KR101004966B1 - 액상 조건에서의 초고속 원자간력 현미경 이미징 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
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- 최적의 이미지 측정을 위한 원자간력 현미경용 분석 방법에 있어서,측정하고자 하는 시료 표면 분석 동안 캔틸레버에 미치는 힘과 측정하고자 하는 스캔 속도의 관계를 나타내는 하기 수학식에 따라 Fnet_2과 Vy 값을 그래프화 한 다음 Fnet_2이 0±2nN 일 때 상기 식의 해가 되는 Vy의 영역을 스캔 속도로 정하는 것을 특징으로 하는 원자간력 현미경 분석 방법.[수학식]여기에서, μ는 분석하고자 하는 대상 시료의 점도이고, L은 상기 캔틸레버 길이이며, Fn은 상기 캔틸레버에 인가되는 힘이고, Vy는 y축 방향의 속도이며, H는 상기 캔틸레버와 상기 대상 시료와의 거리이고, Re 레이놀드 상수이며, S는 상기 H의 정규화된 표준 거리이고, At 는 상기 캔틸레버와 상기 대상 시료가 접촉하는 면적이다.
- 제1항에 있어서,상기 스캔 속도는 초고속으로 이미지 측정을 위하여 두 가지 영역의 Vy값 중 고속 영역의 값을 정하는 것을 특징으로 하는 원자간력 현미경 분석 방법.
- 제1항 또는 제2항에 있어서,상기 분석 시료의 조건이 액상인 것을 특징으로 하는 원자간력 현미경 분석 방법.
- 제3항에 있어서,상기 분석 시료의 조건인 액상은 물, 에탄올, 2-프로판올 등과 같이, 점도에 관계없이 스캔 속도를 정할 수 있는 것을 특징으로 하는 원자간력 현미경 분석 방법.
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH025340A (ja) * | 1988-06-24 | 1990-01-10 | Hitachi Ltd | 走査型トンネル顕微鏡及びこれによる表面形状観察方法 |
JP2000039390A (ja) | 1998-07-23 | 2000-02-08 | Nikon Corp | 非接触型原子間力顕微鏡 |
KR100465086B1 (ko) | 2001-06-25 | 2005-01-06 | 학교법인 한양학원 | 접촉형 원자간력 현미경에 공급되는 구형파의 지속 시간및 진폭을 조절하는 장치 및 방법 |
KR20060002299A (ko) * | 2004-07-01 | 2006-01-09 | 엘지전자 주식회사 | 원자간력 현미경의 자동 이득값 조절방법 |
-
2009
- 2009-01-21 KR KR1020090005171A patent/KR101004966B1/ko active IP Right Grant
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---|---|---|---|---|
JPH025340A (ja) * | 1988-06-24 | 1990-01-10 | Hitachi Ltd | 走査型トンネル顕微鏡及びこれによる表面形状観察方法 |
JP2000039390A (ja) | 1998-07-23 | 2000-02-08 | Nikon Corp | 非接触型原子間力顕微鏡 |
KR100465086B1 (ko) | 2001-06-25 | 2005-01-06 | 학교법인 한양학원 | 접촉형 원자간력 현미경에 공급되는 구형파의 지속 시간및 진폭을 조절하는 장치 및 방법 |
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