KR100674921B1 - A sampling block and sampling method for digital data - Google Patents

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Abstract

외부에서 입력되는 디지털 데이터를 샘플링 할 때 데이터 지연시간(data latency)이 상당히 감소되는 디지털 데이터 샘플링 블록 및 샘플링 방법을 개시한다. 상기 디지털 데이터 샘플링 블록은, 데이터 캡쳐 블록(data capture block), 외부클럭 캡쳐 블록 및 멀티플렉서를 구비한다. 상기 데이터 캡쳐 블록은, 상기 제2클럭신호 및 상기 제2클럭신호의 위상을 반전시킨 반전된 제2클럭신호를 이용하여 상기 외부 디지털 데이터를 샘플링 한다. 상기 외부클럭 캡쳐 블록은, 상기 제1클럭신호 및 상기 제2클럭신호의 위상 차에 대한 정보를 이용하여 제어신호를 출력한다. 상기 멀티플렉서는, 상기 제어신호에 따라, 상기 데이터 캡쳐 블록의 출력데이터를 선택하여 출력한다. 상기 디지털 샘플링 방법은, 외부 디지털 데이터 캡쳐 단계, 외부클럭 캡쳐 단계 및 멀티플렉싱 단계를 구비한다. Disclosed are a digital data sampling block and sampling method in which data latency is significantly reduced when sampling externally input digital data. The digital data sampling block includes a data capture block, an external clock capture block, and a multiplexer. The data capture block samples the external digital data by using the inverted second clock signal in which the phase of the second clock signal and the second clock signal are inverted. The external clock capture block outputs a control signal using information on the phase difference between the first clock signal and the second clock signal. The multiplexer selects and outputs output data of the data capture block according to the control signal. The digital sampling method includes an external digital data capture step, an external clock capture step, and a multiplexing step.

디지털 데이터 샘플링, 데이터 캡쳐, 클럭 캡쳐Digital data sampling, data capture, clock capture

Description

디지털 데이터 샘플링 블록 및 샘플링 방법{A sampling block and sampling method for digital data}A sampling block and sampling method for digital data}

본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 간단한 설명이 제공된다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS In order to better understand the drawings cited in the detailed description of the invention, a brief description of each drawing is provided.

도 1은 외부에서 입력되는 디지털 데이터, 이를 샘플링 하는 내부의 클럭신호 및 검출된 데이터의 관계 중에서 샘플링에 문제가 발생하지 않은 경우를 나타낸다. FIG. 1 illustrates a case where a sampling problem does not occur among the relationship between digital data input from the outside, an internal clock signal sampling the same, and detected data.

도 2는 외부에서 입력되는 디지털 데이터, 이를 샘플링 하는 내부의 클럭신호 및 검출된 데이터의 관계 중에서 샘플링에 문제가 발생한 경우를 나타낸다. 2 illustrates a case where a problem occurs in sampling among the relationship between digital data input from the outside, an internal clock signal sampling the same, and detected data.

도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 디지털 데이터 샘플링 블록의 블록 다이어그램이다. 3 is a block diagram of a digital data sampling block according to an embodiment of the present invention.

도 4는, 외부클럭, 입력되는 데이터 및 내부클럭의 관계를 나타낸다. 4 shows a relationship between an external clock, input data, and an internal clock.

도 5는 내부클럭(Internal_CLK)을 소정의 시간 지연시킨 복수 개의 지연클럭의 트리거 에지가 외부클럭(External_CLK)의 제1구간에 존재하는 경우의 클럭펄스 다이어그램이다. FIG. 5 is a clock pulse diagram when a trigger edge of a plurality of delay clocks having a predetermined time delay of an internal clock Internal_CLK exists in a first section of an external clock External_CLK.

도 6은 내부클럭(Internal_CLK)을 소정의 시간 지연시킨 복수 개의 지연클럭의 트리거 에지가 외부클럭(External_CLK)의 제2구간에 존재하는 경우의 클럭펄스 다이어그램이다. FIG. 6 is a clock pulse diagram when a trigger edge of a plurality of delay clocks having a predetermined time delay of an internal clock Internal_CLK exists in a second section of an external clock External_CLK.

본 발명은 디지털 신호처리 시스템에 관한 것으로서, 특히, 입력되는 데이터를 샘플링 하는데 사용하는 클럭신호의 위상을 변화시킬 수 있는 디지털 데이터 샘플링 블록을 구비하는 디지털 신호처리 시스템에 관한 것이다. The present invention relates to a digital signal processing system, and more particularly, to a digital signal processing system having a digital data sampling block capable of changing the phase of a clock signal used to sample input data.

디지털 신호처리 시스템은 외부에서 입력되는 디지털 데이터를 내부의 샘플링 클럭신호를 이용하여 인식하고 이를 저장하거나 그대로 사용한다. The digital signal processing system recognizes digital data input from the outside by using an internal sampling clock signal and stores or uses the same.

디지털 신호처리 시스템은 외부의 다른 기능블록들로부터 상기 디지털 데이터를 송수신하게 되는데, 상기 디지털 신호처리 시스템 및 상기 기능블록들은 동일한 마스터 클럭(Master Clock)을 이용하여 동작할 수 도 있으나, 일반적으로는 마스터 클럭을 필요한 주파수로 분주하여 사용한다. 따라서, 상기 디지털 신호처리 시스템 및 상기 기능블록들이 사용하는 클럭의 주파수는 다른 경우가 많다. 상기 디지털 신호처리 시스템 및 상기 기능블록들이 사용하는 클럭의 주파수가 동일하더라도, 그 위상은 다른 것이 보통이다. The digital signal processing system transmits and receives the digital data from other external function blocks. The digital signal processing system and the function blocks may operate using the same master clock, but generally the master Divide the clock to the required frequency and use it. Therefore, the frequency of the clock used by the digital signal processing system and the functional blocks is often different. Although the frequency of the clock used by the digital signal processing system and the functional blocks is the same, the phases are usually different.

따라서 어느 하나의 기능블록에서 소정의 주파수를 가지는 클럭신호에 대응하여 생성된 디지털 데이터는, 다른 기능블록 또는 상기 디지털 신호처리 시스템에서 사용하는 경우, 동일한 주파수의 클럭신호에 의하여 상기 디지털 데이터를 샘플 링 한다고 하더라도 그 위상차이에 의하여 그릇된 데이터가 샘플링 될 수 있는 단점이 있다. Therefore, the digital data generated corresponding to the clock signal having a predetermined frequency in one functional block is sampled by the clock signal of the same frequency when used in another functional block or the digital signal processing system. Even if there is a disadvantage that the wrong data can be sampled by the phase difference.

이를 방지하기 위하여, 종래에는 FIFO(First Input First Output)의 개념을 이용하여, 상기 디지털 데이터를 소정의 기준을 가지고 변환하여 사용하였다. 이러한 경우, 지연시간(latency)이 길어지게 되는 단점이 있다. In order to prevent this, conventionally, the digital data is converted and used with a predetermined reference by using the concept of FIFO (First Input First Output). In this case, there is a disadvantage that the latency becomes long.

도 1은 외부에서 입력되는 디지털 데이터, 이를 샘플링 하는 내부의 클럭신호 및 검출된 데이터의 관계 중에서 샘플링에 문제가 발생하지 않은 경우를 나타낸다. FIG. 1 illustrates a case where a sampling problem does not occur among the relationship between digital data input from the outside, an internal clock signal sampling the same, and detected data.

도 1을 참조하면, 외부에서 입력되는 데이터(IN) 스트림(stream)은 각각 2FA 및 105이고, 상기 데이터는 내부클럭신호(Internal Clock)의 트리거 에지(trigger edge)에서 샘플링 된다. 따라서 출력되는 데이터(OUT)는 소정의 지연시간이 경과한 후 정확하게 샘플링 된 것을 알 수 있다. Referring to FIG. 1, externally input data (IN) streams are 2FA and 105, respectively, and the data are sampled at a trigger edge of an internal clock signal. Therefore, it can be seen that the output data OUT is accurately sampled after a predetermined delay time has elapsed.

도 2는 외부에서 입력되는 디지털 데이터, 이를 샘플링 하는 내부의 클럭신호 및 검출된 데이터의 관계 중에서 샘플링에 문제가 발생한 경우를 나타낸다. 2 illustrates a case where a problem occurs in sampling among the relationship between digital data input from the outside, an internal clock signal sampling the same, and detected data.

도 2를 참조하면, 내부클럭신호(Internal Clock)의 트리거 에지가 연속된 2개의 데이터사이에 위치하게 되기 때문에, 샘플링에 문제가 발생하는데 출력되는 데이터(OUT)는 예측할 수 가 없다. Referring to FIG. 2, since the trigger edge of the internal clock signal is located between two consecutive data, a problem occurs in sampling, and the output data OUT cannot be predicted.

외부로부터 입력되는 디지털 데이터는 그 위상을 알 수 없기 때문에, 내부에서 이를 정확하기 일치시킨 클럭신호를 이용하여 샘플링 한다는 것은 불가능하다. 따라서, 외부 데이터를 내부회로에서 사용하기 위해서는 소정의 데이터 수정 (modification)을 가해야 한다. 외부 데이터를 수정하기 위해서는, 먼저 들어온 데이터를 먼저 출력하는 방식(FIFO, First Input First Output)을 사용하고, 이 개념을 레지스터(register)에 적용시키는 것이 일반적이다. 그러나 레지스터를 사용하는 방법은, 레지스터를 구현하기 위하여 많은 면적이 소요되고, 상기 레지스터가 소비전력이 적지 않으며 시스템의 지연시간(latency)을 증가시키는 원인이 된다. Since the digital data input from the outside cannot be known in phase, it is impossible to sample using a clock signal that is exactly matched internally. Therefore, in order to use external data in an internal circuit, some data modification must be applied. In order to modify external data, it is common to use a first input first output (FIFO) method and apply this concept to a register. However, the method of using the registers requires a large area to implement the registers, and the registers are not low in power consumption and cause the system to increase the latency.

이를 극복하기 위한 새로운 방법이 대한민국에 특허로서 제안되었다.(출원번호 2002-0052107) 그러나 상기 발명은, 메모리, 쓰기 전용 데이터 카운터, 레지스터 등을 사용하기 때문에 지연시간이 길어지는 단점을 완전하게 극복하지는 못하였다. A new method for overcoming this has been proposed as a patent in Korea. (Application No. 2002-0052107) However, the present invention does not completely overcome the drawback of the long delay time due to the use of a memory, a write-only data counter, a register, and the like. I couldn't.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 외부에서 입력되는 디지털 데이터를 샘플링 할 때 데이터 지연시간(data latency)이 상당히 감소되는 디지털 데이터 샘플링 블록을 제공하는데 있다.An object of the present invention is to provide a digital data sampling block in which data latency is significantly reduced when sampling digital data input from the outside.

본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는, 외부에서 입력되는 디지털 데이터를 샘플링 할 때 데이터 지연시간이 상당히 감소되는 디지털 데이터 샘플링 방법을 제공하는데 있다.
Another object of the present invention is to provide a digital data sampling method in which a data delay time is significantly reduced when sampling externally input digital data.

상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 디지털 데이터 샘플링 블 록은, 제1클럭신호에 따라 로드되는 외부 디지털 데이터를 제2클럭신호를 이용하여 샘플링 한다. The digital data sampling block according to the present invention for achieving the above technical problem, samples the external digital data loaded according to the first clock signal using the second clock signal.

상기 디지털 데이터 샘플링 블록은, 데이터 캡쳐 블록(data capture block), 외부클럭 캡쳐 블록 및 멀티플렉서를 구비한다. The digital data sampling block includes a data capture block, an external clock capture block, and a multiplexer.

상기 데이터 캡쳐 블록은, 상기 제2클럭신호 및 상기 제2클럭신호의 위상을 반전시킨 반전된 제2클럭신호를 이용하여 상기 외부 디지털 데이터를 샘플링 한다. 상기 외부클럭 캡쳐 블록은, 상기 제1클럭신호 및 상기 제2클럭신호의 위상 차에 대한 정보를 이용하여 제어신호를 출력한다. 상기 멀티플렉서는, 상기 제어신호에 따라, 상기 데이터 캡쳐 블록의 출력데이터를 선택하여 출력한다. The data capture block samples the external digital data by using the inverted second clock signal in which the phase of the second clock signal and the second clock signal are inverted. The external clock capture block outputs a control signal using information on the phase difference between the first clock signal and the second clock signal. The multiplexer selects and outputs output data of the data capture block according to the control signal.

상기 다른 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 디지털 데이터 샘플링 방법은, 제1클럭신호에 따라 로드되는 외부 디지털 데이터를 제2클럭신호를 이용하여 샘플링 한다. According to another aspect of the present invention, there is provided a digital data sampling method, wherein external digital data loaded according to a first clock signal is sampled using a second clock signal.

상기 디지털 데이터 샘플링 방법은, 외부 디지털 데이터 캡쳐 단계, 외부클럭 캡쳐 단계 및 멀티플렉싱 단계를 구비한다. The digital data sampling method includes an external digital data capture step, an external clock capture step, and a multiplexing step.

상기 외부 디지털 데이터 캡쳐 단계는, 상기 제2클럭신호 및 상기 제2클럭신호의 위상을 반전시킨 반전된 제2클럭신호를 이용하여 상기 외부 디지털 데이터를 샘플링 한다. 상기 외부클럭 캡쳐 단계는, 상기 제1클럭신호 및 상기 제2클럭신호의 위상 차에 대한 정보를 이용하여 제어신호를 출력한다. 상기 멀티플렉싱 단계는, 상기 제어신호에 따라, 상기 데이터 캡쳐 단계의 출력데이터를 선택하여 출력 한다. In the external digital data capturing step, the external digital data is sampled by using the inverted second clock signal in which the phase of the second clock signal and the second clock signal are inverted. In the external clock capture step, a control signal is output using information on the phase difference between the first clock signal and the second clock signal. The multiplexing step selects and outputs output data of the data capturing step according to the control signal.

본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시 예를 예시하는 첨부 도면 및 도면에 기재된 내용을 참조하여야 한다.DETAILED DESCRIPTION In order to fully understand the present invention, the operational advantages of the present invention, and the objects achieved by the practice of the present invention, reference should be made to the accompanying drawings that illustrate preferred embodiments of the present invention.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Like reference numerals in the drawings denote like elements.

도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 디지털 데이터 샘플링 블록의 블록 다이어그램이다. 3 is a block diagram of a digital data sampling block according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 상기 디지털 데이터 샘플링 블록은, 데이터 캡쳐 블록(310), 외부클럭 캡쳐 블록(320) 및 멀티플렉서(360)를 구비한다. Referring to FIG. 3, the digital data sampling block includes a data capture block 310, an external clock capture block 320, and a multiplexer 360.

데이터 캡쳐 블록(310, data capture block)은, 제2클럭신호(CLK2) 및 제2클럭신호의 위상을 반전시킨 반전된 제2클럭신호(CLK2B)를 이용하여 상기 외부 디지털 데이터를 샘플링 한다. 외부클럭 캡쳐 블록(320)은, 제1클럭신호(CLK1) 및 제2클럭신호(CLK2)의 위상 차에 대한 정보를 이용하여 제어신호(CNTL)를 출력한다. 멀티플렉서(360)는, 제어신호(CNTL)에 따라, 데이터 캡쳐 블록(310)의 출력데이터(DS1 및 DS1B)를 선택하여 출력한다. The data capture block 310 samples the external digital data using the second clock signal CLK2 and the inverted second clock signal CLK2B in which the phases of the second clock signal are inverted. The external clock capture block 320 outputs the control signal CNTL using information on the phase difference between the first clock signal CLK1 and the second clock signal CLK2. The multiplexer 360 selects and outputs output data DS1 and DS1B of the data capture block 310 in accordance with the control signal CNTL.

데이터 캡쳐 블록(310)은, 클럭신호 역전장치(311), 제1샘플링 블록(313) 및 제2샘플링 블록(315)을 구비한다. The data capture block 310 includes a clock signal reversing apparatus 311, a first sampling block 313, and a second sampling block 315.

클럭신호 역전장치(311)는, 제2클럭신호(CLK2)의 위상을 180°역전시킨 상기 반전된 제2클럭신호(CLK2B)를 출력한다. 클럭신호 역전장치(311)는, 입력단자에 제2클럭신호(CLK2)가 인가되고 출력단자로 반전된 제2클럭신호(CLK2B)를 출력하는 인버터인 것이 바람직하다. 제1샘플링 블록(313)은, 제2클럭신호(CLK2)를 이용하여 외부 디지털 데이터(D)를 샘플링 하여 출력(DS1)한다. 제2샘플링 블록(315)은, 반전된 제2클럭신호(CLK2B)를 이용하여 외부 디지털 데이터(D)를 샘플링 하여 출력(DS1B)한다. The clock signal reversing apparatus 311 outputs the inverted second clock signal CLK2B in which the phase of the second clock signal CLK2 is reversed by 180 degrees. The clock signal reversing apparatus 311 is preferably an inverter that is supplied with the second clock signal CLK2 to the input terminal and outputs the second clock signal CLK2B inverted by the output terminal. The first sampling block 313 samples the external digital data D using the second clock signal CLK2 and outputs the output DS1. The second sampling block 315 samples the external digital data D using the inverted second clock signal CLK2B and outputs the result DS1B.

외부클럭 캡쳐 블록(320)은, 지연클럭 생성장치(330), 외부클럭 샘플링 블록(340) 및 비교분석기(350)를 구비한다. The external clock capture block 320 includes a delay clock generator 330, an external clock sampling block 340, and a comparator 350.

지연클럭 생성장치(330)는, 제2클럭신호(CLK2) 및 제2클럭신호를 적어도 2개 이상의 서로 다른 지연시간 만큼 지연시킨 지연된 제2클럭신호들을 생성하며, 이를 위하여 제1지연장치(331), 제2지연장치(333) 및 제N지연장치(335)를 구비한다. The delay clock generator 330 generates delayed second clock signals by delaying the second clock signal CLK2 and the second clock signal by at least two different delay times, and for this purpose, the first delay device 331. ), A second delay unit 333 and an N-th delay unit 335.

제1지연장치(331)는, 제2클럭신호(CLK2)에 대한 지연시간이 제일 작은 제1지연클럭(DLY1)을 출력한다. 제2지연장치(333)는, 제2클럭신호(CLK2)에 대한 지연시간이 제1지연클럭보다 큰 제2지연클럭(DLY2)을 출력한다. 제N지연장치(335)는, 제2클럭신호(DLYN)에 대한 지연시간이 제(N-1)지연클럭보다 큰 제N지연클럭을 출력한다. 여기서 N은 정수이다. The first delay device 331 outputs the first delay clock DLY1 having the smallest delay time with respect to the second clock signal CLK2. The second delay device 333 outputs a second delay clock DLY2 having a delay time with respect to the second clock signal CLK2 greater than the first delay clock. The Nth delay device 335 outputs an Nth delay clock whose delay time for the second clock signal DLYN is greater than the (N-1) th delay clock. Where N is an integer.

외부클럭 샘플링 블록(340)은, 복수 개의 지연클럭들(DLY1, DLY2 및 DLYN)을 이용하여 제1클럭신호(CLK1)를 샘플링하며, 이를 위하여, 제3샘플링 블록(341), 제4샘플링 블록(433) 및 제(N+2)샘플링 블록(345)을 구비한다. The external clock sampling block 340 samples the first clock signal CLK1 using the plurality of delay clocks DLY1, DLY2, and DLYN, and for this purpose, the third sampling block 341 and the fourth sampling block. 433 and a (N + 2) th sampling block 345.

제3샘플링 블록(341)은, 제1클럭신호(CLK1)를 제1지연클럭(DLY1)을 이용하여 샘플링 한다. 제4샘플링 블록(433)은, 제1클럭신호(CLK1)를 제2지연클럭(DLY2)을 이용하여 샘플링 한다. 제(N+2)샘플링 블록(345)은, 제1클럭신호(CLK1)를 제N지연클럭(DLYN)을 이용하여 샘플링 한다. 여기서, 제3샘플링 블록 내지 제(N+2)샘플링 블록은, 입력단자에 제1클럭신호(CLK1)가 인가되고 제1지연클럭(DLY1) 내지 제N지연신호(DLYN)에 응답하여 동작하는 D형 플립플롭인 것이 바람직하다. The third sampling block 341 samples the first clock signal CLK1 using the first delay clock DLY1. The fourth sampling block 433 samples the first clock signal CLK1 using the second delay clock DLY2. The (N + 2) sampling block 345 samples the first clock signal CLK1 using the Nth delay clock DLYN. Herein, the third sampling block to the (N + 2) s sampling block is operated in response to the first clock signal CLK1 to the input terminal and responds to the first delay clocks DLY1 to N-th delay signal DLYN. It is preferably a D flip-flop.

비교분석기(350)는, 외부클럭 샘플링 블록(340)의 출력데이터를 비교분석 하여 제어신호(CNTL)를 출력한다. 제어신호(CNTL)는, 외부클럭 샘플링 블록(340)의 출력데이터의 모든 값이 동일한 경우에는 제1논리 값을 갖고, 모든 값이 동일하지 않은 경우에는 제2논리 값을 갖는다. 여기서, 제1논리 값 및 제2논리 값은 서로 다른 전압준위를 갖는다. The comparison analyzer 350 compares and analyzes output data of the external clock sampling block 340 and outputs a control signal CNTL. The control signal CNTL has a first logic value when all the values of the output data of the external clock sampling block 340 are the same, and a second logic value when all the values are not the same. Here, the first logic value and the second logic value have different voltage levels.

멀티플렉서(360)는, 제어신호(CNTL)가 제1논리 값인 경우에는 제2클럭신호(CLK2)에 대응하여 샘플링 된 데이터(DS1)를 출력하며, 제어신호(CNTL)가 제2논리 값인 경우에는 반전된 제2클럭신호(CLK2B)에 대응하여 샘플링 된 데이터(DS1B)를 출력한다. The multiplexer 360 outputs the data DS1 sampled corresponding to the second clock signal CLK2 when the control signal CNTL is the first logical value, and when the control signal CNTL is the second logical value. The sampled data DS1B is output in response to the inverted second clock signal CLK2B.

이하에서는 도 3에 도시된 본 발명의 일 실시 예에 따른, 디지털 데이터 샘플링 블록의 작동 원리에 대하여 설명한다. Hereinafter, an operation principle of a digital data sampling block according to an embodiment of the present invention shown in FIG. 3 will be described.

도 4는, 외부클럭, 입력되는 데이터 및 내부클럭의 관계를 나타낸다. 4 shows a relationship between an external clock, input data, and an internal clock.

도 4를 참조하면, 외부클럭(External_CLK)의 논리하이 상태 및 논리로우 상태를 2개의 구간(① 및 ②)으로 나누었으며, 외부클럭의 한 주기에 하나의 데이터 (IN)가 이용될(available) 수 있다. 각각의 구간의 시간은, 예를 들면, 제1구간(①)인 경우에는 0.5ns(nano seconds)이고, 제2구간(②)인 경우에는 1.5ns이다. Referring to FIG. 4, the logic high state and the logic low state of the external clock External_CLK are divided into two sections ① and ②, and one data IN is available in one cycle of the external clock. Can be. The time of each section is, for example, 0.5 ns (nano seconds) for the first section ① and 1.5 ns for the second section ②.

본 발명의 기본 사상은, 내부클럭(Internal_CLK)의 트리거 에지(화살표)가 제1구간(①)에 존재한다면, 내부클럭(Internal_CLK)을 그대로 사용하거나 일정한 시간 지연시켜 데이터(IN)를 샘플링하고, 내부클럭(Internal_CLK)의 트리거 에지(화살표)가 제2구간(②)에 존재한다면, 내부클럭(Internal_CLK)을 반전시켜서 데이터(IN)를 샘플링 한다는 것이다. According to the basic idea of the present invention, if the trigger edge (arrow) of the internal clock (Internal_CLK) exists in the first section (1), the internal clock (Internal_CLK) is used as it is or a predetermined time delay is used to sample the data (IN). If the trigger edge (arrow) of the internal clock (Internal_CLK) is present in the second section (2), the internal clock (Internal_CLK) is inverted to sample the data (IN).

먼저 제1구간(①) 및 제2구간(②)을 구분하기 위하여 내부클럭(Internal_CLK)을 사용한다. First, an internal clock (Internal_CLK) is used to distinguish the first section (①) and the second section (②).

도 5는 내부클럭(Internal_CLK)을 소정의 시간 지연시킨 복수 개의 지연클럭의 트리거 에지가 외부클럭(External_CLK)의 제1구간에 존재하는 경우의 클럭펄스 다이어그램이다. FIG. 5 is a clock pulse diagram when a trigger edge of a plurality of delay clocks having a predetermined time delay of an internal clock Internal_CLK exists in a first section of an external clock External_CLK.

도 5를 참조하면, 외부클럭(External_CLK)의 논리 하이 구간 안에, 내부클럭(Internal_CLK)을 소정의 시간 지연시킨 3개의 지연클럭(Internal_CLK0 내지 Internal_CLK2)이 있고, 3개의 지연클럭의 라이징 에지(화살표)가 모두 외부클럭(External_CLK)의 논리하이 구간 내에 있으므로, 제어신호(CNTL)가 논리로우 "0"의 가진다는 것을 알 수 있다. 제1지연클럭(Internal_CLK0) 및 제3지연클럭(Internal_CLK2)은 1.5ns의 위상 차가 있다. Referring to FIG. 5, there are three delay clocks (Internal_CLK0 to Internal_CLK2) in which the internal clock (Internal_CLK) is delayed a predetermined time in the logic high period of the external clock (External_CLK), and the rising edges (arrows) of the three delay clocks. Are all within the logic high section of the external clock External_CLK, it can be seen that the control signal CNTL has a logic low of " 0 ". The first delay clock Internal_CLK0 and the third delay clock Internal_CLK2 have a phase difference of 1.5 ns.

3개의 지연클럭(Internal_CLK0 내지 Internal_CLK2)의 라이징 에지(화살표)가 모두 외부클럭(External_CLK)의 논리하이 구간 내에 있다는 것은, 3개의 지연클 럭의 라이징 에지에서 외부클럭(External_CLK)의 값을 샘플링하면 모두 동일한 값을 가진다는 것이다. 제어신호(CNTL)의 값은 논리로우 "0" 또는 논리하이 "1" 중에서 마음대로 정하여 사용할 수 있다. The fact that the rising edges (arrows) of the three delay clocks (Internal_CLK0 to Internal_CLK2) are all within the logic high interval of the external clock (External_CLK) means that when the values of the external clock (External_CLK) are sampled at the rising edges of the three delay clocks, It has the same value. The value of the control signal CNTL may be arbitrarily selected from among logic low "0" and logic high "1".

도 6은 내부클럭(Internal_CLK)을 소정의 시간 지연시킨 복수 개의 지연클럭의 트리거 에지가 외부클럭(External_CLK)의 제2구간에 존재하는 경우의 클럭펄스 다이어그램이다. FIG. 6 is a clock pulse diagram when a trigger edge of a plurality of delay clocks having a predetermined time delay of an internal clock Internal_CLK exists in a second section of an external clock External_CLK.

도 6을 참조하면, 복수 개의 지연클럭들의 트리거 에지(라이징 에지) 중에서 어느 하나의 라이징 에지라도 제2구간에 있는 경우에는, 제2클럭신호(CLK2)를 반전시켜 데이터(IN)를 샘플링 한다는 것을 알 수 있다. Referring to FIG. 6, in the case where any one of the trigger edges (rising edges) of the plurality of delay clocks is in the second section, the second clock signal CLK2 is inverted to sample the data IN. Able to know.

이상에서와 같이 도면과 명세서에서 최적 실시 예가 개시되었다. 여기서 특정한 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.As described above, the optimum embodiment has been disclosed in the drawings and the specification. Although specific terms have been used herein, they are used only for the purpose of describing the present invention and are not intended to limit the scope of the invention as defined in the claims or the claims. Therefore, those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible. Therefore, the true technical protection scope of the present invention will be defined by the technical spirit of the appended claims.

상술한 바와 같이 본 발명에 따른 디지털 데이터 샘플링 블록 및 샘플링 방법은, 외부에서 입력되는 데이터를 내부회로에서 사용하되 지연시간이 최소한으로 줄고, 레지스터를 사용하지 않기 때문에 시스템의 소비전력도 감소시킬 수 있는 장점이 있다. As described above, the digital data sampling block and the sampling method according to the present invention can reduce the power consumption of the system because the external data is used in the internal circuit but the delay time is minimized and the register is not used. There is an advantage.

Claims (17)

제1클럭신호에 따라 로드되는 외부 디지털 데이터를 제2클럭신호를 이용하여 샘플링 하는 디지털 데이터 샘플링 블록은, The digital data sampling block for sampling external digital data loaded according to the first clock signal using the second clock signal may include: 상기 제2클럭신호 및 상기 제2클럭신호의 위상을 반전시킨 반전된 제2클럭신호를 이용하여 상기 외부 디지털 데이터를 샘플링하여 출력하는 데이터 캡쳐 블록(data capture block); A data capture block configured to sample and output the external digital data by using the second clock signal and an inverted second clock signal inverted in phase of the second clock signal; 상기 제1클럭신호 및 상기 제2클럭신호의 위상 차에 대한 정보를 이용하여 제어신호를 출력하는 외부클럭 캡쳐 블록; An external clock capture block configured to output a control signal using information on a phase difference between the first clock signal and the second clock signal; 상기 제어신호에 따라, 상기 데이터 캡쳐 블록의 출력데이터를 선택하여 출력하는 멀티플렉서를 구비하는 것을 특징으로 하는 디지털 데이터 샘플링 블록. And a multiplexer for selecting and outputting output data of the data capture block according to the control signal. 제1항에 있어서, 상기 데이터 캡쳐 블록은, The method of claim 1, wherein the data capture block, 상기 제2클럭신호의 위상을 180°역전시킨 상기 반전된 제2클럭신호를 출력하는 클럭신호 역전장치; A clock signal inversion device for outputting the inverted second clock signal in which the phase of the second clock signal is inverted by 180 degrees; 상기 제2클럭신호를 이용하여 상기 외부 디지털 데이터를 샘플링 하는 제1샘플링 블록; 및 A first sampling block for sampling the external digital data using the second clock signal; And 상기 반전된 제2클럭신호를 이용하여 상기 외부 디지털 데이터를 샘플링 하 는 제2샘플링 블록을 구비하는 것을 특징으로 하는 디지털 데이터 샘플링 블록. And a second sampling block for sampling the external digital data using the inverted second clock signal. 제2항에 있어서, 상기 클럭신호 역전장치는,  The clock signal reversing apparatus of claim 2, 입력단자에 상기 제2클럭신호가 인가되고 출력단자로 상기 반전된 제2클럭신호를 출력하는 인버터인 것을 특징으로 하는 디지털 데이터 샘플링 블록. And an inverter for applying the second clock signal to an input terminal and outputting the inverted second clock signal to an output terminal. 제2항에 있어서, 상기 제1샘플링 블록은,  The method of claim 2, wherein the first sampling block, 입력단자에 상기 외부 디지털 데이터가 입력되고 상기 제2클럭신호에 응답하여 동작하는 D형 플립플롭(D type Flip Flop)을 구비하며, A D type flip-flop is input to the external terminal and operates in response to the second clock signal; 상기 제2샘플링 블록은, The second sampling block, 입력단자에 상기 외부 디지털 데이터가 입력되고 상기 반전된 제2클럭신호에 응답하여 동작하는 D형 플립플롭을 구비하는 것을 특징으로 하는 디지털 데이터 샘플링 블록. And a D-type flip-flop input to the external terminal and operating in response to the inverted second clock signal. 제1항에 있어서, 상기 외부클럭 캡쳐 블록은, The method of claim 1, wherein the external clock capture block, 상기 제2클럭신호 및 상기 제2클럭신호를 적어도 2개 이상의 서로 다른 지연시간 만큼 지연시킨 지연된 제2클럭신호들을 생성하는 지연클럭 생성장치; A delay clock generation device generating delayed second clock signals delaying the second clock signal and the second clock signal by at least two different delay times; 상기 적어도 2개 이상의 지연된 제2클럭신호들을 이용하여 상기 제1클럭신호를 샘플링 하는 외부클럭 샘플링 블록; An external clock sampling block configured to sample the first clock signal using the at least two delayed second clock signals; 상기 외부클럭 샘플링 블록의 출력데이터를 비교분석 하여 상기 제어신호를 출력하는 비교분석기를 구비하는 것을 특징으로 하는 디지털 데이터 샘플링 블록. And a comparator for comparing the output data of the external clock sampling block and outputting the control signal. 제5항에 있어서, 상기 지연클럭 생성장치는,The apparatus of claim 5, wherein the delay clock generator is 상기 제2클럭신호에 대한 지연시간이 제일 작은 제1지연클럭을 출력하는 제1지연장치; A first delay device outputting a first delay clock having the smallest delay time with respect to the second clock signal; 상기 제2클럭신호에 대한 지연시간이 상기 제1지연클럭보다 큰 제2지연클럭을 출력하는 제2지연장치; 및 A second delay device outputting a second delay clock having a delay time with respect to the second clock signal greater than the first delay clock; And 상기 제2클럭신호에 대한 지연시간이 제(N-1)지연클럭보다 큰 제N지연클럭을 출력하는 제N지연장치를 구비하며, 여기서 N은 정수인 것을 특징으로 하는 디지털 데이터 샘플링 블록. And an Nth delay device for outputting an Nth delay clock having a delay time for the second clock signal greater than the (N-1) th delay clock, wherein N is an integer. 제6항에 있어서, 상기 외부클럭 샘플링 블록은, The method of claim 6, wherein the external clock sampling block, 상기 제1클럭신호를 상기 제1지연클럭을 이용하여 샘플링 하는 제3샘플링 블록; A third sampling block for sampling the first clock signal using the first delay clock; 상기 제1클럭신호를 상기 제2지연클럭을 이용하여 샘플링 하는 제4샘플링 블록; 및 A fourth sampling block for sampling the first clock signal using the second delay clock; And 상기 제1클럭신호를 상기 제N지연클럭을 이용하여 샘플링 하는 제(N+2)샘플링 블록을 구비하는 것을 특징으로 하는 디지털 데이터 샘플링 블록. And a (N + 2) sampling block for sampling the first clock signal using the Nth delay clock. 제7항에 있어서, 상기 제3샘플링 블록은, The method of claim 7, wherein the third sampling block, 입력단자에 상기 제1클럭신호가 인가되고 상기 제1지연클럭에 응답하여 동작하는 D형 플립플롭이고, The first clock signal is applied to an input terminal and is a D flip-flop that operates in response to the first delay clock, 상기 제4샘플링 블록은, The fourth sampling block, 입력단자에 상기 제1클럭신호가 인가되고 상기 제2지연클럭에 응답하여 동작하는 D형 플립플롭이며, The first clock signal is applied to an input terminal and is a D-type flip-flop that operates in response to the second delay clock, 상기 제(N+2)샘플링 블록은, The (N + 2) sampling block is, 입력단자에 상기 제1클럭신호가 인가되고 상기 제N지연클럭에 응답하여 동작하는 D형 플립플롭인 것을 특징으로 하는 디지털 데이터 샘플링 블록. And a D-type flip-flop applied with the first clock signal to an input terminal and operating in response to the Nth delay clock. 제6항에 있어서, 상기 비교분석기는, The method of claim 6, wherein the comparative analyzer, 상기 외부클럭 샘플링 블록의 출력데이터의 모든 값이 동일한 경우에는 제1논리 값을 제어신호로 출력하고, 모든 값이 동일하지 않은 경우에는 제2논리 값을 제어신호로 출력하는 것을 특징으로 하는 디지털 데이터 샘플링 블록. And if all values of the output data of the external clock sampling block are the same, output the first logic value as a control signal, and if all values are not the same, output the second logic value as a control signal. Sampling block. 제9항에 있어서, 상기 멀티플렉서는, The method of claim 9, wherein the multiplexer, 상기 제1논리 값에 대응하여 상기 제2클럭신호에 대응하여 샘플링 된 데이터를 출력하고, 상기 제2논리 값에 대응하여 상기 반전된 제2클럭신호에 대응하여 샘플링 된 데이터를 출력하는 것을 특징으로 하는 디지털 데이터 샘플링 블록. Output sampled data corresponding to the second clock signal in response to the first logic value, and output sampled data corresponding to the inverted second clock signal in response to the second logic value. Digital data sampling block. 제1클럭신호에 따라 로드되는 외부 디지털 데이터를 제2클럭신호를 이용하여 샘플링 하는 디지털 데이터 샘플링 방법은, A digital data sampling method for sampling external digital data loaded according to a first clock signal using a second clock signal may include: 상기 제2클럭신호 및 상기 제2클럭신호의 위상을 반전시킨 반전된 제2클럭신호를 이용하여 상기 외부 디지털 데이터를 샘플링하여 출력하는 외부 디지털 데이터 캡쳐 단계; An external digital data capture step of sampling and outputting the external digital data by using the second clock signal and an inverted second clock signal inverted in phase of the second clock signal; 상기 제1클럭신호 및 상기 제2클럭신호의 위상 차에 대한 정보를 이용하여 제어신호를 출력하는 외부클럭 캡쳐 단계; 및 An external clock capture step of outputting a control signal using information on the phase difference between the first clock signal and the second clock signal; And 상기 제어신호에 따라, 상기 데이터 캡쳐 단계의 출력데이터를 선택하여 출력하는 멀티플렉싱 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 디지털 데이터 샘플링 방법. And a multiplexing step of selecting and outputting the output data of the data capturing step according to the control signal. 제11항에 있어서, 상기 데이터 캡쳐 단계는, The method of claim 11, wherein the data capture step, 상기 제2클럭신호의 위상을 180°역전시킨 상기 반전된 제2클럭신호를 출력하는 클럭신호 역전단계; A clock signal inversion step of outputting the inverted second clock signal in which the phase of the second clock signal is inverted by 180 degrees; 상기 제2클럭신호를 이용하여 상기 외부 디지털 데이터를 샘플링 하는 제1샘플링 단계; 및 A first sampling step of sampling the external digital data using the second clock signal; And 상기 반전된 제2클럭신호를 이용하여 상기 외부 디지털 데이터를 샘플링 하는 제2샘플링 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 디지털 데이터 샘플링 방법. And a second sampling step of sampling the external digital data by using the inverted second clock signal. 제11항에 있어서, 상기 외부클럭 캡쳐 단계는, The method of claim 11, wherein the external clock capture step, 상기 제2클럭신호 및 상기 제2클럭신호를 적어도 2개 이상의 서로 다른 지연 시간 만큼 지연시킨 지연된 제2클럭신호들을 생성하는 지연클럭 생성단계; A delay clock generation step of generating delayed second clock signals delaying the second clock signal and the second clock signal by at least two different delay times; 상기 적어도 2개 이상의 지연된 제2클럭신호들을 이용하여 상기 제1클럭신호를 샘플링 하는 외부클럭 샘플링 단계; 및 An external clock sampling step of sampling the first clock signal using the at least two delayed second clock signals; And 상기 외부클럭 샘플링 블록의 출력데이터를 비교분석 하여 상기 제어신호를 출력하는 비교분석단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 디지털 데이터 샘플링 방법. And comparing and analyzing output data of the external clock sampling block to output the control signal. 제13항에 있어서, 상기 지연클럭 생성단계는,The method of claim 13, wherein the delay clock generating step, 상기 제2클럭신호에 대한 지연시간이 제일 작은 제1지연클럭을 출력하는 제1지연단계; A first delay step of outputting a first delay clock having the smallest delay time with respect to the second clock signal; 상기 제2클럭신호에 대한 지연시간이 상기 제1지연클럭보다 큰 제2지연클럭을 출력하는 제2지연단계; 및 A second delay step of outputting a second delay clock having a delay time with respect to the second clock signal greater than the first delay clock; And 상기 제2클럭신호에 대한 지연시간이 제(N-1)지연클럭보다 큰 제N지연클럭을 출력하는 제N지연단계를 구비하며, 여기서 N은 정수인 것을 특징으로 하는 디지털 데이터 샘플링 방법. And an Nth delay step of outputting an Nth delay clock having a delay time for the second clock signal greater than the (N-1) th delay clock, wherein N is an integer. 제14항에 있어서, 상기 외부클럭 샘플링 단계는, The method of claim 14, wherein the external clock sampling step, 상기 제1클럭신호를 상기 제1지연클럭을 이용하여 샘플링 하는 제3샘플링 단계; A third sampling step of sampling the first clock signal using the first delay clock; 상기 제1클럭신호를 상기 제2지연클럭을 이용하여 샘플링 하는 제4샘플링 단 계; 및 A fourth sampling step of sampling the first clock signal using the second delay clock; And 상기 제1클럭신호를 상기 제N지연클럭을 이용하여 샘플링 하는 제(N+2)샘플링 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 디지털 데이터 샘플링 방법. And a (N + 2) sampling step of sampling the first clock signal using the Nth delay clock. 제13항에 있어서, 상기 비교분석단계는, The method of claim 13, wherein the comparative analysis step, 상기 외부클럭 샘플링 블록의 출력데이터의 모든 값이 동일한 경우에는 제1논리 값을 제어신호로 출력하고, 모든 값이 동일하지 않은 경우에는 제2논리 값을 제어신호로 출력하는 것을 특징으로 하는 디지털 데이터 샘플링 방법. And if all values of the output data of the external clock sampling block are the same, output the first logic value as a control signal, and if all values are not the same, output the second logic value as a control signal. Sampling Method. 제13항에 있어서, 상기 멀티플렉싱 단계는, The method of claim 13, wherein the multiplexing step, 상기 제1논리 값에 대응하여 상기 제2클럭신호에 대응하여 샘플링 된 데이터를 출력하고, 상기 제2논리 값에 대응하여 상기 반전된 제2클럭신호에 대응하여 샘플링 된 데이터를 출력하는 것을 특징으로 하는 디지털 데이터 샘플링 방법. Output sampled data corresponding to the second clock signal in response to the first logic value, and output sampled data corresponding to the inverted second clock signal in response to the second logic value. Digital data sampling method.
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101217937B1 (en) * 2010-12-30 2013-01-02 (주)인디링스 Adaptive digital phy for high speed external memory interface
KR102258298B1 (en) * 2019-08-02 2021-06-01 고려대학교 산학협력단 Error corrector of receiver correcting error of recovery data using data transition scheme
CN116578166B (en) * 2023-07-12 2023-09-22 国仪量子(合肥)技术有限公司 Synchronous trigger data acquisition method, storage medium and acquisition equipment

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07170500A (en) * 1993-12-15 1995-07-04 Sony Corp Data sampling method
JPH0984039A (en) * 1995-09-11 1997-03-28 Sharp Corp Sampling clock generator
JPH09270781A (en) * 1996-04-03 1997-10-14 Nec Corp Digital signal synchronizing circuit
JP2002198941A (en) * 2000-10-19 2002-07-12 Seiko Epson Corp Sampling clock generating circuit, data transfer control device and electronic device
KR20030008415A (en) * 2001-07-18 2003-01-29 삼성전자 주식회사 internal clock generating method for use in semiconductor memory device and circuit therefore

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07170500A (en) * 1993-12-15 1995-07-04 Sony Corp Data sampling method
JPH0984039A (en) * 1995-09-11 1997-03-28 Sharp Corp Sampling clock generator
JPH09270781A (en) * 1996-04-03 1997-10-14 Nec Corp Digital signal synchronizing circuit
JP2002198941A (en) * 2000-10-19 2002-07-12 Seiko Epson Corp Sampling clock generating circuit, data transfer control device and electronic device
KR20030008415A (en) * 2001-07-18 2003-01-29 삼성전자 주식회사 internal clock generating method for use in semiconductor memory device and circuit therefore

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