KR100814320B1 - Method for producing sputtering target - Google Patents

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KR100814320B1
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미츠이 긴조쿠 고교 가부시키가이샤
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Abstract

타겟의 라이프를 연장할 수 있고, 또한 고밀도의 스퍼터링 타겟을 얻을 수 있는 스퍼터링 타겟의 제조방법을 제공한다. Provided is a method for producing a sputtering target, which can extend the life of the target and obtain a high-density sputtering target.

산화인듐 분말 및 산화주석 분말을 포함하는 혼합분말로 이루어지는 원료분말을 소성하여 스퍼터링 타겟을 제조할 때, 적어도 산화인듐을 1100℃∼1300℃에서 하소하여 원료의 혼합분말로 하고, 이 혼합분말을 상기 하소한 온도로부터 150℃ 이상 높은 온도에서 소성한다. When firing a raw powder comprising a mixed powder comprising indium oxide powder and tin oxide powder to produce a sputtering target, at least indium oxide is calcined at 1100 ° C. to 1300 ° C. to obtain a mixed powder of the raw material, and the mixed powder is It bakes at temperature higher than 150 degreeC from the calcined temperature.

타겟, 라이프, 스퍼터링 타겟, 산화인듐 분말, 산화주석 분말, 소성. Target, Life, Sputtering Target, Indium Oxide Powder, Tin Oxide Powder, Calcined.

Description

스퍼터링 타겟의 제조방법{METHOD FOR PRODUCING SPUTTERING TARGET}Manufacturing method of sputtering target {METHOD FOR PRODUCING SPUTTERING TARGET}

본 발명은 스퍼터링 타겟의 제조방법에 관한 것이다. The present invention relates to a method for producing a sputtering target.

일반적으로, 박막을 성막하는 방법의 한가지로서 스퍼터링법이 알려져 있다. 스퍼터링법이란 스퍼터링 타겟을 스퍼터링 함으로써 박막을 얻는 방법으로, 대면적화가 용이하고, 고성능의 막을 효율적으로 성막할 수 있기 때문에, 공업적으로 이용되고 있다. 또, 최근, 스퍼터링의 방식으로서, 반응성 가스중에서 스퍼터링을 행하는 반응성 스퍼터링법이나, 타겟의 이면에 자석을 설치하여 박막형성의 고속화를 도모하는 마그네트론 스퍼터링법 등도 알려져 있다. Generally, sputtering is known as one of methods for forming a thin film. The sputtering method is a method of obtaining a thin film by sputtering a sputtering target. Since the large area is easy and a high performance film can be formed efficiently, it is industrially used. Recently, as a sputtering method, a reactive sputtering method for sputtering in a reactive gas, a magnetron sputtering method for accelerating thin film formation by providing a magnet on the back surface of a target and the like are also known.

이러한 스퍼터링법에서 사용되는 박막 중, 특히, 산화인듐-산화주석(In2O3-SnO2의 복합산화물, 이하, 「ITO」라고 함) 막은 가시광선 투과성이 높고, 또한 도전성이 높으므로 투명 도전막으로서 액정표시장치나 유리의 결로방지용 발열막, 적외선반사막 등에 폭넓게 사용되고 있다. Among the thin films used in such a sputtering method, an indium tin oxide (composite oxide of In 2 O 3 -SnO 2 , hereinafter referred to as "ITO") film is particularly transparent because of its high visible light transmittance and high conductivity. As a film, it is widely used for a liquid crystal display device, a heat generating film for preventing condensation of glass, an infrared reflecting film, and the like.

이 때문에, 보다 효율적으로 저코스트로 성막하기 위해서, 현재에도 스퍼터 조건이나 스퍼터 장치 등의 개량이 나날이 행해지고 있고, 장치를 어떻게 효율적으 로 가동시킬지가 중요하게 된다. 또, 이러한 ITO 스퍼터링에서는, 새로운 스퍼터링 타겟을 세팅하고나서 초기 아크(이상 방전)가 사라지고 제품을 제조할 수 있을 때까지의 시간이 짧은 것과, 한번 세팅하고나서 어느 정도의 기간동안 사용할 수 있는지(적산 스퍼터링 시간: 타겟 라이프)이 문제가 된다. For this reason, in order to form a film with low cost more efficiently, improvement of sputter | spatter conditions, a sputter apparatus, etc. is performed day by day, and it becomes important how to operate an apparatus efficiently. In addition, in such an ITO sputtering, the short time between setting the new sputtering target and the initial arc (abnormal discharge) disappears and the product can be manufactured, and how long it can be used after setting it (accumulation) Sputtering time: target life) is a problem.

이러한 ITO 스퍼터링 타겟은 산화인듐 분말 및 산화주석 분말을 소정의 비율로 혼합하여 건식 또는 습식으로 성형하고, 소결한 것으로(특허문헌 1), 고밀도의 ITO 소결체를 얻기 위한 고분산성의 산화인듐 분말이 제안되어 있다(특허문헌 2, 3, 4 등 참조). Such an ITO sputtering target is formed by mixing indium oxide powder and tin oxide powder in a predetermined ratio, dry or wet molding, and sintering (Patent Document 1). A highly dispersible indium oxide powder for obtaining a high density ITO sintered body is proposed. (Refer patent document 2, 3, 4, etc.).

한편, 공침법에 의해 습식 합성된 ITO 분말을 ITO 소결체로 만드는 것도 알려져 있고(특허문헌 5 등 참조), 마찬가지로 고밀도의 소결체를 얻기 위한 ITO 분말의 습식 합성방법이 다수 제안되어 있다(특허문헌 6∼9 등 참조). On the other hand, it is also known to make ITO powder wet-synthesized by the coprecipitation method into an ITO sintered compact (refer patent document 5 etc.), and similarly, the wet synthesis method of ITO powder for obtaining a high density sintered compact is proposed (patent documents 6-6). 9, etc.).

그렇지만, 여전히, ITO 분말의 제조방법에 크게 얽매이지 않고, 또, 소결조건 등을 고도로 제어하지 않아도, 비교적 용이하게 고밀도의 소결체가 얻어지고, 이 결과, 라이프가 긴 타겟을 얻을 수 있는 스퍼터링 타겟의 제조방법을 요구하는 바램이 많다. However, the sputtering target can still obtain a high-density sintered body relatively easily without being strongly bound by the manufacturing method of the ITO powder and without highly controlling the sintering conditions and the like. There are many wishes for a manufacturing method.

[특허문헌 1] 일본 특개소62-21751호 공보[Patent Document 1] Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-21751

[특허문헌 2] 일본 특개평5-193939호 공보[Patent Document 2] Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-193939

[특허문헌 3] 일본 특개평6-191846호 공보[Patent Document 3] Japanese Unexamined Patent Publication No. 6-191846

[특허문헌 4] 일본 특개2001-261336호 공보[Patent Document 4] Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-261336

[특허문헌 5] 일본 특개소62-21751호 공보[Patent Document 5] Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-21751

[특허문헌 6] 일본 특개평9-221322호 공보[Patent Document 6] Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-221322

[특허문헌 7] 일본 특개2000-281337호 공보[Patent Document 7] Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-281337

[특허문헌 8] 일본 특개2001-172018호 공보[Patent Document 8] Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-172018

[특허문헌 9] 일본 특개2002-68744호 공보[Patent Document 9] Japanese Unexamined Patent Publication No. 2002-68744

본 발명은 이러한 사정을 감안하여, 타겟의 라이프를 연장할 수 있고, 또, 고밀도의 스퍼터링 타겟을 얻을 수 있는 스퍼터링 타겟의 제조방법을 제공하는 것을 과제로 한다. In view of such circumstances, the present invention has an object to provide a method for producing a sputtering target, which can extend the life of the target and obtain a high-density sputtering target.

상기 과제를 해결하는 본 발명의 제 1 태양은, 산화인듐 분말 및 산화주석 분말을 포함하는 원료를 혼합하고 소성하여 스퍼터링 타겟을 제조할 때에, 적어도 산화인듐 분말을 1100℃∼1300℃에서 하소하여 원료의 혼합분말로 하고, 이 혼합분말을 상기 하소한 온도로부터 150℃ 이상 높은 온도에서 소성하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 타겟의 제조방법에 있다. The 1st aspect of this invention which solves the said subject is a raw material which calcinates at least an indium oxide powder at 1100 degreeC-1300 degreeC, when mixing and baking the raw material containing an indium oxide powder and a tin oxide powder, and manufacturing a sputtering target. A mixed powder of is prepared, and the mixed powder is calcined at a temperature higher than or equal to 150 ° C. from the calcined temperature.

이러한 제 1 태양에서는, 적어도 산화인듐 분말을 소정 온도에서 하소함으로써 원료중의 탄소함유량을 현저하게 저감할 수 있고, 또한 혼합분말을 하소온도보다 높은 소정 온도에서 소성함으로써, 고밀도이고 타겟 라이프가 긴 스퍼터링 타겟으로 만들 수 있다. In this first aspect, at least the indium oxide powder is calcined at a predetermined temperature to significantly reduce the carbon content in the raw material, and the mixed powder is calcined at a predetermined temperature higher than the calcining temperature, so that high density and long target life are sputtered. Can be targeted.

본 발명의 제 2 태양은, 제 1 태양에 있어서, 상기 산화인듐 분말의 하소 후의 탄소함유량을 50ppm 이하로 하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 타겟의 제조방법 에 있다. According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, the carbon content after calcination of the indium oxide powder is set to 50 ppm or less.

이러한 제 2 태양에서는, 하소 후의 산화인듐 분말의 탄소함유량을 50ppm 이하로 함으로써, 소성 후의 타겟 라이프를 확실하게 향상시킬 수 있다. In this 2nd aspect, the target life after baking can be reliably improved by making the carbon content of the indium oxide powder after calcination into 50 ppm or less.

본 발명의 제 3 태양은, 제 1 또는 2의 태양에서, 상기 산화인듐의 하소를, 그 후의 BET 비표면적이 0.8∼4m2/g이 되도록 행하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 타겟의 제조방법에 있다. According to a third aspect of the present invention, in the first or second aspect, calcination of the indium oxide is performed so that a subsequent BET specific surface area is 0.8 to 4 m 2 / g.

이러한 제 3 태양에서는, BET 비표면적을 소정의 범위가 되도록 하소함으로써, 소성 후의 타겟 밀도를 향상할 수 있는 동시에 타겟 라이프를 확실하게 향상시킬 수 있다. In this third aspect, by calcining the BET specific surface area to be within a predetermined range, the target density after firing can be improved and the target life can be reliably improved.

본 발명의 제 4 태양은, 제 1∼3중 어느 하나의 태양에 있어서, 상기 하소중, 및 하소한 후 혼합분말을 소성하기 까지의 동안, 원료와 탄산가스의 접촉을 피하도록 처리하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 타겟의 제조방법에 있다. According to a fourth aspect of the present invention, in any one of the first to third aspects, the treatment is performed to avoid contact between the raw material and the carbon dioxide gas during the calcination and after the calcination until the mixed powder is calcined. It is in the manufacturing method of the sputtering target made into.

이러한 제 4 태양에서는, 원료와 탄산가스의 접촉을 피함으로써, 하소한 원료 중의 탄소농도를 확실하게 저하시킬 수 있다. In this fourth aspect, the carbon concentration in the calcined raw material can be reliably lowered by avoiding contact between the raw material and carbon dioxide gas.

본 발명의 제 5 태양은, 제 1∼4 중 어느 하나의 태양에 있어서, 소성 후의 밀도를 99% 이상으로 하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 타겟의 제조방법에 있다. The 5th aspect of this invention is a manufacturing method of the sputtering target characterized by the density | concentration after baking in any one of 1st-4 which is 99% or more.

이러한 제 5 태양에서는, 스퍼터링 타겟의 밀도를 99% 이상으로 함으로써, 타겟 라이프를 확실하게 향상시킬 수 있다. In this fifth aspect, the target life can be reliably improved by setting the density of the sputtering target to 99% or more.

본 발명의 제 6 태양은, 제 1∼5 중 어느 하나의 태양에 있어서, 주석 함유 량이 SnO2 환산으로 2.3∼45질량%인 것을 특징으로 하는 스퍼터링 타겟의 제조방법에 있다. According to a sixth aspect of the present invention, in any one of the first to fifth aspects, the tin-containing amount is 2.3 to 45% by mass in terms of SnO 2 , and the method for producing a sputtering target according to the present invention is characterized in that the tin-containing amount is 2.3 to 45 mass%.

이러한 제 6 태양에서는, 주석 함유량이 소정의 범위에서, 원하는 도전성을 갖는 박막을 형성할 수 있다. In this sixth aspect, the tin content can form a thin film having desired conductivity in a predetermined range.

(발명을 실시하기 위한 최량의 형태)(The best form to carry out invention)

본 발명의 스퍼터링 타겟의 제조방법은 산화인듐 분말 및 산화주석 분말을 포함하는 원료를 혼합하고 소성하여 스퍼터링 타겟을 제조할 때에, 적어도 산화인듐 분말을 1100℃∼1300℃에서 하소하고, 그 후에 혼합분말을 상기 하소한 온도로부터 150℃ 이상 높은 온도에서 소성하는 것이다. In the method for producing a sputtering target of the present invention, when a raw material containing indium oxide powder and tin oxide powder is mixed and calcined to produce a sputtering target, at least the indium oxide powder is calcined at 1100 ° C to 1300 ° C, and then the mixed powder Is fired at a temperature higher than 150 ° C. from the calcined temperature.

본 발명 방법에 있어서, 원료 중, 적어도 산화인듐 분말을 하소하는 것은, 산화인듐 분말 중에 포함되는 탄소함유량을 저감하기 위해서이며, 탄소함유량을 유효하게 저감하기 위해서는, 1100℃∼1300℃, 바람직하게는 1150∼1300℃에서 하소할 필요가 있다. 이것보다 저온에서 하소해도, 탄소가 원료분말에 화학흡착 되어 있기 때문에 저감되지 않고, 반면, 이것보다 고온에서 하소하면 탄소함유량은 저감되지만, 소성과정에서 문제가 발생한다. 즉, 하소 후, 하소 온도보다 150℃ 이상 고온으로 소성함으로써, 고밀도의 스퍼터링 타겟을 얻을 수 있는데, 1300℃ 보다 높은 온도에서 하소한 경우에는, BET 비표면적이 소정 범위보다 작아져버려, 고밀도의 타겟이 얻어지지 않을 우려가 있다. In the method of the present invention, at least indium oxide powder is calcined in the raw material in order to reduce the carbon content contained in the indium oxide powder, and in order to effectively reduce the carbon content, 1100 ° C to 1300 ° C, preferably It is necessary to calcinate at 1150-1300 degreeC. Even if calcined at a lower temperature than this, carbon is not reduced because it is chemically adsorbed to the raw material powder. On the other hand, when calcined at a higher temperature than this, the carbon content is reduced, but problems occur in the firing process. In other words, after calcination, firing at a high temperature of 150 ° C. or higher than the calcination temperature yields a high-density sputtering target. When calcining at a temperature higher than 1300 ° C., the BET specific surface area becomes smaller than a predetermined range, and thus a high density target. This may not be obtained.

이러한 점으로부터, 본 발명 방법에서는, 1100℃∼1300℃, 바람직하게는 1150℃∼1300℃에서 하소하는 것이 바람직하다. From this point of view, in the method of the present invention, it is preferable to calcinate at 1100 ° C to 1300 ° C, preferably 1150 ° C to 1300 ° C.

또한, 스퍼터링 타겟의 제조에 있어서 문제가 되는 것은 산화인듐 분말에 화학흡착 된 탄소이며, 산화주석에는 탄소는 거의 흡착되지 않아 문제가 되지 않는다. 따라서, 본 발명 방법에서, 「적어도 산화인듐 분말을 1100℃∼1300℃에서 하소하여 원료의 혼합분말로 하고」란, 적어도 산화인듐 분말을 하소하면 되고, 산화주석 분말은 반드시 하소할 필요는 없다는 의미이다. 즉, 산화인듐 분말 및 산화주석을 사용하는 경우에는, 적어도 산화인듐 분말만을 하소하면 되는데, 물론, 양자를 혼합한 상태에서 하소해도 된다는 의미이다. 또, 산화인듐 분말 및 산화주석 분말에 더하여 산화인듐-산화주석 분말(ITO 분말)을 더한 혼합분말을 사용해도 되는데, ITO 분말에서는 산화인듐 중에 주석이 고용되어 있기 때문에, 탄소의 흡착의 점에서는 문제가 되지 않으므로, 반드시 하소할 필요는 없는데, 물론, 하소해도 된다. Further, a problem in the production of the sputtering target is carbon chemisorbed on the indium oxide powder, and carbon is hardly adsorbed on the tin oxide, which is not a problem. Therefore, in the method of the present invention, "calcination of at least indium oxide powder at 1100 DEG C to 1300 DEG C as a mixed powder of raw materials" means that at least the indium oxide powder should be calcined, and the tin oxide powder does not necessarily need to be calcined. to be. That is, in the case where indium oxide powder and tin oxide are used, at least only the indium oxide powder may be calcined, but of course, it may be calcined in a mixed state. In addition, a mixed powder obtained by adding indium oxide powder and tin oxide powder in addition to indium oxide-tin oxide powder (ITO powder) may be used. In ITO powder, since tin is dissolved in indium oxide, there is a problem in terms of carbon adsorption. It does not necessarily need to be calcined, but of course, it may be calcined.

본 발명 방법에서, 상기한 바와 같이 하소한 산화인듐 분말 중의 탄소함유량은 50ppm 이하, 바람직하게는 20ppm 이하, 특히 바람직하게는 10ppm 이하로 하는 것이 바람직하다. 원료분말에 함유되는 탄소는 후술하는 바와 같이, 타겟 라이프에 영향을 주며, 50ppm을 넘는 탄소를 함유한 원료분말을 소결한 스퍼터링 타겟은 타겟 라이프가 현저하게 짧아지기 때문이다. 여기에서, 탄소함유량이 50ppm보다 많은 원료분말을 사용하여 스퍼터링 타겟으로 하면, 금속산화물이 탄소에 의해 환원되기 때문에, 타겟 내에 금속부위가 확인되지만, 탄소함유량이 50ppm 이하의 원료분말을 사용하면 이러한 금속부위는 관찰되지 않는 것이 확인되었다. 또한, 산 화인듐 분말 중의 탄소함유량은 탄소·유황 측정장치(예를 들면, (주)호리바 제작소제의 EMIA-2200)을 사용하여 측정할 수 있다. 또한, 산화인듐 분말을 포함하는 혼합분말을 하소한 경우에는, 측정되는 탄소함유량은 모두 산화인듐에 기인하는 것으로 추정되므로, 산화인듐 분말의 함유량으로부터 산화인듐 분말에 포함되는 탄소함유량을 산출할 수 있다. In the method of the present invention, the carbon content in the calcined indium oxide powder as described above is preferably 50 ppm or less, preferably 20 ppm or less, particularly preferably 10 ppm or less. The carbon contained in the raw material powder affects the target life, as will be described later. The sputtering target obtained by sintering the raw material powder containing more than 50 ppm of carbon has a significantly shorter target life. Here, if the sputtering target is made of a raw material powder having a carbon content of more than 50 ppm, the metal oxide is reduced by carbon, and thus the metal part is confirmed in the target. However, when the raw material powder having a carbon content of 50 ppm or less is used, such a metal is used. It was confirmed that no site was observed. In addition, the carbon content in the indium oxide powder can be measured using a carbon-sulfur measuring apparatus (for example, EMIA-2200 manufactured by Horiba Co., Ltd.). In addition, when calcining the mixed powder containing indium oxide powder, since all the carbon content measured is estimated to originate in indium oxide, the carbon content contained in an indium oxide powder can be calculated from content of an indium oxide powder. .

이러한 목적으로부터, 본 발명 방법에서는, 하소중, 및 하소한 후, 소성할 때까지의 동안, 당해 원료와 탄산가스의 접촉을 피하도록 처리하는 것이 바람직하다. 이것은, 하소한 산화인듐 분말에 탄산가스가 흡착되어 탄소함유량이 증대하는 것을 방지하기 위해서이다. For this purpose, in the method of the present invention, it is preferable to perform the treatment so as to avoid contact between the raw material and carbon dioxide gas during calcination and after calcination until firing. This is for preventing carbon dioxide gas from adsorbing to the calcined indium oxide powder and increasing the carbon content.

또, 본 발명 방법에서는, 산화인듐 분말의 하소를 그 후의 BET 비표면적이 0.8∼4m2/g 되도록 행하는 것이 바람직하다. BET 비표면적을 이 범위로 함으로써, 소성했을 때에 고밀도의 스퍼터링 타겟을 얻을 수 있기 때문이다. Moreover, in the method of this invention, it is preferable to perform calcination of indium oxide powder so that a subsequent BET specific surface area may be 0.8-4 m <2> / g. It is because a high-density sputtering target can be obtained at the time of baking by making BET specific surface area into this range.

본 발명 방법에서는, 상기한 바와 같이 소정 온도에서 하소한 산화인듐을 포함하는 혼합분말을 소성하여 스퍼터링 타겟으로 하는데, 이때, 소성 후의 밀도를 99% 이상으로 하는 것이 바람직하다. 고밀도의 스퍼터링 타겟일 수록 타겟 라이프가 향상도기 때문이다. In the method of the present invention, a mixed powder containing indium oxide calcined at a predetermined temperature as described above is calcined to form a sputtering target. At this time, the density after calcining is preferably 99% or more. This is because the denser the sputtering target, the better the target life.

이러한 본 발명 방법에서 사용하는 원료의 제조방법은 특별히 한정되지 않고, 원하는 조성의 스퍼터링 타겟을 얻을 수 있는 원료를 준비하면 된다. 또한, 원료는, 예를 들면, 산화인듐 분말 및 산화주석을 소정의 비율로 혼합하여 사용하 는 경우에는, 혼합 전에 하소해도, 혼합한 후 하소해도 되고, 하소하여 혼합하는 경우에는, 상기한 바와 같이 적어도 산화인듐 분말을 하소하면 된다. The manufacturing method of the raw material used by such a method of this invention is not specifically limited, What is necessary is just to prepare the raw material which can obtain the sputtering target of a desired composition. In addition, when a raw material mixes and uses an indium oxide powder and tin oxide in a predetermined ratio, for example, when raw material may be calcined before mixing, it may be calcined after mixing, and when calcining and mixing, Similarly, at least the indium oxide powder may be calcined.

여기에서, 스퍼터링 타겟의 원료는 주석 함유량이 SnO2 환산으로 2.3∼45질량%이도록 하는 것이 바람직하다. 원하는 도전성을 갖는 박막을 형성할 수 있도록 하기 위해서이다. 예를 들면, SnO2 고용량이 2.3질량% 이상인 것은 주석 함유량은 최저라도 SnO2 환산으로 2.3질량%이며, 한편, 45질량%를 넘는 경우에는, 예를 들면, 스퍼터링 타겟으로서 박막을 형성했을 때에 SnO2가 석출하여 도전성을 저해하므로, 모두 바람직하지 못하다. Here, the material of the sputtering target, it is preferred that the tin content so 2.3~45% by weight as SnO 2 basis. The reason for this is that a thin film having desired conductivity can be formed. For example, a SnO 2 solid solution of 2.3 mass% or more means that even at least tin content is 2.3 mass% in terms of SnO 2 , on the other hand, when it exceeds 45 mass%, for example, when a thin film is formed as a sputtering target, SnO Since 2 precipitates and inhibits electroconductivity, both are undesirable.

이어서, 본 발명 방법으로 원료를 소성하여 스퍼터링 타겟을 얻는 공정의 일례를 설명한다. Next, an example of the process of baking a raw material by the method of this invention and obtaining a sputtering target is demonstrated.

원료를 혼합한 혼합분말은, 예를 들면, 종래부터 공지의 각종 습식법 또는 건식법을 사용하여 성형하고, 소성한다. The mixed powder mixed with the raw materials is, for example, molded and fired using conventionally known various wet or dry methods.

건식법으로서는, 콜드 프레스법이나 핫 프레스법 등을 들 수 있다. 콜드 프레스법에서는, ITO 분말을 성형금형에 충전하여 성형체를 제작하고, 대기 분위기 하 또는 산소분위기 하에서 소성·소결시킨다. 핫 프레스법에서는, ITO 분말을 성형금형 내에서 직접 소결시킨다. As a dry method, a cold press method, a hot press method, etc. are mentioned. In the cold press method, ITO powder is filled into a molding die to form a molded product, and then fired and sintered under an atmospheric atmosphere or under an oxygen atmosphere. In the hot press method, ITO powder is directly sintered in a molding die.

습식법으로서는, 예를 들면, 여과성형법(일본 특개평11-286002호 공보 참조)을 사용하는 것이 바람직하다. 이 여과성형법은, 세라믹스 원료 슬러리로부터 수분을 감압 배수하여 성형체를 얻기 위한 비수용성 재료로 이루어지는 여과식 성형 금형으로서, 1개 이상의 수분배출 구멍을 갖는 성형용 하형과, 이 성형용 하형 위에 재치한 통수성을 갖는 필터와, 이 필터를 실링하기 위한 실링재를 통하여 상면측으로부터 끼워 지지하는 성형용 형틀로 이루어지고, 상기 성형용 하형, 성형용 형틀, 실링재, 및 필터를 각각 분해할 수 있도록 조립되어 있고, 이 필터면측으로부터만 슬러리 중의 수분을 감압 배수하는 여과식 성형금형을 사용하여, 혼합분말, 이온교환수와 유기 첨가제로 이루어지는 슬러리를 조제하고, 이 슬러리를 여과식 성형금형에 주입하고, 이 필터면측으로부터만 슬러리 중의 수분을 감압 배수하여 성형체를 제작하고, 얻어진 세라믹스 성형체를 건조탈지 후, 소성한다. As the wet method, for example, it is preferable to use a filtration molding method (see Japanese Patent Laid-Open No. 11-286002). This filtration molding method is a filtration type mold which consists of a non-aqueous material for depressurizing and draining water from a ceramic raw material slurry to obtain a molded body. The filtration molding method includes a lower mold for molding having one or more water discharge holes and a tube placed on the lower mold for molding. It consists of an aqueous filter and a molding die clamped from an upper surface side through a sealing material for sealing the filter, and is assembled to disassemble the lower mold, the molding die, the sealing member, and the filter, respectively. A slurry formed of a mixed powder, ion-exchanged water and an organic additive is prepared by using a filtration molding mold for depressurizing and draining water in the slurry from only the filter surface side, and the slurry is injected into the filtration molding mold, and the filter is The molded article was produced by depressurizing and draining moisture in the slurry only from the surface side. Joe is fired after degreasing.

각 방법에서, 소성온도는, 예를 들면, ITO 타겟의 경우에는 1300∼1600℃가 바람직하고, 더욱 바람직하게는, 1450∼1600℃이다. 그후에 소정 치수로 성형·가공을 위한 기계가공을 시행하고 타겟으로 한다. In each method, the firing temperature is preferably 1300 to 1600 ° C, more preferably 1450 to 1600 ° C in the case of an ITO target. Thereafter, machining is carried out for forming and processing to a predetermined dimension and is targeted.

일반적으로는, 성형 후, 두께 조정을 위해 표면을 연삭하고, 또한, 표면을 평활하게 하기 위해서, 몇단계인가의 연마를 시행하지만, 소정의 표면처리를 시행하여, 마이크로 크랙을 제거하도록 하는 것이 바람직하다. Generally, after shaping, the surface is ground to adjust the thickness and, in order to smooth the surface, some steps are polished. However, it is preferable to perform a predetermined surface treatment to remove microcracks. Do.

(실시예)(Example)

이하, 본 발명을 실시예에 기초하여 설명하지만, 이것에 한정되는 것은 아니다. Hereinafter, although this invention is demonstrated based on an Example, it is not limited to this.

(실시예 1)(Example 1)

습식합성된 산화인듐 분말을 1100℃에서 하소한 산화인듐 분말 90질량%와, 마찬가지로 습식합성된 산화주석을 1050℃에서 하소한 산화주석 분말 10질량%를 실 시예 1의 원료분말로 했다. 90 mass% of the indium oxide powder calcined the wet synthesized indium oxide powder at 1100 degreeC, and 10 mass% of the tin oxide powder calcined the wet synthesized tin oxide at 1050 degreeC similarly were used as the raw material powder of Example 1.

(실시예 2)(Example 2)

습식합성된 산화인듐 분말을 1150℃에서 하소한 산화인듐 분말 90질량%와, 마찬가지로 습식합성된 산화주석을 1050℃에서 하소한 산화주석 분말 10질량%를 실시예 2의 원료분말로 했다. 90 mass% of the indium oxide powder calcined the wet synthesized indium oxide powder at 1150 degreeC, and 10 mass% of the tin oxide powder calcined the wet synthesized tin oxide at 1050 degreeC similarly were used as the raw material powder of Example 2.

(실시예 3)(Example 3)

습식합성된 산화인듐 분말을 1200℃에서 하소한 산화인듐 분말 90질량%와, 마찬가지로 습식합성된 산화주석을 1050℃에서 하소한 산화주석 분말 10질량%를 실시예 3의 원료분말로 했다. 90 mass% of the indium oxide powder calcined the wet synthesized indium oxide powder at 1200 degreeC, and 10 mass% of the tin oxide powder calcined the wet synthesized tin oxide at 1050 degreeC similarly were used as the raw material powder of Example 3.

(실시예 4)(Example 4)

습식합성된 산화인듐 분말을 1250℃에서 하소한 산화인듐 분말 90질량%와, 마찬가지로 습식합성된 산화주석을 1050℃에서 하소한 산화주석 분말 10질량%를 실시예 4의 원료분말로 했다. 90 mass% of the indium oxide powder calcined the wet synthesized indium oxide powder at 1250 degreeC, and 10 mass% of the tin oxide powder calcined the wet synthesized tin oxide at 1050 degreeC was made into the raw material powder of Example 4.

(실시예 5)(Example 5)

습식합성된 산화인듐 분말을 1300℃에서 하소한 산화인듐 분말 90질량%와, 마찬가지로 습식합성된 산화주석을 1050℃에서 하소한 산화주석 분말 10질량%를 실시예 5의 원료분말로 했다. 90 mass% of the indium oxide powder calcined the wet synthesized indium oxide powder at 1300 degreeC, and 10 mass% of the tin oxide powder calcined the wet synthesized tin oxide at 1050 degreeC similarly were used as the raw material powder of Example 5.

(비교예 1)(Comparative Example 1)

습식합성된 산화인듐 분말을 1000℃에서 하소한 산화인듐 분말 90질량%와, 마찬가지로 습식합성된 산화주석을 1000℃에서 하소한 산화주석 분말 10질량%를 비 교예 1의 원료분말로 했다. 90 mass% of the indium oxide powder calcined the wet synthesized indium oxide powder at 1000 degreeC, and 10 mass% of the tin oxide powder calcined the wet synthesized tin oxide at 1000 degreeC similarly were used as the raw material powder of the comparative example 1.

(시험예 1)(Test Example 1)

탄소·유황 측정장치((주)호리바 제작소제의 EMIA-2200)를 사용하여, 각 실시예 및 비교예의 하소 후의 산화인듐 분말 중의 탄소함유량을 측정했다. 결과를 표 1에 나타낸다. 또, 하소 후의 산화인듐 분말의 BET법에서의 비표면적을 아울러 표 1에 나타낸다. The carbon content in the indium oxide powder after calcination of each Example and the comparative example was measured using the carbon-sulfur measuring apparatus (EMI-2200 by Horiba Corporation). The results are shown in Table 1. Table 1 also shows the specific surface area of the indium oxide powder after calcining in the BET method.

시료 번호Sample number 탄소함유량(ppm) 하소 후After calcination of carbon content (ppm) BET 비표면적(m2/g) 하소 후After calcination of BET specific surface area (m 2 / g) 실시예 1Example 1 5050 3.63.6 실시예 2Example 2 2020 2.52.5 실시예 3Example 3 2020 1.81.8 실시예 4Example 4 2020 1.31.3 실시예 5Example 5 1010 0.80.8 비교예 1Comparative Example 1 160160 5.75.7

(제조예 1)(Manufacture example 1)

실시예 1의 원료를 드라이 볼밀로 혼합·해쇄 하고, 이것을 웨트 볼밀에 의해 더욱 해쇄 하여 슬러리로 만들고, 이 슬러리를 여과식 성형금형에 주입하고, 필터면측으로부터만 슬러리 중의 수분을 감압 배수하여 성형체를 제작하고, 얻어진 세라믹스 성형체를 건조 탈지했다. 이 성형체의 탈지 후의 상대밀도는 이론밀도 7.15의 67.7%였다. The raw material of Example 1 was mixed and pulverized with a dry ball mill, it was further pulverized by a wet ball mill, it was made into a slurry, this slurry was poured into a filtration mold, and the water in a slurry was drained under reduced pressure only from the filter surface side, and a molded object was carried out. The produced and obtained ceramic molded object was dried and degreased. The relative density after degreasing | molding of this molded object was 67.7% of theoretical density 7.15.

이것을 1600℃에서 소성하여 소결체인 스퍼터링 타겟을 얻었다. 이 상대밀도는 99.9%였다. This was baked at 1600 degreeC and the sputtering target which is a sintered compact was obtained. This relative density was 99.9%.

(제조예 2)(Manufacture example 2)

실시예 4의 원료를 드라이 볼밀로 혼합·해쇄 하고, 이것을 웨트 볼밀에 의해 더 해쇄 하여 슬러리로 만들고, 이 슬러리를 여과식 성형금형에 주입하고, 필터면측으로부터만 슬러리중의 수분을 감압 배수하여 성형체를 제작하고, 얻어진 세라믹스 성형체를 건조 탈지했다. 이 성형체의 탈지 후의 상대밀도는 이론밀도 7.15의 68.0%였다. The raw material of Example 4 was mixed and pulverized with a dry ball mill, it was further pulverized by a wet ball mill, it was made into a slurry, this slurry was poured into a filtration type mold, the water in a slurry was drained under reduced pressure only from the filter surface side, and a molded object was carried out. Was produced and the obtained ceramic molding was dried and degreased. The relative density after degreasing | molding of this molded object was 68.0% of theoretical density 7.15.

이것을 1600℃에서 소성하여, 소결체인 스퍼터링 타겟을 얻었다. 이 상대밀도는 99.0%였다. This was baked at 1600 degreeC and the sputtering target which is a sintered compact was obtained. This relative density was 99.0%.

(비교 제조예 1)Comparative Example 1

비교예 1의 원료를 드라이 볼밀로 혼합·해쇄 하고, 이것을 웨트 볼밀에 의해 더 해쇄 하여 슬러리로 만들고, 이 슬러리를 여과식 성형금형에 주입하고, 필터면측으로부터만 슬러리 중의 수분을 감압 배수하여 성형체를 제작하고, 얻어진 세라믹스 성형체를 건조 탈지했다. 이 성형체의 탈지 후의 상대밀도는 이론밀도 7.15의 60.0%였다. The raw material of the comparative example 1 was mixed and disintegrated with the dry ball mill, it was further disintegrated by the wet ball mill, it was made into a slurry, this slurry was inject | poured into a filtration molding die, the water in a slurry was drained under reduced pressure only from the filter surface side, and a molded object was carried out. The produced and obtained ceramic molded object was dried and degreased. The relative density after degreasing | molding of this molded object was 60.0% of theoretical density 7.15.

이것을 1600℃에서 소성하여 소결체인 스퍼터링 타겟을 얻었다. 이 상대밀도는 99.0%였다. This was baked at 1600 degreeC and the sputtering target which is a sintered compact was obtained. This relative density was 99.0%.

(시험예 2)(Test Example 2)

제조예 1, 2 및 비교제조예 1의 스퍼터링 타겟을 사용하여 아킹 특성을 측정했다. 즉, 이하와 같은 조건으로 DC 마그네트론 스퍼터에 의해 연속 스퍼터링 하고, 50 Counts 라이프를 측정했다. 여기에서, 50 Counts 라이프는, 각 타겟 사용 개시시부터 투입 전력량 10Wh/cm2까지 초기 아크 회수를 제외하고, 누적 아킹 회수가 50회가 되었을 때의 투입 전력량(Wh/cm2)을 말한다. 또한, 아킹의 검출은 랜드마크 테크놀로지사제의 아크검출장치(MAM Genesis)에 의해 행했다. 결과는 하기 표 2에 나타낸다. Arcing characteristics were measured using the sputtering targets of Production Examples 1 and 2 and Comparative Production Example 1. That is, it sputter | spattered continuously with the DC magnetron sputter under the following conditions, and measured 50 Counts life. Here, the 50 Counts life refers to the amount of input power (Wh / cm 2 ) when the accumulated arcing number reaches 50 times, except for the initial arc number up to the input power amount 10 Wh / cm 2 from the start of each target use. Incidentally, the arcing was detected by an arc detection device (MAM Genesis) manufactured by Landmark Technology. The results are shown in Table 2 below.

이 결과, 본 발명 방법에 의해 소정 온도에서 하소한 산화인듐 분말을 사용한 스퍼터링 타겟은, 하소 온도가 낮은 산화인듐 분말을 사용한 비교제조예와 비교하여 아킹 특성이 우수하고, 타겟 라이프가 긴 것을 알 수 있었다. As a result, it can be seen that the sputtering target using the indium oxide powder calcined at a predetermined temperature by the method of the present invention has superior arcing characteristics and a long target life as compared with the comparative production example using the indium oxide powder having a low calcining temperature. there was.

(스퍼터링 조건)(Sputtering condition)

타겟 치수 : 직경 6 inch, 두께 6mmTarget dimension: diameter 6 inch, thickness 6mm

스퍼터 방식 : DC 마그네트론 스퍼터 Sputter method: DC magnetron sputter

배기장치 : 로터리 펌프+클라이오 펌프 Exhaust System: Rotary Pump + Clio Pump

도달 진공도 : 3.0×10-7[Torr]Reach vacuum level: 3.0 × 10 -7 [Torr]

Ar 압력 : 3.0×10-3[Torr]Ar pressure: 3.0 × 10 -3 [Torr]

산소분압 : 3.0×10-5[Torr]Oxygen partial pressure: 3.0 × 10 -5 [Torr]

스퍼터 전력 : 300W(전력밀도 1.6W/cm2)Sputter Power: 300W (Power Density 1.6W / cm 2 )

50 Counts 라이프 (Watt· 시간/cm2)50 Counts Life (Watt · hour / cm 2 ) 제조예 1Preparation Example 1 7575 제조예 2Preparation Example 2 8484 비교제조예 1Comparative Production Example 1 2929

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에서는, 원료분말을 소정의 온도에서 하소하고, 또한 그 후 소성온도를 소정의 온도범위에서 행함으로써, 타겟 라이프가 긴 스퍼터링 타겟을 제조할 수 있다. As described above, in the present invention, a sputtering target having a long target life can be produced by calcining the raw material powder at a predetermined temperature and then firing temperature in a predetermined temperature range.

Claims (9)

산화인듐 분말 및 산화주석 분말을 포함하는 원료를 혼합하고 소성하여 스퍼터링 타겟을 제조할 때, 산화인듐 분말을 1100℃∼1300℃에서 하소하여 얻어지는 탄소 함유량이 50ppm 이하인 산화인듐을 분말원료의 혼합분말로서 이용하고, 이 혼합분말을 상기 하소한 온도로부터 150℃ 이상 높은 온도에서 소성하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 타겟의 제조방법. When a raw material comprising an indium oxide powder and a tin oxide powder is mixed and calcined to produce a sputtering target, indium oxide having a carbon content of 50 ppm or less obtained by calcining the indium oxide powder at 1100 ° C to 1300 ° C is used as a mixed powder of the powder raw material. And a mixed powder is fired at a temperature higher than 150 ° C. from the calcined temperature. 삭제delete 제 1 항에 있어서, 상기 산화인듐의 하소 후의 BET 비표면적이 0.8∼4m2/g인 것을 특징으로 하는 스퍼터링 타겟의 제조방법. The method for producing a sputtering target according to claim 1, wherein the BET specific surface area after calcination of said indium oxide is 0.8 to 4 m 2 / g. 제 1 항에 있어서, 상기 하소중, 및 하소한 후 혼합분말을 소성하기 까지의 동안, 원료와 탄산가스의 접촉을 피하도록 처리하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 타겟의 제조방법. The method for producing a sputtering target according to claim 1, wherein the treatment is performed to avoid contact between the raw material and carbon dioxide gas during the calcination and during the calcination until the mixed powder is calcined. 제 3 항에 있어서, 상기 하소중, 및 하소한 후 혼합분말을 소성하기 까지의 동안, 원료와 탄산가스의 접촉을 피하도록 처리하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 타겟의 제조방법. 4. The method for producing a sputtering target according to claim 3, wherein the treatment is performed to avoid contact between the raw material and the carbon dioxide gas during the calcination and during the calcination until the mixed powder is calcined. 제 1 항에 있어서, 소성 후의 밀도가 99% 이상인 것을 특징으로 하는 스퍼터링 타겟의 제조방법.The method for producing a sputtering target according to claim 1, wherein the density after firing is 99% or more. 제 3 항 내지 제 5 항 중의 어느 한 항에 있어서, 소성 후의 밀도가 99% 이상인 것을 특징으로 하는 스퍼터링 타겟의 제조방법. The method for producing a sputtering target according to any one of claims 3 to 5, wherein the density after firing is 99% or more. 제 1 항, 제 3 항, 제 4 항, 제 5 항 또는 제 6 항 중의 어느 한 항에 있어서, 주석 함유량이 SnO2 환산으로 2.3∼45질량%인 것을 특징으로 하는 스퍼터링 타겟의 제조방법. The method for producing a sputtering target according to any one of claims 1, 3, 4, 5 or 6, wherein the tin content is 2.3 to 45 mass% in terms of SnO 2 . 제 7 항에 있어서, 주석 함유량이 SnO2 환산으로 2.3∼45질량%인 것을 특징으로 하는 스퍼터링 타겟의 제조방법.The method for producing a sputtering target according to claim 7, wherein the tin content is 2.3 to 45 mass% in terms of SnO 2 .
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