KR100773017B1 - Method for eliminating noise of horizontal lines and calibrating gamma in OLED panel - Google Patents

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Abstract

본 발명에 따른 OLED 수평 노이즈 제거 및 감마 보정 방법은 R, G, B 입력 레벨에 따라 색의 재현과 밝기 레벨이 모듈별로 차이가 있는 OLED 소자에 있어서,블랙 레벨 데이터 값을 설정하는 단계; OLED 디스플레이 패널을 중앙 영역과 그 외의 전 영역으로 분할하고, 상기 분할된 영역별로 백색 휘도 값을 증가시키면서 OLED 드라이버 IC의 A/D 출력값을 측정하는 단계; 상기 각 분할된 영역별로 OLED 드라이버 IC의 A/D 출력값과 블렉 레벨 데이터 값을 이용하여 슬로프 오프셋 추가계수를 구하는 단계; 상기 블랙레벨 데이터 값과 슬로프 오프셋 추가 계수값을 드라이버 IC의 해당 레지스터에 세팅하는 단계; 각 수평 라인별로 백색 패턴을 출력하여 드라이버 IC의 A/D 출력값을 측정함으로써 라인 오프셋을 구하여 상기 드라이버 IC의 내부 SRAM에 세팅하는 단계; 상기 OLED 드라이버 IC가 상기 블랙 레벨, 슬로프 오프셋 추가 계수 및 라인 오프셋을 이용하여 라인 간의 간섭 노이즈를 제거하는 단계; R, G, B 각각의 휘도를 측정하고, 측정한 휘도를 통해 휘도 영역 계수를 계산하여 감마값을 조정하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 한다. According to an aspect of the present invention, there is provided an OLED horizontal noise removing and gamma correction method, comprising: setting a black level data value in an OLED device in which color reproduction and brightness levels differ according to R, G, and B input levels; Dividing the OLED display panel into a central region and all other regions, and measuring the A / D output value of the OLED driver IC while increasing the white luminance value for each of the divided regions; Obtaining a slope offset addition coefficient by using the A / D output value and the block level data value of the OLED driver IC for each of the divided regions; Setting the black level data value and slope offset addition coefficient value in a corresponding register of a driver IC; Outputting a white pattern for each horizontal line and measuring an A / D output value of the driver IC to obtain a line offset and to set the offset in the internal SRAM of the driver IC; The OLED driver IC removing the interference noise between lines using the black level, slope offset addition factor and line offset; And measuring gamma values by measuring luminance of each of R, G, and B, calculating luminance region coefficients based on the measured luminance.

슬로프 오프셋, 라인 오프셋, 라인 노이즈, 감마 조정 Slope Offset, Line Offset, Line Noise, Gamma Adjustment

Description

OLED수평 노이즈 제거 및 감마 보정 방법{Method for eliminating noise of horizontal lines and calibrating gamma in OLED panel}Method for eliminating noise of horizontal lines and calibrating gamma in OLED panel

도 1은 본 발명에 따른 OLED 수평 노이즈 제거 및 감마 보정 방법의 전체적인 절차를 도시한 흐름도.1 is a flow chart showing the overall procedure of the OLED horizontal noise cancellation and gamma correction method according to the present invention.

도 2는 OLED의 내부 구성을 나타낸 블록도.2 is a block diagram showing an internal configuration of an OLED.

도 3은 OLED 디스플레이 패널을 9개의 영역으로 분할한 모습을 나타낸 도면.3 is a view showing a state in which an OLED display panel is divided into nine regions.

도 4는 OLED 디스플레이 패널의 중앙 영역에서의 슬로프 오프셋 측정값을 나타낸 도면.4 shows slope offset measurements in the center region of an OLED display panel.

도 5는 OLED 디스플레이 패널의 중앙 영역을 제외한 전 영역에서의 슬로프 오프셋 측정값을 나타낸 도면.5 shows slope offset measurements in all areas except the center area of an OLED display panel.

도 6은 OLED 디스플레이 패널의 중앙 영역의 계수 Ca와 Cb를 나타낸 도면.6 shows coefficients Ca and Cb in the central region of an OLED display panel.

도 7은 슬로프 오프셋 추가 계수를 구하는 과정을 나타낸 도면.7 is a diagram illustrating a process of obtaining a slope offset addition factor.

도 8은 라인 오프셋을 측정하기 위해 라인별로 백색 패턴을 출력하고 그에 따른 드라이버 IC의 A/D 출력값과 보정값을 나타낸 도면.8 is a view showing a white pattern for each line to measure a line offset, and accordingly, an A / D output value and a correction value of a driver IC.

도 9는 본 발명에 따른 감마 조정 시스템의 구성을 나타낸 도면. 9 is a diagram illustrating a configuration of a gamma adjustment system according to the present invention.

도 10a는 R, G, B에 대한 높은 휘도 영역 측정값을 나타낸 도면.10A shows high luminance range measurements for R, G, and B. FIG.

도 10b는 G에 대한 낮은 휘도 영역 측정값을 나타낸 도면.10B shows a low luminance range measurement for G. FIG.

도 11은 본 발명에 따른 감마 조정의 흐름도.11 is a flow chart of gamma adjustment in accordance with the present invention.

도 12는 낮은 휘도 영역 계수(coefficient) 계산하는 과정을 나타낸 도면.12 illustrates a process of calculating a low luminance region coefficient.

도 13은 R에 대한 높은 휘도 영역 계수(coefficient) 계산하는 과정을 나타낸 도면.FIG. 13 is a diagram illustrating a process of calculating a high luminance range coefficient for R; FIG.

도 14는 G에 대한 높은 휘도 영역 계수(coefficient) 계산하는 과정을 나타낸 도면.14 is a diagram illustrating a process of calculating a high luminance region coefficient for G;

도 15는 B에 대한 높은 휘도 영역 계수(coefficient) 계산하는 과정을 나타낸 도면.15 is a diagram illustrating a process of calculating a high luminance region coefficient for B;

도 16은 특정 OLED 패널에서 측정한 휘도값을 감마 계산한 감마 데이터를 그래프로 나타낸 도면.FIG. 16 is a graph showing gamma data obtained by gamma calculation of luminance values measured by a specific OLED panel. FIG.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명> <Description of the symbols for the main parts of the drawings>

11: OLED 패널 12: OLED 드라이버 IC11: OLED panel 12: OLED driver IC

13: 마이크로프로세서 14: SDRAM13: microprocessor 14: SDRAM

15: 플래시 메모리 21: PC15: flash memory 21: PC

22: 컬러 분석기 23: 프루브22: color analyzer 23: probe

24: 타겟 디바이스24: target device

본 발명은 OLED(Organic light emitting diodes) 수평 노이즈 제거 및 감마 보정 방법에 관한 것으로, 특히 모듈별로 색온도 및 밝기 레벨이 다른 OLED 소자의 라인 노이즈를 제거하고, 사용자가 요구하는 색온도 및 밝기 레벨로 일률적으로 자동 조정할 수 있는 OLED 수평 노이즈 제거 및 감마 보정 방법에 관한 것이다. The present invention relates to organic light emitting diodes (OLED) horizontal noise removal and gamma correction method, and in particular, to remove line noise of OLED devices having different color temperature and brightness levels for each module, and uniformly to the color temperature and brightness levels required by the user. The present invention relates to a method for automatically adjusting OLED horizontal noise cancellation and gamma correction.

감마 조정이란 밝은 조명아래의 공간에서 시청할 때, 상대적으로 어두운 장면의 밝기 레벨을 보정하는 기능을 말한다. 예를 들면, 영화를 즐길 때 어두운 방에서는 아름답게 재현되는 밤의 장면들도 가정의 밝은 방에서 보게되면 영상이 가지는 미묘한 밝고 어두움이 충분히 재현될 수 없는 경우가 있다.Gamma adjustment refers to the ability to correct the brightness level of relatively dark scenes when viewing in a brightly lit room. For example, when watching a movie, night scenes that are beautifully reproduced in a dark room may not be fully reproduced with the subtle light and darkness of the image when viewed in a bright room at home.

그러나, 종래에는 수평 라인간의 간섭으로 인한 노이즈값이 포함된 R(Red), G(Green), B(Blue) 출력값을 가지고 감마 조정을 수행하므로, 영상의 색상 표현이 고르지 못하고, 라인 간 노이즈가 심하게 보이는 문제점이 발생하였다. However, in the related art, gamma adjustment is performed with R (Red), G (Green), and B (Blue) output values including noise values due to interference between horizontal lines, so that the color representation of the image is uneven and noise between lines is reduced. Problems that look serious occurred.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로, 본 발명은 OLED 소자의 라인 노이즈를 제거한 후, 사용자가 요구하는 색온도 및 밝기 레벨로 일률적으로 자동 조정할 수 있는 OLED 수평 노이즈 제거 및 감마 보정 방법을 제공하는 데 그 목적이 있다. The present invention has been made to solve the above problems, the present invention is to remove the line noise of the OLED device, OLED horizontal noise removal and gamma correction method that can be automatically uniformly adjusted to the color temperature and brightness level required by the user The purpose is to provide.

본 발명에 따른 OLED 수평 노이즈 제거 및 감마 보정 방법은 블랙 레벨 데이터 값을 설정하는 단계; OLED 디스플레이 패널을 중앙 영역과 그 외의 전 영역으로 분할하고, 상기 분할된 영역별로 백색 휘도 값을 증가시키면서 OLED 드라이버 IC의 A/D 출력값을 측정하는 단계; 상기 각 분할된 영역별로 OLED 드라이버 IC의 A/D 출력값과 블렉 레벨 데이터 값을 이용하여 슬로프 오프셋 추가계수를 구하는 단계; 상기 블랙레벨 데이터 값과 슬로프 오프셋 추가 계수값을 드라이버 IC의 해당 레지스터에 세팅하는 단계; 각 수평 라인별로 백색 패턴을 출력하여 드라이버 IC의 A/D 출력값을 측정함으로써 라인 오프셋을 구하여 상기 드라이버 IC의 내부 SRAM에 세팅하는 단계; 상기 OLED 드라이버 IC가 상기 블랙 레벨, 슬로프 오프셋 추가 계수 및 라인 오프셋을 이용하여 라인 간의 간섭 노이즈를 제거하는 단계; R, G, B 각각의 휘도를 측정하고, 측정한 휘도를 통해 휘도 영역 계수를 계산하여 감마값을 조정하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 한다.OLED horizontal noise cancellation and gamma correction method according to the present invention comprises the steps of setting a black level data value; Dividing the OLED display panel into a central region and all other regions, and measuring the A / D output value of the OLED driver IC while increasing the white luminance value for each of the divided regions; Obtaining a slope offset addition coefficient by using the A / D output value and the block level data value of the OLED driver IC for each of the divided regions; Setting the black level data value and slope offset addition coefficient value in a corresponding register of a driver IC; Outputting a white pattern for each horizontal line and measuring an A / D output value of the driver IC to obtain a line offset and to set the offset in the internal SRAM of the driver IC; The OLED driver IC removing the interference noise between lines using the black level, slope offset addition factor and line offset; And measuring gamma values by measuring luminance of each of R, G, and B, calculating luminance region coefficients based on the measured luminance.

상기 중앙 영역의 슬로프 오프셋은 백색 휘도값을 소정치 a만큼 증가시키면서 측정한 드라이버 IC의 A/D 출력값이 소정치 b가 될 때까지 상기 드라이버 IC의 A/D 출력값을 측정하는 것을 특징으로 한다.The slope offset of the center region is characterized by measuring the A / D output value of the driver IC until the A / D output value of the driver IC measured while increasing the white luminance value by the predetermined value a becomes a predetermined value b.

상기 중앙 영역을 제외한 전 영역의 슬로프 오프셋은 드라이버 IC의 A/D 출력값이 소정치 b를 넘는 시점에서의 백색 휘도값에서 소정치 c를 뺀 백색 휘도값으로 상기 전 영역의 드라이버 IC의 A/D 출력값을 측정하는 것을 특징으로 한다.The slope offset of all regions except the center region is a white luminance value obtained by subtracting a predetermined value c from a white luminance value when the A / D output value of the driver IC exceeds a predetermined value b, and the A / D of the driver ICs of the entire region. It is characterized by measuring the output value.

상기 라인 오프셋은 전 수평라인에 대한 드라이버 IC의 A/D 출력값 중 최대값에서 해당 라인의 A/D 출력값을 뺀 값인 것을 특징으로 한다.The line offset may be a value obtained by subtracting the A / D output value of the corresponding line from the maximum value of the A / D output values of the driver ICs for all horizontal lines.

상기 라인 오프셋은 상기 OLED 드라이버 IC의 내부 메모리로부터 플래쉬 메모리로 이동되어 저장되는 것을 특징으로 한다.The line offset may be moved and stored from an internal memory of the OLED driver IC to a flash memory.

그리고, 상기 감마값을 조정하는 단계는, OLED 드라이버 IC를 초기화하고 선 형감마값을 세팅한 후, 최종 감마 조정 시의 백색 패턴 휘도 기대값을 상기 OLED 드라이버 IC의 내부 메모리에 저장하는 단계; R(Red)에 대한 콘트라스트(contrast) 중간값을 세팅하고 높은 휘도 영역에서의 R의 휘도값을 측정하는 단계; G(Green)에 대한 콘트라스트 중간값을 세팅하고 높은 휘도 영역에서의 G의 휘도값 및 낮은 휘도 영역에서의 G의 휘도값을 측정하는 단계; B(Blue)에 대한 콘트라스트 중간값을 세팅하고 높은 휘도 영역에서의 B의 휘도값을 측정하는 단계; 상기 각 R, G, B의 측정된 휘도값으로 낮은 휘도 영역의 계수 및 각 R, G, B의 높은 휘도 영역 계수를 계산하는 단계; 상기 낮은 휘도 영역의 계수 및 높은 휘도 영역의 계수를 이용해 R, G, B 각각의 감마값을 계산하여 드라이버 IC의 내부 메모리에 저장하는 단계; 상기 R, G, B 각각의 감마값을 플래시 메모리로 이동시켜 저장하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 한다.The adjusting of the gamma value may include: initializing the OLED driver IC and setting a linear gamma value, and then storing the expected white pattern luminance value in the final gamma adjustment in an internal memory of the OLED driver IC; Setting a contrast intermediate value for R (Red) and measuring the luminance value of R in the high luminance region; Setting a contrast medium value for G (Green) and measuring the luminance value of G in the high luminance region and the luminance value of G in the low luminance region; Setting a contrast intermediate value for B (Blue) and measuring the luminance value of B in the high luminance region; Calculating coefficients of a low luminance region and coefficients of a high luminance region of each R, G, B with the measured luminance values of each R, G, B; Calculating gamma values of R, G, and B using the coefficients of the low luminance region and the coefficients of the high luminance region and storing the calculated gamma values in an internal memory of a driver IC; The gamma value of each of R, G, and B may be moved to and stored in a flash memory.

본 발명의 다른 목적, 특징 및 이점들은 첨부한 도면을 참조한 실시예들의 상세한 설명을 통해 명백해질 것이다.Other objects, features and advantages of the present invention will become apparent from the following detailed description of embodiments taken in conjunction with the accompanying drawings.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명에 따른 OLED 수평 노이즈 제거 및 감마 보정 방법의 전체적인 절차를 도시한 흐름도이고, 도 2는 OLED의 내부 구성을 나타낸 블록도이다.1 is a flow chart showing the overall procedure of the OLED horizontal noise removal and gamma correction method according to the present invention, Figure 2 is a block diagram showing the internal configuration of the OLED.

도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 OLED 수평 노이즈 제거 및 감마 보정 방법은 상기 OLED의 블랙 레벨(Black Level)값을 측정하고(S1), 슬로프 오프셋(Slope Offset)을 측정 및 계산한 다음(S2), 상기 OLED의 전 수평 라인(Line)에 대한 라인 오프셋(Line Offest)을 측정하여 수평 라인 간의 간섭 노이즈를 제거한 후(S3), 마지막으로 R, G, B 각각의 휘도를 측정하여 감마 조정을 하는 단계(S4)로 이루어진다.As shown in FIG. 1, the OLED horizontal noise removing and gamma correction method according to the present invention measures a black level value of the OLED (S1), and measures and calculates a slope offset. (S2), the line offset of the horizontal line (Line) of the OLED is measured to remove the interference noise between the horizontal lines (S3), and finally, the luminance of each of the R, G, B by measuring the gamma In step S4, adjustment is performed.

도 2에 도시된 바와 같이, OLED는 OLED 패널(11), 상기 OLED 패널(11)에 R, G, B 신호를 공급하는 OLED 드라이버 IC(12), 상기 OLED 드라이버 IC(12)를 제어하는 마이크로프로세서(13), 기억장치인 SDRAM(14) 및 플래시 메모리(15)로 구성된다.As shown in FIG. 2, the OLED is an OLED panel 11, an OLED driver IC 12 that supplies R, G, and B signals to the OLED panel 11, and a microcontroller that controls the OLED driver IC 12. It consists of a processor 13, an SDRAM 14 which is a storage device, and a flash memory 15.

이하, 블랙 레벨 측정부터 OLED 라인 간 노이즈 제거까지의 과정을 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a process from black level measurement to noise cancellation between OLED lines will be described.

먼저, 상기 마이크로프로세서(13)가 드라이버 IC(12)를 리셋(Reset)하고, SPI(Serial Port Interface)를 통하여 드라이버 IC(12)를 초기화한다. 그리고, 휘도 측정을 위해서 선형 감마값(0~1023)을 SPI를 통하여 드라이버 IC(12) 내부의 SRAM(14)에 셋팅(Setting)한다. First, the microprocessor 13 resets the driver IC 12 and initializes the driver IC 12 through a serial port interface (SPI). Then, the linear gamma values 0 to 1023 are set in the SRAM 14 inside the driver IC 12 through SPI for luminance measurement.

그리고, 블랙 레벨 데이터를 구하는 과정은 입력 신호 인가시, 클램프 D/A 데이터(Clamp Digital to Analog Data)를 초기값 800(클램프 레벨의 약 75~80%)에서 8(약 0.7~0.8%)씩 감소시키면서 OLED 드라이버 IC(12)의 A/D(Analog to Digital) 출력 데이터를 측정하는데, 여기서 상기 측정한 A/D 출력값이 초기 A/D 출력값과 4(A/D출력의 0.3~0.5%) 이상 차이가 발생한 시점의 클램프 D/A 데이터에 상수 128(약 12~13%)을 더한 값을 블랙 레벨 데이터로 정의한다. 이하에서, 상기 블랙 레벨 측정값을 BAD라고 표기하기로 한다.In the process of obtaining the black level data, when the input signal is applied, clamp D / A data is set to 8 (about 0.7 to 0.8%) from the initial value 800 (about 75 to 80% of the clamp level). While reducing, the A / D (Analog to Digital) output data of the OLED driver IC 12 is measured, wherein the measured A / D output value is the initial A / D output value and 4 (0.3 to 0.5% of the A / D output). The black level data is defined by adding the constant 128 (approximately 12 to 13%) to the clamp D / A data when an abnormal difference occurs. Hereinafter, the black level measurement value will be referred to as BAD.

다음, 슬로프 오프셋은 도 3에 도시된 바의 같이 OLED 디스플레이 패널(11)을 9개의 영역으로 분할한 후, 상기 분할된 영역에 백색(White) 휘도 성분만을 증가시키면서 드라이버 IC(12)의 A/D 출력값을 측정한다. 여기서, 상기 슬로프 오프셋 측정은 중앙 영역 측정과 전 영역 측정으로 나누어서 실시한다.Next, the slope offset is divided into nine regions of the OLED display panel 11 as shown in FIG. 3, and then the A / A of the driver IC 12 is increased while increasing only the white luminance component in the divided regions. Measure the D output value. Here, the slope offset measurement is performed by dividing the center area measurement and the full area measurement.

먼저, 도 4에 도시된 바와 같이 중앙 영역에서의 슬로프 오프셋은 백색 휘도값을 4씩 증가하면서 드라이버 IC(12)의 A/D 출력값이 상수 768이 될 때까지 측정한다. 표의 CAD3 ~ CAD9F 값은 드라이버 IC(12)의 A/D 출력 측정값을 나타낸다.First, as shown in FIG. 4, the slope offset in the center region is measured until the A / D output value of the driver IC 12 becomes constant 768 while increasing the white luminance value by four. The CAD3 to CAD9F values in the table represent measured values of the A / D output of the driver IC 12.

그리고, 도 5에 도시된 바와 같이 중앙 영역을 제외한 전 영역에서의 슬로프 오프셋은 드라이버 IC(12)의 A/D 출력값이 상수 768값을 넘는 시점일 때의 백색 휘도값에 상수 16을 뺀 백색 휘도값에 대응하는 드라이버 IC(12)의 A/D 출력값을 측정한다.As shown in FIG. 5, the slope offset in all regions except the center region is the white luminance obtained by subtracting the constant 16 from the white luminance when the A / D output value of the driver IC 12 exceeds the constant 768 value. The A / D output value of the driver IC 12 corresponding to the value is measured.

예를 들어, 드라이버 IC(12)의 A/D 출력값이 상수 768 값을 넘는 시점에서의 백색 휘도값이 0x43이었다면, 상기 백색 휘도값 0x43에서 0x10을 뺀 값, 즉 0x33으로 전 영역의 드라이버 IC(12)의 A/D 출력값을 측정한다. 표에서 AAD1 ~ AAD9는 드라이버 IC(12)의 A/D 출력 측정값을 나타낸다.For example, if the white luminance value at the time when the A / D output value of the driver IC 12 exceeds the constant 768 value is 0x43, the white luminance value 0x43 minus 0x10, i. Measure A / D output value of 12). In the table, AAD1 to AAD9 represent A / D output measurements of the driver IC 12.

이어서, 슬로프 오프셋 추가 계수(Slope Offset Addition coefficient)인 SOACa, SOACb, SOACc를 구한다. Next, SOACa, SOACb, and SOACc which are slope offset addition coefficients are obtained.

상기 슬로프 오프셋 추가 계수를 구하기 위해 중앙 영역의 계수 Ca와 Cb를 도 6에 도시한 표에 의해 구한다. 표에서 BAD는 블랙 레벨 측정값이다.In order to calculate the slope offset addition coefficients, coefficients Ca and Cb in the central region are obtained by the table shown in FIG. In the table, BAD is a black level measurement.

도시된 바와 같이, 상기 중앙 영역 계수 Ca 및 Cb를 구하기 위해 백색 휘도 입력값에 따른 A/D 출력값에서 블랙 레벨 측정값을 뺀 값으로 조합한 변수인 SAD1, SADx, SADxx, SADy, SADxy는 다음 수식에 의해 구한다.As shown, in order to obtain the center area coefficients Ca and Cb, the variables SAD1, SADx, SADxx, SADy, and SADxy, which are combined by subtracting the black level measurement value from the A / D output value according to the white luminance input value, are expressed as follows. Obtained by

Figure 112005029286219-pat00001
Figure 112005029286219-pat00001

그리고, 중앙 영역의 계수 Ca 및 Cb를 구하는 수식은 다음과 같다.The formulas for obtaining the coefficients Ca and Cb in the central region are as follows.

Figure 112005029286219-pat00002
Figure 112005029286219-pat00002

상기와 같이 구한 중앙 영역의 계수 Ca 및 Cb를 이용하여 슬로프 오프셋 추가 계수(Slope Offset Addition coefficient)인 SOACa, SOACb, SOACc를 도 7에 도시된 식에 의해 구한다. 여기서 BAD는 블랙 레벨 측정값이다.The slope offset addition coefficients SOACa, SOACb, and SOACc, which are obtained using the coefficients Ca and Cb of the center region obtained as described above, are obtained by the equation shown in FIG. Where BAD is the black level measurement.

도 8은 라인 오프셋을 측정하기 위해 라인별로 백색 패턴을 출력하고 그에 따른 드라이버 IC(12)의 A/D 출력값과 보정값을 나타낸 도면이다.FIG. 8 is a view showing a white pattern for each line to measure a line offset, and correspondingly, an A / D output value and a correction value of the driver IC 12.

OLED 전 수평 라인(Line)에 대한 라인 오프셋(Line Offset)의 측정을 위해서는 상기 과정에서 구한 블랙 레벨 측정값과 슬로프 오프셋 추가 계수값을 드라이버 IC(12)의 해당 레지스터(Register)에 셋팅을 하고, OLED의 총 218(패널마다 다름)개의 수평라인에 대해서 한 라인씩 백색 패턴(Pattern)을 출력하여 드라이버 IC(12)의 A/D 출력값을 측정한다. In order to measure the line offset of the entire OLED line, the black level measurement value and the slope offset addition coefficient value obtained in the above process are set in the corresponding register of the driver IC 12. The A / D output value of the driver IC 12 is measured by outputting a white pattern (Pattern) one line for a total of 218 horizontal lines of OLED (different panels).

이 때, 상기 드라이버 IC(12)의 A/D 출력값 중 최대값에서 해당 라인의 A/D 출력값을 뺀 값을 보정값으로 정의한다. 전체 라인에 대한 해당 라인의 보정값은 OLED 드라이버 IC(12)의 내부 메모리(SRAM)에 저장되는데, 타겟 디바이스의 전원이 없을 경우에 상기 드라이버 IC(12)의 내부 메모리에 저장된 라인 보정값이 지워지는 것을 방지하기 위해서 최종적으로 플래시 메모리(Flash Memory)(15)에 저장한다. At this time, a value obtained by subtracting the A / D output value of the corresponding line from the maximum value among the A / D output values of the driver IC 12 is defined as a correction value. The correction value of the corresponding line for all the lines is stored in the internal memory (SRAM) of the OLED driver IC 12. When the target device is not powered, the line correction value stored in the internal memory of the driver IC 12 is erased. Finally, the flash memory 15 is stored in a flash memory 15 in order to prevent it from being stored.

그러면, 상기 드라이버 IC(12)는 블랙 레벨 측정값, 슬로프 오프셋 추가 계수값 및 보정값을 이용하여 라인간 간섭 노이즈를 제거할 수 있다. Then, the driver IC 12 may remove the inter-line interference noise by using the black level measurement value, the slope offset addition coefficient value, and the correction value.

도 9는 본 발명에 따른 감마 조정 시스템의 구성을 나타낸 도면이다. 9 is a diagram illustrating a configuration of a gamma adjustment system according to the present invention.

도시된 바와 같이, 상기 감마 조정 시스템은 컴퓨터(PC)(21), 컬러 분석기(Color Analyzer)(22), 프루브(23), 타겟 디바이스(Target Device)(24)로 구성된다. 상기 타겟 디바이스(24)는 PMP(Portable Multimedia Player), PDA, OLED, TV 등의 디스플레이 소자를 말한다.As shown, the gamma adjustment system is composed of a computer (PC) 21, a color analyzer 22, a probe 23, and a target device 24. The target device 24 refers to a display element such as a portable multimedia player (PMP), a PDA, an OLED, a TV, or the like.

먼저, 상기 프루브(23)가 상기 타겟 디바이스(24)의 색좌표(x, y)와 휘도 (Lv)값을 측정하여 상기 컬러 분석기(22)에 전달하면, 상기 컬러 분석기(22)는 측정한 색좌표(x, y)와 휘도(Lv)값을 수치화하여 USB 인터페이스를 통해 컴퓨터(PC)(21)로 전달한다.First, when the probe 23 measures color coordinate (x, y) and luminance (Lv) values of the target device 24 and transmits the values to the color analyzer 22, the color analyzer 22 measures the measured color coordinates. The (x, y) and luminance (Lv) values are digitized and transferred to the computer (PC) 21 through the USB interface.

상기 컴퓨터(PC)(21)는 USB 인터페이스를 통하여 OLED 드라이버 IC(12)의 초기화, 선형 감마(Linear Gamma) 셋팅, 각각의 RGB에 대한 휘도(Luminance) 제어 등의 기능을 한다. 또한 컬러 분석기(22)가 측정한 색좌표(x, y)와 휘도(Lv) 측정값을 타겟 디바이스(24)에 전송하고 백색 패턴(white pattern) 명령 등을 수행한다.The computer (PC) 21 functions to initialize the OLED driver IC 12, set a linear gamma, and control luminance for each RGB through a USB interface. In addition, the color analyzer 22 transmits the measured color coordinates (x, y) and luminance (Lv) measured values to the target device 24 and performs a white pattern command.

상기 컴퓨터(21)로부터 각각의 RGB에 대하여 전달받은 색좌표(x, y)와 휘도(Lv) 측정값이 타겟 디바이스(24)에 저장되면, 상기 타겟 디바이스(24)는 자체 감마 조정 알고리즘을 사용하여 내부적으로 계산을 수행한 다음, OLED 패널(Panel) 고유의 감마값을 OLED 드라이버 IC(12)의 내부 SRAM에 셋팅(Setting)한다. 여기서, 타겟 디바이스(24)의 전원이 없을 경우, OLED 드라이버 IC(12)의 SRAM에 저장된 OLED 패널(Panel) 고유의 감마값이 지워지기 때문에 최종적으로 상기 감마값을 플래시 메모리(Flash Memory)(15)에 저장한다.When the color coordinate (x, y) and luminance (Lv) measurements received from the computer 21 for each RGB are stored in the target device 24, the target device 24 uses its own gamma adjustment algorithm. After performing the calculation internally, the gamma value unique to the OLED panel is set in the internal SRAM of the OLED driver IC 12. When the target device 24 is not powered on, the gamma value inherent to the OLED panel stored in the SRAM of the OLED driver IC 12 is erased, and thus the gamma value is finally stored in the flash memory 15. Save it.

한편, 본 발명에서 감마 조정을 위한 휘도 측정은 높은 휘도 영역 측정(High Luminance Portion Measurement)과 낮은 휘도 영역 측정(Low Luminance Portion Measurement)으로 나누어 실시된다.Meanwhile, in the present invention, luminance measurement for gamma adjustment is performed by dividing into a high luminance region measurement and a low luminance region measurement.

높은 휘도 영역 측정은 0.1cd/m2에서 60cd/m2 (전체 휘도의 약 50~55%) 사이의 휘도값을 갖는 영역에서 백색(White)의 휘도 성분이 8bit(0 ~ 255)일 때, 백색 휘도 초기값 0x0F에서 0xFF까지 0x10씩 증가시키면서 각각의 RGB(Red, Green, Blue)에 대한 휘도(HYR, HYG, HYB)를 컬러 분석기로 측정한다.When the high luminance region is determined 0.1cd / in m 2 60cd / m 2 luminance of the white (White) The 8bit (0 ~ 255) in a region having a luminance value between (about 50 to 55% of the total intensity), The luminance (HYR, HYG, HYB) for each RGB (Red, Green, Blue) is measured with a color analyzer while increasing the white luminance from 0x0F to 0xFF by 0x10.

반면, 낮은 휘도 영역 측정은 0.1cd/m2에서 4cd/m2 (전체 휘도의 약 3~4%)사이의 휘도값을 갖는 영역에서 백색(White)의 휘도 성분이 8bit(0~255)일 때, 백색 휘도 초기값 0x17에서 0x8F까지 0x04씩 증가시키면서 G(Green)에 대해서만 휘도(LYG)를 컬러 분석기(22)로 측정한다.On the other hand, the low luminance region measurement indicates that the luminance component of the white is 8 bits (0 to 255) in the region having a luminance value between 0.1 cd / m 2 and 4 cd / m 2 (about 3 to 4% of the total luminance). When the white luminance initial value 0x17 to 0x8F is increased by 0x04 in increments of 0x04, the luminance LYG is measured only with respect to G (Green) by the color analyzer 22.

여기서, 상기 휘도 측정은 R에 대한 높은 휘도 영역 측정, G에 대한 높은 휘도 영역 측정, G에 대한 낮은 휘도 영역 측정, 그리고 B에 대한 높은 휘도 영역 측정을 하는 순서로 실시한다. In this case, the luminance measurement is performed in order of high luminance region measurement for R, high luminance region measurement for G, low luminance region measurement for G, and high luminance region measurement for B.

상기 휘도 측정의 과정을 설명하면 다음과 같다.The process of measuring the brightness is as follows.

도 2에서 설명한 바와 같이 먼저 드라이버 IC(12)를 리셋(Reset)하고, SPI(Serial Port Interface)를 통하여 드라이버 IC(12)를 초기화한다. 이어서, 라인 간섭 노이즈를 제거하기 위해 블랙 레벨, 슬로프 오프셋과 라인 보정값을 드라이버 IC(12)의 내부 레지스터(Register)에 셋팅한 후, 휘도 측정을 위해서 선형 감마값(0 ~ 1023)을 SPI를 통하여 드라이버 IC(12) 내부의 SRAM에 셋팅(Setting)한다. 그리고, 최종 감마 조정 시의 백색 패턴 휘도 기대값을 타겟 디바이스(24)에 저장한다.As described above with reference to FIG. 2, the driver IC 12 is first reset, and the driver IC 12 is initialized through the serial port interface (SPI). Then, the black level, slope offset and line correction value are set in the internal register of the driver IC 12 to remove the line interference noise, and then the linear gamma values (0 to 1023) are measured through the SPI for luminance measurement. It is set in the SRAM inside the driver IC 12. The expected white pattern luminance at the time of final gamma adjustment is stored in the target device 24.

먼저, R에 대한 휘도 측정을 위해 SPI를 통하여 드라이버 IC(12)의 R에 대한 콘트라스트 레지스트에 중간값을 셋팅하고, G와 B에 대한 콘트라스트 레지스트에 0 의 값을 셋팅한다. First, the intermediate value is set in the contrast resist for R of the driver IC 12 through SPI and the value of 0 is set in the contrast resist for G and B through the SPI.

그리고, R에 대한 휘도 측정은 높은 휘도 영역 측정을 수행한다. 높은 휘도 영역 측정은 마이크로프로세서의 백색 휘도 출력값의 증가치를 0x10(10진수: 16)으로 설정하여 각각의 R에 대한 높은 영역 휘도값(0.1cd/m2에서 60cd/m2 사이의 휘도값)을 컬러분석기(22)로 측정한다. 여기서, 측정한 휘도값이 60cd/m2 이상이면 HYR값을 0의 값으로 저장한다. 상기 측정값은 타겟 디바이스(24)의 내부 메모리에 저장되는데, 그 측정값은 도 10.a에 도시되어 있는 바와 같다.And, the luminance measurement for R performs a high luminance region measurement. High luminance region is determined to increment of the output value of the white luminance microprocessor 0x10 (hex 10: 16) to set to a region of high luminance value (brightness value between 60cd / m 2 at 0.1cd / m 2) for each of R It measures with the color analyzer 22. Here, when the measured luminance value is 60 cd / m 2 or more, the HYR value is stored as a value of zero. The measurement is stored in the internal memory of the target device 24, which is as shown in FIG.

다음, SPI를 통하여 드라이버 IC(12)의 G에 대한 콘트라스트 레지스트에 중간값을 셋팅하고, R와 B에 대한 콘트라스트 레지스트에 0의 값을 셋팅한다. Next, an intermediate value is set in the contrast resist for G of the driver IC 12 and a value of 0 is set in the contrast resist for R and B through the SPI.

그리고, G에 대한 휘도 측정은 높은 휘도 영역 측정과 낮은 휘도 영역 측정을 수행한다. G에 대한 높은 휘도 영역 측정을 먼저 수행하는데 그 방법은 상기 R에 대한 높은 휘도 영역 측정과 동일하며 그 측정값은 도 10.a에 도시된 바와 같다. In addition, the luminance measurement for G performs the high luminance region measurement and the low luminance region measurement. The high luminance area measurement for G is first performed, the method being the same as the high luminance area measurement for R, and the measurement is as shown in FIG.

이어서, G에 대한 낮은 휘도 영역 측정을 수행하는데, 마이크로프로세서의 백색 휘도 출력값의 증가치를 0x4(10진수: 4)로 설정하여 각각의 G에 대한 낮은 영역 휘도값(0.1cd/m2에서 4cd/m2 사이의 휘도값)을 컬러분석기(22)로 측정한다. 여기서, 상기 측정한 휘도값이 4cd/m2 이상이면 LYG값을 0의 값으로 저장한다. 또한, 상기 측정값들은 타겟 디바이스(24)의 내부 메모리에 저장되며 도 10.b에 도시된 바 와 같다.Subsequently, a low luminance area measurement is performed on G. The increase in the white luminance output value of the microprocessor is set to 0x4 (decimal: 4) so that the low area luminance value (0.1 cd / m 2 to 4 cd / m) for each G is set. luminance value between m 2 ) is measured by the color analyzer 22. Here, when the measured luminance value is 4 cd / m 2 or more, the LYG value is stored as a value of zero. In addition, the measured values are stored in the internal memory of the target device 24 as shown in FIG.

다음, SPI를 통하여 드라이버 IC(12)의 B에 대한 콘트라스트 레지스트에 중간값을 셋팅하고, R와 G에 대한 콘트라스트 레지스트에 0의 값을 셋팅한다. Next, an intermediate value is set in the contrast resist for B of the driver IC 12 through SPI, and a value of 0 is set in the contrast resist for R and G.

그리고, B에 대한 휘도 측정은 높은 휘도 영역 측정을 수행하는데, 그 방법은 상기 R에 대한 높은 휘도 영역 측정과 동일하며 그 측정값은 도 10.a에 도시된 바와 같다. And, the luminance measurement for B performs a high luminance region measurement, the method is the same as the high luminance region measurement for R and the measurement is as shown in Fig. 10.a.

상술한 감마 조정의 흐름도가 도 11에 도시되어 있다. 요약하자면, OLED 드라이버 IC(12)를 리셋하고 초기화한 다음, 블랙 레벨값, 슬로프 오프셋, 라인 오프셋, 선형 감마값을 세팅한다(S31). 그리고, R에 대한 콘트라스트 중간값을 세팅하고 (S32) 높은 휘도 영역을 측정하고(S33), G에 대한 콘트라스트 중간값을 세팅하고 (S34) 높은 휘도 영역 및 낮은 휘도 영역을 측정하며(S35, S36), B에 대한 콘트라스트 중간값을 세팅하고(S37) 높은 휘도 영역을 측정하여(S38) 감마를 계산한다 (S39). 상기 계산된 감마값을 드라이버 IC(12)에 세팅하고 플래시 메모리(15)에 저장한다 (S40). 상기와 같이, R, G, B에 대한 휘도를 측정한 다음에, OLED 패널의 고유 감마를 계산한다.The flowchart of the gamma adjustment described above is shown in FIG. 11. In summary, the OLED driver IC 12 is reset and initialized, and then the black level value, the slope offset, the line offset, and the linear gamma value are set (S31). Then, set the intermediate contrast value for R (S32) to measure the high luminance region (S33), set the contrast medium value for G (S34) and measure the high luminance region and the low luminance region (S35, S36). ), A median contrast for B is set (S37) and a high luminance region is measured (S38) to calculate gamma (S39). The calculated gamma value is set in the driver IC 12 and stored in the flash memory 15 (S40). As above, the luminance for R, G, and B is measured, and then the intrinsic gamma of the OLED panel is calculated.

상기 감마값을 구하기 위해서 먼저 각각의 휘도 영역 측정에서 선형 감마 증가치를 구한다. 높은 휘도 영역 측정에서는, 백색 휘도 입력값의 증가치(0x10)에 대한 선형 감마(Gamma)값 증가치를 구하는 수식은 아래와 같다.In order to obtain the gamma value, first, a linear gamma increase value is obtained in each luminance region measurement. In the measurement of the high luminance region, the equation for calculating the linear gamma value increase value with respect to the increase value 0x10 of the white luminance input value is as follows.

선형감마 최대값(0x3FF): 백색휘도 최대값(0xFF) = 선형감마 증가치 : 백색휘도 증가치(0x10)Linear gamma maximum value (0x3FF): White luminance maximum value (0xFF) = Linear gamma increase value: White luminance increase value (0x10)

따라서, 높은 휘도 영역에서 선형감마 증가치는 Ox40이다.Therefore, the linear gamma increase value in the high luminance region is Ox40.

낮은 휘도 영역 측정에서는, 백색 휘도 입력값의 증가치(0x4)에 대한 선형 감마(Gamma)값 증가치를 구하는 수식은 아래와 같다.In the low luminance region measurement, the equation for calculating the linear gamma value increase value with respect to the increase value (0x4) of the white luminance input value is as follows.

선형감마 최대값(0x3FF): 백색휘도 최대값(0xFF) = 선형감마 증가치 : 백색휘도 증가치(0x4)Linear gamma maximum value (0x3FF): White luminance maximum value (0xFF) = Linear gamma increase value: White luminance increase value (0x4)

따라서, 낮은 휘도 영역에서 선형감마 증가치는 Ox10이다.Therefore, the linear gamma increase in the low luminance region is Ox10.

이렇게 구한 선형감마 증가치를 이용하여 각 휘도 영역의 계수를 구한다.The coefficient of each luminance region is obtained using the linear gamma increase value thus obtained.

도 12는 낮은 휘도 영역 계수(coefficient) 계산하는 과정을 나타낸 도면이다.12 is a view illustrating a process of calculating a low luminance region coefficient.

도시된 바와 같이, 각 백색 휘도 입력값에 따른 G에 대한 낮은 영역의 휘도값을 조합하여 SLYG(Sum Low Luminance Green) 변수값을 구하면, SLYG1, SLYGx, SLYGxx, SLYGxy, SLYGy를 얻을 수 있다. As shown, SLYG1, SLYGx, SLYGxx, SLYGxy, and SLYGy can be obtained by combining the SLYG (Sum Low Luminance Green) variable values by combining the luminance values of the low region for G according to the respective white luminance input values.

그리고, 상기 SLYG1, SLYGx, SLYGxx, SLYGxy, SLYGy를 이용해 낮은 휘도 영역 계수값(CLG)을 구하면 다음과 같다.The low luminance region coefficient value CLG is obtained using SLYG1, SLYGx, SLYGxx, SLYGxy, and SLYGy as follows.

Figure 112005029286219-pat00003
Figure 112005029286219-pat00003

도 13은 R에 대한 높은 휘도 영역 계수(coefficient) 계산하는 과정을 나타낸 도면이다.FIG. 13 is a diagram illustrating a process of calculating a high luminance region coefficient for R. FIG.

도시된 바와 같이, 각 백색 휘도 입력값에 따른 R에 대한 높은 영역의 휘도값을 조합하여 SHYR(Sum High Luminance Red) 변수값을 구하면, SHYR1, SHYRx, SHYRxx, SHYRxy, SHYRy를 얻을 수 있다. As shown, SHYR (Sum High Luminance Red) variable values are obtained by combining the luminance values of the high region with respect to R according to each of the white luminance input values.

상기 SHYR1, SHYRx, SHYRxx, SHYRxy, SHYRy를 이용해 높은 휘도 영역 계수값(CHRa, CHRb)을 구하면 다음과 같다.When the high luminance region coefficient values CHRa and CHRb are obtained using the SHYR1, SHYRx, SHYRxx, SHYRxy, and SHYRy, they are as follows.

Figure 112005029286219-pat00004
Figure 112005029286219-pat00004

도 14는 G에 대한 높은 휘도 영역 계수(coefficient) 계산하는 과정을 나타낸 도면이다.14 is a diagram illustrating a process of calculating a high luminance region coefficient for G.

도시된 바와 같이, 각 백색 휘도 입력값에 따른 G에 대한 높은 영역의 휘도값을 조합하여 SHYG(Sum High Luminance Green) 변수값을 구하면, SHYG1, SHYGx, SHYGxx, SHYGxy, SHYGy를 얻을 수 있다. As shown, SHYG1, SHYGx, SHYGxx, SHYGxy, and SHYGy can be obtained by combining SUMG (Sum High Luminance Green) variable values by combining luminance values of the high region for G according to the white luminance input values.

상기 SHYG1, SHYGx, SHYGxx, SHYGxy, SHYGy를 이용해 높은 휘도 영역 계수값(CHGa, CHGb)을 구하면 다음과 같다.The high luminance region coefficient values CHGa and CHGb are obtained using the SHYG1, SHYGx, SHYGxx, SHYGxy, and SHYGy as follows.

Figure 112005029286219-pat00005
Figure 112005029286219-pat00005

도 15는 B에 대한 높은 휘도 영역 계수(coefficient) 계산하는 과정을 나타낸 도면이다.15 is a diagram illustrating a process of calculating a high luminance region coefficient for B. FIG.

도시된 바와 같이, 각 백색 휘도 입력값에 따른 B에 대한 높은 영역의 휘도값을 조합하여 SHYB(Sum High Luminance Blue) 변수값을 구하면, SHYB1, SHYBx, SHYBxx, SHYBxy, SHYBy를 얻을 수 있다. As shown, SHYB (Sum High Luminance Blue) variable values are obtained by combining the luminance values of the high region for B according to each of the white luminance input values, thereby obtaining SHYB1, SHYBx, SHYBxx, SHYBxy, and SHYBy.

상기 SHYB1, SHYBx, SHYBxx, SHYBxy, SHYBy를 이용해 높은 휘도 영역 계수값(CHBa, CHBb)을 구하면 다음과 같다.When the high luminance region coefficient values CHBa and CHBb are obtained using the SHYB1, SHYBx, SHYBxx, SHYBxy, and SHYBy, they are as follows.

Figure 112005029286219-pat00006
Figure 112005029286219-pat00006

다음, 상기와 같이 구한 낮은 휘도 영역 계수 및 R,G, B 각각의 높은 휘도 영역 계수를 이용하여 OLED의 감마를 계산한다.Next, the gamma of the OLED is calculated using the low luminance area coefficients obtained as described above and the high luminance area coefficients of R, G, and B, respectively.

첫째, R에 대한 감마값은 아래 수식에 의해 구한다.First, the gamma value for R is obtained by the following equation.

Figure 112005029286219-pat00007
Figure 112005029286219-pat00007

둘째, G에 대한 감마값은 아래 수식에 의해 구한다.Second, the gamma value for G is obtained by the following equation.

Figure 112005029286219-pat00008
Figure 112005029286219-pat00008

셋째, B에 대한 감마값은 아래 수식에 의해 구한다.Third, the gamma value for B is obtained by the following equation.

Figure 112005029286219-pat00009
Figure 112005029286219-pat00009

도 16은 특정 OLED 패널에서 측정한 휘도값을 상기 수식으로 계산한 감마 데이터를 그래프로 나타낸 도면이다.FIG. 16 is a graph illustrating gamma data obtained by calculating a luminance value measured by a specific OLED panel using the above formula.

상술한 바와 같이, 상기 감마 계산된 데이터값은 OLED 드라이버 IC(12)의 내부 메모리(SRAM)에 저장되는데, 타겟 디바이스(24)의 전원이 없는 경우 상기 OLED 드라이버 IC(12)의 내부 메모리에 저장된 감마 조정 값이 지워지는 것을 방지하기 위해서 최종적으로 플래시 메모리(15)에 저장한다.As described above, the gamma calculated data value is stored in the internal memory (SRAM) of the OLED driver IC 12, and stored in the internal memory of the OLED driver IC 12 when there is no power supply of the target device 24. In order to prevent the gamma adjustment value from being erased, it is finally stored in the flash memory 15.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하 는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다.Those skilled in the art will appreciate that various changes and modifications can be made without departing from the technical spirit of the present invention.

따라서, 본 발명의 기술적 범위는 실시예에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의하여 정해져야 한다.Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the embodiments, but should be defined by the claims.

본 발명에 따른 OLED 수평 노이즈 제거 및 감마 보정 방법은 OLED 디스플레이의 라인 간 노이즈 성분을 많이 감소시킬 수 있고, 라인 간의 신호별 간섭을 제거한 상태에서 감마 조정을 수행하므로, 영상의 색상 표현을 더욱 자연스럽게 할 수 있다. 또한, 사용자가 원하는 색온도 및 밝기 레벨이 시장의 상황에 따라 다른데, 본 발명에 따른 OLED 라인 노이즈 제거 및 감마 조정 방법에 의해 사용자가 요구하는 색온도 및 밝기 레벨로 셋팅만 하면, 자동 조정되어 시장 상황에 적합하게 일률적으로 출하가 가능하다.The OLED horizontal noise removal and gamma correction method according to the present invention can greatly reduce noise components between lines of an OLED display, and perform gamma adjustment in a state in which interference between signals is eliminated between lines, thereby making color representation of an image more natural. Can be. In addition, the color temperature and brightness level desired by the user is different depending on the market situation, and by setting the color temperature and brightness level required by the user by the OLED line noise removal and gamma adjustment method according to the present invention, it is automatically adjusted to the market situation It can be shipped uniformly suitably.

Claims (6)

R, G, B 입력 레벨에 따라 색의 재현과 밝기 레벨이 모듈별로 차이가 있는 OLED 소자에 있어서,In an OLED device in which color reproduction and brightness levels differ from module to module according to the R, G, and B input levels, 블랙 레벨 데이터 값을 설정하는 단계;Setting a black level data value; OLED 디스플레이 패널을 중앙 영역과 그 외의 전 영역으로 분할하고, 상기 분할된 영역별로 백색 휘도 값을 증가시키면서 OLED 드라이버 IC의 A/D 출력값을 측정하는 단계;Dividing the OLED display panel into a central region and all other regions, and measuring the A / D output value of the OLED driver IC while increasing the white luminance value for each of the divided regions; 상기 각 분할된 영역별로 OLED 드라이버 IC의 A/D 출력값과 블렉 레벨 데이터 값을 이용하여 슬로프 오프셋 추가계수를 구하는 단계;Obtaining a slope offset addition coefficient by using the A / D output value and the block level data value of the OLED driver IC for each of the divided regions; 상기 블랙레벨 데이터 값과 슬로프 오프셋 추가 계수값을 드라이버 IC의 해당 레지스터에 세팅하는 단계;Setting the black level data value and slope offset addition coefficient value in a corresponding register of a driver IC; 각 수평 라인별로 백색 패턴을 출력하여 드라이버 IC의 A/D 출력값을 측정함으로써 라인 오프셋을 구하여 상기 드라이버 IC의 내부 SRAM에 세팅하는 단계;Outputting a white pattern for each horizontal line and measuring an A / D output value of the driver IC to obtain a line offset and to set the offset in the internal SRAM of the driver IC; 상기 OLED 드라이버 IC가 상기 블랙 레벨, 슬로프 오프셋 추가 계수 및 라인 오프셋을 이용하여 라인 간의 간섭 노이즈를 제거하는 단계;The OLED driver IC removing the interference noise between lines using the black level, slope offset addition factor and line offset; R, G, B 각각의 휘도를 측정하고, 측정한 휘도를 통해 휘도 영역 계수를 계산하여 감마값을 조정하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 OLED 수평 노이즈 제거 및 감마 보정 방법.Measuring luminance of each of R, G, and B, and calculating gamma values by calculating luminance region coefficients based on the measured luminance. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 중앙 영역의 슬로프 오프셋은 백색 휘도값을 소정치 a만큼 증가시키면서 측정한 드라이버 IC의 A/D 출력값이 소정치 b가 될 때까지 상기 드라이버 IC의 A/D 출력값을 측정하는 것을 특징으로 하는 OLED 수평 노이즈 제거 및 감마 보정 방법.The slope offset of the center region is measured by increasing the white luminance value by a predetermined value a until the A / D output value of the driver IC measured by the predetermined value b is measured. How to remove horizontal noise and correct gamma. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 중앙 영역을 제외한 전 영역의 슬로프 오프셋은 드라이버 IC의 A/D 출력값이 소정치 b를 넘는 시점에서의 백색 휘도값에서 소정치 c를 뺀 백색 휘도값으로 상기 전 영역의 드라이버 IC의 A/D 출력값을 측정하는 것을 특징으로 하는 OLED 수평 노이즈 제거 및 감마 보정 방법.The slope offset of all regions except the center region is a white luminance value obtained by subtracting a predetermined value c from a white luminance value when the A / D output value of the driver IC exceeds a predetermined value b, and the A / D of the driver ICs of the entire region. OLED horizontal noise cancellation and gamma correction method characterized by measuring the output value. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 라인 오프셋은 전 수평라인에 대한 드라이버 IC의 A/D 출력값 중 최대값에서 해당 라인의 A/D 출력값을 뺀 값인 것을 특징으로 하는 OLED 수평 노이즈 제거 및 감마 보정 방법.And the line offset is a value obtained by subtracting the A / D output value of the corresponding line from the maximum value of the A / D output values of the driver ICs for all the horizontal lines. 제 4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 라인 오프셋은 상기 OLED 드라이버 IC의 내부 메모리로부터 플래쉬 메모리로 이동되어 저장되는 것을 특징으로 하는 OLED 수평 노이즈 제거 및 감마 보 정 방법.And the line offset is shifted and stored from an internal memory of the OLED driver IC to a flash memory. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 감마값을 조정하는 단계는,Adjusting the gamma value, OLED 드라이버 IC를 초기화하고 선형감마값을 세팅한 후, 최종 감마 조정 시의 백색 패턴 휘도 기대값을 상기 OLED 드라이버 IC의 내부 메모리에 저장하는 단계;After initializing the OLED driver IC and setting the linear gamma value, storing the expected white pattern luminance value at the time of the final gamma adjustment in the internal memory of the OLED driver IC; R(Red)에 대한 콘트라스트(contrast) 중간값을 세팅하고 높은 휘도 영역에서의 R의 휘도값을 측정하는 단계;Setting a contrast intermediate value for R (Red) and measuring the luminance value of R in the high luminance region; G(Green)에 대한 콘트라스트 중간값을 세팅하고 높은 휘도 영역에서의 G의 휘도값 및 낮은 휘도 영역에서의 G의 휘도값을 측정하는 단계;Setting a contrast medium value for G (Green) and measuring the luminance value of G in the high luminance region and the luminance value of G in the low luminance region; B(Blue)에 대한 콘트라스트 중간값을 세팅하고 높은 휘도 영역에서의 B의 휘도값을 측정하는 단계;Setting a contrast intermediate value for B (Blue) and measuring the luminance value of B in the high luminance region; 상기 각 R, G, B의 측정된 휘도값으로 낮은 휘도 영역의 계수 및 각 R, G, B의 높은 휘도 영역 계수를 계산하는 단계;Calculating coefficients of a low luminance region and coefficients of a high luminance region of each R, G, B with the measured luminance values of each R, G, B; 상기 낮은 휘도 영역의 계수 및 높은 휘도 영역의 계수를 이용해 R, G, B 각각의 감마값을 계산하여 드라이버 IC의 내부 메모리에 저장하는 단계;Calculating gamma values of R, G, and B using the coefficients of the low luminance region and the coefficients of the high luminance region and storing the calculated gamma values in an internal memory of a driver IC; 상기 R, G, B 각각의 감마값을 플래시 메모리로 이동시켜 저장하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 OLED 수평 노이즈 제거 및 감마 보정 방법.And shifting and storing the gamma values of the R, G, and B data into a flash memory.
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