KR100573561B1 - Pin-hole detector with edge filter - Google Patents

Pin-hole detector with edge filter Download PDF

Info

Publication number
KR100573561B1
KR100573561B1 KR1020010083863A KR20010083863A KR100573561B1 KR 100573561 B1 KR100573561 B1 KR 100573561B1 KR 1020010083863 A KR1020010083863 A KR 1020010083863A KR 20010083863 A KR20010083863 A KR 20010083863A KR 100573561 B1 KR100573561 B1 KR 100573561B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
pinhole
steel sheet
light source
edge
light
Prior art date
Application number
KR1020010083863A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20030053843A (en
Inventor
배호문
박창현
이희준
Original Assignee
주식회사 포스코
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 포스코 filed Critical 주식회사 포스코
Priority to KR1020010083863A priority Critical patent/KR100573561B1/en
Publication of KR20030053843A publication Critical patent/KR20030053843A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100573561B1 publication Critical patent/KR100573561B1/en

Links

Images

Classifications

    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B21—MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
    • B21B—ROLLING OF METAL
    • B21B38/00—Methods or devices for measuring, detecting or monitoring specially adapted for metal-rolling mills, e.g. position detection, inspection of the product
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/894—Pinholes

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

본 발명은 종래 에지마스크를 포함한 핀홀 검출기를 사용함으로써 검출되지 아니하였던 강판의 가장자리 부분의 핀홀을 검출하기 위하여, 홀 또는 핀홀의 존재여부에 대해 검사하고자 하는 강판에 빛을 조사하기 위한 광원과, 상기 강판을 중심으로 상기 광원과 반대방향에 위치하고, 광원에서 조사되어 강판의 홀 또는 핀홀을 통과한 빛을 검출하기위한 검출센서와, 상기 검출센서에서 측정한 데이터를 처리하여 홀 또는 핀홀의 위치를 계산하는 프로세서, 및 상기 강판 에지부에 위치하고, 상기 광원을 비추었을때 검출센서가 포화상태가 되는 지점으로 부터 강판 내부를 향하는 방향으로 광투과율을 크게함으로써 상기 검출센서에서 측정되는 광량에 따른 신호의 세기를 감쇄시켜 에지부에 존재하는 한계레벨 이상의 홀 또는 핀홀을 검출하기 위한 에지필터를 포함하여 구성된 핀홀 검출기를 제공한다.The present invention provides a light source for irradiating light to a steel sheet to be examined for the presence of holes or pinholes in order to detect pinholes at the edges of the steel sheet, which were not detected by using a pinhole detector including an edge mask. Located in a direction opposite to the light source with respect to the steel plate, a detection sensor for detecting light emitted from the light source and passed through the hole or pinhole of the steel plate, and processing the data measured by the detection sensor to calculate the position of the hole or pinhole And a signal intensity according to the amount of light measured by the detection sensor by increasing the light transmittance in a direction toward the inside of the steel sheet from the point where the detection sensor is saturated when the light source is illuminated. To detect holes or pinholes above the threshold level present at the edges Including that the filter provides a pinhole detector configured.

에지필터, 홀, 핀홀, 핀홀 검출기Edge Filter, Hole, Pinhole, Pinhole Detector

Description

에지필터를 이용한 핀홀 검출기{Pin-hole detector with edge filter} Pin-hole detector with edge filter                              

도1은 일반적인 핀홀검출기 개략도이고,1 is a schematic diagram of a general pinhole detector,

도2는 에지 마스크가 없는 핀홀 검출기의 신호 그래프이고,2 is a signal graph of a pinhole detector without an edge mask,

도3은 에지 마스크가 있는 핀홀 검출기의 신호 그래프이고,3 is a signal graph of a pinhole detector with an edge mask,

도 4는 본 발명에서 제안한 핀홀 검출기의 개략도이고,Figure 4 is a schematic diagram of the pinhole detector proposed in the present invention,

도 5는 광원의 산란과 회절영역에 존재하는 핀홀에 대한 신호 특성그래프이고,5 is a signal characteristic graph of pinholes present in scattering and diffraction regions of a light source;

도 6는 본 발명장치의 에지 필터를 사용했을 시의 신호특성그래프이고.Fig. 6 is a graph of signal characteristics when the edge filter of the present invention is used.

도 7은 에지필터의 광투과율특성 그래프도이다.7 is a graph illustrating light transmittance characteristics of an edge filter.

※ 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 ※※ Explanation of code about main part of drawing ※

1 : 강판 2 : 광원1: steel sheet 2: light source

3 : 검출센서 4 : 에지마스크3: detection sensor 4: edge mask

5 : 홀 또는 핀홀 6 : 프로세서5: hole or pinhole 6: processor

19 : 에지필터 20 : 라인스캔 ccd 카메라19 edge filter 20 line scan ccd camera

본 발명은 냉간 압연을 하는 공장의 제품에 존재하는 작은구멍(홀과 핀홀)을 검출하는 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for detecting small holes (holes and pinholes) present in a product of a cold rolling mill.

강판에 존재하는 구멍은 일반적으로 홀(hole)과 핀홀(pin-hole)로 나눌 수 있다. 홀은 약 500㎛이상이고 그 이하는 핀홀이라 지칭한다. 그리고 제품품질관리 방안에 따라 분류 사이즈는 다를 수 있다.Holes present in the steel sheet can be generally divided into holes and pin-holes. The hole is about 500 mu m or more and the following is called a pin hole. The classification size may vary depending on the product quality management plan.

일반적으로 냉연공장에서 얇은 소재(1)를 압연할 때 조직에 개재물이 탈락되거나 소재와 공정상의 문제점으로 강판에 미소한 홀(5)이 발생한다. 이러한 홀은 제품화 되기 전에 품질 검사에서 검출이 되어야 하지만, 종래의 에지 마스크를 사용하는 방법으로는 강판의 가장자리 즉 에지(edge)부분에 발생하는 핀홀을 검출하지 못하는 문제점이 존재한다.In general, when rolling a thin material (1) in a cold rolling mill, inclusions in the structure is dropped or a small hole (5) occurs in the steel sheet due to the material and process problems. Such holes must be detected in quality inspection before they are commercialized, but there is a problem in that pinholes occurring at the edges of the steel sheets, i.e., edges, cannot be detected by the conventional edge mask.

도 1은 일반적인 핀홀 검출기의 구성도이다. 광원(2)을 강판(1)에 조사하여 빔(7)을 투사하면, 핀홀을 투과한 빔(8)이 강판의 반대편에 위치한 검출센서(3)에 감응하여 핀홀이 검출된다(도 2의 피크부 p1으로 도시됨). 검출된 신호는 검출기의 프로세서(6)에 전달된다. 1 is a block diagram of a general pinhole detector. When the light source 2 is irradiated onto the steel sheet 1 and the beam 7 is projected, the beam 8 passing through the pinhole is detected by the detection sensor 3 located on the opposite side of the steel sheet to detect the pinhole (Fig. 2). Peak p1). The detected signal is delivered to the processor 6 of the detector.

핀홀검출기의 광원으로는 레이저, LED 램프, 적외선, 자외선 램프, 할로겐 램프 등의 광원(2)이 사용되고, 검출센서(3)는 PMT(photo multiplier tube), 광센서(PHOTO-SENSOR), CCD 카메라 등이 사용된다. 그러나 검출센서 중 PMT나 광센서는 빛에 대한 감도가 상당히 높아 강판의 에지부를 제외한 중간부의 미소한 핀홀 검출에는 탁월하나, 에지부에 대한 핀홀 검출에는 문제점이 존재한다.As a light source of the pinhole detector, a light source 2 such as a laser, an LED lamp, an infrared ray, an ultraviolet lamp, a halogen lamp is used, and the detection sensor 3 is a PMT (photo multiplier tube), a photo sensor (PHOTO-SENSOR), a CCD camera. Etc. are used. However, the PMT or the optical sensor has a high sensitivity to light, so it is excellent for detecting minute pinholes in the middle part except for the edge part of the steel sheet, but there is a problem in pinhole detection for the edge part.

도 2는 에지마스크가 없는 상태에서 검출센서에 측정된 신호의 세기를 강판의 폭방향으로 도시한 그래프이다. x축은 검출센서의 길이 방향으로서 강판 폭방향을 나타내고, y축은 광량에 따른 신호의 세기를 나타낸다.2 is a graph showing the strength of the signal measured by the detection sensor in the width direction of the steel sheet in the absence of the edge mask. The x axis represents the steel plate width direction as the length direction of the detection sensor, and the y axis represents the intensity of the signal according to the amount of light.

만약 핀홀(5)이 존재하면 빛이 상기 핀홀(5)을 투과하여 도 2의 p1로 표시된 바와 같은 신호값을 나타낸다. 광원이 강판에 조사될 때, 에지의 일부 영역(d1)은 빛의 회절과 산란현상으로 센서가 포화상태(saturation)가 된다. If the pinhole 5 is present, light passes through the pinhole 5 to represent a signal value as indicated by p1 of FIG. 2. When the light source is irradiated onto the steel sheet, a portion of the edge d1 of the edge becomes saturation due to diffraction and scattering of light.

또한 도 2와 같이 강판 안쪽으로 일정지점(d2)까지 광원이 서서히 감소된다. 따라서 도 2의 에지부 포화상태 영역(d1)에 핀홀이 존재하면 상기 핀홀을 검출하지 못하는 문제점이 있으며, 빛이 강판의 안쪽으로 서서히 감소한 영역(d2)에서도, 일정한 한계 레벨(threshold level)이상의 핀홀을 검출하는 검출센서에 오류가 발생한다. Also, as shown in FIG. 2, the light source is gradually reduced to a certain point d2 inside the steel sheet. Therefore, if the pinhole is present in the edge saturation region d1 of FIG. 2, the pinhole may not be detected. Even in the region d2 where light gradually decreases toward the inside of the steel sheet, the pinhole is above a certain threshold level. An error occurs in the detection sensor that detects an error.

이를 개선하기 위하여, 현재 검출기에는 에지마스크(4)를 이용하여 에지부에서 광원이 검출센서에 도달하지 못하도록 완전하게 차단하는 방법이 사용된다.In order to improve this, the current detector uses a method of completely blocking the light source from reaching the detection sensor at the edge portion by using the edge mask (4).

도 3은 에지마스크가 사용되었을 때, 핀홀을 통과한 빛에 의해 감응된 검출신호를 나타낸 그래프이다. 에지마스크(4)가 사용되면, 에지마스크에 가리우는 에지부의 영역(d2)은 미 검출 부분이 된다.3 is a graph illustrating a detection signal sensed by light passing through a pinhole when an edge mask is used. If the edge mask 4 is used, the area d2 of the edge portion covering the edge mask becomes an undetected portion.

한편, 강판의 폭이 변함에 따라 에지마스크의 위치를 이동시키기 위한 구동 및 제어 장치가 있는데, 이것에 의해서 에지마스크가 이동하므로, 핀홀 검출기가 에지 부분에 있는 핀홀을 검출하지 못하는 구간은 상당하다. On the other hand, there is a drive and control device for moving the position of the edge mask as the width of the steel sheet changes, and since the edge mask is moved by this, a section in which the pinhole detector cannot detect the pinhole in the edge portion is considerable.

따라서, 본 발명의 목적은 에지필터를 사용하여, 종래발명에서 에지마스크를 사용함으로써 검출하지 못하였던 강판 에지부분의 홀 또는 핀홀을 검출하는 장치를 제공하는 것이다.

Accordingly, it is an object of the present invention to provide an apparatus for detecting holes or pinholes at the edges of steel sheet that have not been detected by using edge masks in the present invention.

위와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따르면, 홀 또는 핀홀의 존재여부에 대해 검사하고자 하는 강판에 빛을 조사하기 위한 광원과, 강판을 중심으로 광원과 반대방향에 위치하고 광원에서 조사되어 강판의 홀 또는 핀홀을 통과한 빛을 검출하기위한 검출센서와, 검출센서에서 측정한 데이터를 처리하여 홀 또는 핀홀의 위치를 계산하는 프로세서, 및 강판 에지부에 위치하고, 상기 광원을 비추었 을때 검출센서가 포화상태가 되는 지점으로 부터 강판 내부를 향하는 방향으로 광투과율을 크게하여, 검출센서에서 측정되는 광량에 따른 신호의 세기를 감쇄시켜 에지부에 존재하는 한계레벨 이상의 홀 또는 핀홀을 검출하기 위한 에지필터를 포함하여 구성된 핀홀 검출기가 제공된다.According to the present invention for achieving the above object, a light source for irradiating light to the steel sheet to be examined for the presence of a hole or a pinhole, and is located in the opposite direction to the light source centered on the steel sheet is irradiated from the light source to the hole of the steel sheet Or a detection sensor for detecting light passing through the pinhole, a processor for processing the data measured by the detection sensor to calculate the position of the hole or the pinhole, and a steel sheet located at the edge of the steel plate, and the detection sensor is saturated when the light source is illuminated. An edge filter for detecting holes or pinholes beyond the threshold level present in the edge part by increasing the light transmittance toward the inside of the steel sheet from the point where the state becomes, decreasing the intensity of the signal according to the amount of light measured by the detection sensor. A pinhole detector configured to include is provided.

강판에 존재하는 핀홀을 검출하기 위하여 광원과 검출센서를 선정하게 되는데, 본 발명에서는 광원으로는 할로겐 램프를, 검출기로는 라인 스캔 ccd 카메라(line scan ccd camera)를 사용한다. 그리고 광원으로는 레이저나 LED 램프를 사용해도 무방하나, 검출기 센서로서 PMT나 광센서(Photo sensor)는 감도가 너무 민감하므로 적합하지 않다.A light source and a detection sensor are selected to detect pinholes present in the steel sheet. In the present invention, a halogen lamp is used as the light source and a line scan ccd camera is used as the detector. A laser or an LED lamp may be used as the light source, but the PMT or the photo sensor as the detector sensor is not suitable because the sensitivity is too sensitive.

도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명은 강판에 빛을 조사하기 위한 광원(24), 광원의 전단에는 빛의 세기를 높여 주기 위하여 집광렌즈(21), 핀홀을 통과한 빛을 검출하기 위한 라인스캔 CCD 카메라(20), 검출센서에서 측정한 데이터를 처리하는 프로세서(23), 상기 광원을 비추었을때 검출센서가 포화상태가 되는 지점으로 부터 강판 내부를 향하는 방향으로 광투과율을 크게하여, 상기 검출센서에서 측정되는 광량에 따른 신호의 세기를 감쇄시켜 에지부에 존재하는 홀 또는 핀홀을 검출하기 위한 에지필터(19), 및 상기 에지필터를 이동시키기 위한 구동 제어장치(22)로 구성된다.As shown in FIG. 4, the present invention provides a light source 24 for irradiating light onto a steel sheet, a condenser lens 21, and a line for detecting light passing through a pinhole in order to increase the intensity of light in front of the light source. The scanning CCD camera 20, the processor 23 for processing the data measured by the detection sensor, the light transmittance is increased in the direction toward the inside of the steel sheet from the point where the detection sensor becomes saturated when the light source is illuminated, An edge filter 19 for detecting a hole or a pinhole present in the edge portion by attenuating the intensity of the signal according to the amount of light measured by the detection sensor, and a drive control device 22 for moving the edge filter.

에지부의 산란과 회절현상은 광원의 파장, 광원의 세기 등의 영향을 받는데, 동일한 광원에 대해서는 광원의 세기와 밀접한 관계가 있다.Scattering and diffraction of the edge portion are influenced by the wavelength of the light source, the intensity of the light source, and the like. The same light source is closely related to the intensity of the light source.

에지필터(19)의 사용목적은 기존의 핀홀 검출기에서의 에지 마스크에 의한 미검출 영역을 없애기 위함이다. 에지필터(19)는 광원의 세기를 줄여주는 역할을 한다. 에지필터(19)의 광 투과율은 에지부에서 측정하고자 하는 최소 핀홀 크기와 이동되는 강판의 속도에 따라 결정된다. 에지필터(19)를 사용하여 강판의 중간부와 에지부에서 강판에 조사하는 광원세기를 다르게 하므로 검출되는 핀홀 크기가 중앙부와 에지부에서 서로 다르게 된다. 즉 강판의 중앙부에서 핀홀 검출 최소 크기가 10㎛이고, 에지부 검출 요구정도가 100㎛로 구분하는 영역으로 나눈다.The purpose of using the edge filter 19 is to eliminate the undetected area by the edge mask in the conventional pinhole detector. The edge filter 19 serves to reduce the intensity of the light source. The light transmittance of the edge filter 19 is determined according to the minimum pinhole size to be measured at the edge portion and the speed of the steel sheet being moved. Since the light source intensity irradiated to the steel sheet at the middle portion and the edge portion of the steel sheet is different using the edge filter 19, the detected pinhole size is different at the center portion and the edge portion. In other words, the pinhole detection minimum size is 10 mu m at the center of the steel sheet, and the edge detection requirement is divided into 100 mu m.

도 5는 에지 마스크가 없는 검출기의 신호특성 그래프이다.5 is a graph of signal characteristics of a detector without an edge mask.

광원에 의한 산란과 회절현상이 일으키는 에지영역(d1)에 핀홀(18)이 존재하면 도 5의 p1과 같은 피크가 나타난다. 피크의 크기는 홀 또는 핀홀의 크기에 따라 결정되는데 크기가 클 수록, 다량의 빛이 홀을 통과하므로 검출센서의 신호가 크게 나타나게 된다. 그런데 d2영역에서는 빛의 산란과 회절현상에 의해서, 홀을 통하지 않은 빛이 검출센서에 도달하고, 홀을 통과한 빛과 결합되어 실제 피크값보다 큰 값으로 나타나게 된다. 따라서 검출되지 않아야하는 크기의 홀 까지도 검출되어지는 문제가 발생한다.When the pinhole 18 is present in the edge region d1 caused by scattering and diffraction caused by the light source, a peak like p1 of FIG. 5 appears. The size of the peak is determined by the size of the hole or the pinhole. The larger the size, the greater the amount of light passes through the hole, so the signal of the detection sensor is larger. However, in the d2 region, light scattered and diffracted causes light that does not pass through the hole to reach the detection sensor and is combined with light passing through the hole to show a value larger than the actual peak value. Therefore, a problem occurs that even a hole having a size that should not be detected is detected.

도 6은 본 발명에서 제안하는 에지필터를 장착한 핀홀검출기에 나타나는 신 호를 도시한 것이다. 포화상태로 인해 구분이 불가능했던 d1영역은 에지부에서 광량을 줄여 회절과 산란현상을 최소화하면 구분이 가능하게 된다. 에지필터를 사용함에 따라 기존에 에지부 핀홀에 대한 검출센서의 광원에 대한 특성(g1)이 도 6의 (g2)과 같이 되고, 에지부 핀홀(p2)에 대한 신호는 도 6의 (p3)과 같이 나타남에 따라 일정 한계레벨 이상의 핀홀을 검출하는 검출센서의 오류를 방지한다.6 shows a signal appearing in the pinhole detector equipped with the edge filter proposed in the present invention. The d1 region, which cannot be distinguished due to saturation, can be distinguished by minimizing diffraction and scattering by reducing the amount of light at the edge portion. As the edge filter is used, the characteristic g1 of the light source of the detection sensor for the edge pinhole is as shown in FIG. 6 (g2), and the signal for the edge pinhole p2 is shown in FIG. As shown above, it is possible to prevent an error of a detection sensor that detects a pinhole above a certain threshold level.

그리고 에지필터는 강판의 폭변화에 대응하기 위하여 이동을 가능하게 하는 구동 제어장치(22)가 있어야 한다. 검출기의 센서 라인스캔 ccd 카메라를 사용하고 강판의 폭방향으로 배열한다. 그리고 카메라 수는 핀홀 검출기의 크기에 따라 사용수가 결정된다.In addition, the edge filter should have a drive control device 22 to enable movement in order to respond to the width change of the steel sheet. The sensor line of the detector is scanned using a ccd camera and arranged in the width direction of the steel sheet. The number of cameras is determined by the size of the pinhole detector.

도 7은 에지필터의 광 투과율을 나타내고 그래프에서 x축은 필터의 길이이고 y축은 광투과율을 나타낸다. 그래프에 도시된바와 같이 에지필터의 최고 투과율(t1)은 100%이고, 최저 투과율(t2)은 광원에 대한 ccd 카메라의 검출 강도(Intensity)가 8비트 그레이 레벨(grey level)로 254의 값을 가지도록 하고 그 사이에서는 에지부에서의 광원특성(g1)에 따라 도 7과 같이 광투과율을 변하게 제작된다. 이렇게 제작된 에지필터를 사용하면 에지부의 포화영역및 산란 및 회절영역을 상쇄시켜, 도 5의 그래프를 도 6의 그래프와 같이 바꾸어 준다.7 shows the light transmittance of the edge filter, in which the x-axis shows the length of the filter and the y-axis shows the light transmittance. As shown in the graph, the maximum transmittance t1 of the edge filter is 100%, and the lowest transmittance t2 is a value of 254 with the 8-bit gray level of the detection intensity of the ccd camera for the light source. The light transmittance is produced as shown in FIG. 7 in accordance with the light source characteristic g1 at the edge. Using the edge filter thus manufactured cancels the saturation region, the scattering and the diffraction region of the edge portion, thereby changing the graph of FIG. 5 like the graph of FIG.

본 발명에 따르면, 종전 에지마스크를 사용함으로써 야기되는 강판 에지부분 에서 검출되지 못했던 홀 또는 핀홀을 에지필터를 사용하여 검출이 가능하게 되어 강판 전체구간에서 핀홀의 검사가 가능하므로 제품의 품질검사를 향상시키는 효과가 있다.
According to the present invention, it is possible to detect holes or pinholes which were not detected at the edge portion of the steel sheet caused by the conventional edge mask using the edge filter, so that the inspection of the pinhole is possible in the entire steel sheet section, thereby improving product quality inspection. It is effective to let.

위에서 양호한 실시예에 근거하여 이 발명을 설명하였지만, 이러한 실시예는 이 발명을 제한하려는 것이 아니라 예시하려는 것이다. 이 발명이 속하는 분야의 숙련자에게는 이 발명의 기술사상을 벗어남이 없이 위 실시예에 대한 다양한 변화나 변경 또는 조절이 가능함이 자명할 것이다. 그러므로, 이 발명의 보호범위는 첨부된 청구범위에 의해서만 한정될 것이며, 위와 같은 변화예나 변경예 또는 조절예를 모두 포함하는 것으로 해석되어야 할 것이다.While the invention has been described above based on the preferred embodiments thereof, these embodiments are intended to illustrate rather than limit the invention. It will be apparent to those skilled in the art that various changes, modifications, or adjustments to the above embodiments can be made without departing from the spirit of the invention. Therefore, the protection scope of the present invention will be limited only by the appended claims, and should be construed as including all such changes, modifications or adjustments.

Claims (1)

강판에 빛을 조사하는 광원과; 상기 강판을 중심으로 상기 광원과 반대방향에 위치하며 상기 강판을 통과한 빛을 수광하는 검출센서와; 상기 검출센서가 수광한 빛을 데이터로 변환하여 홀 또는 핀홀을 검출하는 프로세서; 및 상기 강판의 에지부에 위치하면서 상기 광원으로부터 조사되는 빛을 일부 차단하는 에지필터를 포함하는 핀홀 검출기에 있어서,A light source for irradiating light onto the steel sheet; A detection sensor positioned in a direction opposite to the light source with respect to the steel sheet and receiving light passing through the steel sheet; A processor for converting light received by the detection sensor into data to detect holes or pinholes; And an edge filter positioned at an edge of the steel sheet and partially blocking light emitted from the light source. 상기 에지필터에 연결되며, 상기 강판의 폭방향 변화 및 그 위치 변화에 따라 상기 에지필터를 이동시키는 구동 제어장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 에지필터를 이용한 핀홀 검출기.And a drive control device connected to the edge filter and moving the edge filter according to the width direction change of the steel sheet and the position change thereof.
KR1020010083863A 2001-12-24 2001-12-24 Pin-hole detector with edge filter KR100573561B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020010083863A KR100573561B1 (en) 2001-12-24 2001-12-24 Pin-hole detector with edge filter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020010083863A KR100573561B1 (en) 2001-12-24 2001-12-24 Pin-hole detector with edge filter

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20030053843A KR20030053843A (en) 2003-07-02
KR100573561B1 true KR100573561B1 (en) 2006-04-25

Family

ID=32212507

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020010083863A KR100573561B1 (en) 2001-12-24 2001-12-24 Pin-hole detector with edge filter

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100573561B1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102507104B1 (en) * 2022-07-11 2023-03-06 서해전 Apparatus and method for inspecting metal pipe
US11774368B2 (en) 2022-01-03 2023-10-03 Rick Ross Light table apparatus and methods for inspecting heat exchanger plates for defects using light

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101255613B1 (en) * 2011-06-17 2013-04-16 주식회사 포스코 Apparatus for detecting pin hole having calibration function
KR101380803B1 (en) * 2011-08-12 2014-04-04 주식회사 포스코 Apparatus For Detecting Welding Part
KR101293546B1 (en) * 2011-12-19 2013-08-06 주식회사 포스코 Hole detecting apparatus and method using dual camera
KR101767784B1 (en) * 2015-12-24 2017-08-14 주식회사 포스코 A device and a method for detecting a hole or a pin hole

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5535276A (en) * 1978-09-04 1980-03-12 Nippon Steel Corp Edge pin-hole detector
JPS5572851A (en) * 1978-11-28 1980-06-02 Toshiba Corp Defect detector
JPS5770451A (en) * 1980-10-21 1982-04-30 Nippon Steel Corp Device for detecting edge defect of metallic plate
JPS6064851A (en) * 1983-09-19 1985-04-13 Toppan Printing Co Ltd Inspecting device for printed matter
JPS62102145A (en) * 1985-10-30 1987-05-12 Hitachi Metals Ltd Method for detecting defect
JPH01320455A (en) * 1988-06-21 1989-12-26 Nkk Corp Device for detecting cracked edge and hole of belt-like material
JPH07229849A (en) * 1994-02-17 1995-08-29 Ntn Corp Defect detection device of color filter
JPH0989809A (en) * 1995-09-25 1997-04-04 Kawasaki Steel Corp Method for detecting edge crack defect of cold-rolled steel plate
KR20000014721U (en) * 1998-12-30 2000-07-25 이구택 Pinhole Detection Device for Strip
JP2001153816A (en) * 1999-11-25 2001-06-08 Nippon Sheet Glass Co Ltd Method and device for detecting edge defect in glass plate

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5535276A (en) * 1978-09-04 1980-03-12 Nippon Steel Corp Edge pin-hole detector
JPS5572851A (en) * 1978-11-28 1980-06-02 Toshiba Corp Defect detector
JPS5770451A (en) * 1980-10-21 1982-04-30 Nippon Steel Corp Device for detecting edge defect of metallic plate
JPS6064851A (en) * 1983-09-19 1985-04-13 Toppan Printing Co Ltd Inspecting device for printed matter
JPS62102145A (en) * 1985-10-30 1987-05-12 Hitachi Metals Ltd Method for detecting defect
JPH01320455A (en) * 1988-06-21 1989-12-26 Nkk Corp Device for detecting cracked edge and hole of belt-like material
JPH07229849A (en) * 1994-02-17 1995-08-29 Ntn Corp Defect detection device of color filter
JPH0989809A (en) * 1995-09-25 1997-04-04 Kawasaki Steel Corp Method for detecting edge crack defect of cold-rolled steel plate
KR20000014721U (en) * 1998-12-30 2000-07-25 이구택 Pinhole Detection Device for Strip
JP2001153816A (en) * 1999-11-25 2001-06-08 Nippon Sheet Glass Co Ltd Method and device for detecting edge defect in glass plate

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11774368B2 (en) 2022-01-03 2023-10-03 Rick Ross Light table apparatus and methods for inspecting heat exchanger plates for defects using light
KR102507104B1 (en) * 2022-07-11 2023-03-06 서해전 Apparatus and method for inspecting metal pipe

Also Published As

Publication number Publication date
KR20030053843A (en) 2003-07-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6930772B2 (en) Method and device for inspecting defect of sheet-shaped transparent body
US4966457A (en) Inspecting apparatus for determining presence and location of foreign particles on reticles or pellicles
CA1226348A (en) Inspection system utilizing dark-field illumination
EP1070243B1 (en) Method for the automatic inspection of optically transmissive planar objects
US20060219876A1 (en) Optical sensor and method for suppressing faults by diffused light
KR0153792B1 (en) Alignment method
JP2011085520A (en) Defect discrimination device, defect discrimination method, and sheet-like material
KR100573561B1 (en) Pin-hole detector with edge filter
JP4158227B2 (en) Inspection method and inspection apparatus for minute unevenness
JP3087384B2 (en) Foreign matter inspection device
JP4822103B2 (en) Inspection apparatus, inspection method, and pattern substrate manufacturing method
JP4775946B2 (en) Edge detection device
JP2002090258A (en) Method, apparatus and system for inspection of lens
US20010024272A1 (en) Method and apparatus for optical detection of deformations, particularly small bubbles, in optical data carriers
JPH09113465A (en) Detection apparatus for surface fault for galvanized steel plate
KR100950963B1 (en) Apparatus for detecting pin-hole at strip edge without edge mask
EP1540600B1 (en) Inspecting system for security supports
JP2007155468A (en) Flaw inspection method and device
JPH10132758A (en) Device and method for detecting defect in plate glass
KR960012134A (en) Defect inspection device of cathode ray tube panel
JP2003240725A (en) Apparatus and method for visual examinination
JP2698696B2 (en) Surface flaw inspection method
US5402228A (en) On-line dirt counter
JP2698697B2 (en) Surface flaw inspection method
JPH01138447A (en) Foreign matter detecting method

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130404

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140418

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150417

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170412

Year of fee payment: 12

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190411

Year of fee payment: 14