KR100739443B1 - Thin film deposition system - Google Patents

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Abstract

A thin film deposition system is provided to reduce loss of the metal component in a process of charging a metal component in a solid state into a chamber, can efficiently remove alien substances existing in the chamber while the process is not proceeded, and can perform deposition of dissimilar metal thin films as well as similar metal thin. A thin film deposition system(1) comprises: a thin film deposition chamber(10) into which a metal source gas is injected to deposit a thin film on the object by ejecting the metal source gas onto a thin film deposition object(5); a plurality of bubblers(51,52) in which a metal source is charged; a plurality of metal transfer lines(61-63) for connecting the plurality of bubblers and the chamber such that metal particles by the metal source are supplied from at least one of the plurality of the bubblers into the chamber; gas injection lines(70-72) for injecting an inert gas into the plurality of bubblers; an alien substance suction line(90) connected to the metal transfer lines to move the alien substances by sucking alien substances existing in the thin film deposition chamber; a plurality of opening-and-closing valves(61a,62a,71a,72a,91) installed on the metal transfer lines, the gas injection lines and the alien substance suction lines to open and close channels of the respective lines; and a control part for controlling on/off operations of the plurality of opening-and-closing valves.

Description

박막증착시스템{thin film deposition system}Thin film deposition system

도 1은 본 발명에 따른 박막증착시스템에 대해 개략적으로 도시한 모식도,1 is a schematic diagram schematically showing a thin film deposition system according to the present invention,

도 2는 도 1의 박막증착시스템에 도시된 박막증착용 챔버의 사시도,2 is a perspective view of a thin film deposition chamber shown in the thin film deposition system of FIG.

도 3a 및 도 3b는 각각 하부챔버부분과 상부챔버부분의 평면도,3A and 3B are plan views of the lower chamber portion and the upper chamber portion, respectively;

도 4는 도 2의 A-A'선에 따른 단면도,4 is a cross-sectional view taken along line AA ′ of FIG. 2;

도 5는 도 4의 요부확대도,5 is an enlarged view illustrating main parts of FIG. 4;

도 6은 본 발명의 박막증착용 챔버를 이용하여 박막증착하는 과정을 모식화한 도면이다.6 is a view schematically illustrating a process of thin film deposition using the thin film deposition chamber of the present invention.

도 7은 본 발명의 실시예에 따라 챔버 내에 존재하는 이물질을 제거하는 동작을 설명하기 위한 예시도이다.7 is an exemplary view for explaining an operation of removing the foreign matter present in the chamber according to an embodiment of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

1 : 박막증착시스템 4 : 배기부1: Thin film deposition system 4: Exhaust part

10 : 챔버 10a : 상부챔버부분10: chamber 10a: upper chamber portion

10b : 하부챔버부분 12 : 장착브래킷10b: lower chamber part 12: mounting bracket

20 : 메탈유로 30 : 가스유로20: metal euro 30: gas euro

30d : 가스분사구 40 : 배출유로30d: gas injection port 40: discharge flow path

40d : 흡입구 51,52 : 제1 및 제2버블러40d: Inlet 51,52: First and second bubbler

61,62,63 : 제1 내지 제3메탈이송라인 61,62,63: first to third metal transfer lines

70~72 : 가스투입라인 81,82 : 제1 및 제2분기관70 ~ 72: Gas injection line 81,82: 1st and 2nd branch pipe

90 : 이물질흡입라인 91 : 이물질흡입라인의 개폐밸브90: foreign matter suction line 91: foreign matter suction line on / off valve

본 발명은 박막증착시스템에 관한 것으로서, 특히 고체상태의 금속성분을 충전하는데 따른 공정상의 로스(Loss)를 줄일 수 있고, 동종의 금속박막 뿐만 아니라 이종접합과 같은 적층박막을 동시에 행할 수 있도록 하며, 증착되는 메탈소스 가스를 혼합한 후 대상체에 증착함으로써, 일정한 온도로 균일도가 높은 메탈소스 가스를 대상체에 증착시킬 수 있으며, 공정이 진행되지 않는 동안에 상기 챔버 내에 존재하는 이물질을 효율적으로 제거할 수 있는 박막증착시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a thin film deposition system, and in particular, it is possible to reduce the process loss due to the filling of a metal component in a solid state, and to simultaneously perform not only the same metal thin film but also a laminated thin film such as heterojunction, By mixing the deposited metal source gas and then depositing it on the object, the metal source gas having high uniformity can be deposited on the object at a constant temperature, and foreign matter present in the chamber can be efficiently removed while the process is not performed. It relates to a thin film deposition system.

박막(Thin Film)이란 기계가공으로는 실현 불가능한 두께 수 ㎛ 이하의 엷은 막을 말한다. 이에는, 수면의 기름막, 비누방울이 아롱진 막, 금속 표면의 녹, 함석, 생철의 아연막, 주석막 등이 속하지만, 이 밖에 여러 가지 금속이나 반도체 또는 절연물 등을 재료로 삼아 금속박막, 반도체박막, 절연박막, 화합물 반도체박막, 자성박막, 유전체박막, 집적회로, 초전도박막 등이 소정의 진공증착법("증기건조법"이라고도 함)을 위시하여 전기도금법, 기체 또는 액체 속의 산화법, 화합물 열 분해법, 전자빔 증착법, 레이저빔 증착법 등에 의해 만들어진다.Thin films are thin films with a thickness of several micrometers or less that cannot be realized by machining. These include oil film on the surface of the water, soapy film on the surface of the soap, rust on the surface of the metal, tin, tin zinc film, tin film, etc., but also various metals, semiconductors or insulators, etc. Semiconductor thin films, insulating thin films, compound semiconductor thin films, magnetic thin films, dielectric thin films, integrated circuits, superconducting thin films, etc., are subjected to a predetermined vacuum deposition method (also referred to as "vapor drying"), electroplating, oxidation in a gas or liquid, compound thermal decomposition. , Electron beam vapor deposition, laser beam vapor deposition, or the like.

물질은 박막상태가 되면 물리적, 화학적 성질이 크게 변한다. 예를 들면, 불에 타지 않는 금속도 박으로 만들면 타는 경우가 있다. 일반적으로 점성이 커지고 표면장력이 작아지며, 빛의 간섭에 의해 착색현상이 일어난다. 이러한 특성은 각종 이화학 원리의 실험이나 이화학기계 제작에 원용되고 있다.When a substance becomes a thin film, its physical and chemical properties change greatly. For example, a metal that is not burned may be burned if it is made of foil. In general, the viscosity is increased, the surface tension is reduced, the coloration phenomenon is caused by the interference of light. These characteristics are used for experiments on various physics principles and the manufacture of chemistry machines.

한편 실용적으로는 광학렌즈의 반사방지막이 유명하며, 전자장치의 초소형화 경향에 힘입어, 초소형 박막 전자회로의 제조 및 전자부품의 박막화가 활발히 추진되고 있다.On the other hand, the anti-reflection film of the optical lens is famous in practice, and thanks to the tendency of miniaturization of electronic devices, the manufacture of ultra-thin thin-film electronic circuits and the thinning of electronic components have been actively promoted.

이처럼 박막화를 추진함으로서, 소형, 경량화되며, 얇고 표면적이 크기 때문에 열방산이 좋아져서 큰 전력을 다룰 수 있는 장점이 있다. 또한, 인덕턴스가 감소하고 고주파 특성이 좋아지며, 얇고 치밀한 보호막으로서 성능이 뛰어나다. 그리고, 자성체 박막은 히스테리시스 반전의 고속화를 가능하게 하고, 발광박막같이 고휘도의 것을 만들 수 있다는 등의 이점이 있으며, 재료가 적게 들고 소형의 것을 동시에 대량생산할 수 있다.By promoting the thin film as described above, because it is small, light, thin and large surface area is good heat dissipation has the advantage that can handle large power. In addition, the inductance is reduced, the high frequency characteristics are improved, and the performance is excellent as a thin and dense protective film. In addition, the magnetic thin film has advantages such as high speed of hysteresis inversion, high brightness such as light emitting thin film, and the like, and mass production of small material and small size at the same time.

앞서 설명한 바와 같이, 반도체박막은, 통상적으로 증착에 의한 방법을 이용하여 제조된다. 증착에는 여러 가지의 방법이 존재하지만, 산업체의 현장에서 주로 채용되는 것으로 진공증착(Vacuum Plating)과 증착도금이라는 것이 존재한다.As described above, the semiconductor thin film is usually manufactured using a method by vapor deposition. There are various methods of deposition, but mainly used in the field of industry, there are vacuum plating and deposition plating.

진공증착이란, 금속 또는 비금속의 작은 조각을 진공 속에서 가열하여 그 증기를 물체면에 부착시키는 것을 말한다. 고진공에 놓은 용기 속에 피복될 물체와 그 표면에 부착시키려는 금속 등의 입자를 넣어 둔 다음, 히터에 전류를 흘러서 가 열함으로써 그 금속입자를 증발시키면, 차가운 물체 표면에 응축해서 부착하는 것을 이용하여 표피를 붙이는 방식이다.Vacuum evaporation refers to the heating of a small piece of metal or nonmetal in a vacuum to attach the vapor to an object surface. Put the object to be covered and the metal to be attached to the surface in a high vacuum container, and then evaporate the metal particles by heating with a current through the heater. This is how you attach.

이러한 방식은 모든 물품에 적용될 수 있다는 것이 특색이며 천에 알루미늄을 붙이거나 플라스틱에 은을 붙일 수도 있다. 광학렌즈의 반사방지피막도 플루오르화마그네슘 등을 진공증착시킨 것이다.The feature is that it can be applied to all articles and may be aluminium on the fabric or silver on the plastic. The antireflection coating of the optical lens is also made by vacuum deposition of magnesium fluoride or the like.

이에 반해, 증착도금이라는 것도 존재한다. 증착도금은, 진공 속에 물건과 도금할 금속을 넣고, 금속을 가열하여 휘산시킴으로써 물건의 표면에 응축시켜 표면에 얇은 층을 만드는 방법이다. 이러한 증착도금은, 반도체박막을 포함하여, 근자에 들어 활발히 제조되고 있는 평면디스플레이(Flat Panel Display)에도 널리 적용된다.On the other hand, there is also a deposition plating. Evaporation plating is a method of forming a thin layer on the surface by putting the object and the metal to be plated in a vacuum and heating the metal to condense on the surface of the object. Such deposition plating is widely applied to flat panel displays, including semiconductor thin films, which are actively manufactured in recent years.

그런데, 이러한 증착도금을 이용한 종래의 박막증착장치에 있어서는, 진공분위기가 형성된 진공탱크(이를 "챔버"라 함) 내에 증착 대상의 반도체나 평면디스플레이(이를 "박막증착 대상체"라 함)를 넣어두고, 레이저를 이용하여 금속(Metal)을 불어넣어 미세금속도선 박막을 증착시키는 것으로써, 챔버라 하는 일정한 공간이 필요하기 때문에 박막 중에서도 부피가 큰 것에는 적용하기가 어려울 뿐만 아니라 챔버의 내부를 진공분위기로 만들어야 하기 때문에 제조상의 어려움이 발생할 뿐만 아니라 제조비용 역시 많이 소요되는 단점이 있다.By the way, in the conventional thin film deposition apparatus using such deposition plating, a semiconductor or flat display (called "thin film deposition object") to be deposited is placed in a vacuum tank (called "chamber") in which a vacuum atmosphere is formed. In order to deposit a thin metal wire thin film by injecting a metal by using a laser, it is difficult to apply to the bulky one of the thin films because a certain space called a chamber is required, and the inside of the chamber is vacuum atmosphere. Because it must be made as well as manufacturing difficulties, there is a disadvantage that takes a lot of manufacturing costs.

따라서, 이제는 진공분위기를 형성하기 위한 진공탱크를 사용하지 않고서도 대기중에서 효율적으로 박막을 증착시킬 수 있고, 동종 또는 이종의 박막이 복 수개 겹쳐져서 형성되는 다층 박막을 형성시킬 수 있으며, 증착되는 메탈소스 가스가 일정한 온도로 분사될 뿐 아니라, 혼합에 의하여 균일도가 높은 상태로 증착될 수 있도록 하는 박막증착시스템을 개발해야 할 숙제를 안고 있다.Therefore, it is now possible to efficiently deposit thin films in the air without using a vacuum tank for forming a vacuum atmosphere, to form a multilayer thin film formed by stacking a plurality of homogeneous or different thin films, and to deposit a metal Not only is the source gas injected at a constant temperature, but also has a problem to develop a thin film deposition system that can be deposited in a high uniformity state by mixing.

본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 창안된 것으로, 적어도 두 개 이상의 버블러를 마련하고 이들 중 어느 하나로부터 기체상태의 메탈소스가 챔버로 공급될 수 있도록 함으로써 고체상태의 금속성분을 충전하는데 따른 공정상의 로스(Loss)를 줄일 수 있도록 한 박막증착시스템을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.The present invention has been made to solve the above problems of the prior art, by providing at least two or more bubblers and from which any gaseous metal source can be supplied to the chamber solid metal component It is an object of the present invention to provide a thin film deposition system that can reduce the process loss caused by filling.

또한, 공정이 진행되지 않는 동안에 상기 챔버 내에 존재하는 이물질을 효율적으로 제거할 수 있는 박막증착시스템을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.Another object of the present invention is to provide a thin film deposition system capable of efficiently removing foreign matter present in the chamber while the process is not in progress.

또한, 동종의 금속박막 뿐만 아니라 이종접합과 같은 적층박막을 동시에 행할 수 있도록 한 박막증착시스템을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.It is also an object of the present invention to provide a thin film deposition system capable of simultaneously performing not only metal thin films of the same type but also laminated thin films such as heterojunctions.

또한, 메탈소스 가스를 대상체에 분사하기 전에 혼합함으로써, 대상체에 증착되는 메탈소스 가스의 균일도를 향상시키고, 일정한 온도를 가지는 메탈소스 가스를 대상체에 증착시키도록 하는 박막증착시스템을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.In addition, to provide a thin film deposition system for mixing the metal source gas before the injection to the object, thereby improving the uniformity of the metal source gas deposited on the object, and to deposit a metal source gas having a constant temperature to the object It is done.

상기와 같은 기술적 과제를 해결하기 위하여 제안된 본 발명인 박막증착시스 템을 이루는 구성수단은, 박막증착 대상체와 소정의 이격 간격을 두고 상기 대상체의 상부 대기중에 배치되되, 인입되는 메탈소스 가스를 내부에 형성되는 믹싱공간부에서 혼합한 후, 상기 메탈소스 가스를 상기 대상체에 분사하여 박막을 증착하는 박막증착용 챔버와, 내부에 메탈소스가 충전되어 있는 복수의 버블러와, 상기 복수의 버블러 중 적어도 하나에서 상기 챔버로 상기 메탈소스에 의한 메탈입자가 공급될 수 있도록 상기 복수의 버블러와 상기 챔버를 연결하는 복수의 메탈이송라인과, 상기 복수의 버블러로 불활성가스를 투입시키는 가스투입라인과, 상기 메탈이송라인과 연결되어 상기 박막증착용 챔버에 존재하는 이물질을 흡입하여 이동시키는 이물질흡입라인과, 상기 메탈이송라인, 가스투입라인 및 이물질흡입라인에 마련되어 각 라인의 유로를 개폐하는 개폐밸브와, 상기 복수의 개폐밸브의 온오프(on/off) 동작을 제어하는 제어부를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.The constituent means constituting the thin film deposition system of the present invention proposed to solve the above technical problem is disposed in the upper atmosphere of the object at a predetermined distance from the thin film deposition object, the incoming metal source gas therein After mixing in the mixing space to be formed, a thin film deposition chamber for depositing a thin film by spraying the metal source gas to the object, a plurality of bubblers filled with a metal source therein, and among the plurality of bubblers A plurality of metal transfer lines connecting the plurality of bubblers and the chamber to supply the metal particles by the metal source to the chamber from at least one, and a gas input line for introducing an inert gas into the plurality of bubblers; And a foreign material suction connected to the metal transfer line to suck and move foreign materials existing in the thin film deposition chamber. And a control valve for controlling the on / off operation of the plurality of on / off valves provided in the causal, the metal transfer line, the gas injection line, and the foreign material suction line. It features.

또한, 상기 이물질흡입라인에 마련된 개폐밸브는 메탈소스 가스를 상기 대상체에 분사하여 박막을 증착하는 동안에, 상기 이물질흡입라인을 차단하는 것을 특징으로 한다.In addition, the on-off valve provided in the foreign matter suction line is characterized in that the foreign material suction line is blocked while injecting a metal source gas to the object to deposit a thin film.

또한, 상기 이물질흡입라인에 마련된 개폐밸브는 메탈소스 가스를 상기 대상체에 분사하지 않는 동안에, 상기 이물질흡입라인을 개방하여 상기 챔버 내에 존재하는 이물질이 흡입될 수 있도록 하고, 나머지 개폐밸브들은 모두 차단되는 것을 특징으로 한다.In addition, the on / off valve provided in the foreign substance suction line opens the foreign substance suction line so that foreign substances existing in the chamber can be sucked while the metal source gas is not injected to the object, and all remaining valves are blocked. It is characterized by.

또한, 상기 믹싱공간부는 상기 메탈소스 가스가 혼합될 수 있는 공간을 가지는 고리 형태인 것을 특징으로 하고, 상기 혼합된 메탈소스 가스는 상기 믹싱공간 부의 바닥면에 형성되는 복수개의 가스분사통로를 통하여 상기 대상체에 분사되는 것을 특징으로 한다.In addition, the mixing space portion is characterized in that the ring shape having a space in which the metal source gas can be mixed, the mixed metal source gas through the plurality of gas injection passages formed on the bottom surface of the mixing space portion It is characterized in that the spray on the object.

또한, 상기 가스분사통로는 수평면을 기준으로 30° ~ 80° 사이로 기울어져 형성되는 것을 특징으로 하고, 상기 가스분사통로의 끝단에는 가스분사개폐기가 구비되되, 상기 제어부에 의하여 개폐되는 것을 특징으로 한다.In addition, the gas injection passage is characterized in that it is formed inclined between 30 ° ~ 80 ° relative to the horizontal plane, the gas injection passage is provided with a gas injection switch is characterized in that the opening and closing by the controller. .

또한, 상기 메탈이송라인에는 히터가 마련되되, 상기 히터는 상기 메탈이송라인을 따라 연속적으로 마련되는 것을 특징으로 한다.In addition, the metal transfer line is provided with a heater, the heater is characterized in that it is provided continuously along the metal transfer line.

또한, 상기 챔버에 마련되어 상기메탈이송라인을 통해 공급되는 상기 메탈입자를 상기 대상체로 전달하는 메탈유로와, 상기 메탈유로를 통해 상기 대상체로 제공되는 메탈입자가 외부 대기와 격리될 수 있도록 상기 챔버에 마련되고 상기 가스투입라인의 어느 일 분기관을 통해 전달된 불활성가스를 상기 대상체로 전달하는 가스유로와, 상기 챔버에 마련되어 사용 후 발생한 부산물 및 불활성가스를 배출하는 적어도 하나의 배출유로와, 상기 배출유로에 연통하여 상기 배출유로를 통해 배출되는 사용완료된 메탈입자 및 불활성가스를 펌핑하는 배기부를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.In addition, the metal flow path provided in the chamber and the metal particles supplied through the metal transfer line to the object, and the metal particles provided to the object through the metal flow path in the chamber to be isolated from the outside atmosphere A gas flow path provided to deliver the inert gas provided through one branch pipe of the gas injection line to the object, and at least one discharge flow path provided in the chamber to discharge by-products and inert gas generated after use; It characterized in that it comprises an exhaust portion for communicating with the flow passage for pumping used metal particles and inert gas discharged through the discharge passage.

또한, 상기 챔버는 판면방향을 따라 상호 착탈가능한 상부 및 하부챔버 부분으로 구성되고, 상기 메탈유로는, 상기 복수의 버블러 중 어느 하나 혹은 하나 이상으로부터 상기 상부 및 하부챔버 부분 중 어느 하나를 통해 상기 메탈입자를 상기 믹싱공간부로 안내하는 메탈안내구간을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.In addition, the chamber is composed of the upper and lower chamber portions that are detachable from each other along the plate direction, wherein the metal flow path, through any one of the upper and lower chamber portions from any one or more of the plurality of bubblers And a metal guide section for guiding metal particles to the mixing space.

또한, 상기 메탈안내구간은 하부챔버 부분에 형성되고, 상기 믹싱공간부 상 부의 상부챔버 부분에는 상기 믹싱공간부로 인입된 메탈소스 가스가 역류되는 것을 방지하는 윈도우글라스 오염방지용 배기구간이 형성되며, 상기 하부챔버 부분에는 상기 배기구간으로 가스를 공급하는 가스공급로가 형성되는 것을 특징으로 한다.In addition, the metal guide section is formed in the lower chamber portion, the upper chamber portion of the upper portion of the mixing space portion is formed with a window glass pollution prevention exhaust section for preventing the metal source gas introduced into the mixing space portion to flow back. The lower chamber portion is characterized in that a gas supply path for supplying gas to the exhaust section is formed.

또한, 상기 가스유로는, 상기 분기관으로부터 상기 상부 및 하부챔버부분 중 어느 하나를 통해 상기 불활성가스를 안내하는 제1가스안내구간과, 상기 상부챔버부분에 형성되어 상기 제1가스안내구간의 단부와 연통하는 제2가스안내구간과, 상기 하부챔버부분에 형성되어 상기 제2가스안내구간과 연통하는 제3가스안내구간을 포함하는 것을 특징으로 한다.The gas flow path may include a first gas guide section for guiding the inert gas from the branch pipe through one of the upper and lower chamber portions, and an end portion of the first gas guide section formed at the upper chamber portion. And a second gas guide section communicating with the third gas guide section formed in the lower chamber portion and communicating with the second gas guide section.

또한, 상기 제3가스안내구간에는 상기 제1 및 제2가스안내구간으로부터 안내된 가스를 상기 대상체를 향해 에어커튼식으로 분사하기 위한 복수의 가스분사구가 형성되어 있는 것을 특징으로 한다.In addition, the third gas guide section is characterized in that a plurality of gas injection port for injecting the gas guided from the first and second gas guide section toward the object by air curtain type is formed.

또한, 상기 배출유로는 상기 메탈유로 및 상기 가스유로 사이에 원주방향을 따라 배치되는 제1배출유로부분과; 상기 가스유로의 반경방향 외측에 원주방향을 따라 배치되는 제2배출유로부분을 포함하는 것을 특징으로 한다.The discharge passage may include a first discharge passage portion disposed along the circumferential direction between the metal passage and the gas passage; It characterized in that it comprises a second discharge passage portion disposed in the circumferential direction on the radially outer side of the gas passage.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 상기와 같은 구성수단으로 이루어져 있는 본 발명인 박막증착시스템에 관한 바람직한 실시예를 상세하게 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail a preferred embodiment of the present invention thin film deposition system consisting of the above configuration means.

본 발명에 따른 박막증착시스템(1)은, 앞서 설명한 바와 같이, 진공분위기를 형성해야만 하는 진공탱크 없이도, 레이저를 이용하여 대기중에서 박막증착 대상체(5)의 표면에 미세금속도선 박막을 증착시킬 수 있도록 한 것이다.In the thin film deposition system 1 according to the present invention, as described above, a thin metal wire thin film may be deposited on the surface of the thin film deposition object 5 in the air by using a laser without a vacuum tank having to form a vacuum atmosphere. It would be.

상기 대상체(5)에 증착되는 박막으로는, 수면의 기름막, 비누방울이 아롱진 막, 금속 표면의 녹, 함석, 생철의 아연막, 주석막 등을 포함하여, 금속박막, 반도체박막, 절연박막, 화합물 반도체박막, 자성박막, 유전체박막, 집적회로, 초전도박막 등을 포함한다.The thin film deposited on the object 5 may include an oil film on the surface of the water, a film of soap bubbles, an rusted film on the metal surface, a tin film, a zinc film on tin metal, a tin film, and the like, and a metal thin film, a semiconductor thin film, and an insulating thin film. , Compound semiconductor thin films, magnetic thin films, dielectric thin films, integrated circuits, superconducting thin films, and the like.

이에, 본 실시예에서는 근자에 들어 활발히 제조되고 있는 평면디스플레이(Flat Panel Display)를 박막증착 대상체(5)로 하여, 그 표면에 박막을 증착시키는 것에 관해 설명하도록 한다.Therefore, in the present embodiment, a thin film deposition object 5 is used as a flat panel display actively manufactured in the near field, and a thin film is deposited on the surface thereof.

본 발명의 실시예에 따른 박막증착시스템(1)은, 도 1에 도시된 바와 같이, 박막증착 대상체(5)와 소정의 이격간격을 두고 대상체(5)의 상부 대기중에 배치되는 박막증착용 챔버(10)와, 내부에 메탈소스(이를 고체상태의 금속성분이라 표현함)가 충전되어 있는 제1 및 제2버블러(51,52)와, 제1 및 제2버블러(51,52) 중 적어도 어는 하나에서 챔버(10)로 메탈소스에 의한 메탈입자가 공급될 수 있도록 제1 및 제2버블러(51,52)와 챔버(10)를 연결하는 제1 내지 제3메탈이송라인(61~63)과, 제1 및 제2버블러(51,52)로 불활성가스를 투입시키는 가스투입라인(70~72)과, 상기 메탈이송라인(63)에 분기 연결되어 상기 박막증착용 챔버(10) 내에 존재하는 각 종 이물질을 흡입하여 이동시키는 이물질흡입라인(90)과, 제1 내지 제3메탈이송라인(61~63)과 가스투입라인(70~72) 및 이물질흡입라인(90)에 마련되어 각 라인의 유로를 개폐하는 복수의 개폐밸브(61a,62a,71a,72a,91)와, 복수의 개폐밸브(61a,62a,71a,72a)의 온오프(ON/OFF) 동작을 제어하는 제어부(미도시)와, 박막의 증착과정에서 발생된 부산물 및 불활성가스를 펌핑하기 위한 배기부(4)로 이루어져 있다.In the thin film deposition system 1 according to the embodiment of the present invention, as shown in FIG. 1, the thin film deposition chamber disposed in the upper atmosphere of the object 5 at a predetermined distance from the thin film deposition object 5. (10) of the first and second bubblers (51, 52) and the first and second bubblers (51, 52) filled with a metal source (represented as a solid metal component) therein; First to third metal transfer lines 61 connecting the first and second bubblers 51 and 52 and the chamber 10 to supply the metal particles by the metal source to at least one of the chambers 10. ˜63), a gas input line 70 to 72 for introducing an inert gas into the first and second bubblers 51 and 52, and a branch connection to the metal transfer line 63 to connect the thin film deposition chamber ( 10) a foreign substance suction line 90 for sucking and moving various foreign substances present in the inside, first to third metal transfer lines 61 to 63, gas injection lines 70 to 72, and foreign substance suction lines On / off of the plurality of on / off valves 61a, 62a, 71a, 72a, 91 provided in the 90 and opening / closing the flow path of each line, and the plurality of on / off valves 61a, 62a, 71a, 72a The control unit (not shown) for controlling the operation, and the exhaust portion 4 for pumping by-products and inert gas generated in the deposition process of the thin film.

상기 구성요소 중, 상기 이물질흡입라인(90)은 상기 메탈이송라인 중 제3 메탈이송라인(63)에 연결되어 있다. 그리고, 상기 이물질흡입라인(90) 중간에는 개폐밸브(91)이 구비되어 있고, 상기 이물질흡입라인(90)은 배기부(4)에 연결되어 있다. Among the components, the foreign matter suction line 90 is connected to the third metal transfer line 63 of the metal transfer line. In addition, an opening / closing valve 91 is provided in the middle of the foreign substance suction line 90, and the foreign substance suction line 90 is connected to the exhaust part 4.

상기 이물질흡입라인(90)에 마련된 개폐밸브(91)는 공정이 진행되는 동안에는 차단된 상태로 있다. 즉, 메탈소스 가스를 상기 대상체에 분사하여 박막을 증착하는 동안에는 상기 이물질흡입라인(90)의 개폐밸브(91)는 차단되어, 상기 메탈소스 가스가 상기 이물질흡입라인(90)을 따라 이송되지 않도록 한다.The on-off valve 91 provided in the foreign matter suction line 90 is in a blocked state during the process. That is, while the metal source gas is sprayed on the object to deposit a thin film, the opening / closing valve 91 of the foreign substance suction line 90 is blocked, so that the metal source gas is not transferred along the foreign substance suction line 90. do.

반면, 상기 이물질흡입라인(90)에 마련된 개폐밸브(91)는 공정이 진행되는 동안에는 개방된 상태로 있다. 즉, 메탈소스 가스를 상기 대상체에 분사하여 박막을 증착하는 공정이 진행되지 않는 동안에는 상기 이물질흡입라인(90)의 개폐밸브(91)는 개방되어, 상기 챔버 내부에 존재하는 이물질 등이 상기 이물질흡입라인(90)을 따라 이송될 수 있도록 한다.On the other hand, the opening and closing valve 91 provided in the foreign matter suction line 90 is in an open state during the process. That is, while the process of depositing a thin film by injecting a metal source gas to the object is not in progress, the opening / closing valve 91 of the foreign substance suction line 90 is opened, and the foreign substance, etc. existing in the chamber is sucked into the foreign substance suction. To be transported along line 90.

이때, 상기 이물질흡입라인(90)에 마련된 개폐밸브(91)는 개방되지만, 나머지 개폐밸브들(61a,62a,71a,72a)은 모두 차단된 상태로 존재하여, 상기 이물질흡입라인(90)을 통한 흡입력이 강해질 수 있도록 한다. 상기 흡입력은 상기 배기부(4)에 구비된 흡입펌프(미도시)를 통해 이루어진다. 한편, 상기 개폐밸브(91)들의 개폐 동작은 제어부의 제어에 따라 이루어진다.At this time, the on-off valve 91 provided in the foreign matter suction line 90 is opened, but the remaining on / off valves 61a, 62a, 71a, and 72a are all in a blocked state, so that the foreign matter suction line 90 is opened. Make the suction power stronger. The suction force is made through a suction pump (not shown) provided in the exhaust part (4). On the other hand, the opening and closing operation of the on-off valve 91 is made under the control of the controller.

상기 박막증착용 챔버(10)의 구조 중, 특징적인 구조는 내부에 믹싱공간 부(20b)가 형성되어 있다는 것이다. 상기 믹싱공간부(20b)는 상기 박막증착용 챔버(10) 내부로 인입되는 메탈소스 가스가 혼합될 수 있도록 하는 공간이다. 그리고, 혼합된 메탈소스 가스를 상기 대상체에 분사될 수 있도록 하는 구조를 가지고 있다.Among the structures of the thin film deposition chamber 10, a characteristic structure is that the mixing space portion 20b is formed therein. The mixing space portion 20b is a space for mixing the metal source gas introduced into the thin film deposition chamber 10. In addition, the mixed metal source gas may be sprayed onto the object.

즉, 상기 믹싱공간부(20b)는 도 3a 및 도 3b에 도시된 바와 같이, 메탈소스 가스가 혼합될 수 있는 공간을 가지도록 하되, 고리 형태를 하고 있다. 한편, 상기 믹싱공간부(20b)의 바닥면에는 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 혼합된 메탈소스 가스가 대상체로 분사될 수 있도록 복수개의 가스분사통로(20c)가 구비되어 있다.That is, the mixing space portion 20b has a space in which the metal source gas can be mixed, as shown in FIGS. 3A and 3B, but has a ring shape. Meanwhile, as illustrated in FIGS. 4 and 5, a plurality of gas injection passages 20c are provided on the bottom surface of the mixing space 20b so that the mixed metal source gas may be injected to the object.

상기 복수개의 가스분사통로(20c)는 수평면을 기준으로 하여 소정 각도(도 5에서 θ로 표기됨)로 기울어져 형성되어 있다. 결과적으로, 상기 복수개의 가스분사통로(20c)의 끝단은 하나의 포인트(증착점)를 향하도록 형성되어 있다. 상기 가스분사통로(20c)의 기울어진 각도는 30° 내지 80° 사이의 범위인 것이 바람직하다. 상기 가스분사통로(20c)의 끝단에는 가스분사개폐기(미도시)가 구비되어 상기 제어부(미도시)의 제어에 따라 개폐된다. The plurality of gas injection passages 20c are inclined at a predetermined angle (denoted by θ in FIG. 5) with respect to a horizontal plane. As a result, the ends of the plurality of gas injection passages 20c are formed to face one point (deposition point). It is preferable that the inclination angle of the gas injection passage 20c is in a range between 30 ° and 80 °. A gas injection switch (not shown) is provided at an end of the gas injection passage 20c and is opened and closed under the control of the controller (not shown).

한편, 메탈소스로 충전되어 있는 상기 제1 및 제2버블러(51,52)의 내부에는 예를 들어, 크롬, 몰리브덴, 텅스텐, 니켈, 철 등의 무기화합물로 된 고체상태의 금속성분(메탈소스)이 충전되어 있다. 물론, 경우에 따라 제1 및 제2버블러(51,52)에 각각 동일한 메탈소스를 충전시킬 수도 있고 상이한 메탈소스를 충전시킬 수도 있어 동종의 금속박막 뿐만 아니라 이종접합과 같은 적층박막을 동시에 행할 수 있 는 장점을 가진다.On the other hand, inside the first and second bubbles 51 and 52 filled with a metal source, for example, a solid metal component made of an inorganic compound such as chromium, molybdenum, tungsten, nickel or iron (metal Source) is charged. Of course, in some cases, the first and second bubblers 51 and 52 may be filled with the same metal source or different metal sources, respectively, so that not only the same metal thin films but also laminated thin films such as heterojunctions may be simultaneously performed. It has the advantage.

제1 내지 제3메탈이송라인(61~63)에는 제1 내지 제3메탈이송라인(61~63)을 가열하기 위한 히터(미도시)가 마련되어있다. 이 때의 히터는 열선의 형태로써 제1 내지 제3메탈이송라인(61~63)을 일체로 감싸는 역할을 하여, 고체상태의 금속성분이 기체상태로 변화하는데 일조를 한다. 즉, 상기 메탈소스가 상기 제1 내지 제3메탈이송라인(61~63)을 거쳐, 챔버로 이동할 때는 기체 상태의 메탈소스 가스 상태로 이동된다.Heaters (not shown) for heating the first to third metal transfer lines 61 to 63 are provided in the first to third metal transfer lines 61 to 63. At this time, the heater serves to integrally wrap the first to third metal transfer lines 61 to 63 in the form of a hot wire, thereby helping to change the metal component in the solid state into the gas state. That is, when the metal source is moved to the chamber via the first to third metal transfer lines 61 to 63, the metal source is moved to the gas source metal source gas state.

한편, 제1 및 제2버블러(51,52)에 충전된 메탈소스가 기체상태인 메탈입자로 변화한 후, 제1 내지 제3메탈이송라인(61~63)을 통해 챔버(10)로 이송되려면, 제1 및 제2버블러(51,52) 자체를 가열해야 함은 물론, 메탈입자를 제1 내지 제3 메탈이송라인(61~63)으로 밀어내는 원동력이 필요하다.Meanwhile, after the metal sources filled in the first and second bubblers 51 and 52 are changed into metal particles in a gaseous state, they are transferred to the chamber 10 through the first to third metal transfer lines 61 to 63. In order to be transferred, the first and second bubblers 51 and 52 themselves need to be heated, as well as a driving force for pushing the metal particles into the first to third metal transfer lines 61 to 63.

이를 위해, 본 시스템에서는 아르곤(Ar)과 같은 불활성가스를 가스투입라인(70~72)을 통해 제1 및 제2버블러(51,52)로 투입하고 있다. 물론, 전술한 것처럼 각 라인에는 해당 유로를 개폐하는 복수의 개폐밸브(61a,62a,71a,72a)가 제어부에 의해 온오프(ON/OFF) 동작할 수 있도록 되어 있다.To this end, in this system, an inert gas such as argon (Ar) is introduced into the first and second bubblers 51 and 52 through gas injection lines 70 to 72. Of course, as described above, each of the plurality of on-off valves 61a, 62a, 71a, 72a for opening and closing the flow paths can be turned on and off by the control unit.

이에, 제어부가 제1개폐밸브(61a)를 동작시켜 해당하는 제1메탈이송라인(61)의 유로를 차단하면, 제2버블러(52) 내의 메탈입자만이 제2메탈이송라인(62)을 통해 챔버(10) 내의 메탈유로(20)로 향하여, 박막증착에 관여한다.Therefore, when the control unit operates the first opening / closing valve 61a to block the flow path of the corresponding first metal transfer line 61, only the metal particles in the second bubbler 52 are the second metal transfer line 62. Through to the metal flow path 20 in the chamber 10, involved in the thin film deposition.

그러나, 공정이 진행되는 과정에서 제2버블러(52) 내의 메탈소스가 다 소진되고 나면, 제어부는 제2개폐밸브(62a)를 동작시켜 해당 제2메탈이송라인(62)의 유 로를 차단한다. 그러면, 이번에는 제1버블러(51) 내의 메탈입자만이 제1메탈이송라인(61)을 통해 챔버(10) 내의 메탈유로(20)로 제공되어 박막증착에 관여한다.However, after the metal source in the second bubbler 52 is exhausted in the process, the controller operates the second opening / closing valve 62a to block the flow path of the second metal transfer line 62. do. Then, this time, only the metal particles in the first bubbler 51 are provided to the metal channel 20 in the chamber 10 through the first metal transfer line 61 to participate in thin film deposition.

이 때, 작업자는 내부가 비어 있는 제2버블러(52) 내에 다시 고체상태의 메탈소스를 충전하면 되기 때문에, 종래와 같이 시스템의 가동을 중지시필 필요가 없다. 따라서, 고압가스의 충전에 따른 공정상의 로스(Loss)를 현격하게 줄일 수 있게되는 것이다.At this time, the operator only needs to refill the solid metal source in the second bubbler 52, which is empty inside, and thus does not need to stop the operation of the system as in the prior art. Therefore, it is possible to significantly reduce the loss (Loss) in the process due to the filling of the high pressure gas.

이 때, 가스투입라인(70)의 일부구간에는 해당 불활성가스를 분기하여 각기 다른 용도로 이용할 수 있도록 제1 및 제2 분기관(81,82)이 마련되어 있다. 제1분기관(81)은 후술할 가스유로(30)와 연결되어 에어커튼의 역할을 행하고, 제2분기관(82)은 윈도우글라스(W/G) 구간으로 투입된다.At this time, some sections of the gas injection line 70 are provided with first and second branch pipes 81 and 82 so as to branch the inert gas and use them for different purposes. The first branch pipe 81 is connected to the gas flow path 30 to be described later to serve as an air curtain, and the second branch pipe 82 is introduced into the window glass (W / G) section.

물론, 이러한 구성들 외에도 챔버(10)를 배치하기 위한 수단이나 각종 테이블, 혹은 대상체(5)를 로딩 및 언로딩시키는 장치 등이 더 필요하겠지만 나머지의 구성들은 일반화된 구성이라 간주하여 그 설명을 생략하기로 한다.Of course, in addition to these configurations, a means for arranging the chamber 10, various tables, or an apparatus for loading and unloading the object 5 may be required, but the rest of the configuration is considered to be a generalized configuration, and description thereof is omitted. Let's do it.

박막증착용 챔버(10)는, 도 2, 도 3a 및 도 3b, 그리고 도 4에 도시된 바와 같이, 대기중에서도 대상체(5)에 박막을 증착시킬 수 있는 수단으로 이용된다.The thin film deposition chamber 10 is used as a means for depositing a thin film on the object 5 in the air, as shown in FIGS. 2, 3A, 3B, and 4.

이러한 챔버(10)는, 판면방향을 따라 상호 착탈가능한 상부 및 하부챔버부분(10a,10b)으로 이루어져 있다. 그리고, 상부챔버 부분(10a)의 일측에는 위의 박막증착시스템(1)에 챔버(10)를 장착시키기 위한 장착브래킷(12)이 마련되어 있다. 상기 장착브래킷(12)에는 복수의 장착공(12a)이 형성되어 있다.The chamber 10 is composed of upper and lower chamber portions 10a and 10b that are detachable from each other along the plate surface direction. On one side of the upper chamber portion 10a, a mounting bracket 12 for mounting the chamber 10 to the thin film deposition system 1 is provided. A plurality of mounting holes 12a are formed in the mounting bracket 12.

한편, 챔버(10) 내에는 제1 및 제2버블러(51,52) 중 어느 하나 혹은 하나 이 상을 통해 제1 내지 제3메탈이송라인(61~63)을 경유, 메탈입자를 대상체(5)의 해당 위치로 전달하기 위한 메탈유로(20)와, 메탈유로(20)를 통해 대상체(5)로 제공되는 메탈입자가 외부 대기와 격리될 수 있도록 챔버(10)에 마련되어 제1분기관(81)을 통해 분기된 불활성가스를 전달하는 가스유로(30)와, 배기부(4)와 연결되어 사용 후 발생된 부산물 및 불활성가스를 배출시키는 복수의 배출유로(40)가 마련되어 있다.On the other hand, in the chamber 10 through the first to the third metal transfer line (61 ~ 63) through one or more of the first and second bubblers (51, 52), the metal particles to the object ( The metal flow passage 20 for delivering to the corresponding position of 5) and the first branch pipe are provided in the chamber 10 so that the metal particles provided to the object 5 through the metal flow passage 20 can be isolated from the external atmosphere. A gas flow passage 30 for delivering an inert gas branched through the 81 and a plurality of discharge passages 40 connected to the exhaust part 4 to discharge by-products and inert gas generated after use are provided.

상기 메탈유로(20)는 제1 및 제2버블러(51,52) 중 어느 하나 혹은 하나 이상으로부터 제1 내지 제3메탈이송라인(61~63)을 통해 하부챔버부분(10b)으로 메탈소스 가스를 안내하는 메탈안내구간(20a)을 포함하여 구성된다. 상기 메탈안내구간(20a)을 통해 인입되는 메탈소스 가스는 하부챔버부분(10b)에 형성되어 있는 믹싱공간부(20b)로 인입된다.The metal flow path 20 is a metal source from one or more of the first and second bubblers 51 and 52 to the lower chamber portion 10b through the first to third metal transfer lines 61 to 63. It is configured to include a metal guide section 20a for guiding gas. The metal source gas introduced through the metal guide section 20a is introduced into the mixing space 20b formed in the lower chamber portion 10b.

만일, 상부 및 하부챔버부분(10a,10b)이 도 2 내지 도 3b에 도시된 것처럼 사각평면부(11a)와 부분원호부(11b)로 형성될 경우라면, 상기 믹싱공간부(20b)는 부분원호부(11b)의 축심 둘레에 고리 모양으로 형성되는 것이 유리하다. 그러나, 반드시 챔버(10)는 도시한 것과 같은 형상을 가질 필요는 없고 전체적으로 사각형상이나 원형상, 삼각 형상 등을 이룰 수도 있을 것이다.If the upper and lower chamber portions 10a and 10b are formed of a square plane portion 11a and a partial arc portion 11b as shown in Figs. 2 to 3b, the mixing space portion 20b is a portion. It is advantageous to form an annular shape around the axis of the circular arc portion 11b. However, the chamber 10 does not necessarily have to have a shape as shown, but may form a quadrangular shape, a circular shape, a triangular shape, or the like as a whole.

한편, 상기 믹싱공간부(20b)의 상부 영역인, 상부챔버부분(10a)에는 상기 메탈안내구간(20a)과 상기 믹싱공간부(20b)를 통해 인입된 메탈입자인 메탈소스 가스가 역류하는 것을 저지하는 윈도우글라스(W/G) 오염방지용 배기구간(25a)이 형성되어 있다.On the other hand, in the upper chamber portion 10a, which is the upper region of the mixing space 20b, the metal source gas, which is the metal particles introduced through the metal guide section 20a and the mixing space 20b, flows backward. An exhaust section 25a for preventing window glass (W / G) contamination is formed.

즉, 메탈입자인 메탈소스 가스가 상기 메탈안내구간(20a) 및 믹싱공간부(20b)를 통해 박막증착 대상체(5)로 공급되는 과정에서, 메탈입자가 참조부호 25a로 표기된 공간을 통해 외부로 배출되어서는 아니된다.That is, in the process of supplying the metal source gas, which is a metal particle, to the thin film deposition object 5 through the metal guide section 20a and the mixing space portion 20b, the metal particles are moved to the outside through the space indicated by reference numeral 25a. It should not be discharged.

따라서, 본 발명에서는 하부챔버부분(10b)에 형성된 가스공급로(25)를 통해 25a로 표기된 영역인 배기구간(25a)으로 역시, 제2분기관(82)을 통해 분기되어 나오는 불활성가스를 공급함으로써, 메탈입자의 역류를 방지시키고 있는 것이다.Therefore, in the present invention, the inert gas that is branched through the second branch pipe 82 is also supplied to the exhaust section 25a, which is an area designated as 25a, through the gas supply passage 25 formed in the lower chamber portion 10b. This prevents reverse flow of the metal particles.

상기 가스유로(30)는, 가스투입라인(70)으로 흐르다가 분기된 후 제1분기관(81)을 통해 하부챔버부분(10b)으로 공급된 불활성가스를 안내하는 제1가스안내구간(30a)과, 상부챔버부분(10a)에 형성되어 제1가스안내구간(30a)의 단부와 연통하는 제2가스안내구간(30b)과, 하부챔버부분(10b)에 형성되어 제2가스안내구간(30b)과 연통하는 제3가스안내구간(30c)으로 이루어져 있다.The gas flow passage 30 flows to the gas injection line 70 and branches to the first gas guide section 30a for guiding the inert gas supplied to the lower chamber portion 10b through the first branch pipe 81. ), A second gas guide section 30b formed in the upper chamber portion 10a and communicating with an end portion of the first gas guide section 30a, and a second gas guide section formed in the lower chamber portion 10b. And a third gas guide section 30c in communication with 30b).

상기 제3가스안내구간(30c)에는 제1 및 제2가스안내구간(30a,30b)으로부터 안내된 가스를 대상체(5)를 향해 에어커튼식으로 분사하기 위한 복수의 가스분사구(30d)가 형성되어 있다. 결국, 제1 내지 제3가스안내구간(30a~30c)을 통해 유입된 고압의 불활성가스가 에어커튼식으로 복수의 가스분사구(30d)를 통해 대상체(5)로 분사되기 때문에, 외부 대기중의 불순물이 메탈입자와의 반응을 방지 할 수 있다. 즉, 가상의 밀폐된 공간을 형성할 수 있게 된다.A plurality of gas injection ports 30d are formed in the third gas guide section 30c for injecting the gas guided from the first and second gas guide sections 30a and 30b toward the object 5 in an air curtain manner. It is. As a result, since the high-pressure inert gas introduced through the first to third gas guide sections 30a to 30c is injected into the object 5 through the plurality of gas injection ports 30d in an air curtain manner, Impurities can prevent the reaction with metal particles. That is, the virtual sealed space can be formed.

따라서, 메탈입자를 통해 대상체(5)의 소정 위치에 박막이 증착되는 과정에서, 대기중에 포함된 산호나 질소 등의 불순물로 인해 순수 메탈이 증착되지 않는 것을 효과적으로 저지할 수 있다.Therefore, in the process of depositing a thin film at a predetermined position of the object 5 through the metal particles, it is possible to effectively prevent the pure metal from being deposited due to impurities such as coral or nitrogen contained in the atmosphere.

또한, 이러한 에어커튼식의 가스분사 방식으로 인해, 본 챔버(10)는 대기중에서도 사용할 수 있는 장점이 있는 것이다. 이때, 대상체(5)로 분사되는 고압의 가스는, 다른 여러 것으로 채용할 수도 있으나, 본 실시예에서는 아르곤(Ar)으로 채용하고 있다.In addition, due to the air curtain-type gas injection method, the present chamber 10 has an advantage that can be used in the atmosphere. At this time, the high-pressure gas injected into the object 5 may be employed in various ways, but is employed as argon (Ar) in the present embodiment.

본 실시예의 챔버(10) 내에 메탈유로(20) 및 가스유로(30)가 하나씩 마련되어 있는 것에 반해, 배출유로(40)는 2개가 마련된다. 물론, 경우에 따라 메탈유로(20), 가스유로(30) 및 배출유로(40)는 추가로 더 형성할 수도 있으나, 도시된 것처럼 2개의 배출유로(40)에 국한하여 설명하도록 한다.While the metal flow passage 20 and the gas flow passage 30 are provided one by one in the chamber 10 of the present embodiment, two discharge passages 40 are provided. Of course, in some cases, the metal channel 20, the gas channel 30 and the discharge channel 40 may be further formed, but will be described as limited to the two discharge channel 40 as shown.

실시예의 배출유로(40)는 메탈유로(20) 및 가스유로(30) 사이에 원주방향을 따라 배치되는 제1배출유로부분(41)과, 가스유로(30)의 반경방향 외측에 원주방향을 따라 배치되는 제2배출유로부분(42)으로 이루어져 있다.The discharge passage 40 of the embodiment has a first discharge passage portion 41 disposed along the circumferential direction between the metal passage 20 and the gas passage 30, and the circumferential direction on the radially outer side of the gas passage 30. The second discharge passage portion 42 is disposed along.

제1 및 제2배출유로부분(41,42)은, 하부챔버부분(10b)에 형성되어 대상체(5)와 챔버(10) 사이의 공간 내에 존재하는 부산물, 고압가스 및 대기중의 가스를 흡입하는 제1흡입구간(40a)과, 상부챔버부분(10a)에 형성되어 제1흡입구간(40a)에 연통하는 제2흡입구간(40b)과, 양단이 배기부(4)와 제2흡입구간(40b)에 각각 연결되어 제1 및 제2흡입구간(40a,40b)을 통해 흡입된 메탈입자, 고압가스 및 대기중의 가스를 배기부(4)로 전달하는 제3흡입구간(40c)으로 이루어져 있다.The first and second discharge passage portions 41 and 42 are formed in the lower chamber portion 10b to suck the by-products, the high pressure gas, and the gas in the atmosphere existing in the space between the object 5 and the chamber 10. The first suction section 40a, the second suction section 40b formed in the upper chamber portion 10a and communicating with the first suction section 40a, and both ends of the exhaust section 4 and the second suction section. The third suction section 40c, which is connected to the respective 40b, delivers the metal particles, the high pressure gas, and the atmospheric gas, which are sucked through the first and second suction sections 40a and 40b, to the exhaust section 4, respectively. consist of.

이 때, 제1흡입구간(40a)에는 앞서 설명한, 가스분사구(30d)와 마찬가지의 방식으로써 대상체(5)와 챔버(10) 사이의 공간 내에 존재하는 부산물, 고압가스 및 대기중의 가스를 흡입하기 위한 복수의 흡입구(40d)가 형성되어 있다. At this time, the first suction section 40a sucks by-products, high pressure gas, and gases in the air in the space between the object 5 and the chamber 10 in the same manner as the gas injection port 30d described above. A plurality of suction ports 40d are formed for this purpose.

도시된 것처럼 복수의 흡입구(40d)를 형성할 경우, 좀 더 빠른 시간 내에 좀 더 많은 양의 메탈입자, 고압가스 및 대기중의 가스를 균일하게 배출시킬 수 있는 장점이 있다.As shown in the drawing, when the plurality of inlets 40d are formed, a larger amount of metal particles, a high pressure gas, and gases in the atmosphere may be uniformly discharged within a faster time.

이 때, 흡입구(40d)는 가스분사구(30d)에 비해 그 직경이 크게 형성되는 것이 배출효율을 높이는 데 보다 유리할 것이다.At this time, the diameter of the suction port 40d is larger than the gas injection port 30d will be more advantageous to increase the discharge efficiency.

한편, 상부 및 하부챔버부분(10a,10b)이 상호 접하는 접촉영역에는 실링부재(14, 도 5 참조)가 개재되어 있다. 이러한 실링부재(14)는 특히, 상부 및 하부챔버부분(10a,10b)에서, 메탈유로(20), 가스유로(30) 및 배출유로(40)가 상호 접하는 영역에 배치되어 메탈입자 및 가스등이 누출되는 것을 저지하게 된다.Meanwhile, the sealing member 14 (see FIG. 5) is interposed in the contact area where the upper and lower chamber portions 10a and 10b contact each other. In particular, the sealing member 14 is disposed in an area where the metal flow path 20, the gas flow path 30, and the discharge flow path 40 contact each other in the upper and lower chamber portions 10a and 10b. To prevent leakage.

이러한 구성을 갖는 박막증착시스쳄(1)을 이용하여 대상체(5)의 표면 소정 위치에 박막을 증착시키는 과정을 도 6을 참조하여 설명하면 다음과 같다.A process of depositing a thin film at a predetermined position on the surface of the object 5 using the thin film deposition system 1 having such a configuration will be described below with reference to FIG. 6.

우선, 박막증착 대상체(5)와 소정의 이격간격을 두고 대상체(5)의 상부에 챔버(10)를 대상체(5)와 나란하게 배치한다. 물론, 이는 장치 내에서 프로그램화 된 제어시스템 및 구동시스템에 의해 자동으로 이루어지게 된다.First, the chamber 10 is disposed parallel to the object 5 on the upper portion of the object 5 at a predetermined distance from the thin film deposition object 5. Of course, this is done automatically by the control and drive systems programmed in the apparatus.

챔버(10)가 배치된 연후에, 제어부가 제1개폐밸브(61a)를 동작시켜 해당하는 제1메탈이송라인(61)의 유로를 차단하면, 제2버블러(52) 내의 메탈입자만이 제2메탈이송라인(62)을 통해 챔버(10) 내의 메탈유로(20)로 향하여, 박막증착에 관여한다.After the chamber 10 is arranged, if the control unit operates the first opening / closing valve 61a to block the flow path of the corresponding first metal transfer line 61, only the metal particles in the second bubbler 52 To the metal flow path 20 in the chamber 10 through the second metal transfer line 62, it is involved in the thin film deposition.

그러나, 공정이 진행되는 과정에서 제2버블러(52) 내의 메탈소스가 다 소진되고 나면, 제어부는 제2개폐밸브(62a)를 동작시켜 해당 제2메탈이송라인(62)의 유 로를 차단한다. 그러면, 이번에는 제1버블러(51) 내의 메탈입자만이 제1메탈이송라인(61)을 통해 챔버(10) 내의 메탈유로(20)로 제공되어 박막증착에 관여한다.However, after the metal source in the second bubbler 52 is exhausted in the process, the controller operates the second opening / closing valve 62a to block the flow path of the second metal transfer line 62. do. Then, this time, only the metal particles in the first bubbler 51 are provided to the metal channel 20 in the chamber 10 through the first metal transfer line 61 to participate in thin film deposition.

물론, 제어부에 의해 제1 및 제2개폐밸브(61a,62a)가 모두 작동하여 서로 다른 메탈소스가 함께 이종접합과 같은 적층박막을 동시에 행할 수도 있는 것이다.Of course, both the first and second open / close valves 61a and 62a may be operated by the control unit so that different metal sources may simultaneously perform a laminated thin film such as heterojunction.

제1 및 제2버블러(51,52) 중 어느 하나 혹은 2개 모두로부터의 메탈입자가 제1 내지 제3메탈이송라인(61~63)을 선택 경유하여 공급되면 메탈안내구간(20a) 및 믹싱 공간부(20b)를 통해, 대상체(5)의 해당 위치로 분사됨과 동시에 레이저에 의해 대상체(5)의 표면에 박막이 증착되기 시작한다(도 6의 ⓧ 참조).When metal particles from any one or both of the first and second bubblers 51 and 52 are supplied via the first to third metal transfer lines 61 to 63, the metal guide section 20a and Through the mixing space 20b, the thin film is deposited on the surface of the object 5 by the laser at the same time as it is ejected to the corresponding position of the object 5 (see FIG. 6B).

상기 믹싱 공간부(20b)에서 혼합된 메탈소스 가스는 수평면을 기준으로 소정 각도로 기울어져 형성되는 가스분사통로(20c)를 통해 대상체(5)의 표면에 분사된다.The metal source gas mixed in the mixing space 20b is sprayed onto the surface of the object 5 through the gas injection passage 20c formed to be inclined at a predetermined angle with respect to the horizontal plane.

메탈입자가 공급되는 동시에 가스투입라인(70)으로부터 분기된 제1분기관(81)으로부터의 불활성가스가 제공되어 해당 가스라인을 통해 제1 내지 제3가스안내구간(30a~30c)으로 분사된다. 분사된 고압가스는 대상체(5)로 공급되는 메탈입자인 메탈소스 가스가 대기중의 공기와 접촉하지 않도록 에어커튼을 형성한다(도 6의 ⓨ 참조).At the same time as the metal particles are supplied, an inert gas from the first branch pipe 81 branched from the gas injection line 70 is provided and injected into the first to third gas guide sections 30a to 30c through the corresponding gas line. . The injected high pressure gas forms an air curtain so that the metal source gas, which is a metal particle supplied to the object 5, does not come into contact with air in the atmosphere (see FIG. 6).

이처럼 고압의 가스가 대상체(5)를 향해 에어커튼식으로 분사되고, 그 내측으로 메탈입자가 공급됨으로써, 대상체(5)의 표면에 박막이 증착되기 시작한다. 물론, 대상체(5)의 표면에 박막이 증착되는 과정에서 발생된 부산물, 불활성가스 및 대기중의 가스는 제1 내지 제3흡입구간(40a~40c)을 차례로 경유하여 배기부(4)를 통해 배출되는 한편(도 6의 ⓩ 참조), 배기구간(25a)을 통해서도 외부로 배출된다.As such, the high-pressure gas is injected into the air curtain type toward the object 5, and metal particles are supplied to the inside thereof, whereby a thin film is started to be deposited on the surface of the object 5. Of course, by-products, inert gases, and atmospheric gases generated in the process of depositing a thin film on the surface of the object 5 are sequentially passed through the exhaust part 4 via the first to third suction sections 40a to 40c. On the other hand, it is discharged | emitted to the exterior also through the exhaust section 25a.

이처럼 소진된 메탈입자, 메탈입자와 반응하여 발생된 부산물, 고압가스 및 대기중의 가스가 배기부(4)를 통해 배출됨으로써 유해가스에 대한 외부 유출을 방지할 수 있는 추가의 장점이 있다.Thus exhausted metal particles, by-products generated by reacting with the metal particles, the high-pressure gas and the gas in the atmosphere is discharged through the exhaust portion 4 has the additional advantage of preventing the external leakage of harmful gases.

한편, 도 7에 도시된 바와 같이, 상기와 같은 공정이 진행되지 않는 동안에는 상기 챔버 내부에 존재하는 각 종 이물질들을 외부로 배출하는 공정을 진행한다.On the other hand, as shown in Figure 7, while the above process is not in progress, the process of discharging each foreign matter present in the chamber to the outside.

즉, 대상체에 메탈소스 가스를 분사하여 박막을 증착하는 공정을 진행하지 않는 동안에는, 제어부의 제어에 따라 도 1에 도시된 이물질흡입라인(90)에 구비되는 개폐밸브(91)만을 개방하고, 나머지 개폐밸브들은 차단한다. 그런 다음, 상기 배기부(4)에 구비되는 흡입펌프(미도시)의 펌핑동작에 따라, 상기 챔버 내부에 존재하는 이물질(93)들이 메탈안내구간을 따라 챔버 밖으로 이동된다. 그러면, 상기 이동되는 이물질(93)들은 상기 이물질흡입라인(90)을 통해 배기부(4)로 배출될 수 있다.That is, while not performing a process of depositing a thin film by spraying a metal source gas on the object, only the opening / closing valve 91 provided in the foreign matter suction line 90 shown in FIG. Shut off valves. Then, according to the pumping operation of the suction pump (not shown) provided in the exhaust portion 4, the foreign matter 93 existing in the chamber is moved out of the chamber along the metal guide section. Then, the moved foreign matters 93 may be discharged to the exhaust part 4 through the foreign matter suction line 90.

이와 같이, 본 발명에 의하면, 적어도 두 개 이상의 버블러를 마련하고 이들 중 어느 하나로부터 기체상태의 메탈입자가 챔버(10)로 공급될 수 있도록 함으로써 고체상태의 금속성분을 충전하는데 따른 공정상의 로스(Loss)를 줄일 수 있다.As described above, according to the present invention, at least two or more bubblers are provided, and gas loss can be supplied to the chamber 10 from any one of them. (Loss) can be reduced.

또한, 동종의 금속박막 뿐만 아니라 이종접합과 같은 적층박막을 동시에 행할 수 있는 장점이 있다.In addition, there is an advantage in that not only the same metal thin film but also a laminated thin film such as heterojunction can be simultaneously performed.

이상 도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명하였지만 본 발명은 이에 제한되는 것은 아니다.Although the present invention has been described in detail with reference to the drawings, the present invention is not limited thereto.

전술한 실시예에서는, 박막증착시스템(1) 내에 두 개의 제1 및 제2버블러(51,52)와 이에 해당하는 두 개의 제1 및 제2가스라인(61,62)이 마련되어 있으나, 3개 이상의 버블러와 이에 해당하는 가스라인을 구비할 수도 있을 것이다.In the above-described embodiment, two first and second bubblers 51 and 52 and two corresponding first and second gas lines 61 and 62 are provided in the thin film deposition system 1. One or more bubblers and corresponding gas lines may be provided.

전술한 실시예에서는, 상부 및 하부챔버부분(10a,10b)이 사각평면부(11a)와 부분원호부(11b)를 갖는 형상으로 되어 있으나, 다른 형상을 갖더라도 본 발명의 사상 범주 내에 있게 됨은 물론이다.In the above-described embodiment, the upper and lower chamber portions 10a and 10b have a shape having a quadrangular flat portion 11a and a partial arc portion 11b. However, the upper and lower chamber portions 10a and 10b are within the scope of the present invention even though they have other shapes. Of course.

전술한 실시예에서는, 가스유로(30)를 통해 단일의 에어커튼이 형성되고 있지만, 필요에 따라 두 개 이상의 가스유로(30)를 형성하여 두 개 이상의 에어커튼이 형성되도록 할 수도 있을 것이다.In the above-described embodiment, a single air curtain is formed through the gas flow passage 30, but if necessary, two or more gas flow passages 30 may be formed so that two or more air curtains are formed.

상기와 같은 구성 및 바람직한 실시예를 가지는 본 발명인 박막증착시스템에 의하면, 적어도 두 개 이상의 버블러를 마련하고 이들 중 어느 하나로부터 기체상태의 메탈소스가 챔버로 공급될 수 있도록 하기 때문에, 고체상태의 금속성분을 충전하는데 따른 공정상의 로스(Loss)를 줄일 수 있는 장점이 있다.According to the thin film deposition system of the present invention having the above-described configuration and preferred embodiments, at least two bubblers are provided and the gaseous metal source can be supplied to the chamber from any one of them. There is an advantage to reduce the process (Loss) due to the filling of the metal component.

또한, 대상체에 메탈소스 가스를 분사하는 증착 공정이 진행되지 않는 동안에는 상기 챔버 내에 존재하는 이물질을 지속적으로 흡입하여 제거할 수 있기 때문에, 다시 증착 공정이 진행될 때, 이물질에 의한 영향을 최소화할 수 있는 장점이 있다.In addition, since the foreign matter present in the chamber may be continuously sucked and removed while the deposition process of injecting the metal source gas into the object is not performed, the influence of the foreign matter may be minimized when the deposition process is performed again. There is an advantage.

또한, 동종의 금속박막 뿐만 아니라 이종접합과 같은 적층박막을 동시에 행할 수 있는 장점이 있다.In addition, there is an advantage in that not only the same metal thin film but also a laminated thin film such as heterojunction can be simultaneously performed.

또한, 메탈소스 가스를 대상체에 분사하기 전에 믹싱공간부에서 혼합하기 때문에, 대상체에 증착되는 메탈소스 가스의 균일도를 향상시키고, 일정한 온도를 가지는 메탈소스 가스를 대상체에 증착시킬 수 있는 장점이 있다.In addition, since the metal source gas is mixed in the mixing space before spraying the object, the uniformity of the metal source gas deposited on the object may be improved, and the metal source gas having a constant temperature may be deposited on the object.

Claims (14)

박막증착 대상체와 소정의 이격 간격을 두고 상기 대상체의 상부 대기중에 배치되되, 인입되는 메탈소스 가스를 내부에 형성되는 믹싱공간부에서 혼합한 후, 상기 메탈소스 가스를 상기 대상체에 분사하여 박막을 증착하는 박막증착용 챔버와;It is disposed in the upper atmosphere of the object at a predetermined distance from the thin film deposition object, after mixing the incoming metal source gas in the mixing space formed therein, and then spraying the metal source gas to the object to deposit a thin film A thin film deposition chamber; 내부에 메탈소스가 충전되어 있는 복수의 버블러와;A plurality of bubblers having a metal source filled therein; 상기 복수의 버블러 중 적어도 하나에서 상기 챔버로 상기 메탈소스에 의한 메탈입자가 공급될 수 있도록 상기 복수의 버블러와 상기 챔버를 연결하는 복수의 메탈이송라인과;A plurality of metal transfer lines connecting the plurality of bubblers and the chamber to supply metal particles by the metal source to at least one of the plurality of bubblers; 상기 복수의 버블러로 불활성가스를 투입시키는 가스투입라인과;A gas injection line for introducing an inert gas into the plurality of bubblers; 상기 메탈이송라인과 연결되어 상기 박막증착용 챔버에 존재하는 이물질을 흡입하여 이동시키는 이물질흡입라인과;A foreign substance suction line connected to the metal transfer line to suck and move foreign substances present in the thin film deposition chamber; 상기 메탈이송라인, 가스투입라인 및 이물질흡입라인에 마련되어 각 라인의 유로를 개폐하는 개폐밸브와;An on / off valve provided in the metal transfer line, the gas injection line and the foreign substance suction line to open and close the flow path of each line; 상기 복수의 개폐밸브의 온오프(on/off) 동작을 제어하는 제어부를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 박막증착시스템.Thin film deposition system comprising a control unit for controlling the on / off operation of the plurality of on-off valves. 청구항 1에 있어서,The method according to claim 1, 상기 이물질흡입라인에 마련된 개폐밸브는 메탈소스 가스를 상기 대상체에 분사하여 박막을 증착하는 동안에, 상기 이물질흡입라인을 차단하는 것을 특징으로 하는 박막증착시스템.The on-off valve provided in the foreign matter suction line is a thin film deposition system, characterized in that the foreign matter suction line is blocked while injecting a metal source gas to the object to deposit a thin film. 청구항 1에 있어서,The method according to claim 1, 상기 이물질흡입라인에 마련된 개폐밸브는 메탈소스 가스를 상기 대상체에 분사하지 않는 동안에, 상기 이물질흡입라인을 개방하여 상기 챔버 내에 존재하는 이물질이 흡입될 수 있도록 하고, 나머지 개폐밸브들은 모두 차단되는 것을 특징으로 하는 박막증착시스템.The on / off valve provided in the foreign substance suction line opens the foreign substance suction line so that foreign substances existing in the chamber can be sucked while the metal source gas is not injected to the object, and all the remaining valves are blocked. Thin film deposition system. 청구항 1에 있어서,The method according to claim 1, 상기 믹싱공간부는 상기 메탈소스 가스가 혼합될 수 있는 공간을 가지는 고리 형태인 것을 특징으로 하는 박막증착시스템.The mixing space portion is a thin film deposition system, characterized in that the ring shape having a space in which the metal source gas can be mixed. 청구항 4에 있어서,The method according to claim 4, 상기 혼합된 메탈소스 가스는 상기 믹싱공간부의 바닥면에 형성되는 복수개의 가스분사통로를 통하여 상기 대상체에 분사되는 것을 특징으로 하는 박막증착시 스템.And the mixed metal source gas is sprayed onto the object through a plurality of gas injection paths formed on the bottom surface of the mixing space. 청구항 5에 있어서,The method according to claim 5, 상기 가스분사통로는 수평면을 기준으로 30° ~ 80° 사이로 기울어져 형성되는 것을 특징으로 하는 박막증착시스템.The gas injection passage is thin film deposition system, characterized in that formed inclined between 30 ° ~ 80 ° relative to the horizontal plane. 청구항 6에 있어서,The method according to claim 6, 상기 가스분사통로의 끝단에는 가스분사개폐기가 구비되되, 상기 제어부에 의하여 개폐되는 것을 특징으로 하는 박막증착시스템.Thin film deposition system, characterized in that the gas injection switch is provided at the end of the gas injection passage, it is opened and closed by the control unit. 청구항 1에 있어서,The method according to claim 1, 상기 메탈이송라인에는 히터가 마련되되, 상기 히터는 상기 메탈이송라인을 따라 연속적으로 마련되는 것을 특징으로 하는 박막증착시스템.The metal transfer line is provided with a heater, the heater is thin film deposition system, characterized in that provided continuously along the metal transfer line. 청구항 1 내지 청구항 8 중, 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 1 to 8, 상기 챔버에 마련되어 상기메탈이송라인을 통해 공급되는 상기 메탈입자를 상기 대상체로 전달하는 메탈유로와;A metal flow path provided in the chamber to deliver the metal particles supplied through the metal transfer line to the object; 상기 메탈유로를 통해 상기 대상체로 제공되는 메탈입자가 외부 대기와 격리될 수 있도록 상기 챔버에 마련되고 상기 가스투입라인의 어느 일 분기관을 통해 전달된 불활성가스를 상기 대상체로 전달하는 가스유로와;A gas flow path provided in the chamber so that the metal particles provided to the object through the metal flow path are isolated from the outside atmosphere, and delivering an inert gas delivered through one branch pipe of the gas injection line to the object; 상기 챔버에 마련되어 사용 후 발생한 부산물 및 불활성가스를 배출하는 적어도 하나의 배출유로와;At least one discharge passage provided in the chamber to discharge by-products and inert gases generated after use; 상기 배출유로에 연통하여 상기 배출유로를 통해 배출되는 사용완료된 메탈입자 및 불활성가스를 펌핑하는 배기부를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 박막증착시스템.Thin film deposition system comprising an exhaust portion for communicating the discharge passage to pump the used metal particles and inert gas discharged through the discharge passage. 청구항 9에 있어서, The method according to claim 9, 상기 챔버는 판면방향을 따라 상호 착탈가능한 상부 및 하부챔버 부분으로 구성되고,The chamber is composed of upper and lower chamber portions detachable from each other along the plate direction, 상기 메탈유로는, 상기 복수의 버블러 중 어느 하나 혹은 하나 이상으로부터 상기 상부 및 하부챔버 부분 중 어느 하나를 통해 상기 메탈입자를 상기 믹싱공간부로 안내하는 메탈안내구간을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 박막증착시스템.The metal flow passage, characterized in that it comprises a metal guide section for guiding the metal particles through the one of the upper and lower chamber portion from any one or more than one of the plurality of bubblers to the mixing space portion. Thin film deposition system. 청구항 10에 있어서,The method according to claim 10, 상기 메탈안내구간은 하부챔버 부분에 형성되고, 상기 믹싱공간부 상부의 상부챔버 부분에는 상기 믹싱공간부로 인입된 메탈소스 가스가 역류되는 것을 방지하는 윈도우글라스 오염방지용 배기구간이 형성되며, 상기 하부챔버 부분에는 상기 배기구간으로 가스를 공급하는 가스공급로가 형성되는 것을 특징으로 하는 박막증착시스템.The metal guide section is formed in the lower chamber portion, the upper chamber portion of the upper portion of the mixing space portion is formed with a window glass pollution prevention exhaust section for preventing the metal source gas introduced into the mixing space portion to flow back, the lower chamber Thin film deposition system, characterized in that the gas supply path for supplying gas to the exhaust section is formed. 청구항 10에 있어서, 상기 가스유로는,The method according to claim 10, wherein the gas flow path, 상기 분기관으로부터 상기 상부 및 하부챔버부분 중 어느 하나를 통해 상기 불활성가스를 안내하는 제1가스안내구간과;A first gas guide section for guiding the inert gas through any one of the upper and lower chamber portions from the branch pipe; 상기 상부챔버부분에 형성되어 상기 제1가스안내구간의 단부와 연통하는 제2가스안내구간과;A second gas guide section formed in the upper chamber portion and communicating with an end portion of the first gas guide section; 상기 하부챔버부분에 형성되어 상기 제2가스안내구간과 연통하는 제3가스안내구간을 포함하는 것을 특징으로 하는 박막증착시스템.And a third gas guide section formed in the lower chamber and communicating with the second gas guide section. 청구항 12에 있어서,The method according to claim 12, 상기 제3가스안내구간에는 상기 제1 및 제2가스안내구간으로부터 안내된 가스를 상기 대상체를 향해 에어커튼식으로 분사하기 위한 복수의 가스분사구가 형성 되어 있는 것을 특징으로 하는 박막증착시스템.And a plurality of gas injection ports are formed in the third gas guide section for injecting the gas guided from the first and second gas guide sections toward the object. 청구항 9에 있어서,The method according to claim 9, 상기 배출유로는 상기 메탈유로 및 상기 가스유로 사이에 원주방향을 따라 배치되는 제1배출유로부분과; 상기 가스유로의 반경방향 외측에 원주방향을 따라 배치되는 제2배출유로부분을 포함하는 것을 특징으로 하는 박막증착시스템.A first discharge passage portion disposed in the circumferential direction between the discharge passage and the metal passage; And a second discharge passage portion disposed along the circumferential direction on the radially outer side of the gas passage.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20050045442A (en) * 2003-11-11 2005-05-17 참이앤티 주식회사 System for making thin film

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