KR100910082B1 - Led multi-layer metals primary electrodes manufacturing process and installation - Google Patents

Led multi-layer metals primary electrodes manufacturing process and installation Download PDF

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Abstract

본 발명은 LED 다층 금속 1차 전극의 제조 방법 및 제조 장치에 관한 것으로, 에피택시얼 웨이퍼를 세척 후에 제조장치 내에 설치하고, 다층 금속 전극 제조를 진행하는 것으로, 상기 제조장치는, 적재받침부, 자기유닛, 적재구, 자기 마스크 및 다수의 금속원을 포함하고, 다수의 접촉 창이 설치되고 적재구의 저부에 자기유닛에 의해 에피택시얼 웨이퍼를 적재구의 수용 홈에 고정시키는 자기 마스크에 의해 다층 금속 전극이 형성되는 금속 도금막 증착 방법을 이용한다. The present invention relates to a method and a manufacturing apparatus for an LED multilayer metal primary electrode, wherein the epitaxial wafer is installed in a manufacturing apparatus after washing, and the multilayer metal electrode is manufactured. A multi-layer metal electrode by a magnetic mask comprising a magnetic unit, a loading port, a magnetic mask and a plurality of metal sources, and having a plurality of contact windows installed at the bottom of the loading hole to fix the epitaxial wafer to the receiving groove of the loading hole. This formed metal plating film deposition method is used.

Description

발광 다이오드 다층 금속 1차 전극의 제조 방법 및 제조 장치{LED MULTI-LAYER METALS PRIMARY ELECTRODES MANUFACTURING PROCESS AND INSTALLATION}Manufacturing method and apparatus for manufacturing light emitting diode multilayer metal primary electrode {LED MULTI-LAYER METALS PRIMARY ELECTRODES MANUFACTURING PROCESS AND INSTALLATION}

도 1은 본 발명에 따른 다층 금속 1차 전극의 제조 절차 공정도.1 is a process flow diagram of a multilayer metal primary electrode in accordance with the present invention.

도 2는 본 발명에 따른 다층 금속 1차 전극의 제조장치 구조 개략도.Figure 2 is a schematic structure of the manufacturing apparatus of a multilayer metal primary electrode according to the present invention.

도 3은 본 발명에 따른 다층 금속 1차 전극의 바람직한 제조 절차 공정도.3 is a flow chart of a preferred manufacturing procedure of a multilayer metal primary electrode according to the present invention.

도 4는 본 발명에 따른 증착 후 형성되는 다층 1차 전극의 구조 개략도.4 is a schematic view of a multilayer primary electrode formed after deposition according to the present invention.

도 5는 본 발명에 따른 자기 마스크 및 적재구가 제거된 구조 개략도. 5 is a schematic view of a structure in which the magnetic mask and the mounting hole of the present invention are removed.

도 6은 종래의 다층 금속 1차 전극의 제조 절차 공정도.6 is a process chart of manufacturing a conventional multilayer metal primary electrode.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

C : 에피택시얼 웨이퍼 14 : 자기 마스크C: epitaxial wafer 14: magnetic mask

10 : 제조장치 15 : 접촉 창 10: manufacturing apparatus 15: contact window

11 : 적재받침부 30 : 금속원11: loading base 30: metal source

12 : 자기유닛 31 : 도가니(crucible)12: magnetic unit 31: crucible

13 : 적재구 40 : 다층 금속전극13: loading port 40: multilayer metal electrode

본 발명은 발광 다이오드 다층 금속 1차 전극의 제조 방법 및 제조 장치에 관한 것으로, 특히 금속 도금막 증착 방식을 이용하여 다층 금속원을 자기 마스크의 접촉 창을 통해 증착하는 다층 금속 전극을 제조하는 방법 및 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a method and apparatus for manufacturing a light emitting diode multilayer metal primary electrode, and more particularly, to a method for manufacturing a multilayer metal electrode for depositing a multilayer metal source through a contact window of a magnetic mask using a metal plating film deposition method; Relates to a device.

발광 다이오드는 P형 및 N형 2개 전극의 고체 상태의 반도체 광전장치가 구비되고, 2개의 전극 사이에서, 극소량의 전류를 전도하여, 발광하는 것으로, 전구의 필라멘트를 외부에서 인가된 전원에 의해 발광하는 대신에, 발광 다이오드에는 전자와 전기 통로를 내장하여 발광하는 냉광성(冷光性) 발광을 고려한 것이다. 발광 다이오드는 크기가 소형이고, 전기 소모가 적고, 반사 속도가 빠르며, 높은 안정성과 긴 수명 등을 특징으로 한다. 발광 다이오드는 지시기, 디스플레이 기기, 옥외 간판, 전화기 백라이트 광원, LCD 백라이트 광원 등 광범위하게 사용되고 있다. 관련 시장에서 일반적으로 이용가능한 이들 발광 다이오드의 제조 방법은 인화갈리움(GaP) 기판, 즉 2원소(二元素) 기재(基材), 또는 GaAsP 기판, 3원소 기재 및 보다 높은 휘도와 큰 효율이 요구되어, AlInGaP 기판, 즉 4원소 기재를 포함하는 기재의 선택을 수반한다.The light emitting diode is provided with a solid-state semiconductor photoelectric device of P-type and N-type two electrodes, and conducts a very small amount of current between the two electrodes to emit light, and the filament of the light bulb is applied by an externally applied power source. Instead of emitting light, the light-emitting diode considers cold light emitting light which emits electrons and electric paths. Light emitting diodes are characterized by small size, low power consumption, fast reflection speed, high stability and long life. LEDs are widely used in indicators, display devices, outdoor signs, telephone backlight light source, LCD backlight light source. Methods of making these light emitting diodes generally available in the relevant market include gallium phosphide (GaP) substrates, i.e., two-element substrates, or GaAsP substrates, three-element substrates, and higher brightness and greater efficiency. There is a need for an AlInGaP substrate, i.e., a selection of substrates including quaternary substrates.

다음에, 에피택시얼 웨이퍼(epitaxial wafer) 상에서 다층 금속 전극의 제조 방법을 포함한다. 도 6에 도시된 바와 같이, 종래의 다층 금속 전극의 제조 방법은, 먼저 AlInGaP의 에피택시얼 웨이퍼를 세척하고(S1), 세척된 에피택시얼 웨이퍼를 1차 금속(AuBe 및 Au)의 증착에 의해 1차 도금을 진행시키며(S2), 1차 포토리소그래피 공정을 통하여(S3) 포토레지스트층을 도안하여 제작하고, 다시 1차 금속 화학 에칭을 진행시켜(S4) 금속 도안(metal patter)을 형성하고, 1차 열처리 후에(S5), 2차금속(Ti 및 Au)의 증착에 의해 2차 도금을 진행하고(S6), 2차 포토리소그래피 공정을 통하여(S7) 포토레지스트층을 형성시키고, 다시 2차 2금속 화학 에칭을 진행시키며(S8), 마지막으로 다시 2차 열처리를 진행시켜(S9) 발광 다이오드의 다층 금속 전극이 완성되고, 금속 전극과 재료 사이에는 옴식 접촉(ohmic contact)의 방식으로 전도를 실행한다. 그러나, 상기 종래 제조 기술에서는 2차 도금층을 각각 전후로 도금, 영상, 에칭 공정이 요구되어, 비록 그 제조 과정에서 종래의 생산 제조 기술이 이미 대단히 성숙되었더라도, 요구되는 제조 과정 절차가 비교적 번거로우며, 그 제조 과정에 있어서 본질적으로 존재하는 관련 문제, 예를 들어 금속의 과도한 에칭 또는 제1층 다층 금속층과 제2층 다층 금속층 사이의 불량한 표면 접촉으로 인하여 또는 제2층에 과도하게 에칭으로 인하여 발생되는 금속이 박리되거나 인장력과 추진력이 불충분하게 되는 등의 문제가 나타나게 된다. Next, a method for producing a multilayer metal electrode on an epitaxial wafer is included. As shown in FIG. 6, a conventional method of manufacturing a multilayer metal electrode includes first cleaning an epitaxial wafer of AlInGaP (S1), and then cleaning the epitaxial wafer to deposit the primary metals (AuBe and Au). First plating is performed (S2), the first photolithography process (S3) is produced by drawing a photoresist layer, and further subjected to the first metal chemical etching (S4) to form a metal pattern (metal patter) After the first heat treatment (S5), secondary plating is carried out by deposition of secondary metals (Ti and Au) (S6), and a photoresist layer is formed through a second photolithography process (S7), and again. The secondary secondary metal chemical etching is performed (S8), and finally, the secondary heat treatment is further performed (S9) to form a multilayer metal electrode of the light emitting diode, and the ohmic contact method between the metal electrode and the material is completed. Perform evangelism. However, the conventional manufacturing technique requires plating, image, and etching processes of the secondary plating layer before and after each, even if the conventional production manufacturing technique is already very mature in the manufacturing process, the required manufacturing process procedure is relatively cumbersome. Related problems inherently present in the manufacturing process, for example, metals generated due to excessive etching of metal or poor surface contact between the first and second layer metal layers or due to excessive etching in the second layer. Problems such as peeling or insufficient tensile and propulsion forces appear.

본 발명의 주요 목적은, 발광 다이오드 다층 금속 1차 전극의 제조 방법 및 제조장치를 제공하는 것으로, 포토리소그래피 공정 또는 습식 화학 에칭 또는 포토레지스트 공정 등을 사용하지 않고 1차 제조 과정에서 다층 금속 전극을 제조하는 발광 다이오드의 1차 전극 제조 방법 및 장치를 제공하는 데에 있다. 상기 목적을 달성하기 위해서, 에피택시얼 웨이퍼를 세척한 후 증착 도금판, 자기부재, 적재구, 자기 마스크 및 다수의 금속원을 포함하고, 제조장치 내에 적재구를 적재시킨다. 에피택시얼 웨이퍼를 적재구에 적재하고 다수의 금속원은 자기 마스크에 적합한 접촉 창의 금속 도금 증착을 통해 다층 금속 전극을 형성한다. 상기 자기 마스크는 웨이퍼 상에 배치되고, 적재구 저부의 자기부재는 상기 자기 마스크에 부착되며, 동시에 에피택시얼 웨이퍼를 고정한다. 다층 금속 전극이 완성된 후 마지막으로 상기 자기 마스크 및 적재구를 제거한 후에, 열처리가 진행되어, 발광 다이오드 다층 금속 전극의 제작이 완성된다.SUMMARY OF THE INVENTION The main object of the present invention is to provide a method and apparatus for manufacturing a light emitting diode multilayer metal primary electrode, wherein the multilayer metal electrode is used in a primary manufacturing process without using a photolithography process, a wet chemical etching process, or a photoresist process. There is provided a method and apparatus for manufacturing a primary electrode of a light emitting diode to be manufactured. In order to achieve the above object, the epitaxial wafer is cleaned and then includes a deposition plate, a magnetic member, a loading hole, a magnetic mask and a plurality of metal sources, and loading the loading hole in the manufacturing apparatus. An epitaxial wafer is loaded into a stack and multiple metal sources form a multilayer metal electrode through metal plating deposition of a contact window suitable for a magnetic mask. The magnetic mask is disposed on the wafer, and the magnetic member of the bottom of the loading hole is attached to the magnetic mask, and simultaneously fixes the epitaxial wafer. After finally removing the magnetic mask and the loading hole after the multilayer metal electrode is completed, heat treatment proceeds to complete the fabrication of the light emitting diode multilayer metal electrode.

본 발명은 발광 다이오드 다층 금속 1차 전극의 제조방법 및 제조장치에 관한 것으로, 포토리소그래피 공정 및 습식 화학 에칭 공정을 사용하지 않고, 도 2에 도시된 바와 같이 특수하게 설계한 적재구를 이용하여, 자기 유닛 및 자기 마스크를 배합하여 에피택시얼 웨이퍼 표면에 부착시키고, 직접 다층 금속의 박막을 증착시켜 진행함으로써, 금속 전극의 제작이 완성된다.The present invention relates to a method and apparatus for manufacturing a light emitting diode multilayer metal primary electrode, using a loading hole specially designed as shown in FIG. 2 without using a photolithography process and a wet chemical etching process. By combining the magnetic unit and the magnetic mask to attach to the epitaxial wafer surface and directly depositing a thin film of a multi-layer metal, the production of the metal electrode is completed.

도 1은 본 발명에서 발광 다이오드 금속 전극의 제조 방법을 도시하는 순서도로서, 먼저 단계 a에서 도시된 바와 같이 도금 이전에 발광 다이오드 에피택시얼 웨이퍼 표면을 세척하는데, 산 또는 염기성 등의 화학 약제를 이용하여, 에피택시얼 웨이퍼 표면의 산화물, 오염물, 및 금속 이온 등을 제거한다. 세척과정에 사용된 화학 약제는 황산, 질산, 과산화수소, 인산 및 염산 등으로부터 선택된 하나 또는 두 가지 형태를 적절한 비율로 혼합된 무기용액으로 구성된다.1 is a flow chart illustrating a method of manufacturing a light emitting diode metal electrode in the present invention, which first cleans the surface of a light emitting diode epitaxial wafer prior to plating, as shown in step a, using a chemical agent such as an acid or a basic. Thus, oxides, contaminants, metal ions, and the like on the epitaxial wafer surface are removed. The chemical agent used in the washing process consists of an inorganic solution in which one or two forms selected from sulfuric acid, nitric acid, hydrogen peroxide, phosphoric acid and hydrochloric acid are mixed in an appropriate ratio.

단계 b에서, 세척된 에피택시얼 웨이퍼를 제조 장치의 적재구에 설치하고, 자기 마스크를 웨이퍼 상에 배열한다. 단계 c에서, 복수 개의 금속원을 이용하여, 증착되는 금속 층의 순서에 따라 금속원이 선택되어 금속 도금막 증착을 실행한다. 증착 완료 이후에, 단계 d에서 자기 마스크와 적재구를 제거하고, 단계 e에서 다층 금속 전극의 형성을 완료한다.In step b, the cleaned epitaxial wafer is installed in the loading port of the manufacturing apparatus and the magnetic mask is arranged on the wafer. In step c, using a plurality of metal sources, a metal source is selected according to the order of the metal layers to be deposited to perform metal plating film deposition. After the deposition is completed, the magnetic mask and the loading hole are removed in step d, and the formation of the multilayer metal electrode is completed in step e.

도 2에 도시한 바와 같이 본 발명의 제조 장치는, 적어도 1개의 적재받침부(11)와, 이 적재받침부(11) 상에 설치되고, 에피택시얼 웨이퍼(C)를 수용하는 수용 홈(16)을 포함하는 적재구(13)와, 적재받침부(11)와 적재구(13) 사이에 설치되고, 재질이 일반적으로 알루미늄구리 자석(AlFeB), 사마륨-코발트 합금(SmCo) 자석, 또는 산화 자석 등 자성 재료로 이루어지는 자기 유닛(12)과, 적재구(13)의 수용홈(16)에 이미 배치된 에피택시얼 웨이퍼(C) 상에 두께가 10∼300㎛ 사이이며, 바람직하게는 30㎛의 자기 스테인레스강 또는 니켈 철 합금으로 제조되는 연성 박막으로 이루어지는 자기 마스크(14)와, 다층 금속 전극의 형성용 자기 마스크(14)에 놓여지는 다수의 접촉 창(15)을 포함하여, 다층 금속 전극을 형성한다. 다수의 금속원(30)은 의도된 목적의 금속 재료에 의하여 각각의 서로 다른 도가니(31)에 배치된다. 바람직한 실시예에서, 이들 도가니(31) 내에 각각 AuBe, Ti, Au의 금속액이 적재되며, 각 도가니(31)의 배열은 원형 또는 직선으로 배열되고, 발광 다이오드 다층 금속 전극 제조 방법을 개략적으로 도시하는 도 3을 참조하면, 먼저 에피택시얼 웨이퍼를 세척한 후에, 적재구에 설치하고, 자기 마스크를 웨이퍼 상에 배열한다. 자기 마스크(14)는 에피택시얼 웨이퍼(C)에 부착되고, 적재구(13)의 저부에서 자기 유닛(12)을 이용하여 금속 자기 마스크(14)를 부착하며, 나아가 에피택시얼 웨이퍼(C)를 적재구(13)의 수용홈(16) 내에 견고하게 고정시키고 있다. AuBe, Ti, 및 Au 각각은 대응하는 도가니(31) 내에 적재되어, AuBe, Ti, Au의 순서에 따라 금속 도금막 증착(바람직한 실시예에서는 진공 증착(evaporation) 방식이다)을 실행한다. AuBe, Ti, Au의 금속 도금막 증착의 횟수가 선택될 수 있다. 예컨대, 바람직한 실시예에서, 증착 순서는 에피택시얼 웨이퍼(C) 표면에 다층 금속 전극(40)의 직접적인 형성을 허용하는 최상층에 Au를 형성하여, 도 4에 도시한 바와 같이 위치하는 접촉 창(15)에 다층 금속 전극(40)이 직접 형성된다. 마지막으로, 자기 마스크 및 적재구가 제거되며, 발광 다이오드 다층 금속 전극이 형성되고, 도 5에 도시된 바와 같이, 마지막으로 에피택시얼 웨이퍼(C)를 300∼1000℃의 온도로 오븐 튜브(oven tube)에서 5∼50분 정도 열처리를 진행시킴으로써, 에피택시얼 웨이퍼(C) 표면과 금속 전극 사이에 오옴 접촉(Ohmic contact)을 형성하여, 완전한 금속 전극이 제작된다. As shown in FIG. 2, the manufacturing apparatus of the present invention includes at least one stacking support portion 11 and an accommodation groove provided on the stacking support portion 11 to accommodate the epitaxial wafer C. It is installed between the loading hole 13, the loading support portion 11 and the loading hole 13, and the material is generally made of aluminum copper magnet (AlFeB), samarium-cobalt alloy (SmCo) magnet, or The thickness is between 10 and 300 µm on the magnetic unit 12 made of a magnetic material such as an oxide magnet and the epitaxial wafer C already disposed in the receiving groove 16 of the loading hole 13, preferably A multilayer including a magnetic mask 14 made of a soft thin film made of 30 탆 magnetic stainless steel or nickel iron alloy, and a plurality of contact windows 15 placed on the magnetic mask 14 for forming a multilayer metal electrode. Form a metal electrode. A plurality of metal sources 30 are disposed in each different crucible 31 by means of a metal material of the intended purpose. In a preferred embodiment, these crucibles 31 are loaded with metal liquids of AuBe, Ti, Au, respectively, and the arrangement of each crucible 31 is arranged in a circular or straight line, and schematically shows a method of manufacturing a light emitting diode multilayer metal electrode. Referring to FIG. 3, first, the epitaxial wafer is washed, then installed in the loading hole, and the magnetic mask is arranged on the wafer. The magnetic mask 14 is attached to the epitaxial wafer C, and attaches the metal magnetic mask 14 using the magnetic unit 12 at the bottom of the loading hole 13, and furthermore, the epitaxial wafer C. ) Is firmly fixed in the receiving groove 16 of the loading hole 13. Each of AuBe, Ti, and Au is loaded into a corresponding crucible 31 to perform metal plating film deposition (in a preferred embodiment, evaporation method) in the order of AuBe, Ti, Au. The number of metal plating film depositions of AuBe, Ti, and Au may be selected. For example, in the preferred embodiment, the deposition order is to form Au in the uppermost layer allowing direct formation of the multilayer metal electrode 40 on the epitaxial wafer C surface, whereby a contact window (as shown in FIG. The multilayer metal electrode 40 is directly formed in 15). Finally, the magnetic mask and the loading hole are removed, the light emitting diode multilayer metal electrode is formed, and as shown in FIG. 5, the epitaxial wafer C is finally oven ovened at a temperature of 300 to 1000 ° C. The tube is subjected to a heat treatment for about 5 to 50 minutes, thereby forming an ohmic contact between the epitaxial wafer C surface and the metal electrode, thereby producing a complete metal electrode.

본 발명에서, 금속 증착원은 실제로 직각으로 에피택시얼 웨이퍼까지 투사되고, 따라서 에피택시얼 웨이퍼 상에서 매우 균일한 금속 전극이 형성된다. 반응실의 길이와 폭을 연장할 뿐만 아니라, 증착 도금판의 곡률이 보다 작게(수직 사선에 가깝게) 변화되므로 금속 증착원은 실제로 직각으로 웨이퍼까지 충분하게 투사될 수 있다.In the present invention, the metal deposition source is actually projected at right angles to the epitaxial wafer, thus forming a very uniform metal electrode on the epitaxial wafer. In addition to extending the length and width of the reaction chamber, the curvature of the deposited plate is changed to be smaller (close to the vertical oblique line), so that the metal deposition source can be actually projected to the wafer at right angles.

따라서, 본 발명의 제조 장치는, 포토리소그래피 공정 및 습식 화학 금속 에칭 공정을 사용하지 않고, 발광다이오드의 금속 전극을 제작하고, 제조과정이 간단하고 빠르며 금속 전극 제조 원가를 대폭 인하시키는 장점이 있으며, 종래에 이용되던 포토리소그래피 공정 및 습식 화학 금속 에칭 공정에서 나타나는 문제점을 해결할 수 있다. Therefore, the manufacturing apparatus of the present invention, without using a photolithography process and a wet chemical metal etching process, has the advantage of manufacturing the metal electrode of the light emitting diode, the manufacturing process is simple and fast, and greatly reduce the cost of manufacturing the metal electrode, Problems encountered in the photolithography process and the wet chemical metal etching process that are conventionally used can be solved.

이상의 실시예에서 본 발명의 기술 및 장점을 설명하였고, 그 목적은 본 발명의 내용과 실시예에 근거하여 충분히 이해시키는 것이며, 본 발명은 상기 실시예로만 한정되는 것은 아니고, 본 발명의 구조와 장치 및 특징과 유사하거나 대안적인 것들은 본 발명의 목적 및 청구 범위 내에 속한다. In the above embodiment, the technology and advantages of the present invention have been described, and an object thereof is fully understood based on the contents and examples of the present invention. And features similar or alternative to those falling within the object and claims of the present invention.

Claims (14)

발광 다이오드 다층 금속 1차 전극의 제조방법에 있어서,In the method of manufacturing a light emitting diode multilayer metal primary electrode, 에피택시얼 웨이퍼(epitaxial wafer)를 세척하는 단계와,Cleaning the epitaxial wafer; 세척된 에피택시얼 웨이퍼를 제조 장치의 적재구(carrier)에 설치하고, 상기 에피택시얼 웨이퍼 상에 접촉 창을 포함하는 자기 마스크를 배열하는 단계와,Installing the cleaned epitaxial wafer in a carrier of a manufacturing apparatus, arranging a magnetic mask including a contact window on the epitaxial wafer, 금속 도금막 증착 방법을 이용하여 상기 접촉 창을 통해 서로 다른 금속 재료를 순서대로 적층하여 상기 에피택시얼 웨이퍼 상에 다층 금속 1차 전극을 형성하는 단계와,Forming a multilayer metal primary electrode on the epitaxial wafer by sequentially stacking different metal materials through the contact window using a metal plating film deposition method; 상기 제조장치를 제거하는 단계를 포함하는, 발광 다이오드 다층 금속 1차 전극의 제조방법.Removing the manufacturing apparatus; and manufacturing a light emitting diode multilayer metal primary electrode. 청구항 1에 있어서, 상기 에피택시얼 웨이퍼 표면을 세척하는데 산 또는 염기성의 화학 약제를 이용하는 발광 다이오드 다층 금속 1차 전극의 제조방법.The method of claim 1, wherein an acid or basic chemical agent is used to clean the epitaxial wafer surface. 청구항 2에 있어서, 상기 화학 약제는 황산, 질산, 과산화수소, 인산 및 염산으로부터 선택된 하나 또는 선택된 2개가 혼합된 무기용액으로 구성되는 발광 다이오드 다층 금속 1차 전극의 제조방법.The method of claim 2, wherein the chemical agent comprises an inorganic solution containing one or two selected from sulfuric acid, nitric acid, hydrogen peroxide, phosphoric acid, and hydrochloric acid. 청구항 2에 있어서, 상기 제거 단계의 완료 후에 열처리를 제공하는 발광 다이오드 다층 금속 1차 전극의 제조방법.The method of claim 2, wherein the heat treatment is provided after completion of the removing step. 청구항 4에 있어서, 상기 에피택시얼 웨이퍼(C)를 300∼1000℃의 온도로 오븐 튜브(oven tube)에서 5∼50분 열처리를 진행시킴으로써, 에피택시얼 웨이퍼(C) 표면과 금속 전극 사이에 오옴 접촉(Ohmic contact)을 형성하는 발광 다이오드 다층 금속 1차 전극의 제조방법The process according to claim 4, wherein the epitaxial wafer (C) is subjected to a heat treatment for 5 to 50 minutes in an oven tube at a temperature of 300 to 1000 ° C., so that the epitaxial wafer (C) is between the surface of the epitaxial wafer (C) and the metal electrode. Method of manufacturing light emitting diode multilayer metal primary electrode to form ohmic contact 발광 다이오드 다층 금속 1차 전극의 제조장치에 있어서,In the manufacturing apparatus of the light emitting diode multilayer metal primary electrode, 적재받침부와,Load bearing section, 상기 적재받침부 상에 설치되고, 에피택시얼 웨이퍼를 수용하는 수용 홈을 포함하는 적재구와,A loading hole provided on the loading support portion and including a receiving groove for receiving an epitaxial wafer; 적재받침부와 적재구 사이에 설치되는 자기 유닛과, A magnetic unit installed between the loading base and the loading opening, 접촉 창이 설치되고, 적재구의 저부의 자기유닛을 이용하여 상기 에피택시얼 웨이퍼를 적재구 내에 고정시키는 자기 마스크와,A magnetic mask which is provided with a contact window and fixes the epitaxial wafer in the loading hole by using the magnetic unit at the bottom of the loading hole; 서로 다른 금속 재료로 각각 적재되는 금속원을 구비하고,A metal source each loaded with a different metal material, 금속 도금막 증착 방법을 이용하여, 접촉 창을 통해, 에피택시얼 웨이퍼 상에 상기 서로 다른 금속 재료를 적층하여 다층 금속 전극을 형성하는 발광 다이오드 다층 금속 1차 전극의 제조장치.An apparatus for producing a multilayer metal primary electrode of a light emitting diode, wherein a metal plating film is deposited to form a multilayer metal electrode by stacking the different metal materials on an epitaxial wafer through a contact window. 청구항 6에 있어서, 상기 자기 유닛은 AlFeB, SmCo, 또는 산화 자석의 자성재료로 제조되는 발광 다이오드 다층 금속 1차 전극의 제조장치.The apparatus of claim 6, wherein the magnetic unit is made of AlFeB, SmCo, or a magnetic material of an oxide magnet. 청구항 6에 있어서, 상기 자기 마스크는 자기 스텐레스강 또는 니켈 철 합금으로 제조되는 연성 박막으로 이루어지는 발광 다이오드 다층 금속 1차 전극의 제조장치.The apparatus of claim 6, wherein the magnetic mask comprises a flexible thin film made of magnetic stainless steel or nickel iron alloy. 청구항 6에 있어서, 상기 자기 마스크의 두께는 10∼300㎛의 범위인 발광 다이오드 다층 금속 1차 전극의 제조장치.The apparatus of claim 6, wherein the magnetic mask has a thickness in a range of 10 to 300 μm. 청구항 6에 있어서, 상기 자기 마스크의 두께는 30㎛인 발광 다이오드 다층 금속 1차 전극의 제조장치.The apparatus of claim 6, wherein the magnetic mask has a thickness of 30 μm. 청구항 6에 있어서, 상기 금속원은, 상기 서로 다른 금속 재료가 각각 적재되는 도가니들을 구비하고, 상기 도가니들은 원형 또는 직선으로 배열되는 발광 다이오드 다층 금속 1차 전극의 제조장치.The apparatus of claim 6, wherein the metal source includes crucibles on which the different metal materials are loaded, and the crucibles are arranged in a circular or straight line. 청구항 6에 있어서, 상기 서로 다른 금속 재료는, 금속 재료의 종류에 의거하여, 상기 금속원에 구비된 대응하는 도가니들에 배열되는 발광 다이오드 다층 금속 1차 전극의 제조장치.The apparatus of claim 6, wherein the different metal materials are arranged in corresponding crucibles provided in the metal source based on a kind of metal material. 청구항 12에 있어서, 상기 금속 재료는 AuBe, Ti, 또는 Au 중 하나의 금속액이 되는 발광 다이오드 다층 금속 1차 전극의 제조장치.The apparatus of claim 12, wherein the metal material is a metal liquid of AuBe, Ti, or Au. 청구항 13에 있어서, 각 금속 재료는 AuBe, Au, Ti 의 순서로 금속 도금막 증착되어 최상층에 Au 로 되는 발광 다이오드 다층 금속 1차 전극의 제조장치.The apparatus according to claim 13, wherein each metal material is deposited with a metal plating film in the order of AuBe, Au, and Ti to form Au on the uppermost layer.
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