KR100810232B1 - Memory device for use in a communication terminal and memory control method therein - Google Patents

Memory device for use in a communication terminal and memory control method therein Download PDF

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Abstract

이동 통신단말기에 사용하기 위한 메모리 장치 및 그 메모리 장치에서의 메모리 제어 방법이 개시되어 있다. 본 발명에 따라 이동 통신단말기에 사용하기 위한 메모리 장치는 상기 단말기의 초기 설정을 위한 기본 코드 데이터와, 상기 단말기의 동작을 위한 구동 소프트웨어 데이터를 저장하고 있으며, 상기 단말기에서 서비스를 위해 송수신되는 서비스 데이터를 저장하기 위한 낸드형 플래쉬 메모리를 포함한다. 제1 메모리는 랜덤 엑세스가 가능하며 상기 단말기의 초기 설정시 상기 낸드형 플래쉬 메모리로부터 전송될 상기 기본 코드 데이터를 저장하기 위한 것이다. 제2 메모리는 랜덤 엑세스가 가능하며 상기 단말기의 초기 설정 완료시 상기 낸드형 플래쉬 메모리로부터 복사될 상기 구동 소프트웨어 데이터를 저장하기 위한 것이다. 전송제어 블록은 상기 단말기의 파워온시 상기 낸드형 플래쉬 메모리에 저장된 상기 기본 코드 데이터를 상기 제1 메모리로 자동 전송시킨다. 제어부는 상기 단말기의 초기 설정시 상기 제1 메모리로부터 상기 기본 코드 데이터를 리드하여 상기 단말기를 초기화하고, 상기 단말기의 초기 설정이 완료된 이후에 상기 낸드형 플래쉬 메모리로부터 상기 구동 소프트웨어 데이터를 복사하여 상기 제2 메모리에 저장하고 상기 제2 메모리에 저장된 상기 구동 소프트웨어 데이터를 랜덤 엑세스하여 상기 단말기를 구동하고, 상기 단말기의 구동 이후에 상기 단말기에 송수신되는 서비스 데이터를 상기 낸드형 플래쉬 메모리에 리드 및 라이트한다.

Figure R1020020012119

메모리 장치, NAND FLASH MEMORY, AUTO-DUMP BLOCK, MODEM CHIP

A memory device for use in a mobile communication terminal and a memory control method in the memory device are disclosed. A memory device for use in a mobile communication terminal according to the present invention stores basic code data for initial setting of the terminal and driving software data for operation of the terminal, and service data transmitted and received for service in the terminal. It includes a NAND flash memory for storing the. The first memory is capable of random access and stores the basic code data to be transmitted from the NAND flash memory upon initial setting of the terminal. The second memory is capable of random access and stores the driving software data to be copied from the NAND flash memory upon completion of initial setting of the terminal. The transmission control block automatically transmits the basic code data stored in the NAND flash memory to the first memory when the terminal is powered on. The control unit initializes the terminal by reading the basic code data from the first memory during initial setting of the terminal, and copies the driving software data from the NAND flash memory after the initial setting of the terminal is completed. And driving the terminal by randomly accessing the driving software data stored in the second memory and in the second memory, and reading and writing service data transmitted and received to and from the terminal after the terminal is driven.

Figure R1020020012119

Memory Devices, NAND FLASH MEMORY, AUTO-DUMP BLOCK, MODEM CHIP

Description

통신단말기에 사용하기 위한 메모리 장치 및 그 장치에서의 메모리 제어 방법 {MEMORY DEVICE FOR USE IN A COMMUNICATION TERMINAL AND MEMORY CONTROL METHOD THEREIN} Memory device for use in communication terminal and memory control method in the device {MEMORY DEVICE FOR USE IN A COMMUNICATION TERMINAL AND MEMORY CONTROL METHOD THEREIN}             

도 1은 종래 기술에 따른 메모리 장치의 구성을 보여주는 도면. 1 is a view showing the configuration of a memory device according to the prior art.

도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 장치의 구성을 보여주는 도면. 2 is a block diagram illustrating a memory device according to an embodiment of the present invention.

도 3은 도 2에 도시된 메모리 장치의 구체적인 구성을 보여주는 도면. FIG. 3 is a diagram illustrating a detailed configuration of the memory device shown in FIG. 2.

도 4는 도 3에 도시된 MCPAD 300의 구체적인 구성을 보여주는 도면. 4 is a view showing a specific configuration of the MCPAD 300 shown in FIG.

도 5는 도 3에 도시된 낸드형 플래쉬 메모리 블록 310의 구체적인 구성을 보여주는 도면. FIG. 5 is a diagram illustrating a detailed configuration of the NAND flash memory block 310 shown in FIG. 3.

도 6은 도 3에 도시된 모뎀 칩 100과 MCPAD 300 사이에 연결된 데이터 버스의 상세 구성을 보여주는 도면. FIG. 6 is a diagram illustrating a detailed configuration of a data bus connected between the modem chip 100 and the MCPAD 300 shown in FIG. 3.

도 7은 도 3에 도시된 모뎀 칩 100과 MCPAC 300 사이에 연결된 리드/라이트 인에이블 신호의 상세 구성을 보여주는 도면. FIG. 7 illustrates a detailed configuration of a read / write enable signal connected between the modem chip 100 and the MCPAC 300 shown in FIG. 3.

도 8a 내지 8c는 도 3에 도시된 메모리 장치에서의 메모리 제어 동작에 대한 처리 흐름을 보여주는 도면.
8A to 8C show processing flows for a memory control operation in the memory device shown in FIG.

본 발명은 메모리 장치에 관한 것으로, 특히 이동 통신단말기에 사용하기 위한 메모리 장치 및 그 메모리 장치에서의 메모리 제어 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a memory device, and more particularly, to a memory device for use in a mobile communication terminal and a memory control method in the memory device.

대표적인 통신단말기로 디지털 셀룰라(Digital Cellular) 방식, 개인휴대통신(PCS: Personal Communication Services) 방식 등의 휴대 전화기와 같은 이동 통신단말기가 있다. 상기 이동 통신단말기는 전형적으로 음성 통화 서비스만을 제공하는 형태이었다. 그러나, 상기 이동 통신단말기는 음성 통화 서비스 뿐만 아니라 데이터 서비스도 제공하는 형태로 발전하고 있다. 최근에 대두되고 있는 CDMA-2000(Code Division Multiple Access), UMTS(Universal Mobile Telecommunication System)와 같은 IMT-2000(International Mobile Telecommunications 2000) 방식의 이동 통신시스템은 이동 통신가입자들에게 음성 통화 서비스의 제공 뿐만 아니라 데이터 서비스의 제공도 가능하게 한다. As a representative communication terminal, there is a mobile communication terminal such as a cellular phone such as a digital cellular system or a personal communication services (PCS) system. The mobile communication terminal was typically in the form of providing only a voice call service. However, the mobile communication terminal has been developed to provide not only a voice call service but also a data service. Recently, the international mobile telecommunications 2000 (IMT-2000) -based mobile communication systems such as CDMA-2000 (Code Division Multiple Access) and UMTS (Universal Mobile Telecommunication System) are not only providing voice communication services to mobile subscribers. It also enables the provision of data services.

상기 이동 통신단말기에서 각종 데이터를 저장하기 위한 종래 기술에 따른 메모리 장치로 도 1에 도시된 바와 같이 노아형 플래쉬 메모리(NOR-type Flash Memory) 20과, 정적램(SRAM: Static Random Access Memory) 30이 사용되고 있다. 상기 노아형 플래쉬 메모리 20에 저장되는 상기 각종 데이터로는 상기 단말기의 초기 설정을 위한 기본 코드 데이터와, 상기 단말기의 동작을 위한 동작 소프트웨어 데이터와, 상기 단말기에서 서비스를 위해 송수신되는 서비스 데이터가 있다. A memory device according to the prior art for storing various data in the mobile communication terminal as shown in Figure 1 NOR-type flash memory (NOR-type Flash Memory) 20, Static Random Access Memory (SRAM) 30 Is being used. The various data stored in the NOR flash memory 20 include basic code data for initial setting of the terminal, operation software data for operation of the terminal, and service data transmitted and received for service in the terminal.                         

한편, 통신 시장의 성장과 더불어 서비스의 다양화, 고기능화, 고용량화로 인하여 상기 도 1에 도시된 바와 같이 NOR 플래쉬 메모리 20을 포함하는 종래 기술에 따른 메모리 장치를 사용하기에는 한계가 있다. 왜냐하면, 현재 이동 통신단말기에서 사용되는 NOR 플래쉬 메모리는 대부분 16M/32Mbit의 크기를 가지면 충분하지만, 데이터 서비스가 활성화될 향후의 통신 시장에서는 64M/128MBit 이상의 크기가 필요할 것으로 예상되기 때문이다. 게다가, 이러한 고용량의 NOR 플래쉬 메모리는 이동 통신단말기의 제조업체 뿐만 아니라 가입자들에게 경제적으로 꽤나 큰 부담으로 작용한다. 이러한 부담을 줄이기 위해서는 64Mbit급 이상의 NOR 플래쉬 메모리를 20달러 수준의 저비용(Low-Price)으로 공급할 것이 요구된다. 그러나, 64Mbit급 이상의 NOR 플래쉬 메모리를 20달러 수준의 저비용으로 공급하는 것은 메모리 요구 속도를 기준으로 할 시 불가능하다. 또한, 폭발적인 NOR 플래쉬 메모리 수요로 인하여 NOR 플래쉬 메모리의 부품 확보에 어려움이 가중되고 있는 것이 현실이다.
Meanwhile, due to the growth of the communication market and the diversification of services, high functionality, and high capacity, there is a limit to using a memory device according to the prior art including the NOR flash memory 20 as shown in FIG. 1. This is because most of the NOR flash memory used in mobile communication terminals has a size of 16M / 32Mbit, but it is expected that 64M / 128MBit or more will be required in the future communication market where data service will be activated. In addition, this high capacity NOR flash memory is a significant economic burden for subscribers as well as manufacturers of mobile communication terminals. To alleviate this burden, NOR flash memory of 64Mbit or more will need to be supplied at a low-cost price of $ 20. However, it is not possible to supply 64 Mbit NOR flash memory at a low cost of $ 20 based on memory demand rate. In addition, due to the explosive demand for NOR flash memory, the difficulty in securing parts of the NOR flash memory is increasing.

따라서 본 발명의 목적은 대용량의 데이터 서비스를 위한 이동 통신단말기에 사용하기 위한 메모리 장치를 경제적으로 구현하는데 있다. Accordingly, an object of the present invention is to economically implement a memory device for use in a mobile communication terminal for a large data service.

본 발명의 다른 목적은 대용량의 데이터 서비스를 위한 이동 통신단말기의 메모리 장치를 고밀도를 가지는 가지는 메모리 소자를 사용하여 구현하는데 있다. Another object of the present invention is to implement a memory device of a mobile communication terminal for a large data service using a memory device having a high density.

이러한 목적들을 달성하기 위한 본 발명에 따라 이동 통신단말기에 사용하기 위한 메모리 장치는 상기 단말기의 초기 설정을 위한 기본 코드 데이터와, 상기 단말기의 동작을 위한 구동 소프트웨어 데이터를 저장하고 있으며, 상기 단말기에서 서비스를 위해 송수신되는 서비스 데이터를 저장하기 위한 낸드형 플래쉬 메모리를 포함한다. 제1 메모리는 랜덤 엑세스가 가능하며 상기 단말기의 초기 설정시 상기 낸드형 플래쉬 메모리로부터 전송될 상기 기본 코드 데이터를 저장하기 위한 것이다. 제2 메모리는 랜덤 엑세스가 가능하며 상기 단말기의 초기 설정 완료시 상기 낸드형 플래쉬 메모리로부터 복사될 상기 구동 소프트웨어 데이터를 저장하기 위한 것이다. 전송제어 블록은 상기 단말기의 파워온시 상기 낸드형 플래쉬 메모리에 저장된 상기 기본 코드 데이터를 상기 제1 메모리로 자동 전송시킨다. 제어부는 상기 단말기의 초기 설정시 상기 제1 메모리로부터 상기 기본 코드 데이터를 리드하여 상기 단말기를 초기화하고, 상기 단말기의 초기 설정이 완료된 이후에 상기 낸드형 플래쉬 메모리로부터 상기 구동 소프트웨어 데이터를 복사하여 상기 제2 메모리에 저장하고 상기 제2 메모리에 저장된 상기 구동 소프트웨어 데이터를 랜덤 엑세스하여 상기 단말기를 구동하고, 상기 단말기의 구동 이후에 상기 단말기에 송수신되는 서비스 데이터를 상기 낸드형 플래쉬 메모리에 리드 및 라이트한다. According to an embodiment of the present invention, a memory device for use in a mobile communication terminal stores basic code data for initial setting of the terminal and driving software data for operation of the terminal. And a NAND flash memory for storing service data transmitted and received for the service. The first memory is capable of random access and stores the basic code data to be transmitted from the NAND flash memory upon initial setting of the terminal. The second memory is capable of random access and stores the driving software data to be copied from the NAND flash memory upon completion of initial setting of the terminal. The transmission control block automatically transmits the basic code data stored in the NAND flash memory to the first memory when the terminal is powered on. The control unit initializes the terminal by reading the basic code data from the first memory during initial setting of the terminal, and copies the driving software data from the NAND flash memory after the initial setting of the terminal is completed. And driving the terminal by randomly accessing the driving software data stored in the second memory and in the second memory, and reading and writing service data transmitted and received to and from the terminal after the terminal is driven.

또한, 본 발명의 메모리 장치는, 상기 제어부와 상기 낸드형 플래쉬 메모리의 사이에 접속되고, 상기 제어부와 상기 낸드형 플래쉬 메모리 사이의 리드 및 라이트되는 데이터들에 대해 에러정정을 행하는 에러정정 블록을 더 포함한다. The memory device may further include an error correction block connected between the control unit and the NAND flash memory and performing error correction on data read and written between the control unit and the NAND flash memory. Include.

또한, 본 발명의 메모리 장치는, 상기 낸드 플래쉬 메모리와 상기 전송제어 블록과 상기 제1 메모리를 연결하는 제1 경로와, 상기 제2 메모리와 상기 제어부를 연결하는 제2 경로의 사이에 접속되고, 상기 단말기의 파워온시 되어 상기 제1 경로와 상기 제2 경로의 사이를 개방시키고, 상기 단말기의 초기 설정이 완료된 이후에 상기 제1 경로와 상기 제2 경로의 사이를 연결시키는 버퍼 블록을 더 포함한다. 상기 버퍼 블록은 상기 단말기의 파워온시 하이임피던스 상태로 되어 상기 제1 경로와 상기 제2 경로의 사이를 개방시키는 적어도 하나 이상의 3상태 버퍼들을 포함한다. In addition, the memory device of the present invention is connected between a first path connecting the NAND flash memory, the transmission control block and the first memory, and a second path connecting the second memory and the controller, And a buffer block which is powered on of the terminal to open the first path and the second path, and connects the first path and the second path after the initial setting of the terminal is completed. do. The buffer block includes at least one or more tri-state buffers that are in a high impedance state upon power-on of the terminal and open between the first path and the second path.

또한, 본 발명의 메모리 장치는, 상기 낸드 플래쉬 메모리와, 상기 전송제어 블록과, 상기 제1 메모리는 원칩으로 일체화 구성됨을 특징으로 한다. In addition, the memory device of the present invention is characterized in that the NAND flash memory, the transmission control block, and the first memory are integrated into one chip.

전술한 바와 같은 내용은 당해 분야 통상의 지식을 가진 자는 후술되는 본 발명의 구체적인 설명으로 보다 잘 이해할 수 있도록 하기 위하여 본 발명의 특징들 및 기술적인 장점들을 다소 넓게 약술한 것이다. The foregoing has outlined rather broadly the features and technical advantages of the present invention in order that those skilled in the art may better understand the detailed description of the invention that follows.

본 발명의 청구범위의 주제를 형성하는 본 발명의 추가적인 특징들 및 장점들이 후술될 것이다. 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 동일한 목적들을 달성하기 위하여 다른 구조들을 변경하거나 설계하는 기초로서 발명의 개시된 개념 및 구체적인 실시 예가 용이하게 사용될 수도 있다는 사실을 인식하여야 한다. 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 또한 발명과 균등한 구조들이 본 발명의 가장 넓은 형태의 사상 및 범위로부터 벗어나지 않는다는 사실을 인식하여야 한다.
Additional features and advantages of the invention will be described hereinafter which form the subject of the claims of the invention. Those skilled in the art should recognize that the disclosed concepts and specific embodiments of the invention may be readily used as a basis for modifying or designing other structures for achieving the same purposes of the present invention. Those skilled in the art should also recognize that structures equivalent to the invention do not depart from the spirit and scope of the broadest form of the invention.

이하 본 발명의 바람직한 실시예의 상세한 설명이 첨부된 도면들을 참조하여 설명될 것이다. 도면들 중 참조번호들 및 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 참조번호들 및 부호들로 나타내고 있음에 유의해야 한다. 하기에서 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. DETAILED DESCRIPTION A detailed description of preferred embodiments of the present invention will now be described with reference to the accompanying drawings. It should be noted that reference numerals and like elements among the drawings are denoted by the same reference numerals and symbols as much as possible even though they are shown in different drawings. In the following description of the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known function or configuration may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

본 발명의 발명자는 다음과 같은 사실에 착안하였음을 밝혀두는 바이다. 저가격 실현이 가능한 NAND 플래쉬 메모리의 사용이 향후 이동 통신단말기내 메모리 구성의 추세가 될 것이다. 현재 동급 용량에서 NOR 플래쉬 메모리와 NAND 플래쉬 메모리를 비교해 볼 때 메가바이트(Mega Byte)당 NOR 플래쉬 메모리는 3.56달러이며, NAND 플래쉬 메모리는 0.83달러 수준이다. 그리고 2002년에는 NOR 플래쉬 메모리는 3.06달러, NAND 플래쉬 메모리는 0.6달러로 예상하고 있다. 또한 현재 밀도(Density)면에서 비교하여 볼 때 NOR 64Mbyte에 해당하는 NAND 플래쉬 메모리의 밀도는 512Mbyte이다. 그리고 2002년에는 NOR 128Mbyte에 해당하는 NAND 플래쉬 메모리의 밀도는 1024Mbyte로 예상되고 있다. 즉, NOR 플래쉬 메모리는 NAND 플래쉬 메모리와 비교하여 볼 때 비용이나 밀도 측면에서 떨어짐을 알 수 있다. 이러한 현실과 예상으로 볼 때 이동 통신 장비 내에서 NOR 플래쉬 메모리의 사용은 한계에 이르렀다. The inventors of the present invention have been made to pay attention to the following facts. The use of NAND flash memory, which can be realized at low cost, will become a trend of memory configuration in mobile terminals in the future. Compared to NOR flash memory and NAND flash memory at the same capacity, NOR flash memory per megabyte is $ 3.56 and NAND flash memory is $ 0.83. In 2002, NOR flash memory is expected to be $ 3.06 and NAND flash memory is $ 0.60. In addition, the density of NAND flash memory corresponding to NOR 64Mbytes is 512Mbytes in comparison with the current density. In 2002, the density of NAND flash memory corresponding to NOR 128Mbyte is expected to be 1024Mbyte. In other words, it can be seen that NOR flash memory is inferior in cost or density compared to NAND flash memory. In view of these realities and expectations, the use of NOR flash memory in mobile communication equipment has reached its limit.

본 발명은 이동통신 단말기의 각종 서비스(Grapics, E-mail, Voice-Mail, MP3-Type auto, Navigation, Game, User-Disk, Still Picture, Motion Picture, Date Service)를 위한 데이터와 단말기 동작을 위한 OS 코드 등을 저장하는 메모리를 고비용(High Cost)과 저밀도(Low Density)인 NOR 플래쉬 메모리 대신에 저비용(Low Cost)과 고밀도(High Density)인 NAND 플래쉬 메모리를 대체할 수 있도록 하기 위한 것이다. 모뎀 칩과 NAND 플래쉬 메모리의 인터페이스는 현재 모뎀 칩과 NOR 플래쉬 메모리와 인터페이스와는 달리 새로운 방법이 요구된다. 따라서, 단말기내의 모뎀 칩과 NAND 플래쉬 메모리와 효율적인 데이터 통신을 위한 인터페이스 장치를 ASIC(APPLICATION SPECIFIC INTEGRATED CIRCUIT)으로 구현하는 방법이 후술될 것이다. The present invention provides data and terminal operations for various services (Grapics, E-mail, Voice-Mail, MP3-Type auto, Navigation, Game, User-Disk, Still Picture, Motion Picture, Date Service) of mobile communication terminal. The memory that stores the OS code, etc., is to replace the low cost and high density NAND flash memory instead of the high cost and low density NOR flash memory. The interface between the modem chip and the NAND flash memory requires a new method unlike the modem chip and the NOR flash memory and the interface. Accordingly, a method of implementing an interface device for efficient data communication with a modem chip in a terminal, a NAND flash memory, and an ASIC (APPLICATION SPECIFIC INTEGRATED CIRCUIT) will be described later.

도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 장치의 구성을 보여주는 도면이다. 이러한 메모리 장치는 대표적인 통신단말기인 이동 통신단말기에 사용될 수 있을 것이다. 예를 들어, 상기 메모리 장치는 CDMA-2000, UMTS와 같은 IMT-2000 방식의 휴대 전화기, PDA(Personal Digital Assistant)와 같은 개인정보 단말기 등에 사용될 수 있다. 2 is a block diagram illustrating a memory device according to an embodiment of the present invention. Such a memory device may be used in a mobile communication terminal, which is a representative communication terminal. For example, the memory device may be used in an IMT-2000 mobile phone such as CDMA-2000, UMTS, or a personal digital assistant such as a personal digital assistant (PDA).

상기 도 2를 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 장치는 제어부 100과, MCPAD(Multi-Chip Package with Auto-Dump) 200과, 제2 메모리 300을 포함하여 구성된다. 상기 MCPAD 200은 낸드형 플래쉬 메모리(NAND-type Flash Memory) 210과, 전송제어 블록 220과, 제1 메모리 230과, 버퍼 블록 240과, 에러정정 블록 250이 일체화되어 원칩(One-Chip)으로 구성된다. Referring to FIG. 2, a memory device according to an embodiment of the present invention includes a controller 100, a multi-chip package with auto-dump (MCPAD) 200, and a second memory 300. The MCPAD 200 includes a NAND-type flash memory 210, a transmission control block 220, a first memory 230, a buffer block 240, and an error correction block 250 integrated into one chip. do.

상기 NAND 플래쉬 메모리 210에는 상기 단말기의 초기 설정을 위한 기본 코드 데이터(Basic Code Data)와, 상기 단말기의 동작을 위한 구동 소프트웨어 데이 터(Operation Software Data)를 저장하고 있다. 또한 상기 NAND 플래쉬 메모리 210에는 상기 단말기에서 서비스를 위해 송수신되는 서비스 데이터(Service Data)가 저장된다. 상기 기본 코드 데이터에는 벡터 테이블(Vector Table), 부트 코드(Boot Code), 로드 코드(Load Code) 등이 포함된다. 상기 구동 소프트웨어 데이터에는 오퍼레이팅시스템(OS: Operating System) 소프트웨어, 호(Call) 소프트웨어 등이 포함된다. 상기 서비스 데이터에는 그래픽(Graphics), 전자메일(E-mail), 음성메일(Voice-mail), 음악파일(예: MP3-type file), 네비게이션(Navigation), 게임(Game), 정지화상(Still Picture), 동화상(Motion Picture) 등이 포함된다. The NAND flash memory 210 stores basic code data for initial setting of the terminal and operation software data for operation of the terminal. In addition, the NAND flash memory 210 stores service data transmitted and received for service by the terminal. The basic code data includes a vector table, a boot code, a load code, and the like. The driving software data includes an operating system (OS) software, a call software, and the like. The service data includes graphics, e-mail, voice-mail, music files (eg MP3-type file), navigation, games, still images. Picture, Motion Picture, and the like.

상기 제1 메모리 230은 랜덤 엑세스(random access)가 가능하며, 상기 단말기의 초기 설정시 상기 NAND 플래쉬 메모리 210으로부터 전송될 상기 기본 코드 데이터를 저장한다. 상기 제2 메모리 300은 랜덤 엑세스가 가능하며 상기 단말기의 초기 설정 완료시 상기 NAND 플래쉬 메모리 210으로부터 복사(copy)될 상기 구동 소프트웨어 데이터를 저장한다. 이러한 제2 메모리 300은 상기 제어부 100의 작업 영역(Work Area)을 제공하기 위한 메모리이다. 상기 제1 메모리 230 및 상기 제2 메모리 300은 SRAM(Static Random Access Memory)으로 구현될 수 있다. 상기 전송제어 블록 220은 상기 단말기의 파워온(Power_On)시 상기 NAND 플래쉬 메모리 210에 저장된 상기 기본 코드 데이터를 상기 제1 메모리 230으로 자동 전송시킨다. 상기 전송제어 블록 220은 상기 단말기의 파워온시 리셋회로(도시하지 않음)로부터 입력되는 리셋신호에 응답하여 "로우(L)"레벨의 리셋신호를 발생한다. The first memory 230 is capable of random access, and stores the basic code data to be transmitted from the NAND flash memory 210 when the terminal is initially set up. The second memory 300 is capable of random access and stores the driving software data to be copied from the NAND flash memory 210 when the initial configuration of the terminal is completed. The second memory 300 is a memory for providing a work area of the controller 100. The first memory 230 and the second memory 300 may be implemented as static random access memory (SRAM). The transmission control block 220 automatically transmits the basic code data stored in the NAND flash memory 210 to the first memory 230 when the terminal is powered on. The transmission control block 220 generates a reset signal having a low level in response to a reset signal input from a reset circuit (not shown) when the terminal is powered on.

상기 제어부 100은 상기 단말기의 초기 설정시 상기 제1 메모리 230으로부터 상기 기본 코드 데이터를 엑세스(리드)하여 상기 단말기를 초기화한다. 또한, 상기 제어부 100은 상기 단말기의 초기 설정이 완료된 이후에 상기 NAND 플래쉬 메모리 230으로부터 상기 구동 소프트웨어 데이터를 복사하여 상기 제2 메모리 300에 저장하고 상기 제2 메모리 300에 저장된 상기 구동 소프트웨어 데이터를 엑세스하여 상기 단말기를 구동한다. 또한, 상기 제어부 100은 상기 단말기의 구동 이후에 상기 단말기에 송수신되는 서비스 데이터를 상기 NAND 플래쉬 메모리 210으로부터 리드하거나 상기 NAND 플래쉬 메모리 210에 라이트한다. 상기 제어부 100은 상기 NAND 플래쉬 메모리 210을 직접 엑세스하여 상기 서비스 데이터를 라이트하거나 리드할 수 있다. 이를 대신하여, 상기 제어부 100은 상기 서비스 데이터를 상기 제2 메모리에 복사(copy)하여 상기 NAND 플래쉬 메모리 210를 엑세스할 수 있다. 상기 메모리 장치가 휴대 전화기에 사용되는 경우, 상기 제어부 100은 소위 "모뎀 칩(Modem Chip)"이며, 이러한 모뎀 칩으로는 삼성전자 주식회사에 의해 제조 및 판매되고 있는 SCom Series, 퀄컴(Qualcoimm)사에 의해 제조 및 판매되고 있는 MSM Series가 될 수 있다. The controller 100 initializes the terminal by accessing (reading) the basic code data from the first memory 230 when the terminal is initially set. After the initial setting of the terminal is completed, the controller 100 copies the driving software data from the NAND flash memory 230, stores the driving software data in the second memory 300, and accesses the driving software data stored in the second memory 300. Drive the terminal. In addition, the controller 100 reads service data transmitted to and received from the terminal after driving the terminal from the NAND flash memory 210 or writes to the NAND flash memory 210. The controller 100 may directly access the NAND flash memory 210 to write or read the service data. Instead, the controller 100 may access the NAND flash memory 210 by copying the service data into the second memory. When the memory device is used in a mobile phone, the control unit 100 is a so-called "modem chip", and such a modem chip may be manufactured by SCom Series, Qualcoimm, which is manufactured and sold by Samsung Electronics Co., Ltd. It can be manufactured and sold by MSM Series.

상기 에러정정 블록 250은 상기 제어부 100과 상기 NAND 플래쉬 메모리 210의 사이에 접속되고, 상기 제어부 100과 상기 NAND 플래쉬 메모리 210 사이에 엑세스(리드 또는 라이트)되는 데이터들에 대해 에러정정(ECC: Error Checking Correction)을 행한다. 상기 제어부 100에 의한 상기 NAND 플래쉬 메모리 210으로의 데이터 라이트시, 상기 에러정정 블록 250은 라이트를 위한 데이터에 상응하는 에러정정 코드인 패리티 코드(Parity Code)를 생성하고, 상기 NAND 플래쉬 메모리 210의 ECC 블록에 라이트한다. 상기 제어부 100에 의한 상기 NAND 플래쉬 메모리 210으로부터의 데이터 리드시, 상기 에러정정 블록 250은 상기 NAND 플래쉬 메모리 210으로부터 리드되는 데이터에 상응하는 에러정정 코드인 패리티 코드를 생성한다. 이에 따라 상기 제어부 100은 데이터 리드시 생성되는 패리티 코드와 상기 리드되는 데이터에 대응하여 상기 NAND 플래쉬 메모리 210에 라이트되어 있는 패리티 코드를 비교함으로써, 에러 정정을 가능하게 한다. The error correction block 250 is connected between the controller 100 and the NAND flash memory 210, and error correction (ECC) is performed on data accessed (read or written) between the controller 100 and the NAND flash memory 210. Correction). When data is written to the NAND flash memory 210 by the controller 100, the error correction block 250 generates a parity code, which is an error correction code corresponding to data for writing, and generates an ECC of the NAND flash memory 210. Write to the block. When the data is read from the NAND flash memory 210 by the controller 100, the error correction block 250 generates a parity code that is an error correction code corresponding to the data read from the NAND flash memory 210. Accordingly, the controller 100 compares the parity code generated when data is read with the parity code written in the NAND flash memory 210 in response to the read data, thereby enabling error correction.

상기 버퍼 블록 240은 상기 제어부 100 및 상기 제2 메모리 300과 상기 NAND 플래쉬 메모리 210의 사이, 상기 제어부 100 및 상기 제2 메모리 300과 상기 전송제어 블록 220의 사이, 상기 제어부 100 및 상기 제2 메모리 300과 상기 제1 메모리 230의 사이에 접속된다. 즉, 상기 버퍼 블록 240은 상기 MCPAD 200의 내부 구성요소들(상기 NAND 플래쉬 메모리 210과, 상기 전송제어 블록 220과, 상기 제1 메모리 230)을 연결하는 제1 경로와, 상기 MCPAD 200과 이의 외부 구성요소들(상기 제2 메모리 300과, 상기 제어부 100)을 연결하는 제2 경로의 사이에 접속된다. 상기 버퍼 블록 240은 상기 단말기의 파워온시 되어 상기 제1 경로와 상기 제2 경로의 사이를 개방시키고, 상기 단말기의 초기 설정이 완료된 이후에 상기 제1 경로와 상기 제2 경로의 사이를 연결시킨다. 이러한 버퍼 블록 240은 상기 단말기의 파워온(Power_On)시 하이임피던스(Hi- Impedance) 상태로 되어 상기 제1 경로와 상기 제2 경로의 사이를 개방시키는 적어도 하나 이상의 3상태 버퍼들(3 state buffers)을 포함하여 구성된다. 여기서 상기 버퍼 블록 240은 4개의 3상태 버퍼들 B1∼B4로 구성된 예로서 도시되어 있다. 상기 제1 경로 및 상기 제2 경로는 어드레 스 버스(ABUS: Address BUS)와, 데이터 버스(DBUS: Data BUS)와, 제어 버스(CBUS: Control BUS)와, 신호(RE,WE,RESET) 연결 경로를 포함하는 의미이다. The buffer block 240 is between the controller 100 and the second memory 300 and the NAND flash memory 210, between the controller 100 and the second memory 300 and the transmission control block 220, and the controller 100 and the second memory 300. And between the first memory 230. That is, the buffer block 240 may include a first path connecting internal components of the MCPAD 200 (the NAND flash memory 210, the transmission control block 220, and the first memory 230), the MCPAD 200, and an external device thereof. A second path connecting the components (the second memory 300 and the controller 100) is connected. The buffer block 240 powers on the terminal to open the first path and the second path, and connects the first path and the second path after the initial setting of the terminal is completed. . The buffer block 240 is at least one or more three state buffers (3 state buffers) to open between the first path and the second path in a high impedance state at the time of power-on (Power_On) of the terminal It is configured to include. Here, the buffer block 240 is shown as an example consisting of four tri-state buffers B1 to B4. The first path and the second path connect an address bus (ABUS), a data bus (DBUS), a control bus (CBUS), and signals (RE, WE, RESET). Meaning to include a path.

상기한 본 발명의 실시예에 따른 메모리 장치를 구성하는 요소들간의 버스 및 신호 연결 관계를 보다 구체적으로 설명하면 다음과 같다. Hereinafter, the bus and signal connection relationships among the elements constituting the memory device according to the exemplary embodiment of the present invention will be described in detail.

상기 제어부 100은 제어 버스(CBUS1), 어드레스 버스(ABUS), 데이터 버스(DBUS)를 통해 상기 제2 메모리 300과 연결된다. 상기 제어부 100은 어드레스 버스(ABUS) 및 제어 버스(CBUS2)를 통해 상기 버퍼 블록 240의 제1 버퍼 B1에 연결되고, 데이터 버스(DBUS)를 통해 상기 버퍼 블록 240의 제3 버퍼 B3에 연결되고, 제어 버스(CBUS3) 및 제어 버스(CBUS4)를 통해 상기 버퍼 블록 240의 제4 버퍼 B4에 연결된다. 상기 버퍼 블록 240의 제2 버퍼 B2로는 상기 제어부 100으로부터의 리드 인에이블신호(RE: Read Enable) 및 라이트 인에이블신호(WE: Write Enable)가 제공된다. 상기 제어부 100으로부터의 리드 인에이블신호(RE) 및 라이트 인에이블신호(WE)는 상기 제2 메모리 300으로도 제공되고, 또한 상기 제2 버퍼 B2를 통해 상기 NAND 플래쉬 메모리 210, 상기 전송제어 블록 220 및 상기 제1 메모리 230으로도 제공된다. The controller 100 is connected to the second memory 300 through a control bus CBUS1, an address bus ABUS, and a data bus DBUS. The controller 100 is connected to the first buffer B1 of the buffer block 240 via an address bus ABUS and a control bus CBUS2, and is connected to a third buffer B3 of the buffer block 240 via a data bus DBUS. The control bus CBUS3 and the control bus CBUS4 are connected to the fourth buffer B4 of the buffer block 240. The read enable signal RE and the read enable signal WE from the controller 100 are provided to the second buffer B2 of the buffer block 240. The read enable signal RE and the write enable signal WE from the controller 100 are also provided to the second memory 300, and the NAND flash memory 210 and the transmission control block 220 are provided through the second buffer B2. And the first memory 230.

상기 제1 버퍼 B1은 어드레스 버스(ABUS11)를 통해 상기 제1 메모리 230과 상기 전송제어 블록 220에 연결된다. 또한 상기 제1 버퍼 B1은 제어 버스(CBUS11)를 통해 상기 제1 메모리 230에 연결된다. 상기 제2 버퍼 B2는 상기 제어부 100으로부터 리드인에이블 신호(RE) 및 라이트인에이블 신호(WE)를 입력하고, 상기 리드인에이블 신호(RE) 및 라이트인에이블 신호(WE)를 상기 NAND 플래쉬 메모리 210, 상기 전송제어 블록 220 및 상기 제1 메모리 230에 제공하도록 연결된다. 상기 제3 버퍼 B3은 데이터 버스(DBUS11)를 통해 상기 제1 메모리 230에 연결되고, 데이터 버스(DBUS12)를 통해 상기 전송제어 블록 220에 연결되고, 데이터 버스(DBUS13)을 통해 상기 NAND 플래쉬 메모리 210 및 상기 에러정정 블록 250에 연결된다. 상기 제4 버퍼 B4는 제어 버스(CBUS12)를 통해 상기 NAND 플래쉬 메모리 210에 연결되고, 제어 버스(CBUS13)를 통해 상기 에러정정 블록 250에 연결된다. The first buffer B1 is connected to the first memory 230 and the transmission control block 220 through an address bus ABUS11. In addition, the first buffer B1 is connected to the first memory 230 through a control bus CBUS11. The second buffer B2 receives a read enable signal RE and a write enable signal WE from the controller 100, and transmits the read enable signal RE and the write enable signal WE to the NAND flash memory. 210, the transmission control block 220 and the first memory 230. The third buffer B3 is connected to the first memory 230 through a data bus DBUS11, is connected to the transmission control block 220 through a data bus DBUS12, and the NAND flash memory 210 through a data bus DBUS13. And the error correction block 250. The fourth buffer B4 is connected to the NAND flash memory 210 through a control bus CBUS12 and to the error correction block 250 through a control bus CBUS13.

상기 전송제어 블록 220은 외부로부터 인가되는 리셋신호에 응답하여 "L"레벨의 리셋신호를 발생하고, 이 발생된 리셋신호를 상기 버퍼 블록 240의 각 버퍼들 B1∼B4와 상기 제어부 100으로 제공한다. 또한, 상기 전송제어 블록 220은 상기 제1 메모리 230으로 기본 코드 데이터의 전송이 완료되면 "H"레벨의 리셋신호를 발생함으로써 상기 제어부 100이 상기 제1 메모리 230에 전송된 기본 코드 데이터를 엑세스하여 초기화 동작을 수행할 수 있도록 한다. The transmission control block 220 generates a reset signal having an “L” level in response to a reset signal applied from the outside, and provides the generated reset signal to each of the buffers B1 to B4 and the controller 100 of the buffer block 240. . In addition, the transmission control block 220 generates a reset signal of "H" level when the transmission of the basic code data to the first memory 230 is completed, the control unit 100 accesses the basic code data transmitted to the first memory 230 Allows you to perform an initialization operation.

도 3은 도 2에 도시된 메모리 장치의 구체적인 구성을 보여주는 도면이다. 이러한 메모리 장치는 CDMA-2000, UMTS와 같은 IMT-2000 방식의 휴대 전화기에 적용된 예에 따른 것이다. 하기에서 본 발명의 실시예에 따라 구현된 ASIC(APPLICATION SPECIFIC INTEGRATED CIRCUIT)은 "MCPAD(Multi-Chip Package Auto-Dump)"라 불리울 것이다. 그리고, 하기에서는 도 2에 도시된 메모리 장치의 구성요소와 동일한 기능을 수행하는 구성요소에 대해서는 비록 다르게 명명될지라도 동일한 참조부호로서 사용될 것이다. 또한, 하기에서는 도 2에 도시된 버스들/신호들이 보다 구체적으로 정의 및 사용될 것이다. 후술될 구성요소들 및 버스들/ 신호들과 이에 대응하는 도 2에 도시된 구성요소들 및 버스들/신호들의 대응 관계를 정의해보면 다음의 <표 1> 및 <표 2>와 같다. 그리고 도면에서 표시되어 있고 후술되는 설명에서 사용될 용어들을 설명하면 하기의 <표 3>과 같다. FIG. 3 is a diagram illustrating a detailed configuration of the memory device shown in FIG. 2. Such a memory device is according to an example applied to an IMT-2000 type mobile phone such as CDMA-2000 and UMTS. An ASIC (APPLICATION SPECIFIC INTEGRATED CIRCUIT) implemented according to an embodiment of the present invention will be referred to as "Multi-Chip Package Auto-Dump" (MCPAD). In the following description, components that perform the same functions as those of the memory device shown in FIG. 2 will be used as the same reference numerals, although differently named. In addition, the buses / signals shown in FIG. 2 will be defined and used in more detail below. The corresponding relationships between the components and buses / signals to be described later and the components and buses / signals shown in FIG. 2 corresponding thereto are as follows in Tables 1 and 2. And the terms shown in the drawings and used in the following description will be described in Table 3 below.

도 22 도 33 비고Remarks 제어부Control MODEM CHIPMODEM CHIP 참조부호 100Reference 100 낸드형 플래쉬 메모리Nand Flash Memory NAND-FLASH BLOCKNAND-FLASH BLOCK 참조부호 210Reference 210 전송제어 블록Transmission control block AUTO-DUMP BLOCKAUTO-DUMP BLOCK 참조부호 220Reference 220 제1 메모리First memory SRAM(UtRAM) BLOCKSRAM (UtRAM) BLOCK 참조부호 230Reference 230 제2 메모리Second memory SRAM (Work Area)SRAM (Work Area) 참조부호 240Reference 240 버퍼 블록Buffer block 3 STATE BUFFER BLOCK3 STATE BUFFER BLOCK 참조부호 250Reference 250 에러정정 블록Error Correction Block ECC BLOCKECC BLOCK 참조부호 300Reference 300

도 22 도 33 비고Remarks ABUSABUS ADD_M[1‥‥]ADD_M [1 ‥‥] DBUSDBUS DATA_M[0‥15]DATA_M [0 ‥ 15] CBUS1CBUS1 RAM_M[1.2]_CS,UB_M,LB_M,BYTE_MRAM_M [1.2] _CS, UB_M, LB_M, BYTE_M CBUS2CBUS2 ROM1_CS_M,UB_M,LB_M,BYTE_MROM1_CS_M, UB_M, LB_M, BYTE_M CBUS3CBUS3 ROM2_CS_M,WP_M,CLE_M,ALE_M,R/_B_MROM2_CS_M, WP_M, CLE_M, ALE_M, R / _B_M CBUS4CBUS4 ECC_CS_M,ECC_START_MECC_CS_M, ECC_START_M ABUS11ABUS11 ADD_A_S[1‥12]ADD_A_S [1 ‥ 12] DBUS11DBUS11 DATA_S[0‥‥15]DATA_S [0 ‥‥ 15] DBUS12DBUS12 DATA_A[0‥7]DATA_A [0 ‥ 7] DBUS13DBUS13 DATA_N_E[0‥7]DATA_N_E [0 ‥ 7] CBUS11CBUS11 ROM1_CS_A_S,UB_A_S,LB_A_S,BYTE_A_SROM1_CS_A_S, UB_A_S, LB_A_S, BYTE_A_S ROM1_CS_A_S‥·표시ROM1_CS_A_S ... display CBUS12CBUS12 ROM2_CS_A_N,WP_A_N,CLE_A_E,ALE_A_N,R/_B_A_NROM2_CS_A_N, WP_A_N, CLE_A_E, ALE_A_N, R / _B_A_N ROM2_CS_A_N‥·표시ROM2_CS_A_N ... CBUS13CBUS13 ECC_CS_E,ECC_START_EECC_CS_E, ECC_START_E ECC_CS_E‥·표시ECC_CS_E ... display

ROM1_CS_M ⇒ Modem Chip에 연결된 ROM1_CS 신호 UB_M ⇒ Modem Chip에 연결된 UB 신호 LB_M ⇒ Modem Chip에 연결된 LB 신호 BYTE_M ⇒ Modem Chip에 연결된 BYTE 신호 ROM1_CS_A_S ⇒ ADB에서 SRAM Block로 연결된 ROM1_CS 신호 UB_A_S ⇒ ADB(Auto-Dump Block)에서 SRAM Block로 연결된 UB 신호 LB_A_S ⇒ ADB(Auto-Dump Block)에서 SRAM Block로 연결된 LB 신호 BYTE_A_S ⇒ ADB(Auto-Dump Block)에서 SRAM Block로 연결된 BYTE 신호 ROM2_CS_A_N ⇒ ADB에서 Nand Flash Block로 연결된 ROM2_CS 신호 WP_A_N ⇒ ADB에서 Nand Flash Block로 연결된 WP 신호 CLE_A_N ⇒ ADB에서 Nand Flash Block로 연결된 CLE 신호 ALE_A_N ⇒ ADB에서 Nand Flash Block로 연결된 ALE 신호 R/_B_A_N ⇒ ADB에서 Nand Flash Block로 연결된 R/_B 신호 ECC_CS_E ⇒ ECC Block에 연결된 ECC_CS 신호 ECC_START_E ⇒ ECC Block에 연결된 ECC_START 신호     ROM1_CS_M ⇒ ROM1_CS signal connected to Modem Chip UB_M ⇒ UB signal connected to Modem Chip LB_M ⇒ LB signal connected to Modem Chip BYTE_M ⇒ BYTE signal connected to Modem Chip                                                       ROM1_CS_A_S ⇒ ROM1_CS signal from ADB to SRAM Block UB_A_S ⇒ UB signal from ADB (Auto-Dump Block) to SRAM Block LB_A_S ⇒ LB signal from ADB (Auto-Dump Block) to SRAM Block BYTE_A_S ⇒ ADB (Auto-Dump Block) Signal connected to SRAM Block)                                                       ROM2_CS_A_N ⇒ ROM2_CS signal from ADB to Nand Flash Block WP_A_N ⇒ WP signal from ADB to Nand Flash Block CLE_A_N ⇒ CLE signal from ADB to Nand Flash Block ALE_A_N ⇒ ALE signal from ADB to Nand Flash Block R / _B_A_N ⇒ ADB R / _B signal connected with Nand Flash Block                                                       ECC_CS_E ⇒ ECC_CS signal connected to ECC Block ECC_START_E ⇒ ECC_START signal connected to ECC Block

상기 도 3을 참조하면, MCPAD은 크게 5가지의 요소로 구성된다. Referring to FIG. 3, MCPAD is largely composed of five elements.

첫째, 자동 전송제어블록(Auto-Dump Block: ADB) 220이 구성된다. First, an Auto-Dump Block (ADB) 220 is configured.

단말기 파워온시, 초기 단말기의 동작을 위한 모뎀 칩(Modem Chip) 100의 내부 설정을 위한 기본 코드(Basic Code) 데이터는 랜덤 엑세스(Random Access)가 가능해야 한다. 기존의 NOR 플래쉬 메모리는 랜덤 엑세스가 가능하여 이 기본 코드가 NOR 플래쉬 메모리에 저장되어 있었다. 하지만, 본 발명의 실시예에 따른 NAND 플래쉬 메모리 210은 랜덤 엑세스가 되지 않으므로 랜덤 엑세스가 가능한 SRAM(UtRAM) 230으로 NAND 플래쉬 메모리 210에 있는 16KByte내외의 기본 코드 데이터를 자동으로 옮겨주는 역할이 필요한데, 이러한 역할을 위한 것이 상기 ADB 220이다. When the terminal is powered on, the basic code data for internal setting of the modem chip 100 for the operation of the initial terminal should be random access. Conventional NOR flash memory was randomly accessible, so this basic code was stored in NOR flash memory. However, since the NAND flash memory 210 according to the embodiment of the present invention does not have random access, it is necessary to automatically transfer basic code data of about 16 KByte in the NAND flash memory 210 to the SRAM (UtRAM) 230 that can be randomly accessed. For this role is the ADB 220.

둘째, SRAM(UtRAM) 블록 230이 구성되어 있다. Second, an SRAM (UtRAM) block 230 is constructed.                     

단말기 파워온시, ADB 220에 의해서 NAND 플래쉬 메모리 210에 있는 기본 코드를 저장하는 곳이다. 모뎀 칩 100은 상기 SRAM 블록 230을 랜덤 엑세스하여 기본 코드를 수행한다. This is where ADB 220 stores the basic code in NAND flash memory 210 when the terminal is powered on. The modem chip 100 randomly accesses the SRAM block 230 to perform a basic code.

셋째, 낸드 플래쉬 블록(Nand Flash Block) 210이 구성되어 있다. Third, a Nand Flash Block 210 is configured.

기존 NOR- 플래쉬 메모리에 저장되어 있는 기본 코드 및 어플리케이션(Application), 폰트(Font) 등을 저장하고 있으며, 모뎀 칩 100이 NAND 플래쉬 메모리 210의 데이터를 엑세스할 수 있도록 상기 모뎀 칩 100이 NAND 플래쉬 메모리 210을 제어하고 NAND FLASH 제어상태를 상기 모뎀 칩 100에 알려주는 역할을 수행한다. It stores basic codes, applications, and fonts stored in the existing NOR-flash memory, and the modem chip 100 is NAND flash memory so that the modem chip 100 can access data of the NAND flash memory 210. The controller 210 controls the 210 and informs the modem chip 100 of the NAND FLASH control state.

넷째, ECC 블록(Error Checking Correction Block) 250이 구성되어 있다. Fourth, an ECC block 250 is configured.

ECC 블록 250은 패리티 코드(Parity Code)를 발생시켜 모뎀 칩 100이 상기 발생된 패리티 코드를 이용하여 비트 에러(Bit Error)를 조사하고 정정(Correct)할 수 있도록 한다. The ECC block 250 generates a parity code so that the modem chip 100 can investigate and correct a bit error using the generated parity code.

다섯째, 3상태 버퍼 블록(3-State Buffer Block) 240이 구성되어 있다. Fifth, a three-state buffer block 240 is configured.

단말기 파워온시, MCPAD의 ADB 220에서 NAND 플래쉬 메모리 210에 있는 기본 코드 데이터를 SRAM(UtRAM) 블록 230에 자동 데이터 전송(Auto-Dumping, Auto-Loading)하는 동안 모뎀 칩 100과 MCPAD 200의 연결 핀(Pin)들을 하이 인피던스(Hi -Impedance) 상태로 유지하여, MCPAD 200내의 ADB 220에 의해 기본 코드 데이터를 자동 전송할 수 있게 도와주는 역할을 한다. When the terminal is powered on, the MCPAD's ADB 220 connects the basic code data in the NAND flash memory 210 to the SRAM (UtRAM) block 230 during auto-dumping and auto-loading. By maintaining the pins in Hi-Impedance state, it helps to automatically transmit the basic code data by the ADB 220 in the MCPAD 200.

상기 도 3에 도시된 MCPAD 200의 보다 구체적인 구성이 도 4에 도시되어 있 다. A more specific configuration of the MCPAD 200 shown in FIG. 3 is shown in FIG. 4.

상기 도 4를 참조하면, MCPAD 200은 낸드 플래쉬 블록(NAND-FLASH BLOCK) 210, 자동 전송제어 블록(AUTO-DUMP BLOCK) 220, SRAM(UtRAM) 블록 230, 3상태 버퍼 블록 240, ECC 블록 250으로 구성된다. 이러한 MCPAD 200의 구성요소들은 원칩(One-chip)의 형태로 일체화되어 구성된다. Referring to FIG. 4, the MCPAD 200 is a NAND flash block 210, an automatic transfer block 220, an SRAM (UtRAM) block 230, a three-state buffer block 240, and an ECC block 250. It is composed. The components of the MCPAD 200 are integrally formed in the form of a one-chip.

상기 3상태 버퍼 블록 240의 제1 버퍼 내지 제4 버퍼(3 State Buffer 1∼4)를 포함한다. 상기 제1 버퍼는 어드레스버스 ADD_A_S[1‥12]와, 데이터버스 ROM1_CS_A_S‥·를 통해 상기 SRAM 블록 230과, 상기 자동 전송제어 블록 220에 각각 연결된다. 상기 제2 버퍼는 상기 SRAM 블록 230에 리드 인에이블 신호인 RE_S와, 라이트 인에이블 신호인 WE_S를 제공하는 형태로 연결된다. 또한, 상기 제2 버퍼는 상기 자동 전송제어 블록 220과, 상기 NAND 플래쉬 블록 210에 각각 리드 인에이블 신호인 RE_A_N과, 라이트 인에이블 신호인 WE_A_N을 제공하는 형태로 연결된다. 상기 제3 버퍼는 데이터버스 DATA_S[0‥·15]를 통해 상기 SRAM 블록 230에 연결되고, 데이터버스 DATA_A[0‥·7]을 통해 상기 자동 전송제어 블록 220에 연결되고, 데이터버스 DATA_N_E[0‥·7]을 통해 상기 NAND 플래쉬 블록 210과 상기 ECC 블록 250에 연결된다. 상기 제4 버퍼는 제어버스 ROM2_CS_A_N‥을 통해 상기 자동 전송제어 블록 220과, 상기 NAND 플래쉬 블록 210에 각각 연결되고, 제어버스 ECC_CS_E‥를 통해 상기 ECC 블록 250에 연결된다. First to fourth buffers 3 State Buffer 1 to 4 of the tri-state buffer block 240 are included. The first buffer is connected to the SRAM block 230 and the automatic transfer control block 220 via an address bus ADD_A_S [1 ... 12] and a data bus ROM1_CS_A_S .... The second buffer is connected to the SRAM block 230 in a form of providing a read enable signal RE_S and a write enable signal WE_S. In addition, the second buffer is connected to the automatic transmission control block 220, the NAND flash block 210 in the form of providing a read enable signal RE_A_N and a write enable signal WE_A_N, respectively. The third buffer is connected to the SRAM block 230 via data bus DATA_S [0 .. 15], and is connected to the automatic transfer control block 220 via data bus DATA_A [0 .. 7], and data bus DATA_N_E [0. 7] are connected to the NAND flash block 210 and the ECC block 250. The fourth buffer is connected to the automatic transmission control block 220 and the NAND flash block 210 through a control bus ROM2_CS_A_N ..., and to the ECC block 250 through a control bus ECC_CS_E ....

상기 자동 전송제어 블록 220은 MCPAD 200의 외부에 설치된 리셋 회로(RESET IC) 410으로부터의 리셋신호 RESET_A를 제공받고, 주파수 발진기(X-TAL) 420으로부 터의 발진신호 X_TAL_A를 제공받는다. 또한, 상기 자동 전송제어 블록 220은 리셋신호 RESET_A_M을 발생하여 상기 3상태 버퍼 블록 240의 각 버퍼들에 제공한다. The automatic transmission control block 220 receives the reset signal RESET_A from the reset circuit 410 installed outside the MCPAD 200 and receives the oscillation signal X_TAL_A from the frequency oscillator (X-TAL) 420. In addition, the automatic transmission control block 220 generates a reset signal RESET_A_M and provides it to each of the buffers of the three-state buffer block 240.

상기 낸드 플래쉬 블록 210은 도 5에 도시된 바와 같이, 메모리 영역(Memory Area)과 에러정정 영역(ECC Area)으로 이루어지는 복수개의 블록들을 포함한다. 상기 각 블록들은 32 페이지 분량의 데이터를 저장할 수 있다. 일 예로, 어느 한 블록의 메모리 영역에는 단말기의 초기 설정시 사용되는 기본 코드가 저장되고 상기 기본 코드에 대한 에러정정 코드가 상기 메모리 영역에 대응하는 ECC 영역에 저장될 수 있다. 이러한 경우 각 페이지는 512바이트의 기본 코드와 16바이트의 에러정정 코드인 패리티 코드의 데이터를 포함한다. 즉, 기본 코드를 위한 블록은 16KByte (512Byte*32PAGE)의 기본 코드를 저장하기 위한 영역과, 512Byte(16Byte*32PAGE)의 에러정정 코드를 저장하기 위한 영역으로 구성된다. As illustrated in FIG. 5, the NAND flash block 210 includes a plurality of blocks including a memory area and an error correction area. Each block may store 32 pages of data. For example, a basic code used for initial setting of a terminal may be stored in a memory area of one block, and an error correction code for the basic code may be stored in an ECC area corresponding to the memory area. In this case, each page contains data of a parity code, which is a basic code of 512 bytes and an error correction code of 16 bytes. That is, the block for the basic code is composed of an area for storing the basic code of 16KByte (512Byte * 32PAGE), and an area for storing the error correction code of 512Byte (16Byte * 32PAGE).

도 6은 도 3에 도시된 모뎀 칩 100과 MCPAD 200 사이에 연결된 데이터 버스의 상세 구성을 보여주는 도면이다. FIG. 6 is a diagram illustrating a detailed configuration of a data bus connected between the modem chip 100 and the MCPAD 200 shown in FIG. 3.

상기 도 6을 참조하면, SRAM 블록 230은 제어(Control)영역과, 기본 코드 로딩 영역으로 구조된다. 자동 전송제어 블록 220은 제어(Control)영역과, 리셋신호를 입/출력하기 위한 영역으로 구조된다. NAND 플래쉬 블록 210은 제어(Control)영역과, 메모리 영역과, 에러정정 영역으로 구조된다. 모뎀 칩 100은 UB, LB, RESET, DATA[8‥15], DATA[0‥7] 핀들을 구비한다. 상기 SRAM 블록 230은 UB, LB, DATA[8‥15], DATA[0‥7] 핀들을 구비한다. 상기 자동 전송제어 블록 220은 UB, LB, DATA[0‥7], WE 핀들을 구비한다. 상기 NAND 플래쉬 블록 210은 I/O[0‥7], WE 핀 들을 구비한다. Referring to FIG. 6, the SRAM block 230 includes a control area and a basic code loading area. The automatic transmission control block 220 is structured as a control area and an area for inputting / outputting a reset signal. The NAND flash block 210 is structured as a control area, a memory area, and an error correction area. Modem chip 100 has UB, LB, RESET, DATA [8… 15], and DATA [0… 7] pins. The SRAM block 230 includes UB, LB, DATA [8.15], and DATA [0… 7] pins. The automatic transmission control block 220 includes UB, LB, DATA [0 .. 7], WE pins. The NAND flash block 210 has I / O [0 .. 7], WE pins.

상기 모뎀 칩 100의 UB핀으로부터의 UB_M신호는 3상태 버퍼 블록 240의 버퍼 b1을 통해 UB_S신호로서 SRAM 블록 230의 UB핀으로 제공된다. 상기 모뎀 칩 100의 LB핀으로부터의 LB_M신호는 3상태 버퍼 블록 240의 버퍼 b2를 통해 LB_S신호로서 SRAM 블록 230의 LB핀으로 제공된다. 상기 3상태 버퍼 블록 240의 버퍼 b3은 상기 SRAM 블록 230으로부터 상기 모뎀 칩 100으로의 송신 데이터를 위한 데이터 버스 DATA_S[8‥15], DATA_M[8‥15]를 서로 연결한다. 상기 3상태 버퍼 블록 240의 버퍼 b4는 상기 모뎀 칩 100으로부터 상기 SRAM 블록 230으로의 송신 데이터를 위한 데이터 버스 DATA_M[8‥15], DATA_S[8‥15]를 서로 연결한다. 상기 3상태 버퍼 블록 240의 버퍼 b5는 상기 SRAM 블록 230으로부터 상기 모뎀 칩 100으로의 송신 데이터를 위한 데이터 버스 DATA_S[0‥7], DATA_M[0‥7]을 서로 연결한다. 상기 3상태 버퍼 블록 240의 버퍼 b6은 상기 모뎀 칩 100으로부터 상기 SRAM 블록 230으로의 송신 데이터를 위한 데이터 버스 DATA_M[0‥7], DATA_S[0‥7]을 서로 연결한다. 상기 3상태 버퍼 블록 240의 버퍼 b7은 상기 NAND 플래쉬 블록 210으로부터 상기 모뎀 칩 100으로의 송신 데이터를 위한 데이터 버스 DATA_N_E[0‥7], DATA_M[0‥7]을 서로 연결한다. 상기 3상태 버퍼 블록 240의 버퍼 b8은 상기 모뎀 칩 100으로부터 상기 SRAM 블록 230으로의 송신 데이터를 위한 데이터 버스 DATA_M[0‥7], DATA_N_E[0‥7]을 서로 연결한다. 상기 3상태 버퍼 블록 240의 버퍼들 b9,b11은 직렬 접속되어 상기 데이터 버스들 DATA_N_E[0‥7]과, DATA_S[8‥15]를 서로 연결한다. 상기 3상태 버퍼 블록 240의 버퍼들 b9,b12는 직렬 접속되어 상기 데이터 버스 들 DATA_N_E[0‥7]과, DATA_S[0‥7]을 서로 연결한다. 상기 3상태 버퍼 블록 240의 버퍼 b10은 상기 데이터 버스들 DATA_N_E[0‥7]과, DATA_A[0‥7]을 서로 연결한다. The UB_M signal from the UB pin of the modem chip 100 is provided to the UB pin of the SRAM block 230 as the UB_S signal through the buffer b1 of the tri-state buffer block 240. The LB_M signal from the LB pin of the modem chip 100 is provided to the LB pin of the SRAM block 230 as the LB_S signal through the buffer b2 of the tri-state buffer block 240. The buffer b3 of the tri-state buffer block 240 connects data buses DATA_S [8.15] and DATA_M [8 ... 15] for transmission data from the SRAM block 230 to the modem chip 100. The buffer b4 of the tri-state buffer block 240 connects the data buses DATA_M [8.15] and DATA_S [8 ... 15] for transmission data from the modem chip 100 to the SRAM block 230. Buffer b5 of the tri-state buffer block 240 connects data buses DATA_S [0.7] and DATA_M [0.7] for transmission data from the SRAM block 230 to the modem chip 100. The buffer b6 of the tri-state buffer block 240 connects data buses DATA_M [0.7] and DATA_S [0.7] for transmission data from the modem chip 100 to the SRAM block 230. Buffer b7 of the tri-state buffer block 240 connects data buses DATA_N_E [0.7] and DATA_M [0.7] for transmission data from the NAND flash block 210 to the modem chip 100. Buffer b8 of the tri-state buffer block 240 connects data buses DATA_M [0.7] and DATA_N_E [0.7] for transmission data from the modem chip 100 to the SRAM block 230. The buffers b9 and b11 of the tri-state buffer block 240 are connected in series to connect the data buses DATA_N_E [0 .. 7] and DATA_S [8..15] to each other. The buffers b9 and b12 of the tri-state buffer block 240 are connected in series to connect the data buses DATA_N_E [0 .. 7] and DATA_S [0 .. 7]. Buffer b10 of the tri-state buffer block 240 connects the data buses DATA_N_E [0 .. 7] and DATA_A [0..7].

상기 버퍼들 b1∼b8은 상기 자동 전송제어 블록 220으로부터 제공되는 리셋신호 RESET_A_M에 의해 인에이블된다. 상기 버퍼 b9는 상기 자동 전송제어 블록 220으로부터 제공되는 리셋신호 RESET_A_M의 반전된 신호에 의해 인에이블된다. 상기 버퍼 b10은 상기 자동 전송제어 블록 220으로부터 제공되는 라이트 인에이블 신호 WE_A_N의 반전된 신호에 의해 인에이블된다. 상기 버퍼 b11은 상기 자동 전송제어 블록 220으로부터 제공되는 신호 UB_A의 반전된 신호에 의해 인에이블된다. 상기 버퍼 b12는 상기 자동 전송제어 블록 220으로부터 제공되는 신호 LB_A의 반전된 신호에 의해 인에이블된다. The buffers b1 to b8 are enabled by the reset signal RESET_A_M provided from the automatic transmission control block 220. The buffer b9 is enabled by an inverted signal of the reset signal RESET_A_M provided from the automatic transmission control block 220. The buffer b10 is enabled by the inverted signal of the write enable signal WE_A_N provided from the automatic transmission control block 220. The buffer b11 is enabled by the inverted signal of the signal UB_A provided from the automatic transmission control block 220. The buffer b12 is enabled by the inverted signal of the signal LB_A provided from the automatic transmission control block 220.

도 7은 도 3에 도시된 모뎀 칩 100과 MCPAD 200 사이에 제공되는 리드/라이트 인에이블 신호의 상세 구성을 보여주는 도면이다. FIG. 7 is a diagram illustrating a detailed configuration of a read / write enable signal provided between the modem chip 100 and the MCPAD 200 shown in FIG. 3.

상기 도 7을 참조하면, 모뎀 칩 100으로부터의 리드/라이트 인에이블 신호 RE_M/WE_M가 MCPAD 200의 NAND 플래쉬 블록 210, 자동 전송제어 블록 220, SRAM 블록 230으로 제공되도록 하기 위한 버퍼들 b21∼b25가 3상태 버퍼 블록 240에 구비된다. 상기 모뎀 칩 100으로부터의 리드 인에이블 신호 RE_M은 버퍼 b21을 통해 리드 인에이블 신호 RE_A_N으로서 NAND 플래쉬 블록 210과, 자동 전송제어 블록 220으로 제공된다. 상기 모뎀 칩 100으로부터의 라이트 인에이블 신호 WE_M은 버퍼 b22를 통해 라이트 인에이블 신호 WE_A_N으로서 NAND 플래쉬 블록 210과, 자동 전송제어 블록 220으로 제공된다. 상기 리드 인에이블 신호 RE_A_N은 버퍼 b23을 통 해 신호 RE_S로서 상기 SRAM 블록 230으로 제공된다. 상기 라이트 인에이블 신호 WE_A_N은 버퍼 b24를 통해 신호 WE_S로서 또는 상기 리드 인에이블 신호 RE_A_N은 버퍼 b25를 통해 신호 WE_S로서 상기 SRAM 블록 230으로 제공된다. 상기 버퍼들 b21∼b24는 상기 자동 전송제어 블록 220에 의해 발생된 리셋 신호 RESET_A_M에 의해 인에이블되고, 상기 버퍼 b25는 상기 리셋 신호 RESET_A_M의 반전된 신호에 의해 인에이블된다. 또한, 상기 리셋 신호 RESET_A_M의 반전된 신호에 의해 상기 자동 전송제어 블록 220의 제어 영역이 인에이블된다. 상기 버퍼 b23의 출력단자에는 저항(R)을 통해 전원전압단자(Vcc)가 연결된다. Referring to FIG. 7, buffers b21 to b25 for providing read / write enable signals RE_M / WE_M from the modem chip 100 to the NAND flash block 210, the automatic transmission control block 220, and the SRAM block 230 of the MCPAD 200 are provided. The tri-state buffer block 240 is provided. The read enable signal RE_M from the modem chip 100 is provided to the NAND flash block 210 and the automatic transmission control block 220 as the read enable signal RE_A_N through the buffer b21. The write enable signal WE_M from the modem chip 100 is provided to the NAND flash block 210 and the automatic transmission control block 220 as the write enable signal WE_A_N through the buffer b22. The read enable signal RE_A_N is provided to the SRAM block 230 as a signal RE_S through a buffer b23. The write enable signal WE_A_N is provided to the SRAM block 230 as a signal WE_S through a buffer b24 or the read enable signal RE_A_N as a signal WE_S through a buffer b25. The buffers b21 to b24 are enabled by the reset signal RESET_A_M generated by the automatic transmission control block 220, and the buffer b25 is enabled by the inverted signal of the reset signal RESET_A_M. In addition, the control region of the automatic transmission control block 220 is enabled by the inverted signal of the reset signal RESET_A_M. A power supply voltage terminal Vcc is connected to the output terminal of the buffer b23 through a resistor R.

전술한 바와 같은 본 발명의 실시예에 따른 메모리 장치의 동작을 도 3 내지 도 7을 참조하여 설명하면 다음과 같다. The operation of the memory device according to the embodiment of the present invention as described above will be described with reference to FIGS. 3 to 7.

초기 단말기 내부 설정을 위한 기본 코드인 벡터 테이블(Vector Table), 부트 코드(Boot Code), 로드 코드(Load Code)는 NAND 플래쉬 메모리 210에 저장된다. A vector table, a boot code, and a load code, which are basic codes for initial terminal internal configuration, are stored in the NAND flash memory 210.

단말기의 파워온 시 외부 리셋 IC 410에서 만들어 내는 리셋 신호(도 3의 RESET_A)를 MCPAD 200의 자동 전송제어 블록(ADB) 220은 리셋 단자에서 받아들인다. 그리고, NAND 플래쉬 블록 210에 있는 기본 코드 데이터(Basic Code Data)를 SRAM(UtRAM) 블록 230에 자동 데이터 전송 (Auto-Dumping, Auto-Loading)하기 전까지 모든 회로의 리셋 신호를 ADB RESET OUT 단자에서 "L"로 유지한다(도 3의 RESET_M). 이런 상태에서는 MCPAD 200을 제외한 모든 시스템은 리셋(Reset) 상태가 되어 동작을 멈춘다. 또한, ADB 220에 의해서 기본 코드의 자동 데이터 전송을 하기 위해서 MCPAD 200 내부의 3 상태 버퍼 블록 240이 동작하여 모든 시스템과 MCPAD 200과의 연결 핀들을 하이 인피던스로 연결을 끊어 놓는다. 그리고, SRAM(UtRAM) 블록 230에 기본 코드 데이터가 자동 전송이 완료되면, MCPAD 200 내부의 ADB 220은 리셋 출력(RESET OUT) 단자를 통해서 리셋 신호(도 3의 RESET_M)을 "H"로 변경한다. 이때, 모뎀 칩 100은 SRAM(UtRAM) 블록 230에 저장된 데이터를 읽어서 단말기를 초기화(Booting)한다. The reset signal (RESET_A in FIG. 3) generated by the external reset IC 410 at power-on of the terminal is received by the reset terminal of the automatic transmission control block (ADB) 220 of the MCPAD 200. The reset signal of all circuits is sent to the ADB RESET OUT terminal until the basic code data in the NAND flash block 210 is transferred to the SRAM (UtRAM) block 230 (Auto-Dumping, Auto-Loading). L "(RESET_M in FIG. 3). In this state, all systems except the MCPAD 200 are reset and stop working. In addition, the ADB 220 operates the 3-state buffer block 240 inside the MCPAD 200 to automatically transmit the basic code, thereby disconnecting the high pins from the connection pins of the system and the MCPAD 200. When the basic code data is automatically transferred to the SRAM (UtRAM) block 230, the ADB 220 inside the MCPAD 200 changes the reset signal (RESET_M in FIG. 3) to "H" through the reset output terminal. . At this time, the modem chip 100 reads the data stored in the SRAM (UtRAM) block 230 and initializes the terminal.

단말기의 초기설정이 끝나면, 모뎀 칩 100은 OS 코드와 호(Call) 소프트웨어(S/W)를 NAND 플래쉬 블록 210에서 읽어서 SRAM(Work Area) 300으로 복사하고, 모뎀 칩 100은 이후에는 SRAM 300을 엑세스하여 구동한다. 모뎀 칩 100이 NAND 플래쉬 블록 210에서 SRAM(Work Area) 300으로 데이터를 복사하는 이유는 SRAM은 랜덤 엑세스가 가능하기 때문이다. After the initial setup of the terminal, the modem chip 100 reads the OS code and call software (S / W) from the NAND flash block 210 and copies it into the SRAM (Work Area) 300. The modem chip 100 then copies the SRAM 300. Access and drive The reason why the modem chip 100 copies data from the NAND flash block 210 to the work area (SRAM) 300 is that the SRAM can be randomly accessed.

정상적인 단말기의 동작 후, 모뎀 칩 100은 랜덤 엑세스는 아니지만 각종 저장할 데이터( Graphics, E-mail, Voice-Mail, MP3-Type auto, Navigation, Game User-Disk, Still Picture, Motion Picture, Date Service)를 직접 NAND 플래쉬 블록 210에서 읽거나 쓸 수 있으며, 필요에 따라서는 SRAM(Work Area) 300으로 복사하여 랜덤 엑세스할 수 있다. After the normal operation of the terminal, the modem chip 100 is not random access, but the various data (Graphics, E-mail, Voice-Mail, MP3-Type auto, Navigation, Game User-Disk, Still Picture, Motion Picture, Date Service) It can be read or written directly to the NAND flash block 210, and can be copied to the SRAM 300 and randomly accessed as necessary.

정상적인 단말기의 동작 후, 모뎀 칩 100이 NAND 플래쉬 블록 210에 데이터를 라이트할 때 NAND 플래쉬 블록 210의 메모리 영역에 실제 쓸 데이터를 라이트(Write)한다. 이때 ECC 블록 250은 이 데이터를 입력으로 받아 ECC 블록 250의 출력 값으로 패리티 코드를 출력한다. 모뎀 칩 100은 이 출력 된 패리티 코드를 NAND 플래쉬 블록 210의 ECC 영역에 라이트해 둔다. 모뎀 칩 100이 NAND 플래쉬 블 록 210에 있는 데이터를 리드(Read)할 때 NAND 플래쉬 블록 210의 출력 데이터는 ECC 블록 250의 입력으로 제공되며, ECC 블록 250은 이 새로운 NAND 플래쉬 블록 210의 출력 데이터를 이용하여 새로운 패리티 코드를 생성한다. 모뎀 칩 100은 이 새로운 패리티 코드와 이미 NAND 플래쉬 블록 210의 해당 ECC 영역에 저장해둔 패리티 코드를 읽어서 서로 비교한다. 모뎀 칩 100은 비트 에러(Bit Error)가 있는지 검사하고, 비트 에러가 있으면 이것을 수정한다. After the normal operation of the terminal, when the modem chip 100 writes data to the NAND flash block 210, the modem chip 100 writes data to be actually written to the memory area of the NAND flash block 210. At this time, the ECC block 250 receives this data as an input and outputs a parity code as an output value of the ECC block 250. The modem chip 100 writes this output parity code to the ECC area of the NAND flash block 210. When the modem chip 100 reads the data in the NAND flash block 210, the output data of the NAND flash block 210 is provided to the input of the ECC block 250, and the ECC block 250 reads the output data of this new NAND flash block 210. To generate a new parity code. The modem chip 100 compares this new parity code with the parity code already stored in the corresponding ECC area of the NAND flash block 210. The modem chip 100 checks for a bit error and corrects it if there is a bit error.

하지만, 단말기의 초기 파워온시 MCPAD 200의 ADB 220에 의해서 NAND 플래쉬 블록 210의 1 블록에 있는 기본 코드 데이터를 SRAM(UtRAM) 블록 230으로 자동 전송할 때는 NAND 플래쉬 블록 210의 ECC 영역은 전송하지 않는다. 그 이유는 제조 회사에서 NAND 플래쉬 메모리의 1 블록은 에러를 정정해 주지 않아도 되는 영역으로 명시한 영역이기 때문이다. 전술한 바와 같이 NAND 플래쉬 블록의 기본 코드가 들어있는 1 블록은 32 페이지(Page)로 구성되어 있고, 상기 1 블록은 16Kbyte의 메모리 영역과 512 Byte의 에러정정 영역으로 구성되어 있다. 이때 1 Page는 512 Byte의 메모리 영역과 16 Byte의 에러정정 영역(ECC Area)으로 구성되어 있다. 그리고 제조상 NAND 플래쉬 메모리의 1 블록은 에러를 정정해 주지 않아도 되는 영역이다. However, the ECC region of the NAND flash block 210 is not transmitted when the basic code data in one block of the NAND flash block 210 is automatically transmitted to the SRAM (UtRAM) block 230 by the ADB 220 of the MCPAD 200 when the terminal is initially powered on. This is because one block of NAND flash memory is designated by the manufacturing company as an area in which an error does not need to be corrected. As described above, one block containing the basic code of the NAND flash block is composed of 32 pages, and the one block is composed of a memory area of 16 Kbytes and an error correction area of 512 bytes. At this time, 1 Page is composed of 512 Byte Memory Area and 16 Byte Error Correction Area (ECC Area). And one block of NAND flash memory in manufacturing is an area which does not need to correct an error.

전술한 바와 같은 본 발명의 실시예에 따른 메모리 장치에서의 메모리 제어 동작을 도 8a 내지 도 8c를 참조하여 단계별로 설명하면 다음과 같다. A memory control operation in the memory device according to the embodiment of the present invention as described above will be described below with reference to FIGS. 8A to 8C.

(도 8a의 500단계) 단말기를 초기 파워온한다. (Step 500 of FIG. 8A) Initially power on the terminal.

(501단계) 도 3의 외부 리셋 IC 410은 RESET_A를 인에이블한다. 외부 발진기 420은 클럭을 발진한다. The external reset IC 410 of FIG. 3 enables RESET_A. The external oscillator 420 oscillates the clock.

(502단계) 기본 코드를 모두 SRAM 블록 230으로 자동 데이터 전송하기 전까지 ADB 220은 RESET OUT단자에서 RESET_A_M 신호를 인에이블시킨다. The ADB 220 enables the RESET_A_M signal at the RESET OUT terminal until all basic codes are automatically transferred to the SRAM block 230 (step 502).

(503단계) RESET_A_M 신호를 확인한다. (Step 503) Check the RESET_A_M signal.

(504단계) RESET_A_M 신호가 "H"이면, ADB 220의 모든 핀이 하이임피던스('Z' or Hi-Impedance) 상태가 되어 연결이 플로우팅(FLOATING)된다. 3 상태 버퍼 블록 240의 어떤 버퍼들은 동작하고, 어떤 버퍼들은 하이 임피던스 상태가 되어, 모뎀 칩 100과 MCPAD 200의 내부 SRAM/NAND FLASH/ECC 블럭을 연결시켜준다. ADB 220은 플로우팅된다. 모뎀 칩 100은 리셋 상태에서 해제되어 정상 동작을 수행한다. 이에 따라 모뎀 칩 100은 SRAM 블록 230에 있는 기본 코드를 수행한다. If the RESET_A_M signal is "H", all pins of the ADB 220 are in the high impedance ('Z' or Hi-Impedance) state and the connection is floated. Some buffers in the tri-state buffer block 240 operate, and some buffers become high impedance, connecting the modem chip 100 and the internal SRAM / NAND FLASH / ECC blocks of the MCPAD 200. ADB 220 is floating. The modem chip 100 is released from the reset state to perform normal operation. The modem chip 100 thus executes the basic code in the SRAM block 230.

(505단계) RESET_A_M 신호가 "L"이면, ADB 220의 모든 핀은 인에이블된다. 3상태 버퍼 블록 240의 어떤 버퍼들은 동작하고, 어떤 버퍼들은 하이 임피던스 상태가 되어, 모뎀 칩 100과 MCPAD 200을 플로우팅시켜준다. MCPAD 200의 ADB 220과 SRAM/NAND FLASH/ECC 블록들을 연결시켜준다. 이에 따라 모뎀 칩 100은 리셋 상태가 되어 동작이 정지된다. If the RESET_A_M signal is "L", all pins of the ADB 220 are enabled. Some buffers in the tri-state buffer block 240 operate, and some buffers become high impedance, floating the modem chip 100 and the MCPAD 200. It connects ADB 220 of MCPAD 200 and SRAM / NAND FLASH / ECC blocks. As a result, the modem chip 100 enters a reset state and stops its operation.

(506단계) 어드레스를 생성하기 위한 변수값을 지정한다. 즉, ADD ←(00H), PAGE_COUNT ←(00H)으로 지정한다. (Step 506) Specify a variable value for generating an address. That is, it is designated as ADD ← (00H) and PAGE_COUNT ← (00H).

(507단계) ADB 220은 NAND 플래쉬 메모리 블록 210을 사용하기 위해서 ROM2_CS_A_N 신호를 인에이블시킨다. 즉, NAND 플래쉬 메모리 블록 210에 데이터를 쓰기 위해 먼저 NAND 플래쉬 칩 선택 신호를 인에이블시킨다. The ADB 220 enables the ROM2_CS_A_N signal to use the NAND flash memory block 210 (step 507). That is, to write data to the NAND flash memory block 210, the NAND flash chip select signal is first enabled.

(도 8b의 521단계) ADB 220은 NAND 플래쉬 메모리 블록 210에 라이트하겠다는 명령어를 주기 위해 CLE_A_N(Command Latch Enable_Auto-dump_Nand-flash)을 인에이블시킨다. 명령어를 내리기전에 WE_A_N을 인에이블시킨다. NAND 플래쉬 메모리 데이터 라인에 리드하라는 명령어 (00H)를 쓴다. (DATA_N_E[0..7]←(00H)) 명령어를 내린후, CLE_A_N & WE_A_N을 디스에이블시킨다. 어드레스 값을 주기 위해 ALE_A_N(Address Latch Enable Auto-dump_Nand-Flash)을 인에이블시킨다. The ADB 220 enables CLE_A_N (Command Latch Enable_Auto-dump_Nand-flash) to give a command to write to the NAND flash memory block 210 (step 521 of FIG. 8B). Enable WE_A_N before issuing the command. Write a command (00H) to read into the NAND flash memory data line. After giving (DATA_N_E [0..7] ← (00H)) command, disable CLE_A_N & WE_A_N. Enable ALE_A_N (Address Latch Enable Auto-dump_Nand-Flash) to give an address value.

(522∼527단계) NAND 플래쉬 메모리 블록 210의 어드레스 지정을 위한 생성을 한다. AX ←(ADD+PAGE_COUNT)은 다음과 같이 3개의 바이트로 구성된다. Low Byte[0..7] = AL(Add Low), Middle Byte[8..15] = AM(Add Mid), High Byte[16..23] = AH(Add Hi). 먼저 AX의 AL, AM, AH 순으로 3번에 걸쳐서 DATA_N_E[0..7]에 데이터를 전송한다. (Steps 522 to 527) The NAND flash memory block 210 is generated for addressing. AX ← (ADD + PAGE_COUNT) consists of 3 bytes as follows: Low Byte [0..7] = AL (Add Low), Middle Byte [8..15] = AM (Add Mid), High Byte [16..23] = AH (Add Hi). First, data is transmitted to DATA_N_E [0..7] three times in the order of AL, AM, and AH of AX.

(528단계) 어드레스 지정이 끝나면 ALE_A_N을 디스에이블시킨다. In step 528, when addressing is completed, ALE_A_N is disabled.

(529단계) NAND 플래쉬 메모리 블록 210이 비지(Busy) 상태인지 레디(Ready) 상태인지를 검사한다. 레디 상태인 경우에 이후 단계의 동작을 수행한다. In operation 529, it is checked whether the NAND flash memory block 210 is busy or ready. In the case of ready state, the operation of the next step is performed.

(530단계) SRAM 블록 230의 어드레스를 만들기 위해서ADD_COUNT←(00H)로 한다. In step 530, the address of the SRAM block 230 is set to ADD_COUNT ← (00H).

(도 8c의 541단계) ADB 220은 SRAM 블록 230을 사용하기 위해서 ROM1_CS_A_N 신호를 인에이블시킨다. 즉, ADB 220은 SRAM 블록 230에 데이터를 자동 전송하기 위해서 SRAM 칩 선택(Chip Select)을 인에이블시킨다. The ADB 220 enables the ROM1_CS_A_N signal to use the SRAM block 230 (step 541 of FIG. 8C). That is, the ADB 220 enables SRAM chip select in order to automatically transfer data to the SRAM block 230.                     

(542∼544단계) SRAM 블록 230의 어드레스 지정을 위한 생성을 한다. ADD_COUNT가 짝수인지를 확인한다. 이때 짝수이면 LB_A를 인에이블시키고(543단계), 홀수이면 UB_A를 인에이블시킨다(544단계). (Steps 542 to 544) Generation for addressing of the SRAM block 230 is performed. Check if ADD_COUNT is even. At this time, if even, LB_A is enabled (step 543). If it is odd, UB_A is enabled (step 544).

(545단계) SRAM 블록 230의 어드레스를 다음과 같이 지정을 한다. ADD_A_S[1..12]←ADD+ADD_COUNT+PAGE_COUNT NAND 플래쉬 메모리 블록 210의 데이터를 읽기 위해서 RE_A_N을 인에이블시킨다. SRAM 블록 230에 데이터를 쓰기 위해서 WE_S를 인에이블한다. 즉, NAND 플래쉬 메모리 블록 210의 데이터를 읽어서 SRAM 블록 230에 쓰기 위해서, 도 7의 모뎀 칩 100이 RE_M 신호를 생성하면 버퍼블록 240에 의해서 NAND 플래쉬 메모리 블록 210에서는 RE_A_N 신호가 인가된다. 이와 함께 데이터를 3상태 버퍼블록 240의 데이터 버스에 올려놓는다. 그러면, 모뎀 칩100에 의해 생성된 RE_M신호는 SRAM 블록 230에는 WE_S신호로서 제공되기 때문에, 3상태 버퍼 블록 240의 데이터 버스의 데이터는 바로 SRAM 블록 230에 저장되게 된다. SRAM 블록 230에 데이터를 저장한 후, LB_A, UB_A, RE_A_N, WE_S들은 디스에이블한다. (Step 545) The address of the SRAM block 230 is designated as follows. ADD_A_S [1..12] ← ADD + ADD_COUNT + PAGE_COUNT Enables RE_A_N to read the data of the NAND flash memory block 210. Enable WE_S to write data to the SRAM block 230. That is, in order to read the data of the NAND flash memory block 210 and write it to the SRAM block 230, when the modem chip 100 of FIG. 7 generates the RE_M signal, the buffer block 240 applies the RE_A_N signal to the NAND flash memory block 210. At the same time, the data is put on the data bus of the tri-state buffer block 240. Then, since the RE_M signal generated by the modem chip 100 is provided to the SRAM block 230 as the WE_S signal, the data of the data bus of the tri-state buffer block 240 is immediately stored in the SRAM block 230. After storing data in the SRAM block 230, LB_A, UB_A, RE_A_N, WE_S are disabled.

(546단계) 상기 545단계를 수행한 이후에는 ADD_COUNT ←ADD_COUNT+1로 한다. After performing step 545, the method adds ADD_COUNT ← ADD_COUNT + 1.

(547단계) ADD_COUNT가 512보다 적으면, 542단계로 되돌아가 상기한 동작을 반복 수행한다. 이러한 반복 처리 동작은 NAND 플래쉬 메모리 블록 210의 1페이지(512Byte)를 SRAM 블록에 저장하기 위함이다. If ADD_COUNT is less than 512, the process returns to step 542 and the above operation is repeated. This iterative processing operation is for storing one page (512 bytes) of the NAND flash memory block 210 in the SRAM block.

(548단계) 상기 547단계에서 ADD_COUNT가 512보다 적지 않으면, PAGE_COUNT ← PAGE_COUNT+512로 한다. In step 548, if ADD_COUNT is not less than 512 in step 547, PAGE_COUNT ← PAGE_COUNT + 512.

(549단계) PAGE_COUNT가 512*32보다 적으면, 도 8b의 521단계로 되돌아가 상기한 동작을 반복 수행한다. 이러한 반복 처리 동작은 NAND 플래쉬 메모리 블록 210의 32페이지(512Byte*32Page)를 SRAM 블록에 저장하기 위함이다. If PAGE_COUNT is less than 512 * 32 (step 549), the process returns to step 521 of FIG. 8B and repeats the above operation. This iterative processing operation is for storing 32 pages (512 bytes * 32 pages) of the NAND flash memory block 210 in the SRAM block.

(550단계) 상기 549단계에서 PAGE_COUNT가 512*32보자 적지 않으면, RESET_A_M 신호를 "H"로 변경한다. 상기 550단계를 수행한 이후에는 503단계로 되돌아간다. In step 550, if PAGE_COUNT is less than 512 * 32, the RESET_A_M signal is changed to "H". After performing step 550, the process returns to step 503.

한편 본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시 예에 관해 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함은 물론이다. 그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시 예에 국한되어 정해져서는 안되며 후술하는 특허청구의 범위뿐만 아니라 이 특허청구의 범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
Meanwhile, in the detailed description of the present invention, specific embodiments have been described, but various modifications are possible without departing from the scope of the present invention. Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the described embodiments, but should be determined not only by the scope of the following claims, but also by the equivalents of the claims.

상술한 바와 같이 본 발명은 가격과 용량, 공급과 구매에 부담이 되는 NOR 플래쉬 메모리를 대신하여 고용량이며 낮은 가격이 가능한 NAND 플래쉬 메모리를 차기 이동 통신 단말기의 메모리로 대체할 수 있도록 인터페이스(Interface)시킬 수 있는 장치를 ASIC 칩으로 구현함으로써 단말기의 가격 하락은 물론 성능을 개선을 할 수 있는 이점이 다. As described above, the present invention can interface with the memory of the next mobile communication terminal to replace the high capacity and low price NAND flash memory with the memory of the next mobile communication terminal instead of the NOR flash memory that is burdened with price, capacity, supply and purchase. Implementing the device as an ASIC chip can reduce the price of the terminal and improve the performance.

Claims (8)

이동 통신단말기에 사용하기 위한 메모리 장치에 있어서, A memory device for use in a mobile communication terminal, 상기 단말기의 초기 설정을 위한 기본 코드 데이터와, 상기 단말기의 동작을 위한 구동 소프트웨어 데이터를 저장하고 있으며, 상기 단말기에서 서비스를 위해 송수신되는 서비스 데이터를 저장하기 위한 낸드형 플래쉬 메모리와, A NAND type flash memory for storing basic code data for initial setting of the terminal, driving software data for operation of the terminal, and storing service data transmitted and received for service in the terminal; 랜덤 엑세스가 가능하며 상기 단말기의 초기 설정시 상기 낸드형 플래쉬 메모리로부터 전송될 상기 기본 코드 데이터를 저장하기 위한 제1 메모리와, A first memory capable of random access and storing the basic code data to be transmitted from the NAND flash memory upon initial setting of the terminal; 랜덤 엑세스가 가능하며 상기 단말기의 초기 설정 완료시 상기 낸드형 플래쉬 메모리로부터 복사될 상기 구동 소프트웨어 데이터를 저장하기 위한 제2 메모리와, A second memory capable of random access and storing the driving software data to be copied from the NAND flash memory upon completion of initial setting of the terminal; 상기 단말기의 파워온시 상기 낸드형 플래쉬 메모리에 저장된 상기 기본 코드 데이터를 상기 제1 메모리로 자동 전송시키는 전송제어 블록과, A transmission control block for automatically transmitting the basic code data stored in the NAND flash memory to the first memory when the terminal is powered on; 상기 단말기의 초기 설정시 상기 제1 메모리로부터 상기 기본 코드 데이터를 리드하여 상기 단말기를 초기화하고, 상기 단말기의 초기 설정이 완료된 이후에 상기 낸드형 플래쉬 메모리로부터 상기 구동 소프트웨어 데이터를 복사하여 상기 제2 메모리에 저장하고 상기 제2 메모리에 저장된 상기 구동 소프트웨어 데이터를 랜덤 엑세스하여 상기 단말기를 구동하고, 상기 단말기의 구동 이후에 상기 단말기에 송수신되는 서비스 데이터를 상기 낸드형 플래쉬 메모리에 리드 및 라이트하는 제어부를 포함함을 특징으로 하는 메모리 장치. Initialize the terminal by reading the basic code data from the first memory at the initial setting of the terminal, copy the driving software data from the NAND flash memory after the initial setting of the terminal is completed, and the second memory. And a control unit configured to drive the terminal by randomly accessing the driving software data stored in the second memory and to read and write service data transmitted and received to and from the terminal after the terminal is driven. And a memory device. 제1항에 있어서, 상기 제어부와 상기 낸드형 플래쉬 메모리의 사이에 접속되고, 상기 제어부와 상기 낸드형 플래쉬 메모리 사이의 리드 및 라이트되는 데이터들에 대해 에러정정을 행하는 에러정정 블록을 더 포함함을 특징으로 하는 메모리 장치. 2. The apparatus of claim 1, further comprising an error correction block connected between the control unit and the NAND flash memory and performing error correction on data read and written between the control unit and the NAND flash memory. Characterized in that the memory device. 제1항에 있어서, 상기 낸드 플래쉬 메모리와 상기 전송제어 블록과 상기 제1 메모리를 연결하는 제1 경로와, 상기 제2 메모리와 상기 제어부를 연결하는 제2 경로의 사이에 접속되고, 상기 단말기의 파워온시 상기 제1 경로와 상기 제2 경로의 사이를 개방시키고, 상기 단말기의 초기 설정이 완료된 이후에 상기 제1 경로와 상기 제2 경로의 사이를 연결시키는 버퍼 블록을 더 포함함을 특징으로 하는 메모리 장치. The terminal of claim 1, further comprising: a first path connecting the NAND flash memory, the transmission control block, and the first memory; and a second path connecting the second memory and the control unit. And a buffer block opening between the first path and the second path at power-on and connecting the first path and the second path after the initial setting of the terminal is completed. Memory device. 제3항에 있어서, 상기 버퍼 블록은 상기 단말기의 파워온시 하이임피던스 상태로 되어 상기 제1 경로와 상기 제2 경로의 사이를 개방시키는 적어도 하나 이상의 3상태 버퍼들을 포함함을 특징으로 하는 메모리 장치. 4. The memory device of claim 3, wherein the buffer block includes at least one tri-state buffer configured to enter a high impedance state when the terminal is powered on to open a space between the first path and the second path. . 제1항에 있어서, 상기 낸드 플래쉬 메모리와, 상기 전송제어 블록과, 상기 제1 메모리는 원칩으로 일체화 구성됨을 특징으로 하는 메모리 장치. The memory device of claim 1, wherein the NAND flash memory, the transmission control block, and the first memory are integrated into one chip. 낸드형 플래쉬 메모리와, 랜덤 엑세스가 가능한 제1 메모리 및 제2 메모리를 포함하는 메모리 장치를 구비하는 이동 통신단말기에서의 메모리 제어 방법에 있어서, A memory control method in a mobile communication terminal having a NAND type flash memory and a memory device including a randomly accessible first memory and a second memory, 상기 단말기의 파워온시 상기 낸드형 플래쉬 메모리에 상기 단말기의 초기 설정을 위해 저장된 기본 코드 데이터를 상기 제1 메모리로 자동 전송시키는 과정과, Automatically transmitting basic code data stored in the NAND flash memory for the initial setting of the terminal to the first memory when the terminal is powered on; 상기 단말기의 초기 설정시 상기 제1 메모리로부터 상기 기본 코드 데이터를 리드하여 상기 단말기를 초기화하는 과정과, Initializing the terminal by reading the basic code data from the first memory upon initial setting of the terminal; 상기 단말기의 초기 설정이 완료된 이후에 상기 단말기의 동작을 위해 저장된 구동 소프트웨어 데이터를 상기 낸드형 플래쉬 메모리로부터 복사하여 상기 제2 메모리에 저장하고 상기 제2 메모리에 저장된 상기 구동 소프트웨어 데이터를 랜덤 엑세스하여 상기 단말기를 구동하는 과정과, After the initial setting of the terminal is completed, the driving software data stored for the operation of the terminal is copied from the NAND flash memory and stored in the second memory, and the driving software data stored in the second memory is randomly accessed for the operation. Driving the terminal; 상기 단말기의 구동 이후에 상기 단말기에 송수신되는 서비스 데이터를 상기 낸드형 플래쉬 메모리에 리드 및 라이트하는 과정을 포함함을 특징으로 하는 메모리 제어 방법. And reading and writing the service data transmitted to and received from the terminal to the NAND flash memory after the terminal is driven. 제6항에 있어서, 상기 제어부와 상기 낸드형 플래쉬 메모리 사이의 리드 및 라이트되는 데이터들에 대해 에러정정을 행하는 과정을 더 포함함을 특징으로 하는 메모리 제어 방법. The method of claim 6, further comprising performing error correction on data read and written between the controller and the NAND flash memory. 제6항에 있어서, 상기 단말기의 파워온시 상기 낸드 플래쉬 메모리와 상기 전송제어 블록과 상기 제1 메모리를 연결하는 제1 경로와, 상기 제2 메모리와 상기 제어부를 연결하는 제2 경로의 사이를 개방시키고, 상기 단말기의 초기 설정이 완료된 이후에 상기 제1 경로와 상기 제2 경로의 사이를 연결시키는 과정을 더 포함함을 특징으로 하는 메모리 제어 방법. The method of claim 6, wherein a first path connecting the NAND flash memory, the transmission control block, and the first memory when the terminal is powered on, and a second path connecting the second memory and the controller, respectively. And opening the connection between the first path and the second path after the initial setting of the terminal is completed.
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