KR100970424B1 - Level measuring apparatus of probe contacting type - Google Patents

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KR100970424B1
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김종진
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두온 시스템 (주)
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    • G01F23/00—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm
    • G01F23/22—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm by measuring physical variables, other than linear dimensions, pressure or weight, dependent on the level to be measured, e.g. by difference of heat transfer of steam or water
    • G01F23/28—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm by measuring physical variables, other than linear dimensions, pressure or weight, dependent on the level to be measured, e.g. by difference of heat transfer of steam or water by measuring the variations of parameters of electromagnetic or acoustic waves applied directly to the liquid or fluent solid material
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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    • B65D—CONTAINERS FOR STORAGE OR TRANSPORT OF ARTICLES OR MATERIALS, e.g. BAGS, BARRELS, BOTTLES, BOXES, CANS, CARTONS, CRATES, DRUMS, JARS, TANKS, HOPPERS, FORWARDING CONTAINERS; ACCESSORIES, CLOSURES, OR FITTINGS THEREFOR; PACKAGING ELEMENTS; PACKAGES
    • B65D90/00—Component parts, details or accessories for large containers
    • B65D90/48—Arrangements of indicating or measuring devices

Abstract

PURPOSE: An apparatus for testing the level of a probe contact mode is provided to measure the more minute level by providing a fixing tool. CONSTITUTION: An apparatus for testing the level of a probe contact mode comprises a probe(12), a coaxial pipe(13), a prove fixture and a head. The probe is flowed in the measurement object. The coaxial pipe stores the probe. The probe fixture fixes the probe in order not to touch with the inner surface of the coaxial pipe. The head transmits and receives the probe and computes the level of the measurement object. The probe fixture comprises a circular ring(420), a lower housing(410) and a blade(430). The blade is driven to be collected to the probe central with the rotation of the circular ring.

Description

프로브 접촉 방식의 레벨 측정 장치{Level measuring apparatus of probe contacting type}Level measuring apparatus of probe contacting type

본 발명은 프로브를 측정 대상물에 삽입하여 소정의 반사 펄스를 측정하여 레벨을 측정하는 장치로서 특히 프로브 고정구를 구비하여 상기 프로브가 동축 파이프 내측면과 접촉하지 않도록 하여 정밀한 레벨 측정이 가능하도록 한 레벨 측정 장치에 관련된 것이다.The present invention provides a device for measuring a level by inserting a probe into a measurement object and measuring a predetermined reflected pulse. In particular, the probe is provided with a probe fixture so that the probe does not come into contact with the inner surface of the coaxial pipe so that a precise level measurement is possible. It is related to the device.

일반적으로 프로브를 이용하여 레벨을 측정하기 위해서 전송 펄스를 측정 대상물에 발신한 후 상기 측정 대상물에서 반사된 반사 펄스를 측정하여 레벨을 측정하게 된다.In general, in order to measure a level using a probe, a transmission pulse is transmitted to a measurement object, and then a level is measured by measuring a reflection pulse reflected from the measurement object.

이에 대해 도 1을 참조하여 설명하기로 하며, 상기 도 1은 종래의 레벨 측정 장치(10)를 개념적으로 설명한 개념도이다.This will be described with reference to FIG. 1, and FIG. 1 is a conceptual diagram conceptually illustrating a conventional level measuring apparatus 10.

도시된 바와 같이 종래의 레벨 측정 장치(10)는 측정 대상물(W)에 인입되는 프로브(12)와, 상기 프로브(12)측으로 전송 펄스(P1)을 발신하거나 반사 펄스(P2)를 수신하여 레벨을 측정하는 헤드(11)를 포함한다.As shown in the drawing, the conventional level measuring apparatus 10 transmits a probe 12 introduced into a measurement object W, a transmission pulse P1 to the probe 12, or a reflection pulse P2 to receive a level. It includes a head 11 for measuring.

상기 전송 펄스(P1)는 상기 프로브(11)를 통해 도면상 하측 방향으로 진행한 다.The transmission pulse P1 proceeds downward in the drawing through the probe 11.

이때, 상기 전송 펄스(P1)가 측정 대상물(W)을 만나면 유전율의 차이로 인해 도면상 상측 방향으로 반사되어 반사 펄스(P2)가 상기 헤드(11)측으로 향하게 된다.At this time, when the transmission pulse (P1) meets the measurement target (W), due to the difference in dielectric constant is reflected in the upper direction in the drawing, the reflection pulse (P2) is directed toward the head (11).

상기 헤드(11)는 상기 반사 펄스(P2)가 되돌아온 시간을 측정하여 상기 측정 대상물(W)의 레벨을 측정하게 된다.The head 11 measures the time at which the reflection pulse P2 is returned to measure the level of the measurement object W.

이러한 프로브 접촉 방식의 레벨 측정 장치(10)는 측정 대상물이 유체나 혹은 고체인 경우에도 측정이 가능하고 주위 환경(온도나 압력등)에 영향을 받지 않아 우수한 레벨 측정 방식으로 평가받고 있다.The probe contact type level measuring device 10 can be measured even when the measurement object is a fluid or a solid and is not affected by the surrounding environment (temperature or pressure) and is evaluated as an excellent level measuring method.

그런데 상술한 레벨 측정 장치(10)를 사용함에 있어 상기 프로브(12)측으로 노이즈가 부가되어 정확한 레벨 측정이 어려운 경우가 있다.However, when the level measuring device 10 described above is used, noise may be added to the probe 12 to make accurate level measurement difficult.

특히 상기 레벨 측정 장치(10)를 외부에서 사용하는 경우 다양한 노이즈가 부가되는 경우가 많아 상술한 바와 같이 정확한 레벨 측정이 어렵게 된다.In particular, when the level measuring device 10 is used externally, various noises are often added, making accurate level measurement difficult as described above.

이러한 문제점을 해소하기 위해 근래에 상기 프로브(12)를 내부에 수용하여 주위의 노이즈를 차단하는 동축 파이프(coaxial pipe)(13)가 구비된다.(도 2참조)In order to solve such a problem, a coaxial pipe 13 is provided recently to receive the probe 12 therein to block ambient noise. (See FIG. 2).

상기 동축 파이프(13)에 의해 노이즈 전달을 차단하여 정밀한 레벨 측정이 가능하게 된다.The coaxial pipe 13 blocks the transmission of noise and enables precise level measurement.

그런데, 상기 동축 파이프(13)의 길이가 길어지는 경우 상기 동축 파이프(13) 내부에 수용되는 프로브(12)가 상기 동축 파이프(13)의 내측면과 접촉하는 경우가 발생하게 된다.However, when the length of the coaxial pipe 13 is long, the probe 12 accommodated in the coaxial pipe 13 may come into contact with the inner surface of the coaxial pipe 13.

상기 프로브(12)와 동축 파이프(13)의 접촉에 의해 또 다른 노이즈가 발생하게 되어 결국 정밀한 레벨 측정이 어려워지는 문제점이 있었다.Another noise is generated by the contact between the probe 12 and the coaxial pipe 13, which makes it difficult to accurately measure the level.

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서 상기 동축 파이프의 길이가 길어지는 경우라도 상기 프로브를 동축 파이프 내측면과 접촉하지 않도록 하는 프로브 고정구를 제공하여 보다 정밀한 레벨을 측정할 수 있는 측정 장치를 제공함에 목적이 있다.The present invention has been made in view of the above-mentioned problem, and provides a measuring device capable of measuring a more precise level by providing a probe fixture that prevents the probe from contacting the inner surface of the coaxial pipe even when the length of the coaxial pipe is increased. There is a purpose.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은 측정 대상물에 인입되는 프로브와, 상기 프로브를 수용하는 동축 파이프와, 상기 동축 파이프 내부에 장치되는 것으로서 상기 프로브와 접촉하여 상기 프로브가 상기 동축 파이프 내면과 접촉하지 않도록 하는 프로브 고정구와, 상기 프로브와 펄스를 송수신하여 측정 대상물의 레벨을 산정하는 헤드를 포함하는 프로브 접촉 방식의 레벨 측정 장치에 특징이 있다.The present invention for achieving the above object is a probe that is introduced into the measurement object, the coaxial pipe for receiving the probe, and is installed inside the coaxial pipe to contact the probe so that the probe does not contact the inner surface of the coaxial pipe And a probe fixing device and a head for transmitting and receiving pulses with the probe to calculate a level of a measurement target.

이때, 상기 동축 파이프 내면을 횡단하면서 상기 프로브 외측면에 각각 접촉하는 다수개의 바아를 구비하는 프로브 고정구에 의해 상기 프로브가 상기 동축 파이프 내면과 접촉하지 않도록 하는 것도 가능하다.In this case, it is also possible to prevent the probe from contacting the inner surface of the coaxial pipe by a probe fixture having a plurality of bars each crossing the inner surface of the coaxial pipe and contacting the outer surface of the probe.

또한, 상기 프로브 외측면에 밀착되도록 만곡되는 가압부와, 상기 가압부 일측에서 직선 형상으로 연장되는 바아를 구비하는 다수개의 프로브 고정구에 의해 상기 프로브가 상기 동축 파이프 내면과 접촉하지 않도록 하는 것도 가능하다.In addition, it is possible to prevent the probe from contacting the inner surface of the coaxial pipe by a plurality of probe fixtures having a pressing portion curved to be in close contact with the outer surface of the probe and a bar extending linearly from one side of the pressing portion. .

또한, 상기 프로브 외측면에 걸림되는 후크와, 상기 후크 일측에서 직선 형상으로 연장되는 바아를 구비하는 다수개의 프로브 고정구에 의해 상기 프로브가 상기 동축 파이프 내면과 접촉하지 않도록 하는 것도 가능하다.In addition, it is also possible to prevent the probe from contacting the inner surface of the coaxial pipe by a plurality of probe fixtures having hooks that are caught on the outer surface of the probe and bars that extend in a straight shape from one side of the hook.

또한, 회전 링의 회전에 의해 블레이드가 상기 프로브 중심측으로 모여지도록 구동되어 상기 프로브가 상기 동축 파이프의 내측면과 접촉하지 않도록 하는 것도 가능하다.It is also possible for the blade to be driven toward the probe center by the rotation of the rotary ring so that the probe does not come into contact with the inner surface of the coaxial pipe.

이상 설명한 바와 같은 본 발명에 의해 프로브와 동축 파이프의 길이가 길어지는 경우라도 상기 프로브가 동축 파이프의 내측면과 접촉하지 않아 노이즈 발생을 억제할 수 있어 정밀한 레벨 측정이 가능한 효과가 있다.According to the present invention as described above, even if the length of the probe and the coaxial pipe is increased, the probe does not come into contact with the inner surface of the coaxial pipe, thereby suppressing the occurrence of noise, thereby making it possible to accurately measure the level.

이하에서는 첨부된 도면과 실시예를 참고하여 본 발명에 대해 상세히 설명한다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings and embodiments will be described in detail with respect to the present invention.

도 3 내지 도 9는 프로브 고정구의 다양한 실시예 및 작동 관계를 설명하는 개념도이다. 3 to 9 are conceptual diagrams illustrating various embodiments and operational relationships of probe fixtures.

도 10은 본 발명에 따른 레벨 측정 장치에 의해 획득되는 반사 펄스를 도시하는 그래프이다.10 is a graph showing reflected pulses obtained by the level measuring device according to the present invention.

본 발명의 프로브 고정구는 상술한 바와 같이 프로브(12)가 동축 파이프(13) 내부와 접촉하지 않도록 하여 상기 동축 파이프(13)에 의한 노이즈 발생을 억제하는 것이다.The probe fixture of the present invention suppresses the generation of noise by the coaxial pipe 13 by preventing the probe 12 from contacting the inside of the coaxial pipe 13 as described above.

다시 말해서, 측정 대상물(W)에 인입되는 프로브(12)와, 상기 프로브(12)를 수용하는 동축 파이프(13)와, 상기 프로브(12)와 펄스를 송수신하여 측정 대상물(W)의 레벨을 산정하는 헤드(11)를 포함하는 레벨 측정 장치에 있어서, 상기 동축 파이프(13) 내부에 장치되는 것으로서 상기 프로브(12)와 접촉하여 상기 프로브(12)가 상기 동축 파이프(13) 내면과 접촉하지 않도록 하는 프로브 고정구를 포함하는 것이다.In other words, the probe 12 drawn into the measurement object W, the coaxial pipe 13 receiving the probe 12, and the probe 12 transmit and receive pulses to adjust the level of the measurement object W. A level measuring device comprising a head 11 for calculating, which is installed inside the coaxial pipe 13 and in contact with the probe 12 so that the probe 12 does not contact the inner surface of the coaxial pipe 13. It is to include a probe fixture to prevent.

이하 상기 프로브 고정구에 대해 다양한 실시예를 통해 상세히 설명한다.Hereinafter, the probe fixture will be described in detail through various embodiments.

실시예1Example 1

본 실시예에서 설명하고자 하는 프로브 고정구(100)는 측정 대상물(W)에 인입되는 프로브(12)와, 상기 프로브(12)를 수용하는 동축 파이프(13)와, 상기 프로브(12)와 펄스를 송수신하여 측정 대상물(W)의 레벨을 산정하는 헤드(11)를 포함하는 레벨 측정 장치에 사용된다.The probe fixture 100 to be described in this embodiment includes a probe 12 introduced into a measurement object W, a coaxial pipe 13 accommodating the probe 12, and a pulse with the probe 12. It is used for the level measuring apparatus including the head 11 which transmits / receives and calculates the level of the measurement object W. FIG.

상기 프로브 고정구(100)는 도 3에 나타난 바와 같이 상기 동축 파이프(13) 내면을 횡단하면서 상기 프로브(12) 외측면에 각각 접촉하는 다수개의 바아(110,120,130)을 포함한다.The probe fixture 100 includes a plurality of bars 110, 120, 130 contacting the outer surface of the probe 12 while crossing the inner surface of the coaxial pipe 13 as shown in FIG. 3.

상기 다수개의 바아(110,120,130)가 상기 프로브(12)의 중심 방향으로 상기 프로브(12)를 각각 가압하여 상기 프로브(12)가 상기 동축 파이프(13) 내면과 접촉하지 않도록 고정하게 된다.The plurality of bars 110, 120, and 130 press the probe 12 toward the center of the probe 12, respectively, to fix the probe 12 so as not to contact the inner surface of the coaxial pipe 13.

다시 말해서 다수개의 프로브 고정구(100)가 프로브(12) 외측을 감싸면서 상 기 프로브(12) 중심측으로 가압하여 상기 프로브(12)가 동축 파이프(13) 내측면과 접촉하지 않도록 고정하게 된다.In other words, a plurality of probe fixtures 100 are wrapped around the outside of the probe 12 and pressurized toward the center of the probe 12 to fix the probe 12 so as not to contact the inner surface of the coaxial pipe 13.

한편 상기 바아(110,120,130)는 도 3에 나타난 바와 같이 직선 형상을 구비하되 상기 프로브(12)를 중심으로 삼각형을 형성하도록 배치되어 상기 프로브(12)를 고정할 수 있다.Meanwhile, the bars 110, 120, and 130 may have a straight shape as shown in FIG. 3, but may be arranged to form a triangle around the probe 12 to fix the probe 12.

다만 상기 바아(110,120,130)는 상기 프로브(12)를 고정하여 상기 동축 파이프(13)와 접촉하지 않도록 하는 것을 목적으로 하는 바, 이러한 목적을 달성하는 한 상기 바아(110,120,130)가 다른 형상을 구비하거나 혹은 3개 이상 또는 3개 이하의 개수를 구비하는 경우라도 모두 본 발명의 범주에 속함은 당연하다.However, the bars 110, 120 and 130 are intended to fix the probe 12 so as not to come into contact with the coaxial pipe 13, so that the bars 110, 120 and 130 have different shapes as long as the object is achieved. Naturally, even if the number is three or more or less than three, it belongs to the scope of the present invention.

이상 설명한 바와 같은 본 발명의 프로브 고정구(100)에 의해 상기 프로브(12)와 동축 파이프(13)의 내측면가 접촉하지 않도록 하여 노이즈 발생을 억제할 수 있어 정밀한 레벨 측정이 가능해 진다.The probe fixture 100 of the present invention as described above prevents the occurrence of noise by preventing the probe 12 and the inner surface of the coaxial pipe 13 from contacting, thereby enabling accurate level measurement.

한편 상기 상기 프로브 고정구(100)는 상기 측정 대상물(W)보다 유전율이 낮은 것이 바람직하다.On the other hand, the probe fixture 100 preferably has a lower dielectric constant than the measurement target (W).

이는 상기 프로브 고정구(100)와 프로브(12)의 접촉에 의해서도 노이즈가 발생하는데, 만일 상기 프로브 고정구(100)의 유전율이 측정 대상물(W)의 유전율과 동일한 경우 상기 측정 대상물(W)에서 반사되는 반사 펄스와 상기 프로브 고정 구(100)에서 반사되는 반사 펄스를 구별할 수 없어 레벨 측정이 어려워지게 때문이다.The noise is also generated by the contact between the probe fixture 100 and the probe 12. If the dielectric constant of the probe fixture 100 is equal to the dielectric constant of the measurement object W, the noise is reflected from the measurement object W. This is because the reflection pulse and the reflection pulse reflected by the probe fixture 100 cannot be distinguished, which makes the level measurement difficult.

한편 통상적으로 본 측정 장치에 사용되는 측정 대상물이 물인 경우 상기 물의 유전율은 40정도 되며 상기 프로브 고정구(100)의 유전율은 4정도 되는 테프론을 사용하는 것도 바람직하다.On the other hand, when the measurement object used in the present measurement device is usually water, the dielectric constant of the water is about 40 and the dielectric constant of the probe fixture 100 is preferably used to use Teflon.

이는 후술하는 실시예에서도 동일하게 적용되므로 중복되는 설명은 생략한다.This is the same in the embodiments described later, so duplicate description is omitted.

한편 상기 프로브 고정구(100) 중 상기 동축 파이프(13) 외측면으로 돌출되는 부분에 장치되어 상기 프로브 고정구(100)를 조임하는 조임구(N)를 더 포함하는 것도 가능하다.On the other hand, it is also possible to further include a fastener (N) is installed in the portion of the probe fixture 100 protruding to the outer surface of the coaxial pipe 13 to tighten the probe fixture (100).

또한 상기 조임구(N)로서 너트를 사용하는 한편 상기 바아(110,120,130)에 나사산(도시되지 않음)을 형성하여 상기 바아(110,120,130)를 고정할 수 있다.In addition, a nut (not shown) may be formed on the bars 110, 120, and 130 while the nut is used as the fastener N, thereby fixing the bars 110, 120, and 130.

그러나 상기 조임구(N)는 상기 바아(110,120,130)가 움직이지 않도록 고정하는 것을 목적으로 하는 바, 이러한 목적을 달성하는 한 상기 조임구(N)가 다른 형상이나 고정 방식의 취하는 경우라도 모두 본 발명의 범주에 속함은 당연하다.However, the fastener N is intended to fix the bars 110, 120, and 130 so as not to move. As long as the object is achieved, the fastener N may take different shapes or fixing methods. It belongs to the category of.

예를 들어 상기 조임구(N)를 상기 바아(110,120,130)와 용접등에 의해 고정하는 경우등도 모두 본 발명의 범주에 속하는 것이다.For example, the case where the fastener N is fixed to the bars 110, 120, 130 by welding or the like is also within the scope of the present invention.

이는 아래 설명하는 다른 실시에에서도 동일하게 적용되며 이하 중복되는 설명은 생략한다.The same applies to other embodiments described below, and overlapping descriptions are omitted below.

한편 도 6에 나타난 바와 같이 상기 동축 파이프(13)에 원주 방향의 슬롯(13a)을 형성하여 상기 바아(110,120,130)의 위치를 용이하게 조절할 수 있도록 하는 것도 가능하다.On the other hand, as shown in Figure 6 it is possible to easily adjust the position of the bar (110, 120, 130) by forming a slot (13a) in the circumferential direction in the coaxial pipe (13).

이는 후술하는 실시예에서도 동일하게 적용되므로 이하 중복되는 설명은 생략한다.This is the same in the embodiments described later, so duplicate description will be omitted below.

실시예2Example 2

본 실시예에서 설명하고자 하는 프로브 고정구(200)는 측정 대상물(W)에 인입되는 프로브(12)와, 상기 프로브(12)를 수용하는 동축 파이프(13)와, 상기 프로브(12)와 펄스를 송수신하여 측정 대상물(W)의 레벨을 산정하는 헤드(11)를 포함하는 레벨 측정 장치에 사용되는 점은 상술한 실시예와 동일하다.The probe fixture 200 to be described in the present embodiment includes a probe 12 introduced into a measurement object W, a coaxial pipe 13 accommodating the probe 12, and a pulse with the probe 12. The point used for the level measuring apparatus including the head 11 which transmits / receives and calculates the level of the measurement object W is the same as that of the above-mentioned embodiment.

다만 본 실시예의 프로브 고정구(200)는 도 4에 나타난 바와 같이 상기 프로브(12) 외측면에 밀착되도록 만곡되는 가압부(212)와, 상기 가압부(212) 일측에서 직선 형상으로 연장되는 바아(211)를 구비한다.However, as shown in FIG. 4, the probe fixture 200 according to the present embodiment has a pressing part 212 curved to closely contact the outer surface of the probe 12 and a bar extending in a straight shape from one side of the pressing part 212 ( 211).

즉, 상기 프로브(12)에 다수개의 가압부(212)를 밀착한 후 가압하여 상기 프로브(12)를 고정하여 상기 동축 파이프(13) 내측과 접촉하지 않도록 하는 것이다.That is, the plurality of pressing parts 212 are closely attached to the probe 12 and then pressurized to fix the probe 12 so as not to contact the inner side of the coaxial pipe 13.

이때, 상기 가압부(212)는 상기 바아(211)에 연결되며, 상기 바아(211)가 상 기 동축 파이프(13)외측으로 돌출된 후 조임부(N)에 의해 조임되어 고정된다.At this time, the pressing unit 212 is connected to the bar 211, the bar 211 is protruded to the outside of the coaxial pipe 13 and then tightened and fixed by the tightening portion (N).

이때, 상기 바아(211)의 외측면에 형성되는 나사부(211a)와 상기 동축 파이프(13)의 두께면으로서 상기 바아(211)와 접촉하는 부분에 형성되는 나사부(13c)를 더 포함하여, 상기 바아(211)와 동축 파이프(13)가 상호 나사결합하도록 하여 상기 프로브 고정구(200)가 이탈되지 않도록 하는 것도 가능하다.At this time, the screw portion 211a formed on the outer surface of the bar 211 and the screw portion 13c formed on the portion in contact with the bar 211 as a thickness surface of the coaxial pipe 13, The bar 211 and the coaxial pipe 13 may be screwed together to prevent the probe fixture 200 from being separated.

한편 상기 만곡부(212)와 바아(211)는 볼 조인트(도시되지 않음)를 사용하여 상기 만곡부(212)가 바아(211)에 회동가능하게 장치하여 상기 프로브(12)에 용이하게 밀착할 수 있도록 하는 것도 가능하다.On the other hand, the curved portion 212 and the bar 211 using a ball joint (not shown) so that the curved portion 212 is rotatably mounted to the bar 211 so that it can be easily in close contact with the probe 12. It is also possible.

한편 상기 프로브 고정구(200)의 만곡부(212)는 도 4에 나타난 바와 같이 상기 프로브(12)와 동일 곡률을 구비하여 상기 만곡부(212)와 프로브(12)가 밀착되도록 형성할 수 있다.The curved portion 212 of the probe fixture 200 may have the same curvature as the probe 12 and may be formed to closely contact the curved portion 212 and the probe 12, as shown in FIG. 4.

그러나 상기 만곡부(212)는 상기 프로브(12)에 접촉하여 상기 프로브(12)를 고정하는 것을 목적으로 하는 바, 이러한 목적을 달성하는 한 상기 만곡부(212)가 다른 형상을 구비하는 경우라도 모두 본 발명의 범주에 속함은 당연하다.However, the curved portion 212 is intended to contact the probe 12 to fix the probe 12. As long as the objective is achieved, the curved portion 212 may have different shapes. It belongs to the scope of the invention.

예를 들어 상기 만곡부(212)의 곡률과 상기 프로브(12)의 곡률이 상이하여도 상기 만곡부(212)가 상기 프로브(12)를 가압하여 고정하는 한 모두 본 발명의 범주에 속하는 것이다.For example, even if the curvature of the curved portion 212 and the curvature of the probe 12 are different, as long as the curved portion 212 presses and fixes the probe 12, all of the curved portions 212 are within the scope of the present invention.

한편 상기 프로브 고정구(200)는 도 4에 나타난 바와 같이 프로브(12) 주위 로 동일 간격으로 3개(210,220,230) 배치할 수 있다.Meanwhile, as illustrated in FIG. 4, three probe fixtures 200 may be disposed at equal intervals around the probe 12.

그러나 이는 본 발명을 설명하기 위한 일 예에 불과한 것으로서, 본 발명의 권리범위는 본 실시예에 의해 제한되지 않음은 당연하다.However, this is only an example for describing the present invention, and the scope of the present invention is not limited by the present embodiment.

실시예3Example 3

본 실시예에서 설명하고자 하는 프로브 고정구(300)는 측정 대상물(W)에 인입되는 프로브(12)와, 상기 프로브(12)를 수용하는 동축 파이프(13)와, 상기 프로브(12)와 펄스를 송수신하여 측정 대상물(W)의 레벨을 산정하는 헤드(11)를 포함하는 레벨 측정 장치에 사용되는 점은 상술한 실시예와 동일하다.The probe fixture 300 to be described in this embodiment includes a probe 12 introduced into a measurement object W, a coaxial pipe 13 accommodating the probe 12, and a pulse with the probe 12. The point used for the level measuring apparatus including the head 11 which transmits / receives and calculates the level of the measurement object W is the same as that of the above-mentioned embodiment.

다만, 상기 프로브 고정구(300)는 상기 프로브(12)의 외측면에 걸림되는 후크(310)와, 상기 후크(310) 일측에서 직선 형상으로 연장되는 바아(320)를 구비하는 점이 상이하다.However, the probe fixture 300 is different from the hook 310 which is caught on the outer surface of the probe 12 and the bar 320 extending in a straight line shape on one side of the hook 310.

다시 말해서 실시예1의 프로브 고정구(100)와 실시예2의 프로브 고정구(200)는 프로브(12)를 외측에서 가압하는 방식임에 비해, 본 실시예의 프로브 고정구(300)는 상기 프로브(12)에 걸림된 후 당겨서 상기 프로브(12)를 고정하는 것이다.In other words, while the probe fixture 100 of Example 1 and the probe fixture 200 of Example 2 pressurize the probe 12 from the outside, the probe fixture 300 of the present embodiment uses the probe 12. After locking on the probe 12 is fixed.

이때, 상기 바아(320)의 외측면에 나사산(320a)을 형성한 후 상기 조임구(N)를 체결하여 상기 프로브 고정구(300)를 고정하는 것도 가능하다.In this case, the thread 320a may be formed on the outer surface of the bar 320, and then the fastener N may be fastened to fix the probe fixture 300.

한편 상기 동축 파이프(13)의 외측에 원주 방향의 슬롯(13b)를 형성하여 상기 후크(310)를 삽입하는 한편 상기 바아(320)의 위치를 조절할 수 있도록 하는 것도 가능하다.On the other hand, it is also possible to form a slot (13b) in the circumferential direction on the outer side of the coaxial pipe 13 to insert the hook 310 and to adjust the position of the bar (320).

상기 프로브 고정구(300)는 도 5에 나타난 바와 같이 2개를 구비하여 도면상 좌우측에 각각 장치하여 상기 프로브(12)를 고정할 수 있다.As shown in FIG. 5, the probe fixture 300 may be provided with two, and the probe fixture 300 may be mounted on the left and right sides of the drawing to fix the probe 12.

그러나 이는 본 발명을 설명하기 위한 일 예에 불과한 것으로서 본 발명의 권리범위가 본 실시예에 의해 제한되지 않음은 분명하다.However, this is only an example for explaining the present invention, it is obvious that the scope of the present invention is not limited by this embodiment.

실시예4Example 4

본 실시예에서 설명하고자 하는 프로브 고정구(400)는 측정 대상물(W)에 인입되는 프로브(12)와, 상기 프로브(12)를 수용하는 동축 파이프(13)와, 상기 프로브(12)와 펄스를 송수신하여 측정 대상물(W)의 레벨을 산정하는 헤드(11)를 포함하는 레벨 측정 장치에 사용되는 점은 상술한 실시예와 동일하다.The probe fixture 400 to be described in this embodiment includes a probe 12 introduced into a measurement object W, a coaxial pipe 13 accommodating the probe 12, and a pulse between the probe 12 and a pulse. The point used for the level measuring apparatus including the head 11 which transmits / receives and calculates the level of the measurement object W is the same as that of the above-mentioned embodiment.

그러나 상기 프로브 고정구(400)는 도 7에 나타난 바와 같이 하부 하우징(410)과 회전 링(420) 그리고 블레이드(430)를 포함하는 점이 상이하다.However, the probe fixture 400 differs in that it includes a lower housing 410, a rotation ring 420 and a blade 430 as shown in FIG.

즉, 본 실시예의 프로브 고정구(400)는 마치 카메라의 조리개와 같이 프로브(12) 주위로 배치되는 블레이드(430)가 조여지면서 상기 프로브(12)를 고정하는 것이다.That is, the probe fixture 400 of the present embodiment is to fix the probe 12 while tightening the blade 430 disposed around the probe 12 like an aperture of a camera.

상기 회전 링(420)은 링 형상의 회전 링 본체(421)와 상기 회전 링 본 체(421) 일측에서 돌출되어 상기 동축 파이프(13) 외측으로 관통하는 핸들(H)을 구비한다.The rotary ring 420 has a ring-shaped rotary ring body 421 and a handle (H) protruding from one side of the rotary ring body 421 penetrates to the outside of the coaxial pipe (13).

이때 상기 핸들(H)을 사용자가 파지하여 회전시키는 후술되는 바와 같이 블레이드(430)를 조여지게 한다.At this time, the handle (H) to tighten the blade 430 as described later to the user to hold and rotate.

상기 하부 하우징(410)은 상기 회전 링(420)이 수용되는 한편 상기 동축 파이프(13)에 장착되는 것으로서 중공의 원통형상이되 상면이 개방된 하부 하우징 본체(411)와 상기 하부 하우징 본체(411) 중앙부에서 돌출되어 상기 회전 링(420)의 중앙부(421b)에 삽입되는 삽입부(412)를 구비한다.The lower housing 410 is accommodated in the coaxial pipe 13 while the rotary ring 420 is accommodated, the lower housing body 411 and the lower housing body 411 having a hollow cylindrical shape with an upper surface open. The insertion portion 412 protrudes from the center portion and is inserted into the center portion 421b of the rotation ring 420.

즉, 상기 하부 하우징 본체(411)와 삽입부(412)사이에 상기 회전 링(420)이 삽입되며, 상기 회전 링(420)의 중앙부(421b)에 상기 삽입부(412)가 삽입되는 것이다.That is, the rotation ring 420 is inserted between the lower housing body 411 and the insertion part 412, and the insertion part 412 is inserted into the center part 421b of the rotation ring 420.

한편, 상기 삽입부(412) 및 하부 하우징 본체(411) 바닥면을 관통하여 상기 프로브(12)가 삽입되도록 하는 관통공(412a)과, 상기 하부 하우징 본체(411) 외측면에 관통되어 상기 핸들(H)이 삽입되는 슬롯(413)을 구비한다.On the other hand, the through hole 412a through which the probe 12 is inserted through the insertion part 412 and the bottom of the lower housing main body 411, and the handle is penetrated through the outer surface of the lower housing main body 411. And a slot 413 into which (H) is inserted.

다시 말해서 상기 하부 하우징(410)에 회전 링(420)이 장착된 후 핸들(H)을 파지하여 상기 회전 링(420)을 회전시키면 상기 블레이드(430)가 상기 프로브 중심측으로 모여지도록 구동되어 상기 프로브(12)가 상기 동축 파이프(13)의 내측면과 접촉하지 않도록 하는 것이다.In other words, when the rotary ring 420 is mounted on the lower housing 410 and the handle H is rotated to rotate the rotary ring 420, the blade 430 is driven to be gathered toward the probe center to drive the probe. This is to prevent 12 from contacting the inner surface of the coaxial pipe 13.

상기 블레이드(430)는 일측은 상기 회전 링(420)에 결합되고 타측은 상기 삽 입부(412)에 고정되어 상기 회전 링(420)의 회전에 의해 구동된다.One side of the blade 430 is coupled to the rotation ring 420 and the other side is fixed to the inserting portion 412 is driven by the rotation of the rotation ring 420.

이때, 상기 블레이드(430)는 상기 회전 링(420)의 중심부 방향으로 갈수록 곡률이 증가하는 형상의 블레이드 본체(431)와, 상기 블레이드 본체(431) 일 영역에 형성되어 상기 회전 링(42)과 결합되는 제1고정부(432)와, 상기 블레이드 본체(431) 타 영역에 형성되어 상기 삽입부(412)와 결합되는 제2고정부(433)를 포함할 수 있다.In this case, the blade 430 is formed in the blade main body 431 and the blade main body 431 of the shape that the curvature increases toward the central direction of the rotary ring 420, the rotary ring 42 and It may include a first fixing portion 432 to be coupled, and a second fixing portion 433 formed in the other region of the blade body 431 and coupled to the insertion portion 412.

이와 같은 구성에 의해 상기 회전 링(420)의 회전시 상기 제2고정부(433)를 중심으로 상기 블레이드 본체(431)가 회전하며 모여지게 되고 이에 의해 상기 블레이드(430)에 끼워지는 프로브(12)가 고정되는 것이다.In this configuration, when the rotary ring 420 rotates, the blade main body 431 rotates around the second fixing part 433 and is gathered, thereby fitting the probe 12 inserted into the blade 430. ) Is fixed.

이에 대해 도 8과 도 9를 참조하여 보다 상세히 설명한다.This will be described in more detail with reference to FIGS. 8 and 9.

도 8에서는 상기 블레이드(430)가 충분히 모여지지 않아서 프로브(12)가 상기 블레이드(430)에 접촉되지 않은 상태이다.In FIG. 8, the probe 12 is not in contact with the blade 430 because the blade 430 is not sufficiently collected.

이때, 상기 핸들(H)을 파지하여 회전 링(420)을 회전시키면 도 9에 나타난 바와 같이 블레이드(430)가 조여지면서 프로브(12)를 고정하게 된다.At this time, when the rotary ring 420 is rotated by holding the handle (H), as shown in FIG. 9, the blade 430 is tightened to fix the probe 12.

이에 의해 상기 프로브(12)가 동축 케이블(13)의 내측면과 접촉되지 않도록 할 수 있다.As a result, the probe 12 may not be in contact with the inner surface of the coaxial cable 13.

한편 상기 블레이드 본체(431)는 도 7에 나타난 바와 같이 대략 삼각형 형상을 구비하여 양측 모서리는 상기 제1고정부(432) 및 제2고정부(433)으로 하고 나머지 모서리는 상기 회전 링(420) 중심부로 갈수록 곡률이 증가하도록 형성되어, 상 기 블레이드 본체(431)가 회전하면서 상호 모여지게 형성될 수 있다.Meanwhile, as shown in FIG. 7, the blade body 431 has a substantially triangular shape, and both sides of the blade body 431 are the first fixing part 432 and the second fixing part 433, and the other edge is the rotating ring 420. It is formed to increase the curvature toward the center, the blade body 431 may be formed to be gathered together while rotating.

그러나 상기 블레이드 본체(431)를 포함하는 블레이드(430)는 상술한 바와 같이 회전에 의해 모여져서 프로브(12)를 고정하는 것을 목적으로 하는 바 이러한 목적을 달성하는 한 상기 블레이드 본체(431)가 다른 형상을 구비하는 경우라도 모두 본 발명의 범주에 속함은 당연하다.However, the blades 430 including the blade body 431 are gathered by rotation as described above to fix the probe 12. As long as the blade body 431 achieves this purpose, the blade body 431 is different. Naturally, even if it has a shape, it belongs to the scope of the present invention.

한편 상기 동축 파이프(13) 내측에는 상기 하부 하우징(410)이 걸림되도록 돌출되는 걸림턱(13c)을 더 포함하는 것도 가능하다.On the other hand, the coaxial pipe 13 may further include a locking projection 13c protruding to engage the lower housing 410.

한편 상기 핸들(H)은 상기 동축 파이프(13) 외측으로 돌출되어 사용자가 파지할 수 있도록 함이 바람직하다.On the other hand, the handle (H) is preferably protruded to the outside of the coaxial pipe 13 to allow the user to grip.

이를 위해 도시되지는 않았지만 상기 동축 케이블(13) 일측을 관통하는 관통공(도시되지 않음)을 형성하여 상기 핸들(H)을 노출시키는 것도 가능하다.Although not shown for this purpose, it is also possible to form a through hole (not shown) passing through one side of the coaxial cable 13 to expose the handle (H).

또한 상기 동축 파이프(13)의 경우 도시되지 않았으나 2개로 분할하여 본 실시예의 프로브 고정구(400)를 장착한 후 나머지 동축 파이프를 부착하는 것도 가능하며, 견고한 고정을 위해 플랜지를 부착하여 고정하는 것도 가능하다.In addition, in the case of the coaxial pipe 13, it is possible to attach the rest of the coaxial pipe after mounting the probe fixture 400 of the present embodiment by dividing into two, or may be fixed by attaching a flange for a solid fixing Do.

한편 상기 하부 하우징(410)을 덮는 상부 하우징(440)을 더 포함하는 것도 가능하다.Meanwhile, it is also possible to further include an upper housing 440 covering the lower housing 410.

이때, 상기 상부 하우징(440)은 중공의 원통 형상이되 하측면은 개방된 형상 인 상부 하우징 본체(441)와, 상기 상부 하우징 본체(441)의 상측면 일 영역이 관통되어 상기 프로브(12)가 삽입되는 관통공(442)을 구비할 수 있다.At this time, the upper housing 440 is a hollow cylindrical shape, but the lower side of the upper housing body 441 and the open shape of the upper side of the upper housing body 441 penetrates the probe 12 It may have a through hole 442 is inserted.

실시예5Example 5

본 실시예에서는 상술한 본 발명의 프로브 고정구를 이용하여 측정 대상물의 레벨을 측정하는 방법(S100)에 대해 설명한다.In the present embodiment, a method (S100) of measuring the level of the measurement object using the probe fixture of the present invention described above will be described.

우선 도 10을 참고하면 상기 프로브 고정구에 의한 제1시그널(S1)과 측정 대상물에 의한 제2시그널(S2)이 나와 있다.First, referring to FIG. 10, the first signal S1 by the probe fixture and the second signal S2 by the measurement target are shown.

상기 제1시그널(S1)은 도1에서 설명한 전송 펄스가 상기 프로브 고정구와 프로브사이의 유전율차이로 인해 발생한 반사펄스에 의한 것이다.The first signal S1 is due to a reflection pulse generated by the transmission pulse described in FIG. 1 due to a difference in dielectric constant between the probe fixture and the probe.

또한 상기 제2시그널(S2)은 상기 프로브와 측정 대상물의 유전율차이로 인해 발생한 반사펄스에 의한 것이다.In addition, the second signal S2 is due to a reflection pulse generated due to a difference in dielectric constant between the probe and the measurement target.

이때 가로축은 시간을 나타내며 세로축은 시호의 강도(예를 들어 전압)를 나타낸다.In this case, the horizontal axis represents time and the vertical axis represents the strength (for example, voltage) of the time signal.

상기 도 10에서는 시간 t1에서 프로브 고정구에 의한 제1시그널(S1)이 나타나 있고 시간 t2에서 측정 대상물에 의한 제2시그널(S2)이 나타나 있다.In FIG. 10, the first signal S1 by the probe fixture is shown at time t1, and the second signal S2 by the measurement object is shown at time t2.

이는 상기 측정 대상물상에 프로브 고정구가 배치되어 있음을 뜻한다.This means that the probe fixture is disposed on the measurement object.

이때 상기 제1시그널(S1)의 강도는 제2시그널(S2)보다 강도가 낮다.In this case, the strength of the first signal S1 is lower than that of the second signal S2.

이는 상술한 바와 같이 프로브 고정구의 유전율이 측정 대상물의 유전율보다 낮기 때문이다.This is because the dielectric constant of the probe fixture is lower than that of the measurement target as described above.

예를 들어 측정 대상물이 유전율 40정도의 물이라면 상기 프로브 고정구는 유전율이 4정도인 테프론을 사용하기 때문이다.For example, if the object to be measured is water with a dielectric constant of about 40, the probe fixture uses Teflon having a dielectric constant of about 4.

이상 설명한 바와 같이 본 방법은 상술한 프로브 고정구를 구비한 레벨 측정 장치를 이용하여 측정 대상물의 레벨을 측정하는 방법(S100)이다.As described above, the method is a method (S100) of measuring the level of a measurement object by using the level measuring device provided with the probe fixture described above.

상기 방법(S100)은 우선 전송 펄스 발신 후 되돌아오는 반사 펄스를 측정하는 단계(S110, 이하 제1단계라 함)를 수행한다.The method (S100) first performs a step (S110, hereinafter referred to as a first step) of measuring the reflected pulse returned after the transmission pulse is transmitted.

이때, 일정 강도 이하의 반사 펄스는 상기 프로브 고정구에 의한 반사 펄스로 간주하는 단계(S120, 이하 제2단계라 함)를 수행한다.In this case, the reflection pulse of a predetermined intensity or less is regarded as a reflection pulse by the probe fixture (S120, hereinafter referred to as a second step).

상기 도 10에 의한 경우 시간 t1에서의 제1시그널(S1)이 해당될 것이다.In the case of FIG. 10, the first signal S1 at time t1 will correspond.

그리고 나서 일정 강도 이상의 반사 펄스는 상기 측정 대상물에 의한 반사 펄스로 간주하여 상기 반사 펄스를 기준으로 측정 대상물의 레벨을 측정하는 단계(S130, 이하 제3단계라고 함)를 수행한다.Thereafter, the reflection pulse having a predetermined intensity or more is regarded as a reflection pulse by the measurement object, and the measurement of the level of the measurement object based on the reflection pulse (S130, hereinafter referred to as the third step) is performed.

이때, 상기 제3단계(S130)에서는 도 10에서의 제2시그널(S2)이 대상이 될 것이다.In this case, in the third step S130, the second signal S2 of FIG. 10 will be the target.

이상 설명한 바와 같은 본 발명이 방법에 의해 외부 노이즈 또는 동축 파이프와의 노이즈 없이 정밀한 레벨 측정이 가능해 진다.As described above, the present invention enables precise level measurement without external noise or noise with the coaxial pipe.

도 1 및 도 2는 종래의 레벨 측정 장치의 개념을 도시한 개념도이다.1 and 2 is a conceptual diagram showing the concept of a conventional level measuring device.

도 3 내지 도 9는 프로브 고정구의 다양한 실시예 및 작동 관계를 설명하는 개념도이다. 3 to 9 are conceptual diagrams illustrating various embodiments and operational relationships of probe fixtures.

도 10은 본 발명에 따른 레벨 측정 장치에 의해 획득되는 반사 펄스를 도시하는 그래프이다.10 is a graph showing reflected pulses obtained by the level measuring device according to the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

100,200,300,400 : 프로브 고정구 12 : 프로브100,200,300,400: probe fixture 12: probe

13 : 동축 파이프13: coaxial pipe

Claims (13)

삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 측정 대상물(W)에 인입되는 프로브(12)와,A probe 12 drawn into the measurement object W, 상기 프로브(12)를 수용하는 동축 파이프(13)와,A coaxial pipe 13 for receiving the probe 12, 상기 프로브(12)가 상기 동축 파이프(13) 내면과 접촉하지 않도록 고정하는 프로브 고정구(400)와,A probe fixture 400 fixed to prevent the probe 12 from contacting an inner surface of the coaxial pipe 13; 상기 프로브(12)와 펄스를 송수신하여 측정 대상물(W)의 레벨을 산정하는 헤드(11)를 포함하되,It includes a head 11 for estimating the level of the measurement target (W) by transmitting and receiving a pulse with the probe 12, 상기 프로브 고정구(400)는 링 형상의 회전 링 본체(421)와 상기 회전 링 본체(421) 일측에서 돌출되어 상기 동축 파이프(13) 외측으로 관통하는 핸들(H)을 구비하는 회전 링(420)과,The probe fixture 400 has a ring-shaped rotary ring body 421 and a rotary ring 420 having a handle (H) protruding from one side of the rotary ring body 421 and penetrates to the outside of the coaxial pipe 13. and, 상기 회전 링(420)이 수용되는 한편 상기 동축 파이프(13)에 장착되는 것으로서 중공의 원통형상이되 상면이 개방된 하부 하우징 본체(411)와 상기 하부 하우징 본체(411) 중앙부에서 돌출되어 상기 회전 링(420)의 중앙부(421b)에 삽입되는 삽입부(412)와, 상기 삽입부(412) 및 하부 하우징 본체(411) 바닥면을 관통하여 상기 프로브(12)가 삽입되도록 하는 관통공(412a)과, 상기 하부 하우징 본체(411) 외측면에 관통되어 상기 핸들(H)이 삽입되는 슬롯(413)을 구비하는 하부 하우징(410)과,The rotary ring 420 is accommodated while being mounted to the coaxial pipe 13 and is hollow cylindrical and protrudes from the lower housing main body 411 and the lower housing main body 411 the center of the upper surface is open the rotary ring An insertion portion 412 inserted into the center portion 421b of the 420 and a through hole 412a penetrating the bottom surface of the insertion portion 412 and the lower housing body 411 to insert the probe 12. And a lower housing 410 having a slot 413 through which an outer surface of the lower housing body 411 penetrates and into which the handle H is inserted. 일측은 상기 회전 링(420)에 결합되고 타측은 상기 삽입부(412)에 고정되어 상기 회전 링(420)의 회전에 의해 구동되는 다수개의 블레이드(430)를 포함하여,One side is coupled to the rotation ring 420 and the other side is fixed to the insertion portion 412 includes a plurality of blades 430 driven by the rotation of the rotation ring 420, 상기 회전 링(420)의 회전에 의해 상기 블레이드(430)가 상기 프로브 중심측으로 모여지도록 구동되어 상기 프로브(12)가 상기 동축 파이프(13)의 내측면과 접촉하지 않도록 하는 것을 특징으로 하는 프로브 접촉 방식의 레벨 측정 장치Probe contact is characterized in that the blade 430 is driven to gather toward the probe center by the rotation of the rotary ring 420 so that the probe 12 does not contact the inner surface of the coaxial pipe 13. Level measuring device 제5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 하부 하우징(410)을 덮는 상부 하우징(440)을 더 포함하되,Further comprising an upper housing 440 covering the lower housing 410, 상기 상부 하우징(440)은 중공의 원통 형상이되 하측면은 개방된 형상인 상부 하우징 본체(441)와, The upper housing 440 is a hollow cylindrical shape, but the lower side of the upper housing body 441 and the open shape, 상기 상부 하우징 본체(441)의 상측면 일 영역이 관통되어 상기 프로브(12)가 삽입되는 관통공(442)을 구비하는 것을 특징으로 하는 프로브 접촉 방식의 레벨 측정 장치.Probe contact level measurement apparatus, characterized in that it comprises a through hole 442 through which the upper surface of the upper housing main body (441) is inserted so that the probe (12) is inserted. 제5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 동축 파이프(13) 내측에는 상기 하부 하우징(410)이 걸림되도록 돌출되는 걸림턱(13c)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 접촉 방식의 레벨 측정 장치.Probe contact level measurement apparatus further comprises a locking projection (13c) protruding to engage the lower housing (410) inside the coaxial pipe (13). 제5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 블레이드(430)는 상기 회전 링(200)의 중심부 방향으로 갈수록 곡률이 증가하는 형상의 블레이드 본체(431)와,The blade 430 has a blade body 431 of the shape that the curvature increases toward the central direction of the rotary ring 200, 상기 블레이드 본체(431) 일 영역에 형성되어 상기 회전 링(42)과 결합되는 제1고정부(432)와,A first fixing part 432 formed in one area of the blade body 431 and coupled to the rotation ring 42; 상기 블레이드 본체(431) 타 영역에 형성되어 상기 삽입부(412)와 결합되는 제2고정부(433)를 포함하여,Including the second fixing part 433 formed in the other area of the blade body 431 and coupled to the insertion portion 412, 상기 회전 링(200)의 회전시 상기 제2고정부(433)를 중심으로 상기 블레이드 본체(431)가 회전하며 모여지는 것을 특징으로 하는 프로브 접촉 방식의 레벨 측정 장치.Probe contact level measurement device, characterized in that when the rotation of the rotary ring 200, the blade main body 431 is gathered around the second fixing portion (433). 제5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 프로브 고정구는 상기 측정 대상물(W)보다 유전율이 낮은 것을 특징으로 하는 프로브 접촉 방식의 레벨 측정 장치.The probe fixture is a level measuring device of the probe contact method, characterized in that the dielectric constant is lower than the measurement object (W). 제5항에 있어서,,The method of claim 5, 상기 프로브 고정구는 테프론을 사용하는 것을 특징으로 하는 프로브 접촉 방식의 레벨 측정 장치.The probe fixture is a probe contact type level measurement apparatus, characterized in that using Teflon. 삭제delete 삭제delete 삭제delete
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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EP1010970A1 (en) * 1998-12-15 2000-06-21 European Community A level meter for dielectric liquids
WO2006003082A2 (en) * 2004-07-07 2006-01-12 Endress+Hauser Gmbh+Co. Kg Device for aligning and centring a rod or cable-type surface wave guide of a field device

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