KR100636218B1 - Delay compensation circuit - Google Patents
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Abstract
본 발명은 지연 보상 회로에 관한 것으로, 특히 듀티(duty)에 대한 제약 조건을 갖지 않는 지연소자라인을 이용하여 지연제어클럭신호를 180도의 위상차가 나도록 지연시켜 반전제어클럭신호를 생성하는 지연 보상 회로를 제공한다. 이를 위한 보상 회로는 입력 기준클럭신호의 위상을 검출하는 위상검출부, 상기 위상검출부로부터 출력되는 위상신호로부터 동기(locking) 여부를 판단하여 위상검출부의 지연값을 조정하는 지연제어부, 및 상기 지연제어부로부터 지연값을 입력받아 입력 신호를 지연시키는 지연처리부로서, 다수의 지연소자들을 이용하여 지연제어클럭신호를 180도의 위상차가 나도록 지연시켜 반전제어클럭신호를 생성하는 지연처리부를 포함한다. 이로써, 본 발명에 따르면, 추가로 지연소자라인을 구비하여 반전제어클럭신호를 생성함으로써, 기존의 지연소자라인의 듀티가 ±5%가 되지 않아도 된다. 따라서, 지연소자라인을 설계할 때, 듀티에 대한 부담을 줄일 수 있어, 지연소자라인을 효과적으로 설계할 수 있다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a delay compensation circuit. In particular, a delay compensation circuit for generating a reverse control clock signal by delaying a delay control clock signal by 180 degrees out of phase by using a delay element line having no constraint on duty. To provide. The compensation circuit for this purpose includes a phase detector which detects a phase of an input reference clock signal, a delay controller that determines whether to lock the phase signal output from the phase detector, and adjusts a delay value of the phase detector, and the delay controller. A delay processor for delaying an input signal by receiving a delay value, the delay processor including a delay processor to generate a reverse control clock signal by delaying the delay control clock signal by 180 degrees with a plurality of delay elements. Thus, according to the present invention, the delay control line signal is further provided to generate the inversion control clock signal, so that the duty of the existing delay device line does not need to be ± 5%. Therefore, when designing the delay element line, the burden on the duty can be reduced, and the delay element line can be effectively designed.
Description
도 1은 종래의 지연 보상 회로를 개략적으로 도시한 블록회로도이다.1 is a block circuit diagram schematically showing a conventional delay compensation circuit.
도 2는 도 1의 위상검출부의 상세회로도이다.FIG. 2 is a detailed circuit diagram of the phase detector of FIG. 1.
도 3은 도 2의 지연소자의 상세회로도이다.3 is a detailed circuit diagram of the delay device of FIG. 2.
도 4는 도 2의 지연소자라인의 상세회로도이다.4 is a detailed circuit diagram of the delay element line of FIG. 2.
도 5는 도 1의 리드처리부의 상세회로도이다.5 is a detailed circuit diagram of the read processing unit of FIG. 1.
도 6은 지연제어클럭신호 및 반전제어클럭신호를 나타내는 파형도이다.6 is a waveform diagram illustrating a delay control clock signal and an inversion control clock signal.
도 7은 본 발명에 따른 리드처리부의 상세회로도이다.7 is a detailed circuit diagram of a lead processing unit according to the present invention.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
1...지연 보상 회로 2...기준클럭신호1 ...
10...위상검출부 20...지연제어부10
30...리드처리부 40...라이트처리부30 ...
100...제2 지연소자라인 104...지연제어클럭신호100 second
106...반전제어클럭신호 110, 111, 11n...지연소자Inverting
120, 121, 12n...지연제어신호 310...리드제어신호 입력부120, 121, 12n ...
320...제1 지연소자라인 330...데이터리드부320 ... first
본 발명은 지연 보상 회로에 관한 것으로, 특히 듀티(duty)에 대한 제약 조건을 갖지 않는 지연소자라인을 이용하여 지연제어클럭신호를 180도의 위상차가 나도록 지연시켜 반전제어클럭신호를 생성하는 지연 보상 회로에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
동적 랜덤 액세스 메모리(DRAM; dynamic random access memory)의 비동기(asynchronous) 특성으로 인해, 주문형 반도체(ASIC; application specific integrated circuit)와 DRAM 사이의 데이터 전송에 대한 타이밍이 중요한 인자(factor)가 되었다. 또한, 시스템, 예를 들어 프린터 또는 복합기가 점점 고속화되어 가면서 시스템의 주파수가 증가하여, 유효 데이터 윈도우(valid data window)가 급격히 줄어들게 되는 현상이 발생하였다.Due to the asynchronous nature of dynamic random access memory (DRAM), the timing for data transfer between application specific integrated circuits (ASICs) and DRAM has become an important factor. In addition, as the system, for example, a printer or a multifunction device, becomes faster, the frequency of the system increases, and a phenomenon in which a valid data window decreases sharply occurs.
따라서, 좁은 유효 데이터 윈도우 상에서 데이터를 정확하게 리드(read), 라이트(write)하기 위한 논리회로가 필요하게 되었으며, 지연 보상 회로(DCC; delay compensation circuit)가 이러한 역할을 수행한다.Accordingly, a logic circuit for accurately reading and writing data on a narrow valid data window is required, and a delay compensation circuit (DCC) plays this role.
지연 보상 회로(DCC)를 사용하는 경우, ASIC은 리드 데이터(read data)를 원하는 위치에서 캡쳐(capture)할 수 있으므로, 좁은 유효 데이터 윈도우인 경우에도 문제가 되지 않는다. 또한, ASIC이 DRAM 쪽으로 데이터를 라이트하는 경우에도, DRAM이 데이터를 올바르게 캡쳐할 수 있도록, 라이트 제어(write control) 신호를 전송할 수 있다.In the case of using a delay compensation circuit (DCC), the ASIC can capture read data at a desired position, so it is not a problem even in a narrow valid data window. In addition, even when the ASIC writes data toward the DRAM, a write control signal can be transmitted so that the DRAM can correctly capture the data.
하지만, 종래의 지연 보상 회로의 경우, 데이터를 캡쳐하기 위한 지연제어클 록신호(clk_dqs)를 생성할 때, 지연소자라인(delay line)을 이용함에 있어, 지연소자라인의 듀티(duty)가 매우 중요한 역할을 한다. 즉, 지연소자라인을 통과한 지연제어클록신호(clk_dqs)의 듀티가 45% ~ 55% 이내의 범위를 가져야 하는 제약 조건을 가지고 있다.However, in the case of the conventional delay compensation circuit, when the delay control clock signal clk_dqs for capturing data is generated, the duty of the delay element line is very high. Plays an important role. That is, there is a constraint that the duty of the delay control clock signal (clk_dqs) passing through the delay element line must be within a range of 45% to 55%.
도 1은 종래의 지연 보상 회로를 개략적으로 도시한 블록회로도이다. 도 2는 도 1의 위상검출부의 상세회로도이다. 도 3은 도 2의 지연소자의 상세회로도이다. 도 4는 도 2의 지연소자라인의 상세회로도이다.1 is a block circuit diagram schematically showing a conventional delay compensation circuit. FIG. 2 is a detailed circuit diagram of the phase detector of FIG. 1. 3 is a detailed circuit diagram of the delay device of FIG. 2. 4 is a detailed circuit diagram of the delay element line of FIG. 2.
도 1에 도시한 바와 같이, 지연 보상 회로(DCC)는 입력 기준클럭신호(2)의 위상을 검출하는 위상검출부(Dll_phase_detect)(10), 상기 위상검출부(10)의 지연(delay)을 조절하는 지연제어부(dll_delay_control)(20), 그리고 위상검출부(10)로부터 정해진 지연값 만큼 리드신호/라이트신호들을 지연시키는 리드/라이트처리부(dll_rd_dqs_slice/dll_wr_dqs_slice)(30, 40)로 구성되어 있다.As shown in FIG. 1, the delay compensation circuit DCC controls a phase
도 2에 도시한 바와 같이, 위상검출부(10)는 지연 최소 단위 구성인 지연소자(dll_delay_element)(16)와 또한 지연소자(delay element, delay cell)로 구성된 지연소자라인(dll_delay_line)(18), 그리고 위상을 검출하기 위해 제1 위상신호(phase1)(12) 및 제2 위상신호(phase2)(14)를 생성하는 두 개의 플립플롭(Flip-Flop)(11, 13)으로 구성되어 있다.As shown in FIG. 2, the
도 3에 도시한 바와 같이, 지연소자(dll_delay_element)(16)는 인포트(in port) 신호(162)를 버퍼(163)를 경유하여 바이패스(bypass)하는 패스출력포트(pass output port)(164)와 인(in)신호와 리턴(ret)신호를 선택적으로 출력하는 출력포트 (out port)(169)를 갖고 있다. 지연소자(16)의 지연값(delay)은 버퍼(163)의 지연값과 먹스(Mux)(166)의 지연값을 더한 값이다.As shown in FIG. 3, the
위상검출부(10)는 기준클럭신호(reference clock)(2)를 받아, 최소 지연단위인 지연소자(16)와 지연소자라인(18)과 2개의 플립플롭(11, 13)을 사용하여 기준클럭신호(2)의 주기를 검출하는 역할을 한다. 또한, 위상검출부(10)는 지연소자라인(18)을 통과한 기준클럭신호(2)의 위상을 검출하여, 기준클럭신호가 몇 개의 지연소자 또는 지연셀(delay cell)로 구성되는지 검출하는 역할을 수행한다.The
지연제어부(20)는 제어입력(4)에 따라서, 위상검출부(10)의 출력인 위상신호(phase1, phase2)(12, 14)를 이용하여 위상 동기(phase lock) 여부를 판단하고, 만약 동기(lock)가 안되었을 경우 위상검출부(10)로 출력되는 지연제어신호(sel_num_delay_elements)(22)를 조정하여 위상검출부(10)의 지연소자라인(18)의 지연값을 증가 또는 감소시킨다. 이때 조정단위는 최소 지연 단위의 지연값을 갖는 지연소자(180-18n)이다. 즉, 지연제어부(20)는 지연제어신호(22)를 조정하여 제1 위상신호(phase1)(12)의 출력은 "로우(low)", 제2 위상신호(phase2)(14)의 출력은 "하이(high)"인 시점(lock)을 찾는다. 로킹(locking)이 되면 이 때의 지연제어신호(22)값을 인코드(encode)하여 인코더(encoder)신호(24)로 출력한다.The
지연 최소 단위인 지연소자(16)의 지연값(delay)은 분해능을 높이기 위해서는 가능한 작은 값이면 좋다. 통상적으로 100MHz ~ 200MHz의 기준클럭(reference clock) 사용시 100psec ~ 150psec의 지연시간을 갖는다.The delay of the
위와 같이 작은 지연값을 갖는 지연소자(delay element)로 도 4에 도시한 바 와 같은 지연소자라인(dll_delay_line)(18)을 구성하는 경우, 많은 지연소자(180-18n)(delay element)로 구성을 해야 한다. 100MHz 기준클럭(reference clock)에서 하나의 지연소자라인(18)을 구성시 약 100개의 지연소자(180-18n)를 사용해야 한다.When the delay
도 5는 도 1의 리드처리부(30)의 상세회로도이다. 도 6은 지연제어클럭신호(clk_dqs)(304) 및 반전제어클럭신호(clk_dqs_n)(306)를 나타내는 파형도이다.5 is a detailed circuit diagram of the
도 5에 도시된 바와 같이, 리드처리부(30)는 리드제어신호 입력부(310), 제1 지연소자라인(320), 반전제어클럭신호생성부(300), 및 데이터리드부(330)를 포함한다. As shown in FIG. 5, the
리드제어신호 입력부(310)는 입력제어신호(input control signals)(312)에 따라 리드제어신호(read_dqs)(34)를 입력하여 클린리드제어신호(clean_dqs_mod)(314)를 출력한다. 인코더신호(encoder)(24)를 입력한 지연제어슬라이스(dll_delay_control_slice)(340)에서 출력되는 제어클럭선택신호(sel_clk_dqs)(344)에 따라, 제1 지연소자라인(320)은 클린리드제어신호(314)를 지연시켜 지연된 제어클럭신호(delayed_dps)(322)를 생성하여 출력한다.The read control
상기 반전제어클럭신호생성부(300)는 지연된 제어클럭신호(delayed_dps)(322)를 입력하여 지연제어클럭신호(clk_dqs)(304) 및 반전제어클럭신호(clk_dps_n)(306)를 출력한다. 상기 데이터리드부(330)는 지연제어클럭신호(clk_dqs)(304) 및 반전제어클럭신호(clk_dps_n)(306)를 이용하여 수신되는 데이터(read_data)(32)를 리드한다.The inversion control clock
상술된 바와 같이, 위상검출부(10)는 지연소자라인(18)을 통과한 기준클럭신호(2)의 위상을 검출하여, 기준클럭신호(2)가 몇개의 지연소자로 구성되는지 검출하는 역할을 수행한다. 따라서, 예를 들어 위상검출부(10)에 의해 기준클럭신호(2)가 80개의 지연소자를 통과하였을 때 360도의 위상차를 갖는 것으로 검출된 경우, 리드처리부(30)에서, 90도의 위상차를 갖도록 20개의 지연소자를 통과시킨 지연제어클럭신호(clk_dqs)(304)와, 상기 지연제어클럭신호(clk_dqs)와 180도의 위상차를 갖는 반전제어클럭신호(clk_dqs_n)(306)를 생성하여 리드 데이터(read data)를 캡쳐하는 방법을 통해 좁은 유효 데이터 윈도우(valid data window)에서도 데이터를 캡쳐할 수 있다. 데이터 라이트인 경우에도 수신단에 해당하는 DRAM, 예를 들어 DDR-SDRAM(더블 데이터 레이트 동기식 동적 램, Double Data Rate Synchronous DRAM)에서 데이터를 캡쳐하기 쉽게 라이트클럭신호(clk_wr)(42)를 지연 보상 회로(DCC)에서 생성한다. 이 때, 라이트클럭신호(clk_wr)(42) 역시 기준클럭신호(2)와 90도의 위상차를 갖도록 20개의 지연소자(delay cell)를 통과시켜 라이트클럭신호(clk_wr)(42)를 생성한다. 따라서, 새롭게 생성된 지연제어클럭신호(clk_dqs)(304), 반전제어클럭신호(clk_dqs_n)(306), 라이트클럭신호(clk_wr)(42), 제어클럭출력신호(clk_dqs_out)(44)를 이용하여, 좁은 유효 데이터 윈도우의 데이터를 정확하게 캡쳐할 수 있게 된다.As described above, the
도 6을 참조하면, 리드 데이터(read_data)(32), 리드제어신호(read_dqs)(34), 지연된 제어클럭신호(delayed_dqs)(322), 지연제어클럭신호(clk_dqs)(304), 및 반전제어클럭신호(clk_dqs_n)(306)의 파형들이 도시되어있다.6, read
상기와 같이 몇개의 지연소자를 통과하였을 때, 지연된 클럭신호가 기준클럭신호(2)와 360도의 위상차를 갖는지를 찾게 하기 위해서는 많은 개수의 지연소자로 지연소자라인(delay line)이 구성되어야 한다. 이는 DDR-SDRAM이 내장된 시스템의 동작 주파수(operating frequency)와 칩(chip)의 동작 조건(operating condition)을 모두 만족하기 위해서이다.As described above, in order to find out whether the delayed clock signal has a phase difference of 360 degrees from the
따라서, 지연소자 1개의 지연값이 80psec이고 시스템이 80MHz로 동작하는 경우, 지연소자의 개수는 대략 140개 정도 필요하게 된다. 이 경우, 140개의 지연소자를 통과하여 출력되는 지연된 클럭(delayed clock)의 듀티(duty)가 45% ~ 55%를 만족시키기는 용이하지 않다. 즉, 지연소자의 지연값에 초점을 맞추어 설계를 하면서 듀티까지 ±5%의 사양을 만족시키기는 용이하지 않다. Therefore, when the delay value of one delay element is 80 psec and the system operates at 80 MHz, the number of delay elements is about 140. In this case, the duty of the delayed clock output through the 140 delay elements is not easy to satisfy 45% to 55%. In other words, it is not easy to satisfy the specification of ± 5% up to the duty while designing with a focus on the delay value of the delay element.
이런 경우, 동일한 지연소자라인(delay line)을 리드처리부(30)와 라이트처리부(40)에서 재사용(reuse)해야 하는데, 리드처리부(30)에서 재사용하지 못할 수 있다. 왜냐하면, 외부에서 입력되는 리드제어신호(read_dqs)(34)가 20개의 지연소자를 통과하게 설정하여, (이때, 80개의 지연소자를 통과하였을 때, 지연된 클럭(delayed clock) 및 기준클럭의 위상차가 360도라고 하는 경우) 지연제어클럭신호(clk_dqs)(304)를 생성한 후 이 지연제어클럭신호(clk_dqs)(304)를 반전(inverting)시켜 반전제어클럭신호(clk_dqs_n)(306)를 생성할 때, 반전제어클럭신호(clk_dqs_n)(306)의 상승 에지(rising edge)가 원하는 위치에 있지 않게 되는 문제가 발생할 수 있다.In this case, the same delay line should be reused in the
따라서, 이런 문제가 발생하지 않게 하기 위해서는, 지연소자라인을 통과한 신호의 듀티(duty)가 ±5%가 되도록 설계해야 한다는 제약점을 갖게 된다.Therefore, in order to prevent such a problem from occurring, there is a limitation that the duty of the signal passing through the delay element line must be designed to be ± 5%.
하지만, 듀티 레이트(duty rate)와 지연소자의 지연에 대한 정확도(accuracy)를 모두 만족시키면서 지연소자라인을 설계하고 레이아웃(layout)하기는 용이하지가 않다는 문제점이 있다.However, there is a problem in that it is not easy to design and layout the delay element line while satisfying both the duty rate and the accuracy of delay of the delay element.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 상기와 같은 단점들을 해결하기 위하여, 듀티(duty)에 대한 제약 조건을 갖지 않는 지연소자라인을 이용하여 지연제어클럭신호를 180도의 위상차가 나도록 지연시켜 반전제어클럭신호를 생성하는 지연 보상 회로를 제공하는 데 있다.The technical problem to be solved by the present invention, to solve the above disadvantages, by using a delay element line having no constraint on the duty (duty) delay delay control clock signal by 180 degrees out of phase control clock It is to provide a delay compensation circuit for generating a signal.
본 발명은 상기한 기술적 과제를 달성하기 위하여, 입력 기준클럭신호의 위상을 검출하는 위상검출부;The present invention, phase detection unit for detecting the phase of the input reference clock signal in order to achieve the above technical problem;
상기 위상검출부로부터 출력되는 위상신호로부터 동기(locking) 여부를 판단하여 위상검출부의 지연값을 조정하는 지연제어부; 및A delay control unit for determining whether to lock from a phase signal output from the phase detection unit and adjusting a delay value of the phase detection unit; And
상기 지연제어부로부터 지연값을 입력받아 입력 신호를 지연시키는 지연처리부로서, 다수의 지연소자들을 이용하여 지연제어클럭신호를 180도의 위상차가 나도록 지연시켜 반전제어클럭신호를 생성하는 지연처리부를 포함하는 것을 특징으로 하는 지연 보상 회로를 제공한다.A delay processing unit for delaying an input signal by receiving a delay value from the delay control unit, comprising a delay processing unit for generating a reverse control clock signal by delaying the delay control clock signal by 180 degrees using a plurality of delay elements. A delay compensation circuit is provided.
바람직하기로는, 상기 지연처리부는 수신되는 데이터를 리드(read)하기 위해 리드제어신호를 지연시키는 리드처리부를 포함하고, 상기 리드처리부는 상기 제어 처리부로부터의 지연값에 따라 리드제어신호를 지연시켜 지연제어클럭신호를 생성하는 다수의 지연소자들을 구비하는 제1 지연소자라인; 및 상기 제1 지연소자라인으로부터 출력되는 지연제어클럭신호를 180도의 위상차가 나도록 지연시켜 반전제어클럭신호를 생성하는 다수의 지연소자들을 구비하는 제2 지연소자라인을 구비한다.Preferably, the delay processing section includes a read processing section for delaying a read control signal to read received data, wherein the read processing section delays the read control signal in accordance with a delay value from the control processing section. A first delay element line having a plurality of delay elements for generating a control clock signal; And a second delay element line including a plurality of delay elements for delaying the delay control clock signal output from the first delay element line by a phase difference of 180 degrees to generate an inversion control clock signal.
바람직하기로는, 상기 제2 지연소자라인에 사용되는 지연소자의 개수는 상기 제1 지연소자라인에 사용되는 지연소자의 2분의 1이다.Preferably, the number of delay elements used in the second delay element line is one half of the delay elements used in the first delay element line.
바람직하기로는, 상기 리드처리부는 상기 제2 지연소자라인으로부터 출력되는 반전제어클럭신호 및 지연제어클럭신호를 이용하여 수신되는 데이터를 리드하는 데이터 리드부를 더 포함한다.Preferably, the read processing unit further includes a data read unit for reading data received using the inversion control clock signal and the delay control clock signal output from the second delay element line.
바람직하기로는, 상기 지연 보상 회로는 주문형 반도체(ASIC) 또는 시스템 온 칩(SOC; System on a Chip)에 내장되고, 상기 주문형 반도체 또는 시스템 온 칩은 동적 랜덤 액세스 메모리(DRAM; dynamic random access memory)에 접속되어 데이터를 송수신하는 경우, 상기 지연 보상 회로를 이용하여 상기 DRAM의 제어 신호를 지연시킨다.Preferably, the delay compensation circuit is embedded in an application specific semiconductor (ASIC) or a system on a chip (SOC), and the application specific semiconductor or a system on chip is a dynamic random access memory (DRAM). In the case of being connected to and transmitting data, the delay compensation circuit is used to delay the control signal of the DRAM.
이하, 첨부한 도면을 참조하면서 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상세하게 설명한다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지기술 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 것이다. 그리고, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달 라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다. Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description of the present invention, when it is determined that detailed descriptions of related well-known technologies or configurations may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, the detailed description will be omitted. In addition, terms to be described below are terms defined in consideration of functions in the present invention, which may vary according to intention or custom of a user or an operator. Therefore, the definition should be made based on the contents throughout the specification.
종래 기술의 경우, 지연소자라인(delay line)의 특성상 지연소자라인을 통과한 신호의 듀티가 매우 중요한 인자(factor)로 작용한다. 그러나, 본 발명에 따라 지연소자라인을 이용하여, 반전제어클럭신호(clk_dqs_n)를 생성함으로써, 지연소자라인의 듀티 특성이 ±5%가 되지 않아도 된다. 따라서, 지연소자라인의 설계시에 듀티에 대해 고려하지않고, 지연소자(delay cell)의 지연값에 초점을 맞추어 설계가 가능하므로, 지연소자라인 설계를 용이하게 할 수 있으며, 좁은 유효 데이터 윈도우를 갖는 시스템에서도 리드 데이터를 정확하게 캡쳐할 수 있다.In the prior art, the duty of the signal passing through the delay element line is a very important factor due to the nature of the delay line. However, according to the present invention, the inversion control clock signal clk_dqs_n is generated using the delay element line, so that the duty characteristic of the delay element line does not have to be ± 5%. Therefore, it is possible to design the delay element line by focusing on the delay value of the delay cell without considering the duty when designing the delay element line, thereby facilitating the design of the delay element line and providing a narrow effective data window. Even with your system, you can capture lead data accurately.
본 발명에 따른 지연 보상 회로는 도 1 내지 도 4를 참조하여 상술된 지연 보상 회로(1)와 동일하다.The delay compensation circuit according to the present invention is the same as the
도 1을 참조하면, 본 발명에 따른 지연 보상 회로(1)는 위상검출부(10), 지연제어부(20), 및 지연처리부(30, 40)를 포함한다. 위상검출부(10)는 입력 기준클럭신호의 위상을 검출한다. 지연제어부(20)는 상기 위상검출부(10)로부터 출력되는 위상신호로부터 동기(locking) 여부를 판단하여 위상검출부(10)의 지연값을 조정한다.Referring to FIG. 1, the
도 2에 도시된 위상검출부(10), 도 3에 도시된 지연소자(16), 및 도 4에 도시된 지연소자라인(18)는 본 발명의 지연 보상 회로(1)에 동일하게 구성될 수 있다. 따라서, 상세한 설명은 생략한다.The
본 발명에 따른 지연처리부(30, 40)는 리드처리부(30) 및 라이트처리부(40)를 포함하고, 상기 지연제어부(20)로부터 지연제어신호의 인코더(encoder)신호(24)를 입력받아 입력 신호를 지연시키며, 다수의 지연소자들을 이용하여 지연제어클럭신호를 180도의 위상차가 나도록 지연시켜 반전제어클럭신호를 생성한다.The
도 7은 본 발명에 따른 지연 보상 회로(1)의 리드처리부(30)의 상세회로도이다.7 is a detailed circuit diagram of the
상기 지연처리부(30, 40)는 수신되는 데이터를 리드(read)하기 위해 리드제어신호(34)를 지연시키는 리드처리부(30)를 포함한다. 상기 리드처리부(30)는 제1 지연소자라인(320) 및 제2 지연소자라인(100)을 구비한다.The
제1 지연소자라인(320)은 다수의 지연소자들을 구비하여, 상기 지연제어부(20)로부터의 지연제어신호의 인코더신호에 따라 리드제어신호(read_dqs)(34)를 지연시켜 지연된 제어클럭신호(delayed_dqs)(322)를 생성한다. 상기 지연된 제어클럭신호(delayed_dqs)(322)는 지연제어클럭신호(clk_dqs)(304)로 사용될 수 있다.The first
제2 지연소자라인(100)은 다수의 지연소자들(110-11n)을 구비하여, 상기 제1 지연소자라인(320)으로부터 출력되는 지연제어클럭신호(clk_dqs)(304)를 180도의 위상차가 나도록 지연시켜 반전제어클럭신호(clk_dqs_n)(306)를 생성한다.The second
상기 제2 지연소자라인(100)에 사용되는 지연소자의 개수는 상기 제1 지연소자라인(320)에 사용되는 지연소자의 개수의 2분의 1이다.The number of delay elements used in the second
상기 리드처리부(30)는 또한 상기 제2 지연소자라인(100)으로부터 출력되는 반전제어클럭신호(306) 및 지연제어클럭신호(304)를 이용하여 수신되는 데이터를 리드하는 데이터 리드부(330)를 포함한다.The
즉, 종래에는 제1 지연소자라인(320)만을 구비하였으나, 제2 지연소자라인(100)을 추가로 구비하여, 제1 지연소자라인(320)의 듀티에 대한 부담을 줄이게 하였다. 이 때, 반전제어클럭신호(clk_dqs_n)(106)를 생성하기 위한 제2 지연소자라인(100)을 구성하는 지연소자의 개수는 일반 지연소자라인을 구성하는 지연소자 개수의 1/2이면 된다. 왜냐하면, 제2 지연소자라인(100)에서는 지연제어클럭신호(clk_dqs)(104)의 위상을 최대 180도만 지연시키기 때문이다.That is, in the related art, only the first
본 발명은 종래 기술의 동작과 유사하다. 종래에는, 지연된 제어클럭신호(delayed_dqs)(322)를 버퍼(buffer)(302; 도 5)를 통과시켜 지연제어클럭신호(clk_dqs)(304)를 생성하고, 인버터(308; 도 5)에서 반전(inverting)시켜 반전제어클럭신호(clk_dqs_n)(306)를 생성하였다. 하지만, 본 발명은 제1 지연소자라인(320)의 듀티 레이트(duty rate)에 대한 사양 부담을 제거하기 위해, 지연된 제어클럭신호(delayed_dqs)(322)를 지연제어클럭신호(clk_dqs)(104)로 사용하며, 지연된 제어클럭신호(322)가 다시 제2 지연소자라인(100)을 통과하게하여 180도 위상 시프트(shift)시켜 지연제어클럭신호(clk_dqs)(104)와 정확히 180도의 위상차를 갖는 반전제어클럭신호(clk_dqs_n)(106)를 생성한다.The present invention is similar to the operation of the prior art. Conventionally, a delayed control clock signal (delayed_dqs) 322 is passed through a buffer 302 (FIG. 5) to generate a delayed control clock signal (clk_dqs) 304, and inverted in the inverter 308 (FIG. 5). (inverting) to generate an inverted control clock signal (clk_dqs_n) 306. However, in order to eliminate the specification burden on the duty rate of the first
상기 지연 보상 회로(1)는 주문형 반도체(ASIC) 또는 시스템 온 칩(SOC; System on a Chip)에 내장될 수 있고, 상기 주문형 반도체 또는 시스템 온 칩은 동적 랜덤 액세스 메모리(DRAM; dynamic random access memory)에 접속되어 데이터를 송수신하는 경우, 상기 지연 보상 회로를 이용하여 상기 DRAM의 제어 신호를 지연시킬 수 있다.The
상술된 바와 같은 지연 보상 회로를 내장한 주문형 반도체 또는 시스템 온 칩은 프린터 또는 복합기에 구비되어, DRAM과의 원활한 데이터 송수신을 수행하는데 이용될 수 있다.The on-demand semiconductor or system on chip incorporating the delay compensation circuit as described above may be provided in a printer or a multifunction device and used to perform smooth data transmission and reception with a DRAM.
이상 본 발명의 바람직한 실시예에 대해 상세히 기술하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에 있어서 통상의 지식을 가진 사람이라면, 첨부된 청구범위에 정의된 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 본 발명을 여러 가지로 변형 또는 변경하여 실시할 수 있음을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 앞으로의 실시예들의 변경은 본 발명의 기술을 벗어날 수 없을 것이다.Although the preferred embodiments of the present invention have been described in detail above, those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains may make various changes without departing from the spirit and scope of the present invention as defined in the appended claims. It will be appreciated that modifications or variations may be made. Accordingly, modifications to future embodiments of the present invention will not depart from the technology of the present invention.
상술한 바와 같이, 본 발명을 이용하면, 추가로 지연소자라인을 구비하여 반전제어클럭신호를 생성함으로써, 기존의 지연소자라인의 듀티가 ±5%가 되지 않아도 된다. 따라서, 지연소자라인을 설계할 때, 듀티에 대한 부담을 줄일 수 있어, 지연소자라인을 효과적으로 설계할 수 있다. As described above, by using the present invention, the delay control line signal is further provided to generate the inversion control clock signal, so that the duty of the existing delay device line does not need to be ± 5%. Therefore, when designing the delay element line, the burden on the duty can be reduced, and the delay element line can be effectively designed.
또한, 유효 데이터 윈도우가 좁은 경우에도, 본 발명에 따른 지연 보상 회로를 이용하여 데이터 전송 관련 제어 신호들의 지연값을 조절하여 데이터를 정확하게 캡쳐할 수 있다.In addition, even when the valid data window is narrow, the delay compensation circuit according to the present invention can be used to accurately capture data by adjusting delay values of control signals related to data transmission.
따라서, 본 발명에 따른 지연 보상 회로를 이용하면 지연소자라인의 설계시에 듀티에 대해 고려하지 않고 지연소자의 지연값에 초점을 맞추어 설계할 수 있다.Therefore, the delay compensation circuit according to the present invention can be designed by focusing on the delay value of the delay element without considering the duty when designing the delay element line.
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