KR101030227B1 - Tray for ssd used in both carriage and test - Google Patents

Tray for ssd used in both carriage and test Download PDF

Info

Publication number
KR101030227B1
KR101030227B1 KR1020090087721A KR20090087721A KR101030227B1 KR 101030227 B1 KR101030227 B1 KR 101030227B1 KR 1020090087721 A KR1020090087721 A KR 1020090087721A KR 20090087721 A KR20090087721 A KR 20090087721A KR 101030227 B1 KR101030227 B1 KR 101030227B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
tray
ssd
test
test board
frame
Prior art date
Application number
KR1020090087721A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20110029869A (en
Inventor
전진국
박성규
진석호
심재원
오경승
최범수
Original Assignee
주식회사 오킨스전자
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 오킨스전자 filed Critical 주식회사 오킨스전자
Priority to KR1020090087721A priority Critical patent/KR101030227B1/en
Publication of KR20110029869A publication Critical patent/KR20110029869A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101030227B1 publication Critical patent/KR101030227B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2884Testing of integrated circuits [IC] using dedicated test connectors, test elements or test circuits on the IC under test
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2865Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
    • G01R31/2867Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2893Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Packaging Frangible Articles (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

본 발명은 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 관한 것으로, 특히 SSD를 장착하도록 상부에서 하부로 관통하는 다수의 삽입홈을 가지는 프레임으로 이루어지고, 상기 삽입홈은, 상기 SSD가 상기 프레임의 상부에서 삽입되고 상기 SSD의 하부단자가 외부와 연통가능하게 개방된 개구부와, 상기 삽입되어진 SSD의 하단이 적어도 상기 프레임의 하면에 위치하도록 상기 SSD를 지지하는 지지부를 포함하는 것을 특징으로 하는 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 관한 것이다.The present invention relates to a transport-test tray for an SSD, and more particularly, to a frame having a plurality of insertion grooves penetrating from the top to the bottom to mount the SSD, wherein the insertion groove is inserted in the upper portion of the frame And an opening in which the lower terminal of the SSD is open to communicate with the outside, and a support for supporting the SSD such that the lower end of the inserted SSD is located at least on the lower surface of the frame. It is about a combined tray.

이를 통하여 하나의 트레이로 이송 트레이의 역할뿐만 아니라, 테스트 트레이의 역할을 모두 수행할 수 있어서, 트레이 활용도를 높일 수 있고, 종래에 이송 트레이와 테스트 트레이를 별도로 사용하는 경우에 시험을 위해서 이송 트레이로부터 테스트 트레이로의 개별적인 SSD이송 작업을 하던 것을 생략할 수 있으므로, 이에 따른 시간 및 비용의 절감할 수 있어서, 생산성을 높일 수 있을 뿐만 아니라, 개별 이송작업에서 발생할 수 있는 오류를 근본적으로 막을 수 있는 효과가 있다.Through this, it is possible to perform both the role of the test tray as well as the transfer tray to one tray, thereby increasing the utilization of the tray, and when using the transfer tray and the test tray separately from the transfer tray for testing. By eliminating individual SSD transfers to the test tray, you can save time and money, thereby increasing productivity and fundamentally preventing errors that can occur in individual transfers. There is.

SSD, 트레이, 테스트 SSD, tray, test

Description

SSD용 운반-시험 겸용 트레이 {TRAY FOR SSD USED IN BOTH CARRIAGE AND TEST}Transport for test tray for SSD {TRAY FOR SSD USED IN BOTH CARRIAGE AND TEST}

본 발명은 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 하나의 트레이로 이송 트레이의 역할뿐만 아니라, 테스트 트레이의 역할을 모두 수행할 수 있어서, 트레이 활용도를 높일 수 있고, 종래에 이송 트레이와 테스트 트레이를 별도로 사용하는 경우에 시험을 위해서 이송 트레이로부터 테스트 트레이로의 개별적인 SSD이송 작업을 하던 것을 생략할 수 있으므로, 이에 따른 시간 및 비용의 절감할 수 있어서, 생산성을 높일 수 있을 뿐만 아니라, 개별 이송작업에서 발생할 수 있는 오류를 근본적으로 막을 수 있는 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 관한 것이다.The present invention relates to a transport-test tray for SSD, and more particularly, it can perform not only the role of the transfer tray but also the test tray in one tray, thereby increasing the utilization of the tray, When using the tray and the test tray separately, it is possible to omit the separate SSD transfer from the transfer tray to the test tray for the test, thereby saving time and costs, thereby increasing productivity. The present invention relates to a transport-test tray for SSD, which can fundamentally prevent errors that may occur in individual transfer operations.

SSD(Solid State Disk 또는 Solid State Drive)는 플래시 메모리와 같은 고체 소자를 사용하여 데이터를 저장하는 디스크로서, 종래에 컴퓨터 사용되는 하드디스크나 이동 단말기에 사용되는 미니 하드 디스크를 대체하기 위해 사용되는 디바이스이다.SSD (Solid State Disk or Solid State Drive) is a disk to store data using a solid element such as flash memory, a device used to replace the conventional hard disk used in computers or mini hard disk used in mobile terminals to be.

이는 상기 기술한 바와 같이 고체 소자를 사용하여 데이터를 저장하므로, 검 색속도가 빠를 뿐만 아니라, 프로그램의 실행속도로 빠르며, 이에 따라 이를 부팅 디스크로 사용 시에는 종래의 하드 디스크에 비하여 부팅시간도 단축되는 장점이 있다. 따라서 집적도가 높아진 메모리의 개발에 따라 급속히 현재의 하드 디스크를 대체할 것으로 보여 진다.Since the data is stored using a solid element as described above, not only is the search speed faster, but also the execution speed of the program is faster, and when it is used as a boot disk, the boot time is shorter than that of a conventional hard disk. It has the advantage of being. Therefore, the development of memory with higher density is expected to replace the current hard disk rapidly.

이와 같은 SSD의 일반적인 예는 도 1에 도시한 바와 같으며, 이는 SSD에 아직 케이스를 결합하지 않은 상태를 나타낸 것이며, 이러한 bare 상태의 SSD는 도시한 바와 같이, PCB, 다수의 플래시 메모리, 제어기, 입출력기 및 연결 커넥터 등으로 구성된다.A general example of such an SSD is shown in FIG. 1, which shows a state in which a case is not yet coupled to the SSD. As shown in FIG. 1, the bare SSD is a PCB, a plurality of flash memories, a controller, It consists of input / output unit and connecting connector.

그런데 이와 같은 SSD의 제작에 있어서, 제작 중 또는 제가 후의 SSD에 대한 다수의 시험이 필수적인 공정인데, 이를 위하여 일반적으로는 SSD의 제작 각 단계별 이송은 SSD를 대량으로 이송하기 위하여 다수의 SSD가 장착이 가능한 이송 트레이에 의하여 이루어지고, 각 공정의 사이의 이송이 상기 이송 트레이에 의하여 이루어진 후에는, 이송 트레이에 담겨진 SSD가 일일이 사람 손에 의하여 수작업으로 테스트를 위한 테스트 트레이나 테스트 보드에 이송되어졌다. 따라서 이와 같은 이송공정으로 인하여 시간 및 비용이 증가하고, 옮겨 담는 과정에서 실수가 발생하면 불량으로 이어지는 문제점이 있었다.By the way, in the manufacture of such SSD, a number of tests on the SSD during or after the production is an essential process, for this purpose, in general, each stage of SSD manufacturing is equipped with a plurality of SSDs to transfer the bulk of the SSD. After the transfer tray is made possible, and the transfer between the processes is performed by the transfer tray, the SSD contained in the transfer tray is manually transferred by hand to a test tray or test board for testing. Therefore, the time and cost increase due to such a transfer process, there is a problem that leads to a failure if a mistake occurs in the process of transport.

또한 이와 같은 문제를 해결하기 위하여 상기 이송 트레이에서 테스트 트레이로의 이송을 별도의 자동화 장치를 통하여 수행하도록 하는 경우도 있으나, 이 경우에는 별도의 고가 장비를 별도 제작하여야 하고, 이를 유지보수 하여야 하는 등의 문제점이 있다.In addition, in order to solve such a problem, the transfer from the transfer tray to the test tray may be performed through a separate automation device, but in this case, a separate expensive equipment must be manufactured separately, and such maintenance must be performed. There is a problem.

따라서 이와 같은 문제점을 해결할 수 있는 시험방법 및 캐리어 구조 개발이 절실히 필요한 실정이다.Therefore, the development of a test method and a carrier structure that can solve these problems is urgently needed.

상기와 같은 종래기술의 문제점을 해결하고자, 본 발명은 하나의 트레이로 이송 트레이의 역할뿐만 아니라, 테스트 트레이의 역할을 모두 수행할 수 있어서, 트레이 활용도를 높일 수 있고, 종래에 이송 트레이와 테스트 트레이를 별도로 사용하는 경우에 시험을 위해서 이송 트레이로부터 테스트 트레이로의 개별적인 SSD이송 작업을 하던 것을 생략할 수 있으므로, 이에 따른 시간 및 비용의 절감할 수 있어서, 생산성을 높일 수 있을 뿐만 아니라, 개별 이송작업에서 발생할 수 있는 오류를 근본적으로 막을 수 있는 SSD용 운반-시험 겸용 트레이를 제공하는 것을 목적으로 한다.In order to solve the problems of the prior art as described above, the present invention can perform both the role of the test tray as well as the transfer tray in one tray, thereby increasing the utilization of the tray, the transfer tray and the test tray in the prior art In the case of using a separate to transfer the individual SSD transfer from the transfer tray to the test tray for the test can be omitted, thereby reducing the time and cost, thereby increasing productivity as well as individual transfer operation It is an object of the present invention to provide a transport-test tray for an SSD that can fundamentally prevent errors that may occur in the system.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은In order to achieve the above object, the present invention

SSD를 장착하도록 상부에서 하부로 관통하는 다수의 삽입홈을 가지는 프레임으로 이루어지고, It consists of a frame having a plurality of insertion grooves penetrating from the top to the bottom to mount the SSD,

상기 삽입홈은,  The insertion groove,

상기 SSD가 상기 프레임의 상부에서 삽입되고 상기 SSD의 하부단자가 외부와 연통가능하게 개방된 개구부와, An opening in which the SSD is inserted at the top of the frame and the lower terminal of the SSD is open to communicate with the outside;

상기 삽입되어진 SSD의 하단이 적어도 상기 프레임의 하면에 위치하도 록 상기 SSD를 지지하는 지지부를 포함하는 것It includes a support for supporting the SSD such that the lower end of the inserted SSD is located at least on the lower surface of the frame

을 특징으로 하는 SSD용 운반-시험 겸용 트레이를 제공한다.It provides a transport-test tray for SSD characterized in that.

또한 본 발명은 Also,

상기 기술한 본 발명의 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 SSD를 담아 운반하는 단계;Carrying the SSD in the carrying-test combined tray for SSD of the present invention as described above;

상기 운반되어진 SSD가 담긴 트레이를 테스트 보드에 정렬하여 결합하는 단계;Aligning and coupling the tray containing the transported SSD to a test board;

트레이에 담기 SSD의 상단을 푸셔(pusher)로 눌러 SSD가 테스트 보드의 소켓에 전기적으로 연결되도록 하는 단계;Pressing the top of the SSD into a tray with a pusher to allow the SSD to be electrically connected to a socket of a test board;

SSD의 시험을 수행하고, 상기 트레이를 테스트 보드로부터 분리하여 트레이 내부의 각 SSD를 한번에 테스트 보드의 소켓으로부터 분리하는 단계; 및, Performing a test of the SSD and separating the tray from the test board to disconnect each SSD in the tray from the socket of the test board at once; And,

SSD가 담긴 분리된 트레이를 이송하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 SSD 운반 및 시험방법을 제공한다.It provides a SSD transport and test method comprising the step of transporting the separated tray containing the SSD.

이외에 본 발명은 In addition to the present invention

상기 SSD 운반 및 시험방법에 적용되는 테스트 보드로서, As a test board applied to the SSD transport and test method,

상기 테스트 보드는 The test board

테스트 보드에 결합하는 상기 트레이의 측면에 위치하고 상기 테스트 보드에 회전가능하게 결합하는 분리 손잡이와, A separation handle positioned on a side of the tray coupled to the test board and rotatably coupled to the test board;

상기 분리 손잡이의 회전축으로부터 트레이 쪽으로 연장하여 상기 트레이의 하면에 접촉하는 이탈 돌출부로 이루어지는 트레이 이탈부를 포함하는 것을 특징으 로 하는 테스트 보드를 제공한다.It provides a test board, characterized in that it comprises a tray release portion extending from the rotation axis of the separation handle toward the tray made of a release protrusion in contact with the lower surface of the tray.

본 발명의 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 따르면, 하나의 트레이로 이송 트레이의 역할뿐만 아니라, 테스트 트레이의 역할을 모두 수행할 수 있어서, 트레이 활용도를 높일 수 있고, 종래에 이송 트레이와 테스트 트레이를 별도로 사용하는 경우에 시험을 위해서 이송 트레이로부터 테스트 트레이로의 개별적인 SSD이송 작업을 하던 것을 생략할 수 있으므로, 이에 따른 시간 및 비용의 절감할 수 있어서, 생산성을 높일 수 있을 뿐만 아니라, 개별 이송작업에서 발생할 수 있는 오류를 근본적으로 막을 수 있는 효과를 얻을 수 있다.According to the transport-test combined tray for SSD of the present invention, it is possible to perform not only the role of the transfer tray but also the test tray as one tray, thereby increasing the utilization of the tray, and conventionally using the transfer tray and the test tray. When used separately, it is possible to omit the individual SSD transfer from the transfer tray to the test tray for the test, thereby saving time and money, thereby increasing productivity and in individual transfer operations. There is an effect that can fundamentally prevent errors that can occur.

이하 본 발명에 대하여 도면을 참고하여 상세하게 설명한다. Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명은 SSD용 운반-시험 겸용 트레이(tray)에 관한 것으로 SSD(Solid State Disk)(5)를 장착하도록 상부에서 하부로 관통하는 다수의 삽입홈(10)을 가지는 프레임(frame)(100)으로 이루어지고, 상기 삽입홈(10)은, 상기 SSD(5)가 상기 프레임(100)의 상부에서 삽입되고 상기 SSD(5)의 하부단자가 외부와 연통가능하게 개방된 개구부(12)와, 상기 삽입되어진 SSD(5)의 하단이 적어도 상기 프레임(100)의 하면에 위치하도록 상기 SSD(5)를 지지하는 지지부(14)를 포함하여 구성되어진다.The present invention relates to a transport-test tray for SSD and has a frame 100 having a plurality of insertion grooves 10 penetrating from the top to the bottom to mount the solid state disk (SSD) 5. The insertion groove 10 includes an opening 12 in which the SSD 5 is inserted in the upper portion of the frame 100 and the lower terminal of the SSD 5 is open to communicate with the outside; It includes a support portion 14 for supporting the SSD 5 so that the lower end of the inserted SSD (5) is located at least on the lower surface of the frame (100).

즉, 본 발명의 SSD용 운반-시험 겸용 트레이는 도 2 내지 도 8에 그 구체적인 실시예들을 도시한 바와 같다.That is, the transport-test combined tray for SSD of the present invention is as shown in the specific embodiments in FIGS.

이에 대한 구체적인 예로 도 2에 도시한 바와 같은 상면 및 하면을 가지는 구조를 들 수 있다.A concrete example thereof may include a structure having an upper surface and a lower surface as shown in FIG. 2.

이는 제작이 간편하고, 저가로 제작할 수 있도록 일체형으로 이를 구성하고, 특히 SSD(Solid State Disk)(5)를 장착하도록 상부에서 하부로 관통하는 다수의 삽입홈(10)을 가지는 프레임(100)으로 형성되며, 상기 삽입홈(10)은, 상기 SSD가 장착된 이후에 트레이에 의하여 이송이 가능하여야 하고, 테스트 보드로의 이송이 이루어진 후에는 테스트도 가능하여야 하므로, 상기 기술한 바와 같이, 상부에서 하부로 관통하는 형상을 가지고, 또한 상기 SSD(5)가 상기 프레임(100)의 상부에서 삽입되고 상기 SSD(5)의 하부단자가 외부와 연통가능하게 개방된 개구부(12)와, 상기 SSD(5)를 지지하는 지지부(14)를 포함하여 구성되어지며, 상기 지지부는 상기 삽입되어진 SSD(5)의 하단이 적어도 상기 프레임(100)의 하면에 위치하도록 하여 SSD가 장착되어진 트레이를 바닥에 놓았을 때, SSD가 빠지지 않고, SSD가 바닥면에 닿아 오염되거나 훼손되는 일이 없도록 한다.It is a frame 100 having a plurality of insertion grooves 10 penetrating downward from the top to mount the solid state disk (SSD) 5, in particular, it is easy to manufacture, and can be manufactured at low cost to manufacture It is formed, the insertion groove 10, after the SSD is mounted must be capable of transport by the tray, and after the transfer to the test board should be possible, as described above, as described above, An opening 12 having a shape penetrating downward, the SSD 5 inserted into an upper portion of the frame 100, and a lower terminal of the SSD 5 open to communicate with the outside; 5) is configured to include a support 14 for supporting the lower end of the inserted SSD (5) is located at least on the lower surface of the frame 100 so that the tray on which the SSD is mounted on the floor When I The SD will not fall out and the SSD will not touch the floor and be contaminated or damaged.

바람직하게는 상기 프레임(100)은 테스트 보드(200)에 프레임(100) 결합시 결합위치를 맞추기 위하여 상기 테스트 보드(200)에 형성된 정렬부(210)에 대응하는 정렬용 결합부(20)를 더 포함하는 것이 좋고, 이를 통하여 트레이가 테스트 보드로 이송된 이후에 테스트 보드의 소켓에 대응되게 SSD를 배치할 수 있도록 한다. 이에 대한 구체적인 예는 도 2 및 도 4 및 도 5에 도시한 바와 같으며, 이에 도시한 바와 같이, 더욱 바람직하게는 상기 정렬부(210)는 돌출핀 형상이고, 상기 정렬용 결합부(20)는 상기 돌출핀에 대응하는 구멍으로 이를 구성하는 것이 이후에 설 명할 다른 정렬부와의 간섭을 줄이고, 정렬을 보다 완전하게 이룰 수 있으므로 좋다.Preferably, the frame 100 has an alignment coupling portion 20 corresponding to the alignment portion 210 formed on the test board 200 to match the coupling position when the frame 100 is coupled to the test board 200. It is preferable to further include, through which the SSD can be arranged to correspond to the socket of the test board after the tray is transferred to the test board. Specific examples thereof are as shown in FIGS. 2 and 4 and 5, and more preferably, the alignment unit 210 has a protruding pin shape, and the alignment coupling unit 20 is illustrated. The configuration of the holes corresponding to the protruding pins may reduce interference with other alignment units, which will be described later, and may achieve more complete alignment.

또한 바람직하게는 상기 삽입홈(10) 내부의 상기 지지부(14)는 상기 삽입홈(10) 양 측면에 형성되는 상부가 개방되고 하부가 막힌 지지 요홈(14)으로 형성되는 것이 좋다. 이에 대한 확대 도시된 도면은 도 3에 도시한 바와 같다. 이를 통하여 삽입된 SSD가 트레이 내에서 정렬이 용이하도록 할 수 있으며, 간단한 구성으로 SSD를 트레이에 걸어 보관할 수 있고, 이후 테스트 보드와의 착탈에 있어서도 용이한 착탈이 가능하게 할 수 있다. 더욱 바람직하게는 도시한 바와 같이, 상기지지 요홈의 하부 끝단은 뾰족하게 테이퍼진 형상을 가져 SSD의 정렬 위치가 요홈 내에서도 특정될 수 있도록 하는 것이 좋다.Also preferably, the support part 14 inside the insertion groove 10 may be formed as a support groove 14 having an upper portion formed at both sides of the insertion groove 10 and a lower portion thereof being blocked. An enlarged view of this is shown in FIG. 3. Through this, the inserted SSD can be easily aligned in the tray, the SSD can be stored on the tray in a simple configuration, and can be easily attached and detached in the subsequent detachment from the test board. More preferably, as shown, the lower end of the support groove has a sharply tapered shape so that the alignment position of the SSD can be specified even in the groove.

또한 상기 프레임은 트레이에 SSD가 장착된 상태에서 다수의 트레이를 상부로 적층하여 공간 활용도를 높일 수 있도록 하며, 이와 같은 적층이 안정되고, 상하로 적층된 SSD 사이에 서로 간섭이 없도록 하기 위하여, 상기 프레임(100)은, 도 2에 그 구체적인 예를 도시한 바와 같이, 상면에, 상기 SSD용 운반-시험 겸용 트레이 적층시, 트레이의 위치정렬을 위한 상면 트레이 정렬부(30)를 가지고, 하면에 상기 상면 트레이 정렬부(30)에 대응하는 하면 트레이 정렬용 결합(40)부를 가지고, 상기 상면 트레이 정렬부(30) 또는 상기 하면 트레이 정렬용 결합부(40)는 적어도 상기 SSD가 상기 삽입홈(10)에 장착된 경우의 상부 돌출 높이로 상기 트레이의 적층간격을 이격하는 상기 프레임(100)의 표면으로부터 돌출되는 돌출부(50) 상에 형성되는 구성을 더 가질 수 있다.In addition, the frame is to stack a plurality of trays in the upper state in the state that the SSD is mounted on the tray to increase the space utilization, such that the stacking is stable, so as not to interfere with each other between the vertically stacked SSD, As shown in FIG. 2, the frame 100 has a top tray aligning portion 30 for aligning the trays on the top surface of the SSD. The upper tray aligning portion 30 corresponding to the upper tray aligning portion 30, the upper tray aligning portion 30 or the lower tray aligning portion 40 is at least the SSD is the insertion groove ( 10 may further have a configuration formed on the protrusion 50 protruding from the surface of the frame 100 spaced apart from the stacking interval of the tray at the height of the upper protrusion when mounted on the 10).

상기 상면 트레이 정렬부(30)와 이에 대응되는 상기 하면 트레이 정렬용 결합부(40)는 도시한 바와 같이 수평이동이 한정되게 형성되는 요부와 돌부로 구성할 수도 있고, 이외의 다양한 정렬기구를 이에 적용할 수도 있다. 또한 적층되는 트레이는 트레이의 상부로 노출되는 SSD의 보호를 위하여 상부로 노출되는 높이이상으로 수직 간격을 이격하는 것이 요구되어지므로 이를 위하여 돌출부를 가지는데, 이는 도시한 바와 같이 상면으로만 돌출부를 가질 수도 있고, 하면으로만 돌출부를 가질 수도 있으며, 상면 및 하면에 일부씩 돌출부를 가져 전체 돌출부의 돌출량이 요구되어지는 이격간격을 확보하도록 할 수도 있다.The upper tray alignment unit 30 and the lower tray alignment coupling portion 40 corresponding thereto may be formed of recesses and protrusions having a limited horizontal movement, as shown in FIG. You can also apply. In addition, since the stacked trays are required to be spaced apart vertically above the height exposed to the upper part for the protection of the SSD exposed to the upper part of the tray, the trays have protrusions for this purpose. It may also have a protrusion only on the lower surface, and may have a protrusion on the upper surface and the lower surface partly so as to secure a spaced interval in which the protrusion amount of the entire protrusion is required.

이와 같은 본 발명의 트레이를 활용하여 이송 및 테스트를 모두 진행할 수 있는 방법은 아래와 같다. 즉, 상기 기술한 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 SSD를 담아 운반하는 단계, 상기 운반되어진 SSD가 담긴 트레이를 테스트 보드(200)에 정렬하여 결합하는 단계, 트레이에 담기 SSD의 상단을 푸셔(300)로 눌러 SSD가 테스트 보드(200)의 소켓(250)에 전기적으로 연결되도록 하는 단계, SSD의 시험을 수행하고, 상기 트레이를 테스트 보드(200)로부터 분리하여 트레이 내부의 각 SSD를 한번에 테스트 보드(200)의 소켓(250)으로부터 분리하는 단계 및, SSD가 담긴 분리된 트레이를 이송하는 단계를 포함하여 구성되어지는 SSD 운반 및 시험방법이다.Using the tray of the present invention as described above is a method that can proceed both transfer and test. That is, the step of carrying the SSD in the transport-test tray for the SSD described above, aligning and combining the tray containing the transported SSD to the test board 200, push the top of the SSD in the tray pusher 300 Press to allow the SSD to be electrically connected to the socket 250 of the test board 200, perform a test of the SSD, and remove the tray from the test board 200 to release each SSD in the tray at a time. Disconnecting from the socket 250 of the 200, and the SSD transport and test method comprising a step of transporting the separated tray containing the SSD.

이에 대한 구체적인 예는 도 5에 도시한 바와 같다. 즉, 도 5에는 SSD를 장착하는 삽입홈을 가로로 절단한 형태를 도시한 것으로, 먼저 SSD는 프레임(10)의 삽입홈(10)에 상부로부터 삽입되고, 삽입 중에 지지부(14)에 의하여 삽입을 멈추고 프레임 내에 지지되어 이동이 가능해진 상태가 된다. 이는 이송기능을 수행하여 테스트 보드로 이송되어지고, 테스트 보드의 정렬부(210)에 끼워지는 프레임의 정렬용 결합부(20)에 의하여 정해진 위치에서 트레이와 테스트 보드(200)가 결합하게 된다. 이는 도 4에 도시한 바와 같은 테스트 보드(200)에 도 4의 좌측에 도시한 트레이가 결합하는 경우와 유사하다. 이때 SSD는 테스트 보드(200)의 소켓(250)에 밀려 위로 올라가게 되고, 이와 같이 위로 밀려 올라간 SSD(5)를 푸셔(300)로 누르게 되면, SSD는 다시 밀려 내려와 소켓에 끼워져 전기적으로 연결된다. (이에 대한 다른 예는 도 6에 도시한 바와 같으며, 이와 같이 결합된 형태의 측단면은 도 7에 그 구체적인 예를 도시한 바와 같다.) 이후에 SSD에 대한 시험이 테스트 보드에 의하여 이루어지게 되고, 이후에 트레이를 상부로 분리하면 지지부에 밀려 SSD도 트레이와 함께 분리되어 다음 단계로 이송되어진다.A specific example thereof is as shown in FIG. 5. That is, FIG. 5 illustrates a form in which the insertion groove for mounting the SSD is cut horizontally. First, the SSD is inserted into the insertion groove 10 of the frame 10 from the top, and is inserted by the support 14 during insertion. It stops and is supported in the frame, and the state is enabled. This is transferred to the test board by performing a transfer function, and the tray and the test board 200 are coupled at a predetermined position by the coupling coupling unit 20 of the frame fitted to the alignment unit 210 of the test board. This is similar to the case where the tray shown on the left side of FIG. 4 is coupled to the test board 200 as shown in FIG. 4. At this time, the SSD is pushed up by the socket 250 of the test board 200, and when the pushed up SSD 5 is pushed up by the pusher 300, the SSD is pushed down again and inserted into the socket to be electrically connected. . (Another example of this is shown in FIG. 6, and the side cross-section of the combined shape is shown in FIG. 7 as a specific example.) Thereafter, the test on the SSD is performed by the test board. After that, when the tray is separated upward, the tray is pushed to the support unit and the SSD is separated together with the tray and transferred to the next step.

바람직하게는 상기 테스트 보드의 소켓과 결합한 상태의 SSD는 테스트 보드의 트레이 이탈부를 통하여 보다 쉽게 분리될 수 있다. 즉, 상기 SSD 운반 및 시험방법에 적용되는 테스트 보드(200)로서, 상기 테스트 보드(200)는 바람직하게는 테스트 보드(200)에 결합하는 상기 트레이의 측면에 위치하고 상기 테스트 보드(200)에 회전가능하게 결합하는 분리 손잡이(220)와, 상기 분리 손잡이(220)의 회전축(230)으로부터 트레이 쪽으로 연장하여 상기 트레이의 하면에 접촉하는 이탈 돌출부(240)로 이루어지는 트레이 이탈부를 포함하는 것이 좋다. 이를 통하여 다수의 SSD가 다수의 소켓에 결합한 상태의 트레이를 지렛대 원리를 이용하여 쉽게 일거에 분리할 수 있다. 이에 대한 구체적인 예는 도 8에 도시한 바와 같다. 즉, 푸셔(300)로 밀러 SSD를 삽입하여 시험을 완료하고, 트레이 이탈부의 분리 손잡이 를 돌려 회전축에 의하여 연결된 이탈 돌출부가 SSD를 포함하는 트레이 전체를 아래에서 들어 올리도록 할 수 있다. 상기 트레이 이탈부의 다른 실시예는 도 4 및 도 6에 도시한 바와 같다.Preferably, the SSD coupled to the socket of the test board can be more easily separated through the tray leaving part of the test board. That is, as a test board 200 applied to the SSD transport and test method, the test board 200 is preferably located on the side of the tray coupled to the test board 200 and rotated on the test board 200. It is preferable to include a tray release portion consisting of a separation handle 220 to be coupled to each other, and a separation protrusion 240 extending from the rotary shaft 230 of the separation handle 220 toward the tray to contact the bottom surface of the tray. Through this, a tray in which a plurality of SSDs are coupled to a plurality of sockets can be easily separated using the lever principle. A specific example thereof is as shown in FIG. 8. That is, the Miller SSD may be inserted into the pusher 300 to complete the test, and the release protrusion connected by the rotation shaft may be lifted from the bottom of the tray including the SSD by turning the separating knob of the tray leaving portion. Another embodiment of the tray leaving part is as shown in FIGS. 4 and 6.

또한 이를 위하여 바람직하게는 도 2 또는 도 8에 도시한 바와 같이, 상기 프레임은 하면의 일부분에 상기 이탈 돌출부에 대응하는 이탈 돌출부 접촉면(60)을 더 구비할 수 있으며, 이는 도시한 바와 같이 오목면으로 이를 구성하는 것이 좋다. 이를 통하여 이탈 돌출부의 안착을 유도하고, 안정적인 이탈이 이루어지도록 할 수 있다.Also, for this purpose, as shown in FIG. 2 or 8, the frame may further include a release protrusion contact surface 60 corresponding to the release protrusion at a portion of the bottom surface, which is a concave surface as shown. It is good to configure this. This may induce the mounting of the separation protrusion, it is possible to achieve a stable separation.

이외에 도 4 및 도 6에 그 구체적인 예를 도시한 바와 같이, 상기 테스트 보드(200)는 상기 테스트 보드(200)에 탈착가능하게 결합하는 정렬부(210)를 더 포함하는 것이 바람직하다. 이를 통하여 소켓 구조는 동일하거나 공용으로 사용이 가능하지만, PCB의 크기가 달라 다른 트레이를 적용하여야 하는 다른 사양의 SSD용 트레이에 대해서도 동일한 테스트 보드를 사용하게 할 수 있다. 즉, 단순히 정렬부를 옮겨 부착하는 것만으로 다양한 다른 종류의 트레이가 적용가능하게 할 수 있다.4 and 6, the test board 200 may further include an alignment unit 210 detachably coupled to the test board 200. Through this, the socket structure can be the same or used in common, but the same test board can be used for the trays for SSDs of different specifications that require different trays due to different PCB sizes. That is, various other kinds of trays can be applied simply by simply attaching and aligning the alignment portion.

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의하여 한정되는 것은 아니고, 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 해당 기술분야의 당업자가 다양하게 수정 및 변경시킨 것 또한 본 발명의 범위 내에 포함됨은 물론이다.The present invention described above is not limited to the above-described embodiment and the accompanying drawings, and various modifications and changes made by those skilled in the art without departing from the spirit and scope of the present invention described in the claims below. Changes are also included within the scope of the invention.

도 1은 일반적인 케이스 결합전의 bare SSD의 일예를 촬영한 사진이다.1 is a photograph of an example of a bare SSD before general case coupling.

도 2는 본 발명의 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 대한 일 실시예의 상면 사시도 및 하면 사시도를 각각 도시한 도면이다.2 is a top perspective view and a bottom perspective view, respectively, of an embodiment of a transport-test combined tray for an SSD of the present invention.

도 3은 본 발명의 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 대한 일 실시예의 상면 사 시도 및 이의 일부 확대도를 각각 도시한 도면이다.3 is a diagram illustrating a top view of one embodiment and a partially enlarged view of an embodiment of a transport-test combined tray for an SSD of the present invention, respectively.

도 4는 본 발명의 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 대한 일 실시예에 SSD를 장착한 사시도 및 이와 결합하는 본 발명의 테스트 보드에 대한 일 실시예의 사시도를 각각 도시한 도면이다.Figure 4 is a perspective view of an embodiment of the SSD mounting board and the test board of the present invention in combination with one embodiment of the transport-test combined tray for SSD of the present invention, respectively.

도 5는 본 발명의 SSD용 운반-시험 겸용 트레이와, 이와 결합하는 본 발명의 테스트 보드의 작동예를 간략히 도시한 부분 단면도 도면이다.5 is a partial cross-sectional view briefly showing an example of operation of the transport-test combiner tray for the SSD of the present invention and the test board of the present invention in combination therewith;

도 6은 본 발명의 SSD를 장착한 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 대한 일 실시예를 본 발명의 테스트 보드에 대한 일 실시예에 결합한 상태의 사시도를 도시한 도면이다.FIG. 6 is a diagram illustrating a perspective view of an embodiment of a transport-test tray for an SSD equipped with the SSD of the present invention, coupled to an embodiment of the test board of the present invention.

도 7은 도 6에 도시한 도면의 부분 단면도를 확대 도시한 도면이다.7 is an enlarged partial cross-sectional view of the drawing illustrated in FIG. 6.

도 8은 본 발명의 SSD용 운반-시험 겸용 트레이와, 이와 결합하는 본 발명의 테스트 보드의 다른 착탈예를 간략히 도시한 부분 단면도 도면이다.FIG. 8 is a partial cross-sectional view briefly showing another detachment example of the transport test tray for SSD of the present invention and the test board of the present invention in combination therewith; FIG.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

5: SSD 10: 삽입홈5: SSD 10: slot

12: 개구부 14: 지지부(지지 요홈)12: opening 14: support (support groove)

20: 정렬용 결합부 30: 상면 트레이 정렬부20: engaging portion for alignment 30: upper tray alignment portion

40: 하면 트레이 정렬용 결합부 50: 돌출부40: engaging portion for bottom tray alignment 50: protrusion

100: 프레임 200: 테스트 보드100: frame 200: test board

210: 정렬부 220: 분리 손잡이210: alignment unit 220: separation handle

230: 회전축 240: 이탈 돌출부230: axis of rotation 240: departure protrusion

250: 소켓 300: 푸셔(Pusher)250: socket 300: pusher

Claims (6)

SSD를 장착하도록 상부에서 하부로 관통하는 다수의 삽입홈을 가지는 프레임으로 이루어지고, It consists of a frame having a plurality of insertion grooves penetrating from the top to the bottom to mount the SSD, 상기 삽입홈은,  The insertion groove, 상기 SSD가 상기 프레임의 상부에서 삽입되고 상기 SSD의 하부단자가 외부와 연통가능하게 개방된 개구부와, An opening in which the SSD is inserted at the top of the frame and the lower terminal of the SSD is open to communicate with the outside; 상기 삽입되어진 SSD의 하단이 적어도 상기 프레임의 하면에 위치하도록 상기 SSD를 지지하는 지지부를 포함하는 것It includes a support for supporting the SSD so that the lower end of the inserted SSD is located at least on the lower surface of the frame 을 특징으로 하는 SSD용 운반-시험 겸용 트레이.Transport-test tray for SSD characterized in that. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 프레임은 The frame is 테스트 보드에 프레임 결합시 결합위치를 맞추기 위하여 상기 테스트 보드에 형성된 정렬부에 대응하는 정렬용 결합부를 더 포함하고, Further comprising an alignment coupling portion corresponding to the alignment portion formed on the test board to match the coupling position when the frame is coupled to the test board, 상기 삽입홈 내부의 상기 지지부는 상기 삽입홈 양 측면에 형성되는 상부가 개방되고 하부가 막힌 지지 요홈으로 형성되는 것을 특징으로 하는 SSD용 운반-시험 겸용 트레이.The support part inside the insertion groove is a transport-test tray for SSD, characterized in that the upper side formed on both sides of the insertion groove is formed as a support groove is blocked open. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 정렬부는 돌출핀 형상이고, The alignment portion is a protrusion pin shape, 상기 정렬용 결합부는 상기 돌출핀에 대응하는 구멍이고, The coupling portion is a hole corresponding to the protruding pin, 상기 프레임은, The frame, 상면에, 상기 SSD용 운반-시험 겸용 트레이 적층시, 트레이의 위치정렬을 위한 상면 트레이 정렬부를 가지고, On the upper surface, when stacking the transport-test combined tray for SSD, having a top tray alignment for alignment of the tray, 하면에 상기 상면 트레이 정렬부에 대응하는 하면 트레이 정렬용 결합부를 가지고, A lower surface tray alignment coupling portion corresponding to the upper surface tray alignment portion on a lower surface thereof, 상기 상면 트레이 정렬부 또는 상기 하면 트레이 정렬용 결합부는 적어도 상기 SSD가 상기 삽입홈에 장착된 경우의 상부 돌출 높이로 상기 트레이의 적층간격을 이격하는 상기 프레임의 표면으로부터 돌출되는 돌출부 상에 형성되는 것을 특징으로 하는 SSD용 운반-시험 겸용 트레이.The upper tray alignment portion or the lower tray alignment coupling portion is formed on a protrusion protruding from the surface of the frame spaced apart from the stacking interval of the tray at least at the upper protrusion height when the SSD is mounted in the insertion groove. Characteristic carrying-on tray for SSD. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항의 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 SSD를 담아 운반하는 단계;Carrying the SSD in the transport-test combined tray for SSD according to any one of claims 1 to 3; 상기 운반되어진 SSD가 담긴 트레이를 테스트 보드에 정렬하여 결합하는 단계;Aligning and coupling the tray containing the transported SSD to a test board; 트레이에 담기 SSD의 상단을 푸셔로 눌러 SSD가 테스트 보드의 소켓에 전기적으로 연결되도록 하는 단계;Pressing the top of the SSD into the tray so that the SSD is electrically connected to the socket of the test board; SSD의 시험을 수행하고, 상기 트레이를 테스트 보드로부터 분리하여 트레이 내부의 각 SSD를 한번에 테스트 보드의 소켓으로부터 분리하는 단계; 및, Performing a test of the SSD and separating the tray from the test board to disconnect each SSD in the tray from the socket of the test board at once; And, SSD가 담긴 분리된 트레이를 이송하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 SSD 운반 및 시험방법.SSD transport and test method comprising the step of transporting the separated tray containing the SSD. 제4항의 SSD 운반 및 시험방법에 적용되는 테스트 보드로서, A test board applied to the SSD transport and test method of claim 4, 상기 테스트 보드는 The test board 테스트 보드에 결합하는 상기 트레이의 측면에 위치하고 상기 테스트 보드에 회전가능하게 결합하는 분리 손잡이와, A separation handle positioned on a side of the tray coupled to the test board and rotatably coupled to the test board; 상기 분리 손잡이의 회전축으로부터 트레이 쪽으로 연장하여 상기 트레이의 하면에 접촉하는 이탈 돌출부로 이루어지는 트레이 이탈부를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 보드.And a tray detachment part formed from the rotation axis of the separation knob toward the tray and including a release protrusion contacting the bottom surface of the tray. 제5항에 있어서, The method of claim 5, 상기 테스트 보드는 The test board 상기 테스트 보드에 탈착가능하게 결합하는 정렬부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 보드.And an alignment part detachably coupled to the test board.
KR1020090087721A 2009-09-16 2009-09-16 Tray for ssd used in both carriage and test KR101030227B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020090087721A KR101030227B1 (en) 2009-09-16 2009-09-16 Tray for ssd used in both carriage and test

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020090087721A KR101030227B1 (en) 2009-09-16 2009-09-16 Tray for ssd used in both carriage and test

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20110029869A KR20110029869A (en) 2011-03-23
KR101030227B1 true KR101030227B1 (en) 2011-04-22

Family

ID=43935701

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020090087721A KR101030227B1 (en) 2009-09-16 2009-09-16 Tray for ssd used in both carriage and test

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101030227B1 (en)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102083489B1 (en) 2013-09-17 2020-03-03 삼성전자 주식회사 automatic module apparatus for manufacturing solid state drive(SSD)
KR102248594B1 (en) 2014-04-07 2021-05-06 삼성에스디아이 주식회사 Electrode terminal and battery module including the same
KR102091826B1 (en) * 2014-06-17 2020-03-20 에스케이이노베이션 주식회사 Tray for loading battery cell
KR102273777B1 (en) 2014-08-08 2021-07-06 삼성에스디아이 주식회사 Secondary battery and secondary battery module having the same
KR101712661B1 (en) * 2015-07-22 2017-03-07 주식회사 아테코 Ssd test board guide apparatus and ssd guide apparatus
KR200486185Y1 (en) * 2016-03-15 2018-04-11 주식회사 대성엔지니어링 Magazine for Testing Solid State Drive
KR102479345B1 (en) * 2020-11-19 2022-12-20 주식회사 네오셈 Manual jig and SSD test apparatus using it

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200432735Y1 (en) 2006-09-22 2006-12-06 (주)맥스 Examination apparatus for hard disk drive

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200432735Y1 (en) 2006-09-22 2006-12-06 (주)맥스 Examination apparatus for hard disk drive

Also Published As

Publication number Publication date
KR20110029869A (en) 2011-03-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101030227B1 (en) Tray for ssd used in both carriage and test
US8753146B1 (en) Universal test connector for connecting a SATA or USB data storage device to a data storage device tester
KR101101273B1 (en) One touch eject device of memory module test socket
US9236678B2 (en) Contact terminal for card socket
US8616907B2 (en) Test socket for testing electrical characteristics of a memory module
US20140235107A1 (en) Memory socket with special contact mechanism
JP3940979B2 (en) Socket type module test equipment
US20090218120A1 (en) Printed circuit board, electronic device and connector
JP2010202392A (en) Ic automatic handler
KR101350606B1 (en) Insert assembly
US9578775B2 (en) LGA socket terminal damage prevention
KR100989025B1 (en) Socket device for solid state disk
JP6400984B2 (en) Socket device for semiconductor device inspection
KR100795490B1 (en) Carrier Module for Semiconductor Test Handler
KR102243278B1 (en) handler and management method of the same
JP2015040859A (en) System and method for assembling probe head
KR20130016466A (en) Semiconductor package
KR102287237B1 (en) Insert assembly for receiving semiconductor device and test tray including the same
KR102369323B1 (en) Test head for testing semiconductor devices
KR20080045877A (en) A jig for memory-module test
KR101279019B1 (en) Socket adapter
KR100919394B1 (en) Socket apparatus for a Solid State Disk
KR101283639B1 (en) Modulr socket capable of protecting module and socket pin
KR100925991B1 (en) Socket Apparatus for A Solid State Disk
KR100704002B1 (en) Module test socket

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140408

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160406

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170413

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190415

Year of fee payment: 9