KR101185786B1 - X-ray microscopy system for tomography - Google Patents

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전인수
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전남대학교산학협력단
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    • G01N23/046Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]

Abstract

PURPOSE: An X-ray microscope system for a tomography is provided to photograph an enlarged tomography image about a movable sample by simultaneously emitting X-rays to the sample in various directions to obtain a tomography image in real time. CONSTITUTION: X-ray generating units(150) are separated around a sample(126) and are radially fixed. An X-ray detecting unit(160) obtains the enlarged image data of the sample. A light source(152) emits X-rays in all directions. A mirror reflects a part of the X-rays to make parallel light with constant thickness and width. A reflection filter forms a short wavelength by reflecting the X-rays.

Description

단층촬영용 X선 현미경 시스템{ X-ray microscopy system for tomography}X-ray microscopy system for tomography

본 발명은 X선 현미경 시스템에 관한 것으로, 특히 움직이는 시료에 대한 실시간 단층 영상 촬영이 가능하고, X선 피폭량을 대폭 줄일 수 있으며, 사방으로 X선을 방사하는 저가의 광원으로도 평행광을 유도할 수 있어 적은 비용으로도 시료의 선명한 단층 영상을 획득할 수 있는 단층촬영용 X선 현미경 시스템에 관한 것이다.
The present invention relates to an X-ray microscopy system, and in particular, real-time tomography imaging of a moving sample can be performed, the amount of X-ray exposure can be greatly reduced, and even inexpensive light sources emitting X-rays in all directions can induce parallel light. The present invention relates to a tomography X-ray microscope system capable of obtaining a clear tomographic image of a sample at a low cost.

시료를 확대하여 미세한 부분을 관찰할 수 있는 현미경으로는 일반적으로 전자 현미경 및 광학현미경 등이 있다. 이 중 전자현미경은 시료를 측정하기 이전에 물리/화학적인 전처리 과정이 필요하기 때문에 살아있는 생물의 세포 등과 같은 생체시료의 관찰이 불가능하다. 또한 광학현미경은 가시광을 광원으로 이용하기 때문에 시료의 표면만을 관찰 할 수 있는 단점이 있다. Microscopes in which a sample can be enlarged to observe a minute portion generally include an electron microscope and an optical microscope. Among these, electron microscopy requires physical / chemical pretreatment before measuring a sample, so it is impossible to observe biological samples such as cells of living organisms. In addition, since the optical microscope uses visible light as a light source, only the surface of the sample can be observed.

근래에는 X선(X-ray) 파장영역을 이용한 X선 현미경이 등장하였다. X선 현미경은 X선의 투과성질에 의하여 생체시료의 내부관찰이 가능한 장점이 있다.Recently, X-ray microscopy using X-ray wavelength range has emerged. X-ray microscopy has the advantage that the inside of the biological sample can be observed by the transmission properties of the X-ray.

하지만 이러한 X선 현미경은 시료의 2차원적인 평면의 형상에 대한 관찰이 가능한 한계가 있다. 예컨대 일반적인 X선 현미경으로는 시료의 단층 영상을 획득하기가 불가능하고, 이를 개선하기 위해서 X선을 시료에서 다각도 방향으로 회전시키면서 관찰하기에는 단층 영상을 얻기 위한 시간이 많이 소요된다. 즉, 시료에 대한 단층 영상을 획득하는 것이 실시간이 아니기 때문에, 움직임이 있는 미생물들과 같은 시료에 대해서는 정확한 단층 영상에 대한 확대 관찰이 어렵다.
However, such an X-ray microscope has a limitation that can observe the shape of the two-dimensional plane of the sample. For example, it is impossible to acquire a tomographic image of a sample by a general X-ray microscope, and in order to improve this, it takes a long time to obtain a tomographic image to observe X-rays while rotating in a multi-angle direction in the sample. In other words, since acquiring a tomography image of a sample is not real time, magnification of an accurate tomography image is difficult for a sample such as moving microorganisms.

본 발명자들은 움직이는 시료의 단층 영상이 촬영가능하고, X선의 피폭량을 줄일 수 있으며, 시료의 선명한 단층 영상 데이터를 얻기 위해 연구 노력한 결과, 서로 다른 여러 방향에서 동시에 시료의 영상데이터를 획득함으로써 움직이는 시료의 단층 영상을 얻을 수 있고, 한 번의 X선 조사로 단층 영상을 획득할 수 있으므로 시료에 대한 X선의 피폭량을 줄일 수 있으며, 사방으로 방사하는 X선을 평행광으로 유도함으로써 고 해상도의 단층 영상을 얻을 수 있는 X선 현미경 시스템의 기술적 구성을 개발하게 되어 본 발명을 완성하게 되었다.The present inventors have been able to take a tomographic image of a moving sample, reduce the exposure of X-rays, and have researched to obtain clear tomographic image data of a sample. As a result, the inventors have obtained image data of a moving sample simultaneously in different directions. A tomography image can be obtained, and a tomography image can be obtained by a single X-ray irradiation, thereby reducing the amount of X-ray exposure to a sample, and obtaining a high resolution tomography image by guiding X-rays radiating in all directions to parallel light. The technical configuration of the X-ray microscope system can be developed to complete the present invention.

따라서, 본 발명의 목적은 시료의 단층 영상을 실시간으로 획득함으로써, 움직임이 있는 시료에 대해 확대된 단층 영상을 실시간으로 관찰할 수 있는 X선 현미경 시스템을 제공하는 것이다.Accordingly, it is an object of the present invention to provide an X-ray microscope system capable of observing a magnified tomographic image of a moving sample in real time by acquiring a tomographic image of a sample in real time.

또한, 본 발명의 다른 목적은 시료에 대한 X선 피폭량을 대폭 줄일 수 있는 X선 현미경 시스템을 제공하는 것이다.In addition, another object of the present invention is to provide an X-ray microscope system that can significantly reduce the X-ray exposure to the sample.

또한, 본 발명의 또 다른 목적은 사방으로 X선을 방사하는 저가의 광원을 평행광으로 유도하여 시료에 조사함으로써 다수의 X선 발생부에서 조사되는 X선들의 간섭없이 고 해상도의 단층 영상을 획득할 수 있는 X선 현미경 시스템을 제공하는 것이다.
In addition, another object of the present invention is to obtain a high-resolution tomographic image without interference of X-rays irradiated from a plurality of X-ray generators by inducing a low-cost light source radiating X-rays in all directions to the parallel light to irradiate the sample An X-ray microscope system can be provided.

본 발명의 목적들은 이상에서 언급한 목적들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
The objects of the present invention are not limited to the above-mentioned objects, and other objects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기의 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 시료를 중심으로 서로 이격되어 방사형으로 고정되는 다수 개의 X선 발생부들; 및 상기 시료를 사이에 두고, 상기 X선 발생부들의 개수와 대응하는 개수로 상기 X선 발생부들과 대면하여 고정되며, 각각 대면하는 X선 발생부에서 출사되어 상기 시료를 통과한 X선만을 수광하여, 서로 다른 방향에서 상기 시료의 확대된 영상 데이터들을 획득하는 X선 검출부들;을 포함하고, X선 촬영시에 상기 X선 발생부들과 상기 X선 검출부들은 회전하지 않고 고정되어, 한번에 동시에 상기 시료의 영상데이터들을 획득하며, 상기 X선 발생부들:은 각각 X선을 사방으로 출사하는 광원; 상기 광원의 전방에 구비되고, 상기 X선들 중 일부를 일정한 두께 및 폭을 갖는 평행광이 되도록 반사시키는 미러; 및 상기 미러를 경유하는 상기 X선을 반사시킴으로써 단 파장이 되게 하는 반사 필터;를 포함하는 것을 특징으로 하는 단층 촬영용 X선 현미경 시스템을 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a plurality of X-ray generating unit which is fixed radially spaced from each other around the sample; And the sample interposed therebetween and fixed to face the X-ray generators in a number corresponding to the number of the X-ray generators, and receiving only X-rays emitted from the X-ray generators facing each other and passing through the sample. And X-ray detectors for acquiring enlarged image data of the sample in different directions, wherein the X-ray generators and the X-ray detectors are fixed without rotation, at the same time, at the same time. Acquiring image data of a sample, wherein the X-ray generators include: a light source that emits X-rays in all directions; A mirror provided in front of the light source and reflecting some of the X-rays to be parallel light having a predetermined thickness and width; And a reflection filter reflecting the X-rays passing through the mirror to a short wavelength, wherein the X-ray microscope system for tomography is included.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 영상 데이터들을 입력받아 상기 시료의 단층 영상 데이터를 생성하는 데이터 처리장치; 및 상기 단층 영상 데이터를 단층 영상으로 표시하는 표시부;를 더 포함한다.In a preferred embodiment, the data processing apparatus for receiving the image data to generate tomographic image data of the sample; And a display unit configured to display the tomography image data as a tomography image.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 데이터 처리장치:는 상기 영상 데이터들을 상기 X선 검출부들로부터 입력받아 저장하는 데이터 저장부; 상기 영상 데이터들을 기반으로 상기 X선 발생부들 사이의 위치에서의 영상 데이터들을 추정하는 데이터 보간부; 및 상기 데이터 저장부 및 상기 데이터 보간부의 영상 데이터들로부터 상기 시료의 단층 영상 데이터를 생성하는 영상 처리부;를 포함한다.In an exemplary embodiment, the data processing apparatus includes: a data storage unit configured to receive the image data from the X-ray detectors and to store the image data; A data interpolator for estimating image data at positions between the X-ray generators based on the image data; And an image processor for generating tomographic image data of the sample from the image data of the data storage unit and the data interpolator.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 데이터 보간부는 인접하는 상기 X선 검출부들의 영상 데이터를 산술평균하여 상기 X선 발생부들 사이의 위치에서의 영상 데이터들을 추정한다.In an exemplary embodiment, the data interpolator estimates image data at positions between the X-ray generators by arithmetically averaging image data of the adjacent X-ray detectors.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 미러는 서로가 소정 간격 이격되고 상기 X선이 적어도 일면을 조사하도록 배치되며, 각각에 반사된 X선이 서로 적층되어 일정한 두께 및 폭을 갖는 평행광이 되도록 유도하는 다수 개의 미러들로 구성된다.In a preferred embodiment, the mirrors are arranged such that the X-rays are irradiated on at least one surface and spaced apart from each other by a predetermined distance, and the plurality of mirrors are laminated to each other to induce parallel light having a constant thickness and width. It consists of two mirrors.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 광원과 상기 미러 사이에 구비되고, 상기 X선이 상기 미러로 집중되도록 상기 X선의 경로를 유도하는 포커싱 미러를 더 구비한다.In a preferred embodiment, it further comprises a focusing mirror provided between the light source and the mirror, to guide the path of the X-rays so that the X-rays are concentrated to the mirror.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 X선 검출부:는 상기 시료를 투과한 상기 X선이 투영되는 검출막; 및 상기 시료와 상기 검출막 사이에 배치되며, 메쉬 형태의 금속막으로 형성되는 투과 필터;를 포함한다.In an exemplary embodiment, the X-ray detection unit may include: a detection film on which the X-rays passing through the sample are projected; And a transmission filter disposed between the sample and the detection film and formed of a metal film in a mesh form.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 X선 검출부:는 상기 시료를 투과한 상기 X선의 산란 및 간섭을 억제하는 메쉬 형태의 금속막으로 이루어진 투과 필터; 상기 투과 필터를 경유한 상기 X선을 검출하는 신틸레이터; 상기 실틸레이터의 영상을 확대하기 위한 광학렌즈; 및 상기 광학렌즈에 의해 확대된 영상을 촬상하기 위한 촬상소자;로 구성될 수 있다.
In an exemplary embodiment, the X-ray detection unit may include: a transmission filter made of a metal film in a mesh form that suppresses scattering and interference of the X-rays passing through the sample; A scintillator for detecting the X-rays via the transmission filter; An optical lens for enlarging an image of the siltilator; And an image pickup device for picking up an image enlarged by the optical lens.

본 발명은 다음과 같은 우수한 효과를 가진다.The present invention has the following excellent effects.

먼저, 본 발명의 단층촬영용 X선 현미경 시스템에 의하면 서로 다른 여러 방향에서 동시에 시료에 X선을 조사하여 단층 영상을 실시간으로 획득할 수 있으므로, 움직임이 있는 시료에 대해서도 확대된 단층 영상을 촬영할 수 있는 효과가 있다.First, according to the tomography X-ray microscope system of the present invention can obtain a tomography image in real time by irradiating X-rays to the sample at the same time in different directions, it is possible to take an enlarged tomography image even for a moving sample It works.

또한, 본 발명의 단층촬영용 X선 현미경 시스템에 의하면, 서로 다른 여러 방향에서 한 번의 X선 조사만으로도 시료의 단층 영상을 획득할 수 있으므로 시료에 대한 X선 피폭량을 대폭 줄일 수 있는 효과가 있다.In addition, according to the tomography X-ray microscope system of the present invention, it is possible to obtain a tomographic image of the sample by only one X-ray irradiation in different directions, it is possible to significantly reduce the X-ray exposure to the sample.

또한, 본 발명의 단층촬영용 X선 현미경 시스템에 의하면, 사방으로 X선을 방사하는 저가의 광원을 평행광으로 유도하여 시료에 조사함으로써 각 X선 검출부들은 대면하지 않는 다른 X선 발생부들에서 발생된 X선의 간섭없이 고 해상도의 단층 영상을 획득할 수 있는 X선 현미경 시스템을 제공하는 것이다.
In addition, according to the tomography X-ray microscopy system of the present invention, by inducing a low-cost light source radiating X-rays in all directions to the parallel light to irradiate the sample, each X-ray detector is generated from other X-ray generators that do not face It is to provide an X-ray microscope system capable of acquiring high-resolution tomographic images without X-ray interference.

도 1은 본 발명에 의한 X선 현미경 시스템을 나타내는 도면.
도 2는 제 1 실시예에 의한 X선 발생부 및 검출부를 나타내는 도면.
도 3 및 도 4는 다른 실시예에 의한 X선 발생부 및 검출부를 나타내는 도면.
도 5은 데이터 처리장치를 나타내는 도면.
도 6 내지 도 8는 데이터 보간방법을 설명하기 위한 도면.
1 is a view showing an X-ray microscope system according to the present invention.
2 is a diagram showing an X-ray generator and a detector according to the first embodiment.
3 and 4 are views illustrating an X-ray generator and a detector according to another embodiment.
5 shows a data processing apparatus;
6 to 8 are diagrams for explaining a data interpolation method.

본 발명에서 사용되는 용어는 가능한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어를 선택하였으나, 특정한 경우는 출원인이 임의로 선정한 용어도 있는데 이 경우에는 단순한 용어의 명칭이 아닌 발명의 상세한 설명 부분에 기재되거나 사용된 의미를 고려하여 그 의미가 파악되어야 할 것이다.Although the terms used in the present invention have been selected as general terms that are widely used at present, there are some terms selected arbitrarily by the applicant in a specific case. In this case, the meaning described or used in the detailed description part of the invention The meaning must be grasped.

이하, 첨부한 도면에 도시된 바람직한 실시예들을 참조하여 본 발명의 기술적 구성을 상세하게 설명한다.Hereinafter, the technical structure of the present invention will be described in detail with reference to preferred embodiments shown in the accompanying drawings.

그러나, 본 발명은 여기서 설명되는 실시예에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화 될 수도 있다. 명세서 전체에 걸쳐 동일한 참조번호는 동일한 구성요소를 나타낸다.
However, the present invention is not limited to the embodiments described herein but may be embodied in other forms. Like reference numerals designate like elements throughout the specification.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 단층 촬영용 X선 현미경 시스템을 나타내는 도면이다. 1 is a view showing a tomography X-ray microscope system according to a first embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 의한 단층 촬영용 X선 현미경 시스템은 시료(126)를 중심으로 서로 이격되어, 방사형으로 배치된 다수개의 X선 발생부(150) 및 상기 X선 발생부들(150)과 대향하여 고정되는 다수 개의 X선 검출부(160)를 포함한다.Referring to FIG. 1, the tomography X-ray microscope system according to the first exemplary embodiment of the present invention is spaced apart from each other about a sample 126, and includes a plurality of X-ray generating units 150 and the X-rays disposed radially. And a plurality of X-ray detectors 160 fixed to the generators 150.

즉, 상기 X선 발생부들(150)은 서로 다른 방향에서 상기 시료(126)를 향해 고정되고, 상기 X선 검출부들(160)은 상기 X선 발생부들(150)의 개수와 동일한 개수로 구비되며, 상기 시료(126)를 사이에 두고 상기 각 X선 발생부들(150)에 대면하여 고정되는 형태이다.That is, the X-ray generators 150 are fixed toward the sample 126 in different directions, and the X-ray detectors 160 are provided in the same number as the number of the X-ray generators 150. In this case, the sample 126 is interposed and fixed to the X-ray generators 150.

상기 X선 발생부(150)들은 시료(126)의 검사를 위해 X선을 조사하는 과정에서 동시에 동작할 수 있다. 즉, 시료(126)를 검사하기 위해 본 발명에 의한 X선 현미경 시스템은 다수 개의 X선 발생부(150)들을 이용하여 동시에 다각도에서의 X선을 조사한다. 그리고 시료(126)에 대한 균일한 각도의 영역에 대한 영상 데이터를 얻기 위해서 각각의 X선 발생부(150)들은 시료(126)와 동일한 간격(r)을 두고 배치될 수 있다. X선 발생부(150)들과 시료(126)와의 간격은 X선 발생부(150)들의 개수를 고려하여 설정될 수 있다. 예컨대 영상의 정밀도를 높이기 위해서 X선 발생부(150)들의 개수를 늘릴 경우에는 X선 발생부(150)들과 시료(126)와의 간격(r)을 길게 할 수 있다. 즉, 시료(126)와 X선 발생부(150)들과의 거리(r)를 크게 함으로써 X선 발생부(150)들을 더 많이 배치할 수도 있다. 또한 각각의 X선 발생부(150)들 간의 간격은 동일하게 설정될 수 있다. 즉, 인접하는 X선 발생부(150)들과 시료(126)가 형성하는 내각(θ)은 모두 동일하게 설정될 수 있다. 예컨대 도 1 에서와 같이 6개의 X선 발생부(150)를 사용할 경우에 인접하는 X선 발생부(150)들과 시료(126)가 형성하는 내각(θ)은 30°로 설정될 수 있다.The X-ray generators 150 may operate simultaneously in the process of irradiating X-rays for the inspection of the sample 126. That is, to inspect the sample 126, the X-ray microscope system according to the present invention irradiates X-rays from multiple angles simultaneously using a plurality of X-ray generators 150. The X-ray generators 150 may be disposed at the same interval as the sample 126 in order to obtain image data of a region having a uniform angle with respect to the sample 126. The distance between the X-ray generators 150 and the sample 126 may be set in consideration of the number of X-ray generators 150. For example, when the number of X-ray generators 150 is increased to increase the accuracy of an image, the distance r between the X-ray generators 150 and the sample 126 may be increased. That is, by increasing the distance r between the sample 126 and the X-ray generators 150, more X-ray generators 150 may be disposed. In addition, the intervals between the respective X-ray generators 150 may be set identically. That is, the internal angles θ formed by the adjacent X-ray generators 150 and the sample 126 may be set to be the same. For example, when six X-ray generators 150 are used as shown in FIG. 1, the internal angle θ formed by the adjacent X-ray generators 150 and the sample 126 may be set to 30 °.

상기 X선 검출부(160)는 상기 시료(126)를 투과한 X선을 감지하여 전기적 신호로 출력하여 디스플레이 장치에서 영상으로 출력한다. 이러한 X선 검출부(160)는 X선 발생부(150)와 대응하는 개수가 배치된다. 그리고 X선 검출부(160)들은 시료(126)를 사이에 두고 X선 발생부(150)와 대면하는 위치에서 배치된다.The X-ray detection unit 160 detects the X-rays transmitted through the sample 126 and outputs the electrical signal as an image to the display device. The number of X-ray detectors 160 corresponding to the X-ray generator 150 is disposed. The X-ray detectors 160 are disposed at positions facing the X-ray generator 150 with the sample 126 therebetween.

이러한 X선 검출부(160)를 통해서 추출된 각각의 영상 데이터는 데이터 처리장치(140)로 전송된다. 데이터 처리장치(140)는 X선 검출부(160)에서 추출된 데이터를 저장하고, 시료(126)에 대한 단층 영상 데이터로 변환하여 표시부(132)에 표시한다. 입력부(130)는 이러한 X선 현미경 시스템의 동작을 제어하기 위한 사용자의 수단일 수 있다. Each image data extracted through the X-ray detection unit 160 is transmitted to the data processing device 140. The data processing device 140 stores the data extracted by the X-ray detection unit 160, converts the extracted data into tomographic image data for the sample 126, and displays the data on the display unit 132. The input unit 130 may be a user's means for controlling the operation of the X-ray microscope system.

도 1에 도시된 X선 발생부(150) 및 X선 검출부(160)에 대한 한 쌍의 배열을 도 2를 참조하여 좀 더 자세히 살펴보면 다음과 같다. A pair of arrangements of the X-ray generator 150 and the X-ray detector 160 illustrated in FIG. 1 will be described in more detail with reference to FIG. 2 as follows.

도 2를 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 의한 X선 발생부(150)들은 광원(152) 및 평행광 유도부(159)를 구비한다. 상기 평행광 유도부(159)는 평행한 단 파장의 X선을 발생시키기 위한 것으로 미러(157) 및 반사 필터(158)를 포함한다. 이러한 X선 발생부(150)들은 X선의 분산 및 산란을 방지하고 단파장의 평행 X선을 발생하는 것을 특징으로 한다. Referring to FIG. 2, the X-ray generators 150 according to the first embodiment of the present invention include a light source 152 and a parallel light guide unit 159. The parallel light inducing unit 159 generates a parallel short wavelength X-ray and includes a mirror 157 and a reflection filter 158. The X-ray generators 150 may prevent scattering and scattering of X-rays and generate parallel X-rays having short wavelengths.

한편, 상기 광원(152)은 X선을 발생시키기 위한 것으로 사방으로 X선을 방사하는 일반적인 저가의 광원이며, 상기 광원(152)에서 출사되는 X선은 일부가 미러(157)의 이격 거리에 의한 공간으로 입사되어 반사면에 반사되어 반사 필터(158)로 진행된다. 이때 미러(157)의 배치 각도는 광원(152)에서 출사되는 X선이 70% 이상의 반사율을 보이도록 설정될 수 있다. 반사율을 설정하기 위해서는 포물선 방정식과 미러(157)의 기하학적 관례식이 이용될 수 있다. On the other hand, the light source 152 is a general low-cost light source that emits X-rays to generate X-rays, the X-rays emitted from the light source 152 is partially due to the separation distance of the mirror 157 The incident light into the space is reflected on the reflective surface and proceeds to the reflective filter 158. In this case, the disposition angle of the mirror 157 may be set such that the X-rays emitted from the light source 152 exhibit a reflectance of 70% or more. To set the reflectivity, parabolic equations and geometric conventions of the mirror 157 may be used.

즉, 상기 미러(157)는 사방으로 방사되는 X선들 중 일부를 반사하여 평행한 X선을 출력하는 역할을 한다. 또한, 상기 미러(157)는 서로 다른 두가지 금속 재료를 기판위에 적층하여 제작할 수 있다. 그리고, 상기 반사 필터(158)는 상기 미러(157)에 의해 유도된 평행한 X선을 단파장의 평행한 X선으로 변화시켜 출력하기 위한 것으로, 서로 다른 금속박막이 기판위에 적층된 구조로 이루어질 수 있다. That is, the mirror 157 reflects some of the X-rays radiated in all directions and outputs parallel X-rays. In addition, the mirror 157 may be manufactured by stacking two different metal materials on a substrate. In addition, the reflective filter 158 converts and outputs parallel X-rays induced by the mirror 157 into short X-ray parallel X-rays, and may have a structure in which different metal thin films are stacked on a substrate. have.

또한, 상기 미러(157)는 상하방향으로 서로 소정 간격 이격되고, 각각 일면이 X선을 반사시키며, 반사된 X선들은 서로 적층되어 출력되게 하는 복수 개의 미러들로 구성될 수 있다.In addition, the mirror 157 may be composed of a plurality of mirrors spaced apart from each other by a predetermined interval in the vertical direction, each surface reflects X-rays, and the reflected X-rays are stacked and output.

즉, 상기 미러(157)가 복수 개의 미러들로 구성될 경우 미러들 간의 거리 및 기하학적 형상(굴곡진 정도)을 변화시켜 상기 평행한 X선의 두께를 조절할 수 있다.That is, when the mirror 157 is composed of a plurality of mirrors, the thickness of the parallel X-rays may be adjusted by changing the distance between the mirrors and the geometric shape (degree of bending).

상기 X선 검출부(160)는 투과필터(162) 및 검출막(164)을 포함할 수 있다. 투과 필터(162)는 시료(126)와 검출막(164) 사이에 배치되어 X선의 산란 및 간섭을 개선하기 위한 것이다. 이러한 투과 필터(162)는 금속 재질로 이루어진 메쉬(mesh) 형태의 막으로 구성될 수 있다. 또는 금속 재질로 이루어진 다공성 박막으로 구성될 수 있다. The X-ray detector 160 may include a transmission filter 162 and a detection film 164. The transmission filter 162 is disposed between the sample 126 and the detection film 164 to improve scattering and interference of X-rays. The permeable filter 162 may be configured of a mesh-type membrane made of a metal material. Or it may be composed of a porous thin film made of a metal material.

상기 검출막(164)은 시료(126)를 투과한 영상 데이터를 획득하기 위한 것이고, 검출막(164)에 의해 획득된 영상 데이터는 데이터 처리장치(140)로 전송된다. 검출막(164)으로부터 영상 데이터를 전송받은 데이터 처리장치(140)는 영상 데이터를 디지털 확대하여 표시부(132)에 전송할 수 있다. The detection film 164 is for acquiring image data transmitted through the sample 126, and the image data obtained by the detection film 164 is transmitted to the data processing device 140. The data processing device 140 receiving the image data from the detection layer 164 may digitally enlarge the image data and transmit the image data to the display unit 132.

한편, 상기 X선 발생부(150)에서 조사되는 X선은 평행광이므로 상기 각 X선 검출부(160)는 대면하여 위치하는 X선 발생부에서 조사된 X선 만을 수광할 수 있다. 따라서, 상기 각 X선 검출부(160)는 대면하지 않는 X선 발생부에서 조사된 X선에 영향을 받지않고 시료(160)의 선명한 영상데이터를 획득할 수 잇다.On the other hand, since the X-rays irradiated from the X-ray generator 150 are parallel lights, the X-ray detectors 160 may receive only X-rays irradiated from the X-ray generators facing each other. Accordingly, each of the X-ray detectors 160 may obtain clear image data of the sample 160 without being affected by the X-rays irradiated from the X-ray generator that does not face each other.

또한, 본 발명은 상기 X선 검출부(160)에서 추출된 영상 데이터들을 바탕으로 단층 영상을 재구성하는 데이터 처리장치(140), 그리고 시료(126)의 단층 영상을 디스플레이하기 위한 표시부(132)를 구비한다.
In addition, the present invention includes a data processing unit 140 for reconstructing a tomography image based on the image data extracted by the X-ray detection unit 160, and a display unit 132 for displaying a tomography image of the sample 126. do.

도 3는 본 발명의 제 2 실시예에 의한 X선 발생부(150) 및 X선 검출부(260)를 나타내는 도면이다. 제 2 실시예에서 전술한 실시예와 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 도면부호를 사용하고 자세한 설명을 생략하기로 한다. 3 is a diagram illustrating an X-ray generator 150 and an X-ray detector 260 according to a second embodiment of the present invention. In the second embodiment, the same reference numerals are used for the same components as those of the above-described embodiment, and detailed descriptions thereof will be omitted.

도 3를 참조하면, 본 발명의 제 2 실시예에 의한 X선 검출부(260)는 투과필터(262)와 투과필터(262)를 경유한 X선을 검출하기 위한 신틸레이터(264)를 구비한다. 그리고 신틸레이터(264)에 결상되는 영상을 확대하기 위한 광학렌즈(266)와 광학렌즈(266)에 의해 확대된 영상을 검출하기 위한 촬상소자(268)를 구비한다.Referring to FIG. 3, the X-ray detector 260 according to the second exemplary embodiment includes a transmission filter 262 and a scintillator 264 for detecting X-rays via the transmission filter 262. . And an optical lens 266 for enlarging an image formed on the scintillator 264 and an image pickup device 268 for detecting an image enlarged by the optical lens 266.

또한, 상기 촬상소자(268)는 CCD 소자를 이용할 수 있다.In addition, the imaging device 268 may use a CCD device.

이와 같이 제 2 실시예에 의한 X선 검출부(260)는 신틸레이터(264)에 결상된 상을 광학렌즈(266)를 이용하여 확대함으로써 시료(126)를 관찰할 수 있다. As described above, the X-ray detection unit 260 according to the second embodiment may observe the sample 126 by enlarging the image formed on the scintillator 264 using the optical lens 266.

도 4는 제 3 실시예에 의한 X선 발생부(350) 및 X선 검출부를 나타내는 도면이다. 제 3 실시예에서 전술한 실시예들에서와 동일한 구성용소에 대해서는 동일한 도면부호를 사용하고 자세한 설명을 생략하기로 한다. 4 is a view showing an X-ray generator 350 and an X-ray detector according to the third embodiment. In the third embodiment, the same components as in the above-described embodiments will be denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.

도 4를 참조하면, 제 3 실시예에 의한 X선 발생부(350)는 광원(152)에서 출사되는 X선을 미러(157)의 입구에서 집광되도록 광 경로를 유도하기 위한 포커싱 미러(151)들을 더 구비할 수 있다. Referring to FIG. 4, the X-ray generator 350 according to the third exemplary embodiment may provide a focusing mirror 151 for guiding an optical path such that the X-rays emitted from the light source 152 are collected at the entrance of the mirror 157. It may be provided with more.

상술한 실시예들에서 표현된 X선 발생부 및 X선 검출부들에 의해서 시료(126)를 투과하여 X선 검출부를 통해서 추출된 데이터는 데이터 처리장치(140)로 전송된다. 데이터 처리장치(140)는 X선 검출부(160)에서 추출된 데이터를 저장하고, 단층 영상 데이터로 변환하여 표시부(미도시)에 표시한다. 이처럼 추출된 데이터를 시료의 단층 영상으로 표시하기 위해서 데이터 처리장치는 도 5에서와 같이 데이터 저장부(142), 데이터 보간부(144) 및 영상 처리부(146)를 포함한다. Data extracted through the X-ray detector through the sample 126 by the X-ray generator and the X-ray detectors represented in the above-described embodiments is transmitted to the data processing device 140. The data processor 140 stores the data extracted by the X-ray detector 160, converts the data extracted into the tomographic image data, and displays the data on a display unit (not shown). In order to display the extracted data as a tomographic image of the sample, the data processing apparatus includes a data storage unit 142, a data interpolation unit 144, and an image processing unit 146 as shown in FIG. 5.

데이터 저장부(142)는 X선 검출부(160)로부터 추출된 데이터를 저장한다. 데이터 보간부(144)는 데이터 저장부(142)의 데이터를 기반으로 X선 발생부(150)들 간의 데이터를 추정한다. 그리고 영상 처리부(146)는 데이터 저장부(142) 및 데이터 보간부(144)의 데이터를 단층 영상 데이터로 변환한다. The data storage unit 142 stores the data extracted from the X-ray detection unit 160. The data interpolator 144 estimates data between the X-ray generators 150 based on the data of the data storage unit 142. The image processor 146 converts the data of the data storage unit 142 and the data interpolator 144 into tomographic image data.

이때 데이터 보간부(144)의 데이터 보간 방법을 좀 더 자세히 살펴보면 다음과 같다. 도 6는 도 1에 도시된 X선 발생부(150) 및 X선 검출부(160)의 배치를 나타내는 도면이다. 도 6에서 S1 내지 S6는 시료(126)를 둘러싸고 배치되는 제 1 내지 제 6 X선 발생부(150)를 나타내고, D1내지 D6는 각각의 X선 발생부(150)들에 대응하는 제 1 내지 제 6 X선 검출부(160)를 나타낸다. 그리고 C1 내지 C5는 각각의 X선 발생부(150)들 간의 중간 위치에 해당하는 것으로 데이터 보간을 통해서 가상의 영상 데이터를 추출하기 위한 위치들을 나타낸다.In this case, the data interpolation method of the data interpolator 144 will be described in more detail as follows. FIG. 6 is a diagram illustrating the arrangement of the X-ray generator 150 and the X-ray detector 160 illustrated in FIG. 1. In FIG. 6, S1 to S6 represent first to sixth X-ray generators 150 arranged around the sample 126, and D1 to D6 represent first to sixth X-ray generators 150 corresponding to the respective X-ray generators 150. The sixth X-ray detector 160 is shown. In addition, C1 to C5 correspond to intermediate positions between the respective X-ray generators 150 and indicate positions for extracting virtual image data through data interpolation.

예로서 도 7와 같이 6개의 X선 발생부(150)들을 이용하여 영상촬영을 할 경우에는 각각의 X선 발생부(150)들과 시료(126)와의 내각은 30°방향마다 형성된다.For example, when imaging is performed by using six X-ray generators 150 as shown in FIG. 7, an internal angle between the X-ray generators 150 and the sample 126 is formed every 30 °.

즉, 각각의 X선 발생부(150)들을 이용하여 시료(126)의 일면을 30°방향마다 측정한다. 이렇게 직접적으로 촬영되어 획득한 데이터들은 데이터 저장부(142)에 저장된다. That is, one surface of the sample 126 is measured every 30 ° using the respective X-ray generators 150. The data directly photographed and obtained are stored in the data storage unit 142.

한편 각각의 X선 발생부(150)들 사이의 위치에 대해서는 직접적인 촬영 데이터를 획득할 수 없다. 데이터 보간부(144)는 이처럼 X선 발생부(150)들로 측정할 수 없는 영역에 대한 데이터를 추정한다. On the other hand, it is not possible to obtain direct photographing data with respect to positions between the respective X-ray generators 150. The data interpolator 144 estimates data on an area that cannot be measured by the X-ray generators 150.

예컨대 각각의 X선 발생부(150)들 간의 사이에 위치하는 영역에 대한 시료(126)의 데이터를 추정하는 방법은 다음과 같다. 제 1 내지 제 6 X선 발생부(150)들의 중간에 위치한 가상의 측정 영역인 C1 내지 C5의 데이터 보간 방법은 인접하는 X선 발생부(150)들의 데이터에 대한 산술평균을 이용하여 추정할 수 있다. 예를 들어 도 7에서와 같이 제 1 및 제 2 X선 발생부(S1,S2)를 이용하여 획득한 데이터를 통한 이미지가 각각 (가) 및 (나)로 설정하고 이를 이용하여 C1 위치에서의 이미지(ㄱ)를 추정하는 방법은 다음과 같다. For example, the method of estimating the data of the sample 126 for the area located between the respective X-ray generators 150 is as follows. A data interpolation method of C1 to C5, which is a virtual measurement area located in the middle of the first to sixth X-ray generators 150, may be estimated using an arithmetic mean of data of adjacent X-ray generators 150. have. For example, as shown in FIG. 7, the images through the data acquired using the first and second X-ray generators S1 and S2 are set to (A) and (B), respectively, and used at the C1 position. The method of estimating the image a is as follows.

제 1 및 제 2 X선 발생부(S1,S2)들에서 추출한 데이터들 중에서 시료에 있어 상대적으로 동일한 위치에 있는 두 점 P1 과 P2에서의 좌표 및 영상의 강도를 각각(x1,y1,I1), (x2,y2,I2) 이라고 한다면, C1에서의 좌표 및 영상 강도의 데이터는 P1 과 P2의 데이터의 산술 평균을 이용하여 획득할 수 있다. 즉, C1에서의 PC1의 좌표 및 영상 강도는 다음과 같다.
Among the data extracted by the first and second X-ray generators S1 and S2, the coordinates of the two points P1 and P2 located at the same position in the sample and the intensity of the image are respectively (x1, y1, I1). , (x2, y2, I2), the coordinate and image intensity data at C1 can be obtained using the arithmetic mean of the data of P1 and P2. That is, the coordinates and the image intensity of P C1 at C1 are as follows.

Figure 112011027149672-pat00001
Figure 112011027149672-pat00001

상술한 실시예는 인접하는 X선 발생부(150)들 간에서 하나의 데이터를 추정하는 것을 나타낸다. 이런 방법을 이용하여 두 개 이상의 데이터를 추정할 수도 있다. The above-described embodiment shows estimating one data between adjacent X-ray generators 150. You can also use this method to estimate two or more pieces of data.

도 8은 제 1 내지 제 2 X선 발생부(S1,S2) 사이의 영역에서 n개의 데이터를 추정할 경우를 나타내는 도면이다. 이와 같이 두 구간 사이에서 n개의 데이터를 추정할 경우 두 영역은 (n+1)등분된다. 즉, 각각의 구간을 동일하게 나눌 경우 각각의 구간들 사이의 데이터 편차는 S1에서 S2까지의 데이터 편차를 (n+1)로 나눈 값으로 추정될 수 있다. 따라서 C1,C2,...Cn의 PC1, PC2,...,PCn 의 좌표 및 영상 강도는 다음과 같다. C1의 PC1에서의 x좌표는 S1의 x좌표에서 S1과 S2의 x좌표의 편차를 (n+1)로 나눈 값인 (x2-x1)/(n+1)를 합한 값과 같다. 마찬가지로 C2의 PC2에서의 x좌표는 S1의 x좌표에서 2*(x2-x1)/(n+1)를 합한 값과 같다. 이런 방법으로 j번째의 Cj의 PCj에서의 x좌표는 x1+j(x2-x1)/(n+1) = {(n-j+1)x1+jx2}/(n+1)로 일반화시킬 수 있다. 8 is a diagram illustrating a case where n pieces of data are estimated in an area between the first to second X-ray generators S1 and S2. In this way, when estimating n data between two intervals, the two regions are divided into (n + 1). That is, when each section is equally divided, the data deviation between the sections may be estimated by dividing the data deviation from S1 to S2 by (n + 1). Therefore, the coordinates and the image intensity of P C1 , P C2 , ..., P Cn of C1, C2, ... Cn are as follows. The x-coordinate of P C1 of C1 is equal to the sum of (x2-x1) / (n + 1), which is the value of the x-coordinate of S1 and S2 divided by (n + 1) from the x-coordinate of S1. Similarly, the x coordinate at P C2 of C2 is equal to the sum of 2 * (x2-x1) / (n + 1) at the x coordinate of S1. In this way, the x-coordinate of P Cj of the j th Cj is generalized to x1 + j (x2-x1) / (n + 1) = {(n-j + 1) x1 + jx2} / (n + 1) You can.

또한 j번째 Cj의 PCj에서의 y좌표는 y1+j(y2-y1)/(n+1) = {(n-j+1)y1+jy2}/(n+1) 라고 일반화시킬 수 있다. And y coordinates in the P Cj j-th Cj may be generalized as y1 + j (y2-y1) / (n + 1) = {(n-j + 1) y1 + jy2} / (n + 1) .

이와 마찬가지로 j번째 Cj의 PCj에서의 영상 강도는 I1+j(I2-I1)/(n+1) = {(n-j+1)I1+jI2}/(n+1) 라고 일반화시킬 수 있다. Similarly, the image intensity at P Cj of the j th Cj can be generalized as I1 + j (I2-I1) / (n + 1) = {(n-j + 1) I1 + jI2} / (n + 1) have.

즉, 이를 정리하면 S1과 S2의 데이터를 n등분할 경우 j번째 영역에서의 특정 지점 P(x,y,I)에 대한 데이터는 다음과 같다.
In other words, when the data of S1 and S2 are divided into n, the data for a specific point P (x, y, I) in the j-th region is as follows.

Figure 112011027149672-pat00002
Figure 112011027149672-pat00002

이처럼 인접하는 데이터들을 이용하여 사이 값을 보간함으로써 보다 세밀한 영상 데이터를 획득할 수 있다. In this way, more detailed image data can be obtained by interpolating the inter-values using adjacent data.

상술한 방법들은 인접하는 X선 발생부들 간의 데이터를 보간하는 방법의 일 실시예에 불과하다. 즉, 데이터 보간부의 동작은 영상 데이터를 평활하는 공지된 기술이 이용되어도 무방하다. 또한 X-선 발생부와 검출부의 개수를 늘림으로써 보간을 통하여 얻는 영상데이터의 정밀성을 높일 수 있다.The above-described methods are merely one embodiment of a method of interpolating data between adjacent X-ray generators. In other words, a known technique for smoothing image data may be used for the operation of the data interpolator. In addition, by increasing the number of X-ray generators and detectors, the accuracy of image data obtained through interpolation can be improved.

이와 같이 본 발명에 의한 CT 촬영장치는 다수 개의 X선 발생부가 동시에 시료를 촬영하기 때문에 시료에 대한 단층촬영이 실시간으로 이루어질 수 있다. 이에 따라 시료의 단층 모습을 X선을 이용하여 동영상과 같이 촬영할 수 있다. 단층 촬영을 위한 시간이 많이 소요되는 기존의 시스템이 움직이는 시료를 촬영하는 데에 난점이 있는 것을 개선할 수 있다. As described above, in the CT imaging apparatus of the present invention, since a plurality of X-ray generators simultaneously photograph a sample, tomography of the sample may be performed in real time. Accordingly, the tomography of the sample can be taken as a video using X-rays. The conventional system, which takes a long time for tomography, can improve the difficulty of taking moving samples.

또한 본 발명에 의한 X선 현미경 시스템은 X선 발생부에 평행광 유도부를 포함하고 있기 때문에 다수 개의 X선 발생부에서 발생하는 X선의 간섭으로 인한 영상 감도 저하를 방지할 수 있다. 만일 X-선이 방사되는 형태의 기존 X-선 발생부의 개수를 늘여 장착할 경우에는 인접하는 X선의 위상 편이 및 간섭으로 인해서 각각의 X선 검출부에서 추출되는 데이터의 감도가 급격히 저하될 수 있다. 하지만 본 발명에 의한 X선 현미경 시스템은 평행광 유도부를 통해서 단파장의 평행 X선을 발생시켜 영상 감도를 향상시키므로 이러한 문제점을 해결할 수 있다. In addition, since the X-ray microscope system according to the present invention includes a parallel light induction part in the X-ray generation part, it is possible to prevent a decrease in image sensitivity due to X-ray interference generated in a plurality of X-ray generation parts. If the number of existing X-ray generators in which X-rays are radiated is increased, the sensitivity of the data extracted from each X-ray detector may be drastically reduced due to phase shift and interference of adjacent X-rays. However, the X-ray microscope system according to the present invention can solve this problem by generating parallel X-rays of short wavelength through the parallel light induction part to improve image sensitivity.

상술한 본 발명의 실시예들은 X선 발생부 및 X선 검출부의 배치 및 구성을 중심으로 설명되었다. 이외에도 X선 현미경의 구성 요소 중 전체적인 하우징 및 기타 일반적인 구성은 종래의 기술을 바탕으로 당업자들에게 있어서 실시가 용이한 것이므로 자세한 설명은 생략하였다.
Embodiments of the present invention described above have been described based on the arrangement and configuration of the X-ray generator and the X-ray detector. In addition, the overall housing and other general configuration of the components of the X-ray microscope is easy to implement for those skilled in the art based on the prior art, detailed description thereof will be omitted.

이상에서 살펴본 바와 같이 본 발명은 바람직한 실시예를 들어 도시하고 설명하였으나, 상기한 실시예에 한정되지 아니하며 본 발명의 정신을 벗어나지 않는 범위 내에서 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변경과 수정이 가능할 것이다.
While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is clearly understood that the same is by way of illustration and example only and is not to be taken by way of limitation in the present invention. Various changes and modifications will be possible.

150, 350 : X선 발생부 160, 260 : X선 검출부
140 : 데이터 처리장치 162, 262 : 투과필터
150, 350: X-ray generator 160, 260: X-ray detector
140: data processing apparatus 162, 262: transmission filter

Claims (8)

시료를 중심으로 서로 이격되어 방사형으로 고정되는 다수 개의 X선 발생부들; 및
상기 시료를 사이에 두고, 상기 X선 발생부들의 개수와 대응하는 개수로 상기 X선 발생부들과 대면하여 고정되며, 각각 대면하는 X선 발생부에서 출사되어 상기 시료를 통과한 X선만을 수광하여, 서로 다른 방향에서 상기 시료의 확대된 영상 데이터들을 획득하는 X선 검출부들;을 포함하고,
X선 촬영시에 상기 X선 발생부들과 상기 X선 검출부들은 회전하지 않고 고정되어, 한번에 동시에 상기 시료의 영상데이터들을 획득하며,
상기 X선 발생부들:은 각각
X선을 사방으로 출사하는 광원;
상기 광원의 전방에 구비되고, 상기 X선들 중 일부를 일정한 두께 및 폭을 갖는 평행광이 되도록 반사시키는 미러; 및
상기 미러를 경유하는 상기 X선을 반사시킴으로써 단 파장이 되게 하는 반사 필터;를 포함하는 것을 특징으로 하는 단층 촬영용 X선 현미경 시스템.
A plurality of X-ray generating units spaced apart from each other about the sample and fixed radially; And
The sample is interposed, and fixed to face the X-ray generators in a number corresponding to the number of the X-ray generators, and receives only X-rays emitted from the X-ray generators facing each other and passed through the sample And X-ray detectors for obtaining magnified image data of the sample in different directions.
The X-ray generators and the X-ray detectors are fixed without being rotated during X-ray imaging, so as to acquire image data of the sample at the same time.
The X-ray generators: respectively
A light source emitting X-rays in all directions;
A mirror provided in front of the light source and reflecting some of the X-rays to be parallel light having a predetermined thickness and width; And
And a reflection filter reflecting the X-rays passing through the mirror to a short wavelength, wherein the X-ray microscope system for tomography is included.
제 1 항에 있어서,
상기 영상 데이터들을 입력받아 상기 시료의 단층 영상 데이터를 생성하는 데이터 처리장치; 및
상기 단층 영상 데이터를 단층 영상으로 표시하는 표시부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 단층 촬영용 X선 현미경 시스템.
The method of claim 1,
A data processing device receiving the image data and generating tomographic image data of the sample; And
And a display unit for displaying the tomography image data as a tomography image.
제 2 항에 있어서,
상기 데이터 처리장치:는
상기 영상 데이터들을 상기 X선 검출부들로부터 입력받아 저장하는 데이터 저장부;
상기 영상 데이터들을 기반으로 상기 X선 발생부들 사이의 위치에서의 영상 데이터들을 추정하는 데이터 보간부; 및
상기 데이터 저장부 및 상기 데이터 보간부의 영상 데이터들로부터 상기 시료의 단층 영상 데이터를 생성하는 영상 처리부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 단층 촬영용 X선 현미경 시스템.
The method of claim 2,
The data processing device:
A data storage unit which receives the image data from the X-ray detectors and stores the image data;
A data interpolator for estimating image data at positions between the X-ray generators based on the image data; And
And an image processing unit for generating tomographic image data of the sample from the image data of the data storage unit and the data interpolation unit.
제 3 항에 있어서,
상기 데이터 보간부는 인접하는 상기 X선 검출부들의 영상 데이터를 산술평균하여 상기 X선 발생부들 사이의 위치에서의 영상 데이터들을 추정하는 것을 특징으로 하는 단층 촬영용 X선 현미경 시스템.
The method of claim 3, wherein
And the data interpolator estimates image data at positions between the X-ray generators by arithmetically averaging image data of adjacent X-ray detectors.
제 1 항에 있어서,
상기 미러는 서로가 소정 간격 이격되고 상기 X선이 적어도 일면을 조사하도록 배치되며, 각각에 반사된 X선이 서로 적층되어 일정한 두께 및 폭을 갖는 평행광이 되도록 유도하는 다수 개의 미러들로 구성되는 것을 특징으로 하는 단층 촬영용 X선 현미경 시스템.
The method of claim 1,
The mirrors are arranged to be spaced apart from each other by a predetermined interval and the X-rays irradiate at least one surface, and each of the mirrors is composed of a plurality of mirrors to induce the parallel light having a predetermined thickness and width stacked on each other X-ray microscope system for tomography, characterized in that.
제 1 항에 있어서,
상기 광원과 상기 미러 사이에 구비되고, 상기 X선이 상기 미러로 집중되도록 상기 X선의 경로를 유도하는 포커싱 미러를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 단층 촬영용 X선 현미경 시스템.
The method of claim 1,
And a focusing mirror provided between the light source and the mirror, the focusing mirror guiding the path of the x-ray to concentrate the x-ray onto the mirror.
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 X선 검출부:는
상기 시료를 투과한 상기 X선이 투영되는 검출막; 및
상기 시료와 상기 검출막 사이에 배치되며, 메쉬 형태의 금속막으로 형성되는 투과 필터;를 포함하는 것을 특징으로 하는 단층 촬영용 X선 현미경 시스템.
7. The method according to any one of claims 1 to 6,
The X-ray detector:
A detection film on which the X-rays passing through the sample are projected; And
And a transmission filter disposed between the sample and the detection membrane and formed of a metal film in the form of a mesh.
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 X선 검출부:는
상기 시료를 투과한 상기 X선의 산란 및 간섭을 억제하는 메쉬 형태의 금속막으로 이루어진 투과 필터;
상기 투과 필터를 경유한 상기 X선을 검출하는 신틸레이터;
상기 신틸레이터의 영상을 확대하기 위한 광학렌즈; 및
상기 광학렌즈에 의해 확대된 영상을 촬상하기 위한 촬상소자;를 구비하는 것을 특징으로 하는 단층 촬영용 X선 현미경 시스템.

7. The method according to any one of claims 1 to 6,
The X-ray detector:
A transmission filter made of a metal film in a mesh form to suppress scattering and interference of the X-rays passing through the sample;
A scintillator for detecting the X-rays via the transmission filter;
An optical lens for enlarging an image of the scintillator; And
And an imaging device for capturing an image enlarged by the optical lens.

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