KR100694443B1 - 광디스크 장치의 스큐 조정 시스템 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 광디스크 장치의 래디얼 스큐 오정렬을 검출한다는 것으로, 이를 위하여 본 발명은, 광디스크 장치의 성능 테스트 시에 신호 처리 오류가 발생할 때 래디얼 스큐 오정렬에 기인한 오류인지 알 수 없고, 래디얼 스큐가 오정렬된 상태에서 오류가 발생하지 않을 경우 성능이 저하된 장치가 출시되는되는 종래 방법과는 달리, 광디스크 장치에 대한 탄젠셜 스큐 및 래디얼 스큐를 조정하고, 스큐가 조정된 광디스크 장치에 대한 래디얼 스큐의 오정렬을 체크한 후에, 래디얼 스큐의 오정렬이 검출되지 않으면 해당 광디스크 장치를 전달받아 성능 테스트를 수행하고, 래디얼 스큐의 오정렬이 검출되면 해당 광디스크 장치에 대한 래디얼 스큐를 재조정함과 동시에 이러한 래디얼 스큐 오정렬의 검출 및 재조정을 표시함으로써, 광디스크 장치에 대한 래디얼 스큐 오정렬을 검출하여 이에 대한 재조정을 수행하여 제품 수율을 향상시킬 수 있는 것이다.
스큐(skew), 탄젠셜 스큐(Tangential skew), 래디얼 스큐(Radial skew)

Description

광디스크 장치의 스큐 조정 시스템{SKEW SETTLEMENT SYSTEM OF OPTICAL-DISC APPARATUS}
도 1은 종래에 따라 광디스크 장치의 스큐 조정 및 성능 테스트를 수행하는 광디스크 장치의 스큐 조정 시스템의 블록 구성도,
도 2는 본 발명에 따라 광디스크 장치의 스큐 조정 및 성능 테스트를 수행하는데 적합한 광디스크 장치의 스큐 조정 시스템의 블록구성도,
도 3은 본 발명에 따라 광디스크 장치의 래디얼 스큐의 오정렬을 검출하는데 이용되는 변수들을 예시한 도면.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
202 : 제어부 204 : 스큐 조정 지그부
206 : 래디얼 스큐 오정렬 검출부 208 : 디스플레이부
210 : 성능 테스트부
본 발명은 광디스크 장치에 대한 래디얼 스큐의 오정렬을 검출하는 시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 광디스크 장치의 래디얼 스큐 오정렬을 검출하여 이 를 재조정하는데 적합한 광디스크 장치의 스큐 조정 시스템에 관한 것이다.
잘 알려진 바와 같이, 광디스크, 예를 들면, CD, DVD 등에서는 기록 또는 재생에 따른 정확도를 확보하기 위해 광픽업의 광축과 광디스크의 경사 오차, 즉 스큐(skew)를 줄이는 것이 중요하게 대두되고 있다.
이러한 스큐로 인해 신호가 외곡되는 지터(jitter)가 발생되어 신호 처리에 오류가 발생하기 때문에 광디스크의 스큐에 대한 정밀한 조정이 필요하게 되는데, 통상적으로 광디스크 트랙방향의 스큐(탄젠셜 스큐 : Tangential skew)와 광디스크 반경 방향의 스큐(래디얼 스큐 : Radial skew)가 있다.
도 1은 종래에 따라 광디스크 장치에 대한 제조 공정 시스템의 블록 구성도로서, 제어부(102), 스큐 조정 지그부(104) 및 성능 테스트 모듈부(106)를 포함한다.
도 1을 참조하면, 제어부(102)는 광디스크 장치 제조 시스템의 전반적인 동작 제어를 수행하는 것으로, 탄젠셜 스큐 또는 래디얼 스큐에 대한 스큐 조정 제어신호를 스큐 조정 지그부(104)로 제공하고, 스큐 조정이 완료된 광디스크 장치의 성능 테스트를 수행하기 위한 제어신호를 성능 테스트 모듈부(106)로 제공하는 등의 기능을 수행한다.
그리고, 스큐 조정 지그부(104)는 제어부(102)로부터 제공되는 제어신호에 따라 투입된 광디스크 장치에 대한 탄젠셜 스큐 또는 래디얼 스큐에 대한 스큐 조정을 수행한다. 여기에서, 탄젠셜 스큐 또는 래디얼 스큐에 대한 조정 방법으로는 광디스크가 안착되는 턴테이블과 슬레드축의 기울기를 조정하는 방법, 광디스크를 재생하여 재생 데이터의 에러율(error rate)을 측정하여 에러가 최소가 되도록 스큐를 조정하는 방법 등이 알려져 있다.
다음에, 성능 테스트 모듈부(106)는 각각의 스큐 조정이 완료된 광디스크 장치에 대한 성능 테스트를 수행하는데, 장착된 광디스크에 임의의 데이터를 기록하거나 혹은 기록된 데이터를 재생하는 등의 과정을 수행한다.
하지만, 종래의 광디스크 장치 제조 시스템에서 조정된 래디얼 스큐가 오정렬된 상태일 때, 성능 테스트를 수행할 경우 신호 처리 등의 오류가 발생하는데, 이러한 오류 발생 원인이 래디얼 스큐 오정렬로 인한 것인지 확인하기 위해 광디스크 장치를 해체한 후, 스큐 조정 지그를 통해 다시 재조정하여야 하는 문제점이 있었고, 성능 테스트를 수행할 때 오류가 발생하지 않은 경우 광디스크 장치의 성능이 저하된 제품이 출시됨으로써, 소비자 크레임(claim)의 요인으로 작용하고 있는 실정이다.
따라서, 본 발명은 상기한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 광디스크 장치의 래디얼 스큐 오정렬을 검출하여 이를 재조정할 수 있는 광디스크 장치의 스큐 조정 시스템을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 광디스크 장치에 대한 스큐를 조정하고, 성능을 테스트하는 시스템으로서, 상기 광디스크 장치에 대한 탄젠셜 스큐 및 래디얼 스큐를 조정하고, 상기 래디얼 스큐의 오정렬이 검출될 때 이를 재조정하는 스큐 조정 지그부와, 상기 스큐 조정 지그부를 통해 스큐가 조정된 광디스크 장치에 대한 상기 래디얼 스큐의 오정렬을 검출하는 래디얼 스큐 오정렬 검출부와, 상기 래디얼 스큐의 오정렬이 검출되지 않으면 상기 래디얼 스큐 오정렬 검출부로부터 해당 광디스크 장치를 전달받아 성능 테스트를 수행하는 성능 테스트 모듈부와, 상기 광디스크 장치에 대한 탄젠셜 스큐 및 래디얼 스큐를 조정하는 제어신호 및 상기 래디얼 스큐의 오정렬이 검출되면 이를 재조정하는 제어신호를 상기 스큐 조정 지그부로 제공하고, 상기 래디얼 스큐의 오정렬을 검출하는 제어신호를 상기 래디얼 스큐 오정렬 검출부로 제공하며, 상기 래디얼 스큐 오정렬이 검출되지 않으면 상기 광디스크 장치의 성능 테스트를 수행하는 제어신호를 상기 성능 테스트 모듈부로 제공하는 제어부를 포함하는 광디스크 장치의 스큐 조정 시스템을 제공한다.
본 발명의 상기 및 기타 목적과 여러 가지 장점은 이 기술분야에 숙련된 사람들에 의해 첨부된 도면을 참조하여 하기에 기술되는 본 발명의 바람직한 실시 예로부터 더욱 명확하게 될 것이다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 상세하게 설명한다.
본 발명의 핵심 기술요지는, 광디스크 장치에 대한 탄젠셜 스큐 및 래디얼 스큐를 조정하고, 스큐가 조정된 광디스크 장치에 대한 래디얼 스큐의 오정렬 검출을 체크하여 래디얼 스큐의 오정렬이 검출되지 않으면 해당 광디스크 장치를 전달받아 성능 테스트를 수행하고, 래디얼 스큐의 오정렬이 검출되면 해당 광디스크 장 치의 래디얼 스큐를 재조정한다는 것으로, 이러한 기술적 수단을 통해 본 발명에서 목적으로 하는 바를 쉽게 달성할 수 있다.
도 2는 본 발명에 따라 광디스크 장치의 스큐 조정 및 성능 테스트를 수행하는데 적합한 광디스크 장치의 스큐 조정 시스템의 블록구성도로서, 제어부(202), 스큐 조정 지그부(204), 래디얼 스큐 오정렬 검출부(206), 디스플레이부(208) 및 성능 테스트 모듈부(210)를 포함한다.
도 2를 참조하면, 제어부(202)는 광디스크 장치 제조 시스템의 전반적인 동작 제어를 수행하는 것으로, 탄젠셜 스큐 또는 래디얼 스큐에 대한 스큐 조정 제어신호를 스큐 조정 지그부(204)로 제공하고, 스큐 조정이 완료된 광디스크 장치의 래디얼 스큐 오정렬을 검출하는 제어신호를 래디얼 스큐 오정렬 검출부(206)로 제공하며, 광디스크 장치의 래디얼 스큐 오정렬이 검출되지 않은 경우 성능 테스트를 수행하기 위한 제어신호를 성능 테스트 모듈부(210)로 제공하는 등의 기능을 수행한다.
또한, 제어부(202)에서는 광디스크 장치의 래디얼 스큐 오정렬이 검출될 경우 이에 따라 해당 광디스크 장치의 래디얼 스큐의 재조정을 수행하기 위한 제어신호를 스큐 조정 지그부(204)로 제공하고, 이와 동시에 래디얼 스큐의 오정렬이 검출됨과 이의 재조정을 표시하기 위한 제어신호를 디스플레이부(208)로 제공하는 등의 기능을 수행한다.
그리고, 스큐 조정 지그부(204)는 제어부(202)로부터 제공되는 제어신호에 따라 투입된 광디스크 장치에 대한 탄젠셜 스큐 또는 래디얼 스큐에 대한 스큐 조 정을 수행하고, 제어부(202)로부터 래디얼 스큐를 재조정하는 제어신호에 따라 해당 광디스크 장치의 래디얼 스큐를 재조정한다. 여기에서, 탄젠셜 스큐 또는 래디얼 스큐에 대한 조정 방법으로는 광디스크가 안착되는 턴테이블과 슬레드축의 기울기를 조정하는 방법, 광디스크를 재생하여 재생 데이터의 에러율(error rate)을 측정하여 에러가 최소가 되도록 스큐를 조정하는 방법 등이 알려져 있다.
한편, 래디얼 스큐 오정렬 검출부(206)는 도 3에 도시한 바와 같이 광디스크에 대한 레이저광원의 반경 위치인 R, 오정렬값 L 및 오정렬각 θ을 이용하여 래디얼 스큐의 오정렬을 검출하는데, 래디얼 스큐가 오정렬된 경우 제어부(202)의 제어신호에 따라 해당 광디스크 장치는 스큐 조정 지그부(204)를 통해 래디얼 스큐가 재조정되고, 래디얼 스큐의 오정렬이 검출되지 않은 경우(즉, 래디얼 스큐가 정확하게 정렬된 경우) 성능 테스트 모듈부(210)를 통해 해당 광디스크 장치의 성능 테스트를 수행한다.
여기에서, 래디얼 스큐의 오정렬을 검출하는 과정을 더욱 상세히 설명하면, 광디스크에 대한 레이저광원의 반경 위치인 R의 변화에 대한 오정렬값 L의 함수 L(r)은 아래의 수학식 1과 같이 나타낼 수 있다.
L(r) = Tanθ×R = A×r+C
여기에서, A는 픽업과의 거리에 대한 기울기를 나타내고, r은 L의 최초값을 의미하며, C는 최초의 L에 대한 상수를 의미한다. 이때, θ는 0°에서 90°사이의 값을 가진다.
그리고, 광디스크 장치에 대한 래디얼 스큐 오정렬을 판단하기 위해 수학식 1을 미분하여 아래의 수학식 2를 도출할 수 있다.
dL/dr = A
따라서, 래디얼 스큐가 정상인 경우 Tanθ가 0의 값을 가지므로, 즉 레이저광원과 광디스크는 수직이므로 수학식 1은 'L(r) = C'의 형태가 되고, 수학식 2의 'dL/dr = 0'이 된다. 또한, 래디얼 스큐가 오정렬된 경우 수학식 1은 'L(r) =A×r+C'의 형태가 되고, 수학식 2의 'dL/dr ≠ 0'이 된다.
한편, 디스플레이부(208)는 제어부(202)로부터의 표시 제어신호에 따라 해당 광디스크 장치에 대한 래디얼 스큐의 오정렬이 검출되면 래디얼 스큐의 오정렬이 검출됨을 표시하고, 이와 함께 래디얼 스큐를 재조정함을 표시한다.
다음에, 성능 테스트 모듈부(210)는 래디얼 스큐 오정렬이 검출되지 않은 경우 광디스크 장치에 대한 성능 테스트를 수행하는데, 장착된 광디스크에 임의의 데이터를 기록하거나 혹은 기록된 데이터를 재생하는 등의 과정을 수행한다.
따라서, 광디스크 장치 제조 시스템에서 광디스크에 대한 레이저광원의 반경 위치인 R, 오정렬값 L 및 오정렬각 θ을 이용하여 래디얼 스큐의 오정렬을 검출하여 래디얼 스큐를 재조정할 수 있다.
이상의 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시 예들을 제시하여 설명하였으나 본 발명이 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여 러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능함을 쉽게 알 수 있을 것이다.
이상 설명한 바와 같이 본 발명은, 광디스크 장치의 성능 테스트 시에 신호 처리 오류가 발생할 때 래디얼 스큐 오정렬에 기인한 오류인지 알 수 없고, 래디얼 스큐가 오정렬된 상태에서 오류가 발생하지 않을 경우 성능이 저하된 장치가 출시되는되는 종래 방법과는 달리, 광디스크 장치에 대한 탄젠셜 스큐 및 래디얼 스큐를 조정하고, 스큐가 조정된 광디스크 장치에 대한 래디얼 스큐의 오정렬을 체크한 후에, 래디얼 스큐의 오정렬이 검출되지 않으면 해당 광디스크 장치를 전달받아 성능 테스트를 수행하고, 래디얼 스큐의 오정렬이 검출되면 해당 광디스크 장치에 대한 래디얼 스큐를 재조정함과 동시에 이러한 래디얼 스큐 오정렬의 검출 및 재조정을 표시함으로써, 광디스크 장치에 대한 래디얼 스큐 오정렬을 검출하여 이에 대한 재조정을 수행하여 제품 수율을 향상시킬 수 있다.
또한, 광디스크 장치에 대한 래디얼 스큐 오정렬의 검출에 따라 이의 검출 및 재조정을 표시함으로써, 광디스크 장치에 대한 래디얼 스큐 오정렬 검출 및 이에 따른 재조정을 쉽게 인식하여 작업 편의성을 증진시킬 수 있다.

Claims (3)

  1. 광디스크 장치에 대한 스큐를 조정하고, 성능을 테스트하는 시스템으로서,
    상기 광디스크 장치에 대한 탄젠셜 스큐 및 래디얼 스큐를 조정하고, 상기 래디얼 스큐의 오정렬이 검출될 때 이를 재조정하는 스큐 조정 지그부와,
    상기 스큐 조정 지그부를 통해 스큐가 조정된 광디스크 장치에 대한 상기 래디얼 스큐의 오정렬을 검출하는 래디얼 스큐 오정렬 검출부와,
    상기 래디얼 스큐의 오정렬이 검출되지 않으면 상기 래디얼 스큐 오정렬 검출부로부터 해당 광디스크 장치를 전달받아 성능 테스트를 수행하는 성능 테스트 모듈부와,
    상기 광디스크 장치에 대한 탄젠셜 스큐 및 래디얼 스큐를 조정하는 제어신호 및 상기 래디얼 스큐의 오정렬이 검출되면 이를 재조정하는 제어신호를 상기 스큐 조정 지그부로 제공하고, 상기 래디얼 스큐의 오정렬을 검출하는 제어신호를 상기 래디얼 스큐 오정렬 검출부로 제공하며, 상기 래디얼 스큐 오정렬이 검출되지 않으면 상기 광디스크 장치의 성능 테스트를 수행하는 제어신호를 상기 성능 테스트 모듈부로 제공하는 제어부
    를 포함하는 광디스크 장치의 스큐 조정 시스템.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 스큐 조정 시스템은,
    상기 래디얼 스큐의 오정렬이 검출되면, 상기 래디얼 스큐의 오정렬이 검출됨과 이의 재조정을 표시하는 디스플레이부
    를 더 포함하는 광디스크 장치의 스큐 조정 시스템.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 래디얼 스큐 오정렬의 검출은, 레이저광원의 반경 위치, 오정렬값 및 오정렬각을 포함하는 함수의 미분값을 이용하여 수행되는 것을 특징으로 하는 광디스크 장치의 스큐 조정 시스템.
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