KR100810687B1 - 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템 및그 방법 - Google Patents

피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템 및그 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템 및 그 방법을 제공하기 위한 것으로, 대상기술분야 별로 인용정보를 추출하는 인용정보 추출부와; 상기 인용정보 추출부에서 추출된 인용정보의 피인용수를 체크하는 피인용수 체크부와; 상기 피인용수 체크부에서 체크된 피인용수를 이용하여 인용활용지수를 계산하는 인용활용지수 계산부와; 상기 인용활용지수 계산부에서 계산된 인용활용지수의 적용범위를 선정하는 적용범위 선정부와; 상기 적용범위 선정부에서 선정된 각 인용활용지수 적용범위별로 모형을 매핑시키는 모형 매핑부;;를 포함하여 구성함으로서, 피인용 정보를 이용하여 기술활용주기의 모형을 가시화함으로써 새로운 기술의 발전 모형을 예측/판단할 때 적용할 수 있게 되는 것이다.
피인용 정보, 기술활용주기, 모형 매핑, 특허정보, 한계지수

Description

피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템 및 그 방법{System and method for model mapping of technology using period by quoted information}
도 1은 본 발명의 일 실시예에 의한 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템의 블록구성도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 의한 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 방법을 보인 흐름도이다.
도 3은 본 발명에 의해 각 인용활용지수의 적용범위별 모형 매핑을 가시화한 예를 보인 도면이다.
도 4는 본 발명에 의해 기술분야를 기준으로 매핑을 수행한 예를 보인 도면이다.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >
10 : 인용정보 추출부
20 : 피인용수 체크부
30 : 인용활용지수 계산부
40 : 적용범위 선정부
50 : 모형 매핑부
본 발명은 기술활용주기의 모형 매핑에 관한 것으로, 특히 피인용 정보를 이용하여 기술활용주기의 모형을 가시화함으로써 새로운 기술의 발전 모형을 예측/판단할 때 적용하기에 적당하도록 한 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템 및 그 방법에 관한 것이다.
일반적으로 기술이란 무엇인가를 만들어내거나 또는 성취하는 방법을 말한다. 현대의 과학기술 사회에 접어들면서 이러한 기술의 발전속도는 더욱더 가속화되어가고 있다.
그리고 새로운 기술이 계속적으로 개발되고는 있는데, 이러한 기술이 실용화되어 경제적 가치를 갖기 까지는 일정한 주기를 갖고 있다.
그러나 종래에는 이러한 새로운 기술들의 활용 주기에 대한 분석과 모형을 매핑시키지는 못하여 기술개발의 집중과 선택에 있어서 많은 문제점들이 있었다. 즉, 과학적인 기술활용주기의 모형매핑에 의하지 않고, 특정분야의 연구와 개발에 투자할 때 해당 분야의 전문가의 조언을 듣는 등에 그쳐서, 전체 기술분야의 기술활용주기라는 관점에서 어떤 분야와 어떤 특정 기술을 집중적으로 개발시킬 것인가 에 대한 과학적이고 체계적인 접근이 부족하였다.
이에 본 발명은 상기와 같은 종래의 제반 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로, 본 발명의 목적은 피인용 정보를 이용하여 기술활용주기의 모형을 가시화함으로써 새로운 기술의 발전 모형을 예측/판단할 때 적용할 수 있는 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템 및 그 방법을 제공하는데 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 일실시예에 의한 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템은, 대상기술분야 별로 인용정보를 추출하는 인용정보 추출부와; 상기 인용정보 추출부에서 추출된 인용정보의 피인용수를 체크하는 피인용수 체크부와; 상기 피인용수 체크부에서 체크된 피인용수를 이용하여 인용활용지수를 계산하는 인용활용지수 계산부와; 상기 인용활용지수 계산부에서 계산된 인용활용지수의 적용범위를 선정하는 적용범위 선정부와; 상기 적용범위 선정부에서 선정된 각 인용활용지수 적용범위별로 모형을 매핑시키는 모형 매핑부;를 포함하여 이루어짐을 그 기술적 구성상의 특징으로 한다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 일실시예에 의한 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 방법은, 대상기술분야 별로 인용정보를 추출하는 제 1 단계와; 상기 제 1 단계에서 추출된 인용정보의 피인용수를 체크하는 제 2 단계와; 상기 제 2 단계에서 체크된 피인용수를 이용하여 인용활용지수를 계산하는 제 3 단계와; 상기 제 3 단계에서 계산된 인용활용지수의 적용범위를 선정 하는 제 4 단계와; 상기 제 4 단계에서 선정된 각 인용활용지수의 적용범위별로 모형을 매핑시키는 제 5 단계;를 포함하여 수행함을 그 기술적 구성상의 특징으로 한다.
이하, 상기와 같은 본 발명, 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템 및 그 방법의 기술적 사상에 따른 일실시예를 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 의한 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템의 블록구성도이다.
이에 도시된 바와 같이, 대상기술분야 별로 인용정보를 추출하는 인용정보 추출부(10)와; 상기 인용정보 추출부(10)에서 추출된 인용정보의 피인용수를 체크하는 피인용수 체크부(20)와; 상기 피인용수 체크부(20)에서 체크된 피인용수를 이용하여 인용활용지수를 계산하는 인용활용지수 계산부(30)와; 상기 인용활용지수 계산부(30)에서 계산된 인용활용지수의 적용범위를 선정하는 적용범위 선정부(40)와; 상기 적용범위 선정부(40)에서 선정된 각 인용활용지수 적용범위별로 모형을 매핑시키는 모형 매핑부(50);를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.
상기 인용정보 추출부(10)는, 국제특허분류(International Patent Classification, IPC), 미국특허분류(US Patent Classification, UPC), 일본특허분류(FI(File Index), F-Term(File Forming Term)), 유럽특허분류(EP Classification, ECLA), 로카르노(Locarno)분류 중에서 하나 이상을 이용하여 대상기술분야를 선정하는 것을 특징으로 한다.
상기 피인용수 체크부(20)는, 기준연도를 적용하여 추출된 인용정보의 피인용수를 체크하는 것을 특징으로 한다.
상기 인용활용지수 계산부(30)는, '개별 특허의 피인용수 / 분야별 평균 피인용수' 에 의해 계산한 피인용 한계지수를 인용활용지수로 설정하는 것을 특징으로 한다.
상기 인용활용지수 계산부(30)는, '개별 논문의 피인용수 / 분야별 평균 피인용수'에 의해 계산한 피인용 한계지수를 인용활용지수로 설정하는 것을 특징으로 한다.
상기 인용활용지수 계산부(30)는, 1인당 피인용 회수(Number of citations per person), 상대인용율(Relative citation rate), 상대세부인용율(Relative subfield citedness), 상대공개인용율(Relative publication strategy) 중에서 하나 이상을 이용하여 인용활용지수를 계산하는 것을 특징으로 한다.
상기 모형 매핑부(50)는, 성숙형, 발전형, 미성숙형으로 구분하여 각 인용활용지수 적용범위별 모형 매핑을 수행하는 것을 특징으로 한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 의한 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 방법을 보인 흐름도이다.
이에 도시된 바와 같이, 대상기술분야 별로 인용정보를 추출하는 제 1 단계(ST1)와; 상기 제 1 단계에서 추출된 인용정보의 피인용수를 체크하는 제 2 단 계(ST2)와; 상기 제 2 단계에서 체크된 피인용수를 이용하여 인용활용지수를 계산하는 제 3 단계(ST3)와; 상기 제 3 단계에서 계산된 인용활용지수의 적용범위를 선정하는 제 4 단계(ST4)와; 상기 제 4 단계에서 선정된 각 인용활용지수의 적용범위별로 모형을 매핑시키는 제 5 단계(ST5);를 포함하여 수행하는 것을 특징으로 한다.
상기 제 1 단계는, 국제특허분류(IPC), 미국특허분류(UPC), 일본특허분류(FI, F-Term), 유럽특허분류(ECLA), 로카르노(Locarno)분류 중에서 하나 이상을 이용하여 대상기술분야를 선정하는 것을 특징으로 한다.
상기 제 2 단계는, 기준연도를 적용하여 추출된 인용정보의 피인용수를 체크하는 것을 특징으로 한다.
상기 제 3 단계는, '개별 특허의 피인용수 / 분야별 평균 피인용수' 에 의해 계산한 피인용 한계지수를 인용활용지수로 설정하는 것을 특징으로 한다.
상기 제 3 단계는, '개별 논문의 피인용수 / 분야별 평균 피인용수'에 의해 계산한 피인용 한계지수를 인용활용지수로 설정하는 것을 특징으로 한다.
상기 제 3 단계는, 1인당 피인용 회수(Number of citations per person), 상대인용율(Relative citation rate), 상대세부인용율(Relative subfield citedness), 상대공개인용율(Relative publication strategy) 중에서 하나 이상을 이용하여 인용활용지수를 계산하는 것을 특징으로 한다.
상기 제 5 단계는, 성숙형, 발전형, 미성숙형으로 구분하여 각 인용활용지수 적용범위별 모형 매핑을 수행하는 것을 특징으로 한다.
이와 같이 구성된 본 발명에 의한 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템 및 그 방법의 바람직한 실시예를 첨부한 도면에 의거하여 상세히 설명하면 다음과 같다. 하기에서 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 그리고 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서, 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 판례 등에 따라 달라질 수 있으며, 이에 따라 각 용어의 의미는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 해석되어야 할 것이다.
새로운 기술이 계속적으로 개발되고 있지만, 이러한 기술이 실용화되어 경제적 가치를 갖기까지는 일정한 주기를 갖고 있다. 그래서 본 발명은 이러한 주기에 대해 특허/논문의 피인용정보의 계량분석을 이용하여 그 모형을 개발하고자 한 것이다. 그래서 본 발명은 이렇게 모형을 가시화함으로써 새로운 기술의 발전 모형을 예측/판단할 때 적용할 수 있도록 한다.
모형 개발 방법은 다음과 같다.
1) 대상기술분야 별로 인용정보를 추출한다. 이러한 인용정보에는 특허정보 또는 논문정보 등이 포함된다. 그리고 기술분야는 IPC, UPC, FI, F-Term, ECLA 등의 기술분야에 대한 분류체계를 적용하여 구분할 수 있다. 이외에도 산업자원부의 산업기술분류체계, 과학기술부의 산업기술분류체계 등을 이용할 수도 있다. 산업자원부 분류인 산업기술분류체계에는 대분류로 기계소재, 전기전자, 정보통신, 섬유화학 등이 있고, 각각의 대분류에 대해 중분류와 소분류가 있다. 또한 과학기술부 산업기술분류체계에는 대분류로 전기전자, 정보, 통신 등이 있고, 각각의 대분류에 대해 중분류와 소분류가 있다.
2) 추출된 인용정보의 피인용수를 체크한다. 이때 기준연도에 의거하여 피인용수를 체크할 수 있다. 예를 들어, 기준연도는 1, 3, 5, 10년, 10년 이상 등으로 구분할 수 있다.
3) 인용활용지수를 계산한다. 이러한 인용활용지수는 피인용 한계지수에 의해 계산할 수 있다. 피인용 한계지수는 '개별 특허의 피인용수/분야별 평균 피인용수' 에 의해 구할 수 있다. 또는 피인용 한계지수를 '개별 논문의 피인용수 / 분야별 평균 피인용수'에 의해 구할 수도 있다. 또한 인용활용지수는 이러한 피인용 한계지수 이외에도 1인당 피인용 회수(Number of citations per person), 상대인용율(Relative citation rate), 상대세부인용율(Relative subfield citedness), 상대공개인용율(Relative publication strategy) 등을 이용하여 구할 수도 있다.
여기서 1인당 피인용 회수(Number of citations per person)는 특정 학회지 또는 논문지 또는 저널 등에 게재되는 논문이 다른 논문에 의해 게제되는 피인용 회수를 개인별로 분석한 인용정보이다. 또한 상대인용율(Relative citation rate)은 '해당 그룹 소속 교수들의 평균 피인용율 / 해당 그룹이 속한 저널의 평균 피인용율'로 정의할 수 있다. 또한 상대세부인용율(Relative subfield citedness)은 '해당 그룹 소속 교수들의 평균 피인용율 / 해당 그룹이 속한 세부분야(subfiuelds)의 평균 피인용율'에 의해 구할 수 있다. 또한 상대공개인용율(Relative publication strategy)은 '해당 그룹에서 게재한 저널들의 평균 피인용율 / 해당 저널이 속한 세부 분야(subfields)의 평균 피인용율'에 의해 구할 수 있다.
4) 인용활용지수의 적용범위를 선정한다. 즉, 인용활용지수가 피인용 한계지수일 경우, 계산된 피인용 한계지수를 각각 1.0, 1.2, 1.5, 2, 2이상 등으로 구분한 적용범위를 선정한다.
5) 각 인용활용지수(예를 들면, 피인용 한계지수)의 적용범위별로 모형을 매핑하여 가시화한다.
도 3은 본 발명에 의해 각 인용활용지수의 적용범위별 모형 매핑을 가시화한 예를 보인 도면이다.
그래서 도 3에서와 같이 성숙형, 발전형, 미성숙형으로 구분하여 각 인용활용지수의 적용범위별 모형 매핑을 수행하게 된다. 성숙형은 연도가 진행되어도 인용활용지수인 피인용 한계지수가 일정하게 수렴된 형태를 보이는 기술분야이고, 발전형은 연도가 진행될수록 피인용 한계지수가 발전적으로 증가하는 형태를 보이는 기술분야이며, 미성숙형은 연도가 진행될 때 피인용 한계지수의 증가정도가 미미한 형태를 보이는 기술분야이다.
또한 모형을 가시화하는 것은 도 3에서와 같이 연도를 기준으로 한 매핑방법을 사용할 수도 있고, 도 4에서와 같이 기술분야를 기준으로 한 매핑방법을 사용할 수도 있다.
도 4는 본 발명에 의해 기술분야를 기준으로 매핑을 수행한 예를 보인 도면이다.
이는 1Step : IT(Information Technology, 정보 통신 기술), 2Step : BT(Biology Technology, 생명 공학 기술), 3Step : NT(Nano Technology, 초정밀 원자 기술)로 구분하여 모형을 가시화한 예를 보이고 있다. 이렇게 기술분야를 기준으로 구분할 때 ET(Environment Technology, 환경 공학 기술), ST(Space Technology, 우주 항공 기술), CT(Culture Technology, 문화관광 컨텐츠 기술) 등의 기술분류를 추가하여 매핑을 수행할 수도 있다. 또한 매핑된 기술분야에 대해 성숙형, 발전형, 미성숙형 등으로의 가시화가 가능하다.
그래서 맵핑된 모형의 판단기준을 설명하면 다음과 같다.
먼저 기준연도 매핑단위를 설정한다. 이러한 매핑단위는 3, 6, 10등분 등으로 구분할 수 있다.
또한 매핑단위별 노드(node)를 설정한다.
그리고 성숙형, 발전형, 미성숙형에 대해 다음과 같이 판단기준을 설정한다.
- 성숙형 : N1 = N2 = N3 = N/3 (±10%)
- 발전형 : N1 < N2 < N3
- 미성숙형 : N1 ≒ 0 (N2 , N3 )≤ N/2(±10%)
여기서 N은 총 피인용건수이고, N1, N2, N3은 각각 노드 1, 2, 3의 피인용건수를 의미한다.
그래서 기술활용주기의 모형 가시화에 대해 다음의 표 1에서와 같은 실례를 들어 설명하면 다음과 같다.
구분 값
기준연도 3년
A 특허의 피인용총건수 60건
해당 분야 평균 피인용건수 20건
인용활용지수 3(= 60건/20건)
매핑단위 3
그래서 기준연도는 3년으로 설정하면 노드는 세 개가 도출된다. 그리고 특정 특허인 A특허의 피인용총건수를 조사한 결과 60건이라고 하자. 또한 A특허가 속한 기술분야의 평균 피인용건수는 20건이라고 하자. 그러면 인용활용지수인 한계지수(= 'A특허의 피인용 총건수 / 해당분야 평균 피인용건수')는 3(= 60건/20건)이 된다. 그리고 매핑단위는 3으로 설정된다.
또한 노드 1, 2, 3의 피인용건수를 조사하여 성숙형, 발전형, 미성숙형 여부를 판단하게 된다.
만약 N1 = 18, N2 = 20, N3 = 22인 경우라면, A특허는 성숙형에 속한 기술분야라고 판단할 수 있다.
또한 N1 = 10, N2 = 20, N3 = 30인 경우라면, A특허는 발전형에 속한 기술분야라고 판단할 수 있다.
또한 N1 = 1, N2 = 10, N3 = 10인 경우라면, A특허는 미성숙형에 속한 기술분야라고 판단할 수 있다.
이처럼 본 발명은 피인용 정보를 이용하여 기술활용주기의 모형을 가시화함으로써 새로운 기술의 발전 모형을 예측/판단할 때 적용하게 되는 것이다.
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명에 의한 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템 및 그 방법은 피인용 정보를 이용하여 기술활용주기의 모형을 가시화함으로써 새로운 기술의 발전 모형을 예측/판단할 때 적용할 수 있는 효과가 있게 된다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 한정하여 설명하였으나, 본 발명은 이에 한정되지 않고 다양한 변화와 변경 및 균등물을 사용할 수 있다. 따라서 본 발명은 상기 실시예를 적절히 변형하여 응용할 수 있고, 이러한 응용도 하기 특허청구범위에 기재된 기술적 사상을 바탕으로 하는 한 본 발명의 권리범위에 속하게 됨은 당연하다 할 것이다.

Claims (14)

  1. 대상기술분야 별로 인용정보를 추출하는 인용정보 추출부와;
    상기 인용정보 추출부에서 추출된 인용정보의 피인용수를 체크하는 피인용수 체크부와;
    상기 피인용수 체크부에서 체크된 피인용수를 이용하여 인용활용지수를 계산하는 인용활용지수 계산부와;
    상기 인용활용지수 계산부에서 계산된 인용활용지수의 적용범위를 선정하는 적용범위 선정부와;
    상기 적용범위 선정부에서 선정된 각 인용활용지수 적용범위별로 모형을 매핑시키는 모형 매핑부;
    를 포함하여 구성되는 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 인용정보 추출부는,
    국제특허분류, 미국특허분류, 일본특허분류, 유럽특허분류, 로카르노분류 중에서 하나 이상을 이용하여 대상기술분야를 선정하는 것을 특징으로 하는 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템.
  3. 청구항 1에 있어서,
    상기 피인용수 체크부는,
    기준연도를 적용하여 추출된 인용정보의 피인용수를 체크하는 것을 특징으로 하는 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템.
  4. 청구항 1에 있어서,
    상기 인용활용지수 계산부는,
    '개별 특허의 피인용수 / 분야별 평균 피인용수' 에 의해 계산한 피인용 한계지수를 인용활용지수로 설정하는 것을 특징으로 하는 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템.
  5. 청구항 1에 있어서,
    상기 인용활용지수 계산부는,
    '개별 논문의 피인용수 / 분야별 평균 피인용수'에 의해 계산한 피인용 한계지수를 인용활용지수로 설정하는 것을 특징으로 하는 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템.
  6. 청구항 1에 있어서,
    상기 인용활용지수 계산부는,
    1인당 피인용 회수, 상대인용율, 상대세부인용율, 상대공개인용율 중에서 하나 이상을 이용하여 인용활용지수를 계산하는 것을 특징으로 하는 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템.
  7. 청구항 1 내지 청구항 6 중 어느 하나의 항에 있어서,
    상기 모형 매핑부는,
    성숙형, 발전형, 미성숙형으로 구분하여 각 인용활용지수 적용범위별 모형 매핑을 수행하는 것을 특징으로 하는 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템.
  8. 대상기술분야 별로 인용정보를 추출하는 제 1 단계와;
    상기 제 1 단계에서 추출된 인용정보의 피인용수를 체크하는 제 2 단계와;
    상기 제 2 단계에서 체크된 피인용수를 이용하여 인용활용지수를 계산하는 제 3 단계와;
    상기 제 3 단계에서 계산된 인용활용지수의 적용범위를 선정하는 제 4 단계와;
    상기 제 4 단계에서 선정된 각 인용활용지수의 적용범위별로 모형을 매핑시키는 제 5 단계;
    를 포함하여 구성되는 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 방법.
  9. 청구항 8에 있어서,
    상기 제 1 단계는,
    국제특허분류, 미국특허분류, 일본특허분류, 유럽특허분류, 로카르노분류 중에서 하나 이상을 이용하여 대상기술분야를 선정하는 것을 특징으로 하는 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 방법.
  10. 청구항 8에 있어서,
    상기 제 2 단계는,
    기준연도를 적용하여 추출된 인용정보의 피인용수를 체크하는 것을 특징으로 하는 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 방법.
  11. 청구항 8에 있어서,
    상기 제 3 단계는,
    '개별 특허의 피인용수 / 분야별 평균 피인용수' 에 의해 계산한 피인용 한계지수를 인용활용지수로 설정하는 것을 특징으로 하는 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 방법.
  12. 청구항 8에 있어서,
    상기 제 3 단계는,
    '개별 논문의 피인용수 / 분야별 평균 피인용수'에 의해 계산한 피인용 한계지수를 인용활용지수로 설정하는 것을 특징으로 하는 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 방법.
  13. 청구항 8에 있어서,
    상기 제 3 단계는,
    1인당 피인용 회수, 상대인용율, 상대세부인용율, 상대공개인용율 중에서 하나 이상을 이용하여 인용활용지수를 계산하는 것을 특징으로 하는 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 방법.
  14. 청구항 8 내지 청구항 13 중 어느 하나의 항에 있어서,
    상기 제 5 단계는,
    성숙형, 발전형, 미성숙형으로 구분하여 각 인용활용지수 적용범위별 모형 매핑을 수행하는 것을 특징으로 하는 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 방법.
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