KR100628889B1 - static elctricity sensor and apparatus for measuring static elctricity having the same - Google Patents
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Abstract
정전기 센서 및 정전기 측정 장치에서, 정전기 센서는 대상물의 표면이 띠는 정전기로 구동 전압을 형성하는 전극부 및 전극부와 연결되며 구동 전압에 의해 발광하는 유기 이엘을 갖는 발광부를 포함한다. 그리고 정전기 측정 장치는 정전기 센서와 정전기 센서를 대상물을 따라 이동시키기 위한 이동부를 포함한다. 따라서, 유기 이엘과 투명 전극을 사용함으로서 실시간으로 정전기 센서의 색체 변화를 통해 정전기 분포를 정확하게 측정하며 정전기 대전현상을 분석하여 정전기 발생 원인을 효과적으로 규명할 수 있다. In the electrostatic sensor and the electrostatic measuring device, the electrostatic sensor includes an electrode portion that forms a driving voltage with static electricity on the surface of the object, and a light emitting portion having an organic EL that is connected to the electrode portion and emits light by the driving voltage. The static electricity measuring device includes a static electricity sensor and a moving unit for moving the static electricity sensor along the object. Therefore, by using the organic EL and the transparent electrode can accurately determine the distribution of static electricity through the color change of the electrostatic sensor in real time and analyze the electrostatic charging phenomenon can effectively identify the cause of static electricity.
Description
도 1은 본 발명의 실시예 1에 따른 정전기 센서를 나타내는 개략적인 단면도이다.1 is a schematic cross-sectional view showing an electrostatic sensor according to Embodiment 1 of the present invention.
도 2는 본 발명의 실시예 2에 따른 정전기 측정 장치를 나타내는 개략적인 사시도이다.2 is a schematic perspective view of a static electricity measuring apparatus according to Embodiment 2 of the present invention.
도 3은 본 발명의 실시예 3에 따른 정전기 측정 장치를 나타내는 개략적인 사시도이다. 3 is a schematic perspective view showing a static electricity measuring device according to a third embodiment of the present invention.
도 4는 도 3에 도시된 실시예 3에 따른 정전기 측정 장치에 설치된 실시예 1에 따른 정전기 센서를 나타내는 개략적인 단면도이다. FIG. 4 is a schematic cross-sectional view illustrating an electrostatic sensor according to Embodiment 1 installed in the electrostatic measuring device according to Embodiment 3 shown in FIG. 3.
도 5는 본 발명의 실시예 4에 따른 정전기 측정 장치를 나타내는 개략적인 사시도이다. 5 is a schematic perspective view of a static electricity measuring apparatus according to Embodiment 4 of the present invention.
도 6은 도 5에 도시된 실시예 4에 따른 정전기 측정 정치에 설치된 실시예 1에 따른 정전기 센서를 나타내는 개략적인 단면도이다. FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing an electrostatic sensor according to Embodiment 1 installed in an electrostatic measurement station according to Embodiment 4 shown in FIG. 5.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
10:상부 투명 전극 20:하부 투명 전극10: upper transparent electrode 20: lower transparent electrode
30:유기 이엘 절연층 40:제어부30: organic EL insulation layer 40: control unit
본 발명의 정전기 센서 및 이를 갖는 정전기 측정 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 일반적으로 반도체 기판이나 유리 기판에 발생되는 전위를 측정하는 정전기 센서 및 이를 갖는 정전기 측정 장치에 관한 것이다. The present invention relates to an electrostatic sensor and an electrostatic measuring device having the same. More particularly, the present invention relates to an electrostatic sensor for measuring a potential generated in a semiconductor substrate or a glass substrate and an electrostatic measuring apparatus having the same.
일반적으로, 정전기(static elctricity)는 대전에 의하여 발생되는 대전체의 표면이 가지는 저항이 커서 방전되지 못하고 축적됨으로써 형성된다. 상기 정전기는 반도체 기판 또는 유리 기판을 이용하는 제조 공정에 있어서 수율을 향상시키기 위하여 제거되는 것이 바람직하다. In general, static elctricity is formed by accumulating and not discharging because the resistance of the surface of the charge generated by charging is large. The static electricity is preferably removed in order to improve the yield in the manufacturing process using a semiconductor substrate or a glass substrate.
반도체 기판 또는 유리 기판을 제조하는 공정에는 정전기가 발생되는 요인들은 다양하다. 우선 비대전체가 대전체와 접촉되는 경우 비대전체상에 대전체와 동일 극성으로 정전기가 형성될 수 있다. 또한, 접촉된 두 물체가 분리될 때 마찰계수의 차에 의하여 발생되는 전자 이동에 의하여 두 물체에 정전기가 형성될 수 있다. 그리고 이온 주입 공정에서 이온이나, 전자 또는 알파 파티클 등이 반도체 기판에 충돌되면 반도체 기판에서는 에너지 전이가 발생되어서 정전기가 형성될 수 있다. 그리고, 스프레이되는 물질과 마찰되는 경우 반도체 기판이나 유리 기판에 정전기가 형성될 수 있으며, 단순한 온도 상승에 따른 전자 에너지의 증가로 인한 전자 방출에 의하여 정전기가 형성될 수 있다. 또한, 비대전체가 전기장 내에 위치될 때 대전으로 정전기가 형성될 수 있다.There are various factors that generate static electricity in the process of manufacturing a semiconductor substrate or a glass substrate. First, when the non-charger is in contact with the charge, static electricity may be formed on the non-charger with the same polarity as the charge. In addition, when two objects in contact are separated, static electricity may be formed on the two objects due to the electron movement generated by the difference in the coefficient of friction. In the ion implantation process, when ions, electrons, or alpha particles collide with the semiconductor substrate, energy transfer may occur in the semiconductor substrate, thereby generating static electricity. In addition, static electricity may be formed on the semiconductor substrate or the glass substrate when rubbed with the sprayed material, and static electricity may be formed by electron emission due to an increase in electron energy due to a simple temperature rise. In addition, static electricity may be formed by charging when the non-charger is positioned in the electric field.
전술한 바와 같은 다양한 원인으로 형성되는 정전기는 제조 공정 중 반도체 기판이나 유리 기판에 집진하여 파티클 불량을 발생시키는 주 원인으로 발생되고 있다. 그리고 정전기로 인하여 방전이 발생되는 경우 정전기의 전위는 수백 또는 수천 볼트(Volt) 정도의 레벨을 갖는다. 고집적화된 칩이 형성되는 반도체 기판은 수십 볼트 정도의 대전 전위에 의해서도 소자가 파괴되는 심각한 영향을 받는다. 특히, 최근의 반도체 기판이 대구경화되고 액정 디스플레이 장치(LCD)가 대화면화됨에 따라서 표면 정전기에 대한 효과적인 평가 방법과 정전기의 방전 대책이 절실하게 요구되고 있다. Static electricity formed by various causes as described above is generated as a main cause of particle defects by collecting dust on a semiconductor substrate or a glass substrate during a manufacturing process. And when the discharge is generated due to static electricity, the potential of the static electricity has a level of several hundred or thousands of volts (Volt). The semiconductor substrate on which the highly integrated chip is formed is severely affected by the destruction of the device even by a charging potential of several tens of volts. In particular, as semiconductor substrates have been large-sized in recent years and liquid crystal display devices (LCDs) have become large screens, effective evaluation methods for surface static electricity and countermeasures against discharge of static electricity are urgently required.
현재에는 반도체 기판이나 유리 기판에 형성된 정전기를 제거하는 대책으로는 국부적인 이오나이저(ionizer)를 설치하여 양, 음의 고전압을 인가함으로써 코로나 방전(Corona Discharge)을 일으켜서 전극주위의 공기를 양, 음으로 이온화하여 대전되어 있는 전하를 공기 중의 역극성의 이온으로 중화시키 정전기를 제고 및 대전을 방지하였다. Currently, as a countermeasure for eliminating static electricity formed on a semiconductor substrate or a glass substrate, a local ionizer is installed to apply a positive and negative high voltage to generate a corona discharge, thereby generating air around the electrode. The charge charged by ionization was neutralized with reverse polarized ions in the air to prevent static electricity and prevent charging.
또한 포인트(point sensor)를 이용하여 국부적인 영역의 반도체 기판 및 유리 기판에 발생된 정전기를 측정하였다. In addition, the static electricity generated in the semiconductor substrate and the glass substrate in the local region was measured by using a point sensor.
그러나, 전술한 종래의 포인트 센서를 사용하는 경우 정전기 측정을 위해서 별도의 로드/언로드 설비가 필요하여 설치상의 문제점이 있었다. However, in the case of using the above-described conventional point sensor, there is a problem in installation because a separate load / unload facility is required for static electricity measurement.
또한 반도체 기판이나 유리 기판의 정전기 분포를 정확하게 측정하기 어려웠고 이로 인해 정전기 대전현상을 분석하여 그 발생원인을 규명하기 어려운 문제점이 있었다. In addition, it was difficult to accurately measure the static electricity distribution of the semiconductor substrate or the glass substrate, and thus, it was difficult to determine the cause of the static electricity by analyzing the electrostatic charging phenomenon.
본 발명의 제 1 목적은 대상물의 표면 정전기를 사용하여 구동될 수 있는 정전기 센서를 제공하는 것이다. It is a first object of the present invention to provide an electrostatic sensor which can be driven using surface static electricity of an object.
본 발명의 제 2 목적은 상기 정전기 센서를 구비하며 대상물의 정전기를 측정할 수 있는 정전기 측정 장치를 제공하는 것이다.It is a second object of the present invention to provide an electrostatic measuring device including the electrostatic sensor and capable of measuring static electricity of an object.
상기 제 1 목적을 달성하기 위한 본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 정전기 센서는, 표면에 정전기를 띠는 대상물과 일정한 간격을 유지하도록 배치되어 상기 정전기의 극성에 대하여 반대 극성으로 대전되는 하부 투명 전극과, 상기 하부 투명 전극과 마주하여 배치된 상부 투명 전극과, 상기 하부 및 상부 투명 전극들 사이에 배치되며, 상기 대전된 하부 투명 전극의 극성과 반대 극성으로 상기 상부 투명 전극이 대전되도록 절연 물질을 포함하며, 서로 다른 색상들의 픽셀들을 갖는 유기 이엘 층을 포함하는 유기 이엘 절연층과, 상기 하부 및 상부 투명 전극들과 상기 유기 이엘 절연층과 연결되며, 상기 하부 및 상부 투명 전극들 사이에서의 전위차에 따라 상기 유기 이엘 층의 픽셀들의 발광 색상을 제어하기 위한 제어부를 포함할 수 있다.According to a preferred embodiment of the present invention for achieving the first object, the electrostatic sensor, the lower transparent electrode is disposed so as to maintain a constant distance from the object with the static electricity on the surface is charged with a polarity opposite to the polarity of the static electricity And an insulating material disposed between the upper transparent electrode disposed to face the lower transparent electrode and the lower and upper transparent electrodes, the upper transparent electrode being charged with a polarity opposite to that of the charged lower transparent electrode. And an organic EL insulating layer including an organic EL layer having pixels of different colors, and connected to the lower and upper transparent electrodes and the organic EL insulating layer, and having a potential difference between the lower and upper transparent electrodes. The controller may include a control unit for controlling the emission color of the pixels of the organic EL layer.
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상기 제 2 목적을 달성하기 위한 본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 정전기 측정 장치는, 표면에 정전기를 띠는 대상물의 정전기를 측정하기 위한 정전기 센서와, 상기 정전기 센서를 상기 대상물의 표면을 따라 이동시키기 위한 이동부를 포함할 수 있으며, 상기 정전기 센서는, 상기 대상물의 표면으로부터 일정한 간격을 유지하도록 배치되어 상기 정전기의 극성에 대하여 반대 극성으로 대전되는 하부 투명 전극과, 상기 하부 투명 전극과 마주하여 배치된 상부 투명 전극과, 상기 하부 및 상부 투명 전극들 사이에 배치되며, 상기 대전된 하부 투명 전극의 극성과 반대 극성으로 상기 상부 투명 전극이 대전되도록 절연 물질을 포함하며, 서로 다른 색상들의 픽셀들을 갖는 유기 이엘 층을 포함하는 유기 이엘 절연층과, 상기 하부 및 상부 투명 전극들과 상기 유기 이엘 절연층과 연결되며, 상기 하부 및 상부 투명 전극들 사이에서의 전위차에 따라 상기 유기 이엘 층의 픽셀들의 발광 색상을 제어하기 위한 제어부를 포함할 수 있다.According to a preferred embodiment of the present invention for achieving the second object, the static electricity measuring device, an electrostatic sensor for measuring the static electricity of the object with the static electricity on the surface, and the electrostatic sensor is moved along the surface of the object The electrostatic sensor may be disposed to maintain a predetermined distance from the surface of the object, the electrostatic sensor is disposed facing the lower transparent electrode and charged with a polarity opposite to the polarity of the static electricity And an insulating material disposed between the lower and upper transparent electrodes, wherein the upper transparent electrode is charged with a polarity opposite to that of the charged lower transparent electrode, and having pixels of different colors. An organic EL insulating layer including an organic EL layer, and the lower and upper transparent electrodes And is connected to the ELK organic insulating layer, it can be made according to the potential difference between the lower and the upper transparent electrode and a control unit for controlling the pixels of the light emission colors of the organic ELK layer.
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따라서, 본 발명에 의하면 대상물의 표면에 형성된 정전기를 이용하여 정전기 센서를 동작시키므로 별도의 구동 전압의 인가가 필요하지 않으며, 유기 이엘과 투명 전극을 사용함으로써 실시간으로 정전기 센서의 색채 변화를 통해 정전기 분포를 정확하게 측정하며 정전기 대전현상을 분석하여 정전기 발생 원인을 효과적으로 규명할 수 있다. Therefore, according to the present invention, since the electrostatic sensor is operated by using the static electricity formed on the surface of the object, it is not necessary to apply a separate driving voltage, and the distribution of static electricity through the color change of the electrostatic sensor in real time by using the organic EL and the transparent electrode. By accurately measuring the voltage and analyzing the electrostatic charge phenomenon, the cause of static electricity can be effectively identified.
이하, 본 발명의 구체적인 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명의 실시예 1에 따른 정전기 센서(100)를 나타내는 개략적인 단면도이다.1 is a schematic cross-sectional view showing an
도 1을 참조하면, 본 발명의 실시예 1에 따른 정전기 센서(100)는 상부 투명 전극(10), 하부 투명 전극(20), 유기 이엘 절연층(30), 및 제어부(40)를 포함한다.Referring to FIG. 1, the
투명한 도전 물질을 포함하는 하부 투명 전극(20)의 위로 상부 투명 전극(10)이 하부 투명 전극(20)과 대응되게 구비된다. 상부 투명 전극(10)은 하부 투명 전극(20)과 동일한 도전 물질을 포함할 수 있다.The upper
상부 투명 전극(10)과 하부 투명 전극(20)의 사이에 유기 이엘 층(도시 안됨)을 포함하는 유기 이엘 절연층(30)이 구비된다. 상기 유기 이엘 층은 다수의 픽셀(pixel)을 갖고, 바람직하게는 적색(red), 녹색(green), 및 청색(blue)의 픽셀을 갖는다.An organic
상부 투명 전극(10), 하부 투명 전극(20), 및 유기 이엘 절연층(30)의 측면 에 제어부(40)가 구비된다. 제어부(40)는 상부 투명 전극(10)과 하부 투명 전극(20)간에 대전되는 구동 전압의 양에 따라 유기 이엘 층의 적색(red), 녹색(green), 및 청색(blue) 픽셀들을 선택적으로 발광시키도록 제어하는 역할을 한다.The
상부 투명 전극(10), 하부 투명 전극(20), 유기 이엘 절연층(30), 및 제어부(40)를 구비하는 정전기 센서(100)의 구동 원리를 설명하면 아래와 같다. The driving principle of the
우선, 표면에 정전기를 띠는 대상물이 준비된다. 본 발명에서 사용할 수 있는 대상물의 예로서는 반도체 기판, LCD 유리 기판, PDP 유리 기판 등을 들 수 있다.First, an object with static electricity on the surface is prepared. Examples of the object that can be used in the present invention include a semiconductor substrate, an LCD glass substrate, a PDP glass substrate, and the like.
상기 대상물의 표면과 정전기 센서(100)의 하부 투명 전극(20)을 서로 일정한 간격을 유지하도록 인접시킨다. 이 때 하부 투명 전극(20)에는 상기 대상물의 표면의 정전기가 띠는 극성과 반대 극성이 대전된다.The surface of the object and the lower
하부 투명 전극(20)이 대전됨에 따라서 상부 투명 전극(110)에 하부 투명 전극(20)이 띠는 극성과 반대 극성이 대전된다.As the lower
하부 투명 전극(20)과 상부 투명 전극(10)이 띠는 극성이 다르기 때문에 유기 이엘 절연층(30)에 포함된 유기 이엘층을 구동시키는 구동 전압이 유기 이엘 절연층(30)의 양단에 인가된다.Since the polarities of the lower
상부 투명 전극(10), 하부 투명 전극(20), 및 유기 이엘 절연층(30)의 측면에 구비된 제어부(40)는 상기 구동 전압을 측정하여 상기 유기 이엘 층에 포함된 픽셀들의 발광을 제어한다.The
구체적으로 설명하면 제어부(40)는 상부 투명 전극(10)과 하부 투명 전극 (30)간에 대전되는 구동 전압이 500 V/cm 이하인 경우 모든 픽셀이 발광되지 않도록 제어한다. 상기 구동 전압이 500 V/cm를 초과하고 2000 V/cm 이하인 경우 녹색 픽셀들만을 발광시키도록 제어하므로 상기 유기 이엘 층은 전체적으로 녹색광을 발생시키게 된다. 상기 구동 전압이 2000 V/cm를 초과하고 5000 V/cm 이하인 경우 녹색 및 청색 픽셀들만을 선택적으로 발광시키게 제어하므로 상기 유기 이엘 층은 전체적으로 청녹색광을 발생시키게 된다. 상기 구동 전압이 5000 V/cm를 초과하는 경우 적색, 녹색, 및 청색 픽셀들을 모두 발광시키도록 제어하므로 상기 유기 이엘 층은 전체적으로 백색광을 발생시키게 된다.Specifically, the
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도 2는 본 발명의 실시예 2에 따른 정전기 측정 장치(1000)를 나타내는 개략적인 사시도이다.2 is a schematic perspective view showing an
도 2를 참조하면, 실시예 2에 따른 정전기 측정 장치(1000)는 정전기 측정 센서(100) 및 지지부(110)로 구성된다. Referring to FIG. 2, the static
지지부(110)를 이용하여 정전기 센서(100)를 수동으로 지지한 후 정전기 센서(100)의 위치를 대상물(120)의 표면을 따라 이동시키면서 정전기 센서(100)의 색 변화를 통해 대상물(120) 표면의 정전기를 측정할 수 있다. After manually supporting the
도 3은 본 발명의 실시예 3에 따른 정전기 측정 장치(2000)를 나타내는 개략적인 사시도이다.3 is a schematic perspective view of an
도 3을 참조하면, 센서 몸체(230)는 제 1 왕복 부재(231)와 제 1 동력부 (232)를 포함한다. 제 1 왕복 부재(231)는 제 1 축(235)에 삽입되어서 제 1 축(235)을 따라 왕복 운동이 가능하도록 설계된다. 제 1 동력부(232)는 제 1 왕복 부재(231)상에 형성되어 제 1 왕복 부재(231)의 왕복 운동을 위한 동력을 제공한다.Referring to FIG. 3, the
제 1 축(235)의 양단은 제 2 및 3 왕복 부재(240, 250)에 삽입되어 고정된다. 제 1 축(235)에 수직인 제 2 및 3 축(245, 255)들은 제 2 및 3 왕복 부재(240, 250)에 각각 삽입된다. 따라서, 제 1 축(235)으로 연결된 제 2 및 3 왕복 부재(240, 250)들이 제 2 및 3 축(245, 255)들 상에서 서로 대응되게 왕복 운동이 가능하도록 설계된다.Both ends of the
제 2 왕복 부재(240)의 측면에는 제 2 동력부(241)가 구비된다. 제 2 동력부(241)는 제 2 왕복 부재(240)의 왕복 운동을 위한 동력을 제공한다.The
제 2 및 3 축(245, 255)들의 양단들은 제 1 및 2 고정부들(260, 270)에 고정된다. 제 1 고정부(260) 및 제 2 고정부(270)의 사이에는 대상물(295)을 지지하기 위한 평면 형상을 갖는 지지판(290)이 구비된다.Both ends of the second and
제 1 및 2 동력부(232, 241)에는 측정된 정전기에 대한 신호를 출력하기 위한 와이어(281, 282)들이 각각 연결되어 있다.
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도 4는 도 3에 도시된 실시예 3에 따른 정전기 측정 장치(2000)에 설치된 실시예 1에 따른 정전기 센서(100)를 나타내는 개략적인 단면도이다. FIG. 4 is a schematic cross-sectional view of the
도 4를 참조하면, 센서 몸체(230)의 제 1 왕복 부재(231)의 하부에는 단일의 정전기 센서(100)가 대상물(295)을 향하도록 구비되어 있다.Referring to FIG. 4, a single
전술한 바와 같이 설치되는 정전기 센서(100)는 제 1 왕복 부재(231)의 왕복 운동과 제 2 및 3 왕복 부재(240, 250)들의 왕복 운동을 통해 대상물(295)에 대한 전면적인 스캐닝을 수행한다.The
여기서, 정전기 센서(100)는 전술한 바와 같이 대상물의 표면 정전기에 의해서 자체적으로 구동하므로 별도의 구동 전압을 인가할 필요가 없다.Here, since the
대상물의 표면에서 스캐닝되는 신호는 제 1 동력부(232)와 제 2 동력부(241)에 걸쳐서 연결된 제 1 및 2 와이어(281, 282)들을 통해 출력된다. 그 후, 상기 출력된 신호는 상기 스캐닝의 결과를 표시하기 위한 스캐닝 컴퓨터(도시 안됨)에 입력되어 대상물(295)의 전면에 대한 색채로 스캐닝 결과를 모니터링 한다.The signal scanned on the surface of the object is output through first and
도 5는 본 발명의 실시예 4에 따른 정전기 측정 장치(3000)를 나타내는 개략적인 사시도이다. 5 is a schematic perspective view showing an
본 발명의 실시예 4에 따른 정전기 측정 장치는 실시예 3에 따른 센서 몸체(230)와 제 1 축(235) 대신에 라인 몸체(333)를 사용하는 것을 제외하고는 실질적으로 실시예 3과 동일하다.The static electricity measuring device according to the fourth embodiment of the present invention is substantially the same as the third embodiment except for using the
라인 몸체(333)의 양단은 제 2 및 3 왕복 부재(340, 350)에 고정된다. Both ends of the
도 6은 도 5에 도시된 실시예 4에 따른 정전기 측정 정치(3000)에 설치된 실시예 1에 따른 정전기 센서(100)를 나타내는 개략적인 단면도이다. FIG. 6 is a schematic cross-sectional view of the
도 6을 참조하면, 라인 몸체(333)의 하부에는 다수의 정전기 센서(100)들이 대상물(395)을 향하도록 구비되어 있다. Referring to FIG. 6, a plurality of
본 발명의 다른 실시예에 따르면, 상기 다수의 정전기 센서(100) 대신에 라인 몸체(333)와 대응되는 크기를 갖는 단일의 정전기 센서(100)를 구비할 수 있다. According to another embodiment of the present invention, instead of the plurality of
전술한 바와 같이 설치되는 라인 몸체(333)는 제 2 및 3 축(345, 355)들과 평행하게 왕복 운동을 하여 대상물(395)에 대한 전면적인 스캐닝을 수행한다.The
제 2 왕복 부재(340)의 측면에 형성되는 동력부(341)에는 측정된 정전기에 대한 신호를 출력하기 위한 와이어(382)가 연결되어 있다. The
본 발명에 의하면 반도체 기판이나 유리 기판과 같은 대상물의 표면에 형성된 정전기를 이용하여 정전기 센서를 동작시키므로 별도의 구동 전압의 인가가 필요하지 않으며, 유기 이엘과 투명 전극을 사용함으로써 실시간으로 정전기 센서의 색채 변화를 통해 정전기 분포를 정확하게 측정하며 정전기 대전현상을 분석하여 정전기 발생 원인을 효과적으로 규명할 수 있다. According to the present invention, since the electrostatic sensor is operated by using static electricity formed on the surface of an object such as a semiconductor substrate or a glass substrate, a separate driving voltage is not required, and the color of the electrostatic sensor is real-time by using organic EL and a transparent electrode. The change accurately measures the distribution of static electricity and analyzes the electrostatic charging phenomena to effectively identify the cause of static electricity generation.
상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술 분야의 숙련된 당업자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.As described above, although described with reference to the embodiments of the present invention, those skilled in the art will be variously modified and modified within the scope of the present invention without departing from the spirit and scope of the invention described in the claims below. It will be appreciated that it can be changed.
Claims (14)
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