KR100633198B1 - Method for self-detecting temperature of optical driver and method for controlling of optical driver - Google Patents
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Abstract
본 발명은, R/F 내부 자동 파워제어(APC : Automatic Power Control) 회로를 이용하여 광학기기의 온도를 자가 검출하고, 이에 따라 장치의 서보 및 동작상태 관련값을 최적으로 설정하는 광학기기에서의 온도 검출방법 및 이에 따른 제어방법에 관한 것으로서, 광학기기 내에서, 자동파워제어부의 입력전압에 상응하여 출력되는 기록파워전압을 검출하는 단계; 기 저장된 출력전압과 온도의 상관관계 정보로부터 상기 검출된 기록파워전압에 대응하는 온도를 확인하는 단계; 및 상기 확인된 온도에 대응하여 기 저장된 제어정보를 독출하여 그에 따른 제어동작을 수행하는 단계를 포함하여 이루어져, 써미스터와 같은 별도의 부품 없이도 장치의 온도를 자가 검출할 수 있어 장치의 비용 및 부피가 불필요하게 상승하는 일이 없으며, 자가 검출된 장치의 온도에 따라 서보게인 및 기록관련 값들을 최적으로 설정함으로써 장치의 온도조건에 맞는 최적의 동작이 이루어지게 되는 매우 유용한 발명인 것이다.The present invention utilizes an automatic power control (APC) circuit in the R / F to self-detect the temperature of the optical device, and thus to optimally set the servo and operating state values of the device. A temperature detection method and a control method according thereto, comprising: detecting, in an optical device, a recording power voltage output corresponding to an input voltage of an automatic power control unit; Confirming a temperature corresponding to the detected recording power voltage from correlation information between previously stored output voltage and temperature; And reading out the pre-stored control information corresponding to the checked temperature and performing a control operation according to the temperature. Thus, the temperature and the volume of the device can be self-detected without a separate component such as a thermistor. It is a very useful invention that the optimum operation for the temperature condition of the device is achieved by setting the servo gain and the recording related values optimally according to the temperature of the self-detected device.
온도, APC, 타겟 베타, Write Strategy, OPCTemperature, APC, Target Beta, Write Strategy, OPC
Description
도 1은 본 발명에 따른 자가 온도 검출방법이 구현된 광학기기의 광학계의 구성을 도시한 것이고,1 illustrates a configuration of an optical system of an optical apparatus in which a self-temperature detecting method according to the present invention is implemented,
도 2는 스텝핑 모터에 도포되는 그리스(Grease)의 제조사 및 온도에 따른 주도(점성) 특성을 도시한 것이고,FIG. 2 illustrates the characteristics of the manufacturer of grease applied to the stepping motor and temperature (viscosity) according to temperature.
도 3은 실험을 통해 검출된 온도별 APC 회로 출력전압을 그래프 형태로 도시한 것이고,3 is a graph showing the output voltage of the APC circuit for each temperature detected through the experiment,
도 4는 실험을 통해 검출된 온도별 APC 회로 출력전압을 표 형태로 도시한 것이고,Figure 4 shows the APC circuit output voltage for each temperature detected through the experiment in the form of a table,
도 5 및 도 6은 본 발명에 따른 광학기기에서의 온도 검출방법 및 이에 따른 제어방법에 대한 일 실시예의 동작 흐름을 도시한 것이고,5 and 6 illustrate an operation flow of an embodiment of a temperature detection method and a control method according to the optical device according to the present invention,
도 7은 장치의 온도에 따른 트래킹, 포커스, 슬레드, 스핀들 서보 게인에 대한 조정예를 도시한 것이다.Figure 7 shows an example of adjustment to tracking, focus, sled, and spindle servo gain depending on the temperature of the device.
※ 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명※ Explanation of code for main part of drawing
10 : 광디스크 20 : APC 회로10: optical disk 20: APC circuit
21 : 게인&샘플/홀드기 22 : OP 앰프21: Gain & Sample / Holder 22: OP Amplifier
30 : 광픽업 31 : LD 구동기30: optical pickup 31: LD driver
32 : FPD 40 : VWDC 검출기32: FPD 40: VWDC Detector
50 : 마이컴 51 : 메모리50: microcomputer 51: memory
본 발명은, R/F 내부 자동 파워제어(APC : Automatic Power Control) 회로를 이용하여 광학기기의 온도를 자가 검출하고, 이에 따라 장치의 서보 및 동작상태 관련값을 최적으로 설정하는 광학기기에서의 온도 검출방법 및 이에 따른 제어방법에 관한 것이다.The present invention utilizes an automatic power control (APC) circuit in the R / F to self-detect the temperature of the optical device, and thus to optimally set the servo and operating state values of the device. It relates to a temperature detection method and a control method accordingly.
일반적으로, 광학기기(광디스크장치)의 서보동작 및 각종 동작상태의 안정을 위해서는 장치의 온도변화에 대응하여 서보 및 각종 동작상태 관련 값들을 최적으로 설정하여야 한다.In general, in order to stabilize the servo operation and the various operating states of the optical device (optical disk device), the servo and various operating state related values should be optimally set in response to the temperature change of the apparatus.
이를 위해, 종래에는 써미스터(Thermistor)와 같은 칩형(Chip-Type)의 부품을 주로 사용하여 장치의 온도를 검출하였으며, 상기 검출된 온도에 따라 서보 게인(예를 들어, 트래킹, 포커스, 슬레드, 스핀들 서보 게인) 및 각종 동작상태 관련 값들(예를 들어, OPC 동작에 관련된 타겟 파워, 타겟 베타(또는 타겟 감마), 옵티멈 라이트 스트러티지 등)을 최적으로 설정하게 된다.To this end, conventionally, the temperature of the device is mainly detected by using a chip-type component such as a thermistor, and the servo gain (for example, tracking, focus, sled, Spindle servo gain) and various operating state related values (eg, target power, target beta (or target gamma), optimal light strategy, etc., related to OPC operation) are optimally set.
그러나, 상기한 바와 같이 종래에는 광디스크장치의 온도를 검출하기 위해 써미스터와 같은 별도의 부품을 구비하여야 하므로 장치의 비용 및 부피가 상응하는 문제점이 있었다.However, as described above, in order to detect the temperature of the optical disk apparatus, a separate component such as a thermistor has to be provided, so that the cost and volume of the apparatus have corresponding problems.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 창작된 것으로서, 써미스터와 같은 별도의 부품 없이도 장치의 온도를 자가 검출하고, 이에 따라 서보 게인 및 각종 동작상태 관련 값들을 최적으로 설정토록 하는 광학기기에서의 온도 검출방법 및 이에 따른 제어방법을 제공하는 데 그 목적이 있는 것이다.
Therefore, the present invention was created to solve the above problems, and it is an optical device that self-detects the temperature of the device without a separate component such as a thermistor, and thereby optimally sets servo gain and various operating state related values. It is an object of the present invention to provide a temperature detection method and a control method accordingly.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 광학기기에서의 온도 검출방법은, 광학기기 내에서, 자동파워제어부의 입력전압에 상응하여 출력되는 기록파워전압을 검출하는 단계; 및 기 저장된 출력전압과 온도의 상관관계 정보로부터 상기 검출된 기록파워전압에 대응하는 온도를 확인하는 단계를 포함하여 이루어지는 것과,According to an aspect of the present invention, there is provided a method of detecting a temperature in an optical device, the method comprising: detecting, in an optical device, a recording power voltage output corresponding to an input voltage of an automatic power control unit; And confirming a temperature corresponding to the detected recording power voltage from correlation information between prestored output voltage and temperature.
광학기기 내에서, 자동파워제어부의 입력전압에 상응하여 출력되는 기록파워전압을 검출하는 단계; 및 기 저장된 입력전압, 출력전압과 온도의 상관관계 정보로부터 상기 검출된 기록파워전압에 대응하는 온도를 확인하는 단계를 포함하여 이루어지는 것에 각각 그 특징이 있는 것이며,Detecting, in the optical device, a recording power voltage output corresponding to the input voltage of the automatic power control unit; And confirming a temperature corresponding to the detected recording power voltage from correlation information between pre-stored input voltage, output voltage and temperature, respectively.
또한 본 발명에 따른 광학기기에서의 온도 검출방법에 따른 제어방법은, 광학기기 내에서, 자동파워제어부의 입력전압에 상응하여 출력되는 기록파워전압을 검출하는 단계; 기 저장된 출력전압과 온도의 상관관계 정보로부터 상기 검출된 기록파워전압에 대응하는 온도를 확인하는 단계; 및 상기 확인된 온도에 대응하여 기 저장된 제어정보를 독출하여 그에 따른 제어동작을 수행하는 단계를 포함하여 이루어지는 것과,In addition, the control method according to the temperature detection method in the optical device according to the present invention includes the steps of: detecting in the optical device the recording power voltage output corresponding to the input voltage of the automatic power control unit; Confirming a temperature corresponding to the detected recording power voltage from correlation information between previously stored output voltage and temperature; And reading out previously stored control information corresponding to the checked temperature, and performing a control operation according to the read temperature.
광학기기 내에서, 자동파워제어부의 입력전압에 상응하여 출력되는 기록파워전압을 검출하는 단계; 기 저장된 입력전압, 출력전압과 온도의 상관관계 정보로부터 상기 검출된 기록파워전압에 대응하는 온도를 확인하는 단계; 및 상기 확인된 온도에 대응하여 기 저장된 제어정보를 독출하여 그에 따른 제어동작을 수행하는 단계를 포함하여 이루어지는 것에 각각 그 특징이 있는 것이다. Detecting, in the optical device, a recording power voltage output corresponding to the input voltage of the automatic power control unit; Confirming a temperature corresponding to the detected recording power voltage from correlation information between previously stored input voltage, output voltage and temperature; And reading the pre-stored control information corresponding to the identified temperature and performing a control operation according thereto.
이하, 본 발명에 따른 광학기기에서의 온도 검출방법 및 이에 따른 제어방법의 바람직한 실시예에 대해, 첨부된 도면에 의거하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a preferred embodiment of a temperature detection method and a control method according to the optical device according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명에 따른 자가 온도 검출방법이 구현된 광학기기(광디스크장치)의 광학계의 구성을 도시한 것으로서, 게인&샘플/홀드기(21)와 OP 앰프(22)로 구성되어, 입력되는 FPDO 신호와 입력전압(WDAC)에 근거한 기록파워 전압(VWDC)을 출력하는 자동 파워제어(APC) 회로(20); 상기 출력되는 기록파워 전압에 상응하는 광 빔을 출력하는 LD 구동기(31)와, 상기 LD 구동기(31)가 출력하는 광 빔을 검출하여 이에 상응하는 상기 FPDO 신호를 출력하는 프론트 포토 디텍터(FPD : Front Photo Detector)(32)로 구성되는 광픽업(30); 상기 APC 회로(20)로부터 출력되는 기록파워 전압(VWDC)을 검출하는 VWDC 검출기(40); 광디스크 장치의 설계 및 제조공정 단계에서 검출된 장치의 온도 관련 데이터 및 장치의 각 온도조건에서의 각 디스크 제조사별 기록배속별 타겟 파워, 타겟 베타, 그리고 옵티멈 라이트 스트러티지가 펌웨어(Firmware) 형태로 저장되는 메모리(EEPROM)(51); 및 상기 검출된 출력전압에 따라 서보 게인 및 장치의 각종 동작상태 관련 값들을 최적으로 설정하 며, 요청된 동작을 제어 및 수행하는 마이컴(50)을 포함하여 구성되어 있다.1 is a block diagram illustrating an optical system of an optical device (optical disk device) in which a self-temperature detection method according to the present invention is implemented, and includes a gain & sample /
본 발명에 따른 상기의 구성에서, 상기 APC 회로(20)는 상기 광디스크장치의 R/F IC의 내부에 구성되는 회로로서, 상기 광디스크장치가 데이터를 기록하기 위해서는 레이저파워(기록파워)가 필요한데, 상기 레이저파워는 상기 APC 회로(20)의 입력전압(WDAC)에 의해 결정되며, 통상적으로 상기 레이저파워는 최초 레이저파워 셋팅시에 설정된 후 상기 APC 회로(20)에 의해 일정하게 유지 출력된다.In the above configuration according to the present invention, the
상기 FPDO 신호는 상기 LD 구동기(31)가 출력하는 광 빔에 상응하는 신호로서 이는 상기 FPD(32)에 의해 피드백되고, 상기 입력전압(WDAC)은 설정된 기록파워에 상응하는 값으로서 상기 APC 회로(20)는 상기 FPD(32)로부터 피드백되는 FPDO 신호와 외부 디지털/아날로그 컨버터(DAC)를 통해 인가되는 입력전압(WDAC)에 상응하는 기록파워 전압(VWDC)을 출력함으로써, 설정된 기록파워가 일정하게 유지 출력되도록 한다.The FPDO signal corresponds to a light beam output from the
상기 광디스크장치에서 상기 광픽업(30)을 이동시키는 슬레드 모터가 스텝핑 모터로 구성되어 있는 경우, 상기 스텝핑 모터의 리드 스큐(Lead Screw)에는 상기 스텝핑 모터 구동시의 마모를 방지하기 위해 그리스(Grease)와 같은 액체가 적정량 도포되어 있는데, 이 액체는 도 2에 예시한 바와 같이 제조사 및 온도에 따라 서로 다른 주도(점성) 특성을 갖게 된다.When the sled motor for moving the
따라서, 본 발명에서는 상기 마이컴(50)이 상기 광디스크장치의 현재 온도에 따라 상기 스텝핑 모터에 대한 제어동작을 수행하게 되는데, 이에 대해서는 하기에서 상세히 설명하기로 한다.Therefore, in the present invention, the
한편, 상기 광디스크장치(Set)의 설계 단계에서는 동일모델의 여러 셋트 각각에 대해 T1(저온-약 0도), T4(상온(Room Temperature)-약 23도), T7(고온-약 50도)에서의 일정 입력전압(WDAC)에 대한 상기 APC 회로(20)의 출력전압(VWDC)을 각각 검출하는데, 이때 각 셋트마다 검출되는 상기 출력전압의 값은 동일하지는 않지만 도 3에서와 같이 비슷한 정규분포를 갖는다.On the other hand, in the design stage of the optical disk device (Set), T1 (low temperature-about 0 degrees), T4 (room temperature-about 23 degrees), T7 (high temperature-about 50 degrees) for each set of the same model Detects the output voltage VWDC of the
도 4는 상기 동일모델의 여러 셋트에 대해 실험을 통해 검출된 상기 출력전압의 예를 도시한 것으로서, 도 3의 그래프 및 도 4의 테이블을 통해 상기 APC 회로(20)의 출력전압과 온도와의 상관관계, 즉 상기 출력전압은 장치의 온도에 비례함을 알 수 있다.FIG. 4 illustrates an example of the output voltage detected through experiments for various sets of the same model. The output voltage and temperature of the
한편, 상기 T1에서의 출력전압을 Vt1, T4에서의 출력전압을 Vt4(=Vroom), T7에서의 출력전압을 Vt7이라 한다.The output voltage at T1 is referred to as Vt1, the output voltage at T4 is referred to as Vt4 (= Vroom), and the output voltage at T7 is referred to as Vt7.
이와 같이 동일모델의 여러 셋트 각각에 대해 Vt1, Vt4, Vt7이 각각 구해지면 이들의 평균값, 즉 여러 Vt1, 여러 Vt4, 그리고 여러 Vt7의 평균값을 각각 구한 다음, 하기의 산출식에 따라 dV 및 dV'를 검출한다.When Vt1, Vt4, and Vt7 are obtained for each of the sets of the same model, the average value of them, that is, the average value of several Vt1, several Vt4, and several Vt7, is calculated, and then dV and dV ' Detect.
(산출식)(Calculation type)
dV=Vt7(고온)의 평균값-Vt4(상온)의 평균값dV = average value of Vt7 (high temperature)-average value of Vt4 (room temperature)
dV'=Vt4(상온)의 평균값-Vt1(저온)의 평균값dV '= average value of Vt4 (room temperature)-average value of Vt1 (low temperature)
상기 산출식에 따라 검출되는 dV 및 dV'는 펌웨어 형태로 상기 동일모델의 여러 셋트 각각의 메모리(51)에 저장된다.The dV and dV 'detected according to the calculation formula are stored in the
또한, 상기 셋트의 설계단계에서는 상기 셋트의 노멀(Normal) 온도조건(상 온)에서의 각 디스크 제조사별 기록배속별 타겟 파워(Target Power), 타겟 베타(Target β), 그리고 옵티멈(Optimum) 라이트 스트러티지(Write Strategy) 등이 실험에 의해 검출되어 상기 메모리(51)에 펌웨어 형태로 저장되는데, 상기 OPC 동작의 결과값, 즉 최적 기록파워는 셋트의 온도조건에 따라 그 값이 달라질 수 있다. 즉 상온에서 보다 저온에서 검출된 최적 기록파워 값이 더 크고, 또한 상온에서 보다 고온에서 검출된 최적 기록파워 값이 더 작을 수 있다.Further, in the design stage of the set, target power, target beta, and optimal light of each disc manufacturer in the normal temperature condition (room temperature) of the set are recorded. A write strategy is detected by an experiment and stored in the
이에 대한 요인으로, 우선 저온 또는 고온에서는 디스크 재질의 특성변화로 인해 OPC 결과값이 달라질 수 있다.As a factor for this, at low or high temperatures, the OPC result may be changed due to the change in the characteristics of the disk material.
또, 저온 또는 고온에서 광을 조사시에는 광 펄스의 딜레이 타임(Delay Time)에 약간의 변화가 생기는데 이는 라이트 스트러티지가 변화된 듯한 효과를 가져온다. 이때 라이트 스트러티지는 기록펄스를 의미하므로 라이트 스트러티지의 변화에 따라 OPC 결과값이 달라질 수 있다.In addition, when irradiating light at a low temperature or high temperature, a slight change occurs in the delay time of the light pulse, which results in a change in the light strategy. At this time, since the write strategy means the recording pulse, the OPC result value may vary according to the change of the write strategy.
또한, 대부분의 광픽업(30)은 접착부위를 접착제로 바운딩(Bounding)하는데, 접착제의 온도특성에 따라 저온 또는 고온에서 광 빔의 틸트가 발생할 수 있으며 이에 따라 OPC 결과값이 달라질 수 있다.In addition, most of the
따라서, 본 발명에서는 셋트의 설계단계에서 상온(약 23도) 환경에서뿐만 아니라, 저온(약 0도) 및 고온(약 50도) 환경에서의 각 디스크 제조사별 기록배속별 타겟 파워, 타겟 베타, 그리고 옵티멈 라이트 스트러티지를 실험에 의해 각각 검출하여 이 또한 펌웨어 형태로 상기 메모리(51)에 저장함으로써, 추후 상기 저장된 값을 토대로 셋트의 온도에 관계없이 OPC 동작을 통해 최적의 기록파워를 얻을 수 있도록 한다.Therefore, in the present invention, in the design stage of the set, not only at room temperature (about 23 degrees), but also at low temperature (about 0 degrees) and high temperature (about 50 degrees), the target power of each disc manufacturer by recording speed, target beta, and By detecting each of the Optimum Light Strategies by experiment and storing them in the
한편, 상기 셋트의 제조공정 단계에서는, 상기 T4(상온-약 23도) 환경에서의 일정 입력전압에 상응하는 상기 APC 회로(20)의 출력전압을 검출하는데, 이때에는 상기 셋트에 대해 일정 입력전압을 1초 단위로 여러번(예를 들어, 5번) 연속 인가하고 이로부터 검출되는 여러 출력전압의 평균값을 상기 T4에서의 출력전압(Vroom=Vt4)으로 검출하여 상기 메모리(51)에 저장한다.On the other hand, in the manufacturing process step of the set, the output voltage of the
도 5 및 도 6은 본 발명에 따른 광학기기에서의 온도 검출방법 및 이에 따른 제어방법에 대한 바람직한 일 실시예의 동작 흐름도로서, 이하에서는 도 1의 구성을 참조하여 본 발명에 따른 도 5 및 도 6의 온도 검출방법 및 이에 따른 제어방법에 대해 상세히 설명한다.5 and 6 are flowcharts illustrating an exemplary embodiment of a temperature detection method and a control method according to the present invention. Hereinafter, FIGS. 5 and 6 according to the present invention will be described with reference to the configuration of FIG. 1. The temperature detection method and the control method according to it will be described in detail.
먼저, 광디스크(10)의 삽입 장착에 따른 초기 동작시에(S10), 상기 마이컴(50)은 상기 APC 회로(20)에 일정 입력전압(WDAC)이 인가되도록 하고(S11), 상기 VWDC 검출기(40)는 상기 입력전압에 상응하여 출력되는 기록파워 전압(VWDC)을 검출하며(S12), 상기 마이컴(50)은 상기 검출된 전압값으로부터 상기 셋트의 현재 온도가 고온 또는 저온인지를 검출하는데(S13), 이때에도 상기 마이컴(50)은 상기에서와 같이 상기 일정 입력전압을 1초 단위로 여러번(예를 들어, 5번) 연속 인가하고 이로부터 검출되는 여러 출력전압의 평균값에 근거하여 상기 셋트의 온도를 검출하게 되는데, 상기 온도 검출 조건은 다음과 같다.First, in the initial operation according to the insertion and mounting of the optical disk 10 (S10), the
즉, Vtmp > Vroom + dV → 고온으로 검출, Vtmp < Vroom - dV' → 저온으 로 검출한다.That is, Vtmp <Vroom + dV → high temperature detection, Vtmp <Vroom-dV '→ low temperature detection.
상기 마이컴(50)은 상기 검출된 장치의 온도를 기억하는 한편, 상기 검출된 장치의 온도가 고온 또는 저온인 경우에는(S20) 상기 광디스크장치의 슬레드 모터(스텝핑 모터)에 대한 제어동작을 수행하게 되는데, 즉 저온으로 검출된 경우, 상기 마이컴(50)은 상기 스텝핑 모터의 슬레드 게인값을 증가시키는데, 이는 도 2에서와 같이 저온에서는 상온 대비하여 그리스의 주도가 낮으므로 상기 스텝핑 모터의 부하가 상대적으로 크기 때문이다.The
한편 고온으로 검출된 경우, 상기 마이컴(50)은 상기 스텝핑 모터의 슬레드 게인값을 감소시키는데(S21), 이는 도 2에서와 같이 고온에서는 상온 대비하여 그리스의 주도가 높으므로 상기 스텝핑 모터의 부하가 상대적으로 작기 때문이다.On the other hand, when detected at a high temperature, the
도 7은 장치의 온도에 따른 트래킹, 포커스, 슬레드, 스핀들 서보 게인에 대한 조정예를 도시한 것으로서, 상기의 실시예는 장치의 온도에 따라 슬레드 서보 게인을 조정하는 것이나, 장치의 온도에 따라 상기 스텝핑 모터의 트래킹 및 포커스 서보 게인과, 상기 광디스크(10)를 회전시키는 스핀들 모터의 스핀들 서보 게인도 함께 조정할 수 있다.Fig. 7 shows an example of adjusting the tracking, focus, sled, and spindle servo gains according to the temperature of the apparatus. The above embodiment adjusts the sled servo gain according to the temperature of the apparatus. Accordingly, the tracking and focus servo gain of the stepping motor and the spindle servo gain of the spindle motor for rotating the
한편, 상기 마이컴(50)은 최적 기록파워 검출을 위한 OPC 동작을 수행하는데, 이는 다음과 같다.On the other hand, the
우선, OPC 동작을 위해 상기 마이컴(50)은 상기 검출된 장치의 온도와, 상기 광디스크(10)의 제조사 및 해당 OPC 기록배속에 연계 저장되어 있는 타겟 파워, 타겟 베타, 그리고 옵티멈 라이트 스트러티지를 상기 메모리(51)로부터 독출한다(S22).First, for the OPC operation, the
상기 마이컴(50)은 상기 독출된 타겟 파워(예를 들어, 8mW)를 기준으로 기록파워가 소정크기씩 변화되도록 제어하고, 상기 광픽업(30)은 상기 소정크기씩 변화되는 기록파워로 상기 광디스크(10)의 PCA 영역내의 테스트영역에 소정(=15Block)의 테스트데이터를 기록하게 되는데, 이때의 기록펄스는 상기 검출된 라이트 스트러티지에 따른다.The
상기 테스트데이터의 기록이 완료되면, 상기 마이컴(50)은 상기 광픽업(30)을 제어하여 상기 기록된 테스트데이터를 순차적으로 독출하도록 하고, 상기 순차적으로 독출되어 R/F부로부터 출력되는 재생신호로부터 β값을 검출하게 되는데, 상기 β값은 재생 RF신호의 비대칭정도(Asymmetry)를 나타내는 값이다.When the recording of the test data is completed, the
상기 β값 검출이 완료되면, 상기 마이컴(50)은 상기 검출된 β값을 얻게된 각 기록파워에 의해 곡선의 함수를 fitting한 다음 상기와 같이 얻어진 곡선과 상기 검출된 타겟 베타로부터 최적 기록파워를 검출한다(S23).When the β value detection is completed, the
상기 OPC 동작을 통해 상기 셋트의 현재 온도조건에서의 최적 기록파워가 검출된 상태에서, 기록동작이 요청되면(S30) 상기 마이컴(50)은 상기 검출된 최적 기록파워로부터 요청된 기록배속에 상응하는 최적 기록파워를 산출(S31)하는 한편, 상기 요청된 기록배속에 연계 저장된 해당 옵티멈 라이트 스트러티지를 상기 메모리(51)로부터 독출하고, 기록종료 시까지 상기 산출된 최적 기록파워 및 상기 독출 확인된 옵티멈 라이트 스트러티지를 적용하여 요청된 기록동작을 수행하게 된다(S32, S40).In the state where the optimum recording power is detected at the current temperature condition of the set through the OPC operation, when a recording operation is requested (S30), the
상기의 실시예에서, 상기 타겟 베타(Target β)는 1회 기록 가능한 디스크(예를 들어, CD-R)에 대해 적용 가능한 것으로서, 재기록 가능한 디스크(예를 들어, CD-RW)의 경우는 타겟 감마(Target γ)를 적용하게 된다.In the above embodiment, the target beta (Target β) is applicable to a write once disc (eg CD-R), and in the case of a rewritable disc (eg CD-RW) Gamma (Target γ) is applied.
한편, 지금까지 상기한 실시예는 일정(Fix) 입력전압에 상응하는 상기 APC 회로(20)의 출력전압과 셋트 온도의 상관관계를 미리 검출하고, 이에 근거하여 상기 APC 회로(20)의 출력전압에 따른 셋트의 현재 온도를 검출 및 이에 따른 제어동작을 수행하는 것이나, 상기 입력전압이 상황에 따라 달라질 수 있는 경우를 고려하여 각 입력전압과 출력전압, 그리고 셋트 온도의 상관관계를 미리 검출하고, 이에 근거하여 상기 입력전압과 이에 상응하는 상기 APC 회로(20)의 출력전압으로부터 셋트의 현재 온도를 검출 및 이에 따른 제어동작을 수행토록 할 수도 있다.In the meantime, the above-described embodiment detects in advance the correlation between the output voltage of the
이상 전술한 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것으로, 당업자라면 이하 첨부된 특허청구범위에 개시된 본 발명의 기술적 사상과 그 기술적 범위 내에서, 다양한 다른 실시예들을 개량, 변경, 대체 또는 부가 등이 가능할 것이다.The above-described preferred embodiments of the present invention are disclosed for purposes of illustration, and those skilled in the art can improve, change, and substitute various other embodiments within the technical spirit and scope of the present invention disclosed in the appended claims below. Or addition may be possible.
상기와 같이 이루어지는 본 발명에 따른 광학기기에서의 온도 검출방법 및 이에 따른 제어방법은, 써미스터와 같은 별도의 부품 없이도, 일정 입력전압에 대한 R/F 내부 자동 파워제어(APC) 회로의 출력전압에 근거하여 장치의 온도를 자가 검출할 수 있어 장치의 비용 및 부피가 불필요하게 상승하는 일이 없으며, 자가 검출된 장치의 온도에 따라 서보게인 및 기록관련 값들을 최적으로 설정함으로써 장치의 온도조건에 맞는 최적의 동작이 이루어지게 되는 매우 유용한 발명인 것이다.The temperature detection method and the control method according to the present invention according to the present invention made as described above, the output voltage of the R / F internal automatic power control (APC) circuit for a constant input voltage, without a separate component such as thermistor Based on the self-detection of the temperature of the device, the cost and volume of the device are not unnecessarily increased, and the servo gain and recording-related values are optimally set according to the temperature of the self-detected device. It is a very useful invention in which the optimum operation is achieved.
Claims (16)
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