KR101121879B1 - 링 레이저 자이로스코프의 위상 오차 보상 방법 및 이를 위한 장치 - Google Patents

Abstract

링 레이저 자이로스코프의 반사경에서 일어나는 역 산란에 의하여 양방향으로 발진하는 빛의 주파수 잠김 현상(Lock-in)이 발생하고, 이에 따라 자이로스코프의 위상 오차가 발생한다. 이러한 위상 오차를 보상하기 위한 위상 오차 미분 신호의 영역 적분에 의한 보상(Area Integration and Compensation; AIC) 방법을 제공한다.

자이로스코프, 위상 오차, 랜덤워크

Description

링 레이저 자이로스코프의 위상 오차 보상 방법 및 이를 위한 장치{Method and apparatus for compensating phase error of ring laser gyro}

본 실시예는 링 레이저 자이로스코프에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 링 레이저 자이로스코프의 위상 오차 보상 방법 및 이를 위한 장치에 관한 것이다.

링 레이저 자이로스코프는 3개 또는 그 이상의 반사경으로 이루어진 공진기 안에 서로 반대 방향, 예컨대 시계 방향과 반 시계 방향으로 진행하는 레이저 빔이 동시에 발진하도록 하고, 이 레이저 빔의 진동수는 외부에서 자이로스코프를 회전시킬 때의 회전 각속도에 따라 달라지며, 이 진동수의 차이 즉, 위상 차이를 검출하여 회전각(또는, 회전 각속도)를 측정하는 장치이다.

이러한 링 레이저 자이로스코프의 출력은 사인(sin) 곡선의 형태로 나타나고, 외부 회전 입력의 크기에 따라 사인 곡선의 주파수가 바뀐다. 그런데, 외부 회전 입력의 크기가 작을 경우에, 반사경의 역 산란에 의하여 두 레이저 빔의 진동수가 서로 같아지려는 현상(Lock-in effect)이 발생하게 되고, 이는 회전 입력의 크기가 어느 한계치 이하일 때는 자이로스코프의 측정이 불가능한 문제가 있다.

이를 해결하기 위하여 자이로스코프에 정현파의 몸체 진동을 가하게 되고, 이로 인하여 자이로스코프의 출력은 주기적으로 록-인 구간을 지나는 사인 곡선의 형태로 나타나게 된다. 이러한 록-인 구간은 자이로스코프의 방향 전환 시점 전/후에서 위상 변화를 일으키고, 이러한 위상 변화는 자이로스코프가 오동작하게 되는 원인이 된다.

종래에는, 정현파 몸체 진동의 방향 전환 시점 전에 나타나는 자이로스코프의 출력 신호에서 반주기 주파수 변화량을 2차 곡선 커브 피팅(curve fitting)을 이용하여 위상을 계산하고, 방향 전환 시점 후에 나타나는 자이로스코프의 출력 신호에서 반주기 주파수 변화량을 이용하여 위상을 계산한 후, 방향 전환 시점 전/후의 계산된 위상을 비교하여 록-인 구간에서의 위상변화를 추정하는 방법이 사용되었다.

그러나, 종래의 위상 변화 추정 방법은 자이로스코프의 운용 상황에 따라 실제의 위상 오차보다 작거나 또는 크게 위상 오차를 추정하게 된다. 이는 자이로스코프의 동작 신뢰성을 떨어뜨린다.

본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 링 레이저 자이로스코프의 위상 오차를 보상할 수 있는 방법을 제공하여 자이로스코프의 성능을 개선하고자 하는데 있다.

본 발명이 해결하고자 하는 다른 과제는, 위상 오차 보상 방법을 수행하기 위한 장치를 제공하고자 하는데 있다.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 링 레이저 자이로스코프의 위상 오차 보상 방법은, 자이로스코프의 출력 신호를 구형파 신호로 변환하는 단계, 구형파 신호로부터 에지를 검출하고, 검출된 에지의 시간을 측정하여 저장하는 단계 및 측정된 에지 시간을 이용하여 위상 오차를 계산하고, 계산된 위상 오차를 이용하여 출력 신호의 위상 오차를 보정하는 단계를 포함한다.

상기 다른 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 위상 오차 보상 장치는, 자이로스코프의 출력 신호로부터 위상 오차를 계산하는 신호 처리 회로 및 계산된 위상 오차에 따라 출력 신호의 위상 오차를 보정하는 오차 보정부를 포함한다.

본 발명에 따른 링 레이저 자이로스코프의 위상 오차 보상 방법 및 장치에 따르면, 자이로스코프의 정현파 몸체 진동에 따라 발생되는 록-인 구간에서의 위상 오차를 자이로스코프의 출력 신호의 시간대별 면적을 계산하여 추정하고, 이를 이용하여 출력 신호의 위상 오차를 보상하는 위상 오차 보상 알고리즘을 사용함으로써, 자이로스코프의 동작 신뢰성을 높일 수 있다.

본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시 예에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 실시 예를 예시하는 첨부도면 및 첨부도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 위상 오차를 보상하기 위한 자이로스코프의 위상 오차 보상 장치의 개략적인 블록도이다.

도 1을 참조하면, 위상 오차 보상 장치(100)는 자이로스코프(101), 신호 처리 회로(103) 및 오차 보정부(105)를 포합한다.

자이로스코프(101)는 4 개의 반사경(111) 및 2 개의 광 검지기(113) 및 상대 각속도 센서(Relative Angular Velocity Sensor; RAVS)(115)를 포함한다.

4 개의 반사경(111)은 자이로스코프(101)에서 서로 반대 방향으로 진행하는 두 개의 진행파를 반사시킨다.

2 개의 광 검지기(113) 각각은 4 개의 반사경(111) 중에서 하나의 반사경에 위치할 수 있으며, 4 개의 반사경(111)에 의해 반사되는 자이로스코프(101)의 출력을 검출하여 2 개의 검출 신호(PDS1, PDS2)를 출력한다.

경우에 따라서, 하나의 반사경과 2 개의 광 검지기(113) 사이에는 결합 프리즘(미도시)이 더 위치할 수도 있다.

상대 각속도 센서(115)는 자이로스코프(101)의 거동을 센싱하여 센싱 신호, 즉 각속도 신호(DTHR)를 출력한다.

자이로스코프(101)로부터 출력된 2 개의 검출 신호(PDS1, PDS2)와 각속도 신호(DTHR)는 신호 처리 회로(103)로 입력된다.

신호 처리 회로(103)는 2 개의 검출 신호(PDS1, PDS2)로부터 자이로스코 프(101)의 위상 오차(ψ_e)를 추정하여 출력한다.

또한, 신호 처리 회로(103)는 각속도 신호(DTHR)로부터 신호 처리 회로(103)의 위상 오차 계산부(145)의 동작을 제어하기 위한 제어 신호(IRQ)를 출력한다.

신호 처리 회로(103)는 제1 신호 처리부(120) 및 제2 신호 처리부(140)를 포함한다.

도 2는 도 1에 도시된 제1 신호 처리부의 개략적인 블록도이고, 도 3은 제1 신호 처리부의 동작에 따른 신호 파형도이다.

도 1 내지 도 3을 참조하면, 신호 처리 회로(103)의 제1 신호 처리부(120)는 자이로스코프(101)의 2 개의 광 검지기(113) 중에서 하나로부터 제1 검출 신호(PDS1)를 제공받아 제1 구형파 신호(sinP)를 출력하는 제1 회로(121)와, 2 개의 광 검지기(113) 중에서 다른 하나로부터 제2 검출 신호(PDS2)를 제공받아 제2 구형파 신호(cosP)를 출력하는 제2 회로(125)와, 상대 각속도 센서(115)로부터 각속도 신호(DTHR)를 제공받아 제3 구형파 신호(DTHZR)를 출력하는 제3 회로(127)를 포함한다.

제1 회로(121), 제2 회로(125) 및 제3 회로(127) 각각은 증폭기(131, 134, 137)와 비교기(132, 135, 138)와 글리치(glitch) 제거기(133, 136, 139)를 포함한다.

제1 회로(121)의 제1 증폭기(131)는 제1 검출 신호(PDS1)를 증폭하여 출력한다. 제1 검출 신호(PDS1)는 전류 신호일 수 있고, 증폭된 제1 검출 신호(PDS1')는 전압 신호일 수 있다.

제1 회로(121)의 제1 비교기(131)는 증폭된 제1 검출 신호(PDS1')와 기준 레벨(Ref)을 비교하고, 비교 결과에 따라 제1 구형파 신호(sinP)를 출력한다.

여기서, 증폭된 제1 검출 신호(PDS1')가 전압 신호인 경우에 기준 레벨(Ref)은 0의 전압 값일 수 있다.

예를 들어, 제1 비교기(131)는 증폭된 제1 검출 신호(PDS1')가 기준 레벨(Ref)보다 큰 값, 즉 양(+)의 레벨이면, 제1 레벨(예컨대, 하이 레벨)을 가지는 제1 구형파 신호(sinP)를 출력한다.

또, 제1 비교기(131)는 증폭된 제1 검출 신호(PDS1')가 기준 레벨(Ref)보다 작은 값, 즉 (-)의 레벨이면, 제2 레벨(예컨대, 로우 레벨)을 가지는 제1 구형파 신호(sinP)를 출력한다.

즉, 제1 비교기(131)는 증폭된 제1 검출 신호(PDS1')를 기준 레벨(Ref)과 비교하면서, 그 결과에 따라 제1 레벨과 제2 레벨이 번갈아 나타나는 제1 구형파 신호(sinP)를 출력한다.

한편, 제2 회로(125)의 제2 증폭기(134)는 제2 검출 신호(PDS2)를 입력으로 제공받아 증폭하는 것을 제외하고는 제1 회로(121)의 제1 증폭기(131)와 동일하다.

마찬가지로, 제2 검출 신호(PDS2)는 전류 신호일 수 있고, 제2 증폭기(134)에 의해 증폭된 제2 검출 신호(PDS2')는 전압 신호일 수 있다.

또한, 제2 비교기(135)는 증폭된 제2 검출 신호(PDS2')와 기준 레벨(Ref)을 비교하여 제2 구형파 신호(cosP)를 출력하는 것을 제외하고는 제1 비교기(131)와 동일하다.

여기서, 제1 회로(121)로부터 출력된 제1 구형파 신호(sinP)와 제2 회로(125)로부터 출력된 제2 구형파 신호(cosP)는 π/2만큼의 위상 차이를 가질 수 있다. 이것은 자이로스코프(101)로부터 출력되는 제1 검출 신호(PDS1)와 제2 검출 신호(PDS2)가 π/2의 위상 차이를 가지기 때문이다.

또한, 제3 회로(127)의 제3 증폭기(137)는 각속도 신호(DTHR)을 입력으로 제공받아 증폭하는 것을 제외하고는 제1 회로(121)의 제1 증폭기(131)와 동일하다.

마찬가지로, 각속도 신호(DTHR)는 전류 신호일 수 있고, 제3 증폭기(137)에 의해 증폭된 각속도 신호(DTHR')는 전압 신호일 수 있다.

또한, 제3 비교기(138)는 증폭된 각속도 신호(DTHR')와 기준 레벨(Ref)을 비교하여 제3 구형파 신호(DTHZR)를 출력하는 것을 제외하고는 제1 비교기(131)와 동일하다.

한편, 도 2에 도시된 글리치 제거기(133, 136, 139)는 제1 회로(121), 제2 회로(125) 및 제3 회로(127) 각각의 비교기, 즉 제1 비교기(132), 제2 비교기(135) 및 제3 비교기(138)로부터 출력된 제1 구형파 신호(sinp), 제2 구형파 신호(cosP) 및 제3 구형파 신호(DTHZR)의 글리치를 제거하기 위하여 사용된다.

또한, 본 발명의 다양한 실시예에 따라 글리치 제거기(133, 136, 139)는 후술될 제2 신호 처리 회로(140)에 위치할 수도 있고, 경우에 따라 생략할 수도 있다.

또한, 도면에 도시되지는 않았으나, 글리치 제거기(133, 136, 139)의 후단에 는 각각 딜레이(delay) 발생기(미도시)가 더 포함될 수도 있다.

도 4는 도 1에 도시된 제2 신호 처리부의 개략적인 블록도이고, 도 5와 도 6은 제2 신호 처리부의 동작에 따른 신호 파형도이다.

도 1 및 도 4 내지 도 6을 참조하면, 제2 신호 처리부(140)는 에지 검출부(141), 저장부(143), 위상 오차 계산부(145), 제1 펄스 계수부(146), 제2 펄스 계수부(147), 제1 타이머(142) 및 제2 타이머(144)를 포함한다.

에지 검출부(141)는 제1 신호 처리부(120)로부터 출력된 제1 구형파 신호(sinP)로부터 다수의 에지들(RE, FE)을 검출한다.

여기서, 다수의 에지들(Rising Edge; 이하 RE 및 Falling edge; 이하 FE)은 제1 구형파 신호(sinP)에서 레벨이 천이되는 부분을 의미할 수 있으며, 예컨대 다수의 상승 에지(RE)와 다수의 하강 에지(FE)를 포함한다.

에지 검출부(141)는 검출된 다수의 에지들(RE, FE) 각각에 대한 에지 시간(ET)을 출력할 수 있는데, 이를 위하여 제1 타이머(142)는 에지 검출부(141)로 시간(t)을 제공한다.

예를 들어, 제1 타이머(142)는 위상 오차 보상 장치(100)가 동작하는 동안의 시간(t)을 에지 검출부(141)에 제공한다.

에지 검출부(141)는 제1 구형파 신호(sinP)로부터 검출한 다수의 에지들(RE, FE)을 이용하여 제1 타이머(142)로부터 제공된 시간(t)에 인터럽트를 발생시켜 다수의 에지들 각각의 에지 시간(ET)을 측정할 수 있다.

측정된 다수의 에지 시간들(ET)은 저장부(143)로 제공되어 저장된다.

저장부(143)는 에지 검출부(141)로부터 제공된 다수의 에지 시간들(ET)을 저장한다.

저장부(143)는 제1 신호 처리부(120)의 제3 회로(127)로부터 출력된 제3 구형파 신호(DTHZR)에 따라 다수의 에지 시간들(ET)을 제1 시간 영역과 제2 시간 영역으로 분류하여 저장할 수 있다.

예를 들어, 저장부(143)는 제3 회로(127)로부터 출력된 제3 구형파 신호(DTHZR)에 따라 다수의 에지 시간들(ET)을 방향 전환 기준점 전의 에지 시간(ET1)과 방향 전환 기준점 후의 에지 시간(ET1)으로 각각 분류하여 저장한다.

제1 펄스 계수부(146)는 QEP(Quadrature Encoder Pulse; QEP) 회로라고도 불리며, 제1 신호 처리부(120)로부터 출력된 제1 구형파 신호(sinP)와 제2 구형파 신호(cosP)로부터 계수 신호(CS)를 출력한다. 계수 신호(CS)는 후술될 오차 보정부(105)로 제공된다.

제2 펄스 계수부(147)는 제3 구형파 신호(DTHR)의 제로-크로싱(zero-crossing) 이후에, 제1 구형파 신호(sinP)의 제로-크로싱이 발생한 횟수를 계수하고, 계수 결과에 따라 제어 신호(IRQ)를 출력한다.

제어 신호(IRQ)는 위상 오차 계산부(145)로 출력되어, 그 동작을 제어할 수 있다.

위상 오차 계산부(145)는 제2 타이머(134)에 의하여 일정 시간에 출력되는 자이로스코프(101)의 출력, 즉 제1 검출 신호(PDS1)로부터 위상 오차(ψ_e)를 계산하 여 출력한다.

위상 오차 계산부(145)는 제2 펄스 계수부(147)로부터 출력된 제어 신호(IRQ)에 따라 저장부(143)로부터 다수의 에지 시간들(ET1, ET2)을 제공받고, 이를 제1 검출 신호(PDS1)에 매핑시키고, 에지 시간이 매핑된 제1 검출 신호(PDS1)로부터 위상 오차(ψ_e)를 계산할 수 있다.

위상 오차 계산부(145)는 제1 검출 신호(PDS1)로부터 추정 신호(ES)를 추정한다.

예를 들어, 자이로스코프(101)로부터 출력되는 제1 검출 신호(PDS1)는 하기의 [수학식1]과 같이 나타낼 수 있다.

또한, 위상 오차 계산부(145)로부터 계산되는 위상 오차(ψ_e)는 하기의 [수학식2]와 같이 나타낼 수 있다.

여기서, K_scf는 위상과 각속도의 비례 상수, Ω_L은 Lock-in 영역 임계값[deg/sec], β는 초기 위상 계수를 의미한다.

위상 오차 계산부(145)는 [수학식1], [수학식2]와 더불어 저장부(143)로부터 출력된 다수의 에지 시간들(ET1, ET2)을 이용하여 위상 오차(ψ_e)를 계산할 수 있는데, 위상 오차(ψ_e)는 제1 검출 신호(PDS1)로부터 추정된 추정 신호(ES)의 에지 시간별 면적을 계산하는 것으로 산출될 수 있다.

이때, 위상 오차 계산부(145)는 자이로스코프(101)의 방향 전환 기준점의 인접 구간에서 위상 오차(ψ_e)를 계산할 수 있는데, 이는 자이로스코프(101)의 위상 오차(ψ_e)가 방향 전환 기준점 부근에서 발생하기 때문이다.

위상 오차 계산부(145)는 다수의 에지 시간들(ET1, ET2) 중에서 방향 전환 기준점(to)의 인접 구간에 대한 에지 시간, 예컨대 도 5에 도시된 에지 시간 t₁, t₂, t_-1 및 t_-2를 [수학식2]에 대입하여 에지 시간별 면적(S₁, S₀, S_{_1})을 계산한다.

에지 시간별 면적은 하기의 [수학식3]과 같이 나타낼 수 있다.

여기서, t₀는 t₁과 t_-1의 중간값(또는, 평균값)이고, ψ₀는 t₀에서의 자이로스코프의 위상을 나타낸다.

t₀는 하기의 [수학식4]와 같이 나타낼 수 있다.

ψ₀를 산출하기 위하여 t₁, t₂, t_-1 및 t_-2를 이용한 연립 방정식을 하기의 [수학식5]로 나타낼 수 있고, [수학식5]에 따라 ψ₀를 [수학식6]과 같이 나타낼 수 있다.

위상 오차 계산부(145)는 도 6에 도시된 바와 같이, 방향 전환 기준점 전의 위상 오차, 즉 계산된 면적(S₁)의 중간값과 방향 전환 기준점 후의 계산된 면적(S_{_1})의 중간값의 차이로 위상 오차(ψ_e)를 계산할 수 있고, 위상 오차(ψ_e)는 하기의 [수학식 7]과 같이 나타낼 수 있다.

도 6에 도시된 IES 신호는 ES 신호를 적분한 신호일 수 있다.

다시 도 1을 참조하면, 신호 처리 회로(103)에 의해 계산된 위상 오차(ψ_e)는 오차 보정부(105)로 출력된다.

오차 보정부(105)는 신호 처리 회로(103)로부터 출력된 위상 오차(ψ_e)를 일정 시간 동안 누적하고, 누적된 위상 오차(ψ_e)를 이용하여 자이로스코프(101)의 출력 신호의 위상 오차를 보정한다.

예를 들어, 신호 처리 회로(103)의 제2 신호 처리부(140)는 제1 펄스 계수부(146)를 이용하여 자이로스코프(101)의 출력, 예컨대 제1 구형파 신호(sinP)와 제2 구형파 신호(cosP)의 위상 변화로부터 계수 동작, 즉 카운팅 동작을 수행하고, 이에 따라 계수 신호(CS)를 출력할 수 있다.

여기서, 제1 펄스 계수부(146)가 제1 구형파 신호(sinP)와 제2 구형파 신호(cosP) 중에서 하나의 신호를 이용하여 계수 동작을 수행하게 되면, 상기 하나의 신호가 π만큼 위상이 변화할 때 1개의 펄스를 계수할 수 있다.

또한, 제1 펄스 계수부(146)가 제1 구형파 신호(sinP)와 제2 구형파 신호(cosP)를 모두 이용하여 계수 동작을 수행하게 되면, 두 신호가 π/2만큼 위상이 변화할 때 1개의 펄스를 계수할 수 있다.

이때, 오차 보정부(105)에 누적되어 저장되는 위상 오차(ψ_e)가 증가 또는 감소하여 π/2 또는 π만큼 변화되면, 오차 보정부(105)는 계수 신호(CS)에 따라 자이로스코프(101)의 출력 신호에 1개의 펄스만큼의 오차가 발생되었음을 판단할 수 있다.

오차 보정부(105)는 자이로스코프(101)의 출력 신호에 1개의 펄스만큼을 가산하거나 또는 감산하는 동작을 수행하여 자이로스코프(101)의 출력 신호의 위상 오차(ψ_e)를 보상한다.

본 발명의 내용은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.

본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 간단한 설명이 제공된다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 위상 오차를 보상하기 위한 자이로스코프의 위상 오차 보상 장치의 개략적인 블록도이다.

도 2는 도 1에 도시된 제1 신호 처리부의 개략적인 블록도이다.

도 3은 제1 신호 처리부의 동작에 따른 신호 파형도이다.

도 4는 도 1에 도시된 제2 신호 처리부의 개략적인 블록도이다.

도 5와 도 6은 제2 신호 처리부의 동작에 따른 신호 파형도이다.

Claims (8)

1. 자이로스코프의 출력 신호를 구형파 신호로 변환하는 단계;

   상기 구형파 신호로부터 에지를 검출하고, 검출된 에지의 시간을 측정하여 저장하는 단계; 및

   상기 출력 신호로부터 수학식

   

   를 이용하여 신호를 추정하고, 추정 신호에 상기 측정된 에지 시간을 매핑하는 단계;

   에지 시간이 매핑된 추정 신호로부터 상기 에지 시간별 면적을 계산하여 상기 위상 오차를 계산하여 누적하되, 상기 추정 신호의 방향 전환 시점 전/후에서 계산된 각각의 상기 에지 시간별 면적 중간값의 차이를 상기 위상 오차로써 계산하여 누적하는 단계; 및

   누적된 상기 위상 오차가 상기 출력 신호의 위상으로부터 π/2 또는 π만큼 변하는 시점을 판단하고, 상기 출력 신호의 계수값에서 1개의 펄스를 가산하거나 감산하여 상기 출력 신호의 상기 위상 오차를 보상하는 단계

   를 포함하는 자이로스코프의 위상 오차 보상 방법.

   여기서, K_scf는 위상과 각속도의 관계 상수, Ω_L은 오차 위상, β는 초기 위상 계수를 의미한다.
2. 청구항 1에 있어서,

   상기 출력 신호는 서로 다른 위상의 제1 신호와 제2 신호를 포함하고,

   상기 출력 신호를 구형파 신호로 변환하는 단계는,

   상기 제1 신호와 상기 제2 신호를 각각 증폭하고, 증폭된 제1 신호와 증폭된 제2 신호 각각을 기준 레벨과 비교하는 단계; 및

   비교 결과에 따라 상기 제1 신호로부터 제1 구형파 신호를 생성하여 출력하고, 상기 제2 신호로부터 제2 구형파 신호를 생성하여 출력하는 단계를 포함하는 자이로스코프의 위상 오차 보상 방법.
3. 청구항 2에 있어서,

   상기 제1 신호와 상기 제2 신호 또는 상기 제1 구형파 신호와 상기 제2 구형 파 신호는 π/2의 위상 차이를 가지는 자이로스코프의 위상 오차 보상 방법.
4. 청구항 1에 있어서,

   상기 구형파 신호로부터 에지를 검출하고, 검출된 에지의 시간을 측정하여 저장하는 단계는,

   상기 구형파 신호로부터 상기 에지를 검출하고, 타이머로부터 제공되는 시간에 검출된 상기 에지를 이용하여 인터럽트를 발생시키는 단계; 및

   인터럽트 발생 시점의 시간을 에지 시간으로 측정하여 저장하는 단계를 포함하는 자이로스코프의 위상 오차 보상 방법.
5. 청구항 4에 있어서,

   상기 에지 시간을 측정하여 저장하는 단계는, 방향 전환 기준점에 따라 상기 에지 시간을 방향 전환 시점 전과 방향 전환 시점 후로 분류하여 저장하는 단계를 더 포함하는 자이로스코프의 위상 오차 보상 방법.
6. 삭제
7. 삭제
8. 삭제

Images