KR100738652B1 - Method for fabricating embedded capacitor - Google Patents
Method for fabricating embedded capacitor Download PDFInfo
- Publication number
- KR100738652B1 KR100738652B1 KR1020050081886A KR20050081886A KR100738652B1 KR 100738652 B1 KR100738652 B1 KR 100738652B1 KR 1020050081886 A KR1020050081886 A KR 1020050081886A KR 20050081886 A KR20050081886 A KR 20050081886A KR 100738652 B1 KR100738652 B1 KR 100738652B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- substrate
- polymer
- ceramic composite
- capacitor
- electrode
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
- H01G4/06—Solid dielectrics
- H01G4/08—Inorganic dielectrics
- H01G4/12—Ceramic dielectrics
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G2/00—Details of capacitors not covered by a single one of groups H01G4/00-H01G11/00
- H01G2/02—Mountings
- H01G2/06—Mountings specially adapted for mounting on a printed-circuit support
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/301—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor by means of a mounting structure
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
본 발명은 폴리머/세라믹 복합체를 이용하여 내장형 커패시터를 제조하는 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 폴리머/세라믹 복합재료 필름 또는 페이스트를 커패시터의 유전체 층으로 삼되 제조된 커패시터의 두께 편차가 작고 두께를 정밀하고 균일하게 조절할 수 있는 내장형 커패시터 제조 방법에 관한 것이며, 특히 스페이서를 사용하여 커패시터의 두께 편차를 보다 용이하게 줄이고 커패시터의 두께를 보다 정밀하게 조절할 수 있다. The present invention relates to a method of manufacturing an embedded capacitor using a polymer / ceramic composite. More specifically, the polymer / ceramic composite film or paste is used as the dielectric layer of the capacitor, and the thickness variation of the manufactured capacitor is small and the thickness is precise. The present invention relates to a method of manufacturing a built-in capacitor that can be uniformly controlled, and in particular, a spacer can be used to more easily reduce the thickness variation of the capacitor and to more precisely control the thickness of the capacitor.
내장형 커패시터, 폴리머/세라믹 복합체, 스페이서, 두께 편차 Embedded Capacitors, Polymer / Ceramic Composite, Spacers, Thickness Deviation
Description
도 1a 내지 도 1d는 본 발명의 내장형 커패시터 제조방법의 일 실시예에 의해 커패시터가 제조되는 각 과정을 나타낸 것이다. 1A to 1D illustrate each process of manufacturing a capacitor by one embodiment of a method of manufacturing an embedded capacitor of the present invention.
{도면의 주요부분에 대한 설명}{Description of main parts of the drawing}
101 : 폴리머/세라믹 복합체 102 : 하부전극101: polymer / ceramic composite 102: lower electrode
103 : 하부기판 104 : 상부전극103: lower substrate 104: upper electrode
105 : 상부기판 106 : 스페이서105: upper substrate 106: spacer
본 발명은 폴리머/세라믹 복합체 필름 또는 페이스트를 이용하여 커패시터를 형성하는 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 폴리머/세라믹 복합체 필름 또는 페이스트를 이용하여 낮은 두께 공차를 가지고 정밀한 두께 조절이 가능한 내장형 커패시터를 형성하는 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a method of forming a capacitor using a polymer / ceramic composite film or paste, and more particularly to a built-in capacitor capable of precise thickness control with low thickness tolerance using a polymer / ceramic composite film or paste. It is about how to.
최근 전자제품은 경박단소화되고 전기적 성능이 향상되는 방향으로 개발, 개량되고 있다. 이와 관련해서 수동소자에 대한 관심이 증가하고 있는데, 이는 휴대용 이동통신 기기의 경우에 능동소자에 대한 수동소자의 개수의 비가 20을 넘는 등 전자제품에 사용되는 소자 부품에서 수동소자가 차지하는 비중이 능동소자의 그것에 비해 훨씬 크기 때문이다. Recently, electronic products have been developed and improved in a direction that is light and short and improves electrical performance. In this regard, interest in passive devices is increasing. In the case of portable mobile communication devices, passive devices account for a large portion of device components used in electronic products, such as the ratio of passive devices to active devices exceeds 20. This is because the device is much larger than that.
전자제품에 사용되는 수동조사들은 현재 대부분 개별형 부품의 형태로 기판의 표면에 실장되고 있는데, 이와 같은 수동소자의 형성은 기판의 면적을 많이 차지할 뿐만 아니라 전기적 성능 또한 저하하고 제품의 신뢰성에도 문제를 일으키는 것으로 알려져 왔다. Most of the manual investigations used in electronic products are currently mounted on the surface of the substrate in the form of discrete components. The formation of such passive elements not only occupies a large area of the substrate, but also degrades electrical performance and affects product reliability. It has been known to cause.
이에 따라 기존의 개별형 수동소자들을 기판의 표면으로부터 제거하여 다층구조 기판의 한 층에 형성하여 집적시키는 내장형 수동(internal passive, embedded passive) 소자 기술이 개발되었고, 이로써 수동소자가 차지하던 면적을 줄여서 전자제품의 칩의 밀도를 높일 수 있고, 소자 간의 접속길이가 짧아져 기생 인덕턴스 성분이 줄어들어 전기적 성능 또한 향상되었다. Accordingly, internal passive and embedded passive device technology has been developed, which removes existing passive devices from the surface of a substrate and forms and integrates them on one layer of a multilayer structure substrate, thereby reducing the area occupied by passive devices. Chip density of electronic products can be increased, and the connection length between devices is shortened, so that parasitic inductance component is reduced, and electrical performance is also improved.
상기 수동소자들 가운데 특히 커패시터는 전자제품 내의 수동소자 중에서 40% 이상을 차지하고 디커플링 커패시터, 바이패스 커패시터 등과 같이 중요한 기능으로 사용되고 있어, 내장형 수동 소자 기술로 형성될 필요가 크다. Among the passive devices, in particular, capacitors occupy more than 40% of passive devices in electronic products and are used as important functions such as decoupling capacitors and bypass capacitors, and thus need to be formed with embedded passive device technology.
내장형 수동 소자 기술로 형성된 커패시터인 내장형 커패시터를 형성하는 재 료 중의 하나로 폴리머/세라믹 복합체가 있다. 상기 폴리머/세라믹 복합체는 폴리머의 우수한 가공성과 세라믹의 높은 유전상수의 특징으로 모두 가지는 것으로, 이 재료를 사용하면, 섭씨 200도 이하의 공정온도에서 비용이 적게 들면서도 비교적 우수한 성능의 커패시터를 형성할 수 있다. 특히 에폭시/세라믹 복합체의 경우 현재 다양하게 활용되는 플라스틱 인쇄회로기판(Printed Circuit Board, PCB)과 상호 적합성을 가진다. One of the materials for forming embedded capacitors, which are capacitors formed with embedded passive device technology, is a polymer / ceramic composite. The polymer / ceramic composite is characterized by both the excellent processability of the polymer and the high dielectric constant of the ceramic. Using this material, it is possible to form a capacitor having a relatively good performance at a low cost at a process temperature of less than 200 degrees Celsius. Can be. In particular, epoxy / ceramic composites have mutual compatibility with plastic printed circuit boards (PCBs) currently used in various ways.
상기 폴리머/세라믹 복합재료는 필름 타입 또는 페이스트 타입의 두 가지 형태로 제조되어 사용된다. 필름 타입의 경우 제조된 슬러리를 이형지 필름이나 구리 호일 위에 얇게 코팅하는 방법으로 제조되며, 페이스트 타입은 적절한 점도를 갖는 레진을 제조하여 직접 프린팅 혹은 스핀코팅하는 방법으로 제조된다. The polymer / ceramic composite is manufactured and used in two forms, a film type or a paste type. In case of the film type, the prepared slurry is manufactured by thin coating on a release paper film or a copper foil, and the paste type is prepared by a method of directly printing or spin coating by preparing a resin having an appropriate viscosity.
그런데 상기의 방법에 의해 커패시터를 형성하는 경우, 후막공정에 의한 두께 편차가 발생한다는 문제점이 있다. 특히 페이스트 타입을 사용해 형성하는 경우, 프린팅 공정을 사용하므로 필름 타입을 사용한 경우에 비해 두께 편차가 매우 크게 나타난다. By the way, when the capacitor is formed by the above method, there is a problem that the thickness variation occurs by the thick film process. In particular, in the case of forming using a paste type, the printing process is used, so the thickness variation is very large compared with the case of using the film type.
두께의 편차가 크면 형성된 커패시터마다 용량에 편차가 커지게 된다. 따라서 균등한 성능의 내장형 커패시터를 형성하기 위해서는 상기 커패시터를 형성하는 재료의 두께의 편차 문제를 해결할 필요가 있다. If the thickness variation is large, the capacitance is large for each capacitor formed. Therefore, in order to form a built-in capacitor of equivalent performance, it is necessary to solve the problem of variation in thickness of the material forming the capacitor.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 본 발명의 목적은, 폴리머/세라 믹 복합재료 필름 또는 페이스트를 이용하여 내장형 커패시터를 형성함에 있어서 정밀한 두께 조절이 가능하고 매우 낮은 두께 편차를 가지는 커패시터 제조방법을 제공하는 데 있다. SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention devised to solve the above problems is to provide a capacitor manufacturing method having precise thickness control and very low thickness variation in forming an embedded capacitor using a polymer / ceramic composite film or paste. To provide.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 본 발명의 내장형 커패시터 제조 방법은 하부전극이 부착된 하부기판과 상부전극이 부착된 상부기판을 마련하는 단계; 상기 하부기판의 하부전극이 부착된 면에 내장형 커패시터용 폴리머/세라믹 복합체를 도포하는 단계; 상기 하부기판과 상기 상부기판 사이에 소정의 두께의 스페이서를 개재시키는 단계; 상기 하부기판의 하부전극이 부착된 면과 상기 상부기판의 상부전극이 부착된 면이 상기 도포된 내장형 커패시터용 폴리머/세라믹 복합체를 사이에 두고 서로 마주보도록 하여, 상기 상부기판을 상기 내장형 커패시터용 폴리머/세라믹 복합체에 접착하는 단계; 및 열과 압력을 가해 상기 도포된 내장형 커패시터용 폴리머/세라믹 복합체를 상기 하부기판과 상부기판 사이에 형성되는 소정의 두께로 평탄하게 압착하고 경화시키는 단계를 포함한다. In order to solve the above problems, the embedded capacitor manufacturing method of the present invention comprises the steps of providing a lower substrate attached to the lower electrode and the upper substrate attached to the upper electrode; Applying a polymer / ceramic composite for embedded capacitor to a surface on which the lower electrode of the lower substrate is attached; Interposing a spacer having a predetermined thickness between the lower substrate and the upper substrate; The surface on which the lower electrode of the lower substrate is attached and the surface on which the upper electrode of the upper substrate is attached face each other with the coated polymer / ceramic composite for embedded capacitor disposed therebetween, so that the upper substrate is bonded to the polymer for the embedded capacitor. / Adhering to the ceramic composite; And applying heat and pressure to flatten and cure the applied polymer / ceramic composite for embedded capacitor to a predetermined thickness formed between the lower substrate and the upper substrate.
본 발명에서 상기 스페이서를 개재시키는 단계는 상기 스페이서가 상기 하부기판의 하부전극이 부착된 면 또는 상기 상부기판의 상부전극이 형성된 면 중에서 선택되는 하나에 부착되는 것이 바람직하다. In the present invention, the step of interposing the spacer is preferably attached to one selected from the surface on which the lower electrode of the lower substrate is attached or the surface on which the upper electrode of the upper substrate is formed.
본 발명에서 상기 스페이서의 두께는 20㎛(마이크로미터) 이하인 것이 바람직하다. In the present invention, the thickness of the spacer is preferably 20 μm (micrometer) or less.
본 발명에서 상기 내장형 커패시터용 폴리머/세라믹 복합체를 압착하고 경화시키는 단계는 상기 내장형 커패시터용 폴리머/세라믹 복합체를 상기 스페이서의 두께로 평탄하게 압착하는 것이 바람직하다. In the present invention, the step of pressing and curing the polymer / ceramic composite for embedded capacitors is preferably to flatten the polymer / ceramic composite for embedded capacitors to a thickness of the spacer.
본 발명에서 상기 하부기판과 상부기판을 마련하는 단계는 상기 하부기판이 인쇄회로기판으로 형성되는 것이 바람직하다. In the present invention, in the preparing of the lower substrate and the upper substrate, the lower substrate is preferably formed of a printed circuit board.
본 발명에서 상기 하부기판과 상부기판을 마련하는 단계는 상기 상부전극이 상기 상부기판에 도금 또는 스퍼터링 중에서 선택되는 하나의 방법으로 부착되는 것이 바람직하다. In the present invention, the preparing of the lower substrate and the upper substrate may be performed by attaching the upper electrode to the upper substrate by one method selected from plating or sputtering.
본 발명에서 상기 내장형 커패시터용 폴리머/세라믹 복합체를 도포하는 단계는 상기 내장형 커패시터용 폴리머/세라믹 복합체를 필름 또는 페이스트 중에서 선택되는 하나의 형태로 도포하는 것이 바람직하다. In the present invention, the applying of the embedded capacitor polymer / ceramic composite may be performed by applying the embedded capacitor polymer / ceramic composite in a form selected from a film or a paste.
본 발명에서 상기 내장형 커패시터용 폴리머/세라믹 복합체를 압착하고 경화시키는 단계 이후에 상기 상부기판을 상부전극과 분리하여 들어내는 단계를 더 포함하는 것이 바람직하다. In the present invention, after the pressing and curing the polymer / ceramic composite for embedded capacitors, it is preferable to further include separating the upper substrate from the upper electrode.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 설명하기로 한다. 하기의 각 도면의 구성 요소들에 참조 부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성 요소들에 한해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하며, 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 공지 기능 및 구성에 대한 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. In adding reference numerals to components of the following drawings, it is determined that the same components have the same reference numerals as much as possible even if displayed on different drawings, and it is determined that they may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention. Detailed descriptions of well-known functions and configurations will be omitted.
본 발명은 하부전극(bottom electrode)과 상부전극(top electrode) 사이에 내장형 커패시터용 폴리머/세라믹 복합체 재료를 도포하고, 상기 하부전극이 형성된 하부기판과 상부전극이 형성된 상부기판의 두 기판을 접착함으로써, 상기 상부전극과 하부전극을 두 전극으로 하고 상기 폴리머/세라믹 복합체 재료를 내부 유전체로 삼는 내장형 커패시터를 형성한다. The present invention applies a polymer / ceramic composite material for embedded capacitors between a bottom electrode and a top electrode, and bonds two substrates, a bottom substrate on which the bottom electrode is formed, and an upper substrate on which the top electrode is formed. And an embedded capacitor having the upper electrode and the lower electrode as two electrodes and using the polymer / ceramic composite material as an internal dielectric.
본 발명에서는 전극이 부착된 하부기판과 전극이 부착된 상부기판을 마련하고, 상기 하부기판의 전극이 부착된 면에 내장형 커패시터용 폴리머/세라믹 복합체를 도포하며, 상기 하부기판과 상기 상부기판 사이에 소정의 두께를 규정하기 위한 스페이서를 개재시키고, 상기 하부기판의 전극이 부착된 면과 상기 상부기판의 전극이 부착된 면을 서로 마주보도록 하여 상기 상부기판을 상기 폴리머/세라믹 복합체에 접착하며, 상기 도포된 폴리머/세라믹 복합체를 소정의 두께로 평탄화되도록 열과 압력을 가해 압착하고 경화시키는 과정에 의해, 그리고 필요에 따라 이어서 상기 상부기판만을 그에 부착된 전극과 분리해서 들어내는 과정을 더 거침으로써 내장형 커패시터를 형성한다. According to the present invention, a lower substrate having an electrode attached thereto and an upper substrate having an electrode attached thereto are provided, and a polymer / ceramic composite for embedded capacitor is coated on the surface of the lower substrate to which the electrode is attached, between the lower substrate and the upper substrate. Interposing the upper substrate to the polymer / ceramic composite by interposing a spacer for defining a predetermined thickness and facing the electrode attached surface of the lower substrate and the electrode attached surface of the upper substrate to each other; Integrated capacitor by further compressing and curing the applied polymer / ceramic composite by applying heat and pressure to flatten to a predetermined thickness, and then removing only the upper substrate from the electrode attached thereto as necessary. To form.
도 1a 내지 도 1d는 본 발명의 내장형 커패시터 제조방법의 일 실시예에 의해 커패시터가 제조되는 각 과정의 모습을 나타낸 것이다. Figures 1a to 1d shows the state of each process the capacitor is manufactured by an embodiment of the embedded capacitor manufacturing method of the present invention.
도 1a는 하부전극(102)이 부착되고 이어서 상기 하부전극이 부착된 위에 내장형 커패시터용 폴리머/세라믹 복합체(101)가 도포된 하부기판(103)을 나타낸 것 이다. FIG. 1A illustrates the
상기 하부기판(103)은 커패시터를 형성하고자 하는 인쇄회로기판(Printed Circuit Board: PCB)의 형태로 형성되는 기판인 것이 바람직하다. The
상기 하부전극(102)은 상기 하부기판의 일면에 부착되는데, 상기 하부기판의 하부전극이 부착된 위에는 내장형 커패시터용 폴리머/세라믹 복합체(101)를 도포한다. 상기 실시예에서 폴리머/세라믹 복합체는 내장형 커패시터용 복합재료 필름 또는 페이스트(Embedded Capacitor Films/Pastes: ECF/ECP)의 형태로 도포하며, 가접착 또는 디스펜싱 방법을 통해 도포한다. The
도 1b는 상기 도 1a의 하부기판의 위쪽에 상부전극(104) 및 스페이서(106)가 부착된 상부기판(105)이 위치하는 것을 나타낸 것으로, 상부기판과 하부기판이 ECF/ECP(101)를 사이에 두고 위치한 모습을 나타낸 것이다. FIG. 1B illustrates that the
특히, 상기 도 1b는 상부기판을 상기 내장형 커패시터용 폴리머/세라믹 복합체(ECF/ECP)에 접착하기 전의 모습을 나타낸 것으로, 상기 상부기판에 스페이서(106)가 부착되는 형태로 상부기판과 하부기판 사이에 이미 개재되어 있다. In particular, FIG. 1B shows a state before the upper substrate is adhered to the polymer / ceramic composite (ECF / ECP) for the embedded capacitor, wherein the
상기 실시예에서 상기 상부기판(105)은 상기 하부기판(103)과 ECF/ECP(101)를 사이에 두고 마주보도록 마련되며, 상부기판에서 상부전극이 부착된 면과 하부기판에서 하부전극이 부착된 면이 상기 ECF/ECP를 사이에 두고 서로 마주보도록 마련된다. In the above embodiment, the
상기 상부기판(105)은 유리, 스테인리스 스틸, 또는 실리콘 웨이퍼 등으로 형성되어 편평도가 높은 것이 바람직하며, 상기 상부전극(104)을 상기 상부기판에 구리 등의 금속을 도금 또는 스퍼터링 등의 방법으로 부착하는 것이 바람직하다. The
도 1c는 상부기판(105)을 내장형 커패시터용 폴리머/세라믹 복합체(ECF/ECP, 101)에 접착하고, 이어서 열과 압력을 가해 ECF/ECP(101)를 압착한 상태의 모습을 나타낸 것이다. FIG. 1C shows the state in which the
상기 실시예에서, 상기 ECF/ECP(101)는 상기 상부기판(105)과 하부기판(103) 사이에서 상기 두 기판에 접착되고 열과 압력에 의해 압착, 경화됨으로써, 도 1a 또는 도 1b에서와 같은 무정형의 형태가 아니라, 평평한 상부기판과 하부기판의 두 기판 사이에서 일정한 두께로 평탄하게 형성된다. 특히, 상기 ECF/ECP(101)는 상기 상부기판(105)을 상기 하부기판(103)의 방향으로 누르는 압력을 받아 압착되며, 상기 상부기판과 하부기판 사이에 개재된 스페이서(106)의 두께로 압착된다. In the above embodiment, the ECF /
상기 상부전극 및 하부전극 또한 상기 ECF/ECP와 강한 접착력에 의해 접착되는데, 상기 평탄하게 압착된 ECF/ECP(101)를 유전체 층으로 사이에 두고 그 상하에 상부전극(104)과 하부전극(102)의 두 전극이 위치함으로써 상부기판과 하부기판의 두 기판 사이에 내장형 커패시터가 완성된다. 그리고 이 경우 상기 상부기판과 하부기판은 각각 인쇄회로기판(PCB)에 의해 회로를 내장하는 것이 바람직하다. The upper electrode and the lower electrode are also adhered to the ECF / ECP by a strong adhesive force, and the
도 1d는 도 1c에서 ECF/ECP가 압착되고 경화된 후에 상부기판을 분리하여 들어낸 모습을 나타낸 것이다. FIG. 1D illustrates a state in which the upper substrate is separated and lifted after the ECF / ECP is pressed and cured in FIG. 1C.
필요에 따라서는 상기 도 1c의 상태로 상부기판을 남겨두는 것이 아니라, 상기 도 1d와 같이 상부기판을 제거하여 상부전극과 하부전극의 두 전극 사이에 폴리머/세라믹 복합체를 유전체 층으로 갖는 커패시터가 하부기판 위에 부착된 것으로 내장형 커패시터를 형성할 수도 있다. 이 경우 상기 하부기판은 인쇄회로기판으로 형성되어 내장형 커패시터를 위한 회로를 구비하는 것이 바람직하다. If necessary, instead of leaving the upper substrate in the state of FIG. 1C, the capacitor having the polymer / ceramic composite as the dielectric layer between the two electrodes of the upper electrode and the lower electrode by removing the upper substrate as shown in FIG. An embedded capacitor may be formed by being attached on a substrate. In this case, the lower substrate is preferably formed of a printed circuit board to include a circuit for an embedded capacitor.
도 1c에서 상부전극은 상부기판과 ECF/ECP의 양쪽에 모두 접착되는데, 도 1d에서와 같이 상부기판을 들어내도 기판과는 분리되고 ECF/ECP에 그대로 접착되어 있어 커패시터의 형태를 유지할 필요가 있다. 상부전극이 부착된 상부기판을 마련하는 단계에서, 상기 상부전극이 상부기판에 부착되는 접착력은 추후 상부전극과 경화된 ECF/ECP 사이에 작용하는 접착력보다 작아, 상부기판을 쉽게 분리하여 들어낼 수 있는 것이 바람직하다. In FIG. 1C, the upper electrode is bonded to both the upper substrate and the ECF / ECP. As shown in FIG. 1D, the upper electrode is separated from the substrate and adhered to the ECF / ECP as it is. Therefore, it is necessary to maintain the shape of the capacitor. have. In the preparing of the upper substrate to which the upper electrode is attached, the adhesive force to which the upper electrode is attached to the upper substrate is smaller than the adhesive force acting between the upper electrode and the cured ECF / ECP later, so that the upper substrate can be easily separated and lifted. It is desirable to have.
상기 실시예에서 ECF/ECP(101)는 열과 압력에 의해 압착되고 경화되는데, 내장형 커패시터의 유전체 층을 이루게 될 상기 ECF/ECP의 내부에 기포(pore)가 형성되지 않도록 ECF/ECP의 조성을 조절할 필요가 있다. 상기 도 1a 및 도 1b에서 도포한 폴리머/세라믹 복합체는, 열과 압력을 가해 압착, 경화하기 전에 건조공정을 통해 유기용매를 충분히 건조하는 건조공정을 거친 후에 어느 정도 유동성을 갖는 반경화상태(B-stage)인 것이 바람직하다. 솔벤트를 함유하지 않은 페이스트인 경우 건조공정이 필요없는 속경화 타입의 ECF/ECP를 폴리머/세라믹 복합체로 사용할 수도 있다. In the above embodiment, the ECF /
상기 실시예에서 스페이서(spacer, 106)는 상부기판과 하부기판의 접착으로 열과 압력에 의해 압착되고 평탄화되는 ECF/ECP의 두께를 조절하기 위한 것으로, 상부기판(105)과 하부기판(103)의 사이에서 소정의 두께(높이)를 가지도록 형성된다. In the above embodiment, the
상기 스페이서는 상기 상부기판과 상기 하부기판의 접착시에 ECF/ECP의 외곽에 별도로 개재되거나 상기 상부기판의 상부전극이 부착된 면 또는 하부기판의 하부전극이 부착된 면에 미리 부착될 수 있고, 패턴을 통한 도금에 의하거나 소정의 두께를 갖는 구조물을 기판에 접착(bonding) 또는 기판 사이에 위치시키는 등 다양한 방법에 의해 형성될 수 있다. The spacer may be interposed separately on the outside of the ECF / ECP when the upper substrate and the lower substrate is bonded, or may be attached in advance to the surface attached to the upper electrode of the upper substrate or the lower electrode attached to the lower substrate, It may be formed by plating through a pattern or by various methods such as bonding a structure having a predetermined thickness to a substrate or placing it between the substrates.
어느 경우에나 상기 스페이서는 ECF/ECP의 두께, 즉 커패시터 유전체의 두께를 정밀하게 조절하기 위한 것으로, 그 두께를 조절하는 것이 가능하며, 그 두께는 20㎛(마이크로미터) 이하이며, 특히 10㎛ 내외인 것이 바람직하다. In any case, the spacer is for precisely controlling the thickness of the ECF / ECP, that is, the thickness of the capacitor dielectric, and the thickness can be adjusted, and the thickness thereof is 20 μm (micrometer) or less, especially around 10 μm. Is preferably.
상기 방법에 의해 형성된 내장형 커패시터의 용량은 유전체 층의 두께와 전극의 면적에 의존하므로, 상기 스페이서의 두께를 변화시킴으로써 커패시터의 용량을 조절할 수 있다. Since the capacitance of the embedded capacitor formed by the method depends on the thickness of the dielectric layer and the area of the electrode, the capacitance of the capacitor can be adjusted by changing the thickness of the spacer.
상기와 같이 스페이서를 개재시켜 내장형 커패시터의 두께를 조절함으로써 기존의 일반적인 라미네이션 공정에서 발생하는 두께 편차를 크게 줄일 수 있다. 일반적인 인쇄회로기판의 경우 이종 재료들이 적층된 구조를 가지므로, 기판 자체에 휨이 존재하고 휨의 정도는 기판의 면적이 증가할수록 커진다. 스페이서를 사용 하지 않고 일반적인 라미네이션 공정에 의할 경우 인쇄회로기판의 위치에 따라 압착되는 유전체의 두께 편차가 커지는데, 상기와 같이 스페이서를 사용하는 경우에는 커패시터의 두께를 얇고 균일하게 조절할 수 있고, 두께의 편차도 작게 유지할 수 있다. By adjusting the thickness of the embedded capacitor through the spacer as described above, it is possible to greatly reduce the thickness variation occurring in the conventional general lamination process. Since a general printed circuit board has a structure in which different materials are stacked, warpage exists in the substrate itself, and the degree of warpage increases as the area of the substrate increases. In the case of a general lamination process without using a spacer, the thickness variation of the dielectric to be compressed increases according to the position of the printed circuit board. In the case of using the spacer as described above, the thickness of the capacitor can be controlled thinly and uniformly. The deviation can be kept small.
또한, 본 발명에 의하면 스페이서의 두께와 같은 두께를 가지는 내장형 커패시터를 형성되어 스페이서의 두께에 따라 내장형 커패시터의 두께가 달라지므로, 내장형 커패시터의 두께를 스페이서의 두께를 조절함으로써 용이하고 정밀하게 조절할 수 있다. In addition, according to the present invention, since the embedded capacitor having the same thickness as that of the spacer is formed and the thickness of the embedded capacitor varies according to the thickness of the spacer, the thickness of the embedded capacitor can be easily and precisely adjusted by adjusting the thickness of the spacer. .
상기와 같이, 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술 분야의 숙련된 당업자라면 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. As described above, it has been described with reference to the preferred embodiment of the present invention, but those skilled in the art various modifications and changes of the present invention without departing from the spirit and scope of the present invention described in the claims below I can understand that you can.
상술한 바와 같이 본 발명에 의하면, 일반 라미네이션 공정에 의하는 경우에 비해서 폴리머/세라믹 복합체를 유전체로 삼아 형성하는 내장형 커패시터의 두께 편차가 많이 줄어들고, 보다 균일한 두께의 커패시터를 형성할 수 있다. As described above, according to the present invention, the thickness variation of the built-in capacitor formed by using the polymer / ceramic composite as a dielectric material can be reduced as compared with the case of the general lamination process, and a capacitor having a more uniform thickness can be formed.
또한, 본 발명에 의하면, 스페이서의 두께를 조절함으로써 내장형 커패시터의 두께를 용이하게 조절할 수 있다. In addition, according to the present invention, the thickness of the embedded capacitor can be easily adjusted by adjusting the thickness of the spacer.
Claims (8)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050081886A KR100738652B1 (en) | 2005-09-02 | 2005-09-02 | Method for fabricating embedded capacitor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050081886A KR100738652B1 (en) | 2005-09-02 | 2005-09-02 | Method for fabricating embedded capacitor |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070025578A KR20070025578A (en) | 2007-03-08 |
KR100738652B1 true KR100738652B1 (en) | 2007-07-11 |
Family
ID=38099833
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050081886A KR100738652B1 (en) | 2005-09-02 | 2005-09-02 | Method for fabricating embedded capacitor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100738652B1 (en) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10112420A (en) | 1996-10-07 | 1998-04-28 | Rohm Co Ltd | Method for manufacturing multilayer capacitor |
JP2001185462A (en) | 1999-12-27 | 2001-07-06 | Daido Steel Co Ltd | Manufacturing method of solid activated carbon electrode |
KR20040084724A (en) * | 2003-03-25 | 2004-10-06 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | Method for manufacturing multilayer ceramic electronic component |
KR20060039595A (en) * | 2004-11-03 | 2006-05-09 | 신유선 | Method for forming multi layer ceramic chip and multi layer ceramic capacitor |
-
2005
- 2005-09-02 KR KR1020050081886A patent/KR100738652B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10112420A (en) | 1996-10-07 | 1998-04-28 | Rohm Co Ltd | Method for manufacturing multilayer capacitor |
JP2001185462A (en) | 1999-12-27 | 2001-07-06 | Daido Steel Co Ltd | Manufacturing method of solid activated carbon electrode |
KR20040084724A (en) * | 2003-03-25 | 2004-10-06 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | Method for manufacturing multilayer ceramic electronic component |
KR20060039595A (en) * | 2004-11-03 | 2006-05-09 | 신유선 | Method for forming multi layer ceramic chip and multi layer ceramic capacitor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20070025578A (en) | 2007-03-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9167702B2 (en) | Method of manufacturing wiring substrate having built-in component | |
KR102032171B1 (en) | Electronic component built-in substrate and method of manufacturing the same | |
US20100163168A1 (en) | Method for manufacturing wiring board with built-in component | |
US7301751B2 (en) | Embedded capacitor | |
US20180177045A1 (en) | Embedding Component in Component Carrier by Component Fixation Structure | |
JP2010205772A (en) | Integrated circuit mounted board, printed wiring board and method of manufacturing the integrated circuit mounted board | |
US11553599B2 (en) | Component carrier comprising pillars on a coreless substrate | |
TWI455662B (en) | A method for manufacturing a capacitor-type printed wiring board, and a method for manufacturing the capacitor-type printed wiring board | |
US8161634B2 (en) | Method of fabricating a printed circuit board | |
WO2005039262A1 (en) | Method of producing module with embedded component and module with embedded component | |
JP2004343021A (en) | Method for manufacturing module with built-in component and manufacturing apparatus | |
WO2010067508A1 (en) | Multilayer substrate and method for manufacturing same | |
CN1217576A (en) | Circuit-board flattening method and method for producing semiconductor device | |
KR100738652B1 (en) | Method for fabricating embedded capacitor | |
KR101987314B1 (en) | Device Mounting of Printed Circuit Board | |
TWI220260B (en) | Embedded capacitor structure of semiconductor package substrate and method for fabricating the same | |
JP2005045228A (en) | Circuit board with built-in electronic component and its manufacturing method | |
KR100543239B1 (en) | Method for fabricating capacitor using polymer/ceramic composite paste for embedded capacitor | |
TWI769010B (en) | Heterogeneous substrate structure and manufacturing method thereof | |
JP2013197136A (en) | Component built-in wiring board manufacturing method | |
JP2002368414A (en) | Method and apparatus for manufacturing highly conductive wiring board, and wiring board | |
TW569359B (en) | A method for compressing and fabricating a package substrate | |
JP2005026406A (en) | Wiring board holding capacitor electrode and its producing process | |
JP2003007367A (en) | Resin sheet for mounting face of composite ceramic member, composite ceramic member and its manufacturing method | |
KR200272231Y1 (en) | Printed circuit board for impedance control |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20110701 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120111 Year of fee payment: 7 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |