KR101146684B1 - Method of transacting bidirectional reflectance distribution function data by using wavelet and apparatus thereof - Google Patents
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Abstract
웨이블릿을 이용한 반사속성 데이터 처리 방법이 개시된다. 상기 웨이블릿을 이용한 반사속성 데이터 처리 방법은 반사속성 데이터 분해 모듈이 수신된 반사속성 데이터를 스케일 필터링하여 복수의 웨이블릿 계수들로 분해하는 단계; 및 반사속성 데이터 복원 모듈이 분해된 복수의 웨이블릿 계수들을 역필터링하여 상기 반사속성 데이터로 복원하는 단계를 포함한다.Disclosed is a method of processing reflective attribute data using wavelets. The reflection attribute data processing method using the wavelet may include: scaling filtering the received reflection attribute data into a plurality of wavelet coefficients by the reflection attribute data decomposition module; And de-filtering the plurality of wavelet coefficients decomposed by the reflection attribute data reconstruction module to restore the reflection attribute data.
Description
본 발명의 개념에 따른 실시 예는 반사속성 데이터 처리 방법에 관한 것으로, 특히 웨이블릿을 이용한 반사속성 데이터 처리 방법 및 이를 이용한 데이터 처리 장치에 관한 것이다.An embodiment according to the concept of the present invention relates to a method of processing reflective attribute data, and more particularly, to a method of processing reflective attribute data using wavelets and a data processing apparatus using the same.
기존의 수학적 반사 모델은 표현이 어려운 재질의 물체를 컴퓨터 그래픽스로 시각화하는데 어려움이 있었다. 따라서 반사 속성을 직접 측정하여 사실적인 질감 표현을 하고자 하는 방법이 개발되었다. 그러나 반사 속성을 직접 측정하여 질감을 표현하는 방법은 실제 렌더링을 적용함에 있어서 방대한 원시 데이터의 크기와 다량의 노이즈로 인해 특별한 데이터 처리 과정이 요구된다.Conventional mathematical reflection models have difficulty in visualizing computer graphics of materials that are difficult to express. Therefore, a method was developed to measure realistic reflective properties by directly measuring reflection properties. However, the method of expressing the texture by directly measuring the reflection property requires a special data processing process due to the large amount of raw data and the large amount of noise in applying the actual rendering.
상기 데이터 처리 과정은 여러 가지 방법으로 수행될 수 있다.The data processing process may be performed in various ways.
첫째, 상기 원시 데이터를 그대로 사용하고 필요에 따라 보간을 하여 원하는 데이터를 추출하는 방법이 있다. 상기 방법은 매우 단순하나 상기 원시 데이터에 노이즈가 많으며, 상기 원시 데이터가 손실될 수 있으며, 또한 많은 저장공간을 필요로한다는 문제점이 있다. First, there is a method of extracting desired data by using the raw data as it is and interpolating as necessary. Although the method is very simple, there is a problem that the raw data is noisy, the raw data may be lost, and requires a lot of storage space.
둘째, 스플라인으로 표현하는 방법이 있다. 상기 방법은 반사속성의 노이즈를 줄이고 질감표현을 부드럽게 해주며 데이터를 간단하게 계산할 수 있다는 장점이 있다. 그러나, 상기 방법은 대칭성을 가진 데이터를 표현하기는 어렵다. Second, there are ways to express it as a spline. The method has the advantage of reducing the noise of the reflection attribute, smoothing the texture expression, and simply calculating the data. However, this method is difficult to represent symmetrical data.
셋째, 구면조화계수로 표현하는 방법이 있다. 상기 방법은 많은 구면 조화기본함수를 사용해야 하는 단점이 있다.Third, there is a method of expressing the spherical harmonic coefficient. This method has the disadvantage of using many spherical harmonic basic functions.
본 발명이 이루고자 하는 기술적인 과제는 반사속성 데이터를 복수의 웨이블릿 계수들로 분해하여 노이즈를 줄이고, 상기 반사속성 데이터를 압축할 수 있는 웨이블릿을 이용한 반사속성 데이터 처리 방법 및 상기 방법을 수행할 수 있는 장치를 제공하는 것이다.The technical problem to be achieved by the present invention is to reduce the noise by decomposing the reflection attribute data into a plurality of wavelet coefficients, and to perform the method and method for processing the reflection attribute data using a wavelet capable of compressing the reflection attribute data To provide a device.
본 발명의 실시 예에 따른 웨이블릿을 이용한 반사속성 데이터 처리 방법은 반사속성 데이터 분해 모듈이 수신된 반사속성 데이터를 스케일 필터링하여 복수의 웨이블릿 계수들로 분해하는 단계와 반사속성 데이터 복원 모듈이 분해된 복수의 웨이블릿 계수들을 역필터링하여 상기 반사속성 데이터로 복원하는 단계를 포함한다.According to an embodiment of the present invention, there is provided a method of processing reflective attribute data using a wavelet, in which the reflective attribute data decomposition module scales the received attribute data to decompose the received attribute into a plurality of wavelet coefficients and a plurality of decomposition components of the reflective attribute data restoration module. Inversely filtering the wavelet coefficients of to restore the reflection attribute data.
상기 반사속성 데이터를 스케일 필터링하여 복수의 웨이블릿 계수들로 분해하는 단계는 상기 반사속성 데이터 분해 모듈이 상기 반사속성 데이터를 스케일 필터링하여, 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 생성하는 단계; 상기 반사속성 데이터 분해 모듈이 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 서브샘플링하여 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들보다 높은 레벨을 가지는 복수의 제2레벨 스켈링 계수들을 생성하는 단계; 및 상기 반사속성 데이터 분해 모듈이 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들, 가중 계수, 및 각각의 상기 복수의 제2레벨 스켈링 계수들을 이용하여 복수의 웨이블릿 계수들을 생성하는 단계를 포함한다.The step of scaling and filtering the reflective attribute data into a plurality of wavelet coefficients may include: generating, by the reflective attribute data decomposition module, scale filtering the reflective attribute data to generate a plurality of first level scaling coefficients; Generating, by the reflective attribute data decomposition module, subsamples the plurality of first level scaling coefficients to generate a plurality of second level scaling coefficients having a level higher than the plurality of first level scaling coefficients; And generating, by the reflective attribute data decomposition module, a plurality of wavelet coefficients using the plurality of first level scaling coefficients, weighting coefficients, and each of the plurality of second level scaling coefficients.
상기 복수의 웨이블릿 계수들을 역필터링하여 상기 반사속성 데이터로 복원하는 단계는 상기 반사속성 데이터 복원 모듈이 서브샘플링된 복수의 제2레벨 스켈링 계수들을 업샘플링하는 단계; 상기 반사속성 데이터 복원 모듈이 상기 복수의 제2레벨 스켈링 계수들과 분해된 복수의 웨이블릿 계수들을 이용하여 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 복원하는 단계; 및 상기 반사속성 데이터 복원 모듈이 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 역필터링하여 상기 반사속성 데이터로 복원하는 단계를 포함한다.The reverse filtering of the plurality of wavelet coefficients and restoring the reflection attribute data may include: upsampling the plurality of second level scaling coefficients subsampled by the reflection attribute data restoration module; Restoring, by the reflective attribute data restoration module, the plurality of first level scaling coefficients using the plurality of second level scaling coefficients and the plurality of wavelet coefficients decomposed; And returning, by the reflective attribute data restoration module, the reverse attribute filtering of the plurality of first level scaling factors to the reflective attribute data.
본 발명의 실시 예에 따른 웨이블릿을 이용한 반사속성 데이터 처리 장치는 반사속성 데이터를 수신하여, 상기 반사속성 데이터를 스케일 필터링하여 복수의 웨이블릿 계수들로 분해하기 위한 반사속성 데이터 분해 모듈; 및 분해된 복수의 웨이블릿 계수들을 역필터링하여 상기 반사속성 데이터로 복원하기 위한 반사속성 데이터 복원 모듈을 포함한다.An apparatus for processing reflective attribute data using wavelets according to an embodiment of the present invention includes: a reflective attribute data decomposition module configured to receive reflective attribute data, scale filter the reflective attribute data, and decompose it into a plurality of wavelet coefficients; And a reflection attribute data reconstruction module for reverse filtering the decomposed plurality of wavelet coefficients to restore the reflection attribute data.
상기 반사속성 데이터 분해 모듈은 상기 반사속성 데이터를 스케일 필터링하여, 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 생성하고, 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 서브샘플링하여 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들보다 높은 레벨을 가지는 복의 제2레벨 스켈링 계수들을 생성하며, 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들, 가중 계수, 및 각각의 상기 복수의 제2레벨 스켈링 계수들을 이용하여 복수의 웨이블릿 계수들을 생성한다.The reflective attribute data decomposition module scales and filters the reflective attribute data to generate a plurality of first level scaling coefficients, and subsamples the plurality of first level scaling coefficients to be higher than the plurality of first level scaling coefficients. A plurality of second level scaling coefficients having a level are generated, and a plurality of wavelet coefficients are generated using the plurality of first level scaling coefficients, the weighting coefficient, and each of the plurality of second level scaling coefficients.
상기 반사속성 데이터 복원 모듈은 서브샘플링된 복수의 제2레벨 스켈링 계수들을 업샘플링하고, 상기 복수의 제2레벨 스켈링 계수들과 분해된 복수의 웨이블릿 계수들을 이용하여 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 복원하며, 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수를 역필터링하여 상기 반사속성 데이터로 복원한다.The reflective attribute data recovery module upsamples the plurality of subsampled second level scaling coefficients, and restores the plurality of first level scaling coefficients using the plurality of second level scaling coefficients and the plurality of decomposed wavelet coefficients. The plurality of first level scaling coefficients are reverse filtered to restore the reflected attribute data.
본 발명의 실시 예에 따른 웨이블릿을 이용한 반사속성 데이터 처리 방법 및 이를 이용한 데이터 처리 장치는 반사속성 데이터를 복수의 웨이블릿 계수들로 분해함으로써 노이즈를 줄이고, 상기 반사속성 데이터를 압축할 수 있는 효과가 있다.Reflective attribute data processing method using a wavelet and a data processing apparatus using the same according to an embodiment of the present invention has the effect of reducing noise by compressing the reflective attribute data into a plurality of wavelet coefficients, and compressing the reflective attribute data. .
또한 본 발명의 실시 예에 따른 웨이블릿을 이용한 반사속성 데이터 처리 방법 및 이를 이용한 데이터 처리 장치는 질감 표면을 부드럽게 하는 효과가 있다.In addition, the reflective attribute data processing method using the wavelet and the data processing apparatus using the same according to an embodiment of the present invention has the effect of smoothing the textured surface.
본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 상세한 설명이 제공된다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 웨이블릿을 이용한 반사속성 데이터 처리 장치의 개략적인 내부 블럭도를 나타낸다.
도 2는 구형 표면에 위치한 정점들의 위치를 도시한 도를 나타낸다.
도 3은 도 1에 도시된 웨이블릿을 이용한 반사속성 데이터 처리 장치의 동작을 나타내는 플로우 챠트이다.
도 4는 도 3에 도시된 반사속성 데이터를 분해하는 동작을 나타내는 플로우 챠트이다.
도 5는 도 3에 도시된 반사속성 데이터를 복원하는 동작을 나타내는 플로우 챠트이다.The detailed description of each drawing is provided in order to provide a thorough understanding of the drawings cited in the detailed description of the invention.
1 is a schematic internal block diagram of an apparatus for processing reflective attributes data using wavelets according to an embodiment of the present invention.
2 shows a diagram showing the location of vertices located on a spherical surface.
FIG. 3 is a flowchart illustrating an operation of the reflective attribute data processing apparatus using the wavelet shown in FIG. 1.
4 is a flowchart illustrating an operation of decomposing the reflective attribute data shown in FIG. 3.
FIG. 5 is a flowchart illustrating an operation of restoring the reflective attribute data shown in FIG. 3.
본 명세서에 개시되어 있는 본 발명의 개념에 따른 실시 예들에 대해서 특정한 구조적 내지 기능적 설명들은 단지 본 발명의 개념에 따른 실시 예를 설명하기 위한 목적으로 예시된 것으로, 본 발명의 개념에 따른 실시 예들은 다양한 형태로 실시될 수 있으며 본 명세서에 설명된 실시 예들에 한정되는 것으로 해석되어서는 아니된다.Specific structural to functional descriptions of the embodiments according to the inventive concept disclosed herein are merely illustrated for the purpose of describing the embodiments according to the inventive concept. It may be embodied in various forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein.
본 발명의 개념에 따른 실시 예는 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있으므로 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 본 명세서에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명의 개념에 따른 실시 예를 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.The embodiments according to the concept of the present invention can make various changes and have various forms, so that specific embodiments are illustrated in the drawings and described in detail herein. However, this is not intended to limit the embodiments in accordance with the concept of the present invention to a particular disclosed form, it should be understood to include all changes, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present invention.
제1 및/또는 제2 등의 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안된다. 상기 용어들은 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소로부터 구별하는 목적으로만, 예컨대 본 발명의 개념에 따른 권리 범위로부터 이탈되지 않은 채, 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소는 제1 구성요소로도 명명될 수 있다.Terms such as first and / or second may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another, for example, without departing from the scope of rights in accordance with the inventive concept, and the first component may be called a second component and similarly The second component may also be referred to as the first component.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. 구성요소들 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 즉 "~사이에"와 "바로 ~사이에" 또는 "~에 이웃하는"과 "~에 직접 이웃하는" 등도 마찬가지로 해석되어야 한다.When a component is referred to as being "connected" or "connected" to another component, it may be directly connected to or connected to that other component, but it may be understood that other components may be present in between. Should be. On the other hand, when a component is said to be "directly connected" or "directly connected" to another component, it should be understood that there is no other component in between. Other expressions describing the relationship between components, such as "between" and "immediately between," or "neighboring to," and "directly neighboring to" should be interpreted as well.
본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 설시된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of the invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise. As used herein, the terms "comprise" or "having" are intended to indicate that there is a feature, number, step, action, component, part, or combination thereof that is described, and that one or more other features or numbers are present. It should be understood that it does not exclude in advance the possibility of the presence or addition of steps, actions, components, parts or combinations thereof.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 명세서에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Unless defined otherwise, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art. Terms such as those defined in the commonly used dictionaries should be construed as having meanings consistent with the meanings in the context of the related art, and are not construed in ideal or excessively formal meanings unless expressly defined herein. Do not.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 웨이블릿을 이용한 반사속성 데이터 처리 장치의 개략적인 내부 블럭도를 나타낸다.1 is a schematic internal block diagram of an apparatus for processing reflective attributes data using wavelets according to an embodiment of the present invention.
도 1을 참조하면, 반사속성 데이터 처리 장치(100)는 반사속성 데이터 분해모듈(20)과 반사속성 데이터 복원 모듈(30)을 포함한다.Referring to FIG. 1, the reflective attribute
본 명세서에 모듈(module)이라 함은 본 발명의 실시 예에 따른 기술적 사상을 수행하기 위한 하드웨어 및 상기 하드웨어를 구동하기 위한 소프트웨어의 기능적 또는 구조적 결합을 의미할 수 있다. In the present specification, a module may mean a functional or structural combination of hardware for performing a technical idea and software for driving the hardware, according to an embodiment of the present invention.
예컨대, 상기 모듈은 소정의 프로그램 코드와 상기 프로그램 코드가 수행되기 위한 하드웨어 리소스의 논리적 또는 기능적 단위를 의미할 수 있으며 반드시 물리적으로 연결된 프로그램 코드를 의미하거나 한 종류의 하드웨어를 의미하는 것은 아니다.For example, the module may mean a logical or functional unit of predetermined program code and a hardware resource for executing the program code, and does not necessarily mean physically connected program code or one kind of hardware.
반사속성 데이터 분해모듈(20)은 데이터 획득 장치(10)로부터 측정된 객체의 반사속성 데이터를 수신한다.The reflection attribute
데이터 획득 장치(10)는 상기 객체의 표면이 빛을 얼마나 반사하는지 측정한다. 상기 객체는 컴퓨터, 스마트폰, 또는 디스플레이장치 등에 의해 3차원적으로 사실감있게 표현되는 것을 의미한다. The
상기 반사속성 데이터는 상기 객체의 입사와 반사에 대한 상수 비율 함수로 표현되며, 양반사 분포함수(Bidirectional Reflection Distribution Funtion, BRDF)라고 호칭된다. 상기 반사속성 데이터 각각은 2개의 입사각, 2개의 반사각, 및 반사의 세기로 표현된다. 상기 반사속성 데이터는 복수의 파라미터들로 표현되기 때문에, 상기 반사속성 데이터는 큰 사이즈의 저장공간을 필요한다. 하지만 상기 저장공간은 제한적이기 때문에, 상기 반사속성 데이터는 압축되어야할 필요가 있다.The reflective attribute data is expressed as a constant ratio function of the incident and the reflection of the object, and is called Bidirectional Reflection Distribution Funtion (BRDF). Each of the reflective attribute data is represented by two incident angles, two reflective angles, and reflection intensities. Since the reflective attribute data is represented by a plurality of parameters, the reflective attribute data needs a large sized storage space. However, since the storage space is limited, the reflective attribute data needs to be compressed.
또한, 상기 반사속성 데이터는 데이터 획득 장치(10)에 의해 측정되기 때문에, 데이터 획득 장치(10)는 주변 외부 환경에 의해 실제 객체가 가지는 표면의 재질과는 다른 데이터로 측정될 수 있다.In addition, since the reflective attribute data is measured by the
반사속성 데이터 분해모듈(20)은 수신된 반사속성 데이터를 복수의 웨이블릿 계수들로 분해한다.The reflection attribute
도 2는 구형 표면에 위치한 정점들의 위치를 도시한 도를 나타낸다.2 shows a diagram showing the location of vertices located on a spherical surface.
도 1과 도 2를 참조하면, 측정된 반사속성 데이터의 정점들(v1, v2, f1, f2, e1, e2, e3, 및 e4) 각각은 구면 표면에 위치한다. 상기 데이터의 정점들(v1, v2, f1, f2, e1, e2, e3, 및 e4) 각각은 K(j) 스페이스에 존재한다. 중심 정점(m)은 M(j) 스페이스에 존재한다.1 and 2, each of the vertices v1, v2, f1, f2, e1, e2, e3, and e4 of the measured reflective attribute data is located on the spherical surface. Each of the vertices v1, v2, f1, f2, e1, e2, e3, and e4 of the data is in the K (j) space. The central vertex m is in the M (j) space.
반사속성 데이터 분해 모듈(20)이 상기 반사속성 데이터를 스케일 필터링하여 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 생성한다. The reflection attribute
예컨대, 상기 K(j) 스페이스에 존재하는 데이터의 정점들(v1, v2, f1, f2, e1, e2, e3, 및 e4) 각각은 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 생성한다. For example, each of the vertices v1, v2, f1, f2, e1, e2, e3, and e4 of the data present in the K (j) space generates the plurality of first level scaling factors.
상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들 각각은 λj+1, k 으로 표현된다. j는 스켈링 레벨, k는 주변 정점을 의미한다. 제1레벨은 가장 미세한 해상도를 의미한다. 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들 각각은 스켈링 함수를 필터링하여 생성될 수 있다. Each of the plurality of first level scaling factors is represented by λ j + 1, k . j is the scaling level and k is the surrounding vertex. The first level means the finest resolution. Each of the plurality of first level scaling factors may be generated by filtering a scaling function.
반사속성 데이터 분해 모듈(20)은 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 서브샘플링하여 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수보다 높은 레벨을 가지는 복수의 제2레벨 스켈링 계수들을 생성한다. 상기 복수의 제2레벨 스켈링 계수들 각각은 λj, k 으로 표현된다. 예컨대, v1정점의 제2레벨 스켈링 계수는 λj, v1로, v2정점의 제2레벨 스켈링 계수는 λj, v2로 표현된다.The reflection attribute
반사속성 데이터 분해 모듈(30)은 상기 복수의 제2레벨 스켈링 계수들을 서브샘플링하여 복수의 제3레벨 스켈링 계수들을 생성할 수 있다. 상기 서브샘플링 동작은 복수의 제N레벨 스켈링 계수들을 생성할 때까지 반복하여 수행될 수 있다. 예컨대, v1정점의 제3레벨 스켈링 계수는 λj-1, v1로, v2정점의 제2레벨 스켈링 계수는 λj-1,v2로 표현된다.The reflection attribute
상기 복수의 제2레벨 스켈링 계수들과 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들의 관계는 수학식 1에 의해 표현된다.The relationship between the plurality of second level scaling factors and the plurality of first level scaling factors is expressed by Equation 1.
수학식 1은 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들 중 어느 하나를 서브샘플링하여 상기 복수의 제2레벨 스켈링 계수들 중 어느 하나를 생성하는 식을 의미한다.Equation 1 refers to an equation for generating any one of the plurality of second level scaling factors by subsampling any one of the plurality of first level scaling factors.
반사속성 데이터 분해 모듈(20)은 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들, 가중 계수(Sj ,k,m), 및 각각의 상기 복수의 제2레벨 스켈링 계수들을 이용하여 복수의 웨이블릿 계수들을 생성한다. 상기 복수의 웨이블릿 계수들 각각은 τj,m으로 표현된다.The reflective attribute
상기 복수의 웨이블릿 계수들, 상기 복수의 제1스켈링 계수들, 상기 복수의 제2스켈링 계수들과의 관계는 수학식 2에 의해 표현된다. 상기 가중 계수(Sj ,k,m)는 구면의 표면을 부드럽게 하거나 상기 복수의 웨이블릿 계수들을 감소할 수 있게 한다.The relationship between the plurality of wavelet coefficients, the plurality of first scaling coefficients, and the plurality of second scaling coefficients is represented by Equation 2. The weighting factors S j , k, m make it possible to smooth the surface of the sphere or reduce the plurality of wavelet coefficients.
상기 가중 계수(Sj ,k,m)는 필터의 종류에 따라 결정된다.The weighting factors S j , k, m are determined according to the type of filter.
예컨대, 선형 필터의 경우, 상기 가중 계수(Sj ,k,m)는 1/2이며, 상기 복수의 웨이블릿 계수들 각각은 수학식 3으로 표현된다.For example, in the case of a linear filter, the weighting coefficients S j , k, m are 1/2, and each of the plurality of wavelet coefficients is represented by Equation 3 below.
반사속성 데이터 분해 모듈(20)은 제N레벨을 가지는 복수의 웨이블릿 계수들을 생성할 때까지 수학식 2를 이용하여 반복하는 연산 동작을 수행할 수 있다.The reflection attribute
반사속성 데이터 복원 모듈(30)은 분해된 복수의 웨이블릿 계수들을 역필터링하여 상기 반사속성 데이터로 복원한다.The reflection attribute
반사속성 데이터 복원 모듈(30)은 서브샘플링된 복수의 제2레벨 스켈링 계수들을 업샘플링한다. The reflective attribute
실시 예에 따라, 반사속성 데이터 복원 모듈(30)은 상기 복수의 제3레벨 스켈링 계수들을 업샘플링할 수 있다. 상기 업샘플링 동작은 상기 복수의 제N레벨 스케링 계수들을 업샘플링할 때까지 반복하여 수행될 수 있다,According to an embodiment, the reflective attribute
상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들과 상기 복수의 제2레벨 스켈링 계수들의 관계는 수학식 4에 의해 표현된다.The relationship between the plurality of first level scaling factors and the plurality of second level scaling factors is expressed by Equation 4.
반사속성 데이터 복원 모듈(30)은 상기 복수의 제2레벨 스켈링 계수들과 분해된 복수의 웨이블릿 계수들을 이용하여 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 복원한다. 상기 복수의 제2스켈링 계수들, 분해된 복수의 웨이블릿 계수들, 및 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들의 관계는 수학식 5에 의해 표현된다.The reflective attribute
예컨대, 선형 필터의 경우, 상기 가중 계수(Sj ,k,m)는 1/2이므로, 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들 각각(λj+1,m )은 수학식 6으로 표현된다.For example, in the case of a linear filter, since the weighting coefficients S j , k, m are 1/2, each of the plurality of first level scaling coefficients λ j + 1, m is represented by Equation 6.
실시 예에 따라, 반사속성 데이터 복원 모듈(30)은 제N레벨을 가지는 복수의 웨이블릿 계수들을 이용하여 상기 복수의 제1레벨 계수들을 생성할 때까지 수학식 5를 이용하여 연산하는 동작을 반복 수행할 수 있다.According to an embodiment, the reflection attribute
반사속성 데이터 복원 모듈(30)은 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 역필터링하여 상기 반사속성 데이터로 복원한다.The reflection attribute
도 3은 도 1에 도시된 웨이블릿을 이용한 반사속성 데이터 처리 장치의 동작을 나타내는 플로우 챠트이며, 도 4는 도 3에 도시된 반사속성 데이터를 분해하는 동작을 나타내는 플로우 챠트이며, 도 5는 도 3에 도시된 반사속성 데이터를 복원하는 동작을 나타내는 플로우 챠트이다.3 is a flowchart illustrating an operation of the reflective attribute data processing apparatus using the wavelet illustrated in FIG. 1, FIG. 4 is a flowchart illustrating an operation of decomposing the reflective attribute data illustrated in FIG. 3, and FIG. 5 is illustrated in FIG. 3. This is a flowchart showing an operation of restoring the reflection attribute data shown in FIG.
도 1 내지 도 5을 참조하면, 반사속성 데이터 분해 모듈(20)은 반사속성 데이터를 수신한다(S10).1 to 5, the reflective attribute
상기 반사속성 데이터는 데이터 획득 장치(10)에 의해 생성될 수 있다.The reflection attribute data may be generated by the
반사속성 데이터 분해 모듈(20)은 수신된 반사속성 데이터를 복수의 웨이블릿 계수들로 분해한다(S20).The reflection attribute
반사속성 데이터 분해 모듈(20)은 상기 반사속성 데이터를 스케일 필터링하여 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 생성한다(S30). 제1레벨은 가장 미세한 해상도를 의미한다(S30).The reflection attribute
반사속성 데이터 분해 모듈(20)은 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 서브샘플링하여 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들보다 높은 레벨을 가지는 제2레벨 스켈링 계수들을 생성한다(S40). 제2레벨은 제1레벨보다 해상도가 낮음을 의미한다.The reflection attribute
반사속성 데이터 분해 모듈(20)은 상기 서브샘플링 동작을 반복 수행하여 복수의 제N레벨 스켈링 계수들을 생성할 수 있다.The reflection attribute
반사속성 데이터 분해 모듈(20)은 수학식 2를 이용하여 복수의 웨이블릿 계수들을 생성할 수 있다(S50). 상기 복수의 웨이블릿 계수들 각각은 필터에 의해 생성될 수 있다. 예컨대, 상기 필터는 레이지(lazy) 필터, 선형(linear) 필터, 2차(quadratic) 필터, 및 나비(butterfly) 필터 중 어느 하나일 수 있다.The reflection attribute
반사속성 데이터 복원 모듈(30)은 분해된 복수의 웨이블릿 계수들을 역필터링하여 상기 반사속성 데이터로 복원한다(S60).The reflection attribute
반사속성 데이터 복원 모듈(30)은 서브 샘플링된 복수의 제2레벨 스켈링 계수들을 업샘플링한다(S70).The reflection attribute
반사속성 데이터 복원 모듈(30)은 복수의 제N레벨 스켈링 계수들을 생성할 때까지 반복하여 상기 업샘플링 동작을 수행할 수 있다.The reflection attribute
반사속성 데이터 복원 모듈(30)은 상기 복수의 제2레벨 스켈링 계수들과 분해된 복수의 웨이블릿 계수들을 이용하여 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 복원할 수 있다(S80),The reflective attribute
반사속성 데이터 복원 모듈(30)은 상기 제N레벨 스켈링 계수들을 이용하여 복수의 웨이블릿 계수들이 생성된 경우, 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 복원할 때까지 복원 동작을 반복하여 수행한다.When the plurality of wavelet coefficients are generated using the N-th level scaling coefficients, the reflective attribute
반사속성 데이터 복원 모듈(30)은 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 역필터링하여 상기 반사속성 데이터로 복원한다(S90).The reflection attribute
본 발명은 도면에 도시된 일 실시 예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 등록청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다. Although the present invention has been described with reference to one embodiment shown in the drawings, this is merely exemplary, and those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible therefrom. Therefore, the true technical protection scope of the present invention will be defined by the technical spirit of the appended claims.
10 : 데이터 획득 장치
20 : 반사속성 데이터 분해 모듈
30 : 반사속성 데이터 복원 모듈
100 : 반사속성 데이터 처리 장치10: data acquisition device
20: reflection attribute data decomposition module
30: reflective attribute data restoration module
100: reflective attribute data processing device
Claims (7)
반사속성 데이터 복원 모듈이 분해된 복수의 웨이블릿 계수들을 역필터링하여 상기 반사속성 데이터로 복원하는 단계를 포함하는 웨이블릿을 이용한 반사속성 데이터 처리 방법. Decomposing the reflected attribute data into a plurality of wavelet coefficients by scaling filtering the received reflective attribute data; And
The method for processing the reflection attribute data using the wavelet includes the step of reverse filtering the decomposed plurality of wavelet coefficients into the reflection attribute data.
상기 반사속성 데이터 분해 모듈이 상기 반사속성 데이터를 스케일 필터링하여, 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 생성하는 단계;
상기 반사속성 데이터 분해 모듈이 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 서브샘플링하여 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들보다 높은 레벨을 가지는 복수의 제2레벨 스켈링 계수들을 생성하는 단계; 및
상기 반사속성 데이터 분해 모듈이 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들, 가중 계수, 및 각각의 상기 복수의 제2레벨 스켈링 계수들을 이용하여 상기 복수의 웨이블릿 계수들을 생성하는 단계를 포함하는 웨이블릿을 이용한 반사속성 데이터 처리 방법.The method of claim 1, wherein the step of scaling and filtering the reflective attribute data into a plurality of wavelet coefficients comprises:
Generating a plurality of first level scaling coefficients by scale-filtering the reflective attribute data by the reflective attribute data decomposition module;
Generating, by the reflective attribute data decomposition module, subsamples the plurality of first level scaling coefficients to generate a plurality of second level scaling coefficients having a level higher than the plurality of first level scaling coefficients; And
The reflection attribute data decomposition module generating the plurality of wavelet coefficients using the plurality of first level scaling coefficients, weighting coefficients, and the plurality of second level scaling coefficients, respectively. How to process attribute data.
상기 반사속성 데이터 복원 모듈이 서브샘플링된 복수의 제2레벨 스켈링 계수들을 업샘플링하는 단계;
상기 반사속성 데이터 복원 모듈이 상기 복수의 제2레벨 스켈링 계수들과 분해된 복수의 웨이블릿 계수들을 이용하여 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 복원하는 단계; 및
상기 반사속성 데이터 복원 모듈이 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 역필터링하여 상기 반사속성 데이터로 복원하는 단계를 포함하는 웨이블릿을 이용한 반사속성 데이터 처리 방법.The method of claim 1, wherein the filtering of the plurality of wavelet coefficients to restore the reflection attribute data.
Upsampling, by the reflective attribute data reconstruction module, the plurality of subsampled second level scaling factors;
Restoring, by the reflective attribute data restoration module, the plurality of first level scaling coefficients using the plurality of second level scaling coefficients and the plurality of wavelet coefficients decomposed; And
And b) reverse filtering the plurality of first level scaling coefficients to restore the reflection attribute data by the reflection attribute data restoration module.
분해된 복수의 웨이블릿 계수들을 역필터링하여 상기 반사속성 데이터로 복원하기 위한 반사속성 데이터 복원 모듈을 포함하는 웨이블릿을 이용한 반사속성 데이터 처리 장치. A reflection attribute data decomposition module for receiving reflection attribute data, scale-filtering the reflection attribute data, and decomposing it into a plurality of wavelet coefficients; And
And a reflection attribute data reconstruction module for reverse filtering the decomposed plurality of wavelet coefficients to restore the reflection attribute data.
상기 반사속성 데이터를 스케일 필터링하여, 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 생성하고, 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 서브샘플링하여 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들보다 높은 레벨을 가지는 복수의 제2레벨 스켈링 계수들을 생성하며, 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들, 가중 계수, 및 각각의 상기 복수의 제2레벨 스켈링 계수들을 이용하여 상기 복수의 웨이블릿 계수들을 생성하는 웨이블릿을 이용한 반사속성 데이터 처리 장치.The method of claim 5, wherein the reflective attribute data decomposition module,
A plurality of second levels having a level higher than the plurality of first level scaling coefficients by scale filtering the reflective attribute data to generate a plurality of first level scaling coefficients and subsampling the plurality of first level scaling coefficients A reflection attribute data processing apparatus using wavelets for generating level scaling coefficients and generating the plurality of wavelet coefficients using the plurality of first level scaling coefficients, weighting coefficients, and the plurality of second level scaling coefficients, respectively. .
서브샘플링된 복수의 제2레벨 스켈링 계수들을 업샘플링하고, 상기 복수의 제2레벨 스켈링 계수들과 분해된 복수의 웨이블릿 계수들을 이용하여 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 복원하며, 상기 복수의 제1레벨 스켈링 계수들을 역필터링하여 상기 반사속성 데이터로 복원하는 웨이블릿을 이용한 반사속성 데이터 처리 장치.
The method of claim 5, wherein the reflective attribute data recovery module,
Upsampling a plurality of subsampled second level scaling coefficients, restoring the plurality of first level scaling coefficients using the plurality of second level scaling coefficients and the decomposed plurality of wavelet coefficients; Reflective attribute data processing apparatus using a wavelet inversely filtering one-level scaling coefficients to restore the reflective attribute data.
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