KR101030227B1 - Tray for ssd used in both carriage and test - Google Patents
Tray for ssd used in both carriage and test Download PDFInfo
- Publication number
- KR101030227B1 KR101030227B1 KR1020090087721A KR20090087721A KR101030227B1 KR 101030227 B1 KR101030227 B1 KR 101030227B1 KR 1020090087721 A KR1020090087721 A KR 1020090087721A KR 20090087721 A KR20090087721 A KR 20090087721A KR 101030227 B1 KR101030227 B1 KR 101030227B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- tray
- ssd
- test
- test board
- frame
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2884—Testing of integrated circuits [IC] using dedicated test connectors, test elements or test circuits on the IC under test
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
- G01R31/2865—Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
- G01R31/2867—Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2893—Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Packaging Frangible Articles (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
본 발명은 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 관한 것으로, 특히 SSD를 장착하도록 상부에서 하부로 관통하는 다수의 삽입홈을 가지는 프레임으로 이루어지고, 상기 삽입홈은, 상기 SSD가 상기 프레임의 상부에서 삽입되고 상기 SSD의 하부단자가 외부와 연통가능하게 개방된 개구부와, 상기 삽입되어진 SSD의 하단이 적어도 상기 프레임의 하면에 위치하도록 상기 SSD를 지지하는 지지부를 포함하는 것을 특징으로 하는 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 관한 것이다.The present invention relates to a transport-test tray for an SSD, and more particularly, to a frame having a plurality of insertion grooves penetrating from the top to the bottom to mount the SSD, wherein the insertion groove is inserted in the upper portion of the frame And an opening in which the lower terminal of the SSD is open to communicate with the outside, and a support for supporting the SSD such that the lower end of the inserted SSD is located at least on the lower surface of the frame. It is about a combined tray.
이를 통하여 하나의 트레이로 이송 트레이의 역할뿐만 아니라, 테스트 트레이의 역할을 모두 수행할 수 있어서, 트레이 활용도를 높일 수 있고, 종래에 이송 트레이와 테스트 트레이를 별도로 사용하는 경우에 시험을 위해서 이송 트레이로부터 테스트 트레이로의 개별적인 SSD이송 작업을 하던 것을 생략할 수 있으므로, 이에 따른 시간 및 비용의 절감할 수 있어서, 생산성을 높일 수 있을 뿐만 아니라, 개별 이송작업에서 발생할 수 있는 오류를 근본적으로 막을 수 있는 효과가 있다.Through this, it is possible to perform both the role of the test tray as well as the transfer tray to one tray, thereby increasing the utilization of the tray, and when using the transfer tray and the test tray separately from the transfer tray for testing. By eliminating individual SSD transfers to the test tray, you can save time and money, thereby increasing productivity and fundamentally preventing errors that can occur in individual transfers. There is.
SSD, 트레이, 테스트 SSD, tray, test
Description
본 발명은 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 하나의 트레이로 이송 트레이의 역할뿐만 아니라, 테스트 트레이의 역할을 모두 수행할 수 있어서, 트레이 활용도를 높일 수 있고, 종래에 이송 트레이와 테스트 트레이를 별도로 사용하는 경우에 시험을 위해서 이송 트레이로부터 테스트 트레이로의 개별적인 SSD이송 작업을 하던 것을 생략할 수 있으므로, 이에 따른 시간 및 비용의 절감할 수 있어서, 생산성을 높일 수 있을 뿐만 아니라, 개별 이송작업에서 발생할 수 있는 오류를 근본적으로 막을 수 있는 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 관한 것이다.The present invention relates to a transport-test tray for SSD, and more particularly, it can perform not only the role of the transfer tray but also the test tray in one tray, thereby increasing the utilization of the tray, When using the tray and the test tray separately, it is possible to omit the separate SSD transfer from the transfer tray to the test tray for the test, thereby saving time and costs, thereby increasing productivity. The present invention relates to a transport-test tray for SSD, which can fundamentally prevent errors that may occur in individual transfer operations.
SSD(Solid State Disk 또는 Solid State Drive)는 플래시 메모리와 같은 고체 소자를 사용하여 데이터를 저장하는 디스크로서, 종래에 컴퓨터 사용되는 하드디스크나 이동 단말기에 사용되는 미니 하드 디스크를 대체하기 위해 사용되는 디바이스이다.SSD (Solid State Disk or Solid State Drive) is a disk to store data using a solid element such as flash memory, a device used to replace the conventional hard disk used in computers or mini hard disk used in mobile terminals to be.
이는 상기 기술한 바와 같이 고체 소자를 사용하여 데이터를 저장하므로, 검 색속도가 빠를 뿐만 아니라, 프로그램의 실행속도로 빠르며, 이에 따라 이를 부팅 디스크로 사용 시에는 종래의 하드 디스크에 비하여 부팅시간도 단축되는 장점이 있다. 따라서 집적도가 높아진 메모리의 개발에 따라 급속히 현재의 하드 디스크를 대체할 것으로 보여 진다.Since the data is stored using a solid element as described above, not only is the search speed faster, but also the execution speed of the program is faster, and when it is used as a boot disk, the boot time is shorter than that of a conventional hard disk. It has the advantage of being. Therefore, the development of memory with higher density is expected to replace the current hard disk rapidly.
이와 같은 SSD의 일반적인 예는 도 1에 도시한 바와 같으며, 이는 SSD에 아직 케이스를 결합하지 않은 상태를 나타낸 것이며, 이러한 bare 상태의 SSD는 도시한 바와 같이, PCB, 다수의 플래시 메모리, 제어기, 입출력기 및 연결 커넥터 등으로 구성된다.A general example of such an SSD is shown in FIG. 1, which shows a state in which a case is not yet coupled to the SSD. As shown in FIG. 1, the bare SSD is a PCB, a plurality of flash memories, a controller, It consists of input / output unit and connecting connector.
그런데 이와 같은 SSD의 제작에 있어서, 제작 중 또는 제가 후의 SSD에 대한 다수의 시험이 필수적인 공정인데, 이를 위하여 일반적으로는 SSD의 제작 각 단계별 이송은 SSD를 대량으로 이송하기 위하여 다수의 SSD가 장착이 가능한 이송 트레이에 의하여 이루어지고, 각 공정의 사이의 이송이 상기 이송 트레이에 의하여 이루어진 후에는, 이송 트레이에 담겨진 SSD가 일일이 사람 손에 의하여 수작업으로 테스트를 위한 테스트 트레이나 테스트 보드에 이송되어졌다. 따라서 이와 같은 이송공정으로 인하여 시간 및 비용이 증가하고, 옮겨 담는 과정에서 실수가 발생하면 불량으로 이어지는 문제점이 있었다.By the way, in the manufacture of such SSD, a number of tests on the SSD during or after the production is an essential process, for this purpose, in general, each stage of SSD manufacturing is equipped with a plurality of SSDs to transfer the bulk of the SSD. After the transfer tray is made possible, and the transfer between the processes is performed by the transfer tray, the SSD contained in the transfer tray is manually transferred by hand to a test tray or test board for testing. Therefore, the time and cost increase due to such a transfer process, there is a problem that leads to a failure if a mistake occurs in the process of transport.
또한 이와 같은 문제를 해결하기 위하여 상기 이송 트레이에서 테스트 트레이로의 이송을 별도의 자동화 장치를 통하여 수행하도록 하는 경우도 있으나, 이 경우에는 별도의 고가 장비를 별도 제작하여야 하고, 이를 유지보수 하여야 하는 등의 문제점이 있다.In addition, in order to solve such a problem, the transfer from the transfer tray to the test tray may be performed through a separate automation device, but in this case, a separate expensive equipment must be manufactured separately, and such maintenance must be performed. There is a problem.
따라서 이와 같은 문제점을 해결할 수 있는 시험방법 및 캐리어 구조 개발이 절실히 필요한 실정이다.Therefore, the development of a test method and a carrier structure that can solve these problems is urgently needed.
상기와 같은 종래기술의 문제점을 해결하고자, 본 발명은 하나의 트레이로 이송 트레이의 역할뿐만 아니라, 테스트 트레이의 역할을 모두 수행할 수 있어서, 트레이 활용도를 높일 수 있고, 종래에 이송 트레이와 테스트 트레이를 별도로 사용하는 경우에 시험을 위해서 이송 트레이로부터 테스트 트레이로의 개별적인 SSD이송 작업을 하던 것을 생략할 수 있으므로, 이에 따른 시간 및 비용의 절감할 수 있어서, 생산성을 높일 수 있을 뿐만 아니라, 개별 이송작업에서 발생할 수 있는 오류를 근본적으로 막을 수 있는 SSD용 운반-시험 겸용 트레이를 제공하는 것을 목적으로 한다.In order to solve the problems of the prior art as described above, the present invention can perform both the role of the test tray as well as the transfer tray in one tray, thereby increasing the utilization of the tray, the transfer tray and the test tray in the prior art In the case of using a separate to transfer the individual SSD transfer from the transfer tray to the test tray for the test can be omitted, thereby reducing the time and cost, thereby increasing productivity as well as individual transfer operation It is an object of the present invention to provide a transport-test tray for an SSD that can fundamentally prevent errors that may occur in the system.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은In order to achieve the above object, the present invention
SSD를 장착하도록 상부에서 하부로 관통하는 다수의 삽입홈을 가지는 프레임으로 이루어지고, It consists of a frame having a plurality of insertion grooves penetrating from the top to the bottom to mount the SSD,
상기 삽입홈은, The insertion groove,
상기 SSD가 상기 프레임의 상부에서 삽입되고 상기 SSD의 하부단자가 외부와 연통가능하게 개방된 개구부와, An opening in which the SSD is inserted at the top of the frame and the lower terminal of the SSD is open to communicate with the outside;
상기 삽입되어진 SSD의 하단이 적어도 상기 프레임의 하면에 위치하도 록 상기 SSD를 지지하는 지지부를 포함하는 것It includes a support for supporting the SSD such that the lower end of the inserted SSD is located at least on the lower surface of the frame
을 특징으로 하는 SSD용 운반-시험 겸용 트레이를 제공한다.It provides a transport-test tray for SSD characterized in that.
또한 본 발명은 Also,
상기 기술한 본 발명의 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 SSD를 담아 운반하는 단계;Carrying the SSD in the carrying-test combined tray for SSD of the present invention as described above;
상기 운반되어진 SSD가 담긴 트레이를 테스트 보드에 정렬하여 결합하는 단계;Aligning and coupling the tray containing the transported SSD to a test board;
트레이에 담기 SSD의 상단을 푸셔(pusher)로 눌러 SSD가 테스트 보드의 소켓에 전기적으로 연결되도록 하는 단계;Pressing the top of the SSD into a tray with a pusher to allow the SSD to be electrically connected to a socket of a test board;
SSD의 시험을 수행하고, 상기 트레이를 테스트 보드로부터 분리하여 트레이 내부의 각 SSD를 한번에 테스트 보드의 소켓으로부터 분리하는 단계; 및, Performing a test of the SSD and separating the tray from the test board to disconnect each SSD in the tray from the socket of the test board at once; And,
SSD가 담긴 분리된 트레이를 이송하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 SSD 운반 및 시험방법을 제공한다.It provides a SSD transport and test method comprising the step of transporting the separated tray containing the SSD.
이외에 본 발명은 In addition to the present invention
상기 SSD 운반 및 시험방법에 적용되는 테스트 보드로서, As a test board applied to the SSD transport and test method,
상기 테스트 보드는 The test board
테스트 보드에 결합하는 상기 트레이의 측면에 위치하고 상기 테스트 보드에 회전가능하게 결합하는 분리 손잡이와, A separation handle positioned on a side of the tray coupled to the test board and rotatably coupled to the test board;
상기 분리 손잡이의 회전축으로부터 트레이 쪽으로 연장하여 상기 트레이의 하면에 접촉하는 이탈 돌출부로 이루어지는 트레이 이탈부를 포함하는 것을 특징으 로 하는 테스트 보드를 제공한다.It provides a test board, characterized in that it comprises a tray release portion extending from the rotation axis of the separation handle toward the tray made of a release protrusion in contact with the lower surface of the tray.
본 발명의 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 따르면, 하나의 트레이로 이송 트레이의 역할뿐만 아니라, 테스트 트레이의 역할을 모두 수행할 수 있어서, 트레이 활용도를 높일 수 있고, 종래에 이송 트레이와 테스트 트레이를 별도로 사용하는 경우에 시험을 위해서 이송 트레이로부터 테스트 트레이로의 개별적인 SSD이송 작업을 하던 것을 생략할 수 있으므로, 이에 따른 시간 및 비용의 절감할 수 있어서, 생산성을 높일 수 있을 뿐만 아니라, 개별 이송작업에서 발생할 수 있는 오류를 근본적으로 막을 수 있는 효과를 얻을 수 있다.According to the transport-test combined tray for SSD of the present invention, it is possible to perform not only the role of the transfer tray but also the test tray as one tray, thereby increasing the utilization of the tray, and conventionally using the transfer tray and the test tray. When used separately, it is possible to omit the individual SSD transfer from the transfer tray to the test tray for the test, thereby saving time and money, thereby increasing productivity and in individual transfer operations. There is an effect that can fundamentally prevent errors that can occur.
이하 본 발명에 대하여 도면을 참고하여 상세하게 설명한다. Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
본 발명은 SSD용 운반-시험 겸용 트레이(tray)에 관한 것으로 SSD(Solid State Disk)(5)를 장착하도록 상부에서 하부로 관통하는 다수의 삽입홈(10)을 가지는 프레임(frame)(100)으로 이루어지고, 상기 삽입홈(10)은, 상기 SSD(5)가 상기 프레임(100)의 상부에서 삽입되고 상기 SSD(5)의 하부단자가 외부와 연통가능하게 개방된 개구부(12)와, 상기 삽입되어진 SSD(5)의 하단이 적어도 상기 프레임(100)의 하면에 위치하도록 상기 SSD(5)를 지지하는 지지부(14)를 포함하여 구성되어진다.The present invention relates to a transport-test tray for SSD and has a
즉, 본 발명의 SSD용 운반-시험 겸용 트레이는 도 2 내지 도 8에 그 구체적인 실시예들을 도시한 바와 같다.That is, the transport-test combined tray for SSD of the present invention is as shown in the specific embodiments in FIGS.
이에 대한 구체적인 예로 도 2에 도시한 바와 같은 상면 및 하면을 가지는 구조를 들 수 있다.A concrete example thereof may include a structure having an upper surface and a lower surface as shown in FIG. 2.
이는 제작이 간편하고, 저가로 제작할 수 있도록 일체형으로 이를 구성하고, 특히 SSD(Solid State Disk)(5)를 장착하도록 상부에서 하부로 관통하는 다수의 삽입홈(10)을 가지는 프레임(100)으로 형성되며, 상기 삽입홈(10)은, 상기 SSD가 장착된 이후에 트레이에 의하여 이송이 가능하여야 하고, 테스트 보드로의 이송이 이루어진 후에는 테스트도 가능하여야 하므로, 상기 기술한 바와 같이, 상부에서 하부로 관통하는 형상을 가지고, 또한 상기 SSD(5)가 상기 프레임(100)의 상부에서 삽입되고 상기 SSD(5)의 하부단자가 외부와 연통가능하게 개방된 개구부(12)와, 상기 SSD(5)를 지지하는 지지부(14)를 포함하여 구성되어지며, 상기 지지부는 상기 삽입되어진 SSD(5)의 하단이 적어도 상기 프레임(100)의 하면에 위치하도록 하여 SSD가 장착되어진 트레이를 바닥에 놓았을 때, SSD가 빠지지 않고, SSD가 바닥면에 닿아 오염되거나 훼손되는 일이 없도록 한다.It is a
바람직하게는 상기 프레임(100)은 테스트 보드(200)에 프레임(100) 결합시 결합위치를 맞추기 위하여 상기 테스트 보드(200)에 형성된 정렬부(210)에 대응하는 정렬용 결합부(20)를 더 포함하는 것이 좋고, 이를 통하여 트레이가 테스트 보드로 이송된 이후에 테스트 보드의 소켓에 대응되게 SSD를 배치할 수 있도록 한다. 이에 대한 구체적인 예는 도 2 및 도 4 및 도 5에 도시한 바와 같으며, 이에 도시한 바와 같이, 더욱 바람직하게는 상기 정렬부(210)는 돌출핀 형상이고, 상기 정렬용 결합부(20)는 상기 돌출핀에 대응하는 구멍으로 이를 구성하는 것이 이후에 설 명할 다른 정렬부와의 간섭을 줄이고, 정렬을 보다 완전하게 이룰 수 있으므로 좋다.Preferably, the
또한 바람직하게는 상기 삽입홈(10) 내부의 상기 지지부(14)는 상기 삽입홈(10) 양 측면에 형성되는 상부가 개방되고 하부가 막힌 지지 요홈(14)으로 형성되는 것이 좋다. 이에 대한 확대 도시된 도면은 도 3에 도시한 바와 같다. 이를 통하여 삽입된 SSD가 트레이 내에서 정렬이 용이하도록 할 수 있으며, 간단한 구성으로 SSD를 트레이에 걸어 보관할 수 있고, 이후 테스트 보드와의 착탈에 있어서도 용이한 착탈이 가능하게 할 수 있다. 더욱 바람직하게는 도시한 바와 같이, 상기지지 요홈의 하부 끝단은 뾰족하게 테이퍼진 형상을 가져 SSD의 정렬 위치가 요홈 내에서도 특정될 수 있도록 하는 것이 좋다.Also preferably, the
또한 상기 프레임은 트레이에 SSD가 장착된 상태에서 다수의 트레이를 상부로 적층하여 공간 활용도를 높일 수 있도록 하며, 이와 같은 적층이 안정되고, 상하로 적층된 SSD 사이에 서로 간섭이 없도록 하기 위하여, 상기 프레임(100)은, 도 2에 그 구체적인 예를 도시한 바와 같이, 상면에, 상기 SSD용 운반-시험 겸용 트레이 적층시, 트레이의 위치정렬을 위한 상면 트레이 정렬부(30)를 가지고, 하면에 상기 상면 트레이 정렬부(30)에 대응하는 하면 트레이 정렬용 결합(40)부를 가지고, 상기 상면 트레이 정렬부(30) 또는 상기 하면 트레이 정렬용 결합부(40)는 적어도 상기 SSD가 상기 삽입홈(10)에 장착된 경우의 상부 돌출 높이로 상기 트레이의 적층간격을 이격하는 상기 프레임(100)의 표면으로부터 돌출되는 돌출부(50) 상에 형성되는 구성을 더 가질 수 있다.In addition, the frame is to stack a plurality of trays in the upper state in the state that the SSD is mounted on the tray to increase the space utilization, such that the stacking is stable, so as not to interfere with each other between the vertically stacked SSD, As shown in FIG. 2, the
상기 상면 트레이 정렬부(30)와 이에 대응되는 상기 하면 트레이 정렬용 결합부(40)는 도시한 바와 같이 수평이동이 한정되게 형성되는 요부와 돌부로 구성할 수도 있고, 이외의 다양한 정렬기구를 이에 적용할 수도 있다. 또한 적층되는 트레이는 트레이의 상부로 노출되는 SSD의 보호를 위하여 상부로 노출되는 높이이상으로 수직 간격을 이격하는 것이 요구되어지므로 이를 위하여 돌출부를 가지는데, 이는 도시한 바와 같이 상면으로만 돌출부를 가질 수도 있고, 하면으로만 돌출부를 가질 수도 있으며, 상면 및 하면에 일부씩 돌출부를 가져 전체 돌출부의 돌출량이 요구되어지는 이격간격을 확보하도록 할 수도 있다.The upper
이와 같은 본 발명의 트레이를 활용하여 이송 및 테스트를 모두 진행할 수 있는 방법은 아래와 같다. 즉, 상기 기술한 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 SSD를 담아 운반하는 단계, 상기 운반되어진 SSD가 담긴 트레이를 테스트 보드(200)에 정렬하여 결합하는 단계, 트레이에 담기 SSD의 상단을 푸셔(300)로 눌러 SSD가 테스트 보드(200)의 소켓(250)에 전기적으로 연결되도록 하는 단계, SSD의 시험을 수행하고, 상기 트레이를 테스트 보드(200)로부터 분리하여 트레이 내부의 각 SSD를 한번에 테스트 보드(200)의 소켓(250)으로부터 분리하는 단계 및, SSD가 담긴 분리된 트레이를 이송하는 단계를 포함하여 구성되어지는 SSD 운반 및 시험방법이다.Using the tray of the present invention as described above is a method that can proceed both transfer and test. That is, the step of carrying the SSD in the transport-test tray for the SSD described above, aligning and combining the tray containing the transported SSD to the
이에 대한 구체적인 예는 도 5에 도시한 바와 같다. 즉, 도 5에는 SSD를 장착하는 삽입홈을 가로로 절단한 형태를 도시한 것으로, 먼저 SSD는 프레임(10)의 삽입홈(10)에 상부로부터 삽입되고, 삽입 중에 지지부(14)에 의하여 삽입을 멈추고 프레임 내에 지지되어 이동이 가능해진 상태가 된다. 이는 이송기능을 수행하여 테스트 보드로 이송되어지고, 테스트 보드의 정렬부(210)에 끼워지는 프레임의 정렬용 결합부(20)에 의하여 정해진 위치에서 트레이와 테스트 보드(200)가 결합하게 된다. 이는 도 4에 도시한 바와 같은 테스트 보드(200)에 도 4의 좌측에 도시한 트레이가 결합하는 경우와 유사하다. 이때 SSD는 테스트 보드(200)의 소켓(250)에 밀려 위로 올라가게 되고, 이와 같이 위로 밀려 올라간 SSD(5)를 푸셔(300)로 누르게 되면, SSD는 다시 밀려 내려와 소켓에 끼워져 전기적으로 연결된다. (이에 대한 다른 예는 도 6에 도시한 바와 같으며, 이와 같이 결합된 형태의 측단면은 도 7에 그 구체적인 예를 도시한 바와 같다.) 이후에 SSD에 대한 시험이 테스트 보드에 의하여 이루어지게 되고, 이후에 트레이를 상부로 분리하면 지지부에 밀려 SSD도 트레이와 함께 분리되어 다음 단계로 이송되어진다.A specific example thereof is as shown in FIG. 5. That is, FIG. 5 illustrates a form in which the insertion groove for mounting the SSD is cut horizontally. First, the SSD is inserted into the
바람직하게는 상기 테스트 보드의 소켓과 결합한 상태의 SSD는 테스트 보드의 트레이 이탈부를 통하여 보다 쉽게 분리될 수 있다. 즉, 상기 SSD 운반 및 시험방법에 적용되는 테스트 보드(200)로서, 상기 테스트 보드(200)는 바람직하게는 테스트 보드(200)에 결합하는 상기 트레이의 측면에 위치하고 상기 테스트 보드(200)에 회전가능하게 결합하는 분리 손잡이(220)와, 상기 분리 손잡이(220)의 회전축(230)으로부터 트레이 쪽으로 연장하여 상기 트레이의 하면에 접촉하는 이탈 돌출부(240)로 이루어지는 트레이 이탈부를 포함하는 것이 좋다. 이를 통하여 다수의 SSD가 다수의 소켓에 결합한 상태의 트레이를 지렛대 원리를 이용하여 쉽게 일거에 분리할 수 있다. 이에 대한 구체적인 예는 도 8에 도시한 바와 같다. 즉, 푸셔(300)로 밀러 SSD를 삽입하여 시험을 완료하고, 트레이 이탈부의 분리 손잡이 를 돌려 회전축에 의하여 연결된 이탈 돌출부가 SSD를 포함하는 트레이 전체를 아래에서 들어 올리도록 할 수 있다. 상기 트레이 이탈부의 다른 실시예는 도 4 및 도 6에 도시한 바와 같다.Preferably, the SSD coupled to the socket of the test board can be more easily separated through the tray leaving part of the test board. That is, as a
또한 이를 위하여 바람직하게는 도 2 또는 도 8에 도시한 바와 같이, 상기 프레임은 하면의 일부분에 상기 이탈 돌출부에 대응하는 이탈 돌출부 접촉면(60)을 더 구비할 수 있으며, 이는 도시한 바와 같이 오목면으로 이를 구성하는 것이 좋다. 이를 통하여 이탈 돌출부의 안착을 유도하고, 안정적인 이탈이 이루어지도록 할 수 있다.Also, for this purpose, as shown in FIG. 2 or 8, the frame may further include a release
이외에 도 4 및 도 6에 그 구체적인 예를 도시한 바와 같이, 상기 테스트 보드(200)는 상기 테스트 보드(200)에 탈착가능하게 결합하는 정렬부(210)를 더 포함하는 것이 바람직하다. 이를 통하여 소켓 구조는 동일하거나 공용으로 사용이 가능하지만, PCB의 크기가 달라 다른 트레이를 적용하여야 하는 다른 사양의 SSD용 트레이에 대해서도 동일한 테스트 보드를 사용하게 할 수 있다. 즉, 단순히 정렬부를 옮겨 부착하는 것만으로 다양한 다른 종류의 트레이가 적용가능하게 할 수 있다.4 and 6, the
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의하여 한정되는 것은 아니고, 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 해당 기술분야의 당업자가 다양하게 수정 및 변경시킨 것 또한 본 발명의 범위 내에 포함됨은 물론이다.The present invention described above is not limited to the above-described embodiment and the accompanying drawings, and various modifications and changes made by those skilled in the art without departing from the spirit and scope of the present invention described in the claims below. Changes are also included within the scope of the invention.
도 1은 일반적인 케이스 결합전의 bare SSD의 일예를 촬영한 사진이다.1 is a photograph of an example of a bare SSD before general case coupling.
도 2는 본 발명의 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 대한 일 실시예의 상면 사시도 및 하면 사시도를 각각 도시한 도면이다.2 is a top perspective view and a bottom perspective view, respectively, of an embodiment of a transport-test combined tray for an SSD of the present invention.
도 3은 본 발명의 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 대한 일 실시예의 상면 사 시도 및 이의 일부 확대도를 각각 도시한 도면이다.3 is a diagram illustrating a top view of one embodiment and a partially enlarged view of an embodiment of a transport-test combined tray for an SSD of the present invention, respectively.
도 4는 본 발명의 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 대한 일 실시예에 SSD를 장착한 사시도 및 이와 결합하는 본 발명의 테스트 보드에 대한 일 실시예의 사시도를 각각 도시한 도면이다.Figure 4 is a perspective view of an embodiment of the SSD mounting board and the test board of the present invention in combination with one embodiment of the transport-test combined tray for SSD of the present invention, respectively.
도 5는 본 발명의 SSD용 운반-시험 겸용 트레이와, 이와 결합하는 본 발명의 테스트 보드의 작동예를 간략히 도시한 부분 단면도 도면이다.5 is a partial cross-sectional view briefly showing an example of operation of the transport-test combiner tray for the SSD of the present invention and the test board of the present invention in combination therewith;
도 6은 본 발명의 SSD를 장착한 SSD용 운반-시험 겸용 트레이에 대한 일 실시예를 본 발명의 테스트 보드에 대한 일 실시예에 결합한 상태의 사시도를 도시한 도면이다.FIG. 6 is a diagram illustrating a perspective view of an embodiment of a transport-test tray for an SSD equipped with the SSD of the present invention, coupled to an embodiment of the test board of the present invention.
도 7은 도 6에 도시한 도면의 부분 단면도를 확대 도시한 도면이다.7 is an enlarged partial cross-sectional view of the drawing illustrated in FIG. 6.
도 8은 본 발명의 SSD용 운반-시험 겸용 트레이와, 이와 결합하는 본 발명의 테스트 보드의 다른 착탈예를 간략히 도시한 부분 단면도 도면이다.FIG. 8 is a partial cross-sectional view briefly showing another detachment example of the transport test tray for SSD of the present invention and the test board of the present invention in combination therewith; FIG.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
5: SSD 10: 삽입홈5: SSD 10: slot
12: 개구부 14: 지지부(지지 요홈)12: opening 14: support (support groove)
20: 정렬용 결합부 30: 상면 트레이 정렬부20: engaging portion for alignment 30: upper tray alignment portion
40: 하면 트레이 정렬용 결합부 50: 돌출부40: engaging portion for bottom tray alignment 50: protrusion
100: 프레임 200: 테스트 보드100: frame 200: test board
210: 정렬부 220: 분리 손잡이210: alignment unit 220: separation handle
230: 회전축 240: 이탈 돌출부230: axis of rotation 240: departure protrusion
250: 소켓 300: 푸셔(Pusher)250: socket 300: pusher
Claims (6)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090087721A KR101030227B1 (en) | 2009-09-16 | 2009-09-16 | Tray for ssd used in both carriage and test |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090087721A KR101030227B1 (en) | 2009-09-16 | 2009-09-16 | Tray for ssd used in both carriage and test |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20110029869A KR20110029869A (en) | 2011-03-23 |
KR101030227B1 true KR101030227B1 (en) | 2011-04-22 |
Family
ID=43935701
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020090087721A KR101030227B1 (en) | 2009-09-16 | 2009-09-16 | Tray for ssd used in both carriage and test |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101030227B1 (en) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102083489B1 (en) | 2013-09-17 | 2020-03-03 | 삼성전자 주식회사 | automatic module apparatus for manufacturing solid state drive(SSD) |
KR102248594B1 (en) | 2014-04-07 | 2021-05-06 | 삼성에스디아이 주식회사 | Electrode terminal and battery module including the same |
KR102091826B1 (en) * | 2014-06-17 | 2020-03-20 | 에스케이이노베이션 주식회사 | Tray for loading battery cell |
KR102273777B1 (en) | 2014-08-08 | 2021-07-06 | 삼성에스디아이 주식회사 | Secondary battery and secondary battery module having the same |
KR101712661B1 (en) * | 2015-07-22 | 2017-03-07 | 주식회사 아테코 | Ssd test board guide apparatus and ssd guide apparatus |
KR200486185Y1 (en) * | 2016-03-15 | 2018-04-11 | 주식회사 대성엔지니어링 | Magazine for Testing Solid State Drive |
KR102479345B1 (en) * | 2020-11-19 | 2022-12-20 | 주식회사 네오셈 | Manual jig and SSD test apparatus using it |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR200432735Y1 (en) | 2006-09-22 | 2006-12-06 | (주)맥스 | Examination apparatus for hard disk drive |
-
2009
- 2009-09-16 KR KR1020090087721A patent/KR101030227B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR200432735Y1 (en) | 2006-09-22 | 2006-12-06 | (주)맥스 | Examination apparatus for hard disk drive |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20110029869A (en) | 2011-03-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101030227B1 (en) | Tray for ssd used in both carriage and test | |
US8753146B1 (en) | Universal test connector for connecting a SATA or USB data storage device to a data storage device tester | |
KR101101273B1 (en) | One touch eject device of memory module test socket | |
US9236678B2 (en) | Contact terminal for card socket | |
US8616907B2 (en) | Test socket for testing electrical characteristics of a memory module | |
US20140235107A1 (en) | Memory socket with special contact mechanism | |
JP3940979B2 (en) | Socket type module test equipment | |
US20090218120A1 (en) | Printed circuit board, electronic device and connector | |
JP2010202392A (en) | Ic automatic handler | |
KR101350606B1 (en) | Insert assembly | |
US9578775B2 (en) | LGA socket terminal damage prevention | |
KR100989025B1 (en) | Socket device for solid state disk | |
JP6400984B2 (en) | Socket device for semiconductor device inspection | |
KR100795490B1 (en) | Carrier Module for Semiconductor Test Handler | |
KR102243278B1 (en) | handler and management method of the same | |
JP2015040859A (en) | System and method for assembling probe head | |
KR20130016466A (en) | Semiconductor package | |
KR102287237B1 (en) | Insert assembly for receiving semiconductor device and test tray including the same | |
KR102369323B1 (en) | Test head for testing semiconductor devices | |
KR20080045877A (en) | A jig for memory-module test | |
KR101279019B1 (en) | Socket adapter | |
KR100919394B1 (en) | Socket apparatus for a Solid State Disk | |
KR101283639B1 (en) | Modulr socket capable of protecting module and socket pin | |
KR100925991B1 (en) | Socket Apparatus for A Solid State Disk | |
KR100704002B1 (en) | Module test socket |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140408 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160406 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170413 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190415 Year of fee payment: 9 |