KR100599800B1 - Display panel and inspection apparatus thereof - Google Patents

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Abstract

본 발명은 표시 패널 및 그 검사 장치에 관한 것이다. 본 발명에 따른 표시 패널의 검사 장치는 복수의 화소를 포함하는 표시 패널의 검사 장치로서, 화소는 데이터 신호에 대응되는 전류를 출력하는 트랜지스터 및 트랜지스터와 제1 전원 간에 연결되는 유기 EL 소자를 포함하며, 검사 장치는 표시 패널을 검사하기 위한 제어 신호를 생성하여 표시 패널에 인가하는 제어부, 및 제1 전원의 전압을 조정하기 위한 전압 조정부를 포함한다.The present invention relates to a display panel and an inspection apparatus thereof. An inspection apparatus for a display panel according to the present invention is an inspection apparatus for a display panel including a plurality of pixels, the pixel including a transistor for outputting a current corresponding to a data signal, and an organic EL element connected between the transistor and the first power supply. The test apparatus includes a controller configured to generate a control signal for inspecting the display panel and apply the control signal to the display panel, and a voltage adjuster for adjusting a voltage of the first power supply.

표시 패널, 검사 장치, 전원 전압, 유기 EL, 구동 트랜지스터Display panel, inspection device, power supply voltage, organic EL, driving transistor

Description

표시 패널 및 그 검사 장치{DISPLAY PANEL AND INSPECTION APPARATUS THEREOF}Display panel and its inspection apparatus {DISPLAY PANEL AND INSPECTION APPARATUS THEREOF}

도 1은 종래의 유기 EL 표시 패널과 이를 검사하기 위한 검사 장치를 도시한 것이다.1 shows a conventional organic EL display panel and an inspection apparatus for inspecting the same.

도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 유기 EL 표시 패널과 이를 검사하기 위한 검사 장치를 도시한 것이다.2 illustrates an organic EL display panel and an inspection apparatus for inspecting the same according to an embodiment of the present invention.

도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 화소를 도시한 회로도이다.3 is a circuit diagram illustrating a pixel according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 4는 구동 트랜지스터의 드레인 전극에 인가되는 전압에 따른 전류를 도시한 그래프이다. 4 is a graph illustrating a current according to a voltage applied to a drain electrode of a driving transistor.

본 발명은 표시 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 유기 전계발광(electroluminescent, 이하 EL이라 함) 표시 패널과 이를 검사하기 위한 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a display device, and more particularly, to an organic electroluminescent (EL) display panel and an inspection device for inspecting the same.

일반적으로 유기 EL 표시 장치는 형광성 유기 화합물을 전기적으로 여기시켜 발광시키는 표시 장치로서, NxM 개의 유기 발광셀들을 전압 구동 혹은 전류 구동하 여 영상을 표현할 수 있도록 되어 있다. 이러한 유기 발광셀은 애노드(ITO), 유기 박막, 캐소드 레이어(metal)의 구조를 가지고 있다. 유기 박막은 전자와 정공의 균형을 좋게 하여 발광 효율을 향상시키기 위해 발광층(emitting layer, EML), 전자 수송층(electron transport layer, ETL) 및 정공 수송층(hole transport layer, HTL)을 포함한 다층 구조로 이루어지고, 또한 별도의 전자 주입층(electron injecting layer, EIL)과 정공 주입층(hole injecting layer, HIL)을 포함하고 있다.In general, an organic EL display device is a display device for electrically exciting a fluorescent organic compound to emit light, and is capable of representing an image by driving voltage or current driving NxM organic light emitting cells. The organic light emitting cell has a structure of an anode (ITO), an organic thin film, and a cathode layer (metal). The organic thin film has a multilayer structure including an emitting layer (EML), an electron transport layer (ETL), and a hole transport layer (HTL) to improve the emission efficiency by improving the balance between electrons and holes. It also includes a separate electron injecting layer (EIL) and a hole injecting layer (HIL).

이와 같이 이루어지는 유기 발광셀을 구동하는 방식에는 단순 매트릭스(passive matrix) 방식과 박막 트랜지스터(thin film transistor, TFT) 또는 MOSFET를 이용한 능동 구동(active matrix) 방식이 있다. 단순 매트릭스 방식은 양극과 음극을 직교하도록 형성하고 라인을 선택하여 구동하는데 비해, 능동 구동 방식은 박막 트랜지스터와 커패시터를 각 ITO(indium tin oxide) 화소 전극에 접속하여 커패시터 용량에 의해 전압을 유지하도록 하는 구동 방식이다. 이때, 커패시터에 전압을 유지시키기 위해 인가되는 신호의 형태에 따라 능동 구동 방식은 전압 기입(voltage programming) 방식과 전류 기입(current programming) 방식으로 나누어진다.The organic light emitting cell may be driven using a simple matrix method and an active matrix method using a thin film transistor (TFT) or a MOSFET. In the simple matrix method, the anode and the cathode are orthogonal and the line is selected and driven, whereas the active driving method connects the thin film transistor and the capacitor to each indium tin oxide (ITO) pixel electrode to maintain the voltage by the capacitor capacitance. It is a driving method. In this case, the active driving method is divided into a voltage programming method and a current programming method according to the type of signal applied to maintain the voltage on the capacitor.

이러한 유기 발광셀을 이용한 표시 장치를 구현하는 경우 제조 공정 과정에서 불량이 발생하여 화소가 제대로 발광되지 않는 경우가 생기게 된다. 따라서 표시 패널에 화소를 형성한 후 화소의 불량을 검사하기 위한 과정이 필요하다.When the display device using the organic light emitting cell is implemented, a defect may occur during the manufacturing process, and thus the pixel may not emit light properly. Therefore, after the pixel is formed on the display panel, a process for inspecting the defect of the pixel is necessary.

도 1은 종래의 유기 EL 표시 패널(10)과 이를 검사하기 위한 제어부(20)를 도시한 것이다.1 illustrates a conventional organic EL display panel 10 and a controller 20 for inspecting the same.

도 1에 도시된 바와 같이, 표시 패널(10)에는 복수의 데이터선(D1-Dm)과 복수의 주사선(S1-Sn)이 서로 직교하도록 형성되어 있고, 복수의 화소가 이웃한 두 데이터선과 이웃한 두 주사선에 의하여 정의되는 화소 영역에 형성되어 있다. 그리고 복수의 화소에 전원(VSS)을 인가하기 위한 전원 공급선(12)이 형성되어 있다.As illustrated in FIG. 1, in the display panel 10, a plurality of data lines D1 -Dm and a plurality of scan lines S1 -Sn are formed to be orthogonal to each other, and a plurality of pixels are adjacent to two neighboring data lines. It is formed in the pixel area defined by one or two scanning lines. Then, a power supply line 12 for applying a power supply VSS to the plurality of pixels is formed.

또한, 데이터선(D1-Dm)은 테스트 전압을 전달하기 위한 테스트선에 공통 접속되고, 스위치(SW1)는 제어 신호(도시되지 않음)에 응답하여 테스트 전압(Vtest)이 테스트선에 인가되도록 한다.In addition, the data lines D1 -Dm are commonly connected to a test line for transferring a test voltage, and the switch SW1 causes the test voltage Vtest to be applied to the test line in response to a control signal (not shown). .

주사 구동부(12)는 제어부(20)로부터의 제어 신호에 응답하여 복수의 주사선(S1-Sn)에 선택 신호를 순차적으로 인가한다.The scan driver 12 sequentially applies a selection signal to the plurality of scan lines S1 -Sn in response to a control signal from the controller 20.

제어부(20)는 표시 패널(10)에 형성된 화소의 발광 상태를 검사하기 위한 것으로서, 제어 전압을 주사 구동부(12)에 인가하여 주사 구동부(12)가 테스트 선택 신호를 복수의 주사선(S1-Sn)에 순차적으로 인가하도록 한다. The controller 20 is configured to inspect a light emission state of the pixels formed on the display panel 10. The control unit 20 applies a control voltage to the scan driver 12 so that the scan driver 12 supplies a test selection signal to the plurality of scan lines S1 -Sn. ) To be applied sequentially.

이와 같이 종래의 표시 장치는 데이터선(D1-Dm)을 하나의 테스트 전극에 연결하여 테스트 전압(Vtest)을 인가하고, 제어부(20)가 제어 신호를 주사 구동부(12)에 제공함으로써 주사 구동부(12)가 테스트 선택 신호를 주사선(S1-Sn)에 순차적으로 인가하도록 한다. 이로써 각 데이터선 및 주사선에 연결된 화소가 정상적으로 발광하는지를 확인할 수 있다.As described above, the conventional display device connects the data lines D1 -Dm to one test electrode to apply a test voltage Vtest, and the control unit 20 provides a control signal to the scan driver 12 so that the scan driver ( 12) sequentially applies the test selection signals to the scan lines S1 -Sn. As a result, it is possible to check whether the pixels connected to each data line and the scan line emit light normally.

그러나, 이러한 방법은 표시 패널(10)에 형성된 화소(11)에 일정한 전원 전압(VSS)을 인가함으로써, 화소(11)에 포함된 구동 트랜지스터가 최적으로 동작할 수 없게 되는 문제가 있었다.However, this method has a problem in that the driving transistor included in the pixel 11 cannot operate optimally by applying a constant power supply voltage VSS to the pixel 11 formed in the display panel 10.

본 발명의 목적은 구동 트랜지스터의 포화 영역에서의 전류 특성을 제어함으로써 표시 패널의 온/오프 검사시 구동 트랜지스터가 최적의 포화 상태에서 동작하도록 하기 위한 것이다. An object of the present invention is to control the current characteristics in the saturation region of the driving transistor so that the driving transistor operates in an optimal saturation state during the on / off inspection of the display panel.

상기 과제를 달성하기 위하여 본 발명의 하나의 특징에 따른 표시 패널의 검사 장치는 복수의 화소를 포함하는 표시 패널의 검사 장치로서, 상기 화소는 데이터 신호에 대응되는 전류를 출력하는 트랜지스터 및 상기 트랜지스터와 제1 전원 간에 연결되는 유기 EL 소자를 포함하며, 상기 검사 장치는 상기 표시 패널을 검사하기 위한 제어 신호를 생성하여 상기 표시 패널에 인가하는 제어부, 및 상기 제1 전원의 전압을 조정하기 위한 전압 조정부를 포함한다.In order to achieve the above object, an inspection apparatus for a display panel according to an aspect of the present invention is an inspection apparatus for a display panel including a plurality of pixels, the pixels including a transistor for outputting a current corresponding to a data signal; And an organic EL element connected between a first power source, wherein the inspection device generates a control signal for inspecting the display panel and applies it to the display panel; and a voltage adjusting unit for adjusting a voltage of the first power source. It includes.

본 발명의 하나의 특징에 따른 표시 패널의 검사 장치에 있어서, 상기 표시 패널은 상기 화소에 상기 데이터 신호를 전달하기 위한 복수의 데이터선, 및 상기 제1 전원의 전압을 전달하기 위한 전압 공급선을 더 포함한다.In the inspection apparatus of the display panel according to an aspect of the present invention, the display panel further comprises a plurality of data lines for transmitting the data signal to the pixel, and a voltage supply line for transferring the voltage of the first power supply. Include.

본 발명의 하나의 특징에 따른 표시 패널의 검사 장치에 있어서, 상기 표시 패널은 상기 복수의 화소에 선택 신호를 전달하기 위한 복수의 주사선을 더 포함하고, 상기 화소는 상기 트랜지스터의 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 간에 연결되는 커패시터, 상기 주사선으로부터 상기 선택 신호에 응답하여 상기 데이터 신호를 상기 커패시터로 전달하는 스위칭 소자를 더 포함한다.An apparatus for inspecting a display panel according to an aspect of the present invention, the display panel further includes a plurality of scan lines for transmitting a selection signal to the plurality of pixels, wherein the pixels comprise the first electrode of the transistor and And a switching element configured to transfer the data signal to the capacitor in response to the selection signal from the scan line.

본 발명의 하나의 특징에 따른 표시 패널은 데이터 신호를 전달하는 복수의 데이터선, 선택 신호를 전달하는 복수의 주사선, 및 상기 데이터선과 상기 주사선에 연결되는 복수의 화소 회로를 포함하는 표시 패널로서, 상기 화소 회로는, 제1 내지 제3 전극을 구비하고 상기 제1 및 제2 전극 간에 인가되는 전압에 대응하는 전류를 상기 제3 전극으로 출력하는 트랜지스터, 상기 트랜지스터의 상기 제3 전극과 제1 전원 간에 전기적으로 연결되고 인가되는 전류에 대응하는 화상을 표시하는 표시 소자, 상기 트랜지스터의 상기 제1 전극과 상기 제2 전극 간에 연결되는 커패시터, 및 상기 선택 신호에 응답하여 상기 데이터 신호를 상기 트랜지스터의 상기 제1 전극으로 전달하는 제1 스위칭 소자를 포함하며, 상기 표시 소자에 전기적으로 연결되는 상기 제1 전원의 전압은 가변된다.A display panel according to an aspect of the present invention is a display panel including a plurality of data lines for transmitting a data signal, a plurality of scanning lines for transmitting a selection signal, and a plurality of pixel circuits connected to the data lines and the scanning lines, The pixel circuit includes a transistor including first to third electrodes and outputs a current corresponding to a voltage applied between the first and second electrodes to the third electrode, the third electrode of the transistor, and a first power source. A display element for displaying an image corresponding to a current electrically connected to and applied between the display device, a capacitor connected between the first electrode and the second electrode of the transistor, and the data signal in response to the selection signal. A first switching element that transfers to a first electrode and is electrically connected to the display element The voltage is variable.

본 발명의 하나의 특징에 따른 표시 패널에 있어서, 상기 표시 패널의 검사 시에 테스트 전압을 인가하기 위한 테스트선 및 상기 검사 시에 테스트선과 상기 데이터선을 연결시키는 복수의 제2 스위칭 소자를 더 포함한다. A display panel according to an aspect of the present invention, the display panel further includes a test line for applying a test voltage when the display panel is inspected, and a plurality of second switching elements connecting the test line and the data line during the test. do.

이하, 본 발명의 실시예를 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

이하의 설명에서, 어떤 부분이 다른 부분과 연결되어 있다고 할 때, 이는 직접적으로 연결되어 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 전기적으로 연결되어 있는 경우도 포함한다. 또한, 도면에서 본 발명과 관계없는 부분은 본 발명의 설명을 명확하게 하기 위하여 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다.In the following description, when a part is connected to another part, it includes not only the case where it is directly connected but also the case where it is electrically connected with another element between them. In the drawings, parts irrelevant to the present invention are omitted for clarity, and like reference numerals designate like parts throughout the specification.

도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 유기 EL 표시 패널과 이를 검사하기 위한 검사 장치를 도시한 것이다.2 illustrates an organic EL display panel and an inspection apparatus for inspecting the same according to an embodiment of the present invention.

도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 유기 EL 표시 패널(100)은 실제 화상이 표시되는 표시 영역(110)과 화상이 표시되지 않는 주변 영역을 포함한다. 표시 영역(110)에는 열 방향으로 뻗어 있는 복수의 데이터선(D1-Dm), 행 방향으로 뻗어 있는 복수의 주사선(S1-Sn), 전원 공급선(112), 및 복수의 화소 회로(110)가 형성된다. 그리고, 주변 영역에는 주사 구동부(130), 테스트선(Tr, Tg, Tb), 및 테스트선(Tr, Tg, Tb)과 데이터선(D1-Dm) 사이에 연결되는 스위칭 소자(113)가 형성되어 있다. 본 발명의 일실시예에 따르면, 데이터선(D1-Dm)은 각각 적색, 녹색, 및 청색에 대응되는 데이터 신호를 전달한다. 즉, 도 2에서 데이터선(D1)은 스위칭 소자를 통하여 테스트선(Tr)에 연결되고, 데이터선(D2)은 스위칭 소자를 통하여 테스트선(Tg)에 연결된다. 그리고 데이터선(D3)은 스위칭 소자를 통하여 테스트선(Tb)에 연결된다.As shown in Fig. 2, the organic EL display panel 100 according to the embodiment of the present invention includes a display area 110 in which an actual image is displayed and a peripheral area in which no image is displayed. In the display area 110, a plurality of data lines D1 -Dm extending in a column direction, a plurality of scanning lines S1 -Sn extending in a row direction, a power supply line 112, and a plurality of pixel circuits 110 are provided. Is formed. In the peripheral region, the scan driver 130, the test lines Tr, Tg, and Tb, and the switching element 113 connected between the test lines Tr, Tg and Tb and the data lines D1 to Dm are formed. It is. According to an embodiment of the present invention, the data lines D1 -Dm transmit data signals corresponding to red, green, and blue, respectively. That is, in FIG. 2, the data line D1 is connected to the test line Tr through the switching element, and the data line D2 is connected to the test line Tg through the switching element. The data line D3 is connected to the test line Tb through a switching element.

그리고 도 2에는 도시하지 않았으나, 제1 전원의 전압(VSS)은 유기 EL 소자의 캐소드에 전달된다. 또한, 화소에 제2 전원의 전압(VDD)을 전달하기 위한 전원 공급선이 더 형성된다. 이러한 제2 전원은 화소에 포함되는 구동 트랜지스터에 연결되고, 이러한 화소와 제1 및 제2 전원의 연결 관계에 대해서는 뒤에서 상세히 설명하기로 한다.Although not shown in FIG. 2, the voltage VSS of the first power supply is transmitted to the cathode of the organic EL element. In addition, a power supply line for transmitting the voltage VDD of the second power supply to the pixel is further formed. The second power source is connected to the driving transistor included in the pixel, and the connection relationship between the pixel and the first and second power sources will be described in detail later.

데이터선(D1-Dm)은 화상 신호를 나타내는 데이터 전압을 화소 회로(110)로 전달하며, 주사선(S1-Sn)은 화소 회로(110)를 선택하기 위한 선택 신호를 화소 회로(110)로 전달한다. 화소 회로(110)는 이웃한 두 데이터선(D1-Dm)과 이웃한 두 주사선(S1-Sn)에 의해 정의되는 화소 영역에 형성되어 있다. 전원 공급선(112)은 전압 조정부(300)로부터 입력되는 제1 전원의 전압(VSS)을 화소 회로(110)로 전달한다.The data lines D1 -Dm transmit a data voltage representing an image signal to the pixel circuit 110, and the scan lines S1 -Sn transmit a selection signal for selecting the pixel circuit 110 to the pixel circuit 110. do. The pixel circuit 110 is formed in a pixel area defined by two neighboring data lines D1 -Dm and two neighboring scan lines S1 -Sn. The power supply line 112 transfers the voltage VSS of the first power input from the voltage adjustor 300 to the pixel circuit 110.

그리고 주사 구동부(130)는 복수의 주사선(S1-Sn)에 선택 신호를 순차적으로 인가하고, 테스트선(Tr, Tg, Tb)은 각각 적색, 녹색 및 청색에 대응되는 테스트 전압(VR, VG, VB)을 데이터선(D1-Dm)으로 전달한다.The scan driver 130 sequentially applies a selection signal to the plurality of scan lines S1 -Sn, and the test lines Tr, Tg, and Tb are test voltages V R and V corresponding to red, green, and blue, respectively. G and V B are transferred to the data lines D1 -Dm.

스위칭 소자(113)는 제어부(200)가 표시 패널(100)의 검사를 시작하는 경우 제어 신호(Vctr)에 응답하여 턴온되며, 테스트선(Tr, Tg, Tb)에 인가되는 테스트 전압(VR, VG, VB)을 데이터선(D1-Dm)으로 전달한다.The switching element 113 is turned on in response to the control signal Vctr when the controller 200 starts inspecting the display panel 100, and the test voltage V R applied to the test lines Tr, Tg, and Tb. , V G , V B ) is transferred to the data lines D1 -Dm.

제어부(200)는 시작 신호(VSP), 클록 신호(CLK), 프레임 주기 신호(Vsync) 등의 제어 신호를 생성하여 주사 구동부(130)로 출력한다. 그러면, 주사 구동부(130)는 인가되는 제어 신호에 의하여 테스트 선택 신호를 생성하여 복수의 주사선(S1-Sn)에 순차적으로 인가한다.The controller 200 generates a control signal such as a start signal VSP, a clock signal CLK, a frame period signal Vsync, and outputs the control signal to the scan driver 130. Then, the scan driver 130 generates a test selection signal according to the control signal applied and sequentially applies the test selection signal to the plurality of scan lines S1 -Sn.

이 때 주사 구동부(130)는 프레임 주기 신호(Vsync)에 의하여 시작 신호(VSP)를 클록 신호(CLK)에 동기하여 순차적으로 시프트시켜 출력한다. 이러한 제어부(200) 및 주사 구동부(130)의 구체적인 구성 및 동작은 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자에게 자명하므로 여기서 상세한 설명은 생략하기로 한다.At this time, the scan driver 130 sequentially shifts the start signal VSP in synchronization with the clock signal CLK by the frame period signal Vsync and outputs the same. Specific configurations and operations of the controller 200 and the scan driver 130 will be apparent to those skilled in the art to which the present invention pertains, and thus detailed descriptions thereof will be omitted.

전압 조정부(300)는 제1 전원의 전압(VSS)을 조정하여 전원 공급선(112)으로 전달한다. 본 발명의 일실시예에 따르면, 제1 전원의 전압(VSS)을 조정하기 위한 전압 조정부(300)로서 가변 저항기를 이용한 레귤레이터(regulator)를 이용하거나 SMPS(Switching Mode Power Supply)를 이용할 수 있다. 그리고, 도 2에서는 전압 조정부(300)가 제어부(200)와 별도로 형성된 것으로 도시하였으나, 실시예에 따라서 제어부(200) 내부에 형성될 수 있다.The voltage adjusting unit 300 adjusts the voltage VSS of the first power supply and transmits the voltage VSS to the power supply line 112. According to an embodiment of the present invention, a regulator using a variable resistor or a switching mode power supply (SMPS) may be used as the voltage adjusting unit 300 for adjusting the voltage VSS of the first power supply. In FIG. 2, the voltage adjusting unit 300 is formed separately from the control unit 200, but may be formed in the control unit 200 according to an embodiment.

도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 화소를 도시한 회로도이다. 도 3에서는 복수의 화소 중 데이터선(Dm)과 주사선(Sn)에 연결된 화소를 대표적으로 도시하였다.3 is a circuit diagram illustrating a pixel according to an exemplary embodiment of the present invention. In FIG. 3, pixels connected to the data line Dm and the scan line Sn among the plurality of pixels are representatively shown.

본 발명의 일실시예에 따른 화소 회로는 도 3에 도시된 바와 같이 트랜지스터(M1, M2), 유기 EL 소자(OLED) 및 커패시터(Cst)를 포함한다.The pixel circuit according to an embodiment of the present invention includes transistors M1 and M2, an organic EL element OLED, and a capacitor Cst as shown in FIG.

트랜지스터(M1)는 유기 EL 소자(OLED)를 구동하기 위한 구동 트랜지스터로서, 제2 전원(VDD)과 유기 EL 소자(OLED) 간에 연결되어 있다. 도 3과 같이, 본 발명의 실시예에 따른 트랜지스터(M1) 및 트랜지스터(M2)는 PMOS 트랜지스터로 형성되어 있다. PMOS 트랜지스터는 제1 전극으로 게이트 전극, 제2 전극으로 소스 전극 및 제3 전극으로 드레인 전극이 형성되어 있다. 트랜지스터(M1)의 소스 전극이 제2 전원에 연결되어, 제2 전원의 전압(VDD)이 전달되고, 드레인 전극이 유기 EL 소자(OLED)의 애노드에 연결된다. 그리고, 유기 EL 소자(OLED)의 캐소드는 제1 전원에 연결되어, 제1 전원의 전압(VSS)이 전달된다. The transistor M1 is a driving transistor for driving the organic EL element OLED, and is connected between the second power supply VDD and the organic EL element OLED. As shown in FIG. 3, the transistor M1 and the transistor M2 according to the embodiment of the present invention are formed of a PMOS transistor. In the PMOS transistor, a gate electrode is formed as a first electrode, a source electrode is formed as a second electrode, and a drain electrode is formed as a third electrode. The source electrode of the transistor M1 is connected to the second power supply, the voltage VDD of the second power supply is transmitted, and the drain electrode is connected to the anode of the organic EL element OLED. The cathode of the organic EL element OLED is connected to the first power source, and the voltage VSS of the first power source is transmitted.

트랜지스터(M2)는 게이트 전극이 주사선(Sn)에 연결되고 주사선(Sn)으로부터의 선택 신호에 응답하여 데이터선(Dm)으로부터의 데이터 전압을 전달한다. The transistor M2 has a gate electrode connected to the scan line Sn and transfers a data voltage from the data line Dm in response to a selection signal from the scan line Sn.

커패시터(Cst)는 트랜지스터(M1)의 게이트 전극 및 소스 전극 간에 연결되며, 트랜지스터(M2)로부터 전달된 데이터 전압을 일정 기간 유지시킨다.The capacitor Cst is connected between the gate electrode and the source electrode of the transistor M1 and maintains the data voltage transmitted from the transistor M2 for a predetermined period of time.

이하 도 3에 도시된 화소 회로의 동작을 설명한다. Hereinafter, the operation of the pixel circuit shown in FIG. 3 will be described.

트랜지스터(M2)가 턴온되면, 데이터 전압이 트랜지스터(M1)의 게이트 전극에 인가되어, 커패시터(C1)에는 게이트 전극과 소스 전극 사이에 걸리는 전압(VGS)이 충전된다. 그리고 이 전압(VGS)에 대응하여 트랜지스터(M1)에 전류(IOLED)가 흐르고, 이 전류(IOLED)에 대응하여 유기 EL 소자(OLED)가 발광한다.When the transistor M2 is turned on, a data voltage is applied to the gate electrode of the transistor M1, and the capacitor C1 is charged with a voltage V GS applied between the gate electrode and the source electrode. The current I OLED flows through the transistor M1 in response to the voltage V GS , and the organic EL element OLED emits light in response to the current I OLED .

이때, 유기 EL 소자(OLED)에 흐르는 전류는 다음의 수학식 1과 같다. At this time, the current flowing through the organic EL element OLED is represented by Equation 1 below.

Figure 112004036684612-pat00001
Figure 112004036684612-pat00001

여기서, IOLED는 유기 EL 소자(OLED)에 흐르는 전류, VGS는 트랜지스터(M1)의 게이트 전극과 소스 전극 사이의 전압, VTH는 트랜지스터(M1)의 문턱 전압, VDATA는 데이터 전압, β는 상수 값을 나타낸다. Here, I OLED is a current flowing through the organic EL element OLED, V GS is a voltage between the gate electrode and the source electrode of the transistor M1, V TH is a threshold voltage of the transistor M1, V DATA is a data voltage, β Denotes a constant value.

수학식 1에 나타낸 바와 같이, 데이터 전압에 대응하는 전류가 유기 EL 소자(OELD)에 공급되고, 공급된 전류에 대응하여 유기 EL 소자(OELD)가 발광하게 된다. 이때, 인가되는 데이터 전압을 일정 범위에서 다단계의 값을 갖도록 설정하면 원하는 계조를 표현할 수 있다.As shown in Equation 1, a current corresponding to the data voltage is supplied to the organic EL element OELD, and the organic EL element OELD emits light corresponding to the supplied current. At this time, if the applied data voltage is set to have a multi-level value in a predetermined range, a desired gray scale can be expressed.

도 4는 구동 트랜지스터(M1)의 드레인 전극에 인가되는 전압(VD)에 따른 전류(ID)를 도시한 그래프이다.FIG. 4 is a graph illustrating the current I D according to the voltage V D applied to the drain electrode of the driving transistor M1.

도 4에 도시된 바와 같이, 구동 트랜지스터(M1)의 드레인 전극에 인가되는 전압(VD)에 의하여 전류(ID)가 증가하게 되고, 일정 전압이 되면 전류(ID)는 포화 상태(saturation)에 있게 된다. 그러나, 포화 상태에서도 드레인 전극에 인가되는 전압(VD)이 증가하게 되면, 트랜지스터(M1)의 드레인 전극에 흐르는 전류(ID)는 조금씩 상승하게 된다. 따라서, 유기 EL 소자(OLED)의 캐소드 전극에 인가되는 제1 전원 전압(VSS)을 조정하면 최적의 포화 전류를 흐르게 할 수 있는 전압을 선택할 수 있다. As shown in FIG. 4, the current I D is increased by the voltage V D applied to the drain electrode of the driving transistor M1, and when the constant voltage is reached, the current I D is saturated. ) However, even when the voltage V D applied to the drain electrode is increased even in the saturation state, the current I D flowing to the drain electrode of the transistor M1 increases little by little. Therefore, by adjusting the first power supply voltage VSS applied to the cathode of the organic EL element OLED, it is possible to select a voltage capable of flowing an optimal saturation current.

구체적으로는, 제1 전원의 전압(VSS)이 낮아지면 구동 트랜지스터(M1)의 드레인 전극에 인가되는 전압(VD)이 VD1에서 VD2로 이동하게 된다. 따라서 드레인 전극과 소스 전극 간의 전압차가 커지게 되고, 드레인 전극에 흐르는 전류가 증가하게 되어 원하는 전류가 유기 EL 소자(OLED)에 흐르게 할 수 있다. Specifically, when the voltage VSS of the first power supply decreases, the voltage V D applied to the drain electrode of the driving transistor M1 moves from V D1 to V D2 . Therefore, the voltage difference between the drain electrode and the source electrode increases, and the current flowing through the drain electrode increases, so that a desired current can flow in the organic EL element OLED.

따라서, 유기 EL 소자(OLED)의 캐소드에 인가되는 제1 전원의 전압(VSS)을 조정함으로써, 구동 트랜지스터의 전류 특성을 제어할 수 있고, 표시 패널의 온/오프 검사 시 구동 트랜지스터가 최적의 포화 상태에서 동작하도록 할 수 있다.Therefore, by adjusting the voltage VSS of the first power supply applied to the cathode of the organic EL element OLED, the current characteristics of the driving transistor can be controlled, and the driving transistor is optimally saturated during the on / off inspection of the display panel. Can be operated in a state.

이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.Although the preferred embodiments of the present invention have been described in detail above, the scope of the present invention is not limited thereto, and various modifications and improvements of those skilled in the art using the basic concepts of the present invention defined in the following claims are also provided. It belongs to the scope of rights.

본 발명에 따르면, 구동 트랜지스터의 포화 영역에서의 전류 특성을 제어함으로써 표시 패널의 온/오프 검사 시 구동 트랜지스터가 최적의 포화 상태에서 동작하도록 할 수 있다.According to the present invention, by controlling the current characteristics in the saturation region of the driving transistor, the driving transistor can be operated in an optimal saturation state during the on / off inspection of the display panel.

Claims (5)

복수의 화소를 포함하는 표시 패널의 검사 장치에 있어서,In the inspection apparatus of the display panel including a plurality of pixels, 상기 화소는 데이터 신호에 대응되는 전류를 출력하는 트랜지스터 및 상기 트랜지스터와 제1 전원 간에 연결되는 유기 EL 소자를 포함하며,The pixel includes a transistor for outputting a current corresponding to a data signal, and an organic EL element connected between the transistor and a first power supply. 상기 검사 장치는,The inspection device, 상기 표시 패널을 검사하기 위한 제어 신호를 생성하여 상기 표시 패널에 인가하는 제어부; 및A controller configured to generate a control signal for inspecting the display panel and apply the control signal to the display panel; And 상기 제1 전원의 전압을 조정하기 위한 전압 조정부Voltage adjusting unit for adjusting the voltage of the first power supply 를 포함하는 표시 패널의 검사 장치.Inspection device of the display panel comprising a. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 표시 패널은 상기 화소에 상기 데이터 신호를 전달하기 위한 복수의 데이터선, 및 상기 제1 전원의 전압을 전달하기 위한 전압 공급선을 더 포함하는 표시 패널의 검사 장치.The display panel further includes a plurality of data lines for transmitting the data signal to the pixel, and a voltage supply line for transferring the voltage of the first power supply. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 표시 패널은 상기 복수의 화소에 선택 신호를 전달하기 위한 복수의 주사선을 더 포함하고,The display panel further includes a plurality of scan lines for transmitting a selection signal to the plurality of pixels, 상기 화소는 상기 트랜지스터의 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 간에 연결 되는 커패시터, 상기 주사선으로부터 상기 선택 신호에 응답하여 상기 데이터 신호를 상기 커패시터로 전달하는 스위칭 소자를 더 포함하는 표시 패널의 검사 장치.And the pixel further includes a capacitor connected between the first electrode and the second electrode of the transistor, and a switching element configured to transfer the data signal to the capacitor in response to the selection signal from the scan line. 데이터 신호를 전달하는 복수의 데이터선, 선택 신호를 전달하는 복수의 주사선, 및 상기 데이터선과 상기 주사선에 연결되는 복수의 화소 회로를 포함하는 표시 패널에 있어서,A display panel comprising a plurality of data lines for transmitting a data signal, a plurality of scanning lines for transmitting a selection signal, and a plurality of pixel circuits connected to the data lines and the scanning lines. 상기 화소 회로는,The pixel circuit, 제1 내지 제3 전극을 구비하고 상기 제1 및 제2 전극 간에 인가되는 전압에 대응하는 전류를 상기 제3 전극으로 출력하는 트랜지스터;A transistor having first to third electrodes and outputting a current corresponding to a voltage applied between the first and second electrodes to the third electrode; 상기 트랜지스터의 상기 제3 전극과 제1 전원 간에 전기적으로 연결되고 인가되는 전류에 대응하는 화상을 표시하는 표시 소자; A display element configured to display an image corresponding to a current electrically connected and applied between the third electrode and the first power source of the transistor; 상기 트랜지스터의 상기 제1 전극과 상기 제2 전극 간에 연결되는 커패시터; 및A capacitor connected between the first electrode and the second electrode of the transistor; And 상기 선택 신호에 응답하여 상기 데이터 신호를 상기 커패시터로 전달하는 제1 스위칭 소자A first switching element transferring the data signal to the capacitor in response to the selection signal 를 포함하며,Including; 상기 표시 소자에 전기적으로 연결되는 상기 제1 전원의 전압은 가변되는 표시 패널.And a voltage of the first power supply electrically connected to the display element. 제4항에 있어서, The method of claim 4, wherein 상기 표시 패널의 검사 시에 테스트 전압을 인가하기 위한 테스트선 및 상기 검사 시에 테스트선과 상기 데이터선을 연결시키는 복수의 제2 스위칭 소자를 더 포함하는 표시 패널.And a test line for applying a test voltage when the display panel is inspected, and a plurality of second switching elements connecting the test line and the data line during the test.
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