KR101189125B1 - Optical pick-up - Google Patents

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Abstract

본 발명은 광 픽업에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에서, 디스크에서 0차 및 +/- 1차 빔으로 분기된 상태로 반사될 때 +/- 1차 빔에 대응되는 영역을 포함하지 않는 제 1 패턴에 의해 0차 빔이 회절하여 서브 빔이 형성되고, 다른 층에서 반사되는 빔이 제 1 패턴에 의해 서브 빔을 수광하는 서브 빔용 PD에 회절되지 않도록 제 1 패턴 내에 제 2 패턴이 형성된다. 이때, 서브 빔용 PD는 다른 층에서 반사되어 제 1 패턴과 제 2 패턴을 그대로 통과하는 빔의 유효 반경 밖에 위치해야 하고, 이를 위해 제 1 패턴의 회절 각도가 조절된다. 따라서, 다른 층에서 반사되는 빔이 서브 빔에 입사하지 않게 되어, 안정적인 트래킹 에러 신호를 얻고 재생 또는 기록 성능이 향상된다.The present invention relates to an optical pickup. In one embodiment of the present invention, the 0th order beam is generated by a first pattern that does not include an area corresponding to the +/− 1st order beam when reflected from the disk in a branched state into the 0th order and +/− 1st order beams. A sub-beam is formed by diffraction, and a second pattern is formed in the first pattern so that the beam reflected by the other layer is not diffracted by the sub-beam PD receiving the sub-beam by the first pattern. At this time, the PD for the sub-beam should be located outside the effective radius of the beam reflected from the other layer and pass through the first pattern and the second pattern as it is, for this purpose, the diffraction angle of the first pattern is adjusted. Therefore, the beam reflected from the other layer does not enter the sub beam, thereby obtaining a stable tracking error signal and improving reproduction or recording performance.

DPP, MPP, SPP, grating, 트래킹 에러 신호, 층간 간섭, 회절 DPP, MPP, SPP, grating, tracking error signal, interlayer interference, diffraction

Description

광 픽업 {Optical pick-up}Optical pick-up {Optical pick-up}

도 1은 DPP 법에 의해 트래킹 에러 신호를 검출하는 원리를 설명한 것이고,1 illustrates the principle of detecting a tracking error signal by the DPP method,

도 2는 하나의 액츄에이터에 장착된 2개의 대물 렌즈가 트랙 방향으로 배열된 경우 하나의 대물 렌즈가 디스크의 중심 축에서 벗어나 비축 배치된 예를 도시한 것이고,FIG. 2 shows an example in which one objective lens is stockpiled away from the center axis of the disc when two objective lenses mounted on one actuator are arranged in the track direction,

도 3은 다른 층에서 반사되는 노이즈 광이 포토 디텍터에 유입되는 상태를 도시한 것이고,3 illustrates a state in which noise light reflected from another layer flows into a photo detector,

도 4는 층간 간섭에 의해 트래킹 에러 신호가 왜곡되는 예를 도시한 것이고,4 illustrates an example in which a tracking error signal is distorted by interlayer interference,

도 5는 대물 렌즈가 비축 배치되고 3 빔에 의한 DPP 방법이 적용된 경우 기록/미기록 경계에서 DPP 신호의 오프셋이 크게 되고 오프셋이 발생하는 구간이 길어지는 현상을 도시한 것이고,FIG. 5 illustrates a phenomenon in which the offset of the DPP signal is increased at the recording / unrecorded boundary and the section in which the offset occurs is long when the objective lens is non-stocked and the DPP method using the three beams is applied.

도 6은 1 빔 DPP 법 적용되는 광 픽업의 구성을 도시한 것이다.6 shows the configuration of an optical pickup to which the 1 beam DPP method is applied.

도 7은 기록용 디스크에 입사하는 빔이 분기되는 형태를 예시적으로 도시한 것이고,7 exemplarily shows a form in which a beam incident on a recording disc is branched;

도 8은 기록용 디스크에 입사하는 빔이 분기되어 이루는 베이스볼 패턴을 예시적으로 도시한 것이고,8 exemplarily illustrates a baseball pattern formed by branching beams incident on a recording disk;

도 9는 디스크에서 반사되어 분기되는 빔으로부터 ac 성분이 제거된 서브 빔을 얻는 원리를 개략적으로 설명한 것이고,9 schematically illustrates the principle of obtaining a sub beam from which an ac component has been removed from a beam reflected and branched from a disk,

도 10은 ac 성분이 제거된 서브 빔을 얻기 위한 회절 격자의 여러 실시예를 도시한 것으로,FIG. 10 illustrates various embodiments of a diffraction grating for obtaining a sub beam from which an ac component has been removed.

도 11은 도 10의 회절 격자에 의해 서브 빔의 푸시풀 신호에 dc 성분만 남고 ac 성분이 제거된 결과를 도시한 것이고,FIG. 11 illustrates the result of removing only the dc component and the ac component from the push-pull signal of the sub-beam by the diffraction grating of FIG. 10.

도 12는 층간 간섭을 제거하기 위한 본 발명에 따른 회절 격자와 PD에서의 빔의 분포를 도시한 것이고,12 illustrates the distribution of beams in a diffraction grating and PD in accordance with the present invention for eliminating interlayer interference,

도 13은 층간 간섭을 제거하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 수광 소자의 메인 빔용 셀과 서브 빔용 셀의 위치를 도시한 것이고,FIG. 13 illustrates positions of a main beam cell and a sub beam cell of a light receiving device according to an embodiment of the present invention for removing interlayer interference;

도 14는 도 12의 회절 격자에 의해 빔이 회절하는 빔 중에서 현재 층의 서브 빔과 다른 층의 서브 빔의 모양이 달라지는 예를 도시한 것이고,FIG. 14 illustrates an example in which a shape of a sub beam of a layer different from that of a current layer is different among beams diffracted by the diffraction grating of FIG. 12,

도 15는 본 발명이 적용되는 광 픽업 구성의 다른 실시예를 도시한 것이다.Fig. 15 shows another embodiment of the optical pickup configuration to which the present invention is applied.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

100, 200 : 광 픽업 110, 210 : 광원100, 200: optical pickup 110, 210: light source

120, 220 : 콜리메이터 렌즈 130, 230 : 빔 스플리터120, 220: collimator lens 130, 230: beam splitter

140, 240 : 회절 격자 150 : 1/4 파장판140, 240: diffraction grating 150: 1/4 wave plate

160, 260 : 대물 렌즈 170, 270 : 센서 렌즈160, 260: objective lens 170, 270: sensor lens

180, 280 : 광 검출 수단180, 280: light detection means

본 발명은 광 픽업에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 다른 층으로부터 노이즈가 서보 신호에 유입되는 것을 억제할 수 있도록 하는 광 픽업에 관한 것이다.TECHNICAL FIELD The present invention relates to an optical pickup, and more particularly, to an optical pickup that can suppress noise from entering a servo signal from another layer.

74분 분량의 음악, 약 650Mbytes에 해당하는 데이터를 저장할 수 있는 광 저장 매체인 CD(Compact Disc)가 출시된 이래, 2시간 분량의 SD(Standard Definition) 급의 영화를 담을 수 있는 DVD(Digital Versatile Disc)가 널리 상용화되고 있고, HD(High Definition) 급의 영화를 저장할 수 있는 BD(Blu-ray Disc) 또는 HD-DVD가 머지 않아 시장에 등장할 예정이다.Since the launch of the Compact Disc (CD), an optical storage medium capable of storing 74 minutes of music and approximately 650 Mbytes of data, a DVD (Digital Versatile) that can hold 2 hours of standard definition (SD) movies Disc is widely commercialized, and a BD (Blu-ray Disc) or HD-DVD, which can store a high definition (HD) class movie, will soon appear in the market.

CD, DVD, BD 등과 같은 광 저장 매체는 광학적 특성을 이용하여 데이터를 저장하는 디스크 형태의 매체로, 광 픽업을 통해 디스크에 데이터를 기록하거나 기록된 데이터를 재생한다. 광 저장 매체에는, 데이터가 이미 저장되어 있는 재생용 디스크와 기록 또는 재기록이 가능한 CD-R/RW, DVD-R/+R/-RW/+RW/RAM, BD-R/-RE 등의 기록용 디스크가 있다.Optical storage media such as CD, DVD, BD, and the like are disc-type media for storing data using optical characteristics, and record data on or reproduce recorded data on the disc through optical pickup. On an optical storage medium, recording discs for playback in which data is already stored, and CD-R / RW, DVD-R / + R / -RW / + RW / RAM, BD-R / -RE, etc. that can be recorded or rewritten There is a disk.

광 픽업은, 레이저 빔이 고속으로 회전하는 디스크 내의 트랙에 올바르게 초점 맺히도록 한 상태에서, 디스크에 데이터를 기록하거나 디스크로부터 데이터를 독출한다.The optical pickup writes data to or reads data from the disk, with the laser beam correctly focused on tracks in the disk rotating at high speed.

디스크에 맺히는 광 스폿(spot)의 위치 에러에 대응되는 포커싱 에러 신호와 트래킹 에러 신호와 같은 서보 신호를 얻고 상기 서보 신호를 기초로 광 스폿의 위치 에러를 정정할 수 있도록, 즉 서보 동작을 수행할 수 있도록, 광 픽업에는, 대물렌즈(Objective Lens), 빔 스플리터(Beam Splitter) 등의 광학 부품, 액츄에이터(Actuator), 베이스 등의 기구 부품, 및 레이저 다이오드(Laser Diode), 포토 디텍터(Photo Detector) 등의 전기 부품이 배치된다.It is possible to obtain a servo signal such as a focusing error signal and a tracking error signal corresponding to a position error of an optical spot formed on the disk, and to correct a position error of the optical spot based on the servo signal, that is, to perform a servo operation. The optical pickup includes an optical lens such as an objective lens, a beam splitter, an instrument part such as an actuator, a base, a laser diode, a photo detector, and the like. And electrical components are arranged.

포커싱 에러 신호의 검출에는 일반적으로 디스크의 종류, 기록/재생용 디스크에 관계없이 비점수차법이 사용된다. 트래킹 에러 신호의 검출과 관련해서는, 재생용 디스크의 경우에는 3-beam법, DPD(Differential Phase Detection) 법 등이 사용되고, 기록용 디스크의 경우에는 차동 푸시풀 방법(DPP : Differential Push-Pull)이 대표적으로 사용되고 있다.In general, astigmatism is used to detect a focusing error signal irrespective of the type of disc and the disc for recording / playback. Regarding the detection of the tracking error signal, a 3-beam method or a differential phase detection (DPD) method is used for a disc for playback, and a differential push-pull (DPP) method is used for a disc for recording. It is typically used.

도 1은 DPP 법에 의해 트래킹 에러 신호를 검출하는 원리를 설명하고 있다.1 illustrates the principle of detecting a tracking error signal by the DPP method.

DPP 법은, 종래의 1 빔 푸시풀 법을 개량한 것으로, 대물 렌즈의 래디얼(Radial) 방향으로의 이동이나 디스크의 틸트(Tilt)에 따라 발생하는 오프셋을 제거하고 안정된 트래킹 에러 신호를 검출할 수 있는 방법이다.The DPP method is an improvement on the conventional one-beam push-pull method. The DPP method can detect a stable tracking error signal by eliminating offset caused by movement in the radial direction of the objective lens or tilt of the disk. That's how it is.

DPP 법에서는, 그레이팅(Grating)이라는 회절 소자를 통해 광원으로부터 출력되는 레이저 빔이 0차 회절광과 +/-1차 회절광 등 3개로 분리되고, 0차 회절광인 메인 빔이 디스크 트랙의 그루브(Groove)에 배치되어 있을 때 +/-1차 회절광의 서브 빔은 상기 메인 빔이 놓인 그루브에 인접한 랜드(Land)에 배치되도록(서브 빔이 메인 빔으로부터 1/2 트랙 피치(Pitch)만큼 떨어져 배치되도록) grating이 조절되고, 래디얼 방향을 기준으로 각 빔의 좌우의 차 신호를 기초로 트래킹 에러 신호가 검출된다.In the DPP method, a laser beam output from a light source through a diffractive element called grating is divided into three, such as 0th-order diffraction light and +/- 1st diffraction light, and the main beam, which is the 0th-order diffraction light, is formed in the groove of the disc track. When placed in a groove, the sub-beams of the +/- 1st diffraction light are arranged in a land adjacent to the groove in which the main beam is placed (the sub beam is placed 1/2 track pitch away from the main beam). The grating is adjusted, and a tracking error signal is detected based on the difference signal on the left and right of each beam with respect to the radial direction.

디스크에서 반사되는 메인 빔은 4 분할된(a, b, c, d) 메인 포토 디텍터에 수광되어 푸시풀 신호인 MPP(Main Push-Pull)((A+D)-(B+C))로 검출되고, 디스크에서 반사되는 각 서브 빔은 레이얼 방향으로 2 분할된(E1, E2)(F1, F2) 서브 포토 디텍터에 수광되어 SPP(Sub Push-Pull)((E1-E2)+(F1-F2)) 신호로 검출된다. 메인 빔과 서브 빔이 1/2 트랙 피치만큼 떨어져 배치되면, MPP와 SPP의 위상은 반대가 된다.The main beam reflected from the disk is received by a 4-divided (a, b, c, d) main photodetector to the push-pull signal, Main Push-Pull (MPA) ((A + D)-(B + C)). Each sub-beam detected and reflected from the disk is received by a sub-photo detector divided into two (E1, E2) (F1, F2) in the radial direction, and the sub push-pull ((E1-E2) + (F1) -F2)) is detected. If the main beam and the sub beam are spaced apart by 1/2 track pitch, the phases of the MPP and SPP are reversed.

틸트 또는 대물 렌즈의 래디얼 방향으로의 이동에 따라 MPP나 SPP 모두 같은 방향으로 오프셋 성분이 발생하므로, DPP=MPP-kxSPP(k는 비례 상수)에 따라 연산하면 오프셋 성분이 제거된 푸시풀 신호를 얻게 된다. 또한, MPP로부터 위상이 반대인 SPP를 빼줌으로써, 더 큰 진폭의 푸시풀 신호를 얻을 수 있다.Since both the MPP and the SPP generate offset components in the same direction as the tilt or the objective lens moves in the radial direction, a calculation is performed according to DPP = MPP-kxSPP (k is a proportional constant) to obtain a push-pull signal with the offset component removed. do. In addition, by subtracting the SPP that is out of phase from the MPP, a larger amplitude push-pull signal can be obtained.

일반적으로 DPP 법에서 MPP 신호에 사용되는 메인 빔과 SPP 신호에 사용되는 서브 빔의 광량 비는 1:5:1 내지 1:20:1 정도로 하여, 서브 빔을 메임 빔 대비 1/5 ~ 1/20 정도로 작게 한다. DPP를 구하는 식에서 비례 상수 k를 조절하여(예를 들어, 광량 비가 1:10:1인 경우 5) 오프셋을 제거한다.In general, in the DPP method, the ratio of light quantity between the main beam used for the MPP signal and the sub beam used for the SPP signal is about 1: 5: 1 to 1: 20: 1, so that the sub beam is 1/5 to 1 / Make it as small as 20 In the equation for DPP, the offset is adjusted by adjusting the proportional constant k (for example, 5 when the light ratio is 1: 10: 1).

앞서 설명한 바와 같이, DPP 법을 사용하기 위해서는 grating을 회전시키면서 +/-1 차 회절광인 서브 빔의 각도 조정이 필요한데, 조정 정도에 따라 신호의 특성이 영향을 받게 되는 단점이 있다.As described above, in order to use the DPP method, it is necessary to adjust the angle of the sub-beam, which is +/- 1 order diffracted light while rotating the grating. However, the characteristics of the signal are affected by the degree of adjustment.

즉, 메인 빔이 그루브(또는 랜드)에 있으면 서브 빔은 랜드(또는 그루브)에 있어야 하는데, 디스크의 종류마다 트랙 피치가 다를 수 있으므로 다른 트랙 피치 를 갖는 디스크에는 동시에 적용할 수 없게 된다.That is, if the main beam is in the groove (or land), the sub-beam should be in the land (or groove). Since the track pitch may be different for each type of disc, the sub beam cannot be applied simultaneously to discs having different track pitches.

BD 또는 HD-DVD가 등장하면서, CD, DVD, 및 BD(또는 HD-DVD)를 전부 재생 또는 기록할 수 있는 광 디스크 기록/재생 장치에 대한 요구가 커지고 있다. 하지만, CD, DVD, 및 BD의 기록/재생을 위한 대물 렌즈의 개구수가 차이가 많이 나기 때문에, 하나의 대물 렌즈만으로 세 가지 종류의 디스크를 모두 재생하기는 거의 불가능하다.With the advent of BD or HD-DVD, there is an increasing demand for an optical disc recording / reproducing apparatus capable of playing or recording all CDs, DVDs, and BDs (or HD-DVDs). However, since the numerical aperture of the objective lens for recording / reproducing CD, DVD, and BD varies greatly, it is almost impossible to reproduce all three types of discs with only one objective lens.

이러한 요구를 반영하여, 최근에는 액츄에이터에 2 개의 대물 렌즈, CD/DVD를 위한 대물 렌즈와 BD 또는 HD-DVD를 위한 대물 렌즈가 장착된 광 픽업이 개발되고 있다. 2 개의 대물 렌즈는 디스크의 트랙 방향 또는 내외주 방향으로 배열될 수 있는데, 내외주 방향으로 배열되는 경우 디스크의 최내주에 접근이 쉽지 않기 때문에, 주로 2개의 대물 렌즈가 트랙 방향으로 배열된 광 픽업이 개발되고 있다.In response to this demand, optical pickups have recently been developed in which an actuator is equipped with two objective lenses, an objective lens for CD / DVD, and an objective lens for BD or HD-DVD. The two objective lenses may be arranged in the track direction or the inner and outer circumferential direction of the disc. When arranged in the inner and outer circumferential direction, the optical pickup mainly having two objective lenses arranged in the track direction is difficult because the innermost circumference of the disk is not easy to access. Is being developed.

도 2는 하나의 액츄에이터에 장착된 2개의 대물 렌즈가 트랙 방향으로 배열된 경우 하나의 대물 렌즈가 디스크의 중심 축에서 벗어나 비축 배치된 예를 도시한 것이다.2 shows an example in which one objective lens is stockpiled away from the central axis of the disc when two objective lenses mounted on one actuator are arranged in the track direction.

도 2에서와 같이 2 개의 대물 렌즈가 트랙 방향으로 배열될 경우, 두 대물 렌즈 중 적어도 하나는 내외주를 잇는 축(디스크의 중심을 지나는 축)에서 벗어나게 된다. 디스크의 중심 축에서 벗어나 위치에 놓인 대물 렌즈를 이용하는 광학계에서, DPP 검출을 위한 메인 빔과 서브 빔의 트랙에서의 상대적 위치(서브 빔의 각도)는 광 픽업이 내주에서 외주로 이동하면서 변하게 되어, 서브 빔의 각도 조절이 의미가 없게 된다.When two objective lenses are arranged in the track direction as shown in FIG. 2, at least one of the two objective lenses deviates from the axis connecting the inner and outer circumferences (the axis passing through the center of the disk). In an optical system using an objective lens positioned off the central axis of the disc, the relative position (angle of the sub beam) in the tracks of the main beam and the sub beam for DPP detection changes as the optical pickup moves from the inner circumference to the outer circumference, The angle adjustment of the sub beams becomes meaningless.

한편, 저장 용량을 높이기 위해 둘 이상의 여러 기록 층을 형성한 멀티 레이어(Multi-layer) 구조가 DVD, BD 규격에 채택되었고, 또한 앞으로 개발될 고밀도 디스크의 경우에도 멀티 레이어 구조가 일반화될 것으로 예상된다.Meanwhile, a multi-layer structure in which two or more recording layers are formed to increase storage capacity has been adopted in the DVD and BD standards, and a multi-layer structure is expected to be generalized in the case of high density discs to be developed in the future. .

디스크의 밀도를 올리기 위해 레이저 빔의 파장이 짧아지고 대물 렌즈의 개구수(NA : Numerical Aperture)가 점점 커지고 있다. CD의 경우 780nm, NA=0.45, DVD의 경우 650nm, NA=0.6, BD의 경우 405nm, NA=0.85의 레이저 다이오드와 대물 렌즈가 채용된다.In order to increase the density of the disk, the wavelength of the laser beam is shortened and the numerical aperture (NA) of the objective lens is increasing. The laser diode and the objective lens of 780nm, NA = 0.45 for CD, 650nm for NA, 0.6 = NA, 405nm for BD, NA = 0.85 are adopted.

멀티 레이어 디스크에서 기록 층 사이의 간격은 대략 광 스폿의 초점 심도에 비례하게 결정되는데, 초점 심도는 레이저 빔의 파장에 비례하고 대물 렌즈의 개구수의 제곱에 반비례하므로, 기록 밀도가 올라갈수록 기록 층 사이의 간격도 좁아져야 한다.In multi-layer discs, the spacing between recording layers is determined approximately in proportion to the depth of focus of the light spot, which is proportional to the wavelength of the laser beam and inversely proportional to the square of the numerical aperture of the objective lens. The gap between them should also be narrow.

층 사이의 간격이 좁은 멀티 레이어 디스크에 대한 기록 또는 재생 동작을 수행할 때, 도 3에 도시한 바와 같이, 현재의 기록 층에 인접한 층에서 반사되는 빔, 즉 다른 층의 노이즈 광이 포토 디텍터에 쉽게 유입된다.When performing a recording or reproducing operation for a multi-layer disc having a narrow gap between layers, as shown in FIG. 3, a beam reflected from a layer adjacent to the current recording layer, that is, noise light of another layer, is transferred to the photo detector. It is easily introduced.

다른 층의 노이즈 광은, 메인 빔을 수광하는 메인 포토 디텍터와 서브 빔을 수광하는 서브 포토 디텍터에도 유입되어, 재생 신호 뿐만 아니라 서보 신호에도 영향을 준다. 특히, 상대적으로 광량이 작은 서브 빔을 이용하여 얻는 서보 신호에 더 큰 영향을 준다. 따라서, 도 4에 도시한 바와 같이, 다른 층으로부터의 노이즈 광에 의해 SPP 신호가 심하게 왜곡되고, SPP 신호를 기초로 계산되는 DPP, 즉 트래킹 에러 신호가 열화되는 문제가 발생한다.The noise light of the other layer also flows into the main photo detector for receiving the main beam and the sub photo detector for receiving the sub beam, and affects not only the reproduction signal but also the servo signal. In particular, it has a greater influence on the servo signal obtained by using a sub beam having a relatively small amount of light. Therefore, as shown in FIG. 4, the SPP signal is severely distorted by the noise light from another layer, and a problem arises in that the DPP, that is, the tracking error signal calculated based on the SPP signal, is degraded.

따라서, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 창작된 것으로서, 본 발명의 목적은 멀티 레이어 디스크에서 층간 간섭을 줄여 안정적인 서보 신호를 얻고, 재생 또는 기록 성능을 향상시키는데 있다.Accordingly, the present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to reduce interlayer interference in a multilayer disk to obtain a stable servo signal and to improve playback or recording performance.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 광 픽업은, 소정 파장의 빔을 방출하는 광원; 상기 광원에서 방출되는 빔을 광 저장 매체에 집광하는 대물 렌즈; 상기 광원에서 방출되는 빔 또는 상기 광 저장 매체에서 반사되는 빔을 투과하거나 또는 반사하는 빔 스플리터; 상기 광 저장 매체에서 분기된 상태로 반사되는 빔 중, 제 1 영역을 통과하는 빔의 일부를 회절시키고 상기 제 1 영역 내의 제 2 영역을 통과하는 빔의 일부를 상기 제 1 영역에 의해 회절하는 빔이 맺히는 위치와 다른 위치로 회절시키는 회절 격자; 상기 광 저장 매체에서 반사되는 빔에 비점을 발생시키는 센서 렌즈; 및 상기 회절 격자를 그대로 통과하는 빔을 수광하는 메인 검출 수단과 상기 제 1 영역에 의해 회절하는 빔을 수광하는 2 개의 제 1 서브 검출 수단을 포함하여 구성되는 광 검출 수단을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.Optical pickup according to an embodiment of the present invention for achieving the above object, the light source for emitting a beam of a predetermined wavelength; An objective lens for condensing a beam emitted from the light source on an optical storage medium; A beam splitter that transmits or reflects a beam emitted from the light source or a beam reflected from the optical storage medium; A beam that diffracts a portion of the beam passing through the first region of the beam reflected in the branched state from the optical storage medium and diffracts a portion of the beam passing through the second region in the first region by the first region A diffraction grating diffracted to a position different from this conjunctive position; A sensor lens for generating a boiling point on the beam reflected from the optical storage medium; And a light detecting means including main detecting means for receiving a beam passing through the diffraction grating as it is and two first sub detecting means for receiving a beam diffracted by the first region. It is done.

일 실시예에서, 상기 제 1 서브 검출 수단은, 기록 또는 재생이 진행 중인 광 저장 매체의 현재 층이 아닌 다른 층에서 반사되는 빔 중에서 상기 회절 격자를 그대로 통과하는 빔의 유효 반경 밖에 위치하는 것을 특징으로 한다.In one embodiment, the first sub-detection means is located outside the effective radius of the beam passing through the diffraction grating as it is from a beam reflected from a layer other than the current layer of the optical storage medium in which recording or reproduction is in progress. It is done.

또한, 일 실시예에서, 상기 제 2 영역은, 상기 다른 층에서 반사되어 상기 제 1 영역에 의해 회절하는 빔 중에서 상기 제 1 서브 검출 수단에 맺히게 될 빔이 상기 회절 격자를 통과하는 영역에 대응하는 것을 특징으로 한다.Further, in one embodiment, the second region corresponds to a region where the beam to be reflected on the first sub-detection means of the beam reflected by the other layer and diffracted by the first region passes through the diffraction grating. It is characterized by.

또한, 일 실시예에서, 상기 제 1 영역은, 상기 광 저장 매체에서 반사되는 빔 중에서 상기 광 저장 매체에 의해 회절하는 빔이 상기 회절 격자를 통과하는 영역을 포함하지 않는 것을 특징으로 한다.Further, in one embodiment, the first region is characterized in that the beam diffracted by the optical storage medium does not include a region passing through the diffraction grating among the beams reflected from the optical storage medium.

이때, 상기 제 1 영역은, 상기 광 저장 매체에서 반사되는 빔 중에서 상기 광 저장 매체에 의해 회절하는 빔이 상기 회절 격자를 통과하는 영역을 경계로 하는 직사각형 모양일 수 있다. 또한, 상기 회절 격자는 상기 제 1 영역과 제 2 영역을 제외한 영역에 제 3 영역을 포함하고, 상기 제 3 영역을 통과한 빔의 일부가 회절하여 상기 메인 검출 수단과 제 1 서브 검출 수단에 맺히지 않도록 상기 제 3 영역의 격자 패턴이 형성되는 것을 특징으로 한다.In this case, the first region may have a rectangular shape bordering an area where a beam diffracted by the optical storage medium passes through the diffraction grating among the beams reflected by the optical storage medium. In addition, the diffraction grating includes a third region in a region other than the first region and the second region, and a part of the beam passing through the third region is diffracted to form the main detection means and the first sub detection means. The lattice pattern of the third region is formed so as not to.

또한, 일 실시예에서, 상기 광 픽업은, 종래의 DPP 검출을 위한 제 2 검출 수단을 더 포함할 수 있는데, 상기 제 1 서브 검출 수단과 메인 검출 수단 사이의 거리는 상기 제 2 서브 검출 수단과 메인 검출 수단 사이의 거리보다 5배 이상 먼 것을 특징으로 한다.Further, in one embodiment, the optical pickup may further comprise second detection means for conventional DPP detection, wherein the distance between the first sub detection means and the main detection means is equal to the second sub detection means and the main detection means. It is characterized by being at least five times farther than the distance between the detection means.

또한, 일 실시예에서, 트래킹 에러 신호는 Mpp-k(Spp1+Spp2)에 의해 검출되고, k는 상기 대물 렌즈의 래디얼 시프트에 따른 Mpp의 오프셋 변화와 Spp1과 Spp2의 오프셋 변화를 이용하여 계산되는 것을 특징으로 한다.Further, in one embodiment, the tracking error signal is detected by Mpp-k (Spp1 + Spp2), where k is calculated using the offset change of Mpp and the offset change of Spp1 and Spp2 according to the radial shift of the objective lens. It is characterized by.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 대해 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

3 beam을 사용하는 DPP의 경우 서브 빔이 메인 빔에 비해 1/2 트랙 피치만큼 벗어난 상태로 디스크에 맺힌다. 대물 렌즈가 디스크의 중심 축에 위치하는 일반적인 경우에는 내외주에 상관 없이 메인 빔과 서브 빔의 상대적인 위치가 변함이 없다.In the case of DPP using 3 beams, the sub beams are formed on the disc with a half track pitch deviating from the main beams. In the general case where the objective lens is located on the center axis of the disc, the relative position of the main beam and the sub beam does not change regardless of the inner and outer circumferences.

하지만, 대물 렌즈가 디스크의 중심 축에서 벗어난 상태로 동작하는 비축 배치의 경우, 내외주에 따라 트랙에서 메인 빔과 서브 빔의 상대적인 위치가 달라지게 된다. 이러한 경우, 도 5에 도시한 바와 같이, 디스크의 기록/미기록 경계에서 DPP 신호의 오프셋이 크게 되고, 오프셋이 발생하는 구간의 길이가 늘어나는 문제가 발생한다.However, in the case of the non-axis arrangement in which the objective lens operates off the center axis of the disc, relative positions of the main beam and the sub beam in the track vary according to the inner and outer circumferences. In this case, as shown in FIG. 5, the offset of the DPP signal increases at the recorded / unrecorded boundary of the disk, and the length of the section in which the offset occurs increases.

기록/미기록 영역의 차이는 반사율의 차이로 나타나는데, 3 beam을 이용하는 DPP 법에서 대물 렌즈가 기록/미기록 영역을 주행할 경우 각 영역에서 DPP 신호의 레벨 차이가 나타난다.The difference between the recorded and unrecorded areas is represented by the difference in reflectance. When the objective lens travels through the recorded and unrecorded areas in the DPP method using 3 beams, the level difference of the DPP signal appears in each area.

이러한 기록/미기록 경계에서 DPP 신호의 오프셋은 3 beam을 사용할 경우에 기록/미기록 영역에 진입하는 시간 차에 의해 발생한다. 이러한 문제를 해결하기 위해, 디스크에는 하나의 빔만을 입사시키고, 소정의 회절 격자가 디스크의 트랙 구조에 의해 반사되어 분기되는 빔으로부터 메인 빔과 서브 빔을 생성하고, 상기 서브 빔을 이용하여 메인 빔의 푸시풀 신호에서 오프셋을 제거하는 방법, 일명 1 beam DPP 법이 본 발명의 출원인에 의해 다른 출원에서 제안되었는데, 이에 대해 설명한다.The offset of the DPP signal at this recorded / unrecorded boundary is caused by the time difference entering the recorded / unrecorded area when using 3 beams. In order to solve this problem, only one beam is incident on the disk, and a main diffraction grating generates a main beam and a sub beam from a beam reflected and branched by the track structure of the disk, and the main beam is used by using the sub beam. A method for removing an offset from a push-pull signal of A, a 1 beam DPP method has been proposed in another application by the applicant of the present invention, it will be described.

DPP에서 서브 빔을 사용하는 주된 목적은 대물 렌즈의 래디얼 시프트 등에 의해 메인 빔에 발생하는 오프셋을 제거하기 위한 것으로, 서브 빔의 푸시풀 신호에 발생하는 ac 성분에 의한 DPP 신호 레벨의 증가는 부차적인 효과이다.The main purpose of using a sub beam in DPP is to remove offsets generated in the main beam by radial shift of an objective lens, and the increase of the level of the DPP signal due to the ac component generated in the push-pull signal of the sub beam is secondary. Effect.

본 발명의 출원인이 제안한 방법에서, 디스크의 트랙 구조(트랙의 랜드/그루브가 회절 격자 역할을 하여)에 의해 반사되어 분기되는 빔은 회절 격자를 그대로 통과하여 메인 빔이 되고, 회절 격자 내의 소정 모양의 패턴에 의해 회절된 빔은 서브 빔이 된다.In the method proposed by the applicant of the present invention, the beam reflected and branched by the track structure of the disc (land / groove of the track serves as a diffraction grating) is passed through the diffraction grating as it is to become a main beam, and a predetermined shape in the diffraction grating. The beam diffracted by the pattern of becomes a sub beam.

회절 격자를 그대로 통과한 메인 빔은 디스크에 맺히는 빔의 트랙에서의 위치를 반영하는 ac 성분과 대물 렌즈의 래디얼 시프트를 반영하는 dc 성분을 모두 포함하므로, 메인 빔의 푸시풀 신호에는 ac 성분과 dc 성분이 모두 나타난다.The main beam that passes through the diffraction grating as it contains both the ac component reflecting the position of the beam on the disk and the dc component reflecting the radial shift of the objective lens. All ingredients appear.

상기 회절 격자 내의 패턴은 디스크의 트랙 구조에 의해 반사되어 분기되는 빔 중에서 상기 ac 성분에 해당하는 빔을 제외하고 상기 dc 성분(오프셋)에 해당하는 빔만을 회절시키도록 하는 모양을 갖는다. 따라서, 상기 패턴에 의해 회절되어 생성되는 서브 빔의 푸시풀 신호에는 dc 성분만이 나타난다.The pattern in the diffraction grating is shaped to diffract only the beam corresponding to the dc component (offset) except for the beam corresponding to the ac component among the beams reflected and branched by the track structure of the disk. Therefore, only the dc component appears in the push-pull signal of the sub-beam diffracted and generated by the pattern.

따라서, 서브 빔의 푸시풀 신호를 이용하여 회절 격자를 그대로 통과하는 메인 빔의 푸시풀 신호에 나타나는 대물 렌즈의 래디얼 시프트에 해당하는 오프셋을 효과적으로 제거할 수 있다.Therefore, the offset corresponding to the radial shift of the objective lens appearing in the push-pull signal of the main beam passing through the diffraction grating as it is, can be effectively removed using the push-pull signal of the sub-beam.

도 6은 상기 방법이 적용되는 광 픽업의 구성을 도시한 것이다.6 shows a configuration of an optical pickup to which the method is applied.

도 6의 광 픽업(100)은, 광원(110), 콜리메이터 렌즈(Collimator lens)(120), 빔 스플리터(Beam Splitter)(130), 회절 격자(140), 1/4 파장판(QWP : Quarter Wave Plate)(150), 대물 렌즈(160), 센서(Sensor) 렌즈(170), 및 광 검출 수단(180)을 포함하여 구성된다. 대물 렌즈(160)의 초점이 맺히는 쪽에 디스크가 장착된다.The optical pickup 100 of FIG. 6 includes a light source 110, a collimator lens 120, a beam splitter 130, a diffraction grating 140, and a quarter wave plate (QWP). Wave plate 150, the objective lens 160, the sensor (Sensor) lens 170, and the light detecting means 180 is configured to include. The disk is mounted on the side where the objective lens 160 is focused.

광원(110)은 레이저 빔을 방출하고, 콜리메이터 렌즈(120)는 광원에서 방출되는 빔을 평행 광으로 변환한다. 광 분기 수단인 빔 스플리터(130)는 콜리메이터 렌즈(120)로부터 입사되는 빔의 편광 방향에 따라 입사 빔을 회절 격자로 투과시키고, 디스크로부터 반사되는 빔을 센서 렌즈(170)로 반사시킨다.The light source 110 emits a laser beam, and the collimator lens 120 converts the beam emitted from the light source into parallel light. The beam splitter 130, which is an optical splitter, transmits the incident beam to the diffraction grating according to the polarization direction of the beam incident from the collimator lens 120, and reflects the beam reflected from the disk to the sensor lens 170.

빔의 편광을 회전시키는 1/4 파장판(150)은, 광원(110)에서 방출되는 직선 편광의 빔, 예를 들어 p 편광의 빔을 원형 편광의 빔으로 변환시키고, 또한 디스크에서 다른 원형 편광으로 반사되는 빔을 다른 직선 편광의 빔, 예를 들어 s 편광의 빔으로 변환시킨다.The quarter wave plate 150, which rotates the polarization of the beam, converts a beam of linearly polarized light emitted from the light source 110, for example, a beam of p-polarized light into a beam of circularly polarized light, and also another circularly polarized light on the disk. Is converted into another linearly polarized beam, for example a beam of s polarized light.

대물렌즈(160)를 통해 디스크에 집속되는 빔은 랜드/그루브 구조를 가지는 디스크에 의해 반사 및 회절되어 0차 빔과 +1차 빔이 되어 다시 대물렌즈(160)로 향하게 된다. 디스크에서 반사된 원형 편광의 빔은 대물렌즈(160)를 통하여 평행 빔으로 전환되고, 1/4 파장판(150)을 경유하면서 직선 편광으로 변한다. 센서 렌즈(160)는 디스크에서 반사되어 빔 스플리터(130)에서 경로가 바뀌면서 입사되는 빔에 대하여 비점을 발생시켜 광 검출 수단(180)으로 전달한다.The beam focused on the disk through the objective lens 160 is reflected and diffracted by the disk having a land / groove structure to become a zeroth order beam and a + 1st order beam, and then directed to the objective lens 160. The beam of circularly polarized light reflected from the disk is converted into a parallel beam through the objective lens 160 and is converted into linearly polarized light while passing through the quarter wave plate 150. The sensor lens 160 reflects off the disk and generates a boiling point for the incident beam as the path is changed in the beam splitter 130 and transmits the boiling point to the light detecting means 180.

회절 격자(140)는, 디스크에 반사되어 분기되면서 생성되는 회절 빔들의 원 형 패턴에서 ㅁ1차 빔의 원형 패턴 영역과 0차 빔의 원형 패턴이 중첩되는 영역이 광 검출 수단(180)의 서브 빔에 대한 PD 셀에 수광되지 않도록 격자 패턴이 형성된다.The diffraction grating 140 is a sub-pattern of the light detecting means 180 in the circular pattern region of the first-order beam and the circular pattern of the zero-order beam in the circular pattern of the diffraction beams generated while being reflected and branched to the disk. The grating pattern is formed so that it is not received by the PD cell for the beam.

즉, 디스크에서 반사되어 분기되는 빔은 회절 격자(140)를 통해 메인 빔과 서브 빔이 되는데, 회절 격자(140)를 그대로 통과한 메인 빔은 광 검출 수단(180), 즉 수광 소자의 메인 셀(Main cell)에 수광되어 MPP 신호가 되고, 회절 격자(140) 내의 소정 모양의 패턴에 의해 회절되어 생성되는 2개의 서브 빔은 광 검출 수단(180)의 서브 셀에 수광되어 제 1 SPP 신호와 제 2 SPP 신호가 된다.That is, the beam reflected and branched from the disk becomes a main beam and a sub beam through the diffraction grating 140. The main beam passing through the diffraction grating 140 as it is is the light detecting means 180, that is, the main cell of the light receiving element. Two sub-beams received by the main cell to form an MPP signal and diffracted by a pattern of a predetermined shape in the diffraction grating 140 are received by the sub-cells of the light detecting means 180 to be connected to the first SPP signal. It becomes a 2nd SPP signal.

MPP 신호와 SPP 신호의 검출을 위해, 상기 광 검출 수단(180)의 메인 셀은 래디얼 방향과 탄젠셜 방향에 대응하는 방향으로 각각 적어도 2 분할되어 있고, 상기 광 검출 수단(180)의 서브 셀은 래디얼 방향에 대응하는 방향으로 적어도 2 분할된다.In order to detect the MPP signal and the SPP signal, the main cell of the light detecting means 180 is divided into at least two parts in a direction corresponding to the radial direction and the tangential direction, and the subcells of the light detecting means 180 are At least two divisions are made in a direction corresponding to the radial direction.

도 7은 기록용 디스크에 입사하는 빔이 분기되는 형태를 예시적으로 도시한 것이다.7 exemplarily shows a form in which a beam incident on a recording disk is branched.

대물 렌즈를 통과해 기록용 디스크에 입사되는 빔을 대물 렌즈의 초점 거리에서 바라보면, 도 7에 도시한 바와 같이 +1차 빔, 0차 빔, -1차 빔으로 나뉘어진다. 이는 소정의 트랙 피치(TP)를 갖는 기록용 디스크의 트랙(랜드/그루브) 구조에 의한 것으로, 기록용 디스크의 랜드와 그루브는 단면이 요철 모양을 형성하여 회절 격자와 같은 효과를 일으키기 때문이다.When the beam incident through the objective lens and incident on the recording disk is viewed at the focal length of the objective lens, as shown in FIG. 7, the beam is divided into a + 1st order beam, a 0th order beam, and a -1st order beam. This is due to the track (land / groove) structure of the recording disc having a predetermined track pitch TP, which is because lands and grooves of the recording disc have an irregular shape in cross section, which produces an effect such as a diffraction grating.

디스크에서 반사되어 분기되는 0차 빔(b2), +1차 빔(b1), -1차 빔(b3)은 원형 패턴을 이루어 대물 렌즈로 향하는데, 상기 빔들이 이루는 원형 패턴의 크기는 대물 렌즈의 EPD(Entrance Pupil Diameter)와 동일한 값을 갖는다. 대물 렌즈의 초점을 f, 개구수를 NA라고 하면, EPD는 2xfxNA이다.The 0th order beam (b2), the + 1st order beam (b1), and the -1st order beam (b3) reflected and branched from the disk form a circular pattern and directed to the objective lens, and the size of the circular pattern formed by the beams is the objective lens. It has the same value as the EPD (Entrance Pupil Diameter). If the objective lens is focused f and the numerical aperture is NA, the EPD is 2xfxNA.

또한, +1차 빔(b1)과 -1차 빔(b3)은 도 7에서와 같이 좌우로 이동하는데, 이동량은 디스크의 트랙 피치를 Tp, 레이저 빔의 파장을 λ라고 했을 경우 fxλxTp가 된다.Further, the + 1st order beam b1 and the -1st order beam b3 move left and right as shown in FIG. 7, and the amount of movement becomes fxλxTp when the track pitch of the disk is Tp and the wavelength of the laser beam is λ.

가운데 0차 빔의 원형 패턴(P2)은 디스크의 트랙 구조에 의해 좌우로 이동하는 +1차 빔에 의한 원형 패턴(P1)과 -1차 빔에 의한 원형 패턴(P3)과 일부분이 겹쳐서 도 8에서와 같은 패턴을 형성하는데, 야구 공의 모양을 닮았다고 하여 베이스볼 패턴이라 한다.The circular pattern P2 of the center 0th order beam is partially overlapped with the circular pattern P1 by the + 1st order beam moving left and right by the track structure of the disk and the circular pattern P3 by the -1st order beam. It forms the same pattern as the one, which is called the baseball pattern because it resembles the shape of a baseball.

이때, 디스크 종류에 따라 원형 패턴(P1, P2, P3)의 크기, 겹치는 정도가 상이한데, BD나 DVD-RW의 경우 상기 이동량이 크기 때문에 겹치는 정도가 상대적으로 작아 도 8과 같은 패턴이 형성된다. 푸시풀 신호(3 빔 DPP의 경우 MPP와 SPP 신호)에서 ac 성분은 도 8의 베이스볼 패턴에서 0차 빔과 +/- 1차 빔이 겹치는 부분에 의해 발생한다.At this time, the size and the degree of overlap of the circular patterns (P1, P2, P3) are different depending on the type of disc. In the case of BD or DVD-RW, the overlapping degree is relatively small because of the large amount of movement. . In the push-pull signal (MPP and SPP signal in the case of 3-beam DPP), the ac component is generated by the overlapping portion of the 0th order beam and the +/- 1st order beam in the baseball pattern of FIG.

도 9는 디스크에서 반사되어 분기되는 빔으로부터 ac 성분이 제거된 서브 빔을 얻는 원리를 개략적으로 설명한 것이다.9 schematically illustrates the principle of obtaining a sub beam from which an ac component has been removed from a beam reflected and branched from a disk.

디스크에 입사되는 빔은 디스크 트랙 구조에 의해 3개의 빔으로 회절하는데, 상기 회절하는 3개의 빔 중 중앙의 빔은 0차 빔, 상기 0차 빔을 기준으로 좌우에 형성되는 빔은 +/-1차 빔으로 정의된다. 상기 디스크에 입사되는 빔으로부터 분리 되어 형성되는 3개의 빔(0차 빔과 +/-1차 빔)은 일부 영역(P7)이 서로 겹쳐서 도 8과 같은 베이스볼 패턴을 형성한다.The beam incident on the disk is diffracted into three beams by the disk track structure, wherein the center beam of the three diffracted beams is the 0th order beam, and the beams formed at the left and right sides of the 0th order beam are +/- 1. Is defined as the secondary beam. The three beams (0th order beam and +/- 1st order beam) formed separately from the beam incident on the disk form a baseball pattern as shown in FIG. 8 by overlapping some regions P7.

이때, 도 9에서 일 실시예로 도시된 회절 격자는, 베이스볼 패턴에서 0차 빔과 +/-1차 빔이 겹치는 부분을 제외한 0차 빔(P5)만을 회절시켜 서브 빔을 위한 포토 디텍터에 수광되도록 하고, 0차 빔과 +/-1차 빔이 겹치는 부분을 포함하여 +/-1차 빔(P4, P6, P7)은 상기 서브 빔을 위한 포토 디텍터에 수광되지 않도록, 그 패턴이 설계된다.In this case, the diffraction grating illustrated as an embodiment in FIG. 9 diffracts only the 0th order beam P5 except for the portion where the 0th order beam and the +/- 1st order beam overlap in the baseball pattern, and receives the photodetector for the subbeam. And the pattern is designed such that the +/- 1st beams P4, P6, P7, including the portion where the 0th and +/- 1st beams overlap, are not received by the photo detector for the subbeam. .

하지만, 회절 격자를 그대로 통과한 메인 빔은 회절 격자의 패턴에 상관 없이 베이스볼 패턴을 그대로 반영하여, 메인 빔의 푸시풀 신호(MPP)에는 ac 성분과 dc 성분(오프셋)이 모두 나타난다.However, the main beam passing through the diffraction grating as it is reflects the baseball pattern regardless of the pattern of the diffraction grating, so that both the ac component and the dc component (offset) appear in the push-pull signal (MPP) of the main beam.

베이스볼 패턴에서 0차 빔과 +/-1차 빔이 겹치는 부분을 제외한 0차 빔(P5)은 회절 격자의 빗금친 영역의 패턴에 의해 회절하여 서브 빔을 위한 포토 디텍터에 수광되므로, 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP)에는 ac 성분이 나타나지 않고, 메인 빔의 오프셋만 나타난다.Since the 0th order beam P5 except for the portion where the 0th order beam and the +/- 1st order beam overlap in the baseball pattern is diffracted by the pattern of the hatched area of the diffraction grating, it is received by the photo detector for the subbeam. The ac component does not appear in the push-pull signal SPP, but only the offset of the main beam.

이에, 메인 빔의 푸시풀 신호(MPP)에서 ac가 제거된 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP)를 빼줌으로써, 3 빔을 디스크에 맺히는 3 beam을 사용하지 않고서도 오프셋이 제거된 트래킹 에러 신호를 얻을 수 있다.Accordingly, by subtracting the push-pull signal SPP of the sub-beam from which ac has been removed from the push-pull signal MPP of the main beam, the tracking error signal having the offset removed without using the three-beams connecting the three-beams to the disk can be obtained. You can get it.

도 10은 ac 성분이 제거된 서브 빔을 얻기 위한 회절 격자의 여러 실시예를 도시한 것으로, 회절 격자는 다양한 형태의 패턴으로 형성될 수 있다.10 illustrates various embodiments of a diffraction grating for obtaining a sub beam from which an ac component has been removed. The diffraction grating may be formed in various patterns.

앞서 설명한 바와 같이, 도 10의 회절 격자를 그대로 통과한 메인 빔은 베이 스볼 패턴을 모두 반영하여 MPP에 ac 성분과 오프셋이 모두 나타난다. 하지만, 디스크에서 반사되어 분기되는 빔은 회절 격자의 사용 영역에 해당하는 제 1 패턴(A1, A3, A5)에 의해 일부 영역만 회절되어 서브 빔을 형성한다.As described above, the main beam passing through the diffraction grating of FIG. 10 as it is reflects all of the bassball pattern, and both the ac component and the offset appear in the MPP. However, the beam reflected and branched from the disk is only partially diffracted by the first patterns A1, A3, and A5 corresponding to the use region of the diffraction grating to form a sub beam.

도 10(a)의 회절 격자는, X축을 내외주 방향(radial)으로 하고 Y축을 트랙 방향(tangential)으로 할 때, 수직으로 세워진 장구("I"자) 형태로 형성된 제 1 패턴(A1)과 제 1 패턴을 제외한 나머지 영역에 형성된 제 2 패턴(A2)을 포함한다.The diffraction grating of FIG. 10 (a) has a first pattern A1 formed in the form of vertically oriented gears ("I") when the X axis is radial and the Y axis is tangential. And a second pattern A2 formed in the remaining areas except for the first pattern.

제 1 패턴(A1)은 ㅁ1차 빔(b1, b3)의 원형 패턴 영역(P1, P3) 및 0차 빔(b2)의 원형 패턴 영역(P2)과 ㅁ1차 빔(b1, b3)의 원형 패턴 영역(P1, P3)이 중첩되는 영역(P7)을 제외한 영역(P5)에 형성된다.The first pattern A1 is formed of the circular pattern regions P1 and P3 of the first-order beams b1 and b3 and the circular pattern region P2 of the zero-order beam b2 and the first-order beams b1 and b3. The circular pattern regions P1 and P3 are formed in the region P5 except for the overlapping region P7.

또한, 제 1 패턴(A1)의 상측/하측 끝단(중간 원형 오목부를 제외한 사각형 부분)은 ㅁ1차 빔(b1, b3)의 원형 패턴 영역(P4, P6)을 침범하지 않는 한도 내에서 회절 격자의 양측면까지 연장되는 형태를 가질 수 있다.In addition, the upper / lower end of the first pattern A1 (the rectangular portion except for the middle circular recessed portion) has a diffraction grating within the extent that it does not involve the circular pattern regions P4 and P6 of the primary beams b1 and b3. It may have a form extending to both sides of the.

도 10(b)의 회절 격자는, 중앙부에 상하로 긴 직사각형의 제 1 패턴(A3)과 제 1 패턴(A3)의 양쪽에 형성된 제 2 패턴(A4)을 포함하여 이루어진다. 여기서, 제 1 패턴(A3)의 위치 및 폭이 중요한 요소인데, 제 1 패턴(A3)은 ㅁ1차 빔(b1, b3)의 원형 패턴(P1, P3)이 포함되지 않도록 하는 직사각형 형태이다. 즉, 0차 빔의 원형 패턴(P2) 내에 놓인, ㅁ1차 빔의 원형 패턴(P1, P3)의 끝과 접하도록, 제 1 패턴(A3)의 x 방향의 위치와 폭이 결정되는 것이 바람직하다.The diffraction grating of FIG. 10 (b) includes a first pattern A3 having a vertically long rectangular shape and a second pattern A4 formed on both of the first patterns A3 in the center portion. Here, the position and width of the first pattern (A3) is an important factor, the first pattern (A3) is a rectangular shape so that the circular pattern (P1, P3) of the first beam (b1, b3) is not included. That is, it is preferable that the position and width of the first pattern A3 in the x-direction are determined so as to contact the ends of the circular patterns P1 and P3 of the first-order beam lying in the circular pattern P2 of the zero-order beam. Do.

도 10(c)의 회절 격자는, 중앙부에 좌우로 긴 직 사각형의 제 1 패턴(A5)과 제 1 패턴(A5)의 상하에 형성된 제 2 패턴(A6)을 포함하여 이루어진다. 여기서, 0 차 빔(b2)의 원형 패턴(P2)과 ㅁ1차 빔(b1, b3)의 원형 패턴(P1, P3)의 경계가 만나는 4 점 중 위쪽 2 점과 아래쪽 2 점을 각각 연결한 선에 의해 제 1 패턴(A5)의 y 방향의 위치와 폭이 결정되는 것이 바람직하다.The diffraction grating of FIG. 10 (c) includes a first rectangular pattern A5 long in the center and a second pattern A6 formed above and below the first pattern A5. Here, among the four points where the boundary between the circular pattern P2 of the zeroth order beam b2 and the circular patterns P1 and P3 of the first order beams b1 and b3 meet, It is preferable that the position and width | variety of the y direction of 1st pattern A5 are determined by a line.

도 11은 도 10의 회절 격자에 의해 서브 빔의 푸시풀(SPP) 신호에 dc 성분만 남고 ac 성분이 제거된 결과를 도시한 것으로, 회절 격자에 의해 메인 빔의 푸시풀(MPP) 신호는 영향을 거의 받지 않은 반면, 서브 빔의 푸시풀(SPP) 신호의 ac 성분은 제거된 결과를 도 11을 통해 확인할 수 있다.FIG. 11 shows the result of removing only the dc component and the ac component from the sub-pump push-pull signal of the sub-beam by the diffraction grating of FIG. 10. FIG. On the other hand, the ac component of the push-pull (SPP) signal of the sub-beam can be confirmed through FIG. 11.

여기서, SPP 신호의 dc 레벨(오프셋)은, 대물 렌즈의 이동량, 즉 대물 렌즈가 액츄에이터의 중심에서 내외주 방향으로의 이동을 가리키는 래디얼 시프트(Radial Shift) 양과 밀접한 관련이 있다.Here, the dc level (offset) of the SPP signal is closely related to the amount of movement of the objective lens, that is, the amount of radial shift indicating the movement of the objective lens from the center of the actuator to the inner and outer circumferential directions.

일반적으로 MPP 신호와 SPP 신호의 오프셋(dc 레벨)은 대물 렌즈의 래디얼 시프트 양이 증가할수록 어느 정도 비례하여 커지므로, 푸시풀 신호의 오프셋은 대물 렌즈의 래디얼 시프트 양에 비례하는 선형적인 성질을 갖는다고 할 수 있다.In general, since the offset (dc level) of the MPP signal and the SPP signal increases in proportion to the amount of radial shift of the objective lens, the offset of the push-pull signal is linear in proportion to the amount of radial shift of the objective lens. I can do it.

따라서, DPP=MPP-kx(SPP1+SPP2)에서, 대물 렌즈의 래디얼 시프트 양 대비 MPP 신호의 dc 레벨의 기울기를 a, 대물 렌즈의 래디얼 시프트 양 대비 SPP 신호의 dc 레벨의 기울기를 b라 할 때, 비례 상수 k=1/2b로 하여, 대물 렌즈의 이동에 따라 발생하는 MPP 신호의 오프셋을 제거할 수 있게 된다.Therefore, at DPP = MPP-kx (SPP1 + SPP2), when the slope of the dc level of the MPP signal with respect to the radial shift amount of the objective lens is a, and the slope of the dc level of the SPP signal with respect to the radial shift amount of the objective lens is b. By setting the proportional constant k = 1 / 2b, the offset of the MPP signal generated by the movement of the objective lens can be eliminated.

도 12는 층간 간섭을 제거하기 위한 본 발명에 따른 회절 격자와 PD에서의 빔의 분포를 도시한 것이다. 본 발명에 따른 도 12(a)의 회절 격자는 도 6의 광 픽업의 회절 격자(140)에 적용될 수 있다.12 shows the distribution of beams in a diffraction grating and PD in accordance with the present invention for removing interlayer interference. The diffraction grating of FIG. 12A according to the present invention can be applied to the diffraction grating 140 of the optical pickup of FIG. 6.

회절 격자의 패턴에서 위상 관리 영역(A11, A13)의 grating 방향(격자 방향)을 사용 영역(A12)의 것과 90도가 되도록 한 경우에 대한 예이다. 도 12에서, A12는 수평 방향으로 grating이 형성되어 있고, A11과 A13은 수직 방향으로 grating이 형성되어 있다. 따라서, A12에 의해 회절되는 +/-1차 빔은 0차 빔의 위와 아래에 배열되고, A11과 A13에 의해 회절되는 +/-1차 빔은 0차 빔의 왼쪽과 오른쪽에 배열된다.The grating direction (lattice direction) of the phase management areas A11 and A13 in the pattern of the diffraction grating is set to 90 degrees with that of the use area A12. In FIG. 12, grating is formed in the horizontal direction in A12, and grating is formed in the vertical direction in A11 and A13. Thus, the +/- 1st beam diffracted by A12 is arranged above and below the 0th order beam, and the +/- 1st beam diffracted by A11 and A13 is arranged to the left and right of the 0th order beam.

도 12(a)의 회절 격자는, A13 패턴이 A12 패턴 내에 형성되어 있는 것을 제외하고는, 10(b)의 회절 격자와 유사하다. 도 9와 10을 참조로 설명한 바와 같이, A11(도 10(b)의 A4)과 A12(도 10(b)의 A3)는, 1 빔 DPP 법에서 메인 빔의 오프셋(대물 렌즈의 래디얼 시프트에 해당하는)을 제거하기 위한 서브 빔을 생성하도록 하는 패턴의 조합인데, 서브 빔에 ac 성분이 포함되지 않도록 설계된다.The diffraction grating of FIG. 12 (a) is similar to the diffraction grating of 10 (b) except that the A13 pattern is formed in the A12 pattern. As described with reference to Figs. 9 and 10, A11 (A4 in Fig. 10 (b)) and A12 (A3 in Fig. 10 (b)) are offset by the main beam offset (radial shift of the objective lens) in the one-beam DPP method. Is a combination of patterns to generate a sub-beam to remove), which is designed such that no ac component is included in the sub-beam.

이를 위해, A12 패턴은, 디스크에서 반사될 때 발생하는 3개의 빔(0차 빔과 +/-1차 빔)이 형성하는 베이스볼 패턴에서 ㅁ1차 빔(b1, b3)의 원형 패턴(P1, P3)이 서브 빔에 포함되지 않도록, 직사각형 모양으로 구성된다. A12 패턴에 의해 회절되는 서브 빔은 서브 빔을 수광하기 위한 서브 빔용 PD(수광 소자의 서브 셀)에 맺히게 된다To this end, the A12 pattern is a circular pattern P1 of the primary beams b1 and b3 in the baseball pattern formed by three beams (zeroth order beam and +/- 1st order beam) generated when reflected from the disk. It is configured in a rectangular shape so that P3) is not included in the sub beam. The sub-beam diffracted by the A12 pattern is formed on the sub-beam PD (sub-cell of the light receiving element) for receiving the sub-beam.

물론, 도 12(a)의 회절 격자를 그대로 통과하는 메인 빔은, 메인 빔을 수광하기 위한 메인 빔용 PD(수광 소자의 메인 셀)에 맺히어, RF 신호, 포커스 신호, 및 푸시풀 신호에 이용된다. 메인 빔과 서브 빔은 A12 패턴의 외곽 모양, A12 패 턴을 형성하는 골과 마루의 형상 등에 의해 그 광량에 차이가 난다.Of course, the main beam passing through the diffraction grating of FIG. 12A as it is is connected to the main beam PD (main cell of the light receiving element) for receiving the main beam, and used for the RF signal, the focus signal, and the push-pull signal. do. The main and sub beams differ in the amount of light due to the outer shape of the A12 pattern and the shape of the valleys and floors forming the A12 pattern.

기록 또는 재생이 진행 중인 현재 층이 아닌 다른 층에서 반사되는 빔은, 도 12(a)의 회절 격자를 그대로 통과하여 메인 빔용 PD에 맺히고, 또한 도 12(a)의 A12 패턴에 의해 회절하여 상기 서브 빔용 PD에도 맺힌다. 다른 층에서 반사되는 빔은 상대적으로 광량이 작은 서브 빔에 더 영향을 주어, 서브 빔을 이용하는 트래킹 에러 신호에 큰 영향을 준다.The beam reflected from a layer other than the current layer in which recording or reproduction is in progress passes through the diffraction grating of FIG. 12A as it is, and forms a beam on the PD for the main beam, and is diffracted by the A12 pattern of FIG. Also attached to the PD for a sub beam. Beams reflected from other layers further influence the sub-beams with a relatively small amount of light, which greatly affects the tracking error signal using the sub-beams.

본 발명에서는, 서브 빔용 PD에 다른 층에서 반사되는 빔이 들어가지 않도록 하여 층간 간섭에 의해 트래킹 에러 신호가 열화되지 않도록 한다. 트래킹 에러 신호를 열화시키는 첫 번째 경우는 층간 간 12(a)의 회절 격자를 그대로 통과하는 다른 층의 빔이 서브 빔용 PD에 입사하는 것이고, 두 번째 경우는 도 12(a)의 A12에 의해 회절하는 다른 층의 빔이 서브 빔용 PD에 입사하는 것이다.In the present invention, the beam reflected by the other layer does not enter the sub-beam PD so that the tracking error signal is not degraded by interlayer interference. In the first case of deteriorating the tracking error signal, the beam of another layer passing through the interlayer interlayer diffraction grating as it is is incident on the PD for sub-beam, and in the second case diffraction by A12 in FIG. 12 (a). The beam of another layer is incident on the PD for sub-beams.

첫 번째 경우의 문제를 해결하기 위한 방법으로, 본 발명은, A12에 의해 회절하는 현재 층의 서브 빔이 12(a)의 회절 격자를 그대로 통과하는 다른 층의 빔의 유효 반경 밖에 위치하도록, A12의 요철 모양(회절 각도를 결정)과 서브 빔용 PD의 위치를 조절한다.As a way to solve the problem of the first case, the present invention provides that the subbeam of the current layer diffracted by A12 is located outside the effective radius of the beam of the other layer passing through the diffraction grating of 12 (a) as it is. Adjust the concave-convex shape (determining the diffraction angle) and the position of the PD for the sub beam.

이를 위해, 도 13과 같이, 서브 빔용 PD를 종래의 DPP의 서브 빔을 검출하기 위한 PD보다 멀리 배치한다. 즉, 메인 빔용 PD 셀과 서브 빔용 PD 셀의 거리를 크게 한다. 예를 들어, 본 발명에 따른 서브 빔용 PD 셀과 메인 빔용 PD 셀과의 거리 D를 종래의 DPP의 서브 빔용 PD 셀과 메인 빔용 PD 셀과의 거리 d의의 5배 이상으로 한다. 종래의 DPP 검출과 본 발명에 의한 1 빔 DPP 검출을 위한 PD를 모두 포함하도록 도 13(b)에서와 같이 수광 소자를 배치할 수도 있다.To this end, as shown in FIG. 13, the PD for the sub-beams is disposed farther than the PD for detecting the sub-beams of the conventional DPP. That is, the distance between the main beam PD cell and the sub beam PD cell is increased. For example, the distance D between the subbeam PD cell and the main beam PD cell according to the present invention is set to be five times or more the distance d between the subbeam PD cell and the main beam PD cell of the conventional DPP. The light receiving element may be arranged as shown in FIG. 13 (b) to include both the conventional DPP detection and the PD for the one-beam DPP detection according to the present invention.

두 번째 경우의 문제를 해결하기 위한 방법으로, 본 발명은, A12에 의해 회절하는 다른 층의 서브 빔이 A12에 의해 회절하는 현재 층의 서브 빔을 수광하기 위해 설계된 서브 빔용 PD에 맺히지 않도록, A12와 grating 방향이 다른 A13을 A12 내에 형성한다.As a method for solving the problem in the second case, the present invention provides that the subbeams of another layer diffracted by A12 are not condensed into the PD for subbeams designed to receive the subbeams of the current layer diffracted by A12. A13 with different grating directions is formed in A12.

A13 패턴은, A12에 의해 회절하는 다른 층의 빔 중에서 서브 빔용 PD가 놓일 영역(도 12(b)에서 B2 영역)에 영향을 줄 수 있는 빔이 12(a)의 회절 격자를 통과하는 영역에 대응되도록, 그 외곽 모양이 설계된다.The A13 pattern is used in a region where the beam passing through the diffraction grating of 12 (a), which can affect the region where the sub-beam PD is to be placed (region B2 in FIG. 12 (b)), among the beams of another layer diffracted by A12. Correspondingly, the outline shape is designed.

다른 층에서 반사되는 빔은 도 12(a)의 회절 격자를 그대로 통과하여 B0의 모양으로 메인 빔용 PD에 맺힌다.The beam reflected from the other layer passes through the diffraction grating of FIG. 12 (a) as it is and forms the main beam PD in the shape of B0.

또한, 다른 층의 빔은 도 12(a)의 A12에 의해 회절되어 메인 빔의 위와 아래에 B1의 모양으로 맺히는데, 이때 A12 내의 A13의 grating 방향이 A12와 다르기 때문에, 서브 빔용 PD(도 12(b)에서 B2 영역)에는 다른 층의 빔이 들어오지 않는다.In addition, the beam of another layer is diffracted by A12 in FIG. 12 (a) to form the shape of B1 above and below the main beam. In this case, since the grating direction of A13 in A12 is different from A12, the PD for the sub-beam (FIG. 12 In (b) region B2), no beam of another layer enters.

또한, 다른 층에서 반사되는 빔 중에서, 일부는 도 12(a)의 A11에 의해 회절되어 메인 빔의 왼쪽과 오른쪽에 B4의 모양으로 맺히고, 다른 일부는 도 12(a)의 A13에 의해 회절되어 메인 빔의 왼쪽과 오른쪽에 B5의 모양으로 맺힌다. 도 12(b)에서 B4와 B5 사이의 빈 영역은, 다른 층에서 반사되는 빔이 A12에 의해 B1에 맺히기 때문에 생기는 영역이다.In addition, among the beams reflected from other layers, some are diffracted by A11 in FIG. 12 (a) to form the shape of B4 on the left and right sides of the main beam, and others are diffracted by A13 in FIG. 12 (a). The left and right sides of the main beam bear in the shape of B5. In Fig. 12 (b), the empty area between B4 and B5 is an area generated because the beam reflected from another layer is bound to B1 by A12.

트래킹 에러 신호는, 메인 빔용 PD로부터 구한 푸시풀 신호인 MPP와 서브 빔용 PD로부터 구한 푸시풀 신호인 SPP1, SPP2를 이용하여 DPP=MPP-kx(SPP1+SPP2)를 통해 구할 수 있다.The tracking error signal can be obtained through DPP = MPP-kx (SPP1 + SPP2) using the MPP, which is the push-pull signal obtained from the PD for the main beam, and SPP1 and SPP2, which are the push-pull signals obtained from the PD for the sub-beam.

앞서 설명한 것과 같이, MPP 신호와 SPP 신호의 오프셋이 대물 렌즈의 래디얼 시프트 양에 비례하는 선형적인 성질을 갖는다고 가정하고, 대물 렌즈의 래디얼 시프트 양 대비 MPP 신호의 dc 레벨의 기울기를 a, 대물 렌즈의 래디얼 시프트 양 대비 SPP 신호의 dc 레벨의 기울기를 b라 할 때, 비례 상수는 k=1/2b로 구할 수 있다.As described above, assuming that the offset of the MPP signal and the SPP signal has a linear property proportional to the amount of radial shift of the objective lens, the slope of the dc level of the MPP signal relative to the amount of radial shift of the objective lens is a, the objective lens When the slope of the dc level of the SPP signal with respect to the amount of radial shift of b is b, the proportionality constant can be calculated as k = 1 / 2b.

한편, 도 12(b)에서, A12에 의해 회절되는 빔 중에서, 현재 층에서 반사되어 형성되는 서브 빔의 모양(좌우 방향으로 길쭉한 모양)과 다른 층에서 반사되어 형성되는 빔(B1)의 모양(상하 방향으로 길쭉한 모양)이 서로 다르다.Meanwhile, in FIG. 12 (b), among the beams diffracted by A12, the shape of the sub-beams reflecting in the current layer (elongated in the left-right direction) and the shape of the beam B1 reflecting in the other layer ( Up and down) is different.

일반적으로, 포커스 에러 신호를 얻기 위해 비점수차를 발생시키는 센서 렌즈(170)는, 실린더리컬(Cylinderical) 렌즈를 사용하여, 입사되는 빔에 대해서 두 축, 예를 들어 x축과 y축의 초점 위치를 다르게 하여 x축과 y축의 초점의 중간 위치를 포커싱 지점으로 만든다.In general, the sensor lens 170 that generates astigmatism to obtain a focus error signal uses a cylindrical lens to focus the focal position of two axes, for example, the x-axis and the y-axis, with respect to the incident beam. Alternatively, make the focusing point the intermediate position of the focal point on the x and y axes.

비점수차를 발생시키는 렌즈는, 두 축의 초점 사이에 초점이 맺히도록 입사하는 빔에 대해서는 빔의 기하학적 위치를 그대로 유지하면서 빔의 모양(광량 분포)을 90도 회전시키는 역할을 한다. 두 축의 초점 밖에 초점이 맺히도록 입사하는 빔에 대해서는 빔의 모양을 회전시키지 않는다.The lens that generates astigmatism serves to rotate the shape (light distribution) of the beam by 90 degrees while maintaining the geometric position of the beam with respect to the incident beam so as to focus between two focal points. It does not rotate the shape of the beam with respect to the incident beam so that it focuses outside the focal point of the two axes.

즉, 기록 또는 재생을 위해 초점이 맺힌 현재 층에서 반사되는 빔은 센서 렌즈(170)를 통과하면서 광량 분포가 90도 회전하고, 초점이 맞지 않는 다른 층에서 반사되는 빔은 센서 렌즈(170)를 통과하더라도 광량 분포가 그대로 유지된다.That is, the beam reflected from the current layer focused for recording or playback passes through the sensor lens 170, and the light quantity distribution is rotated 90 degrees, and the beam reflected from another layer out of focus causes the sensor lens 170 to rotate. Even if it passes, the light quantity distribution is maintained as it is.

따라서, A11에 의해 좌우의 일부가 잘린 형태로 A12를 통과하는 도 14(a) 형상(상하로 길쭉한 형상)의 빔 중에서, 현재 층에서 반사되는 빔은 비점수차를 발생시키는 렌즈를 통과하면서 도 14(b)와 같이 좌우로 길쭉한 형상으로 바뀌고, 다른 층에서 반사되는 빔은 비점수차를 발생시키는 렌즈를 통과한 후에도 도 14(c)와 같이 상하로 길쭉한 형상을 그대로 유지한다.Therefore, among the beams of FIG. 14 (a) shape (up-and-down elongated shape) passing through A12 in a form in which a part of the left and right are cut by A11, the beam reflected in the current layer passes through the lens generating astigmatism, and FIG. As shown in (b), the beam is changed into an elongated shape to the left and right, and the beam reflected from the other layer maintains the elongated shape as shown in FIG. 14 (c) even after passing through the lens generating the astigmatism.

마찬가지로, A12에 의해 가운데가 잘려서 좌우 일부만 남은 형태로 A11을 통과하는 빔 중에서 다른 층에서 반사되는 빔은, 비점수차를 발생시키는 렌즈를 통과한 후에도 도 12(b)에서 B4와 같이 원래의 형상을 그대로 유지하면서 메인 빔용 PD와 서브 빔용 PD에서 벗어난 곳에 맺힌다.Similarly, the beam reflected from the other layer among the beams passing through A11 in a form in which the center is cut off by A12 and only a part of the left and right remains in the original shape as shown by B4 in FIG. 12 (b) even after passing through the lens causing the astigmatism. They remain in place away from the PD for the main beam and the PD for the sub beam while maintaining the same.

본 발명의 다른 실시예에서, A11과 A12는 grating 방향이 반드시 직각일 필요는 없다. A11의 grating 방향과 요철 모양은, 다른 층에서 반사되는 빔 중에서 A11에 의해 회절하는 빔이 메인 빔용 PD와 서브 빔용 PD에 맺히지 않도록 설계되면 된다.In another embodiment of the present invention, A11 and A12 need not necessarily be perpendicular to the grating direction. The grating direction and the concave-convex shape of A11 may be designed so that the beam diffracted by A11 among the beams reflected by the other layer does not form on the main beam PD and the sub-beam PD.

따라서, A11과 A12의 grating 방향은 일치하더라도 A11의 회절 각도를 크게 함으로써, A11에 의해 회절하는 빔이 메인 빔용 PD와 서브 빔용 PD에 맺히지 않게 할 수도 있다.Therefore, even if the grating directions of A11 and A12 coincide with each other, the diffraction angle of A11 is increased to prevent the beam diffracted by A11 from forming on the main beam PD and the subbeam PD.

이러한 점은 A13의 grating 방향과 요철 모양에 대해서도 마찬가지이다. 또한, A11과 A13도 grating 방향과 요철 모양(요철의 피치, 깊이, 마루와 골의 기울기 등)이 서로 같을 필요가 없다.The same is true of the grating direction and irregularities of A13. In addition, A11 and A13 do not need to have the same grating direction and uneven shape (pitch, depth, inclination of floor and valley, etc.).

또한, A12 패턴을 형성하는 요철의 피치, 깊이 등을 조합함으로써, 서브 빔 이 맺히는 위치, 회절 각도 등을 조절할 수 있다.In addition, by combining the pitch, depth and the like of the unevenness forming the A12 pattern, it is possible to adjust the position, the diffraction angle and the like to form the sub-beam.

또한, 본 발명에 따른 회절 격자는, A13 패턴이 A12 패턴 내에 형성되는 것을 제외하고는, 도 10(a) 회절 격자의 A1과 A2 패턴 모양과 유사하게 A11과 A12 패턴 모양이 설계될 수도 있다.Further, in the diffraction grating according to the present invention, except that the A13 pattern is formed in the A12 pattern, the A11 and A12 pattern shapes may be designed similar to the A1 and A2 pattern shapes of the diffraction grating of FIG. 10 (a).

본 발명에 따른 도 12(a)의 회절 격자는 도 6의 광 픽업(100)의 회절 격자(140)에 적용될 수 있는데, 도 12(a)의 회절 격자가 빔 스플리터(130)와 1/4 파장판(150) 사이에 위치하는 경우에는, 디스크에 입사하는 빔은 회절시키지 않고 디스크에서 반사되는 광만을 회절시킬 수 있도록 편광 회절 격자를 사용하는 것이 광 효율을 위해 바람직하다. 광 손실을 감수한다면 비편광 회절 격자를 사용할 수도 있다.The diffraction grating of FIG. 12A according to the present invention may be applied to the diffraction grating 140 of the optical pickup 100 of FIG. 6, in which the diffraction grating of FIG. 12A is one-quarter of the beam splitter 130. When located between the wave plates 150, it is preferable for light efficiency to use a polarization diffraction grating so that only the light reflected from the disk can be diffracted without diffracting the beam incident on the disk. Non-polarized diffraction gratings can also be used if they accept light loss.

본 발명이 적용되는 도 6의 광 픽업(100)에서, 본 발명에 따른 회절 격자(140)는 대물 렌즈(160)와 같이 구동되는 것, 즉 대물 렌즈(160)를 지지하고 포커싱 및/또는 트래킹 서보를 수행하는 액츄에이터(Actuator)에 대물 렌즈(160)과 같이 장착되는 것이 유리하다. 본 발명에 따른 회절 격자(140)가 액츄에이터에 장착되지 않고 광 픽업(100)의 베이스에 장착될 수도 있다.In the optical pickup 100 of FIG. 6 to which the present invention is applied, the diffraction grating 140 according to the present invention is driven like the objective lens 160, that is, supports the objective lens 160 and focuses and / or tracks it. It is advantageous to mount it with an objective lens 160 to an actuator that performs a servo. The diffraction grating 140 according to the present invention may be mounted to the base of the optical pickup 100 without being mounted to the actuator.

또한, 본 발명에 따른 회절 격자는 도 15와 같이 구성되는 광 픽업에도 적용될 수 있다.In addition, the diffraction grating according to the present invention can be applied to the optical pickup configured as shown in FIG.

본 발명이 적용되는 도 15의 광 픽업(200)은, 광원(210), 콜리메이터 렌즈(220), 빔 스플리터(230), 본 발명에 따른 회절 격자(240), 대물 렌즈(260), 센서 렌즈(270), 및 광 검출 수단(280)을 포함하여 구성되고, 대물 렌즈(260)의 초점이 맺히는 쪽에 디스크가 장착된다.The optical pickup 200 of FIG. 15 to which the present invention is applied includes a light source 210, a collimator lens 220, a beam splitter 230, a diffraction grating 240 according to the present invention, an objective lens 260, and a sensor lens. 270, and the optical detection means 280, and a disk is mounted on the side in which the objective lens 260 is in focus.

도 15의 광 픽업(200)은 앞서 설명한 도 6의 광 픽업(100)과 그 구성이 비슷하나, 도 6의 광 픽업(100)의 1/4 파장판(150)이 구비되지 않은 점과 회절 격자(240)의 위치가 빔 스플리터(230)와 센서 렌즈(270) 사이에 위치하는 점이 다르다. 도 15의 광 픽업(200)에는, 광원(210)으로부터 디스크까지의 경로에 회절 격자(240)가 놓여 있지 않기 때문에, 편광 회절 격자가 사용될 필요가 없게 된다.The optical pickup 200 of FIG. 15 is similar in configuration to the optical pickup 100 of FIG. 6 described above, but is not provided with a quarter wave plate 150 of the optical pickup 100 of FIG. The location of the grating 240 is different between the beam splitter 230 and the sensor lens 270. In the optical pickup 200 of FIG. 15, since the diffraction grating 240 does not lie in the path from the light source 210 to the disk, the polarization diffraction grating does not need to be used.

이러한 차이를 제외하고는 도 15의 광 픽업(200)의 구성과 동작은 도 6의 광 픽업(100)과 동일하다.Except for this difference, the configuration and operation of the optical pickup 200 of FIG. 15 are the same as those of the optical pickup 100 of FIG. 6.

본 발명에 따른 회절 격자가 적용되는 도 6의 광 픽업(100)과 도 15의 광 픽업(200)은, 복수의 기록 층을 갖는 기록용 광 저장 매체, 예를 들어 DVD-RAM, DVD-RW, DVD+RW, DVD-R, DVD+R, BD-R, BD-RE 등의 기록 및 재생에 유리하다.The optical pickup 100 of FIG. 6 to which the diffraction grating according to the present invention is applied and the optical pickup 200 of FIG. 15 are optical recording media for recording having a plurality of recording layers, for example, DVD-RAM, DVD-RW. , DVD + RW, DVD-R, DVD + R, BD-R, BD-RE and the like are advantageous for recording and playback.

또한, 본 발명에 따른 회절 격자가 적용되는 도 6의 광 픽업(100)과 도 15의 광 픽업(200)은, CD, DVD, 및 BD를 모두 기록 및/또는 재생할 수 있는 광 픽업의 일부에 적용될 수 있다.In addition, the optical pickup 100 of FIG. 6 and the optical pickup 200 of FIG. 15 to which the diffraction grating according to the present invention is applied are applied to a part of the optical pickup capable of recording and / or playing all CDs, DVDs, and BDs. Can be applied.

예를 들어, CD와 DVD를 위한 광학계와 BD를 위한 광학계가 하나의 픽업에 구현되는 경우, 도 2에 도시한 바와 같이, 하나의 액츄에이터에 2개의 대물 렌즈가 장착되어야 하고, 주로 BD 광학계의 대물 렌즈가 비축 배치된다.For example, when the optical system for the CD and DVD and the optical system for the BD are implemented in one pickup, as shown in FIG. 2, two objective lenses should be mounted on one actuator, and the objective of the BD optical system is mainly used. The lens is stockpiled.

따라서, 본 발명에 따른 회절 격자가 사용되는 도 6의 광 픽업(100)과 도 15의 광 픽업(200)은 BD를 위한 광학계에 적용되어, 대물 렌즈의 비축 배치에 의해 발생할 수 있는 3 빔 DPP의 문제점을 해결할 수 있다.Thus, the optical pickup 100 of FIG. 6 and the optical pickup 200 of FIG. 15, in which the diffraction grating according to the present invention is used, are applied to the optical system for BD, so that the three beam DPP may be generated by the stockpile arrangement of the objective lens. Can solve the problem.

이상 전술한 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것으로, 당업자라면 이하 첨부된 특허청구범위에 개시된 본 발명의 기술적 사상과 그 기술적 범위 내에서 또 다른 다양한 실시예들을 개량, 변경, 대체 또는 부가 등이 가능할 것이다.Preferred embodiments of the present invention described above have been disclosed for the purpose of illustration, and those skilled in the art will improve, change, and substitute various other embodiments within the technical spirit and the technical scope of the present invention disclosed in the appended claims below. Or addition may be possible.

본 발명에 따른 광 픽업 장치는, 다른 층에서 반사되는 빔이 서브 빔에 입사하지 않게 되어, 안정적인 트래킹 에러 신호를 얻게 되고, 이에 따라 재생 또는 기록 성능이 향상되는 효과가 있다.In the optical pickup device according to the present invention, a beam reflected from another layer does not enter the sub-beam, thereby obtaining a stable tracking error signal, thereby improving reproduction or recording performance.

Claims (17)

소정 파장의 빔을 방출하는 광원;A light source emitting a beam of a predetermined wavelength; 상기 광원에서 방출되는 빔을 광 저장 매체에 집광하는 대물 렌즈;An objective lens for condensing a beam emitted from the light source on an optical storage medium; 상기 광원에서 방출되는 빔 또는 상기 광 저장 매체에서 반사되는 빔을 투과하거나 또는 반사하는 빔 스플리터;A beam splitter that transmits or reflects a beam emitted from the light source or a beam reflected from the optical storage medium; 상기 광 저장 매체에서 분기된 상태로 반사되는 빔 중, 제 1 영역을 통과하는 빔의 일부를 회절시키고 상기 제 1 영역 내의 제 2 영역을 통과하는 빔의 일부를 상기 제 1 영역에 의해 회절하는 빔이 맺히는 위치와 다른 위치로 회절시키는 회절 격자;A beam that diffracts a portion of the beam passing through the first region of the beam reflected in the branched state from the optical storage medium and diffracts a portion of the beam passing through the second region in the first region by the first region A diffraction grating diffracted to a position different from this conjunctive position; 상기 광 저장 매체에서 반사되는 빔에 비점을 발생시키는 센서 렌즈; 및A sensor lens for generating a boiling point on the beam reflected from the optical storage medium; And 상기 회절 격자를 그대로 통과하는 빔을 수광하는 메인 검출 수단과 상기 제 1 영역에 의해 회절하는 빔을 수광하는 2 개의 제 1 서브 검출 수단을 포함하여 구성되는 광 검출 수단을 포함하여 구성되고And a main detecting means for receiving a beam passing through the diffraction grating as it is, and a light detecting means comprising two first sub detecting means for receiving a beam diffracted by the first region. 상기 제 1 서브 검출 수단은, 기록 또는 재생이 진행 중인 광 저장 매체의 현재 층이 아닌 다른 층에서 반사되는 빔 중에서 상기 회절 격자를 그대로 통과하는 빔의 유효 반경 밖에 위치하는 것을 특징으로 하는 광 픽업.And the first sub-detection means is located outside the effective radius of the beam passing through the diffraction grating as it is from a beam reflected from a layer other than the current layer of the optical storage medium in which recording or reproduction is in progress. 삭제delete 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 2 영역은, 상기 다른 층에서 반사되어 상기 제 1 영역에 의해 회절하는 빔 중에서 상기 제 1 서브 검출 수단에 맺히게 될 빔이 상기 회절 격자를 통과하는 영역에 대응하는 것을 특징으로 하는 광 픽업.And the second region corresponds to a region in which a beam to be reflected to the first sub-detection means passes through the diffraction grating among the beams reflected by the other layer and diffracted by the first region. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 1 영역은, 상기 광 저장 매체에서 반사되는 빔 중에서 상기 광 저장 매체에 의해 회절하는 빔이 상기 회절 격자를 통과하는 영역을 포함하지 않는 것을 특징으로 하는 광 픽업.And wherein the first region does not include a region in which the beam diffracted by the optical storage medium passes through the diffraction grating among the beams reflected by the optical storage medium. 제 4항에 있어서,5. The method of claim 4, 상기 제 1 영역은, 상기 광 저장 매체에서 반사되는 빔 중에서 상기 광 저장 매체에 의해 회절하는 빔이 상기 회절 격자를 통과하는 영역을 경계로 하는 직사각형 모양인 것을 특징으로 하는 광 픽업.And wherein the first area has a rectangular shape bordering an area where a beam diffracted by the optical storage medium passes through the diffraction grating among the beams reflected by the optical storage medium. 제 4항에 있어서,5. The method of claim 4, 상기 회절 격자는 상기 제 1 영역과 제 2 영역을 제외한 영역에 제 3 영역을 포함하고, 상기 제 3 영역을 통과한 빔의 일부가 회절하여 상기 메인 검출 수단과 제 1 서브 검출 수단에 맺히지 않도록 상기 제 3 영역의 격자 패턴이 형성되는 것을 특징으로 하는 광 픽업.The diffraction grating includes a third region in a region other than the first region and the second region, and the portion of the beam passing through the third region is diffracted so as not to be formed in the main detecting means and the first sub detecting means. An optical pickup, wherein the grid pattern of the third region is formed. 제 6항에 있어서,The method according to claim 6, 상기 제 1 영역과 제 3 영역의 격자 방향이 90도를 이루는 것을 특징으로 하는 광 픽업.And the grating direction of the first region and the third region is 90 degrees. 제 6항에 있어서,The method according to claim 6, 상기 제 2 영역과 제 3 영역의 격자 방향이 평행한 것을 특징으로 하는 광 픽업.And a lattice direction between the second region and the third region is parallel. 제 6항에 있어서,The method according to claim 6, 상기 제 2 영역과 제 3 영역의 격자 방향이 평행하지 않는 것을 특징으로 하는 광 픽업.And the grating directions of the second area and the third area are not parallel to each other. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 회절 격자는 상기 빔 스플리터와 상기 대물 렌즈 사이에 위치하고,The diffraction grating is located between the beam splitter and the objective lens, 상기 회절 격자와 상기 대물 렌즈 사이에 빔의 편광을 회전시키는 1/4 파장판이 더 놓이는 것을 특징으로 하는 광 픽업.And a quarter wave plate is further placed between the diffraction grating and the objective lens to rotate the polarization of the beam. 제 10항에 있어서,The method of claim 10, 상기 회절 격자는 상기 광원에서 방출되는 빔은 회절시키지 않고 상기 광 저 장 매체에서 반사되는 빔만을 회절시키는 것을 특징으로 하는 광 픽업.And the diffraction grating diffracts only the beam reflected from the optical storage medium without diffracting the beam emitted from the light source. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 회절 격자는 상기 빔 스플리터와 상기 센서 렌즈 사이에 위치하는 것을 특징으로 하는 광 픽업.And the diffraction grating is located between the beam splitter and the sensor lens. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 광원에서 방출되는 빔을 0차 빔과 +/- 1차 빔으로 회절시켜 상기 광 저장 매체에 맺히도록 하는 그레이팅을 더 포함하여 구성되고,And grating for diffracting the beam emitted from the light source into a 0th order beam and a +/- 1st order beam to form an optical storage medium, 여기서, 상기 광 검출 수단은, 상기 광 저장 매체에서 반사되는 상기 +/- 1차 빔을 수광하는 2개의 제 2 서브 검출 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광 픽업.Wherein the optical detection means further comprises two second sub-detection means for receiving the +/- primary beam reflected from the optical storage medium. 제 13항에 있어서,14. The method of claim 13, 상기 제 1 서브 검출 수단과 메인 검출 수단 사이의 거리는 상기 제 2 서브 검출 수단과 메인 검출 수단 사이의 거리보다 5배 이상 먼 것을 특징으로 하는 광 픽업.And the distance between the first sub detection means and the main detection means is at least five times farther than the distance between the second sub detection means and the main detection means. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 메인 검출 수단은 래디얼 방향과 탄젠셜 방향에 대응하는 방향으로 각 각 적어도 2 분할되어 있고, 상기 제 1 서브 검출 수단은 래디얼 방향에 대응하는 방향으로 적어도 2 분할되어 있고,The main detecting means is divided into at least two parts in a direction corresponding to a radial direction and a tangential direction, and the first sub detecting means is divided into at least two parts in a direction corresponding to a radial direction, 상기 메인 검출 수단에서 검출되는 푸시풀 신호를 Mpp라 하고 상기 제 1 서브 검출 수단에서 검출되는 2개의 푸시풀 신호를 Spp1와 Spp2라 할 때, 트래킹 에러 신호는 Mpp-k(Spp1+Spp2)에 의해 검출되고, 여기서 k는 상기 대물 렌즈의 래디얼 시프트에 따른 Mpp의 오프셋 변화와 Spp1과 Spp2의 오프셋 변화를 이용하여 계산되는 것을 특징으로 하는 광 픽업.When the push-pull signal detected by the main detecting means is Mpp and the two push-pull signals detected by the first sub detecting means are Spp1 and Spp2, the tracking error signal is determined by Mpp-k (Spp1 + Spp2). And k is calculated using an offset change of Mpp and an offset change of Spp1 and Spp2 according to the radial shift of the objective lens. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 광 저장 매체는, CD, DVD-RAM, DVD-RW, DVD+RW, DVD-R, DVD+R, BD-R, BD-RE 중 적어도 어느 하나인 것을 특징으로 하는 광 픽업.The optical storage medium is at least one of CD, DVD-RAM, DVD-RW, DVD + RW, DVD-R, DVD + R, BD-R, and BD-RE. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 광원은 청색 파장의 빔을 방출하고, 상기 대물 렌즈는 상기 광 저장 매체의 중심 축에서 벗어나 있는 것을 특징으로 하는 광 픽업.And the light source emits a beam of blue wavelengths and the objective lens is off the central axis of the optical storage medium.
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