KR100800707B1 - Belt conveyor type atmospheric pressure chemical vapor deposition apparatus - Google Patents

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Abstract

본 발명은 벨트컨베이어(belt conveyor)형 상압화학기상증착(APCVD ; Atmospheric Pressure Chemical Vapor Deposition) 장비에 관한 것이다. The present invention relates to a belt conveyor type Atmospheric Pressure Chemical Vapor Deposition (APCVD) equipment.

본 발명은, 웨이퍼(W)를 연속적으로 이송하면서 증착이 실시되도록 하는 순환벨트(22)에 대해 식각가스를 분사하여 상기 순환벨트(22)상의 오염물질을 제거하게 되는 플리넘 플레이트를 구비하는 벨트컨베이어형 상압화학기상증착 장비에 있어서, 상기 플리넘 플레이트(300)는, 잔류 식각가스 및 식각에 따라 발생되는 부산물과 같은 오염물질을 흡입하여 제거하기 위한 배기수단을 구비하는 것을 특징으로 한다. The present invention is a belt having a plenum plate to remove the contaminants on the circulation belt 22 by spraying the etching gas to the circulation belt 22 to be carried out while continuously transporting the wafer (W). In the conveyor type atmospheric vapor deposition equipment, the plenum plate 300 is characterized in that it comprises an exhaust means for sucking and removing contaminants such as residual etching gas and by-products generated by the etching.

또한, 웨이퍼(W)를 이송하면서 증착이 실시되도록 하는 순환벨트(22)에 대해 식각가스를 분사하는 플리넘 플레이트(30)의 배기포트(40)에 접속되는 분기배기관들과 공장내의 메인배기관을 중간에서 연결하게 되는 배기용 매니폴드를 구비하는 벨트컨베이어형 상압화학기상증착 장비에 있어서, 상기 배기용 매니폴드(500)는, 상기 분기배기관들이 접속되는 유입측 접속포트들(504)이 구비되는 측이 높은 위치에 위치되고 상기 메인배기관이 접속되는 유출측 접속포트(506)가 구비되는 측이 낮은 위치에 위치되도록 경사지게 형성되는 튜브형 본체(502)를 구비하는 것을 특징으로 한다. In addition, the branch exhaust pipes connected to the exhaust port 40 of the plenum plate 30 for injecting the etching gas to the circulation belt 22 for transporting the wafer W and the main exhaust pipe in the factory are installed. In the belt conveyor type atmospheric chemical vapor deposition apparatus having an exhaust manifold connected in the middle, the exhaust manifold 500 is provided with inlet connection ports 504 to which the branch exhaust pipes are connected. Characterized in that the tubular body 502 is formed to be inclined so that the side is located in a high position and the side on which the outlet side connection port 506 to which the main exhaust pipe is connected is located in a low position.

따라서, 순환벨트에 대한 식각시 발생되는 각종 오염물질을 보다 원활히 배기하여 제거시킬 수 있게 되므로, 오염물질에 의한 웨이퍼 불량 발생을 방지하여 생산수율이 향상되도록 하면서, 배기용 매니폴드에서 오염물질이 내부에 정체됨 없이 보다 원활히 통과하여 배출될 수 있게 되므로, 생산 중단이 방지되어 생산성이 향상되도록 하는 등의 다대한 효과가 있다. Therefore, since various pollutants generated during etching on the circulation belt can be exhausted and removed more smoothly, the pollutants inside the exhaust manifold can be improved while preventing wafer defects caused by the pollutants. Since it can be discharged through more smoothly without stagnation, there is a great effect, such as preventing production interruption and improving productivity.

벨트, 컨베이어, 상압화학기상증착, APCVD, 플리넘, 불산, 식각, 배기, 매니폴드 Belt, Conveyor, Atmospheric Chemical Vapor Deposition, APCVD, Plenum, Foshan, Etch, Exhaust, Manifold

Description

벨트컨베이어형 상압화학기상증착 장비{BELT CONVEYOR TYPE ATMOSPHERIC PRESSURE CHEMICAL VAPOR DEPOSITION APPARATUS}Belt conveyor type atmospheric chemical vapor deposition equipment {BELT CONVEYOR TYPE ATMOSPHERIC PRESSURE CHEMICAL VAPOR DEPOSITION APPARATUS}

도 1은 종래의 벨트컨베이어형 APCVD 장비의 구성을 보여주는 개략도, 1 is a schematic view showing the configuration of a conventional belt conveyor type APCVD equipment,

도 2는 종래의 벨트컨베이어형 APCVD 장비에서의 플리넘 플레이트를 보여주는 개략 평면도, 2 is a schematic plan view showing a plenum plate in a conventional belt conveyor type APCVD equipment;

도 3은 종래의 벨트컨베이어형 APCVD 장비에서의 배기용 매니폴드를 보여주는 개략 단면도, 3 is a schematic cross-sectional view showing an exhaust manifold in a conventional belt conveyor type APCVD equipment;

도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 벨트컨베이어형 APCVD 장비에서의 플리넘 플레이트를 보여주는 개략도, 4 is a schematic view showing a plenum plate in a belt conveyor type APCVD apparatus according to a preferred embodiment of the present invention;

도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 벨트컨베이어형 APCVD 장비에서의 배기용 매니폴드를 보여주는 개략 단면도이다. 5 is a schematic cross-sectional view showing an exhaust manifold in a belt conveyor type APCVD apparatus according to a preferred embodiment of the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

10 : 머플 12 : 인젝터10: muffle 12: injector

22 : 순환벨트 22-u : 상부측 벨트22: end belt 22-u: upper side belt

22-d : 하부측 벨트 30 : 플리넘 플레이트22-d: lower side belt 30: plenum plate

30a : 분사홀 31 : 고정판30a: injection hole 31: fixed plate

40 : 배기포트 50 : 배기용 매니폴드40: exhaust port 50: exhaust manifold

52 : 튜브형 본체 54 : 유입측 접속포트52: tubular body 54: inlet connection port

56 : 유출측 접속포트 300 : 플리넘 플레이트56 outlet port 300 plenum plate

302 : 분사면적부 302a : 분사홀302: injection area 302a: injection hole

302b : 배기구 304 : 배기면적부302b: exhaust port 304: exhaust area

304b : 2차 배기구 500 : 배기용 매니폴드304b: secondary exhaust port 500: exhaust manifold

502 : 튜브형 본체 502a : 여과필터502: tubular body 502a: filtration filter

502b : 인출도어 504 : 유입측 접속포트502b: drawout door 504: inflow connection port

506 : 유출측 접속포트 W : 웨이퍼 506 outlet side connection port W wafer

본 발명은 벨트컨베이어(belt conveyor)형 상압화학기상증착(APCVD ; Atmospheric Pressure Chemical Vapor Deposition) 장비에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 발생되는 각종 오염물질을 보다 원활히 배기시킬 수 있어 오염물질에 의한 웨이퍼의 불량 발생을 방지할 수 있는 벨트컨베이어형 상압화학기상증착 장비에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a belt conveyor type Atmospheric Pressure Chemical Vapor Deposition (APCVD) equipment, and more particularly, to smoothly exhaust various contaminants generated. It relates to a belt conveyor type atmospheric pressure chemical vapor deposition equipment that can prevent the occurrence of defects.

일반적으로, 반도체 소자는 수많은 단위공정을 거쳐 제조되게 되며, 그 단위공정중에는 반응가스와 웨이퍼(wafer) 표면을 서로 화학반응시켜 웨이퍼상에 소정의 박막을 형성시키게 되는 화학기상증착(Chemical Vapor Deposition ; 이하, "CVD"라 함) 공정이 있으며, 이러한 CVD공정을 수행하게 되는 CVD장비중에는 그 반 응챔버의 압력이 상압하로 유지되는 상태에서 화학반응이 진행되게 되는 상압화학기상증착(Atmospheric Pressure CVD ; 이하, "APCVD"라 함) 장비가 있다. In general, a semiconductor device is manufactured through a number of unit processes, and during the unit process, chemical vapor deposition (Chemical Vapor Deposition) which forms a predetermined thin film on a wafer by chemically reacting a reaction gas and a wafer surface with each other; Hereinafter, there is a process called "CVD", and among the CVD equipment which performs the CVD process, an atmospheric pressure chemical vapor deposition (Atmospheric Pressure Vapor Deposition) in which a chemical reaction proceeds while the reaction chamber pressure is maintained at normal pressure; Hereinafter referred to as "APCVD" equipment.

그리고, APCVD 장비중에는 순환하는 벨트(belt)상에 웨이퍼를 안착하여 이송시키면서 연속적으로 웨이퍼상에 박막을 증착시키게 되는 벨트컨베이어(belt conveyor)형 APCVD 장비가 있다. Among the APCVD equipment, there is a belt conveyor type APCVD equipment which deposits a thin film on the wafer continuously while seating and transferring the wafer on a circulating belt.

도 1은 종래의 벨트컨베이어형 APCVD 장비의 구성을 보여주는 개략도이다. 1 is a schematic view showing the configuration of a conventional belt conveyor type APCVD equipment.

벨트컨베이어형 APCVD 장비는, 웨이퍼(W)를 안착하여 이송시키기 위해 순환되도록 구비되는 순환벨트(22)와, 이 순환벨트(22)의 상부측 벨트(22-u)에 대한 상부측에 구비되어 상부측 벨트(22-u)상에 안착되어 이송되는 웨이퍼(W)에 대해 증착을 위한 반응가스를 분사하게 되는 인젝터(injector)(12)를 포함하는 머플(muffle)(10)과, 순환벨트(22)의 하부측 벨트(22-d)에 대한 하부측에 구비되어 하부측 벨트(22-d)에 대해 버블(bubble)상태의 식각가스를 분사하여 하부측 벨트(22-d)상에 묻어 있는 오염물질이 식각되어 세정되도록 하게 되는 플리넘 플레이트(plenum plate)(30)로 구성되게 된다. The belt conveyor type APCVD apparatus is provided on the circulation belt 22 which is provided to be circulated so as to seat and transport the wafer W, and on the upper side of the belt 22-u of the upper side of the circulation belt 22. A muffle 10 including an injector 12 for injecting a reaction gas for deposition onto a wafer W transported on the upper belt 22-u and a circulation belt. It is provided at the lower side with respect to the lower side belt 22-d of (22), and sprays etching gas in a bubble state with respect to the lower side belt 22-d, and is put on the lower side belt 22-d. It is composed of a plenum plate (30) to be buried contaminants are etched and cleaned.

그 작용은, 웨이퍼(W)가 순환벨트(22)의 상부측 벨트(22-u)상에 안착된 상태로 머플(10)측을 지나가게 되며, 이때 웨이퍼(W)는 가열되게 되고 머플(10)의 인젝터(12)로부터는 반응가스가 분사되어 해당 반응가스와 가열된 웨이퍼(W) 표면이 서로 화학반응을 일으켜 해당 웨이퍼(W)의 표면상에 소정 박막이 증착되게 되며, 증착이 완료된 웨이퍼(W)는 상부측 벨트(22-u)로부터 언로딩되게 된다. The action is that the wafer W passes over the muffle 10 side with the wafer W seated on the upper belt 22-u of the circulation belt 22, where the wafer W is heated and the muffle ( Reaction gas is injected from the injector 12 of 10) and the reaction gas and the surface of the heated wafer W are chemically reacted with each other to deposit a predetermined thin film on the surface of the wafer W. The wafer W is to be unloaded from the upper side belt 22-u.

그러나, 머플(10)에서의 박막 증착 과정에서는 웨이퍼(W) 뿐만 아니라 순환 벨트(22)상에도 증착이 이루어지게 되며, 따라서 순환벨트(22)상에 증착된 오염물질을 제거하기 위해 웨이퍼(W)를 언로딩한 후 하부측으로 이동되어 오는 하부측 벨트(22-d)에 대해서 하부측의 플리넘 플레이트(30)로부터 식각가스가 분사되어 해당 벨트(22-d)상의 오염물질이 식각되어 제거되도록 하게 된다. However, in the thin film deposition process in the muffle 10, the deposition is performed not only on the wafer W but also on the circulation belt 22. Thus, the wafer W is removed to remove contaminants deposited on the circulation belt 22. Etch gas is injected from the plenum plate 30 on the lower side to the lower side belt 22-d which is moved to the lower side after unloading), and contaminants on the belt 22-d are etched and removed. Will be done.

여기서, 통상 플리넘 플레이트(30)는 별도의 고정판(31)에 고정되는 방식으로 서로 이격되도록 하나 이상 구비되게 된다. Here, the plenum plate 30 is usually provided with one or more to be spaced apart from each other in a manner fixed to a separate fixing plate (31).

도 2의 평면도를 참조하면, 각 플리넘 플레이트(30)의 상면상에는 전반적으로 다수개의 분사홀(30a)이 형성되어 있어, 이 분사홀들(30a)로부터 버블상태의 식각가스가 분사되게 되며, 이때 식각가스로는 주로 불산(HF)가스가 이용되고 있다. Referring to the plan view of FIG. 2, a plurality of injection holes 30a are generally formed on the upper surface of each plenum plate 30, and bubble etching gas is injected from the injection holes 30a. At this time, hydrofluoric acid (HF) gas is mainly used as an etching gas.

또한, 플리넘 플레이트(30)의 상부측에는 분사되어 식각에 사용된 후 일부 남게 되는 잔류 식각가스 및 식각에 따라 발생되는 부산물과 같은 각종 오염물질을 흡입하여 배기시키기 위한 배기포트(port)(40)가 구비되게 된다. In addition, an exhaust port 40 for sucking and exhausting various contaminants such as residual etching gas and by-products generated by the etching, which is partially sprayed on the upper side of the plenum plate 30 and used for etching. Will be provided.

그러나, 작용시 플리넘 플레이트(30)의 분사홀들(30a)로부터 분사된 식각가스중의 일부는 낙하되어 하부측의 플리넘 플레이트(30)상에 떨어져 액체상태로 존재하게 되며, 따라서 해당 액체상태의 식각용액이 플리넘 플레이트(30)상의 분사홀들(30a)을 일부 막게 됨으로써, 이후 해당 분사홀들(30a)을 통해 식각가스가 원활히 분사되지 못하도록 만들어 하부측 벨트(22-d)에 대한 안정적인 식각이 실시될 수 없도록 하게 된다. However, during the operation, some of the etching gas injected from the injection holes 30a of the plenum plate 30 falls and falls on the plenum plate 30 on the lower side to exist in the liquid state. The etching solution in the state blocks some of the injection holes 30a on the plenum plate 30, thereby preventing the etching gas from being smoothly injected through the corresponding injection holes 30a to the lower side belt 22-d. The stable etching can not be performed.

이와 같이, 안정적인 식각이 실시되지 못하게 되면, 결국 오염물질이 잔류된 채로 벨트(22-d)가 다시 머플(10)측으로 이송되어, 다음 웨이퍼(W)에 대해 파티 클(particle)성 불량이 발생되도록 함과 아울러, 웨이퍼(W)에 대한 박막 균일성(uniformity)도 확보되지 못하도록 하여, 생산수율을 저하시키게 됨은 물론, 머플(10) 내부도 오염시키게 된다. In this way, when a stable etching is not performed, the belt 22-d is transferred to the muffle 10 again with contaminants remaining, causing particle defects for the next wafer W. In addition, the film uniformity of the wafer W may not be secured, thereby lowering the production yield and contaminating the inside of the muffle 10.

그리고, 전술한 바와 같이 플리넘 플레이트(30) 근방에 구비되어 있는 배기포트(40)를 통해 오염물질을 배기시키고는 있으나, 그 성능이 다소 미비하여, 이 측면에 있어서도 더욱 오염물질이 잔류되게 됨으로써, 이상과 같은 문제를 더욱 심화시키고 있는 실정이다. As described above, the pollutant is exhausted through the exhaust port 40 provided in the vicinity of the plenum plate 30, but its performance is rather inferior, and contaminants remain in this aspect. In other words, the situation is intensifying.

한편, 전술한 플리넘 플레이트(30)측의 배기포트(40) 등에 연결되어 연장되도록 장비측에 구비되는 분기배기관들(미도시)은 도 3에 나타낸 바와 같은 배기용 매니폴드(manifold)(50) 부품을 통해 공장내의 메인배기관(미도시)측에 모두 연결되게 된다. On the other hand, the branch exhaust pipes (not shown) provided on the equipment side so as to be connected to the exhaust port 40 and the like on the plenum plate 30 side as described above, the exhaust manifold (50) as shown in FIG. The parts are connected to the main exhaust pipe (not shown) in the factory.

이러한 배기용 매니폴드(50)는, 내부에 연통 공간부를 형성하는 튜브형 본체(52)와, 이 튜브형 본체(52)의 길이가 긴 측면상에 다수개 형성되어 각기 분기배기관과 접속되게 되는 유입측 접속포트(54)와, 튜브형 본체(52)의 길이가 짧은 측면상에 형성되어 메인배기관과 접속되게 되는 유출측 접속포트(56)로 일체화되게 이루어져 있다. The exhaust manifold 50 has a tubular body 52 that forms a communication space therein, and a plurality of tubular bodies 52 are formed on the long side of the tubular body 52, and the inlet side is connected to each branch exhaust pipe. The connection port 54 and the tubular body 52 are formed on the short side and are integrated with the outlet side connection port 56 which is connected to the main exhaust pipe.

여기서, 현재 벨트컨베이어형 APCVD 장비에서 사용되고 있는 배기용 매니폴드(50)는 4개의 유입측 접속포트(54)를 갖고 있으며, 이중 두개는 전술한 플리넘 플레이트(30)측의 배기포트(40)측과 연결되는 것이고, 나머지 두개는 전술한 머플(10)측에 구비되는 배기포트(미도시)측과 연결되는 것이다. Here, the exhaust manifold 50 currently used in the belt conveyor type APCVD equipment has four inlet connection ports 54, two of which are exhaust ports 40 on the plenum plate 30 side described above. It is connected to the side, and the other two are connected to the exhaust port (not shown) side provided on the muffle 10 side described above.

그러나, 이상과 같은 배기용 매니폴드(50)에서는 다음과 같은 문제점이 발생되고 있다. However, the following problems arise in the exhaust manifold 50 as described above.

즉, 메인배기관측으로부터의 흡입압(흡입력)이 저하되거나 흡입압에서의 헌팅(hunting)이 발생되게 되는 경우, 튜브형 본체(52) 내부에 오염물질이 정체되게 되어, 이후 장비측에서 발생되는 오염물질들을 원활히 배기시킬 수 없게 됨으로써, 웨이퍼(W) 불량을 야기시키고, 또한 배기 오류에 따른 생산 중단으로 생산성을 저하시키게 되는 문제점이 발생되고 있다. That is, when the suction pressure (suction input) from the main exhaust pipe side is lowered or hunting (hunting) occurs at the suction pressure, the contaminants are stagnated inside the tubular body 52, and the contamination generated from the equipment side afterwards. By not being able to smoothly evacuate the materials, a problem arises in that the wafer W is defective and the productivity is reduced due to the production interruption due to the exhaust error.

또한, 이와 같이 내부에 오염물질이 정체되게 되면, 해당 배기용 매니폴드(50)를 분해하여 세정을 실시해야만 하므로, 번거로움도 야기시키게 된다. In addition, when contaminants become stagnant in this manner, the exhaust manifold 50 must be disassembled and washed, which causes inconvenience.

본 발명은 상기와 같은 제반 문제점을 해결하기 위하여 창안된 것으로서, 플리넘 플레이트상에 떨어져 액체상태로 존재하게 되는 식각용액을 바로 배출시켜 해당 식각용액에 의해 분사홀들이 막히는 것을 방지할 수 있으면서, 분사홀들이 구비되는 면적부 다음에 추가적으로 배기면적부를 두어 미처 배기되지 못한 오염물질을 배기시킴으로써 벨트가 보다 청정해진 상태로 다시 머플측으로 이송되도록 할 수 있게 되는 벨트컨베이어형 APCVD 장비를 제공하는데 그 목적이 있다. The present invention has been devised to solve the above problems, while immediately discharging the etching solution to be present in the liquid state falling on the plenum plate while preventing the injection holes to be blocked by the etching solution, the injection It is an object of the present invention to provide a belt conveyor type APCVD apparatus in which an additional exhaust area portion is provided next to an area in which holes are provided to exhaust contaminants that have not been exhausted so that the belt can be transported back to the muffle side in a cleaner state. .

또한, 본 발명의 다른 목적은, 오염물질을 내부 정체됨 없이 원활히 통과시킬 수 있는 배기용 매니폴드를 제공하는데 있다. In addition, another object of the present invention is to provide an exhaust manifold capable of smoothly passing contaminants without stagnation.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 벨트컨베이어형 APCVD 장비는, 웨이퍼(W)를 연속적으로 이송하면서 증착이 실시되도록 하는 순환벨트(22)에 대해 식각 가스를 분사하여 상기 순환벨트(22)상의 오염물질을 제거하게 되는 플리넘 플레이트를 구비하는 벨트컨베이어형 상압화학기상증착 장비에 있어서, 상기 플리넘 플레이트(300)는, 잔류 식각가스 및 식각에 따라 발생되는 부산물과 같은 오염물질을 흡입하여 제거하기 위한 배기수단을 구비하는 것을 특징으로 한다. Belt conveyor type APCVD apparatus of the present invention for achieving the above object, by spraying the etching gas to the circulating belt 22 to perform the deposition while continuously transporting the wafer (W) on the circulating belt 22 In the belt conveyor type atmospheric chemical vapor deposition apparatus having a plenum plate to remove contaminants, the plenum plate 300 sucks and removes contaminants such as residual etching gas and by-products generated by etching. It is characterized by comprising an exhaust means for.

또한, 상술한 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 벨트컨베이어형 APCVD 장비는, 웨이퍼(W)를 이송하면서 증착이 실시되도록 하는 순환벨트(22)에 대해 식각가스를 분사하는 플리넘 플레이트(30)의 배기포트(40)에 접속되는 분기배기관들과 공장내의 메인배기관을 중간에서 연결하게 되는 배기용 매니폴드를 구비하는 벨트컨베이어형 상압화학기상증착 장비에 있어서, 상기 배기용 매니폴드(500)는, 상기 분기배기관들이 접속되는 유입측 접속포트들(504)이 구비되는 측이 높은 위치에 위치되고 상기 메인배기관이 접속되는 유출측 접속포트(506)가 구비되는 측이 낮은 위치에 위치되도록 경사지게 형성되는 튜브형 본체(502)를 구비하는 것을 특징으로 한다. In addition, the belt conveyor type APCVD apparatus of the present invention for achieving the above-mentioned other object, the plenum plate 30 for injecting an etching gas to the circulation belt 22 to perform the deposition while transferring the wafer (W) In the belt conveyor type atmospheric pressure chemical vapor deposition equipment having an exhaust manifold for connecting the branch exhaust pipes connected to the exhaust port 40 of the plant and the main exhaust pipe in the factory, the exhaust manifold 500 includes: The inlet side connection ports 504 to which the branch exhaust pipes are connected are positioned at a high position and the outlet side connection ports 506 to which the main exhaust pipe is connected are formed to be inclined so as to be positioned at a low position. It characterized in that it comprises a tubular body (502).

본 발명의 상기 목적과 여러가지 장점은 이 기술분야에 숙련된 사람들에 의해 첨부된 도면을 참조하여 아래에 기술되는 발명의 바람직한 실시예로부터 더욱 명확하게 될 것이다.The above objects and various advantages of the present invention will become more apparent from the preferred embodiments of the invention described below with reference to the accompanying drawings by those skilled in the art.

이하, 첨부된 도면을 참조로 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 벨트컨베이어형 APCVD 장비에서의 플리넘 플레이트를 보여주는 개략도이다. 4 is a schematic view showing a plenum plate in a belt conveyor type APCVD apparatus according to a preferred embodiment of the present invention.

플리넘 플레이트(300)는 그 상부측 벨트(22-u)를 통해 연속적인 웨이퍼(W) 증착이 실시되도록 하는 순환벨트(22)의 하부측 벨트(22-d)에 대해 버블상태의 식 각가스를 분사하여 하부측 벨트(22-d)상의 오염물질을 식각하여 세정하는 것으로, 그 상면상에는 전반적으로 다수개의 분사홀(302a)이 형성되어 있어 이 분사홀들(302a)을 통해 식각가스가 분사되게 된다. The plenum plate 300 is bubble-etched with respect to the lower belt 22-d of the endless belt 22 to allow continuous wafer W deposition through its upper belt 22-u. By spraying the gas, the contaminants on the lower side belt 22-d are etched and cleaned. On the upper surface thereof, a plurality of injection holes 302a are generally formed, so that the etching gas is discharged through the injection holes 302a. To be injected.

본 발명에 따르면, 플리넘 플레이트(300)는, 식각가스 분사를 위한 다수개의 분사홀(302a)과 함께 분사된 후 낙하되어 그 상면상에 액체상태로 존재하게 되는 식각용액을 주로 배출하기 위한 배기구(302b)를 상면상에 구비하는 분사면적부(302)와, 이 분사면적부(302)를 통과한 하부측 벨트(22-d)가 이후 통과하게 되는 측에 구비되고 그 상면상에는 잔존 식각가스 및 식각에 따른 부산물과 같은 각종 오염물질을 흡입하여 배기하기 위한 2차 배기구(304b)가 구비되는 배기면적부(304)로 구성되게 된다. According to the present invention, the plenum plate 300 is injected with a plurality of injection holes 302a for etching gas injection, and then is exhausted for mainly discharging the etching solution that is present in the liquid state on the upper surface thereof. An injection area 302 having an upper surface 302b and a lower side belt 22-d passing through the injection area 302 are provided on a side through which the residual etching gas is passed. And an exhaust area 304 provided with a secondary exhaust port 304b for sucking and exhausting various contaminants such as by-products resulting from etching.

여기서, 분사면적부(302)와 배기면적부(304)는 서로 결합되어 일체화되도록 구성될 수 있으며, 분사면적부(302)상의 배기구(302b)와 배기면적부(304)상의 2차 배기구(304b)는 내부적으로 서로 연통되어 메인배기관(미도시)측에 연결되게 되고, 따라서 메인배기관측으로부터 작용되는 흡입력에 의해 각종 오염물질을 흡입하여 제거하게 된다. Here, the injection area 302 and the exhaust area 304 may be configured to be combined and integrated with each other, the exhaust port 302b on the injection area 302 and the secondary exhaust port 304b on the exhaust area 304. ) Are internally communicated with each other to be connected to the main exhaust pipe (not shown) side, and thus to suck and remove various pollutants by the suction force acting from the main exhaust pipe side.

그리고, 분사면적부(302)상의 분사홀들(302a)은 서로 평행되는 다수개의 열(列) 형태로 구비되어 있으므로, 배기구들(302b)은 분사홀들(302a)의 열에 직교되는 다수개의 열 형태를 이루도록 구비될 수 있으며, 물론 배기구들(302b)은 분사홀들(302a)에서 분사된 후 낙하되어 액체상태로 존재하게 되는 식각용액을 원활히 배출시킬 수 있다면 다른 분포 형태를 갖을 수 있음은 물론이고, 전술한 바와 같이 배기구들(302b)에는 흡입력이 작용하고 있으므로 액체상태의 식각용액 뿐만 아니라 가스 및 고체상태의 각종 오염물질들도 흡입하여 배기시키게 된다. Further, since the injection holes 302a on the injection area 302 are provided in a plurality of rows parallel to each other, the exhaust ports 302b are arranged in a plurality of rows perpendicular to the rows of the injection holes 302a. It may be provided to form, of course, the exhaust port 302b may have a different distribution form if it can smoothly discharge the etching solution that is dropped after being injected from the injection holes (302a) to exist in the liquid state, of course As described above, since the suction force is applied to the exhaust ports 302b, not only the liquid etching solution but also various kinds of contaminants in the gas and solid state are sucked and exhausted.

이로써, 본 발명에 따른 플리넘 플레이트(300)를 이용하게 되면, 분사된 후 낙하되어 상면상에 액체상태로 존재하게 되는 식각용액을 배기구들(302b)을 통해 바로 배출시켜 해당 식각용액에 의해 분사홀들(302a)이 막히는 것을 방지할 수 있게 되므로, 식각가스의 안정적인 분사가 확보되어 하부측 벨트(22-d)에 대한 우수한 식각성능이 계속적으로 유지되도록 하게 된다. Thus, when the plenum plate 300 according to the present invention is used, the etching solution which is dropped after being injected and is present in the liquid state on the upper surface thereof is immediately discharged through the exhaust ports 302b and sprayed by the corresponding etching solution. Since the holes 302a can be prevented from being blocked, a stable injection of the etching gas is ensured, so that the excellent etching performance for the lower side belt 22-d is continuously maintained.

그리고, 잔존 식각가스 및 부산물과 같은 오염물질을 다음의 배기면적부(304)에서 추가적으로 흡입하여 배기시키게 되므로, 벨트(22-d)가 보다 청정해진 상태로 다시 머플(10)측으로 이동될 수 있게 되어, 다음 웨이퍼(W)에 대한 불량 발생이 방지되도록 하면서, 머플(10)도 오염되지 않도록 하게 된다. In addition, since the contaminants such as residual etching gas and by-products are additionally sucked and exhausted from the next exhaust area 304, the belt 22-d may be moved back to the muffler 10 in a cleaner state. As a result, the generation of defects on the next wafer W is prevented, and the muffle 10 is also not contaminated.

한편, 도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 벨트컨베이어형 APCVD 장비에서의 배기용 매니폴드를 보여주는 개략 단면도이다. On the other hand, Figure 5 is a schematic cross-sectional view showing the exhaust manifold in the belt conveyor APCVD equipment according to a preferred embodiment of the present invention.

배기용 매니폴드(500)는 플리넘 플레이트(300) 및 머플(10)측에서 오염물질을 흡입하게 되는 배기포트들(40)에 연결되어 연장되도록 장비측에 구비되는 분기배기관들(미도시)과 공장내의 메인배기관을 서로 연결하게 되는 부품으로서, 그 구성은, 내부에 연통 공간부를 형성하는 튜브형 본체(502)와, 이 튜브형 본체(502)의 길이가 긴 측면상에 다수개 형성되어 각기 분기배기관과 접속되게 되는 유입측 접속포트(504)와, 전술한 유입측 접속포트(504)와 직교되는 튜브형 본체(502)의 길이가 짧은 측면상에 형성되어 메인배기관과 접속되게 되는 유출측 접속포트(506)로 일체화되게 이루어져 있다. The exhaust manifold 500 is branched exhaust pipes (not shown) provided on the equipment side so as to be connected to the plenum plate 300 and the muffler 10 side to be connected to the exhaust ports 40 that suck in the pollutants. A component that connects the main exhaust pipe in the factory with each other, the configuration of which includes a tubular body 502 forming a communication space therein and a plurality of tubular bodies 502 formed on a long side of the tubular body. The inlet side connecting port 504 to be connected to the exhaust pipe and the outlet side connecting port formed on the short side of the tubular body 502 orthogonal to the inlet side connecting port 504 described above are connected to the main exhaust pipe. It is made integral with 506.

본 발명에 따른 배기용 매니폴드(500)는 유입측 접속포트들(504)이 구비되는 측이 높은 위치에 위치되고 유출측 접속포트(506)가 구비되는 측이 낮은 위치에 위치되도록 튜브형 본체(502)가 경사지도록 형성되게 되며, 이에 따라 유입측 접속포트들(504)을 통해 내부 공간부로 유입되는 오염물질이 높은 위치에서 낮은 위치로 보다 원활히 흘러 내부에서 정체됨 없이 통과될 수 있게 되므로, 오염물질의 내부 정체에 따른 여러 문제들을 방지할 수 있게 된다. Exhaust manifold 500 according to the present invention is a tubular body (such that the inlet side connection ports 504 is located in a high position and the outlet side connection port 506 is located in a low position) 502 is formed to be inclined, so that the contaminants introduced into the inner space through the inlet connection ports 504 flow more smoothly from a high position to a low position and can be passed without stagnation in the interior. Various problems due to the internal stagnation of the material can be prevented.

이에 더하여, 통과되는 오염물질의 보다 원활한 배출이 이루어지도록 하기 위해 유입측 접속포트들(504)도 튜브형 본체(502)의 경사방향으로 또한 경사지도록 형성될 수 있다. In addition, the inlet connection ports 504 may also be formed to be inclined in the inclined direction of the tubular body 502 in order to achieve a smoother discharge of the contaminants passed.

나아가, 튜브형 본체(502)의 내부에는 여과필터(502a)가 구비되어, 유입되는 오염물질을 여과하여 오염물질중의 가스 및 액체상태의 것은 원활히 통과되도록 하면서 고체상태의 것은 걸러져 통과되지 못하도록 함으로써, 고체상태의 오염물질들이 튜브형 본체(502) 내부의 하부측에 적체되어 막힘을 가속화시키게 되는 것이 차단되도록 하게 된다. Further, the inside of the tubular body 502 is provided with a filtration filter 502a, by filtering the incoming contaminants to smoothly pass the gas and liquid in the contaminant, while the solid state is filtered out, The contaminants in the solid state accumulate on the lower side of the tubular body 502 to prevent clogging.

이와 같이, 튜브형 본체(502) 내부에 여과필터(502a)가 구비되게 됨에 따라 해당 여과필터(502a)의 주기적인 세정을 위해 해당 여과필터(502a)를 인출할 수 있도록 튜브형 본체(502)의 적정위치에는 또한 인출도어(502b)가 구비될 수 있다. As such, since the filtration filter 502a is provided inside the tubular body 502, the tubular body 502 may be appropriately withdrawn so that the filtration filter 502a can be pulled out for periodic cleaning of the filtration filter 502a. The location may also be provided with a drawer door 502b.

이상과 같은 배기용 매니폴드(500)를 이용하게 되면, 오염물질이 내부 정체됨 없이 원활히 배출될 수 있게 되므로, 배기 오류에 따른 생산 중단이 방지되어 생산성을 향상시킬 수 있게 되는 등의 여러 이점을 얻을 수 있게 된다. By using the exhaust manifold 500 as described above, since pollutants can be smoothly discharged without stagnation inside, there are various advantages such as preventing production interruption due to exhaust error and improving productivity. You can get it.

이상, 상기 내용은 본 발명의 바람직한 일 실시예를 단지 예시한 것으로 본 발명의 당업자는 본 발명의 요지를 변경시킴이 없이 본 발명에 대한 수정과 변경을 가할 수 있음을 인지해야 한다.In the foregoing description, it should be understood that those skilled in the art can make modifications and changes to the present invention without changing the gist of the present invention as merely illustrative of a preferred embodiment of the present invention.

본 발명에 따르면, 순환벨트에 대한 식각시 발생되는 각종 오염물질을 보다 원활히 배기하여 제거시킬 수 있게 되므로, 오염물질에 의한 웨이퍼 불량 발생을 방지하여 생산수율이 향상되도록 하면서, 배기용 매니폴드에서 오염물질이 내부에 정체됨 없이 보다 원활히 통과하여 배출될 수 있게 되므로, 생산 중단이 방지되어 생산성이 향상되도록 하는 등의 다대한 효과가 달성될 수 있다.According to the present invention, since various pollutants generated during etching of the circulation belt can be exhausted and removed more smoothly, contamination of the exhaust manifold is prevented while preventing wafer defects caused by the pollutants, thereby improving production yield. Since the material can be discharged more smoothly without stagnation inside, a great effect can be achieved, such as preventing production interruption and improving productivity.

Claims (7)

웨이퍼(W)를 연속적으로 이송하면서 증착이 실시되도록 하는 순환벨트(22)에 대해 식각가스를 분사하여 상기 순환벨트(22)상의 오염물질을 제거하게 되는 플리넘 플레이트를 구비하는 벨트컨베이어형 상압화학기상증착 장비에 있어서, Belt conveyor type atmospheric pressure chemistry having a plenum plate that removes contaminants on the circulation belt 22 by spraying an etching gas to the circulation belt 22 to continuously deposit the wafer W. In vapor deposition equipment, 상기 플리넘 플레이트(300)는, The plenum plate 300 is, 잔류 식각가스 및 식각에 따라 발생되는 부산물과 같은 오염물질을 흡입하여 제거하기 위한 배기수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 벨트컨베이어형 상압화학기상증착 장비. Belt conveyor type atmospheric pressure chemical vapor deposition equipment comprising an exhaust means for sucking and removing contaminants such as residual etching gas and by-products generated by etching. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 플리넘 플레이트(300)상에 구비되는 상기 배기수단은, The exhaust means provided on the plenum plate 300, 상기 식각가스를 분사하는 다수개의 분사홀(302a)이 구비되는 분사면적부(302)의 상면상에 구비되어 상기 오염물질을 흡입하여 제거하게 되는 배기구(302b)와, An exhaust port 302b provided on an upper surface of the injection area 302 provided with a plurality of injection holes 302a for injecting the etching gas to suck and remove the pollutants; 상기 분사면적부(302)를 통과한 상기 순환벨트(22)가 이후 통과하게 되는 측에 구비되는 배기면적부(304)의 상면상에 구비되어 상기 오염물질을 2차적으로 흡입하여 제거하게 되는 2차 배기구(304b)를 포함하는 것을 특징으로 하는 벨트컨베이어형 상압화학기상증착 장비.2, which is provided on the upper surface of the exhaust area portion 304 provided on the side through which the circulation belt 22 passing through the injection area portion 302 passes therethrough to secondarily inhale and remove the contaminants. Belt conveyor type atmospheric pressure chemical vapor deposition equipment comprising a car exhaust port (304b). 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 배기구(302b) 및 상기 2차 배기구(304b)는 메인배기관측에 연결되도록 구비되는 것을 특징으로 하는 벨트컨베이어형 상압화학기상증착 장비.Belt exhaust type atmospheric pressure chemical vapor deposition equipment, characterized in that the exhaust port (302b) and the secondary exhaust port (304b) is provided to be connected to the main exhaust pipe side. 웨이퍼(W)를 이송하면서 증착이 실시되도록 하는 순환벨트(22)에 대해 식각가스를 분사하는 플리넘 플레이트(30)의 배기포트(40)에 접속되는 분기배기관들과 공장내의 메인배기관을 중간에서 연결하게 되는 배기용 매니폴드를 구비하는 벨트컨베이어형 상압화학기상증착 장비에 있어서, The branch exhaust pipes connected to the exhaust port 40 of the plenum plate 30 which injects the etching gas to the circulation belt 22 for transporting the wafer W and the main exhaust pipe in the factory are intermediate. In the belt conveyor type atmospheric pressure chemical vapor deposition equipment having an exhaust manifold to be connected, 상기 배기용 매니폴드(500)는, The exhaust manifold 500, 상기 분기배기관들이 접속되는 유입측 접속포트들(504)이 구비되는 측이 높은 위치에 위치되고 상기 메인배기관이 접속되는 유출측 접속포트(506)가 구비되는 측이 낮은 위치에 위치되도록 경사지게 형성되는 튜브형 본체(502)를 구비하는 것을 특징으로 하는 벨트컨베이어형 상압화학기상증착 장비. The side where the inlet side connection ports 504 to which the branch exhaust pipes are connected is located at a high position, and the side where the outlet side connection port 506 to which the main exhaust pipe is connected is provided to be inclined to be positioned at a low position. Belt conveyor type atmospheric pressure chemical vapor deposition equipment comprising a tubular body (502). 제 4 항에 있어서, The method of claim 4, wherein 상기 유입측 접속포트들(504)은, The inlet connection ports 504, 상기 튜브형 본체(502)의 경사방향과 동일한 경사방향으로 경사지도록 형성되는 것을 특징으로 하는 벨트컨베이어형 상압화학기상증착 장비. Belt conveyor type atmospheric pressure chemical vapor deposition equipment, characterized in that formed to be inclined in the same inclination direction of the tubular body (502). 제 4 항에 있어서, The method of claim 4, wherein 상기 배기용 매니폴드(500)는, The exhaust manifold 500, 유입되는 오염물질을 여과하기 위해 상기 튜브형 본체(502) 내부에 구비되게 되는 여과필터(502a)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 벨트컨베이어형 상압화학기상증착 장비. Belt conveyor type atmospheric chemical vapor deposition equipment further comprises a filtration filter (502a) which is provided inside the tubular body (502) to filter the contaminants introduced. 제 6 항에 있어서, The method of claim 6, 상기 배기용 매니폴드(500)는, The exhaust manifold 500, 상기 여과필터(502a)의 인출을 위해 상기 튜브형 본체(502)상에 구비되게 되는 인출도어(502b)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 벨트컨베이어형 상압화학기상증착 장비. Belt conveyor type atmospheric pressure chemical vapor deposition equipment further comprises a withdrawal door (502b) to be provided on the tubular body (502) for withdrawal of the filtration filter (502a).
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