KR101178796B1 - Test chart set and test system for testing wide dynamic range in digital camera device - Google Patents

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    • H04N17/002—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for television cameras

Abstract

PURPOSE: A test chart set and a test system for testing a wide-area backlight correcting function of a digital photographing device are provided to perform a test of a wide-area backlight correcting function of an image photographing device in a quite bright surrounding background such as a case being instantaneously exposed to strong and bright lights. CONSTITUTION: A test chart set for testing a wide-area backlight correcting function of a digital photographing device comprises a normal test chart(100), a high brightness test chart(200), and a low brightness test chart(300). The normal test chart comprises a normal basis and normal annulus patterns. The normal basis is colored with colors of medium-brightness. A plurality of normal annulus patterns in which colors having gradual brightness are colored is arranged in an annulus shape in the normal annulus pattern. The high brightness test chart comprises a high brightness basis and high brightness annulus patterns. The high brightness basis is colored with colors having the brightness brighter than the medium-brightness. The low brightness test chart comprises a low brightness basis and low brightness annulus patterns.

Description

디지털 촬상 기기의 광역 역광 보정 기능을 테스트하기 위한 테스트 차트 셋트 및 테스트 시스템{TEST CHART SET AND TEST SYSTEM FOR TESTING WIDE DYNAMIC RANGE IN DIGITAL CAMERA DEVICE}TEST CHART SET AND TEST SYSTEM FOR TESTING WIDE DYNAMIC RANGE IN DIGITAL CAMERA DEVICE}

본 발명은 디지털 촬상 기기를 테스트하기 위한 테스트 차트 셋트 및 테스트 시스템에 관한 것으로서, 특히 디지털 촬상 기기의 광역 역광 보정(Wide Dynamic Range : 이하, 'WDR'이라 함) 기능을 테스트하기 위한 테스트 차트 셋트 및 테스트 시스템에 관한 것이다.
The present invention relates to a test chart set and a test system for testing a digital imaging device, and more particularly, to a test chart set for testing a wide dynamic range (WDR) function of a digital imaging device. It is about a test system.

최근, 디지털 카메라 등과 같은 디지털 촬상 기기의 사용자 수요가 급격히 증대되면서 그 기능들이 갈수록 다양화되고 지능화되고 있다. 일반적으로, 디지털 촬상 기기는, 획득할 수 있는 동적 영역이 실제 장면의 동적 영역에 비해 매우 작기 때문에 실제 장면에 대한 모든 정보를 처리하기에 부족하다. 이에 따라, 디지털 촬상 기기는 순간적으로 강하고 밝은 빛에 노출되거나 역광이 발생하는 상태와 같은 악조건 상태에서 영상을 취득하는 경우에는, 영상의 가장 밝은 부분과 어두운 부분에 대해서 충분한 정보의 획득이 불가능하다. 그 결과, 디지털 촬상 기기로 촬상한 영상은 화질이 심각하게 저하된다.Recently, as user demand of digital imaging devices such as digital cameras is rapidly increasing, their functions are becoming more diversified and intelligent. In general, a digital imaging device is insufficient to process all information about a real scene because the obtainable dynamic range is very small compared to the dynamic range of the real scene. Accordingly, when the digital imaging device acquires an image in a bad condition such as a state in which it is momentarily exposed to strong bright light or a backlight is generated, it is impossible to obtain sufficient information on the brightest and darkest portions of the image. As a result, the image quality of the image picked up by the digital imaging device is seriously degraded.

이를 극복하기 위해 개발된 것이 WDR 기법으로서, 보안 및 감시를 위한 보안 카메라, 일반 디지털 카메라와, 방송 촬영 장비, 자동차용 카메라, 휴대폰 카메라 등 모든 디지털 촬상 기기에　널리 사용되고 있다.The WDR technique was developed to overcome this problem and is widely used in all digital imaging devices such as security cameras for security and surveillance, general digital cameras, broadcast photographing equipment, automotive cameras, and mobile phone cameras.

WDR 기술은 밝은 부분이 잘 보이도록 노출을 조절한 영상과 어두운 부분이 잘 보이도록 노출이 조절된 서로 다른 영상들을 융합하여 밝은 부분과 어두운 부분이 모두 선명하게 잘 보이는 영상을 생성할 수 있게 한다. 즉, WDR 기능을 가지는 영상 처리 장치는, 획득할 수 있는 동적 영역이 크게 확대된다.WDR technology allows you to create images with both bright and dark portions clearly visible by fusing different exposure-enhanced images with brighter portions of the light and darker portions of the light. That is, in the image processing apparatus having the WDR function, the obtainable dynamic area is greatly enlarged.

이와 같은 WDR 기능은 디지털 촬상 기기의 성능을 결정하는 주요한 요인들 중의 하나로 작용한다. 그러므로, 디지털 촬상 기기의 테스트에 있어서, WDR 기능에 대한 테스트는 필수적으로 요구되고 있다.
This WDR function is one of the major factors that determine the performance of digital imaging equipment. Therefore, in the test of the digital imaging device, a test for the WDR function is indispensable.

본 발명의 목적은 효과적으로 광역 역광 보정 기능을 테스트할 수 있는 테스트 차트 셋트 및 이를 포함하는 테스트 시스템을 제공하는 데 있다.An object of the present invention is to provide a test chart set and a test system including the same that can effectively test a wide area backlight correction function.

상기와 같은 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일면은 광역 역광 보정 기능을 테스트하기 위한 테스트 차트 셋트에 관한 것이다. 본 발명의 테스트 차트 셋트는 노말 바탕 및 노말 환형 패턴을 포함하는 노말 테스트 차트로서, 상기 노말 바탕은 중간 휘도를 가지는 색채로 채색되며, 상기 노말 환형 패턴은 각각에 점진적인 휘도를 가지는 색채들 각각이 채색되는 복수개의 노말 환형 단위들이 환형으로 배열되어 이루어지는 상기 노말 테스트 차트; 고휘도 바탕 및 고휘도 환형 패턴을 포함하는 고휘도 테스트 차트로서, 상기 고휘도 바탕은 상기 중간 휘도보다 높은 휘도를 가지는 색채로 채색되며, 상기 고휘도 환형 패턴은 각각에 점진적인 휘도를 가지는 색채들 각각이 채색되는 복수개의 고휘도 환형 단위들이 환형으로 배열되어 이루어지는 상기 고휘도 테스트 차트; 및 저휘도 바탕 및 저휘도 환형 패턴을 포함하는 저휘도 테스트 차트로서, 상기 저휘도 바탕은 상기 중간 휘도보다 낮은 휘도를 가지는 색채로 채색되며, 상기 저휘도 환형 패턴은 각각에 점진적인 휘도를 가지는 색채들 각각이 채색되는 복수개의 저휘도 환형 단위들이 환형으로 배열되어 이루어지는 상기 저휘도 테스트 차트를 구비한다.One aspect of the present invention for achieving the above technical problem relates to a test chart set for testing a wide area backlight correction function. The test chart set of the present invention is a normal test chart including a normal background and a normal annular pattern, wherein the normal background is colored with a color having an intermediate luminance, and the normal annular pattern is colored with each color having a gradual luminance at each of them. The normal test chart comprising a plurality of normal annular units arranged in an annular shape; A high luminance test chart including a high luminance background and a high luminance annular pattern, wherein the high luminance background is colored with a color having a higher luminance than the intermediate luminance, and the high luminance annular pattern is a plurality of colors each of which has a gradual luminance. The high brightness test chart having high brightness annular units arranged in an annular shape; And a low luminance background and a low luminance annular pattern, wherein the low luminance background is colored with a color having a lower luminance than the intermediate luminance, and the low luminance annular pattern is a color having a gradual luminance at each of them. And the low luminance test chart in which a plurality of low luminance annular units, each of which is colored, are arranged in an annular shape.

상기와 같은 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 다른 일면은 디지털 촬상 기기의 광역 역광 보정 기능을 테스트하기 위한 디지털 촬상 기기 테스트 시스템에 관한 것이다. 본 발명의 디지털 촬상 기기 테스트 시스템은 선택 테스트 차트의 결착이 가능한 조광 장치로서, 결착된 상기 선택 테스트 차트를 조광하여, 상기 선택 테스트 차트에 따른 패턴을 테스트되는 상기 디지털 촬상 기기에 제공하는 상기 조광 장치; 및 서로 상이한 휘도를 가지는 색채로 바탕이 채색되는 노말 테스트 차트, 고휘도 테스트 차트 및 저휘도 테스트 차트를 가지는 광역 역광 테스트 차트 셋트로서, 상기 노말 테스트 차트, 상기 고휘도 테스트 차트 및 상기 저휘도 테스트 차트는 사용자에 의하여 상기 선택 테스트 차트로 선택되는 상기 광역 역광 테스트 차트 셋트를 구비한다.Another aspect of the present invention for achieving the above technical problem relates to a digital imaging device test system for testing a wide area backlight correction function of the digital imaging device. The digital imaging device test system of the present invention is a dimming device capable of binding a selection test chart, wherein the dimming selection test chart is dimmed to provide a pattern according to the selection test chart to the digital imaging device to be tested. ; And a wide-area backlight test chart set having a normal test chart, a high brightness test chart, and a low brightness test chart colored with a background having different luminance, wherein the normal test chart, the high brightness test chart, and the low brightness test chart are used by a user. The broad backlight test chart set is selected by the selection test chart.

본 발명의 테스트 차트 셋트에서는, 중간 휘도의 바탕색을 가지는 노말 테스트 차트, 높은 휘도의 바탕색을 가지는 고휘도 테스트 차트, 그리고, 아주 낮은 휘도의 바탕색을 가지는 저휘도 테스트 차트가 구비한다. In the test chart set of the present invention, a normal test chart having a background color of intermediate luminance, a high luminance test chart having a background luminance of high luminance, and a low luminance test chart having a background luminance of very low luminance are provided.

그 결과, 본 발명의 테스트 차트 셋트를 구비하는 테스트 시스템에 의하면, 테스트되는 디지털 촬상 기기에 대하여, 아주 넓은 범위의 동적 영역에서의 기능 즉, 광역 역광 보정 기능에 대한 테스트가 효과적으로 수행될 수 있다.
As a result, according to the test system provided with the test chart set of the present invention, a test for a function in a very wide range of dynamic range, that is, a wide area back light correction function, can be effectively performed on the digital imaging device to be tested.

본 발명에서 사용되는 각 도면의 간단한 설명이 제공된다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 차트 셋트를 설명하기 위한 도면이다.
도 2a 내지 도 2c는 도 1의 테스트 차트 셋트에 포함되는 테스트 차트들을 나타내는 도면들이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 디지털 촬상 기기 테스트 시스템을 나타내는 도면이다.
도 4는 도 3의 조광 장치를 구체적으로 나타내는 도면이다.A brief description of each drawing used in the present invention is provided.
1 is a view for explaining a test chart set according to an embodiment of the present invention.
2A through 2C are diagrams illustrating test charts included in the test chart set of FIG. 1.
3 is a diagram illustrating a digital imaging device test system according to an embodiment of the present invention.
4 is a diagram illustrating the light control apparatus of FIG. 3 in detail.

본 발명과 본 발명의 동작상의 잇점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다. 각 도면을 이해함에 있어서, 동일한 부재는 가능한 한 동일한 참조부호로 도시하고자 함에 유의해야 한다. 그리고, 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 공지 기능 및 구성에 대한 상세한 기술은 생략된다.For a better understanding of the present invention and its operational advantages, and the objects attained by the practice of the present invention, reference should be made to the accompanying drawings, which illustrate preferred embodiments of the invention, and the accompanying drawings. In understanding each of the figures, it should be noted that like parts are denoted by the same reference numerals whenever possible. Further, detailed descriptions of known functions and configurations that may be unnecessarily obscured by the gist of the present invention are omitted.

본 명세서에서, '휘도(brightness)'는 '밝기 수준'을 의미한다. 예를 들면, 흰색(white)은 회색(gray)보다 휘도가 높다고 할 수 있으며, 검은색(black)은 회색(gray)보다 휘도가 낮다고 할 수 있다.In this specification, 'brightness' means 'brightness level'. For example, white may be said to have higher luminance than gray, and black may be said to have lower luminance than gray.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 차트 셋트를 설명하기 위한 도면이다. 본 발명의 테스트 차트 셋트(KTCA)는 디지털 촬상 기기의 광역 역광 보정 기능을 테스트하기 위한 것이다.1 is a view for explaining a test chart set according to an embodiment of the present invention. The test chart set (KTCA) of the present invention is for testing the wide backlight compensation function of the digital imaging device.

도 1을 참조하면, 본 발명의 테스트 차트 셋트(KTCA)는 서로 상이한 휘도를 가지는 색채로 바탕이 채색되는 노말 테스트 차트(100), 고휘도 테스트 차트(200) 및 저휘도 테스트 차트(300)를 구비한다.Referring to FIG. 1, the test chart set KTCA of the present invention includes a normal test chart 100, a high brightness test chart 200, and a low brightness test chart 300, which are colored based on colors having different luminance. do.

바람직한 실시예에서는, 상기 노말 테스트 차트(100), 고휘도 테스트 차트(200) 및 저휘도 테스트 차트(300)는 자신에 채색된 색채만을 투과시키는 투과형 차트이다.In a preferred embodiment, the normal test chart 100, the high brightness test chart 200 and the low brightness test chart 300 is a transmissive chart that transmits only the colors painted on it.

도 2a는 도 1의 노말 테스트 차트(100)를 나타내는 도면이다.FIG. 2A is a diagram illustrating the normal test chart 100 of FIG. 1.

상기 노말 테스트 차트(100)는 노말 바탕(110) 및 노말 환형 패턴(120)을 포함한다. 이때, 상기 노말 바탕(110)은 '중간 휘도'를 가지는 색채로 채색된다. 예를 들면, 상기 노말 바탕(110)은 밀도(density)가 0.7 정도로서, 0.5 정도의 투과율을 가지는 회색(Gray)으로 채색될 수 있다.The normal test chart 100 includes a normal background 110 and a normal annular pattern 120. At this time, the normal background 110 is colored with a color having a 'medium brightness'. For example, the normal background 110 may have a density of about 0.7, and may be colored in gray having a transmittance of about 0.5.

그리고, 상기 노말 환형 패턴(120)은 각각에 점진적인 휘도를 가지는 색채들 각각으로 채색되는 노말 환형 단위(121)들이 환형으로 배열되어 이루어진다. 도 2a에서는, 환형으로 배열되는 22개의 상기 노말 환형 단위(121)들에 의하여, 상기 노말 환형 패턴(120)이 구현된다.In addition, the normal annular pattern 120 is formed by arranging normal annular units 121 that are colored with each of colors having gradual luminance. In FIG. 2A, the normal annular pattern 120 is implemented by the 22 normal annular units 121 arranged in an annular shape.

상기 노말 테스트 차트(100)는 노말 직선 패턴(130)을 더 구비한다. 이때, 상기 노말 직선 패턴(130)은 상기 노말 환형 패턴(120)의 내부에 직선형으로 배열되며 점진적으로 휘도가 변화되는 노말 직선 단위들(131)로 이루어진다. 도 2a에서는, 직선으로 배열되는 3개의 상기 노말 직선 단위들(131)에 의하여, 상기 노말 직선 패턴(130)이 구현된다.The normal test chart 100 further includes a normal straight line pattern 130. In this case, the normal straight line pattern 130 is formed of the normal straight line units 131 arranged in a straight line inside the normal annular pattern 120 and gradually changing in brightness. In FIG. 2A, the normal line pattern 130 is implemented by the three normal line units 131 arranged in a straight line.

상기와 같은 노말 테스트 차트(100)에 의하여, 주변 배경이 중간 정도의 휘도를 가지는 상황에서의 영상 촬상 기기의 광역 역광 보정 기능에 대한 테스트가 수행될 수 있다.By the normal test chart 100 as described above, a test may be performed on the wide area backlight correction function of the image capturing apparatus in a situation where the surrounding background has a medium luminance.

도 2b는 도 1의 고휘도 테스트 차트(200)를 나타내는 도면이다.FIG. 2B is a diagram illustrating the high brightness test chart 200 of FIG. 1.

상기 고휘도 테스트 차트(200)는 고휘도 바탕(210) 및 고휘도 환형 패턴(220)을 포함한다. 이때, 상기 고휘도 바탕(210)은 '중간 휘도'보다 높은 휘도를 가지는 색채로 채색된다. 예를 들면, 상기 고휘도 바탕(210)은 밀도(densit)가 0으로서, 1의 투과율을 가지는 흰색(White)으로 채색될 수 있다. The high brightness test chart 200 includes a high brightness background 210 and a high brightness annular pattern 220. In this case, the high luminance background 210 is colored with a color having a higher luminance than the 'intermediate luminance'. For example, the high brightness background 210 may have a density of 0 and may be colored white having a transmittance of 1.

그리고, 상기 고휘도 환형 패턴(220)은 각각에 점진적인 휘도를 가지는 색채들 각각으로 채색되는 고휘도 환형 단위(221)들이 환형으로 배열되어 이루어진다. 도 2b에서는, 환형으로 배열되는 22개의 상기 고휘도 환형 단위(221)들에 의하여, 상기 고휘도 환형 패턴(220)이 구현된다.In addition, the high brightness annular pattern 220 is formed of a plurality of annular high brightness annular units 221 colored with colors having a gradual brightness. In FIG. 2B, the high luminance annular pattern 220 is implemented by the 22 high luminance annular units 221 arranged in an annular shape.

상기 고휘도 테스트 차트(200)는 고휘도 직선 패턴(230)을 더 구비한다. 이때, 상기 고휘도 직선 패턴(230)은 상기 고휘도 환형 패턴(220)의 내부에 직선형으로 배열되며 점진적으로 휘도가 변화되는 고휘도 직선 단위들(231)로 이루어진다. 도 2b에서는, 직선으로 배열되는 3개의 상기 고휘도 직선 단위들(231)에 의하여, 상기 고휘도 직선 패턴(230)이 구현된다.The high brightness test chart 200 further includes a high brightness straight line pattern 230. In this case, the high brightness straight line pattern 230 is arranged in a straight line inside the high brightness annular pattern 220 and consists of high brightness straight line units 231 whose brightness is gradually changed. In FIG. 2B, the high luminance straight line pattern 230 is implemented by the three high luminance linear units 231 arranged in a straight line.

상기와 같은 고휘도 테스트 차트(200)에 의하여, 순간적으로 강하고 밝은 빛에 노출되는 경우와 같은, 아주 밝은 주변 배경에서의 영상 촬상 기기의 광역 역광 보정 기능에 대한 테스트가 수행될 수 있다.By the high brightness test chart 200 as described above, a test may be performed on the wide area backlight correction function of the image capturing device in a very bright surrounding background, such as when being exposed to strong and bright light momentarily.

도 2c는 도 1의 저휘도 테스트 차트(300)를 나타내는 도면이다.FIG. 2C is a diagram illustrating the low luminance test chart 300 of FIG. 1.

상기 저휘도 테스트 차트(300)는 저휘도 바탕(310) 및 저휘도 환형 패턴(320)을 포함한다. 이때, 상기 저휘도 바탕(310)은 '중간 휘도'보다 낮은 휘도를 가지는 색채로 채색된다. 예를 들면, 상기 저휘도 바탕(310)은 밀도(densit)가 6.0으로서, 0의 투과율을 가지는 흑색(Black)으로 채색될 수 있다. The low luminance test chart 300 includes a low luminance background 310 and a low luminance annular pattern 320. In this case, the low luminance background 310 is colored with a color having a lower luminance than the 'intermediate luminance'. For example, the low luminance background 310 may have a density of 6.0 and may be colored black having a transmittance of zero.

그리고, 상기 저휘도 환형 패턴(320)은 각각에 점진적인 휘도를 가지는 색채들 각각으로 채색되는 저휘도 환형 단위(321)들이 환형으로 배열되어 이루어진다. 도 2c에서는, 환형으로 배열되는 22개의 상기 저휘도 환형 단위(321)들에 의하여, 상기 저휘도 환형 패턴(320)이 구현된다.In addition, the low luminance annular pattern 320 is formed by arranging low luminance annular units 321 colored with each of colors having gradual luminance. In FIG. 2C, the low luminance annular pattern 320 is implemented by the 22 low luminance annular units 321 arranged in an annular shape.

상기 저휘도 테스트 차트(300)는 저휘도 직선 패턴(330)을 더 구비한다. 이때, 상기 저휘도 직선 패턴(330)은 상기 저휘도 환형 패턴(320)의 내부에 직선형으로 배열되며 점진적으로 휘도가 변화되는 저휘도 직선 단위들(331)로 이루어진다. 도 2c에서는, 직선으로 배열되는 3개의 상기 고휘도 직선 단위들(331)에 의하여, 상기 저휘도 직선 패턴(230)이 구현된다.The low brightness test chart 300 further includes a low brightness straight line pattern 330. In this case, the low luminance straight line pattern 330 is arranged in a straight line inside the low luminance annular pattern 320 and consists of low luminance straight line units 331 in which the luminance is gradually changed. In FIG. 2C, the low luminance straight line pattern 230 is implemented by the three high luminance linear units 331 arranged in a straight line.

상기와 같은 저휘도 테스트 차트(200)에 의하여, 터널 안과 같이 매우 어두운 주변 배경에서의 영상 촬상 기기의 광역 역광 보정 기능에 대한 테스트가 수행될 수 있다.By the low luminance test chart 200 as described above, a test may be performed on a broad backlight compensation function of an image pickup device in a very dark peripheral background such as in a tunnel.

정리하면, 도 2a 내지 도 2c의 상기 노말 테스트 차트(100), 고휘도 테스트 차트(200) 및 상기 저휘도 테스트 차트(300)는 각각 상기 노말 환형 패턴(120), 상기 고휘도 환형 패턴(220) 및 상기 저휘도 환형 패턴(320)을 포함한다.In summary, the normal test chart 100, the high brightness test chart 200, and the low brightness test chart 300 of FIGS. 2A to 2C may include the normal annular pattern 120, the high brightness annular pattern 220, and The low brightness annular pattern 320 is included.

이러한 상기 노말 환형 패턴(120), 상기 고휘도 환형 패턴(220) 및 상기 저휘도 환형 패턴(320)을 이용하여, 중앙부분에 집중되는 빛이 집중되는 일반적인 상황에서의 영상 촬상 기기의 광역 역광 보정 기능에 대한 평가가 용이하게 수행될 수 있다.By using the normal annular pattern 120, the high luminance annular pattern 220, and the low luminance annular pattern 320, a wide area backlight correction function of an image capturing apparatus in a general situation where light concentrated at a central portion is concentrated. Evaluation of can be easily performed.

바람직하기로는, 도 2a 내지 도 2c에서, 상기 노말 환형 패턴(120), 상기 고휘도 환형 패턴(220) 및 상기 저휘도 환형 패턴(320)은 동일하게 구현될 수 있으며, 더욱 바람직하기로는, ISO 카메라 OECF의 차트가 적용될 수 있다.Preferably, in FIGS. 2A to 2C, the normal annular pattern 120, the high luminance annular pattern 220, and the low luminance annular pattern 320 may be implemented in the same manner, and more preferably, an ISO camera. OECF charts can be applied.

또한, 도 2a 내지 도 2c의 상기 노말 테스트 차트(100), 고휘도 테스트 차트(200) 및 상기 저휘도 테스트 차트(300)는 각각 상기 노말 직선 패턴(130), 상기 고휘도 직선 패턴(230) 및 상기 저휘도 직선 패턴(330)을 포함한다.In addition, the normal test chart 100, the high brightness test chart 200, and the low brightness test chart 300 of FIGS. 2A to 2C are respectively the normal straight line pattern 130, the high brightness straight line pattern 230, and the The low luminance straight line pattern 330 is included.

이러한 상기 노말 직선 패턴(130), 상기 고휘도 직선 패턴(230) 및 상기 저휘도 직선 패턴(330)을 이용하여, 영상 촬상 기기의 광역 역광 보정의 최적화를 위한 튜닝 작업시에 발생될 수 있는 노이즈 레벨에 대한 평가가 용이하게 수행될 수 있다.By using the normal straight line pattern 130, the high brightness straight line pattern 230 and the low brightness straight line pattern 330, a noise level that may be generated during a tuning operation for optimizing a wide area back light correction of an image pickup device. Evaluation of can be easily performed.

상기와 같은 본 발명의 테스트 차트 셋트(KTCA)를 이용하면, 넓은 밝기의 환경 즉, 광역 역광 보정 기능에 대한 테스트가 용이하게 수행될 수 있다.Using the test chart set KTCA of the present invention as described above, a test for a wide brightness environment, that is, a broad backlight compensation function, can be easily performed.

도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 디지털 촬상 기기 테스트 시스템을 나타내는 도면으로서, 도 1의 광역 역광 테스트 차트 셋트(KTCA)를 이용하여 디지털 촬상 기기(TCAM)의 광역 역광 보정 기능을 테스트하는 시스템이다.FIG. 3 is a diagram illustrating a digital imaging device test system according to an exemplary embodiment of the present invention, wherein a system for testing a wide area backlight correction function of a digital imaging device (TCAM) using the wide area backlight test chart set (KTCA) of FIG. 1. to be.

도 3을 참조하면, 본 발명의 디지털 촬상 기기 테스트 시스템은 조광 장치(DVLT) 및 광역 역광 테스트 차트 셋트(KTCA)를 구비한다.Referring to FIG. 3, the digital imaging device test system of the present invention includes a light control device DVLT and a wide backlight test chart set KTCA.

상기 조광 장치(DVLT)는 선택 테스트 차트(SLA)의 결착이 가능하다. 그리고, 상기 조광 장치(DVLT)는 결착된 상기 선택 테스트 차트(SLT)를 조광하여, 테스트되는 디지털 촬상 기기(TCAM)에는 상기 선택 테스트 차트(SLT)에 따른 패턴을 제공한다.The dimming device DVLT may bind to the selection test chart SLA. The dimming device DVLT dims the selected test chart SLT, and provides the pattern according to the selection test chart SLT to the digital imaging device TCAM to be tested.

상기 광역 역광 테스트 차트 셋트(KTCA)는 서로 상이한 휘도를 가지는 색채로 바탕이 채색되는 노말 테스트 차트(100), 고휘도 테스트 차트(200) 및 저휘도 테스트 차트(300)를 가진다. 이때, 상기 광역 역광 테스트 차트 셋트(KTCA)의 상기 노말 테스트 차트(100), 상기 고휘도 테스트 차트(200) 및 상기 저휘도 테스트 차트(300)는 사용자에 의하여 상기 선택 테스트 차트(SLT)로 선택된다.The wide backlight test chart set KTCA has a normal test chart 100, a high brightness test chart 200, and a low brightness test chart 300, which are colored based on colors having different luminance. In this case, the normal test chart 100, the high brightness test chart 200, and the low brightness test chart 300 of the wide backlight test chart set KTCA are selected by the user as the selection test chart SLT. .

그리고, 상기 광역 역광 테스트 차트 셋트(KTCA)는, 전술된 본 발명의 광역 역광 테스트 차트 셋트(KTCA)가 채용된다.The wide-area backlight test chart set KTCA of the present invention described above is adopted as the wide-area backlight test chart set KTCA.

도 4는 도 3의 조광 장치(DVLT)를 구체적으로 나타내는 도면이다. 도 4를 참조하면, 상기 조광 장치(DVLT)는 조광 샤시(SHLT), LED 패널(PAN) 및 확산판(DIF)을 구비한다.FIG. 4 is a diagram specifically illustrating the light control apparatus DVLT of FIG. 3. Referring to FIG. 4, the light dimming device DVLT includes a light dimming chassis SHLT, an LED panel PAN, and a diffusion plate DIF.

상기 조광 샤시(SHLT)는 탑재 스토커(STK)가 중앙에 형성된다. 상기 LED 패널(PAN)은 상기 탑재 스토커(STK)에 탑재되며, 테스트광(TLT)을 발산하다. 이때, 상기 테스트광(TLT)은 LED광이다. 그리고, 상기 고휘도 테스트 차트(200)의 고휘도 바탕(210)과 상기 저휘도 테스트 차트(300)의 저휘도 바탕(310)에 따른 밝기의 비를 1,000,000:1 정도를 유지하기 위하여, 상기 테스트광(TLT)는 20,000lux 이상의 밝기를 가지는 것이 바람직하다.The mounting chassis STK is formed at the center of the dimming chassis SHLT. The LED panel PAN is mounted on the mounting stocker STK and emits test light TRT. In this case, the test light TTL is LED light. In addition, in order to maintain a ratio of brightness according to the high luminance background 210 of the high luminance test chart 200 and the low luminance background 310 of the low luminance test chart 300 to about 1,000,000: 1, the test light ( TLT) preferably has a brightness of 20,000 lux or more.

그리고, 상기 확산판(DIF)는 상기 LED 패널(PAN)의 전면에 장착된다. 상기 확산판(DIF)에 의하여, 상기 테스트광(TLT)이 상기 선택 테스트 차트(SLT)에 균일하게 발산될 수 있다.The diffusion plate DIF is mounted on a front surface of the LED panel PAN. By the diffusion plate DIF, the test light TTL may be uniformly emitted to the selection test chart SLT.

상기와 같은 본 발명의 테스트 차트 셋트 및 테스트 시스템에 의하면, 광역 역광 보정 기능이 효과적으로 테스트될 수 있다.According to the test chart set and the test system of the present invention as described above, the wide area backlight correction function can be effectively tested.

본 발명은 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 등록청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and equivalent arrangements included within the spirit and scope of the appended claims. Therefore, the true technical protection scope of the present invention will be defined by the technical spirit of the appended claims.

Claims (8)

광역 역광 보정 기능을 테스트하기 위한 테스트 차트 셋트에 있어서,
노말 바탕 및 노말 환형 패턴을 포함하는 노말 테스트 차트로서, 상기 노말 바탕은 중간 휘도를 가지는 색채로 채색되며, 상기 노말 환형 패턴은 각각에 점진적인 휘도를 가지는 색채들 각각이 채색되는 복수개의 노말 환형 단위들이 환형으로 배열되어 이루어지는 상기 노말 테스트 차트;
고휘도 바탕 및 고휘도 환형 패턴을 포함하는 고휘도 테스트 차트로서, 상기 고휘도 바탕은 상기 중간 휘도보다 높은 휘도를 가지는 색채로 채색되며, 상기 고휘도 환형 패턴은 각각에 점진적인 휘도를 가지는 색채들 각각이 채색되는 복수개의 고휘도 환형 단위들이 환형으로 배열되어 이루어지는 상기 고휘도 테스트 차트; 및
저휘도 바탕 및 저휘도 환형 패턴을 포함하는 저휘도 테스트 차트로서, 상기 저휘도 바탕은 상기 중간 휘도보다 낮은 휘도를 가지는 색채로 채색되며, 상기 저휘도 환형 패턴은 각각에 점진적인 휘도를 가지는 색채들 각각이 채색되는 복수개의 저휘도 환형 단위들이 환형으로 배열되어 이루어지는 상기 저휘도 테스트 차트를 구비하는 것을 특징으로 하는 테스트 차트 셋트.
In the test chart set for testing the wide backlight compensation function,
A normal test chart comprising a normal background and a normal annular pattern, wherein the normal background is colored with a color having an intermediate luminance, and the normal annular pattern includes a plurality of normal annular units, each of which is colored with a gradual luminance. The normal test chart arranged in an annular shape;
A high luminance test chart including a high luminance background and a high luminance annular pattern, wherein the high luminance background is colored with a color having a higher luminance than the intermediate luminance, and the high luminance annular pattern is a plurality of colors each of which has a gradual luminance. The high brightness test chart having high brightness annular units arranged in an annular shape; And
A low luminance test chart including a low luminance background and a low luminance annular pattern, wherein the low luminance background is colored with a color having a lower luminance than the intermediate luminance, and the low luminance annular pattern is each of colors having a gradual luminance to each. And said low luminance test chart in which said plurality of low luminance annular units to be colored are arranged in an annular shape.
제1 항에 있어서,
상기 노말 테스트 차트, 상기 고휘도 테스트 차트 및 상기 저휘도 테스트 차트는
자신에 채색된 색채에 해당하는 파장의 빛만을 투과시키는 투과형인 것을 특징으로 하는 테스트 차트 셋트.
The method according to claim 1,
The normal test chart, the high brightness test chart and the low brightness test chart
A test chart set, characterized in that the transmission type that transmits only light having a wavelength corresponding to the color painted on it.
제1 항에 있어서,
상기 노말 테스트 차트는
상기 노말 환형 패턴의 내부에 직선형으로 배열되며 점진적으로 휘도가 변화되는 노말 직선 단위들로 이루어지는 노말 직선 패턴을 더 포함하며,
상기 고휘도 테스트 차트는
상기 고휘도 환형 패턴의 내부에 직선형으로 배열되며 점진적으로 휘도가 변화되는 고휘도 직선 단위들로 이루어지는 고휘도 직선 패턴을 더 포함하며,
상기 저휘도 테스트 차트는
상기 저휘도 환형 패턴의 내부에 직선형으로 배열되며 점진적으로 휘도가 변화되는 저휘도 직선 단위들로 이루어지는 저휘도 직선 패턴을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 차트 셋트.
The method according to claim 1,
The normal test chart is
Further comprising a normal straight line pattern arranged in a straight line inside the normal annular pattern and consisting of normal straight line units of which brightness is gradually changed,
The high brightness test chart
And a high luminance straight line pattern arranged in a straight line inside the high luminance annular pattern and composed of high luminance straight line units whose luminance is gradually changed.
The low brightness test chart
And a low luminance straight line pattern arranged in a straight line inside the low luminance annular pattern and composed of low luminance straight line units whose luminance is gradually changed.
제3 항에 있어서,
상기 노말 직선 패턴, 상기 고휘도 직선 패턴 및 상기 저휘도 직선 패턴은
서로 동일한 것을 특징으로 하는 테스트 차트 셋트.
The method of claim 3,
The normal straight line pattern, the high brightness straight line pattern and the low brightness straight line pattern
A test chart set characterized by the same features.
제1 항 내지 제 4항 중의 어느 하나의 항에 있어서,
상기 노말 환형 패턴, 상기 고휘도 환형 패턴 및 상기 저휘도 환형 패턴은
서로 동일한 것을 특징으로 하는 테스트 차트 셋트.
The method according to any one of claims 1 to 4,
The normal annular pattern, the high brightness annular pattern and the low brightness annular pattern is
A test chart set characterized by the same features.
디지털 촬상 기기의 광역 역광 보정 기능을 테스트하기 위한 디지털 촬상 기기 테스트 시스템에 있어서,
선택 테스트 차트의 결착이 가능한 조광 장치로서, 결착된 상기 선택 테스트 차트를 조광하여, 상기 선택 테스트 차트에 따른 패턴을 테스트되는 상기 디지털 촬상 기기에 제공하는 상기 조광 장치; 및
서로 상이한 휘도를 가지는 색채로 바탕이 채색되는 노말 테스트 차트, 고휘도 테스트 차트 및 저휘도 테스트 차트를 가지는 광역 역광 테스트 차트 셋트로서, 상기 노말 테스트 차트, 상기 고휘도 테스트 차트 및 상기 저휘도 테스트 차트는 사용자에 의하여 상기 선택 테스트 차트로 선택되는 상기 광역 역광 테스트 차트 셋트를 구비하는 것을 특징으로 하는 디지털 촬상 기기 테스트 시스템.
A digital imaging device test system for testing a wide area back light correction function of a digital imaging device,
A dimming device capable of binding a selection test chart, comprising: dimming the selected selection test chart and providing a pattern according to the selection test chart to the digital imaging device to be tested; And
A wide-area backlight test chart set having a normal test chart, a high brightness test chart, and a low brightness test chart colored with colors having different luminance, wherein the normal test chart, the high brightness test chart, and the low brightness test chart are provided to a user. And said wide-area backlight test chart set selected by said selection test chart.
제6 항에 있어서, 상기 조광 장치는
중앙에 탑재 스토커가 형성되는 조광 샤시;
상기 탑재 스토커에 탑재되며, 테스트광을 발산하는 LED 패널로서, 상기 테스트광은 LED 광인 상기 LED 패널; 및
상기 선택 테스트 차트에 상기 테스트광을 균일하게 발산하기 위하여, 상기 LED 패널의 전면에 장착되는 확산판을 구비하는 것을 특징으로 하는 디지털 촬상 기기 테스트 시스템.
The method of claim 6, wherein the light control device
A dimming chassis in which a mounting stocker is formed in the center;
An LED panel mounted on the mounting stocker and emitting test light, wherein the test light is an LED light; And
And a diffuser plate mounted on the front surface of the LED panel to uniformly radiate the test light to the selection test chart.
제6 항에 있어서, 상기 광역 역광 테스트 차트 셋트는
노말 바탕 및 노말 환형 패턴을 포함하는 상기 노말 테스트 차트로서, 상기 노말 바탕은 중간 휘도를 가지는 색채로 채색되며, 상기 노말 환형 패턴은 각각에 점진적인 휘도를 가지는 색채들 각각이 채색되는 복수개의 노말 환형 단위들이 환형으로 배열되어 이루어지는 상기 노말 테스트 차트;
고휘도 바탕 및 고휘도 환형 패턴을 포함하는 상기 고휘도 테스트 차트로서, 상기 고휘도 바탕은 상기 중간 휘도보다 높은 휘도를 가지는 색채로 채색되며, 상기 고휘도 환형 패턴은 각각에 점진적인 휘도를 가지는 색채들 각각이 채색되는 복수개의 고휘도 환형 단위들이 환형으로 배열되어 이루어지는 상기 고휘도 테스트 차트; 및
저휘도 바탕 및 저휘도 환형 패턴을 포함하는 상기 저휘도 테스트 차트로서, 상기 저휘도 바탕은 상기 중간 휘도보다 낮은 휘도를 가지는 색채로 채색되며, 상기 저휘도 환형 패턴은 각각에 점진적인 휘도를 가지는 색채들 각각이 채색되는 복수개의 저휘도 환형 단위들이 환형으로 배열되어 이루어지는 상기 저휘도 테스트 차트를 구비하는 것을 특징으로 하는 디지털 촬상 기기 테스트 시스템.7. The method of claim 6, wherein the broad backlight test chart set is
A normal test chart including a normal background and a normal annular pattern, wherein the normal background is colored with a color having an intermediate luminance, and the normal annular pattern is a plurality of normal annular units, each of which is colored with a gradual luminance at each of them; The normal test chart in which the rings are arranged in an annular shape;
A high luminance test chart including a high luminance background and a high luminance annular pattern, wherein the high luminance background is colored with a color having a higher luminance than the intermediate luminance, and the high luminance annular pattern is a plurality of colors each of which has a gradual luminance respectively; The high brightness test chart comprising a plurality of high brightness annular units arranged in an annular shape; And
The low luminance test chart including a low luminance background and a low luminance annular pattern, wherein the low luminance background is colored with a color having a lower luminance than the intermediate luminance, and the low luminance annular pattern is a color having gradual luminance at each of them; And the low luminance test chart in which a plurality of low luminance annular units each of which is colored are arranged in an annular shape.
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"A method for the evaluation of wide dynamic range cameras," Proceedings of SPIE, vol. 8299, Digital Photography VIII, 23 January 2012

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