KR101075904B1

KR101075904B1 - Variable Resistor

Info

Publication number: KR101075904B1
Application number: KR1020060102641A
Authority: KR
Inventors: 진성장; 우효상; 이우철
Original assignee: 주식회사 엘지화학
Priority date: 2006-10-23
Filing date: 2006-10-23
Publication date: 2011-10-26
Also published as: KR20080036260A

Abstract

본 발명은 필요에 따라 저항값을 변화시킬 수 있는 가변 저항 장치로서, 외부 회로에 각각 연결되는 한 쌍의 모 저항체, 및 상기 모 저항체들 사이에 착탈가능하게 설치되어 있는 둘 또는 그 이상의 가변 저항체들을 포함하는 구조로 구성되어 있어서, 가변 저항체들을 모 저항체로부터 탈리 및/또는 부착시키는 간단한 과정에 의해 다양하고 정확한 저항값을 설정할 수 있으며, 저항값을 용이하게 설정할 수 있어서 다양한 변수가 존재하는 안전성 시험을 단기간에 수행할 수 있는 효과가 있다. The present invention provides a variable resistance device that can change a resistance value as needed, and includes a pair of mother resistors connected to an external circuit, and two or more variable resistors detachably installed between the mother resistors. It is composed of a structure that includes, by a simple process of detaching and / or attaching the variable resistors from the parent resistor, it is possible to set a variety of accurate resistance value, it is possible to easily set the resistance value to test the safety test that there are a variety of variables There is an effect that can be performed in a short time.

Description

Variable Resistor Device {Variable Resistor}

도 1은 본 발명의 하나의 실시예에 따른 가변 저항 장치를 포함하는 전지 시험 장치의 구성 모식도이다;1 is a schematic view of a battery test apparatus including a variable resistance device according to an embodiment of the present invention;

도 2는 도 1의 가변 저항 장치에서 모 저항체와 가변 저항체의 모식도이다; FIG. 2 is a schematic diagram of a mother resistor and a variable resistor in the variable resistor device of FIG. 1; FIG.

도 3은 도 1의 가변 저항 장치에서 가변 저항체와 레버의 체결 구조에 대한 부분 투시도이다;3 is a partial perspective view of a fastening structure of a variable resistor and a lever in the variable resistor device of FIG. 1;

도 4 및 도 5는 도 1의 가변 저항 장치에서 가변 저항체들의 변형 예들에 대한 모식도들이다. 4 and 5 are schematic diagrams of modified examples of the variable resistors in the variable resistance device of FIG. 1.

본 발명은 필요에 따라 저항값을 변화시킬 수 있는 장치로서, 외부 회로에 각각 연결되는 한 쌍의 모 저항체, 및 상기 모 저항체들 사이에 착탈가능하게 설치되어 있는 둘 또는 그 이상의 가변 저항체들을 포함하는 것으로 구성되어 있는 가변 저항 장치를 제공한다. The present invention is a device capable of changing the resistance value as needed, comprising a pair of parent resistors each connected to an external circuit, and two or more variable resistors detachably installed between the mother resistors. Provides a variable resistance device consisting of.

많은 전기/전자 관련 소자들은 작동 조건 또는 상태에 따라 저항을 변화시켜야 하는 경우가 자주 존재한다. 예를 들어, 전원으로부터 공급되는 일정한 전압 또는 전류를 필요한 부위 또는 작동 상태에 따라 전압 또는 전류를 낮추거나 더욱 높이는 변환 과정을 거친다. 이러한 전압 또는 전류의 변환은 주로 변압기 등에 의해 행해지지만, 관련 장치들이 매우 크고 복잡한 내부 구조를 가지고 있는 경우가 많다. Many electrical / electronic devices often have to change their resistance according to operating conditions or conditions. For example, a constant voltage or current supplied from a power source is converted to lower or higher voltages or currents depending on the required part or operating state. This conversion of voltage or current is mainly done by transformers and the like, but related devices often have very large and complicated internal structures.

전압 또는 전류의 변환은 테스트 장치에서도 많이 행해지고 있다. 최근 모바일 기기의 발전과 함께 그 수요가 크게 증가하고 있는 이차전지의 경우 그것의 작동 성능, 안전성 측면에서 많은 테스트를 행하고 있다. The conversion of voltage or current is also performed a lot in a test apparatus. Recently, with the development of mobile devices, the demand for the secondary battery, which is greatly increased, has been tested in terms of its operational performance and safety.

이러한 이차전지에서, 주요 연구 과제 중의 하나는 안전성을 향상시키는 것이다. 예를 들어, 전지는 내부 단락, 허용된 전류 및 전압을 초과한 과충전 상태, 고온에의 노출, 낙하 또는 외부 충격에 의한 변형 등 전지의 비정상적인 작동 상태로 인해 유발될 수 있는 전지 내부의 고온 및 고압에 의해 전지의 폭발이 초래될 수 있다.In such secondary batteries, one of the major research tasks is to improve safety. For example, a cell can be hot and high pressure inside the cell, which can be caused by abnormal operating conditions of the cell, such as internal short circuits, overcharge conditions exceeding the allowed currents and voltages, exposure to high temperatures, deformation due to drops or external impacts. May cause an explosion of the battery.

전지의 안전성 항목 중 하나인 단락 특성을 평가하기 위한 방법 중의 하나로는, 시험장치의 저항값을 다양하게 변화시켜 전지의 단락 여부를 측정하는 방법이 행해지고 있다.As one of the methods for evaluating the short circuit characteristic which is one of the safety items of a battery, the method of measuring the short circuit of a battery by varying the resistance value of a test apparatus is performed.

종래의 단락 시험 장치는, 일정한 값을 가지는 저항체와, 이를 테스트 시편과 연결하는 회로를 개폐하는 스위치로 구성되어 있고, 테스트 시편의 단락 평가를 위해 시험 장치의 저항값을 다양하게 변화시키고자 할 때는, 그에 따라 별도로 제 작된 장치를 사용하거나 저항체를 변경하여 수행하였다. 따라서, 시험자가 원하는 임의의 저항값을 지니는 시험 장치를 사용하여 빠른 시간 안에 시험할 수 없는 불편함을 초래한다.Conventional short-circuit test apparatus is composed of a resistor having a constant value, and a switch for opening and closing the circuit connecting the test specimen, and to vary the resistance value of the test apparatus for short-circuit evaluation of the test specimen Therefore, it was performed by using a separately manufactured device or changing a resistor. Thus, the use of a test apparatus having an arbitrary resistance value desired by the tester causes inconveniences that it cannot be tested in a short time.

따라서, 이러한 문제점을 근본적으로 해결할 수 있는 기술에 대한 필요성이 높은 실정이다.Therefore, there is a high need for a technique capable of fundamentally solving such problems.

본 발명은 상기 종래기술의 문제점과 과거로부터 요청되어온 기술 과제를 해결하는 것을 목적으로 한다.The present invention aims to solve the problems of the prior art and the technical problems that have been requested from the past.

본 출원의 발명자들은 심도 있는 연구와 다양한 실험을 거듭한 끝에, 서로 이격되어 있는 한 쌍의 모 저항체 사이에 다수의 가변 저항체를 착탈 가능하도록 설치한 구성의 가변 저항 장치를 개발하였고, 이러한 가변 저항 장치는 설정하고자 하는 저항값에 따라 모 저항체에 부착되는 가변 저항체의 수를 조절하는 것 만으로 저항값을 용이하게 변화시킬 수 있음을 확인하고, 본 발명을 완성하기에 이르렀다. After extensive research and various experiments, the inventors of the present application have developed a variable resistance device in which a plurality of variable resistors are detachably installed between a pair of parent resistors spaced apart from each other. After confirming that the resistance value can be easily changed only by adjusting the number of variable resistors attached to the mother resistor according to the resistance value to be set, the present invention has been completed.

따라서, 본 발명에 따른 가변 저항 장치는, 필요에 따라 저항값을 변화시킬 수 있는 장치로서, 외부 회로에 각각 연결되는 한 쌍의 모 저항체, 및 상기 모 저항체들 사이에 착탈 가능하게 설치되어 있는 둘 또는 그 이상의 가변 저항체들을 포함하는 것으로 구성되어 있다. Accordingly, the variable resistance device according to the present invention is a device capable of changing a resistance value as needed, and a pair of mother resistors connected to an external circuit, and two detachably provided between the mother resistors. Or more variable resistors.

본 발명에 따른 가변 저항 장치는, 모 저항체에 접촉되는 가변 저항체들의 수 또는 종류를 조절하여, 전기연결부재(예: 스위치)를 작동시켰을 때, 소정의 디바이스, 테스트 시편 등에서 발생한 전류가 모저항체와 가변 저항체의 접촉에 의해 설정되는 저항값에 의해 변화되어, 테스트 시편, 디바이스 등에 전달되게 되므로, 간단한 구조에도 불구하고 소망하는 변환을 유도할 수 있다.In the variable resistance device according to the present invention, when an electrical connection member (eg, a switch) is operated by adjusting the number or type of variable resistors in contact with the parent resistor, a current generated from a predetermined device, a test specimen, or the like is connected to the parent resistor. Since it is changed by the resistance value set by the contact of the variable resistor and transmitted to the test specimen, the device, or the like, it is possible to induce a desired conversion despite the simple structure.

상기 가변 저항 장치에서 저항값의 변화는 가변 저항체의 다양한 구성에 의해 달성될 수 있다.The change in the resistance value in the variable resistor device can be achieved by various configurations of the variable resistor.

하나의 바람직한 예에서, 상기 가변 저항체들은 각각 동일한 저항값을 가지며, 소망하는 저항값에 따라 모 저항체에 부착되는 가변 저항체의 수를 변경함으로써 저항값을 변화시킬 수 있다. 즉, 각각의 가변 저항체들이 동일한 저항값을 가지므로, 모 저항체에 접촉되는 가변 저항체의 수를 늘려 연결회로의 저항값을 소망하는 수준으로 낮추거나, 또는 그와 반대로, 모 저항체에 접촉되는 가변 저항체의 수를 줄여 연결회로의 저항값을 소망하는 수준으로 높일 수 있다. In one preferred example, each of the variable resistors has the same resistance value, and the resistance value can be changed by changing the number of the variable resistors attached to the mother resistor according to the desired resistance value. That is, since each variable resistor has the same resistance value, the number of variable resistors in contact with the parent resistor is increased to lower the resistance value of the connection circuit to a desired level, or vice versa, the variable resistors in contact with the parent resistor. By reducing the number of circuits, the resistance of the connection circuit can be increased to a desired level.

또 다른 예로서, 상기 가변 저항체들 중 적어도 두 개의 가변 저항체들의 저항값을 다르게 구성하여, 소망하는 저항값에 따라 모 저항체에 부착되는 가변 저항체를 선택하거나 가변 저항체의 수를 변경할 수 있다. 즉, 가변 저항체들 중 최소한 하나 이상의 가변 저항체가 다른 가변 저항체들과 저항값이 다르게 구성되어 있어서, 저항값을 변경할 때, 소정의 가변 저항체를 선택하거나 그 수를 변경하여 다양한 저항값을 구현할 수 있다. 예를 들어, 일련의 가변 저항체들이 순차적으로 낮아지거나 높아지는 저항값을 가지도록 구성하여, 소망하는 저항값을 연결회로에 설정하고자 할 때, 특정한 가변 저항체를 모 저항체에 접촉시킬 수 있다. As another example, the resistance values of at least two variable resistors of the variable resistors may be configured differently, so that the variable resistors attached to the mother resistors may be selected or the number of variable resistors may be changed according to a desired resistance value. That is, since at least one variable resistor of the variable resistors is configured to have different resistance values from other variable resistors, when the resistance value is changed, various resistance values may be realized by selecting a predetermined variable resistor or changing the number thereof. . For example, a series of variable resistors may be configured to have a resistance value that is sequentially lowered or higher, and when a desired resistance value is set in the connection circuit, a specific variable resistor may be contacted with the parent resistor.

모 저항체와 가변 저항체들의 구성은 다양한 구조로 이루어질 수 있으며, 하나의 바람직한 예에서, 모 저항체들은 서로 평행하게 배열된 한 쌍의 바 부재들이고, 가변 저항체들은 상기 바 부재들을 따라 소정의 간격을 두고 수평 배열되어 있는 구조(a)일 수 있다. 또 다른 예에서, 모 저항체들은 서로 평행하게 배열된 한 쌍의 바 부재들이며, 상기 가변 저항체들은 상기 바 부재들에 대해 소정의 간격으로 수직 배열되어 있는 구조(b)일 수 있다. The configuration of the parent resistor and the variable resistors can be of various structures, and in one preferred example, the parent resistors are a pair of bar members arranged parallel to each other, and the variable resistors are horizontally spaced along the bar members at predetermined intervals. It may be a structure (a) arranged. In another example, the parent resistors may be a pair of bar members arranged parallel to each other, and the variable resistors may be a structure (b) arranged vertically at predetermined intervals with respect to the bar members.

즉, 외부 회로에 연결된 상태로 서로 평행하게 떨어져 있는 한 쌍의 모 저항체 바의 상부에 다수의 가변 저항체들을 수평 또는 수직으로 배열하여 구성하고, 소망하는 저항값을 얻고자 할 때에는, 이들 가변 저항체들을 모 저항체 바에 접촉시키는 과정을 거치게 된다. That is, when a plurality of variable resistors are arranged horizontally or vertically on a pair of parent resistor bars that are parallel to each other while being connected to an external circuit, these variable resistors are required to obtain a desired resistance value. The contact with the parent resistor bar is performed.

다수의 가변 저항체들이 모 저항체 상에 수평 배열되어 있는 상기 구조(a)에서, 경우에 따라서는, 상기 가변 저항체들 중 적어도 하나의 가변 저항체 상에는 수직 방향으로 착탈 가능하게 배열된 하나 이상의 또 다른 가변 저항체들을 더 설치할 수도 있다. 이러한 구조는 실질적으로 가변 저항체들이 수평 및 수직 배열로 모 저항체 상에 배열되어 있는 혼합 구조(a + b)라 할 수 있다. In the structure (a) in which a plurality of variable resistors are arranged horizontally on a parent resistor, in some cases, at least one other variable resistor detachably arranged in a vertical direction on at least one of the variable resistors. You can also install more of them. This structure may be referred to as a mixed structure (a + b) in which the variable resistors are arranged on the parent resistor in a horizontal and vertical arrangement.

모 저항체에 대한 가변 저항체의 착탈식 접촉 구성은 다양한 구조에 의해 달성될 수 있는 바, 예를 들어, 가변 저항체의 상단에 절연성을 가지는 착탈 조절 레버를 설치하여, 상기 레버의 작동에 의해 가변 저항체를 모 저항체에 부착 또는 탈리시킬 수 있다. The detachable contact configuration of the variable resistor with respect to the parent resistor can be achieved by various structures, for example, by installing an insulating detachable adjustment lever on the upper end of the variable resistor, thereby driving the variable resistor by operation of the lever. It can be attached to or detached from the resistor.

본 발명에 따른 가변 저항 장치는 소정의 연결회로에서 필요에 따라 저항값을 변화시켜야 하는 구성의 디바이스라면, 그것의 사용 대상이 특별히 제한되는 것은 아니며, 바람직하게는 저항값을 자주 변화시켜야 하는 시험 장치에 사용될 수 있다.If the variable resistance device according to the present invention is a device having a configuration in which a resistance value is to be changed as necessary in a predetermined connection circuit, the object of use thereof is not particularly limited, and preferably, a test device for frequently changing the resistance value. Can be used for

따라서, 본 발명은 상기 가변 저항 장치와, 테스트 시편, 및 상기 가변 저항 장치와 테스트 시편의 연결회로 상에 위치하는 스위치를 포함하는 것으로 구성된 시험 장치를 제공한다. Accordingly, the present invention provides a test device comprising the variable resistance device, the test specimen, and a switch located on a connection circuit of the variable resistance device and the test specimen.

상기 스위치는 모 저항체와 테스트 시편을 연결하는 예를 들어 도선의 일부에 장착되어 있어서 테스트 시편에서 발생하는 전류를 연결 또는 차단하는 기능을 수행함으로써, 테스트 시편의 저항 측정에 있어서 안전성과 용이성을 제공한다. The switch is connected to the parent resistor and the test specimen, for example, mounted on a part of the conductor to perform the function of connecting or disconnecting current generated from the test specimen, thereby providing safety and ease in measuring the resistance of the test specimen. .

이러한 구조의 시험 장치에서, 상기 가변 저항 장치는 절연성 하우징의 내부에 장착되어 있는 것이 바람직하다. 상기 절연성 하우징은 테스트 수행 시 감전의 위험성을 방지하고, 외부물질의 유입에 따른 저항측정의 오류 및 오차 등을 예방한다. In the test apparatus of this structure, the variable resistance apparatus is preferably mounted inside the insulating housing. The insulating housing prevents a risk of electric shock when the test is performed and prevents errors and errors in resistance measurement due to the inflow of external materials.

가변 저항 장치는 통전시 발열을 수반하므로 하우징 내부의 온도가 상승하게 되어 가변 저항 장치가 과열될 수 있다. 이러한 과열을 방지하기 위하여, 바람직하게는, 상기 하우징의 일 측면에 한 개 또는 그 이상의 냉각팬을 설치하여 가변 저항 장치에서 발생하는 열을 냉각시킬 수 있다. Since the variable resistance device is accompanied by heat generation when the current is energized, the temperature inside the housing is increased, and the variable resistance device may be overheated. In order to prevent such overheating, one or more cooling fans may be installed on one side of the housing to cool the heat generated by the variable resistance device.

또한, 앞서 설명한 바와 같이, 상기 가변 저항 장치의 가변 저항체에 착탈 조절 레버가 설치되어 있는 경우, 절연성 하우징은 상기 레버의 상부 거치대로서도 사용될 수 있다. 구체적으로, 가변 저항체의 상단에 착탈 조절 레버가 설치되어 있고, 상기 레버의 적어도 일부가 하우징 외부로 돌출되도록 하우징의 일측에 체결되어 있는 구조를 들 수 있다. 따라서, 하우징 외부로 돌출된 레버를 조작하여 모 저항체에 대한 가변 저항체의 부착 내지 탈리 과정을 행할 수 있다. In addition, as described above, when the detachable adjusting lever is installed in the variable resistor of the variable resistance device, the insulating housing can also be used as the upper cradle of the lever. Specifically, a structure in which a detachable adjustment lever is provided at an upper end of the variable resistor, and is fastened to one side of the housing so that at least a part of the lever protrudes out of the housing. Therefore, the lever protruding out of the housing can be manipulated to attach or detach the variable resistor to the parent resistor.

본 발명에 따른 시험 장치는, 예를 들어, 이차전지의 안전성을 평가하는 테스트에 적용될 수 있으며, 특히 이차전지의 단락특성을 평가하는데 바람직하게 사용할 수 있다. The test apparatus according to the present invention can be applied to a test for evaluating the safety of a secondary battery, for example, and can be preferably used for evaluating the short circuit characteristic of the secondary battery.

이하에서는, 본 발명의 실시예에 따른 도면을 참조하여 설명하지만, 이는 본 발명의 더욱 용이한 이해를 위한 것으로, 본 발명의 범주가 그것에 의해 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings, but the present invention is not limited by the scope of the present invention.

도 1에는 본 발명의 하나의 실시예에 따른 가변 저항 장치를 포함하는 전지 시험 장치의 구성도가 모식적으로 도시되어 있고, 도 2에는 도 1의 가변 저항 장치에서 모 저항체와 가변 저항체의 모식도가 도시되어 있다. 1 is a schematic diagram of a battery test apparatus including a variable resistance device according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic view of a mother resistor and a variable resistor in the variable resistance device of FIG. 1. Is shown.

이들 도면을 참조하면, 전지 시험 장치(100)는 필요에 따라 저항값을 변화시킬 수 있는 가변 저항 장치(200), 테스트 시편으로서의 이차전지(300), 및 가변 저항 장치(200)와 이차전지(300) 사이의 연결회로 상에 위치하는 스위치(400)로 구성되어 있다. Referring to these drawings, the battery test apparatus 100 includes a variable resistance device 200 capable of changing a resistance value as needed, a secondary battery 300 as a test specimen, and a variable resistance device 200 and a secondary battery ( It consists of a switch 400 located on the connection circuit between the 300.

가변 저항 장치(200)는, 도전성 금속으로 이루어진 한 쌍의 모 저항체들(210, 211), 모 저항체(210)와 동일한 금속으로 이루어진 다수의 가변 저항체 들(220, 221, 222, 223), 가변 저항체(220)를 모 저항체(210)에 부착 또는 탈리시키는 착탈 조절 레버(230), 레버(230)의 상단 일부가 돌출된 상태에서 가변 저항체(220)와 모 저항체(210)를 감싸고 있는 절연성 소재의 박스형 하우징(240)으로 이루어져 있다. The variable resistance device 200 includes a pair of mother resistors 210 and 211 made of a conductive metal, a plurality of variable resistors 220, 221, 222, and 223 made of the same metal as the mother resistor 210, and variable. Detachable control lever 230 for attaching or detaching the resistor 220 to the parent resistor 210, an insulating material surrounding the variable resistor 220 and the parent resistor 210 in a state where a part of the upper end of the lever 230 protrudes. It consists of a box-shaped housing 240.

모 저항체들(210, 211)의 양단은 이차전지(300)와 스위치(400)에 연결되어 있지만, 모 저항체들(210, 211)이 서로 평행하게 이격된 상태로 배열되어 있어서 가변 저항체(220, 221, 222, 223)가 접촉되지 않으면 통전이 이루어지지 않는다. Both ends of the parent resistors 210 and 211 are connected to the secondary battery 300 and the switch 400, but the parent resistors 210 and 211 are arranged in parallel with each other to be spaced apart from each other so that the variable resistors 220, If the 221, 222, 223 is not in contact with the electricity is not made.

가변 저항체들(220, 221, 222, 223)은 소정의 간격으로 수평 배열되어 있고, 그것의 상단에는 레버(230)가 설치되어 있어서, 레버(230)를 좌우로 회전시키면서 상하로 움직여 가변 저항체(220)를 모 저항체(210)에 부착 또는 탈리시킨다.The variable resistors 220, 221, 222, and 223 are horizontally arranged at predetermined intervals, and a lever 230 is disposed at an upper end thereof, and the variable resistors 220 move upward and downward while rotating the lever 230 left and right. 220 is attached to or detached from the parent resistor (210).

레버(230)의 좌우 회전은 도 3에서 더욱 자세히 확인할 수 있다. 도 3에서 보는 바와 같이, 레버(230)의 하단 부근 외면에는 환상의 만입홈(232)이 형성되어 있고, 그에 대응하여 가변 저항체(220)에는 환상 돌기(250)가 형성되어 있다. 따라서, 만입홈(232)와 환상 돌기(250)의 가변적인 결합에 의해 레버(230)는 소정의 각도로 좌우 방향으로 회전할 수 있다. Left and right rotation of the lever 230 can be confirmed in more detail in FIG. As shown in FIG. 3, an annular indentation groove 232 is formed on an outer surface near the lower end of the lever 230, and an annular protrusion 250 is formed in the variable resistor 220. Thus, the variable coupling of the indentation groove 232 and the annular protrusion 250 may rotate the lever 230 in the left and right directions at a predetermined angle.

다시 도 1 및 도 2를 참조하면, 레버(230)는 상단 일부가 돌출되도록 하우징(240)의 개구(242)에 걸쳐 있고, 하우징(240)의 내면과의 사이에 압축 스프링(234)이 장착되어 있다. 따라서, 레버(230)를 회전시킨 후 하우징(240) 상단에 걸치면 가변 저항체(223)는 모 저항체(210, 211)로부터 분리되어 떨어지게 된다. 이 과정에서 하우징(240) 내면과 가변 저항체(223) 사이의 압출 스프링(234)이 가 압되므로, 반대의 과정으로 가변 저항체(223)를 모 저항체(210, 211)에 부착시킬 때에는, 압출 스프링(234)의 복원력에 의해 가변 저항체(223)는 모 저항체(210, 211)에 밀착될 수 있다. Referring again to FIGS. 1 and 2, the lever 230 spans the opening 242 of the housing 240 so that a portion of the top protrudes, and the compression spring 234 is mounted between the inner surface of the housing 240. It is. Therefore, the variable resistor 223 is separated from the parent resistors 210 and 211 when the lever 230 is rotated and then the housing 240 is topped. In this process, since the extrusion spring 234 between the inner surface of the housing 240 and the variable resistor 223 is pressurized, when the variable resistor 223 is attached to the parent resistors 210 and 211 in the opposite process, the extrusion spring is applied. The variable resistor 223 may be in close contact with the parent resistors 210 and 211 by the restoring force of 234.

가변 저항체들(220, 221, 222, 223)은 동일한 크기와 소재로 이루어져 있어서, 각각 동일한 저항값을 가진다. 따라서, 모 저항체(210, 211)에 접촉되는 가변 저항체(220, 221, 222, 223)의 수를 늘려 연결회로의 저항값을 소망하는 수준으로 낮출 수 있으며, 상기의 반대 과정으로 저항값을 소망하는 수준으로 높일 수 있다. The variable resistors 220, 221, 222, and 223 are made of the same size and material, and thus have the same resistance value. Therefore, by increasing the number of variable resistors 220, 221, 222, and 223 in contact with the parent resistors 210 and 211, the resistance value of the connection circuit can be lowered to a desired level. It can be raised to a level that does.

상기 가변 저항체의 또 다른 구성 예들이 도 4 및 도 5에 도시되어 있다. Further configuration examples of the variable resistor are shown in FIGS. 4 and 5.

도 4의 예를 참조하면, 가변 저항체들(220a, 221a, 222a, 223a)은 동일한 소재로 이루어져 있지만, 그것의 크기가 순차적으로 증가하는 배열로 이루어져 있다. 소재가 동일할 때 저항값은 단면적에 반비례하므로, 저항값을 낮게 설정하고자 하는 경우에는 큰 단면적을 가진 가변 저항체(223a)를 모 저항체(210, 211)에 부착시켜 회로를 구성할 수 있다. Referring to the example of FIG. 4, the variable resistors 220a, 221a, 222a, and 223a are made of the same material, but have an array in which their sizes increase sequentially. When the materials are the same, the resistance value is inversely proportional to the cross-sectional area. Therefore, when the resistance value is to be set low, a variable resistor 223a having a large cross-sectional area may be attached to the parent resistors 210 and 211 to form a circuit.

도 5의 예를 참조하면, 가변 저항체들(220b, 221b, 222b, 223b)은 동일한 크기로 이루어져 있지만, 그것의 소재가 다르게 구성되어 있다. 즉, 가변 저항체(221b)의 소재 저항률은 가변 저항체(220b)보다 크며, 가변 저항체(222b)의 소재 저항률은 가변 저항체(221b)보다 크다. 따라서, 소망하는 저항값을 설정하고자 할 때에는 그에 대응한 가변 저항체들(220b, 221b, 222b, 223b)을 선택하여 모 저항체(210, 211)에 부착시킴으로써 회로를 구성할 수 있다. Referring to the example of FIG. 5, the variable resistors 220b, 221b, 222b, and 223b have the same size, but their materials are configured differently. That is, the material resistivity of the variable resistor 221b is greater than that of the variable resistor 220b, and the material resistivity of the variable resistor 222b is greater than the variable resistor 221b. Therefore, when the desired resistance value is to be set, the circuit can be configured by selecting the variable resistors 220b, 221b, 222b, and 223b corresponding to the resistors 210 and 211, respectively.

그러나, 경우에 따라서는, 도 4 및 도 5의 구조에서 둘 이상의 가변 저항체 들을 함께 모 저항체에 접촉시켜 회로를 구성할 수도 있음은 물론이다.However, in some cases, the circuit of FIG. 4 and FIG. 5 may be configured by contacting two or more variable resistors together with the mother resistor.

다시 도 1을 참조하면, 하우징(240)의 일측 측면에는 냉각팬(260)이 설치되어 있고 대향측 측면에는 다수의 개구들(244)이 관통되어 있어서, 통전 과정에서 발생하는 열을 효과적으로 제거할 수 있다. Referring back to FIG. 1, a cooling fan 260 is installed at one side of the housing 240 and a plurality of openings 244 penetrates at an opposite side thereof to effectively remove heat generated during energization. Can be.

이상 본 발명의 실시예에 따른 도면을 참조하여 설명하였지만, 본 발명이 속한 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기 내용을 바탕으로 본 발명의 범주내에서 다양한 응용 및 변형을 행하는 것이 가능할 것이다.Although described above with reference to the drawings according to an embodiment of the present invention, those of ordinary skill in the art will be able to perform various applications and modifications within the scope of the present invention based on the above contents.

이상의 설명과 같이, 본 발명에 따른 가변 저항 장치는, 다수의 가변저항체를 모 저항체에 탈리 및/또는 부착 가능한 구조로 만들어지는 장치로서 다양하고 정확한 저항값을 설정할 수 있다. 또한, 저항값을 용이하게 설정할 수 있어서 저항과 관련된 테스트를 단기간에 수행할 수 있는 효과가 있다. As described above, the variable resistance device according to the present invention is a device made of a structure in which a plurality of variable resistors can be detached and / or attached to a parent resistor, and various and accurate resistance values can be set. In addition, since the resistance value can be easily set, the test related to the resistance can be performed in a short time.

Claims

A test apparatus capable of changing the resistance value,

A pair of mother resistors connected to an external circuit, two or more variable resistors provided with a lever for controlling attachment and detachment of the mother resistors, and an insulating housing surrounding the outside of the mother resistors and the variable resistors. A variable resistance device fastened so that the lever protrudes out of the housing;

Test specimen; And

And a switch located on a connection circuit of the test specimen and the variable resistance device.

A test apparatus, which is used to evaluate a short circuit characteristic of a secondary battery.

The test apparatus according to claim 1, wherein each of the variable resistors has the same resistance value, and the number of variable resistors attached to the mother resistor is changed according to a desired resistance value.

The method of claim 1, wherein at least two of the variable resistors have different resistance values, and (i) select a variable resistor attached to the parent resistor according to a desired resistance value, or (ii) a desired resistance value. And changing the number of the variable resistors attached to the mother resistor, or (iii) selecting the variable resistors attached to the mother resistors according to a desired resistance value and changing the number of the variable resistors.

The test apparatus according to claim 1, wherein the mother resistors are a pair of bar members arranged parallel to each other, and the variable resistors are horizontally arranged at predetermined intervals along the bar members.

The test apparatus according to claim 1, wherein the parent resistors are a pair of bar members arranged in parallel with each other, and the variable resistors are vertically arranged at predetermined intervals with respect to the bar members.

5. The test apparatus according to claim 4, wherein at least one of the variable resistors is further provided with at least one other variable resistors detachably arranged in a vertical direction.

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The test apparatus according to claim 1, wherein one side of the housing is provided with a cooling fan for preventing overheating of the variable resistance device.

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