KR100936747B1 - Interferometer optic structure of using the galvanometer - Google Patents

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강원대학교산학협력단
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Abstract

갈바노미터를 이용한 광간섭계 구조가 제공된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 갈바노미터를 이용한 광간섭계 구조는 빛이 광원으로부터 광 간섭계로 입사되면, 왕복 회전운동하며 빛을 반사하는 갈바노미터(Galvanometer); 갈바노미터에서 반사된 빛이 통과하는 제 1렌즈; 제 1렌즈를 통과한 빛이 서로 수직한 두 개의 방향으로 분할되도록 하는 빔스플리터; 빔스플리터에서 분할된 하나의 빛이 입사되며, 다른 하나의 빛이 입사되는 샘플팔과의 광 경로차를 측정하기 위한 기준팔 미러; 및 빔스플리터에서 출사된 빛이 광섬유로 입사되도록 하는 제 2렌즈를 포함하되, 기준팔 미러와 샘플에 의해 각각 반사 또는 산란된 빛은 다시 빔스플리터에서 결합되어 간섭이 이루어지는 것을 특징으로 한다.An optical interferometer structure using a galvanometer is provided. An optical interferometer structure using a galvanometer according to an embodiment of the present invention is a galvanometer (Galvanometer) that reflects the light reciprocating rotation when the light is incident from the light source to the optical interferometer; A first lens through which the light reflected by the galvanometer passes; A beam splitter for splitting the light passing through the first lens in two directions perpendicular to each other; A reference arm mirror configured to measure an optical path difference with a sample arm into which one light split from the beam splitter is incident and the other light is incident; And a second lens for allowing the light emitted from the beam splitter to be incident on the optical fiber, wherein the light reflected or scattered by the reference arm mirror and the sample, respectively, is combined in the beam splitter to cause interference.

갈바노미터, 빔 스플리터, 렌즈, 광섬유, 광 스캔, 광 경로차 Galvanometer, beam splitter, lens, optical fiber, optical scan, optical path difference

Description

갈바노미터를 이용한 광간섭계 구조{Interferometer optic structure of using the galvanometer}Interferometer optic structure of using the galvanometer

본 발명은 광간섭계 구조에 관한 것으로, 더욱 상세하게는, 왕복 회전운동하는 갈바노미터(Galvanometer), 렌즈, 정육면체형의 빔스플리터 및 기준판 미러 등으로 구성되어, 광변조기, 복조기 또는 대역통과필터 등과 같은 별도의 장치 없이도 샘플 스캐닝에 따른 두 팔(arm)간의 불필요한 광 경로차 및 간섭신호의 발생을 배제할 수 있는 갈바노미터를 이용한 광간섭계 구조에 관한 것이다. The present invention relates to an optical interferometer structure, and more particularly, to an optical modulator, a demodulator, or a bandpass filter, which is composed of a galvanometer, a lens, a cube-shaped beam splitter, a reference plate mirror, and the like. The present invention relates to an optical interferometer structure using a galvanometer that can eliminate unnecessary optical path difference and interference signal generation between two arms according to sample scanning without a separate device.

일반적으로 광간섭 단층촬영법(optical coherence tomography: OCT)은 광의 기준 빔과 샘플로부터 반사된 검출 빔 사이의 간섭을 측정할 수 있는 영상화 기법으로, 최근 MRI나 CT보다 구조가 간단하고, 초음파 영상 촬영기보다 높은 해상도를 제공할 수 있다는 장점 때문에 지속적으로 연구/개발되고 있다. In general, optical coherence tomography (OCT) is an imaging technique that can measure the interference between the reference beam of light and the detection beam reflected from the sample, which is simpler in structure than MRI or CT in recent years. Due to the advantage of being able to provide high resolution, it is constantly being researched and developed.

광간섭성 단층촬영장치는 초음파 대신 근적외선(near-infrared radiation; NIR) 파장의 광원을 생체 등 다중 산란 물체에 조사하여, 반사된 근적외선(NIR)의 세기를 여러 각도에서 측정하여 컴퓨터 신호 처리함으로써 조직의 영상을 얻게 된다. The optical coherence tomography apparatus irradiates a light source having a near-infrared radiation (NIR) wavelength to a multi-scattering object such as a living body instead of ultrasonic waves, and measures the intensity of the reflected near-infrared (NIR) at various angles to process the computer signal. You will get a video of.

도 1은 종래 광간섭성 단층촬영장치에 적용되는 광간섭계 구조를 나타낸 개략도이다. 1 is a schematic view showing the structure of an optical interferometer applied to a conventional optical coherence tomography apparatus.

도 1에 도시된 바와 같이, 종래 광간섭계 구조는 서큘레이터(Circulator, 10), 분리기, Polarization controller(30), 갈바노미터(40), 렌즈(50) 및 기준팔 미러(60) 등으로 구성되어 있다. As shown in FIG. 1, the conventional optical interferometer structure includes a circulator 10, a separator, a polarization controller 30, a galvanometer 40, a lens 50, and a reference arm mirror 60. It is.

도시되지는 않았지만, 광원에서 출사되는 광의 파장은 검사 대상체(sample) 내에 있는 물체에 대해 낮은 흡수율을 갖고 깊숙이 침투될 수 있는 파장을 적용하는 것이 바람직하다.Although not shown, it is preferable that the wavelength of the light emitted from the light source is a wavelength that can penetrate deeply with a low absorption rate to the object in the sample.

가령, 검사 대상체(sample)가 인체인 경우, 인체 조직 내에 있는 물, 헤모글로빈, 멜라닌 등에 소량만 흡수되고, 인체 내부로 깊숙이 침투될 수 있도록 800 nm 내지 1300 nm의 파장의 광을 출사하는 광원을 적용하는 것이 바람직하다.For example, when the sample is a human body, a light source that emits light having a wavelength of 800 nm to 1300 nm may be applied to absorb only a small amount of water, hemoglobin, melanin, and the like into the human tissue and penetrate deeply into the human body. It is desirable to.

광원으로부터 입사된 광을 분할하여 기준팔 미러(60)와 샘플팔 측으로 각각 광(光)을 출사하는 분리기는 일반적으로 광섬유 커플러(20)가 주로 적용되어 왔다. 여기서, 광섬유 커플러(20)는 복수개의 광섬유를 접합한 접합부를 이용하여 빛을 분리 또는 결합하는 역할을 수행한다. In general, an optical fiber coupler 20 has been mainly applied to a separator that splits the light incident from the light source and emits light toward the reference arm mirror 60 and the sample arm. Here, the optical fiber coupler 20 serves to separate or combine the light by using a junction portion in which a plurality of optical fibers are bonded.

종래 SS-OCT와 SD-OCT에서는 2X2 광섬유 커플러(20)를 이용하여 기준팔과 샘플팔을 먼저 분리하고, 다음에 샘플팔에 광 스캐닝을 위한 갈바노미터(Galvanometer, 40)와 렌즈(50)가 설치된다. 이때, 갈바노미터(40)는 렌즈(50)의 초점거리에 위치된다.In the conventional SS-OCT and SD-OCT, a reference arm and a sample arm are first separated using a 2X2 optical fiber coupler 20, and then a galvanometer 40 and a lens 50 for optical scanning on the sample arm. Is installed. In this case, the galvanometer 40 is positioned at the focal length of the lens 50.

이러한 종래 광간섭계의 구조에서는 샘플(sample)을 스캐닝(scanning)하기 위해 갈바노미터(40)를 왕복/회전운동을 시키면, 회전 위치에 따라 렌즈(50)까지의 진행거리, 즉 샘플팔의 길이가 변하게 된다. In the structure of the conventional optical interferometer, when the galvanometer 40 is reciprocated / rotated to scan a sample, the traveling distance to the lens 50 according to the rotation position, that is, the length of the sample arm Will change.

이처럼, 갈바노미터(40)의 회전 위치에 따라 변하는 샘플팔의 길이에 비해, 기준팔의 길이는 항상 일정하게 유지되기 때문에, 갈바노미터(40)의 회전 위치가 변함에 따라 샘플팔과 기준팔 간의 광 경로차도 변하게 된다는 문제점이 있다. As such, the length of the reference arm is always kept constant compared to the length of the sample arm that varies with the rotational position of the galvanometer 40, so that the reference arm and the reference arm change as the rotational position of the galvanometer 40 changes. There is a problem that the optical path difference between the arms is also changed.

이로 인해, 샘플(sample)과는 상관없는 불필요한 간섭신호가 야기되고, 이러한 문제점을 해결하기 위해서, 초점거리가 큰 렌즈를 사용한다는 등 별도의 장치 또는 방법이 요구된다는 문제점이 있다.This causes an unnecessary interference signal irrelevant to a sample, and in order to solve this problem, there is a problem that a separate device or method is required, such as using a lens having a large focal length.

또한, 종래 기술에서는 기준팔과 샘플팔을 거쳐 되돌아온 두 빛이 간섭할 때, 2X2 광섬유 커플러(20)의 출력단에 연결되는 두 개의 광섬유에 의해 변형된 편광으로 인해 간섭신호의 세기가 시간에 따라 바뀌게 된다는 문제점이 있다. 이를 방지하기 위해서는 기준팔 내에 편광 제어기를 추가적으로 설치하여야 한다는 단점이 있다. In addition, in the prior art, when two lights returned through the reference arm and the sample arm interfere with each other, the intensity of the interference signal changes with time due to the polarization modified by the two optical fibers connected to the output terminal of the 2X2 optical fiber coupler 20. There is a problem. In order to prevent this, there is a disadvantage in that an additional polarization controller must be installed in the reference arm.

따라서, 광 스캔시 발생하는 샘플팔과 기준팔 간의 광 경로차 및 편광에 대한 변화의 문제점을 별도의 렌즈 또는 편광 제어기 없이도 해결할 수 있도록 하기 위한 새로운 방안이 요구되고 있다. Therefore, there is a need for a new method to solve the problems of the optical path difference and polarization change between the sample arm and the reference arm generated during the optical scan without a separate lens or polarization controller.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 왕복 회전운동하는 갈바노미터(Galvanometer), 렌즈, 정육면체형의 빔스플리터 및 기준판 미러 등으로 구성되어, 광변조기, 복조기 또는 대역통과필터 등과 같은 별도의 장치 없이도 샘플 스캐닝에 따른 두 팔(arm)간의 불필요한 광 경로차 및 간섭신호의 발생을 배제할 수 있는 갈바노미터를 이용한 광간섭계 구조를 제공하는 것이다.The technical problem to be achieved by the present invention is composed of a galvanometer, a lens, a cube-shaped beam splitter and a reference plate mirror for reciprocating rotation, without a separate device such as an optical modulator, a demodulator or a band pass filter It is to provide an optical interferometer structure using a galvanometer that can eliminate the unnecessary optical path difference between the two arms (arm) according to the sample scanning and the generation of the interference signal.

본 발명의 목적들은 이상에서 언급한 목적으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해되어질 수 있을 것이다. The objects of the present invention are not limited to the above-mentioned objects, and other objects which are not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 갈바노미터를 이용한 광간섭계 구조는 빛이 광원으로부터 광 간섭계로 입사되면, 왕복 회전운동하며 빛을 반사하는 갈바노미터(Galvanometer); 갈바노미터에서 반사된 빛이 통과하는 제 1렌즈; 제 1렌즈를 통과한 빛이 서로 수직한 두 개의 방향으로 분할되도록 하는 빔스플리터; 빔스플리터에서 분할된 하나의 빛이 입사되며, 다른 하나의 빛이 입사되는 샘플팔과의 광 경로차를 측정하기 위한 기준팔 미러; 및 빔스플리터에서 출사된 빛이 광섬유로 입사되도록 하는 제 2렌즈를 포함하되, 기준팔 미러와 샘플 에 의해 각각 반사 또는 산란된 빛은 다시 빔스플리터에서 결합되어 간섭이 이루어지는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, an optical interferometer structure using a galvanometer according to an embodiment of the present invention is a galvanometer (Galvanometer) that reflects the light reciprocating rotation when the light is incident from the light source to the optical interferometer; A first lens through which the light reflected by the galvanometer passes; A beam splitter for splitting the light passing through the first lens in two directions perpendicular to each other; A reference arm mirror configured to measure an optical path difference with a sample arm into which one light split from the beam splitter is incident and the other light is incident; And a second lens for allowing the light emitted from the beam splitter to be incident on the optical fiber, wherein the light reflected or scattered by the reference arm mirror and the sample, respectively, is combined in the beam splitter to cause interference.

여기서, 제 1렌즈의 우측 초점거리에는 갈바노미터가 위치하고, 좌측 초점거리에는 기준팔 미러가 위치하는 것이 바람직하다.The galvanometer is positioned at the right focal length of the first lens and the reference arm mirror is positioned at the left focal length.

이때, 제 1렌즈 및 제 2렌즈는 양면이 볼록렌즈인 것이 좋을 수 있다. In this case, it may be preferable that both surfaces of the first lens and the second lens are convex lenses.

또한, 기준팔 미러는 빔스플리터를 기준으로 갈바노미터에서 반사된 빛이 통과하는 제 1렌즈에 대향하여 설치된 것이 바람직하다. In addition, the reference arm mirror is preferably provided to face the first lens through which the light reflected from the galvanometer passes based on the beam splitter.

본 발명의 일 실시예에 따른 갈바노미터를 이용한 광간섭계 구조에서 갈바노미터는 하나의 반사면을 갖는 반사경; 및 반사경이 유동하도록 구동하는 구동부로 이루어진 것이 바람직하다. In an optical interferometer structure using a galvanometer according to an embodiment of the present invention, the galvanometer includes a reflector having one reflective surface; And a driving unit for driving the reflecting mirror to flow.

상기와 같은 본 발명의 갈바노미터를 이용한 광간섭계 구조에 따르면, 렌즈의 초점거리가 짧아도 기준팔과 샘플팔 간에 스캐닝에 따른 광 경로차가 존재하지 않으므로 렌즈의 크기를 줄일 수 있으며, 빔스플리터에 의해 분리되는 기준팔과 샘플팔이 자유공간상에 구현됨에 따라, 상기 두 팔(arm)을 통과하는 빛은 편광의 변화가 발생하지 않는다는 효과가 있다. According to the optical interferometer structure using the galvanometer of the present invention as described above, even if the focal length of the lens is short, there is no optical path difference due to scanning between the reference arm and the sample arm, so that the size of the lens can be reduced, by the beam splitter As the reference arm and the sample arm to be separated are implemented in free space, the light passing through the two arms has an effect that no change in polarization occurs.

이에 따라, 본원은 별도의 편광 제어기가 요구되지 않으며, 또한, 샘플팔과 기준팔이 하나의 렌즈를 공유하기 때문에 기준팔 미러 및 샘플에 빛을 집광시키기 위한 별도의 렌즈도 요구되지 않기 때문에 제조 비용을 줄일 수 있다는 장점이 있 다.Accordingly, the present application does not require a separate polarization controller, and because the sample arm and the reference arm share a single lens, a separate arm for condensing light to the reference arm mirror and the sample is not required. This has the advantage of reducing the cost.

기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.Specific details of other embodiments are included in the detailed description and the drawings.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있을 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것으로, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. Advantages and features of the present invention and methods for achieving them will be apparent with reference to the embodiments described below in detail with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but may be embodied in various different forms, and the present embodiments merely make the disclosure of the present invention complete, and are common in the art to which the present invention pertains. It is provided to inform those skilled in the art to the fullest extent of the invention, the invention being defined only by the scope of the claims. Like reference numerals refer to like elements throughout.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 갈바노미터를 이용한 광간섭계 구조를 나타낸 개략도이다. 2 is a schematic diagram showing an optical interferometer structure using a galvanometer according to an embodiment of the present invention.

도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 갈바노미터를 이용한 광간섭계 구조는 갈바노미터(Galvanometer, 100), 렌즈(112, 114), 빔스플리터(120) 및 기준팔 미러(130) 등을 포함한다. As shown in FIG. 2, an optical interferometer structure using a galvanometer according to an embodiment of the present invention includes a galvanometer (100), lenses 112 and 114, a beam splitter 120, and a reference arm mirror. 130 and the like.

여기서, 갈바노미터(Galvanometer, 100)는 입사되는 빛을 반사하기 위해 반사면을 구비하는 반사경과 상기 반사경을 구동시키기 위한 구동부를 포함하는데, 이러한 갈바노미터(100)는 컴퓨터 또는 별도의 장치에 의해 제어될 수 있다.Here, the galvanometer (100) includes a reflector having a reflecting surface to reflect incident light and a driving unit for driving the reflector. The galvanometer 100 may be a computer or a separate device. Can be controlled.

이러한 갈바노미터(100)의 구동부에 의해 반사경은 광원으로부터 입사되는 빛의 광로를 가변시킬 수 있으며, 더욱 바람직하게는, 반사율을 높이기 위한 수단으로 금(Au) 등으로 코팅된 반사면이 본 발명에 적용되어 좋을 수 있음은 당업자에 있어 자명할 것이다. By the driving unit of the galvanometer 100, the reflector can vary the optical path of the light incident from the light source, more preferably, the reflecting surface coated with gold (Au) or the like as a means for increasing the reflectance of the present invention It will be apparent to those skilled in the art that the present invention may be applied to.

빔스플리터(120)는 일반적으로 과학과 산업분야에서 복수의 소자를 갖는 빛의 입사빔을 대응의 복수의 출사빔으로 분리하는 데 이용된다. 특히, 몇몇의 빔스플리터(120)는 비편광이거나 부분적으로 편광을 갖게 되는 빔에서 편광의 직각축을 갖는 선형의 편광 출사빔으로 분리하는 것이 가능하다. Beamsplitter 120 is generally used in science and industry to split an incident beam of light having a plurality of elements into a corresponding plurality of exit beams. In particular, some beamsplitters 120 are capable of separating into non-polarized or partially polarized beams in a linearly polarized exit beam having a perpendicular axis of polarization.

또한, 다른 빔스플리터(120) 디바이스들은 복수의 파장 소자들을 갖는, 다광변색성 빔, 또는 광대역 빔을 대응의 복수의 실질적으로 단색성 출사빔 또는 협소 스펙트럼 대역폭을 갖는 출사빔으로 분리할 수도 있다.Further, other beamsplitter 120 devices may separate a multiphotochromic beam, or a wideband beam, having a plurality of wavelength elements into a corresponding plurality of substantially monochromatic output beams or output beams having a narrow spectral bandwidth.

한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 갈바노미터를 이용한 광간섭광 구조에서 렌즈(112, 114)는 갈바노미터(100)를 통해 진행 각도가 변경된 빛이 빔스플리터(120)에 입사되도록 하기 위한 제 1렌즈(112)와 빔스플리터(120)에서 출사된 빛이 광섬유(140)로 입사되도록 하는 제 2렌즈(114)로 구분될 수 있다. 이때, 제 1렌즈(112)와 제 2렌즈(114)는 양면이 볼록한 형태로 이뤄지는 것이 바람직하다. On the other hand, in the optical coherence light structure using the galvanometer according to an embodiment of the present invention, the lenses 112 and 114 allow the light of which the traveling angle is changed through the galvanometer 100 to be incident on the beam splitter 120. For example, the first lens 112 and the beam splitter 120 may be divided into a second lens 114 to allow the light incident on the optical fiber 140. At this time, it is preferable that both surfaces of the first lens 112 and the second lens 114 are convex.

도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 갈바노미터를 이용한 광간섭광 구조에서 렌즈(112, 114)는 빔스플리터(120)를 기준으로 하여, 광원으로부터 입사된 빛을 소정의 각도로 변환해주는 갈바노미터(100) 측에 제 1렌즈(112)가 위치하고, 광 스캔의 대상이 되는 샘플(sample)에 대향하는 위치에 제 2렌즈(114)가 놓이는 것이 좋을 수 있다. As shown in FIG. 2, in the optical coherence light structure using a galvanometer according to an embodiment of the present invention, the lenses 112 and 114 may determine light incident from a light source based on the beam splitter 120. It may be preferable that the first lens 112 is positioned at the galvanometer 100 that converts the angle to the angle of the second lens 114, and the second lens 114 is positioned at a position opposite to the sample to be scanned.

이때, 양면이 볼록렌즈인 제 1렌즈(112)의 오른쪽 초점거리에는 갈바노미터(100)가 놓이고, 왼쪽에 초점이 맺히는 위치에는 기준팔 미러(130)가 위치하는 것이 바람직하다.In this case, it is preferable that the galvanometer 100 is placed at the right focal length of the first lens 112 having both sides of the convex lens, and the reference arm mirror 130 is positioned at the position at which the focal point is formed on the left side.

이러한 구조를 통해, 광원으로부터 출사된 빛이 본 발명의 실시예에 따른 광 간섭계로 입사하게 되면, 왕복 회전운동하는 갈바노미터(100)에 의해 빛이 소정의 각도로 반사되어 진행경로가 변경되고, 이 빛은 제 1렌즈(112)를 통과하여 수평으로 나아가게 된다. Through this structure, when the light emitted from the light source enters the optical interferometer according to the embodiment of the present invention, the light is reflected at a predetermined angle by the galvanometer 100 which reciprocates and the traveling path is changed. This light passes horizontally through the first lens 112.

이렇게 광원으로부터 입사되는 빛은, 원래 작은 단면의 평행광이기 때문에 갈바노미터(100)와 렌즈(112, 114), 그리고 빔스플리터(120)를 지나 기준팔 미러(130)에 초점이 맺히게 된다. Since the light incident from the light source is parallel light having a small cross section, the light is focused on the reference arm mirror 130 through the galvanometer 100, the lenses 112 and 114, and the beam splitter 120.

다시 말해, 제 1렌즈(112)를 통과한 빛은 빔스플리더(120)에 입사되고, 빔스플리터(120)를 통과하는 빛은 빔스플리터(120)에 의해 서로 수직한 두 개의 방향으로 나뉘게 되는데, 이때, 한쪽은 위에서 언급된 기준팔 미러(130)로 향하고, 다른 한쪽은 샘플팔로 향하게 된다. In other words, the light passing through the first lens 112 is incident on the beam splitter 120, and the light passing through the beam splitter 120 is divided in two directions perpendicular to each other by the beam splitter 120. In this case, one side is directed to the reference arm mirror 130 mentioned above, and the other side is directed to the sample arm.

기준팔 미러(130)와 샘플에 의해 각각 반사 또는 산란된 빛은 다시 빔스플리 터(120)에서 결합되어 간섭이 이루어지게 된다. The light reflected or scattered by the reference arm mirror 130 and the sample, respectively, is combined in the beam splitter 120 again to cause interference.

여기서, 기준팔과 간섭팔로 진행하는 빛은 빔스플리터(120)에 의해 비로소 분리되는 것이므로, 갈바노미터(100)의 회전 위치와는 무관하다. Here, since the light traveling to the reference arm and the interference arm is separated by the beam splitter 120, it is irrelevant to the rotational position of the galvanometer 100.

즉, 갈바노미터(100)가 왕복 회전할 때, 갈바노미터(100)로부터 제 1렌즈(112)까지의 거리는 주기적으로 변하지만, 기준팔과 샘플팔 간의 광학적 경로차는 갈바노미터(100)의 회전 위치와는 무관하기 때문에, 종래 광간섭계에서와 같이 불필요한 간섭신호가 발생하는 것을 방지할 수 있다. 이를 통해, 본 발명의 일 실시예에 따른 갈바노미터를 이용한 광간섭계 구조에서는 유효한 간섭신호의 추출과정이 종래보다 용이할 수 있다. That is, when the galvanometer 100 rotates reciprocally, the distance from the galvanometer 100 to the first lens 112 is periodically changed, but the optical path difference between the reference arm and the sample arm is the galvanometer 100. Since irrespective of the rotational position of, an unnecessary interference signal can be prevented from being generated as in the conventional optical interferometer. Through this, in the optical interferometer structure using the galvanometer according to an embodiment of the present invention, an effective process of extracting an interference signal may be easier than before.

이상, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해되어야만 한다. Although the embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, those skilled in the art to which the present invention belongs may be embodied in other specific forms without changing the technical spirit or essential features of the present invention. You will understand that. Therefore, the embodiments described above are to be understood in all respects as illustrative and not restrictive.

도 1은 종래 광간섭성 단층촬영장치에 적용되는 광간섭계 구조를 나타낸 개략도이다. 1 is a schematic view showing the structure of an optical interferometer applied to a conventional optical coherence tomography apparatus.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 갈바노미터를 이용한 광간섭계 구조를 나타낸 개략도이다. 2 is a schematic diagram showing an optical interferometer structure using a galvanometer according to an embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

100 : 갈바노미터(Galvanometer)100: Galvanometer

112 : 제 1렌즈 112: first lens

114 : 제 2렌즈114: second lens

120 : 빔스플리터 120: beam splitter

130 : 기준팔 미러130: reference arm mirror

140 : 광섬유 140: optical fiber

Claims (5)

왕복, 회전운동을 통해 광원으로부터 입사되는 단면의 평행광의 광로를 가변시켜 샘플을 스캐닝하는 갈바노미터;A galvanometer for scanning a sample by varying an optical path of parallel light of a cross section incident from a light source through reciprocating and rotating motions; 상기 갈바노미터에서 반사된 빛이 통과하는 제 1렌즈;A first lens through which the light reflected by the galvanometer passes; 상기 갈바노미터에서 반사된 빛이 서로 수직한 기준팔과 샘플팔로 분할되게 하는 빔스플리터;A beam splitter for splitting the light reflected from the galvanometer into a reference arm and a sample arm perpendicular to each other; 상기 빔스플리터에서 분할된 하나의 빛이 입사되며, 다른 하나의 빛이 입사되는 샘플팔과의 광 경로차를 측정하기 위한 기준팔 미러; 및A reference arm mirror for measuring an optical path difference with a sample arm into which one light split from the beam splitter is incident and the other light is incident; And 상기 빔스플리터에서 출사된 빛이 광섬유로 입사되도록 하는 제 2렌즈를 포함하되, It includes a second lens for allowing the light emitted from the beam splitter to enter the optical fiber, 상기 기준팔 미러와 샘플에 의해 각각 반사 또는 산란된 빛은 상기 빔스플리터에서 결합되어 간섭이 이루어지며,Light reflected or scattered by the reference arm mirror and the sample, respectively, is combined in the beam splitter to cause interference. 상기 갈바노미터와 기준팔 미러는 상기 제 1렌즈의 좌, 우측 초점거리에 각각 위치하는 것을 특징으로 하는 갈바노미터를 이용한 광간섭계 구조.And the galvanometer and the reference arm mirror are positioned at the left and right focal lengths of the first lens, respectively. 삭제delete 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 제 1렌즈 및 제 2렌즈는 양면이 볼록렌즈인 것을 특징으로 하는 갈바노미터를 이용한 광간섭계 구조.The first and second lenses are optical interferometer structure using a galvanometer, characterized in that both surfaces are convex. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 기준팔 미러는 빔스플리터를 기준으로 갈바노미터에서 반사된 빛이 통과하는 제 1렌즈에 대향하여 설치된 것을 특징으로 하는 갈바노미터를 이용한 광간섭계 구조.The reference arm mirror is an optical interferometer structure using a galvanometer, characterized in that installed against the first lens through which the light reflected from the galvanometer passes through the beam splitter. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 갈바노미터는, 하나의 반사면을 갖는 반사경; 및 The galvanometer may include a reflector having one reflective surface; And 상기 반사경이 유동하도록 구동하는 구동부로 이루어진 것을 특징으로 하는 갈바노미터를 이용한 광간섭계 구조.Optical interferometer structure using a galvanometer, characterized in that the drive unit for driving the reflector to flow.
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