KR100854703B1 - Apparatus for detecting error of fluorescent lamp - Google Patents

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Abstract

An apparatus for detecting a defect of a fluorescent lamp is provided to inspect the fluorescent lamp under a normal state by determining snake phenomenon and flicker phenomenon. A photo sensor(110) receives light outputted from a fluorescent lamp in order to convert the received light into electrical energy. An amplifier(120) receives an output signal of the photo sensor to amplify the received output signal. A direct current converter(140) receives an alternating current outputted from the amplifier to convert the received alternating current into a direct current. An analog/digital converter(150) converts an analog signal outputted from the direct current converter into a digital signal. A control unit(160) receives the digital signal from the analog/digital converter and compares the inputted digital signal with a pre-set reference value to determine defect of the fluorescent lamp. A display unit(180) is operated and controlled by the control unit to display an operating state of the control unit.

Description

형광램프의 불량 판단 장치{Apparatus for detecting error of Fluorescent lamp}Apparatus for detecting error of Fluorescent lamp

본 발명은 형광램프의 불량 여부를 판단하는 형광램프의 불량 판단 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a failure determination apparatus for a fluorescent lamp for determining whether the fluorescent lamp is defective.

형광램프의 일 예로 냉음극 형광램프와 외부 전극 형광램프가 있다. 냉음극 형광램프(CCFL: Cold Cathode Fluorescent Lamp)는 필라멘트의 가열 없이 저온에서 점등되는 형광등이다. 유리관 양끝에 전극이 있고, 내부에는 일정량의 수은과 아르곤, 네온 등의 혼합 가스가 들어 있으며, 유리관 내부 표면은 형광체가 도포된 일반 형광등과 동일한 구조와 원리를 갖는다. 일반 형광등은 가열에 의해 전자 방출이 시작되는 데 반해 냉음극 형광 램프는 두 전극에 가해진 고전압 전계에 의해 전자 방출이 일어난다. 전자 방출이 시작되면 수은이 여기되어 자외선이 발산되며, 이 자외선이 유리관 벽의 형광체와 충돌하면서 가시 광선을 발산시킨다. 액정 표시 장치(LCD) 디스플레이의 후면광(Back Light), 팩스, 스캐너, 복사기, 패널 디스플레이, 장식용 광원으로 활용된다.Examples of fluorescent lamps include cold cathode fluorescent lamps and external electrode fluorescent lamps. Cold Cathode Fluorescent Lamps (CCFLs) are fluorescent lamps that are lit at low temperatures without heating the filament. Electrodes are provided at both ends of the glass tube, and a certain amount of mixed gas such as mercury, argon, and neon is contained, and the inner surface of the glass tube has the same structure and principle as a general fluorescent lamp coated with phosphors. While ordinary fluorescent lamps start emitting electrons by heating, cold cathode fluorescent lamps emit electrons by high voltage electric fields applied to two electrodes. When the electrons start emitting mercury, they excite ultraviolet rays, which collide with the phosphors on the glass tube wall, producing visible light. It is used as a back light of a liquid crystal display (LCD) display, a fax, a scanner, a copier, a panel display, and a decorative light source.

CCFL은 크기와 길이에 따라 수 백~ 수 천 볼트 이상의 통전 전압이 필요하므 로 인버터라 불리우는 장치를 통해 점등한다. 낮은 직류 전압을 높은 교류 전압으로 승압하기 위해서 20KHz 이상의 높은 주파수로 CCFL 관을 구동하게 되는데 이에 따라 CCFL이 빛을 발하기 시작한다.CCFLs are lit by a device called an inverter because they require energized voltages of hundreds to thousands of volts, depending on their size and length. In order to boost the low DC voltage to the high AC voltage, CCFL tube is driven at high frequency above 20KHz.

외부 전극 형광 램프(EEFL: External Electrode Fluorescent Lamp)는 일반 형광등과 달리 전극이 램프 외부에 있고, 전극에 가해진 전계에 의해서 램프 내에 플라즈마 방전을 유도하여 빛을 내는 방식으로, 관 자체가 열을 발생하지 않아 방열이 적으며, 수명이 연장된 플라즈마 형광 램프. 구동 시스템은 기존보다 월씬 낮은 1.500V 정도로 여러 개의 램프를 동시에 병렬 구동할 수 있어, 기존의 CCFL 방식에 비하여 전력 소비를 최대 50%까지 절감하며 전극이 외부에 있으므로 램프의 수명도 대폭 연장된다.External fluorescent lamps (EEFLs), unlike ordinary fluorescent lamps, are electrodes that are outside the lamp and emit light by inducing plasma discharge in the lamp by an electric field applied to the electrodes. Low heat dissipation and extended plasma fluorescent lamp. The drive system can drive several lamps in parallel at a rate of 1.500V, much lower than the previous one, which reduces power consumption by up to 50% compared to the conventional CCFL method.

형광램프의 제조 공정 중 에이징 공정에서 마지막으로 형광램프의 양호/불량 판정을 하게 되는데 대부분의 장치에서는 CCD 카메라에 의한 형광램프의 점등 및 미점등에 따른 양호/불량 판정 밖에 할 수 없는 문제점이 있다.In the aging process of the fluorescent lamp manufacturing process, the final determination of the good / bad of the fluorescent lamp, there is a problem that can be judged only good / poor according to the lighting and lighting of the fluorescent lamp by the CCD camera.

이러한 문제점을 살펴보면, 상기 CCFL이나 EEFL 등의 형광램프의 불량 여부 판단은 통상 형광램프의 제조 공정 중 마지막 처리에 해당되는 에이징 공정에서 형광램프의 점등 상태를 CCD 카메라로 영상 촬영하여 형광램프의 불량을 판단하고 있다.In view of such a problem, whether the fluorescent lamps such as CCFL or EEFL is defective or not is usually determined by photographing the lighting state of the fluorescent lamp with a CCD camera in an aging process corresponding to the last processing of the fluorescent lamp manufacturing process. Judging.

그러나 이러한 종래 방식은, CCD 카메라로 촬영된 영상을 매개로 형광램프의 점등 여부를 가시적으로 판정하거나 영상 처리를 통해서 판정하므로, 형광램프가 점등된 상태에서 정상밝기보다 밝아졌다가 어두워졌다하는 스네이크 현상이나, 형 광램프가 가시적으로 식별이 곤란할 정도로 빠르게 점멸되는 플리커 현상으로 인한 불량은 검출해낼 수 없어서, 정밀하게 형광램프의 불량 여부를 판단하는 것이 사실상 불가능하다.However, in the conventional method, since a fluorescent lamp is visually determined or image processing is performed based on an image captured by a CCD camera, a snake phenomenon that becomes brighter and darker than normal brightness while the fluorescent lamp is turned on. However, the defect due to the flicker phenomenon in which the fluorescent lamp flashes so quickly that it is difficult to visually be difficult to detect cannot be detected, and it is virtually impossible to accurately determine whether the fluorescent lamp is defective.

따라서, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는 형광램프의 미점등은 물론이고 정상밝기보다 밝아졌다가 어두어졌다하는 스네이크 현상, 형광램프가 식별이 곤란할 정도로 빠르게 점멸되는 플리커 현상 등을 판별하는 형광램프의 불량 판단 장치를 제공하는 것이다.Therefore, the problem to be solved by the present invention is the defect of the fluorescent lamp to discriminate not only the unlit light of the fluorescent lamp, but also the snake phenomenon, which is brighter and darker than the normal brightness, and the flicker phenomenon that the fluorescent lamp flashes fast enough to be difficult to identify. It is to provide a judgment device.

상기 과제를 달성하기 위하여 본 발명은, 형광램프에서 출력되는 광을 수광하여 전기 에너지로 변환하는 포토 센서와; 상기 포토 센서의 출력 신호를 입력받아 증폭하는 증폭기와; 상기 증폭기로부터 출력되는 교류 신호를 입력받아 직류 신호로 변환하는 직류 변환기와; 상기 직류 변환기로부터 출력되는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 아날로그/디지털 컨버터와; 상기 아날로그/디지털 컨버터의 디지털 출력 신호를 입력받아 입력된 디지털 값과 미리 설정된 기준값을 비교하여 형광램프의 불량 여부를 판단하는 제어부와; 상기 제어부에 의해 작동 제어되어 제어부의 작동 상태를 표시하는 표시부;를 포함하는 형광램프의 불량 판단 장치를 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention includes a photo sensor for receiving the light output from the fluorescent lamp and converting it into electrical energy; An amplifier for receiving and amplifying the output signal of the photosensor; A DC converter for receiving an AC signal output from the amplifier and converting the signal into a DC signal; An analog / digital converter for converting an analog signal output from the DC converter into a digital signal; A control unit which receives the digital output signal of the analog / digital converter and compares the input digital value with a preset reference value to determine whether the fluorescent lamp is defective; It provides an apparatus for determining a failure of a fluorescent lamp comprising; a display unit for operation controlled by the controller to display the operation state of the controller.

본 발명에 의하면, 형광램프의 미점등은 물론이고 스네이크 현상 및 플리커 현상 또한 기준 미달의 밝기 불량을 판별하므로 제조된 형광램프에서 형광램프의 불량을 정밀하게 판단하여 동작이 정상 상태에 속하는 형광램프를 검출하는 효과가 있다.According to the present invention, as well as the non-lighting of the fluorescent lamp, the snake phenomenon and the flicker phenomenon also determine the poor brightness of less than the standard, so that precisely determine the defect of the fluorescent lamp in the manufactured fluorescent lamp to determine the fluorescent lamp belonging to the normal state It is effective to detect.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부도면에 의거하여 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

그러나, 다음에 예시하는 본 발명의 실시예는 여러 가지 다른 형태로 변형할 수 있으며, 본 발명의 범위가 다음에 상술하는 실시예에 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 실시예는 당 업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위하여 제공된다.However, embodiments of the present invention illustrated below may be modified in various other forms, and the scope of the present invention is not limited to the embodiments described below. Embodiments of the invention are provided to more fully illustrate the invention to those skilled in the art.

본 발명의 실시예는 형광램프 중 CCFL을 예로 들어 설명하지만 CCFL이 아닌 다른 형광램프에도 적용 가능하다.An embodiment of the present invention is described using a CCFL as an example of a fluorescent lamp, but can be applied to other fluorescent lamps other than the CCFL.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 형광램프의 불량을 검출하는 형광램프의 불량 판단 장치의 구성을 보인 블록도이다.1 is a block diagram showing the configuration of a failure determination apparatus for a fluorescent lamp for detecting a failure of the fluorescent lamp according to an embodiment of the present invention.

포토 센서(110)는 형광램프의 광을 수광하는 입력 장치이다. 형광램프 중 CCFL(Cold Cathode Fluorescent Lamp)은 크기와 길이에 따라 수백~수천 볼트 이상의 통전 전압을 필요하므로 인버터에 의해 점등한다. 낮은 DC 전압을 높은 AC 전압으로 승압하기 위해서 20KHz 이상의 높은 주파수로 CCFL 관을 구동하게 되는데 포토 센서는 CCFL 관의 점등 상태인 즉 빛의 양을 전기량으로 변환한다.The photo sensor 110 is an input device for receiving light of a fluorescent lamp. Among the fluorescent lamps, CCFL (Cold Cathode Fluorescent Lamp) is turned on by inverter because it requires energizing voltage of hundreds to thousands of volts depending on the size and length. To boost a low DC voltage to a high AC voltage, a CCFL tube is driven at a high frequency of 20 KHz or higher. A photo sensor converts the amount of light, which is the lighting state of the CCFL tube, into electricity.

도 2는 CCFL의 광을 포토 센서로 검출한 전기 신호의 파형도이다. 포토 센서(110)는 CCFL의 점등 상태를 수광하여 전기 에너지로 변환하여 출력한다. 포토 센서(110)에 의해 검출한 CCFL의 전기 신호는 미약하다.2 is a waveform diagram of an electrical signal obtained by detecting light of a CCFL with a photosensor. The photo sensor 110 receives the lighting state of the CCFL, converts it into electrical energy, and outputs the electrical energy. The electric signal of the CCFL detected by the photo sensor 110 is weak.

도 3은 포토 센서로 검출된 전기 신호를 증폭한 파형도이다. 증폭기(120)는 포토 센서(110)로 검출된 전기 신호를 증폭하여 소정의 레벨까지 증폭한다. 포토 센서(110)에서 변환된 전기 신호는 미약하므로 증폭기(120)는 미약한 전기 신호를 소정 레벨까지 증폭하여 CCFL의 구동 파형을 볼 수 있도록 한다.3 is a waveform diagram of amplified electrical signals detected by the photosensor. The amplifier 120 amplifies the electrical signal detected by the photo sensor 110 to a predetermined level. Since the electrical signal converted by the photo sensor 110 is weak, the amplifier 120 amplifies the weak electrical signal to a predetermined level so that the driving waveform of the CCFL can be viewed.

도 4는 형광램프의 동작이 정상일 때 검출되는 직류 파형을 보인 예시도이다. 직류 변환기(140)는 20KHz 이상의 AC 신호의 실효값을 DC화하여 CCFL의 양호/불량을 판단하는 신호로 변환한다. 형광램프의 동작이 정상일 때 직류 변환기(140)의 출력은 소정 레벨을 갖는 직류 파형을 보인다.4 is an exemplary view showing a DC waveform detected when the operation of the fluorescent lamp is normal. The DC converter 140 converts the effective value of the AC signal of 20 KHz or higher into a signal for determining whether the CCFL is good or bad. When the operation of the fluorescent lamp is normal, the output of the DC converter 140 shows a DC waveform having a predetermined level.

도 5는 형광램프의 동작이 비정상일 때 검출되는 스네이크 파형을 보인 예시도이다. 직류 변환기(140)를 거친 CCFL의 직류 신호는 직류 파형 형태가 아닌 스네이크 파형을 나타낸다. 스네이크 파형이 요동침이 소정 레벨을 초과하면 CCFL의 동작 상태가 불량으로 판단된다.5 is an exemplary view illustrating a snake waveform detected when an operation of a fluorescent lamp is abnormal. The DC signal of the CCFL, which has passed through the DC converter 140, represents a snake waveform rather than a DC waveform. If the snake waveform has a rocking needle that exceeds a predetermined level, the operation state of the CCFL is determined to be bad.

직류 변환기(140)를 거친 신호는 직류 전압으로 나타나므로 상기 직류 전압을 아날로그/디지털 컨버터(150)로 디지털 신호로 변환하면 CCFL의 밝기량을 측정할 수 있다. 아날로그/디지털 컨버터(150)의 샘플링 주기를 스네이크 현상을 일으키는 수Hz~수십Hz 보다 빠르게 읽고 신호의 고저의 폭으로 CCFL의 스네이크 불량 및 플리커 불량을 판별할 수 있다.Since the signal passed through the DC converter 140 is represented by a DC voltage, converting the DC voltage into a digital signal using the analog / digital converter 150 may measure the brightness of the CCFL. The sampling cycle of the analog / digital converter 150 may be read faster than a few Hz to several tens of Hz, which causes a snake phenomenon, and the snag and flicker defects of the CCFL may be determined by the height of the signal.

도 6은 CCFL의 동작이 비정상일 때 검출되는 플리커 파형을 보인 예시도이다. 형광램프인 CCFL의 동작이 비정상일 때 플리커 파형이 검출될 수 있다. 제어부(160)는 아날로그/디지털 컨버터(150)를 거친 디지털 신호를 소정의 기준값과 비 교하여 스네이크 현상이 발생하는지 또는 플리커 현상이 발생하는지를 판단한다.6 is an exemplary diagram illustrating a flicker waveform detected when an operation of the CCFL is abnormal. Flicker waveform may be detected when the operation of the fluorescent lamp CCFL is abnormal. The controller 160 compares the digital signal passed through the analog / digital converter 150 with a predetermined reference value and determines whether a snake phenomenon or a flicker phenomenon occurs.

제어부(160)는 스네이크 파형 또는 플리커 파형을 검출하면 CCFL이 불량인 것으로 판단한다. 제어부(160)는 스네이크 파형 또는 플리커 파형을 검출할 때 기준값을 사용한다. 제어부(160)는 입력부(170)에서 제공되는 기준값을 입력받아 아날로그/디지털 컨버터(150)를 거친 파형과 비교하여 스네이크 현상이 발생했는지 또는 플리커 현상이 발생했는지를 검출한다.The controller 160 determines that the CCFL is bad when the snake waveform or the flicker waveform is detected. The controller 160 uses the reference value when detecting the snake waveform or the flicker waveform. The controller 160 receives a reference value provided from the input unit 170 and compares the waveform with the analog / digital converter 150 to detect whether a snake phenomenon or a flicker phenomenon occurs.

제어부(160)는 CCFL의 동작 상태가 양호한지 불량한지를 외부로 알려 CCFL의 에이징 공정에 필요한 정보를 제공할 수 있다. CCFL의 에이징 공정은 CCFL을 정상 동작 환경이 아닌 가혹한 동작 환경에서 CCFL이 정상적으로 동작하는지를 판단하는 공정이다. 제어부(160)는 통신부(190)를 통해 에이징 공정에 CCFL의 비정상 동작을 알려 에이징 공정의 진행을 중단시키거나 원격 단말기에 CCFL의 비정상 또는 정상 상태를 알릴 수 있다.The controller 160 may notify the outside whether the operation state of the CCFL is good or bad and provide information necessary for the aging process of the CCFL. The aging process of the CCFL is a process of determining whether the CCFL operates normally in a harsh operating environment, not in a normal operating environment. The controller 160 may inform the aging process of an abnormal operation of the CCFL through the communication unit 190 to stop the progress of the aging process or notify the remote terminal of the abnormal or normal state of the CCFL.

원격 단말기에서 CCFL의 동작 상태를 체크하여 CCFL의 비정상 동작을 검출하여 CCFL의 불량 판정을 내릴 수 있다.The remote terminal may check the operation state of the CCFL to detect abnormal operation of the CCFL to determine the failure of the CCFL.

제어부((160)는 표시부(180)에 의해 CCFL의 동작 상태를 외부로 표시할 수 있다. 표시부(180)는 CCFL의 스네이크 현상과 플리커 현상이 발생했을 때 이를 외부로 알릴 수 있다.The controller 160 may display the operation state of the CCFL to the outside by the display unit 180. The display unit 180 may notify the outside when a snake phenomenon and a flicker phenomenon of the CCFL occur.

입력부(170)는 제어부(160)에 스네이크 현상 또는 플리커 현상을 검출할 때 사용되는 기준값을 제공한다. 입력부(170)는 기준값을 조정하여 스네이크 현상 또는 플리커 현상의 검출 횟수를 조정할 수 있다. 스네이크 현상은 CCFL의 동작 조건 에서 동작 파형의 외곽선이 스네이크처럼 요동치는 현상이고, 플리커 현상은 CCFL이 일시적으로 꺼지거나 다시 켜지는 현상이 소정 시간의 간격을 두고 발생하는 현상이다.The input unit 170 provides the control unit 160 with a reference value used when detecting a snake phenomenon or a flicker phenomenon. The input unit 170 may adjust the number of detections of the snake phenomenon or the flicker phenomenon by adjusting the reference value. The snake phenomenon is a phenomenon in which the outline of the operating waveform fluctuates like a snake under the CCFL operating conditions, and the flicker phenomenon is a phenomenon in which the CCFL is temporarily turned off or turned on at a predetermined time interval.

입력부(170)는 스네이크 현상이 소정 이상으로 과도하게 발생할 때를 검출하도록 제어부(160)에 기준값을 제공한다. 또한, 입력부(170)는 플리커 현상이 소정 이상으로 과도하게 발생할 때를 검출하도록 제어부(160)에 기준값을 제공한다.The input unit 170 provides a reference value to the controller 160 to detect when a snake phenomenon occurs excessively above a predetermined value. In addition, the input unit 170 provides a reference value to the controller 160 to detect when a flicker phenomenon occurs excessively above a predetermined value.

제어부(160)는 입력부(170)에서 입력되는 기준값에 기반하여 CCFL에 스네이크 현상 또는 플리커 현상이 발생하는지를 판단하고 CCFL이 불량으로 판단되면 표시부(180)에 CCFL의 불량 여부를 출력한다.The controller 160 determines whether a snake phenomenon or a flicker phenomenon occurs in the CCFL based on the reference value input from the input unit 170, and if the CCFL is determined to be defective, the controller 160 outputs whether the CCFL is defective.

도 7은 본 발명의 실시예에 따른 형광램프의 불량을 검출하는 형광램프의 불량 판단 장치의 구성을 보인 블록도이다.7 is a block diagram showing the configuration of a failure determination apparatus for a fluorescent lamp for detecting a failure of the fluorescent lamp according to an embodiment of the present invention.

상기에서 설명한 CCFL의 스네이크 현상 또는 플리커 현상을 검출하는 구성에 더해 스네이크 현상 또는 플리커 현상을 정밀하게 검출하는 구성을 설명한다.In addition to the configuration for detecting the snake phenomenon or the flicker phenomenon of the CCFL described above, a configuration for precisely detecting the snake phenomenon or the flicker phenomenon will be described.

저주파 필터(130)는 CCFL의 불량 요소 중 스네이크 현상 및 플리커 현상을 판별하기 위해 인버터의 구동 주파수의 신호를 제거하고 변동분의 신호를 얻기 위한 장치이다. 저주파 필터(130)를 거친 CCFL의 변동분의 신호는 직류 파형 형태를 나타내면 CCFL은 이상적인 동작 상태를 나타낸다.The low frequency filter 130 is a device for removing a signal of the drive frequency of the inverter and obtaining a signal of variation in order to determine a snake phenomenon and a flicker phenomenon among the defective elements of the CCFL. When the signal of the variation of the CCFL passed through the low frequency filter 130 shows a DC waveform shape, the CCFL shows an ideal operating state.

상한값 비교기(210)는 저주파 필터(130)를 거친 신호와 상한값 조정기의 값을 비교하여 스네이크 현상을 보이는 CCFL의 불량을 판단하는 장치이다. 제어부(160)는 상한값 조정기(220)에 스네이크 현상의 상한 기준값을 제공하여 CCFL에 서 스네이크 현상이 발생하였는지를 판단하는 기준을 제공한다.The upper limit comparator 210 is a device that determines the failure of the CCFL showing a snake phenomenon by comparing the signal passed through the low frequency filter 130 and the value of the upper limit adjuster. The controller 160 provides the upper limit adjuster 220 with an upper limit reference value of the snake phenomenon to provide a criterion for determining whether a snake phenomenon occurs in the CCFL.

하한값 비교기(230)는 저주파 필터(130)를 거친 신호와 하한값 조정기(240)의 값을 비교하여 플리커 현상을 보이는 CCFL의 불량을 판단하는 장치이다. 제어부(160)는 하한값 조정기(240)에 플리커 현상의 하한 기준값을 제공하여 CCFL에서 플리커 현상이 발생하였는지를 판단하는 기준을 제공한다.The lower limit comparator 230 compares a signal passing through the low frequency filter 130 with a value of the lower limit adjuster 240 to determine a defect of the CCFL showing a flicker phenomenon. The controller 160 provides the lower limit adjuster 240 with a lower limit reference value of the flicker phenomenon to provide a criterion for determining whether flicker occurs in the CCFL.

도 8은 형광램프의 동작이 정상일 때 검출되는 저주파수 파형을 보인 예시도이다. 형광램프의 동작이 정상이면 영점에서 변동이 없는 이상적인 파형을 출력한다.8 is an exemplary view showing a low frequency waveform detected when the operation of the fluorescent lamp is normal. If the operation of the fluorescent lamp is normal, it outputs an ideal waveform with no change at zero.

상한값 비교기(210)는 저주파 필터(200)를 거친 신호와 상한값 조정기(220)의 값을 비교하여 스네이크 현상을 보이는 CCFL의 불량을 판단한다. 제어부(160)는 상한값 조정기(220)에 스네이크 현상의 상한 기준값을 제공하여 CCFL에서 스네이크 현상이 발생하였는지를 판단하는 기준을 제공한다.The upper limit comparator 210 compares a signal passing through the low frequency filter 200 with a value of the upper limit adjuster 220 to determine a failure of the CCFL exhibiting a snake phenomenon. The controller 160 provides the upper limit adjuster 220 with an upper limit reference value of the snake phenomenon to provide a criterion for determining whether a snake phenomenon occurs in the CCFL.

도 9는 형광램프의 동작이 비정상일 때 검출되는 스네이크 파형을 보인 예시도이다. 스네이크 파형은 상한 기준값과 하한 기준값 이내에 놓인 파형처럼 보이지만 상한 기준값을 낮추면 형광램프의 동작이 비정상으로 판단된다. 형광램프의 동작이 비정상이면 형광램프의 밝기가 어두어졌다 밝아졌다를 반복한다.9 is an exemplary view illustrating a snake waveform detected when an operation of a fluorescent lamp is abnormal. The snake waveform looks like a waveform that lies within the upper and lower reference values, but lowering the upper reference value determines that the operation of the fluorescent lamp is abnormal. If the operation of the fluorescent lamp is abnormal, the brightness of the fluorescent lamp becomes dark and bright.

상한값 비교기(230)는 저주파 필터(200)를 거친 신호와 상한값 조정기(220)의 상한 기준값을 비교하여 스네이크 현상을 보이는 CCFL의 불량을 판단하는 장치이다. 제어부(160)는 상한값 조정기(220)에 스네이크 현상의 상한 기준값을 제공하여 CCFL에서 스네이크 현상이 발생하였는지를 판단하는 기준을 제공한다.The upper limit comparator 230 compares a signal passing through the low frequency filter 200 with an upper limit reference value of the upper limit adjuster 220 to determine a failure of the CCFL exhibiting a snake phenomenon. The controller 160 provides the upper limit adjuster 220 with an upper limit reference value of the snake phenomenon to provide a criterion for determining whether a snake phenomenon occurs in the CCFL.

제어부(160)는 입력부(170)로부터 스네이크 현상의 상한 기준값을 입력받아 상한값 조정기(220)를 통해 상한값 비교기(210)에 전달하여 상한 기준값을 세팅한다. 제어부(160)는 상한 기준값을 세팅한 후 상한값 비교기(210)의 출력을 감시하여 스네이크 현상의 발생을 검출하고 스네이크 현상이 발생하면 CCFL이 불량이라고 판단한다.The controller 160 receives the upper limit reference value of the snake phenomenon from the input unit 170 and transmits the upper limit reference value to the upper limit comparator 210 through the upper limit adjuster 220 to set the upper limit reference value. After setting the upper limit reference value, the controller 160 monitors the output of the upper limit comparator 210 to detect the occurrence of the snake phenomenon and determines that the CCFL is defective when the snake phenomenon occurs.

도 10은 형광램프의 동작이 비정상일 때 검출되는 플리커 파형을 보인 예시도이다. CCFL에서 플리커 현상이 발생하면 정상 상태에서 최소 값으로 떨어지는 현상이 임의로 발생한다.10 is an exemplary view showing a flicker waveform detected when an operation of a fluorescent lamp is abnormal. When the flicker occurs in the CCFL, a phenomenon in which the steady state falls to the minimum value randomly occurs.

도 11은 플리커 파형에 하한 기준값을 설정하여 형광램프의 불량 여부를 판단하는 예시도이다. 하한값 비교기(230)는 저주파 필터(200)를 거친 신호와 하한값 조정기(240)의 하한 기준값을 비교하여 플리커 현상이 발생하였는지를 판단한다. 제어부(160)는 하한값 비교기(230)의 출력을 입력받아 플리커 현상이 발생하였는지를 인지하고 플리커 현상이 발생하면 표시부(180)에 플리커 현상의 발생을 출력한다.11 is an exemplary diagram for determining whether or not a fluorescent lamp is defective by setting a lower reference value on the flicker waveform. The lower limit comparator 230 compares the signal passing through the low frequency filter 200 with the lower limit reference value of the lower limit adjuster 240 to determine whether a flicker phenomenon has occurred. The controller 160 receives the output of the lower limit comparator 230 and recognizes whether a flicker phenomenon has occurred, and outputs the generation of the flicker phenomenon to the display unit 180 when the flicker phenomenon occurs.

제어부(160)는 입력부(170)로부터 플리커 현상의 하한 기준값을 입력받아 하한값 조정기(240)를 통해 하한값 비교기(230)에 전달하여 하한 기준값을 세팅한다. 제어부(160)는 하한 기준값을 세팅한 후 하한값 비교기의 출력을 감시하여 플리커 현상의 발생을 검출하고 플리커 현상이 발생하면 CCFL이 불량이라고 판단한다.The controller 160 receives the lower limit reference value of the flicker phenomenon from the input unit 170 and transmits it to the lower limit comparator 230 through the lower limit adjuster 240 to set the lower limit reference value. After setting the lower limit reference value, the controller 160 monitors the output of the lower limit comparator to detect the occurrence of the flicker phenomenon and determines that the CCFL is defective when the flicker phenomenon occurs.

제어부(160)는 플리커 현상이 발생하면 통신부(190)를 통해 외부에 플리커 현상의 발생을 알린다. 통신부(190)는 외부로 플리커 현상의 발생을 알려 CCFL의 불량 여부를 알린다.When the flicker phenomenon occurs, the controller 160 notifies the outside of the flicker phenomenon through the communication unit 190. The communication unit 190 notifies the occurrence of the flicker phenomenon to inform the CCFL of the outside.

본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 등록청구범위의 기술적 사항에 의해 정해져야 할 것이다.Although the present invention has been described with reference to the embodiments shown in the drawings, this is merely exemplary, and it will be understood by those skilled in the art that various modifications and equivalent other embodiments are possible. Therefore, the true technical protection scope of the present invention will be defined by the technical details of the appended claims.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 형광램프의 불량을 검출하는 형광램프의 불량 판단 장치의 구성을 보인 블록도.1 is a block diagram showing the configuration of a failure determination apparatus for a fluorescent lamp for detecting a failure of the fluorescent lamp according to an embodiment of the present invention.

도 2는 형광램프의 광을 포토 센서로 검출한 전기 신호의 파형도.2 is a waveform diagram of an electrical signal obtained by detecting light of a fluorescent lamp with a photo sensor;

도 3은 포토 센서로 검출된 전기 신호를 증폭한 파형도.3 is a waveform diagram of amplified electrical signals detected by a photosensor.

도 4는 형광램프의 동작이 정상일 때 검출되는 직류 파형을 보인 예시도.4 is an exemplary view showing a DC waveform detected when the operation of the fluorescent lamp is normal.

도 5는 형광램프의 동작이 비정상일 때 검출되는 스네이크 파형을 보인 예시도.5 is an exemplary view showing a snake waveform detected when an operation of a fluorescent lamp is abnormal.

도 6은 형광램프의 동작이 비정상일 때 검출되는 플리커 파형을 보인 예시도.6 is an exemplary view showing a flicker waveform detected when an operation of a fluorescent lamp is abnormal.

도 7은 본 발명의 실시예에 따른 형광램프의 불량을 검출하는 형광램프의 불량 판단 장치의 구성을 보인 블록도.7 is a block diagram showing the configuration of a failure determination apparatus for a fluorescent lamp for detecting a failure of the fluorescent lamp according to an embodiment of the present invention.

도 8은 형광램프의 동작이 정상일 때 검출되는 저주파수 파형을 보인 예시도.8 is an exemplary view showing a low frequency waveform detected when the operation of the fluorescent lamp is normal.

도 9는 형광램프의 동작이 비정상일 때 검출되는 스네이크 파형을 보인 예시도.9 is an exemplary view showing a snake waveform detected when an operation of a fluorescent lamp is abnormal.

도 10은 형광램프의 동작이 비정상일 때 검출되는 플리커 파형을 보인 예시도.10 is an exemplary view showing a flicker waveform detected when an operation of a fluorescent lamp is abnormal.

도 11은 플리커 파형에 하한 기준값을 설정하여 형광램프의 불량 여부를 판단하는 예시도.11 is an exemplary view for determining whether or not a fluorescent lamp is defective by setting a lower reference value on the flicker waveform.

Claims (4)

형광램프에서 출력되는 광을 수광하여 전기 에너지로 변환하는 포토 센서와;A photo sensor which receives the light output from the fluorescent lamp and converts the light into electrical energy; 상기 포토 센서의 출력 신호를 입력받아 증폭하는 증폭기와;An amplifier for receiving and amplifying the output signal of the photosensor; 상기 증폭기로부터 출력되는 교류 신호를 입력받아 직류 신호로 변환하는 직류 변환기와;A DC converter for receiving an AC signal output from the amplifier and converting the signal into a DC signal; 상기 직류 변환기로부터 출력되는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 아날로그/디지털 컨버터와;An analog / digital converter for converting an analog signal output from the DC converter into a digital signal; 상기 아날로그/디지털 컨버터의 디지털 출력 신호를 입력받아 입력된 디지털 값과 미리 설정된 기준값을 비교하여 형광램프의 불량 여부를 판단하는 제어부와;A control unit which receives the digital output signal of the analog / digital converter and compares the input digital value with a preset reference value to determine whether the fluorescent lamp is defective; 상기 제어부에 의해 작동 제어되어 제어부의 작동 상태를 표시하는 표시부;를 포함하는 형광램프의 불량 판단 장치.And a display unit which is operated by the controller to display an operation state of the controller. 제1항에 있어서, 상기 제어부에According to claim 1, wherein the control unit 상기 형광램프의 불량 여부를 판단하는 기준값을 상기 제어부로 제공하는 입력부가 보강 연결된 것을 특징으로 하는 형광램프의 불량 판단 장치.Apparatus for determining the failure of the fluorescent lamp, characterized in that the input unit for providing a reference value for determining whether the fluorescent lamp is defective or not reinforced. 제1항에 있어서, 상기 제어부에 외부와의 데이터 통신을 위한 통신부가 보강 연결된 것을 특징으로 하는 형광램프의 불량 판단 장치.The apparatus of claim 1, wherein a communication unit for data communication with the outside is reinforced to the control unit. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 증폭기의 출력을 저주파수 필터링하여 저주파수 대역의 값을 출력하는 저주파수 필터와, 상기 저주파수 필터의 출력값과 미리 설정된 상한 기준값을 비교하여 상기 저주파수 필터의 출력이 상한 기준값을 초과하면 불량 신호를 출력하는 상한값 비교기와, 상기 저주파수 필터의 출력과 미리 설정된 하한 기준값을 비교하여 상기 저주파수 필터의 출력이 하한 기준값 이하이면 불량 신호를 출력하는 하한값 비교기와, 상기 제어부의 제어 하에 상기 상한값 비교기에 상한 기준값을 제공하는 상한값 조정기와, 상기 제어부의 제어 하에 상기 하한값 비교기에 하한 기준값을 제공하는 하한값 조정기;를 더 포함하고,A low frequency filter for outputting a low frequency band value by low frequency filtering the output of the amplifier, and an upper limit comparator for outputting a bad signal when the output of the low frequency filter exceeds an upper limit reference value by comparing the output value of the low frequency filter with a preset upper limit reference value. A lower limit comparator for comparing the output of the low frequency filter with a preset lower limit reference value and outputting a bad signal if the output of the low frequency filter is less than or equal to the lower limit reference value; and an upper limit adjuster for providing an upper limit reference value to the upper limit comparator under the control of the controller. And a lower limit adjuster which provides a lower limit reference value to the lower limit comparator under the control of the controller. 상기 제어부는 상기 상한값 비교기의 출력과 상기 하한값 비교기의 출력을 매개로 상기 형광램프의 불량 유무를 판단하는 것을 특징으로 하는 형광램프의 불량 판단 장치.And the controller determines whether the fluorescent lamp is defective based on the output of the upper limit comparator and the output of the lower limit comparator.
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