KR100798466B1

KR100798466B1 - 측정 표준용 ｌｅｄ 숙성 장치 및 숙성 방법

Info

Publication number: KR100798466B1
Application number: KR1020060057498A
Authority: KR
Inventors: 박승남; 박성종; 이동훈
Original assignee: 한국표준과학연구원
Priority date: 2006-06-26
Filing date: 2006-06-26
Publication date: 2008-01-28
Also published as: KR20080000145A

Abstract

본 발명은 측정 표준용 LED 숙성 방법 및 숙성 장치에 관한 것으로, 측정 표준용 LED에 일정한 전압을 계속적으로 인가하는 단계; 소정의 시간에 상기 LED에 인가되는 전압치 및 상기 LED의 광도치 그리고 LED의 접합부 온도를 측정하는 단계; 상기 소정의 시간과 이때에 측정된 전압치와 광도치 그리고 접합부 온도를 저장하는 단계; 상기 접합부 온도와 전압치에 대한 광도비로부터 LED의 전압 의존성을 검출하고 이를 표시하는 단계; 및 상기 광도비의 분포를 선형 분석하여 노화를 검출하여 표시하는 단계;를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 측정 표준용 LED 숙성 방법 및 이를 실행하기 위한 LED 숙성 장치를 제공한다.

LED, 숙성, 광도, 온도, 노화

Description

측정 표준용 ＬＥＤ 숙성 장치 및 숙성 방법{SEASONING DEVICE AND SEASONING METHOD FOR MEASUREMENT STANDARD LED}

삭제

도 2는 본 발명의 다른 LED 숙성 장치의 개념도,

도 3은 본 발명에 따른 LED 숙성 방법의 흐름도,

도 4a 및 4b는 각각 LED의 시간에 따라 초기치를 기준으로 측정된 상대적인 광도치 및 전압차를 도시하는 그래프,

도 5는 도 4의 LED의 측정된 전압차에 대한 측정된 상대적인 광도치 및 도 3의 S70 단계에서 계산된 선형 함수를 도시하는 그래프, 및

도 6은 시간에 따라 도 3의 S80 단계에서 도 5에서 도시된 전압의 영향을 보정한 상대적인 광도치 함수를 도시하는 그래프.

<도면의 주요 부분에 대한 설명>

100 : LED 숙성 장치

110: LED 120: 거치대

130: 전류 공급원 140: 다-채널 디지털 전압계

150: 차양막 160: 광도계

170: 제어 컴퓨터 180: 열전 장치

190: 열전 장치 제어기

본 발명은 측정 표준용 LED 숙성 방법 및 숙성 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 광도의 노화와 함께 온도 의존성을 평가할 수 있게 하는 측정 표준용 LED의 숙성을 위한 방법 및 이를 위한 장치에 관한 것이다.

LED는 거의 무한한 수명, UV로부터 IR에 이르는 넓은 색 범위, 단색성, 고휘도성, 매우 짧은 응답 시간 등과 같은 다양한 장점을 가지고 있기 때문에, 근래에 광원 및 디스플레이 산업은 LED의 잠재력에 대하여 큰 관심을 가지고 이를 실제 제품에 서둘러 적용하고 있다. 이러한 사실은 많은 LED 생산자들이 생산 중 품질 관리를 위해 측정 표준과 측정 설비를 구비하여 LED 측정을 실행하게 한다.

그러나, 좁은 분광 선폭, 공간적인 비균일성 및 배광 분포의 비대칭성, 점광원 근사로부터의 이탈, 및 온도 민감성과 같은 LED의 특정 고유 성질에 기인하여, LED 측정은 일반적인 광도 측정보다 매우 어렵다. 실제로, 모든 전술한 성질은 광도 및 전체 광량의 측정의 오차를 유발한다. 이러한 문제에 대해서는, 피측정 LED와 스펙트럼 상의 그리고 기하학적인 특성이 유사한 표준 LED를 사용하여 “비교 측정”을 수행하는 것이 하나의 해결책이 될 수 있어, 표준 LED의 개발은 산업현장에서의 정확한 LED 측정을 위한 핵심적인 선결과제이다.

일반적으로, 표준 LED는 숙성, 선택 및 검증의 3단계를 거쳐 개발될 수 있 다. 이 중 숙성 과정은 LED 발광 출력을 안정시키고 노화 이력을 얻기 위해서 다른 과정보다 이전에 수행되어야 하기 때문에 가장 중요하다. 예를 들면, 어떤 LED가 매우 빠르게 노화되는 것으로 나타나는 경우, 이는 표준 물질 후보로 적절하지 않기 때문에 선택 단계에서 제외되어야 한다. 그러나, 노화 특성이 정확하게 특정되는 경우에도, 표준 LED의 온도 민감성으로부터 유발되는 불확도가 여전히 존재한다. 기존의 표준 LED는 단순히 장시간 점등하여 노화 추이를 안정화시킨 후, 추가의 온도 제어 모듈을 통해 온도 민감성을 해결하려 하였으나, 이럴 경우 추가의 비용이 소요되며, 표준 LED에 추가 장치가 붙게 되기 때문에 피측정 LED와의 엄밀한 비교 측정이 어렵고, 또한 노화 추이의 안정화 정도도 가늠하기가 힘든 문제가 있다.

본 발명은 숙성 동안 LED 광도의 노화 특성 뿐만 아니라 온도 의존 특성을 동시에 획득하기 위한 LED 숙성 장치 및 LED 숙성 방법을 제공한다.

이러한 목적을 달성하기 위해 본 발명은, 전압계; 광도계; 복수의 LED를 거치하여 각 LED를 상기 전압계 및 상기 광도계가 전압치 및 광도치를 측정할 수 있는 측정 위치로 이동시켜 주는 거치대; 상기 각 LED의 접합부에 열적으로 접촉하여 온도를 조절하기 위한 열전 장치 및 이 열전 장치를 제어하기 위한 열전 장치 제어 수단; 상기 각 LED에 일정한 전류치를 가진 전류를 계속적으로 인가하기 위한 전류원; 소정의 측정 시간에 상기 전압계와 상기 광도계 그리고 상기 LED의 접합부로부터 각각 전압치와 광도치 그리고 온도를 측정하도록 제어하기 위한 제어 수단;을 포함하여 이루어지며,
제어 수단은 측정 시간, 상기 전압계에 의해 측정된 전압치 및 상기 광도계에 의해 측정된 광도치 그리고 상기 LED의 접합부 온도를 기록하고; 접합부 온도와 전압치에 대한 광도비로부터 온도에 대한 전압 의존성을 표시하며; 상기 광도비를 선형 분석하여 노화 상태를 표시해 주는 것을 특징으로 하는 측정 표준용 LED 숙성 장치를 제공한다.

삭제

또한, 상기 열전 장치에 의해 조절된 온도에 따른 LED의 광도의 변화는 LED의 노화에 따른 LED의 광도의 변화보다 빠른 것이 바람직하다.

본 발명은 또한 측정 표준용 LED의 숙성 방법으로서, LED에 일정한 전압을 계속적으로 인가하는 단계; 소정의 시간에 상기 LED에 인가되는 전압치 및 상기 LED의 광도치 그리고 LED의 접합부 온도를 측정하는 단계; 상기 소정의 시간과 이때에 측정된 전압치와 광도치 그리고 접합부 온도를 저장하는 단계; 상기 접합부 온도와 전압치에 대한 광도비로부터 LED의 전압 의존성을 검출하고 이를 표시하는 단계; 및 상기 광도비의 분포를 선형 분석하여 노화를 검출하여 표시하는 단계;를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 측정 표준용 LED 숙성 방법을 제공한다.

전압 효과 추출 단계는 추출된 전압에 따른 효과를 나타내는 함수의 오차가 소정의 임계치 이상인 경우 이러한 LED를 표준 LED에서 제외하는 단계를 더 포함하는 것이 바람직하다.

상술한 방법은 미리 정해진 복수의 온도 데이터에 기초하여 LED의 온도 환경을 변화시키는 단계를 더 포함할 수 있다. 온도 환경 변화 단계에서 변화된 온도에 따른 LED의 광도의 변화 속도는 LED의 노화에 따른 LED의 광도의 변화 속도보다 빠른 것이 바람직하다.

이러한 LED 숙성 방법은 복수의 LED에 대하여 동시에 실행될 수 있다.

우선, 본 발명의 구성을 기술하기 전에, 온도 변화 및 노화를 고려한 숙성 과정 동안 LED 광도의 모델을 기술한다. LED는 일정한 전류가 급전되어 동작되는 것으로 가정한다.

접합부 전압과 접합부 온도 사이의 관계 및 접합부 온도와 광도 사이의 관계를 고려한다. 접합부 전압은 수학식 1에서와 같이 온도의 선형 함수로 근사될 수 있다.

또한, LED 광도는 수학식 2에서와 같이 온도의 함수로 표시될 수 있다.

여기에서 T ₁ 은 LED 물질 특성에 따른 고유 온도이고, I _0K 는 온도가 0 K일 때의 광도이다. 수학식 1 및 2로부터 광도비 I/I'는 수학식 3과 같이 접합부 전압차의 함수로 단순화될 수 있다.

노화 함수 s(t)를 고려하고, 편의를 위하여 I' 및 V'를 시간 t=0일 때의 광도 및 전압 I(0) 및 V(0)로 표시하며, ΔV(t)=V(t)-V(0)로 표시하고, -1/k _T T ₁ 을 k로 표시하면, 수학식 3은 다음 수학식 4와 같이 표시될 수 있다.

수학식 4에 로그를 취한 뒤 미분을 하면, 수학식 5의 결과가 나온다.

수학식 5의 ln(s(t))가 ΔV(t)에 비하여 시간에 따라 매우 천천히 변하는 함수라고 가정하면, 수학식 5에서 우변의 제 2 항은 0으로 근사될 수 있다. d[ln(f(t))]와 d[ΔV(t)]의 선형 분석(선형 회귀 분석)에 의해 상수 k가 추출될 수 있고, 추출된 상수 k와 수학식 5를 이용하여 s(t)를 구할 수 있다. d[ln(f(t))]와 d[ΔV(t)]의 선형 분석의 정확도는 ln(s(t))가 천천히 변한다는 가정의 정당성을 검증하게 한다.

상수 k는 온도 효과를 보정하기 위하여 사용될 것이며, 노화 함수(s(t))는 노화 효과로부터 기인한 불확실성을 예상하거나 LED의 수명을 예측하게 한다.

이하에서, 도 2를 참조하여 본 발명에 따른 숙성 시스템의 바람직한 실시예에 대하여 기술한다. 숙성 시스템(100)은 병렬로 연결된 복수의 LED(110)가 장착되기 위한 원판 형태의 거치대(120), 모든 LED(110)에 같은 전류치를 가지는 전류를 일정하게 공급하기 위한 단일 전류원(130), 각각의 LED(110)의 단말의 접합부 전압을 연속적으로 측정하기 위한 다-채널 디지털 전압계(DVM)(140), 차양막(150), 차양막(150) 후면에 위치하여 LED(110)의 광도를 측정하기 위한 광도계(160) 및 숙성 시스템(100) 전체를 제어하기 위한 제어 수단으로서 제어 컴퓨터(170)로 구성된다.

도 2에서, 12개의 LED(백색 #1 내지 #3, 적색 #1 내지 #3, 녹색 #1 내지 #3, 청색 #1 내지 #3)(110)가 30° 간격으로 장착된 거치대(120)가 도시된다. 그러나 이러한 LED(110)의 개수 및 간격은 본 발명을 제한하기 위한 것이 아니며, 적절한 수의 LED 또는 하나의 LED가 장착될 수 있다. 모든 LED(110)는 직렬로 연결되어 같은 전류치를 가지는 전류가 전류원(130)으로부터 인가된다. 그리고, 각 LED(110)의 접합부 전압치를 측정하기 위한 다-채널 디지털 전압계(140)가 각각의 LED(110)에 연결된다.

숙성이 시작되면, 전류원(130)으로부터 LED(110)에 전류가 인가되어, 각 LED(110)는 발광을 한다. 거치대(120)는 제어 컴퓨터(170)의 지시에 의해 회전을 하여 각 LED(110)는 순차적으로 차양막(150) 전면에 위치하게 되고, 그 광도는 광도계(160)에 의해 측정되며, 이 때 LED(110)에 인가되는 접합부 전압치는 다-채널 디지털 전압계(140)에 의해 측정된다. 제어 컴퓨터(170)는 측정한 시간, 광도계(160)에 의해 측정된 광도 및 디지털 전압계(140)에 의해 측정된 접합부 전압을 기록하고 다음 LED를 측정하기 위하여 거치대(120)를 회전시킨다. 또한, 제어 컴퓨터(170)는 각 LED(110)에 대한 측정 시간, 광도 및 전압 측정치를 기초로 각 표준 LED의 광도 모델을 계산한다.

한편, 상술한 실시예에서 온도는 숙성 시스템(100)이 위치하는 실험실의 온도에 따라 변화하고 그에 따라 LED(110)에 인가되는 접합부 전압이 변화하는 것에 비하여, 본 발명에 따른 숙성 시스템(100)은 열전 장치(180)를 이용하여 LED의 접합부 온도를 조정하여 LED(110)에 인가되는 접합부 전압의 변화에 따른 광도의 변화를 측정하도록 설계된다. 도 2에서 도시한 바와 같이, 열전 장치(TEC)(180), 열전 장치 제어기(TEC 제어기)(190)를 더 포함하여 구성된다.

열전 장치(180)는 가열 또는 냉각에 의해 LED의 접합부 전압을 조정하기 위해 각 LED(110)의 단말과 열적으로 접촉한다. 열전 장치 제어기(190)는 제어 컴퓨터(170)로부터의 지시에 따라 열전 장치(180)를 가열 또는 냉각하도록 제어한다. 제어 컴퓨터(170)는 열전 장치 제어기(190)로 열전 장치(180)의 가열 또는 냉각을 지시한다. 그리하여, 실험실의 온도의 변화에 따른 접합부 전압의 변화, 즉 수동적인 접합부 전압의 변화에 따른 광도의 변화를 측정하는 것이 아니라, 열전 장치(180)를 이용하여 능동적으로 접합부 전압을 변화시켜 광도의 변화를 측정하는 것이 가능하게 된다. 이 때 열전 장치(180)에 의한 온도의 변화에 따른 LED(110)의 광도의 변화 속도는 LED의 노화에 따른 광도의 변화 속도보다 빨라서 수학식 5에서 LED의 노화에 따른 효과(s(t))를 무시하는 가정이 타당하여야 하는 것은 전술한 바와 같다. 하나의 열전 장치(180)가 모든 LED(110)의 단말에 대하여 접촉하고 하나의 열전 장치(180)가 하나의 열전 장치 제어기(190)에 연결되는 것이 도시되었지만, 복수의 열전 장치가 각각의 LED(110)의 단말에 대하여 접촉 가능하고 복수의 열전 장치 제어기가 각각의 열전 장치에 연결되는 구성이 가능한 것은 당연히 이해될 것이다.

이하에서는, 상술한 숙성 시스템(100)을 이용한 숙성 방법을 상세하게 기술한다. 도 3은 본 발명에 따른 숙성 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.

우선 숙성을 실행할 12개 LED(110)가 숙성 시스템(100)에 장착되고 숙성이 시작된다(S10 단계). 숙성 동안 모든 LED(110)는 전류원(130)으로부터 20mA의 일정 한 전류가 인가된다(S20 단계). 그리고 거치대(120)의 회전에 따라 각 LED(110)의 접합부 전압치 및 광도치가 다-채널 디지털 전압계(140) 및 광도계(160)에 의해 매 3분마다 측정된다(S30 단계). 각 LED(110)의 각 측정 시간에 측정된 접합부 전압치 및 광도치는 제어 컴퓨터(170)에 기록된다(S40 단계). 숙성 경과 시간이 소정의 숙성 시간 미만인 경우(S50 단계에서 NO) S30 단계 및 S40 단계를 반복하고, 소정의 숙성 시간 이상인 경우(S50 단계에서 YES) 숙성을 종료한다(S60 단계). 그리하여 접합부 전압치 및 광도치의 측정은 소정의 숙성 시간 동안 반복된다.

소정의 숙성 시간이 경과하여(S50 단계에서 Yes) 숙성이 종료된 후(S60 단계), 측정된 접합부 전압치들에 대한 측정된 광도치의 분포로부터 LED 광도의 전압(또는 온도)에 따른 효과를 나타내는 상수(수학식 4 및 5에서 상수 k)를 구한다(S70 단계). S70 단계의 방법이 이하에서 자세하게 기술된다.

도 4a는 4 개의 LED(백색 #1, 적색 #1, 녹색 #1, 청색 #1)에 대한 시간(70 시간)에 따른 상대적인 광도치(f(t) = [I(t)/I(0)])의 변화를 도시하는 그래프이다. 도 4a의 곡선은 일정한 공급 전류치에도 불구하고 변화하는 것이 나타난다. 도 4a의 곡선은 온도 효과 및 노화 효과가 결합된 결과이다. 도 4b는 4 개의 LED에 대한 시간에 따른 접합부 전압의 변화량(ΔV = V(t) - V(0))을 도시하는 그래프이다. 상술한 바와 같이, 접합부 전압은 주변 온도와 강한 상관성을 가진다. 도 4a 및 4b의 곡선에서 24시간 주기의 변동은 주변 온도의 1일 주기와 일치한다. 도시된 값은 주변 온도가 숙성 동안 25℃ ± 1℃의 범위에서 유지된 경우에 측정된 값이다.

도 5는 도 4a 및 4b에 도시된 적색 LED에 대하여 수학식 5에 따라 전압의 변 화량을 선형 분석한 결과를 도시한 그래프이다. 도 5에서 δ부호는 수학식 5에 표현된 미분을 근사하기 위한 시간축을 따라 인접한 2개의 데이터 사이의 차이를 의미한다. 선형 분석의 결과 적색 LED에 대하여 수학식 5의 상수 k는 95% 신뢰 범위에서 0.03의 오차를 가지고 3.013으로 계산되었다. 12개 LED에 대한 상수 k 및 상수 k의 95% 신뢰 범위에서 오차(u(k))에 대한 결과는 표 1에 나타난다.

LED	k	u(k)
백색 #1	0.795	0.014
백색 #2	0.781	0.011
백색 #3	0.716	0.019
적색 #1	3.013	0.030
적색 #2	2.479	0.110
적색 #3	2.471	0.241
녹색 #1	0.374	0.027
녹색 #2	0.516	0.005
녹색 #3	측정 실패	측정 실패
청색 #1	0.0052	0.038
청색 #2	0.0379	0.034
청색 #3	0.1875	0.023

LED의 상수 k값은 그 색에 의존하는 것으로 보인다. 적색 LED는 2.471 내지 3.013의 k값 범위를 가지고 접합부 전압에 가장 의존적인 것을 보인다. 반면에, 청색 LED는 작은 k값을 가지고 접합부 전압에 대한 의존도는 거의 무시할 수 있는 것을 보인다.

"녹색 #3" LED의 광도는 시간에 따라 접합부 전압 변화율과 거의 같은 속도로 빠르게 변화하기 때문에 상수 k 및 후술될 s(t)가 선형 회귀 분석으로부터 성공적으로 구해질 수 없었다. k값의 계산은 수학식 5에서 d[ln(s(t))]의 절대값에 비해 d[ΔV(t)]의 절대값이 크다는, 즉 ln(s(t))에 비하여 ΔV(t)가 빠르게 변화한다는 가정에서 출발하였으나 "녹색 #3" LED는 이러한 가정을 만족하지 못한다. 이러한 LED는 V(t)를 더욱 빠르게 변화시키고 더 짧은 시간 내에 측정을 완료한 뒤 선형 회귀 분석을 실행하여 k 및 s(t)를 계산할 수 있다. 그러나, 이러한 LED는 노화가 빠르게 진행되는 LED이므로, S70 단계에서 성공적으로 k를 구할 수 없는 LED는 표준 LED로부터 제외하는 것이 바람직하다. 즉, 표준 LED의 선택은 S70 단계의 결과에 의해 실행될 수 있다.

S70 단계에서 LED 광도의 온도에 따른 효과(상수 k)를 계산한 후, 이러한 효과를 보정하여 LED 광도의 시간에 따른 효과(수학식 4 및 5에서 s(t))를 추출한다(S80 단계). 즉, 도 4a에 도시되는 시간에 따른 LED 상대 광도의 변화로부터 도 4b에 도시되는 시간에 따른 접합부 전압차와 S70 단계에서 계산된 상수 k를 이용하여 예측되는 LED 상대 광도의 변화를 빼면 LED 광도의 시간에 따른 효과를 나타내는 곡선 s(t)가 추출된다. 도 4a 및 4b에 도시된 4개 LED에 대하여 이러한 방법으로 추출된 노화 함수 s(t)가 도 6에 도시된다.

상술한 바와 같이, 시간에 따른 LED 광도 및 접합부 전압의 변화로부터 LED 광도의 온도에 따른 변화를 나타내는 함수를 계산하고(S70 단계), 동시에 광도의 변화로부터 온도에 따른 변화를 보정하여 LED 광도의 시간에 따른 변화를 나타내는 함수를 계산하는 것이 가능하다(S80 단계).

한편, 이러한 숙성 과정은 열전 장치(180) 및 열전 장치 제어기(190)를 포함하는 숙성 시스템(100)에서 실행된다. 이때, S30 단계에서, 제어 컴퓨터(170)는 소정의 시간에 따른 온도 변화 프로그램밍에 따라 열전 장치 제어기(190) 및 열전 장치(180)를 제어하여 LED(110)의 온도 환경을 변화시킬 수 있다. 도 3 내지 5에서 도시된 실시예는 온도 범위가 25℃ ± 1℃이고 숙성 장치가 설치된 실험실의 온도에 따라 변화하였지만, 열전 장치(180)로 온도를 제어하여 다른 온도 및 다른 온도 변화폭에서 소정의 시간에 따른 온도 변화로 숙성 과정을 수행할 수 있다. 그리하여 원하는 온도 범위에서 표준 LED의 광도 특성을 추출하는 것이 가능하게 된다. 다만, 이 때 열전 장치(180)의 온도 환경 변화에 따른 LED(110) 광도의 변화 속도는, 전술한 바와 같이, 노화에 따른 LED(110) 광도의 변화 속도보다 빨라야 한다.

본 발명에 따른 숙성 장치 및 이러한 숙성 장치를 이용한 숙성 방법에 의하면, 비교 측정을 위한 표준 LED의 광도의 온도에 따른 특성 및 노화 시간에 따른 특성을 동시에 측정할 수 있다. 또한, 숙성 동안 온도에 따른 특성 및 노화 시간에 따른 특성의 측정으로부터 표준 LED로서 적합하지 않은 LED를 찾아내어 표준 LED에서 제외할 수 있다. 또한, 이렇게 숙성된 LED는 온도에 따른 특성을 알 수 있기 때문에 추가의 온도제어장치를 표준 LED에 덧붙이지 않아도 접합부 전압을 측정하여 온도효과를 보정할 수 있어, 엄밀한 비교측정을 가능하게 하는 표준 LED를 만들 수 있다.

비록 본 발명이 상기에서 언급한 바람직한 실시예와 관련하여 설명되었지만, 본 발명의 요지와 범위로부터 벗어남이 없이 다양한 수정 및 변형이 가능한 것은 당업자라면 용이하게 인식할 수 있을 것이며, 이러한 변경 및 수정은 모두 첨부된 특허청구의 범위에 속함은 자명하다.

Claims

전압계;

광도계;

복수의 LED를 거치하여 각 LED를 상기 전압계 및 상기 광도계가 전압치 및 광도치를 측정할 수 있는 측정 위치로 이동시켜 주는 거치대;

상기 각 LED의 접합부에 열적으로 접촉하여 온도를 조절하기 위한 열전 장치 및 이 열전 장치를 제어하기 위한 열전 장치 제어 수단;

상기 각 LED에 일정한 전류치를 가진 전류를 계속적으로 인가하기 위한 전류원;

소정의 측정 시간에 상기 전압계와 상기 광도계 그리고 상기 LED의 접합부 로부터 각각 전압치와 광도치 그리고 온도를 측정하도록 제어하기 위한 제어 수단;을 포함하여 이루어지며,

상기 제어 수단은 상기 측정 시간, 상기 전압계에 의해 측정된 전압치 및 상기 광도계에 의해 측정된 광도치 그리고 상기 LED의 접합부 온도를 기록하고;

접합부 온도와 전압치에 대한 광도비로부터 온도에 대한 전압 의존성을 표시하며;

상기 광도비를 선형 분석하여 노화 상태를 표시해 주는 것을 특징으로 하는 측정 표준용 LED 숙성 장치.
삭제
삭제
제 1 항에 있어서,

상기 열전 장치에 의해 조절된 온도에 따른 상기 LED의 광도의 변화는 상기 LED의 노화에 따른 상기 LED의 광도의 변화보다 빠른 것을 특징으로 하는 측정 표준용 LED 숙성 장치.
측정 표준용 LED 숙성 방법으로서, 상기 방법은

상기 LED에 일정한 전압을 계속적으로 인가하는 단계;

소정의 시간에 상기 LED에 인가되는 전압치 및 상기 LED의 광도치 그리고 LED의 접합부 온도를 측정하는 단계;

상기 소정의 시간과 이때에 측정된 전압치와 광도치 그리고 접합부 온도를 저장하는 단계;

상기 접합부 온도와 전압치에 대한 광도비로부터 LED의 전압 의존성을 검출하고 이를 표시하는 단계; 및

상기 광도비의 분포를 선형 분석하여 노화를 검출하여 표시하는 단계;를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 측정 표준용 LED 숙성 방법.
제 5 항에 있어서,

상기 전압 효과 추출 단계는 추출된 상기 전압에 따른 효과를 나타내는 함수의 오차가 소정의 임계치 이상인 경우 상기 LED를 표준 LED에서 제외하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 측정 표준용 LED 숙성 방법.
삭제
제 5 항에 있어서,

상기 온도 측정 단계는 변화된 온도에 따른 상기 LED의 광도의 변화 속도가 상기 LED의 노화에 따른 상기 LED의 광도의 변화 속도보다 빠른 것을 특징으로 하는 측정 표준용 LED 숙성 방법.
제 5 항 또는 제 6 항 또는 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 측정 표준용 LED 숙성 방법은 복수의 LED에 대하여 동시에 실행되는 것을 특징으로 하는 측정 표준용 LED 숙성 방법.