KR101281776B1 - System and Method for HVDC Optical Card Test - Google Patents
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Abstract
HVDC 광제어 카드 시험 시스템 및 방법이 개시된다. HVDC 광제어 카드 시험 시스템은 싸이리스터 벨브의 전류크기에 따라 싸이리스터의 온도를 감지하고, 싸이리스터의 온도 정보를 제1 전기적 펄스 신호로 변환하고, 고주파 정밀 펄스 신호로 조정된 제1 전기적 펄스 신호를 광 신호로 변환하여 광제어 카드로 전송하는 발신부분 점검장비 및 광제어 카드를 경유하여 출력된 광 신호를 수신하여 제2 전기적 펄스 신호로 변환하고, 제2 전기적 펄스 신호를 OR 게이트를 통해 비교하여 에러 또는 정상을 판정하는 수신부분 점검장비를 포함한다.An HVDC light control card test system and method is disclosed. The HVDC optical control card test system detects the temperature of the thyristor according to the current magnitude of the thyristor valve, converts the thyristor temperature information into the first electrical pulse signal, and adjusts the first electrical pulse signal to the high frequency precision pulse signal. Converts the optical signal into an optical signal and transmits it to the optical control card and receives the optical signal output through the optical control card, converts it into a second electrical pulse signal, and compares the second electrical pulse signal through the OR gate. Receiving part inspection equipment for determining errors or normals.
Description
본 발명은 HVDC(High Voltage Direct Current) 광제어 카드 시험 시스템 및 방법에 관한 것이다.
The present invention relates to a high voltage direct current (HVDC) light control card test system and method.
발명의 배경기술로는 싸이리스터(thyristor) 열화진단 장치에 관한 특허문헌이 있으며, 산업현장에 널리 사용되는 전력소자인 싸이리스터의 노화에 따른 전기적 특성변화를 형상화하고, 이 형상화된 특성에 따라 싸이리스터의 정상동작여부 및 열화정도를 용이하게 진단하는 것에 대하여 개시하고 있다.
As a background art of the invention, there is a patent document about a thyristor deterioration diagnosis device, and the change in electrical characteristics according to the aging of a thyristor, which is a power device widely used in the industrial field, is shaped, and the thyristor according to this shaped characteristic It is disclosed to easily diagnose whether the normal operation and the degree of deterioration.
본 발명은 HVDC 광제어 카드들의 고장예방을 위해서 내부불량 부품점검 및 광제어 카드별 인터페이스되는 광송수신 모듈 부분까지 일괄 점검하여 점검시간을 단축하면서 추가로 효율적이고 품질을 향상시킨 HVDC 광제어 카드 시험 시스템을 제안하는 것이다.
In order to prevent the failure of the HVDC optical control cards, the HVDC optical control card test system further improves and improves the quality while reducing the inspection time by inspecting the internal defective parts and the optical transmission / receiving module parts interfaced by the optical control cards. Is to suggest.
본 발명의 일 측면에 따르면, 제어판넬에 설치된 다수의 광제어 카드의 점검을 수행하는 HVDC(High Voltage Direct Current) 광제어 카드 시험 시스템이 개시된다.According to one aspect of the present invention, a high voltage direct current (HVDC) optical control card test system for performing a check of a plurality of optical control cards installed in a control panel is disclosed.
본 발명의 실시예에 따른 HVDC 광제어 카드 시험 시스템은 싸이리스터 벨브의 전류크기에 따라 싸이리스터의 온도를 감지하고, 상기 싸이리스터의 온도 정보를 제1 전기적 펄스 신호로 변환하고, 고주파 정밀 펄스 신호로 조정된 상기 제1 전기적 펄스 신호를 광 신호로 변환하여 상기 광제어 카드로 전송하는 발신부분 점검장비 및 상기 광제어 카드를 경유하여 출력된 상기 광 신호를 수신하여 제2 전기적 펄스 신호로 변환하고, 상기 제2 전기적 펄스 신호를 OR 게이트를 통해 비교하여 에러 또는 정상을 판정하는 수신부분 점검장비를 포함한다.HVDC optical control card test system according to an embodiment of the present invention detects the temperature of the thyristor according to the current size of the thyristor valve, converts the temperature information of the thyristor to the first electrical pulse signal, high-frequency precision pulse signal Converts the first electrical pulse signal adjusted to the optical signal into an optical signal and transmits the optical signal to the optical control card, and receives the optical signal output through the optical control card and converts the optical signal into a second electrical pulse signal. And a receiving part check device for comparing the second electrical pulse signal through an OR gate to determine an error or normal.
여기서, 상기 발신부분 점검장비는 상기 싸이리스터 벨브의 전류크기에 따라 상기 싸이리스터의 온도를 감지하고, 상기 상기 싸이리스터의 온도 정보를 상기 제1 전기적 펄스 신호로 변환하는 싸이리스터 온도 센서, 상기 제1 전기적 펄스 신호를 고주파 정밀 펄스 신호로 조정하는 펄스 조절부, 상기 상기 제1 전기적 펄스 신호를 광 신호로 변환하여 출력하는 발신부 및 상기 발신부로 상기 제1 전기적 펄스 신호를 전달하며, 상기 발신부의 입력 전류의 크기를 변화시켜 상기 발신부의 광 출력을 조절하는 광출력 조절부를 포함한다.The thyristor temperature sensor for detecting the temperature of the thyristor according to the current size of the thyristor valve, converting the temperature information of the thyristor to the first electrical pulse signal, A pulse adjusting unit for adjusting an electrical pulse signal to a high frequency precision pulse signal, a transmitter for converting the first electrical pulse signal into an optical signal and outputting the optical signal, and transmitting the first electrical pulse signal to the transmitter, It includes a light output control unit for changing the magnitude of the input current to adjust the light output of the transmitter.
여기서, 상기 발신부분 점검장비는 상기 광제어 카드의 라인 점검을 위한 점검 선택모드를 선택받는 모드 선택부를 더 포함하되, 상기 점검 선택모드는 광 점호펄스신호 라인 및 데이터백(Databack) 신호 라인을 포함한다.Here, the transmitting part inspection equipment further comprises a mode selection unit for receiving a selection of the check selection mode for checking the line of the optical control card, the check selection mode includes an optical firing pulse signal line and a databack signal line do.
여기서, 상기 발신부분 점검장비는 상기 발신부분 점검장비의 전원을 공급하는 발신 전원부, 상기 발신부분 점검장비의 동작제어 알고리즘에 대한 프로그램이 입력되는 발신 메모리 입력부, 발신되는 펄스 신호 상태를 표시하는 발신 상태 표시부 및 상기 프로그램에 따라 상기 발신부분 점검장비의 동작을 제어하는 발신 제어부를 더 포함한다.Here, the transmission part check equipment is a transmission power unit for supplying power of the transmission part check equipment, a transmission memory input unit for inputting a program for the operation control algorithm of the transmission part inspection equipment, the transmission status to display the pulse signal status to be sent The display unit and a transmission control unit for controlling the operation of the transmission unit check device in accordance with the program.
여기서, 상기 수신부분 점검장비는 상기 광제어 카드를 경유하여 출력된 상기 광 신호를 12 라인의 광 신호로 수신하고, 수신된 광 신호를 제2 전기적 펄스 신호로 변환하는 펄스 수신부, 상기 제2 전기적 펄스 신호를 OR 게이트를 통해 비교하여 출력하는 펄스 비교부 및 상기 OR 게이트를 통해 비교된 상기 제2 전기적 펄스 신호에 대해서 제어카운트를 통해 발신 및 수신 신호에 대한 동기화 검증을 수행하고, 미리 설정된 주기 동안 수신되는 펄스 신호를 미리 설정된 횟수 체크하여 정상 또는 에러를 판정하는 수신 제어부를 포함한다.Here, the receiving portion checker is a pulse receiving unit for receiving the optical signal output via the optical control card as a 12 line optical signal, and converts the received optical signal into a second electrical pulse signal, the second electrical A pulse comparison unit for comparing and outputting a pulse signal through an OR gate and the second electric pulse signal compared through the OR gate are performed through a control count to perform synchronization verification on a transmission and reception signal, and during a predetermined period. And a reception controller which checks a received pulse signal a predetermined number of times and determines a normal or error.
여기서, 상기 수신부분 점검장비는 상기 수신부분 점검장비의 전원을 공급하는 발신 전원부, 상기 수신부분 점검장비의 동작제어 알고리즘에 대한 프로그램이 입력되는 발신 메모리 입력부 및 상기 정상 또는 상기 에러의 판정 상태를 표시하는 수신 상태 표시부를 더 포함한다.Here, the receiving part checking device displays a calling power supply unit for supplying power to the receiving part checking device, a calling memory input part to which a program for an operation control algorithm of the receiving part checking device is input, and the determination state of the normal or the error. It further comprises a reception status display unit.
본 발명의 다른 측면에 따르면, 제어판넬에 설치된 다수의 광제어 카드의 점검을 수행하는 HVDC 광제어 카드 시험 시스템의 HVDC 광제어 카드 시험 방법이 개시된다.According to another aspect of the present invention, an HVDC optical control card test method of an HVDC optical control card test system for performing inspection of a plurality of optical control cards installed in a control panel is disclosed.
본 발명의 실시예에 따른 HVDC 광제어 카드 시험 방법은 싸이리스터 벨브의 전류크기에 따라 싸이리스터의 온도를 감지하는 단계, 상기 싸이리스터의 온도 정보를 제1 전기적 펄스 신호로 변환하는 단계, 고주파 정밀 펄스 신호로 조정된 상기 제1 전기적 펄스 신호를 광 신호로 변환하여 상기 광제어 카드로 전송하는 단계, 상기 광제어 카드를 경유하여 출력된 상기 광 신호를 수신하여 제2 전기적 펄스 신호로 변환하는 단계 및 상기 제2 전기적 펄스 신호를 OR 게이트를 통해 비교하여 에러 또는 정상을 판정하는 단계를 포함한다.In the HVDC optical control card test method according to an embodiment of the present invention, detecting the temperature of the thyristor according to the current size of the thyristor valve, converting the temperature information of the thyristor to the first electrical pulse signal, high frequency precision Converting the first electrical pulse signal adjusted to a pulse signal into an optical signal and transmitting the optical signal to the optical control card; receiving and converting the optical signal output through the optical control card into a second electrical pulse signal And comparing the second electrical pulse signal through an OR gate to determine an error or normal.
여기서, 상기 에러 또는 정상을 판정하는 단계는 상기 OR 게이트를 통해 비교된 상기 제2 전기적 펄스 신호에 대해서 제어카운트를 통해 발신 및 수신 신호에 대한 동기화 검증을 수행하고, 미리 설정된 주기 동안 수신되는 펄스 신호를 미리 설정된 횟수 체크하여 정상 또는 에러를 판정한다.The determining of the error or normal may include performing synchronization verification on the transmission and reception signals through a control count on the second electrical pulse signal compared through the OR gate, and receiving a pulse signal received during a predetermined period. Check the preset number of times to determine normal or error.
본 발명의 다른 측면에 따르면, 제어판넬에 설치된 다수의 광제어 카드의 점검을 수행하는 HVDC 광제어 카드 시험 시스템의 HVDC 광제어 카드 시험 방법이 개시된다.According to another aspect of the present invention, an HVDC optical control card test method of an HVDC optical control card test system for performing inspection of a plurality of optical control cards installed in a control panel is disclosed.
본 발명의 실시예에 따른 HVDC 광제어 카드 시험 방법은 데이터백 신호 라인의 점검 선택모드를 선택받는 단계, 데이터백 펄스 신호를 생성하는 단계, 상기 데이터백 펄스 신호를 광 신호로 변환하여 상기 광제어 카드로 전송하는 단계, 상기 광제어 카드를 경유하여 출력된 상기 광 신호를 수신하여 제2 전기적 펄스 신호로 변환하는 단계 및 상기 제2 전기적 펄스 신호를 OR 게이트를 통해 비교하여 에러 또는 정상을 판정하는 단계를 포함한다.In the HVDC optical control card test method according to an embodiment of the present invention, receiving a check selection mode of a databack signal line, generating a databack pulse signal, and converting the databack pulse signal into an optical signal to control the light. Transmitting to a card, receiving the optical signal output through the optical control card and converting the optical signal into a second electrical pulse signal, and comparing the second electrical pulse signal through an OR gate to determine an error or normality. Steps.
여기서, 상기 데이터백 펄스 신호는 광 제어 점호신호가 싸이리스터를 점호시키고 피드백되는 응답신호와 동일하게 생성된다.
Herein, the databack pulse signal is generated in the same manner as the response signal to which the optical control firing signal calls the thyristor and is fed back.
본 발명은 광제어 카드의 내부부품 불량상태뿐만 아니라 광 제어관련 인터페이스되는 광제어 카드 부분까지 신속 정확하게 점검 할 수 있다.The present invention can quickly and accurately check not only the defective state of the internal parts of the optical control card but also the optical control card portion that is interfaced with the optical control.
또한, 본 발명은 점호신호 생성 단계에서 출력되는 광 관련 설비 전체라인을 일괄점검 할 수 있다.In addition, the present invention can collectively check the entire line of light-related equipment output in the call signal generation step.
또한, 본 발명은 점검 시 용이하게 휴대가 가능하고, 광제어 카드들을 개별적으로 분리하지 않고 카드의 내부부품 불량을 찾을 수 있다.
In addition, the present invention can be easily carried during the inspection, it is possible to find the defective internal parts of the card without separating the optical control cards individually.
도 1의 HVDC 광제어 카드가 설치된 제어판넬 설치구성도 및 설치사진을 나타낸 도면.
도 2는 HVDC 광제어 카드 시험 시스템의 발신부분 점검장비의 구성을 개략적으로 예시한 구성도.
도 3은 HVDC 광제어 카드 시험 시스템의 수신부분 점검장비의 구성을 개략적으로 예시한 구성도.
도 4 및 도 5는 HVDC 광제어 카드 시험 방법을 나타낸 흐름도.1 is a view showing a control panel installation diagram and installation pictures installed the HVDC optical control card of FIG.
Figure 2 is a schematic diagram illustrating a configuration of the transmission unit check equipment of the HVDC optical control card test system.
Figure 3 is a schematic diagram illustrating the configuration of the receiving portion inspection equipment of the HVDC optical control card test system.
4 and 5 are flowcharts illustrating a HVDC optical control card test method.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 이를 상세한 설명을 통해 상세히 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.While the present invention has been described in connection with certain exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and similarities. It should be understood, however, that the invention is not intended to be limited to the particular embodiments, but includes all modifications, equivalents, and alternatives falling within the spirit and scope of the invention.
본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 본 명세서의 설명 과정에서 이용되는 숫자(예를 들어, 제1, 제2 등)는 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구분하기 위한 식별기호에 불과하다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In addition, numerals (e.g., first, second, etc.) used in the description of the present invention are merely an identifier for distinguishing one component from another.
또한, 본 명세서에서, 일 구성요소가 다른 구성요소와 "연결된다" 거나 "접속된다" 등으로 언급된 때에는, 상기 일 구성요소가 상기 다른 구성요소와 직접 연결되거나 또는 직접 접속될 수도 있지만, 특별히 반대되는 기재가 존재하지 않는 이상, 중간에 또 다른 구성요소를 매개하여 연결되거나 또는 접속될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.Also, in this specification, when an element is referred to as being "connected" or "connected" with another element, the element may be directly connected or directly connected to the other element, It should be understood that, unless an opposite description is present, it may be connected or connected via another element in the middle.
이하, 본 발명의 실시예를 첨부한 도면들을 참조하여 상세히 설명하기로 한다. 본 발명을 설명함에 있어 전체적인 이해를 용이하게 하기 위하여 도면 번호에 상관없이 동일한 수단에 대해서는 동일한 참조 번호를 사용하기로 한다.
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description of the present invention, the same reference numerals will be used for the same means regardless of the reference numerals in order to facilitate the overall understanding.
도 1의 HVDC 광제어 카드가 설치된 제어판넬 설치구성도 및 설치사진을 나타낸 도면이다.1 is a view showing a control panel installation diagram and installation pictures installed the HVDC optical control card of FIG.
현재, HVDC 설비는 제주 전력계통의 50%를 담당하고 있을 뿐 아니라 발전기들의 탈락이나 송전선로의 고장발생시에도 고장부하를 정전 없이 흡수하여 제주 전력계통 안정에 핵심적인 역할을 담당하고 있다. 또한, HVDC 설비는 장기적으로 볼 때 남북한 전력연계 및 동북아 전력망 구축이 추진될 것으로 예상된다. 그래서, 직류송전에 대한 관심이 과거 어느 때보다도 높아지고 있는 실정이다.Currently, HVDC facilities not only cover 50% of Jeju's power system, but also play a key role in stabilizing Jeju's power system by absorbing failure loads without power failure even in the event of generators dropping or transmission line failures. In the long term, HVDC facilities are expected to be built in North-South power linkage and Northeast Asia. Therefore, the interest in direct current transmission is increasing more than ever before.
일반적으로, 제주, 해남 등의 HVDC설비에서 핵심 제어설비인 광 제어설비는 다양한 특성의 광제어 카드가 조합되어 각각의 제어판넬에 취부 되어있으며, 광 신호 입력에 따라 그 특성이 서로 다르게 동작하는 시스템으로 구성되어있다.In general, the optical control equipment, which is the core control equipment in HVDC facilities such as Jeju and Haenam, is installed on each control panel by combining various optical control cards, and its characteristics operate differently according to the optical signal input. Consists of
도 1에 도시된 제어판넬에 설치되어있는 광제어 카드의 점검을 위해서는 전체카드들을 개별적으로 분리한 후 부품열화상태를 확인하였다. 이러한 방식은 광제어 카드의 개별 분리 및 취부에 따라 점검이 장시간 소요되고, 다수의 접속단자에 대하여 접촉 불량이 발생하여 HVDC 설비 고장으로 파급될 수 있다. 또한, 기존의 방식은 광제어 카드 상호간에 인터페이스되는 광송수신 부분에 대해서 부품 특성상 점검이 불가능하여 광제어 카드 특성 및 라인을 점검할 수 없다.
In order to check the optical control card installed in the control panel shown in FIG. This type of inspection takes a long time according to the separate removal and installation of the optical control card, and a bad contact may occur to a plurality of connection terminals, which may be caused by the failure of the HVDC installation. In addition, the conventional method is impossible to check the characteristics of the optical control card and the line due to the characteristics of the parts for the optical transmission and reception portions interfaced between the optical control cards.
이하, 도 2 및 도 3을 참조하여 HVDC 광제어 카드 시험 시스템에 대해서 설명하기로 한다.Hereinafter, the HVDC optical control card test system will be described with reference to FIGS. 2 and 3.
도 2는 HVDC 광제어 카드 시험 시스템의 발신부분 점검장비의 구성을 개략적으로 예시한 구성도이고, 도 3은 HVDC 광제어 카드 시험 시스템의 수신부분 점검장비의 구성을 개략적으로 예시한 구성도이다.2 is a configuration diagram schematically illustrating the configuration of the transmission unit inspection equipment of the HVDC optical control card test system, and FIG. 3 is a configuration diagram schematically illustrating the configuration of the reception unit inspection equipment of the HVDC optical control card test system.
HVDC 광제어 카드 시험 시스템은 발신부분 점검장비(10) 및 수신부분 점검장비(20)를 포함하여 구성된다. The HVDC light control card test system includes a
도 2를 참조하면, 발신부분 점검장비(10)는 발신 전원부(11), 발신 메모리 입력부(12), 모드 선택부(13), 발신 제어부(14), 발신 상태 표시부(15), 싸이리스터 온도센서(16), 펄스 조절부(17), 광출력 조절부(18) 및 발신부(19)를 포함한다.Referring to FIG. 2, the transmission
발신 전원부(11)는 발신부분 점검장비(10) 전체에 전원을 공급한다.The outgoing
발신 메모리 입력부(12)는 외부 컴퓨터와 연결되어 프로그램 또는 데이터가 입력되는 기능을 수행한다. 여기서, 프로그램은 발신부분 검검장비(10)의 동작제어 알고리즘에 대한 프로그램일 수 있다.The outgoing
모드 선택부(13)는 HVDC 광제어 카드의 라인(Line) 점검을 위하여 인터페이스 라인에 대한 점검 선택모드를 선택받고, 선택된 인터페이스 라인에 따른 펄스 생성 제어신호를 생성하여 발신 제어부(14)로 전송한다. 여기서, 인터페이스 라인은 광 점호펄스신호 라인과 데이터백(Databack) 신호 라인을 포함한다. 데이터백 신호는 광 점호펄스신호에 대한 응답 피드백 신호이다.The
발신 제어부(14)는 입력된 프로그램(동작제어 알고리즘)에 따라 발신부분 검검장비(10)의 각 구성부를 제어한다.The
발신 상태 표시부(15)는 발신 제어부(14)의 제어에 따라 펄스신호 상태 및 펄스신호 종류를 표시한다.The transmission
싸이리스터 온도 센서(16)는 싸이리스터 벨브의 전류크기에 따라 싸이리스터의 온도를 감지한다. 싸이리스터 온도 센서(16)는 현장의 싸이리스터 온도 정보를 전기적 펄스 신호로 변환하여 출력하며, 출력된 전기적 펄스 신호는 펄스 조절부(17)로 전달된다.The
펄스 조절부(17)는 싸이리스터 온도 센서(16)로부터 전달된 전기적 펄스 신호에 상응하도록 일반 정상 점호 펄스신호와 고주파 정밀 펄스신호를 조정하고, 고주파 정밀 펄스신호를 선택하여 발신 제어부(14)로 전달한다. 여기서, 고주파 정밀 펄스신호는 일반 정상동작 상태 및 광제어 카드 내부부품 불량 특성 상태의 점검이 가능하다.The
광출력 조절부(18)는 발신 제어부(14)로부터 출력되는 전기적 펄스신호를 발신부(19)로 전달하며, 이때, 발신부(19)의 입력 전류의 크기를 변화시켜 발신부(19)의 광 출력을 조절할 수 있다.The light
발신부(19)는 전달된 전기적 펄스신호를 광 신호로 변환하여 출력한다.
The
도 3을 참조하면, 수신부분 점검장비(20)는 수신 전원부(21), 수신 메모리 입력부(22), 수신 제어부(23), 수신상태 표시부(24), 펄스 비교부(25) 및 펄스 수신부(26)를 포함한다.Referring to FIG. 3, the reception
수신 전원부(21)는 수신부분 점검장비(10) 전체에 전원을 공급한다.The receiving
수신 메모리 입력부(22)는 외부 컴퓨터와 연결되어 프로그램 또는 데이터가 입력되는 기능을 수행한다. 여기서, 프로그램은 수신부분 검검장비(20)의 동작제어 알고리즘에 대한 프로그램일 수 있다.The receiving
펄스 수신부(26)는 발신부분 점검장비(10)로부터 전송된 광 신호가 광제어 카드를 경유하여 전달되는 광 신호를 12 라인의 광 신호로 수신하고, 수신된 광 신호를 전기적 펄스 신호로 변환하여 출력한다.The
펄스 비교부(25)는 펄스 수신부(16)로부터 전달된 전기적 펄스 신호를 비교하여 수신 제어부(23)로 전달한다. 펄스 비교부(25)는 12 라인의 전기적 펄스 신호를 OR 게이트 회로를 통해 비교하여 출력할 수 있다.The
수신 제어부(23)는 입력된 프로그램(동작제어 알고리즘)에 따라 수신부분 점검장비(20)의 각 구성부를 제어한다.The
수신 제어부(23)는 펄스 비교부(25)로부터 출력된 전기적 펄스 신호를 이용하여 펄스 수신 상태를 판정한다. 예를 들어, 수신 제어부(23)는 OR 게이트를 통해 비교된 전기적 펄스 신호에 대해서 제어카운트를 통해 발신 및 수신 신호에 대한 동기화 검증을 수행하고, 한 주기(예를 들어, 60Hz) 동안 수신되는 펄스 신호를 한 주기 동안 120회 체크하여 정상 또는 에러를 판정한다.The
수신상태 표시부(24)는 수신 제어부(23)의 제어에 따라 펄스 수신 상태를 표시한다.
The reception
도 4는 HVDC 광제어 카드 시험 방법을 나타낸 흐름도이다. 도 4에서는, 광 점호펄스신호 라인과 데이터백(Databack) 신호 라인의 두 가지 점검 선택모드 중 광 점호펄스신호 라인이 선택된 경우에 대해서 설명한다.4 is a flowchart illustrating a HVDC optical control card test method. In FIG. 4, the case where the optical firing pulse signal line is selected from the two check selection modes of the optical firing pulse signal line and the databack signal line will be described.
S410 단계에서, 광 점호펄스신호 라인에 해당하는 광제어 카드의 입력 접속단자와 발신부분 점검 장비(10)의 발신부(19)가 광케이블을 통해 연결된다. In step S410, the input connection terminal of the optical control card corresponding to the optical firing pulse signal line and the
S420 단계에서, 발신부분 점검장비(10)는 동작 전원이 인가되면, 기설정된 동작제어 알고리즘에 따라 기본 펄스 신호를 발신한다. 이때, 발신부분 점검장비(10)는 발신되는 기본 펄스 신호의 파형 상태를 발신 상태 표시부(15)로 출력한다.In operation S420, when the operating part is applied with the operating power, the transmission
S430 단계에서, 발신부분 점검장비(10)는 싸이리스터 온도에 따른 전기적 펄스 신호를 생성한다.In step S430, the transmission
S440 단계에서, 발신부분 점검장비(10)는 전기적 펄스 신호에 상응하도록 조절된 고주파 정밀 펄스 신호를 선택한다.In step S440, the transmission
S450 단계에서, 발신부분 점검장비(10)는 전기적 펄스 신호(즉, 고주파 정밀 펄스 신호)를 광 신호로 변환하여 출력한다.In step S450, the transmission
이후, 광 점호펄스신호 라인에 해당하는 광제어 카드의 출력 접속단자와 수신부분 점검 장비(20)의 펄스 수신부(26)가 광케이블을 통해 연결되고, 수신부분 점검장비(20)에 전원이 공급되면, 수신부분 점검장비(20)는 수신 상태 표시부(24)로 준비완료 상태를 표시한다.Thereafter, when the output connection terminal of the optical control card corresponding to the optical firing pulse signal line and the
S460 단계에서, 수신부분 점검장비(20)는 발신부분 점검장비(10)로부터 전송된 광 신호가 광제어 카드를 경유하여 전달되는 광 신호르 12 라인의 광 신호로 수신하고, 수신된 광 신호를 전기적 펄스 신호로 변환하여 출력한다.In step S460, the reception
S470 단계에서, 수신부분 점검장비(20)는 12라인에 대한 전기적 펄스 신호를 OR 게이트를 통해 비교하여 출력한다.In operation S470, the
S480 단계에서, 수신부분 점검장비(20)는 OR 게이트를 통해 비교된 전기적 펄스 신호에 대해서 제어카운트를 통해 발신 및 수신 신호에 대한 동기화 검증을 수행하고, 한 주기(예를 들어, 60Hz) 동안 수신되는 펄스 신호를 한 주기 동안 120회 체크하여 정상 또는 에러를 판정한다.In step S480, the reception
S490 단계에서, 수신부분 점검장비(20)는 정상 또는 에러에 대한 판정 상태를 수신 상태 표시부(24)에 표시한다.
In operation S490, the reception
도 5는 HVDC 광제어 카드 시험 방법을 나타낸 흐름도이다. 도 5에서는, 광 점호펄스신호 라인과 데이터백(Databack) 신호 라인의 두 가지 점검 선택모드 중 데이터백 신호 라인이 선택된 경우에 대해서 설명한다.5 is a flowchart illustrating a HVDC optical control card test method. In FIG. 5, the case where the databack signal line is selected among the two check selection modes of the optical firing pulse signal line and the databack signal line will be described.
S510 단계에서, 발신부분 점검장비(10)는 데이터백 신호 라인의 점검 선택모드를 선택받는다.In step S510, the transmission
S520 단계에서, 발신부분 점검장비(10)는 점검 선택모드의 선택에 따라 데이터백 펄스 신호를 생성한다. 예를 들어, 발신부분 점검장비(10)는 정상, 싸이리스터 불량, BOD 신호와 동일한 데이터백 펄스 신호를 생성할 수 있다. 데이터백 펄스 신호는 광 제어 점호신호가 싸이리스터를 점호시키고 피드백되는 응답신호와 동일하게 생성될 수 있다.In step S520, the transmission
S530 단계에서, 발신부분 점검장비(10)는 전기적 펄스 신호를 광 신호로 변환하여 출력한다.In step S530, the transmission
S540 내지 S570 단계는 도 4의 S460 내지 S490 단계와 중복되므로 그 설명은 생략한다.
Steps S540 to S570 overlap with steps S460 to S490 of FIG. 4, and thus description thereof is omitted.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention as defined in the appended claims. It will be understood that the invention may be varied and varied without departing from the scope of the invention.
10: 발신부분 점검장비
11: 발신 전원부
12: 발신 메모리 입력부
13: 모드 선택부
14: 발신 제어부
15: 발신 상태 표시부
16: 싸이리스터 온도센서
17: 펄스 조절부
18: 광출력 조절부
19: 발신부
20: 수신부분 점검장비
21: 수신 전원부
22: 수신 메모리 입력부
23: 수신 제어부
24: 수신상태 표시부
25: 펄스 비교부
26: 펄스 수신부10: outgoing part inspection equipment
11: outgoing power supply
12: outgoing memory input
13: Mode selector
14: origination control unit
15: call status display
16: Thyristor temperature sensor
17: pulse control unit
18: light output control unit
19: transmitter
20: Receiving part inspection equipment
21: receiving power supply
22: Receive Memory Input
23: reception control unit
24: reception status display unit
25: pulse comparator
26: pulse receiving unit
Claims (10)
싸이리스터 벨브의 전류크기에 따라 싸이리스터의 온도를 감지하고, 상기 싸이리스터의 온도 정보를 제1 전기적 펄스 신호로 변환하고, 고주파 정밀 펄스 신호로 조정된 상기 제1 전기적 펄스 신호를 광 신호로 변환하여 상기 광제어 카드로 전송하는 발신부분 점검장비; 및
상기 광제어 카드를 경유하여 출력된 상기 광 신호를 수신하여 제2 전기적 펄스 신호로 변환하고, 상기 제2 전기적 펄스 신호를 OR 게이트를 통해 비교하여 에러 또는 정상을 판정하는 수신부분 점검장비를 포함하되,
상기 발신부분 점검장비는
상기 싸이리스터 벨브의 전류크기에 따라 상기 싸이리스터의 온도를 감지하고, 상기 상기 싸이리스터의 온도 정보를 상기 제1 전기적 펄스 신호로 변환하는 싸이리스터 온도 센서;
상기 제1 전기적 펄스 신호를 고주파 정밀 펄스 신호로 조정하는 펄스 조절부;
상기 상기 제1 전기적 펄스 신호를 광 신호로 변환하여 출력하는 발신부; 및
상기 발신부로 상기 제1 전기적 펄스 신호를 전달하며, 상기 발신부의 입력 전류의 크기를 변화시켜 상기 발신부의 광 출력을 조절하는 광출력 조절부를 포함하는 것을 특징으로 하는 HVDC 광제어 카드 시험 시스템.
In the HVDC (High Voltage Direct Current) optical control card test system, which checks a plurality of optical control cards installed in the control panel,
Detects the temperature of the thyristor according to the current magnitude of the thyristor valve, converts the temperature information of the thyristor into a first electrical pulse signal, and converts the first electrical pulse signal adjusted to a high frequency precision pulse signal into an optical signal A transmission part checking device for transmitting to the optical control card by using; And
Receiving part check equipment for receiving the optical signal output via the optical control card to convert the second electrical pulse signal, and comparing the second electrical pulse signal through an OR gate to determine the error or normal, ,
The outgoing part check equipment
A thyristor temperature sensor which senses a temperature of the thyristor according to the current magnitude of the thyristor valve and converts the temperature information of the thyristor into the first electrical pulse signal;
A pulse controller configured to adjust the first electrical pulse signal to a high frequency precision pulse signal;
A transmitter for converting the first electrical pulse signal into an optical signal and outputting the optical signal; And
And a light output controller for transmitting the first electrical pulse signal to the transmitter, and controlling an optical output of the transmitter by changing a magnitude of an input current of the transmitter.
상기 발신부분 점검장비는
상기 광제어 카드의 라인 점검을 위한 점검 선택모드를 선택받는 모드 선택부를 더 포함하되,
상기 점검 선택모드는 광 점호펄스신호 라인 및 데이터백(Databack) 신호 라인을 포함하는 것을 특징으로 하는 HVDC 광제어 카드 시험 시스템.
The method of claim 1,
The outgoing part check equipment
Further comprising a mode selection unit for receiving a check selection mode for checking the line of the optical control card,
And said check selection mode comprises an optical firing pulse signal line and a databack signal line.
상기 발신부분 점검장비는
상기 발신부분 점검장비의 전원을 공급하는 발신 전원부;
상기 발신부분 점검장비의 동작제어 알고리즘에 대한 프로그램이 입력되는 발신 메모리 입력부;
발신되는 펄스 신호 상태를 표시하는 발신 상태 표시부; 및
상기 프로그램에 따라 상기 발신부분 점검장비의 동작을 제어하는 발신 제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 HVDC 광제어 카드 시험 시스템.
The method of claim 1,
The outgoing part check equipment
An outgoing power supply for supplying power to the outgoing part checker;
An outgoing memory input unit to which a program for an operation control algorithm of the outgoing part check device is input;
An outgoing status display unit displaying outgoing pulse signal status; And
And a transmission control unit for controlling the operation of the transmission part checking device according to the program.
상기 수신부분 점검장비는
상기 광제어 카드를 경유하여 출력된 상기 광 신호를 12 라인의 광 신호로 수신하고, 수신된 광 신호를 제2 전기적 펄스 신호로 변환하는 펄스 수신부;
상기 제2 전기적 펄스 신호를 OR 게이트를 통해 비교하여 출력하는 펄스 비교부; 및
상기 OR 게이트를 통해 비교된 상기 제2 전기적 펄스 신호에 대해서 제어카운트를 통해 발신 및 수신 신호에 대한 동기화 검증을 수행하고, 미리 설정된 주기 동안 수신되는 펄스 신호를 미리 설정된 횟수 체크하여 정상 또는 에러를 판정하는 수신 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 HVDC 광제어 카드 시험 시스템.
The method of claim 1,
The receiving part check equipment
A pulse receiving unit which receives the optical signal output through the optical control card as an optical signal of 12 lines and converts the received optical signal into a second electrical pulse signal;
A pulse comparator for comparing the second electrical pulse signal through an OR gate and outputting the comparator; And
The second electric pulse signal compared through the OR gate is performed through a control count to perform synchronization verification on the transmission and reception signals, and a pulse signal received during a predetermined period is checked a predetermined number of times to determine a normal or error. HVDC optical control card test system comprising a receiving control unit.
상기 수신부분 점검장비는
상기 수신부분 점검장비의 전원을 공급하는 발신 전원부;
상기 수신부분 점검장비의 동작제어 알고리즘에 대한 프로그램이 입력되는 발신 메모리 입력부; 및
상기 정상 또는 상기 에러의 판정 상태를 표시하는 수신 상태 표시부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 HVDC 광제어 카드 시험 시스템.
The method of claim 5,
The receiving part check equipment
An outgoing power supply for supplying power to the reception part check equipment;
An outgoing memory input unit to which a program for an operation control algorithm of the reception part checking device is input; And
And a reception status display section for displaying the normal or the determination status of the error.
싸이리스터 벨브의 전류크기에 따라 싸이리스터의 온도를 감지하는 단계;
상기 싸이리스터의 온도 정보를 제1 전기적 펄스 신호로 변환하는 단계;
고주파 정밀 펄스 신호로 조정된 상기 제1 전기적 펄스 신호를 광 신호로 변환하여 상기 광제어 카드로 전송하는 단계;
상기 광제어 카드를 경유하여 출력된 상기 광 신호를 수신하여 제2 전기적 펄스 신호로 변환하는 단계; 및
상기 제2 전기적 펄스 신호를 OR 게이트를 통해 비교하여 에러 또는 정상을 판정하는 단계를 포함하되,
상기 에러 또는 정상을 판정하는 단계는
상기 OR 게이트를 통해 비교된 상기 제2 전기적 펄스 신호에 대해서 제어카운트를 통해 발신 및 수신 신호에 대한 동기화 검증을 수행하고, 미리 설정된 주기 동안 수신되는 펄스 신호를 미리 설정된 횟수 체크하여 정상 또는 에러를 판정하는 것을 특징으로 하는 HVDC 광제어 카드 시험 방법.
In the HVDC optical control card test method of the HVDC optical control card test system performing the inspection of a plurality of optical control cards installed in the control panel,
Sensing the temperature of the thyristor according to the current magnitude of the thyristor valve;
Converting temperature information of the thyristor into a first electrical pulse signal;
Converting the first electrical pulse signal adjusted to a high frequency precision pulse signal into an optical signal and transmitting the optical signal to the optical control card;
Receiving the optical signal output via the optical control card and converting the optical signal into a second electrical pulse signal; And
Comparing the second electrical pulse signal through an OR gate to determine an error or normal;
Determining the error or normal
The second electric pulse signal compared through the OR gate is performed through a control count to perform synchronization verification on the transmission and reception signals, and a pulse signal received during a predetermined period is checked a predetermined number of times to determine a normal or error. HVDC optical control card test method, characterized in that.
데이터백 신호 라인의 점검 선택모드를 선택받는 단계;
데이터백 펄스 신호를 생성하는 단계;
상기 데이터백 펄스 신호를 광 신호로 변환하여 상기 광제어 카드로 전송하는 단계;
상기 광제어 카드를 경유하여 출력된 상기 광 신호를 수신하여 제2 전기적 펄스 신호로 변환하는 단계; 및
상기 제2 전기적 펄스 신호를 OR 게이트를 통해 비교하여 에러 또는 정상을 판정하는 단계를 포함하는 HVDC 광제어 카드 시험 방법.In the HVDC optical control card test method of the HVDC optical control card test system performing the inspection of a plurality of optical control cards installed in the control panel,
Receiving a check selection mode of the databack signal line;
Generating a databack pulse signal;
Converting the databack pulse signal into an optical signal and transmitting the optical signal to the optical control card;
Receiving the optical signal output via the optical control card and converting the optical signal into a second electrical pulse signal; And
Comparing the second electrical pulse signal through an OR gate to determine an error or normal.
상기 데이터백 펄스 신호는 광 제어 점호신호가 싸이리스터를 점호시키고 피드백되는 응답신호와 동일하게 생성되는 것을 특징으로 하는 HVDC 광제어 카드 시험 방법.10. The method of claim 9,
And the databack pulse signal is generated in the same manner as the response signal to which the optical control call signal fires the thyristor and is fed back.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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Family
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05322662A (en) * | 1992-05-26 | 1993-12-07 | Toshiba Corp | Detecting apparatus of temperature of thyristor |
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