KR101137225B1 - Dut 자동화 테스트 장치 - Google Patents

Dut 자동화 테스트 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101137225B1
KR101137225B1 KR1020100088575A KR20100088575A KR101137225B1 KR 101137225 B1 KR101137225 B1 KR 101137225B1 KR 1020100088575 A KR1020100088575 A KR 1020100088575A KR 20100088575 A KR20100088575 A KR 20100088575A KR 101137225 B1 KR101137225 B1 KR 101137225B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
dut
automated test
middleware
control operations
automated
Prior art date
Application number
KR1020100088575A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20120026387A (ko
Inventor
정진섭
하경민
지승환
권오걸
김병균
Original Assignee
주식회사 이노와이어리스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 이노와이어리스 filed Critical 주식회사 이노와이어리스
Priority to KR1020100088575A priority Critical patent/KR101137225B1/ko
Publication of KR20120026387A publication Critical patent/KR20120026387A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101137225B1 publication Critical patent/KR101137225B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
    • G01R35/005Calibrating; Standards or reference devices, e.g. voltage or resistance standards, "golden" references
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F9/00Arrangements for program control, e.g. control units
    • G06F9/06Arrangements for program control, e.g. control units using stored programs, i.e. using an internal store of processing equipment to receive or retain programs
    • G06F9/44Arrangements for executing specific programs
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B1/00Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission
    • H04B1/38Transceivers, i.e. devices in which transmitter and receiver form a structural unit and in which at least one part is used for functions of transmitting and receiving
    • H04B1/3827Portable transceivers
    • H04B1/3833Hand-held transceivers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

본 발명은 자동화 테스트 프로그램을 모든 DUT에 대해 공통으로 하되 DLL로 존재하여 각 DUT의 기능을 통합하는 미들웨어를 개재시켜 자동화 테스트 프로그램과 통신하도록 함으로써 자동화 테스트 프로그램과는 별개로 미들웨어를 개발 및 유지보수할 수 있고, 이에 따라 장치의 개발에 소요되는 시간을 단축시킴과 아울러 유지보수를 용이하게 할 수 있도록 한 DUT 자동화 테스트 장치에 관한 것이다.
본 발명은 계측 장비, DUT(Device Under Test) 및 계측 장비와 DUT를 제어하여 DUT 자동화 테스트를 수행하는 자동화 테스트 프로그램이 탑재되어 있는 DUT 자동화 테스트 장치에 있어서, 엔드 유저로부터 설정받은 각종 테스트 항목이나 캘리브레이션 항목에 따라 자동화 테스트를 수행하는 자동화 애플리케이션(Automation Application) 및 상기 DUT가 사용하는 서로 다른 물리적인 통신 규격을 갖는 신호를 하나의 통일된 규격을 갖는 신호로 변환하거나 역변환하는 통신규격 통합 변환부와 상기 통신규격 통합 변환부를 통해 각종 상기 DUT로부터 입력된 서로 다른 프로토콜 기반의 각종 제어 동작이나 명령어 세트를 해석하거나 역해석하는 파서 및 상기 파서에 의해 해석된 각종 제어 동작이나 명령어 세트를 상기 자동화 애플리케이션과의 사이에서 미리 정해진 통신 프로토콜로 은닉화하여 상기 자동화 애플리케이션에 전달하고, 상기 자동화 애플리케이션으로부터 전달받은 각종 제어 동작이나 명령어 세트의 은닉화를 해제한 후에 상기 파서에 전달하는 명령어세트 은닉부를 구비한 미들웨어를 포함한 것을 특징으로 한다.

Description

DUT 자동화 테스트 장치{automatic DUT test apparatus}
본 발명은 DUT 자동화 테스트 장치에 관한 것으로, 특히 단일의 자동화 테스트 프로그램에 의해 서로 다른 제조사에서 생산되는 다양한 종류의 DUT(Device Under Test)의 성능을 자동으로 테스트하고 캘리브레이션할 수 있도록 한 DUT 자동화 테스트 장치에 관한 것이다.
근래 들어 정보통신기술의 비약적인 발전에 힘입어 여러 이동통신 단말기(이하 피시험 기기란 의미로 'DUT'란 용어를 사용한다) 제조사, 예를 들어 Nokia, Sony Ericsson, Samsung, LG 등과 같은 이동통신 단말기 제조사마다 다양한 종류의 단말기를 출시하고 있고, 앞으로도 유수의 제조사가 등장하여 경쟁이 치열하게 될 것이다.
한편, DUT 제조사에서는 정식 릴리즈 이전에 DUT의 성능 테스트(Performance Test)와 캘리브레이션 작업(Calibrating Operation)을 수행할 수 있는 제어 수단(Control Interface)을 제공하는데, DUT에 대한 테스트를 자동으로 수행하는 종래의 자동화 테스트 프로그램은 전적으로 각 제조사별로 제공된 제어 수단에 의존하여 프로그래밍된다.
도 1은 종래의 DUT 자동화 테스트 장치의 구성을 설명하기 위한 도이다. 도 1에 도시한 바와 같이, 종래 DUT 자동화 테스트 장치에 따르면, 예를 들어 A 제조사에서 제조되는 DUT(14)는 외부 장비와의 데이터 통신에 USB 규격(12)을 사용하고 B 제조사에서 제조되는 DUT(24)는 RS-232 규격(22)을 사용하며 N 제조사에서 제조되는 DUT(34)는 GPIB(General Purpose Interface Bus) 규격(32)을 사용하는 등으로 저마다의 물리적인 통신 규격을 사용하고 있다.
더욱이 자동화 테스트를 수행하기 위한 각종 제어 동작이나 명령어 세트를 구성하는 프로토콜 역시 각 제조사들이 자체적으로 정의한 것을 사용하고 있기 때문에 자동화 테스트 프로그램을 개발하는 입장에서는 각 제조사별로 별도의 자동화 테스트 프로그램(10),(20),(30)을 개발해야 하고 이에 따라 많은 시간과 노력이 소요되는 문제점이 있었다.
본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 자동화 테스트 프로그램을 모든 DUT에 대해 공통으로 하되 DLL로 존재하여 각 DUT의 기능을 통합하는 미들웨어를 개재시켜 자동화 테스트 프로그램과 통신하도록 함으로써 자동화 테스트 프로그램과는 별개로 미들웨어를 개발 및 유지보수할 수 있고, 이에 따라 장치의 개발에 소요되는 시간을 단축시킴과 아울러 유지보수를 용이하게 할 수 있도록 한 DUT 자동화 테스트 장치를 제공함을 목적으로 한다.
전술한 목적을 달성하기 위한 본 발명은 계측 장비, DUT(Device Under Test) 및 계측 장비와 DUT를 제어하여 DUT 자동화 테스트를 수행하는 자동화 테스트 프로그램이 탑재되어 있는 DUT 자동화 테스트 장치에 있어서, 엔드 유저로부터 설정받은 각종 테스트 항목이나 캘리브레이션 항목에 따라 자동화 테스트를 수행하는 자동화 애플리케이션(Automation Application) 및 상기 DUT가 사용하는 서로 다른 물리적인 통신 규격을 갖는 신호를 하나의 통일된 규격을 갖는 신호로 변환하거나 역변환하는 통신규격 통합 변환부와 상기 통신규격 통합 변환부를 통해 각종 상기 DUT로부터 입력된 서로 다른 프로토콜 기반의 각종 제어 동작이나 명령어 세트를 해석하거나 역해석하는 파서 및 상기 파서에 의해 해석된 각종 제어 동작이나 명령어 세트를 상기 자동화 애플리케이션과의 사이에서 미리 정해진 통신 프로토콜로 은닉화하여 상기 자동화 애플리케이션에 전달하고, 상기 자동화 애플리케이션으로부터 전달받은 각종 제어 동작이나 명령어 세트의 은닉화를 해제한 후에 상기 파서에 전달하는 명령어세트 은닉부를 구비한 미들웨어를 포함한 것을 특징으로 한다.
전술한 구성에서, 상기 자동화 애플리케이션은 프로그래밍 언어로 작성된 원시코드를 컴파일하여 컴퓨터에서 즉시 실행될 수 있는 형태의 목적 프로그램으로서 DLL(Dynamic-Link Library)을 지원하며, 상기 미들웨어는 DLL의 형태로 구현된 것을 특징으로 한다.
상기 자동화 애플리케이션은 상기 미들웨어에서 제공하는 API(Application Program Interface)를 활용하여 상기 미들웨어와 통신하는 것을 특징으로 한다.
상기 DUT는 이동통신 단말기인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 DUT 자동화 테스트 장치에 따르면, DLL로 존재하여 각종 DUT의 기능을 통합하는 미들웨어를 개재시켜 자동화 테스트 프로그램과 통신하도록 함으로써 자동화 테스트 프로그램의 기능을 최대한 고객의 입장에 맞추어서 개발할 수 있고, 미들웨어는 DLL로 개발 및 유지/보수할 수 있기 때문에 자동화 테스트 장비의 개발에 소요되는 시간과 노력을 줄일 수가 있다.
도 1은 종래의 DUT 자동화 테스트 장치의 구성을 설명하기 위한 도이다.
도 2는 본 발명의 DUT 자동화 테스트 장치의 블록 구성도이다.
도 3은 본 발명의 DUT 자동화 테스트 장치에서 자동화 애플리케이션과 미들웨어 사이의 통신 데이터 포맷 예시도이다.
이하에는 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 DUT 자동화 테스트 장치의 바람직한 실시예에 대해 상세하게 설명한다.
일반적인 DUT 자동화 테스트 운영 시스템은 계측 장비, DUT 및 계측 장비와 DUT를 제어하여 DUT 자동화 테스트를 수행하는 자동화 테스트 프로그램이 탑재되어 있는 DUT 자동화 테스트 장치를 포함한다.
전술한 구성에서, DUT 자동화 테스트 장치는 예컨대, 노트북으로 구현되는 것으로서, 계측 장비 및 DUT와는 USB, LAN, GPIB 또는 RS-232 등과 같은 물리적인 통신 규격으로 연결되어 데이터를 송수신한다. 또한, 계측 장비는 DUT와 RF 케이블로 연결되어 RF 신호를 주고받는다.
도 2는 본 발명의 DUT 자동화 테스트 장치의 블록 구성도이다. 도 2에 도시한 바와 같이, 본 발명의 DUT 자동화 테스트 장치는 컴퓨터에 탑재되는데, 크게 엔드 유저로부터 설정받은 각종 테스트 항목이나 캘리브레이션 항목에 따라 자동화 테스트를 수행하는 자동화 애플리케이션(Automation Application)(300) 및 각종 DUT(100)가 사용하는 물리적인 통신 규격, 예를 들어 USB, LAN, GPIB 또는 RS-232 등에 따라 상이한 규격을 갖는 신호를 하나의 통일된 규격, 예를 들어 USB 규격을 갖는 신호로 변환하고, 각종 DUT(100)로부터 입력된 서로 다른 프로토콜 기반의 각종 제어 동작이나 명령어 세트를 해석한 후에 자동화 애플리케이션(300)과의 사이에서 미리 정해진 통신 프로토콜로 은닉화(encapsulation)하여 자동화 애플리케이션(300)에 전달하는 미들웨어(middleware)(200)를 포함하여 이루어진다.
전술한 구성에서, 자동화 애플리케이션(300)은 C/C++/C#, Delphi, Python 그리고 RAD(Rapid Application Development) 등의 프로그래밍 언어로 작성된 원시코드를 컴파일(complie)을 하여 얻은 결과물 즉, 컴퓨터에서 즉시 실행될 수 있는 형태의 목적 프로그램으로서 사용자가 설정한 시나리오대로 DUT 자동화 테스트를 수행하는데, 전술한 프로그래밍 언어들은 기본적으로 DLL(Dynamic-Link Library)을 지원한다.
미들웨어(200)는 다시 각종 DUT(100)가 사용하는 물리적인 통신 규격, 예를 들어 USB, LAN, GPIB 또는 RS-232 등에 따라 상이한 규격을 갖는 신호를 하나의 통일된 규격, 예를 들어 USB 규격을 갖는 신호로 변환하는 통신규격 통합 변환부(Integrated Converter)(210)와 통신규격 통합 변환부(210)를 거쳐 제공되는 각 DUT(100)의 제어 동작이나 명령어 세트를 해석하는 각각의 파서(220) 및 각 파서(220)를 통해 해석된 제어 동작이나 명령어 세트를 자동화 애플리케이션(300)과의 사이에서 미리 정해진 통신 프로토콜을 사용하여 은닉화한 후에 자동화 애플리케이션(300)에 전달하는 명령어세트 은닉부(command set encapsulator)(230)를 포함한다.
한편, 미들웨어(200)는 DLL의 형태로 구현하는 것이 바람직한데, 자동화 애플리케이션(300)이 기본적으로 DLL을 지원하기 때문에 미들웨어(200)를 개발함에 있어서는 언어 종속적인 부분을 고려하지 않아도 된다. 이와 같이 자동화 애플리케이션(300)과 미들웨어(200) 사이의 통신을 DLL로 구성한 이유는 DLL은 그것을 사용하는 자동화 애플리케이션(300)과는 별도로 개발 또는 유지/보수할 수 있고, 각 DUT에 새로운 명령어 세트가 추가되는 경우에 자동화 애플리케이션(300)은 전혀 수정하지 않고 단지 해당 기능을 갖는 DLL만 별도로 업데이트하여 배포하면 되기 때문이다. 이때 자동화 애플리케이션(300)은 미들웨어(200)에서 제공하는 API(Application Program Interface)를 활용하여 미들웨어(200)와 통신하는데, 결과적으로 자동화 애플리케이션(300)은 미들웨어(200)를 통해서만 각 DUT(100)에 간접적으로 접근할 수 있다.
미들웨어(200)는 프로그래밍적인 관점에서 보면 단순한 DLL이기 때문에 아래와 같은 방식으로 구현될 수 있다.
A. 미들웨어 DLL의 기본 뼈대 구성
BOOL APIENTRY DllMain(
HANDLE hModule, // 미들웨어 DLL의 핸들
DWORD ul_reason_for_call,
LPVOID lpReserved )
{
switch ( ul_reason_for_call )
{
case DLL_PROCESS_ATTACHED:
// 미들웨어 초기화 작업
break;
case DLL_PROCESS_DETACH:
// 미들웨어 해제화 작업
break;
}
return TRUE;
}
B. 미들웨어 DLL의 자동화 애플리케이션용 APIs 구성
extern "C" __declspec(dllexport) {
// 정의 : 접근하고자 하는 DUT를 Open한다.
// 반환값 : 성공시 0보다 큰 정수값으로써 대상 DUT의 핸들
// 인자 : fDeviceInfo : 접근하고자 하는 DUT의 접근 정보
IWHANDLE MdwOpenDeviceHandle(IWFORMAT fDeviceInfo );
// 정의 : Open한 DUT를 Close하고 자원을 반납한다.
// 반환값 : 성공시 1, 실패시 -1
// 인자 : MdwOpenDeviceHandle에서 반환된 DUT 핸들
IWRETURN_INT MdwCloseDeviceHandle(IWHANDLE hDeviceHandle );
// 정의 : DUT로부터 발생하는 이벤트 정보를 받는 함수를 등록한다.
// 반환값 : 성공시 1, 실패시 -1
// 인자 : hDeviceHandle : 대상 DUT의 핸들
// pFunc : 이벤트 정보를 받을 함수
// 참고 : 함수의 원형은 다음과 같다.
// typedef IWVOID (*MdwEventHandler) (
// IWHANDLE hDeviceHandle, // 대상 DUT 핸들
// IWFORMAT* fEventMsg // 이벤트 메시지 혹은 정보
// );
IWAPIRET_INT MdwRegisterEventHandler(
IWHANDLE hDeviceHandle,
IWAPIPOINTER pFunc
);
// 정의 : DUT에 명령을 보낸다.
// 반환값 : 성공시 1, 실패시 -1
// 인자 : hDeviceHandle : 대상 DUT의 핸들
// fWriteCmd : DUT에 보낼 명령
IWRETURN_INT IWWriteCmd(
IWHANDLE hDeviceHandle,
IWFORMAT fWriteCmd
);
// 정의 : DUT로부터 명령의 결과나 응답을 받는다.
// 반환값 : 성공시 1, 실패시 -1
// 인자 : hDeviceHandle : 대상 DUT의 핸들
// fResponse : DUT로부터 받은 결과나 응답
IWRETURN_INT IWReadCmd(
IWHANDLE hDeviceHandle,
IWFORMAT* fResponse
);
// 정의 : DUT로부터 에러를 반환받은 경우, 에러에 대한 세부 내용을 받는다.
// 반환값 : 에러 코드의 상수값
// 인자 : fDetalMsg : DUT로부터 받은 에러의 세부 내용
IWRETURN_INT IWGetLastError( IWFORMAT* fDetailMsg );
}
한편, 미들웨어는 다음과 같이 사용할 수 있다.
// 미들웨어 DLL을 로딩한다.
HANDLE hMdwDLL = LoadLibrary("Middleware.dll");
// DLL의 각 APIs의 원형을 선언한 후,
typedef IWHANDLE (__cdecl* __MdwOpenDeviceHandle)(IWFORMAT);
typedef IWRETURN_INT (__cdecl* __MdwCloseDeviceHandle)(IWHANDLE);
typedef IWAPIRET_INT (__cdecl* __MdwRegisterEventHandler(
IWHANDLE, IWAPIPOINTER);
typedef IWRETURN_INT (__cdecl* __IWWriteCmd(
IWHANDLE, IWFORMAT);
typedef IWRETURN_INT (__cdecl* __IWReadCmd(
IWHANDLE, IWFORMAT*);
typedef IWRETURN_INT (__cdecl* __IWGetLastError(
IWFORMAT*);
// APIs들의 포인터를 획득한다.
__MdwOpenDeviceHandle MdwOpenDeviceHandle =
(__MdwOpenDeviceHandle)GetProcAddress(hMdwDLL,"MdwOpenDeviceHandle");
__MdwCloseDeviceHandle MdwCloseDeviceHandle =
(__MdwCloseDeviceHandle)GetProcAddress(hMdwDLL,"MdwCloseDeviceHandle");
__MdwRegisterEventHandler MdwRegisterEventHandler =
(__MdwRegisterEventHandler)GetProcAddress(hMdwDLL,"MdwRegisterEventHandler");
__IWWriteCmd IWWriteCmd =
(__IWWriteCmd)GetProcAddress(hMdwDLL, "IWWriteCmd");
__IWReadCmd IWReadCmd =
(__IWReadCmd)GetProcAddress(hMdwDLL, "IWReadCmd" );
__IWGetLastError IWGetLastError =
(__IWGetLastError)GetProcAddress(hMdwDLL, "IWGetLastError");
// 아래와 같이 사용한다.
IWHANDLE hDevice = MdwOpenDeviceHandle( "NOKIA-N92" );
// 미들웨어 DLL을 언로딩한다.
FreeLibrary(hMdwDLL);
한편, 자동화 애플리케이션(300)으로부터 DUT(100)로 향하는 명령어 세트 역시 미들웨어(200)의 명령어세트 은닉부(230)에 의해 은닉이 해제된 후에 파서(220)에 의해 해당 DUT(100)에 고유한 명령어 세트로 변환되고, 이어서 통신규격 통합 변환부(210)에 의해 해당 DUT(100)가 지원하는 물리적인 통신 규격으로 변환되어 해당 DUT(100)에 전달된다.
도 3은 본 발명의 DUT 자동화 테스트 장치에서 자동화 애플리케이션과 미들웨어 사이의 통신 데이터 포맷 예시도이다. 본 발명의 DUT 자동화 테스트 장치에서 자동화 애플리케이션(300)과 미들웨어(200)는 API를 통해 WriteCmd(쓰기 명령)와 ReadCmd(읽기 명령)를 사용하여 DUT(100)를 제어한다. 이때 이 API는 도 3에 도시한 바와 같은 통신 데이터 포맷으로 명령을 주고 받는데, 이러한 통신 데이터 포맷은 구체적으로 헤더(Header)와 페이로드(Payload)로 구성될 수 있다. 여기에서 헤더는 DUT(100)의 종류를 구분하기 위한 정보를 갖는데, 4바이트로 이루어진 특정 제조사의 특정 DUT 코드, 예를 들어 Nokia N92는 0x0001, Nokia N96은 0x0002, Samsung DUT Family는 0x0003, Vodafone DUT Family는 0x0004 등으로 이루어질 수 있다.
다음으로, 페이로드는 해당 DUT(100)에 사용되는 세부 명령에 대한 정보를 갖는데, 여기에서 해당 명령어의 타입(type)과 서브타입(subtype)을 지정하는데 각각 4바이트가 할당되고. 길이(length) 정보를 알려주는데 4바이트가 할당되며, 데이터의 길이는 가변적일 수 있다. 예를 들어 DUT(100)의 다이버시티(Diversity)측 송신 파워(Tx Power)를 23dBm으로 설정하고자 한다면, 타입(type)으로 0x0001(Set/Get Tx Power)을 지정하고, 서브타입(subtype)으로 0x0002(Set/Get Diversity)를 지정하며, 길이 정보로 0x0002(Length of Data. Unit is byte)를 지정하고, 데이터로는 0x17(20dBm)을 지정할 수 있을 것이다.
본 발명의 DUT 자동화 테스트 장치는 전술한 실시예에 국한되지 않고 본 발명의 기술사상이 허용하는 범위 내에서 다양하게 변형하여 실시할 수 있다.
100: DUT, 200: 미들웨어,
210: 통신규격 통합 변환부, 220: 파서,
230: 명령어세트 은닉부, 300: 자동화 애플리케이션

Claims (4)

  1. DUT(Device Under Test) 및 계측 장비와 연결된 상태에서 상기 DUT와 상기 계측 장비를 제어하여 DUT 자동화 테스트를 수행하는 DUT 자동화 테스트 장치에 있어서,
    엔드 유저로부터 설정받은 테스트 항목이나 캘리브레이션 항목에 따라 상기 DUT에 대한 자동화 테스트를 수행하는 자동화 테스트 실행부 및
    상기 DUT가 사용하는 서로 다른 물리적인 통신 규격을 갖는 신호를 하나의 통일된 규격을 갖는 신호로 변환하거나 역변환하는 통신규격 통합 변환부와 상기 통신규격 통합 변환부를 통해 각종 상기 DUT로부터 입력된 서로 다른 프로토콜 기반의 각종 제어 동작이나 명령어 세트를 해석하거나 역해석하는 파서 및 상기 파서에 의해 해석된 각종 제어 동작이나 명령어 세트를 상기 자동화 테스트 실행부와의 사이에서 미리 정해진 통신 프로토콜로 은닉화하여 상기 자동화 테스트 실행부에 전달하고, 상기 자동화 테스트 실행부로부터 전달받은 각종 제어 동작이나 명령어 세트의 은닉화를 해제한 후에 상기 파서에 전달하는 명령어세트 은닉부를 구비한 중개작업 처리부를 포함한 것을 특징으로 하는 DUT 자동화 테스트 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 자동화 테스트 실행부는 프로그래밍 언어로 작성된 원시코드를 컴파일하여 컴퓨터에서 즉시 실행될 수 있는 형태의 목적 프로그램을 포함하여 이루어져서 DLL(Dynamic-Link Library)을 지원하며,
    상기 중개작업 처리부는 DLL의 형태로 구현된 것을 특징으로 하는 DUT 테스트 자동화 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 자동화 테스트 실행부는 상기 중개작업 처리부에서 제공하는 API(Application Program Interface)를 활용하여 상기 중개작업 처리부와 통신하는 것을 특징으로 하는 DUT 테스트 자동화 장치.
  4. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 DUT는 이동통신 단말기인 것을 특징으로 하는 DUT 테스트 자동화 장치.
KR1020100088575A 2010-09-09 2010-09-09 Dut 자동화 테스트 장치 KR101137225B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100088575A KR101137225B1 (ko) 2010-09-09 2010-09-09 Dut 자동화 테스트 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100088575A KR101137225B1 (ko) 2010-09-09 2010-09-09 Dut 자동화 테스트 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20120026387A KR20120026387A (ko) 2012-03-19
KR101137225B1 true KR101137225B1 (ko) 2012-04-20

Family

ID=46132304

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100088575A KR101137225B1 (ko) 2010-09-09 2010-09-09 Dut 자동화 테스트 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101137225B1 (ko)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11009550B2 (en) 2013-02-21 2021-05-18 Advantest Corporation Test architecture with an FPGA based test board to simulate a DUT or end-point
US20140236527A1 (en) * 2013-02-21 2014-08-21 Advantest Corporation Cloud based infrastructure for supporting protocol reconfigurations in protocol independent device testing systems
US10162007B2 (en) * 2013-02-21 2018-12-25 Advantest Corporation Test architecture having multiple FPGA based hardware accelerator blocks for testing multiple DUTs independently
KR101366525B1 (ko) * 2013-03-07 2014-03-12 주식회사 이노와이어리스 이동통신 장비의 rf 성능 자동 계측 시스템
US9780893B2 (en) * 2015-07-08 2017-10-03 Litepoint Corporation Method for testing a radio frequency (RF) data packet signal transceiver packet error rate
CN106557447A (zh) * 2016-11-29 2017-04-05 中国电子科技集团公司第二十九研究所 一种通用总线接口转换与预处理装置
FR3066606B1 (fr) * 2017-05-19 2019-08-23 Institut Polytechnique De Grenoble Appareil de test et procede de test d'un circuit integre
US11566305B2 (en) 2018-04-03 2023-01-31 Nippon Steel Corporation Titanium plate
CN111125644B (zh) * 2018-11-01 2022-05-27 百度在线网络技术(北京)有限公司 应用产品的信息隐藏方法和装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030070300A (ko) * 2002-02-23 2003-08-30 엘지전자 주식회사 브릿지 수단을 가지는 가전기기 네트워크 시스템과 그동작방법
KR20030075694A (ko) * 2002-03-20 2003-09-26 엘지전자 주식회사 가전기기 네트워크 시스템 및 그 제어방법
KR20090070630A (ko) * 2007-12-27 2009-07-01 재단법인 한국기기유화시험연구원 전력량계 검증장치
KR20090095029A (ko) * 2008-03-04 2009-09-09 주식회사 아이티엔티 프로그래머블 전원공급유닛의 제어방법 및 반도체 실장테스트 시스템

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030070300A (ko) * 2002-02-23 2003-08-30 엘지전자 주식회사 브릿지 수단을 가지는 가전기기 네트워크 시스템과 그동작방법
KR20030075694A (ko) * 2002-03-20 2003-09-26 엘지전자 주식회사 가전기기 네트워크 시스템 및 그 제어방법
KR20090070630A (ko) * 2007-12-27 2009-07-01 재단법인 한국기기유화시험연구원 전력량계 검증장치
KR20090095029A (ko) * 2008-03-04 2009-09-09 주식회사 아이티엔티 프로그래머블 전원공급유닛의 제어방법 및 반도체 실장테스트 시스템

Also Published As

Publication number Publication date
KR20120026387A (ko) 2012-03-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101137225B1 (ko) Dut 자동화 테스트 장치
US10678674B2 (en) Wireless debugging
KR20170040972A (ko) 라디오 어플리케이션을 실행하는 방법 및 단말 장치
US9065693B2 (en) Event handling in a radio circuit
CN108874677A (zh) 一种安卓终端及其测试方法和系统
US20190007811A1 (en) Reconfigurable mobile device using unified radio application interface, and operation method thereof
US9618577B2 (en) System and method for testing data packet transceivers having varied performance characteristics and requirements using standard test equipment
US20080162706A1 (en) Interface Device
CN103378994A (zh) 一种通信设备的测试方法及终端
CN110071839A (zh) 支持数字信号处理器的corba通信装置
CN102664836B (zh) 一种用于宽带无线通信数字基带处理器的原型验证平台
CN102395138A (zh) 一种6LoWPAN的协议一致性测试仪表及方法
CN111147530A (zh) 系统架构、多语音平台的切换方法、智能终端及存储介质
CN114845328B (zh) 一种多态性nr射频测试系统、测试例生成方法及测试方法
KR101503770B1 (ko) 개방형 스마트 앱세서리
CN112783724B (zh) 一种日志抓取调试方法、系统、智能设备及存储介质
CN117376229B (zh) 基于嵌入式设备的ftp文件系统软件交叉调试方法及系统
US9354699B2 (en) Input device and related method
KR20140032049A (ko) 메모리 주소를 이용한 임베디드 소프트웨어의 실시간 디버깅 방법
US11032725B1 (en) System and method for testing data packet signal transceivers with a tester using externally initiated and self-terminating test control sequences
Vicente et al. DECT Shield for Arduino
Hu et al. Research and Design of Dual-Network Dual-Standby in Radio Interface Layer Based on Android
JP3905307B2 (ja) データ通信機
CN115842534A (zh) 波形任务的处理装置、方法及系统
CN116388895A (zh) 一种天线测试装置及方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150304

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160307

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170322

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180409

Year of fee payment: 7

LAPS Lapse due to unpaid annual fee