KR101126141B1 - 유기 이리듐 화합물, 그의 제법 및 막의 제조방법 - Google Patents
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Abstract
융점이 낮고, 기화특성이 우수할 뿐만 아니라, 기판 상에서의 막 형성 온도가 낮은 유기금속 화합물, 그의 제조방법 및 상기 유기금속 화합물을 이용한 이리듐 기재막의 제조방법을 제공한다.
하기 일반식 [2]
또는 하기 일반식 [3]
으로 표시되는 화합물에, 하기 일반식 [4]
로 표시되는 화합물을 반응시켜, 하기 일반식 [1]
로 표시되는 유기 이리듐 화합물[구체적 화합물 예:(에틸시클로펜타디에닐)비스(에틸렌)이리듐]을 수득한다. 전기 화합물을 원료로 하여 이리듐 기재막을 제조한다.
[식 중의 R1은 수소원자 또는 저급 알킬기를 나타내고, R2는 저급 알킬기를 나타내며, X는 할로겐 원자를 나타내고, M은 알칼리금속을 나타낸다]
유기 이리듐 화합물, 이리듐 기재막, CVD
Description
본 발명은 기판표면에 이리듐 기재막(iridium-based film)을 제조하기 위한 전구체(precursor)가 될 수 있는 금속 화합물, 그 화합물의 제조방법 및 이리듐 기재막의 제조방법에 관한 것이다.
최근의 집적회로에 있어서는, 강유전체의 잔류 분극을 이용한 강유전체 메모리가 활발히 검토되고 있다. 구체적으로는, 티탄산지르콘산납(PZT: Pb(Ti, Zr)O3) 또는 탄탈산스트론튬비스무스(SBT: SrBi2Ta2O9) 등이 검토되고 있으며, 이들 강유전체의 전극 재료로 루테늄, 백금, 이리듐 등의 귀금속 박막 또는 이들 귀금속의 산화물 박막이 필요하게 된다. 특히, 이리듐 및 이리듐 산화물은 앞으로의 전극재료의 중심이 될 것으로 주목되고 있다. 이리듐 및 이리듐 산화물 박막의 제조방법으로는 스퍼터링(sputtering)법, 화학기상증착법(chemical vapor deposition 법: CVD 법)이 이용되고 있다. 특히, CVD 법은 균일한 피막을 제조하기 쉬울 뿐만 아니라, 스텝 커버리지성(단차피복능)이 우수하기 때문에, 최근의 회로, 전자 부재에 대한 보다 높은 고밀도화에 대응할 수 있기 위하여, 앞으로의 박막전극 제조공정의 주류를 이룰 것으로 사료된다.
상기 CVD 법을 이용하여 박막을 형성시키기 위한 원료 물질로는 금속 화합물 중에서도 융점이 낮으며 취급이 용이한 유기 화합물이 적절할 것으로 사료된다. 종래, 이리듐 또는 이리듐 산화물 박막을 증착시키기 위한 유기금속 화합물로는 트리스(디피발로일메타네이토)이리듐(tris(dipivaloylmethanato)iridium), 트리스(아세틸아세토네이토)이리듐(tris(acetylacetonato)iridium), (시클로펜타디에닐)(1,5-시클로옥타디엔)이리듐((cyclopentadienyl)(1,5-cyclooctadiene)iridium) 등이 검토되고 있다. 이들 이리듐 화합물은 대기 중에서 안정성이 높고, 독성도 없기 때문에 CVD 원료로 적합하지만, 상온에서는 고체이며, 원료의 기화 및 기판으로의 수송이 어려운 문제점이 있다.
따라서, 최근에는 융점이 낮은 이리듐 착화합물에 대한 연구가 활발히 진행되고 있다. 상기 이리듐 착화합물의 저융점화의 수단으로는 시클로펜타디에닐(1,5-시클로옥타디엔)이리듐에 있어서, 시클로펜타디에닐 고리 중 적어도 하나의 수소원자를 알킬기로 치환한 화합물을 제조하는 수단이 있다.
예를 들어, 시클로펜타디에닐 유도체로, (1,5-시클로옥타디엔)(에틸시클로펜타디에닐)이리듐이 개시되어 있다(참조: 특개평 제 11-292888호 공보). 상기 금속 화합물은 상온에서 액체이며, 융점도 (시클로펜타디에닐)(1,5-시클로옥타디엔)이리듐에 비하여 낮기 때문에, CVD 법에 적용할 원료 물질로 필요한 특성을 구비하는 것으로 알려져 있다. 그러나, 상기 화합물은 안정성이 매우 높기 때문에 착화합물의 분해 온도가 높아, 필연적으로 막 형성 시에 기판 온도를 높게 할 필요가 있으므로, 그 결과, 막 형성 시에 단차피복성(스텝 커버리지성)이 뒤떨어지는 문제점을 내포하고 있으며, 또한, 이리듐 산화막이 생성되기 어려운 문제점도 가지고 있다. 또한, 에틸렌과 시클로펜타디에닐기를 배위자(ligand)로 가지는 이리듐 착화합물을 보고한 예로는 (시클로펜타디에닐)비스(에틸렌)이리듐의 합성예가 있지만(참조: M. Dziallas, A. Hohn and H. Werner, J. Organomet. Chem. 330 (1987) 207-219), 실온에서 고체 화합물이며, CVD 전구체로는 부적합하다.
발명의 개시
본 발명은 상기 기술적인 문제점의 관점에서 만들어진 것이다. 즉, 이리듐 기재막을 형성시키는 재료가 될 수 있는 유기금속 화합물에 관한 것이며, 융점이 낮고, 기화특성이 우수할 뿐만 아니라, 기판 상에서의 막 형성 온도가 낮은 유기금속 화합물, 그의 제조방법 및 상기 유기금속 화합물을 이용한 이리듐 기재막의 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명자들은 상기 문제를 해결하기 위하여 예의 검토한 결과, (시클로펜타디에닐)비스(에틸렌)이리듐의 시클로펜타디에닐 고리(이후, Cp 고리로 명명) 또는 에틸렌에 저급 알킬기를 도입함으로써, 실온에서 액체인 융점을 나타내고, 양호한 기화특성 및 분해특성을 가지는 신규한 이리듐 착화합물을 개발하기에 이르렀다.
즉, 본 발명은 하기 일반식 [1]로 표시되는 것을 특징으로 하는 유기 이리듐 화합물이다.
(식 중, R1은 수소원자 또는 저급 알킬기를 나타내며, 또한, R2는 저급 알킬기를 나타낸다)
또한, 본 발명은 하기 일반식 [2] 또는 일반식 [3]으로 표시되는 화합물에,
(식 중, R1은 상술한 바와 동일하며, 또한, X는 할로겐 원자를 나타낸다)
(식 중, R1 및 X는 상술한 바와 동일하다)
하기 일반식 [4]로 표시되는 화합물을 반응시키는 것을 특징으로 하는, 일반식 [1]로 표시되는 유기 이리듐 화합물의 제조방법이다.
(식 중, R2는 저급 알킬기를 나타내며, 또한, M은 알칼리 금속을 나타낸다)
또한, 본 발명은 일반식 [1]로 표시되는 유기 이리듐 화합물을 원료로 하는 것을 특징으로 하는 이리듐 기재막의 제조방법이다.
도 1은 실시예 1로 수득된 이리듐 화합물의 GC/MS의 차트를 나타내는 도면이다.
도 2는 실시예 1로 수득된 이리듐 화합물의 분해특성을 나타내는 도면이다.
도 3은 비교예 1로 수득된 (1,5-시클로옥타디엔)(에틸시클로펜타디엔)이리듐의 분해특성을 나타내는 도면이다.
도 4는 실시예 2로 수득된 (메틸시클로펜타디에닐)비스(에틸렌)이리듐의 GC/MS의 차트를 나타내는 도면이다.
도 5는 실시예 3에서 사용된 CVD 법 장치의 개략도이다.
또한, 도면 내의 부호 중, 1은 원료 용기, 2는 오일배스(oil bath), 3은 반응조, 4는 기판, 5는 산화가스, 6은 카운터 가스, 7은 캐리어 가스, 8은 매스 플로우 콘트롤러(mass flow controller), 9는 매스 플로우 콘트롤러, 10은 매스 플로우 콘트롤러, 11은 진공 펌프, 12는 배기이다.
발명을 실시하기
위한
최량의
형태
이하, 본 발명을 다시 자세하게 설명한다.
우선, 본 명세서에서 사용되는 용어의 정의 및 그의 구체예에 대하여 설명한다.
본 명세서에 있어서, 저급 알킬기로는 탄소수 1개 이상 6개 이하의 직쇄상, 분지상 또는 고리상의 알킬기를 의미한다. 따라서, R1 또는 R2에서 이용되는 저급 알킬기로서는 예를 들어, 메틸기, 에틸기, n-프로필기, 이소프로필기, n-부틸기, 이소부틸기, sec-부틸기, tert-부틸기, 펜틸기, 이소펜틸기, 네오펜틸기, tert-펜틸기, 1-메틸부틸기, 2-메틸부틸기, 1,2-디메틸프로필기, 헥실기, 이소헥실기, 1-메틸펜틸기, 2-메틸펜틸기, 3-메틸펜틸기, 1,1-디메틸부틸기, 2,2-디메틸부틸기, 1,3-디메틸부틸기, 2,3-디메틸부틸기, 3,3-디메틸부틸기, 1-에틸부틸기, 2-에틸부틸기, 1,1,2-트리메틸프로필기, 1,2,2-트리메틸프로필기, 1-에틸-1-메틸프로필기, 1-에틸-2-메틸프로필기, 시클로프로필기, 시클로부틸기, 시클로펜틸기, 시클로헥실기, 시클로프로필메틸기, 1-시클로프로필에틸기, 2-시클로프로필에틸기 및 시클로부틸메틸기 등을 들 수 있다.
본 발명에서 R1은 수소원자 또는 저급 알킬기를 나타낸다. R1으로 바람직한 것은 메틸기 또는 수소원자이며, 보다 바람직한 것은 R1이 수소원자인 경우이다. 한편, 본 발명에서 R2는 저급 알킬기를 나타내는데, 바람직한 것은 메틸기, 에틸기, 프로필기 또는 부틸기이며, 보다 바람직한 것은 메틸기 또는 에틸기이다. 또한, 본 발명에서, X는 할로겐 원자를 나타내는데, 할로겐 원자로서는 예를 들어, 불소, 염소, 브롬, 요오드 원자 등을 들 수 있으며, 그 중에서도 염소 또는 브롬 원자가 바람직하다. 또한, 본 발명에서, M은 알칼리 금속을 나타내는데, 알칼리 금속으로는 예를 들어, 리튬, 나트륨, 칼륨 등을 들 수 있으며, 그 중에서도 리튬 또는 나트륨이 바람직하다.
본 발명의 일반식 [1]로 표시되는 유기 이리듐 화합물은 상술한 일반식 [2] 또는 [3]으로 표시되는 화합물에 일반식 [4]로 표시되는 화합물을 반응시킴으로써 수득할 수 있다. 이때의 반응조건은 특별히 한정되지는 않지만, 예를 들어, 양자를 각각 적당한 용매에 첨가하고, 이들을 저온에서 혼합?반응시키는 것이 좋다. 후처리는 특별히 한정되지는 않지만, 일반적인 방법으로서, 반응 종료 후의 혼합액을 농축하고, 수득된 혼합물로부터 펜탄, 헥산, 에테르 등의 유기용매로 목적물을 추출하며, 적당한 담체를 선택하고, 적당한 유기용매를 용리액으로 하여 컬럼 크로마토그래피를 수행한 후, 증류함으로써 목적하는 유기 이리듐 화합물을 수득할 수 있다.
본 발명의 일반식 [1]로 표시되는 유기 이리듐 화합물을 원료로 이리듐 기재막을 제조할 수 있다. 제조방법의 구체적 수단에 대하여는 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, CVD 법을 이용하여도 좋고, 원자층 증착법(atomic layer deposition 법: ALD 법)을 이용하여도 좋으며, 또한, 스핀코팅 법 등을 이용하여도 좋다.
또한, 본 발명의 일반식 [1]로 표시되는 유기 이리듐 화합물을 이용하여 CVD 법, ALD 법 등으로 이리듐 기재막을 제조하는 경우, 막 형성 챔버로의 원료 공급 방법은 특별히 한정되지는 않지만, 예를 들어, 가스 버블링(bubbling) 법을 사용하여도 좋고, 또한, 액체 주입법을 사용하여도 좋다.
또한, 본 발명에 있어서, CVD 법 또는 ALD 법 등으로 이리듐 기재막을 제조하는 경우, 사용되는 유기 이리듐 화합물은 그대로 사용하여도 무방하며, 또한, 유기용매에 용해한 유기 이리듐 화합물 용액으로 사용하여도 무방하다.
용액으로 사용하는 경우에 이용되는 유기용매로는 예를 들어, 메탄올, 에탄올, 이소프로판올 등의 알콜류, 초산에틸, 초산부틸, 초산이소아밀 등의 에스테르류, 에틸렌글리콜모노에틸에테르, 에틸렌글리콜모노메틸에테르, 에틸렌글리콜모노부틸에테르 등의 글리콜에테르류, 디에틸에테르, 글라임(glyme), 디글라임, 트리글라임, 테트라하이드로퓨란 등의 에테르류, 메틸부틸케톤, 메틸이소부틸케톤, 에틸부틸케톤, 디프로필케톤, 디이소부틸케톤, 메틸아밀케톤, 시클로헥사논 등의 케톤류, 헥산, 시클로헥산, 에틸시클로헥산, 헵탄, 옥탄, 벤젠, 톨루엔, 크실렌 등의 탄화수소류를 들 수 있지만, 이들에 한정되는 것은 아니다.
하기에 본 발명을 실시예에 따라 상세하게 설명하지만, 본 발명이 이들 실시예에 의해 한정되는 것은 아니다.
실시예 1: (에틸시클로펜타디에닐)비스(에틸렌)이리듐의 합성 및 열분해 특성
THF 10㎖ 중에 디 μ-클로로테트라키스(에틸렌)디이리듐(di μ-chlorotetrakis(ethylene)diiridium) (I) 49mg을 가하고, 반응 플라스크를 -78℃로 냉각하였으며, 리튬 에틸시클로펜타디에나이드(lithium ethylcyclopentadienide) 17mg의 THF 용액 10㎖를 첨가하였다. -78℃에서 30분간 교반한 후, 서서히 실온까 지 승온하였으며, 추가로 1시간 반응시키고, 농축하여 니상(泥狀) 혼합물을 수득하였다. 상기 니상 혼합물로부터 헥산을 이용하여 추출하고, 추출용액에 대하여 알루미나를 이용한 컬럼 크로마토그래피(용리액: 헥산)로 분리하여, 목적물인 (에틸시클로펜타디에닐)비스(에틸렌)이리듐을 14mg 수득하였다.
염황색 유상물(pale yellow oily material)
1H-NMR(500MHz, 벤젠-d6, δppm):
4.78-4.77(m, 2H), 4.66-4.65(m, 2H), 2.60-2.58(m, 4H), 1.90(q, J=2.5Hz, 2H), 0.94(t, J=2.5Hz, 3H), 0.94-0.91(m, 4H)
IR(neat, cm-1):
3040, 2970, 2920, 2870, 1480, 1460, 1435, 1310, 1165, 1150, 1035, 1010, 990, 810, 790
MS(GC/MS, EI):
193Ir에서의 (에틸시클로펜타디에닐)비스(에틸렌)이리듐의 분자이온 피크:
m/z 342(참조: 도 1)
또한, 상기 화합물의 분해특성을 측정한 결과를 도 2에 도시하였다. 도 2로부터도 명백하듯이, 본 발명의 유기 이리듐 화합물은 분해 개시온도가 약 220℃ 부근이며, 후술하는 비교예 1의 화합물(종래품) 보다도 저온에서 열분해할 수 있다.
또한, 상기 측정조건은 다음과 같다.
측정방법: 입력보상 시차주사열량측정(DSC)
측정조건: 기준물: 알루미나
불활성 가스: 질소 (50㎖/min)
승온: 10℃/min
비교예 1: (에틸시클로펜타디에닐)(1,5-시클로옥타디엔)이리듐의 분해특성
실시예 1과 동일한 방법으로 (에틸시클로펜타디에닐)(1,5-시클로옥타디엔)이리듐(종래품)의 분해특성을 측정하고, 결과를 도 3에 도시하였다. 도 3으로부터도 명백하듯이, 상기 종래품은 분해 개시온도가 약 370℃ 부근이다.
실시예 2: (메틸시클로펜타디에닐)비스(에틸렌)이리듐의 합성
THF 50㎖ 중에 디 μ-클로로테트라키스(에틸렌)디이리듐 (I) 0.97g을 가하고, 반응 플라스크를 -78℃로 냉각하였으며, 리튬 메틸시클로펜타디에나이드 178mg의 THF 용액 50㎖를 첨가하였다. -78℃에서 1시간 40분 교반한 후, 서서히 실온까지 승온하고, 추가로 1시간 반응시킨 후, 이를 농축하여 니상 혼합물을 수득하였다. 상기 니상 혼합물로부터 헥산을 이용하여 추출하고, 추출 용액에 대하여 알루미나를 이용한 컬럼 크로마토그래피(용리액: 헥산)로 분리하여, 목적물인 (메틸시클로펜타디에닐)비스(에틸렌)이리듐을 409mg 수득하였다.
유백색 고체(milky white solid)
1H-NMR(500MHz, 벤젠-d6, δppm):
4.84(t, J=2.0Hz, 2H), 4.59(t, J=2.0Hz, 2H), 2.55-2.44(m, 4H), 1.51(s, 3H), 0.95-0.93(m, 4H)
MS(GC/MS, EI):
193Ir에서의 (메틸시클로펜타디에닐)비스(에틸렌)이리듐의 분자이온 피크:
m/z 328(참조: 도 4)
실시예 3: (에틸시클로펜타디에닐)비스(에틸렌)이리듐을 이용한 이리듐 막의 제조
도 5에 도시한 장치를 사용하여, 기판(4)으로는 표면에 SiO2 막이 100nm 형성된 Si 기판을 사용하였다. 원료 용기(1) 내에 (에틸시클로펜타디에닐)비스(에틸렌)이리듐 약 10g을 넣고, 오일배스로 가열하여, 50℃ 항온상태가 되게 하였다. 진공펌프(11) 및 압력조절 밸브를 이용하여 반응조(3)를 10 Torr, 원료 용기(1) 내를 100 Torr로 조정하였다. 캐리어 가스(7)로 질소를 이용하고, 유량을 매스 플로우 콘트롤러(10)를 사용하여 100sccm으로 설정하였다. 산화가스(5)로 산소를 이용하였으며, 카운터 가스(6)로 질소를 이용하였다. 산화가스 유량을 매스 플로우 컨트롤러(8)로 10sccm으로 설정하고, 카운터 가스 유량을 매스 플로우 컨트롤러(9)로 90sccm으로 설정하였다. 기판(4)을 400℃로 설정하고, 가열 유지된 상태로 60분간 막 형성을 수행하였다. 형성된 막은 금속 이리듐 막이며, 막 두께는 300nm였다.
본 발명을 상세히 또한, 특정의 실시예를 참조하여 설명하였지만, 본 발명의 정신과 범위를 일탈하지 않으면서 다양한 변경이나 수정을 가할 수 있음은 당업자에게 있어 자명하다.
본 출원은 2003년 8월 19일 출원의 일본특허출원(특원 제 2003-295329호), 2003년 11월 12일 출원의 일본특허출원(특원 제 2003-383169호) 및 2004년 1월 13일 출원의 일본특허출원(특원 제 2004-5503호)에 기초하는 것이며, 그 내용은 본 명세서에 참조로 포함된다.
본 발명의 유기 이리듐 화합물은 이리듐 기재막을 제조하는 방법으로 CVD 법을 이용하는 경우에, 가스 버블링 조건에서 액체이기 때문에 정량적으로 공급될 수가 있다. 또한, 종래의 재료보다 더 낮은 온도에서 열 분해할 수 있기 때문에 기판 상에서 스텝 커버리지성이 우수한 이리듐 기재막이 형성될 수 있다. 본 발명에 의해 양산성(mass-productivity)이 우수한 이리듐 기재막을 제조할 수 있다.
Claims (6)
- 하기 일반식 [1]로 표시되는 것을 특징으로 하는 유기 이리듐 화합물.
(식 중, R1은 수소원자 또는 1～6의 탄소수를 가지는 알킬기를 나타내며, 또한, R2는 2～6의 탄소수를 가지는 알킬기를 나타낸다) - 제 1항에 있어서,R1이 수소원자인 것을 특징으로 하는 유기 이리듐 화합물.
- 하기 일반식 [2] 또는 일반식 [3]으로 표시되는 화합물에, 하기 일반식 [4]로 표시되는 화합물을 반응시키는 것을 특징으로 하는 제 1항 또는 제 2항에 기재된 유기 이리듐 화합물의 제조방법.
(식 중, R1은 수소원자 또는 1～6의 탄소수를 가지는 알킬기를 나타내며, 또한, X는 할로겐 원자를 나타낸다)
(식 중, R1 및 X는 상술한 바와 동일하다)
(식 중, R2는 2～6의 탄소수를 가지는 알킬기를 나타내며, 또한, M은 알칼리 금속을 나타낸다) - 제 3항에 있어서,R1이 수소원자인 것을 특징으로 하는 제조방법.
- 제 1항 또는 제 2항에 기재된 유기 이리듐 화합물을 원료로 하는 것을 특징으로 하는 이리듐 기재막의 제조방법.
- 제 5항에 있어서,R1이 수소원자인 것을 특징으로 하는 이리듐 기재막의 제조방법.
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