KR101191303B1 - 코팅 소재의 흠 또는 긁힘 표면손상에 관한 정량적 평가방법 - Google Patents

코팅 소재의 흠 또는 긁힘 표면손상에 관한 정량적 평가방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 코팅 소재의 표면에 생성된 손상 정도를 정량적 수치로 평가할 수 있는 방법에 관한 것으로, 소재의 표면에 비교적 낮은 응력상태에서 생성된 흠 또는 긁힘 등에 의한 표면손상 정도를 정량적인 수치로 평가할 수 있고, 이에 따른 객관성을 통해 측정자 및 측정 환경에 의한 오차를 줄일 수 있으며, 따라서 흠 또는 긁힘 등 손상 저항성 평가에 대한 신뢰성을 확보할 수 있는 효과를 지니고 있다.

Description

코팅 소재의 흠 또는 긁힘 표면손상에 관한 정량적 평가방법 {Quantitative evaluation methodology of mar-induced surface damage on coatings}
본 발명은 코팅 소재의 표면에 생성된 표면손상 정도를 정량적 수치로 평가할 수 있는 방법에 관한 것이다.
최근 고분자 소재는 자동차 산업을 비롯하여 전기전자 산업 등 다양한 첨단 산업분야에 적용되고 있다. 또한, 우리의 일상에 있어서 생활 용품의 표면에는 미적 향상 및 모재의 표면 보호를 위해 고광택의 고분자 코팅이 널리 적용되고 있다. 이러한 고분자 소재의 수요 증가는 사용 환경에 따른 요구 물성의 향상을 수반해 왔다.
특히, 고급감과 감성품질이 중요시되는 IT제품 케이스 및 자동차 내장재의 표면상에 고광택 코팅의 적용은 점점 더 많은 관심을 끌고 있다. 소비자들은 IT제품을 구입 시 제품의 기능뿐 아니라, 미적인 측면을 함께 고려하여 구매하는 경향이 뚜렷해지고 있다. 만약 고광택 표면에 미세한 긁힘이 생성된다면, 본연의 표면 외관에 대한 미적 만족도는 급속히 감소하게 되어, 제품 구매 의욕의 감소로까지 이어지게 될 수 있을 것이다. 따라서, 이러한 고분자 소재의 표면특성에 관한 감성품질이 중요시되면서, 최근 표면조도, 경도, 마찰, 마모 및 스크래치 특성 등에 관한 연구가 활발히 이루어지고 있다.
한편, 이러한 표면 손상은 기계적 마찰이나 마모에 크랙, 박리, 스크래치, 흠 또는 긁힘 등이 포함 된다. 여기서 흠 또는 긁힘 등 현상은 소재 표면이 움직이는 물체와 접촉함으로써 발생되는 미세한 긁힘으로, 국부적인 흠 또는 긁힘 등 손상은 사람의 눈으로 쉽게 인지되지 않는다. 하지만, 많은 양이 집중되거나 보는 각도를 달리하면 관찰되는 특징을 가지고 있다. 자동 세차 후 자동차 본네트 표면에서 관찰되는 표면손상 현상이 대표적인 예라 할 수 있다. 따라서 흠 또는 긁힘 등 손상 현상은 비교적 낮은 응력상태에서 발생하는 표면손상으로 볼 수 있다. 반면 스크래치 손상은 흠 또는 긁힘 손상보다 비교적 높은 응력상태의 접촉으로 생성되는 표면손상으로 사람의 눈에 비교적 쉽게 인식되고, 보통 소재 표면상에 백화현상(whitening)과 찢힘(cutting) 변형이 수반되는 경우이다.
현재, 많은 코팅 업체들은 연필경도계를 이용하여 흠 또는 긁힘 등 손상을 측정하고 있다. 하지만, 이러한 측정방법은 관측자에 따라 그 경계의 구분이 지극히 주관적이라는 문제를 가지고 있을 뿐 아니라, 그에 따른 객관성 부재로 인한 논란의 여지가 있어, 흠 또는 긁힘 등 표면 손상을 정확히 평가하고 정량화하는데 상당한 어려움이 존재한다.
따라서 코팅 소재 표면에 생성된 표면손상을 평가함에 있어서 상기와 같은 종래의 비효율적인 평가방법들을 대체할 수 있는 평가방법이 요구되는 바, 지금까지 각종 소재에 생성된 흠 또는 긁힘 등 표면손상에 관한 연구는 있어 왔으나, 상기 본 발명과 같이, 고광택 코팅된 소재에 있어서 보다 객관적으로 정량화된 표면손상 측정방법에 관한 개시는 찾아볼 수 없었다.
이에 본 발명자는 보다 효율적이고 정량화된 평가방법을 찾기 위해 예의 노력을 계속하던 중, 종래의 표면손상 측정방법에 비해, 객관성을 통해 측정자 및 측정환경에 관한 오차를 줄일 수 있고, 흠 또는 긁힘 등 손상 저항성 평가에 대한 신뢰성을 확보할 수 있는, 상기 본 발명과 같은, 고광택 코팅 소재의 흠 또는 긁힘 등 표면손상에 관한 정량적 평가방법을 완성하기에 이르렀다.
따라서, 본 발명의 목적은 코팅 소재의 흠 또는 긁힘 표면손상에 관한 정량적 평가방법을 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위한 하나의 양태로서, 본 발명은 코팅 소재의 표면손상을 정량화하는 방법을 제공한다.
본 발명에 의한 코팅 소재의 표면손상 정량화 방법은 소재의 표면에 비교적 낮은 응력 상태에서 생성된 표면손상 정도를 정량적인 수치로 평가할 수 있고, 이에 따른 객관성을 통해 측정자 및 측정 환경에 의한 오차를 줄일 수 있으며, 따라서 흠 또는 긁힘 등 손상 저항성(mar resistance) 평가에 대한 신뢰성을 확보할 수 있는 효과를 지니고 있다.
도 1은 본 발명에 의한 표면손상 정도를 정량화하는 방법과 기존의 평가방법을 비교하여 나타낸 시험 순서도이다.
도 2는 본 발명에 적용된 샌드페이퍼가 부착된 스크래치 팁의 세부적인 모습을 나타내는 형상도이다.
도 3은 본 발명에 의한 실시예에 있어서, 일정 하중의 스크래치 실험을 통해 얻은 표면손상의 미가공 이미지이다.
도 4는 본 발명에 의한 실시예에 있어서, 광택도 측정 결과를 백분율로 표시된 광택도(%G)로 나타낸 그래프이다.
도 5는 본 발명에 의한 실시예에 있어서, 휘도 측정결과를 백분율로 표시된 휘도(%L)로 나타낸 그래프이다.
도 6은 본 발명에 의한 실시예에 있어서, 손상의 생성에 따른 표면 조도 변화와 이에 따른 시각적 인지 과정을 나타내는 개략도이다.
상기 목적을 달성하기 위한 하나의 양태로서, 본 발명은 시험편의 표면에 손상을 유도하는 단계; 상기 시험편의 표면에 생성된 손상 정도를 백분율로 표시된 광학단위로 정량화하여 수치 표시하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 코팅 소재의 표면손상 정량화 방법을 제공한다.
본 발명에 있어서, 상기 “광학단위”는 빛에 관련된 현상을 다루는 광학분야에 사용되는 단위들에 대한 것으로, 밝기, 휘도(brightness, cd /m 2 ), 발광속(luminous flux, lumen), 조도(illuminance, lux), 발광에너지(luminous energy, lumen s) 등이 있다.
본원 발명은 일정하중 하의 흠 또는 긁힘 등 표면 손상을 생성하는 방법에 있어서, 연필경도계를 사용하고 준비된 연필심을 이용한 흠 또는 긁힘 등의 손상이 발생한 시점을 측정한 뒤 연필경도값을 결정하는 종래의 방법에 비하여, 샌드페이퍼가 부착된 면 접촉 팁을 사용하고 %로 표현된 광택도 혹은 휘도를 측정한 뒤 이를 흠 또는 긁힘 등 표면 손상의 정량화 수치로 나타내는 방법을 취함으로써, 관련 data의 객관성, 신뢰성 및 재현성이 높은 우수한 특징을 지니고 있다 (도 1 참조).
또한, 본 발명은 상기 제조방법에 있어서, 상기 손상은 마모, 흠 또는 긁힘 등 (scratch)인 조건에서 수행될 수 있다.
본 발명에 있어서, 상기 “마모(abrasion)”은 같은 위치에 마찰 작용을 반복해가면서, 그 부분의 재료가 살이 깍여가는 현상을 말하는 것으로 부식의 경우와 마찬가지로 마모가 생긴 부분의 강도가 저하되는 특징이 있다.
또한, 본 발명에 있어서, 상기 “흠 또는 긁힘”은 마찰 등에 의해 소재의 변형, 각종 제품의 오작동 및 수명의 단축 등 문제를 유발하는 대표적인 표면 손상 요인이다.
또한, 본 발명은 상기 제조방법에 있어서, 상기 광학단위는 일반화된 광택도(%G) 또는 휘도(%L)인 조건에서 수행될 수 있다.
또한, 본 발명은 상기 제조방법에 있어서, 상기 손상은 시험편의 표면에 면 접촉이 가능한 스크래치 팁의 하면에 특정 거칠기를 갖는 물질을 부착하여 유도시키는 조건에서 수행될 수 있다.
본 발명은 시험편의 표면에 흠 또는 긁힘 등 손상을 생성시키기 위해 일정 하중이 작용하는 조건에서 스크래치 시험을 실시하며, 이때 사용하는 스크래치 발생기로는 일반적인 스크래치 발생기를 사용할 수 있다.
본 발명에서 스크래치 발생기는 시험편의 표면에 비교적 낮은 응력상태에서 흠 또는 긁힘 등을 인위적으로 발생시키기 위한 장치로서 소재 표면과 면 접촉(area contact)이 가능하고 팁의 하면에 특정 거칠기의 샌드페이퍼가 부착된 팁을 포함한다.
본 발명에 적용된 특정 거칠기의 샌드페이퍼가 부착된 스크래치 팁의 세부적인 형상을 도식화한 개략도를 통해 알 수 있듯이, 스크래치 팁의 접촉면이 원형 또는 삼각형이나 사각형과 같은 다각형이 바람직하다 (도 2 참조).
또한, 본 발명은 상기 제조방법에 있어서, 상기 특정 거칠기를 갖는 물질은 샌드페이퍼(sand paper)인 조건에서 수행될 수 있다.
본 발명에 있어서 사용되는 상기 “샌드페이퍼(sand paper)”는 종이 또는 천 등 유연한 소재의 겉면에 숫돌입자를 붙인 것으로서, 여러 등급의 산화알루미늄 따위를 바탕이 되는 종이나 천 등에 붙여 가공물의 표면을 갈고 다듬는 데 쓰는 연마제이다. 흔히 사포라고도 하며, 가공 현장에서는 사용빈도가 높아서 그냥 페이퍼라고 부르기도 한다.
또한, 종이 샌드페이퍼에는 방수성이 있는 것과 그렇지 않은 것이 있는데, 가공 현장에서 주로 쓰이는 것은 방수성이 있는 것이다. 숫돌입자의 입도(굵기의 정도)에 따라 샌드페이퍼 표면의 거친 정도가 표시되는데, 표면이 거칠수록 표시되는 숫자가 작아진다.
또한, 본 발명은 상기 제조방법에 있어서, 상기 손상은 시험편 팁 하면의 표면 자체에 특정 거칠기를 갖도록 만든 팁을 부착하여 유도시키는 조건에서 수행될 수 있다.
또한, 본 발명은 상기 제조방법에 있어서, 상기 손상은 시험편의 표면에 임의의 일정 하중을 부가하여 유도시키는 조건에서 수행될 수 있다.
본 발명은 일정하중(constant load)을 부가하여 시험편 소재에 흠 또는 긁힘 등 손상을 유도하는 바, 본 실시예에서는 5N, 10N, 20N, 30N, 40N, 50N으로 하중에 변화를 주었다. 또한, 그 일예로 20N의 일정하중 하에서 600grit의 샌드페이퍼가 부착된 팁을 이용한 실험으로부터 얻은 흠 또는 긁힘 등 표면손상의 이미지가 도2에 나타나 있다.
또한, 본 발명은 상기 제조방법에 있어서, 상기 광택도는 시험편의 표면에 생성된 손상 부위를 광택계를 이용하여 손상 전과 후의 광택도를 측정하고, 이를 최종적으로 백분율로 표시된 광택도(%G)의 수치로 나타내는 조건에서 수행될 수 있다.
또한, 본 발명은 상기 제조방법에 있어서, 상기 광택도(%G)는 하기의 수학식1에 의하여 산출되는 조건에서 수행될 수 있다.
Figure 112011088442361-pat00001
(단, Gm은 손상의 생성 후 소재 표면의 광택도, Gv는 손상의 생성 전 소재 표면의 광택도)
본 발명은 시험편의 표면에 흠 또는 긁힘 등과 같은 표면손상이 도입되면 소재 표면의 손상 정도를 광택계를 이용하여 손상영역 및 미 손상영역의 광택도로 수량화하여 나타낸다. 상기와 같이 시험편의 흠 또는 긁힘 등 손상 정도를 최종적으로 백분율로 표시된(일반화된) 광택도로 나타내고 그 값들을 바탕으로 흠 또는 긁힘 등의 생성에 의한 표면손상을 정량화한 수치로 표현한다.
이때, 상기 본 발명의 단계에서 흠 또는 긁힘 등 손상이 생성된 소재 표면의 광택도 측정 결과를 백분율로 표시된(일반화된) 광택도(%G)로 정량화하여 나타낸 결과, 일정 하중과 샌드페이퍼의 거칠기가 증가할수록 %G의 감소율이 증가하는 것을 알 수 있다 (도 4 참조).
또한, 본 발명은 상기 제조방법에 있어서, 상기 휘도는 시험편의 표면에 생성된 손상 부위를 분광측색계를 이용하여 손상 전과 후의 휘도를 경면반사광포함(SCI)와 경면반사광제거(SCE) 모드에서 각각 측정하고, 이를 백분율로 표시된 휘도(%L)의 수치로 나타내는 조건에서 수행될 수 있다.
또한, 본 발명은 상기 제조방법에 있어서, 상기 휘도(%L)는 하기의 수학식 2에 의하여 산출되는 조건에서 수행될 수 있다.
Figure 112011088442361-pat00002
(단, Lm은 손상의 생성 후 소재 표면의 휘도, Lv는 손상의 생성 전 소재 표면의 휘도, Lv SCI는 경면반사광포함(SCI) 모드에서 측정된 손상의 도입 전 소재 표면의 휘도, Lv SCE는 경면반사광제거(SCE) 모드에서 측정된 손상의 도입 전 소재 표면의 휘도)
본 발명은 시험편의 표면에 흠 또는 긁힘 등 과 같은 표면손상이 도입되면 소재 표면의 표면손상 정도를 분광측색계를 이용하여 손상영역 및 미 손상영역의 휘도로 수량화하여 나타낸다. 특히, 상기 분광측색계를 이용한 색분석은 객관적이고 합리적인 측정을 위해 표준조건인 D65 표준광원, d/8 확산조명, 경면반사광제거(Specular Component Excluded, SCE) 모드에서 측정하는 것이 바람직하다.
따라서, 상기와 같이 분광측색계를 통해, 시험편의 흠 또는 긁힘 등 손상 정도를 최종적으로 백분율로 표시된(일반화된) 휘도로 나타내고 그 값들을 바탕으로 흠 또는 긁힘 등 생성에 의한 표면손상을 정량화한 수치로 표현한다.
이때, 흠 또는 긁힘 등 손상이 생성된 소재 표면의 휘도 측정 결과를 백분율로 표시된(일반화된) 휘도(%L)로 정량화하여 나타낸 결과, 일정 하중이 증가할수록 %L 값이 증가하는 것을 알 수 있다 (도 5 참조).
이하, 본 발명을 실시예를 통해 보다 상세하게 설명한다. 그러나 본 발명에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로 본 발명을 한정하려는 의도가 아니며, 설명에 있어서 주지된 기술과 동일한 부분에 대한 설명은 생략되는 것도 있다.
실시예
1. 실험 준비
본 발명의 실시예에서는 3mm 두께의 평판형 PC/ABS 모재 표면에 광택도가 다르게 고분자 코팅 처리된 세 가지 종류의 시험편을 사용하였는데, 시험편(a)는 가장 큰 광택도를, 시험편(c)는 가장 낮은 광택도를 가졌다.
또한, 본 발명의 실시에 있어서, 광택계로는 KONICA MINOLTA사의 Multi Gloss-268을, 분광측색계로는 CM-3700d을 사용하였다. 또한, 스크래치 발생기로는 Center for Tribology, Inc사의 UMT-2 모델을 사용하였다.
2. 스크래치 발생기를 이용한 흠 또는 긁힘 등 표면손상의 유도
스크래치 발생기를 이용하여 상기 시험편에 일방향으로 총 50mm의 흠 또는 긁힘 등 손상을 생성하였다. 이때 생성 속도는 1mm/s로 고정하고 흠 또는 긁힘 등 손상을 부가하는 실험하중은 5N, 10N, 20N, 30N, 40N, 50N으로 변화를 주었다.
시험편에 흠 또는 긁힘 등 손상을 가하기 위한 스크래치 팁의 세부적인 형상은 도 2와 같으며, 시험편과 면 접촉하는 부분의 지름이 15mm인 팁의 바닥면에 3M사의 양면테이프를 이용하여 표면 거칠기가 1200, 800, 600, 400grit인 샌드페이퍼를 부착한 후 흠 또는 긁힘 등 손상을 유도하였다. 여기서, 1200grit가 가장 낮은 표면 거칠기이고, 400 grit가 가장 큰 표면 거칠기를 나타낸다.
또한, 도 3은 20N의 일정하중 하에서 600grit의 샌드페이퍼가 부착된 팁을 이용한 실험으로부터 얻은 흠 또는 긁힘 등 표면손상의 이미지이다.
3. 흠 또는 긁힘 등 표면손상을 통한 광택도 및 휘도의 측정
흠 또는 긁힘 등 손상을 생성한 후, 광택계를 이용하여 60° 측정각 모드에서 흠 또는 긁힘 등 손상 전과 후의 광택도를 각각 측정하였다. 이때, 광택도 측정 면적은 10mm × 10mm이였다.
또한, 분광측색계를 이용하여 흠 또는 긁힘 등 손상 전과 후의 휘도 변화를 D65 표준광원, d/8 확산조명, 경면반사광제거(SCE) 모드에서 측정하였고, 이때 지름이 8 mm인 측정경을 사용하였다. 흠 또는 긁힘 등 표면손상 영역의 휘도 변화를 측정하기 위해 CIELab 컬러모델을 사용하였으며, 이때 휘도는 L* 값을 측정하여 표시하였다.
4. 측정된 광택도 및 휘도를 백분율(%)로 정량화하여 수치화
흠 또는 긁힘 등 손상이 생성된 소재 표면의 광택도 측정 결과를 백분율로 표시된(일반화된) 광택도(%G)로 정량화하여 나타낸 결과, 일정하중과 샌드페이퍼의 거칠기가 증가할수록 %G의 감소율이 증가하는 것을 확인할 수 있었다 (도 4 참조).
한편, 휘도값의 측정에 있어서는, 흠 또는 긁힘 등 손상 전 시험편의 휘도값을 경면반사광포함(SCI)와 경면반사광제거(SCE) 모드에서 각각 측정하여 백분율로 표시된 광택도(%G) 계산 시 이용하였다. 이때, 흠 또는 긁힘 등 손상이 생성된 소재 표면의 휘도 측정 결과를 백분율로 표시된(일반화된) 휘도(%L)로 정량화하여 나타낸 결과, 일정하중이 증가할수록 %L 값이 증가하는 것을 확인할 수 있었다 (도 5 참조).
즉, 본 실시예를 통해 시험편에 가한 일정하중이 증가함에 따라 백분율로 표시된 광택도(%G)는 감소하고 휘도(%L)는 증가함을 확인할 수 있었다.
한편, 본 실시예를 위해 준비된 세 가지 코팅제 중 상대적으로 낮은 광택과 높은 조도를 가진 시험편(C)의 경우, 비교적 낮은 하중 하에서 백분율로 표시된 광택도(%G)의 증가 및 휘도(%L)의 감소가 관찰된다 (도 4, 5 참조). 이는 흠 또는 긁힘 등 손상의 생성에 따른 소재 표면의 거칠기(조도) 변화와 이에 따른 인간의 시각적 인지 과정을 묘사하는 개략도를 통해 알 수 있듯이, 표면 다림질(surface ironing) 효과로 설명될 수 있다 (도 6 참조).
따라서, 본 발명의 실시예를 통해, 흠 또는 긁힘 등 손상이 유도된 코팅 소재의 표면에 대한 광택도 및 휘도 변화를 측정하여 소재의 흠 또는 긁힘 등 표면 손상을 정량화할 수 있으며, 최종 정량화된 결과를 바탕으로 종래의 흠 또는 긁힘 등 특성을 정량화 및 물성화할 수 있는 효과가 있음을 확인할 수 있다.
이상에 설명한 바와 같이, 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 본 발명의 범위는 상기의 상세한 설명보다는 후술할 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

Claims (11)

  1. a) 시험편의 표면에 면 접촉이 가능한 스크래치 팁의 하면에 특정 거칠기를 갖는 물질을 부착하여 손상을 유도하는 단계; 및
    b) 상기 시험편의 표면에 생성된 손상 정도를 백분율로 표시된 광학 단위로 정량화하여 수치 표시하는 단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 코팅 소재의 표면 손상 정량화 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 a) 단계에서의 손상은 마모, 흠 또는 긁힘의 표면손상인 것을 특징으로 하는 코팅 소재의 표면손상 정량화 방법.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 b)단계에서의 광학단위는 광택도(%G) 또는 휘도(%L)인 것을 특징으로 하는 코팅 소재의 표면손상 정량화 방법.
  4. 삭제
  5. 제1항에 있어서,
    상기 특정 거칠기를 갖는 물질은 샌드페이퍼(sand paper)인 것을 특징으로 하는 코팅 소재의 표면손상 정량화 방법.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 손상은 시험편 팁 하면의 표면 자체에 특정 거칠기를 갖도록 만든 팁을 부착하여 유도시키는 것을 특징으로 하는 코팅 소재의 표면손상 정량화 방법.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 a) 단계에서의 손상은 시험편의 표면에 임의의 일정 하중을 부가하여 유도시키는 것을 특징으로 하는 코팅 소재의 표면손상 정량화 방법.
  8. 제3항에 있어서,
    상기 광택도는 시험편의 표면에 생성된 손상 부위를 광택계를 이용하여 손상 전과 후의 광택도를 측정하고, 이를 최종적으로 백분율로 표시된 광택도(%G)의 수치로 나타내는 것을 특징으로 하는 코팅 소재의 표면손상 정량화 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 광택도(%G)는 하기의 수학식1에 의하여 산출되는 것을 특징으로 하는 코팅 소재의 표면손상 정량화 방법.

    [수학식1]
    Figure 112011088442361-pat00003

    (단, Gm은 손상의 생성 후 소재 표면의 광택도, Gv는 손상의 생성 전 소재 표면의 광택도)
  10. 제3항에 있어서,
    상기 휘도는 시험편의 표면에 생성된 손상 부위를 분광측색계를 이용하여 손상 전과 후의 휘도를 경면반사광포함(SCI)와 경면반사광제거(SCE) 모드에서 각각 측정하고, 이를 백분율로 표시된 휘도(%L)의 수치로 나타내는 것을 특징으로 하는 코팅 소재의 표면손상 정량화 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 휘도(%L)는 하기의 수학식2에 의하여 산출되는 것을 특징으로 하는 코팅 소재의 표면손상 정량화 방법.

    [수학식2]
    Figure 112011088442361-pat00004

    (단, Lm은 손상의 생성 후 소재 표면의 휘도, Lv는 손상의 생성 전 소재 표면의 휘도, Lv SCI는 경면반사광포함(SCI) 모드에서 측정된 손상의 도입 전 소재 표면의 휘도, Lv SCE는 경면반사광제거(SCE) 모드에서 측정된 손상의 도입 전 소재 표면의 휘도)
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