우 1은 KSC IEC 규격, UL-1449 또는 기타 서지보호장치 시험규격에서 지정한 그래프이고, 2 내지 N은 KSC IEC 규격, UL-1449, 또는 기타 서지보호장치 시험규격에서 지정한 서지레벨에 대한 지속시간의 종류(Up, VPR 등)를 나타내고 있다.
도 6은 본 발명에 따른 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
본 발명에 따른 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법은 도 6에 나타낸 바와 같이, 시료(전기전자기기) 정보를 입력한다(S100). 이러한 시료의 정보로는 시료의 입출력라인 번호 기입이 포함된다.
그 다음 해당 시료에 대한 뇌서지 유입순서 및 신호변화 모니터링 순서를 입력한다(S120).
시료와 측정 시스템을 연결한다(S140)
전원공급부에서 전원을 공급한다(S160).
시험을 시작한다(S180).
시료정보에 따라 KSC IEC의 Up 또는 UL-1449의 VPR 또는 기타 서지보호장치 시험규격을 선택한다(S200).
이어, 도 5에 나타낸 바와 같은 시료의 전압보호레벨 크기와 지속시간을 선택한다(S220).
그 다음 서지 발생기 전원을 온한다. 다시 말하면 제1스위치(140)를 온시킨다(S240). 이때, 경광등(도시하지 않음)을 추가하여 서지 발생기의 전원온을 알려 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시 안전환경을 확보하도록 할 수 있다. 한편, 제2스위치(150)는 오프상태가 된다.
이때, 전압보호레벨 스위치를 추가하여 전압보호레벨 스위치를 온할 수 있다(S260). 다시 말하면 전압보호레벨 스위치를 추가하여 동작되도록 할 수 있다.
그러면 서지 발생기에서 시료로 서지가 발생된다(S280).
그리고 시료에서 서지 발생기로부터의 서지에 따른 결과(이벤트)를 저장한다(S300). 이때, 측정 주기(서지 발생 주기)는 조정할 수 있다.
그 다음 시험 규정에 따른 시험을 설정된 횟수만큼 반복한다(S320).
그리고 각각의 횟수에서의 시험결과를 데이터별로 저장 및 출력한다(S340).
이어 시험 결과를 분석한다(S360).
그리고 분석된 데이터를 저장 및 출력한다(S380).
이상과 같은 예로 본 발명을 설명하였으나, 본 발명은 반드시 이러한 예들에 국한되는 것이 아니고, 본 발명의 기술사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형 실시될 수 있다. 따라서 본 발명에 개시된 예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 예들에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
100 : 뇌서지 시험 장치 110 : 가변전원발생기
120 : 서지발생기 130 : 시료(전기전자기기)
140, 150 : 스위치
200 : 손상한계레벨 측정장치 210 : 서지레벨감지부
220 : 측정값 분석부 230 : 측정값 표시부
240 : 지속시간조절부 250 : 서지레벨조절부
260 : 기능선택부 270 : 저장부
280 : 통신부 290 : 제어부
300 : 전원공급부 410 : 키보드
420 : 마우스 430 : 프린터

Claims (10)

  1. 일시적 과전압 시험시 필요한 전원을 가변적으로 발생시키는 가변전원발생기(110)와, 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지를 발생시키는 서지발생기(120)와, 뇌 서지 손상한계레벨이 측정되는 시료(전기전자기기)(130)로 구성되는 뇌 서지 시험 장치(100);
    상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 레벨을 감지하는 서지레벨감지부(210)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 측정된 서지의 레벨을 분석하는 측정값 분석부(220)와, 상기 측정값 분석부(220)에서 측정한 측정값을 표시하는 측정값표시부(230)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 지속시간을 조절하는 지속시간조절부(240)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 서지의 높낮이를 조절하는 서지레벨조절부(250)와, 상기 전기전자제어기기 서지전압보호레벨 측정시 측정 기능을 선택하는 기능선택부(260)와, 상기 시료(130)별 측정된 데이터를 저장하는 저장부(270)와, 상기 가변전원발생기(110), 상기 서지 발생기(120), 상기 시료(130)와 통신하는 통신부(인터페이스)와, 상기 서지레벨감지부(210), 측정값 분석부(220), 상기 측정값 표시부(230), 상기 지속시간조절부(240), 상기 서지레벨조절부(250), 상기 기능선택부(260), 저장부(270) 및 통신부(280)를 제어하는 제어부(290)로 구성되는 손상한계레벨 측정장치(200); 및
    상기 가변전원발생기(110), 상기 서지 발생기(120), 상기 시료(130)에 전원을 공급하는 전원공급부(300);를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 서지발생기(120)와 상기 시료(130) 사이에는 제1스위치(140)가 구성되고,
    상기 가변전원발생기(110)와 상기 시료(130) 사이에는 제2스위치(150)가 구성됨을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제1스위치(140)와 제2스위치(150)는 토글 스위치로 구성됨을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 제1스위치(140)와 제2스위치(150)는 동시에 온되지 않도록 프로그램된 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 통신부(280)는 키보드(410), 마우스(420) 및 프린터(430)와 더 연결된 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템.
  6. 청구항 1 내지 청구항 5에 기재된 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템을 이용한 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법에서,
    뇌 서지 손상한계레벨을 측정하고자 하는 전기전자기기 시료 정보를 입력하는 단계(S100);
    상기 시료에 대한 뇌서지 유입순서 및 신호변화 모니터링 순서를 입력하고, (S120), 상기 시료와 측정 시스템을 연결하는 단계(S140);
    전원공급부에서 상기 뇌 서지 손상한계레벨 측정 시스템에 전원을 공급하는 단계(S160);
    상기 시료정보에 따라 서지보호장치 시험규격을 선택하는 단계(S200);
    상기 시료의 전압보호레벨 크기와 지속시간을 선택하는 단계(S220);
    서지 발생기 전원을 온하는 단계(S240);
    상기 서지 발생기에서 상기 시료로 서지가 발생되고(S280), 상기 서지 발생기로부터의 서지에 따른 결과(이벤트)가 상기 시료에서 발생되면 해당 결과를 저장하는 단계(S300);
    상기 시험을 설정된 횟수만큼 반복하는 단계(S320);
    상기 반복된 횟수에서의 시험결과를 데이터별로 저장 및 출력하는 단계(S340); 및
    상기 시험 결과를 분석하고(S360), 상기 분석된 데이터를 저장 및 출력하는 단계(S380)를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 시료의 정보로는 상기 시료의 입출력라인 번호 기입을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 서지보호장치 시험규격은 KSC IEC의 Up 또는 UL-1449의 VPR 중 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법.
  9. 제6항에 있어서,
    상기 서지 발생기에서 상기 시료로 서지가 발생되면(S280) 경광등을 추가하여 상기 서지 발생기의 전원 온을 알려 안전환경을 확보하는 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법.
  10. 제6항에 있어서,
    상기 서지 발생기에서 상기 시료로 서지가 발생되면(S280), 전압보호레벨 스위치를 추가하여 전압보호레벨에서 동작되도록 하는 것을 특징으로 하는 전기전자기기의 뇌 서지 손상한계레벨 측정 방법.
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