KR101241821B1 - 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치, 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 매체 - Google Patents

컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치, 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 매체 Download PDF

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Abstract

컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치, 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 매체가 개시된다. 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치는 감마선 검출부, 검출 순서 산출부, 및 피검사체 정보 생성부를 포함한다. 감마선 검출부는 양전자 소멸로 인해 피검사체에서 방출되는 2개의 감마선의 검출 위치 및 검출 위치에서의 검출 에너지를 획득하고, 검출 순서 산출부는 2개의 감마선 중 어느 하나의 감마선에 대해서라도 검출 위치가 복수개 검출되는 경우 복수의 검출 위치에 대한 검출 순서를 산출하며, 감마선의 검출 위치와 검출 위치의 검출 순서에 대한 정보를 이용하여 피검사체에 대한 정보를 생성한다. 양전자 소멸로 인해 방출되는 감마선의 검출 위치와 검출 위치에서의 검출 에너지를 이용하여 컴프턴 산란에 의해 발생하는 복수의 감마선 검출에 대한 순서를 산출함으로써, 양전자 단층 촬영에 있어서, 광전 효과뿐만 아니라 컴프턴 효과까지 이용할 수 있게 되어 더욱 우수한 영상을 구현할 수 있게 된다.

Description

컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치, 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 매체{APPARATUS AND METHOD FOR ACQUIRING POSITRON EMISSION TOMOGRAPHY UCSING COMPTON EVENTS, AND A MEDIUM HAVING COMPUTER READABLE PROGRAM FOR EXECUTING THE METHOD}
본 발명은 영상 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 양전자 단층 촬영 장치 및 방법에 관한 것이다.
인류의 가장 큰 질병인 암을 진단하는데 있어서 유용하게 사용되는 양전자 단층 촬영(positron emission tomography; PET)은 암세포에 모인 동위원소에서 나온 두 개의 511 keV 감마선을 검출하여 인체와 암의 3차원 영상을 재구성한다.
도 1은 PET의 감마선 검출 원리를 도시하는 개략적인 도면이다.
도 1에는 광전 효과만을 사용하는 종래 PET의 검출 방식이 도시되어 있다. 도 1에서 확인할 수 있는 바와 같이, 일반적으로 사용되는 PET에서는 이미지의 재구성을 위해 광전 효과만을 사용하고 있다.
그러나 511keV 감마선의 검출기에서의 반응은 광전 효과 이외에도 컴프턴 산란이 있다. 그럼에도 불구하고, 종래의 PET에서는 광전 효과에 의한 정보만 유효한 정보로 사용하고 컴프턴 산란에 의한 정보는 노이즈로 취급하여 버려 왔다.
다중 산란 반응이 무시된 이유는 일반 검출기 내에서 반응이 일어난 위치를 정확히 알아낼 수 없으며 올바른 컴프턴 산란 순서를 파악하기가 힘들기 때문이다.
그러나 511keV 의 에너지 영역에서는 컴프턴 산란이 광전 효과보다 약 2배 이상 많이 발생하며, 따라서 검출 효율의 상승을 위해서는 컴프턴 산란에 의한 정보를 유용한 정보로 이용할 수 있어야 한다.
본 발명은 상술한 종래의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 컴프턴 산란에 의해 발생하는 정보를 이용함으로써 더욱 효과적으로 양전자 단층 촬영을 수행할 수 있도록 하는 장치, 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 매체를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 따른 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치는 감마선 검출부, 검출 순서 산출부, 및 피검사체 정보 생성부를 포함한다. 감마선 검출부는 양전자 소멸로 인해 피검사체에서 방출되는 2개의 감마선의 검출 위치 및 검출 위치에서의 검출 에너지를 획득하고, 검출 순서 산출부는 2개의 감마선 중 어느 하나의 감마선에 대해서라도 검출 위치가 복수개 검출되는 경우 복수의 검출 위치에 대한 검출 순서를 산출하며, 피검사체 정보 생성부는 감마선의 검출 위치와 검출 위치의 검출 순서에 대한 정보를 이용하여 피검사체에 대한 정보를 생성한다.
양전자 소멸로 인해 방출되는 감마선의 검출 위치와 검출 위치에서의 검출 에너지를 이용하여 컴프턴 산란에 의해 발생하는 복수의 감마선 검출에 대한 순서를 산출함으로써, 양전자 단층 촬영에 있어서, 광전 효과뿐만 아니라 컴프턴 효과까지 이용할 수 있게 되어 더욱 우수한 영상을 구현할 수 있게 된다.
이때, 감마선 검출부는 픽셀화된 검출 어레이 구조를 포함할 수 있으며, 픽셀화된 검출 어레이는 카드뮴아연텔루라이드(CdZnTe; CZT) 화합물이나, LYSO 섬광체로 이루어질 수 있다. 이와 같이 픽셀화된 검출 어레이 구조의 채용은 감마선의 검출 위치의 용이한 획득을 가능하게 해준다.
검출 순서는 검출된 감마선의 에너지 정보로부터 산출한 방사선의 산란 각도와 검출된 위치 정보로부터 산출한 감마선 산란 각도를 비교하여, 두 각도의 차가 작게 나오는 검출 순서일 수 있다.
이때, 에너지 정보에서 산출한 방사선의 산란 각도(θE)는 다음의 수학식에 의해 산출되고,
Figure 112011060334912-pat00001
여기서, E0는 소멸 방사선 에너지이고, E1은 컴프턴 산란의 리코일 에너지이고, E2는 컴프턴 산란의 산란(scattered) 에너지이고, mec2는 전자의 에너지이며,
위치 정보에서 산출한 감마선의 산란 각도(θp)는 다음의 수학식에 의해 산출되고,
Figure 112011060334912-pat00002
여기서, (x0, y0), 및 (x2, y2)는 광전 효과의 반응 위치이며, (x1, y1)은 컴프턴 산란 반응 위치일 수 있다.
또한, 컴프턴 산란에 의한 복수개의 검출 위치는 2개의 검출 위치일 수 있다. 컴프턴 산란이 두 번 이상 발생하는 경우에는 정확한 검출의 순서를 결정하기가 실질적으로 어려우므로 컴프턴 산란 이후 바로 광전 현상이 발생하는 경우의 컴프턴 산란만 이용함으로써 효과적으로 영상 재구성을 수행할 수 있게 된다.
아울러, 상기 장치를 방법의 형태로 구현한 발명과 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 매체가 개시된다.
본 발명에 의하면, 양전자 소멸로 인해 방출되는 감마선의 검출 위치와 검출 위치에서의 검출 에너지를 이용하여 컴프턴 산란에 의해 발생하는 복수의 감마선 검출에 대한 순서를 산출함으로써, 양전자 단층 촬영에 있어서, 광전 효과뿐만 아니라 컴프턴 효과까지 이용할 수 있게 되어 더욱 우수한 영상을 구현할 수 있게 된다.
또한, 감마선의 검출을 위해 픽셀화된 검출 어레이 구조를 채용함으로써, 감마선의 검출 위치의 용이한 획득이 가능하게 된다.
또한, 감마선 검출 순서를 위해, 컴프턴 산란 이후 바로 광전 현상이 발생하는 경우의 컴프턴 산란만 이용함으로써 더욱 효과적으로 영상 재구성을 수행할 수 있게 된다.
도 1은 광전 효과를 이용한 종래의 양전자 단층 촬영 장치의 감마선 검출 방식을 개략적으로 도시한 도면.
도 2는 본 발명에 따른 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치의 일 실시예의 개략적인 블록도.
도 3은 도 2의 양전자 단층 촬영 장치의 감마선 검출 방식을 개략적으로 도시한 도면.
도 4는 도 2의 양전자 단층 촬영 장치의 감마선 검출 방식을 개략적으로 도시한 다른 도면.
도 5는 도 2의 감마선 검출부에서 LYSO 섬광체를 사용한 예를 개략적으로 도시한 도면.
도 6은 도 2의 감마선 검출부에서 CdZnTe 반도체를 사용한 예를 개략적으로 도시한 도면.
도 7은 LYSO-PSAPD 섬광체를 이용해 구현된 도 2의 양전자 단층 촬영 장치의 개략적인 전체 장비 완성도.
도 8은 CdZnTe 반도체를 이용해 구현된 도 2의 양전자 단층 촬영 장치의 개략적인 전체 장비 완성도.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명한다.
도 2는 본 발명에 따른 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치의 개략적인 블록도이다.
도 2에서, 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치(100)는 감마선 검출부(110), 검출 순서 산출부(120), 및 피검사체 정보 생성부(130)를 포함한다.
감마선 검출부(110)는 양전자 소멸로 인해 피검사체에서 방출되는 2개의 감마선의 검출 위치 및 검출 위치에서의 검출 에너지를 획득한다.
이때, 감마선 검출부(110)는 픽셀화된 검출 어레이 구조를 포함할 수 있으며, 픽셀화된 검출 어레이는 카드뮴아연텔루라이드(CdZnTe; CZT) 화합물이나, LYSO 섬광체로 이루어질 수 있다.
이와 같이 픽셀화된 검출 어레이 구조의 채용은 감마선의 검출 위치의 용이한 획득을 가능하게 해준다. 다시 말해, 픽셀화된 다중 검출기는 다중 산란 반응의 각각의 반응 위치를 계산해 낼 수 있도록 해 준다.
양전자의 소멸하는 경우 두 개의 511keV의 방사선이 서로 반대 방향으로 나오는데, 양전자 단층 촬영에서는 이 두 개의 511 KeV방사선을 검출하여 영상의 재구성에 이용한다.
이와 대비되는, 단일 광자 단층 촬영(single photon emission tomography; SPECT)에서는, 방사선 선원에서 모든 방향으로 방사선이 무작위적으로 방출된다. 따라서 카메라로 측정시 조리개 역할을 하는 기계적 집속기나 컴프턴 카메라와 같은 전자적 집속기를 사용하기 때문에 효율이 많이 떨어진다.
반면에 양전자 단층 촬영(PET)은 서로 반대 방향으로 두 개의 동일 에너지 방사선이 방출되기 때문에 이 두 방사선이 검출된 위치를 선으로 연결하면 그 선 안에 방사선 선원의 위치가 포함되게 된다. 따라서 별도의 기계적 접속이 필요 없다.
그런데 광전 흡수가 컴프턴 산란 이후에 발생하는 경우, 어느 위치에서 컴프턴 산란이 일어났고 어느 위치에서 광전 흡수가 일어났는지 통상의 방법으로는 알 수가 없다.
다시 말해, 두 개의 방사선이 양쪽으로 나가서 그중 하나는 위치 1에서 광전흡수가 되었다 치고 다른 하나는 위치 2에서 컴프턴 산란 후 위치 3에서 광전흡수가 되었다고 가정을 할 시, 실제 검출기에서는 위치 2에서 컴프턴 산란이 일어난 후 위치 3에서 광전흡수가 되었는지, 반대로 위치 3에서 컴프턴 산란이 일어나고 위치 2에서 광전흡수가 일어났는지 알 수가 없다.
반응 순서를 알 수 없으면 정확한 방사선 반응 위치를 알 수 없으므로 PET 영상 복구에 사용할 수 없다. 따라서, PET 영상 복구에 컴프턴 산란 반응을 이용하기 위해서는 반응 순서를 알아내는 것이 중요하다.
이에, 검출 순서 산출부(120)는 2개의 감마선 중 어느 하나의 감마선에 대해서라도 검출 위치가 복수개 검출되는 경우 복수의 검출 위치에 대한 검출 순서를 산출한다.
이때, 검출 순서는 검출된 감마선의 에너지 정보로부터 산출한 방사선의 산란 각도와 검출된 위치 정보로부터 산출한 감마선 산란 각도를 비교하여, 두 각도의 차가 작게 나오는 검출 순서일 수 있다.
다시 말해, 각각의 반응 순서에 대하여 방사선 반응의 에너지 정보에서 구한 방사선의 산란 각도와 기하학적 정보에서 구한 방사선 산란 각도를 비교했을 때 두 각도의 차가 작게 나오는 반응 순서가 올바른 반응 순서가 된다.
또한, 이때의 복수개의 검출 위치는 2개의 검출 위치일 수 있다. 즉, 한번의 컴프턴 산란 뒤 광전 반응이 발생하는 경우만 고려될 수 있다. 왜냐하면, 두번 이상의 다중 산란이 발생하는 경우, 가능한 산란 순서가 너무 많아 정확한 반응 순서를 결정하기 어려워진다. 따라서, 광전 현상 직전의 컴프턴 산란만이 영상 재구성을 위한 효과적인 산란으로 고려될 수 있다.
도 3은 도 2의 양전자 단층 촬영 장치의 감마선 검출 방식을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 3에는 컴프턴 효과까지 사용하는 본 발명에 따른 Compton-PET의 검출 방식이 도시되어 있으며, 방출되는 두 개의 감마선 중 하나가 컴프턴 반응을 하는 예가 도시되어 있다.
감마선의 에너지 정보에서 산출한 방사선의 산란 각도(θE)는 수학식 1에 의해 산출될 수 있다.
Figure 112011060334912-pat00003
여기서, E0는 소멸 방사선 에너지(incident radiation energy)이고, E1은 컴프턴 산란의 리코일 에너지(recoiled electron energy by Compton scattering)이고, E2는 컴프턴 산란의 산란 에너지(scattered radiation energy by Compton scattering)이고, mec2는 전자의 에너지(rest mass energy of an electron; 511keV)이다.
위치 정보에서 산출한 감마선의 산란 각도(θp)는 수학식 2에 의해 산출되고,
Figure 112011060334912-pat00004
여기서, (x0, y0), 및 (x2, y2)는 광전 효과의 반응 위치이며, (x1, y1)은 컴프턴 산란 반응 위치이다.
피검사체 정보 생성부(130)는 감마선의 검출 위치와 검출 위치의 검출 순서에 대한 정보를 이용하여 피검사체에 대한 정보를 생성한다.
이와 같이, 양전자 소멸로 인해 방출되는 감마선의 검출 위치와 검출 위치에서의 검출 에너지를 이용하여 컴프턴 산란에 의해 발생하는 복수의 감마선 검출에 대한 순서를 산출함으로써, 양전자 단층 촬영에 있어서, 광전 효과뿐만 아니라 컴프턴 효과까지 이용할 수 있게 되어 더욱 우수한 영상을 구현할 수 있게 된다.
도 4는 도 2의 양전자 단층 촬영 장치의 감마선 검출 방식을 개략적으로 도시한 다른 도면이다.
도 4에는 방출되는 2개의 방사선 모두가 컴프턴 산란 이후 광전 현상을 일으키는 예가 도시되어 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명은 두 개의 방사선 중 하나가 광전 효과이고 다른 하나는 컴프턴 산란 이후 광전 효과의 경우만 적용하는 것이 아니라 둘 다 컴프턴 산란 이후 광전 효과를 일으키는 경우에도 동일하게 적용될 수 있다.
이를 위해, 도 3의 예에서 설명된 바와 같은 방법으로 각도들을 계산하여 에너지에 의한 각도와 위치에 의한 각도의 차가 가장 작은 조합을 구하여 검출 순서를 산출할 수 있다. 이때에는 총 반응 순서가 4가지가 되므로 마찬가지로, 이들 중 가장 각도의 차이가 적은 경우의 순서를 선택하면 된다.
도 5는 도 2의 감마선 검출부에서 LYSO 섬광체를 사용한 예를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 6은 도 2의 감마선 검출부에서 CdZnTe 반도체를 사용한 예를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 5와 도 6에서 확인할 수 있는 바와 같이, PET의 감마선 검출부를 다수의 복셀로 이루어진 단일 검출기 혹은 여러 층으로 이루어진 검출기로 구현할 수 있다.
도 5에는 LySO 섬광체를 사용한 Compton-PET의 설계도가 도시되어 있다.
도 5에서, 방사선은 LySO에서 빛으로 바뀐 후 위치 민감형 증폭 광다이오드(PSAPD)에서 다시 한번 전기 신호로 바뀌면서 증폭되고, 이 증폭된 전기 신호의 시간 정보는 FPGA(Field Programmable Gate Arrary)에서 추출되고 크기 정보는 DAQ 보드(Data Acquisition Board)에서 추출되며 FPGA에서 나온 신호가 DAQ의 신호검출을 시간적으로 통제한다.
도 6에는 CdZnTe 반도체 검출기를 사용한 Compton-PET 설계도가 도시되어 있다.
도 6에서, 방사선은 CZT에서 전기 신호로 바뀐 후 ASIC(Application Specific Integrated Circuit)에서 증폭되며, 마찬가지로 이 증폭된 전기 신호의 시간 정보는 FPGA(Field Programmable Gate Arrary)에서 추출되고 크기 정보는 DAQ 보드(Data Acquisition Board)에서 추출되며 FPGA에서 나온 신호가 DAQ의 신호검출을 시간적으로 통제한다.
도 7과 도 8은 도 2의 양전자 단층 촬영 장치 실제 구현예의 개략적인 전체 장비 완성도이다.
도 7과 도 8에는 각각 LySO-PSAPD 섬광체 검출기, 및 CdZnTe 반도체를 이용해 구현된 Compton-PET의 전체 장비 완성도가 도시되어 있다.
본 발명에 따르면, 방사선 검출효율이 200% 정도 상승하게 되어 영상의 질을 획기적으로 높이고 환자나 시술자의 방사선 피폭을 크게 줄일 수 있게 된다. 또한, 본 발명은 픽셀화된 검출기들을 사용하여, 2D와 3D에서 모두 구현 가능하다.
본 발명의 기술은 PET영상의 질을 획기적으로 높이면서 환자와 시술자의 피폭을 매우 줄인다는 점에서 PET성능과 안전도를 동시에 크게 높인다는 우수성을 가지고 있다.
검출효율의 증가에 따라 영상의 질이 향상됨에 따라 보다 정밀하고 정확한 암진단이 가능해지고 방사선의 피폭량을 줄임에 따라 컴프턴-PET에 대한 신뢰도 및 수요가 크게 증가할 것으로 예상된다.
본 발명이 비록 일부 바람직한 실시예에 의해 설명되었지만, 본 발명의 범위는 이에 의해 제한되어서는 아니 되고, 특허청구범위에 의해 뒷받침되는 상기 실시예의 변형이나 개량에도 미쳐야 할 것이다.
100: 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치
110: 감마선 검출부
120: 검출 순서 산출부
130: 피검사체 정보 생성부

Claims (15)

  1. 양전자 소멸로 인해 피검사체에서 방출되는 2개의 감마선의 검출 위치 및 상기 검출 위치에서의 검출 에너지를 획득하는 감마선 검출부;
    상기 2개의 감마선 중 어느 하나의 감마선에 대해서라도 검출 위치가 복수개 검출되는 경우 상기 복수의 검출 위치에 대한 검출 순서를 산출하는 검출 순서 산출부; 및
    상기 감마선의 검출 위치와 상기 검출 위치의 검출 순서에 대한 정보를 이용하여 상기 피검사체에 대한 정보를 생성하는 피검사체 정보 생성부를 포함하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치로서,
    상기 검출 순서는 상기 검출된 감마선의 에너지 정보로부터 산출한 방사선의 산란 각도와 상기 검출된 위치 정보로부터 산출한 감마선 산란 각도를 비교하여, 두 각도의 차가 작게 나오는 검출 순서인 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 감마선 검출부는 픽셀화된 검출 어레이 구조를 포함하는 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 픽셀화된 검출 어레이는 카드뮴아연텔루라이드(CdZnTe; CZT) 화합물로 이루어진 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치.
  4. 제 2항에 있어서,
    상기 픽셀화된 검출 어레이는 LYSO 섬광체로 이루어진 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치.
  5. 삭제
  6. 제 1항에 있어서,
    상기 에너지 정보에서 산출한 방사선의 산란 각도(θE)는 다음의 수학식에 의해 산출되고,
    Figure 112012095379808-pat00005

    여기서, E0는 소멸 방사선 에너지이고, E1은 컴프턴 산란의 리코일 에너지이고, mec2는 전자의 에너지이며,
    상기 위치 정보에서 산출한 감마선의 산란 각도(θp)는 다음의 수학식에 의해 산출되고,
    Figure 112012095379808-pat00006

    여기서, (x0, y0), 및 (x2, y2)는 광전 효과의 반응 위치이며, (x1, y1)은 컴프턴 산란 반응 위치인 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치.
  7. 제 1항에 있어서,
    상기 복수개 검출 위치는 2개의 검출 위치인 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치.
  8. 양전자 소멸로 인해 피검사체에서 방출되는 2개의 감마선의 검출 위치 및 상기 검출 위치에서의 검출 에너지를 획득하는 단계;
    상기 2개의 감마선 중 어느 하나의 감마선에 대해서라도 검출 위치가 복수개 검출되는 경우 상기 복수의 검출 위치에 대한 검출 순서를 산출하는 단계; 및
    상기 감마선의 검출 위치와 상기 검출 위치의 검출 순서에 대한 정보를 이용하여 상기 피검사체에 대한 정보를 생성하는 단계를 포함하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 방법으로서,
    상기 검출 순서는 상기 검출된 감마선의 에너지 정보로부터 산출한 방사선의 산란 각도와 상기 검출된 위치 정보로부터 산출한 감마선 산란 각도를 비교하여, 두 각도의 차가 작게 나오는 검출 순서인 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 방법.
  9. 제 8항에 있어서,
    상기 감마선의 검출 위치는 픽셀화된 검출 어레이 구조의 검출기를 이용해 검출되는 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 방법.
  10. 제 9항에 있어서,
    상기 픽셀화된 검출 어레이는 카드뮴아연텔루라이드(CdZnTe; CZT) 화합물로 이루어진 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 방법.
  11. 제 9항에 있어서,
    상기 픽셀화된 검출 어레이는 LYSO 섬광체로 이루어진 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 방법.
  12. 삭제
  13. 제 8항에 있어서,
    상기 에너지 정보에서 산출한 방사선의 산란 각도(θE)는 다음의 수학식에 의해 산출되고,
    Figure 112012095379808-pat00007

    여기서, E0는 소멸 방사선 에너지이고, E1은 컴프턴 산란의 리코일 에너지이고, mec2는 전자의 에너지이며,
    상기 위치 정보에서 산출한 감마선의 산란 각도(θp)는 다음의 수학식에 의해 산출되고,
    Figure 112012095379808-pat00008

    여기서, (x0, y0), 및 (x2, y2)는 광전 효과의 반응 위치이며, (x1, y1)은 컴프턴 산란 반응 위치인 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 방법.
  14. 제 8항에 있어서,
    상기 복수개 검출 위치는 2개의 검출 위치인 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 방법.
  15. 제 8 내지 11, 13, 14항 중 어느 한 항의 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 매체.
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