KR100910864B1 - A circuit of autoprecharge control and a method of autoprecharge control - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 반도체 메모리 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 오토프리차지 동작이 수행되도록 제어하는 오토프리차지 제어회로 및 오토프리차지 제어방법에 관한 것이다. The present invention relates to a semiconductor memory device, and more particularly, to an auto precharge control circuit and an auto precharge control method for controlling an auto precharge operation to be performed.
일반적으로, 반도체 메모리 장치는 액티브 명령 ACT이 인가된 이후에 리드 또는 라이트 명령 RD/WT이 인가되며 명령에 따른 동작을 수행되고 난 다음 프리차지 명령 PCG가 인가된다. 즉, 프리차지 동작을 수행하도록 프리차지 명령 PCG가 따로 입력된다.In general, the semiconductor memory device is applied with the read or write command RD / WT after the active command ACT is applied and the precharge command PCG is applied after the operation according to the command is performed. That is, the precharge command PCG is separately input to perform the precharge operation.
한편, 반도체 메모리 장치가 점점 더 고속으로 동작하게 되면서 반도체 메모리 장치는 내부적으로 오토프리차지 명령을 생성함으로써 리드 또는 라이트 명령에 따른 동작을 수행하고 일정한 시간 이후에 자동적으로 프리차지 동작이 이루어지도록 제어하는 오토프리차지 방식을 적용하고 있다. Meanwhile, as the semiconductor memory device operates at a higher speed, the semiconductor memory device generates an auto precharge command internally to perform an operation according to a read or write command and to control the precharge operation to be automatically performed after a predetermined time. Auto precharge is applied.
반도체 메모리 장치는 외부에서 오토프리차지를 수반하는 리드 또는 라이트 명령이 인가되는 경우 인에이블 상태로 인가되는 어드레스 ADD<10>에 의해 오토프 리차지 제어회로를 구동시켜 리드 또는 라이트 명령에 따른 동작을 수행한 이후에 자동적으로 프리차지 동작이 이루어지도록 오토프리차지 신호를 생성한다. When a read or write command with auto precharge is applied from the outside, the semiconductor memory device drives the autocharge control circuit by the address ADD <10> which is applied in an enable state to perform an operation according to the read or write command. After that, an auto precharge signal is generated to automatically perform a precharge operation.
도 1을 참조하여 종래 기술에 따른 반도체 메모리 장치의 오토프리차지 제어회로를 살펴보면, 종래 기술에 따른 반도체 메모리 장치의 오토프리차지 제어회로는, 반도체 메모리 장치의 외부에서 인가되는 복수의 신호들 CSB, RASB, CASB, WEB를 디코딩하여 다수의 뱅크 각각에 대응되며 라이트 동작을 수행하는 라이트 펄스 CASP<0:7>를 출력하는 라이트 펄스 발생부(10)와, 어드레스 ADD<10>에 의해 오토프리차지 여부를 판단하여 그 결과에 따라 라이트 펄스 CASP<0:7>를 지연시켜 오토프리차지 신호 APCG<0:7>로 출력하는 오토프리차지 제어부(20)를 포함한다. Referring to FIG. 1, an auto precharge control circuit of a semiconductor memory device according to the prior art may include a plurality of signals CSB, which are applied from the outside of the semiconductor memory device. Auto-precharge by the
라이트 펄스 발생부(10)는 명령어 디코더(12), 라이트 지연부(14) 및 뱅크 디코더(16)를 포함한다.The
명령어 디코더(12)는 내부 클럭 CLK에 동기되어 입력되는 복수의 신호들 CSB, RASB, CASB, WEB을 디코딩하여 라이트 명령 WT을 출력한다. 여기서, 내부 클럭 CLK는 액티브 명령 ACT에 의해 인에이블되어 토글하고 프리차지 명령 PCG에 의해 디스에이블되는 클럭신호이다.The
라이트 지연부(14)는 라이트 명령 WT를 내부 클럭 CLK에 동기되는 애디티브 레이턴시 AL과 카스 라이트 레이턴시 CWL에 의해 지연시켜 라이트 신호 WTD를 출력한다. 여기서, 애디티브 레이턴시 AL(Additive Latency)는 외부에서 인가되는 라이트 명령에 의해 내부 동작을 제어하는 라이트 신호가 활성화되기까지의 지연 시간이며, 카스 라이트 레이턴시 CWL(CAS Write Latency)는 라이트 명령을 입력받은 이 후 라이트 데이터를 입력받기까지의 시간이다. The
뱅크 디코더(16)는 뱅크 어드레스 BA<0:2>를 디코딩하여 선택된 뱅크가 라이트 신호 WTD에 의해 라이트 동작을 수행하도록 각 뱅크에 대응되는 라이트 펄스 CASP<0:7>를 출력한다. 이때, 뱅크 어드레스 BA<0:2>에 의해 디코딩되는 뱅크는 8개이다. The
오토프리차지 제어부(20)는 오토프리차지 디코더(22), 버스트 랭스 카운터(24) 및 라이트 리커버리 카운터(26)를 포함한다. The auto
오토프리차지 디코더(22)는 라이트 펄스 CASP<0:7>를 입력받아 어드레스 ADD<10>이 인에이블될 때 즉, 오토프리차지를 수반하는 라이트 명령 WTA(Write with Auto precharge)가 인가될 때, 오토프리차지 펄스 APCGP<0:7>로 출력한다. The
버스트 랭스 카운터(24)는 오토프리차지 펄스 APCGP<0:7>를 입력받아 내부 클럭 CLK에 동기되는 버스트 랭스 BL(Burst Langth)에 의해 지연시켜 지연된 오토프리차지 펄스 APCGPD<0:7>를 출력한다. 여기서, 버스트 랭스 BL은 한번의 리드 또는 라이트 명령에 의해 출력되는 데이터의 수이다. The
라이트 리커버리 카운터(26)는 지연된 오토프리차지 펄스 APCGPD<0:7>를 입력받아 내부 클럭 CLK에 동기되는 라이트 리커버리 시간 tWR(Write Recovery Time) 동안 지연시켜 오토프리차지 동작을 수행하는 오토프리차지 신호 APCG<0:7>를 출력한다.The
여기서, 라이트 리커버리 시간 tWR은 라이트 명령에 의해 셀이 액세스되는 경우 유효한 데이터를 출력하기 위해 증폭된 데이터가 셀에 재저장되는데 필요한 시간으로, 라이트 동작을 완료한 후 오토프리차지 동작이 수행되기 이전에 보장되어야 하는 시간이다. Here, the write recovery time tWR is a time required for the amplified data to be stored again in the cell to output valid data when the cell is accessed by the write command. After the write operation is completed, the auto recovery operation is performed. It's time to be guaranteed.
한편, 라이트 리커버리 카운터(26)는 오토프리차지를 수반하는 라이트 명령 WTA가 인가되는 경우만 동작하는 것이 바람직하다. 그러나, 라이트 리커버리 카운터(26)를 동작시키는 내부 클럭 CLK은 도 2에 도시된 바와 같이 액티브 명령 ACT이 인가되는 외부 클럭 ECLK의 라이징 에지에 동기되어 인에이블되어 토글되며 프리차지 명령 PCG가 인가되는 외부 클럭 ECLK의 라이징 에지에 동기되어 디스에이블된다. On the other hand, the
그 결과, 라이트 리커버리 카운터(26)는 오토프리차지 동작과는 상관없는 상황에서도 내부 클럭 CLK에 의해 계속하여 동작하므로 전류 소모가 증가하는 문제점이 있다. As a result, since the
본 발명은 라이트 리커버리 카운터의 동작시간을 제어함으로써 전류 소모를 줄이는 오토프리차지 제어회로를 제공한다. The present invention provides an auto-precharge control circuit which reduces current consumption by controlling the operation time of the write recovery counter.
본 발명의 오토프리차지 제어회로는, 내부 클럭에 동기되어 반도체 메모리 장치의 외부로부터 인가되는 복수의 신호들을 디코딩하여 다수의 뱅크에 각각 대응되며 라이트 동작을 수행하는 라이트 펄스를 출력하는 라이트 펄스 발생부; 및 오토프리차지에 대응하여 상기 라이트 펄스를 지연시키고 상기 오토프리차지 상태에 따라 상기 내부 클럭의 인에이블 상태가 제어되며, 상기 내부 클럭의 인에이블 상태에서 지연된 상기 라이트 펄스를 오토프리자지 신호로 출력되는 오토프리차지 제어부;를 포함한다. The auto precharge control circuit of the present invention includes a write pulse generator for decoding a plurality of signals applied from an outside of the semiconductor memory device in synchronization with an internal clock to respectively output a write pulse corresponding to a plurality of banks and performing a write operation. ; And delaying the write pulse in response to auto precharge, and enabling the internal clock according to the auto precharge state, and outputting the write pulse delayed in the enable state of the internal clock as an auto precharge signal. And an auto precharge control unit.
상기 라이트 펄스 발생부는, 상기 복수의 신호들을 디코딩하여 상기 내부 클럭에 동기되는 상기 라이트 명령을 출력하는 명령어 디코더; 상기 라이트 명령을 상기 내부 클럭에 동기되는 애디티브 레이턴시 및 카스 라이트 레이턴시에 의해 지연시켜 라이트 신호로 출력하는 라이트 지연부; 및 상기 라이트 신호를 뱅크 어드레스를 디코딩한 신호와 결합하여 각 뱅크에 대응되며 라이트 동작을 수행하는 상기 라이트 펄스 신호를 출력하는 제 1 뱅크 디코더;를 포함한다. The write pulse generator may include a command decoder configured to decode the plurality of signals and output the write command synchronized with the internal clock; A write delay unit delaying the write command by an additive latency and a cascade write latency synchronized with the internal clock to output a write signal; And a first bank decoder that combines the write signal with a signal decoded a bank address and outputs the write pulse signal corresponding to each bank and performing a write operation.
상기 오토프리차지 제어부는, 상기 오토프리차지에 대응하여 인가되는 제어신호가 인에이블될 때 상기 라이트 펄스를 오토프리차지 펄스로 출력하는 오토프리차지 디코더; 상기 오토프리차지 펄스를 상기 내부 클럭에 동기되는 버스트 랭스에 의해 지연시켜 출력하는 버스트 랭스 카운터; 상기 오토프리차지 상태에 따라 상응하여 상기 내부 클럭의 인에이블 상태를 제어하여 상기 각 뱅크에 대응되는 오토프리차지 클럭을 출력하는 라이트 리커버리 카운터 제어부; 및 상기 오토프리차지 클럭에 의해 구동되어 상기 버스트 랭스 카운터의 출력을 라이트 리커버리 시간 동안 지연시켜 상기 오토프리차지 신호를 출력하는 라이트 리커버리 카운터;를 포함한다. The auto precharge control unit may include: an auto precharge decoder configured to output the light pulse as an auto precharge pulse when a control signal applied corresponding to the auto precharge is enabled; A burst length counter configured to delay and output the auto precharge pulse by a burst length synchronized with the internal clock; A write recovery counter controller configured to control an enable state of the internal clock according to the auto precharge state and output an auto precharge clock corresponding to each bank; And a write recovery counter driven by the auto precharge clock to delay the output of the burst length counter for a write recovery time to output the auto precharge signal.
바람직하게는 상기 제어신호는 상기 라이트 펄스를 출력하는 상기 복수의 신호들이 인가될 때 상기 외부로부터 인가되는 어드레스 필드 A10의 필드 값이다. Preferably, the control signal is a field value of the address field A10 applied from the outside when the plurality of signals outputting the write pulse are applied.
상기 라이트 리커버리 카운터 제어부는, 뱅크 어드레스를 디코딩하여 상기 각 뱅크에 대응되는 디코딩 신호를 출력하는 제 2 뱅크 디코더; 상기 디코딩 신호와 상기 제어신호 및 상기 라이트 명령이 인에이블되면 인에이블되고, 상기 오토프리차지 신호가 인에이블되면 디스에이블되는 클럭 인에이블 신호를 출력하는 클럭 인에이블 신호 생성부; 및 상기 클럭 인에이블 신호에 의해 상기 내부 클럭을 인에이블시켜 상기 오토프리차지 클럭으로 출력하는 클럭 출력부;를 포함한다. The write recovery counter controller may include: a second bank decoder configured to decode a bank address and output a decoded signal corresponding to each bank; A clock enable signal generator that is enabled when the decoded signal, the control signal, and the write command are enabled, and outputs a clock enable signal that is disabled when the auto precharge signal is enabled; And a clock output unit configured to enable the internal clock by the clock enable signal and output the internal clock as the auto precharge clock.
상기 클럭 인에이블 신호 생성부는, 상기 디코딩 신호와 상기 제어신호 및 상기 라이트 명령이 인에이블될 때 상기 클럭 인에이블 신호를 인에이블시키는 풀업부; 및 상기 오토프리차지 신호가 인에이블될 때 상기 클럭 인에이블 신호를 디스에이블시키는 풀다운부;를 포함한다. The clock enable signal generator may include a pull-up unit configured to enable the clock enable signal when the decoded signal, the control signal, and the write command are enabled; And a pull-down unit that disables the clock enable signal when the auto precharge signal is enabled.
상기 풀업부는, 상기 제어신호와 상기 라이트 명령을 낸드결합하여 출력하는 제 1 낸드게이트; 상기 제 1 낸드게이트의 출력을 반전하여 출력하는 제 1 인버터;The pull-up unit may include a first NAND gate NAND-coupled to the control signal and the write command; A first inverter for inverting and outputting the output of the first NAND gate;
상기 제 1 인버터의 출력과 상기 디코딩 신호를 낸드결합하여 출력하는 제 2 낸드게이트; 및 전원 전압단과 노드 사이에 연결되며 상기 제 2 낸드게이트의 출력에 의해 상기 노드로 출력되는 상기 클럭 인에이블 신호의 인에이블을 제어하는 PMOS 트랜지스터;를 포함하낟. A second NAND gate NAND-coupled to an output of the first inverter and the decoded signal; And a PMOS transistor connected between a power supply voltage terminal and a node and controlling the enable of the clock enable signal output to the node by an output of the second NAND gate.
상기 풀다운부는 상기 노드와 접지 전압단 사이에 연결되며 상기 오토프리차지 신호에 의해 상기 노드로 출력되는 상기 클럭 인에이블 신호의 디스에이블을 제어하는 NMOS 트랜지스터를 포함한다. The pull-down part includes an NMOS transistor connected between the node and the ground voltage terminal and controlling the disable of the clock enable signal output to the node by the auto precharge signal.
본 발명의 다른 오토프리차지 제어회로는, 오토프리차지 상태에 따라 내부 클럭의 인에이블 상태를 제어하고, 상기 내부 클럭이 인에이블된 상태에서 각 뱅크에 대응되는 오토프리차지 클럭을 출력하는 라이트 리커버리 카운터 제어부; 및 상기 오토프리차지 클럭에 의해 구동되어, 상기 내부 클럭에 동기되는 오토프리차지 신호를 라이트 리커버리 시간 동안 지연시켜 오토프리차지 동작을 수행하는 오토프리차지 신호로 출력하는 라이트 리커버리 카운터;를 포함한다. Another auto precharge control circuit of the present invention controls an enable state of an internal clock according to an auto precharge state, and write recovery outputs an auto precharge clock corresponding to each bank when the internal clock is enabled. Counter control unit; And a write recovery counter driven by the auto precharge clock and outputting the auto precharge signal synchronized with the internal clock for a write recovery time as an auto precharge signal for performing an auto precharge operation.
상기 리커버리 카운터 제어부는, 뱅크 어드레스를 디코딩하여 상기 각 뱅크에 대응되는 디코딩 신호를 출력하는 뱅크 디코더; 상기 디코딩 신호와 라이트 명령 및 오토프리차지에 대응하여 인가되는 제어신호가 인에이블되면 인에이블되고, 상기 오토프리차지 신호가 인에이블되면 디스에이블되는 클럭 인에이블 신호를 출력하는 클럭 인에이블 신호 생성부; 및 상기 클럭 인에이블 신호가 인에이블될 때 상기 내부 클럭을 상기 오토프리차지 클럭으로 출력하는 클럭 출력부;를 포함한다. The recovery counter controller may include: a bank decoder configured to decode a bank address and output a decoded signal corresponding to each bank; A clock enable signal generator configured to enable the decoding signal, a control command applied corresponding to the write command and auto precharge, and output a clock enable signal disabled when the auto precharge signal is enabled ; And a clock output unit configured to output the internal clock as the auto precharge clock when the clock enable signal is enabled.
상기 클럭 인에이블 신호 생성부는, 상기 디코딩 신호와 상기 제어신호 및 상기 라이트 명령이 인에이블될 때 상기 클럭 인에이블 신호를 인에이블시키는 풀업부; 및 상기 오토프리차지 신호가 인에이블될 때 상기 클럭 인에이블 신호를 디스에이블시키는 풀다운부;를 포함한다. The clock enable signal generator may include a pull-up unit configured to enable the clock enable signal when the decoded signal, the control signal, and the write command are enabled; And a pull-down unit that disables the clock enable signal when the auto precharge signal is enabled.
본 발명은 반도체 메모리 장치로 인가되는 명령이 오토프리차지를 수반하는 명령인지를 판단하여 그 결과에 따라 오토프리차지 클럭을 생성하고 상기 오토프리차지 클럭에 의해 라이트 리커버리 카운터를 제어하여 오토프리차지를 수행하는 오토프리차지 신호를 출력하는 오토프리차지 제어회로를 제공함으로써 전류 소모를 줄이는 효과가 있다. According to the present invention, it is determined whether a command applied to a semiconductor memory device is a command involving an auto precharge, and an auto precharge clock is generated according to the result, and a write recovery counter is controlled by the auto precharge clock. By providing an auto precharge control circuit that outputs an auto precharge signal to be performed, current consumption is reduced.
또한, 본 발명은 오토프리차지 동작이 시작되면 상기 오토프리차지 클럭을 디스에이블시켜 상기 라이트 리커버리 카운터의 동작을 정지시키는 오토프리차지 제어회로를 제공함으로써 전류 소모를 줄이는 효과가 있다. In addition, the present invention has the effect of reducing the current consumption by providing an auto precharge control circuit for disabling the auto precharge clock when the auto precharge operation is started to stop the operation of the write recovery counter.
본 발명은 반도체 메모리 장치로 인가되는 오토프리차지를 수반하는 명령에 한하여 리커버리 카운터를 동작시킴으로써 전류 소모를 개선하는 오토프리차지 제어회로에 관한 것으로, 바람직한 실시 예를 도 3과 같이 제시한다. The present invention relates to an auto precharge control circuit that improves current consumption by operating a recovery counter only for a command involving an auto precharge applied to a semiconductor memory device.
도 3을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 반도체 메모리 장치의 오토프리차지 제어회로는, 내부 클럭 CLK에 동기되어 반도체 메모리 장치의 외부에서 인가되는 복수의 신호들 CSB, RASB, CASB, WEB를 디코딩하여 다수의 뱅크에 각각 대응되며 라이트 동작을 수행하는 라이트 펄스 CASP<0:7>를 출력하는 라이트 펄스 발생부(100)와, 오토프리차지에 대응하여 라이트 펄스 CASP<0:7>를 지연시키고 오토프리차지 상태에 따라 내부 클럭 CLK의 인에이블 상태를 제어하여, 내부 클럭 CLK의 인에이블 상태에서 지연된 라이트 펄스 CASP<0:7>를 오토프리차지 동작을 수행하는 오토프리차지 신호 APCG<0:7>로 출력하는 오토프리차지 제어부(200)를 포함한다. Referring to FIG. 3, an auto precharge control circuit of a semiconductor memory device according to an exemplary embodiment of the present invention may include a plurality of signals CSB, RASB, CASB, and WEB that are applied from the outside of the semiconductor memory device in synchronization with an internal clock CLK. A
좀더 구체적으로 살펴보면, 라이트 펄스 발생부(100)는 명령어 디코더(102), 라이트 지연부(104) 및 뱅크 디코더(106)를 포함한다. In more detail, the
명령어 디코더(102)는 내부 클럭 CLK에 동기되어 입력되는 복수의 신호들 CSB, RASB, CASB, WEB을 디코딩하여 라이트 명령 WT을 출력한다. 여기서, 내부 클 럭 CLK는 액티브 명령 ACT에 의해 인에이블되어 토글하고 프리차지 명령 PCG에 의해 디스에이블되는 클럭 신호이다. The
명령어 디코더(102)는 칩 선택 바 신호 CSB(Chip Select Bar)와 카스 어드레스 스트로브 바 신호 CASB(Cas Address Strob) 및 라이트 인에이블 바 신호 WEB(Write Enable Bar)가 로우 레벨로 인가되고, 로우 어드레스 스트로브 바 신호 RASB(Row Address Strob Bar)가 하이 레벨로 인가될 때 라이트 명령 WT를 출력한다.The
라이트 지연부(104)는 라이트 명령 WT를 내부 클럭 CLK에 동기되는 애디티브 레이턴시 AL과 카스 라이트 레이턴시 CWL에 의해 지연시켜 라이트 신호 WTD를 출력한다. 여기서, 애디티브 레이턴시 AL는 외부에서 인가되는 라이트 명령에 의해 내부 동작을 제어하는 라이트 신호가 활성화되기까지의 지연 시간이며, 카스 라이트 레이턴시 CWL는 라이트 명령을 입력받은 이후 라이트 데이터를 입력받기까지의 시간이다. The
뱅크 디코더(106)는 뱅크 어드레스 BA<0:2>를 디코딩하여 선택된 뱅크가 라이트 신호 WTD에 의해 라이트 동작을 수행하도록 각 뱅크에 대응되는 라이트 펄스 CASP<0:7>를 출력한다. 이때, 뱅크 어드레스 BA<0:2>에 의해 디코딩되는 뱅크는 8개이다. The
오토프리차지 제어부(200)는 오토프리차지 디코더(202), 버스트 랭스 카운터(204), 라이트 리커버리 카운터 제어부(025) 및 라이트 리커버리 카운터(206)를 포함한다. The auto
오토프리차지 디코더(202)는 제어신호(어드레스 ADD<10>)가 인에이블되면 즉, 오토프리차지를 수반하는 명령 WTA(Write with Auto precharge)이 입력되면 라이트 펄스 CASP<0:7>를 오토프리차지 펄스 APCGP<0:7>로 출력한다. The
버스트 랭스 카운터(204)는 오토프리차지 펄스 APCG<0:7>을 내부 클럭 CLK에 동기되는 버스트 랭스 BL에 의해 지연시켜 지연된 오토프리차지 펄스 APCGPD<0:7>를 출력한다. 여기서, 버스트 랭스 BL은 한번의 리드 또는 라이트 명령에 의해 출력되는 데이터의 수이며, 모드 레지스트 셋 MRS(Mode Register Set)에 의해 설정된다. The
라이트 리커버리 카운터 제어부(205)는 제어신호 ADD<10>와 라이트 명령 WT에 의해 내부 클럭 CLK이 출력을 제어하여 각 뱅크에 대응되는 오토프리차지 클럭 CLK_AP을 출력한다. The write recovery
라이트 리커버리 카운터(206)는 오토프리차지 클럭 CLK_AP에 의해 구동되어 지연된 오토프리차지 펄스 APCGPD<0:7>를 라이트 리커버리 시간 tWR(Write Recovery Time) 동안 지연시켜 오토프리차지 동작을 수행하는 오토프리차지 신호 APCG<0:7>를 출력한다.The
도 4를 참조하여 라이트 리커버리 카운터 제어부(205)를 살펴보면, 라이트 리커버리 카운터 제어부(205)는, 뱅크 디코더(402), 클럭 인에이블 신호 생성부(404) 및 클럭 출력부(406)를 포함한다. Referring to FIG. 4, the write
뱅크 디코더(402)는 뱅크 어드레스 BA<0:2>를 디코딩하여 각 뱅크에 대응되는 디코딩 신호 DBA<0:7>를 출력한다. The
클럭 인에이블 신호 생성부(404)는 제어신호 ADD<10>와 라이트 명령 WT 및 디코딩 신호 DBA<0:7>가 모두 인에이블될 때 인에이블되고, 오토프리차지 신호 APCG<0:7>가 인에이블될 때 즉, 오토프리차지 동작이 수행될 때 디스에이블되는 클럭 인에이블 신호 CE를 출력한다. The clock enable
클럭 출력부(406)는 클럭 인에이블 신호 CE가 인에이블될 때 내부 클럭 CLK를 오토프리차지 클럭 CLK_AP로 출력한다. The
구체적으로, 클럭 인에이블 신호 생성부(404)는 제어신호 ADD<10>와 디코딩 신호 DBA<0:7>가 인에이블될 때 라이트 명령 WT에 의해 제어되어 클럭 인에이블 신호 CE를 인에이블시키는 풀업부(404_1) 및 오토프리차지 신호 APCG<0:7>에 의해 제어되어 클럭 인에이블 신호 CE를 디스에이블시키는 풀다운부(404_2)를 포함한다. Specifically, the clock enable
여기서, 풀업부(404_1)는 제어신호 ADD<10>와 라이트 명령 WT를 낸드결합하여 출력하는 낸드게이트(ND1)와 낸드게이트(ND1)의 출력을 반전하는 인버터(IV1)와, 인버터(IV1)의 출력과 디코딩 신호 DBA<0:7>를 낸드결합하여 출력하는 낸드게이트(ND2) 및 전원 전압단과 노드 NODE1 사이에 연결되며 낸드게이트(ND2)의 출력에 의해 제어되어 노드 NODE1로 인에이블되는 클럭 인에이블 신호 CE를 출력하는 PMOS 트랜지스터(P1)를 포함한다. Here, the pull-up unit 404_1 includes an inverter IV1 for inverting the outputs of the NAND gate ND1 and the NAND gate ND1 which NAND-couples the control signal ADD <10> and the write command WT, and the inverter IV1. Is connected between the NAND gate (ND2) and the power supply voltage terminal and the node NODE1 which NAND couples the output and the decoding signal DBA <0: 7> and is controlled by the output of the NAND gate (ND2) and is enabled to the node NODE1. A PMOS transistor P1 for outputting the enable signal CE is included.
그리고, 풀다운부(404_2)는 노드 NODE1과 접지 전압단 사이에 연결되며 오토프리차지 신호 APCG<0:7>에 의해 제어되어 노드 NODE1로 디스에이블되는 클럭 인에이블 신호 CE를 출력하는 NMOS 트랜지스터(N1)를 포함한다. The pull-down unit 404_2 is connected between the node NODE1 and the ground voltage terminal and is controlled by the auto-precharge signal APCG <0: 7> to output the clock enable signal CE that is disabled to the node NODE1 (N1 transistor N1). ).
클럭 출력부(406)는 클럭 인에이블 신호 CE가 인에이블될 때 내부 클럭 CLK 를 반전시켜 출력하는 낸드게이트(ND3) 및 낸드게이트(ND3)의 출력을 반전하여 오토프리차지 클럭 CLK_AP로 출력하는 인버터(IV2)를 포함한다. The
도 5를 참조하여 라이트 리커버리 카운터 제어부(205)에서 출력되는 오토프리차지 클럭 CLK_AP를 살펴보면, 내부 클럭 CLK은 액티브 명령 ACT가 인가되는 시점에서 프리차지 명령 PCG가 인가되는 시점까지 tD1 동안 토글되는 반면, 오토프리차지 클럭 CLK_AP는 오토프리차지를 수반하는 라이트 명령 WTA가 인가되는 시점에서 오토프리차지가 수행되는 시점까지 tD2 동안 토글된다. Looking at the auto precharge clock CLK_AP output from the write recovery
라이트 리커버리 카운터(206)의 동작이 필요한 시점은 오토프리차지를 수반하는 라이트 명령 WTA가 인가되어 애티디브 레이턴시 AL와 카스 라이트 레이턴시 CWL 및 버스트 랭스 BL를 충족한 이후이므로 오토프리차지 클럭 CLK_AP가 오토프리차지를 수반하는 라이트 명령 WTA가 인가된 이후에 생성되더라도 정확한 시점에서 오토프리차지 신호 APCG를 출력할 수 있다. When the operation of the
도 3 내지 도 4를 참조하여, 본 발명의 오토프리차지 제어방법을 살펴보면, 먼저, 내부 클럭 CLK에 동기되어 반도체 메모리 장치의 외부로부터 인가되는 복수의 신호들 RASB, CASB, WEB, CSB을 디코딩하여 다수의 뱅크에 각각 대응되며 라이트 동작을 수행하는 라이트 펄스 CASP<0:7>를 생성한다. 그리고, 오토프리차지에 대응하여 라이트 펄스 CASP<0:7>를 지연시키고 오토프리차지 상태에 따라 내부 클럭 CLK의 인에이블 상태가 제어되며 내부 클럭 CLK의 인에이블 상태에서 지연된 상기 라이트 펄스를 오토프리차지 신호 APCG<0:7>로 출력한다. Referring to FIG. 3 to FIG. 4, the auto precharge control method of the present invention first decodes a plurality of signals RASB, CASB, WEB, and CSB applied from the outside of the semiconductor memory device in synchronization with the internal clock CLK. A write pulse CASP <0: 7> is generated to correspond to the plurality of banks and perform a write operation. In response to the auto precharge, the write pulse CASP <0: 7> is delayed, and the enable state of the internal clock CLK is controlled according to the auto precharge state, and the pre-delayed light pulse is delayed in the enable state of the internal clock CLK. Output to charge signal APCG <0: 7>.
구체적으로, 라이트 펄스 CASP<0:7>를 생성하는 단계는, 복수의 신호들 RASB, CASB, WEB, CSB을 디코딩하여 내부 클럭 CLK에 동기되는 라이트 명령 WT를 출력하고, 라이트 명령 WT를 내부 클럭 CLK에 동기되는 애디티브 레이턴시 AL 및 카스 라이트 레이턴시 CWL에 의해 지연시켜 라이트 신호 WTD로 출력하며, 라이트 신호 WTD를 뱅크 어드레스 BA<0:3>를 디코딩한 신호와 결합하여 각 뱅크에 대응되며 라이트 동작을 수행하는 라이트 펄스 CASP<0:7>를 출력한다. In detail, the generating of the write pulse CASP <0: 7> may include decoding the plurality of signals RASB, CASB, WEB, and CSB to output a write command WT synchronized with the internal clock CLK, and convert the write command WT into an internal clock. It is delayed by the additive latency AL and the cascade write latency CWL synchronized with CLK and output to the write signal WTD. The write signal WTD is combined with the decoded bank address BA <0: 3> to correspond to each bank. Outputs the write pulse CASP <0: 7>.
그리고, 상기 오토프리차지 신호를 출력하는 단계는, 오토프리차지에 대응하여 인가되는 제어신호 A<10>가 인에이블될 때 라이트 펄스 CASP<0:7>를 오토프리차지 펄스 APCGP<0:7>로 출력하고, 오토프리차지 펄스 APCG<0:7>를 내부 클럭 CLK에 동기되는 버스트 랭스 BL에 의해 지연시켜 출력하며, 오토프리차지 상태에 따라 내부 클럭 CLK의 인에이블 상태를 제어하여 각 뱅크에 대응되는 오토프리차지 클럭 CLK_AP<0:7>를 출력하고, 오토프리차지 클럭 CLK_AP<0:7>에 의해 구동되어 버스트 랭스 카운터의 출력을 라이트 리커버리 시간 동안 지연시켜 오토프리차지 신호 APCG<0:7>를 출력한다. The outputting of the auto precharge signal may include outputting the write pulse CASP <0: 7> to the auto precharge pulse APCGP <0: 7 when the control signal A <10> applied corresponding to the auto precharge is enabled. >, And outputs the auto precharge pulse APCG <0: 7> by delaying the burst length BL synchronized with the internal clock CLK, and controls the enable state of the internal clock CLK according to the auto precharge state. The auto precharge clock CLK_AP <0: 7> corresponding to the output signal is driven and driven by the auto precharge clock CLK_AP <0: 7> to delay the output of the burst length counter during the write recovery time. Outputs: 7>
여기서, 제어신호 ADD<10>는 라이트 펄스 CASP<0:7>를 출력하는 복수의 신호들 RASB, CASB, WEB, CSB이 인가될 때 외부로부터 인가되는 어드레스 필드 A10의 필드 값이다. Here, the control signal ADD <10> is a field value of the address field A10 applied from the outside when the plurality of signals RASB, CASB, WEB, and CSB outputting the write pulse CASP <0: 7> are applied.
그리고, 오토프리차지 클럭을 출력하는 단계는, 뱅크 어드레스 BA<0:2>를 디코딩하여 각 뱅크에 대응되는 디코딩 신호 DBA<0:7>를 출력하고, 디코딩 신호DBA<0:7>와 제어신호 ADD<10> 및 라이트 명령 WT이 인에이블되면 인에이블되고 오토프리차지 신호 APCG<0:7>가 인에이블되면 디스에이블되는 클럭 인에이블 신호 CE 를 출력하며, 클럭 인에이블 신호 CE에 의해 내부 클럭 CLK을 인에이블시켜 오토프리차지 클럭 CLK_AP<0:7>으로 출력한다.In the outputting of the auto-precharge clock, the bank address BA <0: 2> is decoded to output a decoding signal DBA <0: 7> corresponding to each bank, and the decoding signal DBA <0: 7> is controlled. It is enabled when signal ADD <10> and write command WT are enabled, and outputs clock enable signal CE which is disabled when auto-precharge signal APCG <0: 7> is enabled, and is internal by clock enable signal CE. Enable clock CLK and output to auto precharge clock CLK_AP <0: 7>.
여기서, 클럭 인에이블 신호 CE를 출력하는 단계는, 디코딩 신호 DBA<0:7>와 제어신호 ADD<10> 및 라이트 명령 WT이 인에이블될 때 클럭 인에이블 신호 CE를 인에이블하고, 오토프리차지 신호 APCG<0:7>가 인에이블될 때 클럭 인에이블 신호 CE를 디스에이블한다. The outputting of the clock enable signal CE may include enabling the clock enable signal CE when the decoding signal DBA <0: 7>, the control signal ADD <10>, and the write command WT are enabled, and auto precharging. Disable clock enable signal CE when signal APCG <0: 7> is enabled.
이와 같이, 본 발명의 반도체 메모리 장치의 오토프리차지 제어회로는 오토프리차지를 수반하는 라이트 명령이 인가되는 경우에만 라이트 리커버리 카운터를 동작시킴으로써 전류 소모를 줄일 수 있다. As described above, the auto precharge control circuit of the semiconductor memory device of the present invention can reduce the current consumption by operating the write recovery counter only when a write command involving auto precharge is applied.
또한, 오토프리차지 동작이 수행되면 라이트 리커버리 카운터의 동작을 정지시킴으로써 전류 소모를 더욱 줄일 수 있다. In addition, when the auto precharge operation is performed, current consumption may be further reduced by stopping the operation of the light recovery counter.
도 1 은 종래 기술에 따른 반도체 메모리 장치의 오토프리차지 제어회로의 블록 구성도. 1 is a block diagram of an auto precharge control circuit of a semiconductor memory device according to the prior art;
도 2는 도 1의 오토프리차지 제어회로를 제어하는 내부 클럭의 파형도. FIG. 2 is a waveform diagram of an internal clock for controlling the auto precharge control circuit of FIG. 1. FIG.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 반도체 메모리 장치의 오토프리차지 제어회로의 블록 구성도. 3 is a block diagram of an auto precharge control circuit of a semiconductor memory device according to an embodiment of the present invention;
도 4는 도 3의 라이트 리커버리 카운터 제어부의 상세 회로도. 4 is a detailed circuit diagram of the light recovery counter control unit of FIG. 3.
도 5는 도 3의 라이트 리커버리 카운터를 제어하는 오토프리차지 클럭의 파형도.FIG. 5 is a waveform diagram of an auto precharge clock for controlling the light recovery counter of FIG. 3. FIG.
Claims (11)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080013683A KR100910864B1 (en) | 2008-02-14 | 2008-02-14 | A circuit of autoprecharge control and a method of autoprecharge control |
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Publications (1)
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Family
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KR (1) | KR100910864B1 (en) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20050041608A (en) * | 2003-10-31 | 2005-05-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | Synchronous memory device for controlling write recovery time |
KR100570220B1 (en) * | 2005-03-30 | 2006-04-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | Auto precharge control circuit |
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2008
- 2008-02-14 KR KR1020080013683A patent/KR100910864B1/en not_active IP Right Cessation
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KR20050041608A (en) * | 2003-10-31 | 2005-05-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | Synchronous memory device for controlling write recovery time |
KR100570220B1 (en) * | 2005-03-30 | 2006-04-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | Auto precharge control circuit |
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