KR101088637B1 - Slit lamp microscope for tilting detection angle - Google Patents

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Abstract

사람의 눈을 입체적으로 검사하기 위하여, 다양한 각도에서 측정광을 조사할 수 있는 각도 편향 기능을 구비한 세극등 현미경이 개시된다. 상기 세극등 현미경은, 측정광을 조사하는 조명광학부; 상기 측정광을 2 이상의 서로 다른 각도로 반사하여 피검안으로 유도하는 반사 미러; 및 상기 측정광에 의하여 피검안에 형성된 이미지를 검출하는 관찰광학부를 포함한다. In order to examine the human eye in three dimensions, a slit lamp microscope having an angle deflection function capable of irradiating measurement light at various angles is disclosed. The slit lamp microscope, the illumination optical unit for irradiating the measurement light; A reflection mirror for reflecting the measurement light at two or more different angles to guide the eye to be examined; And an observation optical unit for detecting an image formed in the test object by the measurement light.

안과, 검사, 세극등 현미경, 각도 편향 Ophthalmology, examination, slit lamp microscope, angle deflection

Description

각도 편향 기능을 구비한 세극등 현미경{Slit lamp microscope for tilting detection angle}Slit lamp microscope for tilting detection angle

본 발명은 세극등 현미경(slit lamp microscope)에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 사람의 눈을 입체적으로 검사하기 위하여, 다양한 각도에서 측정광을 조사할 수 있는 각도 편향 기능을 구비한 세극등 현미경에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a slit lamp microscope, and more particularly to a slit lamp microscope having an angle deflection function capable of irradiating measurement light at various angles in order to three-dimensionally examine a human eye.

세극등 현미경은, 거의 투명한 눈 조직에 대하여 세로로 길고 가는 빛(측정광)을 조사하여, 눈의 광학적 절단면을 관찰함으로서, 눈의 상태를 검사하는 장치이다. 세극등 현미경을 이용하면, 조사되는 빛의 폭, 길이 및 각도를 조절하여, 눈꺼풀, 결막, 각막, 전방(前房), 수정체, 유리체(초자체) 등을 검사할 수 있을 뿐만 아니라, 부속장치를 사용해서 안저(眼底)까지 검사할 수 있다. 또한, 전안부(前眼部)의 사진촬영, 전방 심도(深度), 각막 및 수정체의 두께측정에도 세극등 현미경이 사용될 수 있으며, 안압계의 장착도 가능하므로, 안과 병원 등에서, 널리 사용되고 있다. 도 1은 통상적인 세극등 현미경의 전체 외부 구조를 보여주는 도면으로 서, 도 1에 도시된 바와 같이, 세극등 현미경은, 피검안(4)으로 측정광을 조사하는 조명광학부(10)와 피검안(4)에 형성된 광학적 절단면을 관찰하는 관찰광학부(20)로 이루어진다. 상기 조명광학부(10)는 슬릿 형태의 측정광을 조사(radiation)하는 광원(12) 및 상기 측정광을 반사하여 피검안(4)으로 유도하는 반사 미러(18, mirror)를 포함하며, 상기 관찰광학부(20)는 상기 피검안(4)로부터 반사된 신호광을 분할하는 광분배기(22), 상기 광분배기(22)에서 분할된 신호광을 영상으로 기록하기 위한 카메라(24), 및 상기 광분배기(22)에서 분할된 신호광을 육안으로 관찰하기 위한 접안 광학계(26)를 포함할 수 있다.A slit lamp microscope is a device that inspects the state of an eye by irradiating a long, thin light (measured light) to an almost transparent eye tissue and observing an optical cut surface of the eye. By using a slit lamp microscope, the eyelid, conjunctiva, cornea, anterior lens, lens, and vitreous body can be inspected by adjusting the width, length, and angle of the irradiated light. The fundus can be examined. In addition, a slit lamp microscope can be used for photographing the anterior part of the eye, anterior depth of field, corneal and lens thickness, and an tonometer can also be mounted, and thus it is widely used in ophthalmology hospitals and the like. 1 is a view showing the overall external structure of a conventional slit lamp microscope, as shown in FIG. 1, the slit lamp microscope, the illumination optical unit 10 and the eye (4) for irradiating the measurement light with the eye (4). It consists of an observation optical unit 20 for observing the optical cut surface formed in the). The illumination optical unit 10 includes a light source 12 for radiating the slit-shaped measurement light and a reflection mirror 18 for reflecting the measurement light to the eye to be examined 4. The optical unit 20 includes an optical splitter 22 for dividing the signal light reflected from the eye 4, a camera 24 for recording the signal light split in the optical splitter 22 as an image, and the optical splitter. And an eyepiece optics 26 for visually observing the signal light split at 22.

상기 세극등 현미경을 이용하여, 피검안(4)을 입체적으로 검사하기 위해서는, 측정광을 다양한 각도에서 피검안(4)으로 조사하여야 하므로, 측정광의 조사 각도를 편향시킬 필요가 있다. 도 2는 통상적인 세극등 현미경의 각도 편향 방법의 일 예를 보여주는 도면이다. 도 2에 도시된 바와 같이, 통상적인 세극등 현미경의 조명광학부는, 측정광을 조사하는 할로겐 램프 등의 광원(12), 상기 광원(12)에서 조사된 측정광의 조도를 균일하게 조절하며, 측정광을 평행광 등으로 집속하는 콜리메이터 렌즈(collimator lens,14), 집속된 측정광을 일정한 조도로 피검안(4)에 전달하여 결상시키는 릴레이 렌즈(relay lens, 16) 및 측정광을 90도로 꺾어 피검안(4)로 유도하는 반사 미러(18)를 포함한다. 또한, 상기 세극등 현미경의 관찰광학부는 대물 및 배율 렌즈부(23a), 신호광의 경로를 변환하는 프리즘부(23b), 피검안(4)의 상태(image)를 검사자의 육안으로 관찰하기 위한 현미경 시스템으로서, 접 안 렌즈 등으로 이루어진 접안 광학계(26)를 포함할 수 있다.In order to three-dimensionally examine the eye 4 using the slit lamp microscope, since the measurement light should be irradiated to the eye 4 at various angles, it is necessary to deflect the irradiation angle of the measurement light. 2 is a view showing an example of the angle deflection method of a conventional slit lamp microscope. As shown in FIG. 2, the illumination optical unit of a conventional slit lamp microscope uniformly adjusts illuminance of a light source 12, such as a halogen lamp, which emits measurement light, and measurement light emitted from the light source 12. Collimator lens 14 for focusing the light into parallel light, relay lens 16 for delivering the focused measurement light to the eye 4 with a constant illuminance, and bending the measurement light at 90 degrees. A reflective mirror 18 leading into the eye 4. In addition, the observation optical portion of the slit lamp microscope, the microscope system for observing the image of the object and magnification lens portion 23a, the prism portion 23b for converting the path of the signal light, and the image of the eye 4 As an eyepiece, the eyepiece system 26 may be formed.

또한, 도 2에 도시된 세극등 현미경은, 조명계의 측정광을 임의의 각도로 편향하여, 피검안(4)의 동일한 위치에서 중심을 향해, 예를 들면, 아래에서 위를 향해 5도, 10도, 15도, 20도 등의 각도로 조사하기 위한 편향 구조를 포함한다. 이와 같은 세극등 현미경의 각도 편향 구조를 살펴보면, 광원(12), 콜리메이터 렌즈(14) 및 릴레이 렌즈(16)를 포함하는 조명광학부와 반사 미러(18)를 통하여 피검안(4)에 측정광(조준광)의 이미지를 형성할 때, 측정광을 원하는 방향으로 편향시키기 위하여, 반사 미러(18)를 제외한 광원(12), 콜리메이터 렌즈(14), 릴레이렌즈(16) 등의 조명광학부 전체를 회전축(32)을 중심으로 회전시키고, 회전된 조명광학부의 하단을 빔 편향 각도 표시판(34)의 해당 위치에 고정시킴으로서, 반사 미러(18)를 제외한 조명광학부 시스템 전체를 소정 각도로 기울이면, 반사 미러(18)에서 반사되는 측정광이 조명광학부의 기울어진 각도에 따라 편향되어, 피검안(4)의 하단부 아래로 진행한다. 이때, 피검안(4)의 동일한 위치에 측정광이 결상되도록, 조명광학부를 지지하는 지지대(36)의 위치(높이)를 조절할 수 있다. 즉, 빔 편향 각도 표시판(34)을 이용하여, 측정광이 나오는 조명광학부 상부를 기울여(편향시켜), 반사 미러(18)로 입사되는 측정광의 각도를 편향시킴으로서, 반사 미러(18)에서 반사되는 빔의 각도가 스넬 법칙에 의해 5도, 10도, 15도, 20도 등으로 편향되도록 한다. 이와 같은 측정광의 편향에 있어서, 반사 미러(18)는 고정된 상태에서, 상기 조명광학부 상단이 회전한다. 즉, 광원(12)이 장착된 조명계 상단이 회전축(32)을 중심 으로 회전하므로, 편향각이 20도인 경우에는, 조명계 상단이 피검안자의 머리에 가까이 위치할 정도로 기울어진다.In addition, the slit lamp microscope shown in FIG. 2 deflects the measurement light of an illumination system at arbitrary angles, and is 5 degrees, 10 degrees from the bottom to the center at the same position of the eye 4, for example. And a deflection structure for irradiating at an angle of 15 degrees, 20 degrees, or the like. Looking at the angular deflection structure of the slit lamp microscope, the measurement light (aimation) to the eye 4 through the illumination optical unit and the reflection mirror 18 including the light source 12, the collimator lens 14 and the relay lens 16. In order to deflect the measurement light in a desired direction when forming an image of the light), the entire illumination optical part such as the light source 12, the collimator lens 14, the relay lens 16, etc., except for the reflective mirror 18 is rotated. 32, and by fixing the lower end of the rotated illumination optical part to the corresponding position of the beam deflection angle display plate 34, the entire illumination optical system except for the reflection mirror 18 is inclined at a predetermined angle. The measurement light reflected by 18) is deflected according to the inclination angle of the illumination optical portion, and proceeds below the lower end of the eye 4. At this time, the position (height) of the support 36 supporting the illumination optical part can be adjusted so that the measurement light is imaged at the same position of the eye 4. That is, the beam deflection angle display panel 34 is used to tilt (deflect) the upper part of the illumination optical portion from which the measurement light is emitted, thereby deflecting the angle of the measurement light incident on the reflection mirror 18, thereby reflecting the reflection mirror 18. The angle of the beam is deflected by 5 degrees, 10 degrees, 15 degrees, 20 degrees, etc. by Snell's law. In the deflection of the measurement light, the reflection mirror 18 is fixed, the upper end of the illumination optical portion is rotated. That is, since the upper end of the illumination system equipped with the light source 12 rotates about the rotation axis 32, when the deflection angle is 20 degrees, the upper end of the illumination system is inclined to be close to the head of the examinee.

도 3은 통상적인 세극등 현미경의 각도 편향 방법의 다른 예를 보여주는 도면이다. 도 3에 도시된 세극등 현미경은, 광원(12), 콜리메이터 렌즈(14), 릴레이렌즈(16)를 포함하는 조명광학부가 반사 미러의 기능을 하는 프리즘(19) 하단에 위치하는 특징을 가진다. 도 3에 있어서, 광원(12), 콜리메이터 렌즈(14), 릴레이렌즈(16), 대물 및 배율 렌즈부(23a), 프리즘부(23b), 접안 광학계(26) 등의 기능은 도 2에 도시된 세극등 현미경과 실질적으로 동일하다. 도 3의 세극등 현미경에서는, 도 2의 반사 미러(18) 대신, 측정광을 90도로 꺾어 피검안(4)으로 반사하는 프리즘(19)이 사용된다. 도 3에 도시된 세극등 현미경에 있어서, 측정광을 원하는 방향으로 편향시키기 위하여, 조명광학부 시스템의 하우징 전체를 회전시키면, 조명계의 길이가 증가 또는 감소하게 된다. 이 때, 조명광학부의 상부 및 하부 릴레이렌즈(16)를 각각 다른 방향으로 상하 이동시켜, 조명광학부가 기울어진 경우에도, 프리즘(19)에서 반사되어 편향된 측정광을 동일한 위치에서 피검안(4)에 결상시킨다. 즉, 프리즘(19)이 기울어져도, 릴레이렌즈(16)를 움직여, 측정광의 경로를 동일하게 만들어, 측정광을 피검안(4)에 위치시킨다. 또한, 원하는 측정광의 편향 각도에 따라, 프리즘(19)을 움직여, 프리즘(19)의 경사면에서 반사되는 빔이 5도, 10도, 15도, 20도 등으로 편향되도록 한다. 즉, 프리즘(19)을 0도 내지 10도 회전시키고, 조명계 안의 릴레이렌즈(16)의 위치를 조절하여, 프리즘(19)의 경사면에서 반사된 측정광이, 피검안(4)의 한 지점에 위치하도록, 조명계 전체가 상하 이동한다.3 is a view showing another example of the angle deflection method of a conventional slit lamp microscope. The slit lamp microscope shown in FIG. 3 is characterized in that an illumination optical unit including a light source 12, a collimator lens 14, and a relay lens 16 is located under a prism 19 that functions as a reflection mirror. 3, functions of the light source 12, collimator lens 14, relay lens 16, objective and magnification lens portion 23a, prism portion 23b, eyepiece optics 26, and the like are shown in FIG. Is substantially the same as a slit lamp microscope. In the slit lamp microscope of FIG. 3, instead of the reflection mirror 18 of FIG. 2, the prism 19 which deflects a measurement light by 90 degrees and reflects it to the eye to be examined 4 is used. In the slit lamp microscope shown in Fig. 3, in order to deflect the measurement light in a desired direction, when the entire housing of the illumination optical system is rotated, the length of the illumination system is increased or decreased. At this time, the upper and lower relay lens 16 of the illumination optical unit is moved up and down in different directions, so that even when the illumination optical unit is inclined, the measurement light reflected and deflected by the prism 19 is examined at the same position. Image on. That is, even if the prism 19 is inclined, the relay lens 16 is moved to make the path of the measurement light the same, and the measurement light is placed in the eye 4. Also, the prism 19 is moved in accordance with the desired deflection angle of the measurement light so that the beam reflected from the inclined surface of the prism 19 is deflected at 5 degrees, 10 degrees, 15 degrees, 20 degrees, or the like. That is, the prism 19 is rotated 0 degrees to 10 degrees, and the position of the relay lens 16 in the illumination system is adjusted so that the measurement light reflected from the inclined surface of the prism 19 is located at one point of the eye 4. The whole illumination system moves up and down so that it may be located.

도 3에 도시된 각도 편향 방법에 있어서는, 정밀 가공된 프리즘(19)이 필요하고, 특히 릴레이렌즈(16)의 이동량 및 프리즘(19)의 편향 각도를 감소시키기 위해서는, 일반 직각(90도) 프리즘(19) 대신 80도의 특수 각도 프리즘(19)이 사용되어야 한다. 또한, 프리즘(19)의 편향 각도에 따라, 동일한 광 경로를 유지하기 위하여, 각각의 릴레이렌즈(16)가 각각 독립적으로 정밀하게 제어되어야 한다. 이와 같이, 도 3에 도시된 각도 편향 구조에 있어서는, 특수 각도 프리즘(19)이 사용되어야 하고, 편향 각도에 따라 프리즘(19)의 각도도 변경되어야 하며, 측정광의 결상 지점이 동일하도록, 줌 렌즈와 유사하게, 각각의 릴레이렌즈(16)를 독립적으로 구동할 수 있는 캠 라인의 기구물 구조가 필요하다. 또한, 0도 ~ 20도까지 편향 각도가 변화하도록, 연속적으로 프리즘(19)과 릴레이렌즈(16)를 이동시키므로, 각 기구의 정렬이 복잡하고 까다로우며, 제작비가 증가하는 단점이 있다. 만일, 도 3의 세극등 현미경에 있어서, 일반 직각 프리즘을 사용하면, 측정광의 조사 각도가 하나로 고정되어 각도를 편향 시킬 수 없게 된다.In the angle deflection method shown in FIG. 3, a precision machined prism 19 is required, and in particular, in order to reduce the amount of movement of the relay lens 16 and the deflection angle of the prism 19, a general right angle (90 degree) prism A special angle prism 19 of 80 degrees shall be used instead of (19). Further, according to the deflection angle of the prism 19, in order to maintain the same optical path, each relay lens 16 must be precisely controlled independently of each other. Thus, in the angle deflection structure shown in Fig. 3, a special angle prism 19 should be used, the angle of the prism 19 should be changed according to the deflection angle, and the zoom lens so that the imaging point of the measurement light is the same. Similarly, there is a need for a cam line mechanism structure that can drive each relay lens 16 independently. In addition, since the prism 19 and the relay lens 16 are continuously moved so that the deflection angle changes from 0 degrees to 20 degrees, the alignment of each mechanism is complicated and difficult, and the manufacturing cost increases. If the slit lamp microscope of Fig. 3 uses a general right-angle prism, the irradiation angle of the measurement light is fixed to one, so that the angle cannot be deflected.

본 발명의 목적은, 다양한 각도에서 측정광을 조사할 수 있는 각도 편향 기 능을 구비한 세극등 현미경을 제공하는 것이다.It is an object of the present invention to provide a slit lamp microscope having an angle deflection function capable of irradiating measurement light at various angles.

본 발명의 다른 목적은, 측정광의 편향 각도를 정밀하게 제어할 수 있을 뿐 만 아니라, 편향 각도의 증가 및 광축 정렬이 용이한 세극등 현미경을 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a slit lamp microscope that can not only precisely control the deflection angle of the measurement light but also increase the deflection angle and align the optical axis easily.

본 발명의 또 다른 목적은, 피검안의 상태를 관찰하면서, 측정광의 각도를 편향시킬 수 있으며, 제작이 용이한 세극등 현미경을 제공하는 것이다. Still another object of the present invention is to provide a slit lamp microscope which can deflect the angle of the measurement light while observing the state of the eye to be examined and which is easy to manufacture.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 측정광을 조사하는 조명광학부; 상기 측정광을 2 이상의 서로 다른 각도로 반사하여 피검안으로 유도하는 반사 미러; 및 상기 측정광에 의하여 피검안에 형성된 이미지를 검출하는 관찰광학부를 포함하는, 각도 편향 기능을 구비한 세극등 현미경을 제공한다. In order to achieve the above object, the present invention is an illumination optical unit for irradiating the measurement light; A reflection mirror for reflecting the measurement light at two or more different angles to guide the eye to be examined; And an observation optical unit which detects an image formed in the test object by the measurement light, and provides a slit lamp microscope having an angle deflection function.

여기서, 상기 조명광학부는, 측정광을 조사하는 광원; 상기 광원에서 조사된 측정광을 집속하는 콜리메이터 렌즈; 집속된 측정광을 전달하여 피검안에 결상시키는 릴레이렌즈; 및 상기 광원, 콜리메이터 렌즈 및 릴레이 렌즈를 수용하는 원통형 조명광학부 하우징을 포함하며, 상기 광원, 콜리메이터 렌즈 및 릴레이 렌즈는 상기 원통형 조명광학부 하우징 내부 일측에 편심되게 위치하며, 상기 원통형 조명광학부 하우징의 내부 궤적을 따라 회전 이동하여, 측정광의 조사 위치를 변경할 수 있는 것이 바람직하다. 또한, 상기 반사 미러는, 측정광의 진행 방향에 대하여 2 이상의 서로 다른 반사 각도로 위치한 2 이상의 미러; 및 상기 2 이상의 미러의 위 치가 서로 바뀌도록, 상기 2 이상의 미러를 회전가능하게 고정하는 미러 회전축을 포함하는 것이 바람직하다.Here, the illumination optical unit, the light source for irradiating the measurement light; A collimator lens for focusing the measurement light irradiated from the light source; A relay lens for transferring focused measurement light to form an image in an examination object; And a cylindrical illumination optical unit housing accommodating the light source, the collimator lens, and the relay lens, wherein the light source, the collimator lens, and the relay lens are eccentrically positioned on one side of the cylindrical illumination optical unit housing, and an internal trajectory of the cylindrical illumination optical unit housing. It is preferable to be able to change the irradiation position of the measurement light by rotating along. The reflective mirror may further include two or more mirrors positioned at two or more different reflection angles with respect to a traveling direction of the measurement light; And a mirror axis of rotation rotatably fixing the two or more mirrors so that the positions of the two or more mirrors are interchanged.

본 발명에 따른 세극등 현미경은, 측정광의 조사 각도를 정밀하게 편향시킬 뿐만 아니라, 편향 각도를 용이하게 증가시킬 수 있는 장점이 있다. 또한, 본 발명에 따른 세극등 현미경은, 조명계 상단의 회전 이동 거리를 감소시켜, 조명계 상단이 사람의 머리 가까이 과도하게 접근하는 것을 방지할 수 있다.The slit lamp microscope according to the present invention has the advantage of not only deflecting the irradiation angle of the measurement light precisely, but also easily increasing the deflection angle. In addition, the slit lamp microscope according to the present invention can reduce the rotational movement distance of the upper end of the illumination system, and can prevent the upper end of the illumination system from excessively approaching the head of the person.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 더욱 상세하게 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in more detail the present invention.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 각도 편향 기능을 구비한 세극등 현미경의 구조를 설명하기 위한 도면이다. 도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 세극등 현미경은, 측정광을 조사(radiation)하는 조명광학부(50), 상기 측정광을 2 이상의 서로 다른 각도로 반사하여 피검안(4)으로 유도하는 반사 미러(70) 및 상기 측정광에 의하여 피검안(4)에 형성된 이미지(즉, 신호광)를 검출하는 관찰광학부(80)를 포함한다. 4 is a view for explaining the structure of a slit lamp microscope having an angle deflection function according to an embodiment of the present invention. As shown in Figure 4, the slit lamp microscope according to an embodiment of the present invention, the illumination optical unit 50 for radiating the measurement light (radiation), reflecting the measurement light at two or more different angles to examine the eye (4) And an observation optical unit 80 for detecting an image (that is, signal light) formed in the eye 4 by the measurement light.

상기 반사 미러(70)는, 측정광의 진행 방향에 대하여 2 이상의 서로 다른 반사 각도로 위치한 2 이상의 미러(72a, 72b)를 포함한다. 측정광에 대한 상기 2 이 상의 미러(72a, 72b)의 기울기는, 원하는 측정광의 반사 각도에 따라 달라질 수 있다. 여기서, 상기 2 이상의 미러(72a, 72b)의 기울기 차이로 측정광의 편향 각도 의 차이를 용이하게 줄 수 있으며, 도 1과 도 2에서 편향각이 최대 20도 정도임에 비교하여 편향 각도를 더 증가시킬 수 있다. 비한정적인 예를 들면, 상기 2 이상의 미러(72a, 72b) 중, 어느 하나의 미러(72a)의 지면에 대한 기울기(즉, 측정광이 수직으로 입사하면, 측정광의 입사각과 동일)가 43~55도, 바람직하게는 43~47도이면, 다른 미러(72b)의 지면에 대한 기울기는 30~42도, 바람직하게는 38~42도일 수 있으나, 본 발명에 이에 한정되는 것은 아니다. 상기 2 이상의 미러(72a, 72b)의 기울기 차이가 너무 크면, 편향 각도의 연속적 조절이 어려울 뿐만 아니라 특별한 이익이 없다. 예를 들면, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 반사 미러(70)는, 지면에 대하여 각각 45도 및 40도로 기울어져 있으며, 서로 인접하여 위치한 제1 미러(72a) 및 제2 미러(72b)를 포함할 수 있다. 도 4에 도시된 반사 미러(70)는, 두 부분, 즉, 각각 상단 및 하단의 제1 미러(72a) 및 제2 미러(72b)로 이루어져 있으나, 본 발명은 이에 한정되지 않고, 예를 들면, 상단, 중단, 및 하단의 3 부분 미러로 이루어질 수 있으며, 이 경우, 측정광의 반사 각도, 즉 편향 각도를 더욱 증가시킬 수 있다.The reflection mirror 70 includes two or more mirrors 72a and 72b positioned at two or more different reflection angles with respect to the traveling direction of the measurement light. The inclination of the two or more mirrors 72a, 72b with respect to the measurement light may vary depending on the reflection angle of the desired measurement light. Here, the difference in the deflection angle of the measurement light can be easily given by the difference in inclination of the two or more mirrors 72a and 72b, and the deflection angle is further increased as compared with the deflection angle of about 20 degrees in FIGS. 1 and 2. You can. As a non-limiting example, the inclination (that is, the same as the incident angle of the measurement light when the measurement light enters vertically) of the mirror 72a among the two or more mirrors 72a and 72b is 43 to 43. If it is 55 degrees, preferably 43 to 47 degrees, the inclination of the other mirror 72b with respect to the ground may be 30 to 42 degrees, preferably 38 to 42 degrees, but is not limited thereto. If the difference in inclination of the two or more mirrors 72a, 72b is too large, continuous adjustment of the deflection angle is not only difficult, but there is no particular benefit. For example, as shown in FIG. 4, the reflective mirror 70 is inclined at 45 degrees and 40 degrees, respectively, with respect to the ground, and is positioned adjacent to each other, the first mirror 72a and the second mirror 72b. It may include. The reflective mirror 70 shown in FIG. 4 is composed of two parts, namely, a first mirror 72a and a second mirror 72b at upper and lower ends, respectively, but the present invention is not limited thereto. , Top, middle, and bottom three-part mirrors, in which case it is possible to further increase the reflection angle of the measurement light, that is, the deflection angle.

본 발명에 따른 세극등 현미경에 사용되는 조명광학부(50)는, 슬릿 형태 등 다양한 형태의 측정광을 상기 2 이상의 미러(72a, 72b)에 각각 조사하여, 서로 다른 편향 각도의 측정광을 피검안(4)으로 조사하기 위한 것이다. 도 4에 도시된 바 와 같이, 상기 조명광학부(50)는 측정광을 조사하는 할로겐 램프 등의 광원(52), 상기 광원(52)에서 조사된 측정광의 조도를 균일하게 조절하며, 측정광을 집속하는 콜리메이터 렌즈(54), 및 집속된 측정광을 전달하여 일정한 조도로 피검안(4)에 결상시키는 릴레이렌즈(56)를 포함할 수 있으며, 상기 광원(52), 콜리메이터 렌즈(54) 및 릴레이 렌즈(56)로는 도 2에 도시된 바와 같은 통상의 수단이 사용된다.The illumination optical unit 50 used for the slit lamp microscope according to the present invention irradiates the two or more mirrors 72a and 72b with the measurement light of various forms such as a slit shape, respectively, and examines the measurement light of different deflection angles. 4) to investigate. As shown in FIG. 4, the illumination optical unit 50 uniformly adjusts illuminance of a light source 52 such as a halogen lamp that emits measurement light, and measurement light emitted from the light source 52, and adjusts the measurement light. And a collimator lens 54 for focusing, and a relay lens 56 for delivering the focused measurement light to form an image on the eye 4 with a constant illuminance, wherein the light source 52, the collimator lens 54, and As the relay lens 56, conventional means as shown in Fig. 2 is used.

본 발명에 따른 조명광학부(50)는 상기 2 이상의 미러(72a, 72b)에 선별적 또는 순차적으로 측정광을 조사하기 위하여, 측정광의 조사 각도를 변경하거나, 측정광의 조사 위치를 변경할 수 있도록, 이동하는 구조를 가질 수 있다. 예를 들면, 도 4에 도시된 바와 같이, 반사 미러(70) 상단의 제1 미러(72a)에 측정광을 조사할 경우, A 위치에 위치하다가, 반사 미러(70) 하단의 제2 미러(72b)에 측정광을 조사할 경우, B 위치로 좌우 방향으로 이동할 수 있으며, 이와 같은 수평 이동은 통상의 모터, 가이드, 가이드 홈 등의 이동 수단에 의하여 수행될 수 있다. 도 5는 본 발명에 따른 세극등 현미경에 있어서, 측정광의 조사 위치를 변경할 수 있는 조명광학부의 다른 예를 보여주는 도면이다. 도 5를 참조하면, 초기 위치(A 위치)에서, 광원(52), 콜리메이터 렌즈(54) 및 릴레이 렌즈(56a, 56b)는 원통형 조명광학부 하우징(58)의 내부에서 좌측에 위치하며, 반사 미러(70) 상단의 제1 미러(72a)에 측정광을 조사한다. 여기서, 피검안(4)로 입사되는 측정광의 편향 각도를 변경시키기 위하여, 원통형 조명광학부 하우징(58) 내부에서 하우징(58)의 축을 중심으로 광원(52), 콜리메이터 렌즈(54) 및 상부/하부 릴레이 렌즈(56a, 56b)를 예를 들어 180도 회전 이동시켜, 조명광학부 하우징(58)의 우측으로 위치시키면(B 위치), 측정광의 광축을 이동시켜, 반사 미러(70) 하단의 제2 미러(72b)에 측정광을 조사할 수 있다. 이와 같이 조명광학부 전체가 회전하는데 있어서, 상기 조명광학부를 구성하는 광원(52), 콜리메이터 렌즈(54) 및/또는 상부/하부 릴레이 렌즈(56a, 56b)는 상기 원통형 조명광학부 하우징(58) 내부에 형성된 나선형 가이드 홈(59)을 따라 이동할 수 있다. 상기 조명광학부가 반사 미러(70) 상단의 제1 미러(72a) 및 하단의 제2 미러(72b)에 측정광을 조사하는 경우, 제1 및 제2 미러(72a, 72b)의 위치가 상이하므로, 측정광의 광 경로를 일치시켜, 측정광이 피검안(4)의 동일한 위치에서 결상되도록, 측정광의 이동 경로를 조절할 필요가 있다. 상기 가이드 홈(59)은 상기 제1 미러(72a) 및 제2 미러(72b)의 위치에 따라, 상기 광원(52), 콜리메이터 렌즈(54) 및/또는 상부/하부 릴레이 렌즈(56a, 56b)의 수직 위치를 변경하여, 상기 제1 및 제2 미러(72a, 72b)에서 반사되는 측정광이 피검안(4)의 동일한 위치에서 결상되도록 한다. 즉, 상기 광원(12), 콜리메이터 렌즈(54) 및 릴레이 렌즈(56a, 56b)는 상기 원통형 조명광학부 하우징(58) 내부 일측에 편심되게 수용되며, 상기 원통형 조명광학부 하우징(58)의 내부에 형성된 궤적, 즉 상기 광원(12), 콜리메이터 렌즈(54) 또는 릴레이 렌즈(56a, 56b)의 이동 방향을 안내하는 나선형 가이드 홈(59)을 따라 회전 이동하여, 측정광의 조사 위치를 변경할 수 있다.The illumination optical unit 50 according to the present invention moves to change the irradiation angle of the measurement light or to change the irradiation position of the measurement light in order to irradiate the measurement light selectively or sequentially to the two or more mirrors 72a and 72b. It may have a structure to. For example, as shown in FIG. 4, when the measurement light is irradiated to the first mirror 72a on the upper side of the reflective mirror 70, the position is located at the A position, and the second mirror ( When irradiating the measurement light to 72b), it can be moved to the left and right directions to the B position, such a horizontal movement can be performed by a moving means such as a conventional motor, a guide, a guide groove. 5 is a view showing another example of the illumination optical unit that can change the irradiation position of the measurement light in the slit lamp microscope according to the present invention. Referring to FIG. 5, in the initial position (A position), the light source 52, the collimator lens 54, and the relay lenses 56a, 56b are located on the left side in the interior of the cylindrical illumination optical unit housing 58, and the reflection mirror (70) The measurement light is irradiated to the first mirror 72a on the upper end. Here, in order to change the deflection angle of the measurement light incident on the eye 4, the light source 52, collimator lens 54 and the upper / lower part of the cylindrical illumination optical unit housing 58 around the axis of the housing 58 For example, when the relay lenses 56a and 56b are rotated by 180 degrees and positioned to the right of the illumination optical unit housing 58 (B position), the optical axis of the measurement light is moved to move the second mirror below the reflection mirror 70. The measurement light can be irradiated to 72b. As the whole illumination optical unit rotates as described above, the light source 52, the collimator lens 54, and / or the upper / lower relay lenses 56a and 56b constituting the illumination optical unit are disposed in the cylindrical illumination optical unit housing 58. It can move along the formed spiral guide groove 59. When the illumination optical unit emits measurement light to the first mirror 72a and the second mirror 72b at the upper end of the reflective mirror 70, the positions of the first and second mirrors 72a and 72b are different. It is necessary to adjust the movement path of the measurement light so that the optical path of the measurement light is matched and the measurement light is formed at the same position of the eye 4. The guide groove 59 may include the light source 52, the collimator lens 54, and / or the upper / lower relay lenses 56a and 56b according to the positions of the first mirror 72a and the second mirror 72b. The vertical position of is changed so that the measurement light reflected from the first and second mirrors 72a and 72b is imaged at the same position of the eye 4. That is, the light source 12, the collimator lens 54, and the relay lenses 56a and 56b are eccentrically accommodated in one side of the cylindrical illumination optical unit housing 58, and are formed in the cylindrical illumination optical unit housing 58. The irradiation position of the measurement light may be changed by rotating along a trajectory, that is, the spiral guide groove 59 guiding the moving direction of the light source 12, the collimator lens 54, or the relay lenses 56a and 56b.

도 6은, 본 발명에 있어서, 상기 2 이상의 미러(72a, 72b)에 측정광을 조사하기 위하여, 조명광학부(50)를 이동시키는 대신, 상기 2 이상의 미러(72a, 72b)의 위치를 변경시킬 수 있는 반사 미러(70)의 구조를 보여주는 도면이다. 도 6에 도시된 본 발명의 일 실시예에 따른 세극등 현미경의 반사 미러(70)는 측정광의 진행 방향에 대하여 2 이상의 서로 다른 반사 각도로 위치한 2 이상의 미러(72a, 72b) 및 상기 2 이상의 미러(72a, 72b)의 위치가 서로 바뀌도록, 상기 2 이상의 미러(72a, 72b)를 회전가능하게 고정하는 미러 회전축(74)을 포함한다. 상기 미러 회전축(74)을 통하여, 상기 제1 및 제2 미러(72a, 72b)의 후면은 세극등 현미경 내부에, 회전 가능하게 장착된다. 따라서, 도 6의 A 위치에서, 반사 미러(70) 상단의 제1 미러(72a)에 측정광이 조사된 후, 반사 미러(70)를 미러 회전축(74)을 중심으로 예를 들면 180도 회전시켜, 제1 및 제2 미러(72a, 72b)의 위치가 서로 바뀌도록 한 다음(도 6을 B), 상부에 위치한 제2 미러(72b)에 측정광을 조사하면, 측정광의 편향 각도를 변경할 수 있다. 도 6에 도시된 예에서는, 반사 미러(70)가 회전하므로, 40도의 기울기를 가지는 제2 미러(72b)가 180도 회전하면, 제2 미러(72b)의 기울기는 50도가 된다. 이렇게 회전을 하여 더 다양하게 각도 변화를 주어 편향시킬 수 있다.FIG. 6 shows that, in the present invention, the positions of the two or more mirrors 72a and 72b may be changed instead of moving the illumination optical unit 50 to irradiate the measurement light to the two or more mirrors 72a and 72b. Is a view showing the structure of a reflective mirror 70 that can be. The reflective mirror 70 of the slit lamp microscope according to the embodiment of the present invention shown in FIG. And a mirror axis of rotation 74 for rotatably fixing the two or more mirrors 72a, 72b so that the positions of 72a, 72b are interchanged. Through the mirror rotation shaft 74, the rear surfaces of the first and second mirrors 72a and 72b are rotatably mounted inside the slit lamp microscope. Therefore, in the position A of FIG. 6, after the measurement light is irradiated to the first mirror 72a on the upper side of the reflection mirror 70, the reflection mirror 70 is rotated, for example, about 180 degrees about the mirror rotation axis 74. By changing the positions of the first and second mirrors 72a and 72b (Fig. 6B), and then irradiating the measurement light to the second mirror 72b located above, the deflection angle of the measurement light is changed. Can be. In the example shown in FIG. 6, since the reflection mirror 70 rotates, when the second mirror 72b having the inclination of 40 degrees rotates 180 degrees, the inclination of the second mirror 72b becomes 50 degrees. By rotating in this way, the angle can be varied and deflected.

다시 도 4를 참조하면, 본 발명에 따른 세극등 현미경은, 조명광학부(50) 전체를 피검안(4)의 방향으로 회전시켜, 측정광의 편향 각도를 변경시키기 위한 회전축(32), 회전된 조명광학부(50)의 하단을 고정하기 위한 빔 편향 각도 표시판(34), 및 조명광학부(50)를 지지하며, 조명광학부(50)의 위치를 조절할 수 있는 지지대(36)를 더욱 포함할 수 있다. 상기 회전축(32), 빔 편향 각도 표시판(34) 및 지 지대(36)는 도 2에서 설명한 바와 같은 통상의 측정광 편향 각도 변경 수단이다. 도 4에 도시된 바와 같이, 조명광학부(50)의 회전을 위한 통상의 측정광 편향 각도 변경 수단과 본 발명에 따른 2 이상의 서로 다른 반사 각도를 가지는 2 이상의 미러(72a, 72b)를 동시에 이용하면, 측정광의 편향 각도를 20도까지 증가시켜도, 예를 들면, 조명광학부(50)를 10도 회전시키고, 미러(72a, 72b)를 이용하여 편향 각도를 10도 변경함으로서, 조명광학부(50) 상단이 피검안자의 머리 가까이 접근하지 않고, 중간 부분에서 멈출 수 있게 된다. 또한, 도 4에 도시된 세극등 현미경의 관찰광학부(80)는 대물 및 배율 렌즈부(23a), 신호광의 경로를 변환하는 프리즘부(23b), 접안 광학계(26) 등을 포함하며, 이들은 도 2에서 설명한 바와 동일한 기능을 한다. 예를 들면, 상기 접안 광학계(26)는 측정광에 의하여 형성된 피검안(4)의 이미지(image)를 검사자의 육안으로 관찰하기 위한 현미경 시스템으로서 접안 렌즈 등으로 이루어진다.Referring back to FIG. 4, the slit lamp microscope according to the present invention includes a rotating shaft 32 for rotating the entire illumination optical unit 50 in the direction of the eye to be examined 4 to change the deflection angle of the measurement light, and the rotated illumination optical unit. The beam deflection angle display panel 34 for fixing the lower end of the 50, and the support optical unit 50 may be further included, and the support 36 may adjust the position of the illumination optical unit 50. The rotating shaft 32, the beam deflection angle display plate 34, and the support zone 36 are conventional measurement light deflection angle changing means as described in FIG. As shown in Fig. 4, when the conventional measuring light deflection angle changing means for rotating the illumination optical unit 50 and two or more mirrors 72a and 72b having two or more different reflection angles according to the present invention are used simultaneously, Even if the deflection angle of the measurement light is increased to 20 degrees, for example, by rotating the illumination optical unit 50 by 10 degrees and changing the deflection angle by 10 degrees using the mirrors 72a and 72b, the upper portion of the illumination optical unit 50 It is possible to stop in the middle part without approaching the subject's head. In addition, the observation optical portion 80 of the slit lamp microscope shown in FIG. 4 includes an objective and magnification lens portion 23a, a prism portion 23b for converting a signal light path, an eyepiece optical system 26, and the like. Functions the same as described in 2. For example, the eyepiece optics 26 is a microscope system for observing the image of the eye 4 formed by the measurement light with the examiner's naked eye, and includes an eyepiece.

다음으로, 도 4를 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 세극등 현미경의 동작을 설명한다. 여기서, 세극등 현미경을 이용한 피검안(4)의 검사 과정은 도 1에서 설명한 바와 동일하므로, 이하에서는, 측정광의 편향 각도 변경 과정 만을 설명한다. 도 4에 도시한 바와 같이, A 위치의 조명광학부(50)의 광원(52)에서 방출된 측정광은 콜리메이터 렌즈(54) 및 릴레이 렌즈(56)에서 집속 및 전달되어, 반사 미러(70) 상단의 제1 미러(72a)로 45도의 입사각으로 입사되고, 제1 미러(72a)에서 반사되어, 피검안(4)에 측정광의 이미지를 형성한다. 상기 제1 미러(72a)는 지면에 대하여 45도 기울어져 위치하므로, 광원(52)에서 방출된 측정광과 피검안(4)으로 입사되는 측정광은 90도의 각도를 이룬다. 이때, 조명광학부(50) 전체를 180도 회전(B 위치)시켜, 반사 미러(70) 하단의 40도 기울기를 가지는 제2 미러(72b)에 측정광을 조사하면, 제2 미러(72b)에서 반사된 측정광은 위를 향하여 10도의 각도로 피검안(4)으로 입사된다. 따라서, 조명광학부(50) 전체를 피검안(4) 쪽으로 회전시키지 않거나, 회전폭을 감소시킴으로서, 회전축(32)의 회전각이 작아지게 된다. 이때, 상기 제1 미러(72a) 및 제2 미러(72b)에서 반사된 측정광이 동일한 지점에서 결상되도록, 조명광학부(50) 및 반사 미러(70)의 높이를 조절하거나, 릴레이렌즈(56) 등의 위치를 조절할 수 있다.Next, with reference to Figure 4, the operation of the slit lamp microscope according to an embodiment of the present invention. Here, the inspection process of the eye 4 using the slit lamp microscope is the same as that described with reference to FIG. 1, and therefore only the process of changing the deflection angle of the measurement light will be described below. As shown in FIG. 4, the measurement light emitted from the light source 52 of the illumination optical unit 50 at the A position is focused and transmitted from the collimator lens 54 and the relay lens 56, so that the upper portion of the reflective mirror 70 is provided. Is incident on the first mirror 72a at a 45 degree incidence angle, and is reflected by the first mirror 72a to form an image of the measurement light on the eye 4. Since the first mirror 72a is inclined at 45 degrees with respect to the ground, the measurement light emitted from the light source 52 and the measurement light incident on the eye 4 are at an angle of 90 degrees. At this time, when the entire illumination optical unit 50 is rotated 180 degrees (B position), and the measurement light is irradiated to the second mirror 72b having a 40 degree inclination of the lower end of the reflective mirror 70, the second mirror 72b The reflected measurement light is incident to the eye to be examined 4 at an angle of 10 degrees upwards. Therefore, by not rotating the whole illumination optical part 50 toward the to-be-tested eye 4, or reducing the rotation width, the rotation angle of the rotating shaft 32 becomes small. At this time, the height of the illumination optical unit 50 and the reflection mirror 70 is adjusted so that the measurement light reflected from the first mirror 72a and the second mirror 72b is formed at the same point, or the relay lens 56 The position of the back can be adjusted.

도 1은 통상적인 세극등 현미경의 외부 구조을 보여주는 도면.1 shows the external structure of a conventional slit lamp microscope.

도 2는 통상적인 세극등 현미경의 각도 편향 방법의 일 예를 보여주는 도면.2 is a view showing an example of the angle deflection method of a conventional slit lamp microscope.

도 3은 통상적인 세극등 현미경의 각도 편향 방법의 다른 예를 보여주는 도면.3 shows another example of the angle deflection method of a conventional slit lamp microscope.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 각도 편향 기능을 구비한 세극등 현미경의 구조를 설명하기 위한 도면.4 is a view for explaining the structure of a slit lamp microscope having an angle deflection function according to an embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명에 따른 세극등 현미경에 있어서, 측정광의 조사 위치를 변경할 수 있는 조명광학부의 다른 예를 보여주는 도면.5 is a slit lamp microscope according to the present invention, showing another example of an illumination optical unit that can change the irradiation position of the measurement light.

도 6은 본 발명에 따른 세극등 현미경에 있어서, 측정광의 조사 각도를 변경할 수 있는, 반사 미러의 구조를 보여주는 도면.6 is a view showing a structure of a reflecting mirror in the slit lamp microscope according to the present invention, in which the irradiation angle of the measurement light can be changed.

Claims (7)

측정광을 조사하는 조명광학부;An illumination optical unit for irradiating measurement light; 상기 측정광의 진행 방향에 대하여 서로 다른 반사 각도로 위치하며, 또한 인접하여 위치한 제1 미러 및 제2 미러를 포함함으로써, 상기 측정광을 2 이상의 서로 다른 각도로 반사하여 피검안으로 유도하는 반사 미러; 및A reflection mirror positioned at different reflection angles with respect to a traveling direction of the measurement light, and including adjacent first and second mirrors to reflect the measurement light at two or more different angles to guide the eye to the eye; And 상기 측정광에 의하여 피검안에 형성된 이미지를 검출하는 관찰광학부를 포함하며,It includes an observation optical unit for detecting the image formed in the examination by the measurement light, 상기 조명광학부는 상기 제1 미러 및 제2 미러에 선별적으로 측정광을 조사하여 측정광의 조사 각도를 변경하도록, 이동하는 구조를 가지는 것인, 각도 편향 기능을 구비한 세극등 현미경.The slit lamp microscope having an angle deflection function, wherein the illumination optical unit has a moving structure to selectively irradiate the first and second mirrors with the measurement light to change the irradiation angle of the measurement light. 삭제delete 제1항에 있어서, 상기 제1 미러 및 제2 미러의 기울기 차이는 5도 내지 10도인 것인, 각도 편향 기능을 구비한 세극등 현미경.The slit lamp microscope having an angular deflection function according to claim 1, wherein the difference between the inclinations of the first mirror and the second mirror is 5 degrees to 10 degrees. 제1항에 있어서, 상기 조명광학부는, 측정광을 조사하는 광원; 상기 광원에서 조사된 측정광을 집속하는 콜리메이터 렌즈; 및 집속된 측정광을 전달하여 피검안에 결상시키는 릴레이렌즈를 포함하며, 좌우 방향으로 이동하여 측정광의 조사 위치를 변경할 수 있는 것인, 각도 편향 기능을 구비한 세극등 현미경.The apparatus of claim 1, wherein the illumination optical unit comprises: a light source for emitting measurement light; A collimator lens for focusing the measurement light irradiated from the light source; And a relay lens that delivers the focused measurement light to form an image in the examination, wherein the slit lamp microscope having an angle deflection function can move in a left-right direction to change an irradiation position of the measurement light. 제1항에 있어서, 상기 조명광학부는, 측정광을 조사하는 광원; 상기 광원에서 조사된 측정광을 집속하는 콜리메이터 렌즈; 집속된 측정광을 전달하여 피검안에 결상시키는 릴레이렌즈; 및 상기 광원, 콜리메이터 렌즈 및 릴레이 렌즈를 수용하는 원통형 조명광학부 하우징을 포함하며, The apparatus of claim 1, wherein the illumination optical unit comprises: a light source for emitting measurement light; A collimator lens for focusing the measurement light irradiated from the light source; A relay lens for transferring focused measurement light to form an image in an examination object; And a cylindrical illumination optical unit housing accommodating the light source, the collimator lens, and the relay lens, 상기 광원, 콜리메이터 렌즈 및 릴레이 렌즈는 상기 원통형 조명광학부 하우징 내부 일측에 편심되게 위치하며, 상기 원통형 조명광학부 하우징의 내부 궤적을 따라 회전 이동하여, 측정광의 조사 위치를 변경할 수 있는 것인, 각도 편향 기능을 구비한 세극등 현미경.The light source, the collimator lens and the relay lens are located eccentrically on one side of the cylindrical illumination optical unit housing, and rotated along the inner trajectory of the cylindrical illumination optical unit housing, thereby changing the irradiation position of the measurement light, the angle deflection function Slit lamp microscope equipped with. 제5항에 있어서, 상기 원통형 조명광학부 하우징의 내부에는, 상기 광원, 콜리메이터 렌즈 및 릴레이 렌즈로 이루어진 군 중 어느 하나 이상의 이동 방향을 안내하는 나선형 가이드 홈이 형성되어 있는 것인, 각도 편향 기능을 구비한 세극등 현미경.6. The angular deflection function according to claim 5, wherein a spiral guide groove is formed inside the cylindrical illumination optical unit housing to guide a movement direction of at least one of the group consisting of the light source, the collimator lens, and the relay lens. One slit lamp microscope. 측정광을 조사하는 조명광학부;An illumination optical unit for irradiating measurement light; 상기 측정광을 2 이상의 서로 다른 각도로 반사하여 피검안으로 유도하는 반사 미러; 및A reflection mirror for reflecting the measurement light at two or more different angles to guide the eye to be examined; And 상기 측정광에 의하여 피검안에 형성된 이미지를 검출하는 관찰광학부를 포함하며, It includes an observation optical unit for detecting the image formed in the examination by the measurement light, 상기 반사 미러는, 측정광의 진행 방향에 대하여 2 이상의 서로 다른 반사 각도로 위치한 2 이상의 미러; 및 상기 2 이상의 미러의 위치가 서로 바뀌도록, 상기 2 이상의 미러를 회전가능하게 고정하는 미러 회전축을 포함하는 것인, 각도 편향 기능을 구비한 세극등 현미경.The reflection mirror may include two or more mirrors positioned at two or more different reflection angles with respect to a traveling direction of the measurement light; And a mirror axis of rotation rotatably fixing the two or more mirrors so that the positions of the two or more mirrors are interchanged with each other.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101868237B1 (en) * 2016-12-29 2018-06-18 신한대학교 산학협력단 Method of manufacturing for slit lamp and method of controling for fluorescein image
EP3914143A1 (en) * 2019-03-26 2021-12-01 Haag-Streit Ag Device and method for determining the orientation of an ophthalmologic microscope device
CN112965234B (en) * 2021-02-25 2022-10-25 深圳市贝嘉技术有限公司 Microscope capable of being adjusted according to indoor brightness

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000000211A (en) * 1998-06-16 2000-01-07 Noda Medical Kk Eyeground camera

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000000211A (en) * 1998-06-16 2000-01-07 Noda Medical Kk Eyeground camera

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200001833U (en) 2019-02-11 2020-08-20 고려대학교 산학협력단 Attachable portable lens holder for slit-lamp microscopy

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