KR101283232B1 - Apparatus and method for matching an impedance - Google Patents
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Abstract
본 발명의 실시 예에 따른 임피던스 정합 방법은 제1 임피던스 가변소자의 임피던스값 및 제2 임피던스 가변소자의 임피던스값으로 구성되는 탐색 영역을 복수의 영역들로 구분하고, 상기 복수의 영역들에서 제1 탐색지점들을 설정하는 단계; 상기 제1 탐색지점들 중 탐색 정합 지점인 제1 정합 탐색 지점을 검출하는 단계; 상기 제1 탐색지점을 중심으로 다음 탐색 지점인 제2 탐색지점들을 설정하고, 상기 제2 탐색 지점들 중 다음 탐색 정합지점인 제2 정합 탐색 지점을 검출하는 단계; 및 상기 다음 탐색지점들을 설정하고 상기 다음 탐색 정합 지점을 검출하는 단계를 이용하여, 상기 탐색 지점들 간의 거리를 감축하고, 상기 거리가 소정의 조건을 만족하는 경우 임피던스 정합 지점에 대한 탐색을 종료하는 단계를 포함한다In the impedance matching method according to an exemplary embodiment of the present invention, a search region including an impedance value of a first impedance variable element and an impedance value of a second impedance variable element is divided into a plurality of regions, and a first region is formed in the plurality of regions. Setting search points; Detecting a first matched search point that is a search matched point among the first search points; Setting second search points, which are next search points, around the first search point, and detecting a second matched search point that is a next search match point among the second search points; And setting the next search points and detecting the next search match point, reducing the distance between the search points and ending the search for the impedance match point if the distance satisfies a predetermined condition. Includes steps
Description
본 발명은 임피던스 정합 장치에 관한 것으로서, 특히 휴대폰 등과 같은 이동 단말기에 장착되어 최적의 임피던스 정합 지점을 탐색하는 임피던스 정합 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an impedance matching device, and more particularly, to an impedance matching device mounted on a mobile terminal such as a mobile phone and searching for an optimum impedance matching point.
휴대폰 등 이동 단말기에는 자동으로 주파수 튜닝을 수행하는 임피던스 정합 장치가 장착된다. 임피던스 정합 장치는 자동으로 최적 주파수를 찾기 위해 내장되어 있는 가변 커패시터 소자들의 캐패시턴스 값을 차례로 변경시키면서 최적 캐패시턴스 값을 찾게 된다. 이때, 가변 커패시터 소자들의 최초 캐패시턴스 값이 항상 변경 가능한 범위의 중간값으로 설정되어 있기 때문에, 이전 임피던스 정합값과 관계없이 항상 고정된 값에서 출발하여 임피던스 정합을 찾는 방법을 사용하였다.Mobile terminals such as mobile phones are equipped with an impedance matching device that automatically performs frequency tuning. The impedance matching device automatically finds the optimum capacitance value by sequentially changing the capacitance values of the built-in variable capacitor elements to find the optimum frequency. In this case, since the initial capacitance value of the variable capacitor devices is always set to a middle value of a changeable range, a method of finding impedance matching is always used starting from a fixed value regardless of the previous impedance matching value.
그런데, 기존 임피던스 정합 방법에서, 임피던스 정합 장치는 가변 커패시터의 값을 각각 일정 간격으로 차례로 변경해 가면서, 반사파의 강도가 최소가 되는 지점을 탐색하므로, 시간이 오래 걸리고 전력 소모도 많은 문제점이 있다.However, in the conventional impedance matching method, the impedance matching device searches for a point where the intensity of the reflected wave is minimized while sequentially changing the values of the variable capacitors at predetermined intervals, and thus, it takes a long time and consumes a lot of power.
또한, 임피던스 정합 장치는 가변 커패시터들에 제어 신호를 인가하여 캐패시턴스 값을 변화시키면서 최적의 캐패시턴스 값, 즉 튜닝된 캐패시턴스 값을 찾게 되는데, 이때, 가변 커패시터들의 캐패시턴스 값을 어느 범위에서 변경시킬 것인지가 문제된다.In addition, the impedance matching device applies a control signal to the variable capacitors to find the optimum capacitance value, that is, the tuned capacitance value, while changing the capacitance value. do.
본 발명은 임피던스 정합 장치의 임피던스 정합을 고속 처리하기 위한 방법을 제공한다.The present invention provides a method for high speed processing of impedance matching of an impedance matching device.
본 발명은 제1 임피던스 가변소자 및 제2 임피던스 가변소자를 포함하는 안테나 임피던스 정합장치의 임피던스 정합방법으로서, 상기 제1 임피던스 가변소자의 임피던스값 및 상기 제2 임피던스 가변소자의 임피던스값으로 구성되는 탐색 영역을 복수의 영역들로 구분하고, 상기 복수의 영역들에서 제1 탐색지점들을 설정하는 단계; 상기 제1 탐색지점들 중 탐색 정합 지점인 제1 정합 탐색 지점을 검출하는 단계; 상기 제1 탐색지점을 중심으로 다음 탐색 지점인 제2 탐색지점들을 설정하고, 상기 제2 탐색 지점들 중 다음 탐색 정합지점인 제2 정합 탐색 지점을 검출하는 단계; 및 상기 다음 탐색지점들을 설정하고 상기 다음 탐색 정합 지점을 검출하는 단계를 이용하여, 상기 탐색 지점들 간의 거리를 감축하고, 상기 거리가 소정의 조건을 만족하는 경우 임피던스 정합 지점에 대한 탐색을 종료하는 단계를 포함하는 임피던스 정합 방법을 제공한다. The present invention relates to an impedance matching method of an antenna impedance matching device including a first impedance variable element and a second impedance variable element, the search comprising an impedance value of the first impedance variable element and an impedance value of the second impedance variable element. Dividing an area into a plurality of areas and setting first search points in the plurality of areas; Detecting a first matched search point that is a search matched point among the first search points; Setting second search points, which are next search points, around the first search point, and detecting a second matched search point that is a next search match point among the second search points; And setting the next search points and detecting the next search match point, reducing the distance between the search points and ending the search for the impedance match point if the distance satisfies a predetermined condition. It provides an impedance matching method comprising the step.
또한, 본 발명은 안테나의 임피던스 정합장치로서, 제1 임피던스 가변소자; 제2 임피던스 가변소자; 상기 안테나의 신호 파워를 검출하는 검출부; 및 상기 신호 파워에 근거하여 상기 제1 임피던스 가변소자의 임피던스값 및 상기 제2 임피던스 가변소자의 임피던스값을 제어하는 제어부를 포함하며, 상기 제1 임피던스 가변소자의 임피던스값 및 상기 제2 임피던스 가변소자의 임피던스값으로 구성되는 탐색 영역을 구성하는 복수의 영역들에서 설정된 제1 탐색지점들 가운데 제1 탐색 정합 지점을 결정하고, 상기 제1 탐색 정합 지점을 중심으로 다음 탐색 지점들을 설정하고, 다음 탐색지점들 가운데 다음 탐색 정합 지점을 검출하는 과정을 이용하여 탐색 지점들 간의 거리를 감축함으로써 임피던스 정합 지점을 결정하는 것을 특징으로 하는 임피던스 정합 장치를 제공한다.In addition, the present invention provides an impedance matching device of an antenna, comprising: a first impedance variable element; A second impedance variable element; A detector detecting signal power of the antenna; And a controller configured to control an impedance value of the first impedance variable element and an impedance value of the second impedance variable element based on the signal power, wherein the impedance value of the first impedance variable element and the second impedance variable element are controlled. Determine a first search matching point among the first search points set in the plurality of areas constituting the search area composed of the impedance value of, set the next search points around the first search match point, and the next search An impedance matching device is characterized in that the impedance matching point is determined by reducing the distance between the searching points using a process of detecting a next search matching point among the points.
또한, 본 발명은 임피던스 정합을 위한 프로그램을 저장한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체에 있어서, 제1 임피던스 가변소자의 임피던스값 및 제2 임피던스 가변소자의 임피던스값으로 구성되는 탐색 영역을 복수의 영역들로 구분하고, 상기 복수의 영역들에서 제1 탐색지점들을 설정하는 단계; 상기 제1 탐색지점들 중 탐색 정합 지점인 제1 정합 탐색 지점을 검출하는 단계; 상기 제1 탐색지점을 중심으로 다음 탐색 지점인 제2 탐색지점들을 설정하고, 상기 제2 탐색 지점들 중 다음 탐색 정합지점인 제2 정합 탐색 지점을 검출하는 단계; 및 상기 다음 탐색지점들을 설정하고 상기 다음 탐색 정합 지점을 검출하는 단계를 이용하여, 상기 탐색 지점들 간의 거리를 감축하고, 상기 거리가 소정의 조건을 만족하는 경우 임피던스 정합 지점에 대한 탐색을 종료하는 단계 포함하는 프로그램을 저장한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체를 제공한다.In addition, the present invention provides a computer-readable recording medium storing a program for impedance matching, wherein a search area composed of an impedance value of a first impedance variable element and an impedance value of a second impedance variable element is divided into a plurality of regions. Setting first search points in the plurality of areas; Detecting a first matched search point that is a search matched point among the first search points; Setting second search points, which are next search points, around the first search point, and detecting a second matched search point that is a next search match point among the second search points; And setting the next search points and detecting the next search match point, reducing the distance between the search points and ending the search for the impedance match point if the distance satisfies a predetermined condition. A computer readable recording medium having stored therein a program is provided.
본 발명의 실시 예에 따르면, 기존 알고리즘보다 탐색 구간을 적응적으로 변화시킬 수 있어, 임피던스 정합 장치의 임피던스 정합 속도를 개선할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the search section may be adaptively changed than the conventional algorithm, thereby improving the impedance matching speed of the impedance matching device.
한편 그 외의 다양한 효과는 후술될 본 발명의 실시 예에 따른 상세한 설명에서 직접적 또는 암시적으로 개시될 것이다.Meanwhile, various other effects will be directly or implicitly disclosed in the detailed description according to the embodiment of the present invention to be described later.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 임피던스 정합 장치의 구성도;
도 2는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 임피던스 정합 방법을 나타낸 도면;
도 3은 도 2의 임피던스 정합 방법에서 임피던스 정합 지점을 탐색하는 방법을 나타낸 도면;
도 4A 내지 도 4D는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 임피던스 정합 방법을 나타낸 도면;
도 5는 도 4의 임피던스 정합 방법을 수행하는 절차의 흐름도.1 is a block diagram of an impedance matching device according to an embodiment of the present invention;
2 is a diagram illustrating an impedance matching method according to a first embodiment of the present invention;
3 is a diagram illustrating a method of searching for an impedance matching point in the impedance matching method of FIG. 2;
4A to 4D illustrate an impedance matching method according to a second embodiment of the present invention;
5 is a flowchart of a procedure of performing the impedance matching method of FIG. 4.
하기에서 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 그리고 후술 되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear. The following terms are defined in consideration of the functions of the present invention, and may be changed according to the intentions or customs of the user, the operator, and the like. Therefore, the definition should be based on the contents throughout this specification.
본 발명의 실시 예는 임피던스 정합 장치의 임피던스 정합을 고속 처리하기 위한 방법을 제공한다.An embodiment of the present invention provides a method for fast processing impedance matching of an impedance matching device.
이하, 본 발명의 실시 예에 대해 첨부된 도면들을 참조하여 설명하도록 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 임피던스 정합 장치의 구성을 나타낸다.1 shows a configuration of an impedance matching device according to an embodiment of the present invention.
도 1을 참조하면, 임피던스 정합 장치(100)는 안테나와 병렬로 연결된 병렬 커패시터(121a), 직렬로 연결된 직렬 커패시터(121b) 및 인덕터 소자들(122a, 122b, 122c)을 포함하는 가변 소자부(120), 임피던스 정합 장치로 입력되는 신호와 안테나 단의 종단으로부터 반사되는 신호를 검출하는 방향성 커플러(directional coupler, 130), 상기 방향성 커플러(130)를 통해 입력되는 신호의 파워를 측정하는 검출부(140), 상기 검출부(140)로부터 제공받은 전송 파워(forward power) 및 반사 파워(reflective power)를 기반으로 가변 커패시터들(121a, 121b)의 제어 신호를 생성하여 가변 소자부(120)로 전달하는 제어부(150) 및 RF 신호를 송수신하는 안테나(160)를 포함한다.Referring to FIG. 1, the
상기 가변 소자부(120)는 복수 개의 가변 커패시터들(121a, 121b)과 복수 개의 고정 인덕터들(122a, 122b, 122c)을 포함할 수 있다. 가변 커패시터들(121a, 121b)과 고정 인덕터들(122a, 122b, 122c)의 결선 또는 소자의 개수는 실시 예에 따라 달라질 수 있다. 상기 가변 커패시터들(121a, 121b)과 고정 인덕터들(122a, 122b, 122c)은 함께 임피던스 정합 장치(100)가 장착된 기기의 임피던스를 형성한다.The
가변 커패시터들(121a, 121b)의 값은 제어부(150)에 의해 인가되는 DC 전압에 의해 변화되며, 변환된 가변 커패시터들(121a, 121b)의 값에 의해 전송 신호에 대한 반사 신호의 크기가 변화하게 된다.The values of the
통상, 입력되는 신호가 일정하다고 가정하면, 반사 신호의 크기가 크면 클수록 임피던스 정합이 잘 이루어지지 않은 것이고, 반사파 신호의 크기가 작으면 작을수록 임피던스 정합이 잘 이루어진 것이다.In general, assuming that the input signal is constant, the larger the size of the reflected signal, the poorer the impedance matching is, and the smaller the size of the reflected wave signal, the better the impedance matching is achieved.
한편, 본 실시 예에서, 상기 가변 커패시터들(121a, 121b)은 병렬 커패시터(121a) 하나와 직렬 커패시터(121b) 하나로 구성되는 것을 예시하고 있지만, 이를 제한하지는 않으며, 병렬 커패시터(121a) 또는 직렬 커패시터(121b)만으로 구성될 수 있고, 3개 이상의 가변 커패시터들로 구성될 수도 있다.Meanwhile, in the present exemplary embodiment, the
검출부(140)는 안테나 단(160)으로 입력되는 신호의 크기와, 안테나(160) 단의 종단으로부터 반사되는 신호의 크기를 각각 측정하게 된다. 이때, 상기 검출부(140)는 입력되는 신호 및 반사되는 신호의 전압 또는 전력 값을 측정하게 된다.The
아날로그/디지털 변환기(미도시)는 상기 검출부(140)로부터 입력된 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하여 제어부(150)로 제공한다. 이때, 아날로그/디지털 변환기(미도시)는 상기 제어부(150) 내에 구현될 수 있다.An analog / digital converter (not shown) converts an analog signal input from the
제어부(150)는 전송 파워 및 반사 파워를 기반으로 가변 커패시터들(121a, 121b)의 제어 신호를 인가하여 가변 소자부(120)의 임피던스 값을 변화시켜서 임피던스 정합을 수행한다. 이때, 상기 제어부(150)는 디지털/아날로그 변환기(미도시)를 포함하고 있기 때문에, 디지털 신호를 아날로그 신호로 변환하여 가변 소자부(120)로 제공하게 된다.The
그런데, 기존 임피던스 정합 알고리즘에서, 상기 제어부(150)는 가변 커패시터(121a, 121b)의 캐패시턴스 값을 각각 일정 간격으로 차례로 변경해 가면서, 반사 신호의 강도가 최소가 되는 지점을 탐색하므로, 시간이 오래 걸리고 전력 소모도 많을 수밖에 없다.However, in the conventional impedance matching algorithm, the
또한, 상기 제어부(150)는 가변 커패시터들(121a, 121b)에 제어 신호를 인가하여 캐패시턴스 값을 변화시키면서 최적의 캐패시턴스 값, 즉 튜닝된 캐패시턴스 값을 찾게 되는데, 이때, 가변 커패시터들(121a, 121b)의 캐패시턴스 값을 어느 범위에서 변경시킬 것인지가 문제된다.In addition, the
이러한 문제를 해결하기 위해, 이하 본 실시 예들에서는 기존 임피던스 정합 알고리즘보다 더 효율적인 임피던스 정합 알고리즘을 제공한다.In order to solve this problem, the following embodiments provide an impedance matching algorithm more efficient than the conventional impedance matching algorithm.
도 2는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 임피던스 정합 방법을 나타낸다. 2 shows an impedance matching method according to a first embodiment of the present invention.
도 2를 참조하면, x축은 제1 가변 커패시터의 캐패시턴스 값이고, y 축은 제2 가변 커패시터의 캐패시턴스 값이다.Referring to FIG. 2, the x-axis is the capacitance value of the first variable capacitor, and the y-axis is the capacitance value of the second variable capacitor.
먼저, 임피던스 정합 장치가 임피던스 정합을 수행할 때, 제1 가변 커퍼시터와 제2 가변 커패시터의 가변 범위의 중간값에 해당하는 지점(224)을 기준으로 제1 탐색 영역(211)을 설정한다.First, when the impedance matching device performs impedance matching, the
상기 제1 탐색 영역(211)에 대해 탐색을 수행하여 해당 탐색 영역(211) 내에서 전송 신호(forward signal)의 크기와 반사 신호(reflect signal)의 크기 차가 최대인 지점, 즉 최적 포인트 또는 정합 탐색 지점을 찾아낸다. 이때, 상기 정합 탐색 지점은 반사 신호의 크기가 최소인 지점 또는 전송 신호의 크기와 반사 신호의 크기 비율이 최소인 지점으로 설정될 수도 있다. 여기서, 상기 탐색은 상기 탐색 영역에 해당하는 제1, 2 가변 커패시터들의 값을 차례로 사용하여 전송 신호와 반사 신호의 크기 차이를 측정하는 것을 의미한다.The search is performed on the
상기 제1 탐색 영역(211)은 정사각형 모양으로 설정될 수 있으며, 정사각형 한 변의 길이, 즉 가변 커패시터를 변화할 수 있는 범위는 실시 예에 따라 달라질 수 있다. The
또한, 상기 제1 탐색 영역(211)의 내부는 복수의 구간들, 즉 16 구간(4×4)으로 구분될 수 있으며, 상기 복수의 구간들 중 한 구간의 길이 역시 실시 예에 따라 달라질 수 있다.In addition, the inside of the
한편, 도 2에서, 임피던스 정합 지점, 즉 전송 신호의 크기와 반사 신호의 크기 차이가 최대인 지점을 M 포인트(221)라 가정한다. 또한, 상기 M 포인트(221) 주변에는 반사파 강도가 약한 영역(231)과 그보다 반사파 강도가 강한 영역(232)이 등고선 형태로 배치됨을 가정한다. Meanwhile, in FIG. 2, it is assumed that the
상기 M 포인트(221)로부터 멀어질수록 반사파의 값이 크게 되므로, 제1 탐색 영역(211)에서 탐색을 수행하면, 상기 제1 탐색 영역(211) 내에서 M 포인트(221)에 가장 가까운 제1 정합 탐색 지점(223)에서의 반사파 값이 최소가 될 것이다.As the distance from the
제1 탐색 영역(211) 내에서의 정합 탐색 지점(223)이 결정되면, 상기 정합 탐색 지점(223)을 중심으로 제2 탐색 영역(212)을 설정한다. 이때, 제2 탐색 영역(212)은 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 제1 탐색 영역(211)과 동일한 정사각형 모양으로 설정될 수 있다. 또한, 제2 탐색 영역(212)은 제1 탐색 영역(211)을 기준으로 M 포인트(221) 방향에 위치하게 된다.When the matching
임피던스 정합 장치는 제2 탐색 영역(212)에 대해 탐색을 수행하여, 제2 탐색 영역(212) 내에서의 정합 탐색 지점(222)을 결정한다.The impedance matching device performs a search on the
이후, 상기 제2 탐색 영역(212) 내에서의 정합 탐색 지점(222)을 중심으로 M 포인트(221) 방향에 제3 탐색 영역(213)을 설정하고, 상기 제3 탐색 영역(213)에 대해 탐색을 수행한다. 이때, 제3 탐색 영역(213)은 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 제1 탐색 영역(211)과 동일한 정사각형 모양으로 설정될 수 있다.Thereafter, a
제3 탐색 영역(213)은 임피던스 정합 지점(221)을 포함하고 있으므로, 영역 내에서 반사파 강도가 감소하다가 증가하는 변화를 발견할 수 있다. 즉, 가변 커패시터의 캐패시턴스 값을 한 방향으로 변경시키다가 반사파 강도의 증감이 변화하는 지점을 발견할 수 있는데, 바로 이 지점이 임피던스 정합 지점(221)이 된다.Since the
이러한 임피던스 정합 지점(221)이 결정되면, 임피던스 정합 장치는 그 지점에 해당하는 가변 커패시터의 캐패시턴스 값으로 임피던스 정합을 수행한다.When the
본 실시 예에서, 제1 탐색 영역(211) 내지 제3 탐색 영역(213)은 정사각형 모양으로 설정되는 것을 예시하고 있으나, 이를 제한하지는 않으며, 다른 모양으로 설정될 수도 있다. In the present exemplary embodiment, the
한편, 상기 탐색 영역 내에서, 정합 탐색 지점을 찾는 방법은 왼쪽 구간에서 오른쪽 구간 순으로 이동하면서, 아래 방향에서 위 방향으로 진행한다. 가령, 도 3에 도시된 바와 같이, 해당 탐색 영역 내에서, 정합 탐색 지점에 대한 탐색은 좌측 맨 아래 구간에서 시작하여 우측 맨 위 구간에서 종료하게 된다.On the other hand, within the search region, the method of finding the matching search point proceeds from the lower direction to the upper direction while moving from the left section to the right section. For example, as shown in FIG. 3, within the corresponding search area, the search for the matching search point starts at the bottom left section and ends at the top right section.
그런데, 상기 탐색 방법은 임피던스 정합 지점이 현재 지점과 거리가 있어도 정해진 구간을 모두 탐색해야 하는 문제가 발생하여 임피던스 정합 장치의 성능을 열화시킬 수 있으며, 임피던스 정합 지점을 찾는데 오랜 시간이 소요될 수 있다.However, in the search method, even if the impedance matching point has a distance from the current point, a problem arises in that a predetermined section must be searched, thereby degrading the performance of the impedance matching device, and it may take a long time to find the impedance matching point.
이러한 점을 개선하기 위해, 이하 본 발명의 다른 실시 예에서는 정합 탐색 지점을 기준으로 복수의 탐색 지점들을 설정하고, 상기 탐색 지점들 간의 거리를 단계적으로 감축하면서 임피던스 정합 지점을 찾는 임피던스 정합 방법에 대해 설명한다.In order to improve the above, another embodiment of the present invention will be described with respect to the impedance matching method for finding the impedance matching point by setting a plurality of search points based on the matching search point, and reducing the distance between the search points step by step Explain.
도 4A 내지 도 4D는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 임피던스 정합 방법을 나타낸다.4A to 4D illustrate an impedance matching method according to a second embodiment of the present invention.
도 4A 내지 도 4D를 참조하면, x축은 제1 가변 커패시터의 캐패시턴스 값을 나타내고, y 축은 제2 가변 커패시터의 캐패시턴스 값을 나타낸다. 이때, x축과 y축의 가변 범위는 16개의 동일 구간들로 구분되는 것을 예시하고 있으나, 이를 제한하지는 않는다.4A to 4D, the x axis represents the capacitance value of the first variable capacitor, and the y axis represents the capacitance value of the second variable capacitor. At this time, the variable range of the x-axis and y-axis is illustrated as being divided into 16 equal intervals, but is not limited thereto.
한편, 본 실시 예에서, 임피던스 정합 지점, 즉 전송 신호(forward signal)와 반사 신호(reflect signal)의 크기 차이가 최대인 지점은 x축과 y축의 값이 (11, 9)인 지점(401)임을 가정하여 설명하도록 한다.On the other hand, in the present embodiment, the impedance matching point, that is, the point where the difference between the magnitude of the forward signal and the reflective signal is maximum is the
먼저, 도 4A를 참조하면, 전체 탐색 영역(410)을 4개의 균등한 영역으로 구분하고, 각 영역의 가운데 지점을 제1 탐색 지점(①~④)으로 설정한다. 이때, 상기 전체 탐색 영역은 x축과 y축의 가변 범위가 동일한 정사각형 형태로 설정하는 것이 바람직하다.First, referring to FIG. 4A, the
또한, 제1 탐색 지점들 간의 수평 거리 또는 수직 거리를 D/2로 설정한다. 이때, 상기 D는 x축 또는 y축의 가변 범위의 전체 구간에 해당하며, 본 실시 예에서 상기 D는 16임을 가정하여 설명하도록 한다.In addition, the horizontal distance or the vertical distance between the first search points is set to D / 2. In this case, the D corresponds to the entire section of the variable range of the x-axis or y-axis, and in the present embodiment will be described on the assumption that D is 16.
임피던스 정합 장치는 제1 탐색 지점들(①~④) 중 전송 신호와 반사 신호의 크기 차이가 최대인 지점(즉, 최적 포인트 또는 정합 탐색 지점)을 찾는다. 이때, 상기 정합 탐색 지점은 반사 신호의 크기가 최소인 지점 또는 전송 신호의 크기와 반사 신호의 크기 비율이 최소인 지점으로 설정될 수도 있다.The impedance matching device finds a point (that is, an optimum point or a matching search point) among the
통상, 임피던스 정합 지점(401)으로부터 멀어질수록 반사 신호의 크기가 증가하므로, 임피던스 정합 장치가 제1 탐색 지점들(①~④)에 대해 탐색을 수행하면, 상기 임피던스 정합 지점(401)에 가장 가까이 위치한 3번 지점에서 측정한 반사 신호의 크기가 최소가 될 것이다.In general, since the magnitude of the reflected signal increases as the distance from the
임피던스 정합 장치는 상기 3번 지점을 제1 정합 탐색 지점(③)으로 설정한다. 상기 제1 정합 탐색 지점(③)이 결정되면, 상기 제1 정합 탐색 지점(③)을 기준으로 제2 탐색 지점을 설정한다.The impedance matching device sets the third point as the first
도 4B를 참조하면, 제1 정합 탐색 지점(③)을 중심으로 한 변의 길이가 D/2인 정사각형 영역(420)의 네 모서리 지점을 제2 탐색 지점으로 설정한다. 이때, 상기 제2 탐색 지점은 상기 제1 정합 탐색 지점(③)을 포함한다.Referring to FIG. 4B, four corner points of the
임피던스 정합 장치는 제2 탐색 지점들(③, ⑤~⑧) 중 전송 신호와 반사 신호의 크기 차이가 최대인 지점을 찾는다.The impedance matching device finds a point where the difference in magnitude between the transmitted signal and the reflected signal is the largest among the second search points ③ and ⑤ to ⑧.
임피던스 정합 지점(401)으로부터 멀어질수록 반사 신호의 크기가 증가하므로, 임피던스 정합 장치가 제2 탐색 지점들(③, ⑤~⑧)에 대해 탐색을 수행하면, 상기 임피던스 정합 지점(401)에 가장 가까이 위치한 5번 지점에서 측정한 반사 신호의 크기가 최소가 될 것이다.Since the magnitude of the reflected signal increases as the distance from the
임피던스 정합 장치는 상기 5번 지점을 제2 정합 탐색 지점(⑤)으로 설정한다. 상기 제2 정합 탐색 지점(⑤)이 결정되면, 상기 제2 정합 탐색 지점(⑤)을 기준으로 제3 탐색 지점을 설정한다.The impedance matching device sets the fifth point as the second
도 4C를 참조하면, 제2 정합 탐색 지점(⑤)을 중심으로 한 변의 길이가 D/4인 정사각형 영역(430)의 네 모서리 지점을 제3 탐색 지점으로 설정한다. 이때, 상기 제3 탐색 지점은 상기 제2 정합 탐색 지점(⑤)을 포함한다.Referring to FIG. 4C, four corner points of the
임피던스 정합 장치는 제3 탐색 지점들(⑤, ⑨~⑫) 중 전송 신호와 반사 신호의 크기 차이가 최대인 지점을 찾는다.The impedance matching device finds a point where the difference in magnitude between the transmitted signal and the reflected signal is the largest among the
임피던스 정합 지점(401)으로부터 멀어질수록 반사 신호의 크기가 증가하므로, 임피던스 정합 장치가 제3 탐색 지점들(⑤, ⑨~⑫)에 대해 탐색을 수행하면, 상기 임피던스 정합 지점(401)에 가장 가까이 위치한 11번 지점에서 측정한 반사 신호의 크기가 최소가 될 것이다.Since the magnitude of the reflected signal increases as the distance from the
임피던스 정합 장치는 상기 11번 지점을 제3 정합 탐색 지점(⑪)으로 설정한다. 상기 제3 정합 탐색 지점(⑪)이 결정되면, 상기 제3 정합 탐색 지점(⑪)을 기준으로 제4 탐색 지점을 설정한다.The impedance matching device sets point 11 as the third matching search point. When the third match search point is determined, a fourth search point is set based on the third match search point.
도 4D를 참조하면, 제3 정합 탐색 지점(⑪)을 중심으로 한 변의 길이가 D/8인 정사각형 영역(440)의 네 모서리 지점을 제4 탐색 지점으로 설정한다. 이때, 상기 제4 탐색 지점은 상기 제3 정합 탐색 지점(⑪)을 포함한다.Referring to FIG. 4D, four corner points of the
상기 탐색 지점에 대한 설정은 D/n = 2, (n= 1, 2, 4, 8, ...)가 될 때까지, 즉 탐색 지점 간 거리가 2가 될 때까지 계속 반복하여 실시한다. 본 실시 예에서, 상기 D의 값은 16이기 때문에, 임피던스 정합 장치는 상기 제4 탐색 지점을 마지막 탐색 지점으로 설정한다. 그리고, 상기 마지막으로 설정된 지점에 대한 탐색이 완료되면, 해당 알고리즘을 종료하게 된다.The search point is repeatedly set until D / n = 2, (n = 1, 2, 4, 8, ...), that is, until the distance between the search points becomes 2. In the present embodiment, since the value of D is 16, the impedance matching device sets the fourth search point as the last search point. When the search for the last set point is completed, the corresponding algorithm is terminated.
임피던스 정합 장치는 제4 탐색 지점들(⑪, ⑬~ )중 전송 신호와 반사 신호의 크기 차이가 최대인 지점을 찾는다. 본 실시 예에서, 임피던스 정합 지점은 x축과 y축의 값이 (11, 9)인 지점(401)이기 때문에, 상기 16번 지점에서 가장 작은 반사 신호의 크기를 갖게 된다. 즉, 상기 16번 지점에서, 전송 신호의 크기와 반사 신호의 크기 차이가 최대가 되며, 해당 지점이 임피던스 정합 지점(401)이 된다.The impedance matching device includes the fourth search points (⑪, ⑬ ~ ⑬). ), Find the point where the difference between the transmitted signal and the reflected signal is the largest. In the present embodiment, since the impedance matching point is the
이러한 임피던스 정합 지점(401)이 결정되면, 임피던스 정합 장치는 그 지점(401)에 해당하는 가변 커패시터의 캐패시턴스 값으로 임피던스 정합을 수행한다.When the
도 5는 도 4의 임피던스 정합 방법을 수행하는 절차의 흐름도를 나타낸다. 5 is a flowchart of a procedure of performing the impedance matching method of FIG. 4.
도 5를 참조하면, 510 단계에서, 임피던스 정합 장치는 전체 탐색 영역을 4개의 균등한 영역으로 구분하고, 각 영역의 가운데 지점을 최초 탐색 지점으로 설정한다. 이때, 상기 전체 탐색 영역은 x축과 y축의 가변 범위가 동일한 정사각형 형태로 설정하는 것이 바람직하다.Referring to FIG. 5, in step 510, the impedance matching apparatus divides the entire search area into four equal areas, and sets the center point of each area as the first search point. In this case, it is preferable that the entire search area is set in a square shape in which the variable ranges of the x-axis and the y-axis are the same.
또한, 제1 탐색 지점들 간의 수평 거리 또는 수직 거리를 D/2로 설정한다. 이때, 상기 D는 x축 또는 y축의 가변 범위의 전체 길이에 해당한다.In addition, the horizontal distance or the vertical distance between the first search points is set to D / 2. In this case, the D corresponds to the entire length of the variable range of the x-axis or y-axis.
520 단계에서, 임피던스 정합 장치는 최초 탐색 지점들 중 전송 신호와 반사 신호의 크기 차이가 최대인 지점(즉, 제1 정합 탐색 지점)을 찾는다. 이때, 상기 정합 탐색 지점은 반사 신호의 크기가 최소인 지점 또는 전송 신호의 크기와 반사 신호의 크기 비율이 최소인 지점으로 설정될 수도 있다.In operation 520, the impedance matching device finds a point (ie, a first matching search point) having a maximum difference between the magnitudes of the transmission signal and the reflected signal among the first search points. In this case, the matching search point may be set to a point where the size of the reflected signal is minimum or a point where the size ratio of the size of the transmitted signal and the reflected signal is minimum.
상기 제1 정합 탐색 지점이 결정되면, 530 단계로 이동한다. If the first match search point is determined, step 530 is reached.
상기 530 단계에서, 임피던스 정합 장치는 상기 제1 정합 탐색 지점을 기준으로 제2 탐색 지점을 설정한다. 즉, 상기 임피던스 정합 장치는 상기 제1 정합 탐색 지점을 중심으로 한 변의 길이가 D/2인 정사각형 영역의 네 모서리 지점을 제2 탐색 지점으로 설정한다. 이때, 상기 제2 탐색 지점은 상기 제1 정합 탐색 지점을 포함한다.In step 530, the impedance matching device sets a second search point based on the first match search point. That is, the impedance matching device sets four corner points of the square area having a length D / 2 around the first matching search point as the second search point. In this case, the second search point includes the first match search point.
540 단계에서, 임피던스 정합 장치는 제2 탐색 지점들 중 전송 신호와 반사 신호의 크기 차이가 최대인 지점(즉, 제2 정합 탐색 지점)을 찾는다.In operation 540, the impedance matching apparatus finds a point (ie, a second matching search point) having a maximum difference between the magnitudes of the transmission signal and the reflected signal among the second search points.
상기 제2 정합 탐색 지점이 결정되면, 550 단계로 이동한다. If the second match search point is determined, step 550 is reached.
상기 550 단계에서, 임피던스 정합 장치는 탐색 지점들 간 거리가 2인지 여부를 판단한다. 상기 판단 결과, 탐색 지점들 간 거리가 2가 아닌 경우, 560 단계로 이동한다. In step 550, the impedance matching device determines whether the distance between the search points is two. As a result of the determination, if the distance between the search points is not 2, the flow moves on to step 560.
상기 560 단계에서, 임피던스 정합 장치는 제2 정합 탐색 지점을 중심으로 한 변의 길이가 D/4인 정사각형 영역의 네 모서리 지점을 제3 탐색 지점으로 설정한다. 이때, 상기 제3 탐색 지점은 상기 제2 정합 탐색 지점을 포함한다.In step 560, the impedance matching device sets four corner points of the square area having a length D / 4 around the second matching search point as the third search point. In this case, the third search point includes the second match search point.
570 단계에서, 제3 탐색 지점들 중 전송 신호와 반사 신호의 크기 차이가 최대인 지점(즉, 제3 정합 탐색 지점)을 찾는다.In operation 570, a point (ie, a third matched search point) having a maximum difference between the magnitudes of the transmission signal and the reflected signal is found among the third search points.
상기 제3 정합 탐색 지점이 결정되면, 다시 550 단계로 이동한다. When the third match search point is determined, the process returns to step 550 again.
상기 550 단계에서, 임피던스 정합 장치는 탐색 지점들 간 거리가 2인지 여부를 판단한다. 상기 판단 결과, 탐색 지점들 간의 거리가 2가 아닌 경우, 560 단계 및 570 단계를 반복 실시하게 된다.In step 550, the impedance matching device determines whether the distance between the search points is two. As a result of the determination, if the distance between the search points is not 2, steps 560 and 570 are repeated.
한편, 상기 판단 결과, 탐색 지점들 간의 거리가 2인 경우, 580 단계로 이동한다.On the other hand, if the distance between the search points as a result of the
상기 580 단계에서, 임피던스 정합 장치는 마지막 탐색 지점들 중 전송 신호와 반사 신호의 크기 차이가 최대인 지점을 임피던스 정합 지점으로 결정한다. 이러한 임피던스 정합 지점이 결정되면, 해당 알고리즘을 종료하게 된다. In step 580, the impedance matching device determines, as the impedance matching point, the point where the difference between the magnitude of the transmitted signal and the reflected signal is the largest among the last search points. Once this impedance matching point is determined, the algorithm is terminated.
임피던스 정합 장치는 임피던스 정합 지점에 해당하는 가변 커패시터의 캐패시턴스 값으로 임피던스 정합을 수행한다.The impedance matching device performs impedance matching with the capacitance value of the variable capacitor corresponding to the impedance matching point.
상술한 바와 같이, 임피던스 정합 장치는 정합 탐색 지점을 기준으로 복수의 탐색 지점들을 설정하고, 상기 탐색 지점들 간의 거리를 단계적으로 감축함으로써, 임피던스 정합 속도를 개선할 수 있다.As described above, the impedance matching device may improve the impedance matching speed by setting a plurality of search points based on the matching search point and gradually reducing the distance between the search points.
한편 이상에서는 본 발명의 구체적인 실시 예에 관해 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함은 물론이다. 그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시 예에 국한되지 않으며, 후술 되는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.While the invention has been shown and described with reference to certain preferred embodiments thereof, it will be understood by those skilled in the art that various changes and modifications may be made without departing from the spirit and scope of the invention. Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the described embodiments, but should be determined by equivalents to the appended claims, as well as the appended claims.
100: 임피던스 정합 장치 120: 가변 소자부
121a: 병렬 가변 캐패시터 121b: 직렬 가변 캐패시터
122a, 122b, 122c: 인덕터 소자 130: 방향성 커플러
140: 검출부 150: 제어부
160: 안테나100: impedance matching device 120: variable element
121a: parallel
122a, 122b, 122c: inductor element 130: directional coupler
140: detection unit 150: control unit
160: antenna
Claims (22)
상기 제1 임피던스 가변소자의 임피던스값 및 상기 제2 임피던스 가변소자의 임피던스값으로 구성되는 탐색 영역을 복수의 영역들로 구분하고, 상기 복수의 영역들에서 제1 탐색지점들을 설정하는 단계;
상기 제1 탐색지점들 중 탐색 정합 지점인 제1 정합 탐색 지점을 검출하는 단계;
상기 제1 탐색지점을 중심으로 다음 탐색 지점인 제2 탐색지점들을 설정하고, 상기 제2 탐색 지점들 중 다음 탐색 정합지점인 제2 정합 탐색 지점을 검출하는 단계; 및
상기 다음 탐색지점들을 설정하고 상기 다음 탐색 정합 지점을 검출하는 단계를 이용하여, 상기 탐색 지점들 간의 거리를 감축하고, 상기 거리가 소정의 조건을 만족하는 경우 임피던스 정합 지점에 대한 탐색을 종료하는 단계를 포함하는 임피던스 정합 방법.An impedance matching method of an antenna impedance matching device including a first impedance variable element and a second impedance variable element,
Dividing a search region consisting of an impedance value of the first impedance variable element and an impedance value of the second impedance variable element into a plurality of regions, and setting first search points in the plurality of regions;
Detecting a first matched search point that is a search matched point among the first search points;
Setting second search points, which are next search points, around the first search point, and detecting a second matched search point that is a next search match point among the second search points; And
Reducing the distance between the search points by setting the next search points and detecting the next search match point, and ending the search for the impedance match point if the distance satisfies a predetermined condition. Impedance matching method comprising a.
최초 탐색 영역은 상기 제1 임피던스 가변소자의 임피던스값을 나타내는 x축과 상기 제2 임피던스 가변소자의 임피던스값을 나타내는 y축의 가변 범위가 동일한 정사각형 형태인 임피던스 정합 방법.The method of claim 1,
The first search region has a square shape in which the x-axis representing the impedance value of the first impedance variable element and the y-axis representing the impedance value of the second impedance variable element have the same square shape.
상기 x축 또는 y축의 가변 범위의 전체 구간이 D인 경우,
상기 제1 탐색 지점들 간의 수평 거리 및 수직 거리는 D/2인 임피던스 정합 방법. The method of claim 2,
When the entire section of the variable range of the x-axis or y-axis is D,
And a horizontal distance and a vertical distance between the first search points are D / 2.
상기 제1 탐색 지점들 중 전송 신호와 반사 신호의 크기 차이가 최대인 지점을 검출하는 임피던스 정합 방법. The method of claim 1, wherein detecting the first match search point comprises:
Impedance matching method for detecting the point of the maximum difference between the transmission signal and the reflected signal of the first search point.
상기 제2 탐색 지점들 중 전송 신호와 반사 신호의 크기 차이가 최대인 지점을 검출하는 임피던스 정합 방법. The method of claim 1, wherein the detecting of the second matching search point comprises:
Impedance matching method for detecting a point of the maximum difference between the transmission signal and the reflected signal of the second search points.
상기 제1 정합 탐색 지점과, 상기 제1 정합 탐색 지점을 중심으로 한 변의 길이가 D/2인 정사각형 영역의 네 모서리 지점들을 상기 제2 탐색 지점들로 설정하는 임피던스 정합 방법. The method of claim 3, wherein the setting of the second search points comprises:
And setting four corner points of the square area having the length D / 2 around the first match search point and the first match search point as the second search points.
상기 소정의 조건은 상기 감축된 탐색 지점들 간의 거리가 2인 임피던스 정합 방법. The method according to claim 6,
And said predetermined condition is a distance between said reduced search points is two.
상기 탐색 지점들 간의 거리가 2인 경우,
마지막 탐색 지점들 중 전송 신호와 반사 신호의 크기 차이가 최대인 지점을 임피던스 정합 지점으로 결정하는 임피던스 정합 방법. The method of claim 7, wherein
If the distance between the search points is 2,
Impedance matching method of determining the impedance matching point of the last search point is the maximum difference between the magnitude of the transmission signal and the reflected signal.
상기 제1 탐색 지점들은 상기 복수의 영역들의 중심 지점인 임피던스 정합 방법.The method of claim 1,
And the first search points are center points of the plurality of regions.
제1 임피던스 가변소자;
제2 임피던스 가변소자;
상기 안테나의 신호 파워를 검출하는 검출부; 및
상기 신호 파워에 근거하여 상기 제1 임피던스 가변소자의 임피던스값 및 상기 제2 임피던스 가변소자의 임피던스값을 제어하는 제어부를 포함하며,
상기 제1 임피던스 가변소자의 임피던스값 및 상기 제2 임피던스 가변소자의 임피던스값으로 구성되는 탐색 영역을 구성하는 복수의 영역들에서 설정된 제1 탐색지점들 가운데 제1 탐색 정합 지점을 결정하고,
상기 제1 탐색 정합 지점을 중심으로 다음 탐색 지점들을 설정하고, 다음 탐색지점들 가운데 다음 탐색 정합 지점을 검출하는 과정을 이용하여 탐색 지점들 간의 거리를 감축함으로써 임피던스 정합 지점을 결정하는 것을 특징으로 하는 임피던스 정합 장치. Impedance matching device of the antenna,
A first impedance variable element;
A second impedance variable element;
A detector detecting signal power of the antenna; And
A control unit controlling an impedance value of the first impedance variable element and an impedance value of the second impedance variable element based on the signal power,
Determine a first search matching point among first search points set in a plurality of areas constituting a search area including an impedance value of the first impedance variable element and an impedance value of the second impedance variable element,
The impedance matching point may be determined by reducing the distance between the search points by setting next search points around the first search matching point and detecting a next search matching point among the next search points. Impedance Matching Device.
최초 탐색 영역은 상기 제1 임피던스 가변소자의 임피던스값을 나타내는 x축과 상기 제2 임피던스 가변소자의 임피던스값을 나타내는 y축의 가변 범위가 동일한 정사각형 형태인 임피던스 정합 장치. The method of claim 10,
The first search region has a square shape in which a variable range of the x-axis representing the impedance value of the first impedance variable element and the y-axis representing the impedance value of the second impedance variable element is the same.
상기 x축 또는 y축의 가변 범위의 전체 구간이 D인 경우,
상기 제1 탐색 지점들 간의 수평 거리 및 수직 거리는 D/2인 임피던스 정합 장치. The method of claim 11,
When the entire section of the variable range of the x-axis or y-axis is D,
And a horizontal distance and a vertical distance between the first search points are D / 2.
상기 제1 탐색 지점들 중 전송 신호와 반사 신호의 크기 차이가 최대인 지점을 제1 정합 탐색 지점으로 결정하는 임피던스 정합 장치. 11. The apparatus according to claim 10,
The impedance matching device of the first search point to determine the point of the maximum difference between the magnitude of the transmission signal and the reflected signal as the first matching search point.
상기 제2 탐색 지점들 중 전송 신호와 반사 신호의 크기 차이가 최대인 지점을 상기 제2 정합 탐색 지점으로 결정하는 임피던스 정합 장치. 11. The apparatus according to claim 10,
And a second matching search point is determined as a point where the difference between the transmission signal and the reflected signal is the largest among the second search points.
상기 제1 정합 탐색 지점과, 상기 제1 정합 탐색 지점을 중심으로 한 변의 길이가 D/2인 정사각형 영역의 네 모서리 지점들을 상기 제2 탐색 지점들로 설정하는 임피던스 정합 장치. 13. The apparatus according to claim 12,
The first matching search point and the impedance matching device to set the four corner points of the square area having a length D / 2 around the first matching search point as the second search points.
상기 감축된 탐색 지점들 간의 거리가 2인 경우 임피던스 정합 지점에 대한 탐색을 종료하는 임피던스 정합 장치. 16. The method of claim 15,
And the search for the impedance matching point is terminated when the distance between the reduced search points is two.
상기 탐색 지점들 간의 거리가 2인 경우, 마지막 탐색 지점들 중 전송 신호와 반사 신호의 크기 차이가 최대인 지점을 임피던스 정합 지점으로 결정하는 임피던스 정합 장치. 17. The apparatus of claim 16,
And an impedance matching point when the distance between the search points is 2, the point at which the difference between the transmission signal and the reflected signal is the largest among the last search points is determined as the impedance matching point.
상기 정합 탐색 지점은 전송 신호의 크기와 반사 신호의 크기 비율이 최소인 지점인 임피던스 정합 장치. The method of claim 10,
And the matching search point is a point where the ratio of the magnitude of the transmitted signal to the magnitude of the reflected signal is minimum.
상기 제1 및 제2 임피던스 가변소자는 가변 캐패시터인 임피던스 정합 장치. The method of claim 10,
The impedance matching device of the first and second impedance variable elements are variable capacitors.
상기 안테나와 병렬로 연결된 상기 제1 임피던스 가변소자와, 상기 안테나와 직렬로 연결된 상기 제2 임피던스 가변소자를 포함하는 임피던스 정합 장치. The method of claim 10,
And a first impedance variable element connected in parallel with the antenna and the second impedance variable element connected in series with the antenna.
제1 임피던스 가변소자의 임피던스값 및 제2 임피던스 가변소자의 임피던스값으로 구성되는 탐색 영역을 복수의 영역들로 구분하고, 상기 복수의 영역들에서 제1 탐색지점들을 설정하는 단계;
상기 제1 탐색지점들 중 탐색 정합 지점인 제1 정합 탐색 지점을 검출하는 단계;
상기 제1 탐색지점을 중심으로 다음 탐색 지점인 제2 탐색지점들을 설정하고, 상기 제2 탐색 지점들 중 다음 탐색 정합지점인 제2 정합 탐색 지점을 검출하는 단계; 및
상기 다음 탐색지점들을 설정하고 상기 다음 탐색 정합 지점을 검출하는 단계를 이용하여, 상기 탐색 지점들 간의 거리를 감축하고, 상기 거리가 소정의 조건을 만족하는 경우 임피던스 정합 지점에 대한 탐색을 종료하는 단계 포함하는 프로그램을 저장한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체.A computer-readable recording medium storing a program for impedance matching,
Dividing a search region consisting of an impedance value of a first impedance variable element and an impedance value of a second impedance variable element into a plurality of regions, and setting first search points in the plurality of regions;
Detecting a first matched search point that is a search matched point among the first search points;
Setting second search points, which are next search points, around the first search point, and detecting a second matched search point that is a next search match point among the second search points; And
Reducing the distance between the search points by setting the next search points and detecting the next search match point, and ending the search for the impedance match point if the distance satisfies a predetermined condition. A computer readable recording medium having stored therein a program.
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