KR101234127B1 - 나노제품의 발진량 시험챔버 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 나노물질을 이용하여 제조된 나노제품으로부터 실제 소비자의 사용 환경에서 발생하는 발진 요인들에 의해 원재료인 나노물질이 공기 중으로 발진되는지 여부와 발진량을 정량화할 수 있는 시험챔버에 대한 것으로서, 본 발명에 따른 나노제품의 발진량 시험챔버는 나노제품 장착부, 청정공기 공급부, 배기구, 나노입자 측정기 및 샘플러용 샘플링부, 그리고 공기 제트, 진동, 충격, 마찰의 발진부로 이루어지는 것을 특징으로 한다.

Description

나노제품의 발진량 시험챔버 {A TEST CHAMBER FOR EMISSION OF NANOPARTICLES FROM NANOPRODUCTS}
본 발명은 나노물질을 이용하여 제조된 나노제품으로부터 실제 소비자의 일상적인 사용 환경에서 발생하는 발진 요인들에 의해 원재료인 나노물질이 공기 중으로 발진되는지 여부와 발진량을 정량할 수 있는 시험챔버에 대한 것으로서, 보다 상세하게는 나노물질을 코팅하거나 함유시켜서 제조한 나노제품에 공기 제트, 진동, 충격, 마찰 등과 같은 실제 소비자의 사용 환경을 모사할 수 있는 발진 요인을 가할 때 공기 중으로 발진되는 나노입자의 발진 특성 및 농도를 측정할 수 있는 시험챔버에 관련된 발명이다. 이를 통하여, 나노제품의 사용자들에게 노출될 수 있는 나노물질의 안전성을 평가할 수 있다.
나노물질은 기존의 벌크 소재와 다른 특이하고 유용한 성질을 가지고 있어, 다양한 산업 분야에 광범위하게 사용되고 있다. 이러한 나노물질을 이용하여 제조된 제품을 나노제품이라고 부르고 있다. 나노기술의 급속한 발달에 힘입어 현재 300개 이상의 나노제품이 시장에 출하되어 시판되고 있다. 미국 환경보호청(US EPA)에서 발간한 나노기술 백서(Nanotechnology White Paper)에 의하면, 나노기술과 나노소재를 사용한 제품은 크게 건강과 운동, 전자기기 및 컴퓨터, 가정 및 정원, 식료품, 기타 등으로 구분된다. 은 나노입자를 코팅한 항균 기능성 의류 및 가전제품, 유해가스 저감용 TiO2 나노입자를 코팅한 건축자재, 탄소나노튜브를 코팅한 투명 전극판 등이 나노제품의 예이다. 그러나 나노제품에 사용된 나노물질이 실제 사용 환경에서 소비자에게 노출되었을 때 안전성 여부가 최근 국내외적으로 논란이 되고 있다. 나노제품을 판매하기 위해서는 나노물질 및 나노제품에 대한 인체 안전성 자료의 제시가 더욱 요구되고 있다. 나노제품의 인체 안전성을 평가하려면 나노제품에 사용된 나노물질의 독성 자료뿐만 아니라 실제 사용 환경에서 소비자에게 노출되는 나노물질의 양, 즉, 발진량을 정량화해야 한다. 하지만 아직 나노제품에 사용된 나노물질의 발진량을 객관적으로 평가할 수 있는 장치가 개발되지 못한 상태이다.
본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 나노물질을 이용하여 제조된 나노제품에 실제 소비자 사용 환경에서 발생할 수 있는 공기 제트, 진동, 충격, 마찰 등과 같은 발진 요인을 가할 때 공기 중으로 발진되는 나노물질의 발진 특성 및 농도를 측정할 수 있는 시험챔버를 제공하는데 그 목적이 있다.
일반적으로 실내 공기 중에도 1 cm3당 수천~수만개 수준으로 마이크론 이하의 미세입자들이 존재하기 때문에 나노제품에서 발진된 나노물질을 구별하기는 매우 어렵다. 따라서 클린룸과 같이 미세입자가 없는 깨끗한 공간이 필요하지만, 같은 양의 나노물질이 발진된다 해도 공기의 부피가 크면 희석에 의해 농도가 낮아져서 농도를 측정하기가 어려워지므로 클린룸을 축소시킨 작은 시험챔버가 적절하다.
이 시험챔버는 내부에 나노제품의 전체 또는 일부분을 시편 형태로 설치할 수 있는 나노제품 장착부, 청정공기 공급부, 배기구, 나노입자 측정기 및 샘플러용 샘플링부, 그리고 공기 제트, 진동, 충격, 마찰 등의 발진부로 구성되어 있다.
발진 요인이 작동하기 시작한 직후에 나노물질이 발진했다가 바로 발진이 종료되거나, 발진 요인이 가해지고 있는 도중에 어느 시점에서 일시적으로 짧은 시간동안만 발진될 가능성도 있으므로 실시간 나노입자 측정기는 시간 해상도가 좋고 저농도 측정이 가능한 응축 입자 계수기(condensation particle counter)가 적절하다.
실시간 나노입자 측정기로 검출된 나노입자가 시험 나노제품 제조에 사용된 나노물질인지 여부를 확인하기 위하여 발진된 나노입자를 필터 또는 TEM-grid에 채취하여 단일입자 화학조성 분석법 또는 TEM-EDS 분석법으로 화학 성분과 형상을 함께 분석할 필요도 있다. 단일 발진 요인에 의한 발진 가능성을 별도로 시험하거나 또는 둘 이상의 발진 요인이 동시에 작동할 때의 발진 특성 및 농도를 측정함으로써 발진량을 평가할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 나노제품의 발진량 시험챔버는, 나노제품의 시편이 내측에 장착되는 시험챔버; 상기 시험챔버 내부로 퍼지(purge) 공기를 공급하는 청정공기 공급부; 상기 시험챔버 내부의 나노제품에 발진 요인을 적용시키는 발진부; 및 상기 발진부에 의해 발진되는 나노제품의 발진량을 측정하는 나노입자 측정기 및 샘플러를 포함한다.
상기 발진 요인은 공기 제트, 진동, 충격, 마찰이 될 수 있다.
상기 청정공기 공급부는, 실내 공기 또는 공기 실린더에 존재하는 가스상 및 입자상 오염물질을 제거한 후 상기 시험챔버로 유입시키는 청정공기 공급 장치; 및 상기 청정공기 공급 장치로부터 유입되는 공기의 유량을 조절하여, 상기 시험챔버 내부로 주입시키는 유량조절장치를 포함할 수 있다.
상기 공기 제트에 의한 발진 모드의 경우, 상기 나노제품에 공기 제트를 공급하는 공기 제트 라인; 상기 공기 제트 라인의 선단에 구비되어, 공기 제트를 상기 나노제품으로 분사하는 노즐; 상기 공기 제트 라인으로 공급되는 공기 유동을 개폐하는 솔레노이드 밸브; 및 상기 솔레노이드 밸브의 작동을 제어하는 솔레노이드 밸브 콘트롤러를 더 포함할 수 있다.
상기 노즐의 직경은 변경할 수 있다.
상기 솔레노이드 밸브의 개폐 주기 또는 회전식 초퍼(chopper)의 회전속도를 조절함으로써 연속 제트 또는 특정 주기의 펄스 제트를 발생시킬 수 있다.
상기 노즐과 상기 나노제품 사이의 거리 및 각도가 조절될 수 있다.
상기 진동에 의한 발진 모드의 경우, 상기 시험챔버 외부에 보텍스 쉐이커(vortex shaker) 또는 자석 교반기(magnetic stirrer)를 구비하여, 상기 보텍스 쉐이커 또는 자석 교반기의 회전속도를 조절함으로써 상기 나노제품에 대한 진동의 강도를 조절할 수 있다.
상기 충격에 의한 발진 모드의 경우, 상기 시험챔버의 한쪽 면의 일부를 신축성 있는 고무면으로 교체하여, 상기 나노제품을 상기 고무면에 근접하게 배치시키고, 상기 시험챔버 외부에서 동작하는 충격기의 충격을 상기 고무면을 통해 전달할 수 있다.
상기 마찰에 의한 발진 모드의 경우, 신축성 있는 장갑; 및 상기 신축성 있는 장갑의 일단에 부착되는 거친 표면을 갖는 패드를 구비하여, 상기 거친 표면을 갖는 패드와 상기 나노제품 사이에 마찰을 발생시킬 수 있다.
상기 거친 표면을 갖는 패드의 표면 거칠기를 변경함으로써, 상기 패드와 상기 나노제품 사이의 마찰 강도를 조절할 수 있다.
상기 나노제품의 발진량 시험챔버는, 상기 시험챔버 내부의 여분 공기가 헤파 필터로 여과되어 외부로 배출되는 배기구를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 나노제품의 발진량 시험챔버는, 나노제품이 내부에 장착된 가전제품의 발진 여부 및 발진량을 정량화할 수 있는 장치로서, 상기 나노제품이 내부에 장착된 가전제품을 수용하는 시험챔버; 상기 시험챔버 내부로 퍼지(purge) 공기를 공급하는 청정공기 공급부; 상기 나노제품이 내부에 장착된 가전제품을 동작시키는 전원을 공급하는 전원 공급부; 및 상기 나노제품이 내부에 장착된 가전제품이 작동됨에 따라 발생하는 나노제품의 발진량을 측정하는 나노입자 측정기 및 샘플러를 포함한다.
상기 나노제품의 발진량 시험챔버는, 상기 청정공기 공급부로부터 유입되는 공기를 여과시키는 헤파 필터; 및 상기 헤파 필터에 의해 여과된 공기의 유량을 조절하는 질량유량조절기를 더 포함할 수 있다.
상기 나노제품의 발진량 시험챔버는, 상기 시험챔버 내부의 여분 공기가 헤파 필터로 여과되어 외부로 배출되는 배기구를 더 포함할 수 있다.
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본 발명에 따른 나노제품의 나노물질 발진량 시험챔버는 다음과 같은 효과가 있다. 이 시험챔버를 통해 나노제품을 사용하는 실제 사용 환경에서 소비자에게 노출되는 나노물질의 발진 가능성 및 발진량을 평가할 수 있고, 이 시험 결과는 나노제품의 안전성 설계를 위한 기초자료로 활용될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 나노제품의 발진량 시험챔버의 구성도.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 나노제품의 발진량 시험챔버의 구성도.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 완제품을 위한 발진량 시험챔버.
본 발명은 나노물질을 이용하여 제조된 나노제품으로부터 실제 소비자의 일상적인 사용 환경에서 발생하는 발진 요인들인 공기 제트, 진동, 충격, 마찰 등에 의해 원재료인 나노물질이 공기 중으로 발진되는지 여부와 발진량을 시험할 수 있는 시험챔버에 대한 것으로서, 이를 이용한 시험 결과는 나노제품의 소비자들에게 노출될 수 있는 나노물질의 안전성을 평가하는데 활용될 수 있다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 나노제품의 발진량 시험챔버에 대해 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 나노제품의 발진량 시험챔버이다. 도 1에 도시한 바와 같이 본 발명의 제 1 실시예에 따른 나노제품의 발진량 시험챔버는 나노제품의 전체 또는 일부분을 시편 형태로 설치할 수 있는 나노제품 장착부, 청정공기 공급부, 배기구, 나노입자 측정기 및 샘플러용 샘플링부, 그리고 공기 제트, 진동, 충격, 마찰 등의 발진부로 구성되어 있다.
먼저, 나노제품 장착부는 나노제품의 전체 또는 일부분(31)을 시편틀(30)에 고정시켜서 미리 만들어 놓고 깨끗하게 보관한 시편과 그 시편을 고정시킬 수 있는 시편틀 홀더(32)를 포함한다.
시편을 장착한 후 실내 입자에 의한 오염을 최소화하기 위하여 고압용 가스필터가 연결된 공기 실린더 혹은 헤파(HEPA) 필터(1)가 설치된 청정공기 공급장치와 질량유량조절기(3)를 이용하여 약 2~6 L/min 범위의 유량을 퍼지(purge) 공기 라인(9)으로 흘려보내서 시험챔버 내부의 나노입자 수 농도가 검출한계 이하가 될 때까지 기다린다. 그 이후 퍼지 공기는 그대로 공급하면서 고압용 가스필터가 연결된 공기 실린더 혹은 헤파 필터(1)가 설치된 청정공기 공급장치와 질량유량조절기(2)를 이용하여 약 6~10 L/min 범위의 유량을 공기 제트 라인(10)을 통해 직경이 약 0.5 mm인 노즐(12)을 통과시킴으로써 공기 제트에 의한 발진을 시작한다. 다른 직경의 노즐(12)을 바꾸어 장착할 수 있게 하여 공기 제트의 속도에 따른 차이를 시험할 수 있다.
공기 제트는 솔레노이드밸브 콘트롤러(4)에 의해 개폐가 조정되는 솔레노이드 밸브(5)에 의해 연속 제트 혹은 다양한 주기의 펄스 제트 형태로 발진시킬 수 있다. 나노제품의 시편의 형태에 따라 공기 제트의 출구 위치가 변경될 수 있으므로 구부림이 가능한 튜브를 사용하여 필요에 따라 시편과의 거리 또는 각도를 변경할 수 있다.
발진된 나노물질을 응축 입자 계수기(40)로 실시간 측정하기 위한 샘플링 라인(11) 역시 구부림이 가능한 튜브를 사용하여 발진 지점에 가능한 가까이 위치시키는 것이 바람직하다.
발진 모드로는 공기 제트 대신 진동, 충격, 마찰 중에서 단일 발진 요인을 선택할 수 있을 뿐만 아니라 공기 제트와 마찰을 결합하는 것과 같이 2개 이상의 발진 모드를 결합시킬 수 있다.
진동 또는 충격에 의한 발진을 시험하기 위해 챔버 한쪽 면의 일부분을 신축성이 뛰어난 고무 계열의 장갑(14)으로 대체하여 시험챔버 외부에서 작동하는 보텍스 쉐이커(vortex shaker) 또는 충격기 등에 의한 진동 또는 충격이 챔버 내부의 나노제품에 전달되도록 하였다.
또한 마찰에 의한 발진을 시험하기 위해 챔버 바닥면의 일부분을, 거친 표면의 패드(13)가 붙어있는 신축성이 뛰어난 고무 계열의 장갑(14)으로 대체하여 나노제품의 시편을 거친 표면으로 문지를 때 발진 여부 및 발진량을 정량화할 수 있다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 나노제품의 발진량 시험챔버의 개념적인 구성도이다. 청정공기 공급부(60)는 청정공기 공급장치(61)와 유량조절장치(62)로 이루어지고, 공기 제트 발진부(91)와 기타 요인 발진부(90)에 의해 나노제품 시편 장착부(50)에 장착된 나노제품으로부터 발진된 나노입자들은 나노입자 샘플링부(80)를 통해 나노입자 측정기 및 샘플러(81)로 샘플링된다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 완제품을 위한 발진량 시험챔버이다. 나노분말로 코팅된 필터가 장착된 기능성 핸드 드라이어와 같이 시편을 제작하기 어려운 완제품이거나 나노제품이 완제품의 내부에 장착되어 있는 경우 발진부가 필요하지 않으며, 시험챔버 내부에 완제품(110)을 넣고 전원선용 포트(122)를 통해 연결된 전원 콘센트(121)를 이용하여 완제품(110)을 동작시키면서 나노입자를 측정하거나 샘플링하면 된다.
상기한 본 발명의 바람직한 실시예는 단지 예시의 목적을 위해 개시된 것이고, 본 발명에 대한 통상의 지식을 가지는 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정, 변경 및 부가는 하기의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.
1: 헤파(HEPA) 필터
2: 공기 제트를 위한 질량유량조절기
3: 퍼지(purge) 공기를 위한 질량유량조절기
4: 솔레노이드밸브 콘트롤러
5: 솔레노이드밸브
6: 공기 제트 공급 포트
7: 샘플링 포트
8: 여분 포트
9: 퍼지 공기 라인
10: 공기 제트 라인
11: 구부러지는 공기 제트용 및 샘플링용 라인
12: 공기 제트용 노즐
13: 마찰용 거친 패드
14: 신축성이 뛰어난 장갑
15: 청정공기 공급장치
20: 시험챔버 몸체
21: 시험챔버 위 덮개
22: 시험챔버 아래 바닥
30: 시편틀
31: 나노제품 전체 또는 일부분(시편)
32: 시편틀 홀더
40: 실시간 입자 계수기
41: 입자 샘플러
50: 나노제품 시편 장착부
60: 청정공기 공급부
61: 청정공기 공급장치
62: 유량조절장치
70: 배기구
80: 나노입자 샘플링부
81: 나노입자 측정기 및 샘플러
90: 기타 발진 요인 발진부
91: 공기 제트 발진부
100: 나노제품의 발진량 시험챔버
110: 시편 제작이 어려운 완제품
121: 시험챔버 내부의 전원 콘센트
122: 전원선용 포트
123: 시험챔버 외부의 전원 플러그

Claims (15)

  1. 나노제품의 발진(發塵) 여부 및 발진량을 정량화할 수 있는 나노제품의 발진량 시험챔버로서,
    나노제품의 시편이 내측에 장착되는 시험챔버;
    상기 시험챔버 내부로 퍼지(purge) 공기를 공급하는 청정공기 공급부;
    상기 시험챔버 내부의 나노제품에 발진 요인을 적용시키는 발진부;
    상기 발진부에 의해 발진되는 나노제품의 발진량을 측정하는 나노입자 측정기 및 샘플러; 및
    구부림이 가능한 튜브로 이루어지며, 상기 나노제품의 발진 지점에 일단이 근접하여 위치하고, 타단은 상기 나노입자 측정기 및 샘플러에 연결되는 샘플링 라인을 포함하는 것을 특징으로 하는 나노제품의 발진량 시험챔버.
  2. 제1항에 있어서, 상기 발진 요인은 공기 제트, 진동, 충격, 마찰인 것을 특징으로 하는 나노제품의 발진량 시험챔버.
  3. 제1항에 있어서, 상기 청정공기 공급부는,
    실내 공기 또는 공기 실린더에 존재하는 가스상 및 입자상 오염물질을 제거한 후 상기 시험챔버로 유입시키는 청정공기 공급 장치; 및
    상기 청정공기 공급 장치로부터 유입되는 공기의 유량을 조절하여, 상기 시험챔버 내부로 주입시키는 유량조절장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 나노제품의 발진량 시험챔버.
  4. 제2항에 있어서, 상기 공기 제트에 의한 발진 모드의 경우,
    상기 나노제품에 공기 제트를 공급하는 공기 제트 라인;
    상기 공기 제트 라인의 선단에 구비되어, 공기 제트를 상기 나노제품으로 분사하는 노즐;
    상기 공기 제트 라인으로 공급되는 공기 유동을 개폐하는 솔레노이드 밸브; 및
    상기 솔레노이드 밸브의 작동을 제어하는 솔레노이드 밸브 콘트롤러를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 나노제품의 발진량 시험챔버.
  5. 제4항에 있어서, 상기 노즐의 직경은 변경가능한 것을 특징으로 하는 나노제품의 발진량 시험챔버.
  6. 제4항에 있어서, 상기 솔레노이드 밸브의 개폐 주기 또는 회전식 초퍼(chopper)의 회전속도를 조절함으로써 연속 제트 또는 특정 주기의 펄스 제트를 발생시키는 것을 특징으로 하는 나노제품의 발진량 시험챔버.
  7. 제4항에 있어서, 상기 노즐과 상기 나노제품 사이의 거리 및 각도가 조절가능한 것을 특징으로 하는 나노제품의 발진량 시험챔버.
  8. 제2항에 있어서, 상기 진동에 의한 발진 모드의 경우,
    상기 시험챔버 외부에 보텍스 쉐이커(vortex shaker) 또는 자석 교반기(magnetic stirrer)를 구비하여, 상기 보텍스 쉐이커 또는 자석 교반기의 회전속도를 조절함으로써 상기 나노제품에 대한 진동의 강도를 조절하는 것을 특징으로 하는 나노제품의 발진량 시험챔버.
  9. 제2항에 있어서, 상기 충격에 의한 발진 모드의 경우,
    상기 시험챔버의 한쪽 면의 일부를 신축성 있는 고무면으로 교체하여, 상기 나노제품을 상기 고무면에 근접하게 배치시키고, 상기 시험챔버 외부에서 동작하는 충격기의 충격을 상기 고무면을 통해 전달하는 것을 특징으로 하는 나노제품의 발진량 시험챔버.
  10. 제2항에 있어서, 상기 마찰에 의한 발진 모드의 경우,
    신축성 있는 장갑; 및
    상기 신축성 있는 장갑의 일단에 부착되는 거친 표면을 갖는 패드를 구비하여, 상기 거친 표면을 갖는 패드와 상기 나노제품 사이에 마찰을 발생시키는 것을 특징으로 하는 나노제품의 발진량 시험챔버.
  11. 제10항에 있어서, 상기 거친 표면을 갖는 패드의 표면 거칠기를 변경함으로써, 상기 패드와 상기 나노제품 사이의 마찰 강도를 조절하는 것을 특징으로 하는 나노제품의 발진량 시험챔버.
  12. 제1항에 있어서, 상기 시험챔버 내부의 여분 공기가 헤파 필터로 여과되어 외부로 배출되는 배기구를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 나노제품의 발진량 시험챔버.
  13. 나노제품이 내부에 장착된 가전제품의 발진 여부 및 발진량을 정량화할 수 있는 나노제품의 발진량 시험챔버로서,
    상기 나노제품이 내부에 장착된 가전제품을 수용하는 시험챔버;
    상기 시험챔버 내부로 퍼지(purge) 공기를 공급하는 청정공기 공급부;
    상기 나노제품이 내부에 장착된 가전제품을 동작시키는 전원을 공급하는 전원 공급부;
    상기 나노제품이 내부에 장착된 가전제품이 작동됨에 따라 발생하는 나노제품의 발진량을 측정하는 나노입자 측정기 및 샘플러; 및
    구부림이 가능한 튜브로 이루어지며, 상기 가전제품의 발진 지점에 일단이 근접하여 위치하고, 타단은 상기 나노입자 측정기 및 샘플러에 연결되는 샘플링 라인을 포함하는 것을 특징으로 하는 나노제품의 발진량 시험챔버.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 청정공기 공급부로부터 유입되는 공기를 여과시키는 헤파 필터; 및
    상기 헤파 필터에 의해 여과된 공기의 유량을 조절하는 질량유량조절기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 나노제품의 발진량 시험챔버.
  15. 제13항에 있어서, 상기 시험챔버 내부의 여분 공기가 헤파 필터로 여과되어 외부로 배출되는 배기구를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 나노제품의 발진량 시험챔버.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH07198568A (ja) * 1993-12-28 1995-08-01 Kanebo Ltd 発塵試験装置
KR20050075954A (ko) * 2004-01-19 2005-07-26 한국과학기술연구원 건축자재로부터 방출되는 유해물질 측정을 위한 시험실 장치
KR100976987B1 (ko) * 2010-01-07 2010-08-19 주식회사 올루 크린룸용 자재의 입자 오염 시험 장치

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07198568A (ja) * 1993-12-28 1995-08-01 Kanebo Ltd 発塵試験装置
KR20050075954A (ko) * 2004-01-19 2005-07-26 한국과학기술연구원 건축자재로부터 방출되는 유해물질 측정을 위한 시험실 장치
KR100976987B1 (ko) * 2010-01-07 2010-08-19 주식회사 올루 크린룸용 자재의 입자 오염 시험 장치

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