KR100794330B1 - Apparatus and method for testing back light unit of liquid crystal display - Google Patents
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Abstract
본 발명은 액정패널의 배면에 배치되어 상기 액정패널에 빛을 조사하는 백라이트유니트의 휘도를 측정하기 위한 액정표시장치용 백라이트유니트의 테스트 장치 및 방법에 관한 것이다. 이를 위해, 본 발명의 장치는, 액정표시장치용 백라이트유니트의 테스트 장치에 있어서, 백라이트유니트의 배면에 배치되며, 상기 백라이트유니트의 반사시트에서 누설되는 빛의 휘도를 감지하는 감지부; 상기 감지된 빛의 휘도에 따라 가변하는 전압 레벨을 검출하는 레벨 검출부; 상기 전압 레벨이 사용자가 미리 설정한 기준 범위의 레벨인지를 판단하는 제어부; 및 상기 제어부의 판단 결과에 따라 알림신호를 출력하는 알림부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test apparatus and a method of a backlight unit for a liquid crystal display device for measuring the luminance of a backlight unit disposed on a rear surface of a liquid crystal panel to irradiate light to the liquid crystal panel. To this end, the device of the present invention, a test device for a backlight unit for a liquid crystal display device, comprising: a sensing unit disposed on the back of the backlight unit, for detecting the brightness of light leaking from the reflective sheet of the backlight unit; A level detector detecting a voltage level that varies according to the brightness of the detected light; A controller for determining whether the voltage level is a level of a reference range preset by a user; And a notification unit for outputting a notification signal according to the determination result of the control unit.
백라이트유니트(back light unit), 휘도, 배면, 감지부, 수광부, 테이블 Back light unit, brightness, back, detector, receiver, table
Description
도 1은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 백라이트유니트의 테스트 장치 구조를 개략적으로 도시한 도면.1 is a view schematically showing a test device structure of a backlight unit according to a first embodiment of the present invention.
도 2는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 백라이트유니트의 테스트 과정을 개략적으로 도시한 흐름도.2 is a flowchart schematically illustrating a test process of a backlight unit according to a first embodiment of the present invention.
도 3은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 백라이트유니트의 테스트 장치를 도시한 사시도,3 is a perspective view illustrating a test apparatus of a backlight unit according to a second embodiment of the present invention;
도 4는 도 1의 A부 상세도.4 is a detailed view of portion A of FIG.
도 5는 도 1 의 측면도.5 is a side view of FIG. 1;
도 6은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 보조하우징의 구조를 도시한 단면도.Figure 6 is a cross-sectional view showing the structure of the secondary housing according to a second embodiment of the present invention.
도 7은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 힌지장치의 구조를 도시한 단면도.7 is a cross-sectional view showing the structure of a hinge device according to a second embodiment of the present invention.
도 8은 본 발명의 바람직한 제 2 실시예에 따른 백라이트유니트의 테스트 장치를 도시한 사시도.8 is a perspective view showing a test apparatus of a backlight unit according to a second preferred embodiment of the present invention.
도 9는 본 발명의 제 3 실시예에 따른 팔렛의 구조를 도시한 사시도.9 is a perspective view showing the structure of a pallet according to a third embodiment of the present invention.
도 10은 본 발명의 제 3 실시예에 따른 백라이트유니트의 테스트 장치를 이용한 백라이트유니트의 테스트 검사상태를 도시한 사시도.10 is a perspective view showing a test inspection state of a backlight unit using the test apparatus of the backlight unit according to the third embodiment of the present invention.
본 발명은 액정표시장치용 백라이트유니트에 관한 것으로, 특히 액정패널의 배면에 배치되어 상기 액정패널에 빛을 조사하는 백라이트유니트의 휘도를 측정하기 위한 액정표시장치용 백라이트유니트의 테스트 장치 및 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a backlight unit for a liquid crystal display device, and more particularly, to a test apparatus and method for a backlight unit for measuring a brightness of a backlight unit disposed on a rear surface of a liquid crystal panel for irradiating light to the liquid crystal panel. will be.
액정표시장치는 경박단소하고 저전압구동 및 저전력 소모라는 장점을 바탕으로 CRT를 대체하는 표시소자로서 개발되어져 왔으며, 특히 박막트랜지스터 액정표시장치는 CRT에 필적할만한 고화질화, 대형화, 컬러화 등을 실현하여 최근 여러 분야에서 다양하게 사용되고 있다. 이러한 액정표시장치는 CRT와는 달리 스스로 빛을 내는 표시장치가 아니므로, 액정패널의 배면에 화상을 시각적으로 표현하기 위해 별도의 광원이 구비된다. 액정표시장치의 광원으로서는 현재 램프, 또는 LED가 사용되며, 이러한 광원을 구비한 백라이트유니트(back light unit)가 액정패널에 면광을 조사한다.Liquid crystal displays have been developed as a display element that replaces CRTs based on the advantages of low weight, low voltage driving, and low power consumption. In particular, thin film transistor liquid crystal displays have achieved high quality, large size, and color that are comparable to CRT. It is used in various fields. Unlike the CRT, the liquid crystal display is not a display device that emits light by itself, and thus a separate light source is provided on the rear surface of the liquid crystal panel to visually express an image. As a light source of a liquid crystal display device, a lamp or LED is currently used, and a back light unit having such a light source irradiates surface light to the liquid crystal panel.
도시하지는 않았으나 상기 백라이트유니트는, 빛을 방사하는 광원과, 광원의 측면에 이격 배치되어 광원으로부터 방사된 빛을 액정패널에 전달하는 도광판과, 광원의 주위를 둘러싸는 램프반사체와, 도광판의 배면에 설치되어 도광판의 배면으로 빠져나온 빛을 다시 도광판으로 돌아가도록 하는 반사시트와, 도광판의 전면 상에 차례로 설치된 확산시트, 프리즘시트 및 보호시트를 포함한다. 그리고, 이와 같은 부품들은 몰드프레임 내에 적층 조립된 후, 베젤(bezel)과 백커버(back cover) 에 의해 액정패널과 체결되어 액정표시장치가 된다.Although not shown, the backlight unit may include a light source for emitting light, a light guide plate spaced apart from the side of the light source to transmit the light emitted from the light source to the liquid crystal panel, a lamp reflector surrounding the light source, and a rear surface of the light guide plate. It includes a reflective sheet installed to return the light exiting the back of the light guide plate back to the light guide plate, and a diffusion sheet, a prism sheet and a protective sheet which are sequentially provided on the front surface of the light guide plate. After the components are stacked and assembled in a mold frame, the parts are fastened to the liquid crystal panel by a bezel and a back cover to form a liquid crystal display device.
이러한 백라이트유니트는 액정패널에 빛을 조사함에 있어 상기 액정패널에 조사하는 빛의 휘도가 중요한 문제이다. 다시 말해, 백라이트유니트로부터 액정패널에 조사되는 빛의 휘도는 화상을 시각적으로 표현함에 있어 소정의 크기가 되어야 하며, 그에 따라 액정표시장치가 표현하는 화상의 화질은 빛의 휘도에 의해 좌우된다. 또한, 상기 백라이트유니트를 구성하는 시트들은, 액정표시장치의 박형화 및 광원으로부터 방사된 빛의 조사 효율을 향상시키기 위해 박형화가 필수적이다. 그러나, 박형화된 시트들은 백라이트유니트의 조립 공정시 기술적 어려움을 제공하며, 일 예로 박막의 시트가 백라이트유니트에 필요 이상으로 조립될 수 있다. 이렇게 필요 이상으로 조립된 시트들은, 백라이트유니트가 액정패널에 조사하는 빛의 휘도를 감소시킴으로써 액정표시장치가 표현하는 화상의 화질을 저하시키며, 아울러 액정표시장치의 생산 비용을 증가시키는 문제가 있다.In such a backlight unit, the brightness of light irradiated to the liquid crystal panel is an important problem in irradiating light to the liquid crystal panel. In other words, the brightness of the light irradiated from the backlight unit to the liquid crystal panel should be a predetermined size in order to visually express the image. Accordingly, the image quality of the image represented by the liquid crystal display device depends on the brightness of the light. In addition, the sheets constituting the backlight unit are required to be thin in order to reduce the thickness of the liquid crystal display device and to improve the irradiation efficiency of light emitted from the light source. However, thinned sheets provide technical difficulties in the assembly process of the backlight unit, and for example, a thin sheet may be assembled more than necessary in the backlight unit. The sheets assembled more than necessary have a problem of reducing the image quality of the image represented by the liquid crystal display by reducing the brightness of the light emitted from the backlight unit to the liquid crystal panel, and also increasing the production cost of the liquid crystal display.
이에 따라, 액정표시장치의 제작 공정에 있어서 조립 완료된 백라이트유니트를 액정패널에 체결하기 전에 상기 백라이트유니트로부터 조사되는 빛의 휘도를 측정하는 테스트 공정을 거치게 된다. 이러한 테스트 공정은 작업자가 휘도계를 이용하여 수작업으로 백라이트유니트가 전면으로 조사하는 빛의 휘도를 측정함으로써 작업성이 저하되는 문제점이 발생되었다. 아울러, 작업자는 백라이트유니트의 반사시트를 통해 백라이트유니트의 배면으로 누설되는 빛의 휘도를 함께 측정해야 하며, 이를 위해 작업자는 백라이트유니트를 뒤집어야만 함으로써 작업성이 현저히 저하되는 문제점이 있다.Accordingly, in the fabrication process of the liquid crystal display device, before the assembled backlight unit is fastened to the liquid crystal panel, a test process of measuring luminance of light emitted from the backlight unit is performed. This test process has a problem that the workability is deteriorated by the operator by measuring the brightness of the light irradiated to the front by the backlight unit manually by using a luminance meter. In addition, the operator must measure the brightness of the light leaking to the back of the backlight unit through the reflective sheet of the backlight unit, for this purpose, the operator has to turn over the backlight unit has a problem that the workability is significantly reduced.
따라서, 본 발명의 목적은, 액정패널 배면에 배치되어 상기 액정패널에 빛을 조사하는 백라이트유니트의 반사시트를 통해 상기 백라이트유니트의 배면으로 누설되는 빛의 휘도를 자동으로 정확하게 측정할 수 있는 액정표시장치용 백라이트유니트의 테스트 장치 및 방법을 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a liquid crystal display capable of automatically and accurately measuring the luminance of light leaking to the rear surface of the backlight unit through a reflective sheet of the backlight unit disposed on the rear surface of the liquid crystal panel and irradiating light to the liquid crystal panel. The present invention provides a test apparatus and method for a backlight unit for a device.
본 발명의 다른 목적은 백라이트유니트의 테스트 공정의 장동화가 가능한 액정표시장치용 백라이트유니트의 테스트 장치를 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide a test apparatus for a backlight unit for a liquid crystal display device capable of activating a test process for a backlight unit.
상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명의 장치는, 액정표시장치용 백라이트유니트의 테스트 장치에 있어서, 백라이트유니트의 배면에 배치되며, 상기 백라이트유니트의 반사시트에서 누설되는 빛의 휘도를 감지하는 감지부; 상기 감지된 빛의 휘도에 따라 가변하는 전압 레벨을 검출하는 레벨 검출부; 상기 전압 레벨이 사용자가 미리 설정한 기준 범위의 레벨인지를 판단하는 제어부; 및 상기 제어부의 판단 결과에 따라 알림신호를 출력하는 알림부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the device of the present invention is a test device for a backlight unit for a liquid crystal display device, the sensing unit is disposed on the back of the backlight unit, the sensing unit for detecting the brightness of light leaking from the reflective sheet of the backlight unit ; A level detector detecting a voltage level that varies according to the brightness of the detected light; A controller for determining whether the voltage level is a level of a reference range preset by a user; And a notification unit for outputting a notification signal according to the determination result of the control unit.
상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명의 다른 장치는, 액정표시장치용 백라이트유니트의 테스트 장치에 있어서, 상기 백라이트유니트가 놓여지는 테이블; 상기 테이블에 장착되어 테이블상에 놓여지는 백라이트유니트를 고정하는 적어도 하나 이상의 고정부; 상기 테이블의 배면측에 장착되고, 상기 테이블의 표면으로 노출되어 상기 백라이트유니트의 휘도를 측정하는 수광부; 및 상기 수광부로부터 측정된 휘도를 입력받고, 측정된 휘도와 사용자에 의해 기 입력된 두개의 휘도를 비교하여 상기 백라이트유니트의 불량여부를 판정하는 제어부를 포함하는 것을 특징 으로 한다.In order to achieve the above object, another apparatus of the present invention is a test apparatus for a backlight unit for a liquid crystal display device, comprising: a table on which the backlight unit is placed; At least one fixing part fixed to the backlight unit mounted on the table; A light receiving unit mounted on a rear surface of the table and exposed to the surface of the table to measure the brightness of the backlight unit; And a controller configured to receive the measured luminance from the light receiving unit, compare the measured luminance with two luminance values previously input by the user, and determine whether the backlight unit is defective.
상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명의 또 다른 장치는, 액정표시장치용 백라이트유니트의 테스트 장치에 있어서, 조립공정을 거친 백라이트유니트가 이송되는 컨베이어에 제공되어 백라이트유니트의 진행여부를 검출하는 센싱부; 상기 센싱부에 의한 백라이트유니트 검출시 상기 백라이트유니트의 진행방향 전방으로 돌출되어 백라이트유니트를 기 설정된 정위치에 정지시키는 스토퍼; 상기 스토퍼에 의해 정지된 백라이트유니트의 저판프레임에 구비된 센싱홀에 근접하도록 이동하여 상기 백라이트유니트의 휘도를 측정하는 수광부; 상기 스토퍼 및 수광부를 상기 컨베이어에 고정하며, 상기 스토퍼 및 수광부를 작동시키는 구동부; 및 상기 센싱부의 검출신호에 의해 상기 구동부를 작동하고, 상기 수광부에 의해 측정된 휘도와 사용자에 의해 기 입력된 두개의 휘도를 비교하여 상기 백라이트유니트의 불량여부를 판정하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, another apparatus of the present invention is a test apparatus for a backlight unit for a liquid crystal display device, the sensing unit which is provided on a conveyor to which the backlight unit passed through the assembly process is transferred to detect whether the backlight unit is in progress. ; A stopper for protruding forward of the backlight unit in the forward direction of the backlight unit when the backlight unit is detected by the sensing unit to stop the backlight unit at a predetermined position; A light receiving unit which moves closer to a sensing hole provided in the bottom plate frame of the backlight unit stopped by the stopper to measure the brightness of the backlight unit; A driving unit which fixes the stopper and the light receiving unit to the conveyor and operates the stopper and the light receiving unit; And a controller configured to operate the driving unit based on a detection signal of the sensing unit, and determine whether the backlight unit is defective by comparing the luminance measured by the light receiving unit with two luminance values previously input by the user. do.
상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명의 방법은, 액정표시장치용 백라이트유니트의 테스트 방법에 있어서, 상기 백라이트유니트의 반사시트에서 누설되는 빛의 휘도를 감지하는 단계; 상기 감지된 빛의 휘도에 따라 가변하는 전압 레벨을 검출하는 단계; 상기 전압 레벨이 사용자가 미리 설정한 기준 범위의 레벨인지를 판단하는 단계; 및 상기 판단 결과에 따라 소정의 알림신호를 출력하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of testing a backlight unit for a liquid crystal display device, the method comprising: sensing brightness of light leaking from a reflective sheet of the backlight unit; Detecting a voltage level that varies in accordance with the sensed brightness of the light; Determining whether the voltage level is a level of a reference range preset by a user; And outputting a predetermined notification signal according to the determination result.
이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 하기의 설명에서는 본 발명에 따른 동작을 이해하는데 필요한 부분만이 설명되며 그 이외 부분의 설명은 본 발명의 요지를 흩트리지 않도록 생략될 것이라는 것을 유의하여야 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. It should be noted that in the following description, only parts necessary for understanding the operation according to the present invention will be described, and descriptions of other parts will be omitted so as not to distract from the gist of the present invention.
본 발명은, 액정표시장치의 제조 공정에 있어서, 어레이 공정과 셀 공정을 통해 제작된 액정패널에 빛을 조사하기 위해 상기 액정패널의 배면에 배치되는 백라이트유니트의 반사시트를 통해 백라이트유니트의 배면으로 누설되는 빛의 휘도를 용이하게 자동으로 측정할 수 있도록 한 액정표시장치용 백라이트유니트의 테스트 장치 및 방법을 제안한다. 여기서, 상기 백라이트유니트는, 빛을 방사하는 광원과, 광원의 측면에 이격 배치되어 광원으로부터 나온 빛을 액정패널에 전달하는 도광판과, 광원의 주위를 둘러싸는 램프반사체와, 도광판의 배면에 설치되어 도광판의 배면으로 빠져나온 빛을 다시 도광판으로 돌아가도록 하는 반사시트와, 도광판의 전면 상에 차례로 설치된 확산시트, 프리즘시트 및 보호시트가 몰드프레임 내에 적층 조립된다.The present invention, in the manufacturing process of the liquid crystal display device, through the reflective sheet of the backlight unit disposed on the back of the liquid crystal panel to irradiate light to the liquid crystal panel produced through the array process and the cell process to the back of the backlight unit A test apparatus and method for a backlight unit for a liquid crystal display device capable of easily and automatically measuring the luminance of leakage light are proposed. The backlight unit may include a light source for emitting light, a light guide plate spaced apart from the side of the light source, and transmitting light from the light source to the liquid crystal panel, a lamp reflector surrounding the light source, and a rear surface of the light guide plate. A reflective sheet for returning the light emitted to the back of the light guide plate back to the light guide plate, and a diffusion sheet, a prism sheet, and a protective sheet sequentially installed on the front surface of the light guide plate are laminated and assembled in the mold frame.
그러면 도 1을 참조하여 본 발명의 제 1 실시예에 따른 백라이트유니트의 테스트 장치를 설명하기로 한다.Next, a test apparatus for a backlight unit according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 1.
상기 도 1은 백라이트유니트의 반사시트를 통해 백라이트유니트의 배면으로 누설되는 빛의 휘도를 측정하기 위한 테스트 장치의 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.FIG. 1 is a diagram schematically illustrating a structure of a test apparatus for measuring luminance of light leaking to a rear surface of a backlight unit through a reflective sheet of a backlight unit.
도 1을 참조하면, 상기 백라이트유니트의 테스트 장치는, 감지부(150), 레벨 검출부(160), 제어부(170) 및 알림부(180)를 포함한다. 전술한 백라이트유니트(10)의 구성 요소들이 조립 공정 시스템을 통해 조립이 완료되면, 컨베이어 벨트를 통해 조립 공정 시스템을 이동 중이던 상기 백라이트유니트(10)는 반사시트를 통해 배면으로 누설되는 빛의 휘도를 측정하기 위해 테이블(100) 상에 위치하게 된다. 테이블(100)은 백라이트유니트(10)가 그 상에 위치하도록 소정의 공간을 제공하며, 상기 백라이트유니트(10)를 고정하기 위한 하나 이상의 고정부(200)를 구비한다. 여기서, 고정부(200)는 백라이트유니트(10)를 흡착함으로써 상기 백라이트유니트(10)가 테이블(100) 상에 고정되도록 하는 역활을 수행하며, 바람직하게는 백라이트유니트(10)의 양측 하단 모서리부를 흡착하도록 2개의 고정부(200)가 제공된다. 아울러, 상기 고정부(200)는 테이블(100)에 구비된 가이드홈에 의해 백라이트유니트(10)의 크기에 따라 이동이 가능하며, 이동 후 소정의 위치에서 고정된다.Referring to FIG. 1, the test apparatus of the backlight unit includes a
이렇게 테이블(100) 상에 백라이트유니트(10)가 고정되어 배치되면, 전원공급부(15)는 백라이트유니트(10)에 전원을 공급한다. 공급된 전원에 의해 백라이트유니트(10)의 광원은 빛을 방사하며, 그에 따라 백라이트유니트(10)는 광원으로부터 방사된 빛을 전면으로, 즉 상방향으로 면광을 조사한다. 이때, 백라이트유니트(10)의 배면, 즉 하방향에 배치된 감지부(150)는 백라이트유니트(10)의 반사시트를 통해 백라이트유니트(10)의 배면으로 누설되는 빛의 휘도를 감지한다.When the
여기서, 상기 감지부(150)는 포토다이오드로 구성됨이 바람직하며, 포토다이오드는 백라이트유니트(10)의 배면으로 누설된 빛의 휘도를 감지하여 광기전력효과에 의해 소정 레벨의 전압을 발생한다. 따라서, 포토다이오드는, 즉 감지부(150)는 광기전력효과를 통해 백라이트유니트(10)의 배면으로 누설된 빛의 휘도에 따라 각각 다른 레벨의 전압을 출력한다. 상기 테이블(100)은 백라이트유니트(10)의 배면으로 누설되는 빛의 휘도를 정확히 측정하기 위해 백라이트유니트(10)의 배면에 암실효과를 부여하며, 백라이트유니트(10)의 몰드프레임은 상기 감지부(150)가 삽입되도록 홀을 구비한다.Here, the
이와 같이 백라이트유니트(10)의 배면으로 누설되는 빛의 휘도를 감지부(150)가 감지하며, 감지부(150)는 빛의 휘도에 따라 가변하는 전압을 출력한다. 상기 레벨 검출부(160)는 빛의 휘도에 따라 가변하는 전압 레벨을 검출하며, 검출된 전압 레벨을 제어부(170)로 전달한다. 제어부(170)는, 레벨 검출부(160)를 통해 검출된 전압 레벨이 테스트 장치 사용자가 미리 설정한 기준 범위의 레벨인지를 판단한다. 즉, 상기 제어부(170)는 사용자가 입력한 상한값과 하한값에 의해 기준 범위가 미리 설정되며, 검출된 전압 레벨이 상기 기준 범위를 초과하는지, 미만인지 및 범위 이내인지를 판단한다. 이러한 판단 결과에 따라 제어부(170)는 각각 다른 레벨의 신호를 알림부(180)에 전달한다. 아울러, 상기 제어부(170)는 표시부(175)를 구비하며, 표시부(175)는 검출된 전압 레벨을 통해 빛의 휘도를 수치상으로 나타낸다.As described above, the
상기 알림부(180)는 제어부(170)로부터 수신한 신호, 즉 제어부(170)의 판단 결과에 따라 각각 다른 레벨의 알림신호를 통해 사용자에게 제어부(170)의 판단 결과를 통보해준다. 여기서, 알림부(180)는 3개의 알림등(182,184,186)과 스피커(188)를 구비하며, 제어부(170)가 전달하는 각각 다른 레벨의 신호에 따라 하나의 알림등을 턴온시킨다. 또한, 알림부(180)는 스피커(188)를 통해 제어부(170)가 전달하는 각각 다른 레벨의 신호에 따라 각각 다른 음향신호를 출력한다. 다시 말해, 검출된 전압 레벨이 기준 범위를 초과했을 경우, 상기 알림부(180)는 R알림등(182)만을 턴온시키고, 미만일 경우에는 G알림등(184)만을 턴온시키며, 범위 이내일 경우에는 B알림등(186)만을 턴온시킨다. 이렇게 R알림등(182)이 턴온될 경우, 사용자는 백라이트유니트의 배면으로 빛이 과도하게 누설됨으로 백라이트유니트에 반사시트가 필요로 하는 갯수 이하로 조립되어 있음을 알 수 있다. 그리고, G알림등(184)이 턴온될 경우, 사용자는 백라이트유니트의 배면으로 빛의 누설이 기준 이하임으로 백라이트유니트에 반사시트가 필요로 하는 갯수 이상으로 조립되어 있음을 알 수 있다. 또한, B알림등(186)이 턴온될 경우, 사용자는 백라이트유니트의 배면으로 빛의 누설이 기준에 적정함으로 백라이트에 반사시트가 적정하게 조립되어 있음을 알 수 있다. 아울러, 알림부(180)는 전술한 바와 같이 턴온되는 알림등과 대응하는 각각 다른 음향신호를 스피커(188)를 통해 출력한다. 따라서, 사용자는 제어부(170)의 표시부(175)를 통해 백라이트유니트(10)의 배면으로 누설되는 빛의 휘도를 수치상으로 알 수 있으며, 알림부(180)가 출력하는 알림신호에 의해 백라이트유니트(10)의 불량여부를 용이하게 판정할 수 있다.The
다음으로 도 2를 참조하여 본 발명의 제 1 실시예에 따른 백라이트유니트의 테스트 방법을 설명하기로 한다.Next, a test method of the backlight unit according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 2.
상기 도 2는 백라이트유니트의 반사시트를 통해 백라이트유니트의 배면으로 누설되는 빛의 휘도를 측정하기 위한 테스트 과정을 도시한 순서도이다.FIG. 2 is a flowchart illustrating a test procedure for measuring the brightness of light leaking through the reflective sheet of the backlight unit to the back of the backlight unit.
도 2를 참조하면, 250단계에서 감지부(150)는 백라이트유니트의 배면으로 누설되는 빛의 휘도를 감지하며, 광기전력효과를 이용하여 감지된 빛의 휘도에 따라 각각 다른 레벨의 전압을 출력한다. 이렇게 빛의 휘도에 따라 가변하는 전압 레벨은 260단계에서 레벨 검출부(160)를 통해 검출되며, 270단계에서 제어부(170)는 검출된 전압 레벨이 사용자에 의해 미리 설정된 기준 범위의 레벨인지는 판단한다. 사용자가 입력한 상한값과 하한값에 의해 기준 범위가 미리 설정되며, 270단계에서 검출된 전압 레벨이 상기 기준 범위를 초과하는지, 미만인지 및 범위 이내인지를 판단한다. 280단계에서 알림부(180)는 270단계의 판단 결과에 따라 각각 다른 레벨의 알림신호를 출력한다.Referring to FIG. 2, in
이와 같이 본 발명의 제 1 실시예는 사용자가 백라이트유니트를 테이블 상에 배치하여 테스트 작업을 수행함으로써, 백라이트유니트를 뒤집지 않고도 반사시트를 통해 백라이트유니트의 배면으로 누설되는 빛의 휘도를 측정이 가능하며, 사용자는 신속하고 정확하게 백라이트유니트의 불량여부를 판정할 수 있다.As described above, according to the first embodiment of the present invention, the user places the backlight unit on a table to perform a test operation, so that the luminance of light leaking to the rear surface of the backlight unit through the reflective sheet can be measured without inverting the backlight unit. The user can quickly and accurately determine whether the backlight unit is defective.
이하에서는 도 3 내지 도 7을 참조하여 본 발명의 제 2 실시예에 따른 액정표시장치용 백라이트유니트의 테스트 장치를 설명하기로 한다.Hereinafter, a test apparatus for a backlight unit for a liquid crystal display according to a second exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 3 to 7.
도 3 내지 도 7에 도시한 바와 같이, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 액정표시장치용 백라이트유니트의 테스트 장치는 테이블(100)과, 고정부(200)와, 수광부(300)와, 제어부(400)를 포함한다. 이러한 본 발명의 테스트 장치는 상기 테이블(100)에 놓여진 백라이트유니트(10)가 고정부(200)에 의해 고정되고, 상기 테이블(100)과 대면하는 백라이트유니트(10)의 일면에 대한 빛의 휘도가 상기 수광부 (300)에 의해 측정되어지며, 측정된 빛의 휘도가 상기 제어부(400)로 입력되어 상기 백라이트유니트(10)의 불량여부를 판정하도록 구성된다. 또한, 본 발명의 테스트 장치는 측정된 빛의 휘도를 수치로 나타내는 표시부(410)가 더 포함될 수 있으며, 상기 제어부에 의해 판단된 제품의 불량여부를 사용자에게 알리는 알람부(420)가 더 포함될 수 있다.As shown in FIGS. 3 to 7, a test apparatus for a backlight unit for a liquid crystal display according to a second exemplary embodiment of the present invention includes a table 100, a fixing
도 3을 참조하면, 상기 테이블(100)은 백라이트유니트(10)가 놓여지는 공간을 제공하는 것으로, 평판형으로 형성되고, 힌지장치(500)에 의해 저판부(130)에 고정되어 기울기의 조절이 가능하며, 상기 고정부(200)와 수광부(300)가 소정위치에 장착된다. 상기 저판부(130)는 본 실시예에 따른 테스트 장치가 놓이게 되는 미도시된 구조물에 닿는 부분이다.Referring to FIG. 3, the table 100 provides a space in which the
도 3 및 도 4를 참조하면, 상기 고정부(200)는 테이블(100)에 놓여진 백라이트유니트(10)가 유동하지 않도록 고정하는 것으로, 바람직하게는 상기 백라이트유니트(10)의 양측 하단 모서리를 감싸도록 2개의 고정부들이 제공된다. 즉, 상기 고정부(200)는 백라이트유니트(10)의 저면(10a)에 대면하는 면이 구비된 수평부(210)와, 상기 백라이트유니트(10)의 측면(10b)에 대면에는 면이 구비된 수직부(220)가 일체형으로 형성된 구조를 갖으며, 상호 대칭구조를 이루도록 2개의 고정부들이 상기 테이블(100)에 설치되어 백라이트유니트(10)의 양측 하단 모서리를 감싸 고정하게 된다. 또한 상기 고정부(200)는 테이블(100)의 좌우측 방향으로 이동가능 한 구조를 갖는다. 즉, 상기 테이블(100)의 하단부 양측에는 좌우방향으로 길게 연장된 한쌍의 가이드홈(110)들이 형성되고, 상기 가이드홈(110)에 고정부(200)가 결합되 는 구조로서, 상기 가이드홈(110)을 따라 고정부(200)가 이동됨과 더불어 소정 위치에 고정된다. 따라서, 상기 고정부(200) 간의 간격을 백라이트유니트(10)의 규격에 따라 넓히거나 좁힐 수 있게 된다. 한편, 상기 고정부(200)는 테이블(100)의 배면으로부터 상기 가이드홈(110)을 통해 삽입되는 볼트(230: 도 5에 도시함)에 의해 고정된다.3 and 4, the fixing
도 5 및 도 6을 참조하면, 상기 수광부(300)는 테이블(100)에 고정된 백라이트유니트(10)의 휘도를 측정하는 것으로, 상기 테이블(100)의 표면으로 노출되도록 테이블(100)의 배면으로부터 장착되어 백라이트유니트(10)의 휘도를 측정하게 된다. 이때, 상기 수광부(300)는 상기 테이블(100)에 설치된 보조하우징(310)에 의해 고정된다. 바람직하게는 상기 수광부(300)는 포토다이오드로 구성된다.5 and 6, the
한편, 상기 테이블(100)의 표면으로 노출된 수광부(300)의 주위를 둘러싸는 쿠션부재(320)가 상기 테이블(100)에 구비되며, 이 쿠션부재(320)가 상기 수광부(300)에 의한 빛의 휘도 측정시 테이블(100)에 놓여진 백라이트유니트(10)의 배면에 밀착되어 측정영역에 암실효과를 부여함으로써, 백라이트유니트(10)와 테이블(100)의 사이에 발생되는 틈새에 의한 빛의 휘도 오차를 방지하게 된다.Meanwhile, a
상기 보조하우징(310)은 양단이 개방된 원형통형으로 상단이 상기 테이블(100)의 표면과 일치하며, 하단이 상기 테이블(100)의 배면측으로 돌출되도록 설치되며, 측면 소정위치에는 고정나사(311)가 구비된다. 따라서, 상기 수광부(300)는 보조하우징(310)의 하단을 통해 삽입되며, 상기 고정나사(311)의 조임에 의해 견고히 고정된다.The
근래의 액정표시장치는 백라이트유니트의 배면에서 빛의 휘도를 측정하여 액정표시장치의 밝기를 자동으로 조절하는 시스템이 채택되고 있는 바, 백라이트유니트의 저판 몰드프레임에는 배면 빛의 휘도를 측정하기 위한 센싱홀이 형성되어 있다Recently, a liquid crystal display device adopts a system that automatically adjusts the brightness of a liquid crystal display device by measuring the brightness of the light at the back of the backlight unit. In the bottom mold frame of the backlight unit, sensing is performed to measure the brightness of the back light. A hole is formed
다시 도 3을 참조하면, 상기 수광부(300)를 고정하는 상기 보조하우징(310)은 상기 센싱홀(11)에 대응하는 위치에 설치됨으로써 백라이트유니트(10)를 뒤집지 않은 상태에서도 배면 빛의 휘도의 측정이 가능하게 된다. 즉, 상기 고정부(200)와 수광부(300)의 위치는 백라이트유니트(10)의 양측 하단 모서리와 센싱홀(710)의 위치관계에 따라 결정되어 상기 고정부(200)에 의해 백라이트유니트(10)가 고정되면, 상기 수광부(300)는 백라이트유니트(10)의 저판프레임에 구비된 센싱홀(710)에 일치하도록 구성된다.Referring to FIG. 3 again, the
도 3 및 도 7을 참조하면, 상기 테이블(100)은 힌지장치(500)에 의해 상기 저판부(130)에 연결되어 소정의 기울기를 갖도록 구성된다. 이처럼 상기 테이블(100)이 기울기를 갖게 됨으로써, 테이블(100)에 놓여지는 백라이트유니트(10)가 자중에 의해 고정부(200)에 더욱 밀착되어 적은 힘으로도 백라이트유니트(10)의 유동을 방지할 수 있게 된다.3 and 7, the table 100 is connected to the
상기 힌지장치(500)는 힌지축(510)과, 힌지프레임(520)을 포함한다. 상기 힌지축(510)은 상기 테이블(100)의 하단부에 구비되어 테이블(100)의 회전중심이 되는 회전축을 제공하게 된다. 상기 힌지프레임(520)은 상기 저판부(130)에 설치되며, 상기 힌지축(510)을 지지하는 베어링(521)이 구비되어 있다. 한편, 상기 힌지 축(510)을 중심으로 회전하는 테이블(100)이 소정의 각도를 유지한 채로 고정될 수 있도록 하는 지지바(530)가 테이블(100)의 배면측에 제공된다. 따라서 상기 지지바(530)가 저판부(130)와 테이블(100)의 사이에서 테이블(100)의 받쳐주게 되므로 상기 테이블(100)이 소정의 기울기를 유지한 상태로 고정되게 된다.The
상기 제어부(400)는 사용자로부터 해당 백라이트유니트의 불량여부를 판정하기 위한 기준이 되는 휘도의 하한값과 상한값을 입력받고, 상기 수광부(300)에 의해 측정된 빛의 휘도를 입력받아 측정된 빛의 휘도가 기 저장된 하한값과 상한값의 범위내에 해당되는지를 확인함으로써 해당 백라이트유니트의 불량여부를 판정하게 된다.The
상기 표시부(410)는 제어부(400)로 입력된 빛의 휘도를 수치상으로 나타내서 사용자가 해당 백라이트유니트의 휘도를 알 수 있게 하는 기능을 제공한다.The
상기 알람부(420)는 제어부(400)에 의해 해당 백라이트유니트의 불량여부가 판정되면, 해당 백라이트유니트의 불량여부를 사용자에게 알리는 기능을 제공하는 것으로, 음향을 발산하여 해당 백라이트유니트의 불량여부를 알리는 스피커 또는 서로 다른 색을 갖는 2개의 램프들로 구성될 수 있다. 2개의 램프들은, 해당 백라이트유니트가 불량으로 판정되면, 어느 한개의 램프가 점등되어 해당 백라이트유니트가 불량임을 사용자에게 알리고, 이와 반대로 해당 백라이트유니트가 양호로 판정되면, 다른 한개의 램프가 점등되어 해당 백라이트유니트가 양호임을 사용자에게 알리게 된다.The
상기와 같은 제어부(400)와 표시부(410) 및 알람부(420)는 상기 저판부(130) 에 고정된 콘트롤박스(450)에 설치되어 각 기능을 수행하게 된다.The
이상에서 설명한 본 발명의 제 2 실시예는 조립공정을 거쳐 컨베이어를 타고 이송되는 백라이트유니트를 사용자가 테이블에 직접 운반하여 테스트 공정을 진행하는 것으로, 백라이트유니트를 뒤집지 않고도 배면 빛의 휘도 측정이 가능하며 신속하고 정확하게 백라이트유니트의 불량여부를 판정할 수 있는 이점이 있다.In the second embodiment of the present invention described above, the user carries the backlight unit, which is carried on the conveyor, through the assembly process directly to the table to perform the test process, and the luminance of the back light can be measured without inverting the backlight unit. There is an advantage that it is possible to quickly and accurately determine whether the backlight unit is defective.
이하, 본 발명의 제 3 실시예를 통해 보다 자동화된 테스트 장치를 설명하도록 한다.Hereinafter, a more automated test apparatus will be described through a third embodiment of the present invention.
도 8 내지 도 10에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제 3 실시예에 따른 백라이트 테스트 장치는 센싱부(600)와, 스토퍼(700)와, 수광부(800)와, 구동부(900)와, 제어부(1000)를 포함한다. 이러한 제 3 실시 예에 따른 테스트 장치는 상기 센싱부(600)에 의한 백라이트 검출신호 발생시 상기 스토퍼(700)는 컨베이어(30)를 타고 이송되는 백라이트유니트(10)를 정위치에 정지시키고, 상기 수광부(800)는 정지된 백라이트유니트(10)의 휘도를 측정하며, 상기 제어부(1000)는 수광부(800)에 의해 측정된 빛의 휘도와 사용자에 의해 기 입력된 2개의 휘도를 비교하여 해당 백라이트유니트의 불량여부를 판정하도록 구성된다. 또한, 측정된 빛의 휘도를 나타내는 표시부가 더 포함될 수 있으며, 상기 제어부(1000)에 의해 판단된 제품의 불량여부를 사용자에게 알리는 알람부가 더 포함될 수 있다. 상기 제어부와 표시부 및 알람부는 상술한 제 2 실시예의 표시부 및 알람부와 동일한 것으로 그 상세한 설명은 생략한다.8 to 10, the backlight test apparatus according to the third embodiment of the present invention includes a
도 8을 참조하면, 상기 센싱부(600)는 컨베이어(30)를 타고 이송되는 백라이 트의 진행여부를 검출하기 위한 것으로, 상기 컨베이어(30)의 측면부에 제공되어 컨베이어를 타고 이송되는 백라이트가 제공된 센싱부(600)의 전방으로 진입하게 되면, 검출신호를 발생하여 상기 제어부(1000)로 전달하게 된다.Referring to FIG. 8, the
상기 스토퍼(700)는 상기 센싱부(600)에 의한 검출신호 발생시 컨베이어를 타고 이송되는 백라이트유니트를 기 설정된 정위치에 정지시키는 것으로, 상기 컨베이어(30)에 구비된 롤러(31)들의 사이로 돌출될 수 있도록 컨베이어(30)의 하단부에 제공된다. 제공된 상기 스토퍼(700)는 상기 센싱부(600)에 의한 검출신호 발생시 구동부(900)에 의해 상승하여 롤러(31)들의 상부로 돌출됨으로써 컨베이어(30)에 의해 이송되는 백라이트유니트(10)를 정위치에 정지시키게 된다. 바람직하게는 상기 스토퍼(700)에 의한 백라이트유니트(10)의 정지와 더불어 컨베이어(30)의 작동은 일시적으로 멈추게 되며, 정지된 백라이트유니트(10)의 휘도 측정이 완료되면 다시 작동하여 백라이트를 이송하게 된다.The
도 9를 참조하면, 상기 컨베이어(30)를 타고 이송되는 백라이트유니트(10)는 보조센싱홀(21)을 갖는 팔렛(20)에 놓여진 상태로 이송된다. 상기 보조센싱홀(21)은 백라이트유니트(10)의 저판 몰드프레임에 구비된 센싱홀(11)과 연통됨과 더불어 팔렛(20)의 저면으로 연장되어 상기 수광부(800)가 삽입되며, 삽입된 수광부(800)가 상기 센싱홀(11)에 근접될 수 있도록 하는 공간을 제공하게 된다.Referring to FIG. 9, the
다시 도 8을 참조하면, 상기 수광부(800)는 스토퍼(700)에 의해 백라이트유니트(10)가 정위치에 멈춰지면, 멈춰진 백라이트유니트에 구비된 센싱홀(11)에 근접하여 빛의 휘도를 측정할 수 있도록 컨베이어(30)의 하단부에 제공된다.Referring back to FIG. 8, when the
상기 구동부(900)는 상기 스토퍼(700)와 수광부(800)를 각각 고정하는 제 1,2 실린더(910,920)를 포함하며, 상기 컨베이어(30)의 하단부에 설치되어 스토퍼(700)와 수광부(800)를 이동시키도록 구성된다. 상기 제 1 실린더(910)는 상기 스토퍼(700)에 연결되어 센싱부(600)에 의한 백라이트 검출신호가 발생되면, 상기 스토퍼(700)가 롤러(31)들의 사이로 돌출되도록 상향 이동시키게 된다. 상기 제 2 실린더(920)는 상기 수광부(800)에 연결되어 수광부(800)가 팔렛(20)의 보조센싱홀(21)을 통해 삽입되어 백라이트유니트(10)의 센싱홀(11)로 근접하도록 상향 이동시키게 된다. 이러한 제 1 및 제 2 실린더(910,920)는 유압 또는 공압에 의해 작동될 수 있다.The driving
상기 제어부(100)는 센싱부(600)에 의한 검출신호 발생시 상기 구동부(900)를 작동하는 신호를 발생하고, 상기 수광부(800)에 의해 측정된 휘도를 입력받아 해당 백라이트유니트의 불량여부를 판정하게 된다.The
이상에서 설명한 본 발명의 제 3 실시예는 조립공정을 거쳐 컨베이어를 타고 이송되는 백라이트유니트를 스토퍼를 이용해 정지시키고, 정지된 백라이트유니트의 휘도를 수광부를 통해 측정하며, 측정된 휘도를 입력받은 제어부가 해당 백라이트유니트의 불량여부를 판정하는 일련의 자동화된 과정을 거쳐 백라이트유니트의 불량여부를 판정하게 되므로 작업자에 의한 백라이트유니트의 이동과정 없이 빛의 휘도를 측정할 수 있게 된다.In the third embodiment of the present invention described above, the backlight unit, which is transported through the conveyor through the assembly process, is stopped using a stopper, the luminance of the stopped backlight unit is measured through the light receiving unit, and the controller receives the measured luminance. Since the backlight unit is determined to be defective through a series of automated processes for determining whether the backlight unit is defective, the luminance of the light can be measured without moving the backlight unit by an operator.
한편 본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시예에 관해 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도내에서 여러 가지 변형이 가능함은 물론이 다. 그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안되며 후술하는 특허청구의 범위뿐만 아니라 이 특허청구의 범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.Meanwhile, in the detailed description of the present invention, specific embodiments have been described, but various modifications are possible without departing from the scope of the present invention. Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the described embodiments, but should be defined not only by the scope of the following claims, but also by the equivalents of the claims.
상술한 바와 같은 본 발명은, 백라이트유니트의 휘도를 자동으로 정확하게 측정하여 사용자에게 백라이트유니트의 불량여부를 신속하게 알려줌으로써, 백라이트유니트의 신뢰성 및 제조수율을 향상시킬 수 있다.The present invention as described above, by accurately measuring the brightness of the backlight unit automatically and quickly informs the user of whether or not the backlight unit, it is possible to improve the reliability and manufacturing yield of the backlight unit.
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