KR101104884B1 - Eddy current test apparatus and method for processing eddy current - Google Patents

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Abstract

와전류 검사 장치 및 와전류 처리 방법이 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, 탐촉자 코일을 포함하는 와전류 검사 장치에 있어서, 탐촉자 코일에 의해 발생한 와전류 입력 신호를 입력받는 입력부; 와전류 입력 신호에서 노이즈 신호를 제거하고 증폭하여 와전류 보정 신호를 생성하는 노이즈 제거부; 와전류 보정 신호에 포함된 임피던스 불균형 신호를 보정하기 위한 주입 신호를 생성하는 신호 발생부; 및 주입 신호를 이용하여 와전류 보정 신호에 포함된 임피던스 불균형 신호를 보정해서 와전류 탐상 신호를 생성하는 보정부를 포함하는 와전류 검사 장치가 제공된다.An eddy current inspection apparatus and an eddy current processing method are disclosed. According to an embodiment of the present invention, an eddy current inspection apparatus including a transducer coil, the apparatus comprising: an input unit configured to receive an eddy current input signal generated by the transducer coil; A noise removing unit for removing and amplifying a noise signal from the eddy current input signal to generate an eddy current correction signal; A signal generator configured to generate an injection signal for correcting an impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal; And a correction unit for correcting the impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal using the injection signal to generate an eddy current flaw detection signal.

Description

와전류 검사 장치 및 와전류 처리 방법{EDDY CURRENT TEST APPARATUS AND METHOD FOR PROCESSING EDDY CURRENT}Eddy CURRENT TEST APPARATUS AND METHOD FOR PROCESSING EDDY CURRENT}

본 발명은 와전류 검사 장치에 관한 것으로, 구체적으로 본 발명은 와전류 검사 장치 및 와전류 처리 방법에 관한 것이다.
The present invention relates to an eddy current inspection apparatus, and in particular, the present invention relates to an eddy current inspection apparatus and an eddy current processing method.

교류가 흐르는 코일에 전도체를 가까이하면 코일 주위에 발생된 자계가 도체에 적용하게 된다. 코일의 자계는 교류에 의해 발생되는 것이므로 도체를 관통하는 자속의 방향은 시간에 따라 변한다. 이때, 도체에는 도체를 관통하는 자속의 변화를 방해하려는 기전력이 생긴다. 이러한 현상을 전자기 유도(Electromagnetic Induction) 라 하며 기전력에 의해 도체에 형성된 전력을 와전류라 한다.When the conductor is close to the coil through which the alternating current flows, the magnetic field generated around the coil is applied to the conductor. Since the magnetic field of the coil is generated by alternating current, the direction of the magnetic flux passing through the conductor changes with time. At this time, the conductor generates an electromotive force to prevent the change of the magnetic flux through the conductor. This phenomenon is called electromagnetic induction, and the power formed in the conductor by electromotive force is called eddy current.

이러한 와전류는 공업 제품 내부의 기공이나 균열 등의 결함, 용접부의 내부 결함 등을 검사체를 파괴하지 않고 외부에서 검사하는데 사용되며, 이를 와전류 검사 장치이라 일컫는다.This eddy current is used to inspect defects such as pores or cracks inside an industrial product, internal defects of a welded part, etc. from the outside without destroying the test body, and this is called an eddy current inspection device.

와전류 검사 장치는 검사체에 불연속이 존재하는 경우에 와전류의 크기와 분포가 변화하게 되는데 이와 같은 원리를 이용하여 검사체의 불연속부를 검출할 수 있In the eddy current test device, when there is a discontinuity in the test object, the size and distribution of the eddy current change.

다. 검사체에 생성된 와전류의 크기 및 분포는 주파수, 검사체의 전기 전도도, 투자율, 크기, 형상 및 균열과 같은 결함에 의해 변화한다. 따라서, 와전류 검사 장치는 검사체에 흐르는 와전류의 변화를 검출함으로써 검사체에 존재하는 결함의 유무 및 재질 평가 등의 시험이 가능하다.All. The magnitude and distribution of eddy currents generated in the specimen vary with defects such as frequency, electrical conductivity, permeability, size, shape and cracking of the specimen. Therefore, the eddy current inspection apparatus can test for the presence or absence of a defect present in the test body and the material evaluation by detecting the change in the eddy current flowing through the test body.

와전류 검사 장치는 와전류과 함께 노이즈 신호등이 생성되어 정확하게 검사체의 상태를 판단할 수 없는 문제가 발생하여 이에 대한 연구가 활발히 진행되고 있다.In the eddy current test apparatus, a noise signal is generated together with the eddy current, and thus a problem that cannot accurately determine the state of the test object occurs.

그러나, 종래의 경우 잡은 신호 등의 신호를 제거하는 방법은 리액턴스(X)/저항(R) 평형 조정 저항을 수동으로 조작하여 코일 임피던스 평형을 조정해야 하며 정확히 평형이 이루어졌는지를 확인하기 위해서는 주변장치가 필요하다. 그리고, 종래의 경우에는 X/R 밸런스(balance)를 조정하기 위해 외부 신호를 주입해야 하는데 주입 시 마다 노이즈 성분도 함께 주입되기 때문에 신호의 신호-대-잡음비가 낮아지는 문제가 발생한다. 또한, 종래의 경우에는 X/R 코어 핸들을 수동으로 조작하여 1차 및 2차 코일 임피던스 평형을 조정해야 하며 정확히 이루어졌는지를 확인하기 위해서는 주변 장치가 필요하다. 또한, 종래의 경우에는 디지털 시스템에 적합하지 않다.
However, in the conventional method of removing a signal such as a caught signal, it is necessary to manually adjust the reactance (X) / resistance (R) balance adjusting resistor to adjust the coil impedance balance, and to check that the peripheral device is correctly balanced. Is needed. In the conventional case, an external signal needs to be injected in order to adjust the X / R balance. However, since a noise component is also injected at each injection, a signal-to-noise ratio of the signal is lowered. In addition, the conventional case requires manual manipulation of the X / R core handle to adjust the primary and secondary coil impedance balances, and a peripheral device is required to ensure that it is correct. In addition, the conventional case is not suitable for digital systems.

본 발명의 일 실시예는 탐촉자 코일의 임피던스 평형을 조정할 수 있는 와전류 검사 장치 및 와전류 처리 방법을 제공하는 것이다.One embodiment of the present invention is to provide an eddy current inspection apparatus and an eddy current processing method that can adjust the impedance balance of the transducer coil.

그리고, 본 발명의 일 실시예는 탐촉자 코일에 의해 생성된 잔류 전하 신호와 같은 노이즈 신호를 노이즈가 제거된 신호로 생성(null out)시킬 수 있는 와전류 검사 장치 및 와전류 처리 방법을 제공하는 것이다.In addition, an embodiment of the present invention is to provide an eddy current inspection apparatus and an eddy current processing method capable of nulling out a noise signal, such as a residual charge signal generated by the transducer coil, to a signal from which noise is removed.

또한, 본 발명의 일 실시예는 디지털 시스템에 적용할 수 있는 와전류 검사 장치 및 와전류 처리 방법을 제공하는 것이다.
In addition, an embodiment of the present invention to provide an eddy current inspection apparatus and eddy current processing method applicable to a digital system.

본 발명의 일 측면에 따르면, 탐촉자 코일을 포함하는 와전류 검사 장치가 제공된다.According to one aspect of the invention, there is provided an eddy current inspection device comprising a transducer coil.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 탐촉자 코일을 포함하는 와전류 검사 장치에 있어서, 상기 탐촉자 코일에 의해 발생한 와전류 입력 신호를 입력받는 입력부; 상기 와전류 입력 신호에서 노이즈 신호를 제거하고 증폭하여 와전류 보정 신호를 생성하는 노이즈 제거부; 상기 와전류 보정 신호에 포함된 임피던스 불균형 신호를 보정하기 위한 주입 신호를 생성하는 신호 발생부; 및 상기 주입 신호를 이용하여 상기 와전류 보정 신호에 포함된 임피던스 불균형 신호를 보정해서 와전류 탐상 신호를 생성하는 보정부를 포함하는 와전류 검사 장치가 제공된다.According to an embodiment of the present invention, an eddy current inspection apparatus including a probe coil, comprising: an input unit configured to receive an eddy current input signal generated by the transducer coil; A noise removing unit configured to remove and amplify the noise signal from the eddy current input signal to generate an eddy current correction signal; A signal generator configured to generate an injection signal for correcting an impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal; And a correction unit configured to correct an impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal using the injection signal to generate an eddy current flaw detection signal.

그리고, 상기 보정부는, 상기 신호 발생부로부터 상기 주입 신호를 입력받으면 상기 주입 신호의 위상을 기준으로 상기 와전류 보정 신호에 포함된 상기 임피던스 불균형 신호를 보정하여 상기 와전류 탐상 신호를 생성한다.When the injection signal is input from the signal generator, the correction unit corrects the impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal based on the phase of the injection signal to generate the eddy current flaw detection signal.

한편, 상기 탐촉자 코일은 제 1 탐촉자 코일 및 제 2탐촉자 코일을 포함하며, 상기 입력부는, 상기 제 1탐촉자 코일로부터 제 1와전류 입력 신호를 입력받고, 제 2탐촉자 코일로부터 제 2와전류 입력 신호를 입력받는다.The probe coil may include a first probe coil and a second probe coil, and the input unit may receive a first eddy current input signal from the first probe coil and a second eddy current input signal from the second probe coil. Receive.

또한, 상기 노이즈 제거부는, 상기 제 1와전류 입력 신호와 상기 제 2와전류 입력 신호를 비교하여 제1 동상 신호와 제1 차동 신호를 구별하고, 상기 제1 동상 신호인 노이즈 신호를 상쇄시키고, 상기 제1 차동 신호를 증폭하여 와전류 증폭 신호를 생성하는 제 1전류 증폭부; 및 상기 제 1와전류 입력 신호 및 상기 제 2와전류 입력 신호 중 하나의 와전류 입력 신호와 상기 와전류 증폭 신호를 비교하여 제2 동상 신호와 제2 차동 신호를 구별하고, 상기 제2 동상 신호인 노이즈 신호를 상쇄시키고, 상기 제2 차동 신호를 증폭하여 상기 와전류 보정 신호를 생성하는 제 2전류 증폭부를 포함한다.The noise removing unit may compare the first eddy current input signal and the second eddy current input signal to distinguish a first in phase signal from a first differential signal, and cancel a noise signal that is the first in phase signal. A first current amplifier for amplifying the first differential signal to generate an eddy current amplification signal; And comparing the eddy current input signal of the first eddy current input signal and the second eddy current input signal with the eddy current amplifying signal to distinguish the second in-phase signal from the second differential signal, and determine a noise signal as the second in-phase signal. And a second current amplifier configured to cancel and generate the eddy current correction signal by amplifying the second differential signal.

그리고, 상기 신호 발생부는, 전압 신호를 생성하는 전압 생성부; 상기 전압 신호를 변환하여 아날로그 신호인 직류 변환 신호를 생성하는 변환부; 및 상기 직류 변환 신호를 증폭하여 주입 신호를 생성하는 신호 증폭부를 포함한다.The signal generator may include a voltage generator configured to generate a voltage signal; A conversion unit converting the voltage signal to generate a DC conversion signal that is an analog signal; And a signal amplifier for amplifying the DC conversion signal to generate an injection signal.

여기서, 상기 입력부는, 상기 탐촉자 코일로부터 상기 와전류 입력 신호를 입력받으면 상기 탐촉자 코일의 종류에 따라 모드를 선택해서 모드 선택 정보를 생성한다.
Here, when the input unit receives the eddy current input signal from the transducer coil, the input unit selects a mode according to the type of the transducer coil to generate mode selection information.

그리고, 본 발명의 일 측면에 따르면, 와전류 검사 장치가 와전류를 처리하는 방법이 제공된다.In addition, according to an aspect of the present invention, there is provided a method in which the eddy current inspection apparatus processes the eddy current.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 와전류 검사 장치가 와전류를 처리하는 방법에 있어서, 제 1 및 제 2탐촉자 코일 각각으로부터 제 1 및 제 2와전류 입력 신호를 입력받는 단계; 상기 제 1 및 제 2와전류 입력 신호에서 노이즈 신호를 제거하고 증폭하여 와전류 보정 신호를 생성하는 단계; 상기 와전류 보정 신호에 포함된 임피던스 불균형 신호를 보정하기 위한 주입 신호를 생성하는 단계; 및 상기 주입 신호를 이용하여 상기 와전류 보정 신호에 포함된 임피던스 불균형 신호를 보정해서 와전류 탐상 신호를 생성하는 단계를 포함하는 와전류 처리 방법이 제공된다.According to an embodiment of the present invention, a method for processing an eddy current by the eddy current inspection device, the method comprising the steps of receiving the first and second eddy current input signal from each of the first and second transducer coil; Generating an eddy current correction signal by removing and amplifying a noise signal from the first and second eddy current input signals; Generating an injection signal for correcting an impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal; And generating an eddy current flaw detection signal by correcting an impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal using the injection signal.

여기서, 상기 주입 신호를 이용하여 상기 와전류 보정 신호에 포함된 임피던스 불균형 신호를 보정해서 와전류 탐상 신호를 생성하는 단계는, 상기 주입 신호의 위상을 기준으로 상기 임피던스 불균형 신호를 포함하는 상기 와전류 보정 신호의 원점을 보정하여 상기 와전류 탐상 신호를 생성하는 단계이다.Here, using the injection signal to correct the impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal to generate an eddy current flaw detection signal, the eddy current correction signal including the impedance imbalance signal based on the phase of the injection signal Compensating the origin to generate the eddy current flaw detection signal.

그리고, 상기 제 1 및 제 2와전류 입력 신호에서 노이즈 신호를 제거하고 증폭하여 와전류 보정 신호를 생성하는 단계는, 상기 제 1와전류 입력 신호와 상기 제 2와전류 입력 신호에 포함된 동상인 노이즈 신호를 서로 상쇄시키고, 차동 신호를 증폭하여 와전류 증폭 신호를 생성하는 단계; 및 상기 제 1와전류 입력 신호 및 상기 제 2와전류 입력 신호 중 하나의 와전류 입력 신호와 상기 와전류 증폭 신호에 포함된 동상인 노이즈 신호를 서로 상쇄시키고, 차동 신호를 증폭하여 상기 와전류 보정 신호를 생성하는 단계를 포함한다.The generating of the eddy current correcting signal by removing and amplifying the noise signal from the first and second eddy current input signals may include the first eddy current input signal and the in-phase noise signal included in the second eddy current input signal. Canceling and amplifying the differential signal to produce an eddy current amplified signal; And canceling an eddy current input signal of the first eddy current input signal and the second eddy current input signal and a noise signal which is in phase included in the eddy current amplifying signal, and amplifying the differential signal to generate the eddy current correcting signal. It includes.

한편, 상기 와전류 보정 신호에 포함된 임피던스 불균형 신호를 보정하기 위한 주입 신호를 생성하는 단계는, 전압 신호를 생성하는 전압 생성부; 상기 전압 신호를 변환하여 아날로그 신호인 직류 변환 신호를 생성하는 단계; 및 상기 직류 변환 신호를 증폭하여 주입 신호를 생성하는 단계를 포함한다.On the other hand, generating the injection signal for correcting the impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal, the voltage generator for generating a voltage signal; Converting the voltage signal to generate a DC conversion signal that is an analog signal; And amplifying the DC conversion signal to generate an injection signal.

또한, 상기 와전류 처리 방법은 상기 제 1 및 제 2탐촉자 코일 각각으로부터 제 1 및 제 2와전류 입력 신호를 입력받는 단계 이후에, 상기 제 1 및 제 2와전류 입력 신호를 이용하여 상기 제 1 및 제 2탐촉자 코일의 종류에 따라 모드를 선택해서 모드 선택 정보를 생성하는 단계를 더 포함한다.
The eddy current processing method may further include receiving the first and second eddy current input signals from the first and second probe coils, respectively, by using the first and second eddy current input signals. The method may further include generating mode selection information by selecting a mode according to the type of the probe coil.

본 발명의 실시예에 따른 와전류 검사 장치 및 와전류 처리 방법은 탐촉자 코일의 임피던스 평형을 조정할 수 있다.The eddy current inspection apparatus and the eddy current processing method according to the embodiment of the present invention can adjust the impedance balance of the transducer coil.

그리고, 본 발명의 실시예에 따른 와전류 검사 장치 및 와전류 처리 방법은 디지털 시스템에 적용하여 자동으로 와전류에 포함된 잡음 신호를 제거할 수 있다.In addition, the eddy current inspection apparatus and the eddy current processing method according to an embodiment of the present invention can be applied to a digital system to automatically remove the noise signal included in the eddy current.

또한, 본 발명의 실시예에 따른 와전류 검사 장치 및 와전류 처리 방법은 탐촉자 코일에 흐르는 노이즈 신호를 제거하여 검사체를 검사한 결과에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있다.In addition, the eddy current inspection apparatus and the eddy current processing method according to an embodiment of the present invention can improve the reliability of the result of inspecting the test object by removing the noise signal flowing through the transducer coil.

그리고, 본 발명의 일 실시예에 따른 와전류 검사 장치 및 와전류 처리 방법은 회로의 구성이 간단하여 보드 면적 및 사용 부품수를 최소화할 수 있다.
In addition, the eddy current inspection apparatus and the eddy current processing method according to an embodiment of the present invention can simplify the circuit configuration to minimize the board area and the number of parts used.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 와전류 검사 장치를 나타낸 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 와전류 검사 장치의 회로의 구성을 나타낸 예시도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 와전류를 처리하는 와전류 처리 방법을 나타낸 순서도이다.
1 is a block diagram showing an eddy current inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is an exemplary view showing a circuit configuration of an eddy current inspection device according to an embodiment of the present invention.
3 is a flowchart illustrating an eddy current processing method for processing an eddy current according to an embodiment of the present invention.

본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The present invention is capable of various modifications and various embodiments, and specific embodiments are illustrated in the drawings and described in detail in the detailed description. However, this is not intended to limit the present invention to specific embodiments, it should be understood to include all transformations, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present invention. In the following description of the present invention, if it is determined that the detailed description of the related known technology may obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. The terms first, second, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular example embodiments only and is not intended to be limiting of the present invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise. In this application, the terms "comprise" or "have" are intended to indicate that there is a feature, number, step, operation, component, part, or combination thereof described in the specification, and one or more other features. It is to be understood that the present invention does not exclude the possibility of the presence or the addition of numbers, steps, operations, components, components, or a combination thereof.

이하, 본 발명에 따른 와전류 검사 장치 및 와전류 처리 방법의 실시예를 첨부도면을 참조하여 상세히 설명하기로 하며, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어, 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 도면번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
Hereinafter, embodiments of the eddy current inspection apparatus and the eddy current processing method according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, in the description with reference to the accompanying drawings, the same or corresponding components are given the same reference numeral Duplicate description thereof will be omitted.

본 발명의 일 실시예에 따른 와전류 검사 장치는 도 1을 참조하여 설명하기로 한다.An eddy current inspection apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 1.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 와전류 검사 장치를 나타낸 블록도이다.1 is a block diagram showing an eddy current inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 와전류 검사 장치(100)는 탐촉자 코일(110), 입력부(150), 노이즈 제거부(170), 신호 발생부(210) 및 보정부(260)를 포함한다.Referring to FIG. 1, the eddy current inspection apparatus 100 includes a transducer coil 110, an input unit 150, a noise removing unit 170, a signal generator 210, and a correction unit 260.

와전류 검사 장치(100)는 탐촉자 코일(110)에 전도체를 접촉하면 탐촉자 코일(110) 주위에 자계가 발생하고 자계가 도체에 작용하게 된다. 탐촉자 코일(110)의 자계는 교류에 의해 생성되는 것이므로 도체를 관통하는 자속의 방향은 시간으로 변한다. 이때, 도체에는 도체를 관통하는 자속의 변화를 방해하려는 기전력이 생기며 이를 전자기 유도라 한다. 도체는 이러한 기전력에 의해 교류 전류인 와전류 입력 신호를 생성한다.When the eddy current inspection device 100 contacts a conductor with the transducer coil 110, a magnetic field is generated around the transducer coil 110, and the magnetic field acts on the conductor. Since the magnetic field of the transducer coil 110 is generated by alternating current, the direction of the magnetic flux passing through the conductor changes with time. At this time, the conductor generates an electromotive force to interfere with the change of the magnetic flux through the conductor, which is called electromagnetic induction. The conductor generates an eddy current input signal that is an alternating current by this electromotive force.

탐촉자 코일(110)은 제 1 탐촉자 코일(120) 및 제 2탐촉자 코일(130)을 포함한다. 즉, 제 1탐촉자 코일(110)은 도체에 의해 제 1와전류 입력 신호를 발생시키고, 입력부(150)로 제 1와전류 입력 신호를 출력한다. 그리고, 제 2탐촉자 코일(130)은 도체에 의해 제 2와전류 입력 신호를 발생시키며, 입력부(150)로 제 2와전류 입력 신호를 출력한다.The transducer coil 110 includes a first transducer coil 120 and a second transducer coil 130. That is, the first transducer coil 110 generates the first eddy current input signal by the conductor and outputs the first eddy current input signal to the input unit 150. The second probe coil 130 generates a second eddy current input signal by the conductor, and outputs a second eddy current input signal to the input unit 150.

입력부(150)는 탐촉자 코일(110)과 전기적으로 접속한다. 입력부(150)는 탐촉자 코일(110)로부터 와전류 입력 신호를 입력받는다. 다시 말하면, 입력부(150)는 제 1탐촉자 코일(110)로부터 제 1와전류 입력 신호를 입력받고, 제 2와전류 코일로부터 제 2와전류 입력 신호를 입력받는다. 입력부(150)는 제 1 탐촉자 코일(120) 및 제 2탐촉자 코일(130) 각각으로부터 입력받은 제 1 와전류 입력 신호 및 제 2와전류 입력 신호를 노이즈 제거부(170)로 출력한다.The input unit 150 is electrically connected to the transducer coil 110. The input unit 150 receives an eddy current input signal from the transducer coil 110. In other words, the input unit 150 receives the first eddy current input signal from the first transducer coil 110 and receives the second eddy current input signal from the second eddy current coil. The input unit 150 outputs the first eddy current input signal and the second eddy current input signal received from each of the first and second transducer coils 120 and 130 to the noise removing unit 170.

그리고, 입력부(150)는 제 1탐촉자 코일(110) 및 제 2탐촉자 코일(130) 각각으로부터 제 1와전류 입력 신호와 제 2와전류 입력 신호를 입력받으면 탐촉자 코일(110)의 종류에 따라 모드를 선택하여 모드 선택 정보를 생성한다. 이때, 입력부(150)는 와전류 검사 장치(100)의 동작을 제어하는 제어 장치(도시하지 않음)에 의해 탐촉자 코일(110)의 종류에 따라 모드를 선택받아 모드 선택 정보를 생성할 수 있다. 이렇게 탐촉자 코일(110)의 종류에 따라 모드를 선택하는 이유는 탐촉자 코일(110)의 종류에 따라 와전류를 판단하는 기준이 다르므로 사용자에게 탐촉자 코일(110)의 종류를 표시부(도시하지 않음)를 통해 알려주기 위함이다.When the input unit 150 receives the first eddy current input signal and the second eddy current input signal from each of the first and second probe coils 110 and 130, the mode is selected according to the type of the probe coil 110. To generate mode selection information. In this case, the input unit 150 may generate mode selection information by selecting a mode according to the type of the probe coil 110 by a control device (not shown) that controls the operation of the eddy current inspection apparatus 100. The reason for selecting the mode according to the type of the probe coil 110 is different because the criterion for determining the eddy current is different according to the type of the probe coil 110 so as to display a type (not shown) of the type of the probe coil 110 to the user. This is to inform you through.

노이즈 제거부(170)는 입력부(150)로부터 입력받은 제 1와전류 입력 신호와 제 2와전류 입력 신호에 포함된 노이즈 신호를 제거한 후 증폭하여 와전류 보정 신호를 생성한다. 그리고, 노이즈 제거부(170)는 제 1전류 증폭부(180) 및 제 2전류 증폭부(190)를 포함한다.The noise removing unit 170 removes and amplifies the noise signals included in the first eddy current input signal and the second eddy current input signal received from the input unit 150 to generate an eddy current correction signal. The noise removing unit 170 includes a first current amplifier 180 and a second current amplifier 190.

제 1전류 증폭부(180)는 입력부(150)로부터 차동 상태로 이루어진 제 1와전류 입력 신호 및 제 2와전류 입력 신호를 입력받는다. 제 1전류 증폭부(180)는 제 1와전류 입력 신호와 제 2와전류 입력 신호를 비교하여 제1 차동 신호와 제1 동상 신호를 구별한다. 제 1전류 증폭부(180)는 제 1와전류 입력 신호와 제 2와전류 입력 신호에서 제1 동상 신호를 제거하고, 제 1와전류 입력 신호와 제 2와전류 입력 신호에서 제1 차동 신호를 증폭하여 와전류 증폭 신호를 생성한다.The first current amplifying unit 180 receives a first eddy current input signal and a second eddy current input signal which are in a differential state from the input unit 150. The first current amplifier 180 distinguishes the first differential signal from the first in-phase signal by comparing the first eddy current input signal with the second eddy current input signal. The first current amplifier 180 removes the first in phase signal from the first eddy current input signal and the second eddy current input signal, and amplifies the first differential signal from the first eddy current input signal and the second eddy current input signal to amplify the eddy current. Generate a signal.

제 2전류 증폭부(190)는 제 1전류 증폭부(180)로부터 와전류 증폭 신호를 입력받고, 입력부(150)로부터 제 1와전류 입력 신호 및 제 2와전류 입력 신호 중 적어도 하나의 와전류 입력 신호를 입력받는다. 제 2전류 증폭부(190)는 입력부(150)로부터 입력받은 하나의 와전류 입력 신호와 와전류 증폭 신호를 비교하여 제2 차동 신호와 제2 동상 신호를 구별한다. 제 2전류 증폭부(190)는 입력부(150)로부터 입력받은 하나의 와전류 입력 신호와 와전류 증폭 신호에서 제2 동상 신호를 제거하고, 제2 차동 신호를 증폭하여 와전류 보정 신호를 생성한다.The second current amplifier 190 receives an eddy current amplification signal from the first current amplifier 180, and inputs at least one eddy current input signal of the first and second eddy current input signals from the input unit 150. Receive. The second current amplifier 190 distinguishes the second differential signal from the second in phase signal by comparing the eddy current input signal received from the input unit 150 with the eddy current amplification signal. The second current amplifier 190 removes the second in-phase signal from the eddy current input signal and the eddy current amplified signal received from the input unit 150, and amplifies the second differential signal to generate an eddy current correction signal.

제 1전류 증폭부(180) 및 제 2전류 증폭부(190) 각각은 연산 증폭기(Operational amplifier : Op amp)를 포함할 수 있다.Each of the first current amplifier 180 and the second current amplifier 190 may include an operational amplifier (Op amp).

신호 발생부(210)는 보정부(260)를 작동시키고 와전류 보정 신호에 포함된 임피던스 불균형 신호를 보정하기 위해 필요한 주입 신호를 생성한다. 이를 위해, 신호 발생부(210)는 전압 생성부(220), 변환부(230) 및 신호 증폭부(240)를 포함한다.The signal generator 210 generates the injection signal necessary for operating the correction unit 260 and correcting the impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal. To this end, the signal generator 210 includes a voltage generator 220, a converter 230, and a signal amplifier 240.

전압 생성부(220)는 와전류 보정 신호에 포함된 임피던스 불균형 신호를 보정하기 위한 전압 신호를 생성한다. 이때, 전압 신호는 디지털 신호(Digital Signal)일 수 있다.The voltage generator 220 generates a voltage signal for correcting the impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal. In this case, the voltage signal may be a digital signal.

변환부(230)는 전압 신호를 변환하여 직류 변환 신호를 생성한다. 다시 말하면, 변환부(230)는 전압 생성부(220)로부터 전압 신호를 입력받는다. 변환부(230)는 디지털 신호인 전압 신호를 아날로그 신호인 직류 변환 신호로 변환한다. 변환부(230)는 생성한 직류 변환 신호를 신호 증폭부(240)로 출력한다. 이때, 변환부(230)는 디지털/아날로그 컨버터(Digital to Analog Converter : 이하, DAC)일 수 있다.The converter 230 generates a DC conversion signal by converting the voltage signal. In other words, the converter 230 receives a voltage signal from the voltage generator 220. The conversion unit 230 converts the voltage signal, which is a digital signal, into a DC conversion signal, which is an analog signal. The converter 230 outputs the generated DC conversion signal to the signal amplifier 240. In this case, the converter 230 may be a digital-to-analog converter (DAC).

신호 증폭부(240)는 직류 변환 신호를 증폭하여 주입 신호를 생성한다. 즉, 신호 증폭부(240)는 변환부(230)와 접속하여 변환부(230)로부터 직류 변환 신호를 입력받는다. 신호 증폭부(240)는 보정부(260)를 작동시키기 위해 직류 변환 신호를 증폭하여 주입 신호를 생성한다. 여기서, 주입 신호는 보정부(260)를 작동시키기 위한 기동 신호일 수 있다.The signal amplifier 240 amplifies the DC conversion signal to generate an injection signal. That is, the signal amplifier 240 is connected to the converter 230 and receives a DC conversion signal from the converter 230. The signal amplifier 240 generates an injection signal by amplifying the DC conversion signal to operate the corrector 260. Here, the injection signal may be a start signal for operating the corrector 260.

보정부(260)는 주입 신호를 이용하여 와전류 보정 신호에 포함된 임피던스 불균형 신호를 보정하여 와전류 탐상 신호를 생성한다. 다시 말하면, 보정부(260)는 신호 발생부(210)로부터 주입 신호를 입력받으면 작동을 시작하고, 주입 신호을 기준으로 임피던스 불균형 신호를 포함하는 와전류 보정 신호의 원점을 보정하여 와전류 탐상 신호를 생성한다. 즉, 보정부(260)는 직류 신호인 주입 신호의 위상을 기준으로 리사주(Lissajous) 형태인 와전류 보정 신호를 보정하여 와전류 탐상 신호를 생성한다. 이때, 보정부(260)는 아날로그 멀티플라이어 펄스 센시티브 디텍터(analog multiplier phase sensitive detector)일 수 있다.
The correction unit 260 corrects the impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal using the injection signal to generate the eddy current flaw detection signal. In other words, the correction unit 260 starts operation when the injection signal is input from the signal generator 210, and generates an eddy current flaw detection signal by correcting the origin of the eddy current correction signal including the impedance imbalance signal based on the injection signal. . That is, the correction unit 260 generates an eddy current flaw detection signal by correcting an eddy current correction signal having a Lissajous form based on the phase of the injection signal which is a DC signal. In this case, the correction unit 260 may be an analog multiplier pulse sensitive detector.

본 발명의 일 실시예에 따른 와전류 처리 방법을 나타낸 도 3은 도 2를 참조하여 설명하기로 한다.3 shows an eddy current processing method according to an embodiment of the present invention with reference to FIG.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 와전류 검사 장치의 회로의 구성을 나타낸 예시도이고, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 와전류를 처리하는 와전류 처리 방법을 나타낸 순서도이다.2 is an exemplary view showing the configuration of a circuit of the eddy current inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, Figure 3 is a flow chart showing an eddy current processing method for processing the eddy current according to an embodiment of the present invention.

도 2 및 도 3을 참조하면, 와전류 검사 장치(100)는 탐촉자 코일(110)로부터 와전류 입력 신호를 입력받는다(S310). 즉, 와전류 검사 장치(100)의 입력부(150)는 제 1탐촉자 코일(110)로부터 와전류 입력 신호를 입력받고, 제 2탐촉자 코일(130)로부터 제 2와전류 입력 신호를 입력받는다. 입력부(150)는 제 1와전류 입력 신호 및 제 2와전류 입력 신호를 노이즈 제거부(170)로 출력한다. 한편, 입력부(150)는 입력 임피던스의 매칭을 위해 도 2에 도시된 바와 같이 병렬로 연결된 저항을 포함할 수 있다. 이때, 저항은 10KΩ일 수 있다.2 and 3, the eddy current inspection apparatus 100 receives an eddy current input signal from the transducer coil 110 (S310). That is, the input unit 150 of the eddy current inspection apparatus 100 receives an eddy current input signal from the first probe coil 110, and receives a second eddy current input signal from the second probe coil 130. The input unit 150 outputs the first eddy current input signal and the second eddy current input signal to the noise removing unit 170. On the other hand, the input unit 150 may include a resistor connected in parallel as shown in Figure 2 for matching the input impedance. In this case, the resistance may be 10KΩ.

그리고, 입력부(150)는 탐촉자 코일(110)로부터 제 1와전류 입력 신호 및 제 2와전류 입력 신호를 이용하여 탐촉자 코일(110)의 종류에 따라 모드를 선택해서 모드 선택 정보를 생성한다. 예를 들어, 입력부(150)는 탐촉자 코일(110)에 따라 차동 코일(differential coil), 구동 픽업 코일(drive pickup coil) 및 차동 구동 픽업 코일(differential drive pickup coil) 중 하나의 모드를 스위치를 이용하여 선택해서 모드 선택 정보를 생성할 수 있다.The input unit 150 generates mode selection information by selecting a mode according to the type of the probe coil 110 using the first eddy current input signal and the second eddy current input signal from the probe coil 110. For example, the input unit 150 uses a switch to switch one of a differential coil, a drive pickup coil, and a differential drive pickup coil according to the transducer coil 110. Can be selected to generate mode selection information.

와전류 검사 장치(100)는 제 1와전류 입력 신호와 제 2와전류 입력 신호에서 노이즈 신호를 제거하고 증폭하여 와전류 증폭 신호를 생성한다(S320). 구체적으로, 와전류 검사 장치(100)의 제 1전류 증폭부(180)는 입력부(150)로부터 차동 상태인 제 1와전류 입력 신호와 제 2와전류 입력 신호를 입력받는다. 제 1전류 증폭부(180)는 제 1와전류 입력 신호와 제 2와전류 입력 신호에서 제1 동상 신호에 해당하는 노이즈 신호를 제거하고, 제 1와전류 입력 신호와 제 2와전류 입력 신호에서 제1 차동 신호에 해당하는 극미소 전압(micro volts)의 소신호를 증폭하여 와전류 증폭 신호를 생성한다. 이때, 노이즈 신호는 탐촉자 코일(110)을 흐르는 전류에 의한 열적변화(thermal variation), 외부 전자기적 간섭(external electro-magnetic interference) 및 잔류 전하 신호(residual carrier signal) 중 적어도 하나일 수 있다.The eddy current inspection apparatus 100 generates an eddy current amplifying signal by removing and amplifying a noise signal from the first eddy current input signal and the second eddy current input signal (S320). In detail, the first current amplifier 180 of the eddy current inspection apparatus 100 receives a first eddy current input signal and a second eddy current input signal in a differential state from the input unit 150. The first current amplifier 180 removes the noise signal corresponding to the first in phase signal from the first eddy current input signal and the second eddy current input signal, and removes the first differential signal from the first eddy current input signal and the second eddy current input signal. The eddy current amplification signal is generated by amplifying the small signal corresponding to the micro volts. In this case, the noise signal may be at least one of thermal variation, external electro-magnetic interference, and residual carrier signal due to the current flowing through the transducer coil 110.

와전류 검사 장치(100)는 제 1와전류 입력 신호와 제 2와전류 입력 신호 중 하나의 와전류 입력 신호와 와전류 증폭 신호에서 와전류 보정 신호를 생성한다(S330). 다시 말하면, 와전류 검사 장치(100)의 제 2전류 증폭부(190)는 도 2에 도시된 바와 같이 제 1전류 증폭부(180)로부터 와전류 증폭 신호를 입력받고, 입력부(150)로부터 제 2와전류 입력 신호를 입력받는다. 그리고, 제 2전류 증폭부(190)는 제 2와전류 입력 신호와 와전류 증폭 신호에서 제1 동상 신호에 해당하는 노이즈 신호를 제거하고, 제 2와전류 입력 신호와 와전류 증폭 신호에서 제2 차동 신호를 증폭하여 와전류 보정 신호를 생성한다.The eddy current inspection apparatus 100 generates an eddy current correction signal from one eddy current input signal and an eddy current amplification signal among the first eddy current input signal and the second eddy current input signal (S330). In other words, the second current amplifier 190 of the eddy current inspection apparatus 100 receives the eddy current amplification signal from the first current amplifier 180 as shown in FIG. 2, and the second eddy current from the input unit 150. Receive an input signal. The second current amplifier 190 removes a noise signal corresponding to the first in phase signal from the second eddy current input signal and the eddy current amplification signal, and amplifies the second differential signal from the second eddy current input signal and the eddy current amplification signal. To generate an eddy current correction signal.

따라서, 본 발명의 일 실시예에 따른 와전류 검사 장치(100)는 제 1전류 증폭부(180)에서 노이즈 신호를 제거한 후, 노이즈 신호를 제거한 와전류 증폭 신호를 제 2전류 증폭부(190)에서도 다시 한번 노이즈 신호를 제거하므로 이중으로 노이즈 신호를 제거할 수 있어, 와전류 신호에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있다.Therefore, after the eddy current inspection apparatus 100 according to an embodiment of the present invention removes the noise signal from the first current amplifier 180, the eddy current amplification signal from which the noise signal has been removed is again returned to the second current amplifier 190. Since the noise signal is removed once, the noise signal can be removed twice, thereby improving the reliability of the eddy current signal.

도 2에서는 제 2와전류 입력 신호와 와전류 증폭 신호를 비교하여 노이즈 신호를 제거하고 증폭하는 것을 예를 들어 설명하였지만 이에 한정되지 않으며 제 1와전류 입력 신호와 와전류 증폭 신호를 비교하여 노이즈 신호를 제거하고 증폭할 수도 있다.In FIG. 2, an example in which the second eddy current input signal and the eddy current amplifying signal are compared to remove and amplify the noise signal has been described as an example. However, the present disclosure is not limited thereto. You may.

와전류 검사 장치(100)는 전압 신호를 생성한다(S340). 즉, 와전류 검사 장치(100)의 전압 생성부(220)는 와전류 보정 신호에 포함된 임피던스 불균형 신호를 보정하기 위해 기준이 되는 전압 신호를 생성한다. 전압 생성부(220)는 변환부(230)와 접속하며, 변환부(230)로 전압 신호를 출력한다. 이때, 전압 신호의 크기는 변환부(230)의 종류에 따라 다르게 설정할 수 있다. 예를 들어, 전압 생성부(220)는 도 2에 도시된 바와 같이 변환부(230)에 포함된 12bit DAC의 참조 전압인 +5V와 -5V의 사이에 해당하는 전압 신호를 생성할 수 있다.The eddy current inspection apparatus 100 generates a voltage signal (S340). That is, the voltage generator 220 of the eddy current inspection apparatus 100 generates a voltage signal as a reference to correct the impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal. The voltage generator 220 is connected to the converter 230 and outputs a voltage signal to the converter 230. In this case, the magnitude of the voltage signal may be set differently according to the type of the converter 230. For example, as illustrated in FIG. 2, the voltage generator 220 may generate a voltage signal corresponding to between + 5V and −5V, which is a reference voltage of the 12-bit DAC included in the converter 230.

와전류 검사 장치(100)는 전압 신호를 변환하여 직류 변환 신호를 생성한다(S350). 다시 말하면, 와전류 검사 장치(100)의 변환부(230)는 디지털 신호인 전압 신호를 변환하여 아날로그 신호이며 직류 레벨(DC level)을 가지는 직류 변환 신호를 생성한다. 예를 들어, 변환부(230)는 전압 생성부(220)로부터 입력받은 +5V와 -5V 사이의 전압 신호를 1.2mV 스텝으로 인가하여 직류 변환 신호를 생성할 수 있다.The eddy current inspection apparatus 100 generates a DC conversion signal by converting the voltage signal (S350). In other words, the converter 230 of the eddy current inspection apparatus 100 converts the voltage signal, which is a digital signal, to generate a DC conversion signal having an analog signal and having a DC level. For example, the converter 230 may generate a DC conversion signal by applying a voltage signal between + 5V and -5V received from the voltage generator 220 in 1.2mV steps.

와전류 검사 장치(100)는 직류 변환 신호를 변환하여 주입 신호를 생성한다(S360). 구체적으로, 와전류 검사 장치(100)의 신호 증폭부(240)는 보정부(260)로 출력하기 위해 직류 변환 신호를 증폭하여 주입 신호를 생성한다. 예를 들어, 신호 증폭부(240)는 +5V와 -5V 사이의 직류 변환 신호를 1.5배 증폭하여 +7.5V와 -7.5V 사이의 주입 신호를 생성할 수 있다.The eddy current inspection apparatus 100 generates an injection signal by converting the DC conversion signal (S360). In detail, the signal amplifier 240 of the eddy current inspection apparatus 100 generates an injection signal by amplifying the DC conversion signal to output to the correction unit 260. For example, the signal amplifier 240 may generate an injection signal between + 7.5V and -7.5V by amplifying the DC conversion signal between + 5V and -5V by 1.5 times.

와전류 검사 장치(100)는 주입 신호를 이용하여 와전류 보정 신호에 포함된 임피던스 불균형 신호를 보정해서 와전류 탐상 신호를 생성한다(S370). 다시 말하면, 와전류 검사 장치(100)의 보정부(260)는 임피던스 뷸균형 신호도 노이즈 신호이므로 기동 신호인 주입 신호를 입력받으면 임피던스 불균형 신호를 보정하기 위해 작동한다. 보정부(260)는 주입 신호를 기준으로 임피던스 불균형 신호를 포함하는 와전류 보정 신호의 원점을 보정하여 와전류 탐상 신호를 생성한다. 즉, 보정부(260)는 주입 신호가 직류 레벨을 갖으므로 주입 신호의 위상을 기준으로 임피던스 불균형 신호를 포함하는 와전류 보정 신호를 보정하여 와전류 탐상 신호를 생성한다. 이에 따라, 본 발명의 일 실시예에 따른 와전류 검사 장치(100)는 탐촉자 코일(110)을 흐르는 전류에 의한 열적변화(thermal variation), 외부 전자기적 간섭(external electro-magnetic interference), 잔류 전하 신호(residual carrier signal) 및 임피던스 불균형 신호를 제거한 와전류 탐상 신호를 이용하여 검사체를 검사하므로 검사체의 균열 및 용접부의 내부 결함 등을 정확히 측정할 수 있다.
The eddy current inspection apparatus 100 generates an eddy current flaw detection signal by correcting an impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal using the injection signal (S370). In other words, the correction unit 260 of the eddy current test apparatus 100 operates to correct the impedance imbalance signal when the injection signal, which is the start signal, is received because the impedance bobble signal is also a noise signal. The correction unit 260 generates an eddy current flaw detection signal by correcting the origin of the eddy current correction signal including the impedance imbalance signal based on the injection signal. That is, since the injection signal has a DC level, the correction unit 260 generates an eddy current flaw detection signal by correcting an eddy current correction signal including an impedance imbalance signal based on the phase of the injection signal. Accordingly, the eddy current inspection apparatus 100 according to an embodiment of the present invention, the thermal variation (external electro-magnetic interference), residual charge signal due to the current flowing through the transducer coil 110 The test specimen is inspected using the eddy current flaw detection signal which removes the residual carrier signal and the impedance imbalance signal, thereby accurately measuring the crack of the specimen and the internal defect of the weld.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
Although the above has been described with reference to a preferred embodiment of the present invention, those skilled in the art to which the present invention pertains without departing from the spirit and scope of the present invention as set forth in the claims below It will be appreciated that modifications and variations can be made.

120, 130 : 탐촉자 코일
150 : 입력부
170 : 노이즈 제거부
180, 190 : 전류 증폭부
210 : 신호 발생부
220 : 전압 생성부
230 : 변환부
240 : 신호 증폭부
260 : 보정부
120, 130: transducer coil
150:
170: noise removing unit
180, 190: current amplifier
210: signal generator
220: voltage generator
230: converter
240: signal amplifier
260: correction unit

Claims (11)

탐촉자 코일을 포함하는 와전류 검사 장치에 있어서,
상기 탐촉자 코일에 의해 발생한 와전류 입력 신호를 입력받는 입력부;
상기 와전류 입력 신호에서 노이즈 신호를 제거하고 증폭하여 와전류 보정 신호를 생성하는 노이즈 제거부;
상기 와전류 보정 신호에 포함된 임피던스 불균형 신호를 보정하기 위한 주입 신호를 생성하는 신호 발생부; 및
상기 주입 신호를 이용하여 상기 와전류 보정 신호에 포함된 임피던스 불균형 신호를 보정해서 와전류 탐상 신호를 생성하는 보정부를 포함하는 와전류 검사 장치.
In the eddy current inspection device comprising a probe coil,
An input unit configured to receive an eddy current input signal generated by the transducer coil;
A noise removing unit configured to remove and amplify the noise signal from the eddy current input signal to generate an eddy current correction signal;
A signal generator configured to generate an injection signal for correcting an impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal; And
And a correction unit configured to correct an impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal using the injection signal to generate an eddy current flaw detection signal.
제 1항에 있어서,
상기 보정부는,
상기 신호 발생부로부터 상기 주입 신호를 입력받으면 상기 주입 신호의 위상을 기준으로 상기 와전류 보정 신호에 포함된 상기 임피던스 불균형 신호를 보정하여 상기 와전류 탐상 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 와전류 검사 장치.
The method of claim 1,
Wherein,
And receiving the injection signal from the signal generator to generate the eddy current flaw detection signal by correcting the impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal based on the phase of the injection signal.
제 1항 또는 제 2항에 있어서,
상기 탐촉자 코일은 제 1 탐촉자 코일 및 제 2탐촉자 코일을 포함하며,
상기 입력부는,
상기 제 1탐촉자 코일로부터 제 1와전류 입력 신호를 입력받고, 제 2탐촉자 코일로부터 제 2와전류 입력 신호를 입력받는 것을 특징으로 하는 와전류 검사 장치.
3. The method according to claim 1 or 2,
The transducer coil includes a first transducer coil and a second transducer coil,
The input unit,
And a first eddy current input signal from the first probe coil, and a second eddy current input signal from the second probe coil.
제 3항에 있어서,
상기 노이즈 제거부는,
상기 제 1와전류 입력 신호와 상기 제 2와전류 입력 신호를 비교하여 제1 동상 신호와 제1 차동 신호를 구별하고, 상기 제1 동상 신호인 노이즈 신호를 상쇄시키고, 상기 제1 차동 신호를 증폭하여 와전류 증폭 신호를 생성하는 제 1전류 증폭부; 및
상기 제 1와전류 입력 신호 및 상기 제 2와전류 입력 신호 중 하나의 와전류 입력 신호와 상기 와전류 증폭 신호를 비교하여 제2 동상 신호와 제2 차동 신호를 구별하고, 상기 제2 동상 신호인 노이즈 신호를 상쇄시키고, 상기 제2 차동 신호를 증폭하여 상기 와전류 보정 신호를 생성하는 제 2전류 증폭부를 포함하는 것을 특징으로 하는 와전류 검사 장치.
The method of claim 3, wherein
The noise removing unit,
Comparing the first eddy current input signal and the second eddy current input signal to distinguish the first in-phase signal and the first differential signal, cancel the noise signal that is the first in-phase signal, and amplify the first differential signal to eddy current A first current amplifier configured to generate an amplified signal; And
The eddy current input signal of the first eddy current input signal and the second eddy current input signal and the eddy current amplifying signal are compared to distinguish the second in-phase signal from the second differential signal, and cancel the noise signal that is the second in-phase signal. And a second current amplifier configured to amplify the second differential signal to generate the eddy current correcting signal.
제 1항 또는 제 2항에 있어서,
상기 신호 발생부는,
전압 신호를 생성하는 전압 생성부;
상기 전압 신호를 변환하여 아날로그 신호인 직류 변환 신호를 생성하는 변환부; 및
상기 직류 변환 신호를 증폭하여 주입 신호를 생성하는 신호 증폭부를 포함하는 것을 특징으로 하는 와전류 검사 장치.
3. The method according to claim 1 or 2,
The signal generator,
A voltage generator configured to generate a voltage signal;
A conversion unit converting the voltage signal to generate a DC conversion signal that is an analog signal; And
And a signal amplifier for amplifying the DC conversion signal to generate an injection signal.
제 1항 또는 제 2항에 있어서,
상기 입력부는,
상기 탐촉자 코일로부터 상기 와전류 입력 신호를 입력받으면 상기 탐촉자 코일의 종류에 따라 모드를 선택해서 모드 선택 정보를 생성하는 것을 특징으로 하는 와전류 검사 장치.
3. The method according to claim 1 or 2,
The input unit,
And a mode selection information is generated according to the type of the probe coil to generate mode selection information when the eddy current input signal is received from the probe coil.
와전류 검사 장치가 와전류를 처리하는 방법에 있어서,
제 1 및 제 2탐촉자 코일 각각으로부터 제 1 및 제 2와전류 입력 신호를 입력받는 단계;
상기 제 1 및 제 2와전류 입력 신호에서 노이즈 신호를 제거하고 증폭하여 와전류 보정 신호를 생성하는 단계;
상기 와전류 보정 신호에 포함된 임피던스 불균형 신호를 보정하기 위한 주입 신호를 생성하는 단계; 및
상기 주입 신호를 이용하여 상기 와전류 보정 신호에 포함된 임피던스 불균형 신호를 보정해서 와전류 탐상 신호를 생성하는 단계를 포함하는 와전류 처리 방법.
In the method in which the eddy current inspection device processes the eddy current,
Receiving first and second eddy current input signals from each of the first and second transducer coils;
Generating an eddy current correction signal by removing and amplifying a noise signal from the first and second eddy current input signals;
Generating an injection signal for correcting an impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal; And
And generating an eddy current flaw detection signal by correcting an impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal using the injection signal.
제 7항에 있어서,
상기 주입 신호를 이용하여 상기 와전류 보정 신호에 포함된 임피던스 불균형 신호를 보정해서 와전류 탐상 신호를 생성하는 단계는,
상기 주입 신호의 위상을 기준으로 상기 임피던스 불균형 신호를 포함하는 상기 와전류 보정 신호의 원점을 보정하여 상기 와전류 탐상 신호를 생성하는 단계인 것을 특징으로 하는 와전류 처리 방법.
The method of claim 7, wherein
Compensating the impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal using the injection signal to generate an eddy current flaw detection signal,
And generating the eddy current flaw detection signal by correcting an origin of the eddy current correction signal including the impedance imbalance signal based on the phase of the injection signal.
제 7항 또는 제 8항에 있어서,
상기 제 1 및 제 2와전류 입력 신호에서 노이즈 신호를 제거하고 증폭하여 와전류 보정 신호를 생성하는 단계는,
상기 제 1와전류 입력 신호와 상기 제 2와전류 입력 신호에 포함된 동상인 노이즈 신호를 서로 상쇄시키고, 차동 신호를 증폭하여 와전류 증폭 신호를 생성하는 단계; 및
상기 제 1와전류 입력 신호 및 상기 제 2와전류 입력 신호 중 하나의 와전류 입력 신호와 상기 와전류 증폭 신호에 포함된 동상인 노이즈 신호를 서로 상쇄시키고, 차동 신호를 증폭하여 상기 와전류 보정 신호를 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 와전류 처리 방법.
The method according to claim 7 or 8,
Generating an eddy current correction signal by removing and amplifying a noise signal from the first and second eddy current input signals,
Canceling the noise signal, which is in phase, included in the first eddy current input signal and the second eddy current input signal, and amplifying the differential signal to generate an eddy current amplifying signal; And
Canceling the eddy current input signal of the first eddy current input signal and the second eddy current input signal and the noise signal in phase included in the eddy current amplifying signal, and amplifying the differential signal to generate the eddy current correcting signal. Eddy current processing method comprising a.
제 7항 또는 제 8항에 있어서,
상기 와전류 보정 신호에 포함된 임피던스 불균형 신호를 보정하기 위한 주입 신호를 생성하는 단계는,
전압 신호를 생성하는 단계;
상기 전압 신호를 변환하여 아날로그 신호인 직류 변환 신호를 생성하는 단계; 및
상기 직류 변환 신호를 증폭하여 주입 신호를 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 와전류 처리 방법.
The method according to claim 7 or 8,
Generating an injection signal for correcting the impedance imbalance signal included in the eddy current correction signal,
Generating a voltage signal;
Converting the voltage signal to generate a DC conversion signal that is an analog signal; And
And amplifying the DC conversion signal to generate an injection signal.
제 7항 또는 제 8항에 있어서,
상기 제 1 및 제 2탐촉자 코일 각각으로부터 제 1 및 제 2와전류 입력 신호를 입력받는 단계 이후에,
상기 제 1 및 제 2와전류 입력 신호를 이용하여 상기 제 1 및 제 2탐촉자 코일의 종류에 따라 모드를 선택해서 모드 선택 정보를 생성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 와전류 처리 방법.
The method according to claim 7 or 8,
After receiving the first and second eddy current input signals from each of the first and second transducer coils,
And generating mode selection information by selecting a mode according to the type of the first and second probe coils using the first and second eddy current input signals.
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