KR100557429B1

KR100557429B1 - 전자파비흡수율 측정장치 검증용 전자파발생기

Info

Publication number: KR100557429B1
Application number: KR1020040035125A
Authority: KR
Inventors: 김윤명
Original assignee: 주식회사 이엠에프 세이프티
Priority date: 2004-05-18
Filing date: 2004-05-18
Publication date: 2006-03-07
Also published as: KR20040052933A

Abstract

본 발명은 전자파비흡수율(SAR:Specific Absorption Rate)측정장치를 검증하기 위한 일체형 전자파발생장치로서, 중앙처리장치를 비롯한 각종 부속의 유기적인 연결을 통하여 복잡한 수동 검측 및 조정과정 없이도 자동으로 소정의 출력과 파형의 전자파를 안정적으로 발생할 수 있도록 하였으며, 외부 컴퓨터와의 통신을 통하여 편리하고 효율적인 감시 및 제어가 가능하도록 한 것이다.

본 발명을 통하여 전자파비흡수율측정장치의 검증 설비 자체는 물론 검증을 위한 측정과정 및 준비과정이 획기적으로 간소화되었을 뿐 아니라, 그 정밀도 또한 확보할 수 있게 되어, 전자파비흡수율측정장치 검증작업의 효율성을 제고하고 소요비용을 절감하는 효과를 얻을 수 있다.

전자파, 전자파비흡수율(SAR), 검증, 파형합성, 중앙처리장치(CPU)

Description

전자파비흡수율 측정장치 검증용 전자파발생기{ELECTROMAGENETIC WAVE GENERATOR FOR SAR(SPECIFIC ABSORPTION RATE) MEASUREMENT SYSTEM VALIDATION}

도 1은 전자파비흡수율 측정장치 예시도.

도 2는 전자파비흡수율 측정장치 블럭도.

도 3은 종래의 전자파비흡수율 측정장치 검증시스템 구성도.

도 4는 종래의 전자파비흡수율 측정장치 검증시스템 블럭도.

도 5는 본 발명을 이용한 전자파비흡수율 측정장치 검증시스템 구성도.

도 6은 본 발명을 이용한 전자파비흡수율 측정장치 검증시스템 블럭도.

도 7은 본 발명의 일 실시예 사시도.

도 8은 본 발명의 블럭도.

도 9는 디지털감쇄부가 설치된 본 발명의 블럭도.

도 10은 본 발명의 실시예별 감쇄부 작동상태를 도시한 그래프.

도 11은 본 발명의 파형합성부 블럭도.

도 12는 본 발명의 일 실시예 작동 흐름도.

도 13은 디지털감쇄부가 설치된 본 발명의 일 실시예 작동 흐름도.

<도면의 주요부분에 대한 부호설명>

100 : 전자파발생기

110 : 중앙처리장치(CPU)

111 : 입력부

112 : 디스플레이(Display)

113 : 통신포트(Communication Port)

121 : D/A변환부(Digital Analog Converter)

122 : A/D변환부(Analog Digital Converter)

123 : 검파부

130 : 기준발진부(Reference Osillator)

140 : 파형합성부(Synthesizer)

141 : PLL집적회로

142 : R카운터

143 : N카운터

144 : 위상탐지부

145 : 차지펌프(Charge Pump)

146 : 루프필터(Loop Filter)

147 : 전압제어발진부(VCO)

150 : 감쇄부

151 : 디지털감쇄부

161 : 구동증폭부

162 : 최종증폭부

171 : 저역통과여파부

172 : 아이솔레이터(Isolator)

181 : 순방향결합부

182 : 역방향결합부

200 : 컴퓨터

201 : 신호포착부

210 : 전자파발산체

220 : 팬텀(Phantom)

221 : 모의조직(Simulating Tissue)

230 : 프로브(Probe)

240 : 로봇(Robot)

241 : 모션콘트롤러(Motion Controller)

250 : 수신증폭기

260 : A/D컨버터

300 : 발신안테나

310 : 범용신호발생기

320 : 발신증폭기

330 : 저역통과여파기

341 : 제1감쇄기

342 : 제2감쇄기

343 : 제3감쇄기

351 : 제1파워미터

352 : 제2파워미터

353 : 제3파워미터

360 : 방향성결합기

본 발명은 전자파비흡수율(SAR:Specific Absorption Rate)측정장치를 검증하기 위한 전자파발생 장치로서, 전자파비흡수율측정장치의 신속하고 정확한 신뢰성 검증을 위하여, 소기의 파형 및 출력을 가지는 전자파신호를 정확하고 안정적으로 발생시킬 뿐 아니라, 외부 컴퓨터와의 통신을 통하여 편리하고 효율적인 감시 및 제어가 가능하도록 하고, 일체형으로 구성하여 전체 계측설비를 간소화하고 계측 비용 또한 절감한 전자파비흡수율 측정장치 검증용 전자파발생기이다.

전자파(Electromagenetic Waves)는 전자기파(電磁氣波)의 약어로서 주기적으로 세기가 변하는 전자기장이 공간을 통해 전파해 가는 현상을 말한다.

전자파는 그 주파수나 파장에 따라 저주파, 고주파 또는 단파, 장파 등으로 분류되며, 그 전자기적 특성 또한 다양하여 각종 전기, 전자기기나 통신기기등 다양한 분야와 용도에 이용되고 있다.

전자파의 인체에 대한 영향은 전자레인지나 휴대전화 등에 사용되는 마이크로파(Microwave)에 의한 열 작용이나, 컴퓨터 모니터 등에서 방사되는 해로운 전자기파가 유발하는 두통, 시각장애 등의 증세를 말하는 VDT증후군(Video Display Terminal Syndrome) 등 전자파가 원인으로 규명된 각종 증상을 통하여 알 수 있으며, 이 외에도 송전선로 인근 주민의 암 발생 증가와 휴대전화 장기 사용자의 뇌종양 발병 등 다수의 연구결과가 보고되고 있다.

특히, 이동통신 기술의 발달과 개인이동통신의 대중화로 인하여, 휴대전화 등의 이동통신기기에서 발생되는 높은 주파수의 전자파에 사용자가 무방비로 노출되고, 이러한 이동통신기기의 사용 중 두개골 부위의 체온이 상승하는 등 인체에 해로운 영향을 미칠 가능성이 농후해짐에 따라, 이에 대한 연구와 문제 제기가 계속되고 있고, 개인이동통신이 보편화 되어 있는 선진국에서는 전자파가 인체에 유해하다는 가정 하에 협회나 학회 등 민간기관에서 전자파 노출에 대한 인체보호기준을 마련하여 권고기준 등으로 시행하고 있으며, 일부 국가에서는 이를 강제기준으로 적용하여 시행하고 있다.

전자파비흡수율(SAR:Specific Absorption Rate)이란 전술한 전자파에 의한 생체 영향정도를 정량화한 것으로서, 생체조직의 단위질량당 흡수전력으로 표시되고, 첨부된 도 1 및 도 2와 같은 장치에 의하여 측정되며, 측정과정을 간략하게 설명하면 다음과 같다.

전자파비흡수율(SAR) 측정장치는 생체조직과 전자기적 특성이 유사한 액체로 구성된 모의조직(Simulating Tissue)(221)과, 이를 담고 있는 용기로서 모의인체 역할을 수행하는 팬텀(Phantom)(220)과, 팬텀(220) 내 모의조직(221)의 전자계분포와 온도변화 등의 측정을 위한 탐침(探針)인 프로브(230)와, 프로브(230)의 이동 및 정치(定置)를 위한 로봇(Robot)(240)과, 프로브(230)로부터 수신된 신호를 증폭하는 수신증폭기(250), 아날로그신호를 디지털신호로 변환하는 A/D컨버터(260), 변환된 신호를 컴퓨터(200)가 처리 가능한 데이터로 변환하는 신호포착부(Data Acquisition)(201)와, 로봇(240)의 동작을 제어하는 모션콘트롤러(Motion Controller)(241)와 이들 신호포착부(201) 및 모션콘트롤러(241)와 연결되어 측정 전반의 감시, 제어는 물론 측정치를 기록 및 처리하는 컴퓨터(200)로 구성된다.

이러한 전자파비흡수율 측정장치에 도 1에서와 같이 측정대상인 전자파발산체(210)를 설치하여 전자파를 발산하도록 하고, 프로브(230)를 통하여 이로인한 모의조직(221)의 상태변화를 측정하는 방식으로 전자파비흡수율 측정이 이루어지게 되며, 측정된 자료는 통계처리되어 인체의 전자파영향 판단에 사용되거나, 측정된 자료를 기초로 수치해석(Numerical Analysis)기법을 통한 시뮬레이션 등의 후처리과정을 통하여 실제 상황과 가장 근접한 전자파노출상태를 추정하는 등 다양하게 사용되게 된다.

이렇듯 전자파비흡수율 측정장치는 인체에 대한 유해 정도를 측정하는 그 측정목적 상의 중요성 뿐 아니라, 전기·전자기기의 작동에 수반되는 전자파발생으로 인한 모의조직(221)의 물리적 변화를 측정하는 것으로 그 측정치의 절대량이 매우 작을 뿐 아니라 고도의 측정감도는 물론 정밀성이 요구되는 바, 측정장치의 최초 설치시는 물론 필요에 따라서는 매 측정 전에 그 신뢰성을 검증하는 절차가 반드시 필요하다.

따라서, 도 3에서와 같이, 표준복사원인 발신안테나(300)를 통하여 소기의 파형과 출력을 가진 전자파신호를 발산하고, 전자파비흡수율측정장치가 이에 대한 전자파비흡수율을 측정하도록 함으로써, 해당 전자파비흡수율측정장치의 신뢰성을 검증하게 된다.

이러한 종래의 전자파비흡수율측정장치 검증 설비는 다수의 범용 장비가 조합되어 구성되는데, 그 구성을 간략하게 설명하면 다음과 같다.

우선, 종래의 전자파비흡수율측정장치 검증 설비는 도 3에서와 같이, 범용신호발생기(310), 발신증폭기(320), 저역통과여파기(330) 및 방향성결합기(360) 등과 이들 사이사이에 제1감쇄기(341), 제2감쇄기(342), 제3감쇄기(343), 제1파워미터(351), 제2파워미터(352) 및 제3파워미터(353)가 연결되어 구성된다.

전자파비흡수율측정장치의 검증을 위한 전자파는 도 4에서와 같은 경로로 발생하게 되는데, 범용신호발생기(310)에서 출력된 신호가 발신증폭기(320)를 통하여 증폭되고, 증폭된 신호는 고조파(Harmonic) 제거를 위한 저역통과여파기(330)와, 출력 조정을 위한 제3감쇄기(343)를 거쳐 방향성결합기(360)로 인가되며, 방향성결합기(360)를 통과한 신호는 발신안테나(300)로 발산되게 된다.

또한 동 도면에서 도시된 바와 같이, 다수의 파워미터를 연결하여 출력되는 신호와 반사되는 신호를 지속적으로 측정하고, 이를 통하여 감쇄기를 비롯한 각 기 기를 조정함으로서 소정 출력의 전자파가 안정적으로 발생되도록 한다.

그러나, 이러한 종래의 전자파비흡수율측정장치 검증용 전자파 발생 설비는 다수의 전자파관련 기기가 조합된 형태로서, 그 구성이 복잡하여 설치 및 해체에 많은 시간과 비용이 소요될 뿐 아니라, 기기간 간섭현상이 발생할 우려가 있어 측정의 정밀성 확보에 있어서도 심각한 문제점이 있었다.

또한, 측정전에 전체 시스템을 구성하는 각각의 범용장비의 특성치를 일일이 수동으로 조정해야 할 뿐 아니라, 측정중에도 파워미터를 비롯한 각종 상태표시 수단을 일일이 확인한 후, 각 장비를 수동으로 재조정해야하는 불편함이 있어, 측정시간과 인건비가 과다하게 소요되는 심각한 문제점이 있었다.

본 발명은 전술한 문제점을 감안하여 창안한 것으로 전자파비흡수율측정장치의 검증을 위한 전자파발생기를 일체형으로 구성하고, 중앙처리장치를 비롯한 각종 부속의 유기적인 연결을 통하여 복잡한 수동 검측 및 조정과정 없이도 자동으로 소정의 출력과 파형의 전자파를 안정적으로 발생할 수 있도록 한 것이다.

또한, 디지털감쇄부와 아날로그감쇄부를 복합 적용함으로써 출력설정시간을 대폭 단축하였으며, 전자파발생기에 통신포트(Communication Port)를 설치하여 외부의 컴퓨터와 전자파발생기의 중앙처리장치 간의 통신이 가능하도록 함으로써, 더욱 효율적이고 편리한 상태감시 및 장비제어가 가능하도록 하였다.

본 발명의 상세한 구성 및 작동원리를 첨부된 도면을 통하여 설명하면 다음과 같다.

본 발명은 도 7의 실시예와 같이, 단일장비 형태의 전자파발생기(100)로서, 도 8에서와 같이, 기준발진부(130), 파형합성부(140), 감쇄부(150), 구동증폭부(161), 최종증폭부(162), 저역통과여파부(171), 아이솔레이터(172), 순방향결합부(181) 및 역방향결합부(182)가 연결되어 구성된 RF (Radio Frequency)계통 구성요소와, 중앙처리장치(CPU)(110), D/A변환부(121), A/D변환부(122) 및 검파부(123)로 구성된 제어계통 구성요소, 그리고 중앙처리장치(110)와 연결된 입력부(111), 디스플레이(112) 및 통신포트(Communication Port)(113)로 구성된 입출력계통 구성요소로 이루어진다.

기준발진부(Reference Osillator)(130)는 수정발진기(水晶發振器)로 대표되는 주파수원(源)으로, TCXO(Temperature Compensated Crystal Oscillator;온도보상형 수정발진기)등을 들 수 있으며, 파형합성부(140)는 기준발진부(130)의 사인파(Sine Wave)신호를 받아 안정적인 동작 주파수를 발생하게 된다.

파형합성부(140)에서 출력된 신호는 감쇄부(150)를 통하여 조정되는데, 이 감쇄부(150)는 전압제어형 아날로그 RF감쇄모듈로서, D/A변환부(Digital Analog Converter)(121)를 거친 중앙처리장치(110)의 제어신호에 의하여 제어되며, 4개의 PIN다이오드로 구성된다.

조정된 신호는 구동증폭부(161)와 최종증폭부(162)를 차례로 거치면서 고출 력 신호로 증폭되며, 이후 고조파(Harmonics) 신호를 억압하는 저역통과여파부(171)를 거치게 된다.

저역통과여파부(171)를 거친 신호는 아이솔레이터(Isolator)(172)로 인가되는데, 아이솔레이터(172)는 순방향 신호는 통과시키고 역방향 신호는 격리(우회하여 소진시킴)함으로써, 송신단의 성능을 안정화하고 강화하게 된다.

아이솔레이터(172)를 통과한 신호는 순방향결합부(181) 및 역방향결합부(182)를 거쳐 발신안테나(300)로 출력되게 된다.

여기서 순방향결합부(181)와 역방향결합부(182)는 각각 순방향(출력신호) 신호와 역방향(반사신호) 신호를 추출하는 방향성결합소자(Directional coupler)로서, 이들 순방향결합부(181) 및 역방향결합부(182)에서 추출된 신호는 도 8에 도시된 바와 같이, RF신호를 DC전류로 변환하는 검파부(123)와 아날로그신호인 DC전류를 디지털신호로 변환하는 A/D변환부(Analog Digital Converter)(122)를 거쳐 중앙처리장치(110)로 입력된다.

즉, 순방향결합부(181)는 출력되는 신호의 확인을 위한 방향성결합소자이며, 역방향결합부(182)는 부하(Load)의 임피던스에 의해 반사된 신호를 확인하기 위한 방향성결합소자로서, 이들 각각의 방향성결합소자는 서로 대칭되는 특성을 가지게 된다.

이렇듯, 출력되는 신호 레벨과 반사되는 신호 레벨 정보를 입력받은 중앙처리장치(110)는 사용자가 설정한 레벨에 도달할 수 있도록 D/A변환부(121)를 거쳐 감쇄부(150)를 반복적으로 제어하게 되며, 이로써 소기 레벨의 신호를 안정적으로 발생시킬 수 있게 된다.

즉, 순방향결합부(181)와 역방향결합부(182)를 통한 출력 및 반사 신호의 추출을 통하여, 온도변화에 의한 출력레벨의 변화에 대한 보상은 물론 전압정재파비(VSWR:Voltage Standing Wave Ratio)측면의 보상이 가능하게 되는데, 중앙처리장치(110)가 순방향결합부(181)를 통하여 추출된 출력 신호를 확인하여 그에 따라 감쇄부(150)를 조정함으로써 온도에 따른 출력레벨의 변화를 보상하게 되며, 역방향결합부(182)를 통하여 추출된 반사 신호를 확인하여 역시 그에 따라 감쇄부(150)를 조정하여 전압정재파비를 낮게 유지함으로써 안정적인 작동이 가능하도록 하는 것이다.

고주파 RF(Radio Frequency)기기에 있어서 소기의 신호를 안정적으로 발생시키기 위해서는 증폭기 등 온도에 민감한 구성요소로 인한 출력변화를 보상하는 것과, 진행파와 반사파가 중첩되어 발생되는 정재파(Standing Wave)를 나태내는 지표인 전압정재파비(VSWR:Voltage Standing Wave Ratio)를 낮게 유지하여 전송 선로의 균일성을 유지하는 것이 매우 중요한데, 특히 본 발명과 같이 측정장비의 검증장비에 있어서는 고도의 정밀성이 요구되므로 이러한 온도보상 및 전압정재파비 보상은 매우 중요하다.

본 발명에서는 출력신호와 반사신호를 반복적으로 검출하고, 이를 기초로 중앙처리장치(110)를 통하여 감쇄부(150)를 지속적으로 조정함으로써, 소기 레벨의 신호를 안정적으로 발생시킬 수 있도록 하였다.

특히, 온도보상에 있어서, 종래 RF기기의 일반적인 온도보상 방법은 온도센 서를 통하여 온도를 측정한 후 이에 따라 미리 설정된 보상치를 적용하거나, 온도에 따라 선형적으로 작동하는 보상회로를 적용하는 것으로, 온도에 따른 출력변화가 대부분 비선형적일 뿐 아니라 기기의 작동환경에 따라 온도에 대한 출력변화특성이 변화하는 경우가 많은 점을 감안하면, 실질적으로 정밀한 보상이 어려운 반면에, 본 발명에서는 온도를 측정하여 이를 보상하는 것이 아니라 출력되는 신호 자체를 검출하여 소기의 신호로 보상하는 것이므로, 더욱 정밀한 보상이 가능하게 된다.

또한, 도 9에서와 같이, 전술한 아날로그방식의 감쇄부(150) 직전에 디지털감쇄부(151)를 구성하게 되면 소기의 설정레벨에 도달하는 응답시간을 대폭 단축할 수 있다.

디지털감쇄부(151)는 디지털데이터로 제어되므로 D/A변환부(121)를 거치지 않고 직접 중앙처리장치(110)에 연결될 수 있으며, 디지털감쇄부(151)에 의하여 일단 근사치로 조정된 신호는 아날로그방식의 감쇄부(150)를 거치면서 정밀조정되어 소기의 정확한 출력을 가지게 된다.

즉, 도 10에서와 같이, 아날로그방식의 감쇄부(150)만을 사용할 경우 초기출력에서 설정출력에 이르는 전과정에 있어서 반복적인 측정 및 제어과정을 거치게 되므로 장시간의 응답시간이 소요되는 반면에, 디지털감쇄부(151)를 복합적으로 적용할 경우 불연속적인 조정단계를 가지는 디지털감쇄기(151)를 통하여 설정출력에 가장 근사한 단계로 일시에 조정된 후, 이를 초기치로 연속적인 조정특성을 가지는 아날로그방식 감쇄부(150)를 통하여 정밀한 조정이 이루어지게되므로 응답시간이 대폭 단축되는 것이다.

도 11은 본 발명의 파형합성부(140) 블럭도로서, 동 도면을 통하여 알 수 있는 바와 같이, 파형합성부(140)는 PLL(Phase Locked Loop)접적회로(141), 루프필터(Loop Filter)(146) 및 전압제어발진부(VCO:Voltage Controlled Oscillator)(147)로 구성되며, 상기 PLL집적회로(141)는 R카운터(142), N카운터(143), 위상탐지부(Phase Detector Polarity)(144) 및 차지펌프(Charge Pump)(145)로 구성되어, 상대적으로 저주파인 기준발진부(130)의 신호를 소기의 고주파 신호로 변환하여 안정적으로 출력하게 된다.

또한, 본 발명의 중앙처리장치(110)에는 입력부(111), 디스플레이(112) 및 통신포트(113)가 연결되는데, 도 7의 실시예에서와 같이, VFD(Vacuum Fluorescent Display)방식의 디스플레이(112)와 RS-232C(Recommended Standard-232C)방식의 통신포트(113) 등이 적용될 수 있고, 특히, 통신포트(113)를 통하여 도 5 및 도 6에서와 같이 본 발명의 전자파발생기(100)와 컴퓨터(200)를 연결하게 되며, 컴퓨터(200)와 전자파발생기(100)의 중앙처리장치(110)간의 통신이 가능해지므로, 전자파발생기(100)의 조작 및 상태파악이 더욱 편리하게 이루어 질 수 있다.

일반적으로, 전자파비흡수율(SAR)측정장비에는 수신신호처리와 로봇(240)의 모션콘트롤러(241)와의 통신 및 제어를 위하여 컴퓨터(200)가 필수적으로 구비되어야 되는 바, 본 발명에서는 이러한 컴퓨터(200)와 전자파발생기(100)간의 상호 유기적인 통신이 가능하게 되어, 전체 측정 및 검증장비의 운용에 있어서 효율성을 제고할 수 있을 뿐 아니라, 전자파발생기(100)의 컴퓨터(200) 소프트웨어에 의한 조작을 통하여 동일 내지 유사한 조건에 대한 반복 검증이 가능하게 되어, 전자파비흡수율(SAR)측정장비의 검증 신뢰도 또한 확보할 수 있다.

도 12 및 도 13은 각각 본 발명의 일 실시예 작동 흐름도 및 디지털감쇄부(151)가 복합적용된 본 발명의 일 실시예 작동 흐름도로서, 입력부(111)의 조작에 따라 소기의 신호를 출력하는 과정을 나타내고 있다.

결국 본 발명의 기술요지는 전자파비흡수율(SAR:Specific Absorption Rate)측정장치를 검증하기 위한 전자파발생 장치에 있어서, 주파수원(源)인 기준발진부(Reference Osillator)(130)와, 기준발진부(130)와 연결된 PLL(Phase Locked Loop)집적회로(141), 이와 연결된 루프필터(Loop Filter)(146), 이들 PLL집적회로(141) 및 루프필터(146)와 연결된 전압제어발진부(VCO:Voltage Controlled Oscillator)(147)로 구성되어 기준발진부(130)의 신호를 받아 안정적인 동작 주파수를 발생하는 파형합성부(140)와, 파형합성부(140)와 연결되어 신호를 조정하는 감쇄부(150)와, 감쇄부(150)와 차례로 연결되어 조정된 신호를 증폭하는 구동증폭부(161) 및 최종증폭부(162)와, 최종증폭부(162)와 차례로 연결되어 각각 고조파(Harmonics) 신호를 억압하고 역방향 신호를 격리하는 저역통과여파부(171) 및 아이솔레이터(172)와, 아이솔레이터(172)와 차례로 연결되어 각각 순방향 신호와 역방향 신호를 추출하는 순방향결합부(181) 및 역방향결합부(182)와, 상기 감쇄부(150)와 D/A변환부(Digital Analog Converter)(121)를 통하여 연결되고, 상기 순방향결합부(181) 및 역방향결합부(182)와 검파부(123) 및 A/D변환부(Analog Digital Converter)(122)를 거쳐 각각 연결된 중앙처리장치(CPU)(110)와, 중앙처리 장치(110)와 연결된 입력부(111) 및 디스플레이(112)로 이루어져, 역방향결합부(182)를 통과한 신호는 발신안테나(300)를 통하여 출력되고, 순방향결합부(181) 및 역방향결합부(182)에서 추출된 신호가 중앙처리장치(110)로 입력되며, 이에 따라 중앙처리장치(110)는 감쇄부(150)를 조정함을 특징으로 하는 전자파비흡수율 측정장치 검증용 전자파발생기(100)로서, 상기 파형합성부(140)와 감쇄부(150) 사이에는 디지털감쇄부(151)가 연결되고, 디지털감쇄부(151)는 중앙처리장치(110)와 연결되어 중앙처리장치(110)에 의하여 제어됨을 특징으로 하는 전자파비흡수율 측정장치 검증용 전자파발생기(100)이며, 상기 중앙처리장치(110)에는 통신포트(113)가 연결되어, 외부의 컴퓨터(200)와 전자파발생기(100)간의 통신이 이루어짐을 특징으로 하는 전자파비흡수율 측정장치 검증용 전자파발생기(100)이다.

Claims

전자파비흡수율(SAR:Specific Absorption Rate)측정장치를 검증하기 위한 전자파발생 장치에 있어서,

주파수원(源)인 기준발진부(Reference Osillator)(130)와;

기준발진부(130)와 연결된 PLL(Phase Locked Loop)집적회로(141), 이와 연결된 루프필터(Loop Filter)(146), 이들 PLL집적회로(141) 및 루프필터(146)와 연결된 전압제어발진부(VCO:Voltage Controlled Oscillator)(147)로 구성되어 기준발진부(130)의 신호를 받아 안정적인 동작 주파수를 발생하는 파형합성부(140)와;

파형합성부(140)와 연결되어 신호를 조정하는 감쇄부(150)와;

감쇄부(150)와 차례로 연결되어 조정된 신호를 증폭하는 구동증폭부(161) 및 최종증폭부(162)와;

최종증폭부(162)와 차례로 연결되어 각각 고조파(Harmonics) 신호를 억압하고 역방향 신호를 격리하는 저역통과여파부(171) 및 아이솔레이터(172)와;

아이솔레이터(172)와 차례로 연결되어 각각 순방향 신호와 역방향 신호를 추출하는 순방향결합부(181) 및 역방향결합부(182)와;

상기 감쇄부(150)와 D/A변환부(Digital Analog Converter)(121)를 통하여 연결되고, 상기 순방향결합부(181) 및 역방향결합부(182)와 검파부(123) 및 A/D변환부(Analog Digital Converter)(122)를 거쳐 각각 연결된 중앙처리장치(CPU)(110)와;

중앙처리장치(110)와 연결된 입력부(111) 및 디스플레이(112)로 이루어져;

역방향결합부(182)를 통과한 신호는 발신안테나(300)를 통하여 출력되고, 순방향결합부(181) 및 역방향결합부(182)에서 추출된 신호가 중앙처리장치(110)로 입력되며, 이에 따라 중앙처리장치(110)는 감쇄부(150)를 조정함을 특징으로 하는 전자파비흡수율 측정장치 검증용 전자파발생기(100).
제1항에 있어서, 파형합성부(140)와 감쇄부(150) 사이에는 디지털감쇄부(151)가 연결되고;

디지털감쇄부(151)는 중앙처리장치(110)와 연결되어 중앙처리장치(110)에 의하여 제어됨을 특징으로 하는 전자파비흡수율 측정장치 검증용 전자파발생기(100).
제1항 또는 제2항에 있어서, 중앙처리장치(110)에는 통신포트(113)가 연결되어, 외부의 컴퓨터(200)와 전자파발생기(100)간의 통신이 이루어짐을 특징으로 하는 전자파비흡수율 측정장치 검증용 전자파발생기(100).