KR101173091B1

KR101173091B1 - 지질암석 표품의 실내 분광반사율 측정 시스템

Info

Publication number: KR101173091B1
Application number: KR20100119504A
Authority: KR
Inventors: 이홍진
Original assignee: 한국지질자원연구원
Priority date: 2010-11-29
Filing date: 2010-11-29
Publication date: 2012-08-10
Also published as: KR20120057936A

Abstract

본 발명은 지질암석 표품의 실내 분광반사율 측정 시스템에 관한 것으로, 그 목적은 현장에서 채취한 암석 표품을 가지고 현장에서와 동일한 환경을 제공하는 실내에서 측정함으로써 여러번 측정이 가능하고, 인공적인 광원의 입사각을 조절하여 영상촬영 시간대와 유사한 환경에서의 측정이 가능토록 구성한 실내 측정 시스템을 제공하는 데 있다.
본 발명의 구성은 분광감지 센서(11)와 분광센서로부터 입력된 정보를 가지고 암석 표품의 분광반사율을 측정하는 분광감지기(12)로 구성된 분광 측정부(1)와; 암석 표품을 고정시키는 거치대(21)와, 거치대 하부에 위치하여 암석 표품과 분광 감지 센서 사이의 거리를 조절하는 조절부(22)로 구성된 거치대부(2)와; 영상 촬영 당시 태양광 조건을 제공하는 램프(31)를 포함하는 광원부(3) 및 분광감지기(12)와 회로연결되어 측정된 분광반사율을 분석하는 PC(41)와, 상기 분광감지기와 램프의 안정적인 전압을 조절하기 위한 자동전압조절기(42)로 이루어진 제어부(4);를 포함하여 구성된 지질암석 표품의 실내 분광반사율 측정 시스템을 발명의 특징으로 한다.

Description

지질암석 표품의 실내 분광반사율 측정 시스템{Spectral reflectance measurement system of geological rock samples in dark room}

본 발명은 지질암석 표품의 실내 분광반사율 측정 시스템에 관한 것으로, 자세하게는 다중분광 또는 초다중분광 영상을 이용한 지질조사 및 자원탐사를 수행하기 위한 다양한 지질암석에 대한 분광반사율을 측정시 실내에서 측정함으로써 종래와 같이 현장 측정방법에 의한 지표 피복물의 분광반사율 측정시 발생하는 제약사항을 극복한 실내 측정 시스템에 관한 것이다.

인공위성이나 항공기를 이용한 다중분광 또는 초다중분광 영상을 이용한 지질조사 및 자원탐사를 수행하기 위해서는 다양한 지질암석에 대한 분광반사율을 측정하여 지질암석의 분광반사 특성을 이용하여야 한다.

분광반사율은 인공위성이나 항공기 등에서 촬영한 영상과 비교하여 지표 피복물의 정확한 분류 등에 이용될 수 있어 그 활용도가 높고, 측정된 분광반사율 결과를 데이터베이스화하여 직접 현장 조사를 수행할 수 없는 해외를 조사하는 경우에 있어 매우 중요하다.

지표 피복물의 분광반사율 측정방법 중 현재 널리 수행되고 있는 일반적인 방법으로 현장 측정방법이 있다. 현장 측정 방법은 이동식 분광측정 장비를 이용하여 현지에서 직접 대상물을 측정하는 방법으로 인공위성 및 항공기 촬영시기에 맞추어 측정한다.

이러한 현장 측정방법이 정확히 이루어지기 위해서는 지표 피복물의 분광반사율을 현장에서 측정하기 위해서는 일정한 조건을 충족시켜야 한다. 즉, 현장 측정을 위해 필요한 조건은 촬영시간과 동일한 기상조건, 다른 지형지물 등 피복물에 의한 그림자, 대상물과 측정기기간의 일정 거리 유지 등으로 이러한 모든 조건을 충족시켜야 정확한 결과를 얻을 수 있다.

특히, 다른 지표 피복물에 비해서 지질암석에 대한 현장 분광측정은 보다 까다로운 조건을 만족시켜야 한다. 일반적으로 야외에 노출되어 있는 암석은 경사면에 위치하고 있어 평탄지가 거의 없고 그림자 등에 의해 대상물이 가려지거나 토양 및 식생 등에 의한 피복, 풍화로 인한 오염 등으로 인해 동일한 조건 하에서 분광측정을 할 수 없다.

또한 상기한 환경적인 요인 외에도 현재 널리 사용되고 있는 분광측정 장비는 기본적으로 야외 휴대가 가능하지만 기본 장비의 무게가 5kg을 상회하고 별도의 노트북과 배터리를 필요로 하기 때문에 실제로는 10kg 이상의 장비를 휴대하여야 한다.

또한 짧은 시간 내에(이론상 위성통과 시간 전후 30분) 대상지역에 분포하고 있는 모든 대상물에 대해서 측정을 해야만 한다는 문제점이 있다.

따라서 종래의 현장 측정방법을 이용한 지표 피복물의 분광반사율 측정방법은 측정 대상 환경의 변수가 많고, 이러한 현장을 측정하기 위한 장비 휴대상의 문제를 포함 제반 문제가 많아 정확하지 않은 분광반사율 결과를 얻을 수 있다는 단점이 있다.

상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은 다중분광 또는 초다중분광 영상을 이용한 지질조사 및 자원탐사를 수행하기 위해 다양한 지질암석에 대한 분광반사율을 측정시, 현장에서 채취한 표품(암석 표품)을 가지고 현장에서와 동일한 환경을 제공하는 실내에서 측정함으로써 여러번 측정이 가능하고, 인공적인 광원의 입사각을 조절하여 영상촬영 시간대와 유사한 환경에서의 측정이 가능토록 구성한 실내 측정 시스템을 제공하는 데 있다.

상기한 바와 같은 목적을 달성하고 종래의 결점을 제거하기 위한 과제를 수행하는 본 발명은 분광감지 센서와, 이 분광감지 센서로부터 입력된 정보를 가지고 암석 표품의 분광반사율을 측정하는 분광감지기로 구성된 분광 측정부와;

암석 표품을 분광감지 센서의 중심에 위치하도록 고정시키는 거치대와, 거치대 하부에 위치하여 암석 표품과 분광감지 센서 사이의 거리를 조절하는 조절부로 구성된 거치대부와;

인공위성이나 항공기에서 촬영한 영상 촬영 당시와 동일한 태양광의 조건을 제공하는 램프와; 이 램프 일부를 감싸 램프의 광원이 비추는 암석 표품에 대한 입사각을 조절하는 입사각조절부와; 입사각조절부와 일측단이 연결되어 거치대부의 높이에 따라 높낮이를 조절하는 암부와; 상기 암부를 지지함과 동시에 암부의 높이 조절을 위해 암부 일지점에서 힌지부에 의해 결합된 지지대로 이루어진 광원부 및;

분광감지기와 회로연결되어 측정된 분광반사율을 분석하는 PC와, 상기 분광감지기와 램프의 안정적인 전압을 조절하기 위한 자동전압조절기로 이루어진 제어부;를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 지질암석 표품의 실내 분광반사율 측정 시스템을 제공함으로써 달성된다.

본 발명은 바람직한 실시예로, 상기 광원부의 램프를 제논 램프로 구성할 수 있다.

본 발명은 바람직한 실시예로, 상기 입사각조절부는 램프가 자연광과 유사한 광원을 확보하고 영상의 촬영시간에 해당하는 태양의 입사각과 동일하게 암석 표품에 대한 입사각을 제공하도록 암부의 끝단에 설치되어 램프를 감싸고 있는 전등갓 및 힌지부로 구성하여 필요 입사각도로 조절후 힌지부를 고정시켜 조절하도록 구성할 수 있다.

본 발명은 바람직한 실시예로, 상기 암석 표품은 거치대에 수평으로 놓일 수 있도록 평탄하게 절단하고, 그 두께는 암석의 특성을 반영할 수 있도록 1 ~ 2㎝로 가공된 것을 사용할 수 있다.

본 발명은 바람직한 실시예로, 상기 거치대는 상부쪽에 암석 표품을 고정지지하는 조리개 타입 클램프가 설치되고, 다양한 암석 표품의 형태에 따른 중심점을 확인할 수 있도록 중심점과 연결된 안내선을 표시하여 구성할 수 있다.

본 발명은 바람직한 실시예로, 상기 분광 측정부는 분광감지 센서에서 실내 바닥까지의 높이가 최대 180㎝를 유지되도록 설치하되, 거치대와 분광감지 센서 간의 거리를 최저 80㎝에서 최대 130㎝ 정도로 일정하게 유지하도록 구성할 수 있다.

본 발명은 바람직한 실시예로, 상기 거치대부는 조절부를 이용 거치대를 포함한 높이가 최소 50㎝에서 최대 100㎝까지 조절되도록 구성할 수 있다.

본 발명은 바람직한 실시예로, 상기 분광 측정부, 거치대부 및 광원부는 암실 내부에 설치한 것을 특징으로 한다.

상기와 같이 본 발명은 다중분광 또는 초다중분광 영상을 이용한 지질조사 및 자원탐사를 수행하기 위해 다양한 지질암석에 대한 분광반사율을 측정시, 현장에서 채취한 암석 표품을 가지고 현장에서와 동일한 환경을 제공하는 실내에서 측정함으로써 여러번 측정이 가능하고, 인공적인 광원의 입사각을 조절하여 영상촬영 시간대와 유사한 환경에서의 측정이 가능하다는 장점을 가진 유용한 발명으로 산업상 그 이용이 크게 기대되는 발명인 것이다.

도 1은 본 발명에 따른 지질표품의 실내 분광반사율 측정 시스템 개념도이고,
도 2는 본 발명에 따른 지질표품 거치대 개념도이다.

이하 본 발명의 실시 예인 구성과 그 작용을 첨부도면에 연계시켜 상세히 설명하면 다음과 같다. 또한 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다.

도 1은 본 발명에 따른 지질표품의 실내 분광반사율 측정 시스템 개념도를 도시하고 있는데, 본 발명에 따른 분광 반사율 측정 시스템은 측정용 광원 이외의 빛을 차단하여 측정의 신뢰성을 높이기 위해 암실 내에 다음과 같은 장치들이 설치되다.

즉, 본 발명에 따른 시스템 구성은 광원이 암석 표품에 반사되어 나오는 분광특성을 감지하기 위해 지질 암석 표품의 분광반사율을 측정하는 분광감지 센서(11)와, 이 분광감지 센서로부터 입력된 정보를 가지고 암석 표품의 분광반사율을 측정하는 분광감지기(12)로 구성된 분광 측정부(Spectro-radiometer, 1)와;

암석 표품을 분광감지 센서의 중심에 위치하도록 고정시키는 거치대(21)와, 거치대 하부에 위치하여 암석 표품과 분광감지 센서 사이의 거리를 조절하는 조절부(22)로 구성된 거치대부(Sample plate, 2)와;

인공위성이나 항공기에서 촬영한 영상 촬영 당시와 동일한 태양광의 조건을 제공하는 램프(31)와; 이 램프 일부를 감싸 램프의 광원이 비추는 암석 표품에 대한 입사각을 조절하는 입사각조절부(32)와; 입사각조절부와 일측단이 연결되어 거치대부의 높이에 따라 높낮이를 조절하는 암부(arm, 33)와; 상기 암부를 지지함과 동시에 암부의 높이 조절을 위해 암부의 일지점에서 힌지부(341)에 의해 결합된 지지대(34)로 이루어진 광원부(Light source, 3) 및 분광감지기(12)와 회로연결되어 측정된 분광반사율을 분석하는 PC(41)와, 상기 분광감지기와 램프의 안정적인 전압을 조절하기 위한 자동전압조절기(AVR/ Automatic Voltage Regulator, 42)로 이루어진 제어부(Control part, 4)로 구성된다.

상기 분광 측정부(Spectro-radiometer, 1)는 장비의 종류에 따라 전체적인 높이가 변동될 수 있으나 분광감지 센서에서 실내 바닥까지의 높이가 최대 180㎝를 유지하는 것이 바람직하다. 분광감지 센서의 높이가 너무 높을 경우에는 거치대와의 거리가 멀어져 광원의 세기가 약화되어 반사율 값의 안정성이 떨어질 수 있으며, 거치대와의 거리가 가까우면 암석 표품이 광원과 너무 가까워져 광원에 의해 가열되어 그 성질이 변화될 수 있으므로 광원과 거치대와의 거리를 고려하여 거치대와 분광감지 센서 간의 거리를 최저 80㎝에서 최대 130㎝ 정도로 일정하게 유지하여야 한다.

상기 거치대부(2)는 조절부(22)를 이용 거치대(21)를 포함한 최소 높이 50㎝에서 최대 높이 100㎝까지 조절 가능하도록 구성하였다. 이와 같은 높이 구간일때 암석 표품의 크기에 따른 분광감지 센서의 FOV에 따라서 주변의 영향을 최소화하여 정확한 결과를 얻을 수 있다. 즉, FOV를 고려하여 거치대의 높이를 상향 조절하면 암석 표품의 크기가 작은 경우에도 정확한 측정이 가능하다. 이때 조절부의 승하강은 유압 또는 공압장치 또는 기어회전식 등등의 어떤 방식을 사용하여 높이 조절해도 상관없다.

상기 광원부(3)의 램프(31)는 여러 가지 램프로 구현할 수 있지만, 제논 램프로 구성하는 것이 바람직하다. 이 제논램프를 사용하여 자연광과 유사한 광원을 확보하고 인공위성이나 항공기에서 촬영한 영상의 촬영시간에 해당하는 태양의 입사각과 동일한 입사각을 제공하기 위해 암부(33)의 끝단에 설치되어 램프(31)를 감싸고 있는 전등갓(321) 및 힌지부(322)로 구성된 입사각조절부(32)가 필요 입사각도로 조절후 힌지부를 고정시켜 조절하도록 구성한다. 힌지부를 특정 위치에서 고정하는 구조는 미도시되었으나 조절너트 등을 이용 힌지부의 축을 나사체결하여 고정하면 되는데, 이와 같은 결합 방법 자체는 통상적인 고정방법이므로 구체적인 구조는 생략한다.

또한 암부(33)는 암석 표품의 크기에 따라서 거치대의 높이가 변화하면 거치대와 광원부 램프 사이의 거리를 일정하게 유지시킬 수 있도록 지지대와 램프(31)를 연결하는 암부(arm)에 설치된 힌지부(341)를 이용 회전시킨 후 고정시켜 높이 조절하도록 구성하였다. 힌지부를 특정위치에서 고정하는 구조는 미도시되었으나 조절너트 등을 이용 힌지부의 축을 나사체결하여 고정하면 되는데, 이와 같은 결합 방법 자체는 통상적인 고정방법이므로 구체적인 구조는 생략한다.

또한 상기 광원부(3)는 많은 전력을 소모하기 때문에 일정한 전압을 유지시켜야 하기 때문에 외부전원에 직접 연결하지 않고 자동전압조절기(AVR/ Automatic Voltage Regulator, 42)에 연결시킨다. 이 자동전압조절기는 광원부 램프(31)와 분광감지기(12), PC(또는 노트북, 41)에 전원을 공급하며, 보조전원장치(UPS/ Uninterrupted Power Supply) 기능을 포함하여 외부전원의 단전 등에 의해서 장비의 고장 및 자료의 유실을 방지한다. 이는 불시에 있을 정전이나 외부 전원의 과부하로 인하여 고가의 장비를 보호하고 일정한 광원을 확보하여 정확한 자료를 획득하기 위하여 매우 중요하다.

상기와 같이 구성된 본 발명은 현장 측정에서 사용된 동일한 장비나 고정식 장비를 이용하여 현장에서 채취한 암석 표품에 대해서 일정한 조건을 충족시키는 실험실 실내 환경하에서 측정하도록 구성된 것이다.

또한 현장 채취 암석 표품을 인공적인 광원을 이용하여 모든 대상물에 대해서 일정한 환경으로 측정하게 됨으로써 일관된 환경에서 측정할 수 있어 현장 측정에 비해 상대적으로 정확한 결과를 산출할 수 있다.

이때 신뢰성 있는 측정을 위해 본 발명에서는 지질암석의 분광측정을 위해서는 풍화 등 오염이 최소화된 암석 표품을 채취하여 실험실에서의 실내 측정을 수행하게 된다. 현장에서 암석을 채취할 경우 풍화 등으로 오염되지 않은 깨끗한 부분을 채취하고 최소 직경 이상의 크기로 채취한다. 최소 직경이라 함은 분광 측정 장비의 시야각인 FOV(Field of View)에 의해서 결정되므로 장비에 따라서 크기 변경이 가능하다.

또한 현장에서 채취한 암석 표품은 거치대에 수평으로 놓일 수 있도록 평탄하게 절단하고 두께는 암석의 특성을 반영할 수 있도록 약 1~2㎝ 정도를 유지하고, 절단 톱날에 의한 잘린 흔적을 제거하여 사용한다.

이와 같이 자르는 것은 현장 정보를 최대한 재현하기 위함이다. 만약 이를 분쇄하거나 파쇄하여 측정시는 현장 정보와 다른 분광반사율을 얻을 수 있기 때문이다.

상기 암석 표품의 두께가 1㎝ 미만인 경우, 다양한 암석의 특성상 1㎝보다 얇은 경우에는 취급 중 파손 될 가능성이 크다. 또한 2㎝ 보다 큰 두께로 암석을 절단하여 사용하는 것도 가능하나 일반적으로 풍화 등의 요인에 오염되지 않은 암석 표품을 채취하여 2㎝ 이상의 두께로 절단하기 위해서는 최소 절단하고자 하는 두께의 5배 이상의 크기로 채취하여야 한다.

또한 모든 암석 표품을 동일한 측정환경에서 측정하는 것을 원칙으로 하기 때문에 일정한 크기를 유지하는 것이 매우 중요하다.

도 2는 본 발명에 따른 지질표품 거치대 개념도이다. 도시된 바와 같이 암석 표품을 지지하는 거치대의 상부면에는 카메라의 조리개와 작동원리나 구조가 유사한 조리개 타입 클램프(211) 구조로 되어 있어 다양한 형태의 암석 표품(5)을 항상 거치대의 중심부에 위치시키고 안정성을 확보할 수 있다. 이에 따라 다양한 형태의 암석 표품을 균등한 힘으로 항상 중심부에 위치하도록 하게 된다. 즉, 암석 표품을 얹혀 놓고 조리개 타입 클램프(211)를 작동하면 암석 표품의 크기에 따라 적당한 곳까지 수축되어 지지하게 된다. 도면에서 나선형으로 보이는 겹쳐진 면들은 암석 표품의 크기에 따라 다른 나선 모양을 가지게 된다. 보다 구체적인 작동 원리나 구조는 카메라 조리개 구조와 같으므로 생략한다.

따라서 암석 표품을 거치대에 거치시키면 항상 암석 표품의 중심점이 분광감지 센서의 수직 하단에 수동으로 위치할 수 있는 구조로 되어 있으며 다양한 암석 표품의 형태에 따라 중심점을 확인할 수 있도록 중심점을 표시하는 안내선(212)을 거치대에 표시하고 있다.

상기와 같은 측정장비를 가지고 실내에서 분광반사율을 측정하면 모든 장비를 실내 암실에 고정하여 동일한 환경에서 여러번 측정이 가능하고, 인공적인 광원의 입사각을 조절하여 영상촬영 시간대와 유사한 환경에서의 측정이 가능하게 된다.

이하 본 발명의 바람직한 실시예이다.

(실시예 1)

2010년 현재, 2001년 2월 22일 오전 10시 40분경에 촬영된 위성영상을 이용하여 지질암석의 분포를 도시하고자 할 경우, 야외에서 당시와 동일한 환경으로 측정하는 것은 불가능하다. 따라서 위성영상의 촬영지역을 대상으로 다양한 지질 암석 표품을 채취하고, 위성영상 촬영당시에 제공되는 태양의 입사각이 36.26°임을 확인할 수 있다. 지질 암석 표품은 오염되지 않은 부분을 대상으로 1~2㎝ 두께로 절단하여 준비한다. 이 암석 표품을 암실 내부의 본 발명 시스템을 구성하는 거치대(21)에 올려놓은 후, 거치대의 높이를 조절한다. 거치대의 높이는 FOV가 1.5°이고, 반경이 2.5㎝인 경우, 최대 95㎝거리 내에서 측정이 가능하므로 거치대와 분광측정부(1)과의 거리를 95㎝ 이내로 하여야 한다. 본 발명에서는 태양을 대신한 광원(3)을 사용하고 거치대와 분광측정부 간의 거리를 95㎝로 지정하였으므로 거치대의 높이를 85㎝로 정한다. 만일 준비된 암석 표품의 반경이 2.5㎝ 보다 작은 것이 있을 경우에는 최소한의 반경을 갖는 암석 표품에 대한 거리로 조절하여 모든 암석 표품에 대해 동일한 높이를 유지한다. 광원(3)은 태양의 입사각과 유사한 환경이 되도록 36.2°로 비스듬하게 입사각조절부(32)와 암부(33)을 조절한다.

이러한 암실 환경에서 측정한 각각의 암석 표품에 대한 분광반사율은 PC로 옮겨서 차트로 제작한 후, 위성영상의 파장대역 별로 재배열한다. 재배열한 분광 반사율 값을 이용하여 위성영상에서 동일한 특성을 보이는 지역을 추출하여 도시하면 해당지역의 암석 분포도를 작성할 수 있으며, 특정 광석 등에 대한 분광반사율을 측정한 결과를 이용하면 해당 광석이 분포하는 지역을 추출하여 지질자원과 관련된 광산 조사 및 개발에 사용될 수 있다.

본 발명은 상술한 특정의 바람직한 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 청구범위 기재의 범위 내에 있게 된다.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
(1) : 분광 측정부 (2) : 거치대부
(3) : 광원부 (4) : 제어부
(5) : 암석 표품 (11) : 분광감지 센서
(12) : 분광감지기 (21) : 거치대
(22) : 조절부 (31) : 램프
(32) : 입사각조절부 (33) : 암부
(34) : 지지대 (41) : PC
(42) : 자동전압조절기 (211) : 조리개 타입 클램프
(212) : 안내선 (321) : 전등갓
(322, 341) : 힌지부

Claims

분광감지 센서(11)와, 분광감지 센서로부터 입력된 정보를 가지고 암석 표품의 분광반사율을 측정하는 분광감지기(12)로 구성된 분광 측정부(1)와;
암석 표품을 분광감지 센서의 중심에 위치하도록 고정시키는 거치대(21)와, 거치대 하부에 위치하여 암석 표품과 분광감지 센서 사이의 거리를 조절하는 조절부(22)로 구성된 거치대부(2)와;
인공위성이나 항공기에서 촬영한 영상 촬영 당시와 동일한 태양광의 조건을 제공하는 램프(31)와; 이 램프 일부를 감싸 램프의 광원이 비추는 암석 표품에 대한 입사각을 조절하는 입사각조절부(32)와; 입사각조절부와 일측단이 연결되어 거치대부의 높이에 따라 높낮이를 조절하는 암부(33)와; 상기 암부를 지지함과 동시에 암부의 높이 조절을 위해 암부 일지점에서 힌지부(341)에 의해 결합된 지지대(34)로 이루어진 광원부(3) 및
분광감지기(12)와 회로연결되어 측정된 분광반사율을 분석하는 PC(41)와, 상기 분광감지기와 램프의 안정적인 전압을 조절하기 위한 자동전압조절기(42)로 이루어진 제어부(4);를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 지질암석 표품의 실내 분광반사율 측정 시스템.
청구항 1에 있어서,
상기 광원부(3)의 램프(31)는 제논 램프로 구성한 것을 특징으로 하는 지질암석 표품의 실내 분광반사율 측정 시스템.
청구항 1에 있어서,
상기 입사각조절부(32)는 램프가 자연광과 유사한 광원을 확보하고 영상의 촬영시간에 해당하는 태양의 입사각과 동일하게 암석 표품에 대한 입사각을 제공하도록 암부(33)의 끝단에 설치되어 램프(31)를 감싸고 있는 전등갓(321) 및 힌지부(322)로 구성하여 필요 입사각도로 조절후 힌지부를 고정시켜 조절하도록 구성한 것을 특징으로 하는 지질암석 표품의 실내 분광반사율 측정 시스템.
청구항 1에 있어서,
상기 암석 표품은 거치대에 수평으로 놓일 수 있도록 평탄하게 절단하고, 그 두께는 암석의 특성을 반영할 수 있도록 1~2㎝로 가공된 것을 사용하는 것을 특징으로 하는 지질암석 표품의 실내 분광반사율 측정 시스템.
청구항 1에 있어서,
상기 거치대(21)는 상부쪽에 암석 표품을 고정지지하는 조리개 타입 클램프(211)가 설치되고, 다양한 암석 표품의 형태에 따른 중심점을 확인할 수 있도록 중심점과 연결된 안내선(212)이 표시되어 구성된 것을 특징으로 하는 지질암석 표품의 실내 분광반사율 측정 시스템.
청구항 1에 있어서,
상기 분광 측정부(1)는 분광감지 센서에서 실내 바닥까지의 높이가 최대 180 ㎝를 유지되도록 설치하되, 거치대와 분광감지 센서 간의 거리를 최저 80㎝에서 최대 130㎝ 정도로 일정하게 유지하도록 구성한 것을 특징으로 하는 지질암석 표품의 실내 분광반사율 측정 시스템.
청구항 1에 있어서,
상기 거치대부(2)는 조절부(22)를 이용 거치대(21)를 포함한 높이가 최소 50㎝에서 최대 100㎝까지 조절되도록 구성한 것을 특징으로 하는 지질암석 표품의 실내 분광반사율 측정 시스템.
청구항 1에 있어서,
상기 분광 측정부(1), 거치대부(2) 및 광원부(3)는 암실내부에 설치된 것을 특징으로 하는 지질암석 표품의 실내 분광반사율 측정 시스템.