KR100639712B1 - Furnace apparatus and heat treatment method using the apparatus - Google Patents

Furnace apparatus and heat treatment method using the apparatus Download PDF

Info

Publication number
KR100639712B1
KR100639712B1 KR1020040041388A KR20040041388A KR100639712B1 KR 100639712 B1 KR100639712 B1 KR 100639712B1 KR 1020040041388 A KR1020040041388 A KR 1020040041388A KR 20040041388 A KR20040041388 A KR 20040041388A KR 100639712 B1 KR100639712 B1 KR 100639712B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
cooling
block
insulating block
gas
cooling gas
Prior art date
Application number
KR1020040041388A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20050116247A (en
Inventor
조정희
Original Assignee
(주)비에이치티
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주)비에이치티 filed Critical (주)비에이치티
Priority to KR1020040041388A priority Critical patent/KR100639712B1/en
Publication of KR20050116247A publication Critical patent/KR20050116247A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100639712B1 publication Critical patent/KR100639712B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/20Deposition of semiconductor materials on a substrate, e.g. epitaxial growth solid phase epitaxy
    • H01L21/205Deposition of semiconductor materials on a substrate, e.g. epitaxial growth solid phase epitaxy using reduction or decomposition of a gaseous compound yielding a solid condensate, i.e. chemical deposition

Abstract

본 발명은 확산, 기상 박막 형성공정(CVD공정)에서 높은 온도의 히터를 신속하게 냉각시킬 수 있도록 한 반도체 제조를 위한 퍼니스 장치 및 그것의 열처리 방법에 관한 것으로, 반도체 제조를 위한 퍼니스 장치는 단열블럭 안쪽에 설치되는 열선과 냉각용 기체가 단열블럭 내부로 공급되는 공급부와, 단열블럭 내부의 고온의 기체가 밖으로 배출되는 배출부를 갖는 공냉수단을 포함한다. 여기서 공급부는 냉각용 기체가 유입되는 유입포트를 갖는 그리고 단열블럭의 하부 측면을 둘러싸도록 설치되는 환형 덕트, 단열블럭 내부에 수직하게 설치되는 그리고 냉각용 기체를 상기 공정튜브로 직접 분사하기 위한 다수의 분사포트들을 갖는 공급관들 및 환형덕트로 유입된 냉각용 기체가 단열블럭 내부로 균일하게 공급될 수 있도록 단열블럭의 하부에 관통되어 형성되는 다수의 분사홀들을 포함한다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a furnace apparatus for semiconductor manufacture and a heat treatment method thereof for rapidly cooling a high temperature heater in a diffusion and vapor phase thin film forming process (CVD process). It includes an air cooling means having a heat wire installed in the inside and a supply for supplying the gas for cooling into the heat insulating block, and a discharge portion for discharging the high-temperature gas inside the heat insulating block. Wherein the supply part has an inlet port into which the cooling gas is introduced and is provided to surround the lower side of the insulating block, a plurality of annular ducts installed vertically inside the insulating block, for direct injection of the cooling gas into the process tube. Supply pipes having injection ports and a plurality of injection holes formed through the lower portion of the insulating block so that the cooling gas introduced into the annular duct can be uniformly supplied into the insulating block.

Description

퍼니스 장치 및 그 장치를 사용한 열처리 방법{FURNACE APPARATUS AND HEAT TREATMENT METHOD USING THE APPARATUS} Furnace apparatus and heat treatment method using the apparatus {FURNACE APPARATUS AND HEAT TREATMENT METHOD USING THE APPARATUS}

도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 퍼니스 장치를 개략적으로 보여주는 도면;1 shows schematically a furnace apparatus according to a preferred embodiment of the invention;

도 2는 도 1에 도시된 퍼니스 장치에서 공정튜브를 냉각하기 위한 공기 흐름을 도시한 도면;2 shows the air flow for cooling the process tube in the furnace apparatus shown in FIG. 1;

도 3은 공급부가 설치된 단열블럭의 하부블럭을 보여주는 도면;3 is a view showing a lower block of the insulating block in which the supply unit is installed;

도 4는 도 3에 도시된 Y-Y선 단면도이다. 4 is a cross-sectional view taken along the line Y-Y shown in FIG.

도 5는 배출부가 설치된 단열블럭의 상부블럭을 보여주는 도면;5 is a view showing an upper block of the insulation block in which the discharge unit is installed;

도 6은 냉각부를 설명하기 위한 도면이다. 6 is a view for explaining the cooling unit.

< 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Major Parts of Drawings>

110 : 공정튜브110: process tube

120 : 히터 어셈블리120: heater assembly

122 : 단열블럭122: insulation block

124 : 열선124: hot wire

130 : 공냉수단 130: air cooling means

본 발명은 반도체 제조 설비에 관한 것으로, 보다 상세하게는 확산, 기상 박막 형성공정(CVD공정)에서 높은 온도의 히터를 신속하게 냉각시킬 수 있도록 한 반도체 제조를 위한 퍼니스 장치 및 그것의 열처리 방법에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor manufacturing facility, and more particularly, to a furnace apparatus for semiconductor manufacturing and a heat treatment method thereof for rapidly cooling a high temperature heater in a diffusion and vapor phase thin film forming process (CVD process). will be.

잘 알려져 있는 바와 같이, 반도체 소자는 기판상에 사진, 식각, 확산, 화학기상증착, 이온주입 등의 공정을 선택적으로 반복 수행하여 만들어진다. As is well known, semiconductor devices are made by selectively repeating a process such as photographing, etching, diffusion, chemical vapor deposition, ion implantation, and the like on a substrate.

상술한 공정 중 빈번히 수행되는 공정의 하나인 확산공정은 고온 분위기하에서 기판 내에 원하는 도전형의 불순물을 확산시키는 공정을 수행한다. 그리고 확산공정이 이루어지는 확산로는 대략 800-1200도 이상에서 기판 표면에 상에 증착(Deposition) 또는 산화(Oxide)막을 형성하는 공정등을 수행하기 위하여 이용되고 있다. The diffusion process, which is one of the above-mentioned processes, is performed to diffuse impurities of a desired conductivity type into a substrate in a high temperature atmosphere. In addition, a diffusion path in which a diffusion process is performed is used to perform a process of forming a deposition or an oxide film on a surface of a substrate at about 800-1200 degrees or more.

기존의 확산로 장비는 확산로의 온도를 공정처리를 위한 조건상태(대략 800-1200도)로 가열하는데 걸리는 시간은 매우 짧은 반면에, 확산로의 온도를 스텐바이상태(대기상태)로 냉각하는데 걸리는 시간은 매우 길다.(평균 냉각온도속도 2~3??/min), 물론, 히터의 외곽에는 냉각수 순환 라인이 설치되어 있으나, 냉각수 순환 라인은 단열재 외곽에 설치되어 있기 때문에 높은 냉각 효과를 기대하기 어렵다. Conventional diffusion furnace equipment has a very short time for heating the temperature of the diffusion furnace to a condition for processing (approximately 800-1200 degrees), while cooling the temperature of the diffusion furnace to the standby state (standby state). The time required is very long (average cooling temperature rate 2 ~ 3 ?? / min). Of course, the cooling water circulation line is installed on the outside of the heater, but the cooling water circulation line is installed on the outside of the insulation material, so high cooling effect is expected. Difficult to do

이처럼, 기존의 확산로 장비는 공정시간 대비 히터의 온도를 냉각하는데 걸리는 시간이 상대적으로 길기 때문에 단위 시간당 기판 처리량이 매우 저조하다는 단점을 갖고 있다.As such, the conventional diffusion furnace equipment has a disadvantage that the substrate throughput per unit time is very low because the time taken to cool the temperature of the heater is relatively long compared to the process time.

본 발명은 이와 같은 종래 문제점을 해결하기 위한 것으로, 그 목적은 공정시간의 단축을 도모하기 위하여, 히터 내부의 온도를 급냉하는 것이 가능한 새로운 형태의 반도체 기판의 열처리 장치 및 그 방법을 제공하는데 있다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a conventional problem, and an object thereof is to provide a heat treatment apparatus and a method of a new type of semiconductor substrate capable of quenching the temperature inside the heater in order to shorten the process time.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 반도체 제조를 위한 퍼니스 장치는 내부에 복수의 기판들이 적재되는 보우트가 위치되는 공정튜브를 가열하기 위하여 상기 공정튜브를 둘러싸도록 설치되는 히터 어셈블리를 갖는다.The furnace apparatus for manufacturing a semiconductor according to the present invention for achieving the above object has a heater assembly which is installed to surround the process tube for heating the process tube in which a boat on which a plurality of substrates are mounted is located.

본 발명에 의하면, 상기 히터 어셈블리는 단열블럭; 상기 단열블럭 안쪽에 설치되는 열선; 냉각용 기체가 상기 단열블럭 내부로 공급되는 공급부와, 상기 단열블럭 내부의 고온의 기체가 밖으로 배출되는 배출부를 갖는 공냉수단을 포함하되; 상기 공급부는 상기 냉각용 기체가 유입되는 유입포트를 갖는 그리고 상기 단열블럭의 하부 측면을 둘러싸도록 설치되는 환형 덕트; 상기 단열블럭 내부에 수직하게 설치되는 그리고 상기 냉각용 기체를 상기 공정튜브로 직접 분사하기 위한 다수의 분사포트들을 갖는 공급관들; 상기 환형덕트로 유입된 냉각용 기체가 상기 단열블럭 내부로 균일하게 공급될 수 있도록 상기 단열블럭의 하부에 관통되어 형성되는 다수의 분사홀들을 포함한다.According to the present invention, the heater assembly comprises a heat insulating block; A heating wire installed inside the insulating block; Air cooling means having a supply unit for supplying a gas for cooling into the adiabatic block and an outlet for discharging high temperature gas inside the adiabatic block; The supply unit has an inlet port through which the gas for cooling flows and an annular duct installed to surround the lower side of the insulating block; Supply pipes installed vertically in the adiabatic block and having a plurality of injection ports for directly injecting the cooling gas into the process tube; It includes a plurality of injection holes formed through the lower portion of the insulating block so that the cooling gas introduced into the annular duct can be uniformly supplied into the insulating block.

본 발명에 의하면, 상기 분사홀들은 상기 단열블럭에 방사상으로 배치되되; 상기 분사홀들은 상기 냉각용 기체가 반시계방향으로 분사되어 상기 공정튜브 주위 를 나선형상으로 회전하면서 상승하도록 경사지게 형성된다.According to the present invention, the injection holes are disposed radially in the insulating block; The injection holes are formed to be inclined such that the cooling gas is injected in a counterclockwise direction and rotates while spirally rotating around the process tube.

본 발명에 의하면, 상기 공급부는 냉각용 기체를 상기 유입포트에 강제 공급하는 공급용 펌프와; 상기 환형 덕트 내부에 상기 분사홀들과 인접하게 설치되는 그리고 상기 냉각용 기체가 상기 분사홀쪽으로 흐르도록 상기 냉각용 기체의 흐름을 상기 분사홀쪽으로 유도하기 위한 가로막들을 더 포함한다.According to the present invention, the supply unit and the supply pump for forcibly supplying the cooling gas to the inlet port; The diaphragm further includes a diaphragm disposed adjacent to the injection holes in the annular duct and for directing the flow of the cooling gas toward the injection hole so that the cooling gas flows toward the injection hole.

본 발명에 의하면, 상기 환형 덕트는 내부에 흐르는 냉각용 기체와의 마찰 저항을 최소화하기 위하여 반 타원형으로 이루어지며, 상기 환형 덕트의 외부는 이중 단열재에 의해 감싸진다.According to the invention, the annular duct is made of a semi-ellipse in order to minimize the frictional resistance with the cooling gas flowing therein, the outside of the annular duct is wrapped by a double insulation.

본 발명에 의하면, 상기 배출부는 상기 공급부를 통해 공급된 냉각용 기체가 빠져나가는 그리고 상기 단열블럭의 상부에 방사상으로 배치되는 배출홀들; 상기 배출홀들을 통해 배출되는 고온의 냉각용 기체를 모으기 위해 상기 단열블럭의 상부 측면을 둘러싸도록 설치되는 그리고 배출포트를 갖는 환형 덕트; 상기 단열블럭의 상부 중앙에 형성되는 중앙홀을 포함한다.According to the present invention, the discharge portion is discharged through the cooling gas supplied through the supply portion exit holes disposed radially on top of the insulating block; An annular duct having a discharge port and installed to surround the upper side of the insulating block to collect hot cooling gas discharged through the discharge holes; It includes a central hole formed in the upper center of the insulating block.

본 발명에 의하면, 상기 공냉수단은 상기 배출부 및 상기 중앙홀을 통해 배출되는 고온의 냉각용 기체를 상온으로 냉각시켜주는 제1,2냉각부를 더 포함한다.According to the present invention, the air cooling means further includes first and second cooling units for cooling the high temperature cooling gas discharged through the discharge unit and the central hole to room temperature.

본 발명에 의하면, 상기 제1,2냉각부 각각은 고온의 냉각용 기체가 유입되는 유입포트; 상기 유입포트를 통해 유입된 고온의 냉각용 기체를 냉각시키는 수냉부; 상기 고온의 냉각용 기체를 흡입하기 위한 흡입펌프; 상기 수냉부를 통과한 냉각용 기체가 외부로 배출되는 유출포트를 포함한다.According to the present invention, each of the first and second cooling units includes an inlet port through which high temperature cooling gas is introduced; A water cooling unit for cooling the high temperature cooling gas introduced through the inlet port; A suction pump for sucking the high temperature cooling gas; And an outlet port through which the cooling gas passing through the water cooling unit is discharged to the outside.

본 발명에 의하면, 상기 수냉부는 일단은 상기 유입포트와 연결되고 타단은 상기 흡입펌프와 연결되는 몸체와, 상기 몸체 내부에 설치되는 복수의 알루미늄 방열판들과, 상기 복수의 알루미늄 방열판들과 어긋나게 설치되는 그리고 냉각수 파이프를 갖는다.According to the present invention, one end of the water cooling unit is connected to the inlet port and the other end is connected to the suction pump, a plurality of aluminum heat sinks installed inside the body, and the plurality of aluminum heat sinks are installed to be displaced. And a coolant pipe.

상기 목적을 달성하기 위하여, 내부에 복수의 기판들이 적재되는 보우트가 위치되는 공정튜브를 가열하기 위하여 상기 공정튜브를 둘러싸도록 설치되는 히터 어셈블리를 포함하는 반도체 제조를 위한 퍼니스 장치에서의 열처리 방법은 상기 공정튜브가 상기 히터 어셈블리의 열선에 의해 소정의 처리온도로 가열되는 단계; 복수의 기판들이 적재된 보우트가 상기 공정튜브 내부로 로딩되어 열처리하는 단계; 열처리를 끝낸 상기 보우트를 상기 공정튜브로부터 언로딩하는 단계; 상기 보우트가 언로딩된 직후, 상기 공정튜브를 급속히 냉각시키기 위해 강제 공냉하는 단계를 포함한다. 여기서, 상기 강제 공냉 단계는 상기 공정튜브 외곽 상부에서 뜨거운 공기를 외부로 배출함과 동시에, 냉각용 기체가 상기 공정튜브 주위를 나선형상으로 회전하면서 상승하도록 상기 히터 어셈블리와 상기 공정튜브 사이의 공간으로 경사진 방향으로 공급된다.In order to achieve the above object, a heat treatment method in a furnace apparatus for manufacturing a semiconductor comprising a heater assembly installed to surround the process tube for heating the process tube is located on which the boat on which a plurality of substrates are placed is located Heating the process tube to a predetermined processing temperature by a heating wire of the heater assembly; A boat loaded with a plurality of substrates is loaded into the process tube and heat treated; Unloading the boat after the heat treatment from the process tube; Immediately after the boat is unloaded, forced air cooling to rapidly cool the process tube. Here, the forced air cooling step is to discharge the hot air to the outside from the upper portion of the process tube, and to the space between the heater assembly and the process tube so that the cooling gas rises while rotating in a spiral around the process tube. It is supplied in an inclined direction.

본 발명에 의하면, 상기 강제 공냉 단계는 냉각용 기체가 상기 공정튜브 표면으로 직접 분사된다.According to the present invention, in the forced air cooling step, the gas for cooling is directly injected to the surface of the process tube.

이하, 본 발명에 따른 반도체 기판 열처리 공정을 위한 시스템을 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a system for a semiconductor substrate heat treatment process according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

종래 기술과 비교한 본 발명의 이점은 첨부된 도면을 참조한 상세한 설명과 특허청구범위를 통하여 명백하게 될 것이다. 특히, 본 발명은 특허청구범위에서 잘 지적되고 명백하게 청구된다. 그러나, 본 발명은 첨부된 도면과 관련해서 다음의 상세한 설명을 참조함으로써 가장 잘 이해될 수 있다. 도면에 있어서 동일한 참조부호는 다양한 도면을 통해서 동일한 구성요소를 나타낸다.Advantages of the present invention over prior art will become apparent from the detailed description and claims with reference to the accompanying drawings. In particular, the present invention is well pointed out and claimed in the claims. However, the present invention may be best understood by reference to the following detailed description in conjunction with the accompanying drawings. Like reference numerals in the drawings denote like elements throughout the various drawings.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 화학 기상 증착(Chemical Vapor Deposition)을 위한 퍼니스 장치를 보여주는 도면이다. 1 is a view showing a furnace apparatus for chemical vapor deposition (Chemical Vapor Deposition) according to an embodiment of the present invention.

도 1 내지 도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 퍼니스 장치(100)는 고온 분위기하에서 기판 내에 원하는 도전형의 불순물을 확산시키는 공정을 수행하는 열처리 장치이다. 이 퍼니스 장치(100)는 내측 튜브(Inner tube, 112)와 외측 튜브(Outer tube, 114)로 이루어지는 공정튜브(110), 히터 어셈블리(120), 복수의 기판(w)들이 적재되는 보우트(116), 이 보트(116)를 지지하는 그리고 상기 공정튜브(110)의 플랜지(111)에 결합되는 시일 캡(118), 그리고 상기 시일 캡(118)과 연결되어 상기 보트(116)를 상기 공정튜브(110)에 로딩/언로딩시키기 위한 로더 장치(119)를 구비하고 있다. 1 to 2, the furnace apparatus 100 according to the present invention is a heat treatment apparatus that performs a process of diffusing impurities of a desired conductivity type in a substrate under a high temperature atmosphere. The furnace apparatus 100 comprises a process tube 110 consisting of an inner tube 112 and an outer tube 114, a heater assembly 120, and a boat 116 on which a plurality of substrates w are loaded. ), A seal cap 118 supporting the boat 116 and coupled to the flange 111 of the process tube 110, and connected to the seal cap 118 to connect the boat 116 to the process tube. Loader device 119 for loading / unloading 110 is provided.

상기 내측 튜브(112)는 석영으로 된 관으로, 그 내부에 기판(w)가 적재된 석영 보트(Quartz boat, 116)가 삽입되어 기판(w) 상에 화학기상증착이 진행되는 곳이다. 상기 외측 튜브(114)는 내측 튜브(112)의 외측에 설치되어 그 내부를 밀폐시키는 역할을 하며, 상기 히터 어셈블리(120)는 외측 튜브(114)의 외측에 설치되어 기판(w0)를 소정 온도로 가열하게 된다. The inner tube 112 is a tube made of quartz, where a quartz boat 116 having a substrate w loaded therein is inserted, and chemical vapor deposition proceeds on the substrate w. The outer tube 114 is installed on the outside of the inner tube 112 serves to seal the inside, the heater assembly 120 is installed on the outer side of the outer tube 114 to the substrate (w0) a predetermined temperature Will be heated.

상기 공정튜브의 플랜지(111) 일측에는 상기 내측 튜브(112) 내부로 화학소스 가스를 주입하기 위한 가스 주입구(111a)가 마련되어 있으며, 다른 일측에는 펌 프(미도시됨)와 연결되어 외측 튜브(114) 내부를 감압시키기 위해 공기를 흡입하는 공기 흡입구(111b)가 마련되어 있다. One side of the flange 111 of the process tube is provided with a gas inlet 111a for injecting a chemical source gas into the inner tube 112, the other side is connected to a pump (not shown) the outer tube ( 114) An air inlet 111b is provided for sucking air to depressurize the inside.

도 2는 도 1에 도시된 히터 어셈블리를 보여주는 도면이고, 도 3 및 도 5는 공급부와 배출부가 설치된 단열블럭을 보여주며, 도 4는 도 3에 표시된 Y-Y선 단면도이다. Figure 2 is a view showing the heater assembly shown in Figure 1, Figures 3 and 5 show a heat insulating block installed with the supply and discharge, Figure 4 is a cross-sectional view taken along the line Y-Y shown in FIG.

도 2 내지 도 5에 도시된 바와 같이 히터 어셈블리(120)는 상부블럭(122a), 하부블럭(122b) 그리고 측면블럭(122c)으로 이루어지는 단열블럭(122)을 포함한다. 이 단열블럭(122)의 안쪽에는 열을 발생시키는 열선(124)이 설치되며, 상기 단열블럭의 외곽에는 냉각수 순환라인(126)이 설치된다. 그리고 상기 냉각수 순환라인(126)을 보호하기 위해 보호커버(126a)가 상기 냉각수 순환라인(126)을 감싸도록 설치된다. 또한, 상기 히터 어셈블리(1200는 상기 단열블럭(122) 내부의 온도를 강제로 떨어뜨리기 위한 공냉 수단(130)을 갖는다. As shown in FIGS. 2 to 5, the heater assembly 120 includes an insulating block 122 including an upper block 122a, a lower block 122b, and a side block 122c. The heating wire 124 for generating heat is installed inside the insulating block 122, and the cooling water circulation line 126 is installed outside the insulating block. A protective cover 126a is installed to surround the cooling water circulation line 126 to protect the cooling water circulation line 126. In addition, the heater assembly 1200 has an air cooling means 130 for forcibly lowering the temperature inside the insulating block 122.

상기 공냉 수단(130)을 구체적으로 살펴보면, 냉각용 기체로 외부공기(또는 불활성가스가 사용될 수 있으며, 이하 외부공기라고 칭함.)가 상기 단열블럭 내부로 공급되는 공급부(132)와, 상기 단열블럭 내부로 공급된 외부 공기가 단열블럭 밖으로 배출되는 배출부(140) 그리고 배출된 불활성가스를 상온으로 냉각시켜주는 냉각부를 포함한다. Looking at the air-cooling means 130 in detail, the supply unit 132 is supplied to the inside of the insulating block, the outside air (or inert gas may be used, hereinafter referred to as external air) as the cooling gas, and the insulating block It includes a discharge unit 140 for the external air supplied to the inside is discharged out of the insulating block and a cooling unit for cooling the discharged inert gas to room temperature.

상기 공급부(132)는 상기 단열블럭(122)의 하부블럭(122b) 측면을 둘러싸도록 설치되는 환형 덕트(134)와, 이 덕트(134)에 연결되는 유입포트(134a) 그리고 상기 유입포트(134a)를 통해 상기 환형덕트(134)로 유입된 기체가 상기 단열블럭(122) 내부로 균일하게 공급될 수 있도록 상기 하부블럭(122b)에 관통되어 형성되는 다수의 분사홀(136)들 그리고 단열블럭 내부에 수직하게 설치되는 공급관(138)들을 갖는다. 상기 분사홀(136)들은 상기 하부블럭(122b)에 방사상으로 배치되며 그 분사각이 나선 운동 하도록 형성될 수 있다. The supply part 132 is an annular duct 134 installed to surround the lower block 122b side of the heat insulating block 122, an inlet port 134a connected to the duct 134, and the inlet port 134a. A plurality of injection holes 136 and the insulating block is formed through the lower block 122b so that the gas introduced into the annular duct 134 is uniformly supplied into the insulating block 122 through It has supply pipes 138 installed vertically therein. The injection holes 136 are radially disposed in the lower block 122b and may be formed to spirally spray their injection angles.

상기 유입포트(134a)의 전단에는 외부공기를 강제 공급하기 위한 공급펌프(133)가 설치된다. A front end of the inlet port 134a is provided with a supply pump 133 for forcibly supplying external air.

상기 환형덕트(134)는 내부에 흐르는 외부공기와의 마찰 저항을 최소화하기 위해 반타원형으로 이루어지며, 그 외부에는 2중의 단열재(134b)가 설치된다. 상기 단열재(134b)를 이중으로 설치한 이유는, 하부블럭(122b)에 형성된 분사홀들을 포함한 공기 통로부분에서 메인 열처리 공정시 열 손실이 발생하는 문제를 최소화하기 위함이다. 또한, 그 내부에는 상기 외부공기가 상기 분사홀(136)들 쪽으로 잘 흐르도록 그 흐름을 유도하는 가로막(135;도 3에 도시됨)들이 설치되어 있다. 상기 가로막(135)들은 상기 분사홀들과 인접하게 설치된다. The annular duct 134 is formed in a semi-elliptic shape in order to minimize frictional resistance with the external air flowing therein, and a double heat insulating material 134b is installed outside thereof. The reason why the heat insulating material 134b is provided in duplicate is to minimize a problem of heat loss during the main heat treatment process in the air passage part including the injection holes formed in the lower block 122b. In addition, there is a diaphragm 135 (shown in FIG. 3) that guides the flow of the external air to flow toward the injection holes 136. The diaphragms 135 are installed adjacent to the injection holes.

한편, 상기 분사홀(136)들은 도 3 및 도 4에 나타낸 바와 같이, 상기 분사홀(136)들은 위쪽에서 본 수평면내에서 반시계방향으로 향하여 외부공기가 분사되도록 형성될 수 있다. 즉, 상기 분사홀(136)들은 외부공기가 반시계방향(화살표로 표시)으로 분사되도록 소정각도를 가지고 경사지도록 형성된 구조적인 특징을 갖는다. 이런 구조적 특징을 갖는 공급부(132)에서는 외부공기가 상기 분사홀(136)들을 통해 반시계방향으로 분출되고, 상기 공정튜브(110) 주위를 회전하면서 나선형상으로 상승하게 된다. On the other hand, the injection holes 136 as shown in Figures 3 and 4, the injection holes 136 may be formed so that the outside air is injected in the counterclockwise direction in the horizontal plane seen from above. That is, the injection holes 136 have a structural feature formed to be inclined at a predetermined angle so that the external air is injected in a counterclockwise direction (indicated by an arrow). In the supply unit 132 having such a structural feature, external air is ejected counterclockwise through the injection holes 136, and ascends in a spiral shape while rotating around the process tube 110.

또한, 상기 공급관(138)들은 상기 열선(124)과 측면블럭(122c) 사이에 원형으로 수직하게 설치되며, 그 개수는 대략 16-20정도가 적당하다. 상기 공급관(138)은 세라믹 파이프로 이루어지며, 외부공기를 직접 상기 공정튜브 측면 표면으로 분사하기 위한 16-20개의 분사포트(138a)들을 갖는다. 이처럼, 상기 공정튜브(110)은 상기 공급관(138)들의 분사포트(138a)들을 통해 분사되는 외부공기에 의해 급냉된다. In addition, the supply pipes 138 are installed vertically in a circle between the heating wire 124 and the side block 122c, the number of about 16-20 is appropriate. The supply pipe 138 is made of a ceramic pipe and has 16-20 injection ports 138a for injecting external air directly into the side surface of the process tube. As such, the process tube 110 is quenched by external air injected through the injection ports 138a of the supply pipes 138.

그리고, 상기 배출부(140)는 중앙에 형성된 중앙홀(148)과, 상기 단열블럭(122)의 상부블럭(122a) 측면을 둘러싸도록 설치되는 환형 덕트(142)와, 이 덕트(142)에 연결되는 배출포트(142a) 그리고 상기 단열블럭 내부의 고온의 공기를 배출하기 위하여 상기 상부블럭(122a)에 관통되어 형성되는 다수의 배출홀(144)들을 갖는다. 상기 배출홀(144)들은 상기 상부블럭(122a)에 나선 방사상으로 배치된다. The discharge unit 140 includes a central hole 148 formed in the center, an annular duct 142 installed to surround the side surface of the upper block 122a of the heat insulating block 122, and the duct 142. It has a discharge port 142a connected to each other, and a plurality of discharge holes 144 formed through the upper block 122a to discharge hot air inside the insulating block. The discharge holes 144 are disposed radially in the upper block 122a.

한편, 상기 배출부(140)의 배출포트(142a)에는 상기 배출포트를 통해 배출되는 고온의 공기를 냉각하기 위한 냉각부(150)의 유입포트(152)가 연결된다. 그리고, 상기 배출부(140)의 중앙홀에는 상기 중앙홀을 통해 배출되는 고온의 공기를 냉각하기 위한 냉각부(150)의 유입포트(152)가 연결된다. On the other hand, the inlet port 152 of the cooling unit 150 for cooling the hot air discharged through the discharge port is connected to the discharge port 142a of the discharge unit 140. In addition, the inlet port 152 of the cooling unit 150 for cooling the hot air discharged through the central hole is connected to the central hole of the discharge unit 140.

상기 냉각부(150)는 뜨거운 공기를 냉각시키기 위한 수냉부(154)와, 상기 단열블럭의 공기를 흡입하기 위한 흡입펌프(156) 그리고 상기 수냉부를 통과한 공기가 외부로 배출되는 유출포트(158)를 갖는다. 도 6을 참조하면, 상기 수냉부(154)는 냉각수를 이용한 공냉장치로, 몸체(154a)와 알루미늄 방열판(154b)들 그리고 냉각수 파이프(154c)로 이루어진다. 상기 몸체(154a)는 상기 유입포트(152)와 연결되는 일단과 상기 흡입펌프(156)와 연결되는 타단을 갖는다. 상기 몸체 내부에는 알루미늄 방열판(154b)들과 상기 냉각수 파이프(154c)가 설치된다. 이러한 냉각수를 이용한 수냉부는 기존의 칠러장치보다 작고 그 성능도 우수하며 흡입 펌프를 고온의 열로부터 보호하고 펌프 수명을 연장 시켜주며 그 비용도 적게 든다. The cooling unit 150 includes a water cooling unit 154 for cooling hot air, a suction pump 156 for sucking air from the adiabatic block, and an outlet port 158 through which the air passing through the water cooling unit is discharged to the outside. Has Referring to FIG. 6, the water cooling unit 154 is an air cooling apparatus using cooling water, and includes a body 154a, aluminum heat sinks 154b, and a cooling water pipe 154c. The body 154a has one end connected to the inlet port 152 and the other end connected to the suction pump 156. Aluminum heat sinks 154b and the coolant pipe 154c are installed in the body. The water cooling unit using such cooling water is smaller than the existing chiller system, and its performance is excellent. It protects the suction pump from high temperature heat, extends the pump life, and costs less.

이와 같이 히터 어셈블리(120)를 갖는 퍼니스 장치에서의 증착 공정은 다음과 같다. As described above, the deposition process in the furnace apparatus having the heater assembly 120 is as follows.

상기 공정튜브(110)가 상기 히터 어셈블리(120)의 열선(124)에 의해 소정의 공정처리온도(예를 들어 800-1200도)로 가열되면, 복수의 기판들이 적재된 보우트(116)가 로더장치(119)에 의해 상승하여 상기 공정튜브(110) 내부로 로딩된다. 그리고, 소정의 반응가스들이 상기 공정튜브 내부로 공급되어 막형성 또는 확산 등의 열처리가 진행된다. 이렇게 소정 시간동안 열처리 공정이 완료되면, 상기 보우트(116)는 상기 공정튜브(110)로부터 언로딩된다. When the process tube 110 is heated to a predetermined process temperature (for example, 800-1200 degrees) by the heating wire 124 of the heater assembly 120, the boat 116 on which a plurality of substrates are loaded is loaded. It is lifted by the apparatus 119 and loaded into the process tube 110. Then, predetermined reaction gases are supplied into the process tube to perform heat treatment such as film formation or diffusion. When the heat treatment process is completed for a predetermined time, the boat 116 is unloaded from the process tube 110.

상기 보우트(116)가 언로딩된 직후, 상기 공정튜브(110)를 급속히 냉각시키기 위해 강제 공냉 과정이 이루어진다. 즉, 냉각부(150)의 흡입펌프(156)와 상기 공급부의 공급펌프(133)가 동시 동작되면, 상기 단열블럭(122)과 상기 공정튜브(110) 사이의 공기(뜨거운 공기)가 상기 배출부(140)의 배출홀(144)들을 통해 냉각부(150)로 흡입(유입)되고, 이와 동시에 상기 단열블럭(122)과 상기 공정튜브(110) 사이의 공간으로는 상기 공급부(132)를 통해 외부의 공기(상온의 공기)가 유입된다. 이 외부 공기는 상기 히터 어셈블리(120)의 공급부의 경로(유입포트- 환형덕트 - 분사홀들)를 통해 상기 단열블럭(122)과 상기 공정튜브(110) 사이의 공간으로 분사된다. 또한, 외부공기는 상기 측면 공급부의 공급관(138)의 분사포트(138a)들을 통해 상기 공정튜브의 표면으로 직접 분사된다. Immediately after the boat 116 is unloaded, a forced air cooling process is performed to rapidly cool the process tube 110. That is, when the suction pump 156 of the cooling unit 150 and the supply pump 133 of the supply unit are operated at the same time, the air (hot air) between the insulating block 122 and the process tube 110 is discharged. The supply unit 132 is suctioned (inflowed) into the cooling unit 150 through the discharge holes 144 of the unit 140, and at the same time, the supply unit 132 is connected to the space between the insulating block 122 and the process tube 110. Through the outside air (air at room temperature) is introduced. The outside air is injected into the space between the heat insulating block 122 and the process tube 110 through a path (inlet port-annular duct-injection holes) of the supply unit of the heater assembly 120. In addition, the outside air is directly injected to the surface of the process tube through the injection port (138a) of the supply pipe 138 of the side supply.

여기서, 상기 분사홀(136)들이 도 3 및 도 4에서와 같이 경사지게 형성되어 있어, 외부공기는 상기 분사홀(136)들을 통해 반시계방향으로 분출되고, 상기 공정튜브(110) 주위를 회전하면서 나선형상으로 상승하게 된다. 이처럼, 상기 외부공기는 상기 단열블럭(122)과 상기 공정튜브(110) 사이의 공간을 회전하면서 나선형상으로 상승하기 때문에 외부공기가 전체적으로 고르게 흐르게 되고, 결국 온도의 균일성(전체적으로 균일하게 온도를 떨어뜨릴 수 있다)을 얻을 수 있는 장점이 있다. 외부공기는 나선형상으로 상승하면서 상기 공정튜브와 열선의 온도를 떨어뜨리게 되고, 이렇게 해서 뜨거워진 공기는 상기 배출부(140)의 배출홀(144)들과 중앙홀을 통해 상기 냉각부(150)로 유입된다. 이처럼, 뜨거운 공기는 신속하게 외부로 배출된다. 상기 냉각부(150)로 유입된 공기는 수냉부(154)를 통과하면서 냉각되어진 후 유출포트(158)를 통해 외부로 배출된다. Here, the injection holes 136 are formed to be inclined as shown in FIGS. 3 and 4, so that external air is ejected counterclockwise through the injection holes 136 and rotates around the process tube 110. The spiral rises. As such, since the external air rises in a spiral shape while rotating the space between the insulating block 122 and the process tube 110, the external air flows evenly as a whole, resulting in uniformity of temperature (the overall uniform temperature Can be dropped). The outside air rises in a spiral shape to lower the temperature of the process tube and the heating wire, and the heated air is cooled through the discharge holes 144 and the central hole of the discharge part 140. Flows into. As such, hot air is quickly exhausted to the outside. The air introduced into the cooling unit 150 is cooled while passing through the water cooling unit 154 and then discharged to the outside through the outlet port 158.

이러한 공기의 흐름을 통해 상기 히터 어셈블리(120)의 내부 온도는 800~1200도에서 300도까지 20-30??/min의 속도로 급속하게 냉각됨으로써, 공정튜브(또는 히터 어셈블리)의 냉각 시간을 단축시킬 수 있다. 또한, 이 공기의 흐름은 상기 공정튜브의 하부에서 상부로 상승함과 동시에 측벽 벽을 통해서 냉각 시키기 때문에 온도의 균일성을 얻을 수 있다.Through the air flow, the internal temperature of the heater assembly 120 is rapidly cooled at a speed of 20-30 ° / min from 800 to 1200 degrees to 300 degrees, thereby reducing the cooling time of the process tube (or heater assembly). It can be shortened. In addition, since the air flow rises from the bottom of the process tube to the top and is cooled through the side wall wall, temperature uniformity can be obtained.

이상의 상세한 설명은 본 발명을 예시하는 것이다. 또한 전술한 내용은 본 발명의 바람직한 실시 형태를 나타내고 설명하는 것에 불과하며, 본 발명은 다양한 다른 조합, 변경 및 환경에서 사용할 수 있다. 그리고, 본 명세서에 개시된 발명의 개념의 범위, 저술한 개시 내용과 균등한 범위 및/또는 당업계의 기술 또는 지식의 범위 내에서 변경 또는 수정이 가능하다. 전술한 실시예들은 본 발명을 실시하는데 있어 최선의 상태를 설명하기 위한 것이며, 본 발명과 같은 다른 발명을 이용하는데 당업계에 알려진 다른 상태로의 실시, 그리고 발명의 구체적인 적용 분야 및 용도에서 요구되는 다양한 변경도 가능하다. 따라서, 이상의 발명의 상세한 설명은 개시된 실시 상태로 본 발명을 제한하려는 의도가 아니다. 또한 첨부된 청구범위는 다른 실시 상태도 포함하는 것으로 해석되어야 한다.The foregoing detailed description illustrates the present invention. In addition, the foregoing description merely shows and describes preferred embodiments of the present invention, and the present invention can be used in various other combinations, modifications, and environments. And, it is possible to change or modify within the scope of the concept of the invention disclosed in this specification, the scope equivalent to the written description, and / or the skill or knowledge in the art. The above-described embodiments are for explaining the best state in carrying out the present invention, the use of other inventions such as the present invention in other state known in the art, and the specific fields of application and uses of the present invention. Various changes are also possible. Accordingly, the detailed description of the invention is not intended to limit the invention to the disclosed embodiments. Also, the appended claims should be construed to include other embodiments.

이상에서 상세히 설명한 바와 같이 본 발명은 다음과 같은 효과를 얻을 수 있다. 첫째, 히터 내부의 온도를 균일하게 그리고 신속하게 냉각이 가능해짐으로써 공정 대기 시간을 단축시킬 수 있어 생산성 향상 효과를 얻을 수 있다. 둘째, 원형덕트 내부의 공기가 분사홀들쪽으로 유도하여 분사홀들로 유입되는 유입량을 증가시킴과 동시에 원형 덕트 내부의 마찰 저항을 줄임으로써 상기 단열블럭 내부로의 공기 유입량을 현저하게 증가시킬 수 있다. 셋째, 냉각수를 이용한 간단한 장치를 설치하여 뜨거운 공기를 신속하게 냉각시킬 수 있다. 그리고 펌프를 고온 열로부터 보호하여 펌프 수명을 연장 할 수 있다.As described above in detail, the present invention can obtain the following effects. First, since the temperature inside the heater can be uniformly and quickly cooled, the process waiting time can be shortened, thereby improving productivity. Second, the air flow into the insulation block can be significantly increased by increasing the flow rate of the air inside the circular duct to the injection holes and reducing the frictional resistance inside the circular duct. . Third, by installing a simple device using a coolant can quickly cool the hot air. And the pump life can be extended by protecting the pump from high temperature heat.

넷째, 하부면의 차가운 공기 유입과 동시에 측벽에서 원형으로 돌아가면서 직접 차가운 공기를 분사하기에 더욱더 신속하게 냉각이 가능하여 생산성효과를 얻 을 수 있다.Fourth, the cooling effect can be obtained more rapidly because the cool air is introduced from the lower surface and the cool air is injected directly from the side wall to the circle.

Claims (10)

삭제delete 복수의 기판들을 수용하는 공정튜브를 둘러싸도록 설치되는 히터 어셈블리를 구비한 반도체 제조를 위한 퍼니스 장치에 있어서: A furnace apparatus for manufacturing a semiconductor having a heater assembly installed to surround a process tube containing a plurality of substrates: 상기 히터 어셈블리는 The heater assembly 단열블럭; 상기 단열블럭 안쪽에 설치되는 열선;Adiabatic block; A heating wire installed inside the insulating block; 냉각용 기체가 상기 단열블럭 내부로 공급되는 공급부와, 상기 단열블럭 내부의 고온의 기체가 밖으로 배출되는 배출부를 갖는 공냉수단을 포함하되;Air cooling means having a supply unit for supplying a gas for cooling into the adiabatic block and an outlet for discharging high temperature gas inside the adiabatic block; 상기 공급부는 The supply part 상기 냉각용 기체가 유입되는 유입포트를 갖는 그리고 상기 단열블럭의 하부 측면을 둘러싸도록 설치되는 환형 덕트; An annular duct having an inlet port into which the cooling gas is introduced and surrounding the lower side of the insulating block; 상기 단열블럭 내부에 수직하게 설치되는 그리고 상기 냉각용 기체를 상기 공정튜브로 직접 분사하기 위한 다수의 분사포트들을 갖는 공급관들; Supply pipes installed vertically in the adiabatic block and having a plurality of injection ports for directly injecting the cooling gas into the process tube; 상기 환형덕트로 유입된 냉각용 기체가 반시계반향으로 분사되어 상기 공정튜브 주위를 나선형상으로 회전하면서 상승하도록 상기 단열블럭의 하부에 방사상으로 그리고 경사지게 형성되는 다수의 분사홀들을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 제조를 위한 퍼니스 장치.Cooling gas introduced into the annular duct is injected counterclockwise to include a plurality of injection holes formed radially and inclined in the lower portion of the insulating block so as to rise while rotating in a spiral around the process tube. Furnace apparatus for semiconductor manufacturing. 복수의 기판들을 수용하는 공정튜브를 둘러싸도록 설치되는 히터 어셈블리를 구비한 반도체 제조를 위한 퍼니스 장치에 있어서: A furnace apparatus for manufacturing a semiconductor having a heater assembly installed to surround a process tube containing a plurality of substrates: 상기 히터 어셈블리는 The heater assembly 단열블럭; 상기 단열블럭 안쪽에 설치되는 열선;Insulation block; A heating wire installed inside the insulating block; 냉각용 기체가 상기 단열블럭 내부로 공급되는 공급부와, 상기 단열블럭 내부의 고온의 기체가 밖으로 배출되는 배출부를 갖는 공냉수단을 포함하되;Air cooling means having a supply unit for supplying a gas for cooling into the adiabatic block and an outlet for discharging high temperature gas inside the adiabatic block; 상기 공급부는 The supply part 상기 냉각용 기체가 유입되는 유입포트를 갖는 그리고 상기 단열블럭의 하부 측면을 둘러싸도록 설치되는 환형 덕트; An annular duct having an inlet port into which the cooling gas is introduced and surrounding the lower side of the insulating block; 상기 단열블럭 내부에 수직하게 설치되는 그리고 상기 냉각용 기체를 상기 공정튜브로 직접 분사하기 위한 다수의 분사포트들을 갖는 공급관들; Supply pipes installed vertically in the adiabatic block and having a plurality of injection ports for directly injecting the cooling gas into the process tube; 상기 환형덕트로 유입된 냉각용 기체가 상기 단열블럭 내부로 균일하게 공급될 수 있도록 상기 단열블럭의 하부에 관통되어 형성되는 다수의 분사홀들;A plurality of injection holes formed through the lower portion of the insulating block so that the cooling gas introduced into the annular duct can be uniformly supplied into the insulating block; 냉각용 기체를 상기 유입포트에 강제 공급하는 공급용 펌프; 및A supply pump for forcibly supplying cooling gas to the inlet port; And 상기 환형 덕트 내부에 상기 분사홀들과 인접하게 설치되는 그리고 상기 냉각용 기체가 상기 분사홀쪽으로 흐르도록 상기 냉각용 기체의 흐름을 상기 분사홀쪽으로 유도하기 위한 가로막들을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 제조를 위한 퍼니스 장치.And a diaphragm disposed adjacent to the injection holes in the annular duct and configured to direct the flow of the cooling gas toward the injection hole so that the cooling gas flows toward the injection hole. Furnace device for 복수의 기판들을 수용하는 공정튜브를 둘러싸도록 설치되는 히터 어셈블리를 구비한 반도체 제조를 위한 퍼니스 장치에 있어서: A furnace apparatus for manufacturing a semiconductor having a heater assembly installed to surround a process tube containing a plurality of substrates: 상기 히터 어셈블리는 The heater assembly 단열블럭; 상기 단열블럭 안쪽에 설치되는 열선;Insulation block; A heating wire installed inside the insulating block; 냉각용 기체가 상기 단열블럭 내부로 공급되는 공급부와, 상기 단열블럭 내부의 고온의 기체가 밖으로 배출되는 배출부를 갖는 공냉수단을 포함하되;Air cooling means having a supply unit for supplying a gas for cooling into the adiabatic block and an outlet for discharging high temperature gas inside the adiabatic block; 상기 공급부는 The supply part 상기 냉각용 기체가 유입되는 유입포트를 갖는 그리고 상기 단열블럭의 하부 측면을 둘러싸도록 설치되는 환형 덕트; An annular duct having an inlet port into which the cooling gas is introduced and surrounding the lower side of the insulating block; 상기 단열블럭 내부에 수직하게 설치되는 그리고 상기 냉각용 기체를 상기 공정튜브로 직접 분사하기 위한 다수의 분사포트들을 갖는 공급관들; Supply pipes installed vertically in the adiabatic block and having a plurality of injection ports for directly injecting the cooling gas into the process tube; 상기 환형덕트로 유입된 냉각용 기체가 상기 단열블럭 내부로 균일하게 공급될 수 있도록 상기 단열블럭의 하부에 관통되어 형성되는 다수의 분사홀들을 포함하며;A plurality of injection holes formed through the lower portion of the insulating block so that the cooling gas introduced into the annular duct can be uniformly supplied into the insulating block; 상기 환형 덕트는 내부에 흐르는 냉각용 기체와의 마찰 저항을 최소화하기 위하여 반 타원형으로 이루어지며,The annular duct is made of a semi-ellipse in order to minimize the frictional resistance with the cooling gas flowing therein, 상기 환형 덕트의 외부는 이중 단열재에 의해 감싸지는 것을 특징으로 하는 반도체 제조를 위한 퍼니스 장치.Furnace apparatus for manufacturing a semiconductor, characterized in that the outside of the annular duct is wrapped by a double insulation. 복수의 기판들을 수용하는 공정튜브를 둘러싸도록 설치되는 히터 어셈블리를 구비한 반도체 제조를 위한 퍼니스 장치에 있어서: A furnace apparatus for manufacturing a semiconductor having a heater assembly installed to surround a process tube containing a plurality of substrates: 상기 히터 어셈블리는 The heater assembly 단열블럭; 상기 단열블럭 안쪽에 설치되는 열선;Adiabatic block; A heating wire installed inside the insulating block; 냉각용 기체가 상기 단열블럭 내부로 공급되는 공급부와, 상기 단열블럭 내부의 고온의 기체가 밖으로 배출되는 배출부를 갖는 공냉수단을 포함하되;Air cooling means having a supply unit for supplying a gas for cooling into the adiabatic block and an outlet for discharging high temperature gas inside the adiabatic block; 상기 공급부는 The supply part 상기 냉각용 기체가 유입되는 유입포트를 갖는 그리고 상기 단열블럭의 하부 측면을 둘러싸도록 설치되는 환형 덕트; An annular duct having an inlet port into which the cooling gas is introduced and surrounding the lower side of the insulating block; 상기 단열블럭 내부에 수직하게 설치되는 그리고 상기 냉각용 기체를 상기 공정튜브로 직접 분사하기 위한 다수의 분사포트들을 갖는 공급관들; Supply pipes installed vertically in the adiabatic block and having a plurality of injection ports for directly injecting the cooling gas into the process tube; 상기 환형덕트로 유입된 냉각용 기체가 상기 단열블럭 내부로 균일하게 공급될 수 있도록 상기 단열블럭의 하부에 관통되어 형성되는 다수의 분사홀들을 포함하고;A plurality of injection holes formed through the lower portion of the insulating block so that the cooling gas introduced into the annular duct can be uniformly supplied into the insulating block; 상기 배출부는 The discharge portion 상기 공급부를 통해 공급된 냉각용 기체가 빠져나가는 그리고 상기 단열블럭의 상부에 방사상으로 배치되는 배출홀들; Discharge holes through which the cooling gas supplied through the supply part exits and are disposed radially on the insulating block; 상기 배출홀들을 통해 배출되는 고온의 냉각용 기체를 모으기 위해 상기 단열블럭의 상부 측면을 둘러싸도록 설치되는 그리고 배출포트를 갖는 환형 덕트; 및An annular duct having a discharge port and installed to surround the upper side of the insulating block to collect hot cooling gas discharged through the discharge holes; And 상기 단열블럭의 상부 중앙에 형성되는 중앙홀을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 제조를 위한 퍼니스 장치. Furnace apparatus for manufacturing a semiconductor, characterized in that it comprises a central hole formed in the upper center of the insulating block. 제5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 공냉수단은The air cooling means 상기 배출부 및 상기 중앙홀을 통해 배출되는 고온의 냉각용 기체를 상온으로 냉각시켜주는 제1,2냉각부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 제조를 위한 퍼니스 장치.Furnace apparatus for manufacturing a semiconductor, characterized in that further comprising a first and second cooling unit for cooling the high-temperature cooling gas discharged through the discharge portion and the central hole to room temperature. 제6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 제1,2냉각부 각각은 Each of the first and second cooling units 고온의 냉각용 기체가 유입되는 유입포트;An inlet port through which a high temperature cooling gas is introduced; 상기 유입포트를 통해 유입된 고온의 냉각용 기체를 냉각시키는 수냉부;A water cooling unit for cooling the high temperature cooling gas introduced through the inlet port; 상기 고온의 냉각용 기체를 흡입하기 위한 흡입펌프;A suction pump for sucking the high temperature cooling gas; 상기 수냉부를 통과한 냉각용 기체가 외부로 배출되는 유출포트를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 제조를 위한 퍼니스 장치. Furnace apparatus for manufacturing a semiconductor, characterized in that it comprises an outlet port for discharging the gas for cooling passing through the water cooling unit to the outside. 제7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 수냉부는The water cooling unit 일단은 상기 유입포트와 연결되고 타단은 상기 흡입펌프와 연결되는 몸체와,One end is connected to the inlet port and the other end is connected to the suction pump; 상기 몸체 내부에 설치되는 복수의 알루미늄 방열판들과, A plurality of aluminum heat sinks installed in the body, 상기 복수의 알루미늄 방열판들과 어긋나게 설치되는 냉각수 파이프를 갖는 것을 특징으로 하는 반도체 제조를 위한 퍼니스 장치. Furnace apparatus for manufacturing a semiconductor, characterized in that it has a cooling water pipe which is installed to be offset from the plurality of aluminum heat sinks. 삭제delete 삭제delete
KR1020040041388A 2004-06-07 2004-06-07 Furnace apparatus and heat treatment method using the apparatus KR100639712B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020040041388A KR100639712B1 (en) 2004-06-07 2004-06-07 Furnace apparatus and heat treatment method using the apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020040041388A KR100639712B1 (en) 2004-06-07 2004-06-07 Furnace apparatus and heat treatment method using the apparatus

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR20-2004-0015865U Division KR200360036Y1 (en) 2004-06-07 2004-06-07 Furnace apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20050116247A KR20050116247A (en) 2005-12-12
KR100639712B1 true KR100639712B1 (en) 2006-10-30

Family

ID=37289926

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020040041388A KR100639712B1 (en) 2004-06-07 2004-06-07 Furnace apparatus and heat treatment method using the apparatus

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100639712B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101346069B1 (en) * 2011-12-05 2013-12-31 주식회사 데크 Chemical vapor infiltration apparatus

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100817400B1 (en) * 2006-11-09 2008-03-27 권상환 Heat treatment equipment
KR101392379B1 (en) * 2013-03-27 2014-05-12 주식회사 유진테크 Apparatus for processing bubstrate
KR101392378B1 (en) * 2013-03-27 2014-05-12 주식회사 유진테크 Apparatus for processing substrate
KR101685096B1 (en) 2015-11-17 2016-12-12 주식회사 유진테크 Apparatus for processing substrate and method for processing substrate using the same
CN106384722A (en) * 2016-10-28 2017-02-08 北京七星华创电子股份有限公司 Quick air cooling structure of heat treatment device
JP2024051314A (en) * 2022-09-30 2024-04-11 東京エレクトロン株式会社 COOLING APPARATUS, SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS, AND COOLING METHOD
CN117507470B (en) * 2024-01-05 2024-04-12 北京海德利森科技有限公司 Hot isostatic pressing equipment and cooling method thereof

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101346069B1 (en) * 2011-12-05 2013-12-31 주식회사 데크 Chemical vapor infiltration apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
KR20050116247A (en) 2005-12-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8183502B2 (en) Mounting table structure and heat treatment apparatus
KR101897318B1 (en) Substrate processing apparatus
US20080299326A1 (en) Plasma cvd apparatus having non-metal susceptor
JP2012533876A (en) Semiconductor manufacturing equipment
JPH076956A (en) Heat treating device
JP3910151B2 (en) Heat treatment method and heat treatment apparatus
KR100639712B1 (en) Furnace apparatus and heat treatment method using the apparatus
JP2012033871A (en) Substrate processing apparatus, method of manufacturing semiconductor device and heating apparatus
JP2006279058A (en) Heat treatment apparatus and method of manufacturing semiconductor device
KR20110112074A (en) Apparatus and method for treating substates
KR20060130531A (en) Furnace apparatus
KR20110096348A (en) Apparatus for dry etching and substrate processing system having the same
KR200360036Y1 (en) Furnace apparatus
KR100539386B1 (en) Furnace apparatus
KR200361897Y1 (en) Furnace apparatus
US11676803B2 (en) Liner assembly for vacuum treatment apparatus, and vacuum treatment apparatus
KR100532702B1 (en) Furnace apparatus and heat treatment method using the apparatus
JP2009049061A (en) Device and method for processing semiconductor wafer
JP2004055880A (en) Substrate processing device
KR200359464Y1 (en) Furnace apparatus
KR100523643B1 (en) Process chamber of a rapid thermal processing apparatus capable of uniformly heat transferring to a wafer loaded therein
JP4218360B2 (en) Heat treatment apparatus and heat treatment method
KR100677989B1 (en) Vertical type furnace
JP2004289166A (en) Batch-type remote plasma processing apparatus
KR20050058842A (en) Apparatus for manufacturing semiconductors

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
N231 Notification of change of applicant
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20111021

Year of fee payment: 6

LAPS Lapse due to unpaid annual fee